JP6408378B2 - Manufacturing method of glass substrate - Google Patents

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Description

本発明は、ガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate.

液晶ディスプレイやプラズマディスプレイなどのフラットパネルディスプレイに用いるガラス基板(以下、「ディスプレイ用ガラス基板」という)を製造するのに、オーバーフローダウンドロー法が使用される場合がある(例えば特許文献1参照)。オーバーフローダウンドロー法は、成形炉において熔融ガラスを成形体の上部から溢れ(オーバーフロー)させることにより成形体の下方において板状のシートガラスを成形する工程と、シートガラスを徐冷炉において徐冷する冷却工程とを含む。徐冷炉では、対になったローラ間にシートガラスを引き込み、ローラによりシートガラスを下方に搬送しながら所望の厚さに引き伸ばした後、シートガラスを徐冷する。この後、シートガラスを所定の寸法に切断することでガラス板が形成される。   In order to manufacture a glass substrate (hereinafter referred to as “glass substrate for display”) used in a flat panel display such as a liquid crystal display or a plasma display, an overflow down draw method may be used (see, for example, Patent Document 1). The overflow down-draw method includes a step of forming a sheet-like sheet glass below the formed body by causing the molten glass to overflow (overflow) from the upper portion of the formed body in a forming furnace, and a cooling step of gradually cooling the sheet glass in an annealing furnace. Including. In the slow cooling furnace, the sheet glass is drawn between a pair of rollers, and the sheet glass is stretched to a desired thickness while being conveyed downward by the roller, and then the sheet glass is gradually cooled. Thereafter, the glass sheet is formed by cutting the sheet glass into a predetermined dimension.

特許第5246568号Japanese Patent No. 5246568

オーバーフローダウンドロー法により製造されたシートガラスに、周囲とは屈折率や比重が異なる筋状の領域(脈理)が生じる場合がある。脈理の一因としては、熔融ガラスの組成ムラがある。成形体よりも上流の工程において、熔融ガラス中で周囲と組成が異なる異質素地が生成されることがある。異質素地が生成される要因として、ガラス原料を熔融する熔融槽の壁面、底面からジルコニア等の不純物が熔融ガラス中に溶出して組成が変化することや、熔融ガラスから気泡を除去する清澄槽、熔融ガラスを撹拌する撹拌槽等の処理装置において、熔融ガラス中のホウ素等の揮発成分が気相空間に揮発することで組成が変化することが考えられる。   In the sheet glass manufactured by the overflow down draw method, there may be a streak region (stria) having a refractive index and specific gravity different from those of the surroundings. One cause of striae is uneven composition of the molten glass. In the process upstream of the molded body, a heterogeneous substrate having a composition different from that of the surroundings may be generated in the molten glass. As a factor for generating a heterogeneous substrate, impurities such as zirconia are eluted from the wall surface and bottom surface of the melting tank for melting the glass raw material into the molten glass, the composition changes, and a clarification tank for removing bubbles from the molten glass, In a processing apparatus such as an agitation tank that stirs molten glass, it is conceivable that the composition changes due to volatilization of volatile components such as boron in the molten glass in the gas phase space.

また、熔融ガラス中で周囲よりも高粘性のガラスが生じ、この高粘性のガラスが成形体に付着することで、シートガラスの幅方向に幅の広い脈理(表面凹凸)が形成される場合もある。   In addition, when glass with a higher viscosity than the surroundings is produced in the molten glass and this high viscosity glass adheres to the molded body, wide striae (surface irregularities) are formed in the width direction of the sheet glass. There is also.

本発明は、シートガラスに生成される表面凹凸の原因を特定し、この原因を解消することで表面凹凸の生成を軽減することができるガラス基板の製造方法を提供することを目的とする。   An object of this invention is to provide the manufacturing method of the glass substrate which specifies the cause of the surface unevenness | corrugation produced | generated by sheet glass, and can reduce the production | generation of surface unevenness | corrugation by eliminating this cause.

本発明の第一の態様は、ガラス基板の製造方法であって、
熔融ガラスの処理装置から供給される熔融ガラスを成形装置により成形してシートガラスを生成する成形工程と、
前記シートガラスの搬送方向に発生する表面凹凸の凹凸量を検出する検出工程と、
所定の基準値よりも大きい凹凸量が検出された場合、前記シートガラスの組成を分析する分析工程と、
分析された組成に基づいて、前記処理装置又は前記成形装置における、前記表面凹凸の原因の発生位置を特定する特定工程と、
前記発生位置において前記原因を解消し前記表面凹凸の生成を軽減する解消工程と、を有する、ことを特徴とする。
A first aspect of the present invention is a method for manufacturing a glass substrate,
A molding step of forming a sheet glass by molding a molten glass supplied from a molten glass processing apparatus by a molding apparatus;
A detection step of detecting the unevenness amount of the surface unevenness generated in the conveying direction of the sheet glass;
When an unevenness amount larger than a predetermined reference value is detected, an analysis step for analyzing the composition of the sheet glass;
Based on the analyzed composition, in the processing apparatus or the molding apparatus, a specific step of identifying the occurrence position of the cause of the surface irregularities,
And a elimination step of eliminating the cause at the generation position and reducing the generation of the surface irregularities.

前記特定工程において、表面凹凸の原因となる、前記熔融ガラス中の周囲と組成の異なる異質素地の発生位置を特定し、
前記解消工程において、前記発生位置の熔融ガラスを前記処理装置から排出する、ことが好ましい。
In the identifying step, identify the occurrence position of the heterogeneous substrate having a composition different from the surrounding in the molten glass, which causes surface irregularities,
In the eliminating step, it is preferable that the molten glass at the generation position is discharged from the processing apparatus.

前記処理装置は、内部に熔融ガラスが収容される空間、および、熔融ガラスの上部に気相空間を有するとともに、気相空間と面する熔融ガラスを排出する上部排出口を有し、
前記分析工程において、前記シートガラス中のシリカの含有量を分析し、
前記表面凹凸の領域におけるシリカの含有量が他の領域におけるシリカの含有量よりも大きい場合、前記特定工程において前記気相空間と面する箇所を前記異質素地の発生位置として特定し、前記解消工程において、前記上部排出口から気相空間と面する熔融ガラスを排出する、ことが好ましい。
The processing apparatus has a space in which the molten glass is accommodated therein, and a gas phase space above the molten glass, and an upper discharge port for discharging the molten glass facing the gas phase space,
In the analysis step, the content of silica in the sheet glass is analyzed,
When the silica content in the surface irregularity region is larger than the silica content in the other region, the location facing the gas phase space is identified as the occurrence position of the heterogeneous base in the identifying step, and the elimination step It is preferable that the molten glass facing the gas phase space is discharged from the upper discharge port.

前記上部排出口から排出される熔融ガラス中のシリカの含有量が所定の基準値以下になったときに前記上部排出口からの熔融ガラスの排出を停止する、ことが好ましい。   It is preferable that the discharge of the molten glass from the upper discharge port is stopped when the content of silica in the molten glass discharged from the upper discharge port becomes a predetermined reference value or less.

前記処理装置は、熔融ガラスが収容される空間を内部に有するとともに、熔融ガラスを排出する下部排出口を底部に有し、
前記分析工程において、前記シートガラス中のジルコニアの含有量を分析し、
前記表面凹凸の領域におけるジルコニアの含有量が他の領域におけるジルコニアの含有量が所定の基準値よりも大きい場合、前記特定工程において前記処理装置の底部を前記異質素地の発生位置として特定し、前記解消工程において、前記下部排出口から前記処理装置の底部と面する熔融ガラスを排出する、ことが好ましい。
The processing apparatus has a space in which molten glass is accommodated therein, and a lower discharge port for discharging the molten glass at the bottom,
In the analysis step, the content of zirconia in the sheet glass is analyzed,
When the content of zirconia in the region of the surface unevenness is larger than a predetermined reference value in the content of zirconia in the other region, the bottom of the processing device is specified as the occurrence position of the heterogeneous base in the specifying step, In the eliminating step, it is preferable that the molten glass facing the bottom of the processing apparatus is discharged from the lower discharge port.

前記下部排出口から排出される熔融ガラス中のジルコニアの含有量が所定の基準値以下になったときに前記下部排出口からの熔融ガラスの排出を停止する、ことが好ましい。   It is preferable that the discharge of the molten glass from the lower outlet is stopped when the content of zirconia in the molten glass discharged from the lower outlet becomes a predetermined reference value or less.

前記分析工程において、前記シートガラス中のシリカおよびジルコニアの含有量を分析し、
シリカの含有量およびジルコニアの含有量が所定の基準値以下である場合、前記特定工程において、熔融ガラスからシートガラスを成形する成形体に付着したガラスが表面凹凸の原因であると特定し、
前記解消工程において、前記成形体の温度を上昇させる、ことが好ましい。
In the analysis step, the content of silica and zirconia in the sheet glass is analyzed,
When the content of silica and the content of zirconia is below a predetermined reference value, in the specific step, the glass adhering to the molded body for forming the sheet glass from the molten glass is identified as the cause of surface irregularities,
In the elimination step, it is preferable to increase the temperature of the molded body.

上述の態様のガラス板の製造方法によれば、所定の基準値よりも大きい凹凸量が検出された場合、シートガラスの組成を分析し、分析された組成に基づいて、処理装置又は成形装置における、表面凹凸の原因の発生位置を特定し、発生位置においてこの原因を解消することで、表面凹凸の生成を軽減することができる。   According to the method for manufacturing a glass plate of the above-described aspect, when a concavo-convex amount larger than a predetermined reference value is detected, the composition of the sheet glass is analyzed, and based on the analyzed composition, in the processing apparatus or the molding apparatus The generation position of the surface unevenness can be reduced by specifying the occurrence position of the surface unevenness and eliminating the cause at the generation position.

本実施形態の製造方法のフローを示す図である。It is a figure which shows the flow of the manufacturing method of this embodiment. ガラス基板の製造装置の概略図である。It is the schematic of the manufacturing apparatus of a glass substrate.

以下、本発明のガラス基板の製造方法について説明する。
(ガラス基板の製造方法の全体概要)
図1は、本実施形態のガラス基板の製造方法の工程の一例を示す図である。ガラス基板の製造方法は、熔解工程(ST1)、清澄工程(ST2)、均質化工程(ST3)、供給工程(ST4)、成形工程(ST5)、徐冷工程(ST6)、検出工程(ST7)、および、切断工程(ST8)を主に有する。この他に、研削工程、研磨工程、洗浄工程、検査工程、梱包工程等を有してもよい。製造されたガラス基板は、必要に応じて梱包工程で積層され、納入先の業者に搬送される。
Hereinafter, the manufacturing method of the glass substrate of this invention is demonstrated.
(Overall overview of glass substrate manufacturing method)
Drawing 1 is a figure showing an example of a process of a manufacturing method of a glass substrate of this embodiment. The glass substrate manufacturing method includes a melting step (ST1), a clarification step (ST2), a homogenization step (ST3), a supply step (ST4), a molding step (ST5), a slow cooling step (ST6), and a detection step (ST7). And a cutting step (ST8). In addition, a grinding process, a polishing process, a cleaning process, an inspection process, a packing process, and the like may be included. The manufactured glass substrate is laminated in a packing process as necessary, and is transported to a supplier.

熔解工程(ST1)では、ガラス原料を加熱することにより熔融ガラスを作る。
清澄工程(ST2)では、熔融ガラスが昇温されることにより、熔融ガラス中に含まれる酸素、CO2あるいはSO2を含んだ泡が発生する。この泡が熔融ガラス中に含まれる清澄剤(酸化スズ等)の還元反応により生じた酸素を吸収して成長し、熔融ガラスの液面に浮上して放出される。その後、清澄工程では、熔融ガラスの温度を低下させることにより、清澄剤の還元反応により得られた還元物質が酸化反応をする。これにより、熔融ガラスに残存する泡中の酸素等のガス成分が熔融ガラス中に再吸収されて、泡が消滅する。
In the melting step (ST1), molten glass is made by heating the glass raw material.
In the clarification step (ST2), when the molten glass is heated, bubbles containing oxygen, CO 2 or SO 2 contained in the molten glass are generated. This bubble grows by absorbing oxygen generated by the reduction reaction of the clarifying agent (tin oxide or the like) contained in the molten glass, and floats on the liquid surface of the molten glass and is released. Thereafter, in the clarification step, by reducing the temperature of the molten glass, the reducing substance obtained by the reduction reaction of the clarifier undergoes an oxidation reaction. Thereby, gas components, such as oxygen in the bubble which remain | survives in molten glass, are reabsorbed in molten glass, and a bubble lose | disappears.

均質化工程(ST3)では、スターラを用いて熔融ガラスを撹拌することにより、ガラス成分の均質化を行う。これにより、脈理等の原因であるガラスの組成ムラを低減することができる。均質化工程は、後述する撹拌槽において行われる。
供給工程(ST4)では、撹拌された熔融ガラスが成形装置に供給される。
In the homogenization step (ST3), the glass component is homogenized by stirring the molten glass using a stirrer. Thereby, the composition unevenness of the glass which is a cause of striae or the like can be reduced. A homogenization process is performed in the stirring tank mentioned later.
In the supplying step (ST4), the stirred molten glass is supplied to the molding apparatus.

成形工程(ST5)及び徐冷工程(ST6)は、成形装置で行われる。
成形工程(ST5)では、熔融ガラスをシートガラスに成形し、シートガラスの流れを作る。成形には、オーバーフローダウンドロー法が用いられる。
徐冷工程(ST6)では、成形されて流れるシートガラスが所望の厚さになり、内部歪が生じないように、さらに、反りが生じないように冷却される。
検出工程(ST7)では、徐冷後のシートガラスの表面凹凸の有無、表面凹凸の幅方向の位置、表面凹凸の凹凸量(基準面からの凹み量又は突出量)を検出する。
切断工程(ST8)では、徐冷後のシートガラスを所定の長さに切断することで、板状のガラス基板を得る。切断されたガラス基板はさらに、所定のサイズに切断され、目標サイズのガラス基板が作られる。
The molding step (ST5) and the slow cooling step (ST6) are performed by a molding apparatus.
In the forming step (ST5), the molten glass is formed into a sheet glass to make a flow of the sheet glass. An overflow downdraw method is used for molding.
In the slow cooling step (ST6), the sheet glass that has been formed and flowed is cooled to a desired thickness, so that internal distortion does not occur and warpage does not occur.
In the detection step (ST7), the presence or absence of surface unevenness of the sheet glass after slow cooling, the position in the width direction of the surface unevenness, and the unevenness amount of the surface unevenness (the amount of depression or protrusion from the reference surface) are detected.
In the cutting step (ST8), the sheet glass after slow cooling is cut into a predetermined length to obtain a plate-like glass substrate. The cut glass substrate is further cut into a predetermined size to produce a glass substrate having a target size.

図2は、本実施形態における熔解工程(ST1)〜切断工程(ST8)を行うガラス基板の製造装置の概略図である。ガラス基板の製造装置は、図2に示すように、主に熔解装置100と、成形装置200と、切断装置300と、を有する。熔解装置100は、熔解槽101と、清澄管102と、撹拌装置130と、移送管104、105と、ガラス供給管106と、を有する。   FIG. 2 is a schematic view of a glass substrate manufacturing apparatus that performs the melting step (ST1) to the cutting step (ST8) in the present embodiment. As shown in FIG. 2, the glass substrate manufacturing apparatus mainly includes a melting apparatus 100, a forming apparatus 200, and a cutting apparatus 300. The melting apparatus 100 includes a melting tank 101, a clarification tube 102, a stirring device 130, transfer tubes 104 and 105, and a glass supply tube 106.

図2に示す熔解槽101には、図示されないバーナー等の加熱手段が設けられている。熔解槽には清澄剤が添加されたガラス原料が投入され、熔解工程(ST1)が行われる。熔解槽101で熔融した熔融ガラスは、移送管104を介して清澄管102に供給される。
清澄管102では、熔融ガラスMGの温度を調整して、清澄剤の酸化還元反応を利用して熔融ガラスの清澄工程(ST2)が行われる。具体的には、清澄管102内の熔融ガラスが昇温されることにより、熔融ガラス中に含まれる酸素、CO2あるいはSO2を含んだ泡が、清澄剤の還元反応により生じた酸素を吸収して成長し、熔融ガラスの液面に浮上して気相空間に放出される。その後、熔融ガラスの温度を低下させることにより、清澄剤の還元反応により得られた還元物質が酸化反応をする。これにより、熔融ガラスに残存する泡中の酸素等のガス成分が熔融ガラス中に再吸収されて、泡が消滅する。清澄後の熔融ガラスは、移送管105を介して撹拌装置130に供給される。
The melting tank 101 shown in FIG. 2 is provided with heating means such as a burner (not shown). A glass raw material to which a clarifying agent is added is charged into the melting tank, and a melting step (ST1) is performed. The molten glass melted in the melting tank 101 is supplied to the clarification tube 102 via the transfer tube 104.
In the clarification tube 102, the temperature of the molten glass MG is adjusted, and the clarification step (ST2) of the molten glass is performed using the oxidation-reduction reaction of the clarifier. Specifically, when the molten glass in the clarification tube 102 is heated, the bubbles containing oxygen, CO 2 or SO 2 contained in the molten glass absorb oxygen generated by the reductive reaction of the clarifier. It grows and floats on the liquid surface of the molten glass and is released into the gas phase space. Thereafter, by reducing the temperature of the molten glass, the reducing substance obtained by the reductive reaction of the fining agent undergoes an oxidation reaction. Thereby, gas components, such as oxygen in the bubble which remain | survives in molten glass, are reabsorbed in molten glass, and a bubble lose | disappears. The clarified molten glass is supplied to the stirring device 130 via the transfer pipe 105.

撹拌装置130では、熔融ガラスが撹拌されて均質化工程(ST3)が行われる。撹拌装置130は、第1撹拌槽130Aと、第2撹拌槽130Bと、第1撹拌子131Aと、第2撹拌子131Bと、下部排出口132Aと、上部排出口132Bと、移送管133と、を有する。第1撹拌槽130Aおよび第2撹拌槽130B内で撹拌されることにより、熔融ガラスは均質化される。   In the stirring device 130, the molten glass is stirred and a homogenization step (ST3) is performed. The stirring device 130 includes a first stirring tank 130A, a second stirring tank 130B, a first stirring bar 131A, a second stirring bar 131B, a lower discharge port 132A, an upper discharge port 132B, a transfer pipe 133, Have The molten glass is homogenized by stirring in the first stirring tank 130A and the second stirring tank 130B.

第1撹拌槽130Aには、移送管105によって下部から熔融ガラスが供給される。熔融ガラスは第1撹拌子131Aによって撹拌されながら第1撹拌槽130A内を上昇する。第1撹拌槽130Aの上部に到達した熔融ガラスは移送管133によって第2撹拌槽の上部に移送される。
なお、熔解槽101、清澄管102等の処理装置において、処理装置の壁面からジルコニア等の比重が大きい不純物が熔融ガラス中に溶出して組成が変化し、熔融ガラス中で周囲と組成の異なる異質素地が生成される場合がある。このような異質素地は比重が大きいため、第1撹拌槽130Aの底部に溜まる傾向がある。第1撹拌槽130Aの底部には、下部排出口132Aが設けられており、下部排出口132Aを開くことで、第1撹拌槽130Aの底部に溜まった比重が大きい異質素地を含む熔融ガラスを外部へ排出することができる。
Molten glass is supplied to the first stirring tank 130 </ b> A from below by the transfer pipe 105. The molten glass rises in the first stirring tank 130A while being stirred by the first stirring bar 131A. The molten glass that has reached the upper part of the first stirring tank 130 </ b> A is transferred to the upper part of the second stirring tank by the transfer pipe 133.
In the processing apparatus such as the melting tank 101 and the clarification tube 102, impurities having a large specific gravity such as zirconia are eluted from the wall surface of the processing apparatus into the molten glass, the composition changes, and the composition is different from the surroundings in the molten glass. A substrate may be generated. Such a heterogeneous substrate has a large specific gravity and therefore tends to accumulate at the bottom of the first stirring tank 130A. A lower discharge port 132A is provided at the bottom of the first stirring tank 130A. By opening the lower discharge port 132A, molten glass containing a heterogeneous base material having a large specific gravity accumulated at the bottom of the first stirring tank 130A is externally provided. Can be discharged.

第2撹拌槽130Bには、移送管133によって上部から熔融ガラスが供給される。熔融ガラスは第2撹拌子131Bによって撹拌されながら第2撹拌槽130B内を下降する。第2撹拌槽130Bの下部に到達した熔融ガラスはガラス供給管106によって成形装置200の成形体210に移送される。
なお、熔解槽101、清澄管102、撹拌装置130等の処理装置において、熔融ガラスの気相空間と面する表面からホウ素等の揮発成分が揮発することで、熔融ガラスの組成が変化し、相対的にシリカの比率が高く比重が小さい異質素地が生成される場合がある。このような比重が小さい異質素地は、第2撹拌槽130Bの気相空間と面する上部に溜まる傾向がある。第2撹拌槽130Bの上部には、上部排出口132Bが設けられており、上部排出口132Bを開くことで、第2撹拌槽130Bの上部に溜まった比重が小さい異質素地を含む熔融ガラスを外部へ排出することができる。
Molten glass is supplied to the second stirring tank 130 </ b> B from above by the transfer pipe 133. The molten glass descends in the second stirring tank 130B while being stirred by the second stirring bar 131B. The molten glass that has reached the lower portion of the second stirring tank 130 </ b> B is transferred to the molded body 210 of the molding apparatus 200 through the glass supply pipe 106.
In the processing apparatus such as the melting tank 101, the clarification tube 102, and the stirring apparatus 130, the composition of the molten glass changes due to volatilization of volatile components such as boron from the surface facing the gas phase space of the molten glass, and the relative In particular, a heterogeneous substrate having a high silica ratio and a low specific gravity may be generated. Such a heterogeneous substrate having a small specific gravity tends to accumulate in an upper portion facing the gas phase space of the second stirring tank 130B. An upper discharge port 132B is provided in the upper part of the second stirring tank 130B. By opening the upper discharge port 132B, molten glass containing a heterogeneous base material having a small specific gravity accumulated in the upper part of the second stirring tank 130B is externally provided. Can be discharged.

撹拌装置130で均質化された熔融ガラスは、ガラス供給管106を介して成形装置200に供給される(供給工程ST4)。
成形装置200では、オーバーフローダウンドロー法により、成形体210から流下される熔融ガラスからシートガラスSGが成形され(成形工程ST5)、徐冷される(徐冷工程ST6)。
なお、熔融ガラス中に、周囲よりも高粘性のガラスが含まれている場合、この高粘性のガラスが成形体210に付着すると、シートガラスの幅方向に幅の広い脈理(表面凹凸)が形成されるおそれがある。成形体210の温度を上昇させると、成形体210に付着した熔融ガラスの粘性を低下させることができ、成形体210に付着した高粘性のガラスを除去することができる。ここで、成形体210の温度が高すぎると、成形体210や成形装置200への負担が大きくなるという問題がある。このため、成形体210の最高温度は1400℃以下とすることが好ましい。
The molten glass homogenized by the stirring device 130 is supplied to the molding device 200 through the glass supply pipe 106 (supply step ST4).
In the molding apparatus 200, the sheet glass SG is molded from the molten glass flowing down from the molded body 210 by the overflow down draw method (molding step ST5) and gradually cooled (slow cooling step ST6).
In addition, when glass with higher viscosity than the surroundings is contained in the molten glass, when this highly viscous glass adheres to the molded body 210, a wide striae (surface irregularities) is formed in the width direction of the sheet glass. There is a risk of formation. When the temperature of the molded body 210 is raised, the viscosity of the molten glass adhering to the molded body 210 can be reduced, and the highly viscous glass adhering to the molded body 210 can be removed. Here, when the temperature of the molded body 210 is too high, there is a problem that a burden on the molded body 210 and the molding apparatus 200 increases. For this reason, it is preferable that the maximum temperature of the molded object 210 shall be 1400 degrees C or less.

成形装置200内の検出装置290では、徐冷後のシートガラスSGに対して、表面凹凸の検出を行う(検出工程ST7)。
検出装置290は、例えば、光学式の表面検査装置であり、徐冷炉202の下部から搬出されるシートガラスSGに発生する表面凹凸の幅方向の位置、表面凹凸の凹凸量(基準面からの凹み量又は突出量)を検出する。なお、この凹部および凸部は、シートガラスSGの厚み(高さ)が変動したものであり、シートガラスSGの搬送方向に筋状に連続的に発生する。
In the detection apparatus 290 in the shaping | molding apparatus 200, surface unevenness | corrugation is detected with respect to the sheet glass SG after slow cooling (detection process ST7).
The detection device 290 is, for example, an optical surface inspection device, and the position in the width direction of the surface unevenness generated in the sheet glass SG carried out from the lower part of the slow cooling furnace 202, the amount of surface unevenness (the amount of recesses from the reference surface). (Or protrusion amount). In addition, this recessed part and convex part are the things from which the thickness (height) of the sheet glass SG was fluctuate | varied, and generate | occur | produces continuously in the streak form in the conveyance direction of the sheet glass SG.

成形装置200内の分析装置291は、シートガラスSGの組成を分析する。分析装置291には、例えば、電子線マイクロアナライザ(Electron Probe MicroAnalyzer;EPMA)又は飛行時間二次イオン質量分析計(Time-of-Flight secondary ion mass spectrometer;TOF-SIMS)を用いることができる。   The analyzing device 291 in the forming device 200 analyzes the composition of the sheet glass SG. As the analyzer 291, for example, an electron probe microanalyzer (EPMA) or a time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) can be used.

切断装置300では、シートガラスSGから切り出された板状のガラス基板が形成される(切断工程ST8)。   In the cutting device 300, a plate-shaped glass substrate cut out from the sheet glass SG is formed (cutting step ST8).

本実施形態においては、検出工程において、所定の基準値よりも大きい凹凸量が検出された場合、分析装置291を用いてシートガラスの組成を分析し、分析された組成に基づいて、処理装置又は成形装置における、表面凹凸の原因の発生位置を特定し、発生位置において原因を解消することで、表面凹凸の生成を軽減する処理が行われる。
具体的には、表面凹凸が形成されている領域と、表面凹凸が形成されていない領域とで組成の差や偏析を比較することで、表面凹凸の原因となる異質素地に多く含まれる成分を特定する。
In the present embodiment, in the detection step, when a concavo-convex amount larger than a predetermined reference value is detected, the composition of the sheet glass is analyzed using the analysis device 291, and the processing device or A process for reducing the generation of surface irregularities is performed by identifying the occurrence position of the cause of the surface irregularities in the molding apparatus and eliminating the cause at the occurrence position.
Specifically, by comparing the difference in composition and segregation between the region where the surface irregularities are formed and the region where the surface irregularities are not formed, the components contained in the heterogeneous substrate that causes the surface irregularities are increased. Identify.

例えば、表面凹凸が形成されていない領域において、表面凹凸が形成されていない領域よりもジルコニアの含有量が多いと分析された場合、熔解槽101、清澄管102等の処理装置において、処理装置の壁面からジルコニアが熔融ガラス中に溶出し、ジルコニアの含有量が多い異質素地が生成されたと判断することができる。この場合、ジルコニアの含有量が多い異質素地は熔融ガラスの他の部分と比較して比重が大きいため、第1撹拌槽130Aの底部に多く溜まると考えられる。そこで、表面凹凸の生成を軽減する処理として、撹拌装置130の下部排出口132Aを開くことで、第1撹拌槽130Aの底部に溜まった比重が大きい異質素地を含む熔融ガラスを外部へ排出する。これにより、比重が大きい異質素地に起因して生じる表面凹凸を軽減することができる。   For example, when it is analyzed that the content of zirconia is higher in the region where the surface unevenness is not formed than in the region where the surface unevenness is not formed, in the processing device such as the melting tank 101 and the clarification tube 102, It can be determined that zirconia eluted from the wall surface into the molten glass, and a heterogeneous substrate having a high zirconia content was generated. In this case, the heterogeneous substrate having a high zirconia content has a larger specific gravity than the other portions of the molten glass, and therefore, it is considered that the heterogeneous substrate accumulates at the bottom of the first stirring tank 130A. Therefore, as a process for reducing the generation of surface irregularities, the lower discharge port 132A of the stirring device 130 is opened, and the molten glass containing a heterogeneous substrate having a large specific gravity accumulated at the bottom of the first stirring tank 130A is discharged to the outside. Thereby, the surface unevenness | corrugation resulting from the heterogeneous base material with large specific gravity can be reduced.

比重が大きい異質素地を含む熔融ガラスが第1撹拌槽130Aの底部から排出されたら、下部排出口132Aからの熔融ガラスの排出を停止する。例えば、下部排出口132Aから排出される熔融ガラスの成分を分析し、下部排出口132Aから排出される熔融ガラス中のジルコニアの含有量が所定の基準値以下になったときに下部排出口132Aからの熔融ガラスの排出を停止すればよい。あるいは、下部排出口132Aを一定時間開き、所定量の溶融ガラスが排出された後、下部排出口132Aを閉じてもよい。   When the molten glass containing the heterogeneous substrate having a large specific gravity is discharged from the bottom of the first stirring tank 130A, the discharge of the molten glass from the lower discharge port 132A is stopped. For example, the component of the molten glass discharged from the lower discharge port 132A is analyzed, and when the content of zirconia in the molten glass discharged from the lower discharge port 132A becomes a predetermined reference value or less, the lower discharge port 132A What is necessary is just to stop discharge | emission of molten glass. Alternatively, the lower discharge port 132A may be opened for a certain period of time and the lower discharge port 132A may be closed after a predetermined amount of molten glass has been discharged.

また、例えば、表面凹凸が形成されていない領域において、表面凹凸が形成されていない領域よりもシリカの含有量が多いと分析された場合、熔解槽101、清澄管102、撹拌装置130等の処理装置において、熔融ガラスの表面から気相空間にホウ素等の揮発成分が揮発することで熔融ガラスの組成が変化し、シリカの含有量が多い異質素地が生成されたと判断することができる。この場合、シリカの含有量が多い異質素地は熔融ガラスの他の部分と比較して比重が小さいため、第2撹拌槽130Bの上部に多く溜まると考えられる。そこで、表面凹凸の生成を軽減する処理として、撹拌装置130の上部排出口132Bを開くことで、第2撹拌槽130Bの上部に溜まった比重が小さい異質素地を含む熔融ガラスを外部へ排出する。これにより、比重が小さい異質素地に起因して生じる表面凹凸を軽減することができる。   Further, for example, when it is analyzed that the content of silica is higher in the region where the surface unevenness is not formed than in the region where the surface unevenness is not formed, the processing of the melting tank 101, the clarification tube 102, the stirring device 130, etc. In the apparatus, it can be determined that the composition of the molten glass is changed by volatilization of a volatile component such as boron from the surface of the molten glass into the gas phase space, and a heterogeneous substrate having a high silica content is generated. In this case, the heterogeneous substrate having a high silica content has a smaller specific gravity than the other portions of the molten glass, and therefore, it is considered that the heterogeneous substrate accumulates in the upper part of the second stirring tank 130B. Therefore, as a process for reducing the generation of surface irregularities, the upper discharge port 132B of the stirring device 130 is opened, and the molten glass containing a heterogeneous substrate having a small specific gravity accumulated in the upper portion of the second stirring tank 130B is discharged to the outside. Thereby, the surface unevenness | corrugation resulting from the heterogeneous substrate with small specific gravity can be reduced.

比重が小さい異質素地を含む熔融ガラスが第2撹拌槽130Bの上部から排出されたら、上部排出口132Bからの熔融ガラスの排出を停止する。例えば、上部排出口132Bから排出される熔融ガラスの成分を分析し、上部排出口132Bから排出される熔融ガラス中のシリカの含有量が所定の基準値以下になったときに上部排出口132Bからの熔融ガラスの排出を停止すればよい。あるいは、上部排出口132Bを一定時間開き、所定量の溶融ガラスが排出された後、上部排出口132Bを閉じてもよい。   When the molten glass containing the heterogeneous substrate having a small specific gravity is discharged from the upper part of the second stirring tank 130B, the discharge of the molten glass from the upper discharge port 132B is stopped. For example, the composition of the molten glass discharged from the upper outlet 132B is analyzed, and when the content of silica in the molten glass discharged from the upper outlet 132B becomes a predetermined reference value or less, the upper outlet 132B What is necessary is just to stop discharge | emission of molten glass. Alternatively, the upper outlet 132B may be opened for a certain period of time and the upper outlet 132B may be closed after a predetermined amount of molten glass has been discharged.

また、例えば表面凹凸が形成されていない領域と、表面凹凸が形成されていない領域とで、(例えばシリカやジルコニウム等の)組成に差異がない場合、表面凹凸は異質素地ではなく、成形体210に付着した高粘性のガラスに起因すると判断することができる。この場合、成形体210の温度を上昇させることで、成形体210に付着した熔融ガラスの粘性を低下させ、成形体210に付着した高粘性のガラスを除去することができる。   Further, for example, when there is no difference in the composition (for example, silica, zirconium, etc.) between the region where the surface unevenness is not formed and the region where the surface unevenness is not formed, the surface unevenness is not a heterogeneous substrate, and the molded body 210. It can be determined that this is due to the highly viscous glass adhering to the glass. In this case, by increasing the temperature of the molded body 210, the viscosity of the molten glass attached to the molded body 210 can be reduced, and the highly viscous glass attached to the molded body 210 can be removed.

以上説明したとおり、本実施形態によれば、所定の基準値よりも大きい凹凸量が検出された場合、シートガラスの組成を分析し、分析された組成に基づいて、処理装置又は成形装置における、表面凹凸の原因の発生位置を特定し、発生位置においてこの原因を解消することで、表面凹凸の生成を軽減することができる。   As described above, according to the present embodiment, when a concavo-convex amount larger than a predetermined reference value is detected, the composition of the sheet glass is analyzed, and based on the analyzed composition, in the processing apparatus or the molding apparatus, By identifying the occurrence position of the cause of the surface unevenness and eliminating the cause at the occurrence position, the generation of the surface unevenness can be reduced.

以上、本発明のガラス基板の製造方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。上記実施形態においては、熔融ガラス中のシリカやジルコニウムの含有量に基づいて表面凹凸の原因の発生位置を特定する例について説明したが、本発明はこれに限らず、熔融ガラス中の他の成分の含有量に基づいて表面凹凸の原因の発生位置を特定してもよい。   As mentioned above, although the manufacturing method of the glass substrate of this invention was demonstrated in detail, this invention is not limited to the said embodiment, In the range which does not deviate from the main point of this invention, you may make various improvement and a change. Of course. In the said embodiment, although the example which pinpoints the generation | occurrence | production position of the cause of surface unevenness based on content of the silica and zirconium in molten glass was demonstrated, this invention is not limited to this, Other components in molten glass The occurrence position of the cause of surface irregularities may be specified based on the content of.

上記実施形態においては、撹拌装置130に下部排出口132Aおよび上部排出口132Bを設けた場合について説明したが、本発明はこれに限らない。例えば、熔融槽101に下部排出口および上部排出口を設けてもよいし、清澄槽102に下部排出口および上部排出口を設けてもよい。   Although the case where the lower discharge port 132A and the upper discharge port 132B are provided in the stirring device 130 has been described in the above embodiment, the present invention is not limited to this. For example, the melting tank 101 may be provided with a lower outlet and an upper outlet, and the clarification tank 102 may be provided with a lower outlet and an upper outlet.

本実施形態のガラス基板の製造方法によって製造されるガラス基板には、歪点や徐冷点が高く良好な寸法安定性を有する無アルカリのボロアルミノシリケートガラスあるいはアルカリ微量含有ガラスが用いられる。   For the glass substrate produced by the method for producing a glass substrate of the present embodiment, an alkali-free boroaluminosilicate glass having a high strain point and a slow cooling point and good dimensional stability or a glass containing a trace amount of alkali is used.

本実施形態が適用されるガラス基板は、例えば以下の組成を含む無アルカリガラスからなる。
SiO:56−65質量%
Al:15−19質量%
:8−13質量%
MgO:1−3質量%
CaO:4−7質量%
SrO:1−4質量%
BaO:0−2質量%
NaO:0−1質量%
O:0−1質量%
As:0−1質量%
Sb:0−1質量%
SnO:0−1質量%
Fe:0−1質量%
ZrO:0−1質量%
The glass substrate to which this embodiment is applied is made of an alkali-free glass having the following composition, for example.
SiO 2: 56-65% by weight
Al 2 O 3 : 15-19% by mass
B 2 O 3: 8-13 wt%
MgO: 1-3% by mass
CaO: 4-7% by mass
SrO: 1-4% by mass
BaO: 0-2 mass%
Na 2 O: 0-1% by mass
K 2 O: 0-1 wt%
As 2 O 3 : 0-1% by mass
Sb 2 O 3: 0-1 wt%
SnO 2 : 0-1% by mass
Fe 2 O 3 : 0-1% by mass
ZrO 2 : 0-1% by mass

本実施形態で製造されるガラス基板は、フラットパネルディスプレイ用ガラス基板を含むディスプレイ用ガラス基板に好適である。IGZO(インジウム、ガリウム、亜鉛、酸素)等の酸化物半導体を使用した酸化物半導体ディスプレイ用ガラス基板及びLTPS(低温度ポリシリコン)半導体を使用したLTPSディスプレイ用ガラス基板に好適である。また、本実施形態で製造されるガラス基板は、アルカリ金属酸化物の含有量が極めて少ないことが求められる液晶ディスプレイ用ガラス基板に好適である。また、有機ELディスプレイ用ガラス基板にも好適である。言い換えると、本実施形態のガラス基板の製造方法は、ディスプレイ用ガラス基板の製造に好適であり、特に、液晶ディスプレイ用ガラス基板の製造に好適である。
また、本実施形態で製造されるガラス基板は、カバーガラス、磁気ディスク用ガラス、太陽電池用ガラス基板などにも適用することが可能である。
The glass substrate manufactured by this embodiment is suitable for the glass substrate for a display containing the glass substrate for flat panel displays. It is suitable for an oxide semiconductor display glass substrate using an oxide semiconductor such as IGZO (indium, gallium, zinc, oxygen) and an LTPS display glass substrate using an LTPS (low temperature polysilicon) semiconductor. Moreover, the glass substrate manufactured by this embodiment is suitable for the glass substrate for liquid crystal displays by which it is calculated | required that content of an alkali metal oxide is very small. Moreover, it is suitable also for the glass substrate for organic EL displays. In other words, the manufacturing method of the glass substrate of this embodiment is suitable for manufacture of the glass substrate for displays, and is especially suitable for manufacture of the glass substrate for liquid crystal displays.
Moreover, the glass substrate manufactured by this embodiment is applicable also to a cover glass, the glass for magnetic discs, the glass substrate for solar cells, etc.

100 熔解装置
101 熔解槽
102 清澄槽
104、105 移送管
106 ガラス供給管
130 攪拌装置
130A、130B 撹拌槽
131A、131B 撹拌子
132A 下部排出口
132B 上部排出口
133 移送管
200 成形装置
210 成形体
290 検出装置
291 分析装置
300 切断装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Melting apparatus 101 Melting tank 102 Clarification tank 104,105 Transfer pipe 106 Glass supply pipe 130 Stirrer 130A, 130B Stirrer tank 131A, 131B Stirrer 132A Lower discharge port 132B Upper discharge port 133 Transfer pipe 200 Molding device 210 Molded body 290 Detection Device 291 Analyzing device 300 Cutting device

Claims (7)

ガラス基板の製造方法であって、
熔融ガラスの処理装置から供給される熔融ガラスを成形装置により成形してシートガラスを生成する成形工程と、
前記シートガラスの搬送方向に発生する表面凹凸の凹凸量を検出する検出工程と、
所定の基準値よりも大きい凹凸量が検出された場合、前記シートガラスの組成を分析する分析工程と、
分析された組成に基づいて、前記処理装置又は前記成形装置における、前記表面凹凸の原因の発生位置を特定する特定工程と、
前記発生位置において前記原因を解消し前記表面凹凸の生成を軽減する解消工程と、を有する、ガラス基板の製造方法。
A method of manufacturing a glass substrate,
A molding step of forming a sheet glass by molding a molten glass supplied from a molten glass processing apparatus by a molding apparatus;
A detection step of detecting the unevenness amount of the surface unevenness generated in the conveying direction of the sheet glass;
When an unevenness amount larger than a predetermined reference value is detected, an analysis step for analyzing the composition of the sheet glass;
Based on the analyzed composition, in the processing apparatus or the molding apparatus, a specific step of identifying the occurrence position of the cause of the surface irregularities,
And a elimination step of eliminating the cause and reducing the generation of the surface irregularities at the generation position.
前記特定工程において、表面凹凸の原因となる、前記熔融ガラス中の周囲と組成の異なる異質素地の発生位置を特定し、
前記解消工程において、前記発生位置の熔融ガラスを前記処理装置から排出する、請求項1に記載のガラス基板の製造方法。
In the identifying step, identify the occurrence position of the heterogeneous substrate having a composition different from the surrounding in the molten glass, which causes surface irregularities,
The manufacturing method of the glass substrate of Claim 1 which discharges | emits the molten glass of the said generation | occurrence | production position from the said processing apparatus in the said cancellation process.
前記処理装置は、内部に熔融ガラスが収容される空間、および、熔融ガラスの上部に気相空間を有するとともに、気相空間と面する熔融ガラスを排出する上部排出口を有し、
前記分析工程において、前記シートガラス中のシリカの含有量を分析し、
前記表面凹凸の領域におけるシリカの含有量が他の領域におけるシリカの含有量よりも大きい場合、前記特定工程において前記気相空間と面する箇所を前記異質素地の発生位置として特定し、前記解消工程において、前記上部排出口から気相空間と面する熔融ガラスを排出する、請求項2に記載のガラス基板の製造方法。
The processing apparatus has a space in which the molten glass is accommodated therein, and a gas phase space above the molten glass, and an upper discharge port for discharging the molten glass facing the gas phase space,
In the analysis step, the content of silica in the sheet glass is analyzed,
When the silica content in the surface irregularity region is larger than the silica content in the other region, the location facing the gas phase space is identified as the occurrence position of the heterogeneous base in the identifying step, and the elimination step The method for producing a glass substrate according to claim 2, wherein the molten glass facing the gas phase space is discharged from the upper discharge port.
前記上部排出口から排出される熔融ガラス中のシリカの含有量が所定の基準値以下になったときに前記上部排出口からの熔融ガラスの排出を停止する、請求項3に記載のガラス基板の製造方法。   The glass substrate according to claim 3, wherein the discharge of the molten glass from the upper discharge port is stopped when the content of silica in the molten glass discharged from the upper discharge port becomes a predetermined reference value or less. Production method. 前記処理装置は、熔融ガラスが収容される空間を内部に有するとともに、熔融ガラスを排出する下部排出口を底部に有し、
前記分析工程において、前記シートガラス中のジルコニアの含有量を分析し、
前記表面凹凸の領域におけるジルコニアの含有量が他の領域におけるジルコニアの含有量が所定の基準値よりも大きい場合、前記特定工程において前記処理装置の底部を前記異質素地の発生位置として特定し、前記解消工程において、前記下部排出口から前記処理装置の底部と面する熔融ガラスを排出する、請求項2〜4のいずれか一項に記載のガラス基板の製造方法。
The processing apparatus has a space in which molten glass is accommodated therein, and a lower discharge port for discharging the molten glass at the bottom,
In the analysis step, the content of zirconia in the sheet glass is analyzed,
When the content of zirconia in the region of the surface unevenness is larger than a predetermined reference value in the content of zirconia in the other region, the bottom of the processing device is specified as the occurrence position of the heterogeneous base in the specifying step, The manufacturing method of the glass substrate as described in any one of Claims 2-4 which discharges | emits the molten glass which faces the bottom part of the said processing apparatus from the said lower discharge port in a cancellation | release process.
前記下部排出口から排出される熔融ガラス中のジルコニアの含有量が所定の基準値以下になったときに前記下部排出口からの熔融ガラスの排出を停止する、請求項5に記載のガラス基板の製造方法。   The glass substrate according to claim 5, wherein the discharge of the molten glass from the lower discharge port is stopped when the content of zirconia in the molten glass discharged from the lower discharge port becomes a predetermined reference value or less. Production method. 前記分析工程において、前記シートガラス中のシリカおよびジルコニアの含有量を分析し、
シリカの含有量およびジルコニアの含有量が所定の基準値以下である場合、前記特定工程において、熔融ガラスからシートガラスを成形する成形体に付着したガラスが表面凹凸の原因であると特定し、
前記解消工程において、前記成形体の温度を上昇させる、請求項1〜6のいずれか一項に記載のガラス基板の製造方法。
In the analysis step, the content of silica and zirconia in the sheet glass is analyzed,
When the content of silica and the content of zirconia is below a predetermined reference value, in the specific step, the glass adhering to the molded body for forming the sheet glass from the molten glass is identified as the cause of surface irregularities,
The manufacturing method of the glass substrate as described in any one of Claims 1-6 which raises the temperature of the said molded object in the said cancellation process.
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