JP6393492B2 - 試料台及び走査型プローブ顕微鏡 - Google Patents
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Description
T. Mutsuo, T. Nakazawa, T. Niino, A. Yamamoto, B. Kim, Y. Hoshi, K. Ikeda, M. Michihata, and H. Kawakatsu, "Fabricating Five Atomic Force Microscopes with an Extremely Low Budget -A Student Project-", Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 43, No. 7B, 2004, pp.4615-4618。
11 流体セル
12a 流体導入管
14 フィルタ保持部
15 フィルタ
16 流体排出管
18 フィルタ支持台
21 プローブユニット
25 観察試料
Claims (9)
- 走査型プローブ顕微鏡の観察対象となる試料を保持する試料台であって、
前記試料を含有する流体が導入される流体セルと、
前記流体の通過を許容するとともに前記試料の少なくとも一部が付着するフィルタを含むフィルタユニットとを備え、
前記流体セルは流体導入口及び前記フィルタに付着した試料を観察するプローブユニットを含み、
前記フィルタユニットは、流体排出口を含み、前記流体セルの一面に取り付けられることを特徴とする試料台。 - 前記流体は、前記流体導入口から前記流体セル内に導入され、前記フィルタを通過した後、前記流体排出口から排出される請求項1に記載の試料台。
- 前記流体導入口から前記流体セル内に導入されて前記流体排出口から排出される前記流体の総流量に応じて、前記フィルタに付着する試料の量が変化する請求項2に記載の試料台。
- 前記フィルタに付着した試料は、前記流体中で前記プローブユニットによって観察される請求項1に記載の試料台。
- 前記フィルタユニットは、スキャナに取り付けられるとともに、前記プローブユニットに対して変位可能となるように前記流体セルに流体密に取り付けられる請求項1又は4に記載の試料台。
- 前記プローブユニットは、スキャナを介して前記流体セルに取り付けられる請求項1又は4に記載の試料台。
- 前記流体排出口から洗浄用流体が導入されると、前記フィルタに付着した試料は、前記フィルタから除去される請求項1〜6のいずれか1項に記載の試料台。
- 前記走査型プローブ顕微鏡は、原子間力顕微鏡である請求項1〜7のいずれか1項に記載の試料台。
- 請求項1〜8のいずれか1項に記載の試料台を含む走査型プローブ顕微鏡。
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