JP6285243B2 - Drop impact test device for honeycomb structure - Google Patents
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Description
本発明は、ハニカム構造体の落下衝撃試験装置に関する。さらに詳しくは、高精度で且つ高い再現性を有する信頼性の高い落下衝撃試験を行うことが可能なハニカム構造体の落下衝撃試験装置に関する。 The present invention relates to a drop impact test apparatus for a honeycomb structure. More specifically, the present invention relates to a honeycomb structure drop impact test apparatus capable of performing a highly reliable drop impact test with high accuracy and high reproducibility.
化学、電力、鉄鋼等の様々な分野において、環境対策や特定物資の回収等のために使用される触媒装置用の担体、又はフィルタとして、耐熱性、耐食性に優れるセラミック製のハニカム構造体が採用されている。ハニカム構造体は、一方の端面である第一端面から、他方の端面である第二端面まで延びる複数のセルを区画形成する隔壁、及び最外周に位置する外周壁を有する柱状の構造物である(例えば、特許文献1)。 Ceramic honeycomb structure with excellent heat resistance and corrosion resistance is used as a carrier or filter for catalyst devices used for environmental measures and recovery of specific materials in various fields such as chemistry, electric power, steel, etc. Has been. The honeycomb structure is a columnar structure having partition walls that form a plurality of cells extending from a first end face that is one end face to a second end face that is the other end face, and an outer peripheral wall located at the outermost periphery. (For example, patent document 1).
このようなセラミック製のハニカム構造体の耐久性の品質評価の1つして、落下衝撃試験が行われることがある(例えば、非特許文献1)。セラミック製のハニカム構造体における落下衝撃試験としては、以下のような方法を挙げることができる。まず、球状の落下試験対象物を、柱状のハニカム構造体の鉛直上方にて保持する。次に、落下試験対象物をハニカム構造体に向けて自由落下させて、ハニカム構造体の測定箇所に衝突させる。次に、落下試験対象物が衝突したハニカム構造体の測定箇所について、目視などにより、欠けやひび割れの発生の有無を検査する。落下衝撃試験においては、落下試験対象物の質量や衝突するまでの距離などを変えて試験を行うことで、被対象物であるハニカム構造体の耐久性を評価する。また、落下衝撃試験においては、ハニカム構造体の側面(外周壁)や端面などの種々の箇所について試験が行われることがある。 As one of the durability quality evaluation of such a ceramic honeycomb structure, a drop impact test is sometimes performed (for example, Non-Patent Document 1). Examples of the drop impact test on the ceramic honeycomb structure include the following methods. First, a spherical drop test object is held vertically above a columnar honeycomb structure. Next, the drop test object is freely dropped toward the honeycomb structure and collided with a measurement location of the honeycomb structure. Next, the presence or absence of chipping or cracking is inspected by visual observation or the like at the measurement location of the honeycomb structure on which the drop test object collides. In the drop impact test, the durability of the target honeycomb structure is evaluated by performing a test while changing the mass of the drop test object, the distance to the collision, and the like. Moreover, in the drop impact test, the test may be performed on various places such as a side surface (outer peripheral wall) and an end surface of the honeycomb structure.
従来、ハニカム構造体に対して行われる落下衝撃試験では、落下試験対象物がハニカム構造体に一旦衝突した後、リバウンドした落下試験対象物の再度の衝突により、正確で且つ高い再現性を有する試験を行うことが困難という問題があった。特に、ハニカム構造体は、極めて薄い隔壁を有する構造体であり、リバウンドした2回目以降の衝突による試験結果への影響が非常に大きなものであった。 Conventionally, in a drop impact test performed on a honeycomb structure, after a drop test object collides with the honeycomb structure once, a test that has an accurate and high reproducibility by re-collision of the rebound drop test object. There was a problem that it was difficult to do. In particular, the honeycomb structure is a structure having extremely thin partition walls, and the influence on the test result due to the second and subsequent collisions was very large.
また、ハニカム構造体は、円柱状の構造体であるため、市販されているような従来の落下衝撃試験装置では、再現性の高い落下衝撃試験を行うことが困難であるという問題があった。例えば、ハニカム構造体の端面周縁における欠けの発生状況を試験するには、ハニカム構造体の端面周縁の所定箇所に、落下試験対象物を再現性よく衝突させることが必要となる。しかしながら、従来の落下衝撃試験装置では、再現性よく一定の箇所に落下試験対象物を衝突させることが困難であったり、上述したリバウンドによって落下試験対象物の衝突箇所が定まらなかったりするという問題があった。 Further, since the honeycomb structure is a columnar structure, there is a problem that it is difficult to perform a highly reproducible drop impact test with a conventional drop impact test apparatus such as a commercially available one. For example, in order to test the occurrence of chipping at the peripheral edge of the honeycomb structure, it is necessary to cause the drop test object to collide with a predetermined location on the peripheral edge of the honeycomb structure with high reproducibility. However, in the conventional drop impact test apparatus, there is a problem that it is difficult to cause the drop test object to collide with a certain place with high reproducibility, or the drop test object collision place cannot be determined due to the above-described rebound. there were.
本発明は、上述した問題に鑑みてなされたものである。本発明は、高精度で且つ高い再現性を有する信頼性の高い落下衝撃試験を行うことが可能なハニカム構造体の落下衝撃試験装置を提供する。 The present invention has been made in view of the above-described problems. The present invention provides a drop impact test apparatus for a honeycomb structure capable of performing a highly reliable drop impact test with high accuracy and high reproducibility.
上述の課題を解決するため、本発明は、以下のハニカム構造体の落下衝撃試験装置を提供するものである。 In order to solve the above-described problems, the present invention provides the following honeycomb structure drop impact test apparatus.
[1] 磁性を有する落下試験対象物を、柱状のハニカム構造体の鉛直上方にて保持し、当該落下試験対象物の保持状態を落下開始時において解除する保持手段と、前記保持手段と前記ハニカム構造体との間に設けた前記落下試験対象物が通過する落下経路と、前記ハニカム構造体に前記落下試験対象物が衝突したことを検知する衝突検知手段と、前記落下経路の周縁に配置された電磁石、及び前記衝突検知手段の検知情報に基づいて前記電磁石への通電を行う通電部を有するリバウンド防止手段と、を備えた、ハニカム構造体の落下衝撃試験装置であって、前記リバウンド防止手段が、前記落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成され、前記保持手段が、前記落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成されているとともに、第二の電磁石、及び前記衝突検知手段の検知情報に基づいて前記第二の電磁石への通電を行う第二の通電部を有し、磁力により前記落下試験対象物を引き付けた前記リバウンド防止手段が経路方向の上方に移動して保持手段となり、前記保持手段が経路方向の下方に移動してリバウンド防止手段となる、ハニカム構造体の落下衝撃試験装置。 [1] Holding means for holding a magnetic drop test object vertically above a columnar honeycomb structure, and releasing the holding state of the drop test object at the start of dropping, the holding means, and the honeycomb A drop path through which the drop test object passes between the structure, a collision detection means for detecting that the drop test object has collided with the honeycomb structure, and a periphery of the drop path. And a rebound prevention means having a current-carrying part that conducts electricity to the electromagnet based on detection information of the collision detection means , wherein the rebound prevention means Is configured to be movable along the path direction of the drop path, and the holding means is configured to be movable along the path direction of the drop path, and the second electromagnetic A second energization unit configured to energize the second electromagnet based on detection information of the stone and the collision detection unit, and the rebound prevention unit that attracts the drop test object by a magnetic force is provided in a path direction. A drop impact test apparatus for a honeycomb structure, which moves upward to become holding means, and the holding means moves downward in the path direction to become rebound prevention means .
[2] 前記衝突検知手段が、前記ハニカム構造体に前記落下試験対象物が衝突した際の音を検知する音検知部を有する、前記[1]に記載のハニカム構造体の落下衝撃試験装置。 [2] The drop impact test apparatus for the honeycomb structure according to [1], wherein the collision detection unit includes a sound detection unit that detects a sound when the drop test object collides with the honeycomb structure.
[3] 前記衝突検知手段が、前記音検知部が検知した音を音波解析し、前記落下試験対象物が衝突した際の衝突音により、前記ハニカム構造体の破損状態を検知する破損検知部を更に有する、前記[2]に記載のハニカム構造体の落下衝撃試験装置。 [3] A breakage detection unit, wherein the collision detection unit analyzes a sound detected by the sound detection unit and detects a breakage state of the honeycomb structure by a collision sound when the drop test object collides. The honeycomb structure drop impact test apparatus according to [2], further comprising:
[4] 前記落下経路が、筒状の側壁部を有し、前記側壁部の一方の端部側の周縁の一部が切り欠かれ、当該切り欠かれた部分に前記ハニカム構造体を配置する、前記[1]〜[3]のいずれかに記載のハニカム構造体の落下衝撃試験装置。 [4] The dropping path has a cylindrical side wall portion, a part of a peripheral edge on one end side of the side wall portion is cut out, and the honeycomb structure is disposed in the cut out portion. The drop impact test device for a honeycomb structure according to any one of [1] to [3].
[5] 前記落下経路の鉛直方向に対する傾きを測定するための水準器を更に備えた、前記[1]〜[4]のいずれかに記載のハニカム構造体の落下衝撃試験装置。 [ 5 ] The honeycomb structure drop impact test device according to any one of [1] to [ 4 ], further comprising a level for measuring an inclination of the drop path with respect to a vertical direction.
本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置は、落下経路の周縁に配置された電磁石、及び衝突検知手段の検知情報に基づいて電磁石への通電を行う通電部を有するリバウンド防止手段を備えている。このようなリバウンド防止手段によれば、ハニカム構造体への1回目の落下試験対象物の衝突を妨げることなく、一旦衝突した後にリバウンドした落下試験対象物を、電磁石の磁力により引き付けて、落下試験対象物の再衝突を有効に防止することができる。このため、高精度で且つ高い再現性を有する信頼性の高い落下衝撃試験を行うことができる。 A honeycomb structure drop impact test apparatus according to the present invention includes an electromagnet arranged at the periphery of a dropping path, and a rebound prevention unit having an energization unit configured to energize the electromagnet based on detection information of the collision detection unit. . According to such a rebound prevention means, the drop test object that has rebounded after colliding once is attracted by the magnetic force of the electromagnet without interfering with the collision of the first drop test object with the honeycomb structure. The re-collision of the object can be effectively prevented. For this reason, a highly reliable drop impact test with high accuracy and high reproducibility can be performed.
次に本発明を実施するための形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、当業者の通常の知識に基づいて、適宜設計の変更、改良等が加えられることが理解されるべきである。 Next, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the following embodiments, and it is understood that design changes, improvements, and the like can be added as appropriate based on the ordinary knowledge of those skilled in the art without departing from the spirit of the present invention. Should.
(1)ハニカム構造体の落下衝撃試験装置:
本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の一の実施形態は、図1〜図3に示すように、保持手段30と、落下経路40と、衝突検知手段50と、リバウンド防止手段60と、を備えた、ハニカム構造体の落下衝撃試験装置100である。本実施形態のハニカム構造体の落下衝撃試験装置100は、図11に示すような、柱状のハニカム構造体10を検査対象とした落下衝撃試験装置である。図11に示すように、ハニカム構造10は、流体の流路となる第一端面11から第二端面12まで延びる複数のセル2を区画形成する隔壁1、及び最外周に配置された外周壁3を有する柱状の構造部である。ハニカム構造体10は、排ガス浄化用のフィルタや触媒担体として使用されている。ハニカム構造体10の隔壁1及び外周壁3は、例えば、セラミックからなる多孔体によって構成されている。図1〜図3に示す落下衝撃試験装置100は、球状等の落下試験対象物20を、ハニカム構造体10の鉛直上方から落下させ、この落下試験対象物20をハニカム構造体10に衝突させることで、ハニカム構造体10の耐久性を検査するための装置である。
(1) Honeycomb structure drop impact test equipment:
As shown in FIGS. 1 to 3, one embodiment of the honeycomb structure drop impact test apparatus of the present invention includes a
ここで、図1は、本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の一の実施形態を一の方向から見た模式的な斜視図である。図2は、本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の一の実施形態を他の方向から見た模式的な斜視図である。図3は、本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の一の実施形態の断面を模式的に示す概略断面図である。図11は、本実施形態のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の検査対象であるハニカム構造体を模式的に示す斜視図である。以下、本実施形態の「ハニカム構造体の落下衝撃試験装置」について、単に「落下衝撃試験装置」ということがある。また、ハニカム構造体は、落下衝撃試験装置における被対象物(被試験対象物)であり、落下衝撃試験装置の構成要素の一部ではない。 Here, FIG. 1 is a schematic perspective view of one embodiment of a drop impact test apparatus for a honeycomb structure of the present invention as viewed from one direction. FIG. 2 is a schematic perspective view of an embodiment of a drop impact test apparatus for a honeycomb structure of the present invention as viewed from another direction. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view schematically showing a cross section of an embodiment of the drop impact test apparatus for a honeycomb structure of the present invention. FIG. 11 is a perspective view schematically showing a honeycomb structure to be inspected by the drop impact test apparatus for honeycomb structure of the present embodiment. Hereinafter, the “honeycomb structure drop impact test apparatus” of the present embodiment may be simply referred to as “drop impact test apparatus”. The honeycomb structure is an object to be tested (object to be tested) in the drop impact test apparatus, and is not a part of the constituent elements of the drop impact test apparatus.
保持手段30は、磁性を有する落下試験対象物20を、柱状のハニカム構造体10の鉛直上方にて保持し、当該落下試験対象物20の保持状態を落下開始時において解除するものである。保持手段30は、磁性を有する落下試験対象物20を保持するための第二の電磁石31を有している。第二の電磁石31への通電により磁力を発生させることで、磁性を有する落下試験対象物20を保持し、第二の電磁石31への通電を止めることで、磁性を有する落下試験対象物20の保持を解除することができる。
The holding means 30 holds the magnetic
落下経路40は、保持手段20とハニカム構造体10との間に設けた、落下試験対象物20が通過する経路である。落下経路40は、保持手段20での保持状態が解除された落下試験対象物20が、自由落下してハニカム構造体10に衝突するように、鉛直方向に延びる経路であることが好ましい。落下経路40は、筒状の側壁部41を有する筒状のものを挙げることができる。
The
衝突検知手段50は、ハニカム構造体10に落下試験対象物20が衝突したことを検知する検知手段である。衝突検知手段50としては、ハニカム構造体10に落下試験対象物20が衝突した際の光や振動を検知するものや、レーザー光、赤外線、超音波などにより落下試験対象物20の移動推移を計測し、ハニカム構造体10への衝突を検知するもの等を挙げることができる。
The
リバウンド防止手段60は、落下経路20の周縁に配置された電磁石61、及び衝突検知手段50の検知情報に基づいて電磁石61への通電を行う通電部62を有するものである。
The rebound prevention means 60 includes an
本実施形態の落下衝撃試験装置100は、ハニカム構造体10への1回目の落下試験対象物20の衝突を妨げることなく、且つ、落下試験対象物20がリバウンドしてハニカム構造体10に再度衝突することを有効に防止することができる。例えば、図3に示す落下衝撃試験装置100の状態が、落下衝撃試験の開始時の状態である。図3に示す落下衝撃試験装置100(落下開始時)においては、リバウンド防止手段60の電磁石61への通電は行われておらず、リバウンド防止手段60の電磁石61に磁力は発生していない。以下、本明細書において、電磁石への通電が停止されること、及び、電磁石への通電が行われておらず、電磁石に磁力が発生していないことを、電磁石の通電が「オフ」ということがある。一方、電磁石への通電が行われること、及び、通電により電磁石に磁力が発生していることを、電磁石の通電が「オン」ということがある。
The drop
落下衝撃試験が開始されると、保持手段30の第二の電磁石31への通電がオフとなり、磁性を有する落下試験対象物20の保持が解除される。落下試験対象物20は、落下経路40内を、ハニカム構造体10に向かって落下する。図4に示すように、落下試験対象物20がハニカム構造体10に衝突するまでは、落下試験対象物20の自由落下を妨げるものはない。なお、落下試験対象物20の落下時には、僅かな空気抵抗が考えられるが、ここでの説明では、落下試験対象物20に対する空気抵抗は無視するものとする。落下試験対象物20とハニカム構造体10との衝突における反発係数は、通常、ゼロ以上であるため、落下試験対象物20は、反発(リバウンド)して落下経路40内を鉛直上方に跳ね返される。本実施形態の落下衝撃試験装置100においては、衝突検知手段50によって、ハニカム構造体10に落下試験対象物20が衝突したことを検知する。そして、この衝突検知手段50による検知信号は、速やかに、リバウンド防止手段60の通電部62に伝達される。衝突検知手段50は、ハニカム構造体10に落下試験対象物20が衝突したことを検知する検知部51と、検知部51にて検知した検知情報をリバウンド防止手段60に伝達する信号伝達部52とを有することが好ましい。通電部62は、衝突検知手段50からの「ハニカム構造体10に落下試験対象物20が衝突したこと」を知らせる検知情報に基づいて、電磁石61への通電をオンにする。電磁石61への通電がオンになることにより、電磁石61の周囲に磁力が発生する。通電部62は、衝突検知手段50の検知情報に基づいて、電磁石61への通電のオン/オフを制御する制御部を有することが好ましい。
When the drop impact test is started, the energization of the holding means 30 to the
そして、図5に示す落下衝撃試験装置100のように、リバウンドして落下経路40内を鉛直上方に跳ね返った落下試験対象物20は、リバウンド防止手段60の電磁石61から発生する磁力に引き付けられ、落下経路40内にて、その移動を停止する。これにより、リバウンドした落下試験対象物20の、ハニカム構造体10への再衝突を有効に防止することができる。また、電磁石61の通電のオン/オフは、ハニカム構造体10への落下試験対象物20の衝突を契機として切り替えられるため、ハニカム構造体10への1回目の落下試験対象物20の衝突を、電磁石61から発生する磁力が妨げることもない。したがって、本実施形態の落下衝撃試験装置100によれば、高精度で且つ高い再現性を有する信頼性の高い落下衝撃試験を行うことができる。ここで、図4及び図5は、本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の一の実施形態の断面を模式的に示す概略断面図である。図4では、落下試験対象物20が、ハニカム構造体10に衝突した状態を示している。図5では、落下試験対象物20がリバウンドした後、リバウンド防止手段60の電磁石61から発生する磁力に引き付けられ、その移動を停止した状態を示している。
And the
(1−1)落下試験対象物:
落下試験対象物は、磁性を有するものであれば特に制限はない。落下試験対象物は、ハニカム構造体の所定の箇所に再現性よく衝突し、且つ、落下時の空気抵抗が小さくなるように、球状の形状を呈するもの(例えば、球状の錘)であることが好ましい。落下試験対象物の大きさについては特に制限はなく、落下経路40の内径や、被試験対象物であるハニカム構造体10の大きさ、また、落下衝撃試験の試験条件に応じて適宜設定することができる。
(1-1) Drop test object:
The drop test object is not particularly limited as long as it has magnetism. The drop test object should have a spherical shape (for example, a spherical weight) so as to collide with a predetermined portion of the honeycomb structure with good reproducibility and reduce the air resistance at the time of dropping. preferable. The size of the drop test object is not particularly limited, and should be set as appropriate according to the inner diameter of the
落下試験対象物の材質については、上述したように、磁性を有するものであればよく、例えば、鉄、400系ステンレス等を挙げることができる。 As described above, the material of the drop test object may be any material having magnetism, and examples thereof include iron and 400 series stainless steel.
(1−2)落下経路:
落下経路は、保持手段とハニカム構造体との間に設けた落下試験対象物が通過する経路である。図1〜図3に示すように、落下経路40が、筒状の側壁部41を有していることが好ましい。また、落下経路40が、筒状の側壁部41を有し、当該側壁部41の一方の端部側の周縁の一部が切り欠かれ、当該切り欠かれた部分42にハニカム構造体10を配置するものであってもよい。このように構成することによって、筒状の側壁部41を、ハニカム構造体10に配設し易くなり、落下試験の試験精度が向上する。例えば、ハニカム構造体10の狙った箇所に、落下試験対象物20を衝突させ易くなる。特に、落下経路40が、筒状の側壁部41及び切り欠かれた部分42とから構成されたものであると、落下衝撃試験装置100を持ち運びでき、被試験対象物であるハニカム構造体10に対して、落下衝撃試験装置100の配設位置を調節することができる。例えば、従来公知の落下衝撃試験装置は、装置自体が固定されており、固定されている装置に対して、ハニカム構造体を配置して試験を行うものであるため、ハニカム構造体の狙った箇所に、落下試験対象物を衝突させることが難しかった。
(1-2) Fall path:
The drop path is a path through which a drop test object provided between the holding means and the honeycomb structure passes. As shown in FIGS. 1 to 3, it is preferable that the falling
落下経路には、落下試験対象物が通過する際に、経路の内外で気体(空気)の移動が行われる通気口が形成されていてもよい。落下試験対象物の落下時には、僅かな空気抵抗が生じることがある。落下試験の試験結果への空気抵抗の影響は、非常に小さいものであるが、落下経路に通気口が形成されることにより、試験結果への空気抵抗の影響をより小さくすることができる。通気口の形状については特に制限はなく、落下経路の側壁部の複数箇所に孔を開けて形成することができる。また、落下経路の側壁部を、メッシュ状の部材によって作製し、メッシュ状の部材の網の目を、通気口としてもよい。また、後述するように、保持手段やリバウンド防止手段が、落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成されている場合には、保持手段やリバウンド防止手段の移動経路が、通気口の機能を有していてもよい。 The drop path may be provided with a vent hole through which gas (air) moves inside and outside the path when the drop test object passes. When the object to be dropped is dropped, a slight air resistance may occur. Although the influence of the air resistance on the test result of the drop test is very small, the influence of the air resistance on the test result can be further reduced by forming a vent in the drop path. There is no restriction | limiting in particular about the shape of a vent hole, It can form by making a hole in several places of the side wall part of a fall path | route. Further, the side wall of the dropping path may be made of a mesh member, and the mesh of the mesh member may be used as a vent. As will be described later, when the holding means and the rebound prevention means are configured to be movable along the path direction of the fall path, the movement path of the holding means and the rebound prevention means has the function of the vent. You may have.
落下経路の鉛直方向の長さについては特に制限はない。例えば、落下経路の鉛直方向の長さが長ければ、落下試験対象物の落下距離を広範囲に変更することができる。一方、落下経路の鉛直方向の長さが長すぎると、落下衝撃試験装置が大きくなり、落下衝撃試験装置の持ち運びの利便性が低下する。このような観点から、落下経路の鉛直方向の長さは、30〜400mmであることが好ましく、50〜200mmであることが更に好ましい。また、落下経路の内径は、落下試験対象物の大きさに応じて適宜設定することができる。落下経路の内径と落下試験対象物の直径とのクリアランスは、1mm以下であることが好ましく、0.5mm以下であることが更に好ましい。 There is no particular limitation on the vertical length of the fall path. For example, if the length of the drop path in the vertical direction is long, the drop distance of the drop test object can be changed over a wide range. On the other hand, if the length of the drop path in the vertical direction is too long, the drop impact test apparatus becomes large, and the convenience of carrying the drop impact test apparatus decreases. From such a viewpoint, the vertical length of the dropping path is preferably 30 to 400 mm, and more preferably 50 to 200 mm. In addition, the inner diameter of the drop path can be set as appropriate according to the size of the drop test object. The clearance between the inner diameter of the drop path and the diameter of the drop test object is preferably 1 mm or less, and more preferably 0.5 mm or less.
(1−3)衝突検知手段:
衝突検知手段は、ハニカム構造体に落下試験対象物が衝突したことを検知するものである。衝突検知手段は、図1〜図3に示すように、ハニカム構造体10に落下試験対象物20が衝突したことを検知する検知部51と、検知部51にて検知した検知情報をリバウンド防止手段60に伝達する伝達部22とを有することが好ましい。
(1-3) Collision detection means:
The collision detection means detects that the drop test object has collided with the honeycomb structure. As shown in FIGS. 1 to 3, the collision detection unit includes a
検知部51は、ハニカム構造体10への落下試験対象物20の衝突を画像等で直接検知するものであってもよいし、衝突により生じる音や振動を検知するものであってもよい。また、検知部51は、ハニカム構造体10の近傍にて、上方から落下してくる落下試験対象物20を検知し、ハニカム構造体10までの距離と落下試験対象物20の落下速度などから、ハニカム構造体10への衝突を間接的に検知するものであってもよい。
The
衝突により生じる音を検知する検知部(以下、「音検知部」ということがある)としては、例えば、マイクとFFT解析部とからなるものを挙げることができる。このような音検知部を用いた場合には、マイクにより、ハニカム構造体の衝突予定箇所周辺の音を集音し、集音した音の振幅波形を、FFT解析部にて音波解析する。FFT解析部には、予め、落下試験対象物がハニカム構造体に衝突した際の衝突音の振幅波形(特定の振幅波形)を記憶させておき、当該特定の振幅波形の音(すなわち、衝突音)が集音された場合に、落下試験対象物がハニカム構造体に衝突したことを検知する。このような音検知部によれば、比較的に簡便な構成で、高精度に衝突の有無を検知することができる。 An example of a detection unit that detects sound generated by a collision (hereinafter sometimes referred to as “sound detection unit”) includes a microphone and an FFT analysis unit. When such a sound detection unit is used, the microphone collects the sound around the planned collision location of the honeycomb structure, and the FFT analysis unit analyzes the sound wave with the amplitude waveform of the collected sound. The FFT analysis unit stores in advance the amplitude waveform (specific amplitude waveform) of the collision sound when the drop test object collides with the honeycomb structure, and the sound of the specific amplitude waveform (that is, the collision sound). ) Is collected, it is detected that the drop test object has collided with the honeycomb structure. According to such a sound detection unit, it is possible to detect the presence or absence of a collision with high accuracy with a relatively simple configuration.
音検知部においては、音検知部のマイクが検知した音をFFT解析部にて音波解析し、落下試験対象物が衝突した際の衝突音により、ハニカム構造体の破損状態を検知する破損検知部を更に有していてもよい。すなわち、落下試験対象物が衝突した際の衝突音は、衝突の衝撃によりハニカム構造体が破損した場合と破損しない場合とで、異なる振幅波形を示す。このため、集音した衝突音を音波解析することで、ハニカム構造体の破損の有無を検知することができる。ハニカム構造体の落下試験には、例えば、特定の落下条件にて、ハニカム構造体に破損が生じるか否かを試験する「衝撃破壊評価試験」と、ハニカム構造体に破損が生じるまで落下衝撃を順次増大させて、破壊の限界を試験する「衝撃破壊限界試験」とがある。衝撃破壊評価試験においては、試験終了後、ハニカム構造体を装置から取り出し、ハニカム構造体の衝突箇所を調べることで、試験結果を得ることができるが、衝撃破壊限界試験においては、破損が生じていない場合には、落下試験を再度行う必要がある。円柱状のハニカム構造体は、一旦、落下衝撃試験装置から取り出してしまうと、次回の試験時に、同一の測定箇所に落下試験対象物を衝突させることは極めて困難である。上述したように、衝突音により破損の有無を検知することにより、落下衝撃試験装置からハニカム構造体を取り出すことなく、連続的に落下試験を行うことが可能となる。音検知部において音波解析を行うための解析装置として、例えば、小野測器社製の「CF−7200A(商品名)」を用いることができる。 In the sound detection unit, the sound detected by the microphone of the sound detection unit is subjected to sound wave analysis by the FFT analysis unit, and the damage detection unit detects the damage state of the honeycomb structure by the collision sound when the drop test object collides May further be included. That is, the collision sound when the drop test object collides shows different amplitude waveforms depending on whether the honeycomb structure is damaged or not damaged due to the impact of the collision. For this reason, the presence or absence of breakage of the honeycomb structure can be detected by sound wave analysis of the collected collision sound. In the drop test of the honeycomb structure, for example, an “impact destruction evaluation test” for testing whether or not the honeycomb structure is damaged under a specific drop condition, and a drop impact is applied until the honeycomb structure is damaged. There is an “impact fracture limit test” in which the limit of fracture is tested by increasing it sequentially. In the impact fracture evaluation test, after the test is completed, the honeycomb structure is taken out from the device, and the test result can be obtained by examining the collision location of the honeycomb structure. However, in the impact fracture limit test, the damage has occurred. If not, drop test must be performed again. Once the cylindrical honeycomb structure is taken out from the drop impact test apparatus, it is extremely difficult to cause the drop test object to collide with the same measurement location in the next test. As described above, by detecting the presence or absence of damage from the impact sound, it is possible to continuously perform the drop test without taking out the honeycomb structure from the drop impact test apparatus. For example, “CF-7200A (trade name)” manufactured by Ono Sokki Co., Ltd. can be used as an analysis device for performing sound wave analysis in the sound detection unit.
衝突を検知する方法として、振動センサを用いた方法を挙げることができる。また、落下試験対象物とハニカム構造体10との衝突を間接的に検知する検知部としては、レーザー光、赤外線、超音波などにより落下試験対象物の移動推移を計測する検知部を挙げることができる。
As a method of detecting a collision, a method using a vibration sensor can be given. In addition, examples of the detection unit that indirectly detects the collision between the drop test object and the
(1−4)リバウンド防止手段:
リバウンド防止手段は、電磁石の磁力を利用して、落下試験対象物のリバウンドによるハニカム構造体への再衝突を防止するものである。図1〜図3に示すように、落下経路40の周縁に配置された電磁石61、及び衝突検知手段50の検知情報に基づいて電磁石61への通電を行う通電部62を有する。
(1-4) Rebound prevention means:
The rebound prevention means uses the magnetic force of the electromagnet to prevent re-collision with the honeycomb structure due to rebound of the drop test object. As shown in FIGS. 1 to 3, the
電磁石61が設けられる位置は、ハニカム構造体10と落下試験対象物20の衝突位置よりも鉛直上方であればよく、落下試験対象物20の跳ね返り量を考慮して、適宜設定される。すなわち、ハニカム構造体10と落下試験対象物20の最初の衝突により、落下試験対象物20が鉛直上方に跳ね返る範囲に、リバウンド防止手段60の電磁石61が設けられていれば、電磁石61により発生する磁力により、落下試験対象物20を落下経路40の途中で停止させることができる。電磁石61が設けられる位置は、電磁石61の底辺部で落下試験対象物20が保持される可能性を考え、衝突位置から落下試験対象物20の下点までの距離が0.2mm以上であることが好ましく、0.5mm以上であることが更に好ましい。0.2mm未満であると、電磁石61に引き付けられた落下試験対象物20が上下方向に振動した際に、落下試験対象物20がハニカム構造体10に衝突してしまうことがある。
The position where the
電磁石61により発生させる磁場の強さは、下記式(1)に示す吸引力F(N)が、落下試験対象物20の重量mg(N)[g:重力加速度(9.80665m/s2)]を超えればよい。すなわち、F(N)>mg(N)であればよい。
F=Sb2/(2μ) ・・・ (1)
(ここで、上記式(1)において、b[T]は、直流電磁石の磁束密度を示す。μ[H/m]は、ギャップの透磁率(Air:1.0000004×4×π×10−7)を示す。S[m2]は、電磁石の面積を示す。)
The strength of the magnetic field generated by the
F = Sb 2 / (2 μ) (1)
(Here, in the above formula (1), b [T] indicates the magnetic flux density of the DC electromagnet. Μ [H / m] is the gap permeability (Air: 1.0000004 × 4 × π × 10 − 7 ) indicates S. [m 2 ] indicates the area of the electromagnet.)
また、安全率をAとして、F=A・mgの条件を満たす磁力を発生させることを、電磁石の基本条件とし、A>1であることが落下衝撃試験装置を動作させるに必要な条件である。また、落下試験対象物20を確実に保持するためには、A>2であることが好ましい。
Further, assuming that the safety factor is A and generating a magnetic force satisfying the condition of F = A · mg is a basic condition of the electromagnet, and A> 1 is a necessary condition for operating the drop impact test apparatus. . In order to hold the
リバウンド防止手段が、落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成されている。このように構成することによって、電磁石が設けられる位置を、落下試験対象物の跳ね返り量を考慮して、適宜変更することができる。更に、詳しくは後述するが、リバウンド防止手段によって、落下試験対象物を引き付けた状態から、次の落下試験を連続して行う場合に、リバウンド防止手段を保持手段として用い、保持手段をリバウンド防止手段として用いた試験を行うことが可能となる。このように構成することによって、リバウンド防止手段に保持された状態にある「落下試験対象物」を、保持手段に改めて保持させる準備作業が不要となる。このため、円滑な落下試験を実現することができる。また、落下試験対象物の再セットに伴う、ハニカム構造体の位置ずれなどを抑制することができ、高精度な落下試験を実現することができる。 Anti-rebound means that is configured to be movable along a path direction of the fall path. By comprising in this way, the position in which an electromagnet is provided can be changed suitably in consideration of the amount of rebound of the drop test object. Further, as will be described in detail later, when the next drop test is continuously performed from the state where the drop test object is attracted by the rebound prevention means, the rebound prevention means is used as the holding means, and the holding means is the rebound prevention means. It becomes possible to perform the test used as. By configuring in this way, the preparation work for holding the “drop test object” held in the rebound prevention means by the holding means again becomes unnecessary. For this reason, a smooth drop test can be realized. In addition, the honeycomb structure can be prevented from being displaced due to the resetting of the drop test object, and a highly accurate drop test can be realized.
(1−5)保持手段:
保持手段は、落下試験対象物を、柱状のハニカム構造体の鉛直上方にて保持し、当該落下試験対象物の保持状態を落下開始時において解除するものである。図1〜図3に示すように、保持手段30は、磁性を有する落下試験対象物20を保持するための第二の電磁石31を有している。更に、第二の電磁石31への通電を行う第二の通電部(図示せず)を有している。また、第二の電磁石31への通電を行う通電部(第二の通電部)は、リバウンド防止手段60の電磁石61への通電を行う通電部62を用いる(別言すれば、共有する)こともできる。通電部62を、電磁石61と第二の電磁石31とで共有する場合は、電磁石61と第二の電磁石31とで、それぞれ独立した制御にて、通電の制御が行われる。すなわち、電磁石61と第二の電磁石31とで通電部62を共有したとしても、電磁石61と第二の電磁石31とに同じ条件で通電が行われるわけではない。第二の電磁石31は、リバウンド防止手段60の電磁石61と同様に構成されたものを用いることができる。
(1-5) Holding means:
The holding means holds the drop test object vertically above the columnar honeycomb structure, and releases the holding state of the drop test object at the start of dropping. As shown in FIGS. 1 to 3, the holding means 30, that has a
保持手段が、落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成されている。上述したように、リバウンド防止手段も、落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成されているため、1回目の落下測定が終了した後、図7及び図8に示すように、リバウンド防止手段60と保持手段30とを入れ替えて、2回目の落下試験を行うことができる。すなわち、図7に示すように、磁力により落下試験対象物20を引き付けたリバウンド防止手段60が経路方向の上方に移動する。そして、図8に示すように、落下試験対象物20を引き付けた状態のリバウンド防止手段60が、2回目の落下試験において、保持手段となる。一方、図7に示すように、保持手段30は、落下試験対象物20の保持を解除した後、経路方向の下方に移動する。そして、図8に示すように、保持手段30が、2回目の落下試験において、リバウンド防止手段となる。このように構成することによって、円滑な且つ高精度な落下試験を実現することができる。図7及び図8は、本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の一の実施形態の断面を模式的に示す概略断面図である。図7及び図8では、保持手段30とリバウンド防止手段60とが入れ替わる状態を示している。図7及び図8に示す落下衝撃試験装置100において、図1に示す落下衝撃試験装置100と同様の構成要素については同一の符号を付して説明を省略する。
Retaining means that is configured to be movable along a path direction of the fall path. As described above, the anti-rebound means also, since it is movable along the path direction of the fall path, after the first drop measurement is finished, as shown in FIGS. 7 and 8, the anti-rebound device The second drop test can be performed by exchanging 60 and the holding means 30. That is, as shown in FIG. 7, the rebound prevention means 60 that attracted the
保持手段とリバウンド防止手段とが、落下経路の経路方向に沿って移動する際には、例えば、図1及び図2に示すように、落下経路40の側壁部41に、経路方向に延びる移動経路43が設けられていることが好ましい。図1及び図2に示された移動経路43は、落下経路40の側壁部41を経路方向にくり抜いたものであり、この移動経路43に沿って、保持手段30とリバウンド防止手段60とが鉛直方向に上下移動する。
When the holding means and the rebound prevention means move along the path direction of the fall path, for example, as shown in FIGS. 1 and 2, the movement path extends in the path direction on the
落下衝撃試験装置は、図6に示すように、保持手段30とリバウンド防止手段60とが入れ替わることを想定して、電磁石61と第二の電磁石31とで共有する通電部62を用い、スイッチ63により、電磁石61と第二の電磁石31との機能が切り替わるように構成されている。このように構成することによって、2回目の落下試験(すなわち、保持手段30とリバウンド防止手段60とが入れ替わった落下試験)において、衝突検知手段50の検知情報に基づいて、保持手段30の第二の電磁石31の通電がオンになる。すなわち、2回目の落下試験においては、落下試験対象物20がリバウンドした後、第二の電磁石31から発生する磁力に引き付けられ、その移動を停止することとなる。なお、3回目以降の落下試験においても、上記と同様の方法、保持手段30とリバウンド防止手段60とを入れ替ることで、連続して落下試験を行うことができる。
As shown in FIG. 6, the drop impact test apparatus uses an energizing
落下衝撃試験装置は、図9及び図10に示すように、落下経路の鉛直方向に対する傾きを測定するための水準器70を更に備えたものであってもよい。図9及び図10に示す落下衝撃試験装置200は、水準器70として、落下経路40の側壁部41から突出するように設けられた支持体73と、支持体73から垂下された紐体72と、紐体72の先端に配置されたおもり71と、から構成されている。このような水準器70を備えることにより、正確な落下試験を行うことができる。特に、本実施形態の落下衝撃試験装置は、持ち運びが可能であり、被対象物であるハニカム構造体に、落下衝撃試験装置を設置して落下試験を行うことができる。このため、試験開始前に、水準器70にて、落下経路が垂直に配置されているか否かの確認を行うことは非常に重要である。図9は、本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の更に他の実施形態の断面の一部を模式的に示す概略断面図である。図10は、本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置の更に他の実施形態を上面から見た平面図である。図9及び図10に示す落下衝撃試験装置200において、図1に示す落下衝撃試験装置100と同様の構成要素については同一の符号を付して説明を省略する。
As shown in FIGS. 9 and 10, the drop impact test apparatus may further include a
以下、本発明を実施例によって更に具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例によって何ら限定されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
(実施例1)
実施例1においては、図1〜図3に示すような落下衝撃試験装置100を用いて、ハニカム構造体の落下試験を行った。落下試験対象物は、材料が高炭素クロムで、直径が15mmの球体を使用した。落下試験対象物の質量は、13.76gである。落下経路は、材料がアクリルで、鉛直方向の長さが70mmであった。衝突検知手段としては、FFT解析による音検知を用いた。具体的には、小野測器社製のCF−7200A(商品名)を用いた。
Example 1
In Example 1, a drop test of the honeycomb structure was performed using a drop
落下衝撃試験装置のリバウンド防止手段及び保持手段としては、角型の電磁石を用いた。この電磁石は、0.27Nの吸引力が発生するものである。電磁石の制御は、音声スイッチを組み込んだ電気回路によって行った。 A square electromagnet was used as the rebound prevention means and the holding means of the drop impact test apparatus. This electromagnet generates an attractive force of 0.27N. The electromagnet was controlled by an electric circuit incorporating a voice switch.
被対象物のハニカム構造体は、コージェライト製の端面の直径が144mm、軸方向の長さが152mmの円柱状のものを用いた。 As the honeycomb structure of the object, a cylindrical structure having a cordierite end face diameter of 144 mm and an axial length of 152 mm was used.
被対象物のハニカム構造体に、実施例1の落下衝撃試験装置を配置し、落下試験を10回行った。落下試験の良否判定は、音波解析によって行った。実施例1における落下試験の衝撃力は、落下試験対象物(球体)が衝突した際に、ハニカム構造体に欠け、ひび割れ等が生じるよりも若干小さいものとした。表1に、実施例1の落下衝撃試験装置における10回の落下試験の結果を示す。表1における「○」は、落下試験時の音波解析により、ハニカム構造体に欠け、ひび割れが確認されなかったことを示す。表1における「×」は、落下試験時の音波解析により、ハニカム構造体に欠け、ひび割れが確認されたことを示す。 The drop impact test apparatus of Example 1 was placed on the honeycomb structure of the object, and the drop test was performed 10 times. The quality of the drop test was determined by sound wave analysis. The impact force of the drop test in Example 1 was set to be slightly smaller than that in which the honeycomb structure was chipped or cracked when the drop test object (sphere) collided. Table 1 shows the results of 10 drop tests in the drop impact test apparatus of Example 1. “◯” in Table 1 indicates that the honeycomb structure was not chipped and cracked by sound wave analysis during the drop test. “X” in Table 1 indicates that the honeycomb structure was chipped and cracked by sound wave analysis during the drop test.
(比較例1)
比較例1においては、リバウンド防止手段を備えていないこと以外は、実施例1と同様に構成された落下衝撃試験装置を用いて、落下試験を10回行った。落下試験の試験条件は、実施例1と同じである。表1に、比較例1の落下衝撃試験装置における10回の落下試験の結果を示す。
(Comparative Example 1)
In Comparative Example 1, a drop test was performed 10 times using a drop impact test apparatus configured in the same manner as in Example 1 except that no rebound prevention means was provided. The test conditions for the drop test are the same as in Example 1. Table 1 shows the results of 10 drop tests in the drop impact test apparatus of Comparative Example 1.
(結果)
実施例1の落下衝撃試験装置では、10回の落下試験において、ハニカム構造体に欠け、ひび割れが確認されなかった。一方、比較例1の落下衝撃試験装置では、10回の落下試験のうち、4回の落下試験において、ハニカム構造体に欠け、ひび割れが確認された。上述したように、実施例1及び比較例1における落下試験は、ハニカム構造体に欠け、ひび割れ等が生じるよりも若干小さい衝撃力にて行われている。このため、比較例1における欠けやひび割れの発生は、リバウンドした2回目以降の衝突によるものであった。リバウンドした2回目以降の衝突によって欠けやひび割れの発生したことは、音波解析でも確認することができた。実施例1の落下衝撃試験装置は、10回の落下試験において、落下試験対象物(球体)のリバウンドが生じないため、高精度で且つ高い再現性を有する信頼性の高い落下衝撃試験を行うことが可能であった。
(result)
In the drop impact test apparatus of Example 1, the honeycomb structure was not chipped and cracked in 10 drop tests. On the other hand, in the drop impact test apparatus of Comparative Example 1, the honeycomb structure was chipped and cracked in 4 drop tests out of 10 drop tests. As described above, the drop test in Example 1 and Comparative Example 1 is performed with an impact force slightly smaller than that in which the honeycomb structure is chipped, cracked, or the like. For this reason, generation | occurrence | production of the chip | tip and the crack in the comparative example 1 was based on the collision after the 2nd rebound. It was also confirmed by sound wave analysis that chipping and cracking occurred due to the second and subsequent collisions that rebounded. Since the drop impact test apparatus of Example 1 does not cause rebound of the drop test object (sphere) in 10 drop tests, perform a highly reliable and highly reliable drop impact test with high reproducibility. Was possible.
本発明のハニカム構造体の落下衝撃試験装置は、ハニカム構造体の落下試験に利用することができる。 The honeycomb structure drop impact test apparatus of the present invention can be used for a honeycomb structure drop test.
1:隔壁、2:セル、3:外周壁、10:ハニカム構造体、11:第一端面、12:第二端面、20:落下試験対象物、30:保持手段、31:第二の電磁石、40:落下経路、41:側壁部、42:切り欠かれた部分、43:移動経路、50:衝突検知手段、51:検知部、52:信号伝達部、60:リバウンド防止手段、61:電磁石、62:通電部、63:スイッチ、70:水準器、71:おもり、72:紐体、73:支持体、100,200:落下衝撃試験装置。 1: partition wall, 2: cell, 3: outer peripheral wall, 10: honeycomb structure, 11: first end face, 12: second end face, 20: drop test object, 30: holding means, 31: second electromagnet, 40: Fall path, 41: Side wall part, 42: Notched part, 43: Movement path, 50: Collision detection means, 51: Detection part, 52: Signal transmission part, 60: Rebound prevention means, 61: Electromagnet, 62: energizing section, 63: switch, 70: level, 71: weight, 72: string, 73: support, 100, 200: drop impact test device.
Claims (5)
前記保持手段と前記ハニカム構造体との間に設けた前記落下試験対象物が通過する落下経路と、
前記ハニカム構造体に前記落下試験対象物が衝突したことを検知する衝突検知手段と、
前記落下経路の周縁に配置された電磁石、及び前記衝突検知手段の検知情報に基づいて前記電磁石への通電を行う通電部を有するリバウンド防止手段と、を備えた、ハニカム構造体の落下衝撃試験装置であって、
前記リバウンド防止手段が、前記落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成され、
前記保持手段が、前記落下経路の経路方向に沿って移動可能に構成されているとともに、第二の電磁石、及び前記衝突検知手段の検知情報に基づいて前記第二の電磁石への通電を行う第二の通電部を有し、
磁力により前記落下試験対象物を引き付けた前記リバウンド防止手段が経路方向の上方に移動して保持手段となり、前記保持手段が経路方向の下方に移動してリバウンド防止手段となる、ハニカム構造体の落下衝撃試験装置。 Holding means for holding the drop test object having magnetism vertically above the columnar honeycomb structure, and releasing the holding state of the drop test object at the start of dropping;
A drop path through which the drop test object provided between the holding means and the honeycomb structure passes;
A collision detection means for detecting that the drop test object has collided with the honeycomb structure;
A drop impact test apparatus for a honeycomb structure, comprising: an electromagnet arranged at a peripheral edge of the dropping path; and a rebound preventing unit having an energizing unit configured to energize the electromagnet based on detection information of the collision detecting unit. Because
The rebound prevention means is configured to be movable along a path direction of the fall path,
The holding means is configured to be movable along the path direction of the fall path, and the second electromagnet and the second electromagnet that energizes the second electromagnet based on the detection information of the collision detection means. Has two current-carrying parts,
The falling of the honeycomb structure in which the rebound preventing means attracting the drop test object by magnetic force moves upward in the path direction to become holding means, and the holding means moves downward in the path direction to become rebound preventing means. Impact test equipment .
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CN110068441A (en) * | 2019-05-23 | 2019-07-30 | 福州大学 | A kind of device of detection level impact load |
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