JP6175545B2 - Conductive sheet, touch panel, display device - Google Patents

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JP6175545B2 JP2016132472A JP2016132472A JP6175545B2 JP 6175545 B2 JP6175545 B2 JP 6175545B2 JP 2016132472 A JP2016132472 A JP 2016132472A JP 2016132472 A JP2016132472 A JP 2016132472A JP 6175545 B2 JP6175545 B2 JP 6175545B2
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Description

本発明は、導電シート、タッチパネル、表示装置に関する。   The present invention relates to a conductive sheet, a touch panel, and a display device.

近時、タッチパネルを組み込んだ電子機器が広く普及しつつある。タッチパネルは、携帯電話やPDA(Personal Digital Assistant)等の小サイズ画面を備える機器に多く搭載されている。今後、PC(Personal Computer)用ディスプレイ等の大サイズ画面を備える機器にも組み込まれることが十分想定される。   Recently, electronic devices incorporating touch panels are becoming widespread. Many touch panels are mounted on devices having a small-size screen such as a mobile phone or a PDA (Personal Digital Assistant). In the future, it is expected to be incorporated in devices having a large screen such as a PC (Personal Computer) display.

従来のタッチパネルの電極には、透光性の観点から、酸化インジウムスズ(ITO;Indium Tin Oxide)が主に用いられる。ITOの単位面積当たりの電気抵抗は、金属等と比べて相対的に高いことが知られている。すなわち、ITOの場合、画面のサイズ(タッチパネルの総面積)が大きくなるにつれて、電極全体での表面抵抗が高くなる。その結果、電極間での電流の伝達速度が遅くなり、タッチパネルへの接触後から接触位置を検出するまでの時間(すなわち応答速度)が遅くなるという課題が顕在化する。   From the viewpoint of translucency, indium tin oxide (ITO) is mainly used for electrodes of conventional touch panels. It is known that the electrical resistance per unit area of ITO is relatively higher than that of metal or the like. That is, in the case of ITO, as the screen size (total area of the touch panel) increases, the surface resistance of the entire electrode increases. As a result, the current transmission speed between the electrodes becomes slow, and the problem that the time (ie, the response speed) from the touch to the touch panel until the contact position is detected becomes obvious.

そこで、電気抵抗が低い金属からなる細線(金属細線)でメッシュ格子を多数形成し、電極を構成することで、表面抵抗を低下させる技術が種々提案されている。例えば、観察対象物が表示画面である場合、該表示画面を構成する各画素との幾何学的関係に起因するモアレ(干渉縞)の発生を抑制するため、メッシュ形状に不規則性をもたせている。   Accordingly, various techniques have been proposed for reducing the surface resistance by forming a large number of mesh lattices by using fine wires (metal fine wires) made of a metal having a low electric resistance to form electrodes. For example, when the object to be observed is a display screen, the mesh shape is given irregularity in order to suppress the occurrence of moire (interference fringes) due to the geometric relationship with each pixel constituting the display screen. Yes.

特許文献1には、図43Aに示すように、ランダム化され横方向に伸びて配置された複数の細線1、及び、ランダム化され縦方向に伸びて配置された複数の細線2を組み合わせたメッシュパターン4が記載されている。   In Patent Document 1, as shown in FIG. 43A, a mesh in which a plurality of thin wires 1 that are randomized and arranged in a horizontal direction and a plurality of thin wires 2 that are randomized and arranged in a vertical direction are combined. Pattern 4 is described.

特許文献2には、図43Bに示すように、図示しない導体の接触等を感知可能な帯状領域6内に、多角形状のメッシュ形状を隙間なく敷き詰めたメッシュパターン8が記載されている。   As shown in FIG. 43B, Patent Document 2 describes a mesh pattern 8 in which polygonal mesh shapes are spread without gaps in a belt-like region 6 that can sense contact of a conductor (not shown).

米国特許出願公開第2011−0102361号US Patent Application Publication No. 2011-0103361 米国特許出願公開第2009−0219257号US Patent Application Publication No. 2009-0219257

しかしながら、特許文献1に示すメッシュパターン4のように、各メッシュ形状により画定される開口部のサイズが略等しい場合、画素の各副画素(例えば、RGB副画素)の配置の規則性との関係から色ノイズが発生する場合があった。   However, as in the mesh pattern 4 shown in Patent Document 1, when the sizes of the openings defined by the mesh shapes are substantially equal, the relationship with the regularity of the arrangement of each sub-pixel (for example, RGB sub-pixel) of the pixel Color noise may occur.

また、特許文献2に示すメッシュパターン8のように、各開口部のサイズを過度にばらつかせると、ノイズ粒状感(ざらつき感ともいう。)が視認され易くなるという不都合があった。   Further, as in the mesh pattern 8 shown in Patent Document 2, when the sizes of the openings are excessively varied, there is a problem that noise granularity (also referred to as roughness) is easily visually recognized.

本発明は、上記した問題を解決するためになされたもので、ノイズ粒状感及び色ノイズの発生を両立して抑制可能であり、観察対象物の視認性を大幅に向上可能な導電シート、タッチパネル、表示装置、導電シートの製造方法及びプログラムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and can electrically suppress the generation of noise granularity and color noise, and can significantly improve the visibility of an observation object, and a touch panel. An object of the present invention is to provide a display device, a conductive sheet manufacturing method, and a program.

本発明に係る導電シートは、基体と、基体の少なくとも一方の主面に形成され、複数の金属細線からなる導電部と、を有し、導電部により、平面視で、形状が異なる複数の開口部を配列したメッシュパターンが形成され、複数の開口部の各々の面積の標準偏差は、0.017mm2以上であり0.038mm2以下であることを特徴とする導電シートである。 The conductive sheet according to the present invention has a base and a conductive portion formed on at least one main surface of the base and made of a plurality of fine metal wires, and the conductive portion has a plurality of openings having different shapes in plan view. The conductive sheet is characterized in that a mesh pattern in which the portions are arranged is formed, and the standard deviation of the area of each of the plurality of openings is 0.017 mm 2 or more and 0.038 mm 2 or less.

このように、メッシュパターンの各開口部の面積の標準偏差を、0.017mm2以上であり0.038mm2以下にした。各開口部の面積分布をこの範囲内に収まるように調整することで、色ノイズの発生を両立して抑制可能となり、観察対象物の視認性を大幅に向上できる。 Thus, the standard deviation of the area of each opening of the mesh pattern was 0.017 mm 2 or more and 0.038 mm 2 or less. By adjusting the area distribution of each opening so as to be within this range, it is possible to simultaneously suppress the generation of color noise, and the visibility of the observation object can be greatly improved.

また、本発明に係る導電シートは、基体と、基体の少なくとも一方の主面に形成され、複数の金属細線からなる導電部と、を有し、導電部により、平面視で、形状が異なる複数の開口部を配列したメッシュパターンが形成され、複数の開口部の各々の重心位置の二次元分布に関して、所定方向に沿って配置された各重心位置の、所定方向の垂直方向に対する位置の平均2乗偏差についての標準偏差は、15.0μm以上であることを特徴とする導電シートである。   The conductive sheet according to the present invention has a base and a conductive portion formed on at least one main surface of the base and made of a plurality of fine metal wires, and the conductive portion has a plurality of shapes different in plan view. An average of 2 positions of the center of gravity positions arranged along a predetermined direction with respect to the vertical direction of the predetermined direction with respect to the two-dimensional distribution of the center of gravity positions of the plurality of openings. The conductive sheet is characterized in that the standard deviation of the power deviation is 15.0 μm or more.

また、本発明に係る導電シートは、基体と、基体の少なくとも一方の主面に形成され、複数の金属細線からなる導電部と、を有し、導電部により、平面視で、形状が異なる複数の開口部を配列したメッシュパターンが形成され、メッシュパターンのパワースペクトルにおける角度方向に沿った標準偏差の、常用対数で表される値の動径方向にわたる標準偏差は、0.965以上であり1.065以下であることを特徴とする導電シートである。   The conductive sheet according to the present invention has a base and a conductive portion formed on at least one main surface of the base and made of a plurality of fine metal wires, and the conductive portion has a plurality of shapes different in plan view. Is formed, and the standard deviation in the radial direction of the value represented by the common logarithm of the standard deviation along the angular direction in the power spectrum of the mesh pattern is 0.965 or more and 1 0.065 or less of the conductive sheet.

また、上記導電シートは、複数の開口部の各々の面積の標準偏差は、0.017mm2以上であり0.038mm2以下であること、複数の開口部の各々の重心位置の二次元分布に関して、所定方向に沿って配置された各重心位置の、所定方向の垂直方向に対する位置の平均2乗偏差についての標準偏差は、15.0μm以上であること、及びメッシュパターンのパワースペクトルにおける角度方向に沿った標準偏差の、常用対数で表される値の動径方向にわたる標準偏差は、0.965以上であり1.065以下であることの2以上を満足する導電シートであることが好ましい。 In the conductive sheet, the standard deviation of the area of each of the plurality of openings is 0.017 mm 2 or more and 0.038 mm 2 or less, and the two-dimensional distribution of the center of gravity of each of the plurality of openings. The standard deviation of the mean square deviation of the positions of the center of gravity arranged along the predetermined direction with respect to the vertical direction of the predetermined direction is 15.0 μm or more, and in the angular direction in the power spectrum of the mesh pattern The standard deviation along the radial direction of the value represented by the common logarithm of the along standard deviation is preferably a conductive sheet satisfying two or more of 0.965 or more and 1.065 or less.

また、複数の開口部の各々の面積の標準偏差は、0.019mm2以上であり0.027mm2以下であることが好ましい。
また、複数の開口部の各々の重心位置の二次元分布に関して、所定方向に沿って配置された各重心位置の、所定方向の垂直方向に対する位置の平均2乗偏差についての標準偏差は、54.62μm以上であることが好ましい。
また、メッシュパターンのパワースペクトルにおける角度方向に沿った標準偏差の、動径方向にわたる標準偏差は、0.97以上であり1.06以下であることが好ましい。
In addition, the standard deviation of the area of each of the plurality of openings is preferably 0.019 mm 2 or more and 0.027 mm 2 or less.
In addition, regarding the two-dimensional distribution of the centroid positions of the plurality of openings, the standard deviation of the mean square deviation of the positions of the centroid positions arranged along the predetermined direction with respect to the vertical direction of the predetermined direction is 54. It is preferable that it is 62 micrometers or more.
Further, the standard deviation along the radial direction of the standard deviation along the angular direction in the power spectrum of the mesh pattern is 0.97 or more and preferably 1.06 or less.

また、導電部は、前記基体の一方の主面に形成され、複数の金属細線からなる第1導電部と、前記基体の他方の主面に形成され、複数の金属細線からなる第2導電部と、を有し、前記メッシュパターンは、前記第1導電部及び前記第2導電部を組み合わせることで形成されることが好ましい。
又は、導電部は、基体の一方の主面に形成されることが好ましい。
In addition, the conductive portion is formed on one main surface of the base and is formed of a plurality of fine metal wires, and the second conductive portion is formed on the other main surface of the base and is formed of a plurality of thin metal wires. The mesh pattern is preferably formed by combining the first conductive portion and the second conductive portion.
Alternatively, the conductive portion is preferably formed on one main surface of the base.

さらに、一方の主面の上に設けられた、第1導電部を被覆する第1保護層と、他方の主面の上に設けられた、第2導電部を被覆する第2保護層と、をさらに有し、第1保護層に対する基体の相対屈折率、及び/又は第2保護層に対する基体の相対屈折率は0.86以上であり1.15以下であることが好ましい。   Furthermore, a first protective layer that covers the first conductive portion provided on one main surface, and a second protective layer that covers the second conductive portion provided on the other main surface, The relative refractive index of the substrate with respect to the first protective layer and / or the relative refractive index of the substrate with respect to the second protective layer is preferably 0.86 or more and 1.15 or less.

さらに、一方の主面に形成され、第1導電部と電気的に絶縁された複数の金属細線からなる第1ダミー電極部をさらに有し、第1導電部は、一方向に配置され、それぞれ複数の第1感知部が接続された第1導電パターンを複数有し、第1ダミー電極部は、隣接する第1導電パターン同士の隙間部に配置された第1ダミーパターンを複数有し、第1ダミーパターンの配線密度は、第1導電パターンの配線密度に等しいことが好ましい。   Furthermore, it further includes a first dummy electrode portion formed of a plurality of fine metal wires formed on one main surface and electrically insulated from the first conductive portion, wherein the first conductive portion is disposed in one direction, A plurality of first conductive patterns to which a plurality of first sensing units are connected; a first dummy electrode unit having a plurality of first dummy patterns arranged in a gap between adjacent first conductive patterns; The wiring density of one dummy pattern is preferably equal to the wiring density of the first conductive pattern.

本発明に係るタッチパネルは、上記したいずれかの導電シートと、導電シートの主面側からの接触位置又は近接位置を検出する検出制御部と、を備えることを特徴とする。   The touch panel according to the present invention includes any one of the conductive sheets described above and a detection control unit that detects a contact position or a proximity position from the main surface side of the conductive sheet.

本発明に係る表示装置は、上記したいずれかの導電シートと、導電シートの一方の主面側からの接触位置又は近接位置を検出する検出制御部と、表示信号に基づいて表示画面上に画像を表示する表示部と、を備え、導電シートは、他方の主面側を表示部に対向させて、表示画面上に配置されていることを特徴とする。   A display device according to the present invention includes any one of the above-described conductive sheets, a detection control unit that detects a contact position or a proximity position from one main surface side of the conductive sheet, and an image on a display screen based on a display signal. The conductive sheet is arranged on the display screen with the other main surface facing the display unit.

本発明によれば、ノイズ粒状感及び色ノイズの発生を両立して抑制することができ、観察対象物の視認性を大幅に向上させることができる。
即ち、本発明に係る導電シート、タッチパネル及び表示装置によれば、メッシュパターンの各開口部の面積の標準偏差を、0.017mm2以上、0.038mm2以下の範囲内、各開口部の重心位置の二次元分布に関して所定方向に沿って配置された各重心位置の、所定方向の垂直方向に対する位置の平均2乗偏差についての標準偏差を15.0μm以上の範囲内、又は、メッシュパターンのパワースペクトルにおける角度方向に沿った標準偏差の、常用対数で表される値の動径方向にわたる標準偏差を0.965以上、1.065以下の範囲内に収まるように調整することで、ノイズ粒状感及び色ノイズの発生を両立して抑制可能となり、観察対象物の視認性を大幅に向上できる。
According to the present invention, generation of noise granularity and color noise can be suppressed at the same time, and the visibility of an observation object can be greatly improved.
That is, according to the conductive sheet, the touch panel, and the display device according to the present invention, the standard deviation of the area of each opening of the mesh pattern is within the range of 0.017 mm 2 or more and 0.038 mm 2 or less, and the center of gravity of each opening. The standard deviation of the mean square deviation of the position of the center of gravity arranged along the predetermined direction with respect to the two-dimensional distribution of the position with respect to the vertical direction of the predetermined direction is within a range of 15.0 μm or more, or the power of the mesh pattern By adjusting the standard deviation along the radial direction of the value expressed in the common logarithm of the standard deviation along the angular direction in the spectrum so that it falls within the range of 0.965 or more and 1.065 or less, the noise granularity And the generation of color noise can be suppressed at the same time, and the visibility of the observation object can be greatly improved.

また、本発明に係る導電シートの製造方法及びプログラムによれば、複数の開口部を備えるメッシュパターンの模様を表す画像データを作成し、画像データに基づいて各開口部の面積分布、各開口部の重心位置の二次元分布、又は、メッシュパターンのパワースペクトルのばらつき程度について定量化した評価値を算出し、評価値及び所定の評価条件に基づいて1つの画像データを出力用画像データとして決定するようにしたので、所定の評価条件を満たすノイズ特性を有する各開口部の形状や、各開口部の重心位置の二次元分布や、メッシュパターンのパワースペクトル異方性を決定できる。換言すれば、メッシュパターンの形状を適切に制御することで、色ノイズの発生を両立して抑制できる。   Moreover, according to the manufacturing method and program of the conductive sheet which concerns on this invention, the image data showing the pattern of the mesh pattern provided with several opening part is created, The area distribution of each opening part, each opening part based on image data An evaluation value quantified with respect to the two-dimensional distribution of the center of gravity position or the degree of variation in the power spectrum of the mesh pattern is calculated, and one image data is determined as output image data based on the evaluation value and a predetermined evaluation condition. Since it did in this way, the shape of each opening part which has the noise characteristic which satisfy | fills predetermined evaluation conditions, the two-dimensional distribution of the gravity center position of each opening part, and the power spectrum anisotropy of a mesh pattern can be determined. In other words, by appropriately controlling the shape of the mesh pattern, generation of color noise can be suppressed at the same time.

図1Aは、本実施の形態に係る導電シートの一例を表す概略平面図である。図1Bは、図1Aの導電シートの一部省略断面図である。FIG. 1A is a schematic plan view illustrating an example of a conductive sheet according to the present embodiment. FIG. 1B is a partially omitted cross-sectional view of the conductive sheet of FIG. 1A. 図2Aは、本実施の形態に係る導電シートの別の一例を表す概略平面図である。図2Bは、図2Aの導電シートの一部省略断面図である。FIG. 2A is a schematic plan view illustrating another example of the conductive sheet according to the present embodiment. 2B is a partially omitted cross-sectional view of the conductive sheet of FIG. 2A. 表示ユニットの画素配列を表す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing showing the pixel arrangement | sequence of a display unit. 図2Aの導電シートを組み込んだ表示装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the display apparatus incorporating the electrically conductive sheet of FIG. 2A. 図5Aは、図2Bに示す第1導電部のパターン例を示す平面図である。図5Bは、図2Bに示す第2導電部のパターン例を示す平面図である。FIG. 5A is a plan view showing a pattern example of the first conductive portion shown in FIG. 2B. FIG. 5B is a plan view showing a pattern example of the second conductive portion shown in FIG. 2B. 図5Aの第1センサ部の部分拡大平面図である。It is the elements on larger scale of the 1st sensor part of Drawing 5A. 図5Bの第2センサ部の部分拡大平面図である。It is the elements on larger scale of the 2nd sensor part of Drawing 5B. 第1導電部と第2導電部とを組み合わせた状態での導電シートの概略平面図である。It is a schematic plan view of the electroconductive sheet in the state which combined the 1st electroconductive part and the 2nd electroconductive part. 図9Aは、1つの平面領域の中から8つの点を選択した結果を示す概略説明図である。図9Bは、ボロノイ図に従って配線形状を決定した結果を示す概略説明図である。図9Cは、ドロネー図に従って配線形状を決定した結果を示す概略説明図である。FIG. 9A is a schematic explanatory diagram illustrating a result of selecting eight points from one plane area. FIG. 9B is a schematic explanatory diagram showing the result of determining the wiring shape according to the Voronoi diagram. FIG. 9C is a schematic explanatory diagram illustrating a result of determining the wiring shape according to the Delaunay diagram. 図10Aは、メッシュパターンの模様を表す画像データを可視化した概略説明図である。図10Bは、図10Aに示す画像データに対してFFTを施して得られるパワースペクトルの分布図である。図10Cは、図10Bに示すパワースペクトル分布のXC−XC線に沿う断面図である。FIG. 10A is a schematic explanatory diagram in which image data representing a mesh pattern is visualized. FIG. 10B is a distribution diagram of a power spectrum obtained by performing FFT on the image data shown in FIG. 10A. 10C is a cross-sectional view taken along line XC-XC of the power spectrum distribution shown in FIG. 10B. 図11Aは、動径方向におけるパワースペクトルの偏差量の算出方法を表す説明図である。図11Bは、空間周波数に対する偏差量の特性を表すグラフである。FIG. 11A is an explanatory diagram illustrating a method of calculating the deviation amount of the power spectrum in the radial direction. FIG. 11B is a graph showing the characteristic of the deviation amount with respect to the spatial frequency. 図12A〜図12Cは、メッシュパターンにおける各開口部が有する面積のヒストグラムである。12A to 12C are histograms of the area of each opening in the mesh pattern. 図13A〜図13Dは、トポロジー的に閉じた開口部の領域内に他の要素を付加した事例(第1〜第3事例)についての概略説明図である。FIG. 13A to FIG. 13D are schematic explanatory diagrams of examples (first to third examples) in which other elements are added in the topologically closed opening region. 図14A〜図14Dは、トポロジー的に開いておりメッシュ形状を構成しない事例(第4〜第6事例)についての概略説明図である。14A to 14D are schematic explanatory diagrams of cases (fourth to sixth cases) that are topologically open and do not form a mesh shape. 図9Bに示す各領域の重心位置を表す説明図である。It is explanatory drawing showing the gravity center position of each area | region shown to FIG. 9B. メッシュパターンと、各メッシュ形状の重心位置との関係を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows the relationship between a mesh pattern and the gravity center position of each mesh shape. 図17Aは、図16に示すメッシュパターンの各メッシュ形状の重心位置分布を表す画像データを可視化した概略説明図である。図17Bは、図17Aの画像データに対してFFTを施して得られるパワースペクトルの分布図である。図17Cは、図17Bに示すパワースペクトル分布のXVIIC−XVIIC線に沿う断面図である。FIG. 17A is a schematic explanatory diagram in which image data representing the gravity center position distribution of each mesh shape of the mesh pattern shown in FIG. 16 is visualized. FIG. 17B is a distribution diagram of a power spectrum obtained by performing FFT on the image data of FIG. 17A. FIG. 17C is a cross-sectional view taken along line XVIIC-XVIIC of the power spectrum distribution shown in FIG. 17B. 図18A及び図18Bは、所定方向に沿って配置された各重心位置についての、所定方向の垂直方向に対する位置の標準偏差の算出方法を模式的に表す説明図である。18A and 18B are explanatory diagrams schematically illustrating a method of calculating a standard deviation of positions with respect to a vertical direction of a predetermined direction for each barycentric position arranged along the predetermined direction. 図19Aは、金属細線に向けて照射された平行光の経路を表す概略説明図である。図19Bは、金属細線に向けて照射された斜入光の経路を表す概略説明図である。図19Cは、図19Bにおける透過光の強度分布を表すグラフである。FIG. 19A is a schematic explanatory diagram illustrating a path of parallel light irradiated toward a thin metal wire. FIG. 19B is a schematic explanatory diagram showing a path of obliquely incident light irradiated toward a thin metal wire. FIG. 19C is a graph showing the intensity distribution of the transmitted light in FIG. 19B. 図20Aは、本発明に係る構成において、金属細線に向けて照射された斜入光の経路を表す概略説明図である。図20Bは、図20Aにおける透過光の強度分布を表すグラフである。FIG. 20A is a schematic explanatory diagram showing a path of obliquely incident light irradiated toward a fine metal wire in the configuration according to the present invention. FIG. 20B is a graph showing the intensity distribution of the transmitted light in FIG. 20A. 図21Aは、従来例に係る第1センサ部の概略平面図である。図21Bは、図21Aの第1センサ部に入射された外光の経路を表す概略説明図である。図21Cは、図21Aの第1センサ部における反射光の強度分布を表すグラフである。FIG. 21A is a schematic plan view of a first sensor unit according to a conventional example. FIG. 21B is a schematic explanatory diagram illustrating a path of external light incident on the first sensor unit in FIG. 21A. FIG. 21C is a graph showing the intensity distribution of reflected light in the first sensor unit of FIG. 21A. 図22Aは、本実施の形態に係る第1センサ部の概略説明図である。図22Bは、図22Aの第1センサ部に入射された外光の経路を表す概略説明図である。図22Cは、図22Aの第1センサ部における反射光の強度分布を表すグラフである。FIG. 22A is a schematic explanatory diagram of the first sensor unit according to the present embodiment. 22B is a schematic explanatory diagram illustrating a path of external light incident on the first sensor unit in FIG. 22A. FIG. 22C is a graph showing the intensity distribution of reflected light in the first sensor unit of FIG. 22A. 本実施の形態に係る導電シートを製造する製造装置の概略構成ブロック図である。It is a schematic block diagram of the manufacturing apparatus which manufactures the electrically conductive sheet which concerns on this Embodiment. 図23に示す画像生成装置の動作説明に供されるフローチャートである。It is a flowchart with which operation | movement description of the image generation apparatus shown in FIG. 23 is provided. ドゥーリー・ショー関数(観察距離300mm)のグラフである。It is a graph of a Dooley show function (observation distance of 300 mm). 出力用画像データの作成方法(図24のステップS2)についてのフローチャートである。It is a flowchart about the production method (step S2 of FIG. 24) of the image data for output. 図27Aは、画像データにおける画素アドレスの定義を表す説明図である。図27Bは、画像データにおける画素値の定義を表す説明図である。FIG. 27A is an explanatory diagram illustrating the definition of a pixel address in image data. FIG. 27B is an explanatory diagram illustrating the definition of pixel values in image data. 図28Aは、シード点の初期位置の模式図である。図28Bは、図28Aのシード点を基準とするボロノイ図である。FIG. 28A is a schematic diagram of an initial position of a seed point. FIG. 28B is a Voronoi diagram based on the seed point of FIG. 28A. 単位領域の端部における模様(配線形状)の決定方法を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows the determination method of the pattern (wiring shape) in the edge part of a unit area | region. 単位画像データを規則的に配置し、画像データを作成した結果を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows the result of having arrange | positioned unit image data regularly and producing image data. 図26に示すステップS26の詳細フローチャートである。It is a detailed flowchart of step S26 shown in FIG. 図32Aは、画像領域内の第1シード点、第2シード点及び候補点の位置関係を表す説明図である。図32Bは、第2シード点と候補点とを交換してシード点の位置を更新した結果の説明図である。FIG. 32A is an explanatory diagram showing the positional relationship between the first seed point, the second seed point, and the candidate point in the image region. FIG. 32B is an explanatory diagram of the result of updating the position of the seed point by exchanging the second seed point and the candidate point. 図33Aは、各第1導電パターン及び各第1ダミーパターンを切り出した結果を示す概略説明図である。図33Bは、各第2導電パターンを切り出した結果を示す概略説明図である。FIG. 33A is a schematic explanatory diagram illustrating a result of cutting out each first conductive pattern and each first dummy pattern. FIG. 33B is a schematic explanatory diagram illustrating a result of cutting out each second conductive pattern. 本実施の形態に係る導電シートの製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the electrically conductive sheet which concerns on this Embodiment. 図35Aは、作製された感光材料を一部省略して示す断面図である。図35Bは、感光材料に対する両面同時露光を示す概略説明図である。FIG. 35A is a cross-sectional view showing a part of the produced photosensitive material with some parts omitted. FIG. 35B is a schematic explanatory diagram showing double-sided simultaneous exposure on a photosensitive material. 第1露光処理及び第2露光処理の実行状態を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows the execution state of a 1st exposure process and a 2nd exposure process. 第1変形例に係るタッチパネルの概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the touchscreen which concerns on a 1st modification. 図38Aは、図37に示す第1センサ部の部分拡大平面図である。図38Bは、図37に示す第2センサ部の部分拡大平面図である。38A is a partially enlarged plan view of the first sensor unit shown in FIG. FIG. 38B is a partially enlarged plan view of the second sensor unit shown in FIG. 図37に示すタッチパネルの一部省略正面図である。FIG. 38 is a partially omitted front view of the touch panel shown in FIG. 37. 図40Aは、第2変形例に係る第1センサ部の部分拡大平面図である。図40Bは、第2変形例に係る第2センサ部の部分拡大平面図である。FIG. 40A is a partially enlarged plan view of the first sensor unit according to the second modification. FIG. 40B is a partially enlarged plan view of the second sensor unit according to the second modification. 第3変形例に係る導電シートの一部省略断面図である。It is a partially-omission sectional view of a conductive sheet according to a third modification. 第4変形例に係る導電シートの一部省略断面図である。It is a partially-omission sectional view of a conductive sheet according to a fourth modification. 図43A及び図43Bは、従来例に係る導電シートの概略平面図である。43A and 43B are schematic plan views of a conductive sheet according to a conventional example.

以下、本発明に係る導電シートについて、それを実施するタッチパネル及び表示装置との関係において好適な実施形態を挙げ、添付の図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本明細書において数値範囲を示す「〜」は、その前後に記載される数値を下限値及び上限値として含む意味として使用される。
以下では、本発明に係る導電シートについて、タッチパネル用の導電シートを代表例として説明するが、本発明は、これに限定されず、液晶ディスプレイ(LCD:Liquid Crystal Display)やプラズマディスプレイ(PDP:Plasma Display Panel)や有機ELディスプレイ(OELD:Organic ElectroLuminescence Display)や無機ELディスプレイ等の表示(パネル)装置の表示ユニット上に設置される導電シートであれば、どのようなものでも良く、例えば、太陽電池等の各種の電極用導電シートや、電磁波シールド用の導電シートや、車両のデフロスタ等の各種の透明発熱体用導電シートなどであっても良いのはもちろんである。
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, a conductive sheet according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings by giving preferred embodiments in relation to a touch panel and a display device that implement the conductive sheet. In the present specification, “˜” indicating a numerical range is used as a meaning including numerical values described before and after the numerical value as a lower limit value and an upper limit value.
Hereinafter, the conductive sheet according to the present invention will be described using a conductive sheet for a touch panel as a representative example. However, the present invention is not limited to this, and a liquid crystal display (LCD: Liquid Crystal Display) or a plasma display (PDP: Plasma). Any conductive sheet may be used as long as it is a conductive sheet installed on a display unit of a display (panel) device such as a display panel (OLED), an organic EL display (OELD), an inorganic EL display, or the like. Of course, various conductive sheets for electrodes, such as conductive sheets for electromagnetic shielding, various conductive sheets for transparent heating elements such as vehicle defrosters, and the like may be used.

[本実施の形態]
本実施の形態に係る導電シート10は、表示装置の表示ユニット上に設置され、表示ユニットのブラックマトリックス(BM:Black Matrix)に対してモアレの発生の抑止の点で優れた配線パターン、特に、BMパターンに重畳した際にBMパターンに対してモアレの視認性の点で最適化された配線パターンを持つ導電シートであり、図1A及び図1Bに示すように、透明基体12(基体)を有する。透明基体12は、絶縁性を有し、且つ、透光性が高い材料、例えば、樹脂、ガラス、シリコン等の材料からなる。樹脂としては、例えば、PET(Polyethylene Terephthalate)、PMMA(Polymethyl methacrylate)、PP(Polypropylene)、PS( Polystyrene)等が挙げられる。
[This embodiment]
The conductive sheet 10 according to the present embodiment is installed on a display unit of a display device, and has an excellent wiring pattern in terms of suppressing the occurrence of moire with respect to a black matrix (BM) of the display unit, in particular, A conductive sheet having a wiring pattern optimized in terms of moiré visibility with respect to the BM pattern when superimposed on the BM pattern, and has a transparent substrate 12 (substrate) as shown in FIGS. 1A and 1B. . The transparent substrate 12 is made of a material having insulating properties and high translucency, for example, a material such as resin, glass, or silicon. Examples of the resin include PET (Polyethylene Terephthalate), PMMA (Polymethyl methacrylate), PP (Polypropylene), PS (Polystyrene) and the like.

透明基体12の一方の主面(図1Bの矢印s1方向側)には、第1導電部14aが形成されている。第1導電部14aは、金属製の細線(以下、金属細線16と記す。また、金属細線16p、16q、16r、16sと記す場合がある。)と開口部18によるメッシュパターン20とを有する。金属細線16は、例えば、金(Au)、銀(Ag)又は銅(Cu)の線材からなる。金属細線16の線幅は、視認性の点からは細い方が好ましいが、例えば、30μm以下から選択可能であり、0.1μm以上15μm以下が好ましく、1μm以上9μm以下がより好ましく、2μm以上7μm以下がさらに好ましい。   A first conductive portion 14a is formed on one main surface of the transparent substrate 12 (arrow s1 direction side in FIG. 1B). The first conductive portion 14 a includes a metal thin wire (hereinafter referred to as a metal thin wire 16, and may be referred to as a metal thin wire 16 p, 16 q, 16 r, 16 s) and a mesh pattern 20 formed by the opening 18. The fine metal wire 16 is made of, for example, a gold (Au), silver (Ag), or copper (Cu) wire. The line width of the fine metal wire 16 is preferably thinner from the viewpoint of visibility, but can be selected from, for example, 30 μm or less, preferably 0.1 μm or more and 15 μm or less, more preferably 1 μm or more and 9 μm or less, and more preferably 2 μm or more and 7 μm. The following is more preferable.

第1導電部14aは、詳細には、異なるメッシュ形状22を隙間なく配列したメッシュパターン20を有する。換言すれば、メッシュパターン20は、各メッシュ形状22に規則性(統一性)がないランダムなパターンである。例えば、メッシュパターン20のうち、ハッチングを付したメッシュ形状22は、図示例では四角形状であり、頂点C1及び頂点C2を直線で結ぶ金属細線16pと、頂点C2及び頂点C3を直線で結ぶ金属細線16qと、頂点C3及び頂点C4を直線で結ぶ金属細線16rと、頂点C4及び頂点C1を直線で結ぶ金属細線16sとで形成されている。本図から諒解されるように、メッシュ形状22はいずれも、少なくとも3辺を有する多角形状であるのが好ましいが、後述するように、円形でも、楕円形でも良いし、後述する図13に示すように、他の要素が追加されていても良いし、図14に示すように、必ずしも閉じた形状で無くとも良く、開区間があっても良い。   Specifically, the first conductive portion 14a has a mesh pattern 20 in which different mesh shapes 22 are arranged without a gap. In other words, the mesh pattern 20 is a random pattern in which each mesh shape 22 has no regularity (unification). For example, the hatched mesh shape 22 of the mesh pattern 20 is a quadrangular shape in the illustrated example, and the metal fine line 16p that connects the vertex C1 and the vertex C2 with a straight line and the metal thin line that connects the vertex C2 and the vertex C3 with a straight line. 16q, a thin metal wire 16r that connects the vertex C3 and the vertex C4 with a straight line, and a thin metal wire 16s that connects the vertex C4 and the vertex C1 with a straight line. As can be understood from this figure, each of the mesh shapes 22 is preferably a polygonal shape having at least three sides. However, as will be described later, the mesh shape 22 may be circular or elliptical, as shown in FIG. Thus, other elements may be added, and as shown in FIG. 14, the shape may not necessarily be a closed shape, and there may be an open section.

以下、本明細書中における「多角形」には、幾何学的に完全な多角形のみならず、完全な多角形に対し軽微な変更を加えた「実質的な多角形」も含まれるものとする。軽微な変更の例示として、メッシュ形状22と比べて微小な点要素・線要素の付加や、メッシュ形状22を構成する各辺(金属細線16)の部分的欠損等が挙げられる。   Hereinafter, the term “polygon” in this specification includes not only a geometrically perfect polygon but also a “substantial polygon” in which minor changes are made to a perfect polygon. To do. Examples of minor changes include the addition of minute point elements / line elements as compared to the mesh shape 22, partial defects of each side (metal thin line 16) constituting the mesh shape 22, and the like.

第1導電部14aの略全面には、金属細線16を被覆するように、第1接着層24aを介して第1保護層26aが接着されている。第1接着層24aの材料として、ウェットラミネート接着剤、ドライラミネート接着剤、又はホットメルト接着剤等が挙げられる。   A first protective layer 26a is bonded to the substantially entire surface of the first conductive portion 14a through the first adhesive layer 24a so as to cover the fine metal wires 16. Examples of the material of the first adhesive layer 24a include a wet laminate adhesive, a dry laminate adhesive, and a hot melt adhesive.

第1保護層26aは、透明基体12と同様に、例えば、樹脂、ガラス、シリコンを含む透光性が高い材料からなる。第1保護層26aの屈折率n1は、透明基体12の屈折率n0に等しいか、これに近い値である。この場合、第1保護層26aに対する透明基体12の相対屈折率nr1は1に近い値であるのが良い。   Similar to the transparent substrate 12, the first protective layer 26a is made of a highly translucent material including, for example, resin, glass, and silicon. The refractive index n1 of the first protective layer 26a is equal to or close to the refractive index n0 of the transparent substrate 12. In this case, the relative refractive index nr1 of the transparent substrate 12 with respect to the first protective layer 26a is preferably a value close to 1.

ここで、本明細書における屈折率は、波長589.3nm(ナトリウムのD線)の光における屈折率を意味し、例えば樹脂では、国際標準規格であるISO 14782:1999(JIS K 7105に対応)で定義される。また、第1保護層26aに対する透明基体12の相対屈折率nr1は、nr1=(n1/n0)で定義される。ここで、相対屈折率nr1は、0.86以上1.15以下の範囲にあればよく、より好ましくは、0.91以上1.08以下である。
相対屈折率nr1の範囲をこの範囲に限定して、透明基体12と第1保護層26aとの部材間の光の透過率を制御することにより、モアレの視認性をより向上させ、改善することができる。
Here, the refractive index in this specification means a refractive index in light having a wavelength of 589.3 nm (sodium D-line). For example, in the case of resin, ISO 14782: 1999 (corresponding to JIS K 7105) is an international standard. Defined by The relative refractive index nr1 of the transparent substrate 12 with respect to the first protective layer 26a is defined by nr1 = (n1 / n0). Here, the relative refractive index nr1 may be in the range of 0.86 to 1.15, more preferably 0.91 to 1.08.
By limiting the range of the relative refractive index nr1 to this range and controlling the light transmittance between members of the transparent substrate 12 and the first protective layer 26a, the visibility of moire is further improved and improved. Can do.

この導電シート10は、上述したように、例えば、液晶素子、無機EL素子、有機EL素子等の表示素子(からなる表示パネル)、あるいは太陽電池等の各種電極用として用いられる。また、導電シート10は、電極用以外にも、電流を流すことで発熱する透明発熱体(例えば、車両のデフロスタ)、電磁波を遮断する電磁波シールド材にも適用可能である。   As described above, the conductive sheet 10 is used for various electrodes such as a display element (a display panel including a liquid crystal element, an inorganic EL element, and an organic EL element), or a solar cell. The conductive sheet 10 can be applied to a transparent heating element (for example, a vehicle defroster) that generates heat when an electric current is passed, and an electromagnetic wave shielding material that blocks electromagnetic waves, in addition to the electrodes.

上述した実施の形態の導電シート10は、透明基体12の一方の主面のみに第1導電部14aを有するものであるが、本発明は、これに限定されず、透明基体12の両面に導電部を有するものであっても良い。このように、透明基体12の両方の主面に導電部を有する導電シート11を図2A及び図2Bに示す。
本実施の形態に係る導電シート11は、図2A及び図2Bに示すように、透明基体12の一方の主面(図2Bの矢印s1方向側)には、第1導電部14aの他、第1ダミー電極部15aが形成されている。第1導電部14a及び第1ダミー電極部15aは、金属細線16と開口部18によるメッシュパターン20とを有する。タッチパネルに適用する導電シート11に関し、金属細線16の線幅は、上述したように、視認性の点から30μm以下から選択可能であり、0.1μm以上15μm以下が好ましく、1μm以上9μm以下がより好ましく、2μm以上7μm以下がさらに好ましい。
The conductive sheet 10 according to the above-described embodiment has the first conductive portion 14a only on one main surface of the transparent substrate 12, but the present invention is not limited to this, and the conductive sheet 10 is conductive on both surfaces of the transparent substrate 12. It may have a part. Thus, the conductive sheet 11 which has a conductive part in both the main surfaces of the transparent base | substrate 12 is shown to FIG. 2A and FIG. 2B.
As shown in FIGS. 2A and 2B, the conductive sheet 11 according to the present embodiment has a first conductive portion 14a as well as a first conductive portion 14a on one main surface of the transparent substrate 12 (arrow s1 direction side). One dummy electrode portion 15a is formed. The first conductive portion 14 a and the first dummy electrode portion 15 a include a metal fine wire 16 and a mesh pattern 20 including an opening 18. Regarding the conductive sheet 11 applied to the touch panel, the line width of the fine metal wire 16 can be selected from 30 μm or less from the viewpoint of visibility as described above, preferably 0.1 μm or more and 15 μm or less, more preferably 1 μm or more and 9 μm or less. It is preferably 2 μm or more and 7 μm or less.

ここで、第1ダミー電極部15aは、第1導電部14aと所定間隔だけ離間して配置されている。すなわち、第1ダミー電極部15aは、第1導電部14aと電気的に絶縁された状態下にある。第1導電部14a及び第1ダミー電極部15aの略全面には、金属細線16を被覆するように、第1接着層24aを介して第1保護層26aが接着されている。
本実施形態の導電性シート11においては、透明基体12の一方(図2Bの上側)の面にも、透明基体12の他方(図2Bの下側)の面に形成されている第2導電部14bの複数の金属細線16に対応する複数の金属細線16からなる第1ダミー電極部15aを形成しているので、透明基体12の一方(図2Bの上側)の面での金属細線16による散乱を制御することができ、電極視認性を改善することができる。
Here, the first dummy electrode portion 15a is arranged to be separated from the first conductive portion 14a by a predetermined interval. That is, the first dummy electrode portion 15a is in a state of being electrically insulated from the first conductive portion 14a. A first protective layer 26a is bonded to substantially the entire surface of the first conductive portion 14a and the first dummy electrode portion 15a through the first adhesive layer 24a so as to cover the fine metal wires 16.
In the conductive sheet 11 of the present embodiment, the second conductive portion formed on the surface of one side (upper side of FIG. 2B) of the transparent base 12 and the other side (lower side of FIG. 2B) of the transparent base 12. Since the first dummy electrode portion 15a composed of the plurality of fine metal wires 16 corresponding to the plurality of fine metal wires 16b is formed, scattering by the fine metal wires 16 on one surface (the upper side in FIG. 2B) of the transparent substrate 12 Can be controlled and electrode visibility can be improved.

以下、透明基体12の一方の主面(図1B、図2Bの矢印s1方向側)に形成された各部(第1導電部14a、第1ダミー電極部15a、第1接着層24a及び第1保護層26aを含む。)を総称して第1積層部28aという場合がある。   Hereinafter, each part (the 1st electroconductive part 14a, the 1st dummy electrode part 15a, the 1st adhesion layer 24a, and the 1st protection) formed in one main surface (the arrow s1 direction side of Drawing 1B and Drawing 2B) of transparent substrate 12 In some cases, the layer 26a is included) and the first stacked portion 28a is collectively referred to.

ところで、透明基体12の他方の主面(図2Bの矢印s2方向側)には、第2導電部14bが形成されている。第2導電部14bは、第1導電部14aと同様に、金属細線16と開口部18によるメッシュパターン20を有する。透明基体12は絶縁性材料からなり、第2導電部14bは、第1導電部14a及び第1ダミー電極部15aと電気的に絶縁された状態下にある。   Incidentally, the second conductive portion 14b is formed on the other main surface of the transparent substrate 12 (arrow s2 direction side in FIG. 2B). Similar to the first conductive portion 14a, the second conductive portion 14b has a mesh pattern 20 formed by the fine metal wires 16 and the openings 18. The transparent substrate 12 is made of an insulating material, and the second conductive portion 14b is in a state of being electrically insulated from the first conductive portion 14a and the first dummy electrode portion 15a.

第2導電部14bの略全面には、金属細線16を被覆するように、第2接着層24bを介して第2保護層26bが接着されている。第2接着層24bの材質は、第1接着層24aと同一であってもよいし、異なってもよい。第2保護層26bの材質は、第1保護層26aと同一であってもよいし、異なってもよい。   The second protective layer 26b is bonded to the substantially entire surface of the second conductive portion 14b via the second adhesive layer 24b so as to cover the fine metal wires 16. The material of the second adhesive layer 24b may be the same as or different from the first adhesive layer 24a. The material of the second protective layer 26b may be the same as or different from the first protective layer 26a.

第2保護層26bの屈折率n2は、透明基体12の屈折率n0に等しいか、これに近い値である。この場合、第2保護層26bに対する透明基体12の相対屈折率nr2は1に近い値である。ここで、屈折率及び相対屈折率の定義は上記の通りとする。また、第2保護層26bに対する透明基体12の相対屈折率nr2は、nr2=(n2/n0)で定義される。ここで、相対屈折率nr2は、相対屈折率nr1と同様に、上述の両部材間の光の透過率の制御によるモアレの視認性の向上や改善の点から0.86以上1.15以下の範囲にあればよく、より好ましくは、0.91以上1.08以下である。   The refractive index n2 of the second protective layer 26b is equal to or close to the refractive index n0 of the transparent substrate 12. In this case, the relative refractive index nr2 of the transparent substrate 12 with respect to the second protective layer 26b is a value close to 1. Here, the definitions of the refractive index and the relative refractive index are as described above. The relative refractive index nr2 of the transparent substrate 12 with respect to the second protective layer 26b is defined by nr2 = (n2 / n0). Here, as with the relative refractive index nr1, the relative refractive index nr2 is 0.86 or more and 1.15 or less from the viewpoint of improving or improving the moire visibility by controlling the light transmittance between the two members. It may be in the range, and more preferably 0.91 or more and 1.08 or less.

以下、透明基体12の他方の主面(図2Bの矢印s2方向側)に形成された各部(第2導電部14b、第2接着層24b及び第2保護層26bを含む。)を総称して第2積層部28bという場合がある。   Hereinafter, the respective parts (including the second conductive part 14b, the second adhesive layer 24b, and the second protective layer 26b) formed on the other main surface (the arrow s2 direction side of FIG. 2B) of the transparent substrate 12 are collectively referred to. It may be called the 2nd lamination part 28b.

この導電シート11は、上述の導電シート10と同様に、上述したように、例えば、液晶素子、無機EL素子、有機EL素子等の表示素子を用いたタッチパネル用電極、太陽電池等の各種の電極、電磁波シールド材、車両のデフロスタ等の各種の透明発熱体等にも用いることができる。
このように、これらの導電シート10及び11は、例えば、図3に示す表示ユニット30(表示部)のタッチパネルに適用される。この表示ユニット30は、液晶パネル、プラズマパネル、有機ELパネル、無機ELパネル等で構成されてもよい。
As described above, the conductive sheet 11 is, for example, a touch panel electrode using a display element such as a liquid crystal element, an inorganic EL element, and an organic EL element, and various electrodes such as a solar cell. It can also be used for various transparent heating elements such as electromagnetic shielding materials and vehicle defrosters.
Thus, these conductive sheets 10 and 11 are applied to the touch panel of the display unit 30 (display unit) shown in FIG. 3, for example. The display unit 30 may be composed of a liquid crystal panel, a plasma panel, an organic EL panel, an inorganic EL panel, or the like.

図3に一部を省略して示すように、表示ユニット30は、複数の画素32がマトリクス状に配列されて構成されている。1つの画素32は3つの副画素(赤色副画素32r、緑色副画素32g及び青色副画素32b)が水平方向に配列されて構成されている。1つの副画素は垂直方向に縦長とされた長方形状とされている。画素32の水平方向の配列ピッチ(水平画素ピッチPh)と画素32の垂直方向の配列ピッチ(垂直画素ピッチPv)は略同じとされている。つまり、1つの画素32と該1つの画素32を囲むブラックマトリクス34(パターン材)にて構成される形状(網掛けにて示す領域36を参照)は正方形となっている。また、1つの画素32のアスペクト比は1ではなく、水平方向(横)の長さ>垂直方向(縦)の長さとなっている。上記した画素配列を有する表示ユニット30の表示パネル上に導電シート10又は11を配置する場合、画素32の配列周期と、ランダムに形成された金属細線16との間における空間周波数の干渉が殆どなく、モアレの発生が抑制されることになる。   As shown in FIG. 3 with some parts omitted, the display unit 30 is configured by a plurality of pixels 32 arranged in a matrix. One pixel 32 includes three subpixels (a red subpixel 32r, a green subpixel 32g, and a blue subpixel 32b) arranged in the horizontal direction. One sub-pixel has a rectangular shape that is vertically long in the vertical direction. The horizontal arrangement pitch of pixels 32 (horizontal pixel pitch Ph) and the vertical arrangement pitch of pixels 32 (vertical pixel pitch Pv) are substantially the same. That is, the shape (see the shaded area 36) formed by one pixel 32 and the black matrix 34 (pattern material) surrounding the one pixel 32 is a square. Also, the aspect ratio of one pixel 32 is not 1, but the length in the horizontal direction (horizontal)> the length in the vertical direction (vertical). When the conductive sheet 10 or 11 is arranged on the display panel of the display unit 30 having the above-described pixel arrangement, there is almost no spatial frequency interference between the arrangement period of the pixels 32 and the thin metal wires 16 formed at random. Therefore, the generation of moire is suppressed.

次に、本実施の形態に係る導電シート11を組み込んだ表示装置40について、図4〜図8を参照しながら説明する。ここでは、投影型静電容量方式のタッチパネルを例に挙げて説明する。
以下では、図2A及び図2Bに示す導電シート11を図3に示す表示ユニット30のタッチパネルに適用した表示装置40を代表例として説明するが、本発明は、これに限定されず、図1A及び図1Bに示す導電シート10を適用した表示装置であっても良いのは言うまでもない。
Next, a display device 40 incorporating the conductive sheet 11 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. Here, a projected capacitive touch panel will be described as an example.
Hereinafter, the display device 40 in which the conductive sheet 11 illustrated in FIGS. 2A and 2B is applied to the touch panel of the display unit 30 illustrated in FIG. 3 will be described as a representative example. However, the present invention is not limited thereto, and FIG. Needless to say, a display device to which the conductive sheet 10 shown in FIG. 1B is applied may be used.

図4に示すように、表示装置40は、カラー画像及び/又はモノクロ画像を表示可能な表示ユニット30(図3参照)と、入力面42(矢印Z1方向側)からの接触位置を検出するタッチパネル44と、表示ユニット30及びタッチパネル44を収容する筐体46とを有する。筐体46の一面(矢印Z1方向側)に設けられた大きな開口部を介して、ユーザは、タッチパネル44にアクセス可能である。   As shown in FIG. 4, the display device 40 includes a display unit 30 (see FIG. 3) that can display a color image and / or a monochrome image, and a touch panel that detects a contact position from the input surface 42 (arrow Z1 direction side). 44 and a housing 46 that accommodates the display unit 30 and the touch panel 44. The user can access the touch panel 44 through a large opening provided on one surface of the housing 46 (arrow Z1 direction side).

タッチパネル44は、上記した導電シート11(図2A及び図2B参照)の他、導電シート11の一面(矢印Z1方向側)に積層されたカバー部材48と、ケーブル50を介して導電シート11に電気的に接続されたフレキシブル基板52と、フレキシブル基板52上に配置された検出制御部54とを備える。   In addition to the above-described conductive sheet 11 (see FIGS. 2A and 2B), the touch panel 44 is electrically connected to the conductive sheet 11 via a cover member 48 laminated on one surface (arrow Z1 direction side) of the conductive sheet 11 and a cable 50. Connected flexible substrate 52 and detection control unit 54 disposed on flexible substrate 52.

表示ユニット30の一面(矢印Z1方向側)には、接着層56を介して、導電シート11が接着されている。導電シート11は、他方の主面側(第2導電部14b側)を表示ユニット30に対向させて、表示画面上に配置されている。   The conductive sheet 11 is bonded to one surface (the arrow Z1 direction side) of the display unit 30 via an adhesive layer 56. The conductive sheet 11 is arranged on the display screen with the other main surface side (second conductive portion 14b side) facing the display unit 30.

カバー部材48は、導電シート11の一面を被覆することで、入力面42としての機能を発揮する。また、接触体58(例えば、指やスタイラスペン)による直接的な接触を防止することで、擦り傷の発生や、塵埃の付着等を抑止可能であり、導電シート11の導電性を安定させることができる。   The cover member 48 exhibits a function as the input surface 42 by covering one surface of the conductive sheet 11. In addition, by preventing direct contact with the contact body 58 (for example, a finger or a stylus pen), it is possible to suppress the generation of scratches and the adhesion of dust, and the conductivity of the conductive sheet 11 can be stabilized. it can.

カバー部材48の材質は、例えば、ガラス、樹脂フイルムであってもよい。カバー部材48の一面(矢印Z2方向側)を酸化珪素等でコートした状態で、導電シート11の一面(矢印Z1方向側)に密着させてもよい。また、擦れ等による損傷を防止するため、導電シート11及びカバー部材48を貼り合わせて構成してもよい。   The material of the cover member 48 may be glass or a resin film, for example. You may make it closely_contact | adhere to the one surface (arrow Z1 direction side) of the conductive sheet 11 in the state which coat | covered the one surface (arrow Z2 direction side) of the cover member 48 with a silicon oxide etc. In order to prevent damage due to rubbing or the like, the conductive sheet 11 and the cover member 48 may be bonded together.

フレキシブル基板52は、可撓性を備える電子基板である。本図例では、筐体46の側面内壁に固定されているが、配設位置は種々変更してもよい。検出制御部54は、導体である接触体58を入力面42に接触する(又は近づける)際、接触体58と導電シート11との間での静電容量の変化を捉えて、その接触位置(又は近接位置)を検出する電子回路を構成する。   The flexible substrate 52 is an electronic substrate having flexibility. In this example, it is fixed to the inner wall of the side surface of the housing 46, but the arrangement position may be variously changed. The detection control unit 54 captures a change in capacitance between the contact body 58 and the conductive sheet 11 when the contact body 58 that is a conductor contacts (or approaches) the input surface 42, and detects the contact position ( Or an electronic circuit for detecting a proximity position).

図5Aに示すように、導電シート11の一方の主面には、矢印Z2方向側への平面視で、表示ユニット30(図3及び図4参照)の表示領域に配された第1センサ部60aと、表示領域の外周領域に配された第1端子配線部62a(いわゆる額縁)とが設けられている。   As shown in FIG. 5A, the first sensor unit arranged on the display area of the display unit 30 (see FIGS. 3 and 4) on one main surface of the conductive sheet 11 in a plan view in the direction of the arrow Z <b> 2. 60a and a first terminal wiring portion 62a (a so-called frame) disposed in the outer peripheral area of the display area are provided.

導電シート11の外形は平面視で矩形状を有するとともに、第1センサ部60aの外形も矩形状を有する。第1端子配線部62aのうち、導電シート11の矢印Y方向に平行する一辺側の周縁部には、その長さ方向中央部分に、複数の第1端子64aが矢印Y方向に配列形成されている。第1センサ部60aの一辺(本図例では矢印Y方向に平行する辺)に沿って、複数の第1結線部66aが略一列に配列されている。各第1結線部66aから導出された第1端子配線パターン68aは、表示領域の外周領域の第1端子64aに向かって引き回されており、それぞれ対応する第1端子64aに電気的に接続されている。   The outer shape of the conductive sheet 11 has a rectangular shape in plan view, and the outer shape of the first sensor unit 60a also has a rectangular shape. In the first terminal wiring portion 62a, a plurality of first terminals 64a are arrayed in the arrow Y direction at the peripheral portion on one side parallel to the arrow Y direction of the conductive sheet 11 at the central portion in the length direction. Yes. A plurality of first connection portions 66a are arranged in a substantially single line along one side of the first sensor unit 60a (a side parallel to the arrow Y direction in this example). The first terminal wiring pattern 68a derived from each first connection portion 66a is routed toward the first terminal 64a in the outer peripheral area of the display area, and is electrically connected to the corresponding first terminal 64a. ing.

第1センサ部60aに対応した部位には、複数の金属細線16(図2A及び2B参照)で形成された2以上の第1導電パターン70a(メッシュパターン)を有する。第1導電パターン70aは、矢印X方向(第1方向)にそれぞれ延在し、且つ、矢印X方向に直交する矢印Y方向(第2方向)に配列されている。また、各第1導電パターン70aは、2以上の第1感知部72aが矢印X方向に直列に接続されて構成される。その輪郭が概略菱形状の各第1感知部72aは、それぞれ同一の輪郭形状を有する。隣接する第1感知部72a間には、これら第1感知部72aを電気的に接続する第1接続部74aが形成されている。より詳細には、一の第1感知部72aの頂角部は、第1接続部74aを介して、一の第1感知部72aの矢印X方向に隣接する他の第1感知部72aの頂角部に連結されている。   The part corresponding to the first sensor unit 60a has two or more first conductive patterns 70a (mesh patterns) formed of a plurality of fine metal wires 16 (see FIGS. 2A and 2B). The first conductive patterns 70a extend in the arrow X direction (first direction) and are arranged in the arrow Y direction (second direction) orthogonal to the arrow X direction. Each of the first conductive patterns 70a is configured by connecting two or more first sensing units 72a in series in the arrow X direction. Each of the first sensing parts 72a whose outline is approximately rhombus has the same outline shape. A first connection portion 74a that electrically connects the first sensing portions 72a is formed between the adjacent first sensing portions 72a. More specifically, the apex angle portion of one first sensing portion 72a is located at the apex of another first sensing portion 72a adjacent in the arrow X direction of one first sensing portion 72a via the first connection portion 74a. It is connected to the corner.

各第1導電パターン70aの一方の端部側において、第1感知部72aの開放端には、第1接続部74aが形成されていない。各第1導電パターン70aの他方の端部側において、第1感知部72aの端部には、第1結線部66aがそれぞれ設けられている。そして、各第1導電パターン70aは、各第1結線部66aを介して、第1端子配線パターン68aに電気的に接続されている。   On one end side of each first conductive pattern 70a, the first connection part 74a is not formed at the open end of the first sensing part 72a. On the other end side of each first conductive pattern 70a, a first connection part 66a is provided at the end of the first sensing part 72a. Each first conductive pattern 70a is electrically connected to the first terminal wiring pattern 68a via each first connection portion 66a.

第1センサ部60aに対応した部位には、複数の金属細線16(図2A及び2B参照)で形成された2以上の第1ダミーパターン76a(メッシュパターン)を有する。各第1ダミーパターン76aは、隣接する第1導電パターン70a同士の第1隙間部75a(図6参照)に配置されている。その輪郭が概略菱形状の第1ダミーパターン76aは、各第1導電パターン70a(第1感知部72a及び第1接続部74a)と所定間隔だけ離間して配されている。この間隔(幅)は、第1感知部72aの一辺の長さと比較してきわめて小さい。したがって、第1センサ部60aには、その全面にわたって、略一様な密度で金属細線16が配線されている。   The part corresponding to the first sensor unit 60a has two or more first dummy patterns 76a (mesh patterns) formed by a plurality of fine metal wires 16 (see FIGS. 2A and 2B). Each first dummy pattern 76a is arranged in a first gap 75a (see FIG. 6) between adjacent first conductive patterns 70a. The first dummy pattern 76a, whose outline is roughly rhombus-shaped, is arranged apart from each first conductive pattern 70a (the first sensing part 72a and the first connection part 74a) by a predetermined distance. This interval (width) is extremely small compared to the length of one side of the first sensing unit 72a. Therefore, the thin metal wires 16 are wired on the first sensor portion 60a over the entire surface with a substantially uniform density.

説明の便宜のため、図6では、1つの第1ダミーパターン76a(図面の中央右部)に限り、各メッシュ形状を詳細に表記している。その他の第1ダミーパターン76aにおいては、その輪郭を破線で示し、その内部の形状を省略した。   For convenience of explanation, in FIG. 6, each mesh shape is shown in detail in only one first dummy pattern 76 a (the center right portion of the drawing). In the other first dummy patterns 76a, the outlines are indicated by broken lines, and the internal shapes thereof are omitted.

図6に示すように、各第1感知部72a及び各第1ダミーパターン76aは、それぞれ2以上の第1メッシュ要素78aを組み合わせて構成されている。第1メッシュ要素78aの形状は、上述したメッシュ形状22(図2A参照)と同様に、少なくとも3辺を有する多角形状である。また、隣接する第1感知部72a間を接続する第1接続部74aは、少なくとも1つの第1メッシュ要素78aから構成されている。   As shown in FIG. 6, each first sensing unit 72a and each first dummy pattern 76a are configured by combining two or more first mesh elements 78a. The shape of the first mesh element 78a is a polygonal shape having at least three sides, similar to the mesh shape 22 (see FIG. 2A) described above. The first connection part 74a that connects the adjacent first sensing parts 72a is composed of at least one first mesh element 78a.

なお、各第1感知部72a及び各第1ダミーパターン76aの周縁部を構成する第1メッシュ要素78aは、位相幾何学(トポロジー)的に閉領域であってもよいし開領域であってもよい。第1接続部74aに関しても同様である。   Note that the first mesh elements 78a constituting the peripheral portions of the first sensing portions 72a and the first dummy patterns 76a may be closed regions or open regions in terms of topology (topology). Good. The same applies to the first connection portion 74a.

また、隣接する第1導電パターン70a間には、電気的に絶縁された第1絶縁部80aがそれぞれ配されている。   In addition, between the first conductive patterns 70a adjacent to each other, a first insulating portion 80a that is electrically insulated is disposed.

ここで、第1ダミーパターン76aの配線密度は、第1導電パターン70a(第1感知部72a及び第1接続部74a)の配線密度に等しい。この場合、第1ダミーパターン76aの平面領域内での光反射率は、第1導電パターン70aの平面領域内での光反射率に一致する。金属細線16の線幅が一定であるとき、配線密度と光反射率との間には高い相関関係があるためである。   Here, the wiring density of the first dummy pattern 76a is equal to the wiring density of the first conductive pattern 70a (the first sensing unit 72a and the first connection unit 74a). In this case, the light reflectance in the planar region of the first dummy pattern 76a matches the light reflectance in the planar region of the first conductive pattern 70a. This is because when the line width of the fine metal wire 16 is constant, there is a high correlation between the wiring density and the light reflectance.

なお、本明細書中において「配線密度が等しい」とは、完全に等しい場合のみならず、実質的に等しい場合(密度比が概ね0.8〜1.2の範囲内)をも含む概念である。すなわち、人間(観察者)の視覚にとって検知できない程度の光反射率の差であればよい。また、金属細線16の配線密度の測定面積は、測定精度等を考慮して、1mm2以上であればよい。 In this specification, “the wiring density is equal” is a concept that includes not only the case where the wiring density is completely equal but also the case where the wiring density is substantially equal (density ratio is approximately in the range of 0.8 to 1.2). is there. That is, it is sufficient that the difference in light reflectance is such that it cannot be detected by human (observer) vision. In addition, the measurement area of the wiring density of the fine metal wires 16 may be 1 mm 2 or more in consideration of measurement accuracy and the like.

また、各第1導電パターン70aと各第1ダミーパターン76aとの離間距離は、位置によらず一定(略一定の場合も含まれる。)にしてもよい。これにより、金属細線16の配線密度が一様に近づくので好ましい。   Further, the separation distance between each first conductive pattern 70a and each first dummy pattern 76a may be constant (including a case where it is substantially constant) regardless of the position. This is preferable because the wiring density of the fine metal wires 16 approaches uniformly.

さらに、第1隙間部75aに対する第1ダミーパターン76aの被覆率(配置割合)は、概ね30〜95%の範囲が好ましく、70〜95%の範囲が一層好ましい。その理由は、被覆率が30%未満では、第2導電パターン70bの金属細線16による散乱の制御が不十分となり、電極視認性を十分に改善できないからであり、95%超では、第1ダミーパターン76aと第1導電パターン70aとの離間距離が近付き過ぎ、正確な感知ができなくなる恐れがあり、又、両者の絶縁性が不十分となる恐れがあるからである。   Furthermore, the coverage (arrangement ratio) of the first dummy pattern 76a with respect to the first gap portion 75a is preferably in the range of approximately 30 to 95%, and more preferably in the range of 70 to 95%. The reason is that if the coverage is less than 30%, the scattering of the second conductive pattern 70b by the fine metal wires 16 is insufficiently controlled, and the electrode visibility cannot be sufficiently improved. This is because the distance between the pattern 76a and the first conductive pattern 70a is too close, and there is a possibility that accurate sensing cannot be performed, and there is a possibility that the insulation between them may be insufficient.

さらに、各第1ダミーパターン76aの輪郭は、三角形、矩形、円形等を含む種々の形状を採り得る。例えば、各第1ダミーパターン76aの輪郭は、各第1感知部72aの輪郭の形状(図5A例では、概略菱形状)と同一の又は相似する形状を有してもよい。   Further, the outline of each first dummy pattern 76a may take various shapes including a triangle, a rectangle, a circle, and the like. For example, the contour of each first dummy pattern 76a may have the same or similar shape as the contour shape of each first sensing unit 72a (in the example of FIG. 5A, a roughly diamond shape).

一方、図5Bに示すように、導電シート11の他方の主面には、矢印Z1方向側への平面視で、表示ユニット30(図3及び図4参照)の表示領域に配された第2センサ部60bと、表示領域の外周領域に配された第2端子配線部62b(いわゆる額縁)とが設けられている。   On the other hand, as shown in FIG. 5B, the second main surface of the conductive sheet 11 is arranged in the second region disposed in the display area of the display unit 30 (see FIGS. 3 and 4) in a plan view toward the arrow Z1 direction. A sensor unit 60b and a second terminal wiring unit 62b (so-called frame) arranged in the outer peripheral region of the display region are provided.

導電シート11の外形は平面視で矩形状を有するとともに、第2センサ部60bの外形も矩形状を有する。第2端子配線部62bのうち、導電シート11の矢印Y方向に平行する一辺側の周縁部には、その長さ方向中央部分に、複数の第2端子64bが矢印Y方向に配列形成されている。第2センサ部60bの一辺(本図例では矢印X方向に平行する辺)に沿って、複数の第2結線部66b(例えば、奇数番目の第2結線部66b)が略一列に配列されている。第2センサ部60bの他辺(一辺に対向する辺)に沿って、複数の第2結線部66b(例えば、偶数番目の第2結線部66b)が略一列に配列されている。各第2結線部66bから導出された第2端子配線パターン68bは、表示領域の外周領域の第2端子64bに向かって引き回されており、それぞれ対応する第2端子64bに電気的に接続されている。   The outer shape of the conductive sheet 11 has a rectangular shape in plan view, and the outer shape of the second sensor unit 60b also has a rectangular shape. Among the second terminal wiring portions 62b, a plurality of second terminals 64b are arrayed in the arrow Y direction at the peripheral portion on one side parallel to the arrow Y direction of the conductive sheet 11 at the central portion in the length direction. Yes. A plurality of second connection portions 66b (for example, odd-numbered second connection portions 66b) are arranged in a substantially single row along one side (the side parallel to the arrow X direction in this example) of the second sensor unit 60b. Yes. A plurality of second connection portions 66b (for example, even-numbered second connection portions 66b) are arranged in substantially one row along the other side (side opposite to one side) of the second sensor unit 60b. The second terminal wiring pattern 68b derived from each second connection portion 66b is routed toward the second terminal 64b in the outer peripheral area of the display area, and is electrically connected to the corresponding second terminal 64b. ing.

第2センサ部60bに対応した部位には、複数の金属細線16(図2A及び図2B参照)で形成された2以上の第2導電パターン70b(メッシュパターン)を有する。第2導電パターン70bは、矢印Y方向(第2方向)にそれぞれ延在し、且つ、矢印Y方向に直交する矢印X方向(第1方向)に配列されている。また、各第2導電パターン70bは、2以上の第2感知部72bが矢印Y方向に直列に接続されて構成される。その輪郭が概略菱形状の各第2感知部72bは、それぞれ同一の輪郭形状を有する。隣接する第2感知部72b間には、これら第2感知部72bを電気的に接続する第2接続部74bが形成されている。より詳細には、一の第2感知部72bの頂角部は、第2接続部74bを介して、一の第2感知部72bの矢印Y方向に隣接する他の第2感知部72bの頂角部に連結されている。   A portion corresponding to the second sensor unit 60b has two or more second conductive patterns 70b (mesh patterns) formed of a plurality of fine metal wires 16 (see FIGS. 2A and 2B). The second conductive patterns 70b extend in the arrow Y direction (second direction) and are arranged in the arrow X direction (first direction) orthogonal to the arrow Y direction. Each of the second conductive patterns 70b is configured by connecting two or more second sensing units 72b in series in the arrow Y direction. The second sensing parts 72b whose outlines are approximately diamond-shaped have the same outline shape. A second connection portion 74b that electrically connects the second sensing portions 72b is formed between the adjacent second sensing portions 72b. More specifically, the apex angle part of one second sensing part 72b is the apex of another second sensing part 72b adjacent to the one second sensing part 72b in the arrow Y direction via the second connection part 74b. It is connected to the corner.

各第2導電パターン70bの一方の端部側において、第2感知部72bの開放端には、第2接続部74bが形成されていない。各第2導電パターン70bの他方の端部側において、第2感知部72bの端部には、第2結線部66bがそれぞれ設けられている。そして、各第2導電パターン70bは、各第2結線部66bを介して、第2端子配線パターン68bに電気的に接続されている。   On one end side of each second conductive pattern 70b, the second connection part 74b is not formed at the open end of the second sensing part 72b. On the other end side of each second conductive pattern 70b, a second connection portion 66b is provided at the end of the second sensing portion 72b. Each second conductive pattern 70b is electrically connected to the second terminal wiring pattern 68b via each second connection portion 66b.

なお、第2センサ部60bに関し、第1センサ部60a(図5A及び図6参照)と異なり、隣接する第2導電パターン70b同士の第2隙間部75bにダミーパターンが配されていない。   In addition, regarding the 2nd sensor part 60b, unlike the 1st sensor part 60a (refer FIG. 5A and FIG. 6), the dummy pattern is not distribute | arranged to the 2nd clearance gap part 75b of 2nd adjacent conductive patterns 70b.

図7に示すように、各第2感知部72bは、それぞれ2以上の第2メッシュ要素78bを組み合わせて構成されている。第2メッシュ要素78bの形状は、上述したメッシュ形状22(図2A参照)と同様に、少なくとも3辺を有する多角形状である。隣接する第2感知部72b間を接続する第2接続部74bは、少なくとも1つの第2メッシュ要素78bから構成されている。   As shown in FIG. 7, each second sensing unit 72b is configured by combining two or more second mesh elements 78b. The shape of the second mesh element 78b is a polygonal shape having at least three sides, like the mesh shape 22 (see FIG. 2A) described above. The second connection part 74b that connects the adjacent second sensing parts 72b is composed of at least one second mesh element 78b.

なお、各第2感知部72bの周縁部を構成する第2メッシュ要素78bは、位相幾何学(トポロジー)的に閉領域であってもよいし開領域であってもよい。第2接続部74bに関しても同様である。   Note that the second mesh element 78b constituting the peripheral edge of each second sensing unit 72b may be a closed region or an open region in terms of topology (topology). The same applies to the second connection portion 74b.

また、隣接する第2導電パターン70b間には、電気的に絶縁された第2絶縁部80bがそれぞれ配されている。   In addition, between the adjacent second conductive patterns 70b, electrically insulated second insulating portions 80b are respectively disposed.

図8に示すように、導電シート11の平面視において、一面(矢印Z2方向側)に形成された第1導電パターン70a及び第1ダミーパターン76aの隙間(第1隙間部75aの一部)を埋めるように、他面(矢印Z1方向側)に形成された第2導電パターン70bが配列された形態となる。また、第1導電パターン70aの輪郭と、第2導電パターン70bの輪郭とが重なる平面領域において、両者の金属細線16の位置が完全に一致する。さらに、第1ダミーパターン76aの輪郭と、第2導電パターン70bの輪郭とが重なる平面領域において、両者の金属細線16の位置が完全に一致する。その結果、導電シート11の平面視において、多数のポリゴン82(メッシュ形状)が敷き詰められた形態となる。   As shown in FIG. 8, in the plan view of the conductive sheet 11, a gap (a part of the first gap portion 75a) between the first conductive pattern 70a and the first dummy pattern 76a formed on one surface (arrow Z2 direction side) is formed. The second conductive pattern 70b formed on the other surface (arrow Z1 direction side) is arranged so as to be buried. Moreover, in the plane area | region where the outline of the 1st conductive pattern 70a and the outline of the 2nd conductive pattern 70b overlap, the position of both the metal fine wires 16 corresponds completely. Furthermore, in the plane area where the outline of the 1st dummy pattern 76a and the outline of the 2nd conductive pattern 70b overlap, the position of both the metal fine wires 16 completely corresponds. As a result, in the plan view of the conductive sheet 11, a large number of polygons 82 (mesh shape) are spread.

第1感知部72a(及び第2感知部72b)の一辺の長さは、3〜10mmであることが好ましく、4〜6mmであることがより好ましい。一辺の長さが、上記下限値未満であると、導電シート11をタッチパネルに適用した場合、検出時の第1感知部72a(及び第2感知部72b)の静電容量が減るため、検出不良になる可能性が高くなる。他方、上記上限値を超えると、接触位置の検出精度が低下するおそれがある。同様の観点から、ポリゴン82(第1メッシュ要素78a、第2メッシュ要素78b)の一辺の平均長さは、上述したように、100〜400μmであることが好ましく、150〜300μmであることがさらに好ましく、最も好ましくは210〜250μm以下である。ポリゴン82の一辺が上記範囲である場合には、さらに透明性も良好に保つことが可能であり、表示ユニット30の前面に取り付けた際に、違和感なく表示を視認することができる。   The length of one side of the first sensing unit 72a (and the second sensing unit 72b) is preferably 3 to 10 mm, and more preferably 4 to 6 mm. If the length of one side is less than the above lower limit value, when the conductive sheet 11 is applied to a touch panel, the capacitance of the first sensing unit 72a (and the second sensing unit 72b) at the time of detection is reduced, so that the detection failure Is likely to become. On the other hand, when the upper limit is exceeded, the detection accuracy of the contact position may be lowered. From the same viewpoint, the average length of one side of the polygon 82 (the first mesh element 78a and the second mesh element 78b) is preferably 100 to 400 μm, more preferably 150 to 300 μm, as described above. Preferably, it is 210-250 micrometers or less most preferably. When one side of the polygon 82 is within the above range, it is possible to keep transparency even better, and when attached to the front surface of the display unit 30, the display can be visually recognized without a sense of incongruity.

図6に戻って、第1接続部74aの幅w1は、0.2〜1.0mmであることが好ましく、0.4〜0.8mmであることがより好ましい。w1が上記した下限値未満である場合、各第1感知部72aを接続する配線数が減少するため電極間抵抗が上昇する。一方、w1が上記した上限値を超える場合、第2感知部72bとの重なり面積が増加するためノイズ量が増大する。なお、第2接続部74b(図7参照)の幅に関しても幅w1と同様である。   Returning to FIG. 6, the width w1 of the first connection portion 74a is preferably 0.2 to 1.0 mm, and more preferably 0.4 to 0.8 mm. When w1 is less than the lower limit value described above, the number of wires connecting each first sensing unit 72a decreases, and thus the interelectrode resistance increases. On the other hand, when w1 exceeds the above upper limit value, the amount of noise increases because the overlapping area with the second sensing unit 72b increases. The width of the second connection portion 74b (see FIG. 7) is the same as the width w1.

第1感知部72aと第2感知部72bとの離間幅w2は、0.1〜0.6mmであることが好ましく、0.2〜0.5mmであることがより好ましい。w2が上記した下限値未満である場合、接触体58の接触(又は近接)に伴う静電容量の変化量が小さくなるため信号量が低下する。一方、w2が上記した上限値を超える場合、第1感知部72aの密度が低下するためセンサの解像度が低下する。   The separation width w2 between the first sensing unit 72a and the second sensing unit 72b is preferably 0.1 to 0.6 mm, and more preferably 0.2 to 0.5 mm. When w2 is less than the above lower limit value, the amount of signal decreases because the amount of change in capacitance associated with the contact (or proximity) of the contact body 58 decreases. On the other hand, when w2 exceeds the above-described upper limit value, the density of the first sensing unit 72a is lowered, so the resolution of the sensor is lowered.

続いて、第1導電部14a、第1ダミー電極部15a、及び第2導電部14bの配線形状の決定例の概略を、図9A〜図10Cを参照しながら説明する。アルゴリズムの詳細については後述する。   Next, an outline of an example of determining the wiring shape of the first conductive portion 14a, the first dummy electrode portion 15a, and the second conductive portion 14b will be described with reference to FIGS. 9A to 10C. Details of the algorithm will be described later.

本実施の形態では、1つの平面領域100内に存在する複数の位置からメッシュパターン20を決定する。図9Aに示すように、正方形状の平面領域100の中から、8つのシード点P1〜P8を無作為に選択したとする。 In the present embodiment, the mesh pattern 20 is determined from a plurality of positions existing in one plane region 100. As shown in FIG. 9A, it is assumed that eight seed points P 1 to P 8 are randomly selected from a square planar region 100.

図9Bは、ボロノイ図(ボロノイ分割法)に従って配線形状を決定した結果を示す概略説明図である。これにより、8つのシード点P1〜P8をそれぞれ囲繞する8つの領域V1〜V8がそれぞれ画定される。ここで、ボロノイ図により区画された領域Vi(i=1〜8)は、シード点Piが最も近接する点である点の集合体であることを示している。ここで、距離関数としてユークリッド距離を用いたが、種々の関数を用いてもよい。 FIG. 9B is a schematic explanatory diagram illustrating a result of determining the wiring shape according to the Voronoi diagram (Voronoi division method). Thus, eight regions V 1 to V 8 that respectively surround the eight seed points P 1 to P 8 are defined. Here, the region V i (i = 1 to 8) partitioned by the Voronoi diagram indicates that the seed point P i is an aggregate of points that are the closest points. Here, the Euclidean distance is used as the distance function, but various functions may be used.

図9Cは、ドロネー図(ドロネー三角形分割法)に従って配線形状を決定した結果を示す概略説明図である。ドロネー三角形分割法とは、シード点P1〜P8のうち、隣接する点同士を繋いで三角形状の領域を画定する方法である。これにより、8つのシード点P1〜P8のいずれかを頂点とする8つの領域V1〜V8がそれぞれ画定される。 FIG. 9C is a schematic explanatory diagram showing a result of determining the wiring shape according to the Delaunay diagram (Delaunay triangulation method). The Delaunay triangulation method is a method of defining a triangular region by connecting adjacent points among the seed points P 1 to P 8 . As a result, eight regions V 1 to V 8 each having one of the eight seed points P 1 to P 8 as vertices are defined.

このようにして、図9B(又は図9C)に示す各境界線を金属細線16とし、各領域Viを開口部18とする配線形状、すなわち、第1導電部14a、第1ダミー電極部15a、及び第2導電部14bを重ね合わせた場合での各メッシュ形状22が決定される。なお、配線形状の決定例は上記した手法に限定されることなく、種々の手法を採り得る。例えば、領域を区間する各線分は、図9B及び図9Cに例示した直線のみならず、曲線及びこれらの結合であってもよい。 9B (or FIG. 9C) is a wiring shape in which each boundary line shown in FIG. 9B (or FIG. 9C) is a thin metal wire 16 and each region V i is an opening 18, that is, the first conductive portion 14a and the first dummy electrode portion 15a. And each mesh shape 22 in the case where the 2nd electroconductive part 14b is piled up is determined. The example of determining the wiring shape is not limited to the above-described method, and various methods can be adopted. For example, each line segment that divides the region may be not only the straight line illustrated in FIGS. 9B and 9C but also a curve and a combination thereof.

また、図13、および図14(A)〜(C)に例示したようなメッシュパターンの開口部を変形した態様でもよい。   Moreover, the aspect which deform | transformed the opening part of the mesh pattern which was illustrated to FIG. 13 and FIG. 14 (A)-(C) may be sufficient.

続いて、本発明に係る導電シート10、11のノイズ特性(例えば、粒状ノイズ)を定量化した評価値について、図10A〜図18を参照しながら詳細に説明する。なお、メッシュパターン20の配線形状を数理的に評価するため、この模様を可視化した画像データを予め取得する必要がある。この画像データImgは、カメラ、スキャナ等の入力装置を用いて読み取られた導電シート10、11の色値データや、メッシュパターン20の出力形成に実際に用いた画像データであってもよい。いずれの場合でも、画像データImgは、金属細線16の平均線幅を1以上の画素で表現可能な程度の高い解像度(小さい画素サイズ)を有することが好ましい。   Subsequently, an evaluation value obtained by quantifying the noise characteristics (for example, granular noise) of the conductive sheets 10 and 11 according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 10A to 18. In addition, in order to mathematically evaluate the wiring shape of the mesh pattern 20, it is necessary to obtain image data that visualizes this pattern in advance. The image data Img may be color value data of the conductive sheets 10 and 11 read by using an input device such as a camera or a scanner, or image data actually used for output formation of the mesh pattern 20. In any case, it is preferable that the image data Img has a high resolution (small pixel size) that can express the average line width of the thin metal wires 16 with one or more pixels.

なお、所定の画像データImgに基づいて導電シート10、11を実際に作製した結果、金属細線16の交点近傍(多角形状の場合は頂点部)で線が太くなる場合がある。そこで、この特性を予め考慮し画像データImgを補正した上で、以下の評価に用いてもよい。   In addition, as a result of actually producing the conductive sheets 10 and 11 based on the predetermined image data Img, the line may be thick in the vicinity of the intersection of the fine metal wires 16 (vertex portion in the case of a polygonal shape). Therefore, the image data Img may be corrected in consideration of this characteristic in advance and used for the following evaluation.

次に、本発明によるパターンの特徴を評価する評価値(指標)について説明する。画質の評価は、主としてモアレ、色ノイズの視認性の良否で評価される。本発明においては、評価値(指標)として、主として、モアレの視認性の評価に適した第1評価値と、色ノイズの視認性の評価に適した第2評価値と、モアレと色ノイズ(周波数成分)をほぼ等価的に評価するのに適した第3評価値とを用いることができるが、これらの第1評価値、第2評価値及び第3評価値については、評価したい画質に応じて、具体的には、モアレ及び色ノイズの視認性のいずれか一方、もしくは両方かに応じて、いずれかの評価値を用いれば良いが、これらの評価値を単独で用いることに限定されず、評価目的や目標に応じて、2つ以上の評価値を組み合わせて用いても良い。   Next, an evaluation value (index) for evaluating the feature of the pattern according to the present invention will be described. The image quality is evaluated mainly based on the visibility of moire and color noise. In the present invention, as evaluation values (indexes), mainly, a first evaluation value suitable for evaluating the visibility of moire, a second evaluation value suitable for evaluating the visibility of color noise, moire and color noise ( The third evaluation value suitable for substantially equivalently evaluating the frequency component) can be used. The first evaluation value, the second evaluation value, and the third evaluation value are determined according to the image quality to be evaluated. Specifically, any evaluation value may be used depending on one or both of the visibility of moire and color noise, but the evaluation values are not limited to being used alone. Depending on the evaluation purpose and target, two or more evaluation values may be used in combination.

[第1評価値]
まず、第1評価値について説明する。
第1評価値は、モアレ強度を色ノイズより重要視した評価値であり、この評価値は画質評価の中でモアレが良好(視認され難い)と判断するのに有効な指標となるが、色ノイズの評価も可能であることは言うまでもない。
[First evaluation value]
First, the first evaluation value will be described.
The first evaluation value is an evaluation value in which the moire intensity is more important than the color noise, and this evaluation value is an effective index for determining that moire is good (not easily visible) in image quality evaluation. Needless to say, noise can also be evaluated.

第1評価値EV1は、金属細線16の配線形状における空間周波数特性のばらつき程度を定量化した指標である。以下、第1評価値EV1について、図10A〜図11Bを参照しながら説明する。   The first evaluation value EV1 is an index that quantifies the degree of variation in the spatial frequency characteristics in the wiring shape of the fine metal wires 16. Hereinafter, the first evaluation value EV1 will be described with reference to FIGS. 10A to 11B.

図10Aは、メッシュパターン20の模様を表す画像データImgを可視化した概略説明図である。先ず、画像データImgに対してフーリエ変換(例えば、FFT;Fast Fourier Transformation)を施す。これにより、メッシュパターン20の形状について、空間周波数分布として把握できる。   FIG. 10A is a schematic explanatory diagram in which image data Img representing the mesh pattern 20 is visualized. First, Fourier transformation (for example, FFT; Fast Fourier Transformation) is performed on the image data Img. Thereby, the shape of the mesh pattern 20 can be grasped as a spatial frequency distribution.

図10Bは、図10Aの画像データImgに対してFFTを施して得られる二次元パワースペクトル(以下、単にスペクトルSpcという。)の分布図である。ここで、当該分布図の横軸はX軸方向に対する空間周波数(Ux)を示し、その縦軸はY軸方向に対する空間周波数(Uy)を示す。また、空間周波数帯域毎の表示濃度が薄いほど強度レベル(スペクトルの値)が小さくなり、表示濃度が濃いほど強度レベルが大きくなっている。本図の例では、このスペクトルSpcの分布は、等方的であるとともに環状のピークを2個有している。   FIG. 10B is a distribution diagram of a two-dimensional power spectrum (hereinafter simply referred to as spectrum Spc) obtained by performing FFT on the image data Img in FIG. 10A. Here, the horizontal axis of the distribution diagram indicates the spatial frequency (Ux) in the X-axis direction, and the vertical axis indicates the spatial frequency (Uy) in the Y-axis direction. Further, the intensity level (spectrum value) decreases as the display density for each spatial frequency band decreases, and the intensity level increases as the display density increases. In the example of this figure, the distribution of this spectrum Spc is isotropic and has two circular peaks.

ここで、原点Oからの距離に相当する動径空間周波数r{=(Ux2+Uy21/2}、偏角θ{=tan-1(Uy/Ux)}をそれぞれ変数とする、極座標で表されるスペクトルSpcのスペクトル強度分布関数SPC(r,θ)の(以下、動径スペクトルともいう)を算出し、これらの統計的なばらつき量を算出する。
なお、図10Cは、図10Bに示すパワースペクトル分布のXC−XC線に沿うスペクトル強度(Power:スペクトルの値)を示すものであり、偏角θが0度(θ=0)の時のスペクトル強度分布関数SPC(r,0)を示す。
Here, polar coordinates having a radial spatial frequency r {= (Ux 2 + Uy 2 ) 1/2 } corresponding to a distance from the origin O and an argument θ {= tan −1 (Uy / Ux)} as variables, respectively. (Hereinafter, also referred to as a radial spectrum) of the spectrum intensity distribution function SPC (r, θ) of the spectrum Spc represented by the following formula is calculated.
FIG. 10C shows the spectrum intensity (Power: spectrum value) along the XC-XC line of the power spectrum distribution shown in FIG. 10B, and the spectrum when the declination angle θ is 0 degree (θ = 0). The intensity distribution function SPC (r, 0) is shown.

図11Aに示す例では、動径空間周波数(r)が一定値の下、偏角(θ)は0〜360度の間で、各偏角における動径スペクトル{SPC(r,θ)}の分散を算出し、その値を動径スペクトル{SPC(r,θ)}の二乗で割った値を異方性{AI(r)}と定義する。横軸を動径空間周波数(r)、縦軸に異方性{AI(r)}の常用対数を用いた場合の、標準偏差を第1評価値(偏差量)EV1と定義し、次の式(1)で表される。
即ち、下記式(1)に示すように、メッシュパターン20のパワースペクトルSpcにおける角度方向(偏角θ=0〜360度)に沿った標準偏差は、動径空間周波数をr、偏角をθとする時、異方性{AI(r)}で表され、異方性{AI(r)}の、常用対数で表される値の動径方向にわたる標準偏差は、第1評価値となる偏差量EV1で表される。なお、パワー(スペクトル強度)を計算するスペクトルSpcのサンプリング数(サンプル数)nは、極座標における一定の動径空間周波数(r=rの円周)上のピクセル数となる。
In the example shown in FIG. 11A, the radial spatial frequency (r) is a constant value, the deflection angle (θ) is between 0 and 360 degrees, and the radial spectrum {SPC (r, θ)} at each deflection angle is The variance is calculated, and the value obtained by dividing the value by the square of the radial spectrum {SPC (r, θ)} is defined as anisotropy {AI (r)}. The standard deviation is defined as a first evaluation value (deviation amount) EV1 when the horizontal axis is the radial spatial frequency (r) and the vertical axis is the common logarithm of anisotropy {AI (r)}. It is represented by Formula (1).
That is, as shown in the following formula (1), the standard deviation along the angle direction (declination θ = 0 to 360 degrees) in the power spectrum Spc of the mesh pattern 20 is such that the radial spatial frequency is r and the declination is θ. , The standard deviation over the radial direction of the value of the anisotropy {AI (r)} and the value of the anisotropy {AI (r)} expressed in the common logarithm is the first evaluation value. It is represented by a deviation amount EV1. Note that the number of samples (number of samples) n of the spectrum Spc for calculating power (spectrum intensity) is the number of pixels on a constant radial spatial frequency (circumference of r = r 0 ) in polar coordinates.

図11Bは、各動径空間周波数rに対する異方性AI(r)のグラフである。本図例では、約22cycle/mm近傍の空間周波数帯域で、1つの鋭いピークが存在している。その他の空間周波数帯域では、概ね平坦な特性を有している。   FIG. 11B is a graph of anisotropy AI (r) with respect to each radial spatial frequency r. In the illustrated example, there is one sharp peak in the spatial frequency band near about 22 cycles / mm. In other spatial frequency bands, it has a substantially flat characteristic.

ここで、AI(r)は、動径空間周波数rにおける動径スペクトルの異方性を表し、SPC(r、θ)は、スペクトルSpcの動径スペクトル(スペクトル強度分布関数)、SPCave(r)は、スペクトルSpcの動径スペクトルSPCの角度方向に沿った(偏角θ=0〜360度にわたる)平均値、nは、動径スペクトルSPCの角度方向に沿った(偏角θ=0〜360度にわたる)サンプル数、AIaveは、異方性AIの動径方向に沿った(動径空間周波数r=0〜nyq(ナイキスト周波数)にわたる)平均値、mは、異方性AIの動径方向に沿った(動径空間周波数r=0〜nyq(ナイキスト周波数)にわたる)サンプル数である。上記式(1)中、偏角θ=0〜2πに亘るサメンションΣは、θ=(2π/n)jとした時のj=1〜nに亘るサメンションΣを表し、動径空間周波数r=0〜nyqに亘るサメンションΣは、r=(nyq/m)kとした時のk=1〜mに亘るサメンションΣを表す。
なお、nyqは、画像データImgに対するナイキスト周波数である。自然数であるk(k=1,2,‥,m)は、零周波数からナイキスト周波数までを等間隔にプロットする変数に相当する。すなわち、第1評価値EV1は、異方性AI(r)の、動径方向にわたる標準偏差を表す。
Here, AI (r) represents the anisotropy of the radial spectrum at the radial spatial frequency r, and SPC (r, θ) represents the radial spectrum (spectral intensity distribution function) of the spectrum Spc, SPCave (r). Is an average value along the angular direction of the radial spectrum SPC of the spectrum Spc (over the declination angle θ = 0 to 360 degrees), and n is along the angular direction of the radial spectrum SPC (the declination angle θ = 0 to 360). The number of samples (in degrees), AIave is the average value along the radial direction of anisotropic AI (over radial spatial frequency r = 0 to nyq (Nyquist frequency)), and m is the radial direction of anisotropic AI The number of samples (over the radial spatial frequency r = 0 to nyq (Nyquist frequency)). In the above formula (1), the summation Σ over the deflection angle θ = 0 to 2π represents the summation Σ over j = 1 to n when θ = (2π / n) j, and the radial spatial frequency r = The summation Σ over 0 to nyq represents the summation Σ over k = 1 to m when r = (nyq / m) k.
Note that nyq is a Nyquist frequency for the image data Img. The natural number k (k = 1, 2,..., M) corresponds to a variable for plotting the zero frequency to the Nyquist frequency at equal intervals. That is, the first evaluation value EV1 represents the standard deviation of the anisotropic AI (r) in the radial direction.

第1評価値EV1は、二次元周波数空間上の各角度方向に沿ってスペクトルSpcの値がばらつく場合、メッシュパターン20の異方性が高くなる。この場合、異方性AI(r)は、特定の空間周波数Uで大きなピークを有するため、上記式(1)の第1評価値EV1の値は大きくなる。   The first evaluation value EV1 has high anisotropy of the mesh pattern 20 when the value of the spectrum Spc varies along each angular direction in the two-dimensional frequency space. In this case, since the anisotropic AI (r) has a large peak at a specific spatial frequency U, the value of the first evaluation value EV1 in the above formula (1) is large.

一方、図10B例のように、各角度方向に沿ってスペクトルSpcの値が均一である場合、メッシュパターン20の異方性が低くなる。この場合、異方性AI(r)の値は動径周波数rによらず小さくなり、上記式(1)の第1評価値EV1の値は小さくなる。
即ち、第1評価値EV1は、メッシュパターン20のパワースペクトルSpcの角度方向のバラツキを表す異方性AI(r)の動径方向のバラツキを表す。
On the other hand, when the value of the spectrum Spc is uniform along each angle direction as in the example of FIG. 10B, the anisotropy of the mesh pattern 20 becomes low. In this case, the value of the anisotropy AI (r) becomes smaller regardless of the radial frequency r, and the value of the first evaluation value EV1 in the above formula (1) becomes smaller.
That is, the first evaluation value EV1 represents the variation in the radial direction of the anisotropy AI (r) representing the variation in the angular direction of the power spectrum Spc of the mesh pattern 20.

本発明においては、このように表される第1評価値EV1は、後述する実施例の記載からも明らかなように、0.965以上1.065以下の範囲にある必要がある。第1評価値EV1は、0.97以上1.06以下であることが好ましい。   In the present invention, the first evaluation value EV1 represented in this way needs to be in the range of 0.965 or more and 1.065 or less, as is apparent from the description of examples described later. The first evaluation value EV1 is preferably 0.97 or more and 1.06 or less.

本発明において、第1評価値EV1を0.965以上1.065以下の範囲に限定する理由は、第1評価値EV1が0.965未満では、異方性AIのバラツキが小さく、特定周波数成分が多いため、モアレが目立つことになり、第1評価値EV1が1.065超では、異方性AIのバラツキが大きく、種々の周波数成分が多数混在し、モアレのみならず、色ノイズ成分がムラとなって視認されてしまうからである。   In the present invention, the reason for limiting the first evaluation value EV1 to the range of 0.965 or more and 1.065 or less is that when the first evaluation value EV1 is less than 0.965, the variation in anisotropic AI is small, and the specific frequency component Therefore, when the first evaluation value EV1 is greater than 1.065, the variation in anisotropic AI is large, and various frequency components are mixed, and not only moire but also color noise components are present. It is because it will be visually recognized as unevenness.

[第2評価値]
次に、第2評価値について説明する。
第2評価値(面積分布)は、色ノイズ強度をモアレより重要視した評価値であり、この評価値は、画質評価の中で色ノイズが良好と判断するのに有効な指標となるが、モアレの評価も可能であることは言うまでもない。
[Second evaluation value]
Next, the second evaluation value will be described.
The second evaluation value (area distribution) is an evaluation value in which the color noise intensity is more important than the moire, and this evaluation value is an effective index for determining that the color noise is good in the image quality evaluation. It goes without saying that moire can also be evaluated.

第2評価値EV2は、開口部18(あるいは、メッシュ形状22)の面積分布のばらつき程度を定量化した指標である。以下、第2評価値EV2について、図12A〜図14Dを参照しながら説明する。   The second evaluation value EV2 is an index that quantifies the degree of variation in the area distribution of the opening 18 (or the mesh shape 22). Hereinafter, the second evaluation value EV2 will be described with reference to FIGS. 12A to 14D.

図12A〜図12Cは、メッシュパターン20における各開口部18が有する面積(以下、開口面積という場合がある。)のヒストグラムである。   FIG. 12A to FIG. 12C are histograms of the area (hereinafter, referred to as “opening area”) of each opening 18 in the mesh pattern 20.

図12Aは、金属細線16の配置形状の規則性が高いメッシュパターン20における、開口面積のヒストグラムの典型例である。本ヒストグラムは、平均値をSaveとした、標準偏差σ1のガウス分布を有する。金属細線16の配線形状の規則性が高い場合、開口部18の開口面積は均一に分布する傾向がある。標準偏差σ1の値が小さい場合、表示ユニット30(図4参照)上に重ねて配置した位置関係下、モアレが生じやすい傾向がある。   FIG. 12A is a typical example of a histogram of the opening area in the mesh pattern 20 in which the regularity of the arrangement shape of the fine metal wires 16 is high. This histogram has a Gaussian distribution with a standard deviation σ1 with the average value being Save. When the regularity of the wiring shape of the fine metal wires 16 is high, the opening areas of the openings 18 tend to be uniformly distributed. When the value of the standard deviation σ1 is small, there is a tendency that moire is likely to occur under the positional relationship of overlapping the display unit 30 (see FIG. 4).

図12Bは、金属細線16の配置形状の規則性が低いメッシュパターン20における、開口面積のヒストグラムの典型例である。本ヒストグラムは、平均値をSaveとした、標準偏差σ2のガウス分布を有する。金属細線16の配線形状の規則性が低い場合、開口部18の開口面積は幅広く分布する傾向がある。標準偏差σ2の値が大きい場合、観察者にとってノイズ粒状感(ざらつき感ともいう。)を視認し易い傾向がある。また、各画素32を構成する赤色副画素32r、緑色副画素32g、青色副画素32bの存在比率が開口部18毎に異なるため、色ノイズとして顕在化する傾向がある。   FIG. 12B is a typical example of an opening area histogram in the mesh pattern 20 in which the regularity of the arrangement shape of the thin metal wires 16 is low. This histogram has a Gaussian distribution with a standard deviation σ2 with the average value being Save. When the regularity of the wiring shape of the thin metal wire 16 is low, the opening area of the opening 18 tends to be widely distributed. When the value of the standard deviation σ2 is large, the observer tends to visually recognize the noise granularity (also referred to as roughness). Further, since the existence ratio of the red sub-pixel 32r, the green sub-pixel 32g, and the blue sub-pixel 32b constituting each pixel 32 is different for each opening 18, the color noise tends to be manifested.

図12Cは、金属細線16の配置形状が好適に決定されたメッシュパターン20における、開口面積のヒストグラムの典型例である。本ヒストグラムは、平均値をSaveとした、標準偏差σのガウス分布を有する。標準偏差σを、σ1<σ<σ2の範囲に定めることで、上記したモアレ、ノイズ粒状感及び色ノイズの発生を両立して抑制できる。   FIG. 12C is a typical example of an opening area histogram in the mesh pattern 20 in which the arrangement shape of the fine metal wires 16 is suitably determined. This histogram has a Gaussian distribution with a standard deviation σ, where the average value is Save. By setting the standard deviation σ within the range of σ1 <σ <σ2, the above-described moire, noise granularity, and color noise can be suppressed at the same time.

ここで、開口部18の面積の分布を特徴付ける第2評価値EV2は、各開口部18が占める面積Sk(k=1,2,‥‥,N)を用いて、次の式(2)で算出される。   Here, the second evaluation value EV2 that characterizes the distribution of the area of the opening 18 is expressed by the following equation (2) using the area Sk (k = 1, 2,..., N) occupied by each opening 18. Calculated.

上記式(2)から諒解されるように、第2評価値EV2は、標準偏差σ1、σ2、σ(図12A〜図12C参照)に対応する。第2評価値EV2は、常に0以上の値を取り、モアレ、ノイズ粒状感及び色ノイズの発生を総合的に考慮して、所定範囲内(σ1<EV2<σ2)にあることが好ましい。   As can be understood from the above equation (2), the second evaluation value EV2 corresponds to standard deviations σ1, σ2, and σ (see FIGS. 12A to 12C). It is preferable that the second evaluation value EV2 always takes a value of 0 or more and is within a predetermined range (σ1 <EV2 <σ2) in consideration of the generation of moire, noise granularity, and color noise.

本発明においては、このような第2評価値EV2は、後述する実施例の記載からも明らかなように、前述したような2032dpi換算時において110.2ピクセル(0.017mm2)以上240ピクセル(0.038mm2)以下の範囲内にある必要がある。また、第2評価値EV2は、120ピクセル(0.019mm2)以上170ピクセル(0.027mm2)以下の範囲であることが好ましい。 In the present invention, such a second evaluation value EV2 is 110.2 pixels (0.017 mm 2 ) or more and 240 pixels (when converted to 2032 dpi as described above), as is apparent from the description of examples described later. 0.038 mm 2 ) or less. The second evaluation value EV2 is preferably in the range of 120 pixels (0.019 mm 2 ) or more and 170 pixels (0.027 mm 2 ) or less.

本発明において、第2評価値EV2を110.2ピクセル(0.017mm2)以上240ピクセル(0.038mm2)の範囲に限定する理由は、第2評価値EV2が110.2ピクセル(0.017mm2)未満では、色ノイズのムラのみならず、モアレのようなムラが見えてしまい、第2評価値EV2が240ピクセル(0.038mm2)超では、面積にばらつきが多いため、色ノイズにバラツキが多くなりすぎ、視認性に不利となり、色ノイズがムラとなって、目立つからである。 In the present invention, the reason why the second evaluation value EV2 is limited to the range of 110.2 pixels (0.017 mm 2 ) or more and 240 pixels (0.038 mm 2 ) is that the second evaluation value EV2 is 110.2 pixels (0. If it is less than 017 mm 2 ), not only color noise unevenness but also moiré-like unevenness is visible, and if the second evaluation value EV2 exceeds 240 pixels (0.038 mm 2 ), there are many variations in area, so color noise This is because there are too many variations, which is disadvantageous for visibility, color noise becomes uneven, and is conspicuous.

ところで、図1A、図2Aの例に示すように、多角形状を敷き詰めたメッシュパターン20の場合、開口部18の各形状(あるいは、各メッシュ形状22)が一意に画定されるので、これらの開口面積及び第2評価値EV2を算出することは容易である。しかし、メッシュ形状22に変形等を施すことで、開口部18の開口面積は一意に画定されない場合がある。そこで、本出願に係る特許請求の範囲及び明細書中では、第2評価値EV2の定義を明確にするため、開口面積を次のように定義する。   By the way, as shown in the examples of FIGS. 1A and 2A, in the case of the mesh pattern 20 in which the polygonal shape is spread, each shape (or each mesh shape 22) of the opening 18 is uniquely defined. It is easy to calculate the area and the second evaluation value EV2. However, by subjecting the mesh shape 22 to deformation or the like, the opening area of the opening 18 may not be uniquely defined. Therefore, in the claims and specification according to the present application, in order to clarify the definition of the second evaluation value EV2, the opening area is defined as follows.

図13A〜図13Dは、トポロジー的に閉じた開口部18aの領域内に他の要素を付加した事例(第1〜第3事例)についての概略説明図である。これらの事例の場合、各閉領域を形成する要素(線素)を予め抽出し、抽出された線素以外の要素を除外した上で、開口部18の開口面積を計算する。   13A to 13D are schematic explanatory diagrams of examples (first to third examples) in which other elements are added in the region of the topologically closed opening 18a. In these cases, elements (line elements) forming each closed region are extracted in advance, and elements other than the extracted line elements are excluded, and the opening area of the opening 18 is calculated.

図13Aに示すように、トポロジー的に閉じた開口部18aに関し、その開口面積は、ハッチングを付した領域の面積として計算される。開口部18aは幾何学的に完全な四角形状を有しているので、その開口面積は一意に計算される。   As shown in FIG. 13A, the opening area of the topologically closed opening 18a is calculated as the area of the hatched region. Since the opening 18a has a geometrically perfect square shape, the opening area is uniquely calculated.

第1事例として図13Bに示すように、図13Aに示す開口部18aの一部(例えば中央部)に点素400が形成された開口部18bについて考察する。この場合、開口部18bの開口面積は、点素400を除外した領域の面積として計算される。すなわち、開口部18bは、開口部18a(図13A参照)と等価に取り扱われる。   As a first example, as shown in FIG. 13B, consider an opening 18b in which a dot element 400 is formed in a part (for example, the center) of the opening 18a shown in FIG. 13A. In this case, the opening area of the opening 18b is calculated as the area of the region excluding the point element 400. That is, the opening 18b is handled equivalently to the opening 18a (see FIG. 13A).

第2事例として図13Cに示すように、図13Aに示す開口部18aの一部に環状の線素402が形成された開口部18cについて考察する。この場合、開口部18cの開口面積は、線素402を除外した領域の面積として計算される。すなわち、開口部18cは、開口部18a(図13A参照)と等価に取り扱われる。   As a second example, as shown in FIG. 13C, an opening 18c in which an annular line element 402 is formed in a part of the opening 18a shown in FIG. 13A will be considered. In this case, the opening area of the opening 18 c is calculated as the area of the region excluding the line element 402. That is, the opening 18c is handled equivalently to the opening 18a (see FIG. 13A).

第3事例として図13Dに示すように、図13Aに示す開口部18aの境界線(本図例では、四角形の一辺)と交差し、その内側に向けて突出する線素404(いわゆるヒゲ)を有する開口部18dについて考察する。この場合、開口部18dの開口面積は、線素404を除外した領域の面積として計算される。すなわち、開口部18dは、開口部18a(図13A参照)と等価に取り扱われる。   As shown in FIG. 13D as a third example, a line element 404 (so-called beard) that intersects with the boundary line (in this example, one side of a quadrangle) of the opening 18a shown in FIG. Consider the opening 18d. In this case, the opening area of the opening 18d is calculated as the area of the region excluding the line element 404. That is, the opening 18d is handled equivalently to the opening 18a (see FIG. 13A).

図14A〜図14Dは、トポロジー的に開いておりメッシュ形状22を構成しない事例(第4〜第6事例)についての概略説明図である。これらの事例の場合、開口部18を囲繞する各線に対して最短の仮想線を補足することで閉領域(以下、仮領域という。)を画定し、この仮領域の面積を、開口部18の開口面積として計算する。   14A to 14D are schematic explanatory diagrams of cases (fourth to sixth cases) that are topologically open and do not constitute the mesh shape 22. In these cases, a closed region (hereinafter referred to as a temporary region) is defined by supplementing the shortest virtual line with respect to each line surrounding the opening 18, and the area of the temporary region is defined as the area of the opening 18. Calculate as the opening area.

ただし、補足した仮想線の長さの総和が、仮領域を画定する境界線の全長の20%以下である場合に限り、開口面積の計算が可能であると定義する。なぜならば、補足した仮想線の長さの総和が、仮領域を画定する境界線の全長の20%を超える場合、各開口部18をもはや特定できないからである。   However, it is defined that the opening area can be calculated only when the total length of the supplemented virtual lines is 20% or less of the total length of the boundary line that defines the temporary region. This is because each opening 18 can no longer be specified when the sum of the lengths of the supplemented virtual lines exceeds 20% of the total length of the boundary line that defines the provisional region.

第4事例として図14Aに示すように、開口部18eを囲繞する線は、開口部18a(図13A参照)の境界線の一部が欠損した形状を有する。この場合、図14Bに示すように、第1端点406と第2端点408との間を最短経路(すなわち直線状の仮想線410)で補うことで、開口部18a(図13A参照)と同じ形状を有する仮領域412が画定される。したがって、開口部18eの開口面積は、仮領域412の面積として計算される。すなわち、開口部18eは、開口部18a(同図参照)と等価に取り扱われる。   As shown in FIG. 14A as the fourth case, the line surrounding the opening 18e has a shape in which a part of the boundary line of the opening 18a (see FIG. 13A) is missing. In this case, as shown in FIG. 14B, the same shape as the opening 18a (see FIG. 13A) is obtained by supplementing the space between the first end point 406 and the second end point 408 with the shortest path (that is, the straight virtual line 410). A temporary region 412 is defined having Therefore, the opening area of the opening 18 e is calculated as the area of the temporary region 412. That is, the opening 18e is handled equivalently to the opening 18a (see the same figure).

第5事例として図14Cに示すように、開口部18fを囲繞する線は、円周の一部が欠損した円弧形状を有する。この場合、第1端点414と第2端点416との間を最短距離(すなわち直線状の仮想線418)で補うことで、仮領域420が画定される。したがって、開口部18fの開口面積は、仮領域420の面積として計算される。   As shown in FIG. 14C as the fifth example, the line surrounding the opening 18f has an arc shape in which a part of the circumference is missing. In this case, the provisional region 420 is defined by complementing the first end point 414 and the second end point 416 with the shortest distance (that is, the straight virtual line 418). Therefore, the opening area of the opening 18 f is calculated as the area of the temporary region 420.

第6事例として図14Dに示すように、開口部18gは、一対の平行線に挟まれた開領域であるとする。この場合、各平行線の端点をそれぞれ連結する仮想線422、424を補うことで、矩形状の仮領域426が画定される。しかし、補足した仮想線422、424の長さの総和が、仮領域426を画定する境界線の全長の20%を超えているので、開口面積の計算が可能でないとし、第2評価値EV2の算出から除外される。   As shown in FIG. 14D as a sixth example, the opening 18g is an open region sandwiched between a pair of parallel lines. In this case, a rectangular temporary region 426 is defined by supplementing virtual lines 422 and 424 that connect the end points of the parallel lines. However, since the sum of the lengths of the supplemented virtual lines 422 and 424 exceeds 20% of the total length of the boundary line that defines the temporary region 426, it is assumed that the opening area cannot be calculated, and the second evaluation value EV2 Excluded from calculation.

[第3評価値]
次に、第3評価値について説明する。
第3評価値(重心位置)はモアレと色ノイズ(周波数成分)をほぼ等価的に評価するのに適していて、この評価値はモアレ、色ノイズが共に良好と判断するのに有効な指標となる。
[Third evaluation value]
Next, the third evaluation value will be described.
The third evaluation value (center of gravity position) is suitable for almost equivalently evaluating moire and color noise (frequency component), and this evaluation value is an effective index for determining that both moire and color noise are good. Become.

第3評価値EV3は、メッシュ形状22の重心位置のばらつき程度を定量化した評価値である。以下、第3評価値EV3について、図15〜図18を参照しながら説明する。   The third evaluation value EV3 is an evaluation value obtained by quantifying the degree of variation in the center of gravity position of the mesh shape 22. Hereinafter, the third evaluation value EV3 will be described with reference to FIGS.

図15に示すように、図9Bと同様の平面領域100に対し、上述したボロノイ図を用いて多角形状の各領域V1〜V8が画定されているものとする。なお、各領域V1〜V8内にそれぞれ属する各点C1〜C8は、各領域の幾何学的な重心位置を表している。 As shown in FIG. 15, it is assumed that polygonal regions V 1 to V 8 are defined with respect to the planar region 100 similar to FIG. 9B using the Voronoi diagram described above. Each point C 1 -C 8 respectively belonging to each area V 1 ~V within 8 represents the geometric center of gravity of each region.

図16は、本実施の形態に係るメッシュパターン20と、各メッシュ形状22の重心位置との関係を示す概略説明図である。   FIG. 16 is a schematic explanatory diagram showing the relationship between the mesh pattern 20 according to the present embodiment and the barycentric position of each mesh shape 22.

図17Aは、図16のメッシュパターン20が有する各メッシュ形状22の重心位置の分布(以下、「重心位置分布C」という。)を表す画像データ(以下、「重心画像データImgc」という。)を可視化した概略説明図である。本図から諒解されるように、重心位置分布Cは、各重心位置が互いに重複することなく適度に分散している。   17A shows image data (hereinafter referred to as “centroid image data Imgc”) representing the distribution of the center of gravity of each mesh shape 22 included in the mesh pattern 20 of FIG. 16 (hereinafter referred to as “center of gravity position distribution C”). It is the schematic explanatory drawing visualized. As can be understood from this figure, the center-of-gravity position distribution C is moderately dispersed without overlapping each center-of-gravity position.

図17Bは、図17Aの重心画像データImgcに対してFFTを施して得られる二次元パワースペクトル(以下、「重心スペクトルSpcc」という。)の分布図である。ここで、当該分布図の横軸はX軸方向に対する空間周波数(Ux)を示し、その縦軸はY軸方向に対する空間周波数(Uy)を示す。また、空間周波数帯域毎の表示濃度が薄いほど強度レベル(スペクトルの値)が小さくなり、表示濃度が濃いほど強度レベルが大きくなっている。本図の例では、この重心スペクトルSpccの分布は、等方的であるとともに環状のピークを1個有している。   FIG. 17B is a distribution diagram of a two-dimensional power spectrum (hereinafter referred to as “centroid spectrum Spcc”) obtained by performing FFT on the centroid image data Imgc of FIG. 17A. Here, the horizontal axis of the distribution diagram indicates the spatial frequency (Ux) in the X-axis direction, and the vertical axis indicates the spatial frequency (Uy) in the Y-axis direction. Further, the intensity level (spectrum value) decreases as the display density for each spatial frequency band decreases, and the intensity level increases as the display density increases. In the example of this figure, the distribution of the centroid spectrum Spcc is isotropic and has one circular peak.

図17Cは、図17Bに示す重心スペクトルSpccの分布のXVIIC−XVIIC線に沿った断面図である。重心スペクトルSpccは等方的であるので、図17Cはあらゆる角度方向に対する動径方向分布に相当する。本図から諒解されるように、低空間周波数帯域での強度レベルが小さくなり、中間の空間周波数帯域には幅が広いピークを有している。さらに、低空間周波数帯域に対して、高空間周波数帯域での強度レベルが高くなるいわゆるハイパス型の特性を有する。すなわち、図17Aに示す重心画像データImgcは、画像工学分野の技術用語によれば、「ブルーノイズ」の特性を有する模様を表すものといえる。   FIG. 17C is a cross-sectional view along the XVIIC-XVIIC line of the distribution of the centroid spectrum Spcc shown in FIG. 17B. Since the center-of-gravity spectrum Spcc is isotropic, FIG. 17C corresponds to the radial direction distribution for all angular directions. As can be understood from this figure, the intensity level in the low spatial frequency band is small, and the intermediate spatial frequency band has a wide peak. Further, it has a so-called high-pass characteristic in which the intensity level in the high spatial frequency band is higher than the low spatial frequency band. That is, it can be said that the center-of-gravity image data Imgc shown in FIG. 17A represents a pattern having the characteristics of “blue noise” according to technical terms in the field of image engineering.

なお、導電シート10、11における重心位置分布Cを決定するためには、開口部18の各領域を画定する必要がある。ここでは、第2評価値EV2の算出(図13A〜図14D参照)と同様の定義に沿って各領域を画定する。   In addition, in order to determine the gravity center position distribution C in the conductive sheets 10 and 11, it is necessary to demarcate each region of the opening 18. Here, each region is defined according to the same definition as the calculation of the second evaluation value EV2 (see FIGS. 13A to 14D).

図18A及び図18Bは、所定方向に沿って配置された各重心位置についての、所定方向の垂直方向に対する位置の標準偏差の算出方法を模式的に表す説明図である。   18A and 18B are explanatory diagrams schematically illustrating a method of calculating a standard deviation of positions with respect to a vertical direction of a predetermined direction for each barycentric position arranged along the predetermined direction.

図18Aに示すように、先ず、重心位置分布Cの中から初期位置としての重心位置Pc1を任意に選択する。そして、重心位置Pc1からの距離が最も近い重心位置Pc2を選択する。そして、既に選択された重心位置Pc1を除く残余の重心位置分布Cの中から、重心位置Pc2に最も近い重心位置Pc3を選択する。以下、同様にして、統計学的に十分に多いN個の重心位置(本図例では、説明の便宜のため、9点の重心位置Pc1〜Pc9)をそれぞれ選択する。その後、重心位置Pc1〜Pc9の回帰直線を求め、この直線を基準軸430として定義する。この回帰直線は、最小2乗法を含む種々の公知の分析手法を用いて、決定してもよい。   As shown in FIG. 18A, first, the center of gravity position Pc1 as an initial position is arbitrarily selected from the center of gravity position distribution C. Then, the center of gravity position Pc2 having the closest distance from the center of gravity position Pc1 is selected. Then, the centroid position Pc3 closest to the centroid position Pc2 is selected from the remaining centroid position distribution C excluding the already selected centroid position Pc1. In the same manner, N centroid positions that are statistically sufficiently large (in this example, nine centroid positions Pc1 to Pc9 are selected for convenience of explanation). Thereafter, a regression line of the gravity center positions Pc1 to Pc9 is obtained, and this straight line is defined as the reference axis 430. The regression line may be determined using various known analysis techniques including the least square method.

図18Bに示すように、基準軸430(本図では、X’軸と表記する。)及びこれに直交する交差軸432(本図では、Y’軸と表記する。)をそれぞれ設定する。そして、X’軸方向(所定方向)に沿って配置された重心位置Pc1〜Pc9についての、Y’軸方向(直交方向)に対する位置の標準偏差を算出する。   As shown in FIG. 18B, a reference axis 430 (denoted as the X ′ axis in this figure) and an intersecting axis 432 (denoted as the Y ′ axis in this figure) orthogonal thereto are set. Then, the standard deviation of the position relative to the Y′-axis direction (orthogonal direction) is calculated for the gravity center positions Pc1 to Pc9 arranged along the X′-axis direction (predetermined direction).

以下、重心位置分布Cの中から重心位置Pc1(初期位置)を無作為に選択し、標準偏差を算出する試行をM回繰り返す。以下、m(m=1,2,‥‥,M)回目の試行で得られた標準偏差の値をSTD(m)と表記する。STD(m)は、次の式(3)で算出される。   Thereafter, the centroid position Pc1 (initial position) is randomly selected from the centroid position distribution C, and the trial for calculating the standard deviation is repeated M times. Hereinafter, the standard deviation value obtained in the m-th (m = 1, 2,..., M) trial is denoted as STD (m). STD (m) is calculated by the following equation (3).

ここで、Y’mkは、m回目の試行において、X’Y’座標系で表現した場合におけるk番目の重心位置PckのY’座標に相当する。Y’aveは、m回目の試行におけるの重心位置PckのY’座標の平均値、Nは、サンプリング数である。上記式(3)から諒解されるように、STD(k)は、常に0以上の値を取り、0に近づくほどノイズ特性が良好であるといえる。   Here, Y′mk corresponds to the Y ′ coordinate of the k-th gravity center position Pck when expressed in the X′Y ′ coordinate system in the m-th trial. Y′ave is the average value of the Y ′ coordinates of the gravity center position Pck in the m-th trial, and N is the number of samplings. As understood from the above formula (3), STD (k) always takes a value of 0 or more, and it can be said that the closer to 0, the better the noise characteristics.

そして、第3評価値EV3は、試行毎に得られたSTD(m)及びこれらの平均値STDaveを用いて、次の式(4)で算出される。   The third evaluation value EV3 is calculated by the following equation (4) using the STD (m) obtained for each trial and the average value STDave thereof.

上記式(4)から諒解されるように、第3評価値EV3は、常に0以上の値を取り、0に近づくほど重心位置分布Cの規則性が高いといえる。重心位置分布Cが規則的(例えば、周期的)である場合、STDの値は、初期位置Pc1の選択結果によらず略一定になる。その結果、試行毎のSTD(m)のばらつきが小さくなり、第3評価値EV3の値は小さくなる。この場合、重心位置分布Cの規則性が高いので、各開口部18の配置位置と、各画素32(赤色副画素32r、緑色副画素32g及び青色副画素32b)との配置位置との同期(干渉)が発生し、モアレとして顕在化する傾向があり、ノイズ粒状感や色ノイズも顕在化する恐れがある。   As can be understood from the above equation (4), the third evaluation value EV3 always takes a value of 0 or more, and it can be said that the regularity of the center-of-gravity position distribution C increases as it approaches 0. When the centroid position distribution C is regular (for example, periodic), the value of STD is substantially constant regardless of the selection result of the initial position Pc1. As a result, variation in STD (m) for each trial is reduced, and the value of the third evaluation value EV3 is reduced. In this case, since the regularity of the centroid position distribution C is high, synchronization between the arrangement position of each opening 18 and the arrangement position of each pixel 32 (red subpixel 32r, green subpixel 32g, and blue subpixel 32b) ( Interference) occurs, and there is a tendency to manifest as moire, and noise granularity and color noise may also be manifested.

一方、図17A例のように、適度に分散された重心位置分布Cを有する場合、標準偏差の値は、初期位置Pc1の選択結果に依存して変化する。その結果、試行毎のSTD(m)の値がばらつき、第3評価値EV3の値は大きくなる。この場合、重心位置分布Cの規則性が低いので、各開口部18の配置位置と、各画素32(赤色副画素32r、緑色副画素32g及び青色副画素32b)との配置位置との同期(干渉)が発生しなくなり、モアレや色ノイズが抑制される。   On the other hand, as shown in the example of FIG. 17A, when the center of gravity position distribution C is moderately dispersed, the value of the standard deviation changes depending on the selection result of the initial position Pc1. As a result, the value of STD (m) for each trial varies, and the value of the third evaluation value EV3 increases. In this case, since the regularity of the centroid position distribution C is low, synchronization between the arrangement position of each opening 18 and the arrangement position of each pixel 32 (red subpixel 32r, green subpixel 32g, and blue subpixel 32b) ( Interference) does not occur, and moire and color noise are suppressed.

本発明においては、このような第3評価値EV3は、後述する実施例の記載からも明らかなように、前述したような2032dpi換算時において1.2ピクセル(15.0μm)以上である必要がある。また、第3評価値EV3は、4.37ピクセル(54.62μm)以上であることが好ましい。   In the present invention, the third evaluation value EV3 is required to be 1.2 pixels (15.0 μm) or more when converted to 2032 dpi as described above, as is apparent from the description of examples described later. is there. The third evaluation value EV3 is preferably 4.37 pixels (54.62 μm) or more.

本発明において、第3評価値EV3を1.2ピクセル(15.0μm)以上の範囲に限定する理由は、第3評価値EV3が1.2ピクセル(15.0μm)未満では、重心位置分布の規則性が高いので、各開口部18の配置位置と、各画素32との配置位置との同期(干渉)が発生し、モアレ成分が強くなり、モアレとして顕在化するからであり、ノイズ粒状感や色ノイズも顕在化する恐れがあるからである。
なお、本発明では、第3評価値EV3の上限値は、特に制限的ではないが、実用性の点から、50ピクセル(625μm)以下であることが好ましい。
In the present invention, the reason why the third evaluation value EV3 is limited to a range of 1.2 pixels (15.0 μm) or more is that if the third evaluation value EV3 is less than 1.2 pixels (15.0 μm), This is because since the regularity is high, synchronization (interference) between the arrangement position of each opening 18 and the arrangement position of each pixel 32 occurs, the moire component becomes strong, and it becomes manifest as moire. This is because there is a risk that color noise will also become apparent.
In the present invention, the upper limit value of the third evaluation value EV3 is not particularly limited, but is preferably 50 pixels (625 μm) or less from the viewpoint of practicality.

このようにして、第1評価値EV1{上記式(1)参照}、第2評価値EV2{上記式(2)参照}及び第3評価値EV3{上記式(3)及び上記式(4)参照}を用いて、導電シート10、11のノイズ特性を種々定量化でき、導電シート10、11を透過する画像の画質を適切に評価できる。したがって、第1評価値EV1、第2評価値EV2及び第3評価値EV3は、いずれも画質評価値ということができる。   In this way, the first evaluation value EV1 {refer to the above equation (1)}, the second evaluation value EV2 {refer to the above equation (2)} and the third evaluation value EV3 {the above equation (3) and the above equation (4). }, Various noise characteristics of the conductive sheets 10 and 11 can be quantified, and the image quality of the image transmitted through the conductive sheets 10 and 11 can be appropriately evaluated. Accordingly, the first evaluation value EV1, the second evaluation value EV2, and the third evaluation value EV3 can all be referred to as image quality evaluation values.

続いて、第1保護層26aに対する透明基体12の相対屈折率nr1を1に近い値にすることで得られる作用効果について、図19A〜図20Bを参照しながら詳細に説明する。理解の容易のため、導電シート11の一部の構成を省略し、透明基体12、第1導電部14a及び第1保護層26aのみを表記している。   Next, the effect obtained by setting the relative refractive index nr1 of the transparent substrate 12 to the first protective layer 26a to a value close to 1 will be described in detail with reference to FIGS. 19A to 20B. For ease of understanding, a part of the configuration of the conductive sheet 11 is omitted, and only the transparent substrate 12, the first conductive portion 14a, and the first protective layer 26a are shown.

図19Aに示すように、表示ユニット30(図4参照)側から照射された平行光102は、透明基体12の内部に入射し、矢印Z1方向に沿って直進する。そして、平行光102は、透明基体12と金属細線16との第1界面104で、反射成分106として、矢印Z2方向に略全て反射される。すなわち、非透光性材料である金属細線16の有無に応じて、導電シート11を透過する光量の差が大きくなる。その結果、メッシュパターン20の形状に応じた濃淡が顕著になり、モアレが発生し易くなる。これに対して、透光性が高い導電性材料(典型的には、ITO)を用いた導電シートの場合、上記した影響を殆ど受けることはない。   As shown in FIG. 19A, parallel light 102 irradiated from the display unit 30 (see FIG. 4) side enters the transparent substrate 12 and travels straight along the arrow Z1 direction. The parallel light 102 is reflected almost entirely in the direction of the arrow Z2 as the reflection component 106 at the first interface 104 between the transparent substrate 12 and the fine metal wire 16. That is, the difference in the amount of light transmitted through the conductive sheet 11 increases depending on the presence or absence of the thin metal wire 16 that is a non-translucent material. As a result, the shading according to the shape of the mesh pattern 20 becomes prominent, and moire tends to occur. On the other hand, in the case of a conductive sheet using a conductive material having high translucency (typically, ITO), the above-described influence is hardly received.

以下、透明基体12と第1保護層26aとの屈折率差が大きい場合、すなわち、相対屈折率nr1が1から離れている場合での光学的現象について、図19B及び図19Cを用いて説明する。   Hereinafter, the optical phenomenon when the refractive index difference between the transparent substrate 12 and the first protective layer 26a is large, that is, when the relative refractive index nr1 is away from 1, will be described with reference to FIGS. 19B and 19C. .

図19Bに示すように、矢印Z1方向に対し僅かながら斜入する光(斜入光108)は、透明基体12の内部に入射し、第1導電部14a(開口部18)と第1保護層26aとの第2界面110まで直進する。そして、斜入光108は、第2界面110による屈折現象により、一部の光(直進成分112)は透過されるとともに、残余の光(反射成分114)は反射される。このとき、相対屈折率nr1が1から離れているので界面透過率が低下し、直進成分112(あるいは反射成分114)の光量は相対的に減少(あるいは増加)する。   As shown in FIG. 19B, the light (oblique incident light 108) that is slightly obliquely incident on the direction of the arrow Z1 enters the inside of the transparent substrate 12, and the first conductive portion 14a (opening 18) and the first protective layer. Go straight to the second interface 110 with 26a. Then, due to the refraction phenomenon by the second interface 110, the oblique incident light 108 is transmitted with a part of the light (straight component 112) and the remaining light (reflective component 114). At this time, since the relative refractive index nr1 is away from 1, the interface transmittance decreases, and the light amount of the straight component 112 (or the reflection component 114) relatively decreases (or increases).

例えば、図19Cに示すように、開口部18に対応する位置においてI=Iwの光量が、金属細線16に対応する位置においてI=Ibの光量が、導電シート11をそれぞれ透過して検出されたとする。この場合、金属細線16に起因する光学濃度は、開口部18での検出光量を基準として、ΔD1=−log(Ib/Iw)で表される。   For example, as shown in FIG. 19C, the light amount I = Iw is detected at the position corresponding to the opening 18 and the light amount I = Ib is detected at the position corresponding to the metal thin wire 16 through the conductive sheet 11. To do. In this case, the optical density due to the fine metal wire 16 is represented by ΔD1 = −log (Ib / Iw) with reference to the amount of light detected at the opening 18.

次いで、透明基体12と第1保護層26aとの屈折率差が小さい場合、すなわち、相対屈折率nr1が1に近い値である場合での光学的現象について、図20A及び図20Bを用いて説明する。   Next, an optical phenomenon when the difference in refractive index between the transparent substrate 12 and the first protective layer 26a is small, that is, when the relative refractive index nr1 is a value close to 1, will be described with reference to FIGS. 20A and 20B. To do.

相対屈折率nr1が1に近い値である場合、光学的考察から容易に導き出せるように、界面透過率が1(界面反射率が0)に近づく。したがって、直進成分116(あるいは反射成分118)の光量は、図19Bの場合と比べて相対的に増加(あるいは減少)する。換言すれば、散乱されることなく透明基体12内部を通過する光量が、非透光性材料からなる金属細線16の位置によらず一律に増加する。以下、説明の便宜のため、検出光量がε(正値)だけ増加したとする。   When the relative refractive index nr1 is a value close to 1, the interface transmittance approaches 1 (interface reflectivity is 0) so that it can be easily derived from optical considerations. Accordingly, the light amount of the straight traveling component 116 (or the reflection component 118) is relatively increased (or decreased) compared to the case of FIG. 19B. In other words, the amount of light that passes through the inside of the transparent substrate 12 without being scattered increases uniformly regardless of the position of the thin metal wire 16 made of a non-translucent material. Hereinafter, for convenience of explanation, it is assumed that the detected light amount is increased by ε (positive value).

このとき、図20A及び図20Bに示すように、開口部18に対応する位置においてI=Iw+εの光量が、金属細線16に対応する位置においてI=Ib+εの光量が、それぞれ透過して検出される。金属細線16に起因する光学濃度は、開口部18での検出光量を基準として、ΔD2=−log{(Ib+ε)/(Iw+ε)}で表される。   At this time, as shown in FIGS. 20A and 20B, the light amount of I = Iw + ε is detected at the position corresponding to the opening 18, and the light amount of I = Ib + ε is detected at the position corresponding to the metal thin wire 16. . The optical density caused by the thin metal wire 16 is expressed by ΔD2 = −log {(Ib + ε) / (Iw + ε)} with reference to the amount of light detected at the opening 18.

Iw>Ib≧0、且つ、ε>0のとき、(Ib/Iw)<(Ib+ε)/(Iw+ε)の不等式を満たすので、ΔD1>ΔD2の関係が常に成り立つ。すなわち、透明基体12及び第1保護層26aの相対屈折率nr1を1に近い値にすることで、金属細線16に起因する光学濃度のコントラストを低減できる。これにより、表示装置40の平面視において、金属細線16の模様がユーザに視認され難くなる。   When Iw> Ib ≧ 0 and ε> 0, since the inequality (Ib / Iw) <(Ib + ε) / (Iw + ε) is satisfied, the relationship ΔD1> ΔD2 always holds. That is, by setting the relative refractive index nr1 of the transparent substrate 12 and the first protective layer 26a to a value close to 1, the optical density contrast caused by the fine metal wires 16 can be reduced. Thereby, in the planar view of the display apparatus 40, the pattern of the metal fine wire 16 becomes difficult to be visually recognized by the user.

なお、透明基体12と第1保護層26aとの関係のみならず、透明基体12と第2保護層26bとの関係においても上記と同様である。また、相対屈折率nr1、nr2が0.86〜1.15であれば好ましく、0.91〜1.08であることが一層好ましい。特に、第1保護層26a及び/又は第2保護層26bは、透明基体12と同一の材料であれば、nr1=1(nr2=1)となるので、更に好ましい。   The relationship between the transparent substrate 12 and the first protective layer 26a as well as the relationship between the transparent substrate 12 and the second protective layer 26b is the same as described above. The relative refractive indexes nr1 and nr2 are preferably 0.86 to 1.15, more preferably 0.91 to 1.08. In particular, if the first protective layer 26a and / or the second protective layer 26b are made of the same material as the transparent substrate 12, nr1 = 1 (nr2 = 1) is more preferable.

このように、第1保護層26aに対する透明基体12の相対屈折率nr1、及び/又は第2保護層26bに対する透明基体12の相対屈折率nr2を0.86〜1.15にしたので、透明基体12の法線方向(矢印Z1方向)に対して僅かに斜入する光(斜入光108)のうち、透明基体12と第1保護層26aとの界面、及び/又は透明基体12と第2保護層26bとの界面において直進する光量(直進成分116)が相対的に増加する。すなわち、散乱されることなく透明基体12内部を通過する光量が、非透光性材料からなる金属細線16の位置によらず一律に増加する。これにより、金属細線16に起因する光学濃度のコントラストを低減可能であり、観察者(ユーザ)に視認され難くなる。特に、異なるメッシュ形状22を隙間なく配列したメッシュパターン20では、ノイズ粒状感の発生を抑制できるので一層効果的である。なお、各メッシュ形状22が多角形状である場合のみならず、種々の形状であっても上記した作用効果が得られることは言うまでもない。
即ち、本発明において、第1保護層26aに対する透明基体12の相対屈折率nr1、及び/又は第2保護層26bに対する透明基体12の相対屈折率nr2を0.86〜1.15の範囲内に限定することは、モアレ/色ノイズの視認性に有効な相対屈折率の好ましい範囲を限定することである。
Thus, since the relative refractive index nr1 of the transparent substrate 12 with respect to the first protective layer 26a and / or the relative refractive index nr2 of the transparent substrate 12 with respect to the second protective layer 26b is set to 0.86 to 1.15, the transparent substrate Of the light (obliquely incident light 108) that is slightly inclined with respect to the normal direction of 12 (direction of arrow Z1), the interface between the transparent substrate 12 and the first protective layer 26a and / or the transparent substrate 12 and the second The amount of light that travels straight at the interface with the protective layer 26b (the straight traveling component 116) relatively increases. That is, the amount of light that passes through the transparent substrate 12 without being scattered increases uniformly regardless of the position of the thin metal wire 16 made of a non-translucent material. Thereby, the contrast of the optical density resulting from the metal fine wire 16 can be reduced, and it becomes difficult to be visually recognized by an observer (user). In particular, the mesh pattern 20 in which different mesh shapes 22 are arranged without gaps is more effective because the occurrence of noise granularity can be suppressed. In addition, it cannot be overemphasized that the above-mentioned effect is acquired not only when each mesh shape 22 is a polygonal shape but with various shapes.
That is, in the present invention, the relative refractive index nr1 of the transparent substrate 12 with respect to the first protective layer 26a and / or the relative refractive index nr2 of the transparent substrate 12 with respect to the second protective layer 26b is within the range of 0.86 to 1.15. The limitation is to limit the preferable range of the relative refractive index effective for the visibility of moire / color noise.

続いて、導電シート11に第1ダミーパターン76aを設けることで得られる作用効果について、図21A〜図22Cを参照しながら説明する。以下、理解の容易のため、第1保護層26a等の構成を省略するとともに、光の屈折効果による影響が僅かであるとして光学的現象を説明する。   Then, the effect obtained by providing the 1st dummy pattern 76a in the electrically conductive sheet 11 is demonstrated, referring FIG. 21A-FIG. 22C. Hereinafter, for ease of understanding, the configuration of the first protective layer 26a and the like will be omitted, and the optical phenomenon will be described on the assumption that the influence of the light refraction effect is slight.

図21Aは、従来例に係る第1センサ部120の概略平面図である。第1センサ部120は、第1導電パターン70aのみで構成されており、第1ダミーパターン76a(図5A及び図6参照)が欠落した形態を有する。   FIG. 21A is a schematic plan view of a first sensor unit 120 according to a conventional example. The first sensor unit 120 includes only the first conductive pattern 70a, and has a form in which the first dummy pattern 76a (see FIGS. 5A and 6) is omitted.

図21Bは、第1センサ部120に入射された外光122の経路を表す概略説明図である。本図は、図21Aに示す第1導電パターン70aの境界Bd近傍での概略断面図に相当する。   FIG. 21B is a schematic explanatory diagram illustrating a path of the external light 122 incident on the first sensor unit 120. This figure corresponds to a schematic sectional view in the vicinity of the boundary Bd of the first conductive pattern 70a shown in FIG. 21A.

位置P1は、第1導電部14a及び第2導電部14bのいずれにも金属細線16が存在しない位置に相当する。表示装置40(図4参照)の外部から照射された外光122は、導電シート11の内部に入射し、矢印Z2方向に沿って略平行に直進する。そして、外光122は、開口部18と透明基体12との第1界面104で、矢印Z2方向に略全て透過される。このとき、透過光の一部は、直進成分124として矢印Z2方向に沿って直進するとともに、残余の一部は散乱成分126として散乱する。その後、直進成分124は、透明基体12と開口部18との第3界面128で、矢印Z2方向に略全て透過される。透過光の一部は、直進成分130として矢印Z2方向に沿って直進するとともに、残余の一部は散乱成分132として散乱する。その結果、位置P1に照射された外光122のうちの大半は、導電シート11の矢印Z2方向側に放出される。   The position P1 corresponds to a position where the thin metal wire 16 does not exist in either the first conductive portion 14a or the second conductive portion 14b. The external light 122 irradiated from the outside of the display device 40 (see FIG. 4) is incident on the inside of the conductive sheet 11 and travels substantially parallel along the arrow Z2 direction. Then, almost all of the external light 122 is transmitted through the first interface 104 between the opening 18 and the transparent substrate 12 in the arrow Z2 direction. At this time, part of the transmitted light travels straight along the arrow Z2 direction as the straight traveling component 124, and the remaining part is scattered as the scattering component 126. Thereafter, the straight traveling component 124 is substantially entirely transmitted in the direction of the arrow Z2 at the third interface 128 between the transparent base 12 and the opening 18. A part of the transmitted light travels straight along the arrow Z2 direction as a straight traveling component 130, and a part of the remaining light scatters as a scattering component 132. As a result, most of the external light 122 irradiated to the position P1 is emitted toward the arrow Z2 direction side of the conductive sheet 11.

位置P2は、第1導電部14aに金属細線16が存在し、且つ、第2導電部14bに金属細線16が存在しない位置に相当する。表示装置40(図4参照)の外部から照射された外光122は、第1導電部14a(非透光性材料である金属細線16)の表面で、反射成分134として矢印Z1方向に略全て反射される。   The position P2 corresponds to a position where the fine metal wire 16 exists in the first conductive portion 14a and the fine metal wire 16 does not exist in the second conductive portion 14b. The external light 122 irradiated from the outside of the display device 40 (see FIG. 4) is almost entirely reflected in the direction of the arrow Z1 as the reflection component 134 on the surface of the first conductive portion 14a (the thin metal wire 16 which is a non-translucent material). Reflected.

位置P3は、第1導電部14aに金属細線16が存在せず、且つ、第2導電部14bに金属細線16が存在する位置に相当する。表示装置40(図4参照)の外部から照射された外光122は、導電シート11の内部に入射し、矢印Z2方向に沿って略平行に直進する。そして、外光122は、第1界面104で、矢印Z2方向に略全て透過される。このとき、透過光の一部は、直進成分124として矢印Z2方向に沿って直進するとともに、残余の一部は散乱成分126として散乱する。そして、直進成分124は、第3界面128(非透光性材料である金属細線16の表面)で、反射成分135として矢印Z1方向に略全て反射される。その後、反射成分135は、矢印Z1方向に沿って透明基体12内部を直進し、第1界面104で、矢印Z1方向に略全て透過される。その結果、位置P3に照射された外光122のうちの一部は、直進成分136(あるいは散乱成分137)として、導電シート11の外側(矢印Z1方向側)に放出される。   The position P3 corresponds to a position where the fine metal wire 16 does not exist in the first conductive portion 14a and the fine metal wire 16 exists in the second conductive portion 14b. The external light 122 irradiated from the outside of the display device 40 (see FIG. 4) is incident on the inside of the conductive sheet 11 and travels substantially parallel along the arrow Z2 direction. Then, substantially all of the external light 122 is transmitted through the first interface 104 in the arrow Z2 direction. At this time, part of the transmitted light travels straight along the arrow Z2 direction as the straight traveling component 124, and the remaining part is scattered as the scattering component 126. The straight component 124 is reflected almost entirely in the direction of the arrow Z1 as the reflective component 135 at the third interface 128 (the surface of the thin metal wire 16 that is a non-translucent material). Thereafter, the reflection component 135 travels straight inside the transparent substrate 12 along the arrow Z1 direction, and is substantially transmitted through the first interface 104 in the arrow Z1 direction. As a result, a part of the external light 122 irradiated to the position P3 is emitted to the outside (arrow Z1 direction side) of the conductive sheet 11 as the straight traveling component 136 (or the scattering component 137).

このように、位置P2での反射光量Ir(反射光134)は、位置P3での反射光量Ir(直進成分136)と比べて多いことが諒解される。これは、金属細線16の位置に到達するまでの光路長の差異(透明基体12の厚みの2倍値に相当する。)に起因する。   Thus, it can be understood that the reflected light amount Ir (reflected light 134) at the position P2 is larger than the reflected light amount Ir (straight-ahead component 136) at the position P3. This is due to a difference in optical path length until reaching the position of the thin metal wire 16 (corresponding to a value twice the thickness of the transparent substrate 12).

図21Cは、図21Aの第1センサ部120における反射光の強度分布を表すグラフである。グラフの横軸は矢印X方向の位置を表し、グラフの縦軸は反射光の強度(反射光量Ir)を表す。この反射光量Irは、矢印X方向の位置によらず一様な外光122を入射した場合での、導電シート11の一面側(矢印Z1方向側)に反射される光量を意味する。   FIG. 21C is a graph showing the intensity distribution of reflected light in the first sensor unit 120 of FIG. 21A. The horizontal axis of the graph represents the position in the arrow X direction, and the vertical axis of the graph represents the intensity of reflected light (the amount of reflected light Ir). The amount of reflected light Ir means the amount of light reflected on one surface side (arrow Z1 direction side) of the conductive sheet 11 when uniform external light 122 is incident regardless of the position in the arrow X direction.

その結果、第1センサ部120に第1導電パターン70aが存在しない位置では、反射光量Irは極小値(Ir=I1)を採る。また、第1センサ部120に第1導電パターン70aが存在する位置では、反射光量Irは極大値(Ir=I2)を採る。すなわち、反射光量Irは、第1感知部72aの規則的配置に応じた特性、換言すれば、極小値(I1)及び極大値(I2)を交互に繰り返す周期的な特性を有する。   As a result, at a position where the first conductive pattern 70a does not exist in the first sensor unit 120, the reflected light amount Ir takes a minimum value (Ir = I1). Further, at a position where the first conductive pattern 70a exists in the first sensor unit 120, the reflected light amount Ir takes a maximum value (Ir = I2). That is, the reflected light amount Ir has a characteristic according to the regular arrangement of the first sensing units 72a, in other words, a periodic characteristic in which a minimum value (I1) and a maximum value (I2) are alternately repeated.

これに対して、透光性が高い導電性材料(典型的には、ITO)を用いた導電シートの場合、反射光量Irは略0に等しい(I1=I2=0)。このため、第1導電パターン70aの有無に起因するコントラスト(輝度差)が殆どない。すなわち、第1導電パターン70aに金属細線16を適用する場合と比べて、上記した影響を殆ど受けることはない。   On the other hand, in the case of a conductive sheet using a conductive material having high translucency (typically, ITO), the amount of reflected light Ir is substantially equal to 0 (I1 = I2 = 0). For this reason, there is almost no contrast (luminance difference) resulting from the presence or absence of the first conductive pattern 70a. That is, compared with the case where the fine metal wire 16 is applied to the first conductive pattern 70a, the above-described influence is hardly received.

一方、図22Aは、本実施の形態に係る第1センサ部60a(図5A及び図6参照)の概略平面図である。第1センサ部60aは、第1導電パターン70a及び第1ダミーパターン76aで構成されている。   On the other hand, FIG. 22A is a schematic plan view of the first sensor unit 60a (see FIGS. 5A and 6) according to the present embodiment. The first sensor unit 60a includes a first conductive pattern 70a and a first dummy pattern 76a.

図22Bは、第1センサ部60aに入射された外光122の経路を表す概略説明図である。本図は、図22Aに示す第1導電パターン70aの境界Bd近傍での概略断面図に相当する。   FIG. 22B is a schematic explanatory diagram illustrating a path of the external light 122 incident on the first sensor unit 60a. This figure corresponds to a schematic cross-sectional view in the vicinity of the boundary Bd of the first conductive pattern 70a shown in FIG. 22A.

位置P1に対応する位置Q1に関しては、図21Bと同様であるので説明を割愛する。位置P2に対応する位置Q2に関しても同様である。   The position Q1 corresponding to the position P1 is the same as that in FIG. The same applies to the position Q2 corresponding to the position P2.

位置P3に対応する位置Q3において、表示装置40(図4参照)の外部から照射された外光122は、第1ダミー電極部15a(非透光性材料である金属細線16)の表面で、反射成分138として矢印Z1方向に略全て反射される。すなわち、導電シート11は、第2導電部14bでの金属細線16の有無にかかわらず、位置Q2と同じ程度に外光122を反射する。   At a position Q3 corresponding to the position P3, the external light 122 irradiated from the outside of the display device 40 (see FIG. 4) is on the surface of the first dummy electrode portion 15a (the thin metal wire 16 that is a non-translucent material). Almost all of the reflected component 138 is reflected in the direction of the arrow Z1. That is, the conductive sheet 11 reflects the external light 122 to the same extent as the position Q2 regardless of the presence or absence of the thin metal wire 16 in the second conductive portion 14b.

その結果、図22Cに示すように、反射光量Irは、第1感知部72aの規則的配置によらず、Ir=I2とする一様な特性を有する。なお、第1導電部14aと第1ダミー電極部15aとの離間部において、反射光量Irが若干(ε)減少する傾向がみられる。この離間部の幅を小さくすることで、第1感知部72aの形状が一層視認されにくくなる。   As a result, as shown in FIG. 22C, the reflected light amount Ir has a uniform characteristic of Ir = I2 regardless of the regular arrangement of the first sensing units 72a. Note that there is a tendency that the amount of reflected light Ir slightly decreases (ε) in the space between the first conductive portion 14a and the first dummy electrode portion 15a. By reducing the width of the separation portion, the shape of the first sensing portion 72a is further less visible.

以上のように、隣接する第1導電パターン70a同士の第1隙間部75aに配置された第1ダミーパターン76aの配線密度を、第1導電パターン70aの配線密度に等しくしたので、一方の主面側からの外光122に対する第1ダミーパターン76aの平面領域内での光反射率は、第1導電パターン70aの平面領域内での光反射率に略一致する。すなわち、第1感知部72aの規則的配置によらず、反射光(反射成分134、138)の強度分布を一様に近づけることが可能である。これにより、透明基体12の両面に金属細線16からなる電極を形成した構成であっても、反射光源としての外光122に起因する第1感知部72a(又は第2感知部72b)の視認を抑制できる。   As described above, the wiring density of the first dummy patterns 76a arranged in the first gap portions 75a between the adjacent first conductive patterns 70a is equal to the wiring density of the first conductive patterns 70a, so that one main surface The light reflectance in the planar area of the first dummy pattern 76a with respect to the external light 122 from the side substantially matches the light reflectance in the planar area of the first conductive pattern 70a. That is, it is possible to make the intensity distribution of the reflected light (reflected components 134 and 138) uniform regardless of the regular arrangement of the first sensing units 72a. Thereby, even if it is the structure which formed the electrode which consists of the metal fine wire 16 on both surfaces of the transparent base | substrate 12, the visual recognition of the 1st sensing part 72a (or 2nd sensing part 72b) resulting from the external light 122 as a reflected light source is carried out. Can be suppressed.

図23は、本実施の形態に係る導電シート10、11を製造する製造装置310の概略構成ブロック図である。   FIG. 23 is a schematic block diagram of a manufacturing apparatus 310 for manufacturing the conductive sheets 10 and 11 according to the present embodiment.

製造装置310は、メッシュパターン20に応じた模様(配線形状)を表す画像データImg(出力用画像データImgOutを含む。)を作成する画像生成装置312と、画像生成装置312により作成された出力用画像データImgOutが表す模様を具現化すべく、製造工程下の導電シート(感光材料140;図35A参照)の一主面に第1光144aを照射して露光する第1光源148aと、出力用画像データImgOutに基づいて感光材料140の他主面に第2光144bを照射して露光する第2光源148bと、画像データImgを作成するための各種条件(メッシュパターン20又はブラックマトリクス34の視認情報を含む。)を画像生成装置312に入力する入力部320と、入力部320による入力作業を補助するGUI画像や、記憶された出力用画像データImgOut等を表示する表示部322とを基本的に備える。   The manufacturing apparatus 310 generates image data Img (including output image data ImgOut) representing a pattern (wiring shape) corresponding to the mesh pattern 20, and an output for generation created by the image generation apparatus 312. In order to embody the pattern represented by the image data ImgOut, a first light source 148a that exposes a main surface of a conductive sheet (photosensitive material 140; see FIG. 35A) under the manufacturing process by irradiating with a first light 144a, and an output image Based on the data ImgOut, a second light source 148b that irradiates and exposes the other main surface of the photosensitive material 140 with the second light 144b, and various conditions for creating the image data Img (visual information of the mesh pattern 20 or the black matrix 34) Input unit 320 to the image generation apparatus 312 and G for assisting the input operation by the input unit 320 And I picture, basically comprises a display unit 322 for displaying the stored output image data ImgOut like.

画像生成装置312は、画像データImg、出力用画像データImgOut、候補点SPの位置データSPd、及びシード点SDの位置データSDdを記憶する記憶部324と、擬似乱数を発生して乱数値を生成する乱数発生部326と、乱数発生部326により生成された乱数値を用いて、所定の二次元画像領域の中からシード点SDの初期位置を選択する初期位置選択部328と、乱数値を用いて二次元画像領域の中から候補点SPの位置(シード点SDの位置を除く。)を決定する更新候補位置決定部330と、出力用画像データImgOutから第1画像データ及び第2画像データ(後述する。)をそれぞれ切り出す画像切り出し部332と、表示部322に各種画像を表示する制御を行う表示制御部334とを備える。   The image generation device 312 generates image data Img, output image data ImgOut, position data SPd of candidate points SP, and position data SDd of seed points SD, and generates random numbers by generating pseudo-random numbers. A random number generator 326, an initial position selection unit 328 for selecting an initial position of the seed point SD from a predetermined two-dimensional image region using a random value generated by the random number generator 326, and a random value. The update candidate position determination unit 330 that determines the position of the candidate point SP (excluding the position of the seed point SD) from the two-dimensional image region, and the first image data and the second image data (from the output image data ImgOut) And a display control unit 334 that performs control to display various images on the display unit 322.

シード点SDは、更新対象でない第1シード点SDNと、更新対象である第2シード点SDSとからなる。換言すれば、シード点SDの位置データSDdは、第1シード点SDNの位置データSDNdと、第2シード点SDSの位置データSDSdとから構成されている。   The seed point SD includes a first seed point SDN that is not an update target and a second seed point SDS that is an update target. In other words, the position data SDd of the seed point SD is composed of the position data SDNd of the first seed point SDN and the position data SDSd of the second seed point SDS.

なお、CPU等で構成される図示しない制御部は、記録媒体(図示しないROM又は記憶部324)に記録されているプログラムを読み出し実行することで、この画像処理に関する各制御を実現可能である。   Note that a control unit (not shown) configured by a CPU or the like can realize each control related to the image processing by reading and executing a program recorded in a recording medium (ROM or storage unit 324 (not shown)).

画像生成装置312は、入力部320から入力された視認情報(詳細は後述する。)に基づいてメッシュパターン20に応じた画像情報を推定する画像情報推定部336と、画像情報推定部336から供給された画像情報及び記憶部324から供給されたシード点SDの位置に基づいてメッシュパターン20に応じた模様を表す画像データImgを作成する画像データ作成部338と、画像データ作成部338により作成された画像データImgに基づいてメッシュ形状22の模様を評価するための評価値EVPを算出するメッシュ模様評価部340(評価値算出部)と、メッシュ模様評価部340により算出された評価値EVPに基づいて、シード点SD及び評価値EVP等のデータの更新/非更新、又は、出力用画像データImgOutの決定可否を指示するデータ更新指示部342(画像データ決定部)と、をさらに備える。   The image generation device 312 supplies an image information estimation unit 336 that estimates image information corresponding to the mesh pattern 20 based on visual information (details will be described later) input from the input unit 320, and an image information estimation unit 336. The image data creating unit 338 creates image data Img representing the pattern corresponding to the mesh pattern 20 based on the image information and the position of the seed point SD supplied from the storage unit 324, and the image data creating unit 338 creates the image data Img. A mesh pattern evaluation unit 340 (evaluation value calculation unit) that calculates an evaluation value EVP for evaluating the pattern of the mesh shape 22 based on the image data Img, and an evaluation value EVP calculated by the mesh pattern evaluation unit 340. Update / non-update of data such as seed point SD and evaluation value EVP, or output image data ImgOut Further comprising data update instruction unit 342 instructs the decision whether a (image data determining unit), a.

以下、メッシュパターン20の出力形成に供される画像データの作成方法について、図24のフローチャート及び図23の構成ブロック図を主に参照しながら説明する。   Hereinafter, a method of creating image data used for the output formation of the mesh pattern 20 will be described with reference mainly to the flowchart of FIG. 24 and the configuration block diagram of FIG.

ステップS1において、入力部320は、メッシュパターン20の配線形状の決定に必要な各種情報を入力する。作業者は、表示部322を介して、メッシュパターン20の視認性に関わる視認情報を入力する。メッシュパターン20の視認情報は、メッシュパターン20の形状や光学濃度に寄与する各種情報であり、例えば、金属細線16の材質、色値、光透過率、光反射率、断面形状及び太さのうち少なくとも1つが含まれてもよい。また、透明基体12の材質、色値、光透過率、光反射率、及び膜厚のうち少なくとも1つが含まれてもよい。   In step S <b> 1, the input unit 320 inputs various information necessary for determining the wiring shape of the mesh pattern 20. The operator inputs visual information related to the visibility of the mesh pattern 20 via the display unit 322. The visual information of the mesh pattern 20 is various information that contributes to the shape and optical density of the mesh pattern 20, for example, among the material, color value, light transmittance, light reflectance, cross-sectional shape, and thickness of the fine metal wire 16 At least one may be included. Further, at least one of the material, color value, light transmittance, light reflectance, and film thickness of the transparent substrate 12 may be included.

そして、画像情報推定部336は、入力部320から入力された各種情報に基づいて、メッシュパターン20に応じた画像情報を推定する。例えば、メッシュパターン20の縦サイズと出力用画像データImgOutの画像解像度とに基づいて、出力用画像データImgOutの縦方向の画素数を算出できる。また、配線の幅と画像解像度とに基づいて金属細線16の線幅に相当する画素数を算出できる。さらに、金属細線16の光透過率と、透明基体12の光透過率と、目標とする全体透過率と、配線の幅とに基づいて、開口部18の個数を推定するとともに、シード点SDの個数を推定できる。   Then, the image information estimation unit 336 estimates image information corresponding to the mesh pattern 20 based on various information input from the input unit 320. For example, the number of pixels in the vertical direction of the output image data ImgOut can be calculated based on the vertical size of the mesh pattern 20 and the image resolution of the output image data ImgOut. Further, the number of pixels corresponding to the line width of the thin metal wire 16 can be calculated based on the width of the wiring and the image resolution. Further, the number of openings 18 is estimated based on the light transmittance of the thin metal wire 16, the light transmittance of the transparent substrate 12, the target overall transmittance, and the width of the wiring, and the seed point SD is also measured. The number can be estimated.

次いで、出力用画像データImgOutを作成する(ステップS2)。出力用画像データImgOutの作成方法の説明に先立って、画像データImgの評価方法について始めに説明する。本実施の形態では、ノイズ特性(例えば、粒状ノイズ)を定量化した評価値EVPに基づいて評価を行う。   Next, output image data ImgOut is created (step S2). Prior to the description of the generation method of the output image data ImgOut, the evaluation method of the image data Img will be described first. In the present embodiment, evaluation is performed based on an evaluation value EVP obtained by quantifying noise characteristics (for example, granular noise).

図25は、人間の標準視覚応答特性の一例を表すグラフである。   FIG. 25 is a graph showing an example of human standard visual response characteristics.

本実施の形態では、人間の標準視覚応答特性として、明視状態下、観察距離300mmでのドゥーリー・ショー(Dooley-Shaw)関数を用いている。ドゥーリー・ショー関数は、VTF(Visual Transfer Function)の一種であり、人間の標準視覚応答特性を模した代表的な関数である。具体的には、輝度のコントラスト比特性の2乗値に相当する。なお、グラフの横軸は空間周波数(単位:cycle/mm)であり、縦軸はVTFの値(単位は無次元)である。   In the present embodiment, a Dooley-Shaw function at an observation distance of 300 mm is used as a standard human visual response characteristic under a clear vision state. The Dooley show function is a type of VTF (Visual Transfer Function) and is a representative function that imitates the standard visual response characteristics of humans. Specifically, this corresponds to the square value of the contrast ratio characteristic of luminance. The horizontal axis of the graph is the spatial frequency (unit: cycle / mm), and the vertical axis is the VTF value (unit is dimensionless).

観察距離を300mmとすると、0〜1.0cycle/mmの範囲ではVTFの値は一定(1に等しい。)であり、空間周波数が高くなるにつれて次第にVTFの値が減少する傾向がある。すなわち、この関数は、中〜高空間周波数帯域を遮断するローパスフィルタとして機能する。   If the observation distance is 300 mm, the VTF value is constant (equal to 1) in the range of 0 to 1.0 cycle / mm, and the VTF value tends to gradually decrease as the spatial frequency increases. That is, this function functions as a low-pass filter that cuts off the medium to high spatial frequency band.

なお、実際の人間の視覚応答特性は、0cycle/mm近傍で1より小さい値になっており、いわゆるバンドパスフィルタの特性を有する。しかし、本実施の形態において、図25に例示するように、極めて低い空間周波数帯域であってもVTFの値を1にすることで、評価値EVPへの寄与度を高くしている。これにより、メッシュパターン20の繰り返し配置に起因する周期性を抑制する効果が得られる。   Note that the actual human visual response characteristic has a value smaller than 1 in the vicinity of 0 cycle / mm, which is a so-called band-pass filter characteristic. However, in this embodiment, as illustrated in FIG. 25, the contribution to the evaluation value EVP is increased by setting the VTF value to 1 even in a very low spatial frequency band. Thereby, the effect which suppresses the periodicity resulting from the repeating arrangement | positioning of the mesh pattern 20 is acquired.

基準評価値EV0は、スペクトルSpcの値をF(Ux,Uy)とするとき、次の式(5)で算出される。   The reference evaluation value EV0 is calculated by the following equation (5) when the value of the spectrum Spc is F (Ux, Uy).

ウィナー・ヒンチン(Wiener-Khintchene)の定理によれば、スペクトルSpcを全空間周波数帯域で積分した値は、RMSの2乗値に一致する。このスペクトルSpcに対してVTFを乗算し、この新たなスペクトルSpcを全空間周波数帯域で積分した値は、人間の視覚特性に略一致する評価指標となる。この評価値EVPは、人間の視覚応答特性で補正したRMSということができる。通常のRMSと同様に、評価値EVPは、常に0以上の値を取り、0に近づくほどノイズ特性が良好であるといえる。   According to Wiener-Khintchene's theorem, the value obtained by integrating the spectrum Spc over the entire spatial frequency band coincides with the square value of RMS. A value obtained by multiplying the spectrum Spc by VTF and integrating the new spectrum Spc in the entire spatial frequency band is an evaluation index that substantially matches human visual characteristics. This evaluation value EVP can be said to be RMS corrected by human visual response characteristics. Similar to normal RMS, the evaluation value EVP always takes a value of 0 or more, and the closer to 0, the better the noise characteristics.

評価値EVPは、基準評価値EV0の他、上述した第1評価値EV1、第2評価値EV2及び第3評価値EV3を用いて、計算してもよい。   The evaluation value EVP may be calculated using the first evaluation value EV1, the second evaluation value EV2, and the third evaluation value EV3 described above in addition to the reference evaluation value EV0.

たとえばEV1、EV2、EV3などの評価値は一度、Aを10点、Bを8点、Cを5点、Dを0点などのようにスコア化してから、その総和をトータルスコアとして算出してもよい。   For example, the evaluation values of EV1, EV2, EV3, etc. are once scored such that A is 10 points, B is 8 points, C is 5 points, D is 0 points, etc., and the sum is calculated as a total score. Good.

さらに、角度方向のスペクトルSpc(第1評価値EV1)、各開口部18の面積分布(第2評価値EV2)又は所定方向に沿った重心位置(第3評価値EV3)についてのばらつき程度は、種々の統計値で定量化してもよい。ここで、「統計値」とは、統計学的手法を用いて算出した計算値であり、例えば、標準偏差(RMS)の他、平均値、最頻値、中心値、最大値、最小値等であってもよい。また、ヒストグラム等のような統計的処理を行った後、その形状等からばらつき程度を定量化してもよい。   Furthermore, the degree of variation of the spectrum Spc in the angular direction (first evaluation value EV1), the area distribution of each opening 18 (second evaluation value EV2), or the center of gravity position along the predetermined direction (third evaluation value EV3) is: You may quantify with various statistics. Here, the “statistical value” is a calculated value calculated using a statistical method, for example, a standard deviation (RMS), an average value, a mode value, a center value, a maximum value, a minimum value, and the like. It may be. Further, after performing statistical processing such as a histogram, the degree of variation may be quantified from the shape and the like.

以下、上記した評価値EVPに基づいて出力用画像データImgOutを決定する具体的方法について説明する。例えば、複数のシード点SDからなるドットパターンの作成、複数のシード点SDに基づく画像データImgの作成、及び評価値EVPによる評価を順次繰り返す方法を用いることができる。ここで、複数のシード点SDの位置を決定するアルゴリズムは、種々の最適化手法を採り得る。例えば、ドットパターンを決定する最適化問題として、構成的アルゴリズムや逐次改善アルゴリズム等の種々の探索アルゴリズムを用いることができる。具体例として、ニューラルネットワーク、遺伝的アルゴリズム、擬似焼きなまし法、ボイド・アンド・クラスター法等が挙げられる。   Hereinafter, a specific method for determining the output image data ImgOut based on the evaluation value EVP will be described. For example, it is possible to use a method of sequentially repeating creation of a dot pattern composed of a plurality of seed points SD, creation of image data Img based on the plurality of seed points SD, and evaluation using the evaluation value EVP. Here, the algorithm for determining the positions of the plurality of seed points SD can employ various optimization methods. For example, as an optimization problem for determining a dot pattern, various search algorithms such as a structural algorithm and a sequential improvement algorithm can be used. Specific examples include a neural network, a genetic algorithm, a simulated annealing method, a void and cluster method, and the like.

本実施の形態では、擬似焼きなまし法(Simulated Annealing;以下、SA法という。)によるメッシュパターン20の模様の最適化方法について、図26のフローチャート、図23の機能ブロック図を主に参照しながら説明する。なお、SA法は、高温状態で鉄を叩くことで頑健な鉄を得る「焼きなまし法」を模した確率的探索アルゴリズムである。   In the present embodiment, a method for optimizing the pattern of the mesh pattern 20 by a simulated annealing method (hereinafter referred to as SA method) will be described with reference mainly to the flowchart of FIG. 26 and the functional block diagram of FIG. To do. The SA method is a probabilistic search algorithm that imitates the “annealing method” in which robust iron is obtained by hitting iron in a high temperature state.

ステップS21において、初期位置選択部328は、シード点SDの初期位置を選択する。初期位置の選択に先立って、乱数発生部326は、擬似乱数の発生アルゴリズムを用いて乱数値を発生する。そして、初期位置選択部328は、乱数発生部326から供給された乱数値を用いて、シード点SDの初期位置をランダムに決定する。ここで、初期位置選択部328は、シード点SDの初期位置を画像データImg上の画素のアドレスとして選択し、シード点SDが互いに重複しない位置にそれぞれ設定する。   In step S21, the initial position selection unit 328 selects an initial position of the seed point SD. Prior to selection of the initial position, the random number generation unit 326 generates a random value using a pseudo-random number generation algorithm. Then, the initial position selection unit 328 uses the random number value supplied from the random number generation unit 326 to randomly determine the initial position of the seed point SD. Here, the initial position selection unit 328 selects the initial position of the seed point SD as the address of the pixel on the image data Img, and sets the seed points SD to positions that do not overlap each other.

ステップS22において、画像データ作成部338は、初期データとしての画像データImgInitを作成する。画像データ作成部338は、記憶部324から供給されたシード点SDの個数や位置データSDd、並びに画像情報推定部336から供給された画像情報に基づいて、メッシュパターン20に応じた模様を表す画像データImgInit(初期データ)を作成する。   In step S22, the image data creation unit 338 creates image data ImgInit as initial data. The image data creation unit 338 displays an image representing a pattern corresponding to the mesh pattern 20 based on the number and position data SDd of the seed points SD supplied from the storage unit 324 and the image information supplied from the image information estimation unit 336. Data ImgInit (initial data) is created.

画像データImg(画像データImgInitを含む。)の作成に先立ち、画素のアドレス及び画素値の定義を予め決定しておく。   Prior to the creation of image data Img (including image data ImgInit), pixel address and pixel value definitions are determined in advance.

図27Aは、画像データImgにおける画素アドレスの定義を表す説明図である。例えば、画素サイズが10μmであり、画像データの縦横の画素数はそれぞれ8192個とする。後述するFFTの演算処理の便宜のため、2の冪乗(例えば、2の13乗)となるように設けている。このとき、画像データImgの画像領域全体は、約82mm四方の矩形領域に対応する。   FIG. 27A is an explanatory diagram illustrating the definition of a pixel address in the image data Img. For example, the pixel size is 10 μm, and the number of vertical and horizontal pixels of the image data is 8192. For convenience of FFT calculation processing described later, it is set to be a power of 2 (for example, 2 to the 13th power). At this time, the entire image area of the image data Img corresponds to a rectangular area of about 82 mm square.

図27Bは、画像データImgにおける画素値の定義を表す説明図である。例えば、1画素当たりの階調数を8ビット(256階調)とする。光学濃度0を画素値0(最小値)と対応させ、光学濃度4.5を画素値255(最大値)と対応させておく。その中間の画素値1〜254では、光学濃度に対して線形関係となるように値を定めておく。なお、画素値の定義は、光学濃度のみならず、三刺激値XYZやRGB、L***等の色値であってもよい。 FIG. 27B is an explanatory diagram illustrating the definition of pixel values in the image data Img. For example, the number of gradations per pixel is 8 bits (256 gradations). The optical density 0 corresponds to the pixel value 0 (minimum value), and the optical density 4.5 corresponds to the pixel value 255 (maximum value). In the intermediate pixel values 1 to 254, values are determined so as to have a linear relationship with the optical density. The definition of the pixel value may be not only the optical density but also a color value such as tristimulus values XYZ, RGB, or L * a * b * .

このようにして、画像データ作成部338は、画像データImgのデータ定義と、画像情報推定部336で推定された画像情報に基づいて、メッシュパターン20に応じた画像データImgInitを作成する(ステップS22)。   In this way, the image data creation unit 338 creates image data ImgInit corresponding to the mesh pattern 20 based on the data definition of the image data Img and the image information estimated by the image information estimation unit 336 (step S22). ).

画像データ作成部338は、シード点SDの初期位置(図28A参照)を基準とする種々の領域決定アルゴリズム(例えば、ボロノイ図、ドロネー図等)を用いて、図28Bに示すメッシュパターン20の初期状態を決定する。   The image data creation unit 338 uses various region determination algorithms (for example, Voronoi diagram, Delaunay diagram, etc.) based on the initial position of the seed point SD (see FIG. 28A) to initialize the mesh pattern 20 shown in FIG. 28B. Determine the state.

ところで、画像データImgのサイズが極めて大きい場合、最適化のための演算処理量が莫大になるので、画像生成装置312の処理能力及び処理時間を必要とする。また、画像データImg(出力用画像データImgOut)のサイズが大きくなるので、これを格納するメモリ容量も必要となる。そこで、所定の境界条件を満たす単位画像データImgEを規則的に配置することで、画像データImgに繰り返し形状を持たせる手法が有効である。以下、その具体的方法について、図29及び図30を参照しながら詳細に説明する。   By the way, when the size of the image data Img is extremely large, the amount of calculation processing for optimization becomes enormous, so that the processing capability and processing time of the image generation device 312 are required. In addition, since the size of the image data Img (output image data ImgOut) increases, a memory capacity for storing the image data Img is also required. Therefore, it is effective to regularly arrange unit image data ImgE satisfying a predetermined boundary condition so that the image data Img has a repeated shape. Hereinafter, the specific method will be described in detail with reference to FIGS. 29 and 30. FIG.

図29は、単位領域90の端部における模様の決定方法を示す概略説明図である。図30は、単位画像データImgEを規則的に配列し、画像データImgを作成した結果を示す概略説明図である。   FIG. 29 is a schematic explanatory diagram showing a method for determining a pattern at the end of the unit region 90. FIG. 30 is a schematic explanatory diagram showing a result of creating the image data Img by regularly arranging the unit image data ImgE.

図29に示すように、概略正方形状の単位領域90において、その右上隅部、左上隅部、左下隅部、及び右下隅部には、点P11〜点P14がそれぞれ配置されている。説明の便宜のため、単位領域90内に存在する点P11〜点P14の4点のみ表記し、その他の点を省略した。 As shown in FIG. 29, in a substantially square unit region 90, points P 11 to P 14 are arranged at the upper right corner, upper left corner, lower left corner, and lower right corner, respectively. For convenience of explanation, only four points P 11 to P 14 existing in the unit area 90 are shown, and other points are omitted.

単位領域90の右方には、単位領域90と同じサイズの仮想領域92(破線で示す。)が隣接して配置されている。仮想領域92上には、単位領域90内の点P12の位置に対応するように、仮想点P22が配置されている。また、単位領域90の右上方には、単位領域90と同じサイズの仮想領域94(破線で示す。)が隣接して配置されている。仮想領域94上には、単位領域90内の点P13の位置に対応するように、仮想点P23が配置されている。さらに、単位領域90の上方には、単位領域90と同じサイズの仮想領域96(破線で示す。)が隣接して配置されている。仮想領域96上には、単位領域90内の点P14の位置に対応するように、仮想点P24が配置されている。 To the right of the unit region 90, a virtual region 92 (shown by a broken line) having the same size as the unit region 90 is disposed adjacently. On the virtual region 92, so as to correspond to the position of the point P 12 of the unit region 90, the virtual point P 22 is disposed. A virtual region 94 (shown by a broken line) having the same size as that of the unit region 90 is disposed adjacent to the upper right of the unit region 90. On the virtual region 94, so as to correspond to the position of the point P 13 of the unit region 90, the virtual point P 23 is disposed. Further, above the unit region 90, a virtual region 96 (shown by a broken line) having the same size as the unit region 90 is disposed adjacently. On the virtual region 96 so as to correspond to the position of the point P 14 of the unit region 90, the virtual point P 24 is disposed.

以下、画像データ作成部338は、この条件下において、単位領域90の右上隅部における模様(配線形状)をボロノイ図(分割法)に従って決定する。   Hereinafter, the image data creation unit 338 determines the pattern (wiring shape) in the upper right corner of the unit region 90 according to the Voronoi diagram (division method) under this condition.

点P11と仮想点P22との関係において、両方の点からの距離が等しい点の集合である1つの区画線97が決定される。また、点P11と仮想点P24との関係において、両方の点からの距離が等しい点の集合である1つの区画線98が決定される。さらに、仮想点P22と仮想点P24との関係において、両方の点からの距離が等しい点の集合である1つの区画線99が決定される。この区画線97〜99によって、単位領域90の右上隅部における模様が画定される。同様にして、単位領域90の端部のすべてにわたって模様が画定される。以下、このように作成された単位領域90内の画像データを単位画像データImgEという。 In relation to the point P 11 and the virtual point P 22, 1 single division line 97 a distance from both the point is a set of points equal it is determined. Further, in the relationship between the point P 11 and the virtual point P 24 , one partition line 98 that is a set of points having the same distance from both points is determined. Furthermore, in the relationship between the virtual point P 22 and the virtual point P 24 , one partition line 99 that is a set of points having the same distance from both points is determined. A pattern in the upper right corner of the unit region 90 is defined by the partition lines 97 to 99. Similarly, a pattern is defined over the entire end of the unit region 90. Hereinafter, the image data in the unit region 90 created in this way is referred to as unit image data ImgE.

図30に示すように、単位画像データImgEを、同じ向きに、且つ、縦方向及び横方向に規則的に配列することで、平面領域100内に画像データImgが作成される。図29に示す境界条件に従って模様を決定したので、単位画像データImgEの上端と下端との間で、及び、単位画像データImgEの右端と左端との間で、それぞれ継ぎ目なく繋げることができる。   As shown in FIG. 30, the unit image data ImgE is regularly arranged in the same direction and in the vertical direction and the horizontal direction, so that the image data Img is created in the plane region 100. Since the pattern is determined in accordance with the boundary condition shown in FIG. 29, the unit image data ImgE can be connected seamlessly between the upper end and the lower end and between the right end and the left end of the unit image data ImgE.

このように構成することで、単位画像データImgEの小サイズ化が可能であり、演算処理量及びデータサイズを低減できる。また、継ぎ目の不整合に起因するモアレが発生することがない。なお、単位領域90の形状は、図29及び図30に示す正方形に限られず、矩形、三角形、六角形等、隙間なく配列可能な形状であれば種類は問わない。   With this configuration, the unit image data ImgE can be reduced in size, and the amount of calculation processing and the data size can be reduced. In addition, moire caused by inconsistencies in the joints does not occur. The shape of the unit region 90 is not limited to the square shown in FIG. 29 and FIG. 30, and any type can be used as long as it can be arranged without gaps, such as a rectangle, a triangle, a hexagon, and the like.

ステップS23において、メッシュ模様評価部340は、初期値としての評価値EVPInitを算出する。なお、SA法において、評価値EVPは、対価関数(Cost Function)としての役割を担う。メッシュ模様評価部340は、画像データImgInitに対してFFT(Fast Fourier Transformation)を施してスペクトルSpcを得た後、該スペクトルSpcに基づいて評価値EVPを算出する。また、メッシュパターン20を決定するための目標レベル(許容範囲)や評価関数に応じて、評価値EVPの算出式を種々変更し得ることはいうまでもない。   In step S23, the mesh pattern evaluation unit 340 calculates an evaluation value EVPInit as an initial value. In the SA method, the evaluation value EVP plays a role as a cost function. The mesh pattern evaluation unit 340 performs FFT (Fast Fourier Transformation) on the image data ImgInit to obtain a spectrum Spc, and then calculates an evaluation value EVP based on the spectrum Spc. Further, it goes without saying that the calculation formula of the evaluation value EVP can be variously changed according to the target level (allowable range) for determining the mesh pattern 20 and the evaluation function.

ステップS24において、記憶部324は、ステップS22で作成された画像データImgInitをImgとして、ステップS23で算出された評価値EVPInitをEVPとして、それぞれ一時的に記憶する。あわせて、擬似温度Tに初期値nΔT(nは自然数、ΔTは正の実数である。)を代入する。   In step S24, the storage unit 324 temporarily stores the image data ImgInit created in step S22 as Img and the evaluation value EVPInit calculated in step S23 as EVP, respectively. At the same time, an initial value nΔT (n is a natural number and ΔT is a positive real number) is substituted for the pseudo temperature T.

ステップS25において、メッシュ模様評価部340は、変数Kを初期化する。すなわち、Kに0を代入する。   In step S25, the mesh pattern evaluation unit 340 initializes the variable K. That is, 0 is substituted for K.

次いで、シード点SDの一部(第2シード点SDS)を候補点SPに置き換えた状態で、画像データImgTempを作成し、評価値EVPTempを算出した後に、シード点SDの「更新」又は「非更新」を判断する(ステップS26)。このステップS26について、図31のフローチャート及び図23の機能ブロック図を参照しながら、更に詳細に説明する。   Next, the image data ImgTemp is generated in a state where a part of the seed point SD (second seed point SDS) is replaced with the candidate point SP, and the evaluation value EVPTtemp is calculated. "Update" is determined (step S26). Step S26 will be described in more detail with reference to the flowchart of FIG. 31 and the functional block diagram of FIG.

ステップS261において、更新候補位置決定部330は、所定の平面領域100から候補点SPを抽出し、決定する。更新候補位置決定部330は、例えば、乱数発生部326から供給された乱数値を用いて、画像データImgにおけるシード点SDのいずれの位置とも重複しない位置を決定する。なお、候補点SPの個数は1つであっても複数であってもよい。図32Aに示す例では、現在のシード点SDが8個(点P1〜P8)に対して、候補点SPは2個(点Q1と点Q2)である。 In step S <b> 261, the update candidate position determination unit 330 extracts candidate points SP from the predetermined planar area 100 and determines them. For example, the update candidate position determination unit 330 uses the random number value supplied from the random number generation unit 326 to determine a position that does not overlap any position of the seed point SD in the image data Img. Note that the number of candidate points SP may be one or plural. In the example shown in FIG. 32A, there are two candidate points SP (point Q 1 and point Q 2 ) with respect to eight current seed points SD (points P 1 to P 8 ).

ステップS262において、シード点SDの一部と候補点SPとを無作為に交換する。更新候補位置決定部330は、各候補点SPと交換(あるいは更新)される各シード点SDを無作為に対応付けておく。図32Aでは、点P1と点Q1とが対応付けられ、点P3と点Q2とが対応付けられたとする。図32Bに示すように、点P1と点Q1とが交換されるとともに、点P3と点Q2とが交換される。ここで、交換(あるいは更新)対象でない点P2、点P4〜P8を第1シード点SDNといい、交換(あるいは更新)対象である点P1及び点P3を第2シード点SDSという。 In step S262, a part of the seed point SD and the candidate point SP are randomly exchanged. The update candidate position determination unit 330 randomly associates each seed point SD to be exchanged (or updated) with each candidate point SP. In FIG. 32A, it is assumed that point P 1 and point Q 1 are associated with each other, and point P 3 and point Q 2 are associated with each other. As shown in FIG. 32B, the point P 1 and the point Q 1 are exchanged, and the point P 3 and the point Q 2 are exchanged. Here, the point P 2 and the points P 4 to P 8 that are not the object of exchange (or update) are referred to as the first seed point SDN, and the points P 1 and P 3 that are the object of exchange (or update) are the second seed point SDS. That's it.

ステップS263において、画像データ作成部338は、交換された新たなシード点SD(図32B参照)、及び、画像情報推定部336で推定された画像情報(ステップS1の説明を参照)に基づいて、画像データImgTempを作成する。このとき、ステップS22(図26参照)の場合と同一の方法を用いるので、説明を割愛する。   In step S263, the image data creation unit 338, based on the replaced new seed point SD (see FIG. 32B) and the image information estimated by the image information estimation unit 336 (see the description of step S1). Image data ImgTemp is created. At this time, since the same method as in the case of step S22 (see FIG. 26) is used, description thereof is omitted.

ステップS264において、メッシュ模様評価部340は、画像データImgTempに基づいて、評価値EVPTempを算出する。このとき、ステップS23(図26参照)の場合と同一の方法を用いるので、説明を割愛する。   In step S264, the mesh pattern evaluation unit 340 calculates an evaluation value EVPTemp based on the image data ImgTemp. At this time, since the same method as in the case of step S23 (see FIG. 26) is used, the description is omitted.

ステップS265において、データ更新指示部342は、シード点SDの位置の更新確率Probを算出する。ここで、「位置の更新」とは、ステップS262で暫定的に交換して得たシード点SD(すなわち、第1シード点SDN及び候補点SP)を新たなシード点SDとして決定することをいう。   In step S265, the data update instruction unit 342 calculates the update probability Prob of the position of the seed point SD. Here, “update of position” means that the seed point SD (that is, the first seed point SDN and the candidate point SP) obtained by provisional exchange in step S262 is determined as a new seed point SD. .

具体的には、メトロポリス基準に従って、シード点SDを更新する確率又は更新しない確率をそれぞれ算出する。更新確率Probは、次の式(6)で与えられる。   Specifically, the probability of updating or not updating the seed point SD is calculated according to the metropolis standard. The update probability Prob is given by the following equation (6).

ここで、Tは擬似温度を表し、絶対温度(T=0)に近づくに従って、シード点SDの更新則が確率論的から決定論的に変化する。   Here, T represents a pseudo temperature, and as the absolute temperature (T = 0) is approached, the update rule of the seed point SD changes from stochastic to deterministic.

ステップS266において、データ更新指示部342は、算出された更新確率Probに従って、シード点SDの位置を更新するか否かについて判断する。例えば、乱数発生部326から供給された乱数値を用いて、確率的に判断してもよい。データ更新指示部342は、シード点SDを更新する場合は「更新」の旨を、更新しない場合は「非更新」の旨を記憶部324側にそれぞれ指示する(ステップS267、S268)。   In step S266, the data update instruction unit 342 determines whether or not to update the position of the seed point SD according to the calculated update probability Prob. For example, the determination may be made probabilistically using the random number value supplied from the random number generation unit 326. The data update instruction unit 342 instructs the storage unit 324 to indicate “update” when the seed point SD is updated and “non-update” when not updating the seed point SD (steps S267 and S268).

このようにして、シード点SDの一部(第2シード点SDS)を候補点SPに置き換える(更新)か否か(非更新)を判断するステップS26が完了する。   In this way, step S26 for determining whether or not a part of the seed point SD (second seed point SDS) is replaced (updated) with the candidate point SP (non-updated) is completed.

図26に戻って、シード点SDの位置の「更新」及び「非更新」のうちいずれか一方の指示に従って、シード点SDを更新するか否かが判定される(ステップS27)。シード点SDを更新する場合は次のステップS28に進み、シード点SDを更新しない場合は、ステップS28を省略して、ステップS29に進む。   Returning to FIG. 26, it is determined whether or not to update the seed point SD in accordance with either “update” or “non-update” instruction of the position of the seed point SD (step S27). If the seed point SD is updated, the process proceeds to the next step S28. If the seed point SD is not updated, the process skips step S28 and proceeds to step S29.

ステップS28において、シード点SDを更新する場合、記憶部324は、現在記憶している画像データImgに対し、ステップS263で求めた画像データImgTempを上書き更新する。また、記憶部324は、現在記憶している評価値EVPに対し、ステップS264で求めた評価値EVPTempを上書き更新する。さらに、記憶部324は、現在記憶している第2シード点SDSの位置データSDSdに対し、ステップS261で求めた候補点SPの位置データSPdを上書き更新する。その後、次のステップS29に進む。   In step S28, when the seed point SD is updated, the storage unit 324 overwrites and updates the image data ImgTemp obtained in step S263 with respect to the image data Img currently stored. In addition, the storage unit 324 overwrites and updates the evaluation value EVPTemp obtained in step S264 with respect to the currently stored evaluation value EVP. Further, the storage unit 324 overwrites and updates the position data SPd of the candidate point SP obtained in step S261 with respect to the position data SDSd of the second seed point SDS currently stored. Thereafter, the process proceeds to next Step S29.

ステップS29において、データ更新指示部342は、現時点でのKの値を1だけ加算する。   In step S29, the data update instruction unit 342 adds 1 to the current value of K.

ステップS30において、データ更新指示部342は、現時点でのKの値と予め定められたKmaxの値との大小関係を比較する。Kの値の方が小さい場合はステップS26まで戻り、以下ステップS26〜S29を繰り返す。K>Kmaxを満たす場合、次のステップS31に進む。   In step S30, the data update instruction unit 342 compares the current value of K with the predetermined value of Kmax. If the value of K is smaller, the process returns to step S26, and thereafter steps S26 to S29 are repeated. If K> Kmax is satisfied, the process proceeds to the next step S31.

ステップS31において、データ更新指示部342は、擬似温度TをΔTだけ減算する。なお、擬似温度Tの変化量は、ΔTの減算のみならず、定数δ(0<δ<1)の乗算であってもよい。この場合は、上記式(6)に示す確率Prob(下段)が一定値だけ減算される。   In step S31, the data update instruction unit 342 subtracts the pseudo temperature T by ΔT. The change amount of the pseudo temperature T may be not only the subtraction of ΔT but also a multiplication of a constant δ (0 <δ <1). In this case, the probability Prob (lower stage) shown in the above equation (6) is subtracted by a certain value.

ステップS32において、データ更新指示部342は、現時点での擬似温度Tが0に等しいか否かを判定する。Tが0と等しくない場合はステップS25に戻って、以下ステップS25〜S31を繰り返す。一方、Tが0に等しい場合、データ更新指示部342は、記憶部324に対してSA法による評価が終了した旨を通知する。   In step S32, the data update instruction unit 342 determines whether or not the current pseudo temperature T is equal to zero. If T is not equal to 0, the process returns to step S25, and steps S25 to S31 are repeated thereafter. On the other hand, when T is equal to 0, the data update instruction unit 342 notifies the storage unit 324 that the evaluation by the SA method has been completed.

ステップS33において、記憶部324は、ステップS28で最後に更新された画像データImgの内容を出力用画像データImgOutに上書き更新する。このように、出力用画像データImgOutの作成(ステップS2)を終了する。   In step S33, the storage unit 324 overwrites and updates the output image data ImgOut with the content of the image data Img last updated in step S28. In this way, the creation of the output image data ImgOut (step S2) ends.

複数の異なるメッシュ形状22を配列したメッシュパターン20の模様を表す画像データImgを作成し、画像データImgに基づいて、スペクトルSpcについての角度方向に沿ったばらつき程度について定量化した第1評価値EV1を算出し、第1評価値EV1及び所定の評価条件に基づいて1つの画像データImgを出力用画像データImgOutとして決定するようにしたので、所定の評価条件を満たすノイズ特性を有する各メッシュ形状22を決定できる。換言すれば、メッシュパターン20の形状を適切に制御することで、モアレの発生を抑制できる。   A first evaluation value EV1 is generated that creates image data Img representing the pattern of the mesh pattern 20 in which a plurality of different mesh shapes 22 are arranged, and quantifies the degree of variation along the angular direction of the spectrum Spc based on the image data Img. Since one image data Img is determined as output image data ImgOut based on the first evaluation value EV1 and a predetermined evaluation condition, each mesh shape 22 having noise characteristics satisfying a predetermined evaluation condition is calculated. Can be determined. In other words, the occurrence of moire can be suppressed by appropriately controlling the shape of the mesh pattern 20.

また、複数の開口部18を備えるメッシュパターン20の模様を表す画像データImgを作成し、画像データImgに基づいて各開口部18の面積分布のばらつき程度について定量化した第2評価値EV2を算出し、第2評価値EV2及び所定の評価条件に基づいて1つの画像データImgを出力用画像データImgOutとして決定するようにしたので、所定の評価条件を満たすノイズ特性を有する各開口部18の形状を決定できる。換言すれば、メッシュパターン20の形状を適切に制御することで、ノイズ粒状感及び色ノイズの発生を両立して抑制できる。   Also, image data Img representing the pattern of the mesh pattern 20 having a plurality of openings 18 is created, and a second evaluation value EV2 quantified about the degree of variation in the area distribution of each opening 18 is calculated based on the image data Img. Since one image data Img is determined as output image data ImgOut based on the second evaluation value EV2 and a predetermined evaluation condition, the shape of each opening 18 having noise characteristics satisfying the predetermined evaluation condition Can be determined. In other words, by appropriately controlling the shape of the mesh pattern 20, it is possible to suppress both noise granularity and color noise.

さらに、異なるメッシュ形状22を配列したメッシュパターン20の模様を表す画像データImgを作成し、画像データImgに基づいて各メッシュ形状22の重心位置のばらつき程度について定量化した第3評価値EV3を算出し、第3評価値EV3及び所定の評価条件に基づいて1つの画像データImgを出力用画像データImgOutとして決定するようにしたので、所定の評価条件を満たすノイズ特性を有する各メッシュ形状22を決定できる。換言すれば、メッシュパターン20の形状を適切に制御することで、ノイズ粒状感及びモアレの発生を両立して抑制できる。   Furthermore, image data Img representing the pattern of the mesh pattern 20 in which different mesh shapes 22 are arranged is created, and a third evaluation value EV3 quantified with respect to the degree of variation in the center of gravity of each mesh shape 22 is calculated based on the image data Img. Since one image data Img is determined as output image data ImgOut based on the third evaluation value EV3 and a predetermined evaluation condition, each mesh shape 22 having noise characteristics satisfying the predetermined evaluation condition is determined. it can. In other words, by appropriately controlling the shape of the mesh pattern 20, it is possible to suppress both noise granularity and the occurrence of moire.

出力用画像データImgOutは、タッチパネル44の他、無機EL素子、有機EL素子、あるいは太陽電池等の各種電極の配線形状であってもよい。また、電極以外にも、電流を流すことで発熱する透明発熱体(例えば、車両のデフロスタ)、電磁波を遮断する電磁波シールド材にも適用可能である。   The output image data ImgOut may be a wiring shape of various electrodes such as an inorganic EL element, an organic EL element, or a solar cell in addition to the touch panel 44. In addition to electrodes, the present invention can also be applied to a transparent heating element (for example, a vehicle defroster) that generates heat when an electric current is passed, and an electromagnetic wave shielding material that blocks electromagnetic waves.

図24に戻って、最後に、画像切り出し部332は、出力用画像データImgOutが表す平面領域100の形状(メッシュパターン20の模様)から、2以上の第1導電パターン70a、2以上の第1ダミーパターン76a、及び2以上の第2導電パターン70bをそれぞれ切り出す(ステップS3)。   Returning to FIG. 24, finally, the image cutout unit 332 determines two or more first conductive patterns 70 a and two or more first conductive patterns 70 a from the shape of the planar region 100 (pattern of the mesh pattern 20) represented by the output image data ImgOut. The dummy pattern 76a and the two or more second conductive patterns 70b are cut out (step S3).

図33Aは、各第1導電パターン70a及び各第1ダミーパターン76aを切り出した結果を示す概略説明図である。図33Bは、各第2導電パターン70bを切り出した結果を示す概略説明図である。   FIG. 33A is a schematic explanatory diagram illustrating a result of cutting out each first conductive pattern 70a and each first dummy pattern 76a. FIG. 33B is a schematic explanatory diagram illustrating a result of cutting out each second conductive pattern 70b.

図33Aに示す平面領域100の中から第1領域R1(ハッチングが付された領域)を除く箇所を切り出すことで、透明基体12の一主面側(図2Bの矢印s1方向側)での模様を表す第1画像データが作成される。第1領域R1は、額縁状の菱形枠が、矢印X方向に複数個連結された形状を有する。すなわち、第1画像データは、2以上の第1導電パターン70a及び2以上の第1ダミーパターン76a(図6等参照)をそれぞれ表している。   A pattern on one main surface side (the direction of the arrow s1 in FIG. 2B) of the transparent substrate 12 is cut out from the flat region 100 shown in FIG. 33A except for the first region R1 (hatched region). First image data representing is generated. The first region R1 has a shape in which a plurality of frame-shaped rhombus frames are connected in the arrow X direction. That is, the first image data represents two or more first conductive patterns 70a and two or more first dummy patterns 76a (see FIG. 6 and the like), respectively.

また、図33Bに示す平面領域100の中から第2領域R2(ハッチングが付された領域)のみを切り出すことで、透明基体12の他主面側(図2Bの矢印s2方向側)での模様を表す第2画像データが作成される。第2画像データは、2以上の第2導電パターン70b(図7等参照)をそれぞれ表している。なお、第2領域R2を除く残余の領域(図33Bに示す平面領域100内の余白領域)は、各第1導電パターン70aの位置にそれぞれ対応する。   Further, by cutting out only the second region R2 (hatched region) from the planar region 100 shown in FIG. 33B, the pattern on the other main surface side (the arrow s2 direction side in FIG. 2B) of the transparent substrate 12. Second image data representing is generated. The second image data represents two or more second conductive patterns 70b (see FIG. 7 and the like). Note that the remaining region (the blank region in the planar region 100 shown in FIG. 33B) excluding the second region R2 corresponds to the position of each first conductive pattern 70a.

図33A及び図33Bでは、平面領域100は、図30と比べて、所定角度(例えば、θ=45°)だけ傾けた状態で配置されている。すなわち、単位画像データImgEの配列方向と、各第1導電パターン70a(又は各第2導電パターン70b)の延在方向とのなす角θが、非0(0°<θ<90°)である関係にされている。このように、各第1導電パターン70a(又は各第2導電パターン70b)は、メッシュパターン20の繰り返し形状の配列方向に対して所定角度θだけ傾けて形成されることで、各第1感知部72a(又は各第2感知部72b)と繰り返し形状との間のモアレの発生を抑制できる。なお、モアレが発生しないのであれば、θ=0°であってもよいことは言うまでもない。同様の観点から、繰り返し形状のサイズは、各第1感知部72a(又は各第1感知部72b)のサイズよりも大きくすることが好ましい。   In FIG. 33A and FIG. 33B, the planar region 100 is disposed in a state inclined by a predetermined angle (for example, θ = 45 °) as compared to FIG. That is, the angle θ formed by the arrangement direction of the unit image data ImgE and the extending direction of each first conductive pattern 70a (or each second conductive pattern 70b) is non-zero (0 ° <θ <90 °). Have been in a relationship. As described above, each first conductive pattern 70a (or each second conductive pattern 70b) is formed to be inclined by a predetermined angle θ with respect to the arrangement direction of the repetitive shape of the mesh pattern 20, so that each first sensing unit Generation of moire between 72a (or each second sensing unit 72b) and the repetitive shape can be suppressed. Needless to say, if moire does not occur, θ = 0 ° may be used. From the same viewpoint, it is preferable that the size of the repetitive shape is larger than the size of each first sensing unit 72a (or each first sensing unit 72b).

なお、作成された出力用画像データImgOut、第1画像データ及び第2画像データは、金属細線16の出力形成に用いられる。例えば露光を用いて導電シート10、11を製造する場合、出力用画像データImgOut、第1画像データ及び第2画像データは、フォトマスクのパターンの作製に用いられる。また、スクリーン印刷、インクジェット印刷を含む印刷により導電シート10、11を製造する場合、出力用画像データImgOut、第1画像データ及び第2画像データは、印刷用データとして用いられる。   The generated output image data ImgOut, the first image data, and the second image data are used for the output formation of the thin metal wire 16. For example, when the conductive sheets 10 and 11 are manufactured using exposure, the output image data ImgOut, the first image data, and the second image data are used for producing a photomask pattern. Further, when the conductive sheets 10 and 11 are manufactured by printing including screen printing and inkjet printing, the output image data ImgOut, the first image data, and the second image data are used as printing data.

次に、第1導電パターン70a、第1ダミーパターン76a、及び第2導電パターン70b(以下、第1導電パターン70a等という場合がある。)を形成する方法としては、例えば、透明基体12上に感光性ハロゲン化銀塩を含有する乳剤層を有する感光材料を露光し、現像処理を施すことによって、露光部及び未露光部にそれぞれ金属銀部及び光透過性部を形成して第1導電パターン70a等を形成するようにしてもよい。なお、さらに金属銀部に物理現像及び/又はめっき処理を施すことによって金属銀部に導電性金属を担持させるようにしてもよい。図2Aに示す導電シート11に関し、以下に示す製造方法を好ましく採用することができる。すなわち、透明基体12の両面に形成された感光性ハロゲン化銀乳剤層に対して一括露光を行って、透明基体12の一主面に第1導電パターン70a及び第1ダミーパターン76aを形成し、透明基体12の他主面に第2導電パターン70bを形成する。   Next, as a method of forming the first conductive pattern 70a, the first dummy pattern 76a, and the second conductive pattern 70b (hereinafter, sometimes referred to as the first conductive pattern 70a or the like), for example, on the transparent substrate 12. A photosensitive material having an emulsion layer containing a photosensitive silver halide salt is exposed and developed to form a metallic silver portion and a light transmissive portion in the exposed portion and the unexposed portion, respectively. 70a or the like may be formed. In addition, you may make it carry | support a conductive metal to a metal silver part by giving a physical development and / or a plating process to a metal silver part further. Regarding the conductive sheet 11 shown in FIG. 2A, the following manufacturing method can be preferably employed. That is, the photosensitive silver halide emulsion layer formed on both surfaces of the transparent substrate 12 is collectively exposed to form the first conductive pattern 70a and the first dummy pattern 76a on one main surface of the transparent substrate 12, A second conductive pattern 70 b is formed on the other main surface of the transparent substrate 12.

この製造方法の具体例を、図34〜図36を参照しながら説明する。   A specific example of this manufacturing method will be described with reference to FIGS.

先ず、図34のステップS101において、メッシュパターン20の出力形成に供される画像データを作成する。このステップは、図24のフローチャートに従って実行される。具体的方法について既に上述したので、ここの説明を割愛する。   First, in step S101 of FIG. 34, image data used for output formation of the mesh pattern 20 is created. This step is executed according to the flowchart of FIG. Since the specific method has already been described above, the description thereof will be omitted.

図34のステップS102において、長尺の感光材料140を作製する。感光材料140は、図35Aに示すように、透明基体12と、該透明基体12の一方の主面に形成された感光性ハロゲン化銀乳剤層(以下、第1感光層142aという)と、透明基体12の他方の主面に形成された感光性ハロゲン化銀乳剤層(以下、第2感光層142bという)とを有する。   In step S102 of FIG. 34, a long photosensitive material 140 is produced. As shown in FIG. 35A, the photosensitive material 140 includes a transparent substrate 12, a photosensitive silver halide emulsion layer (hereinafter referred to as a first photosensitive layer 142a) formed on one main surface of the transparent substrate 12, and a transparent substrate. A photosensitive silver halide emulsion layer (hereinafter referred to as a second photosensitive layer 142b) formed on the other main surface of the substrate 12;

図34のステップS103において、感光材料140を露光する。この露光処理では、第1感光層142aに対し、透明基体12に向かって光を照射して第1感光層142aを第1露光パターンに沿って露光する第1露光処理と、第2感光層142bに対し、透明基体12に向かって光を照射して第2感光層142bを第2露光パターンに沿って露光する第2露光処理とが行われる(両面同時露光)。図34Bの例では、長尺の感光材料140を一方向に搬送しながら、第1感光層142aに第1光144a(平行光)を第1フォトマスク146aを介して照射すると共に、第2感光層142bに第2光144b(平行光)を第2フォトマスク146bを介して照射する。第1光144aは、第1光源148aから出射された光を途中の第1コリメータレンズ150aにて平行光に変換されることにより得られ、第2光144bは、第2光源148bから出射された光を途中の第2コリメータレンズ150bにて平行光に変換されることにより得られる。   In step S103 of FIG. 34, the photosensitive material 140 is exposed. In this exposure process, the first photosensitive layer 142a is irradiated with light toward the transparent substrate 12 to expose the first photosensitive layer 142a along the first exposure pattern, and the second photosensitive layer 142b. On the other hand, a second exposure process is performed in which light is irradiated toward the transparent substrate 12 to expose the second photosensitive layer 142b along the second exposure pattern (double-sided simultaneous exposure). In the example of FIG. 34B, while the long photosensitive material 140 is conveyed in one direction, the first photosensitive layer 142a is irradiated with the first light 144a (parallel light) through the first photomask 146a and the second photosensitive material 140a is irradiated. The layer 142b is irradiated with the second light 144b (parallel light) through the second photomask 146b. The first light 144a is obtained by converting the light emitted from the first light source 148a into parallel light by the first collimator lens 150a, and the second light 144b is emitted from the second light source 148b. It is obtained by converting the light into parallel light by the second collimator lens 150b in the middle.

図35Bの例では、2つの光源(第1光源148a及び第2光源148b)を使用した場合を示しているが、1つの光源から出射した光を光学系を介して分割して、第1光144a及び第2光144bとして第1感光層142a及び第2感光層142bに照射してもよい。   In the example of FIG. 35B, the case where two light sources (first light source 148a and second light source 148b) are used is shown, but the light emitted from one light source is divided through the optical system to generate the first light. The first photosensitive layer 142a and the second photosensitive layer 142b may be irradiated as the 144a and the second light 144b.

そして、図34のステップS104において、露光後の感光材料140を現像処理する。第1感光層142a及び第2感光層142bの露光時間及び現像時間は、第1光源148a及び第2光源148bの種類や現像液の種類等で様々に変化するため、好ましい数値範囲は一概に決定することができないが、現像率が100%となる露光時間及び現像時間に調整されている。   In step S104 in FIG. 34, the exposed photosensitive material 140 is developed. Since the exposure time and development time of the first photosensitive layer 142a and the second photosensitive layer 142b vary depending on the type of the first light source 148a and the second light source 148b, the type of the developer, and the like, the preferable numerical range is generally determined. However, the exposure time and the development time are adjusted so that the development rate becomes 100%.

そして、本実施の形態に係る製造方法のうち、第1露光処理は、図36に示すように、第1感光層142a上に第1フォトマスク146aを例えば密着配置し、該第1フォトマスク146aに対向して配置された第1光源148aから第1フォトマスク146aに向かって第1光144aを照射することで、第1感光層142aを露光する。第1フォトマスク146aは、透明なソーダガラスで形成されたガラス基板と、該ガラス基板上に形成されたマスクパターン(第1露光パターン152a)とで構成されている。従って、この第1露光処理によって、第1感光層142aのうち、第1フォトマスク146aに形成された第1露光パターン152aに沿った部分が露光される。第1感光層142aと第1フォトマスク146aとの間に2〜10μm程度の隙間を設けてもよい。   In the manufacturing method according to the present embodiment, as shown in FIG. 36, in the first exposure process, a first photomask 146a is disposed in close contact with the first photosensitive layer 142a, for example, and the first photomask 146a is arranged. The first photosensitive layer 142a is exposed by irradiating the first light 144a from the first light source 148a disposed opposite to the first photomask 146a. The first photomask 146a includes a glass substrate made of transparent soda glass and a mask pattern (first exposure pattern 152a) formed on the glass substrate. Therefore, the first exposure process exposes a portion of the first photosensitive layer 142a along the first exposure pattern 152a formed on the first photomask 146a. A gap of about 2 to 10 μm may be provided between the first photosensitive layer 142a and the first photomask 146a.

同様に、第2露光処理は、第2感光層142b上に第2フォトマスク146bを例えば密着配置し、該第2フォトマスク146bに対向して配置された第2光源148bから第2フォトマスク146bに向かって第2光144bを照射することで、第2感光層142bを露光する。第2フォトマスク146bは、第1フォトマスク146aと同様に、透明なソーダガラスで形成されたガラス基板と、該ガラス基板上に形成されたマスクパターン(第2露光パターン152b)とで構成されている。従って、この第2露光処理によって、第2感光層142bのうち、第2フォトマスク146bに形成された第2露光パターン152bに沿った部分が露光される。この場合、第2感光層142bと第2フォトマスク146bとの間に2〜10μm程度の隙間を設けてもよい。   Similarly, in the second exposure process, for example, the second photomask 146b is disposed in close contact with the second photosensitive layer 142b, and the second photomask 146b from the second light source 148b disposed to face the second photomask 146b. The second photosensitive layer 142b is exposed by irradiating the second light 144b toward. Similarly to the first photomask 146a, the second photomask 146b includes a glass substrate formed of transparent soda glass and a mask pattern (second exposure pattern 152b) formed on the glass substrate. Yes. Accordingly, the second exposure process exposes a portion of the second photosensitive layer 142b along the second exposure pattern 152b formed on the second photomask 146b. In this case, a gap of about 2 to 10 μm may be provided between the second photosensitive layer 142b and the second photomask 146b.

第1露光処理及び第2露光処理は、第1光源148aからの第1光144aの出射タイミングと、第2光源148bからの第2光144bの出射タイミングを同時にしてもよいし、異ならせてもよい。同時であれば、1度の露光処理で、第1感光層142a及び第2感光層142bを同時に露光することができ、処理時間の短縮化を図ることができる。   In the first exposure process and the second exposure process, the emission timing of the first light 144a from the first light source 148a and the emission timing of the second light 144b from the second light source 148b may be made simultaneously or different. Also good. At the same time, the first photosensitive layer 142a and the second photosensitive layer 142b can be exposed simultaneously by one exposure process, and the processing time can be shortened.

最後に、図34のステップS105において、現像処理後の感光材料140にラミネート処理を施すことで、導電シート11が完成する。具体的には、第1感光層142a側に第1保護層26aを形成するとともに、第2感光層142b側に第2保護層26bを形成する。これにより、第1センサ部60a、第2センサ部60bの保護になる。   Finally, in step S105 of FIG. 34, the conductive sheet 11 is completed by performing a lamination process on the photosensitive material 140 after the development process. Specifically, the first protective layer 26a is formed on the first photosensitive layer 142a side, and the second protective layer 26b is formed on the second photosensitive layer 142b side. Thereby, it becomes protection of the 1st sensor part 60a and the 2nd sensor part 60b.

このように、上述の両面一括露光を用いた製造方法を用いることで、タッチパネル44の電極を容易に形成可能であり、タッチパネル44の薄型化(低背化)を図ることができる。   Thus, by using the manufacturing method using the above-described double-sided batch exposure, the electrodes of the touch panel 44 can be easily formed, and the touch panel 44 can be made thin (low profile).

上述した例は、感光性ハロゲン化銀乳剤層を用いて第1導電パターン70a等を形成する製造方法であるが、その他の製造方法としては、以下のような製造方法がある。   The above-described example is a manufacturing method for forming the first conductive pattern 70a and the like using a photosensitive silver halide emulsion layer. Other manufacturing methods include the following manufacturing methods.

例えば、透明基体12上に形成された銅箔上のフォトレジスト膜を露光、現像処理してレジストパターンを形成し、レジストパターンから露出する銅箔をエッチングすることによって、第1導電パターン70a等を形成するようにしてもよい。あるいは、透明基体12上に金属微粒子を含むペーストを印刷し、ペーストに金属めっきを行うことによって、第1導電パターン70a等を形成するようにしてもよい。あるいは、透明基体12上に、第1導電パターン70a等をスクリーン印刷版又はグラビア印刷版によって印刷形成するようにしてもよい。あるいは、透明基体12上に、第1導電パターン70a等をインクジェットにより形成するようにしてもよい。   For example, the photoresist film on the copper foil formed on the transparent substrate 12 is exposed and developed to form a resist pattern, and the copper foil exposed from the resist pattern is etched to form the first conductive pattern 70a and the like. You may make it form. Alternatively, the first conductive pattern 70a and the like may be formed by printing a paste containing metal fine particles on the transparent substrate 12 and performing metal plating on the paste. Alternatively, the first conductive pattern 70a and the like may be printed on the transparent substrate 12 by a screen printing plate or a gravure printing plate. Or you may make it form the 1st conductive pattern 70a etc. on the transparent base | substrate 12 with an inkjet.

続いて、本実施の形態に係る導電シート11の変形例(第1〜第4変形例)について、図37〜図42を参照しながら説明する。なお、変形例において本実施の形態と同一である構成要素には、同一の参照符号を付して詳細な説明を省略し、以下同様とする。   Subsequently, modified examples (first to fourth modified examples) of the conductive sheet 11 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 37 to 42. In the modification, the same components as those of the present embodiment are denoted by the same reference numerals, detailed description thereof is omitted, and so forth.

[第1変形例]
タッチパネル160は、静電容量方式ではなく、抵抗膜方式(更には、デジタル方式、アナログ方式)に適用されてもよい。以下、図37〜図39を参照しながら、構造及び動作原理について説明する。
[First Modification]
The touch panel 160 may be applied not to the capacitance method but to a resistance film method (further, a digital method or an analog method). Hereinafter, the structure and the principle of operation will be described with reference to FIGS.

デジタル抵抗膜方式のタッチパネル160は、下側パネル162と、下側パネル162に対向して配置された上側パネル164と、下側パネル162及び上側パネル164の周縁部で貼り合わせ、且つ、両者を電気的に絶縁する額縁接着層166と、下側パネル162及び上側パネル164に挟持されたFPC168(Flexible Printed Circuits)とを備える。   The digital resistive touch panel 160 is bonded to the lower panel 162, the upper panel 164 disposed opposite to the lower panel 162, and the peripheral portions of the lower panel 162 and the upper panel 164. A frame adhesive layer 166 that is electrically insulated, and an FPC 168 (Flexible Printed Circuits) sandwiched between the lower panel 162 and the upper panel 164 are provided.

図37及び図38Aに示すように、上側パネル164は、可撓性を有する材質(例えば、樹脂)からなる第1透明基体170aと、その一主面(矢印Z2方向側)に形成された第1センサ部172a及び第1端子配線部174aとを有する。第1センサ部172aは、複数の金属細線16でそれぞれ形成された、2以上の第1導電パターン176aを有する。帯状の第1導電パターン176aは、矢印Y方向にそれぞれ延在し、且つ、矢印X方向に等間隔に配列されている。各第1導電パターン176aは、第1端子配線部174aを介して、FPC168に電気的に接続されている。各第1導電パターン176a間には、帯状の第1ダミーパターン178aがそれぞれ配置されている。   As shown in FIGS. 37 and 38A, the upper panel 164 includes a first transparent base 170a made of a flexible material (for example, resin) and a first surface formed on one main surface (arrow Z2 direction side). 1 sensor portion 172a and first terminal wiring portion 174a. The first sensor unit 172a has two or more first conductive patterns 176a formed by a plurality of fine metal wires 16, respectively. The strip-shaped first conductive patterns 176a extend in the arrow Y direction and are arranged at equal intervals in the arrow X direction. Each first conductive pattern 176a is electrically connected to the FPC 168 via the first terminal wiring portion 174a. Between each 1st conductive pattern 176a, the strip | belt-shaped 1st dummy pattern 178a is each arrange | positioned.

図37及び図38Bに示すように、下側パネル162は、高剛性の材質(例えば、ガラス)からなる第2透明基体170bと、その一主面(矢印Z1方向側)に形成された第2センサ部172b及び第2端子配線部174bと、第2センサ部172b上に所定間隔で配置された多数のドットスペーサ180とを有する。第2センサ部172bは、複数の金属細線16でそれぞれ形成された、2以上の第2導電パターン176bを有する。帯状の第2導電パターン176bは、矢印X方向にそれぞれ延在し、且つ、矢印Y方向に等間隔に配列されている。各第2導電パターン176bは、第2端子配線部174bを介して、FPC168に電気的に接続されている。各第2導電パターン176b間には、帯状の第2ダミーパターン178bがそれぞれ配置されている。   As shown in FIGS. 37 and 38B, the lower panel 162 includes a second transparent base 170b made of a highly rigid material (for example, glass) and a second main surface formed on one main surface (arrow Z1 direction side). The sensor unit 172b and the second terminal wiring unit 174b, and a large number of dot spacers 180 arranged at a predetermined interval on the second sensor unit 172b. The second sensor part 172b has two or more second conductive patterns 176b formed by a plurality of fine metal wires 16, respectively. The strip-shaped second conductive patterns 176b extend in the arrow X direction and are arranged at equal intervals in the arrow Y direction. Each second conductive pattern 176b is electrically connected to the FPC 168 via the second terminal wiring portion 174b. Between each second conductive pattern 176b, a strip-shaped second dummy pattern 178b is arranged.

図37及び図39に示すように、上側パネル164及び下側パネル162を貼り合わせた状態において、各ドットスペーサ180を介して、第1センサ部172aは、第2センサ部172bと所定間隔だけ離間して配されている。そして、各第1導電パターン176aと各第2導電パターン176bがそれぞれ交差することで、略正方形の重複領域182が多数形成される。さらに、各第1ダミーパターン178aと各第2ダミーパターン178bがそれぞれ交差する位置に、ドットスペーサ180がそれぞれ配置されている。すなわち、各重複領域182の四隅に、ドットスペーサ180が1つずつ配置された位置関係にある。   As shown in FIGS. 37 and 39, in a state where the upper panel 164 and the lower panel 162 are bonded together, the first sensor unit 172a is separated from the second sensor unit 172b by a predetermined interval via each dot spacer 180. It is arranged. The first conductive patterns 176a and the second conductive patterns 176b intersect to form a large number of substantially square overlapping regions 182. Further, dot spacers 180 are arranged at positions where the first dummy patterns 178a and the second dummy patterns 178b intersect. That is, the dot spacers 180 are arranged one by one at the four corners of each overlapping region 182.

次いで、タッチパネル160の動作について説明する。入力面(第1透明基体170aの矢印Z1側主面)からの押圧を受けて、可撓性を有する第1透明基体170aが凹状に撓まされる。そうすると、押圧位置に最も近い4つのドットスペーサ180に囲まれた、1つの重複領域182に対応する部位で、第1導電パターン176aの一部が、第2導電パターン176bの一部と接触する。この状態下で、FPC168を介して電圧を印加することで、上側パネル164と下側パネル162との間に電位勾配が発生する。すなわち、FPC168を介して、上側パネル164から電圧を読み取ることで、矢印X方向(X軸)の入力位置が検出可能である。同様に、下側パネル162から電圧を読み取ることで、矢印Y方向(Y軸)の入力位置が検出可能である。   Next, the operation of the touch panel 160 will be described. Upon receiving a pressure from the input surface (the main surface on the arrow Z1 side of the first transparent substrate 170a), the flexible first transparent substrate 170a is bent into a concave shape. Then, a part of the first conductive pattern 176a comes into contact with a part of the second conductive pattern 176b at a part corresponding to one overlapping region 182 surrounded by the four dot spacers 180 closest to the pressing position. Under this state, a potential gradient is generated between the upper panel 164 and the lower panel 162 by applying a voltage via the FPC 168. That is, the input position in the arrow X direction (X axis) can be detected by reading the voltage from the upper panel 164 via the FPC 168. Similarly, by reading the voltage from the lower panel 162, the input position in the arrow Y direction (Y-axis) can be detected.

ここで、第1導電パターン176a(又は第2導電パターン176b)の幅w3は、解像度に応じて種々設定してもよく、例えば1〜5mm程度が好ましい。第1ダミーパターン178a(又は第2ダミーパターン178b)の幅w4は、第1導電パターン176a(又は第2導電パターン176b)との絶縁性及びタッチパネル160の感度の観点から、50〜200μmの範囲が好ましい。   Here, the width w3 of the first conductive pattern 176a (or the second conductive pattern 176b) may be variously set according to the resolution, and is preferably about 1 to 5 mm, for example. The width w4 of the first dummy pattern 178a (or second dummy pattern 178b) is in the range of 50 to 200 μm from the viewpoint of insulation with the first conductive pattern 176a (or second conductive pattern 176b) and sensitivity of the touch panel 160. preferable.

図38A及び図38Bに示すシングルハッチング領域(第1導電パターン176a及び第2導電パターン176b)、並びにダブルハッチング領域(第1ダミーパターン178a及び第2ダミーパターン178b)の一部を拡大すると、図2Aに示すメッシュパターン20の構造が現れることとなる。すなわち、上側パネル164及び下側パネル162を重畳した状態下で、モアレ発生の抑制及びノイズ粒状感の低減を両立可能な配線形状を決定しておくことが好ましい。   When a part of the single hatched region (first conductive pattern 176a and second conductive pattern 176b) and double hatched region (first dummy pattern 178a and second dummy pattern 178b) shown in FIGS. 38A and 38B is enlarged, FIG. The structure of the mesh pattern 20 shown in FIG. That is, it is preferable to determine a wiring shape that can simultaneously suppress generation of moire and reduce noise granularity in a state where the upper panel 164 and the lower panel 162 are overlapped.

[第2変形例]
第1導電パターン192a及び/又は第2導電パターン192bの輪郭形状は、本実施の形態と異なる形状であってもよい。以下、第1感知部72a(図5A参照)及び第2感知部72b(図5B参照)を形成することなく、平面視において巨視的に概略格子状の模様を有する第1センサ部190a及び第2センサ部190bについて、図40A及び図40Bを参照しながら説明する。
[Second Modification]
The outline shape of the first conductive pattern 192a and / or the second conductive pattern 192b may be different from the present embodiment. Hereinafter, the first sensor unit 190a and the second sensor unit having a macroscopically lattice-like pattern in plan view without forming the first sensor unit 72a (see FIG. 5A) and the second sensor unit 72b (see FIG. 5B). The sensor unit 190b will be described with reference to FIGS. 40A and 40B.

図40Aは第1センサ部190a(第1導電部14a、第1ダミー電極部15a)の部分拡大図であり、図40Bは第2センサ部190b(第2導電部14b、第2ダミー電極部15b)の部分拡大図である。説明の便宜のため、図40A及び図40Bにおいて、複数の金属細線16で形成されるメッシュパターン20の輪郭のみを単線で表記している。すなわち、図40A及び図40Bに示す各単線の一部を拡大すると、図2Aに示すメッシュパターン20の構造が現れることとなる。   FIG. 40A is a partially enlarged view of the first sensor unit 190a (first conductive unit 14a, first dummy electrode unit 15a), and FIG. 40B shows the second sensor unit 190b (second conductive unit 14b, second dummy electrode unit 15b). FIG. For convenience of explanation, in FIGS. 40A and 40B, only the outline of the mesh pattern 20 formed by the plurality of fine metal wires 16 is represented by a single line. That is, when a part of each single line shown in FIGS. 40A and 40B is enlarged, the structure of the mesh pattern 20 shown in FIG. 2A appears.

図40Aに示すように、第1センサ部190aに対応する部位には、複数の金属細線16で形成された2以上の第1導電パターン192aを有する。第1導電パターン192aは、矢印Y方向にそれぞれ延在し、且つ、矢印Y方向に直交する矢印X方向に等間隔で配列されている。また、第1導電パターン192aは、第2導電パターン70b(図5B参照)とは異なり、略一定の線幅を有している。各第1導電パターン192aの間には、格子状の第1ダミーパターン194がそれぞれ配置されている。第1ダミーパターン194は、矢印Y方向に延在し且つ等間隔で配置された4本の長線パターン196と、4本の長線パターン196にそれぞれ交差して配置された多数の短線パターン198とから構成される。各短線パターン198はいずれも同じ長さを有しており、4本を繰り返し単位として、矢印Y方向に対し等間隔に並設されている。   As shown in FIG. 40A, a portion corresponding to the first sensor unit 190a has two or more first conductive patterns 192a formed of a plurality of thin metal wires 16. The first conductive patterns 192a extend in the arrow Y direction and are arranged at equal intervals in the arrow X direction orthogonal to the arrow Y direction. Further, unlike the second conductive pattern 70b (see FIG. 5B), the first conductive pattern 192a has a substantially constant line width. A lattice-shaped first dummy pattern 194 is arranged between the first conductive patterns 192a. The first dummy pattern 194 includes four long line patterns 196 extending in the arrow Y direction and arranged at equal intervals, and a plurality of short line patterns 198 arranged so as to intersect the four long line patterns 196 respectively. Composed. Each of the short line patterns 198 has the same length, and is arranged in parallel at equal intervals in the direction of the arrow Y with four as repeating units.

図40Bに示すように、第2センサ部190bに対応する部位には、複数の金属細線16で形成された2以上の第2導電パターン192bを有する。第2導電パターン192bは、矢印X方向にそれぞれ延在し、且つ、矢印X方向に直交する矢印Y方向に等間隔で配列されている。また、第2導電パターン192bは、第1導電パターン70a(図5A参照)とは異なり、略一定の線幅を有している。各第2導電パターン192bの間には、矢印X方向に伸びる直線状の第2ダミーパターン200が多数配置されている。各第2ダミーパターン200はいずれも同じ長さを有しており、4本を繰り返し単位として、矢印Y方向に対し等間隔に並設されている。   As shown in FIG. 40B, a portion corresponding to the second sensor portion 190b has two or more second conductive patterns 192b formed of a plurality of fine metal wires 16. The second conductive patterns 192b extend in the arrow X direction, and are arranged at equal intervals in the arrow Y direction orthogonal to the arrow X direction. Further, unlike the first conductive pattern 70a (see FIG. 5A), the second conductive pattern 192b has a substantially constant line width. A large number of linear second dummy patterns 200 extending in the direction of the arrow X are arranged between the second conductive patterns 192b. Each of the second dummy patterns 200 has the same length, and is arranged in parallel at equal intervals in the direction of the arrow Y with four as repeating units.

すなわち、平面視において、第1センサ部190a(図40A参照)及び第2センサ部190b(図40B参照)に形成される模様が相互に補完することで、格子要素202を単位とする格子形状が完成する。このように構成しても、本発明と同様の作用効果が得られる。   That is, in a plan view, the pattern formed on the first sensor unit 190a (see FIG. 40A) and the second sensor unit 190b (see FIG. 40B) complement each other, so that the lattice shape with the lattice element 202 as a unit is formed. Complete. Even if comprised in this way, the effect similar to this invention is acquired.

[第3変形例]
導電シート210は、2枚のシート部材(第1シート部材212a及び第2シート部材212b)から構成されてもよい。
[Third Modification]
The conductive sheet 210 may be composed of two sheet members (a first sheet member 212a and a second sheet member 212b).

図41に示すように、導電シート210は、下方から順番に、第2シート部材212b及び第1シート部材212aを積層して構成されている。第1シート部材212aは、第1透明基体12aの一主面(矢印s1方向側)に形成された第1導電部14a及び第1ダミー電極部15aを有する。第2シート部材212bは、第2透明基体12bの一主面(矢印s1方向側)に形成された第2導電部14bを有する。すなわち、第1透明基体12aの一主面(矢印s1方向側)上に第1導電部14a等が形成され、且つ、第1透明基体12aの他主面(矢印s2方向側)上に第2導電部14b等が形成された一形態であると言える。   As shown in FIG. 41, the conductive sheet 210 is configured by laminating a second sheet member 212b and a first sheet member 212a in order from below. The first sheet member 212a includes a first conductive portion 14a and a first dummy electrode portion 15a formed on one main surface (arrow s1 direction side) of the first transparent base 12a. The second sheet member 212b has a second conductive portion 14b formed on one main surface (arrow s1 direction side) of the second transparent base 12b. That is, the first conductive portion 14a and the like are formed on one main surface (arrow s1 direction side) of the first transparent substrate 12a, and the second main surface (arrow s2 direction side) of the first transparent substrate 12a is second. It can be said that this is a form in which the conductive portion 14b and the like are formed.

このように導電シート210を構成しても、本実施の形態と同様の作用効果が得られる。なお、第1シート部材212aと第2シート部材212bとの間に他の層が介在してもよい。また、第1導電部14aと第2導電部14bとが、あるいは、第1ダミー電極部15aと第2導電部14bとが絶縁状態であれば、それらが対向して配置されてもよい。   Even if the conductive sheet 210 is configured in this manner, the same effects as those of the present embodiment can be obtained. Another layer may be interposed between the first sheet member 212a and the second sheet member 212b. Further, if the first conductive portion 14a and the second conductive portion 14b, or if the first dummy electrode portion 15a and the second conductive portion 14b are in an insulated state, they may be arranged to face each other.

[第4変形例]
導電シート220には、片面側のみならず、両面側にダミー電極部(第1ダミー電極部15a及び第2ダミー電極部15b)を設けてもよい。
[Fourth Modification]
The conductive sheet 220 may be provided with dummy electrode portions (the first dummy electrode portion 15a and the second dummy electrode portion 15b) not only on one side but also on both sides.

図42に示すように、透明基体12の他方の主面(矢印s2方向側)には、第2導電部14bのみならず、第2ダミー電極部15bが形成されている。ここで、第2ダミー電極部15bは、第2導電部14bと所定間隔だけ離間して配置されている。すなわち、第2ダミー電極部15bは、第2導電部14bと電気的に絶縁された状態下にある。   As shown in FIG. 42, not only the second conductive portion 14b but also the second dummy electrode portion 15b is formed on the other main surface (arrow s2 direction side) of the transparent substrate 12. Here, the second dummy electrode portion 15b is arranged apart from the second conductive portion 14b by a predetermined interval. That is, the second dummy electrode portion 15b is in a state of being electrically insulated from the second conductive portion 14b.

このように、透明基体12の両面側にダミー電極部を設けることで、表示装置40(図4参照)に導電シート220を組み込む際、表裏いずれの配置であっても本発明の作用効果が得られる。逆に、生産コストの観点から、透明基体12の両面にダミー電極部を設けない形態を採ってもよい。   As described above, by providing the dummy electrode portions on both sides of the transparent substrate 12, when the conductive sheet 220 is incorporated into the display device 40 (see FIG. 4), the effects of the present invention can be obtained regardless of whether the conductive sheet 220 is placed on the front or back side. It is done. On the contrary, from the viewpoint of production cost, a form in which the dummy electrode portions are not provided on both surfaces of the transparent substrate 12 may be adopted.

本実施の形態に係る導電シート10、11の製造方法は、感光材料と現像処理の形態によって、次の3通りの形態が含まれる。   The manufacturing method of the conductive sheets 10 and 11 according to the present embodiment includes the following three modes depending on the mode of the photosensitive material and the development processing.

(1) 物理現像核を含まない感光性ハロゲン化銀黒白感光材料を化学現像又は熱現像して金属銀部を該感光材料上に形成させる態様。 (1) A mode in which a photosensitive silver halide black-and-white photosensitive material not containing physical development nuclei is chemically developed or thermally developed to form a metallic silver portion on the photosensitive material.

(2) 物理現像核をハロゲン化銀乳剤層中に含む感光性ハロゲン化銀黒白感光材料を溶解物理現像して金属銀部を該感光材料上に形成させる態様。 (2) An embodiment in which a photosensitive silver halide black-and-white photosensitive material containing physical development nuclei in a silver halide emulsion layer is dissolved and physically developed to form a metallic silver portion on the photosensitive material.

(3) 物理現像核を含まない感光性ハロゲン化銀黒白感光材料と、物理現像核を含む非感光性層を有する受像シートを重ね合わせて拡散転写現像して金属銀部を非感光性受像シート上に形成させる態様。 (3) A photosensitive silver halide black-and-white photosensitive material containing no physical development nuclei and an image receiving sheet having a non-photosensitive layer containing physical development nuclei are overlapped and developed by diffusion transfer, and the metallic silver portion is non-photosensitive image-receiving sheet. Form formed on top.

上記(1)の態様は、一体型黒白現像タイプであり、感光材料上に透光性導電性膜が形成される。得られる現像銀は化学現像銀又は熱現像銀であり、高比表面のフィラメントである点で後続するめっき又は物理現像過程で活性が高い。   The aspect (1) is an integrated black-and-white development type, and a light-transmitting conductive film is formed on a photosensitive material. The resulting developed silver is chemically developed silver or heat developed silver, and is highly active in the subsequent plating or physical development process in that it is a filament with a high specific surface.

上記(2)の態様は、露光部では、物理現像核近縁のハロゲン化銀粒子が溶解されて現像核上に沈積することによって感光材料上に光透過性導電性膜等の透光性導電性膜が形成される。これも一体型黒白現像タイプである。現像作用が、物理現像核上への析出であるので高活性であるが、現像銀は比表面の小さい球形である。   In the above aspect (2), the light-transmitting conductive film such as a light-transmitting conductive film is formed on the photosensitive material by dissolving silver halide grains close to the physical development nucleus and depositing on the development nucleus in the exposed portion. A characteristic film is formed. This is also an integrated black-and-white development type. Although the development action is precipitation on the physical development nuclei, it is highly active, but developed silver is a sphere with a small specific surface.

上記(3)の態様は、未露光部においてハロゲン化銀粒子が溶解されて拡散して受像シート上の現像核上に沈積することによって受像シート上に光透過性導電性膜等の透光性導電性膜が形成される。いわゆるセパレートタイプであって、受像シートを感光材料から剥離して用いる態様である。   In the above aspect (3), the silver halide grains are dissolved and diffused in the unexposed area and deposited on the development nuclei on the image receiving sheet, whereby a light transmitting conductive film or the like is formed on the image receiving sheet. A conductive film is formed. This is a so-called separate type in which the image receiving sheet is peeled off from the photosensitive material.

いずれの態様もネガ型現像処理及び反転現像処理のいずれの現像を選択することもできる(拡散転写方式の場合は、感光材料としてオートポジ型感光材料を用いることによってネガ型現像処理が可能となる)。   In either embodiment, either negative development processing or reversal development processing can be selected (in the case of the diffusion transfer method, negative development processing is possible by using an auto-positive type photosensitive material as the photosensitive material). .

ここでいう化学現像、熱現像、溶解物理現像、拡散転写現像は、当業界で通常用いられている用語どおりの意味であり、写真化学の一般教科書、例えば菊地真一著「写真化学」(共立出版社、1955年刊行)、C.E.K.Mees編「The Theory of Photographic Processes, 4th ed.」(Mcmillan社、1977年刊行)に解説されている。本件は液処理に係る発明であるが、その他の現像方式として熱現像方式を適用する技術も参考にすることができる。例えば、特開2004−184693号、同2004−334077号、同2005−010752号の各公報、特願2004−244080号、同2004−085655号の各明細書に記載された技術を適用することができる。   The chemical development, thermal development, dissolution physical development, and diffusion transfer development mentioned here have the same meanings as are commonly used in the industry, and are general textbooks of photographic chemistry such as Shinichi Kikuchi, “Photochemistry” (Kyoritsu Publishing) (Published in 1955), C.I. E. K. It is described in "The Theory of Photographic Processes, 4th ed." Edited by Mees (Mcmillan, 1977). Although this case is an invention related to liquid processing, a technique of applying a thermal development system as another development system can also be referred to. For example, the techniques described in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2004-184893, 2004-334077, and 2005-010752, and Japanese Patent Application Nos. 2004-244080 and 2004-085655 can be applied. it can.

ここで、本実施の形態に係る導電シート10、11の各層の構成について、以下に詳細に説明する。   Here, the structure of each layer of the conductive sheets 10 and 11 according to the present embodiment will be described in detail below.

[透明基体12]
透明基体12としては、プラスチックフイルム、プラスチック板、ガラス板等を挙げることができる。
[Transparent substrate 12]
Examples of the transparent substrate 12 include a plastic film, a plastic plate, and a glass plate.

上記プラスチックフイルム及びプラスチック板の原料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)を含むポリエステル類、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン(PS)、トリアセチルセルロース(TAC)等を用いることができる。   Examples of the raw material for the plastic film and the plastic plate include polyethylene terephthalate (PET), polyesters including polyethylene naphthalate (PEN), polymethyl methacrylate (PMMA), polypropylene (PP), polystyrene (PS), and triacetyl cellulose. (TAC) or the like can be used.

透明基体12としては、融点が約290℃以下であるプラスチックフイルム、又はプラスチック板が好ましく、特に、光透過性や加工性等の観点から、PETが好ましい。   As the transparent substrate 12, a plastic film or a plastic plate having a melting point of about 290 ° C. or less is preferable, and PET is particularly preferable from the viewpoints of light transmittance, workability, and the like.

[銀塩乳剤層]
第1積層部28a及び第2積層部28bの金属細線16となる銀塩乳剤層は、銀塩とバインダの他、溶媒や染料等の添加剤を含有する。
[Silver salt emulsion layer]
The silver salt emulsion layer to be the fine metal wires 16 of the first laminated portion 28a and the second laminated portion 28b contains additives such as a solvent and a dye in addition to the silver salt and the binder.

<1.銀塩>
本実施の形態に用いられる銀塩としては、ハロゲン化銀等の無機銀塩及び酢酸銀等の有機銀塩が挙げられる。本実施の形態においては、光センサとしての特性に優れるハロゲン化銀を用いることが好ましい。
<1. Silver salt>
Examples of the silver salt used in the present embodiment include inorganic silver salts such as silver halide and organic silver salts such as silver acetate. In the present embodiment, it is preferable to use silver halide having excellent characteristics as an optical sensor.

銀塩乳剤層の塗布銀量(銀塩の塗布量)は、銀に換算して1〜30g/m2が好ましく、1〜25g/m2がより好ましく、5〜20g/m2がさらに好ましい。この塗布銀量を上記範囲とすることで、導電シート10、11とした場合に所望の表面抵抗を得ることができる。 Silver coating amount of silver salt emulsion layer (coating amount of silver salt) is preferably from 1 to 30 g / m 2 in terms of silver, more preferably 1 to 25 g / m 2, more preferably 5 to 20 g / m 2 . By setting the coated silver amount within the above range, a desired surface resistance can be obtained when the conductive sheets 10 and 11 are used.

<2.バインダ>
本実施の形態に用いられるバインダとしては、例えば、ゼラチン、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリビニルピロリドン(PVP)、澱粉等の多糖類、セルロース及びその誘導体、ポリエチレンオキサイド、ポリビニルアミン、キトサン、ポリリジン、ポリアクリル酸、ポリアルギン酸、ポリヒアルロン酸、カルボキシセルロース等が挙げられる。これらは、官能基のイオン性によって中性、陰イオン性、陽イオン性の性質を有する。
<2. Binder>
Examples of the binder used in the present embodiment include gelatin, polyvinyl alcohol (PVA), polyvinyl pyrrolidone (PVP), polysaccharides such as starch, cellulose and derivatives thereof, polyethylene oxide, polyvinylamine, chitosan, polylysine, and polyacryl. Examples include acid, polyalginic acid, polyhyaluronic acid, carboxycellulose and the like. These have neutral, anionic, and cationic properties depending on the ionicity of the functional group.

本実施の形態の銀塩乳剤層中に含有されるバインダの含有量は、特に限定されず、分散性と密着性を発揮し得る範囲で適宜決定することができる。銀塩乳剤層中のバインダの含有量は、銀/バインダ体積比で1/4以上が好ましく、1/2以上がより好ましい。銀/バインダ体積比は、100/1以下が好ましく、50/1以下がより好ましい。また、銀/バインダ体積比は1/1〜4/1であることがさらに好ましい。1/1〜3/1であることが最も好ましい。銀塩乳剤層中の銀/バインダ体積比をこの範囲にすることで、塗布銀量を調整した場合でも抵抗値のばらつきを抑制し、均一な表面抵抗を有する導電シート10を得ることができる。なお、銀/バインダ体積比は、原料のハロゲン化銀量/バインダ量(重量比)を銀量/バインダ量(重量比)に変換し、さらに、銀量/バインダ量(重量比)を銀量/バインダ量(体積比)に変換することで求めることができる。   The content of the binder contained in the silver salt emulsion layer of the present embodiment is not particularly limited, and can be appropriately determined within a range in which dispersibility and adhesion can be exhibited. The content of the binder in the silver salt emulsion layer is preferably 1/4 or more, and more preferably 1/2 or more, in terms of a silver / binder volume ratio. The silver / binder volume ratio is preferably 100/1 or less, and more preferably 50/1 or less. The silver / binder volume ratio is more preferably 1/1 to 4/1. Most preferably, it is 1/1 to 3/1. By setting the silver / binder volume ratio in the silver salt emulsion layer within this range, even when the coating silver amount is adjusted, variation in the resistance value can be suppressed, and the conductive sheet 10 having a uniform surface resistance can be obtained. Note that the silver / binder volume ratio is obtained by converting the amount of silver halide / binder amount (weight ratio) of the raw material into the amount of silver / binder amount (weight ratio), and further converting the silver amount / binder amount (weight ratio) to the silver amount. / It can be determined by converting to the amount of binder (volume ratio).

<3.溶媒>
銀塩乳剤層の形成に用いられる溶媒は、特に限定されるものではないが、例えば、水、有機溶媒(例えば、メタノール等のアルコール類、アセトン等のケトン類、ホルムアミド等のアミド類、ジメチルスルホキシド等のスルホキシド類、酢酸エチル等のエステル類、エーテル類等)、イオン性液体、及びこれらの混合溶媒を挙げることができる。
<3. Solvent>
The solvent used for forming the silver salt emulsion layer is not particularly limited. For example, water, organic solvents (for example, alcohols such as methanol, ketones such as acetone, amides such as formamide, dimethyl sulfoxide, etc. Sulphoxides such as, esters such as ethyl acetate, ethers, etc.), ionic liquids, and mixed solvents thereof.

<4.その他の添加剤>
本実施の形態に用いられる各種添加剤に関しては、特に制限は無く、公知のものを好ましく用いることができる。
<4. Other additives>
There are no particular restrictions on the various additives used in the present embodiment, and known ones can be preferably used.

[第1保護層26a、第2保護層26b]
第1保護層26a及び第2保護層26bとしては、透明基体12と同様に、プラスチックフイルム、プラスチック板、ガラス板等を挙げることができる。上記プラスチックフイルム及びプラスチック板の原料としては、例えば、PET、PEN、PMMA、PP、PS、TAC等を用いることができる。
[First protective layer 26a, second protective layer 26b]
As the first protective layer 26 a and the second protective layer 26 b, a plastic film, a plastic plate, a glass plate, and the like can be used as in the transparent substrate 12. As raw materials for the plastic film and the plastic plate, for example, PET, PEN, PMMA, PP, PS, TAC and the like can be used.

第1保護層26a及び第2保護層26bの厚みは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。例えば、5〜100μmが好ましく、8〜50μmがより好ましく、10〜30μmが特に好ましい。   The thickness of the 1st protective layer 26a and the 2nd protective layer 26b does not have a restriction | limiting in particular, According to the objective, it can select suitably. For example, 5 to 100 μm is preferable, 8 to 50 μm is more preferable, and 10 to 30 μm is particularly preferable.

次に、導電シート10、11の作製方法の各工程について説明する。   Next, each process of the manufacturing method of the electrically conductive sheets 10 and 11 is demonstrated.

[露光]
本実施の形態では、第1導電部14a、第2導電部14b及び第1ダミー電極部15a等を印刷方式によって施す場合を含むが、印刷方式以外は、第1導電部14a、第2導電部14b及び第1ダミー電極部15a等を露光と現像等によって形成する。すなわち、透明基体12上に設けられた銀塩含有層を有する感光材料又はフォトリソグラフィ用フォトポリマーを塗工した感光材料への露光を行う。露光は、電磁波を用いて行うことができる。電磁波としては、例えば、可視光線、紫外線等の光、X線等の放射線等が挙げられる。さらに露光には波長分布を有する光源を利用してもよく、特定の波長の光源を用いてもよい。
[exposure]
The present embodiment includes a case where the first conductive portion 14a, the second conductive portion 14b, the first dummy electrode portion 15a, and the like are applied by a printing method, but the first conductive portion 14a and the second conductive portion are other than the printing method. 14b and the first dummy electrode portion 15a are formed by exposure and development. That is, exposure is performed on a photosensitive material having a silver salt-containing layer provided on the transparent substrate 12 or a photosensitive material coated with a photopolymer for photolithography. The exposure can be performed using electromagnetic waves. Examples of the electromagnetic wave include light such as visible light and ultraviolet light, and radiation such as X-rays. Furthermore, a light source having a wavelength distribution may be used for exposure, or a light source having a specific wavelength may be used.

[現像処理]
本実施の形態では、乳剤層を露光した後、さらに現像処理が行われる。現像処理は、銀塩写真フイルムや印画紙、印刷製版用フイルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に用いられる通常の現像処理の技術を用いることができる。
[Development processing]
In this embodiment, after the emulsion layer is exposed, development processing is further performed. The development processing can be performed by a normal development processing technique used for silver salt photographic film, photographic paper, printing plate-making film, photomask emulsion mask, and the like.

本発明における現像処理は、未露光部分の銀塩を除去して安定化させる目的で行われる定着処理を含むことができる。本発明における定着処理は、銀塩写真フイルムや印画紙、印刷製版用フイルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に用いられる定着処理の技術を用いることができる。   The development processing in the present invention can include a fixing processing performed for the purpose of removing and stabilizing the silver salt in the unexposed portion. For the fixing process in the present invention, a fixing process technique used for silver salt photographic film, photographic paper, film for printing plate making, emulsion mask for photomask, and the like can be used.

現像、定着処理を施した感光材料は、水洗処理や安定化処理を施されるのが好ましい。   The light-sensitive material that has been subjected to development and fixing processing is preferably subjected to water washing treatment or stabilization treatment.

現像処理後の露光部に含まれる金属銀部の質量は、露光前の露光部に含まれていた銀の質量に対して50質量%以上の含有率であることが好ましく、80質量%以上であることがさらに好ましい。露光部に含まれる銀の質量が露光前の露光部に含まれていた銀の質量に対して50質量%以上であれば、高い導電性を得ることができるため好ましい。   The mass of the metallic silver part contained in the exposed part after the development treatment is preferably a content of 50% by mass or more with respect to the mass of silver contained in the exposed part before the exposure, and is 80% by mass or more. More preferably it is. If the mass of silver contained in the exposed portion is 50% by mass or more based on the mass of silver contained in the exposed portion before exposure, it is preferable because high conductivity can be obtained.

以上の工程を経て、導電シート10、11は得られる。現像処理後の導電シート10、11に対しては、さらにカレンダー処理を行ってもよく、カレンダー処理により所望の表面抵抗に調整することができる。得られた導電シート10、11の表面抵抗は0.1〜300オーム/sq.の範囲にあることが好ましい。   Through the above steps, the conductive sheets 10 and 11 are obtained. The conductive sheets 10 and 11 after the development process may be further subjected to a calendar process, and can be adjusted to a desired surface resistance by the calendar process. The surface resistance of the obtained conductive sheets 10 and 11 is 0.1 to 300 ohm / sq. It is preferable that it exists in the range.

なお、表面抵抗は、導電シート10、11の用途によって異なる。例えば、タッチパネル用途の場合には、1〜70オーム/sq.であることが好ましく、5〜50オーム/sq.であることがより好ましく、5〜30オーム/sq.であることがさらに好ましい。また、電磁波シールド用途の場合には、10オーム/sq.以下であることが好ましく、0.1〜3オーム/sq.であることがより好ましい。   The surface resistance varies depending on the use of the conductive sheets 10 and 11. For example, in the case of a touch panel application, 1 to 70 ohm / sq. It is preferable that it is 5-50 ohm / sq. More preferably, it is 5-30 ohm / sq. More preferably. In the case of electromagnetic wave shielding use, 10 ohm / sq. Or less, preferably 0.1 to 3 ohm / sq. It is more preferable that

[物理現像及びめっき処理]
本実施の形態では、露光及び現像処理により形成された金属銀部の導電性を向上させる目的で、金属銀部に導電性金属粒子を担持させるための物理現像及び/又はめっき処理を行ってもよい。本発明では物理現像又はめっき処理のいずれか一方のみで導電性金属粒子を金属銀部に担持させてもよく、物理現像とめっき処理とを組み合わせて導電性金属粒子を金属銀部に担持させてもよい。なお、金属銀部に物理現像及び/又はめっき処理を施したものを含めて「導電性金属部」と称する。
[Physical development and plating]
In the present embodiment, physical development and / or plating treatment for supporting conductive metal particles on the metal silver portion may be performed for the purpose of improving the conductivity of the metal silver portion formed by exposure and development processing. Good. In the present invention, the conductive metal particles may be supported on the metallic silver portion by only one of physical development and plating treatment, or the conductive metal particles are supported on the metallic silver portion by combining physical development and plating treatment. Also good. In addition, the thing which performed the physical development and / or the plating process to the metal silver part is called "conductive metal part".

本実施の形態における「物理現像」とは、金属や金属化合物の核上に、銀イオン等の金属イオンを還元剤で還元して金属粒子を析出させることをいう。この物理現象は、インスタントB&Wフイルム、インスタントスライドフイルムや、印刷版製造等に利用されており、本発明ではその技術を用いることができる。また、物理現像は、露光後の現像処理と同時に行っても、現像処理後に別途行ってもよい。   “Physical development” in the present embodiment means that metal particles such as silver ions are reduced by a reducing agent on metal or metal compound nuclei to deposit metal particles. This physical phenomenon is used for instant B & W film, instant slide film, printing plate manufacturing, and the like, and the technology can be used in the present invention. Further, the physical development may be performed simultaneously with the development processing after exposure or separately after the development processing.

本実施の形態において、めっき処理は、無電解めっき(化学還元めっきや置換めっき)、電解めっき、又は無電解めっきと電解めっきの両方を用いることができる。本実施の形態における無電解めっきは、公知の無電解めっき技術を用いることができ、例えば、プリント配線板等で用いられている無電解めっき技術を用いることができ、無電解めっきは無電解銅めっきであることが好ましい。   In the present embodiment, the plating treatment can use electroless plating (chemical reduction plating or displacement plating), electrolytic plating, or both electroless plating and electrolytic plating. For the electroless plating in the present embodiment, a known electroless plating technique can be used, for example, an electroless plating technique used in a printed wiring board or the like can be used. Plating is preferred.

なお、本実施の形態に係る導電シート10、11の製造方法では、めっき等の工程は必ずしも行う必要はない。本製造方法では銀塩乳剤層の塗布銀量、銀/バインダ体積比を調整することで所望の表面抵抗を得ることができるからである。   In addition, in the manufacturing method of the conductive sheets 10 and 11 according to the present embodiment, a process such as plating is not necessarily performed. This is because, in this production method, a desired surface resistance can be obtained by adjusting the amount of silver coated on the silver salt emulsion layer and the silver / binder volume ratio.

[酸化処理]
本実施の形態では、現像処理後の金属銀部、並びに、物理現像及び/又はめっき処理によって形成された導電性金属部には、酸化処理を施すことが好ましい。酸化処理を行うことにより、例えば、光透過性部に金属が僅かに沈着していた場合に、該金属を除去し、光透過性部の透過性を略100%にすることができる。
[Oxidation treatment]
In the present embodiment, it is preferable to subject the metallic silver portion after the development treatment and the conductive metal portion formed by physical development and / or plating treatment to oxidation treatment. By performing the oxidation treatment, for example, when a metal is slightly deposited on the light transmissive portion, the metal can be removed and the light transmissive portion can be made approximately 100% transparent.

[現像処理後の硬膜処理]
銀塩乳剤層に対して現像処理を行った後に、硬膜剤に浸漬して硬膜処理を行うことが好ましい。硬膜剤としては、例えば、グルタルアルデヒド、アジポアルデヒド、2,3−ジヒドロキシ−1,4−ジオキサン等のジアルデヒド類及びほう酸等の特開平2−141279号公報に記載のものを挙げることができる。
[Hardening after development]
It is preferable to perform a film hardening process by immersing the film in a hardener after the silver salt emulsion layer is developed. Examples of the hardener include dialdehydes such as glutaraldehyde, adipaldehyde, 2,3-dihydroxy-1,4-dioxane, and those described in JP-A-2-141279 such as boric acid. it can.

本実施の形態に係る導電シート10、11には、反射防止層やハードコート層等の機能層を付与してもよい。   The conductive sheets 10 and 11 according to the present embodiment may be provided with a functional layer such as an antireflection layer or a hard coat layer.

[カレンダー処理]
現像処理済みの金属銀部にカレンダー処理を施して平滑化するようにしてもよい。これによって金属銀部の導電性が顕著に増大する。カレンダー処理は、カレンダーロールにより行うことができる。カレンダーロールは通常一対のロールからなる。
[Calendar processing]
The developed silver metal portion may be smoothed by calendaring. This significantly increases the conductivity of the metallic silver part. The calendar process can be performed by a calendar roll. The calendar roll usually consists of a pair of rolls.

カレンダー処理に用いられるロールとしては、エポキシ、ポリイミド、ポリアミド、ポリイミドアミド等のプラスチックロール又は金属ロールが用いられる。特に、両面に乳剤層を有する場合は、金属ロール同士で処理することが好ましい。片面に乳剤層を有する場合は、シワ防止の点から金属ロールとプラスチックロールの組み合わせとすることもできる。線圧力の下限値は、1960N/cm(200kgf/cm、面圧に換算すると699.4kgf/cm2)以上、さらに好ましくは2940N/cm(300kgf/cm、面圧に換算すると935.8kgf/cm2)以上である。線圧力の上限値は、6880N/cm(700kgf/cm)以下である。 As a roll used for the calendar process, a plastic roll or a metal roll such as epoxy, polyimide, polyamide, polyimide amide or the like is used. In particular, when emulsion layers are provided on both sides, it is preferable to treat with metal rolls. When an emulsion layer is provided on one side, a combination of a metal roll and a plastic roll can be used from the viewpoint of preventing wrinkles. The lower limit of the linear pressure is 1960 N / cm (200 kgf / cm, converted to a surface pressure of 699.4 kgf / cm 2 ) or more, more preferably 2940 N / cm (300 kgf / cm, converted to a surface pressure of 935.8 kgf / cm). 2 ) That's it. The upper limit of the linear pressure is 6880 N / cm (700 kgf / cm) or less.

カレンダーロールで代表される平滑化処理の適用温度は10℃(温調なし)〜100℃が好ましく、より好ましい温度は、金属メッシュパターンや金属配線パターンの画線密度や形状、バインダ種によって異なるが、おおよそ10℃(温調なし)〜50℃の範囲にある。   The application temperature of the smoothing treatment represented by the calender roll is preferably 10 ° C. (no temperature control) to 100 ° C., and the more preferable temperature varies depending on the line density and shape of the metal mesh pattern and metal wiring pattern, and the binder type. , Approximately 10 ° C. (no temperature control) to 50 ° C.

[ラミネート処理]
第1センサ部60a、第2センサ部60bの保護のため、銀塩乳剤層上に保護層を形成してもよい。保護層と銀塩乳剤層との間に第1接着層24a(又は第2接着層24b)を設けることで、接着性の調整が自在となる。
[Lamination process]
In order to protect the first sensor unit 60a and the second sensor unit 60b, a protective layer may be formed on the silver salt emulsion layer. By providing the first adhesive layer 24a (or the second adhesive layer 24b) between the protective layer and the silver salt emulsion layer, the adhesiveness can be adjusted.

第1接着層24a及び第2接着層24bの材料として、ウェットラミネート接着剤、ドライラミネート接着剤、又はホットメルト接着剤等が挙げられる。特に、接着可能な材料の種類が豊富であり、且つ、貼り合わせ速度も早いドライラミネート接着剤が好ましい。ドライラミネート接着剤として、具体的には、アミノ樹脂接着剤、フェノール樹脂接着剤、クロロプレンゴム接着剤、ニトリルゴム接着剤、エポキシ接着剤、ウレタン接着剤、反応型アクリル接着剤等を用いることができる。その中でも、アクリル系低酸価接着剤である住友スリーエム社製のOCA(Optical Clear Adhesive;登録商標)を用いることが好ましい。   Examples of the material of the first adhesive layer 24a and the second adhesive layer 24b include a wet laminate adhesive, a dry laminate adhesive, or a hot melt adhesive. In particular, a dry laminating adhesive having a wide variety of materials that can be bonded and having a high bonding speed is preferable. Specifically, an amino resin adhesive, a phenol resin adhesive, a chloroprene rubber adhesive, a nitrile rubber adhesive, an epoxy adhesive, a urethane adhesive, a reactive acrylic adhesive, or the like can be used as the dry laminate adhesive. . Among them, it is preferable to use OCA (Optical Clear Adhesive; registered trademark) manufactured by Sumitomo 3M Limited, which is an acrylic low acid value adhesive.

乾燥条件は、30〜150℃の温度環境下で、1〜30分間であることが好ましい。乾燥温度は、50〜120℃が特に好ましい。   The drying conditions are preferably 1 to 30 minutes under a temperature environment of 30 to 150 ° C. The drying temperature is particularly preferably 50 to 120 ° C.

また、上記した接着層に代替して、透明基体12及び保護層の少なくともいずれかを表面処理することにより、層間接着力を調整することができる。銀塩乳剤層との接着力を高めるため、例えば、コロナ放電処理、火炎処理、紫外線照射処理、高周波照射処理、グロー放電照射処理、活性プラズマ照射処理、レーザ光線照射処理等を施してもよい。   Further, in place of the above-described adhesive layer, the interlayer adhesive force can be adjusted by surface-treating at least one of the transparent substrate 12 and the protective layer. In order to increase the adhesive strength with the silver salt emulsion layer, for example, corona discharge treatment, flame treatment, ultraviolet irradiation treatment, high frequency irradiation treatment, glow discharge irradiation treatment, active plasma irradiation treatment, laser beam irradiation treatment, etc. may be performed.

なお、本発明は、下記表1及び表2に記載の公開公報及び国際公開パンフレットの技術と適宜組み合わせて使用することができる。「特開」、「号公報」、「号パンフレット」等の表記は省略する。   In addition, this invention can be used in combination with the technique of the publication | presentation gazette and international publication pamphlet which are described in following Table 1 and Table 2 suitably. Notations such as “JP,” “Gazette” and “No. Pamphlet” are omitted.

以下に、本発明の実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。なお、以下の実施例に示される材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更することができる。従って、本発明の範囲は以下に示す具体例により限定的に解釈されるべきものではない。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples of the present invention. In addition, the material, usage-amount, ratio, processing content, processing procedure, etc. which are shown in the following Examples can be changed suitably unless it deviates from the meaning of this invention. Therefore, the scope of the present invention should not be construed as being limited by the specific examples shown below.

この実施例では、実施例1〜21、並びに比較例1、及び2に係る導電シート11について、これらを組み込んだ表示装置40での視認性(モアレ、ノイズ粒状感及び色ノイズ)をそれぞれ評価した。   In this example, for the conductive sheets 11 according to Examples 1 to 21 and Comparative Examples 1 and 2, the visibility (moire, noise granularity, and color noise) on the display device 40 incorporating them was evaluated. .

<実施例1〜21、比較例1、2>
(ハロゲン化銀感光材料)
水媒体中のAg150gに対してゼラチン10.0gを含む、球相当径平均0.1μmの沃臭塩化銀粒子(I=0.2モル%、Br=40モル%)を含有する乳剤を調製した。
<Examples 1 to 21, Comparative Examples 1 and 2>
(Silver halide photosensitive material)
An emulsion containing 10.0 g of gelatin per 150 g of Ag in an aqueous medium and containing silver iodobromochloride grains having an average equivalent sphere diameter of 0.1 μm (I = 0.2 mol%, Br = 40 mol%) was prepared. .

また、この乳剤中にはK3Rh2Br9及びK2IrCl6を濃度が10-7(モル/モル銀)になるように添加し、臭化銀粒子にRhイオンとIrイオンをドープした。この乳剤にNa2PdCl4を添加し、さらに塩化金酸とチオ硫酸ナトリウムを用いて金硫黄増感を行った後、ゼラチン硬膜剤と共に、銀の塗布量が10g/m2となるように透明基体(ここでは、屈折率n0=1.64であるポリエチレンテレフタレート(PET))上に塗布した。この際、Ag/ゼラチン体積比は2/1とした。 In this emulsion, K 3 Rh 2 Br 9 and K 2 IrCl 6 were added so as to have a concentration of 10 −7 (mol / mol silver), and silver bromide grains were doped with Rh ions and Ir ions. . After adding Na 2 PdCl 4 to this emulsion and further performing gold-sulfur sensitization with chloroauric acid and sodium thiosulfate, together with the gelatin hardener, the coating amount of silver is 10 g / m 2. It was coated on a transparent substrate (here, polyethylene terephthalate (PET) having a refractive index n0 = 1.64). At this time, the volume ratio of Ag / gelatin was 2/1.

幅300mmのPET支持体に250mmの幅で20m分だけ塗布し、塗布幅の中央部240mmを残すように両端を30mmずつ切り落とし、ロール状のハロゲン化銀感光材料を得た。   The film was coated on a PET support having a width of 300 mm by 20 mm in a width of 250 mm, and both ends were cut off by 30 mm so as to leave a central portion of the coating width of 240 mm, thereby obtaining a roll-shaped silver halide photosensitive material.

(露光パターンの作成)
本実施の形態で説明したSA法(図26等参照)を用いて、多角形状のメッシュ形状22を隙間なく敷き詰めたメッシュパターン20(図2A参照)を表す出力用画像データImgOutを作成した。
(Create exposure pattern)
Using the SA method (see FIG. 26 and the like) described in the present embodiment, output image data ImgOut representing the mesh pattern 20 (see FIG. 2A) in which the polygonal mesh shape 22 is spread without gaps is created.

メッシュパターン20の作製条件は、全体透過率93%、透明基体12の厚さを20μm、金属細線16の幅を12.5μm、金属細線16の厚さを10μmとした。単位領域90のサイズを縦横とも5mm、画像解像度を2032dpi(dot per inch)とした。シード点SDの初期位置は、メルセンヌ・ツイスタを用いてランダムに決定するとともに、多角形状の各メッシュ形状22は、ボロノイ図に従って決定した。図29及び図30に示した手法を用いて、単位画像データImgEを規則的に配置することで、繰り返し形状を有する出力用画像データImgOutを形成した。   The production conditions of the mesh pattern 20 were 93% overall transmittance, the thickness of the transparent substrate 12 was 20 μm, the width of the fine metal wire 16 was 12.5 μm, and the thickness of the fine metal wire 16 was 10 μm. The size of the unit area 90 was 5 mm both vertically and horizontally, and the image resolution was 2032 dpi (dot per inch). The initial position of the seed point SD was randomly determined using a Mersenne twister, and each polygonal mesh shape 22 was determined according to a Voronoi diagram. The unit image data ImgE is regularly arranged using the method shown in FIGS. 29 and 30 to form output image data ImgOut having a repetitive shape.

次いで、図33A及び図33Bに示した通り、平面領域100内の配線形状を切り出すことで、第1領域R1を除く領域からなる第1露光パターンと、第2領域R2からなる第2露光パターンとをそれぞれ作成した。   Next, as shown in FIGS. 33A and 33B, by cutting out the wiring shape in the planar region 100, a first exposure pattern composed of a region excluding the first region R1 and a second exposure pattern composed of the second region R2 Was created respectively.

比較のため、従来例に係るメッシュパターン4(図43A参照)、メッシュパターン6(図43B参照)を表す露光パターンも併せて作成した。これらを比較例1、2と称する。   For comparison, exposure patterns representing mesh pattern 4 (see FIG. 43A) and mesh pattern 6 (see FIG. 43B) according to the conventional example were also created. These are referred to as Comparative Examples 1 and 2.

(露光)
A4判サイズ(210mm×297mm)の透明基体12の両面に向けてそれぞれ露光を行った。露光は上記した第1露光パターン(第1導電部14a側に対応)及び第2露光パターン(第2導電部14b側に対応)のフォトマスクを介して高圧水銀ランプを光源とした平行光を用いて露光した。
(exposure)
Exposure was performed on both sides of the transparent substrate 12 having an A4 size (210 mm × 297 mm). The exposure uses parallel light using a high-pressure mercury lamp as a light source through the photomask of the first exposure pattern (corresponding to the first conductive portion 14a side) and the second exposure pattern (corresponding to the second conductive portion 14b side). And exposed.

(現像処理)
・現像液1L処方
ハイドロキノン 20 g
亜硫酸ナトリウム 50 g
炭酸カリウム 40 g
エチレンジアミン・四酢酸 2 g
臭化カリウム 3 g
ポリエチレングリコール2000 1 g
水酸化カリウム 4 g
pH 10.3に調整
・定着液1L処方
チオ硫酸アンモニウム液(75%) 300 ml
亜硫酸アンモニウム・1水塩 25 g
1,3−ジアミノプロパン・四酢酸 8 g
酢酸 5 g
アンモニア水(27%) 1 g
pH 6.2に調整
上記処理剤を用いて露光済み感材を、富士フイルム社製自動現像機 FG−710PTSを用いて処理条件:現像35℃ 30秒、定着34℃ 23秒、水洗 流水(5L/分)の20秒処理で行った。
(Development processing)
・ Developer 1L formulation Hydroquinone 20 g
Sodium sulfite 50 g
Potassium carbonate 40 g
Ethylenediamine tetraacetic acid 2 g
Potassium bromide 3 g
Polyethylene glycol 2000 1 g
Potassium hydroxide 4 g
Adjusted to pH 10.3 and formulated 1L fixer ammonium thiosulfate solution (75%) 300 ml
Ammonium sulfite monohydrate 25 g
1,3-diaminopropane tetraacetic acid 8 g
Acetic acid 5 g
Ammonia water (27%) 1 g
Adjusted to pH 6.2 Processed photosensitive material using the above processing agent using Fujifilm's automatic processor FG-710PTS Processing conditions: development 35 ° C. for 30 seconds, fixing 34 ° C. for 23 seconds, washed water (5 L / Min) for 20 seconds.

(ラミネート処理)
現像済み感材の両面に、シート状のPET(第1保護層26a及び第2保護層26b)を1枚ずつ貼り付けた。また、第1接着層24a及び第2接着層24b(図2B参照)として、市販の粘着テープ(NSS50−1310;新タック化成社製、厚さ50μm)を用いた。そして、第1保護層26a及び第2保護層26bを貼り付けた後、気泡の発生を防止するため、0.5気圧、40℃の環境下で20分間加熱し、オートクレーブ処理を施した。
(Lamination process)
Sheet-like PET (first protective layer 26a and second protective layer 26b) was attached to both surfaces of the developed photosensitive material one by one. Moreover, as the 1st contact bonding layer 24a and the 2nd contact bonding layer 24b (refer FIG. 2B), the commercially available adhesive tape (NSS50-1310; Shin-Tac Kasei Co., Ltd. make, thickness 50 micrometers) was used. And after sticking the 1st protective layer 26a and the 2nd protective layer 26b, in order to prevent generation | occurrence | production of a bubble, it heated for 20 minutes in 0.5 atmosphere and 40 degreeC environment, and performed the autoclave process.

[評価]
実施例1〜21、及び比較例1〜2に係る各サンプルを、表示ユニット30の表示画面上にそれぞれ貼り付けた。表示ユニット30として、市販のカラー液晶ディスプレイ(画面サイズ11.6型、1366×768ドット、画素ピッチは縦横とも約194μm)を用いた。表示ユニット30を表示制御して白色(最高輝度)を表示させた状態下で、3名の研究員が、表示画面の視認性に関する官能評価をそれぞれ実施した。なお、表示画面からの観察距離を300mmに、室内照度を300lxにそれぞれ設定した。
ここでは、実施例1〜6及び比較例1〜2に係る各サンプルに対しては、第1評価値EV1による評価を行った。また、実施例7〜14及び比較例1〜2に係る各サンプルに対しては、第2評価値EV2による評価を行った。また、実施例15〜18及び比較例1〜2に係る各サンプルに対しては、第3評価値EV3による評価を行った。実施例19〜21及び比較例1〜2に係る各サンプルに対しては、第1、第2及び第3評価値EV1,EV2及びEV3による総合評価を行った。
[Evaluation]
Each sample which concerns on Examples 1-21 and Comparative Examples 1-2 was each affixed on the display screen of the display unit 30. FIG. As the display unit 30, a commercially available color liquid crystal display (screen size 11.6 type, 1366 × 768 dots, pixel pitch is about 194 μm in both vertical and horizontal directions) was used. Under the condition that the display unit 30 is controlled to display white (maximum luminance), three researchers conducted sensory evaluations regarding the visibility of the display screen. The observation distance from the display screen was set to 300 mm, and the room illuminance was set to 300 lx.
Here, each sample according to Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2 was evaluated using the first evaluation value EV1. In addition, the samples according to Examples 7 to 14 and Comparative Examples 1 and 2 were evaluated by the second evaluation value EV2. In addition, the samples according to Examples 15 to 18 and Comparative Examples 1 and 2 were evaluated by the third evaluation value EV3. The samples according to Examples 19 to 21 and Comparative Examples 1 to 2 were subjected to comprehensive evaluation using the first, second, and third evaluation values EV1, EV2, and EV3.

第1評価値EV1による評価(主としてモアレの評価)
モアレの観点から評価した。モアレが顕在化しなかった場合を「A」評価、モアレが殆ど顕在化しなかった場合を「B」評価、モアレが視認されたが問題のないレベルであった場合を「C」評価、モアレが顕在化した場合を「D」評価とした。そして、各研究員による評価の平均をもって、モアレの評価結果とした。
Evaluation based on the first evaluation value EV1 (mainly evaluation of moire)
Evaluated from the viewpoint of moire. “A” evaluation when moire did not appear, “B” evaluation when moire was hardly revealed, “C” evaluation when moire was visually recognized but at a level with no problem, and moire manifested The case where it was converted to "D" evaluation. And the average of evaluation by each researcher was used as the evaluation result of moire.

第2評価値EV2による評価(主として色ノイズの評価)
色ノイズの観点で複合的な評価を行った。色ノイズが目立たなかった場合を「A」評価、色ノイズが殆ど目立たなかった場合を「B」評価、色ノイズが視認されたが問題のないレベルであった場合を「C」評価、色ノイズが目立った場合を「D」評価とした。そして、各研究員による評価の平均をもって、ざらつき感及び色ノイズの評価結果とした。
Evaluation based on the second evaluation value EV2 (mainly color noise evaluation)
A composite evaluation was performed from the viewpoint of color noise. “A” evaluation when color noise is inconspicuous, “B” evaluation when color noise is almost inconspicuous, “C” evaluation when color noise is visually recognized but at a satisfactory level, and color noise When “D” was conspicuous, the “D” evaluation was made. The average of evaluations by each researcher was used as the evaluation result of the feeling of roughness and color noise.

第3評価値EV3による評価(色ノイズ、モアレの双方のバランスの評価)
モアレ及び色ノイズの観点で複合的な評価を行った。両方とも目立たなかった場合を「A」評価、両方とも殆ど目立たなかった場合を「B」評価、いずれか一方が視認されたが問題のないレベルであった場合を「C」評価、両方とも目立った場合を「D」評価とした。そして、各研究員による評価の平均をもって、ざらつき感(色ノイズ)及びモアレの評価結果とした。
Evaluation based on the third evaluation value EV3 (evaluation of balance of both color noise and moire)
A composite evaluation was performed in terms of moiré and color noise. “A” rating when both were inconspicuous, “B” rating when both were inconspicuous, and “C” rating when either was visually visible but at a level with no problems, both conspicuous The case of “D” was evaluated. The average of evaluations by each researcher was used as the evaluation result of the feeling of roughness (color noise) and moire.

(各評価値の算出)
入力解像度が2032dpiであるスキャナ装置を用いて、導電シート11に形成されるメッシュパターン20の一部を表す256階調の画像データを取得した。この画像データから、一辺が2の冪乗に相当する画素数、例えば一辺が512画素のサイズを有する単位正方画像を無作為に切り出した。そして、この単位正方画像を上下方向及び左右方向に交互に折り返して配置することで、メッシュ形状22を隙間なく配列した模様を表す評価用データを作成した。尚、線幅が12.5μmを下回る場合においては、取り込んだ画像の濃度情報によりパターン形状を特定できる為、2値化を行うことで評価値の算出が可能である。なぜならメッシュの開口部のサイズに比べて、濃度情報から得られる線の位置の不確定差が相対的に無視できるレベルであるからである。
(Calculation of each evaluation value)
Using a scanner device with an input resolution of 2032 dpi, 256 gradation image data representing a part of the mesh pattern 20 formed on the conductive sheet 11 was acquired. A unit square image having a size corresponding to the power of 2 on one side, for example, a size of 512 pixels on one side, was randomly cut out from this image data. Then, evaluation data representing a pattern in which the mesh shapes 22 are arranged without gaps was created by alternately folding and arranging the unit square images in the vertical direction and the horizontal direction. When the line width is less than 12.5 μm, the pattern shape can be specified by the density information of the captured image, and the evaluation value can be calculated by binarization. This is because the uncertain difference in the line position obtained from the density information is relatively negligible compared to the size of the mesh opening.

なお、高速フーリエ変換の演算には、FFTW(Fastest Fourier Transformation in the West)を用いた。上記した手順に沿って一定サイズの評価用データを作成することで、使用アルゴリズムが一意に定まり、安定した変換結果を得ることができる。具体的には、図43に示すプログラムのコードに従って、FFTの演算を施している。   Note that FFTW (Fastest Fourier Transformation in the West) was used for the calculation of the fast Fourier transform. By creating evaluation data of a certain size according to the above-described procedure, the algorithm used is uniquely determined, and a stable conversion result can be obtained. Specifically, FFT calculation is performed according to the program code shown in FIG.

[結果]
実施例1〜21、及び比較例1〜8に係る各サンプルを用いた、表示ユニット30の表示画面の視認性に関する官能評価の結果を、次の表3、表4、表5、及び表6に示す。なお、表3は、実施例1〜6及び比較例1〜2の第1評価値EV1による評価結果を示す。表4は、実施例7〜14及び比較例1〜2の第2評価値EV2による評価結果を示す。表5は、実施例15〜18及び比較例1〜2の第3評価値EV3による評価結果を示す。表6は、実施例19〜21及び比較例1〜2の第1、第2及び第3評価値EV1、EV2及びEV3による各評価結果及び総合評価(画質評価)結果を示す。
[result]
The following Table 3, Table 4, Table 5, and Table 6 show the results of sensory evaluation regarding the visibility of the display screen of the display unit 30 using the samples according to Examples 1 to 21 and Comparative Examples 1 to 8. Shown in Table 3 shows the evaluation results based on the first evaluation value EV1 of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2. Table 4 shows the evaluation results based on the second evaluation value EV2 of Examples 7-14 and Comparative Examples 1-2. Table 5 shows the evaluation results based on the third evaluation value EV3 of Examples 15-18 and Comparative Examples 1-2. Table 6 shows each evaluation result and comprehensive evaluation (image quality evaluation) result based on the first, second, and third evaluation values EV1, EV2, and EV3 of Examples 19 to 21 and Comparative Examples 1 and 2.

表3に示す実施例1〜6は、それぞれメッシュ開口部の重心位置を変更することにより、異方性バラツキを示す第1評価値EV1の値をふったパターンであり、主としてモアレを評価するためのものである。
表3に示すように、実施例1〜6は、本発明の第1評価値EV1の数値限定範囲(0.965〜1.065)を満足するものであり、評価結果がA〜Cであり、モアレが全く視認されないか、視認されてもほとんど問題にならないレベルのものであった。即ち、実施例3は、評価がAであり、モアレが顕在化しなかった。また、実施例2、4及び5は、評価がいずれもBであり、モアレが殆ど顕在化しなかった。さらに、実施例1及び6は、評価がいずれもCであり、モアレが視認されたが問題のないレベルであった。
これに対し、比較例1及び2は、本発明の第1評価値EV1の上記数値限定範囲から外れており、評価がいずれもDであり、モアレが顕在化していることがわかった。また、これらは、色ノイズが顕在化しているものもあった。
Examples 1 to 6 shown in Table 3 are patterns having the first evaluation value EV1 indicating anisotropic variation by changing the center of gravity of each mesh opening, and mainly for evaluating moire. belongs to.
As shown in Table 3, Examples 1 to 6 satisfy the numerical limit range (0.965 to 1.065) of the first evaluation value EV1 of the present invention, and the evaluation results are A to C. , Moire was not visible at all, or it was of a level that would hardly cause a problem even if visually recognized. That is, in Example 3, the evaluation was A, and moire did not appear. In Examples 2, 4 and 5, the evaluation was B, and moire was hardly revealed. Furthermore, in Examples 1 and 6, the evaluation was C, and moire was visually recognized, but the level was satisfactory.
On the other hand, Comparative Examples 1 and 2 deviated from the above numerical limitation range of the first evaluation value EV1 of the present invention, and the evaluations were both D, and it was found that moire was evident. In addition, some of them have obvious color noise.

表4に示す実施例7〜14は、メッシュ開口部の重心数を変更することにより、面積バラツキの値をふったパターンであり、主として色ノイズを評価するためのものである。
表4に示すように、実施例7〜14は、本発明の第2評価値EV2の数値限定範囲(0.017mm2(110.2ピクセル)〜0.038mm2(240ピクセル))を満足するものであり、評価結果がA〜Cであり、色ノイズが全く視認されないか、視認されてもほとんど問題にならないレベルのものであった。即ち、実施例9及び10は、評価がいずれもAであり、色ノイズが目立たなかった。また、実施例8、11及び12は、評価がいずれもBであり、色ノイズが殆ど目立たなかった。さらに、実施例7、13、14は、評価がいずれもCであり、色ノイズが視認されたが問題がないレベルであった。
これに対し、比較例1及び2は、本発明の第2評価値EV2の上記数値限定範囲から外れており、評価がいずれもDであり、色ノイズがいずれも目立っていた。
Examples 7 to 14 shown in Table 4 are patterns with different values of area variation by changing the number of centroids of mesh openings, and are mainly for evaluating color noise.
As shown in Table 4, Examples 7 to 14 satisfy the numerical limit range (0.017 mm 2 (110.2 pixels) to 0.038 mm 2 (240 pixels)) of the second evaluation value EV2 of the present invention. The evaluation results were A to C, and the color noise was not visually recognized at all, or it was of a level that would hardly cause a problem even when visually recognized. That is, in Examples 9 and 10, the evaluation was A, and the color noise was not noticeable. In Examples 8, 11 and 12, the evaluation was B, and the color noise was hardly noticeable. Further, in Examples 7, 13, and 14, the evaluations were all C, and color noise was visually recognized, but there was no problem.
On the other hand, Comparative Examples 1 and 2 deviated from the above-mentioned numerical limit range of the second evaluation value EV2 of the present invention, the evaluations were all D, and the color noise was conspicuous.

表5に示す実施例15〜18は、規則的な重心の位置にバラツキを持たせるようにすることにより、重心位置を変化させたパターンであり、モアレ及び色ノイズを評価するためのものである。
表5に示すように、実施例15〜18は、本発明の第3評価値EV3の数値限定範囲(15μm(1.2ピクセル)以上)を満足するものであり、評価結果がA及びCであり、色ノイズ及びモアレの両方とも全く視認されないか、視認されてもほとんど問題にならないレベルのものであった。即ち、実施例16〜18は、評価がいずれもAであり、色ノイズ及びモアレの両方とも目立たなかった。また、実施例15は、評価がCであり、色ノイズ及びモアレのいずれか一方が視認されたが問題がないレベルであった。
これに対し、比較例1及び2は、本発明の第3評価値EV3の上記数値限定範囲から外れており、評価がいずれもDであり、モアレがいずれも目立っていた。
Examples 15 to 18 shown in Table 5 are patterns in which the position of the center of gravity is changed by giving variation to the positions of the regular center of gravity, and are for evaluating moire and color noise. .
As shown in Table 5, Examples 15 to 18 satisfy the numerical limit range (15 μm (1.2 pixels) or more) of the third evaluation value EV3 of the present invention, and the evaluation results are A and C. In addition, both the color noise and the moire were not visually recognized at all, or were of a level that would hardly cause a problem even if visually recognized. That is, Examples 16 to 18 were all evaluated as A, and both color noise and moire were not conspicuous. Further, in Example 15, the evaluation was C, and either one of color noise and moire was visually recognized, but the level was not problematic.
On the other hand, Comparative Examples 1 and 2 deviated from the above-mentioned numerical limit range of the third evaluation value EV3 of the present invention, the evaluations were both D, and the moire was conspicuous.

表6に示す実施例19〜21は、第1、第2及び第3評価値EV1、EV2及びEV3の3つの値を変化させたパターンであり、モアレ及び色ノイズを総合的に評価するためのものである。
表6に示すように、実施例19〜21は、本発明の第1、第2及び第3評価値EV1、EV2及びEV3の上記の各数値限定範囲を満足するものであり、評価結果がA〜Cであり、色ノイズ及びモアレの両方とも全く視認されないか、視認されてもほとんど問題にならないレベルのものであった。即ち、実施例20は、各評価値の評価がいずれもAであり、総合評価もAであり、色ノイズ及びモアレの両方とも目立たなかった。また、実施例21は、各評価値の評価がB、C及びAであり、総合評価がBであり、色ノイズ及びモアレの両方とも殆ど目立たなかった。さらに、実施例19は、各評価値の評価がB、C及びCであり、総合評価がCであり、色ノイズ及びモアレのいずれか一方が視認されたが問題がないレベルであった。
これに対し、比較例1及び2は、本発明の第1、第2及び第3評価値EV1、EV2及びEV3がいずれも上記の各数値限定範囲から外れており、各評価値の評価がいずれもDであり、また、総合評価がいずれもDであり、モアレ及び色ノイズがいずれも目立っていた。
Examples 19 to 21 shown in Table 6 are patterns in which three values of the first, second, and third evaluation values EV1, EV2, and EV3 are changed, and are used for comprehensively evaluating moire and color noise. Is.
As shown in Table 6, Examples 19-21 satisfy | fill the said each numerical limitation range of 1st, 2nd and 3rd evaluation value EV1, EV2, and EV3 of this invention, and an evaluation result is A. The color noise and the moire were not visually recognized at all, or they were of a level that would hardly cause a problem even if visually recognized. That is, in Example 20, the evaluation of each evaluation value is A, the overall evaluation is A, and both color noise and moire are not conspicuous. In Example 21, the evaluation of each evaluation value was B, C, and A, the overall evaluation was B, and both color noise and moire were hardly noticeable. Furthermore, in Example 19, the evaluation of each evaluation value was B, C, and C, the comprehensive evaluation was C, and either one of color noise and moire was visually recognized, but there was no problem.
On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2, the first, second, and third evaluation values EV1, EV2, and EV3 of the present invention are all out of the above numerical limit ranges, and the evaluation of each evaluation value is either Was also D, the overall evaluation was D, and both moire and color noise were conspicuous.

以上の表3及び表6から明らかなように、メッシュパターン20のスペクトルSpcにおける角度方向(φ方向)に沿った異方性AI(r)の、動径方向(r方向)にわたる標準偏差を、0.965以上であり1.065以下の範囲内に、即ちこのスペクトルSpcをこの範囲内に収まるように調整することで、モアレの発生を大幅に抑制できる。   As is clear from Table 3 and Table 6 above, the standard deviation over the radial direction (r direction) of the anisotropy AI (r) along the angular direction (φ direction) in the spectrum Spc of the mesh pattern 20 is The occurrence of moire can be greatly suppressed by adjusting the spectrum Spc to be within the range of 0.965 or more and 1.065 or less, that is, within this range.

また、以上の表4及び表6から明らかなように、メッシュパターン20の各開口部18(あるいは、各メッシュ形状22)の面積の標準偏差を、0.017mm2以上0.038mm2以下の範囲内に、即ち面積分布をこの範囲内に収まるように調整することで、色ノイズの発生を抑制できる。 Further, as apparent from Tables 4 and 6 above, the standard deviation of the area of each opening 18 (or each mesh shape 22) of the mesh pattern 20 is in the range of 0.017 mm 2 or more and 0.038 mm 2 or less. In other words, by adjusting the area distribution so as to be within this range, the occurrence of color noise can be suppressed.

さらに、以上の表5及び表6から明らかなように、メッシュパターン20の各開口部18(あるいは、各メッシュ形状22)の重心位置分布Cに関して、基準軸430(X’軸)に沿って配置された各重心位置Pc1〜Pc9の、交差軸432(Y’軸)に対する位置の平均2乗偏差についての標準偏差を、15.0μm以上の範囲内に、即ち位置の平均2乗偏差についての標準偏差をこの範囲内に適度に調整することで、色ノイズ及びモアレの発生をバランスよく抑制できる。   Further, as apparent from Tables 5 and 6 above, the center of gravity position distribution C of each opening 18 (or each mesh shape 22) of the mesh pattern 20 is arranged along the reference axis 430 (X ′ axis). The standard deviation for the mean square deviation of the positions of the center-of-gravity positions Pc1 to Pc9 relative to the intersecting axis 432 (Y ′ axis) is within a range of 15.0 μm or more, that is, the standard for the mean square deviation of the positions By appropriately adjusting the deviation within this range, the occurrence of color noise and moire can be suppressed in a well-balanced manner.

なお、この発明は、上述した実施の形態及び実施例に限定されるものではなく、この発明の主旨を逸脱しない範囲で自由に変更できることは勿論である。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiments and examples, and it is needless to say that the present invention can be freely changed without departing from the gist of the present invention.

10、11、210、220、230…導電シート
12…透明基体
12a、170a…第1透明基体 12b、170b…第2透明基体
14a…第1導電部 14b…第2導電部
16(p、q、r、s)…金属細線 18…開口部
20、232…メッシュパターン 22…メッシュ形状
26a…第1保護層 26b…第2保護層
28a…第1積層部 28b…第2積層部
30…表示ユニット 32…画素
40…表示装置 44、160…タッチパネル
70a、176a、192a…第1導電パターン
70b、176b、192b…第2導電パターン
72a…第1感知部 72b…第2感知部
78a…第1メッシュ要素 78b…第2メッシュ要素
82…ポリゴン 90…単位領域
100…平面領域 310…製造装置
312…画像生成装置 328…初期位置選択部
330…更新候補位置決定部 332…画像切り出し部
336…画像情報推定部 338…画像データ作成部
Img…画像データ Imgc…重心画像データ
Spc…スペクトル Spcc…重心スペクトル
10, 11, 210, 220, 230 ... conductive sheet 12 ... transparent substrate 12a, 170a ... first transparent substrate 12b, 170b ... second transparent substrate 14a ... first conductive portion 14b ... second conductive portion 16 (p, q, r, s) ... fine metal wire 18 ... opening 20, 232 ... mesh pattern 22 ... mesh shape 26a ... first protective layer 26b ... second protective layer 28a ... first laminated part 28b ... second laminated part 30 ... display unit 32 ... Pixel 40 ... Display device 44, 160 ... Touch panel 70a, 176a, 192a ... First conductive pattern 70b, 176b, 192b ... Second conductive pattern 72a ... First sensing part 72b ... Second sensing part 78a ... First mesh element 78b ... second mesh element 82 ... polygon 90 ... unit area 100 ... planar area 310 ... manufacturing apparatus 312 ... image generating apparatus 328 ... initial position selection Selection unit 330 ... update candidate position determination unit 332 ... image cutout unit 336 ... image information estimation unit 338 ... image data creation unit Img ... image data Imgc ... centroid image data Spc ... spectrum Spcc ... centroid spectrum

Claims (8)

基体と、
前記基体の主面の少なくとも一方に形成され、複数の金属細線からなる導電部と、
を有し、
前記導電部により、平面視で、形状が異なる複数の開口部を配列したメッシュパターンが形成され、
前記メッシュパターンのパワースペクトルにおける角度方向に沿った標準偏差の、常用対数で表される値の動径方向にわたる標準偏差は、0.965以上であり1.065以下であることを特徴とする導電シート。
A substrate;
A conductive portion formed on at least one of the main surfaces of the substrate and made of a plurality of fine metal wires;
Have
The conductive part forms a mesh pattern in which a plurality of openings having different shapes are arranged in plan view,
The standard deviation along the radial direction of the value represented by the common logarithm of the standard deviation along the angular direction in the power spectrum of the mesh pattern is 0.965 or more and 1.065 or less. Sheet.
前記メッシュパターンのパワースペクトルにおける角度方向に沿った標準偏差の、常用対数で表される値の動径方向にわたる標準偏差は、0.97以上であり1.06以下である請求項1に記載の導電シート。   2. The standard deviation of the standard deviation along the angular direction in the power spectrum of the mesh pattern over the radial direction of the value expressed in common logarithm is 0.97 or more and 1.06 or less. Conductive sheet. 前記導電部は、
前記基体の一方の主面に形成され、複数の金属細線からなる第1導電部と、
前記基体の他方の主面に形成され、複数の金属細線からなる第2導電部と、を有し、
前記メッシュパターンは、
前記第1導電部及び前記第2導電部を組み合わせることで形成される請求項1又は2に記載の導電シート。
The conductive part is
A first conductive portion formed on one main surface of the base body and made of a plurality of fine metal wires;
A second conductive portion formed on the other main surface of the base body and made of a plurality of fine metal wires,
The mesh pattern is
The conductive sheet according to claim 1 , wherein the conductive sheet is formed by combining the first conductive part and the second conductive part.
さらに、前記一方の主面の上に設けられた、前記第1導電部を被覆する第1保護層と、
前記他方の主面の上に設けられた、前記第2導電部を被覆する第2保護層と、
を有し、
前記第1保護層に対する前記基体の相対屈折率、及び/又は前記第2保護層に対する前記基体の相対屈折率は0.86以上であり1.15以下である請求項に記載の導電シート。
Furthermore, a first protective layer provided on the one main surface and covering the first conductive portion;
A second protective layer provided on the other main surface and covering the second conductive portion;
Have
4. The conductive sheet according to claim 3 , wherein a relative refractive index of the substrate with respect to the first protective layer and / or a relative refractive index of the substrate with respect to the second protective layer is 0.86 or more and 1.15 or less.
さらに、前記一方の主面に形成され、前記第1導電部と電気的に絶縁された複数の金属細線からなる第1ダミー電極部をさらに有し、
前記第1導電部は、一方向に配置され、それぞれ複数の第1感知部が接続された第1導電パターンを複数有し、前記第1ダミー電極部は、隣接する前記第1導電パターン同士の隙間部に配置された第1ダミーパターンを複数有し、
前記第1ダミーパターンの配線密度は、前記第1導電パターンの配線密度に等しい請求項又はに記載の導電シート。
And a first dummy electrode portion formed of a plurality of fine metal wires formed on the one main surface and electrically insulated from the first conductive portion,
The first conductive part has a plurality of first conductive patterns arranged in one direction, each of which is connected to a plurality of first sensing parts, and the first dummy electrode part is formed between adjacent first conductive patterns. Having a plurality of first dummy patterns arranged in the gap,
Wherein the wiring density of the first dummy pattern, the conductive sheet according to claim 3 or 4 equal to the wiring density of the first conductive pattern.
前記導電部は、
前記基体の一方の主面に形成される請求項1又は2に記載の導電シート。
The conductive part is
The conductive sheet according to claim 1, wherein the conductive sheet is formed on one main surface of the base.
請求項1〜のいずれか1項に記載の導電シートと、
前記導電シートの主面側からの接触位置又は近接位置を検出する検出制御部と、を備えることを特徴とするタッチパネル。
The conductive sheet according to any one of claims 1 to 6 ,
And a detection control unit that detects a contact position or a proximity position from the main surface side of the conductive sheet.
請求項1〜のいずれか1項に記載の導電シートと、
前記導電シートの一方の主面側からの接触位置又は近接位置を検出する検出制御部と、
表示信号に基づいて表示画面上に画像を表示する表示部と、
を備え、
前記導電シートは他方の主面側を前記表示部に対向させて、前記表示画面上に配置されていることを特徴とする表示装置。
The conductive sheet according to any one of claims 1 to 6 ,
A detection control unit for detecting a contact position or a proximity position from one main surface side of the conductive sheet;
A display unit for displaying an image on a display screen based on a display signal;
With
The display device, wherein the conductive sheet is disposed on the display screen with the other main surface facing the display portion.
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