JP5964960B2 - センサ、検出方法、及び検出システム - Google Patents

センサ、検出方法、及び検出システム Download PDF

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Description

本発明は、センサ、検出方法、検出システム、及び、検出装置に関する。
従来、過酸化水素と反応して検出可能な種を生成するシグナリング(signalling)化合物を用いて、過酸化水素を検出する技術がある。例えば、過酸化水素を検出する技術では、過酸化水素と反応することで生成された種に起因する色、吸光度、蛍光、化学発光又は生物発光を検出することで、過酸化水素源を検出する。
また、基体表面の状態変化を検出する検出手法がある。例えば、弾性表面波を用いて、検体の性質もしくは成分を測定するセンサがある。また、例えば、SPR(Surface Plasmon Resonance、表面プラズモン共鳴)測定装置などがある。なお、溶液中におけるグルコース濃度を測定する技術もある。
特表2005−530130号公報 特開2006−104140号公報 特表2006−520465号公報 特開平08−053467号公報 米国特許第6462179号明細書
しかしながら、上述の技術では、過酸化水素源を簡単に検出できないという問題がある。
開示の技術は、上述に鑑みてなされたものであって、過酸化水素源を簡単に検出可能なセンサ、検出方法、検出システム、及び、検出装置を提供することを目的とする。
開示のセンサ、検出方法、検出システム、及び、検出装置は、1つの態様において、検体に第1の物質が含まれるかを判定するためのセンサであって、基体と、前記基体の表面に、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質が固定化されている検出部と、を備え、前記第1の物質との反応によって前記過酸化水素を生成する酵素に接触させた前記検体が前記検出部に導入される。
開示のセンサ、検出方法、検出システム、及び、検出装置の1つの態様によれば、過酸化水素源を簡単に検出可能になるという効果を奏する。
図1は、本発明の実施形態に係るセンサの斜視図である。 図2は、第1カバー部材及び第2カバー部材の分解斜視図である。 図3は、図1に示すセンサの第4基体を外した状態における斜視図である。 図4Aは、図1のIVa−IVa’における断面図である。 図4Bは、図1のIVb−IVb’における断面図である。 図5は、図1に示すセンサに使用される検出素子の斜視図である。 図6は、図5に示す検出素子の第1接合部材及び第2接合部材を外した状態における平面図である。 図7は、本発明の実施形態に係るセンサの変形例を示す断面図である。 図8は、本発明の実施形態に係るセンサの別の変形例を示す断面図である。 図9は、基体にカバー部材を接合する場合におけるセンサの一例を示す斜視図である。 図10は、カバー部材の片側半分を取り除いた時のセンサの一例を示す斜視図である。 図11Aは、基体にカバー部材を接合する場合におけるセンサの一例を示す断面図である。 図11Bは、基体にカバー部材を接合する場合におけるセンサの一例を示す断面図である。 図12は、基体にカバー部材が接合される場合の別の一例について説明する平面図である。 図13は、基体にカバー部材が接合される場合の別の一例について説明する断面図である。 図14は、本発明の実施形態に係るセンサの一例について説明するための図である。 図15は、本発明の実施形態に係るセンサの一例について説明するための図である。
以下に、開示のセンサ、検出方法、検出システム、及び、検出装置の実施の形態について、適宜図面を参照しつつ、詳細に説明する。以下に詳細に説明するように、開示のセンサ、検出方法、検出システム、及び、検出装置は、検体に第1の物質が含まれるかを判定するためのセンサであって、基体の表面に、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質が固定化されている検出部を備え、第1の物質との反応によって前記過酸化水素を生成する酵素に接触させた検体が検出部に導入される。すなわち、第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する酵素と接触した検体を、過酸化水素と反応して切断される結合を結合部位210に有する第2の物質200が固定化されたセンサ100の検出部と接触させ、検体が接触した基体の検出部の状態変化を検出することで、検体に第1の物質が含まれるかを検出する。この結果、過酸化水素源を簡単に検出可能となる。
なお、以下では、検出対象となる第1の物質を「ターゲット物質」とも記載する。また、数値範囲を「〜」を使用して示す場合、特に断りがない限り、下限と上限の数値をそれぞれ含むものとする。例えば、数値範囲「300〜500」は、特段の断りがない限り、下限が「300以上」を示し、上限が「500以下」を示す。
[センサの構造]
開示のセンサは、基体表面の状態変化を検出する検出手法に用いられる。例えば、開示のセンサは、SPR(Surface Plasmon Resonance、表面プラズモン共鳴)装置による測定に用いられる測定セル、SAW(Surface Acoustic Wave、表面弾性波)センサ、QCM(Quartz Crystal Microbalance、水晶発振子マイクロバランス法)水晶センサなどである。開示のセンサは、好ましくは、SAWセンサである。SAWセンサとしてセンサを実現することで、センサを小型で簡単に実現可能となる。
以下では、開示のセンサの構造の一例について、開示のセンサがSAWセンサである場合を用いて詳細に説明する。以下に詳細に説明するように、SAWセンサとしてのセンサ100は、実施形態の一例において、基体が上面に配置される第1カバー部材を有する。また、センサ100は、第1カバー部材と接合された第2カバー部材を有する。また、センサ100は、第1カバー部材及び第2カバー部材の少なくとも一方は、検体が流入する流入口と、流入口から少なくとも基体表面上まで延びた溝部とを有する。例えば、SAWセンサとしてのセンサ100は、実施形態の一例において、第1カバー部材が上面に凹部を有し、凹部に基体が収容され、第2カバー部材が溝部を有する。
また、SAWセンサとしてのセンサ100は、実施形態の一例において、基体の表面に位置しており、詳細については後述する検出部に向かって伝搬する弾性波を発生させる第1IDT(InterDigital Transducer)電極を有する。また、センサ100は、基体の表面に位置しており、検出部13を通過した弾性波を受信する第2IDT電極を有する。また、センサ100は、第1IDT電極上に第1振動空間を設けて基体の上面に接合されており、第1IDT電極を第1振動空間内に密閉する第1接合部材を有する。また、センサ100は、第2IDT電極上に第2振動空間を設けて基体の上面に接合されており、第2IDT電極を第2振動空間内に密閉する第2接合部材を有する。すなわち、センサ100は、基体の上面に接合され、且つ基体の上面との間に密閉された第1振動空間を有している第1接合部材を有する。また、センサ100は、基体の上面に接合され、且つ基体の上面との間に密閉された第2振動空間を有している第2接合部材とを有する。ここで、センサ100では、第1振動空間は第1IDT電極上に位置しており、且つ、第2振動空間は第2IDT電極上に位置している。
SAWセンサとしてのセンサ100の構成の一例について、適宜図面を参照しつつ、詳細に説明する。なお、以下に説明する各図面において同じ構成部材には同じ符号を付すものとする。また、各部材の大きさや部材同士の間の距離などは模式的に図示しており、現実のものとは異なる場合がある。また、センサ100は、いずれの方向が上方又は下方とされても良いものであるが、以下では、便宜的に、直交座標系xyzを定義するとともにz方向の正側を上方として、上面、下面などの用語を用いるものとする。
センサ100は、主に第1カバー部材1、第2カバー部材2及び検出素子3からなる。第1カバー部材1は、第1基体1a及び第1基体1a上に積層される第2基体1bを有し、第2カバー部材2は、第2基体1b上に積層される第3基体2a及び第3基体2a上に積層される第4基体2bを有する。検出素子3は弾性表面波素子であり、主に基体10、第1IDT電極11、第2IDT電極12、及び検出部13からなる。
第1カバー部材1と第2カバー部材2は互いに貼り合わされており、貼り合わされた第1カバー部材1と第2カバー部材2の内部に検出素子3が収容されている。図4の断面図に示すように、第1カバー部材1は上面に凹部5を有し、凹部5の中に検出素子3が配置されている。
第2カバー部材2は、図1に示すように、長手方向(x方向)の端部に検体の入口である流入口14を有するとともに、流入口14から検出素子3の直上部分に向かって延びた溝部15を有している。なお、図1では溝部15の位置を示すために溝部15を破線で示している。
図2に第1カバー部材1及び第2カバー部材2の分解斜視図を示す。
第1カバー部材1を構成する第1基体1aは平板状であり、その厚みは、例えば0.1mm〜0.5mmである。第1基体1aの平面形状は概ね長方形状であるが、長手方向の一方端は外方に向かって突出した円弧状となっている。第1基体のx方向の長さは、例えば、1cm〜5cmであり、y方向の長さは、例えば1cm〜3cmである。
第1基体1aの上面には第2基体1bが貼り合わされる。第2基体1bは、平板状の板に凹部形成用貫通孔4を設けた平板枠状とされており、その厚みは、例えば、0.1mm〜0.5mmである。平面視した時の外形は、第1基体1aとほぼ同じであり、x方向の長さ及びy方向の長さも第1基体1aとほぼ同じである。
凹部形成用貫通孔4が設けられた第2基体1bを平板状の第1基体1aと接合することによって、第1カバー部材1に凹部5が形成されることとなる。すなわち、凹部形成用貫通孔4の内側に位置する第1基体1aの上面が凹部5の底面となり、凹部形成用貫通孔4の内壁が凹部5の内壁となる。
また、第2基体1bの上面には、端子6及び端子6から凹部形成用貫通孔4まで引き回された配線7が形成されている。端子6は、第2基体1bの上面のx方向における他方の端部に形成されている。端子6が形成されている部分は、センサ100を外部の測定器(図示せず)に挿入した時に実際に挿入される部分であり、端子6を介して外部の測定器と電気的に接続されることとなる。また、端子6と検出素子3とは、配線7などを介して電気的に接続されている。そして、外部の測定器からの信号が端子6を介してセンサ100に入力されるとともに、センサ100からの信号が端子6を介して外部の測定器に出力されることとなる。
第1基体1a及び第2基体1bからなる第1カバー部材1の上面には、第2カバー部材2が接合されている。第2カバー部材2は、第3基体2aと第4基体2bを有する。
第3基体2aは、第2基体1bの上面に貼り合わされている。第3基体2aは平板状であり、その厚みは、例えば、0.1mm〜0.5mmである。第3基体2aの平面形状は概ね長方形状であるが、第1基体1a及び第2基体1bと同様に長手方向の一方端は外方に向かって突出した円弧状となっている。第3基体2aのx方向の長さは、第2基体1bに形成された端子6が露出するように第2基体1bのx方向の長さよりも若干短くされており、例えば、0.8mm〜4.8cmである。y方向の長さは、例えば、第1基体1a及び第2基体1bと同様に1cm〜3cmである。
第3基体2aには切欠き8が形成されている。切欠き8は、第3基体2aの円弧状になっている一方端の頂点部分からx方向の他方端に向かって第3基体2aを切り欠いた部分である。係る切欠き8は溝部15を形成するためのものである。第3基体2aの切欠き8の両隣には、第3基体2aを厚み方向に貫通する第1貫通孔16及び第2貫通孔17が形成されている。第3基体2aを第2基体1bに積層した時に、第1貫通孔16及び第2貫通孔17の内側には検出素子3と配線7との接続部分が位置するようになっている。第3基体2aの第1貫通孔16と切欠き8との間の部分は、後述するように溝部15と第1貫通孔16によって形成される空間とを仕切る第1仕切り部25となる。また、第3基体2aの第2貫通孔17と切欠き8との間の部分は、溝部15と第2貫通孔17によって形成される空間とを仕切る第2仕切り部26となる。
第3基体2aの上面には第4基体2bが貼り合わされる。第4基体2bは、平板状であり、その厚みは、例えば、0.1mm〜0.5mmである。平面視した時の外形は、第3基体2aとほぼ同じであり、x方向の長さ及びy方向の長さも第3基体2aとほぼ同じである。この第4基体2bが切欠き8が形成された第3基体2aと接合されることによって、第2カバー部材2の下面に溝部15が形成されることとなる。すなわち、切欠き8の内側に位置する第4基体2bの下面が溝部15の底面となり、切欠き8の内壁が溝部15の内壁となる。溝部15は、流入口14から少なくとも検出部13の直上領域まで延びており、断面形状は、例えば矩形状である。
第4基体2bには、第4基体2bを厚み方向に貫く第3貫通孔18が形成されている。第3貫通孔18は、第4基体2bを第3基体2aに積層した時に切欠き8の端部上に位置している。よって溝部15の端部は第3貫通孔18と繋がっている。この第3貫通孔18は、溝部15内の空気などを外部に放出するためのものである。
第1基体1a、第2基体1b、第3基体2a及び第4基体2bは、例えば、紙、プラスチック、セルロイド、セラミックスなどからなる。これらの基体は、すべて同じ材料によって形成することができる。これらの基体をすべて同じ材料で形成することによって各基体の熱膨張係数をほぼ揃えることができるため、基体ごとの熱膨張係数の差に起因する変形が抑制される。また、検出部13には生体材料が塗布されることがあるが、その中には紫外線など外部の光によって変質しやすいものもある。その場合は、第1カバー部材1及び第2カバー部材2の材料として、遮光性を有する不透明なものを用いると良い。一方、検出部13の外部の光による変質がほとんど起こらない場合は、溝部15が形成されている第2カバー部材2を透明に近い材料によって形成しても良い。この場合は、流路内を流れる検体の様子を視認することができる。
次に検出素子3について説明する。図5は検出素子3の斜視図、図6は第1接合部材21及び第2接合部材22を外した状態における検出素子3の平面図である。
検出素子3は、基体10と、基体10の上面に配置された検出部13、第1IDT電極11、第2IDT電極12、第1引出し電極19及び第2引出し電極20を有する。
基体10は、例えば、タンタル酸リチウム(LiTaO)単結晶、ニオブ酸リチウム(LiNbO)単結晶、水晶などの圧電性を有する単結晶の基体からなる。基体10の平面形状及び各種寸法は適宜に設定されて良い。一例として、基体10の厚みは、0.3mm〜1.0mmである。
第1IDT電極11は、図6に示すように1対の櫛歯電極を有する。各櫛歯電極は、互いに対向する2本のバスバー及び各バスバーから他のバスバー側へ延びる複数の電極指を有している。そして、1対の櫛歯電極は、複数の電極指が互いに噛み合うように配置されている。第2IDT電極12も第1IDT電極11と同様に構成されている。第1IDT電極11及び第2IDT電極12は、トランスバーサル型のIDT電極を構成している。
ここで、第1IDT電極11と第2IDT電極12との電極指の本数、隣接する電極指同士の距離、電極指の交差幅などをパラメータとして、周波数特性を設計することが可能である。IDT電極によって励振されるSAWとしては、レイリー波、ラブ波、リーキー波などがある。なお、第1IDT電極11のSAWの伝搬方向における外側の領域にSAWの反射抑制のための弾性部材を設けても良い。SAWの周波数は、例えば、数メガヘルツ(MHz)から数ギガヘルツ(GHz)の範囲内において設定可能である。なかでも、数百MHzから2GHzとすれば、実用的であり、かつ基体10の小型化ひいてはSAWセンサの小型化を実現することが可能となる。
第1IDT電極11は所定の弾性表面波(SAW:Surface Acoustic Wave)を発生させるためのものであり、第2IDT電極12は、第1IDT電極11で発生したSAWを受信するためのものである。第1IDT電極11で発生したSAWを第2IDT電極12が受信できるように第1IDT電極11と第2IDT電極12とは同一直線状に配置されている。第1IDT電極11及び第2IDT電極12の電極指の本数、隣接する電極指同士の距離、電極指の交差幅などをパラメータとして周波数特性を設計することができる。IDT電極によって励振されるSAWとしては、種々の振動モードのものが存在するが、検出素子3においては、例えば、SH波とよばれる横波の振動モードを利用している。
また、第1IDT電極11及び第2IDT電極12のSAWの伝搬方向(y方向)における外側にSAWの反射抑制のための弾性部材を設けても良い。SAWの周波数は、例えば、数メガヘルツ(MHz)から数ギガヘルツ(GHz)の範囲内において設定可能である。なかでも、数百MHzから2GHzとすれば、実用的であり、かつ検出素子3の小型化ひいてはセンサ100の小型化を実現することができる。
第1IDT電極11は、第1引出し電極19と接続されている。第1引出し電極19は、第1IDT電極11から検出部13とは反対側に引き出され、第1引出し電極19の端部19eは第1カバー部材1に設けた配線7と電気的に接続されている。また、第2IDT電極12は、第2引出し電極20と接続されている。第2引出し電極20は、第2IDT電極12から検出部13とは反対側に引き出され、第2引出し電極20の端部20eは、配線7と電気的に接続されている。
第1IDT電極11、第2IDT電極12、第1引出し電極19及び第2引出し電極20は、例えば、アルミニウム、アルミニウムと銅との合金などからなる。またこれらの電極は、多層構造としても良い。多層構造とする場合は、例えば、1層目がチタン又はクロムからなり、2層目がアルミニウム又はアルミニウム合金からなる。
第1IDT電極11及び第2IDT電極12は、保護膜(図示せず)によって覆われている。保護膜は第1IDT電極11及び第2IDT電極12の酸化防止などに寄与するものである。保護膜は、例えば、酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化チタン、窒化珪素、又はシリコンによって形成されている。保護膜の厚さは、例えば、第1IDT電極11及び第2IDT電極12の厚さの1/10程度(10〜30nm)である。保護膜は、第1引出し電極19の端部19e及び第2引出し電極20の端部20eを露出するようにして基体10の上面全体にわたって形成されて良い。
第1IDT電極11と第2IDT電極12との間には検出部13が設けられている。検出部13は、金属膜を有する。また、検出部13は、過酸化水素と反応して結合が切れる結合部位210を有する第2の物質200を金属膜の表面に有する。検出部13については後述する。
y方向に沿って配置された第1IDT電極11、第2IDT電極12及び検出部13を1セットとすると、センサ100にはそのセットが2つ設けられている。2つ設けられた検出部13の内1つについては、過酸化水素と反応して結合が切れる結合部位210を有する物質を固定しないことで、リファレンスとして用いても良い。
第1IDT電極11は、図5に示すように第1接合部材21によって覆われている。第1接合部材21は、基体10の上面に位置し、内部は中空となっている。第1接合部材21が基体10の上面に載置された状態における第1接合部材21の中空部が第1振動空間23である。第1IDT電極11は第1振動空間23内に密閉されている。これにより第1IDT電極11が外気及び検体と隔離され、第1IDT電極11を保護することができる。また、第1振動空間23が確保されることによって第1IDT電極11において励振されるSAWの特性の劣化を抑えることができる。
同様にして第2IDT電極12は、第2接合部材22によって覆われている。第2接合部材22も第1接合部材21と同じく基体10の上面に位置し、図4Aに示すように内部は中空となっている。第2接合部材22が基体10の上面に載置された状態における第2接合部材22の中空部が第2振動空間24である。第2IDT電極12は第2振動空間24内に密閉されている。これにより第2IDT電極12が外気及び検体と隔離され、第2IDT電極12を保護することができる。また、第2振動空間24が確保されることによって第2IDT電極12において受信されるSAWの特性の劣化を抑えることができる。
なお、振動空間の形状は、直方体状であっても良く、断面視した時にドーム状となっても良く、平面視した時に楕円状となっても良く、IDT電極の形状や配置などに合わせて任意の形状として良い。
第1接合部材21は、x方向に沿って配置された2つの第1IDT電極11を取り囲むようにして基体10の上面に固定された環状の枠体と、枠体の開口を塞ぐように枠体に固定された蓋体とからなる。このような構造は、例えば、感光性の樹脂材料を使用して樹脂膜を形成し、この樹脂膜をフォトリソグラフィー法などによりパターニングすることによって形成することができる。第2接合部材22も同様にして形成することができる。
なお、センサ100においては、2つの第1IDT電極11を1つの第1接合部材21で覆っているが、2つの第1IDT電極11を別個の第1接合部材21により覆うようにしても良い。また、2つの第1IDT電極11を1つの第1接合部材21で覆い、2つの第1IDT電極11の間に仕切りを設けるようにしても良い。第2IDT電極12についても同様に2つの第2IDT電極12を別個の第2接合部材22で覆っても良いし、1つの第2接合部材22を使用して2つの第2IDT電極12の間に仕切りを設けるようにしても良い。
SAWを利用した検出素子3において検体の検出を行うには、まず、第1IDT電極11に、配線7や第1引出し電極19などを介して外部の測定器から所定の電圧を印加する。そうすると、第1IDT電極11の形成領域において基体10の表面が励振され、所定の周波数を有するSAWが発生する。発生したSAWはその一部が検出部13に向かって伝搬し、検出部13を通過した後、第2IDT電極12に到達する。ここで、検出部13では、詳細については後述するように、検体に第1の物質が含まれている場合には、検出部13を構成する第2の物質200が第1の物質に起因する反応により変化し、検出部13の重量が変化する。この結果、検出部13の下を通過するSAWの位相などの特性が変化する。このように特性が変化したSAWが第2IDT電極12に到達すると、それに応じた電圧が第2IDT電極12に生じる。この電圧が第2引出し電極20、配線7などを介して外部に出力され、それを外部の測定器で読み取ることによって検体の性質や成分を調べることができる。
検体を検出部13に誘導させるためにセンサ100では毛細管現象を利用する。具体的には、第2カバー部材2が第1カバー部材1と接合されることによって、第2カバー部材2の下面に形成された溝部15の部分が細長い管となるため、検体の種類、第1カバー部材1及び第2カバー部材2の材質などを考慮して溝部15の幅あるいは径などを所定の値に設定することによって溝部15により形成される細長い管に毛細管現象を生じさせることができる。溝部15の幅(y方向の寸法)は、例えば、0.5mm〜3mmであり、深さ(z方向の寸法)は、例えば、0.1mm〜0.5mmである。なお、溝部15は検出部13を超えて延びた部分である延長部15eを有し、第2カバー部材2には延長部15eに繋がった第3貫通孔18が形成されている。検体が流路内に入ってくると流路内に存在していた空気は第3貫通孔18から外部へ放出される。
このような毛細管現象を生じる管を第1カバー部材1及び第2カバー部材2からなるカバー部材に形成しておくことによって、流入口14に検体を接触させれば検体が溝部15を流路としてカバー部材の内部に吸い込まれていく。よってセンサ100によれば、それ自体が検体の吸引機構を備えているため、ピペットなどの器具を使用することなく検体の吸引を行うことができる。また、流入口14がある部分は丸みを帯びており、その頂点に流入口14を形成しているため、流入口14を判別しやすくなっている。
ところで溝部15によって形成される検体の流路は、深さが0.3mm程度であるのに対し、検出素子3は厚みが0.3mm程度であり、流路の深さと検出素子3の厚さがほぼ等しい。そのため、流路上に検出素子3をそのまま置くと流路が塞がれてしまう。そこでセンサ100においては、図4に示すように、検出素子3が実装される第1カバー部材1に凹部5を設け、この凹部5の中に検出素子3を収容することによって検体の流路が塞がれないようにしている。すなわち、凹部5の深さを検出素子3の厚みと同程度にし、その凹部5の中に検出素子3を実装することによって、溝部15によって形成される流路を確保することができる。
図3は、第2カバー部材2の第4基体2bを外した状態における斜視図であるが、検体の流路が確保されているため、毛細管現象によって流路内に流入した検体を検出部13までスムーズに誘導することができる。
検体の流路を十分に確保する観点から、図4に示すように、基体10の上面の凹部5の底面からの高さは、凹部5の深さと同じか又はそれよりも小さくしておくと良い。例えば、基体10の上面の凹部5の底面からの高さを凹部5の深さと同じにしておけば、流入口14から溝部15の内部を見た時に流路の底面と検出部13とをほぼ同一高さとすることができる。センサ100においては、基体10の厚みを凹部5の深さよりも小さくし、第1接合部材21及び第2接合部材22の凹部5の底面からの高さが凹部5の深さとほぼ同じになるようにしている。第1接合部材21及び第2接合部材22の凹部5の底面からの高さを凹部5の深さより大きくすると、第3基体2aの第1仕切り部25及び第2仕切り部26を他の部分よりも薄く加工する必要があるが、第1接合部材21及び第2接合部材22の凹部5の底面からの高さを凹部5の深さとほぼ同じにしておくことによって、そのような加工の必要がなくなり、生産効率が良くなる。
凹部5の平面形状は、例えば、基体10の平面形状と相似の形状とされており、凹部5は基体10よりも若干大きい。より具体的には、凹部5は基体10を凹部5に実装した時に、基体10の側面と凹部5の内壁との間に100μm程度の隙間が形成されるような大きさである。
検出素子3は、例えば、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、シリコン樹脂などを主成分とするダイボンド材によって凹部5の底面に固定されている。第1引出し電極19の端部19eと配線7とは、例えば、Auなどからなる金属細線27によって電気的に接続されている。第2引出し電極20の端部20eと配線7との接続も同様である。なお、第1引出し電極19及び第2引出し電極20と配線7との接続は金属細線27によるものに限らず、例えば、Agペーストなどの導電性接着材によるものでも良い。
第1引出し電極19及び第2引出し電極20と配線7との接続部分には空隙が設けられているため、第2カバー部材2を第1カバー部材1に貼り合わせた際に金属細線27の破損が抑制される。この空隙は、第3基体2aに第1貫通孔16及び第2貫通孔17を設けておくことによって簡単に形成することができる。また、第1貫通孔16と溝部15との間に第1仕切り部25が存在することによって、溝部15を流れる検体が第1貫通孔16により形成された空隙に流れ込むのを抑制することができる。これにより、複数の第1引出し電極19の間で検体による短絡が発生するのを抑制することができる。同様に、第2貫通孔17と溝部15との間に第2仕切り部26が存在することによって、溝部15を流れる検体が第2貫通孔17により形成された空隙に流れ込むのを抑制することができる。これにより、複数の第2引出し電極20の間で検体による短絡が発生するのを抑制することができる。
第1仕切り部25は第1接合部材21上に位置し、第2仕切り部26は第2接合部材22上に位置している。よって、検体の流路は、より厳密にいえば、溝部15だけでなく第1接合部材21の溝部側の側壁と第2接合部材22の溝部側の側壁とによっても規定される。第1貫通孔16及び第2貫通孔17によって形成される空隙への検体の漏れを防止する観点からは、第1仕切り部25は第1接合部材21の上面に、第2仕切り部26は第2接合部材22の上面にそれぞれ接触させておいた方が良いが、センサ100では、第1仕切り部25の下面と第1接合部材21の上面との間及び第2仕切り部26の下面と第2接合部材22の上面との間に隙間を有するようにしている。この隙間は、例えば、10μm〜60μmである。このような隙間を設けておくことによって、例えば、センサ100を指でつまんだ際などにこの部分に圧力が加わ(掛か)っても、隙間によって圧力を吸収し、第1接合部材21及び第2接合部材22に直接圧力が加わ(掛か)るのを抑制することができる。その結果、第1振動空間23及び第2振動空間24が大きく歪むのを抑制することができる。また、検体は通常ある程度の粘弾性を有するため、隙間を10μm〜60μmにしておくことによって検体がこの隙間に入り込みにくくなり、検体が第1貫通孔16及び第2貫通孔17によって形成される空隙に漏れるのを抑制することもできる。
第1仕切り部25の幅は、第1振動空間23の幅よりも広くされている。換言すれば、第1接合部材21の枠体上に第1仕切り部25の側壁が位置するようにされている。これにより、外部からの圧力によって第1仕切り部25が第1接合部材21に接触した場合でも、第1仕切り部25が枠部によって支えられるため、第1接合部材21の変形を抑制することができる。同様の理由により、第2仕切り部26の幅も第1振動空間23の幅よりも広くしておくと良い。
第1貫通孔16及び第2貫通孔17によって形成される空隙内に位置する第1引出し電極19、第2引出し電極20、金属細線27及び配線7は、絶縁性部材28によって覆われている。第1引出し電極19、第2引出し電極20、金属細線27及び配線7が絶縁性部材28で覆われていることによって、これらの電極などが腐食するのを抑制することができる。また、この絶縁性部材28を設けておくことによって、検体が第1仕切り部25と第1接合部材21との隙間、あるいは第2仕切り部26と第2接合部材22との隙間に入り込んだ場合でも、絶縁性部材28によって検体が堰き止められる。よって、検体の漏れによる引出し電極間の短絡などを抑制することができる。
かくしてセンサ100によれば、検出素子3を第1カバー部材1の凹部5に収容したことによって、流入口14から検出部13に至る検体の流路を確保することができ、毛細管現象などによって流入口から吸引された検体を検出部13まで流すことができる。すなわち、厚みのある検出素子3を用いつつ、それ自体に吸引機構を備えたセンサ100を提供することができる。
図7は、センサ100の変形例を示す断面図である。この断面図は図4Aに示す断面と対応している。
この変形例は、端子6の形成位置を変えたものである。上述した実施形態では、端子6を第2基体1bの長手方向の他方端部に形成していたが、この変形例では第4基体2bの上面に形成している。端子6と配線7とは第2カバー部材2を貫通する貫通導体29によって電気的に接続されている。貫通導体29は、例えば、Agペースト、めっきなどからなる。また端子6は、第1カバー部材1の下面側に形成することも可能である。よって、端子6は、第1カバー部材1及び第2カバー部材2の表面における任意の位置に形成可能であり、使用される測定器に合わせてその位置を決めることができる。
図8は、センサ100の別の変形例を示す断面図である。この断面図は図4Bに示す断面に対応している。
この変形例では、溝部15によって形成された流路の突き当たりに検体を所定の速度で吸収する吸収材30が設けられている。このような吸収材30を設けておくことによって余分な検体を吸収し、検出部13上を流れる検体の量を一定化して安定した測定を行うことができる。吸収材30は、例えば、スポンジなど液体を吸収することができる多孔質上の材料からなる。
なお、上述したセンサ100の構造は一例であり、これに限定されるものではなく、任意のセンサ100を用いて良い。第2の物質200を基体の上面に設けられた検出部13に固定する上で金属膜が不要な場合には、金属膜を用いなくても良い。言い換えると、金属膜を用いることなく、圧電基体である基体10の表面における第1IDT電極11と第2IDT電極12との間の領域に第2の物質200を固定することで、検出部13としても良い。
また、例えば、上述した実施形態においては、検出素子3が弾性表面波素子からなるものについて説明したが、検出素子3はこれに限らず、例えば、表面プラズモン共鳴が起こるように光導波路などを形成した検出素子3を用いても良い。この場合は、例えば、検出部における光の屈折率の変化などを読み取ることとなる。その他、水晶などの圧電基体に振動子を形成した検出素子3を用いることもできる。この場合は、例えば、振動子の発振周波数の変化を読み取ることとなる。
また、例えば、検出素子3として、同じ基体上に複数種類のデバイスを混在させても構わない。例えば、SAW素子の隣に酵素電極法の酵素電極を設けても良い。この場合は、抗体やアプタマーを用いた免疫法に加えて酵素法での測定も可能となり、1度に検査できる項目を増やすことができる。
また、例えば、上述した実施形態においては、第1カバー部材1が第1基体1a及び第2基体1bにより形成され、第2カバー部材2が第3基体2a及び第4基体2bにより形成されている例を示したが、これに限らずいずれかの基体同士が一体化されたもの、例えば、第1基体1aと第2基体1bが一体化された第1カバー部材1を用いても良い。
また、例えば、上述した実施形態においては、検出素子3が1個設けられている例について説明したが、検出素子3を複数個設けても良い。この場合、検出素子3ごとに凹部5を設けても良いし、すべての検出素子3を収容できるような長い凹部5を形成するようにしても良い。
また、溝部15は、第1カバー部材1と第2カバー部材2とのいずれに設けられても良く、両方に設けられても良い。例えば、第1カバー部材1と第2カバー部材2との両方に溝を設けることで流路を形成しても良く、第1カバー部材1と第2カバー部材2との片方に溝を設けることで流路を形成しても良い。
また、例えば、上述した実施形態においては、基体10が第1カバー部材1上に設けられ、第1カバー部材1と第2カバー部材2とが接合される場合を例に説明したが、これに限定されるものではない。例えば、基体10に直接カバー部を接合することで流路を形成しても良い。
図9〜図11を用いて、基体10に直接カバー部材45が接合される場合について説明する。図9〜図11を用いて説明する場合には、基体10Aに接合されたカバー部材45に溝を設けることで流路を形成する場合を用いて説明するが、これに限定されるものではない。例えば、基体10Aの上面に設けられるカバー部材45と基体10Aとの両方に溝を設けることで流路を形成しても良く、基体10Aに溝を設けることで流路を形成しても良い。
図9は、基体にカバー部材を接合する場合におけるセンサの一例を示す斜視図である。図9に示す例では、センサ100Aは、基体10Aと、カバー部材45とを有する。カバー部材45は、検体の流入口である流入口14Aと、空気孔もしくは検体の流出口である第3貫通孔18Aとを有する。なお、図9に示す例では、流入口14Aがカバー部材45の上面に設けられる場合を例に示したが、これに限定されるものではない。例えば、流入口14Aは、センサ100と同様に、カバー部材45の側面に設けられても良い。なお、図9に示す例では、基体10Aがパッド44を有する場合を示した。パッド44は、センサ100の第1引出し電極19の端部19e及び第2引出し電極20の端部20eなどに相当する。
図10は、カバー部材の片側半分を取り除いたときのセンサの一例を示す斜視図である。図10に示すように、カバー部材45の片側半分を取り除いたときのセンサ100Aの斜視図を示す。図10に示すようにカバー部材45の内部には検体の検体用流路となる空間40が形成される。流入口14Aはこの空間40に繋がっている。すなわち、流入口14Aから入った検体は空間40に流れ込む。なお、センサ100Aにおける空間40は、センサ100における流路に相当する。
図11Aと図11Bとは、基体にカバー部材を接合する場合におけるセンサの一例を示す断面図である。図11Aは、図9のIVa−IVa線における断面図であり、図11Bは、図9のIVb−IVb線における断面図である。
図11Aと図11Bとに示すように、基体10Aの上面には、第1IDT電極11及び第2IDT電極12と、短絡電極42aや短絡電極42bなどとが設けられる。また、第1IDT電極11及び第2IDT電極12と、短絡電極42aや短絡電極42bなどとは、保護膜41によって覆われる。保護膜41は、各電極及び配線の酸化防止などに寄与するものである。保護膜41は、例えば、酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化チタン、窒化珪素、又はシリコンなどからなる。例えば、保護膜41は、二酸化珪素(SiO)である。
保護膜41は、パッド44を露出するようにして、基体10Aの上面全体にわたって形成される。第1IDT電極11及び第2IDT電極12が保護膜41によって被覆されることで、IDT電極が腐食するのを抑制することができる。
保護膜41の厚さは、例えば100nm〜10μmである。なお、保護膜41は必ずしも基体10Aの上面全体にわたって形成する必要はなく、例えば、パッド44を含む基体10Aの上面の外周に沿った領域が露出するように基体10Aの上面中央付近のみを被覆するように形成しても良い。また、図11Aや図11Bに示す例では、保護膜41を用いる場合を例に示したが、これに限定されるものではなく、保護膜41を用いなくても良い。
短絡電極42aや短絡電極42bは、基体10Aの上面のうちSAWの伝搬路となる部分を電気的に短絡させるためのものである。短絡電極42aや短絡電極42bを設けることで、SAWの種類によってはSAWの損失を小さくすることができる。なお、SAWとして特にリーキー波を使用した場合に、短絡電極42aや短絡電極42bによる損失抑制効果が高いと考えられる。
短絡電極42aや短絡電極42bは、例えば、第1IDT電極11から第2IDT電極12へ向かうSAWの伝搬路に沿って伸びた長方形状とされる。短絡電極42aや短絡電極42bのSAWの伝搬方向と直交する方向(x方向)における幅は、例えば、第1IDT電極11の電極指の交差幅と同じである。また、短絡電極42aや短絡電極42bのSAWの伝搬方向と平行な方向(y方向)における第1IDT電極側の端部は、第1IDT電極11の端部に位置する電極指の中心からSAWの半波長分だけ離れた場所に位置している。同様にして、短絡電極42aや短絡電極42bのy方向における第2IDT電極12側の端部は、第2IDT電極12の端部に位置する電極指の中心からSAWの半波長分だけ離れた場所に位置する。
短絡電極42aや短絡電極42bは、電気的に浮き状態としても良いし、グランド電位用のパッド44を設け、これに接続してグランド電位としても良い。短絡電極42aや短絡電極42bをグランド電位とした場合には、第1IDT電極11と第2IDT電極12との間の電磁結合による直達波の伝搬を抑制することができる。
短絡電極42aや短絡電極42bは、例えば、アルミニウム、アルミニウムと銅との合金などからなる。またこれらの電極は、多層構造としても良い。多層構造とする場合は、例えば、1層目がチタン又はクロムからなり、2層目がアルミニウム又はアルミニウム合金からなる。
板状体43は、第1振動空間23や第2振動空間24を形成するための凹部を有し、基体10Aと接合されることで第1振動空間23や第2振動空間24を形成する。板状体43は、例えば、感光性のレジストを用いて形成される。板状体43は、センサ100における第1接合部材21や第2接合部材22に相当する。図11Aや図11Bに示す例では、第1振動空間23又は第2振動空間24を形成するための板状体43の凹部の間には、板状体43を厚み方向に貫通している部分である貫通部が形成されている。この貫通部はSAWの伝搬路上に検出部13を形成するために設けられたものである。すなわち、板状体43を基体10Aに接合した時に、平面視で、第1IDT電極11から第2IDT電極12に伝搬するSAWの伝搬路の少なくとも一部が貫通部から露出し、その露出部に検出部13が設けられる。
図12及び13を用いて、基体にカバー部材が接合される場合の別の一例について説明する。図12は、基体にカバー部材が接合される場合の別の一例について説明する平面図である。図12の平面図は、xy平面を示す平面図である。
図12に示すように、基体10Bは、2つの検出部13を有し、x軸方向に伸びた凸部51−1〜凸部51−4を有する。図13に示す例では、基体10Bの基体表面の内、部分54と部分55との下部に、第1IDT電極11と第2IDT電極12とが設けられる。図12に示す例では、凸部51は4つあり、それぞれ平行して配置されることで、基体表面の内、検出部13が設けられた部分と、部分54又は部分55が設けられた部分とが区分される場合を示した。ただし、これに限定されるものではなく、4つある凸部51は、平行に配置されていなくても良く、図12に示す例において凸部51−1及び凸部51−4がなくても良い。
ここで、凸部51−1〜凸部51−4は、例えば、フォトリソグラフィーで形成される。より詳細な一例をあげると、任意のレジストで基体10Bの基体表面を覆った後に、凸部51−1〜凸部51−4が形成されるように不要なレジストを除去することで、凸部51−1〜凸部51−4が形成される。凸部51−1〜凸部51−4のz軸方向における長さは、任意の長さで良く好ましくは、30μm〜100μmである。
図13は、基体にカバー部材が接合される場合の別の一例について説明する断面図である。図13に示す断面図は、yz平面における断面図である。図13の(1)に示す例では、基体10Bは、基体表面に第1IDT電極11と第2IDT電極12とを有する。また、基体10Bの基体表面は、各電極及び配線の酸化防止などに寄与する保護膜50に覆われている。保護膜50は、保護膜41に対応する。また、基体10Bは、基体表面を覆う保護膜50上に、検出部13と、凸部51−1〜凸部51−4とを有する。また、この時点において、基体10Bの検出部13には、第2の物質200が固定される。
ここで、図13の(2)に示すように、第2の物質200が検出部13に固定された基体10B上にカバー部材52が接合されることで、流路と振動空間とが形成される。具体的には、基体10Bに設けられた凸部51−1〜凸部51−4と、カバー部材52とが接合される。この結果、検体を検出部13に導く溝部が形成されるとともに、IDT電極上に振動空間が形成される。
凸部51−1〜凸部51−4とカバー部材52との接合は、任意の手法を用いて良く、例えば、紫外線接着剤で接合して良い。カバー部材52は任意の材料を用いて形成して良く、好ましくは、親水性の材料であり、より好ましくは、親水性フィルムである。または、表面を親水化処理した材料を用いることができる。具体的には、プラズマ処理やシランカップリング材によって表面処理を行うことで親水化処理を行うことができる。
また、流路の内側に露出する面の親水度を、水との接触角が50度以下となるように設定することで、検体が毛細管現象によりスムーズに吸入できる。より好ましくは30度以下とすることが好ましい。接触角を30度以下となるように流路内壁の表面処理を施したときに、良好な吸入機構を得ることが確認できている。
なお、例えば、検出部13に対して、任意の処理を行っても良い。例えば、検出部13に物質が付着しないための処理を行っても良い。例えば、DNAなどの核酸は、マイナスに帯電していることを踏まえ、検出部13の金属膜を任意の手法でマイナスに帯電させておくことで、DNAなどの核酸が付着することを防止しても良い。また、同様に、金にはDNAなどの核酸が付着する傾向があることを踏まえ、リファレンスとして用いる検出部13の金属膜として、金以外の金属で形成された金属膜を用いても良い。
上述のセンサは、例えば、過酸化水素源の検出に有効であり、詳細な一例をあげると、癌マーカ等の従来からの医療系の用途に加えて、疲労やアンチエージングマーカ等、美容や若さの維持といった一般用途での利用可能である。ここで、高感度トランスデューサとしてのSAWチップを使い捨てセンサとして埋め込むことで、過酸化水素源を簡単に検出でき、かつ、使い捨てに適した軽薄短小なセンサとすることが可能となる。
また、例えば、生体物質との作用部であるSAWの伝搬路と電気信号への変換部であるIDT電極は、1つの基体上に微細に作製することができる。この結果、センサ自体を非常に小さくすることが可能となり、また、ウェハ工程等で大量生産することも可能であり、使い捨て型のセンサチップを簡単に実現可能となる。
また、例えば、SAWセンサの信号には高周波信号を用いて伝搬させることから、周波数や伝搬路長を選択することで必要な感度を選択することができ、検査の種類や検査範囲の幅を拡げることも可能となる。
また、例えば、SAWの検出回路は、多くの無線端末やタブレット端末内の通信装置に採用されている回路構成と同様であり、上述のセンサの検出回路を無線端末やタブレット端末などの電子機器に簡単に接続することも可能である。
[センサの検出部の実施形態]
開示のセンサ100は、1つの形態において、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質200が固定化された検出部13を有する。また、センサ100は、1つの形態において、第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する酵素に接触させた検体が、検出部13に導入される。
ここで、第1の物質は、過酸化水素を生成する酵素の基質となる任意の物質である。第1の物質は、例えば、タンパク質、グルコースなどの抗原性のない物質が好ましく、糖類、脂質、代謝物、低分子有機化合物などである。
また、開示のセンサ100にて用いられる酵素は、第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する。具体的には、開示のセンサ100にて用いられる酵素の内、検体に溶解した溶存酵素が、酸化反応により第1の物質を基質として過酸化水素を生成する。開示のセンサ100にて用いられる酵素は、例えば、オキシダーゼである。より詳細な一例をあげて説明すると、ガラクトースオキシダーゼ、グルコースオキシダーゼ、コレステロールオキシダーゼ、アミンオキシダーゼ、各種のアミノ酸オキシダーゼ、ポリフェノールオキシダーゼ、キサンチンオキシダーゼ、ウリカーゼがある。なお、ペルオキシダーゼは、過酸化水素を消費する酵素であり、開示のセンサ100にて用いられる酵素には該当しない。
ここで、第1の物質と酵素との対応関係の一例を示す。第1の物質がグルコースである場合には、例えば、酵素としてグルコースオキシダーゼを用いる。また、第1の物質がコレステロールである場合には、例えば、酵素としてコレステロールオキシダーゼを用いる。
検体は、第1の物質が含まれているかが検出される対象となる溶液である。検体は、検出対象となる液体又は固体を含む任意の溶液であっても良く、検出対象となる物質が液体である場合には、検出対象となる液体そのものであっても良い。
検体は、予め酵素が検体中に添加されて混合されることで酵素と接触したり、センサ100の流路を通ることで、センサ100の流路に付着されたり固定されたりした酵素と接触したりする。言い換えると、酵素と接触した検体とは、例えば、予め酵素が添加された検体、または、センサ100の流路を通ることで、センサ100の流路に付着されたり固定されたりした酵素と接触した検体などである。
第2の物質200は、過酸化水素と反応して結合が切れる結合部位210を有する。第2の物質200は、過酸化水素と反応して切断される結合を含むボロン酸エステルを有し、且つ、過酸化水素と反応して切断される結合が切断されることによって検出部13から分離される分離部分にボロン酸を有する。第2の物質200は、好ましくは、以下の一般式(1)で表される化合物や、以下の一般式(2)で表されるホウ素化合物である。なお、以下の一般式(3)で表されるフェニルボロン酸エステル化合物は、下記の一般式(2)において水中で安定に存在できるホウ素化合物の一例である。
Figure 0005964960

Figure 0005964960

Figure 0005964960
式(1)、(2)においてR、R及びRは、それぞれ独立にアルキル基、アリール基、アルコキシ基、アリルオキシ基を表すが、これに限られるものではない。
過酸化水素と反応して結合が切れる結合部位210は、例えば、一般式(1)の場合には2つのカルボニル基の間の結合であり、一般式(2)の場合にはB−R1もしくはR2、もしくは、R3の間の結合であり、一般式(3)の場合にはB−フェニル基間の結合である。
また、以下の一般式(4)で表される化合物や、以下の一般式(5)で表されるボロン酸エステルを用いることも好ましい。
Figure 0005964960

Figure 0005964960
式(4)においてR1,R2はそれぞれ独立にアルキル基、アリール基を示す。式(5において、R1はアリール基であり、R2及びR3は、それぞれ独立にアルキル基、アリール基を示すが、R2とR3とは、それぞれ互いに結合して環を形成してもよく、R2とR3との内一方が水素原子であってもよい。式(4)に表す化合物は、カルボニル基を挟んでフェニル基が対称的に結合しているため好ましい。
第2の物質200は、好ましくは、結合が切断されることによって検出部13から分離される分離部分にナノ粒子をさらに有する。すなわち、第2の物質200は、結合部位210の結合が切れることで検出部13から分離される分離部分220にナノ粒子221を有する。第2の物質200は、分離部分220にナノ粒子221を有することで、第2の物質200の結合部位の結合が切れた際にナノ粒子221が検出部13から分離することになり、ナノ粒子221がない場合と比較して基体表面の状態変化を大きくすることが可能となる。
ナノ粒子221は、例えば、金、銀、鉄、アルミニウム、錫、白銀、クロム、ニッケル、ラテックスなどの任意の1つ又は複数の材料を用いて任意の手法にて形成される。ナノ粒子221の粒径は、100nm以下であることが好ましい。
ナノ粒子221は、好ましくは、非特異的にタンパク質等が吸着しないものが好ましい。例えば、金ナノ粒子を用いる場合には、表面にSBA(Secondary Butyl Alcohol、セカンダリーブチルアルコール)やBSA(ウシ血清アルブミン)、乳タンパク、PEG(Poly Ethylene Glycol、ポリエチレングリコール)などでブロッキングしたものを用いるのが好ましい。言い換えると、金ナノ粒子の表面をSBAやPEGで覆ったものを用いることが好ましい。なお、ラテックスナノ粒子は、ブロッキングしていない金ナノ粒子よりも非特異吸着性が小さいことが知られており、ブロッキングしていない金ナノ粒子よりも好ましい。ただし、ラテックスナノ粒子についてもブロッキング処理を施すことが好ましい。
第2の物質200がボロン酸エステルを含む化合物である場合は、過酸化水素と反応して結合が切れることで検出部13から分離される分離部分220にボロン酸が含まれるように、第2の物質200が検出部13に固定されるのが好ましい。例えば、第2の物質200が一般式(1)又は(2)で表される場合であれば、R1の端部が検出部13に固定されることが好ましい。すなわち、グルコースなどの糖類とフェニルボロン酸とが錯体を形成することがある。ここで、グルコースなどの糖類とフェニルボロン酸とが錯体を形成すると、過酸化水素により第2の物質200の結合部位が切れなかったり、錯体を形成したグルコースの影響により基体表面の状態が変化したりすることが考えられる。このことを踏まえ、検出部13から分離される分離部分220にホウ素原子が含まれるようにすることで、たとえ錯体を形成したとしても、検出部13から分離される分離部分220と錯体を形成することになり、後述する過酸化水素によって第2の物質200の結合部位が切れることに起因した基体表面の状態変化に対する影響を抑えることが可能となる。
図14は、本発明の実施形態に係るセンサの一例について説明するための図である。図14の(1)に示す例では、説明の便宜上、第2の物質200が、過酸化水素と反応して結合が切れる結合部位210としてフェニルボロン酸エステル部位を有し、ナノ粒子221を有する場合を用いて説明する。また、図14に示す例では、説明の便宜上、検出部13の表面を併せて示した。
過酸化水素を生成する酵素の基質が検体に存在しない場合は、図14の(1)に示すように、検出部13に固定された第2の物質200は、そのまま存在することになる。一方、過酸化水素を生成する酵素の基質が検体に存在する場合は、図14の(2)に示すように、過酸化水素によって結合部位210が切れ、ナノ粒子221を有する分離部分220が検出部13から分離することになる。すると、図14の(2)に示すように、過酸化水素を生成する酵素の基質が検体に存在する場合に、検出部13の表面に固定されたまま残るのは、第2の物質200の内、結合部位220以降の分離部分220を除いた部分230となる。この結果、基体表面に固定された第2の物質200の分子量が変化し、基体表面の状態が変化することになる。
ここで、検出部13は、基体表面の全面であっても良く、基体表面の一部であっても良い。また、検出部13は、例えば、金属膜と、金属膜上に固定された第2の物質200とを有する。ただし、これに限定されるものではなく、金属膜を有しなくても良い。金属膜を有する場合、金属膜を形成する金属としては、任意の金属を用いて良い。例えば、AuやTi、Cuなどを用いて良く、Auが好ましい。
図15は、本発明の実施形態に係るセンサの一例について説明するための図である。図15では、フェニルボロン酸エステル部位を用いるのではなく、別の結合部位としてジケトフェニル部位を用いる例を示した。また、図15に示す例では、図14に示す例と同様に、ナノ粒子221を有する場合を示した。ここで、図15に示す例において、X及びXは、ベンゼン環に対する電子求引基であり、例えば、ニトロ基(NO)やシアノ基(CN)、トシル基(Ts)、メシル基(MS)、アシル基(−Acyl)、カルボキシル基(−COOH)、フルオロアルキル基(フッ素化アルキル基)(−C2n+1)、フェニル基(−C)、スルホン基(−SOH)、各種ハロゲン(Cl,Br,Iなど)などである。なお、安定性の観点からニトロ基およびカルボキシル基を用いればよい。ただし、電子求引基は、これに限定されるものではない。また、X及びXは、同一であっても良く、異なっても良い。合成の観点から、X=Xとすることができる。この場合において、安定性の観点からニトロ基およびカルボキシル基が好ましい。
基体表面に第2の物質200を固定する場合の固定手法について説明する。固定手法としては、任意の手法を用いて良い。例えば、ストレイプトアビジンとビオチンの強い親和性を利用することで、固定しても良い。この場合、例えば、検出部13に予めストレイプトアビジンを固定しておく。より詳細には、固定化した時に、基体表面(Auなど)を極力覆うように、アルキルチオールなどで形成した自己集積膜(SAM、Self-Assembled Monolayer)を予め形成した基体の上にストレイプトアビジンを固定化する。また、第2の物質200の端部にビオチンを予め固定しておき、第2の物質200を含む溶液を作成しておく。その後、第2の物質200を含む溶液を検出部13と接触させることで、第2の物質200を検出部13に固定する。なお、その後、検出部13に固定されず、検出部13に残留している第2の物質200を除去することを目的として、任意の溶媒を用いて検出部13を洗浄しても良い。洗浄に用いる溶媒は、例えば、NaOHである。ただし、NaOHに限定されるものではなく、任意の溶媒を用いて良い。
また、例えば、基体表面にSAM膜を公知の技術を用いて生成し、SAM膜上に末端がCOOHとなるPEGで修飾する。その上で、末端にアミン基を有する第2の物質200と反応させることで、第2の物質200を基体表面に固定しても良い。なお、ナノ粒子を有する第2の物質200を用いる場合、過酸化水素と反応して結合が切れる化合物に対して、基体表面に第2の物質200を固定するのと同様の手法を用いて、任意のナノ粒子を固定し、ナノ粒子が固定された化合物を第2の物質200として用いて良い。
なお、検体に接触させる酵素は、センサの任意の箇所に付着させておき、検体が流路を通ることで検体と酵素とを接触させても良い。また、検体に接触させる酵素は、センサ100の流路に検体が流し込まれる前に検体に溶かし込んでおいても良い。センサに酵素を予め付着させておく場合には、好ましくは、基体10上ではなく、溝部に付着している。すなわち、センサは、溝部に付着している酵素を有する。例えば、基体10の検出部13に対向する流路の天井に付着させても良く、基体10が実装されるカバー部材の内流路を形成する任意の領域に付着させても良い。
また、流路には、併せて、溶血剤を付着しておいても良い。例えば、検体が血液であったり、血液を含む溶液であったりする場合であれば、溶血剤を流路に付着させておくことで、血液の凝固を防止でき、確実かつ簡単に検出処理を実行可能となる。
また、SAWの伝搬定数の変化は基体のごく表面の変化に限定される。この結果、標的と反応しなかった未反応物が基体の上方に残っていてもそれらを除去する等の処理は特に必要ない。毛細管流路に検体を単に流し込む操作のみで、第2の物質200の分離部分220の分離による影響を選択的に検出可能である。
[検出手法の実施形態]
開示の検出手法は、1つの実施形態において、基体の表面に、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質200が固定化された検出部13を有するセンサ100を準備する準備工程を含む。例えば、検出対象となる第1の物質を検出するためのセンサ100を製造したり、センサ100を用意したり、センサ100を検出装置にセットしたりする。
第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する酵素に接触させた検体を、センサ100の検出部13と接触させる接触工程を、すなわち、第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する酵素に接触させた検体を、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質200が固定化された検出部13を基体10の上面に有するセンサ100の検出部13に導入して接触させる接触工程を含む。言い換えると、第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する酵素と接触した検体を、過酸化水素と反応して結合が切れる結合部位210を有する第2の物質200が固定化された検出部13を有するセンサ100の検出部13と接触させる接触工程を含む。例えば、検体に酵素を添加、混合されることで酵素と接触した検体を、センサ100の基体表面に手動にて接触させても良い。また、例えば、検体に酵素を添加、混合されることで酵素と接触した検体を、センサ100の流入口14から流路内に入れることで、流入口14から溝部15を介して検出部13に導くことで、検出部13と接触させても良い。また、例えば、センサ100の流路に酵素が予め付着されている場合には、検体をそのまま流入口14から流路内に入れることで、流路に付着された酵素と検体が接触し、流入口14から溝部15を介して検出部13に導くことで、検出部13と接触させても良い。また、その他任意の手法を用いて酵素と検体を接触させ、センサ100の基体表面と接触させても良い。
また、開示の検出手法は、接触工程によって生じる第2の物質200の結合の切断を検出することによって、検体に第1の物質が含まれるかを検出する検出工程を備える。
ここで、基体表面の状態変化とは、基体表面に固定された第2の物質200の結合部位が切れることで分離部分220が分離することに起因した質量変化や誘電率変化、粘弾性変化、伝播特性変化、共振周波数変化などである。例えば、SPR装置を用いて測定を行う場合には、結合部位が切れて分離部分220が分離すると、基体表面の質量や誘電率が変化し、この変化に起因するSPR角度変化を発生する。この場合、基体表面の状態変化とは、分離部分220の分離に起因する質量変化や誘電率変化となり、SPR角度変化を検出することで基体表面の状態変化が検出される。また、SAWセンサを用いる場合には、基体表面の質量変化や粘弾性変化に起因する伝播特性変化が発生する。この場合、基体表面の状態変化とは、分離部分220の分離に起因する質量変化や粘弾性変化であり、伝播特性変化を検出することで基体表面の状態変化が検出される。また、QCM測定装置を用いる場合には、基体表面の質量変化に起因する共振周波数変化が発生する。この場合に、基体表面の状態変化とは、分離部分220の分離に起因する質量変化であり、共振周波数変化を検出することで基体表面の状態変化が検出される。
基体表面の変化は、第2の物質200の分離部分220が検出部13から分離することに起因しており、第2の物質200の分離部分220が分離するのは、酵素が過酸化水素を生成して第2の物質200の結合部位が切れる場合である。この結果、過酸化水素源を簡単に検出可能になる。
[検出システム、検出装置の実施形態]
開示の検出システムは、1つの実施形態において、検体に第1の物質が含まれるかを判定するための検出システムであって、基体の表面に、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質200が固定化された検出部13を有するセンサ100を備える。また、検出システムは、第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する酵素に接触させた検体を、センサ100の検出部13と接触させて、第2の物質200の結合の切断を検出することによって、検体に第1の物質が含まれるかを検出する、検出装置を備える。
すなわち、検出装置は、検体に第1の物質が含まれるかを判定するための検出装置であって、第1の物質との反応によって過酸化水素を生成する酵素に接触させた検体を、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質200が基体の表面に固定化された検出部13を備えたセンサ100の検出部13と接触させて、第2の物質200の結合の切断を検出することによって検体に第1の物質が含まれるかを検出する。
ここで、センサは、上述したセンサと同様であり、説明を省略する。検出装置は、上述したセンサを用いた任意の検出処理を実行する装置である。検出装置は、例えば、SPR装置、SAWセンサの制御装置、QCM測定装置などである。検出装置は、好ましくは、SAWセンサの制御装置である。開示の検出装置としてのSPR装置、SAWセンサの制御装置、QCM測定装置は、上述のセンサを用いて測定ができれば任意の装置を用いて良く、公知の装置をそのまま使用しても良く、適宜改造した上で用いても良い。
また、センサにより検出されるのは、第1の物質そのものではなく、第2の物質200の分離部分220の分離に起因する変化となる。このことを踏まえ、検出装置は、シグナル物質などに起因して得られた検出結果を、第1の物質についての検出結果に変換する変換処理を実行しても良い。例えば、第1の物質の分子量とシグナル物質の分子量とが既知の場合、「分離部分220が「x」グラム[g](あるいは、モル[mol])ある」という結果が得られる場合に、かかる結果を「第1の物質が「y」グラム[g](あるいは、モル[mol])」あるという結果に変換しても良い。
1 第1カバー部材
2 第2カバー部材
3 検出素子
4 凹部形成用貫通孔
5 凹部
8 切欠き
10 基体
11 第1IDT電極
12 第2IDT電極
13 検出部
14 流入口
15 溝部
100 センサ
200 第2の物質
210 結合部位
220 分離部分
221 ナノ粒子

Claims (11)

  1. 検体に第1の物質が含まれるかを判定するためのセンサであって、
    基体と、
    前記基体の表面に、過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質が固定化されている検出部と、
    前記検体が流れる流路と、
    前記第1の物質との反応によって前記過酸化水素を生成する酵素と、を備え、
    前記流路の内部に、前記基体、前記検出部、および前記酵素が設けられている、センサ。
  2. 前記第2の物質は、前記結合が切断されることによって前記検出部から分離される分離部分にナノ粒子をさらに有する、請求項1に記載のセンサ。
  3. 前記第2の物質は、前記結合を含むボロン酸エステルを有し、且つ、前記結合が切断されることによって前記検出部から分離される分離部分にボロン酸を有する、請求項1又は2に記載のセンサ。
  4. 前記第2の物質は、前記結合を含むジフェニルジケトンを有する、請求項1又は2に記載のセンサ。
  5. 前記基体は、
    上面に配置された第1カバー部材と、
    前記第1カバー部材に前記基体を覆うように接合された第2カバー部材と、をさらに有し、
    前記第1カバー部材および前記第2カバー部材の少なくとも一方は、前記検体が流入する流入口及び前記流入口から少なくとも前記検出部まで延びた溝部を有する、請求項1乃至4のいずれか1項に記載のセンサ。
  6. 前記第1カバー部材は、上面に前記基体を収容する凹部を有し、
    前記第2カバー部材は、前記溝部を有する、請求項に記載のセンサ。
  7. 前記溝部に付着している前記酵素をさらに備える、請求項に記載のセンサ。
  8. 前記基体の表面に位置しており、前記検出部に向かって伝搬する弾性波を発生させる第1IDT(InterDigital Transducer)電極と、
    前記基体の表面に位置しており、前記検出部を通過した前記弾性波を受信する第2IDT電極と、をさらに備える、請求項1乃至のいずれか1項に記載のセンサ。
  9. 前記基体の上面に接合され、且つ前記基体の前記上面との間に密閉された第1振動空間を有している第1接合部材と、
    前記基体の上面に接合され、且つ前記基体の前記上面との間に密閉された第2振動空間を有している第2接合部材と、をさらに備え、
    前記第1振動空間は前記第1IDT電極上に位置しており、且つ、前記第2振動空間は前記第2IDT電極上に位置している、請求項に記載のセンサ。
  10. 検体が流れる流路の内部において、基体、前記基体の表面に過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質が固定化された検出部、および第1の物質との反応によって前記過酸化水素を生成する酵素が設けられたセンサを準備する準備工程と、
    前記酵素に接触させた検体を、前記センサの前記検出部と接触させる接触工程と、
    前記接触工程によって生じる前記第2の物質の前記結合の切断を検出することによって、前記検体に前記第1の物質が含まれるかを検出する検出工程と、を備える検体に第1の物質が含まれるかを判定するための検出方法。
  11. 検体に第1の物質が含まれるかを判定するための検出システムであって、
    前記検体が流れる流路の内部において、基体、前記基体の表面に過酸化水素と反応して切断される結合を有する第2の物質が固定化された検出部、および第1の物質との反応によって前記過酸化水素を生成する酵素が設けられたセンサと、
    前記酵素に接触させた前記検体を、前記センサの前記検出部と接触させて、前記第2の物質の前記結合の切断を検出することによって、前記検体に前記第1の物質が含まれるかを検出する、検出装置と、を備える検出システム。
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