JP5946095B2 - コンピュータ断層撮影を用いた分析方法 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施形態について、図1〜10を参照して以下説明する。図1は、本実施形態におけるX線CT撮影を説明する図である。
(A)試料の実測X線コンピュータ断層画像を取得する。
(B)複数の元素の複数の濃度を想定したX線コンピュータ断層画像生成の計算機シミュレーションを実施して、得られた線質硬化の定量解析結果が、前記試料の前記実測X線コンピュータ断層画像の線質硬化の定量解析結果と、類似する元素を、試料の元素であると特定する。
(第1工程) 多色性線X線源を用いた単一エネルギーX線コンピュータ断層撮影装置で、試料の実測X線コンピュータ断層画像を取得する。
(第2工程) 前記実測X線コンピュータ断層画像に現れている線質硬化を定量解析する。
(第3工程) 前記実測X線コンピュータ断層画像を参照し、複数の原子番号の元素と濃度を想定して、該複数の元素の複数の濃度の場合のX線コンピュータ断層画像生成の計算機シミュレーションを実施して、生成された画像に現れている線質硬化を定量解析する。
(第4工程) 前記第3の工程で得られた定量解析結果の中で、前記第2の工程で得られた線質硬化の定量解析結果の値と類似する値を有する元素を、試料の元素であると特定する。
塩化セリウム(CeCl3)水溶液試料は、濃度が0.55mol/Lで、直径約3cmのポリプロピレン試料管に入れたものを、さらに大きめの角形プラスチック容器(本体ポリプロピレン製、蓋はポリエチレン製)に収納したものを準備した。この二重収納は、貨物検査などの実際のセキュリティの現場で遭遇する状況(密封されて、内部を容易にはうかがえない状態)を模擬したものである。実際に本発明を実施する場合は、収納内部が未知であることは言うまでもない。
二重収納された状態の試料を、多色性X線源を有する医療用X線CT装置で撮影した。撮影装置は、例えば非特許文献4〜6に記載されているような公知の装置でよい。CTの撮影条件は、加速電圧は100kV、CT画像サイズは16cm×16cm=512×512画素である。図1に、撮影結果を示す。試料が重元素Ceを含み、かつ使用したX線源が多色性であるので、得られたCT画像は強い線質硬化を示す。図1(a)は二次元X線CT画像である。明るい画素の部分が、CeCl3水溶液である。グレースケールの色調を操作して、溶液中の色ムラを強調させた画像(b)も併せて表示した。(b)では、色調操作の結果、プラスチック容器は見えなくなった。このように、線質硬化は、図1(a)のグレースケールを適切に調整すれば、水溶液中の色ムラとして明瞭に確認できる(図1(b))。
画像(図1(b)参照)の線質硬化現象を以下の手法で定量解析する。図2は、図1(b)に対応する画像であり、図2(a)は図1(b)のCeCl3(0.55mol/L水溶液)のズーム画像、図2(b)は、計算機シミュレーションで再現した(a)に対応するCeCl3(0.55mol/L水溶液)のCT画像である。矢印の座標系(画像中心を原点0とし紙面矢印方向をx座標とする。)に沿って画素値を71個サンプリングしてラインプロファイル解析を行った。なお、図2(a)は実画像であるのでノイズがのっている。
c0+c2x2 式(1)
xは画素数で表した変位(単位は無次元)である。c0とc2は、定数であり(単位はシミュレートしたCT画像についてはcm-1)、最小二乗法でデータにフィッティングして決定する。偶関数として2次の場合で説明するが、4次や6次でもよい。ちなみに、試料形状が対称でない場合は、c1xやc3x3などの奇関数(c1とc3は定数)を追加することで対応できる。
次に、実測されたc0とc2値を再現できるような重元素の種類と濃度を以下のシミュレーションで求める。
本実施形態のCT画像生成シミュレーション作業は、従来技術のような線質硬化を補正して線質硬化のないCT画像を出力するのではなく、むしろ積極的に線質硬化をCT画像中に発現させ、それを式(1)によって定量評価して、そこから未知試料中の重元素の原子番号と濃度の情報を読み解くものである。
本実施形態の第2工程及び第3工程で実施している、線質硬化をラインプロファイルという形で定量的に分析する、CT画像生成シミュレーション作業について、詳しく説明する。
c0:ラインプロファイルの画素値(X線線吸収係数)の最小値
c2:ラインプロファイルの画素値(X線線吸収係数)の最大値と最小値との差
ラインプロファイルとして式1が成立する条件(すなわち低濃度、対称な輪郭、短いライン)においては、第2の定義と式1をくらべると、c0とc2の値は完全に一致するので、第2の定義が式1の自然な拡張であることが理解できる。第2の定義にもとづいて実測画像のc0とc2を計測し、また、CT画像シミュレーションでもさまざまなc0とc2値を算出し、最終的にはc0−c2平面で実測値とシミュレーション結果をフィットさせて元素を4候補に絞り込み、また後述する図5、6からその元素の濃度を推定する作業を行うことができる。つまり、c0とc2の定義は違うが、それ以降の作業内容は、式1を採用した場合と同じ要領である。このように、c0とc2という二つのパラメータだけで、CT画像の線質硬化を定量化でき、重元素の原子番号と濃度の同時決定が可能になる。
第1の実施形態では、加速電圧が100kVのCT画像について説明したが、本実施形態では、CT装置の加速電圧が異なる場合について説明する。また、加速電圧の影響について説明する。図11は、3種類の加速電圧に対応するX線源のスペクトルと、いくつかの元素(図8中の元素、及びCm)のK吸収端の位置(矢印)を示す図である。図中、加速電圧70kVの場合を太い実線で、加速電圧100kVの場合を点線で、加速電圧130kVの場合を実線で示す。
Claims (6)
- 多色性線X線源を用いた単一エネルギーX線コンピュータ断層撮影装置で試料の実測X線コンピュータ断層画像を取得し、
複数の元素の複数の濃度を想定したX線コンピュータ断層画像生成の計算機シミュレーションを実施して、得られた線質硬化の定量解析結果が、前記試料の前記実測X線コンピュータ断層画像の線質硬化の定量解析結果と、類似する元素を、試料の元素であると特定することを特徴とする分析方法。 - 多色性線X線源を用いた単一エネルギーX線コンピュータ断層撮影装置で、試料の実測X線コンピュータ断層画像を取得する第1の工程と、
前記実測X線コンピュータ断層画像に現れている線質硬化を定量解析する第2の工程と、
前記実測X線コンピュータ断層画像を参照し、複数の原子番号の元素と濃度を想定して、該複数の元素の複数の濃度の場合のX線コンピュータ断層画像生成の計算機シミュレーションを実施して、生成された画像に現れている線質硬化を定量解析する第3の工程と、
前記第3の工程で得られた定量解析結果の中で、前記第2の工程で得られた線質硬化の定量解析結果の値と類似する値を有する元素を、試料の元素であると特定する第4の工程とを備えることを特徴とする分析方法。 - 前記第2の工程における前記定量解析は、試料の実測された前記画像に現れている線質硬化を、テーラー展開式で近似して、該式の係数を決定する工程を備えることを特徴とする、請求項2記載の分析方法。
- 前記第4の工程における前記特定は、前記計算機シミュレーションを実施して得られるX線コンピュータ断層画像の線質硬化の定量解析によるテーラー展開式の係数が、前記試料の係数に近い方から4つの元素を、前記試料の元素を含む元素群であると特定する工程を備えることを特徴とする、請求項3記載の分析方法。
- 前記テーラー展開式は、ラインプロファイルの線長が短く重元素が低濃度で輪郭線が対称の場合、近似的に式c0+c2x2 で表され、c0−c2平面における前記試料の値(c0,c2)に最も近い4つの元素を、前記試料の元素を含む元素群であると特定することを特徴とする請求項3又は4記載の分析方法。
- 前記第3の工程で得られた定量解析結果の中で、前記第2の工程で得られた線質硬化の定量解析結果の値と類似する値を有する濃度を、試料の濃度であると特定する第4の工程とを備えることを特徴とする請求項2乃至5のいずれか1項記載の分析方法。
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