JP5902633B2 - Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter - Google Patents
Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter Download PDFInfo
- Publication number
- JP5902633B2 JP5902633B2 JP2013000840A JP2013000840A JP5902633B2 JP 5902633 B2 JP5902633 B2 JP 5902633B2 JP 2013000840 A JP2013000840 A JP 2013000840A JP 2013000840 A JP2013000840 A JP 2013000840A JP 5902633 B2 JP5902633 B2 JP 5902633B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mach
- coupler
- zehnder
- zehnder interferometer
- multiplexing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 3
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 3
- 210000001503 joint Anatomy 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Optical Integrated Circuits (AREA)
Description
本発明は、光通信に用いる複数波長の光を合波・分波する機能を有するマッハツェンダー合波・分波フィルターに関し、マッハツェンダー干渉計の遅延回路に設定する遅延量の設計や調整が容易にできるように工夫したものである。 The present invention relates to a Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter having a function of multiplexing / demultiplexing light of a plurality of wavelengths used for optical communication, and it is easy to design and adjust a delay amount set in a delay circuit of a Mach-Zehnder interferometer. It has been devised to be able to.
長距離伝送だけではなく、近年はLAN(Local Area Network:ローカルエリアネットワーク)の高速伝送に対応するように、LANの光化が進んでいる。100Gbpsのイーサネット(登録商標)仕様は、すでに策定されており、シングルモード光ファイバを用いて、それぞれ10km、40kmを伝送する100GBASE-LR4、100GBASE-ER4として4波(4つの異なる波長)の光信号を使用して、それぞれの波長で約25Gbpsの伝送を行うことで25Gbps×4=100Gbpsのデータ伝送を実現する方式が採用されている。 In recent years, not only long-distance transmission but also the opticalization of LAN is progressing so as to support high-speed transmission of a LAN (Local Area Network). The 100Gbps Ethernet (registered trademark) specification has already been formulated, and optical signals of 4 waves (4 different wavelengths) are transmitted as 100GBASE-LR4 and 100GBASE-ER4, respectively, transmitting 10km and 40km using single mode optical fiber. Is used to achieve 25 Gbps x 4 = 100 Gbps data transmission by transmitting approximately 25 Gbps at each wavelength.
このようにLANの大容量化を目指した光化に伴い、1本の光ファイバを用いて4波の光信号の伝送を行う方式の伝送システムにおいて、光源として有力とされているのが、4波分のDFB(distributed feedback:分布帰還型)レーザと変調器を集積したものである(非特許文献1参照)。
非特許文献1に示す光源は、規格上の4波の光を出力する4つのレーザを1つのチップに集積した構成になっており、それぞれバルクの部品を接続して4波分の光源とするものであり、より小型化できると共に、温度調整機構などの個数も減らせることから、消費電力の節減という点で期待されている。
As described above, in light of the opticalization aiming at increasing the capacity of the LAN, in a transmission system of a system that transmits four-wave optical signals using a single optical fiber, 4 A DFB (distributed feedback) laser and modulator are integrated (see Non-Patent Document 1).
The light source shown in Non-Patent
しかし、非特許文献1の構成では、4×1MMIカップラー(4入力1出力の多モード干渉(multimode interference)カップラー)を4波の合波器として使用している。4×1MMIカップラーは、4波の合波器として使用した場合、原理損失として6dBの損失がある。つまり原理上25%の出力しか外部に取り出すことができない構成であるため、多くの光を無駄にしている。
However, in the configuration of Non-Patent
そこで、この合波フィルター(合波器)を低損失なものに置き換えることが試みられている。このような箇所に用いられる合波フィルターとしてArrayed waveguide gratings (AWG:アレイ導波路グレーティング)や、etched planar concave gratings (PCGs)などが知られているが、AWGやPCGsは、4波のMUX(Multiplexer:合波器)フィルターとしてはサイズが大きくなってしまう。 Therefore, attempts have been made to replace the multiplexing filter (multiplexer) with a low-loss filter. Arrayed waveguide gratings (AWG: arrayed waveguide gratings) and etched planar concave gratings (PCGs) are known as multiplexing filters used in such places, but AWGs and PCGs are four-wave MUXs (Multiplexers). : Mixer) The size of the filter becomes large.
そこで、考えられるのが遅延回路を含むマッハツェンダー干渉計を用いた合波フィルター(マッハツェンダー合波・分波フィルター)である。4波の光を合波する場合には、一段目の2つのマッハツェンダー干渉計と、2段目の1つのマッハツェンダー干渉計にて合波フィルターを実現でき(後述する図6参照)、またそのサイズもAWGやPCGsに比べて小さくできるメリットがある。 Therefore, a combination filter (Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter) using a Mach-Zehnder interferometer including a delay circuit is conceivable. When combining four light beams, a multiplexing filter can be realized with two first-stage Mach-Zehnder interferometers and one second-stage Mach-Zehnder interferometer (see FIG. 6 described later). There is an advantage that the size can be reduced as compared with AWG and PCGs.
マッハツェンダー干渉計を多段に組み合わせて合波フィルターとする際に問題となる事項が2つある。 There are two problems that arise when combining Mach-Zehnder interferometers in multiple stages to form a multiplexing filter.
1つの問題は絶対波長である。製造誤差によりFSR (Free Spectral Range:自由スペクトル領域)は、設計から大きくずれることはほとんどないが、絶対波長は、製造誤差により大きく変わる。
これに対しては、製造後になんらかの方法により調整する機構を設ければ良い。たとえば、非特許文献2に示されているように、半導体ハイメサ導波路側面に樹脂を充填して調整する方法などがあげられる。
One problem is absolute wavelength. The FSR (Free Spectral Range) is hardly deviated from the design due to the manufacturing error, but the absolute wavelength greatly varies depending on the manufacturing error.
For this, a mechanism for adjusting by some method after manufacture may be provided. For example, as shown in Non-Patent Document 2, there is a method of adjusting a side surface of a semiconductor high mesa waveguide by filling a resin.
4波の光を合波する場合には、一段目の2つのマッハツェンダー干渉計が少なくとも必要となる(なお、二段目はマッハツェンダー干渉計でなくても、MMIカップラーやY分岐スプリッターを使用することができる)。
この場合、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計に設定した遅延量と一段目の第2のマッハツェンダー干渉計に設定した遅延量を、90°の位相差がつくように微調整する。つまり、第1のマッハツェンダー干渉計から出力される光と、第2のマッハツェンダー干渉計から出力される光の位相差が、90°となるように、第1及び第2のマッハツェンダー干渉計に設定する遅延量を微調整する必要がある。このように微調整することが、もう1つの問題である。
When combining four light beams, at least two Mach-Zehnder interferometers in the first stage are required (Note that the MMI coupler and Y-branch splitter are used in the second stage, even if they are not Mach-Zehnder interferometers. can do).
In this case, the delay amount set for the first Mach-Zehnder interferometer at the first stage and the delay amount set for the second Mach-Zehnder interferometer at the first stage are finely adjusted so that a phase difference of 90 ° is obtained. That is, the first and second Mach-Zehnder interferometers so that the phase difference between the light output from the first Mach-Zehnder interferometer and the light output from the second Mach-Zehnder interferometer is 90 °. It is necessary to finely adjust the delay amount set to. This fine adjustment is another problem.
ここで、マッハツェンダー干渉計フィルターの動作を説明する。なお以下に示す数値、材料は一例であり、他の数値、材料であっても無論構わない。 Here, the operation of the Mach-Zehnder interferometer filter will be described. The numerical values and materials shown below are examples, and other numerical values and materials may be used.
ここでは、InP半導体基板上に形成したInGaAsPをコアに持つハイメサ構造を導波路としてもつ、波長(λ)1.3μm帯でλ1=1295.5 nm, λ2= 1300.0 nm, λ3=1304.5 nm, λ4=1309 nmの4波の光を合波する合波フィルターについて説明する。
なお本明細書では、λ(λ1,λ2,λ3,λ4)は、異なる光を示すと同時に、各光の波長も表すものとして用いる。例えば、λ1は、ある一つの光を示すと同時にこの光の波長がλ1であることも表している。
Here, a waveguide has a high mesa structure with InGaAsP formed on an InP semiconductor substrate as a core, and λ1 = 1295.5 nm, λ2 = 1300.0 nm, λ3 = 1304.5 nm, λ4 = 1309 nm in a wavelength (λ) 1.3 μm band. A multiplexing filter that combines the four light beams will be described.
In this specification, λ (λ1, λ2, λ3, λ4) is used to indicate different light and also indicate the wavelength of each light. For example, λ1 indicates one light and also indicates that the wavelength of this light is λ1.
図4は、1つのマッハツェンダー干渉計1を示した図である。このマッハツェンダー干渉計1は、2つの入力導波路2a,2bと、2つの3dBカップラー3a,3bと、3dBカップラー3aと3dBカップラー3bとを接続する一対の(上側、下側の)アーム導波路4a,4bと、2つの出力導波路5a,5bからなる。アーム導波路4a,4bには、両者の導波路を通過してくる光に位相差を付けるための遅延回路が形成されている。遅延回路とは、上側アーム導波路4aの長さと下側アーム導波路4bの長さとの差により形成されたものである。
FIG. 4 is a diagram showing one Mach-Zehnder
今、遅延回路を形成するアーム導波路4a,4bの実効屈折率が3.243であるとして(波長分散特性を無視して)、遅延量(上側アーム導波路4aの長さと下側アーム導波路4bの長さの差)ΔL1が28.056 μmであるとする。
Now, assuming that the effective refractive index of the
入力導波路2aから白色光(ブロードな光)を入力した場合、出力導波路5a,5bに現れる光のスペクトルを計算によって求めたものが図5(a)である。
出力導波路5aからの出力1が実線で、出力導波路5bからの出力2が点線で示される。出力1ではλ4の1.309μm波長ではONつまり光が通過してくる状態であり、λ2=1.300μm付近では逆に遮断される特性になる。出力2ではそれらが反転する。
この場合は、白色光を入力導波路2aから入力した場合で説明したが、光の相反性から入力導波路2aから波長1.300 μmの光λ2を、入力導波路2bから1.309 μmの波長の光λ4を入力すると出力導波路5aからの出力1に両者の光λ2,λ4が合波され出力されることがわかる。
When white light (broad light) is input from the
The
In this case, the case where white light is input from the
λ1とλ3の光を合波しようとすると、遅延量として図5(a)の特性に対して90°分の位相差を遅延回路に付与する必要があるので、遅延量を変更してΔL2=27.959 μmとして計算すると、今度は、λ1とλ3の光を合波することができ図5(b)の特性を得る。 When trying to multiplex the light of λ1 and λ3, it is necessary to give the delay circuit a phase difference of 90 ° with respect to the characteristic of FIG. 5A as the delay amount. If calculated as 27.959 μm, the light of λ1 and λ3 can be multiplexed this time, and the characteristic of FIG. 5B is obtained.
λ1, λ3の光の組みに、λ2、λ4の光の組みをさらに合波するため、遅延量ΔLを前のλ2、λ4を合波したときの遅延量ΔL1の倍の値ΔL3 = 56.112 μmに設定すると、図5(c)のような特性が得られる。 In order to further multiplex the combination of light of λ1 and λ3 with the combination of light of λ2 and λ4, the delay amount ΔL is a value ΔL3 = 56.112 μm, which is twice the delay amount ΔL1 when the previous combination of λ2 and λ4 is combined. When set, characteristics as shown in FIG. 5C are obtained.
したがって、図6に示すマッハツェンダー合波・分波フィルターのように、遅延量がΔL1となっている2入力2出力の一段目の第1のマッハツェンダー干渉計1Aと、遅延量がΔL2となっている2入力2出力の一段目の第2のマッハツェンダー干渉計1Bを並べ、第1,第2のマッハツェンダー干渉計1A,1Bそれぞれの出力を、遅延量がΔL3となっている2入力2出力の二段目の第3のマッハツェンダー干渉計1Cに入力する構成を取るようにすれば、λ1、λ2、λ3、λ4の4つの光を1つの導波路に合波することが可能である。
なお図6において、inは入力ポートを、outは出力ポートを、moはモニターポートを示す。
Therefore, as in the Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter shown in FIG. 6, the delay amount is ΔL2 with the first Mach-
In FIG. 6, in indicates an input port, out indicates an output port, and mo indicates a monitor port.
このように一段目の第1のマッハツェンダー干渉計1Aと一段目の第2のマッハツェンダー干渉計1Bは遅延量ΔLが微妙に違う構成で非常によく似ているが、両者の位相特性が常に90°分の位相差となっているずれた関係が求められる。
As described above, the first Mach-Zehnder
しかし、これを実際に作ることは非常に難しい。まず設計がそもそも、遅延量ΔLを微妙に変えなければならないため煩雑になる。また製造においても、設計で付けた微妙な遅延量ΔLの再現をすることは非常に困難である。仮にできたとして一段目の2つのマッハツェンダー干渉計1A,1Bが90°の位相関係であったとしても、絶対波長が合っていない場合には、なんらかの手法でトリミングすることになるが、それぞれ違ったトリミングを実施しなければならず、90°の位相関係のずれを再度壊すことになってしまう問題がある。
However, it is very difficult to actually make this. First, the design is complicated because the delay amount ΔL must be changed slightly. Also in manufacturing, it is very difficult to reproduce the delicate delay amount ΔL added in the design. Even if the two Mach-
この遅延量は、導波路を構成する材料の屈折率によるが、半導体を用いた回路の場合は、100nm程度しかない(真空中で1.3μmの波長だとすると屈折率3の材料の中では、その1/3の波長になり、さらに90°の位相差、つまり4分の1波長なのでおよそ100nm程度になる)。あくまで遅延量の差が数百nm程度であり、遅延量を発生させるために必要な実際の上側アームと下側アームの長さは実際もっと長い。それにもかかわらず、2つの一段目のマッハツェンダー干渉計1A,1Bでは設計上の違いでわずかに0.1μmの差を付けて設計し、それを歩留りよく製造しなければならない。
This delay amount depends on the refractive index of the material composing the waveguide, but in the case of a circuit using a semiconductor, it is only about 100 nm (if the wavelength is 1.3 μm in a vacuum, it is 1 / 3, and a phase difference of 90 °, that is, a quarter wavelength, which is about 100 nm). The difference in the delay amount is only about several hundred nm, and the actual lengths of the upper arm and the lower arm necessary for generating the delay amount are actually longer. Nevertheless, the two first-stage Mach-
また、一段目の第1及び第2のマッハツェンダー干渉計1A,1Bの遅延量が異なるので、素子が置かれる外気の温度が変化した場合、絶対波長もずれるが、第1及び第2のマッハツェンダー干渉計1A,1Bが示す透過波長の間隔も相対的にずれる問題が生じることになる。つまり遅延を微妙に変えたマッハツェンダー干渉計を1段目の合波器に使用すると、温度特性が、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計1Aと一段目の第2のマッハツェンダー干渉計1Bの間で異なる。
In addition, since the delay amounts of the first and second Mach-
さらには、絶対波長を何らかの方法で製造後に調整するとしても、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計1Aと一段目の第2のマッハツェンダー干渉計1Bで遅延量そのものが異なるので、調整量も異なる。このように、それぞれに違う調整量が必要になり、調整に時間がかかるという問題があった。
Furthermore, even if the absolute wavelength is adjusted after manufacturing by some method, the delay amount itself is different between the first Mach-
本発明は、上記従来技術に鑑み、マッハツェンダー合波・分波フィルターにおける一段目の第1と第2のマッハツェンダー干渉計の位相差を90°にするために設定する遅延量の設計や調整を容易に行うことができる、マッハツェンダー合波・分波フィルターを提供することを目的とする。 In view of the above prior art, the present invention is designed and adjusted for the delay amount set in order to set the phase difference between the first and second Mach-Zehnder interferometers of the first stage in the Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter to 90 °. It is an object of the present invention to provide a Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter that can be easily performed.
上記課題を解決する本発明の構成は、第1のカップラーと、第2のカップラーと、前記第1のカップラーと前記第2のカップラーとを接続する一対のアーム導波路とからなる第1のマッハツェンダー干渉計と、
第3のカップラーと、第4のカップラーと、前記第3のカップラーと前記第4のカップラーとを接続する一対のアーム導波路とからなる第2のマッハツェンダー干渉計と、
前記第2のカップラー及び前記第4のカップラーに接続された合波・分波器と、
を備えた、4つの異なる波長の光を合波・分波するマッハツェンダー合波・分波フィルターにおいて、
前記第1のマッハツェンダー干渉計のアーム導波路により形成される遅延回路の遅延量と、前記第2のマッハツェンダー干渉計のアーム導波路により形成される遅延回路の遅延量とが同じであり、
前記第1のカップラーと、前記第2のカップラーと、前記第3のカップラーが2入力2出力型のカップラーであり、前記第4のカップラーが2入力1出力型のカップラーであることを特徴とする。
The configuration of the present invention that solves the above problems includes a first Mach including a first coupler, a second coupler, and a pair of arm waveguides that connect the first coupler and the second coupler. A Zender interferometer,
A second Mach-Zehnder interferometer comprising a third coupler, a fourth coupler, and a pair of arm waveguides connecting the third coupler and the fourth coupler;
A multiplexer / demultiplexer connected to the second coupler and the fourth coupler;
In a Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter that combines and demultiplexes light of four different wavelengths
The delay amount of the delay circuit formed by the arm waveguide of the first Mach-Zehnder interferometer is the same as the delay amount of the delay circuit formed by the arm waveguide of the second Mach-Zehnder interferometer,
The first coupler, the second coupler, and the third coupler are two-input two-output couplers, and the fourth coupler is a two-input one-output coupler. .
また本発明の構成は、前記合波・分波器が、マッハツェンダー干渉計またはMMIカップラーまたはY分岐スプリッターのいずれか一つであることを特徴とする。 In the configuration of the invention, the multiplexer / demultiplexer is any one of a Mach-Zehnder interferometer, an MMI coupler, and a Y-branch splitter.
また本発明の構成は、前記第1のカップラーと前記第2のカップラーと前記第3のカップラーのそれぞれが、MMIカップラーまたは方向性結合器のいずれか一つであり、前記第4のカップラーが、MMIカップラーまたはY分岐スプリッターのいずれか一つであることを特徴とする。 Further, in the configuration of the present invention, each of the first coupler, the second coupler, and the third coupler is any one of an MMI coupler and a directional coupler, and the fourth coupler is: It is one of an MMI coupler and a Y-branch splitter.
また本発明の構成は、前記第4のカップラーがMMIカップラーであり、このMMIカップラーの出力導波路に隣接して、前記第4のカップラーのボディー部の端にモニター用の導波路が設けられていることを特徴とする。 In the configuration of the present invention, the fourth coupler is an MMI coupler, and a monitoring waveguide is provided at the end of the body of the fourth coupler adjacent to the output waveguide of the MMI coupler. It is characterized by being.
本発明では、一段目の第1,第2のマッハツェンダー干渉計と、二段目の合波・分波器により構成されているマッハツェンダー合波・分波フィルターにおいて、第1,第2のマッハツェンダー干渉計の遅延量は同一にしているが、第1,第2のマッハツェンダー干渉計のカップラーのタイプを工夫することにより、第1,第2のマッハツェンダー干渉計の位相差を90°にしている。
このように、第1,第2のマッハツェンダー干渉計の遅延量が同一であるため、遅延回路の設計の微調整が不要となり、遅延量の設計や調整が容易になる。また、トリミングする際には、第1,第2のマッハツェンダー干渉計に対して同一量のトリミングをすればよく、容易にトリミングができる。さらに第1,第2のマッハツェンダー干渉計の温度特性も等しくなる。
In the present invention, in the Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter constituted by the first-stage first and second Mach-Zehnder interferometers and the second-stage multiplexing / demultiplexing filter, Although the delay amount of the Mach-Zehnder interferometer is the same, by devising the coupler type of the first and second Mach-Zehnder interferometers, the phase difference between the first and second Mach-Zehnder interferometers is 90 °. I have to.
As described above, since the delay amounts of the first and second Mach-Zehnder interferometers are the same, fine adjustment of the design of the delay circuit becomes unnecessary, and the delay amount can be easily designed and adjusted. Further, when trimming, the same amount of trimming may be performed on the first and second Mach-Zehnder interferometers, and the trimming can be easily performed. Furthermore, the temperature characteristics of the first and second Mach-Zehnder interferometers are also equal.
以下、本発明に係るマッハツェンダー合波・分波フィルターを、実施例に基づき詳細に説明する。 Hereinafter, a Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter according to the present invention will be described in detail based on examples.
〔実施例1〕
図1は、本発明の実施例1に係るマッハツェンダー合波・分波フィルター100を備えた、100GbE用モノリシック集積型の光源10を示す構成図である。
この光源10は、半導体レーザ部(Laser diode部:LD部)200、電界吸収型変調器部(Electroabsorption modulator部:EAM部)300、フォトダイオード部(PhotoDiode部:PD部)400、および、多段のマッハツェンダー干渉計を用いたマッハツェンダー合波・分波フィルター100からなっている。
なお、マッハツェンダー合波・分波フィルター100は、光を合波する機能と分波する機能を有しているが、図1に示すように光源10に組み込んだマッハツェンダー合波・分波フィルター100は、合波器として機能するものである。
[Example 1]
FIG. 1 is a configuration diagram illustrating a monolithic integrated
The
The Mach-Zehnder multiplexing /
マッハツェンダー合波・分波フィルター100は、一段目の2つのマッハツェンダー干渉計110,120と、二段目のマッハツェンダー干渉計(合波・分波器)130により構成されている。
LD部200は、例えばλ1=1295.5 nm, λ2= 1300.0 nm, λ3=1304.5 nm, λ4=1309 nmの4波の光を発生する4つの半導体レーザLD1,LD2,LD3,LD4により構成されている。
EAM部300は、4つの電界吸収型変調器EAM1,EAM2,EAM3,EAM4により構成されている。
PD部400は、4つのフォトダイオードPD1,PD2,PD3,PD4により構成されている。
The Mach-Zehnder multiplexing /
The
The
The
半導体レーザLD1,LD2,LD3,LD4から出力された光λ1,λ2,λ3,λ4は、電界吸収型変調器EAM1,EAM2,EAM3,EAM4により変調されてから、マッハツェンダー合波・分波フィルター100に入力され、後述するように、マッハツェンダー合波・分波フィルター100を通過することにより合波される。
また、半導体レーザLD1,LD2,LD3,LD4から出力された光λ1,λ2,λ3,λ4は、フォトダイオードPD1,PD2,PD3,PD4により検出される。
The lights λ1, λ2, λ3, and λ4 output from the semiconductor lasers LD1, LD2, LD3, and LD4 are modulated by the electroabsorption modulators EAM1, EAM2, EAM3, and EAM4, and then the Mach-Zehnder multiplexing /
Lights λ1, λ2, λ3, and λ4 output from the semiconductor lasers LD1, LD2, LD3, and LD4 are detected by the photodiodes PD1, PD2, PD3, and PD4.
LD部200は、n型のInP基板上に、n‐InPクラッド、InAlGaAsバリア、InAlGaAs量子井戸からなるLD多重量子井戸活性層、p−InPクラッドを形成してなる。
EAM部300は、n型のInP基板上に、n‐InPクラッド、InGaAsPガイド層、InAlGaAsバリア、InAlGaAs量子井戸からなるEAM多重量子井戸活性層、p−InPクラッドを形成してなる。
パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100のコア層、上下クラッド層は、EAM部300と同様の構成となっているが絶縁のため上部電極はない。
The
The
The core layer and upper and lower cladding layers of the passive part (Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter) 100 have the same configuration as that of the
ここに、LD部200の活性層は、バンドギャップ波長が1.3μmとなるような多重量子井戸構造を用い、EAM部300の活性層は、井戸層のバンドギャップ波長がLD部200との離調が室温で70 nmとなるように、与えられた歪に対して第1量子化準位間波長が1.23μmとなるような混晶を用いる。
Here, the active layer of the
パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100に関しては、コア層をバンドギャップ波長1.15μmのInGaAsPとし、下部クラッドはn‐InPとする。バリア材料の組成は基板に格子整合するものとしているが、歪補償の目的でバリア層に歪を導入しても問題は無い。半導体混晶の組成比は、歪量、井戸幅、第一量子化準位間波長によって特定するが、組成比は本発明においては重要事項ではないので、ここでは具体的には述べない。 For the passive part (Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter) 100, the core layer is InGaAsP with a band gap wavelength of 1.15 μm, and the lower cladding is n-InP. The composition of the barrier material is assumed to lattice match with the substrate, but there is no problem even if strain is introduced into the barrier layer for the purpose of strain compensation. The composition ratio of the semiconductor mixed crystal is specified by the strain amount, the well width, and the wavelength between the first quantization levels. However, the composition ratio is not an important matter in the present invention and will not be specifically described here.
次に、本実施例に係る変調器を集積した光源10の製造方法を説明する。
まず、n型のInP基板上に、LD部200の下部クラッド、活性部を成長させる。ウェットエッチングによってLD部200の必要な部分以外をエッチングにより削り、EAM部300の活性部、パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100のコア層をバットジョイント再成長する。
Next, a method for manufacturing the
First, a lower clad and an active part of the
さらに、LD部200、EAM部300、パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100の必要な部分以外をエッチングにより削って、パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100のコア層をバットジョイント再成長する。
Furthermore, the core part of the passive part (Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter) 100 is cut by etching except the necessary parts of the
LD部200に回折格子を形成した後、p-InP上部クラッドを2μm成長し、さらにp-InGaAsのコンタクト層を成長させることで、半導体レーザ部200、および電界吸収型変調器部300、マッハツェンダー合波・分波フィルター100を作り込むウェハーが完成する。
After forming a diffraction grating in the
ここで、このまま、多段のマッハツェンダー合波・分波フィルター100を作りこむと、上部クラッドがp-InPであるために、光の損失が大きく、出射光パワーが小さくなってしまう。そこでここでは、この状態からさらに、パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100の上部クラッドをエッチングによって削って、ノンドープのInPをバットジョイント再成長する。
Here, if the multi-stage Mach-Zehnder multiplexing /
完成したウェハーにおいて、LD部200、EAM部300、パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100、PD部400にリッジ導波路形成プロセスを施し、パッシブ部(マッハツェンダー合波・分波フィルター)100にハイメサ導波路形成プロセス、及び電極形成プロセスを施し、へき開後に、チップの前後端面に無反射コーティングを施すことによって、素子としての光源10が完成する。
In the completed wafer, the
図2は、本発明におけるパッシブ部分であるマッハツェンダー合波・分波フィルター100だけを拡大した構成図である。
このマッハツェンダー合波・分波フィルター100は、遅延量がΔL1(=28.056μm)となっている一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110と、遅延量が同じくΔL1(=28.056μm)となっている一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120と、遅延量がΔL3(=ΔL1×2=56.112μm)となっている二段目のマッハツェンダー干渉計130により構成されている。
二段目のマッハツェンダー干渉計130は、一段目の第1及び第2のマッハツェンダー干渉計110,120に接続されて、第1及び第2のマッハツェンダー干渉計110,120から出力される光を合波するものである。
FIG. 2 is an enlarged configuration diagram of only the Mach-Zehnder multiplexing /
The Mach-Zehnder multiplexing /
The second-stage Mach-
このように、一段目の第1,第2のマッハツェンダー干渉計110,120の遅延量を同一の遅延量ΔL1にしていることが、本発明の一つの特徴である。
As described above, it is one feature of the present invention that the delay amounts of the first and second Mach-
一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110は、2つの入力導波路112a,112bと、2×2MMI型の第1のカップラー113aと、2×2MMI型の第2のカップラー113bと、第1のカップラー113aと第2のカップラー113bとを接続する一対のアーム導波路114a,114bと、2つの出力導波路115a,115bからなる。
遅延量がΔL1となっている遅延回路を形成するように、アーム導波路114aの長さとアーム導波路114bの長さに差をつけている。
The first stage Mach-
The length of the
出力導波路115aは、二段目のマッハツェンダー干渉計130の入力側に接続されている。つまりマッハツェンダー干渉計130は、出力導波路115aを介して、マッハツェンダー干渉計110の第2のカップラ―113bに接続されている。
出力導波路115bは、チップ端にまで導波路として伸び、モニタリングポートmoとなっている。このモニタリングポートを通じて、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110の特性評価をすることができる。
The
The
一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120は、2つの入力導波路122a,122bと、2×2MMI型の第3のカップラー123aと、2×1MMI型の第4のカップラー123bと、第3のカップラー123aと第4のカップラー123bとを接続する一対のアーム導波路124a,124bと、1つの出力導波路125aからなる。
遅延量がΔL1となっている遅延回路を形成するように、アーム導波路124aの長さとアーム導波路124bの長さに差をつけている。
The second stage Mach-
The length of the
出力導波路125aは、二段目のマッハツェンダー干渉計130の入力側に接続されている。つまりマッハツェンダー干渉計130は、出力導波路125aを介して、マッハツェンダー干渉計120の第4のカップラー123bに接続されている。
The
このように一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110においては、第2のカップラー113bを2×2MMI型のカップラーとしているのに対して、一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120においては、第4のカップラー123bを2×2MMI型のカップラーではなく2×1MMI型のカップラーとしていることが、本発明のもう一つの特徴である。
Thus, in the first Mach-
90°の位相差を、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計と一段目の第2のマッハツェンダー干渉計との間で設ける場合には、従来では前述したように第1と第2のマッハツェンダー干渉計の遅延量を調整していた。 When a 90 ° phase difference is provided between the first Mach-Zehnder interferometer at the first stage and the second Mach-Zehnder interferometer at the first stage, as described above, the first and second Mach-Zehnders are conventionally used. The amount of delay of the Zender interferometer was adjusted.
一方、本実施例の構成では、
(α) 一段目の第1及び第2のマッハツェンダー干渉計110,120の遅延量は同じくΔL1にするが、
(β) 第1のマッハツェンダー干渉計110の第2のカップラー113bを、2×2MMI型のカップラーとしているのに対して、第2のマッハツェンダー干渉計120の第4のカップラー123bを、2×2MMI型のカップラーではなく2×1MMI型のカップラーとしている。
On the other hand, in the configuration of this embodiment,
(Α) Although the delay amounts of the first and second Mach-
(Β) The
上記の(α),(β)の構成を採用することにより、一段目の第1及び第2のマッハツェンダー干渉計110,120間の位相差を90°にしている。つまり、第1のマッハツェンダー干渉計110から出力される光と、第2のマッハツェンダー干渉計120から出力される光の位相差が、90°となるようにしている。
これは、光が2×2MMI型のカップラーを通過する場合と、光が2×1MMI型のカップラーを通過する場合とで位相差が90°異なる点に着目して構成したものである。即ち、光が2×1MMI型のカップラーを通過する際に発生する光の遅延量が、位相量にしてπ/2になる点に着目して構成したものである。
By adopting the above configurations (α) and (β), the phase difference between the first and second Mach-
This is configured by paying attention to the fact that the phase difference differs by 90 ° between when light passes through a 2 × 2 MMI type coupler and when light passes through a 2 × 1 MMI type coupler. That is, it is configured by paying attention to the fact that the amount of delay of light generated when light passes through a 2 × 1 MMI type coupler is π / 2 as a phase amount.
二段目のマッハツェンダー干渉計(合波・分波器)130は、2つの入力導波路132a,132bと、2×2MMI型の第5のカップラー133aと、2×2MMI型の第6のカップラー133bと、第5のカップラー133aと第6のカップラー133bとを接続する一対のアーム導波路134a,134bと、2つの出力導波路135a,135bからなる。
遅延量がΔL3となっている遅延回路を形成するように、アーム導波路134aの長さとアーム導波路134bの長さに差をつけている。
The second-stage Mach-Zehnder interferometer (multiplexer / demultiplexer) 130 includes two
The length of the
出力導波路135aは、チップ端にまで導波路として伸び、モニタリングポートmoとなっている。このモニタリングポートを通じて、二段目のマッハツェンダー干渉計130の特性評価をすることができる。出力導波路135bは、チップ端にまで導波路として伸び、出力ポートoutとなっている。
The
上記構成となっているマッハツェンダー合波・分波フィルター100では、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110に入力された光λ2,λ4は、このマッハツェンダー干渉計110を通過することにより合波され、二段目のマッハツェンダー干渉計130に入力される。
一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120に入力された光λ1,λ3は、このマッハツェンダー干渉計120を通過することにより合波され、二段目のマッハツェンダー干渉計130に入力される。
In the Mach-Zehnder multiplexing /
Lights λ1 and λ3 input to the second stage Mach-
一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110を通過して二段目のマッハツェンダー干渉計130に入力される合波された光λ2,λ4と、一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120を通過して二段目のマッハツェンダー干渉計130に入力される合波された光λ1,λ3との位相差は90°になっている。
このため、二段目のマッハツェンダー干渉計130に入力される、光λ2,λ4と光λ1,λ3は二段目のマッハツェンダー干渉計130を通過することにより合波され、出力導波路135b及び出力ポートoutを介して出力される。つまり、4波の光λ2,λ4,λ1,λ3が合波されて出力される。
The combined light λ2, λ4 that passes through the first Mach-
Therefore, the light λ2, λ4 and the light λ1, λ3 input to the second-stage Mach-
一段目の第1及び第2のマッハツェンダー干渉計110,120間の位相差を90°にするために、上述した(α),(β)に示す構成を採用したことにより得られる利点は、次の通りである。
In order to make the phase difference between the first and second Mach-
第一、第二のマッハツェンダー干渉計110,120間でわずか90°の位相差を与える場合において、それぞれのマッハツェンダー干渉計110,120の遅延量の調整が不要であり、同一の設計でよく、設計上も非常に効率よく設計できる。
従来のように遅延量を調整して第一、第二のマッハツェンダー干渉計間の位相差を調整した場合に比べて、カップラーにて位相差を調整した方が、製造誤差にも強く、製造精度がやや粗くても90°の位相関係を保つことができる。
When a phase difference of only 90 ° is given between the first and second Mach-
Compared to the case where the delay amount is adjusted and the phase difference between the first and second Mach-Zehnder interferometers is adjusted as before, adjusting the phase difference with the coupler is more resistant to manufacturing errors. Even if the accuracy is somewhat coarse, the phase relationship of 90 ° can be maintained.
本実施例のように、マッハツェンダー合波・分波フィルター100をレーザ光のMUX(合波器)として利用した場合、レーザの発振波長とマッハツェンダー合波・分波フィルター100の透過波長が製造誤差により異なる場合がある。しかし、第一、第2のマッハツェンダー干渉計110,120は、同一基板に隣接されたもので同一遅延量を有する。つまり第一、第二のマッハツェンダー干渉計110,120の透過波長が、当該波長とズレていたとしても、これら二つのズレの量はほぼ等しくなる。
When the Mach-Zehnder multiplexing /
この場合、なんらかの方法でマッハツェンダー干渉計110,120の特性を調整して透過波長と、レーザ発振波長を一致させる訳だが、本実施例の構成では同じだけのトリミング量をマッハツェンダー干渉計110,120に対して施せばよい。
In this case, the characteristics of the Mach-
一方、従来の90°の位相差を遅延量にて形成した場合は、90°の位相関係そのものがズレることもあるので、それぞれの調整量が異なることがある。しかしながら本実施例の構成では、同一調整量でいいので、調整時間の短縮が可能である。 On the other hand, in the case where the conventional 90 ° phase difference is formed by the delay amount, the 90 ° phase relationship itself may be shifted, so that the respective adjustment amounts may be different. However, in the configuration of the present embodiment, since the same adjustment amount is sufficient, the adjustment time can be shortened.
またここでは、第一、第二のマッハツェンダー干渉計110,120の単アーム側は直線の場合で図示しているが、ΔL1の遅延量を設定できるのであれば2つのアーム導波路を曲線で構成しても同じである。
Also, here, the single arm side of the first and second Mach-
ここでは、一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120の第4のカップラー123bを2×1MMI型のカップラーとしたが、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110の第2のカップラー113bを2×1MMI型のカップラーとし、一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120の第4のカップラー123bを2×2MMI型のカップラーとする構成にしても、図1,図2に示すものと同様の作用効果を実現可能であることは言うまでもない。
つまり、図1の例では、マッハツェンダー干渉計110を第1のマッハツェンダー干渉計、マッハツェンダー干渉計120を第2のマッハツェンダー干渉計としているが、マッハツェンダー干渉計110を第2のマッハツェンダー干渉計、マッハツェンダー干渉計120を第1のマッハツェンダー干渉計としてもよい。
Here, the
That is, in the example of FIG. 1, the Mach-
また上記実施例では、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110の第2のカップラー113bと一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120の第4のカップラー123bの、何れか一方を2×2MMI型のカップラーにし、何れか他方を2×1MMI型のカップラーにしているが、2入力1出力(2×1)型のカップラーとしてはMMI型のカップラーに限定されるものではない。例えば、一方の2×2MMI型のカップラーに対して、カップラー通過時の位相差が90°付くY分岐型の2×1カップラー(Y分岐スプリッター)を採用することもできる。
In the above embodiment, one of the
また上記実施例では、第1のカップラー113a,第2のカップラー113b,第3のカップラー123aを、2×2MMI型のカップラーにしているが、これらカップラー113a,113b,123aを2入力2出力の方向性結合器で構成することもできる。
In the above embodiment, the
〔実施例2〕
図3は本発明の実施例2に係る、マッハツェンダー合波・分波フィルター100Aを備えた、100GbE用モノリシック集積型の光源10Aを示す構成図である。
この実施例2では、一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120の2×1MMI型の第4のカップラー123bのボディーの端に、出力導波路125aに隣接するモニター用の導波路126を形成している。このモニター用の導波路126はチップ端まで伸びて、第2のマッハツェンダー干渉計120の特性をモニターするためのモニターポートMOを形成している。
他の部分の構成は、図1及び図2に示す光源10と同じである。
[Example 2]
FIG. 3 is a block diagram showing a monolithic integrated
In the second embodiment, a
The structure of the other parts is the same as that of the
第4のカップラー123bとして2×1MMI型のカップラーを用いた場合は、第2のマッハツェンダー干渉計120の特性をモニターするためのモニターポートMOを設置することが好ましい。
When a 2 × 1 MMI type coupler is used as the
2×1MMI型のカップラーを用いた場合のモニターポートMOについて説明する。
通常の2×1MMI型のカップラーの構成は、2つの入力導波路に、MMIボディーとなる幅の太いマルチモード導波路が接続され、出力に1つの出力導波路が接続される構成となる。
MMIボディー部の幅と長さを適当に選ぶことにより、2つの入力から同相で入力された光が、出口導波路に集光する。この時、位相差が生じる場合は、中央部に集光しない。
The monitor port MO when a 2 × 1 MMI type coupler is used will be described.
A typical 2 × 1 MMI type coupler has a configuration in which a wide multimode waveguide serving as an MMI body is connected to two input waveguides, and one output waveguide is connected to an output.
By appropriately selecting the width and length of the MMI body portion, the light input in phase from the two inputs is condensed on the exit waveguide. At this time, if a phase difference occurs, the light is not condensed at the center.
そこで、この集光しない光を外部まで引き出す方法として、出力導波路125aの横に、もう一つのモニター用の導波路126を接続してモニター出力を得ることが可能である。
この場合、メイン(本来の出力)と反転した出力(メインが透過する波長で消光する)が得られるので、メインの透過波長などの情報を得ることが可能となる。
Therefore, as a method of extracting the light that is not collected to the outside, it is possible to obtain another monitor output by connecting another
In this case, since the main (original output) and the inverted output (quenching is performed at the wavelength transmitted by the main) can be obtained, information such as the main transmission wavelength can be obtained.
なお、モニター用の導波路126を介して出力される光は、2×2MMIカップラーのポートから出力される光に比べて、3dB程度その光強度は低下するが、モニターは可能である。特にLD部200の直後の位置にモニター用の導波路126を配置している場合には、光強度が3dB程度落ちても十分にモニターすることができる。
Note that the light output through the
このモニターポートMOがないと、一段目の第1のマッハツェンダー干渉計110を透過した出力光と、二段目のマッハツェンダー干渉計130を透過した出力光しか得られないので、一段目の第2のマッハツェンダー干渉計120をトリミングする際などに、どれぐらい調整すればいいかなどの情報が得られない。
Without this monitor port MO, only the output light transmitted through the first stage Mach-
実施例2では、第4のカップラー123bのボディーの端に、出力導波路125aに隣接するモニター用の導波路126によりモニターポートMOを形成したため、第2のマッハツェンダー干渉計120の特性をモニターすることができ、第2のマッハツェンダー干渉計120をトリミングする際の調整量を把握することができる。
In the second embodiment, since the monitor port MO is formed by the
〔実施例3〕
図1,図2に示す実施例1や、図3に示す実施例2では、二段目の合波・分波器として、マッハツェンダー干渉計130を使用しているが、マッハツェンダー干渉計130の代わりに、MMIカップラーやY分岐スプリッターを使用することができる。
Example 3
In the first embodiment shown in FIGS. 1 and 2 and the second embodiment shown in FIG. 3, the Mach-
本発明のマッハツェンダー合波・分波フィルターは、レーザから出力される複数波の光を合波する合波器としてのみならず、複数波の光を分波する分波器としても使用することができる。
例えば図2の例で言えば、合波された4波の光λ1,λ2,λ3,λ4を出力導波路135bから入力すると、これら光λ1,λ2,λ3,λ4は分波されて、光λ1は入力導波路122bから、光λ2は入力導波路112aから、光λ3は入力導波路122aから、光λ4は入力導波路112bから出力される。
The Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter of the present invention is used not only as a multiplexer that multiplexes a plurality of light beams output from a laser, but also as a demultiplexer that multiplexes a plurality of waves of light. Can do.
For example, in the example of FIG. 2, when the combined four light beams λ1, λ2, λ3, and λ4 are input from the
1,1A,1B,1C マッハツェンダー干渉計
2a,2b 入力導波路
3a,3b カップラー
4a,4b アーム導波路
5a,5b 出力導波路
10,10A 光源
100,100A マッハツェンダー合波・分波フィルター
110,120 一段目のマッハツェンダー干渉計
130 二段目のマッハツェンダー干渉計
112a,112b,122a,122b,132a,132b 入力導波路
113a,113b,123a,123b,133a,133b カップラー
114a,114b,124a,124b,134a,134b アーム導波路
115a,115b,125a,135a,135b 出力導波路
126 モニター用の導波路
1, 1A, 1B, 1C Mach-
Claims (4)
第3のカップラーと、第4のカップラーと、前記第3のカップラーと前記第4のカップラーとを接続する一対のアーム導波路とからなる第2のマッハツェンダー干渉計と、
前記第2のカップラー及び前記第4のカップラーに接続された合波・分波器と、
を備えた、4つの異なる波長の光を合波・分波するマッハツェンダー合波・分波フィルターにおいて、
前記第1のマッハツェンダー干渉計のアーム導波路により形成される遅延回路の遅延量と、前記第2のマッハツェンダー干渉計のアーム導波路により形成される遅延回路の遅延量とが同じであり、
前記第1のカップラーと、前記第2のカップラーと、前記第3のカップラーが2入力2出力型のカップラーであり、前記第4のカップラーが2入力1出力型のカップラーであることを特徴とするマッハツェンダー合波・分波フィルター。 A first Mach-Zehnder interferometer comprising a first coupler, a second coupler, and a pair of arm waveguides connecting the first coupler and the second coupler;
A second Mach-Zehnder interferometer comprising a third coupler, a fourth coupler, and a pair of arm waveguides connecting the third coupler and the fourth coupler;
A multiplexer / demultiplexer connected to the second coupler and the fourth coupler;
In a Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter that combines and demultiplexes light of four different wavelengths
The delay amount of the delay circuit formed by the arm waveguide of the first Mach-Zehnder interferometer is the same as the delay amount of the delay circuit formed by the arm waveguide of the second Mach-Zehnder interferometer,
The first coupler, the second coupler, and the third coupler are two-input two-output couplers, and the fourth coupler is a two-input one-output coupler. Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013000840A JP5902633B2 (en) | 2013-01-08 | 2013-01-08 | Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013000840A JP5902633B2 (en) | 2013-01-08 | 2013-01-08 | Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014134561A JP2014134561A (en) | 2014-07-24 |
JP5902633B2 true JP5902633B2 (en) | 2016-04-13 |
Family
ID=51412911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013000840A Expired - Fee Related JP5902633B2 (en) | 2013-01-08 | 2013-01-08 | Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5902633B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6994220B2 (en) * | 2018-03-01 | 2022-01-14 | 日本電信電話株式会社 | Wavelength combiner |
JP7256422B2 (en) * | 2019-05-30 | 2023-04-12 | 日本電信電話株式会社 | Light source with monitoring function |
WO2024048747A1 (en) * | 2022-08-31 | 2024-03-07 | 日本電信電話株式会社 | Planar light wave circuit-type lattice filter and optical transmission module using same |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001308422A (en) * | 2000-04-20 | 2001-11-02 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Excitation light source device |
JP2004312630A (en) * | 2003-04-10 | 2004-11-04 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | Access system network apparatus |
JP5005775B2 (en) * | 2010-01-12 | 2012-08-22 | 日本電信電話株式会社 | Manufacturing method of multimode interference type optical waveguide |
JP5729075B2 (en) * | 2011-03-28 | 2015-06-03 | 住友大阪セメント株式会社 | Optical waveguide device |
-
2013
- 2013-01-08 JP JP2013000840A patent/JP5902633B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014134561A (en) | 2014-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6876383B2 (en) | Tunable light source | |
Dai et al. | Silicon-based on-chip multiplexing technologies and devices for Peta-bit optical interconnects | |
Zhou et al. | Development trends in silicon photonics for data centers | |
Chen et al. | Compact dense wavelength-division (de) multiplexer utilizing a bidirectional arrayed-waveguide grating integrated with a Mach–Zehnder interferometer | |
JP5059601B2 (en) | Coolerless integrated circuit and floating wavelength grid photonic integrated circuit (PIC) for WDM transmission networks | |
JP5560602B2 (en) | Optical waveguide | |
JP2017098362A (en) | Optical integrated device and optical communication device | |
JP2013168440A (en) | Semiconductor optical modulation element and optical module | |
WO2018229213A1 (en) | Broadband arbitrary wavelength multichannel laser source | |
WO2018054075A1 (en) | Wavelength selectivity optical switch | |
JP7279518B2 (en) | Optical demultiplexer, optical transmission device and optical demultiplexing control method | |
JPWO2010016295A1 (en) | Tunable optical transmitter | |
Menon et al. | Photonic integration using asymmetric twin-waveguide (ATG) technology: part II-devices | |
JP5902633B2 (en) | Mach-Zehnder multiplexing / demultiplexing filter | |
US9547132B2 (en) | Optical element, light transmitting device, and light receiving device | |
US9927676B2 (en) | Optical device with integrated reflector(s) comprising a loop reflector integrating a mach-zehnder interferometer | |
JP5713378B2 (en) | Waveguide type optical filter and semiconductor laser | |
CN103370112A (en) | Laser light source output apparatus and laser output system | |
JP5751008B2 (en) | Optical multiplexer / demultiplexer and optical multiplexing / demultiplexing method | |
Caut et al. | Channel Scalability of Silicon Nitride (De-) multiplexers for Optical Interconnects at 1$\mu $ m | |
JP4230934B2 (en) | Multi-channel optical modulator and multi-channel optical transmitter | |
JP4390697B2 (en) | Optical amplifier | |
STARING et al. | Phased-array-based photonic integrated circuits for wavelength division multiplexing applications | |
JP6994220B2 (en) | Wavelength combiner | |
JP6535311B2 (en) | Wavelength multiplex transmitter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20141212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150714 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150715 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150910 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160308 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160310 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5902633 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |