JP5891195B2 - Optical inspection apparatus and optical inspection method for magnetic media - Google Patents
Optical inspection apparatus and optical inspection method for magnetic media Download PDFInfo
- Publication number
- JP5891195B2 JP5891195B2 JP2013074151A JP2013074151A JP5891195B2 JP 5891195 B2 JP5891195 B2 JP 5891195B2 JP 2013074151 A JP2013074151 A JP 2013074151A JP 2013074151 A JP2013074151 A JP 2013074151A JP 5891195 B2 JP5891195 B2 JP 5891195B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- hub
- inspection
- optical
- optical inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
本発明は、磁気メディアの光学式検査装置及び光学式検査方法に関する。 The present invention relates to an optical inspection apparatus and an optical inspection method for magnetic media.
磁気メディア(磁気ディスク)用基板として、アルミニウム(Al)基板又はガラス基板が用いられている。ガラス基板は用途に応じて結晶化ガラス(SX)又はアモルファスガラス(MEL)が用いられ、それぞれの種類のガラスにおいて、更に含有する成分が異なる複数の種類のガラスが用いられている。 As a substrate for magnetic media (magnetic disk), an aluminum (Al) substrate or a glass substrate is used. Depending on the application, crystallized glass (SX) or amorphous glass (MEL) is used as the glass substrate, and in each type of glass, a plurality of types of glass having different components are used.
このガラス基板には、処理工程の途中で、基板の表面に微小な凹み状(ピット)の欠陥や微小な突起状(ビット)の欠陥が発生してしまう場合がある。このような微小な欠陥が存在するガラス基板は、最終の検査工程で不良品としてはねられる可能性が高い。そこで、このように不良になる確率の高いガラス基板は、生産ラインの初期の工程でラインから取り除くことが生産の歩留まりを高く維持する上で望ましい。 In the glass substrate, a minute dent (pit) defect or a minute protrusion (bit) defect may occur on the surface of the substrate during the processing step. A glass substrate on which such a minute defect exists is highly likely to be rejected as a defective product in the final inspection process. Therefore, it is desirable to remove the glass substrate having a high probability of being defective as described above from the line in the initial process of the production line in order to maintain a high production yield.
なお、ガラス基板またはアルミニウム基板および磁気ディスクには用途別に様々なサイズが存在し、一般的なサイズとして外径1.8インチのモバイル向け磁気ディスク、2.5インチのデスクトップ向け磁気ディスク、3.5インチのサーバー向け磁気ディスクなどが有る。さらに、内径にもさまざまな種類があり、例として外径2.5インチのディスクでは、デスクトップ向けの内径20mm、サーバー向けの25mmのディスクが存在し、内径25mmのディスクにおいても外径2.5インチのディスクと3.5インチのディスクが存在するなど、ハードディスクの用途が広がるにつれ、磁気メディアのサイズも複雑多様化している。 There are various sizes of glass substrates or aluminum substrates and magnetic disks according to applications, and general sizes include a magnetic disk for mobile use with an outer diameter of 1.8 inches, a magnetic disk for desktop use with 2.5 inches, and 3. There are magnetic disks for 5-inch servers. Furthermore, there are various types of inner diameters. For example, a disk with an outer diameter of 2.5 inches has an inner diameter of 20 mm for a desktop and a disk with a diameter of 25 mm for a server. As the use of hard disks expands, such as the presence of inch disks and 3.5 inch disks, the size of magnetic media has become more complex and diverse.
このような状況から、検査方式を問わず、磁気メディア(磁気ディスク)の光学式検査装置には様々なディスクサイズへ対応する機能が求められる。光学式検査装置において検査対象ディスクを固定する方式としては、特許文献1に記載されているような光学的にディスク表面の欠陥を検査する装置においては、例えば特許文献2に記載されているような専用のハブを用いてディスクの中心穴をクランプし、これをスピンドルによって回転させる方法が一般的である。また、この専用ハブをディスクの内径別に用意し、検査対象ディスクのサイズに合わせてハブサイズを交換することにより、一つの装置で複数のディスクサイズへ対応させる方法がとられている。
Under such circumstances, regardless of the inspection method, an optical inspection apparatus for magnetic media (magnetic disk) is required to have a function corresponding to various disk sizes. As a method of fixing an inspection target disk in an optical inspection apparatus, an apparatus for optically inspecting a defect on a disk surface as described in
様々なサイズの磁気ディスクに対応した磁気メディアの光学式検査装置においては、サイズに応じた専用ハブを用意すると共に、ディスクの半径方向の長さでいう検査領域をディスクに合わせて変えられる必要がある。この検査領域は、ディスクのサイズごとに異なり、また重複することが有る。例として、外径2.5インチに内径20mmのディスクと内径25mmのディスクでは、内径側に約2.5mmの検査領域の重複が発生する。この重複が、装置の検査機構とハブの衝突を招く原因になる。特許文献1に記載されているような光学的にディスク表面の欠陥を検査する装置ではディスク表面からの反射光を集光するレンズやミラーが、検査対象ディスク面上を相対的に移動する検査機構として、ハブと衝突する危険性を孕んでいる。
In an optical inspection apparatus for magnetic media corresponding to magnetic disks of various sizes, it is necessary to prepare a dedicated hub corresponding to the size and to change the inspection area in the radial direction of the disk according to the disk. is there. This inspection area differs depending on the size of the disk and may overlap. As an example, in a disk having an outer diameter of 2.5 inches and an inner diameter of 20 mm and a disk having an inner diameter of 25 mm, an inspection area overlap of about 2.5 mm occurs on the inner diameter side. This overlap causes a collision between the device inspection mechanism and the hub. In an apparatus for optically inspecting a disk surface defect as described in
磁気ディスクのテスト工程における検査では、磁気ディスクの内径直近までを検査領域として設定するケースが多く、このような運用においては、装置に実装されているハブのサイズと装置ソフトウェア等における検査領域の設定の不一致が発生したときに、上述した検査機構とハブとが衝突する危険がある。 In inspections in the magnetic disk test process, there are many cases where the area close to the inner diameter of the magnetic disk is set as the inspection area. In such operations, the size of the hub mounted on the apparatus and the setting of the inspection area in the apparatus software, etc. There is a risk that the above-described inspection mechanism and the hub collide when the mismatch occurs.
特許文献1には、検査機構とハブとの衝突を防止することについては記載されていない。また、特許文献2にも、ディスクをチャックしたときにディスクの上面よりも突き出ているハブの上端部分が検査機構と衝突することを防止することについては記載されていない。
この衝突を防止する機構としては、スピンドルキャリッジと検査機構間に遮光センサを用いるなどの方法が考えられるが、ディスクの内径(ハブの外径)直近まで相対的に移動する検査機構を検知する仕組みとして使用するためには、センサそのものの動作精度、センサの位置精度を著しく高いものにする必要があり、スピンドルキャリッジ停止の動作についても高い応答性が要求されることになり、接地面積・調整面積の確保の問題と、制御技術の問題、コストの問題が発生する。さらに、シンプル・確実に検査機構とハブの衝突を防ぐ機構としては、スピンドルキャリッジと検査機構間にメカニカルストッパーを用いる方法が考えられるが、ハブを交換してハブ径を変更可能としている装置においては、検査対象ディスクのサイズの変更の際に、ハブの交換と共にメカニカルストッパーの交換を伴うことが有り、このような装置においては、メカニカルストッパーの交換を失念するなどのヒューマンエラーが発生する可能性がある。 As a mechanism for preventing this collision, a method such as using a light shielding sensor between the spindle carriage and the inspection mechanism can be considered, but a mechanism for detecting the inspection mechanism that moves relatively close to the inner diameter of the disk (the outer diameter of the hub). Therefore, it is necessary to make the operation accuracy of the sensor itself and the position accuracy of the sensor extremely high, and high responsiveness is also required for the operation of stopping the spindle carriage. Security problems, control technology problems, and cost problems occur. Furthermore, as a mechanism to prevent the collision between the inspection mechanism and the hub simply and reliably, a method using a mechanical stopper between the spindle carriage and the inspection mechanism is conceivable. However, in a device in which the hub diameter can be changed by replacing the hub. When changing the size of the disk to be inspected, the hub may be replaced with a mechanical stopper, and in such a device, a human error such as forgetting to replace the mechanical stopper may occur. is there.
本発明は、上記した従来技術の課題を解決して、ディスクの種類に応じてディスクをクランプするためのハブを交換した場合であっても、検査機構とハブとの衝突を確実に防止することを可能にする磁気メディアの光学式検査装置を提供するものである。 The present invention solves the above-described problems of the prior art and reliably prevents the collision between the inspection mechanism and the hub even when the hub for clamping the disc is replaced according to the type of the disc. It is an object of the present invention to provide an optical inspection apparatus for magnetic media that makes it possible to achieve this.
上記課題を解決するために、本発明では、磁気メディアの光学式検査装置を、検査対象の磁気メディアであるディスクを受け渡しするディスク受渡部と、ディスクを光学的に検査するディスク検査部と、ディスクの中心部分の穴と嵌合してディスクを搭載するハブを有し、このハブにディスクを搭載してディスク受渡部とディスク検査部との間を移動するディスク搬送ユニットと、ディスク搬送ユニットがハブにディスクを搭載した状態でディスク受渡部からディスク検査部へ移動する途中においてディスクを搭載したハブのディスクの中心部分の穴と勘合している部分の大きさを検出する検出手段と、この検出手段で検出したハブのディスクの中心部分の穴と嵌合している部分の大きさが予め設定した大きさと異なるときにはディスク搬送ユニットの移動を停止させる制御手段とを備えて構成した。
In order to solve the above problems, in the present invention, an optical inspection apparatus for magnetic media includes a disk delivery unit that delivers a disk that is a magnetic medium to be inspected, a disk inspection unit that optically inspects a disk, and a disk A disk transport unit that fits into the hole in the center of the disk and mounts the disk, mounts the disk on the hub and moves between the disk delivery section and the disk inspection section, and the disk transport unit is the hub Detecting means for detecting a size of a portion of the hub of the hub mounted with the disk, which is engaged with a hole in the central portion of the hub in the middle of moving from the disk delivery section to the disk inspection section with the disk mounted on the disk, and the detecting means If the size of the part of the hub that is detected in
また、上記課題を解決するために、本発明では、ディスク受渡部において検査対象の磁気メディアであるディスクの中心部分の穴をハブの先端部分と嵌合させて該ハブに搭載し、このディスクを搭載したハブをディスクを光学的に検査するディスク検査部へ搬送し、このディスク検査部においてディスクを光学的に検査する磁気メディアの光学式検査方法において、ディスクを搭載したハブをディスク検査部へ搬送する途中においてディスクを搭載したハブのディスクの中心部分の穴と勘合している部分の大きさを検出して、ハブのディスクの中心部分の穴と嵌合している部分の大きさが予め設定した大きさと異なるときにはハブの搬送を停止させるようにした。 In order to solve the above problems, in the present invention, in the disk delivery section, the hole in the center of the disk, which is the magnetic medium to be inspected, is fitted to the tip of the hub and mounted on the hub. The mounted hub is transported to a disk inspection unit that optically inspects the disk. In the optical inspection method for magnetic media in which the disk is optically inspected by this disk inspection unit, the hub on which the disk is mounted is transported to the disk inspection unit. In the middle of the process, the size of the part that fits into the hole in the center part of the hub disk is detected, and the size of the part that fits into the hole in the center part of the hub disk is preset. The transport of the hub is stopped when it is different from the size.
本発明によれば、磁気メディアの光学式検査装置において、検査機構とディスク供給・排出位置との間を移動するスピンドルキャリッジが検査機構の側に移動したときに、スピンドルキャリッジに装着した検査対象ディスクのサイズによって交換可能なハブが検査機構と干渉して検査機構を破壊してしまうことを防止できるようになった。 According to the present invention, in the optical inspection apparatus for magnetic media, when the spindle carriage that moves between the inspection mechanism and the disk supply / discharge position moves toward the inspection mechanism, the inspection target disk mounted on the spindle carriage It is now possible to prevent the replaceable hub from interfering with the inspection mechanism and destroying the inspection mechanism depending on the size of the machine.
本発明では、磁気メディアの光学式検査装置において、検査機構とディスク供給・排出位置との間を移動するスピンドルキャリッジが検査機構の側に移動している途中でハブのサイズをレーザ変位計で検出し、このレーザ変位計で検出したハブの径情報を検査装置に設定された検査領域の情報と照合し、両者が一致している場合にはスピンドルキャリッジをそのまま検査機構の側まで移動させる。両者が不一致な場合にはスピンドルキャリッジの移動を止めてスタート位置に戻し、ハブを適正なものに交換し検査機構を調整してから再度スピンドルキャリッジを検査機構の側に移動させるようにして、ハブが検査機構と干渉して検査機構を破壊してしまうことを防止できるようにした。
以下に、本発明の実施例を、図を用いて説明する。
In the present invention, in the optical inspection apparatus for magnetic media, the size of the hub is detected by the laser displacement meter while the spindle carriage moving between the inspection mechanism and the disk supply / discharge position is moving toward the inspection mechanism. Then, the diameter information of the hub detected by the laser displacement meter is collated with the information of the inspection area set in the inspection apparatus, and when both coincide, the spindle carriage is moved to the inspection mechanism side as it is. If they do not match, stop the spindle carriage movement and return it to the start position, replace the hub with an appropriate one, adjust the inspection mechanism, and then move the spindle carriage to the inspection mechanism side again. Can be prevented from interfering with the inspection mechanism and destroying the inspection mechanism.
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
磁気メディアの光学式検査装置の例として、ディスクの両面のキズや付着異物などを光学的に検査する光学式のディスク検査装置の例を説明する。 As an example of an optical inspection apparatus for magnetic media, an example of an optical disk inspection apparatus that optically inspects scratches or adhering foreign matter on both sides of the disk will be described.
図1Aは、磁気メディアの光学式検査装置1000の概略の構成を示す正面図、図1Bはその平面図である。
磁気メディアの光学式検査装置1000は、ディスク1の受け渡しをする受渡部1100とディスク1の両面を同時に光学的に検査する光学式検査ユニット1210を備えた光学式検査部1200と全体制御部1300を備え、その間をハブ1001に搭載されたディスク1をスピンドルキャリッジ1004が往復して移動する構成となっている。
FIG. 1A is a front view showing a schematic configuration of an
An
スピンドルキャリッジ1004は、図示していないスピンドルモータで駆動させるハブ1001を搭載し、ハブ1001の先端部分1002にディスク1の中央部分の穴2を嵌合させて図示していないチャック機構でチャックしてディスク1を保持する。ディスク1を保持した状態で、ハブ1001の先端部分1002は、ディスク1の上面よりも上方に突き出ている。
The
スピンドルキャリッジ1004は、ボールねじ1005及びガイド軸1006と係合しており、ボールねじ1005はステッピングモータ1003で回転駆動され、その回転量をエンコーダ1008で測定される。ガイド軸1006、ステッピングモータ1003、及びエンコーダ1008は、それぞれ支柱1009,1010でベースプレート1011に固定されている。
The
受渡部1100では、図示していないハンドリングユニットにより未検査のディスクが図示していないカセットから取出されて、受渡部1100に待機しているスピンドルキャリッジ1004のハブ1001の先端部分1002にディスク1の中央部分の穴2を嵌合させてディスク1を保持させる。
In the
ハブ1001でディスク1を保持した状態でスピンドルキャリッジ1004はステッピングモータ1003で回転駆動されたボールねじ1005が回転することにより、ガイド軸1006に沿って光学式検査部1200の側に移動する。
With the
光学式検査部1200の光学式検査ユニット1210は、図2Aに示すように、ディスク1の表側(上側)の面を光学テクに検査する表側検査光学系1211と、ディスク1の裏側(下側)の面を光学的に検査する裏側検査光学系1212とを備えて、ディスク1の両面を同時に検査する。
As shown in FIG. 2A, the
表側検査光学系1211は、ディスク1の表面側に照明光を照射する照明手段100、照明光が照射されたディスク1の表面側から低角度方向(ディスク1の表面の法線方向となす角度が小さい方向:高仰角方向)に正反射・散乱した光を集光して検出する低角度検出光学系200、ディスク1の表面側から高角度方向(ディスク1の表面の法線方向となす角度が大きい方向:低仰角方向)に散乱した光を集光して検出する高角度検出光学系300を備えている。
The front-side inspection
裏側検査光学系1212は、ディスク1の裏面側に照明光を照射する照明手段100´、照明手段100´から発射された照明光をディスク1の裏面に照射するために照明光の行路を変換するミラー101、照明光が照射されたディスク1の裏面側から低角度方向(ディスク1の表面の法線方向となす角度が小さい方向:高仰角方向)に正反射・散乱した光を集光して検出する低角度検出光学系200´、ディスク1の裏面側から高角度方向(ディスク1の表面の法線方向となす角度が大きい方向:低仰角方向)に散乱した光を集光して検出する高角度検出光学系300´を備えている。
The back side inspection
光学式検査ユニット1210は、更に、低角度検出光学系200、200´及び高角度検出光学系300、300´でそれぞれディスク1からの正反射・散乱光を検出して出力されたそれぞれのアナログ検出信号を増幅してデジタル信号に変換(A/D変換)するA/D変換部400、A/D変換部400で変換された各検出器からの信号を受けて処理する処理ユニット500、処理ユニット500の処理条件を入力し、処理の結果を出力する入出力手段600を備えている。光学式検査ユニット1210の全体は、全体制御部1300で制御される。
The
表側検査光学系1211は、上下駆動装置1213によって、検査対象ディスク1の種類に応じて高さが調節される。
照明手段100及び100´は、所望の波長のレーザを出力するレーザ光源を備えている。
The height of the front-side inspection
The illumination means 100 and 100 ′ include a laser light source that outputs a laser having a desired wavelength.
低角度検出光学系200と200´、及び高角度検出光学系300と300´は、それぞれ基本的に同じ構成であるので、以下の説明は、ディスク1の表面を検査する表側検査光学系1211の低角度検出光学系200と高角度検出光学系300とについて説明する。
Since the low-angle detection
低角度検出光学系200は、照明手段100により照射されてディスク1の表面で反射・散乱して点線で示した方向のうち低角度方向(高仰角方向)に進んだ正反射光を含む反射・散乱光を検出する光学系である。
The low-angle detection
低角度検出光学系200は、図2Bに示すように、ディスク1の表面から低角度方向に進んだ正反射光を反射するミラー201、ミラー201で反射されなかった正反射光周辺の散乱光を集光する対物レンズの役割を果たすフレネルレンズ202、ミラー201で反射された正反射光を集光する対物レンズ203、対物レンズ203で集光されたディスク1からの正反射光を収束させる収束レンズ204、収束レンズ204による正反射光の収束点に位置して収束された正反射光を通過させるピンホールを有して正反射光以外の迷光を遮光するピンホール板205、このピンホール板205のピンホールを通過した正反射光を検出する正反射光検出器206で構成される正反射光検出系210、フレネルレンズ202で集光された光 (ディスク1からの正反射光周辺の散乱光)を収束させる収束レンズ207、収束レンズ207の収束点に位置して収束された光を通過させるピンホールを有して収束されなかった光を遮光するピンホール板208、このピンホール板208を通過した光を検出する低角度検出器209を備えている。
As shown in FIG. 2B, the low-angle detection
ここで、正反射光検出器206は、図2Cに示すように、検出面が2061〜2064の4つの検出素子に分割された4分割センサで構成されている。ただし、正反射光検出器206は4分割センサに限定されるものではなく、6分割センサ、又は8分割センサであってもよい。又、図2Cでは、検出素子を矩形で示したが、円形を4分割した4分割センサを用いてもよい。
Here, as shown in FIG. 2C, the regular
高角度検出光学系300は、図2Dに示すように、照明手段100から発射され、ディスク1の表面で反射・散乱した光のうち高角度方向(低仰角方向)に進んだ散乱光を集光する対物レンズの役割を果たすフレネルレンズ301、フレネルレンズ301で集光された光を収束させる収束レンズ302、収束レンズ302の収束点に位置して収束された光を通過させるピンホールを有して収束されなかった光を遮光するピンホール板303、このピンホール板303を通過した光を検出する高角度検出器304を備えている。
As shown in FIG. 2D, the high-angle detection
全体制御部1300で図示していないスピンドルモータを駆動してハブ1001を回転させることによりディスク1を回転させた状態で、全体制御部1300でステッピングモータ1003を駆動してスピンドルキャリッジ1004を一定の速度でディスク1の半径方向に移動させることによりディスク1の両面をスパイラル状に検査を行う。このスピンドルキャリッジ1004の位置及び移動速度は、エンコーダ1008でボールねじ1005の回転を検出することにより制御される。
In a state where the
この検査において、ディスク1の表面で反射・散乱した光を検出した各検出器206、209,304から出力されたアナログ信号は、それぞれA/D変換部400のA/D変換器401〜403で増幅されA/D変換されて処理ユニット500に入力される。同様に、ディスク1の裏面で反射・散乱した光を検出した低角度検出光学系200´と高角度検出光学系300´から出力されたアナログ信号は、それぞれA/D変換部400のA/D変換器401´〜403´で増幅されA/D変換されて処理ユニット500に入力される。
In this inspection, analog signals output from the
処理ユニット500では、各A/D変換器401〜403及び401´〜403´で増幅されA/D変換された信号を処理して、欠陥を検出して欠陥種ごとに分類し、求めた欠陥種ごとの欠陥の数及び分布に基づいてディスク1の良否を判定する。
The
ディスク1は、図3に示すようなドーナツ状の平面形状を有し、種類によって厚さや外径及び穴2の内径が異なり、それに応じてディスク1を搬送するスピンドルキャリッジ1004のハブ1001の径及び先端部分1002の径が異なっている。
The
このディスク1の種類に関する情報は、全体制御部1300の図示していない入力部から入力され、全体制御部1300で制御されて、上下駆動装置1211が駆動して表側検査光学系1211を検査対象ディスク1の種類に応じた高さに調節し、検査範囲(スピンドルキャリッジ1004の移動範囲)が設定されて、光学検査ユニット1210とハブ1001の先端部分1002とが衝突するのを防いでいる。
Information on the type of the
一方、ディスクの種類に応じてスピンドルキャリッジ1004のハブ1001も交換する。このハブ1001を交換する作業と全体制御部1300にディスク1の種類に関する情報を入力する作業とは両方とも実行されなければならない。しかし、いずれか一方の作業を忘れてしまう可能性もある。
On the other hand, the
ディスク1の検査時に、ディスク1の両面の微小な欠陥からの微弱な反射・散乱光を検出するために、光学検査ユニット1210は、ディスク1の面に接近して検査を行う。このため、スピンドルキャリッジ1004に取り付けられたハブ1001の径が、全体制御部1300に登録されたハブの径よりも大きかった場合には、光学検査ユニット1210による検査範囲とハブ1001の先端部分1002の領域とが干渉して、光学検査ユニット1210とハブ1001の先端部分1002とが衝突してしまう恐れがある。
At the time of inspection of the
そこで、本実施例においては、何れか一方の作業を忘れた場合のことを考慮した構成とした。すなわち、本実施例においては、スピンドルキャリッジ1004がガイド軸1006に沿って光学式検査部1200の側に移動しているときに、レーザ変位計1050でディスク1の上面及びハブ1001の先端部分1002の大きさ(直径)を検出して、全体制御部1300に登録されているディスク1の種類に関する情報と一致していることを確認してからディスク1を光学式検査部1200へ搬送するようにした。
Therefore, in the present embodiment, a configuration in consideration of the case where any one of the operations is forgotten is adopted. That is, in this embodiment, when the
次に、スピンドルキャリッジ1004がガイド軸1006に沿って光学式検査部1200の側に移動しているときに、レーザ変位計1050でディスク1の上面及びハブ1001の先端部分1002の高さを検出する状態を、図4A乃至図4Cを用いて説明する。
Next, when the
先ず、図1Aに示したように、受渡部1100でディスクをハブ1001で保持した状態で、スピンドルキャリッジ1004はステッピングモータ1003で回転駆動されたボールねじ1005によりガイド軸1006に沿って移動して、図4Aの位置に達する。この位置で、レーザ変位計1050でディスク1の上面の高さが検出される。スピンドルキャリッジ1004がさらに前進して図4Bの位置に達すると、レーザ変位計1050でハブ1001の先端部分1002の高さが検出される。更に進むと図4Cに示すように、レーザ変位計1050で再びディスク1の上面の高さが検出される。
First, as shown in FIG. 1A, the
レーザ変位計1050は、一定の時間間隔でディスク1の上面とハブ1001の先端部分1002の高さを計測する。図5Aは、ハブ1001の先端部分1002の径が比較的小さい種類のハブ1001でディスク1を保持した場合に、レーザ変位計1050でディスク1の上面とハブ1001の先端部分1002の高さを計測した結果を示す。図中のLは、レーザ変位計1050で検出した面の高さが低い場合を示し、ディスク1の上面の高さを検出した場合に相当する。一方、Hは、レーザ変位計1050で検出した面の高さが高い場合を示し、ハブ1001の先端部分1002の高さを検出した場合に相当する。
The
図5Aは。レーザ変位計1050で検出した高さの中でHを検出した範囲が狭い場合、図5BはHを検出した範囲が比較的広い場合、図5CはHを検出した範囲が更に広い場合をそれぞれ示している。
FIG. 5A. When the range in which H is detected in the height detected by the
全体制御部1300は、図5A乃至図5Cに示したLとHに相当するレーザ変位計1050からの出力信号を受けて、スピンドルキャリッジ1004が図4Cの位置に達した時点でハブ1001の先端部分1002の径を求める。そして、この求めた径が予め設定したハブ1001の種類に対応しているかをチェックし、予め設定したハブ1001の種類に対応している場合には、ステッピングモータ1003を制御してスピンドルキャリッジ1004を図6の位置まで搬送する。
The
一方、求めたハブ1001の先端部分1002の径が予め設定したハブ1001の種類に対応していない場合(先端部分1002の径が、全体制御部1300に予め登録されていたディスク1の種類に応じた所定の寸法より大きかった場合、又は小さかった場合)には、ステッピングモータ1003による駆動を停止させて、スピンドルキャリッジ1004を図4Cの位置で停止させ、ハブ1001の先端部分1002の径が異常であることを知らせる情報を出力する。
On the other hand, when the obtained diameter of the
以上のように、本実施例では、ディスク1を受渡部1100から光学式検査部1200への搬送途中でハブ1001の先端部分1002の径を検出することにより、搬送中のディスク1が予め全体制御部1300に設定されたディスク1の種類と一致していることを確かめてから光学式検査部1200へ搬入するようにした。これにより、搬送中のディスク1と全体制御部1300に設定されたディスク1の種類との不一致によるハブ1001の先端部分1002と光学式検査部1200の光学式検査ユニット1210との衝突を防ぐことができるようになった。
As described above, in this embodiment, the diameter of the
以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。 As mentioned above, although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, it is needless to say that the present invention is not limited to the above embodiments and can be variously modified without departing from the gist thereof. Yes.
1…ディスク 1000…磁気メディアの光学式検査装置 1001…ハブ 1002…ハブの先端部分 1003…ステッピングモータ 1004…スピンドルキャリッジ 1005…ボールねじ 1008…エンコーダ 1100…受渡部 1050…レーザ変位計 1200…光学式検査部 1210…光学式検査ユニット 1211…表側検査光学系 1212…裏側検査光学系 1300…全体制御部。
DESCRIPTION OF
Claims (8)
ディスクを光学的に検査するディスク検査部と、
前記ディスクの中心部分の穴と嵌合して前記ディスクを搭載するハブを有し、該ハブにディスクを搭載して前記ディスク受渡部と前記ディスク検査部との間を移動するディスク搬送ユニットと、
前記ディスク搬送ユニットが前記ハブにディスクを搭載した状態で前記ディスク受渡部から前記ディスク検査部へ移動する途中において前記ディスクを搭載したハブの前記ディスクの中心部分の穴と勘合している部分の大きさを検出する検出手段と、
該検出手段で検出した前記ハブの前記ディスクの中心部分の穴と嵌合している部分の大きさが予め設定した大きさと異なるときには前記ディスク搬送ユニットの移動を停止させる制御手段と
を備えたことを特徴とする磁気メディアの光学式検査装置。 A disk delivery unit that delivers a disk that is a magnetic medium to be inspected;
A disc inspection unit for optically inspecting the disc;
A disk transport unit that fits with a hole in the center portion of the disk and mounts the disk, and that mounts the disk on the hub and moves between the disk delivery section and the disk inspection section;
The size of the portion of the hub loaded with the disk mated with the hole of the central portion of the disk in the middle of moving from the disk delivery section to the disk inspection section with the disk transport unit mounted on the hub. Detecting means for detecting
Control means for stopping the movement of the disk transport unit when the size of the part of the hub that is detected by the detection means is fitted to the hole of the central part of the disk is different from a preset size. An optical inspection device for magnetic media.
該ディスクを搭載したハブを前記ディスクを光学的に検査するディスク検査部へ搬送し、
該ディスク検査部において前記ディスクを光学的に検査する磁気メディアの光学式検査方法であって、
前記ディスクを搭載したハブを前記ディスク検査部へ搬送する途中において前記ディスクを搭載したハブの前記ディスクの中心部分の穴と勘合している部分の大きさを検出して、前記ハブの前記ディスクの中心部分の穴と嵌合している部分の大きさが予め設定した大きさと異なるときには前記ハブの搬送を停止させることを特徴とする磁気メディアの光学式検査方法。 At the disk delivery section, the hole in the center of the disk, which is the magnetic medium to be inspected, is fitted to the tip of the hub and mounted on the hub,
The hub carrying the disc is transported to a disc inspection unit for optically inspecting the disc,
An optical inspection method for a magnetic medium for optically inspecting the disk in the disk inspection unit,
In the middle of transporting the hub loaded with the disk to the disk inspection section, the size of the portion of the hub loaded with the disk fitted with the hole in the central portion of the disk is detected, and A method for optically inspecting a magnetic medium, characterized in that the transport of the hub is stopped when a size of a portion fitted with a hole in a central portion is different from a preset size.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013074151A JP5891195B2 (en) | 2013-03-29 | 2013-03-29 | Optical inspection apparatus and optical inspection method for magnetic media |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013074151A JP5891195B2 (en) | 2013-03-29 | 2013-03-29 | Optical inspection apparatus and optical inspection method for magnetic media |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014199198A JP2014199198A (en) | 2014-10-23 |
JP5891195B2 true JP5891195B2 (en) | 2016-03-22 |
Family
ID=52356203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013074151A Expired - Fee Related JP5891195B2 (en) | 2013-03-29 | 2013-03-29 | Optical inspection apparatus and optical inspection method for magnetic media |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5891195B2 (en) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57161641A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-05 | Olympus Optical Co Ltd | Inspecting device for defect of surface |
JPS6458363A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-06 | Trinity Ind Corp | Top reciprocative coating device |
JPH01233308A (en) * | 1988-03-14 | 1989-09-19 | Yokogawa Electric Corp | Apparatus for inspecting optical disk |
US7184139B2 (en) * | 2005-01-13 | 2007-02-27 | Komag, Inc. | Test head for optically inspecting workpieces |
JP2008082999A (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-10 | Hitachi Ltd | Method and device for inspecting defects on surface of substrate |
-
2013
- 2013-03-29 JP JP2013074151A patent/JP5891195B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014199198A (en) | 2014-10-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5027775B2 (en) | Substrate surface shape detection method and apparatus | |
CN107919310B (en) | Processing device | |
TWI663392B (en) | System and method for wafer edge inspection with trajectory following edge profile | |
JP4526961B2 (en) | Foreign matter inspection device in a container | |
US20220317058A1 (en) | Defect Inspection Device and Defect Inspection Method | |
JP2013210241A (en) | Disk surface inspection method and device therefor | |
JP5891195B2 (en) | Optical inspection apparatus and optical inspection method for magnetic media | |
US20110007148A1 (en) | Device and method for inspecting bottles or similar containers | |
JP2014035316A (en) | Surface inspection device with double recipe processing function, and method thereof | |
JP5597220B2 (en) | Glass glare inspection device and method of inspection using the same | |
JP2003282675A (en) | Wafer mapping device | |
US8605278B2 (en) | Method and apparatus for inspecting patterned media disk | |
JP2013210232A (en) | Optical inspection method and device for magnetic media | |
JP3720343B2 (en) | Optical disc inspection device | |
CN113109349B (en) | Detection method, system, device and computer readable storage medium | |
JP3988859B2 (en) | Optical disk inspection device | |
JP2012073204A (en) | Inspection device | |
JP2009267306A (en) | Inspection equipment | |
JP4787185B2 (en) | Wafer surface inspection method and apparatus | |
JP2000137004A (en) | Surface inspection device and surface inspection method | |
JP2013145151A (en) | Method and device for inspecting disk surface | |
JPWO2019069926A1 (en) | Surface shape measuring device, surface shape measuring method, structure manufacturing system, structure manufacturing method, and surface shape measuring program | |
CN108204950A (en) | Multiple carrier-borne aircraft tires are carried out at the same time lossless laser hologram detecting system | |
JP5261534B2 (en) | Inspection device | |
JPH08220003A (en) | Method and apparatus for inspecting surface defect |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150323 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160129 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160222 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5891195 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |