JP5864621B2 - Touch sensor system and electronic device - Google Patents
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Description
本発明は、マトリックス状に構成された線形系の係数、素子値、または静電容量を推定または検出するタッチセンサシステム、及び電子機器に関する。 The present invention relates to a touch sensor system that estimates or detects a coefficient, element value, or capacitance of a linear system configured in a matrix, and an electronic apparatus.
マトリックス状に分布した線形素子値を検出する装置、例えば、M本のドライブラインとL本のセンスラインとの間に形成される静電容量行列Cij(i=1、…、M、j=1、…、L)の静電容量値の分布を検出するタッチセンサ装置(接触検出装置)が、特許文献1に開示されている。このタッチセンサ装置は、ドライブラインを順番に選択し、その選択したドライブラインにつながる線形素子の値を検出する走査検出方式により動作する。
A device for detecting linear element values distributed in a matrix, for example, a capacitance matrix Cij (i = 1,..., M, j = 1) formed between M drive lines and L sense lines. ,..., L) is disclosed in
また、複数のドライブラインを時系列的な符号系列に基づいて第1のドライブライン群と第2のドライブライン群とに振り分けて駆動し、センスラインに接続され、駆動されたドライブラインとの複数の交差部の容量に生じる電流の総和を電気信号に変換した測定電圧を出力し、センスラインごとに、測定電圧と符号系列とにより積和演算を行い、各交差部の容量に対応する電圧値を求める容量検出回路が特許文献2に記載されている。
Further, a plurality of drive lines are driven by being divided into a first drive line group and a second drive line group based on a time-series code sequence, and are connected to sense lines. Outputs a measurement voltage obtained by converting the total current generated in the capacitance at the intersection of each into an electrical signal, performs a product-sum operation on the sense line for each sense line, and a voltage value corresponding to the capacitance at each
現在、スマートフォン等の携帯情報機器、および、自動券売機等の自動販売機をはじめとする様々な電子機器に対する、タッチパネルシステムの搭載が急速に進んでいる。 Currently, touch panel systems are rapidly being installed in various electronic devices such as mobile information devices such as smartphones and vending machines such as vending machines.
上記電子機器では、タッチパネルに対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止する技術が求められている。 In the electronic device, there is a demand for a technique for preventing a malfunction caused by unintended contact of an object with the touch panel.
例えばこの電子機器を手で持って操作するときに、該電子機器を持つ手がタッチパネルに接触すると、この接触が該タッチパネルのタッチであると判断される。そして、この判断に起因して、該電子機器では誤動作が発生する虞がある。こうしたメカニズムによる誤動作は、該電子機器が、スマートフォン、タブレット端末、ノートパソコン等の、持ち運び可能な機器である場合に発生することが予想され、ユーザの利便性を損なうことになる。 For example, when the hand holding the electronic device is operated by a hand and the hand holding the electronic device touches the touch panel, it is determined that the touch is a touch of the touch panel. Due to this determination, there is a risk of malfunction in the electronic device. A malfunction due to such a mechanism is expected to occur when the electronic device is a portable device such as a smartphone, a tablet terminal, or a laptop computer, which impairs user convenience.
図22は、上記のメカニズムを説明する図である。図22に示すとおり、タブレット端末71のタッチパネル72に、タブレット端末71を持つ手(物体)73が接触すると、この接触がタッチパネル72のタッチであると判断されることになり、上記のとおりユーザの利便性を損なうことになる。 FIG. 22 is a diagram for explaining the above mechanism. As shown in FIG. 22, when a hand (object) 73 having the tablet terminal 71 comes into contact with the touch panel 72 of the tablet terminal 71, it is determined that this contact is a touch on the touch panel 72. Convenience will be impaired.
こうしたメカニズムによる誤動作の問題は、タッチパネルが配置された表示画面に対する額縁の幅が狭くなる程、顕在化するものと考えられる。 It is considered that the problem of malfunction due to such a mechanism becomes more apparent as the width of the frame with respect to the display screen on which the touch panel is arranged becomes narrower.
特許文献6には、タッチパネルのタッチが行われていないにも拘らず、一定の座標位置を検出し続けるという類の誤動作を防止するための技術が開示されている。
特許文献6に開示されている入力装置では、同じ座標位置を検出している期間が所定期間継続したときに、電極間の静電界の変化に基づく検出値と、基準値との差が所定の更新検出幅の範疇にあれば、該基準値を該検出値へと更新する。なお、ここで言う基準値とは、該検出値に基づいて、タッチの有無を判断するための基準となる値である。そして、ある座標位置における該検出値が、この基準値以上であるか、またはこの基準値を超えていれば、該座標位置に対するタッチが行われたとみなされることになる。
In the input device disclosed in
これにより、特許文献6に開示されている入力装置では、タッチパネルのタッチが行われていないにも拘らず、一定の座標位置を検出し続けるという類の誤動作を防止することが可能となる。さらに、その後、更新した基準値を基準としてタッチの有無を検出することにより、検出の感度の向上を図ることができると考えられる。
Thereby, in the input device disclosed in
しかしながら、特許文献1に記載の走査検出方式により動作するタッチセンサ装置においては、二次元に分布する静電容量値を取得するために与えられた時間をTとし、走査の回数をmとすると、複数ラインを同時に選択し、それをスキャンして静電容量行列Cijの静電容量を検出する処理は時間(T/m)の間に終わらなければならない。
However, in the touch sensor device that operates according to the scanning detection method described in
一般に、検出処理の精度は、例えば平均化等により処理時間が長いほど高めることができるが、タッチセンサ装置が高速な動作に追従できるためには、静電容量値を取得するために与えられる時間Tは小さくする必要があり、解像度を上げるためには、走査回数mを大きくする必要があり、いずれの場合も処理時間(T/m)は小さくなり検出精度の劣化を招くという問題がある。 In general, the accuracy of the detection process can be increased as the processing time is increased, for example, by averaging or the like, but in order for the touch sensor device to follow a high-speed operation, the time given for acquiring the capacitance value It is necessary to reduce T, and in order to increase the resolution, it is necessary to increase the number of scans m. In any case, there is a problem that the processing time (T / m) decreases and the detection accuracy deteriorates.
また、特許文献2に記載の容量検出回路では、測定電圧のオフセット誤差をキャンセルするために、符号系列に基づいて第1のドライブラインと第2のドライブラインとに振り分けて駆動し、第1のドライブラインの駆動に基づく測定電圧から、第2のドライブラインの駆動に基づく測定電圧を減算している(特許文献2:明細書段落[0058]〜[0061])。しかしながら、このような構成は、演算過程が2相に渡るため、消費電力を抑えた高速化に不利であるという問題がある。
Further, in the capacitance detection circuit described in
特許文献6に開示されている入力装置では、基準値を、該基準値を超える検出値へと更新する。このため、更新前においては基準値以上であるか、または基準値を超える値であった検出値が、更新後においては基準値未満であるか、または基準値以下の値として扱われるケースが発生する。
In the input device disclosed in
つまり、特許文献6に開示されている入力装置では、基準値の更新前後で、タッチが行われているか否かの判断基準が異なることになる。この結果、タッチパネルのタッチがタッチとして判断されないことにより、タッチの有無を検出する感度が低下する虞があるという問題が発生する。
That is, in the input device disclosed in
本発明の目的は、検出精度が良好になり、且つ解像度も良好で高速動作が可能な線形系係数推定方法、線形素子列値推定方法、静電容量検出方法、集積回路、タッチセンサシステム、及び電子機器を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a linear system coefficient estimation method, a linear element array value estimation method, a capacitance detection method, an integrated circuit, a touch sensor system, which can achieve high-speed operation with good detection accuracy, good resolution, and To provide electronic equipment.
本発明の他の目的は、タッチパネルのタッチの有無を検出する感度の低下を抑制しつつ、タッチパネルに対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することを可能とするタッチパネルシステムを提供することにある。また、本発明のさらに他の目的は、このタッチパネルシステムを備えた電子機器を提供することにある。 Another object of the present invention is to provide a touch panel system capable of preventing malfunction caused by unintended contact of an object with respect to the touch panel while suppressing a decrease in sensitivity for detecting the presence or absence of touch on the touch panel. is there. Still another object of the present invention is to provide an electronic device including the touch panel system.
前記の課題を解決するために、本発明に係るタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
In order to solve the above-described problem, the touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column C1i (i = 1,...) Formed between M drive lines and one sense line. M) and each of the second capacitance columns C2i (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and the other sense line. Based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N constituted by +1 or −1, when the code sequence is +1 + V volts, and in the case of -1, the M drive lines are driven in parallel so as to apply -V volts, and the output sFirst = (s11, s12, ..., from the first capacitance string) s1N) and the output sSe from the second capacitance string ond = (s21, s22,..., s2N), and the first capacitance column corresponding to the k1st drive line based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on an inner product operation of the output sSecond and the code sequence di; When a touch line corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance row, and the second capacitance row, and the same portion of the touch panel is touched once continuously for a predetermined period, corresponding to the touch of the one, and a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel, the touch invalidation unit, to correspond to a predetermined time period It is determined whether or not the touch has continued for a touch time threshold that is a time, and the touch invalidation unit responds to a next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period of time. The touch disabling unit invalidates the instruction , and the level of the signal indicating the degree of contact of the object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold serving as a reference for the level, or the touch reference threshold Is determined to be touching the location, the touch invalidating unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period, The level of the signal of the touch is set to be equal to or lower than the increased touch reference threshold value .
この特徴により、タッチ無効化部は、タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、このタッチによる電子機器に対する指示を無効とする。これにより、例えば電子機器を持つ手がタッチパネルに接触する場合のように、タッチパネルに対する物体の意図しない接触が継続するとき、該接触による指示は行われない。このため、タッチパネルに対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することが可能となる。 With this feature, the touch invalidation unit invalidates an instruction to the electronic device by this touch when the same portion on the touch panel is continuously touched for a predetermined period. Thereby, for example, when an unintended contact of an object with respect to the touch panel continues, such as when a hand holding an electronic device touches the touch panel, an instruction based on the touch is not performed. For this reason, it becomes possible to prevent the malfunctioning resulting from the unintended contact of the object with respect to a touch panel.
また、上記の構成によれば、上記の誤動作を防止するために、タッチが行われているか否かの判断基準を変更する必要は無い。従って、タッチの有無を検出する感度の低下については、抑制することが可能となる。 Moreover, according to said structure, in order to prevent said malfunctioning, it is not necessary to change the judgment criteria of whether the touch is performed. Therefore, it is possible to suppress a decrease in sensitivity for detecting the presence or absence of touch.
本発明に係る他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)とを備えるタッチパネルと、前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
Another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M A touch panel including a second capacitance column C2i (i = 1,..., M) formed between one drive line and another sense line, and an integrated circuit that controls the touch panel. The integrated circuit includes the first capacitance column C1i (i = 1,..., M) and the second capacitance column C2i (i = 1,...). For each of M), based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, each element consisting of +1 or -1. If the code sequence is +1, + V volts, if it is -1, The M drive lines are driven in parallel so as to apply V volts, and the output from the first capacitance string sFirst = (s11, s12,..., S1N), and the second static Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di based on the drive unit that outputs the output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the capacitance string, the first drive line The capacitance value of the first capacitance string is estimated, and the capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line is estimated based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di. an estimation unit that, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, for an electronic apparatus having the touch panel A touch invalidation unit that invalidates the display, and the touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued for a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period, and the touch invalidation. The unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period, and the touch invalidation unit determines the degree of contact of the object with the location. When the level of the signal to be displayed is equal to or higher than the touch reference threshold value serving as a reference for the level or exceeds the touch reference threshold value, it is determined that the touch is performed on the location, and the touch invalidation unit Is characterized in that, when the location is continuously touched for a predetermined period, the touch reference threshold is increased so that the level of the signal of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. To do.
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and For each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and the other sense line, each element is +1 or −1. Based on the configured code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) having a length of N, the M drive lines are driven in parallel, and the first The output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from one capacitance string and the output sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string to an analog integrator An output drive unit, the output sFirst and the output Based on the inner product operation with the signal sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and based on the inner product operation between the output sSecond and the code sequence di, a touch sensor system including an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to a k-th drive line, and the drive unit is configured such that when the code sequence is +1, When the analog integrator is reset, the drive line is driven by the first voltage at the time of sampling the outputs from the first and second capacitance strings, and when the code sequence is −1. The drive line is driven by the second voltage when the analog integrator is reset, and by the first voltage when the output from the first and second capacitance columns is sampled. A touch panel that corresponds to the drive line and the sense line and the first capacitance column and the second capacitance column, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined time period, A touch invalidation unit that invalidates an instruction to the electronic device equipped with the touch panel in response to the one touch, and the touch invalidation unit has a touch time threshold value that is a time corresponding to a predetermined period. during determines whether the touch continues, the touch invalidation unit, when the point is touched continuously for a predetermined time period, and disabling the instruction according to the following touch on relevant section The touch disabling unit is configured such that the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level, or exceeds the touch reference threshold. The touch disabling unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period of time, and determines that the touch is being performed. The signal level is set to be equal to or lower than the increased touch reference threshold value .
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and For each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and the other sense line, each element is +1 or −1. Based on the configured code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) having a length of N, the M drive lines are driven in parallel, and the first The output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from one capacitance string and the output sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string to an analog integrator An output drive unit, the output sFirst and the output Based on the inner product operation with the signal sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and based on the inner product operation between the output sSecond and the code sequence di, a touch sensor system including an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2th drive line, wherein the driving unit includes the first and second capacitance strings. Before outputting the output from the analog integrator, the drive line is driven by the first voltage when the analog integrator is reset and when the output from the first and second capacitance columns is sampled. The outputs from the first and second capacitance strings are output to the analog integrator, and the outputs from the first and second capacitance strings are output as offset outputs from the analog integrator. The touch panel corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance string, and the second capacitance string, and the same portion of the touch panel continues for a predetermined period. when it is touched once Te, according to the touch of the one, further comprising a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel, the touch invalidation unit, the predetermined time period The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued for a touch time threshold that is a corresponding time, and the touch invalidation unit, when the location is continuously touched for a predetermined period, The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the level of the signal indicating the degree of contact of the object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold value serving as a reference for the level, or Determines that the location is touched when the touch reference threshold is exceeded, and the touch disabling unit determines that the touch reference threshold is touched when the location is continuously touched for a predetermined period of time. Is increased so that the level of the signal of the touch becomes equal to or lower than the increased touch reference threshold .
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)とを備えるタッチパネルと、前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and A touch panel including a second capacitance column Ci2 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and another sense line; and an integrated circuit that controls the touch panel; The integrated circuit includes the first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance column Ci2 (i = 1,...). , M) based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, each element consisting of +1 or −1. And driving the M drive lines in parallel, Drive that outputs the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the capacitance string and the output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string to the analog integrator. And the output value sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the output sSecond and the code sequence di And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the inner product calculation with the second product line, and the drive unit has the code sequence of the +1 In this case, the drive line is driven by the first voltage when the analog integrator is reset, and by the second voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance columns, When the code sequence is −1, the drive line is driven by the second voltage when the analog integrator is reset and by the first voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance strings. The integrated circuit, when the same part on the touch panel is touched once continuously for a predetermined period, disables the touch to invalidate the instruction to the electronic device equipped with the touch panel in response to the single touch. The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued for a touch time threshold value that is a time corresponding to a predetermined period. When the touch is continued for a predetermined period, the instruction corresponding to the next touch on the location is invalidated, and the touch invalidation unit is a signal indicating the degree of contact of the object with the location When the level is equal to or higher than the touch reference threshold that is the reference of the level or exceeds the touch reference threshold, it is determined that the touch is performed on the location, and the touch invalidation unit When the location is continuously touched for a predetermined period, the touch reference threshold is increased so that the level of the signal of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold .
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)とを備えるタッチパネルと、前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and A touch panel including a second capacitance column Ci2 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and another sense line; and an integrated circuit that controls the touch panel; The integrated circuit includes the first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance column Ci2 (i = 1,...). , M) based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, each element consisting of +1 or −1. And driving the M drive lines in parallel, Drive that outputs the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the capacitance string and the output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string to the analog integrator. And the output value sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the output sSecond and the code sequence di And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance column corresponding to the k2nd drive line based on the inner product calculation with the first and second drive units. Before outputting the output from the capacitance string to the analog integrator, the first voltage is output when the analog integrator is reset and when the output from the first and second capacitance strings is sampled. And driving the drive line to output the outputs from the first and second capacitance strings to the analog integrator, and using the outputs from the first and second capacitance strings as an offset output. stored in the memory is read from said analog integrator, the integrated circuit, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, with the touch panel It further includes a touch invalidation unit that invalidates an instruction to the electronic device, and the touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period, The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period, and the touch invalidation unit When the level of the signal indicating the degree of contact of the object is equal to or higher than the touch reference threshold value that is the reference of the level, or exceeds the touch reference threshold value, it is determined that the touch is performed on the location. The touch disabling unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period, and the signal level of the touch becomes equal to or less than the increased touch reference threshold. It is characterized by doing so .
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)とを備えるタッチパネルと、前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)とを備えるタッチパネルと、前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
本発明に係るさらに他のタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、前記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)とを備えるタッチパネルと、前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とする。
本発明に係る電子機器は、本発明に係るタッチセンサシステムと、前記タッチセンサシステムに設けられたタッチパネルに重ねて配置されているか、または、前記タッチパネルを内蔵した表示パネルとを備えたことを特徴とする。
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and For each of the second capacitance columns C2i (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and the other sense line, each element is +1 or −1. Based on the configured code sequence of length N di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M), + V volts when the code sequence is +1, and −1 Drives the M drive lines in parallel so as to apply −V volts, and outputs sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and the second SSecond = (s21, s22 ..., s2N), and based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, Based on an inner product operation of the output sSecond and the code sequence di, an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line, the drive line, the sense line, When the touch panel corresponding to the first capacitance row and the second capacitance row and the same portion of the touch panel are touched once continuously for a predetermined period , the touch is accepted. A touch invalidation unit that invalidates an instruction to the electronic device including the touch panel, wherein the touch invalidation unit is a time corresponding to a predetermined period. During determines whether the touch continues, the touch invalidation unit, when the point is touched continuously for a predetermined time period, and disabling the instruction according to the following touch on relevant section The touch invalidation unit, when the level of the signal indicating the degree of contact of the object to the location is equal to or higher than the touch reference threshold that is a reference of the level, or exceeds the touch reference threshold, The touch disabling unit determines that a touch is made on the location, and the touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period of time, thereby increasing the signal level of the touch. Is less than or equal to the touch reference threshold after the increase .
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and A touch panel including a second capacitance column C2i (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and another sense line, and an integrated circuit that controls the touch panel; The integrated circuit includes the first capacitance column C1i (i = 1,..., M) and the second capacitance column C2i (i = 1,...). , M) based on a length N code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. If the code sequence is +1, it is + V volts, and if it is -1, it is-. The M drive lines are driven in parallel so as to apply a bolt, and an output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string and the second electrostatic capacitance Based on the inner product operation of the output sFirst and the code sequence di based on the drive unit that outputs the output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the capacitor string, the first corresponding to the k1st drive line The capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2th drive line is estimated based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di. an estimation unit, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period of time, finger with respect to the electronic apparatus including according to the touch of the one, the touch panel A touch disabling unit that disables the touch, and the touch disabling unit determines whether or not the touch has continued for a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period, and the touch disabling unit When the location is continuously touched for a predetermined period, the instruction corresponding to the next touch on the location is invalidated, and the touch invalidation unit indicates the degree of contact of the object with the location When the level of the signal is equal to or higher than the touch reference threshold value that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold value, it is determined that the touch is performed on the location, and the touch invalidating unit When the location is continuously touched for a predetermined period, the touch reference threshold is increased so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. .
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and For each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and the other sense line, each element is +1 or −1. Based on the configured code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, the M drive lines are driven in parallel, and the first Output from the capacitance string sFirst = (s11, s12,..., S1N) and output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string are output to the analog integrator. Drive unit, output sFirst and code sequence Based on the inner product calculation with i, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and based on the inner product calculation between the output sSecond and the code sequence di, And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the drive line of the drive line, wherein the drive unit is configured to output the analog when the code sequence is +1. When the integrator is reset, the drive line is driven by the first voltage when the output from the first and second capacitance strings is sampled, and when the code sequence is −1, When the integrator is reset, the drive line is driven by the second voltage, and when the output from the first and second capacitance columns is sampled, the drive line is driven by the first voltage. A touch panel corresponding to the line and the sense line and the first capacitance column and the second capacitance column, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined time period, this A touch invalidation unit that invalidates an instruction to the electronic device equipped with the touch panel in response to a single touch, the touch invalidation unit between a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period Determining whether or not the touch has continued, the touch disabling unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period of time , The touch disabling unit is configured such that the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold serving as a reference for the level, or exceeds the touch reference threshold. The touch invalidation unit determines that the touch is performed on the location, and increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period of time. The level is set to be equal to or lower than the increased touch reference threshold value .
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and For each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and the other sense line, each element is +1 or −1. Based on the configured code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, the M drive lines are driven in parallel, and the first Output from the capacitance string sFirst = (s11, s12,..., S1N) and output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string are output to the analog integrator. Drive unit, output sFirst and code sequence Based on the inner product calculation with i, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and based on the inner product calculation between the output sSecond and the code sequence di, A touch sensor system including an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the drive line of the first and second capacitance strings, wherein the driving unit is connected to the first and second capacitance strings. Driving the drive line with a first voltage at the time of resetting the analog integrator and sampling the output from the first and second capacitance columns before outputting an output to the analog integrator; Outputs from the first and second capacitance strings are output to the analog integrator, and outputs from the first and second capacitance strings are read from the analog integrator as offset outputs. Stored in the memory, a touch panel corresponding to the driveline and said sense line and the first capacitance column and the second capacitance column, once the same point in the touch panel is continued for a predetermined time period when it is touched, according to the touch of the one, further comprising a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel, the touch invalidation unit time corresponding to a predetermined time period It is determined whether or not the touch is continued during a touch time threshold value, and the touch invalidation unit responds to a next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period of time. The touch invalidation unit invalidates the instruction, and the touch invalidation unit has a signal level indicating the degree of contact of the object with the location being equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level, or the touch. When the touch reference threshold is exceeded, it is determined that the touch is performed on the location, and the touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period. Thus, the level of the signal of the touch is set to be equal to or lower than the increased touch reference threshold value .
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and A touch panel including a second capacitance column Ci2 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and another sense line; and an integrated circuit that controls the touch panel; The integrated circuit includes the first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance column Ci2 (i = 1,...). , M) based on a length N code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. Driving the M drive lines in parallel to form the first capacitance; SFirst == (s11, s12,..., S1N) and the output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string to an analog integrator; Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation, and the drive unit is configured such that when the code sequence is +1, Driving the drive line with a first voltage when the analog integrator is reset, and with a second voltage when sampling the output from the first and second capacitance columns, If the column is −1, the drive line is driven by the second voltage when the analog integrator is reset, and by the first voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance columns, the integrated circuit, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one-time touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued for a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period, and the touch invalidation unit determines that the location is within a predetermined period. When the touch is continued, the instruction corresponding to the next touch on the location is invalidated, and the touch invalidation unit is configured to output a signal level indicating the degree of contact of the object with the location. Is determined to be touched with respect to the location when the level is equal to or higher than the touch reference threshold serving as a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, and the touch invalidating unit When the touch is continuously touched for a predetermined period, the touch reference threshold is increased so that the level of the signal of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold .
Still another touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and A touch panel including a second capacitance column Ci2 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and another sense line; and an integrated circuit that controls the touch panel; The integrated circuit includes the first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance column Ci2 (i = 1,...). , M) based on a length N code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. Driving the M drive lines in parallel to form the first capacitance; SFirst == (s11, s12,..., S1N) and the output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string to an analog integrator; Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance row corresponding to the k2nd drive line based on the calculation, and the driving unit includes the first and second capacitances. Before the output from the column is output to the analog integrator, the analog voltage is reset by the first voltage and the output from the first and second capacitance columns is sampled by the first voltage. Driving the drive line, outputting the output from the first and second capacitance strings to the analog integrator, and using the output from the first and second capacitance strings as the offset output, the analog An integrated circuit reads out from an integrator and stores it in a memory, and the integrated circuit includes an electronic device provided with the touch panel in response to a single touch when the same portion of the touch panel is continuously touched once for a predetermined period. A touch invalidation unit that invalidates an instruction to the touch, wherein the touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued for a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period, and the touch When the location is continuously touched for a predetermined period, the invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location, and the touch invalidation unit detects the object to the location. When the level of the signal indicating the degree of contact is equal to or higher than the touch reference threshold that is the reference of the level or exceeds the touch reference threshold, it is determined that the touch is performed on the location, The touch disabling unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. It is characterized by that.
An electronic apparatus according to the present invention includes the touch sensor system according to the present invention and a display panel that is disposed so as to overlap the touch panel provided in the touch sensor system or that includes the touch panel. And
本発明に係るタッチセンサシステムは、タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該タッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部を備えている構成である。 The touch sensor system according to the present invention includes a touch invalidation unit that invalidates an instruction to an electronic device including the touch panel according to the touch when the same portion of the touch panel is continuously touched for a predetermined period. It is the composition which is.
従って、タッチパネルのタッチの有無を検出する感度の低下を抑制しつつ、タッチパネルに対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することが可能であるという効果を奏する。 Therefore, there is an effect that it is possible to prevent malfunction caused by unintentional contact of an object with respect to the touch panel while suppressing a decrease in sensitivity for detecting presence or absence of touch on the touch panel.
本発明のタッチセンサシステムに関する実施の一形態について図1〜図14に基づいて説明すれば以下のとおりである。 One embodiment of the touch sensor system of the present invention will be described below with reference to FIGS.
(実施の形態1)
(実施の形態に係るタッチセンサシステムの構成)
図1は、実施の形態に係るタッチセンサシステム1の構成を示す回路図である。タッチセンサシステム1は、センサパネル2と、このセンサパネル2を制御する集積回路3とを備えている。センサパネル2は、水平方向に沿って互いに平行に所定の間隔を空けて配置されたM本のドライブラインDL1〜DLMと、このドライブラインに交差する方向に沿って互いに平行に所定の間隔を空けて配置されたL本のセンスラインSL1〜SLLと、これらM本のドライブラインDL1〜DLMのそれぞれとL本のセンスラインSL1〜SLLのそれぞれとの間にM行×L列のマトリックス状に配置された静電容量Cij(i=1〜M、j=1〜L)とを備えている。
(Embodiment 1)
(Configuration of Touch Sensor System According to Embodiment)
FIG. 1 is a circuit diagram illustrating a configuration of a
集積回路3は、M本のドライブラインDL1〜DLMに接続された駆動部4を有している。集積回路3には、推定部5が設けられている。図2は、集積回路3の推定部5の構成を示すブロック図である。
The
推定部5は、L本のセンスラインSL1〜SLLにそれぞれ接続されたL個のアナログ積分器6と、L個のアナログ積分器6に接続されたスイッチ7と、スイッチ7に接続されたAD変換器8と、AD変換器8に接続された内積演算部9と、内積演算部9に接続されたRAM10とを有している。アナログ積分器6は、一方の入力が接地されたオペアンプと、このオペアンプの出力と他方の入力との間に配置された容量Cintの積分容量と、オペアンプの他方の入力に結合されたトランジスタと、このトランジスタと並列に接続された他のトランジスタとを有している。
The estimation unit 5 includes
集積回路3には、内積演算部9に接続されて240Hzでジェスチャ認識処理(ARM等)を実行するアプリケーション処理部11が設けられている。このように、集積回路3には、アナログ回路とデジタル回路とが混載されている。
The
(従来のタッチセンサシステムの動作)
本実施の形態の動作を具体的に説明する前に、前述した特許文献1に記載の従来の構成における動作を確認する。M本のドライブラインとL本のセンスラインとの間に形成される静電容量のマトリックスCij(i=1、…、m、j=1、…、L)の検出を考える。まず、ドライブラインを一本づつ選択する走査検出を考える。
(Operation of conventional touch sensor system)
Before specifically explaining the operation of the present embodiment, the operation in the conventional configuration described in
選択したドライブラインにつながる容量Cij(j=1,…l)をVボルトに充電しCij×Vの信号を蓄える。この信号をセンスライン経由で読み出す際のゲインをGとすると、検出信号は、
G×Cij×V (式1)
となる。
Capacitance Cij (j = 1,... L) connected to the selected drive line is charged to V volts and a signal of Cij × V is stored. If the gain when reading this signal via the sense line is G, the detection signal is
G × Cij × V (Formula 1)
It becomes.
(本実施の形態のタッチセンサシステムの動作)
図3は、タッチセンサシステム1に設けられたセンサパネル2の駆動方法を説明するための図である。図1及び図2で前述した構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素についての詳細な説明は繰り返さない。
(Operation of the touch sensor system of the present embodiment)
FIG. 3 is a diagram for explaining a driving method of the
本発明の実施の形態として、まず、+1と−1とから構成される互いに直交する符号長Nの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)を準備する。ここで、符号長Nの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)が「直交する」とは、符号系列diが下記に示す条件を満足することをいう。 As an embodiment of the present invention, first, a code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. To do. Here, the code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of the code length N is “orthogonal” means that the code sequence di satisfies the following conditions. Say.
そして、この符号系列diに基づいて、+1の場合は+Vボルトが印加され、−1の場合は−Vボルトが印加されるように、駆動部4は、M本のドライブラインDL1〜DLMを並列に駆動する。すると、各静電容量Cij(i=1〜M、j=1〜L)に、符号系列の各要素(+1または−1)に応じて、±Cij・Vの電荷を有する信号が蓄えられる。
Based on the code sequence di, the
次に、同じセンスラインにつながる各静電容量に蓄積された電荷により表される信号について、センスラインの結線に沿って電荷加算を行い、センスライン毎にアナログ積分器6で読み出し、出力系列ベクトルsj=(sj1、sj2、…、sjN)(j=1、…、L)を得る。
Next, charge addition is performed along the connection of the sense lines with respect to the signal represented by the charge accumulated in each capacitance connected to the same sense line, and is read by the
図4は、センサパネル2の駆動方法を説明するためのタイミングチャートである。まず、
リセット信号により、アナログ積分器6の積分容量Cintがリセットされるとともに、センサパネル2にマトリックス状に配置された各静電容量もリセットされる。ここで、リセットとは、容量に蓄積されている電荷を放電するという意味である。そして、ドライブラインDL1〜DLMを、符号系列d11、d21、d31、…、dM1の値である+1または−1に応じて、Vref+V、またはVref−Vで並列に駆動すると、各静電容量に、符号系列の要素±1に応じた±CVの電荷が蓄えられる。次に、同じセンスラインにつながる各静電容量に蓄積された電荷により表される信号について、センスラインの結線に沿って電荷加算を行い、センスライン毎にアナログ積分器6で読み出す。アナログ積分器6からの出力には、
FIG. 4 is a timing chart for explaining a driving method of the
The integration signal Cint of the
(この回路の場合、G=−1/Cint)
が表れるので、このアナログ積分器6からの出力をサンプリング信号に基づいてAD変換器8によりAD変換する。
(In this circuit, G = −1 / Cint)
Therefore, the output from the
出力系列ベクトルsjiは、 The output sequence vector sji is
となり、 And
符号系列diと出力系列ベクトルsjとの内積演算di・sjを行うと、 When an inner product operation di · sj between the code sequence di and the output sequence vector sj is performed,
上記(式1)及び上記(式2)を比較すると、本実施の形態の方式により、従来の走査読み出し方式よりもN倍大きい検出信号が得られることがわかる。 Comparing the above (Equation 1) and (Equation 2), it can be seen that a detection signal that is N times larger than the conventional scanning readout method can be obtained by the method of the present embodiment.
センスラインの読み出し方式としては、図1及び図2に示されるアナログ積分器6(積分容量Cintを用いたオペアンプによる電荷積分器)を使用すると、上記ゲインGは、(1/Cint)となる。
When the
このように、集積回路3の駆動部4は、第1の静電容量列Cip(pは1以上(L−1)以下、i=1、…、M)、及び第2の静電容量列Ciq(p<q、qは2以上L以下、i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、−1の場合は−Vボルトを印加するようにM本のドライブラインを並列に駆動する。そして、第1の静電容量列からの出力sFirst=(sp1、sp2、…、spN)、及び、第2の静電容量列からの出力sSecond=(sq1、sq2、…、sqN)を出力させる。
As described above, the driving
そして、上記第1の静電容量列からの出力sFirst=(sp1、sp2、…、spN)は、対応して設けられたアナログ積分器6によって積分され、第2の静電容量列からの出力sSecond=(sq1、sq2、…、sqN)は、対応して設けられたアナログ積分器6によって積分される。スイッチ7は、各センスラインSL1〜SLLに対応するアナログ積分器6を順次切り換えて、各アナログ積分器6により積分された静電容量列からの出力をAD変換器8に供給する。
Then, the output sFirst = (sp1, sp2,..., SpN) from the first capacitance string is integrated by the
具体的には、まず、第1の静電容量列から出力sp1がアナログ積分器6に読み出されて積分されると同時に第2の静電容量列から出力sq1が他のアナログ積分器6に読み出されて積分される。そして、スイッチ7は、アナログ積分器6に接続し、読み出されて積分された出力sp1をADC8に供給する。次に、スイッチ7は、アナログ積分器6との接続を解除して他のアナログ積分器6に接続し、読み出されて積分された出力sq1をADC8に供給する。その後、第1の静電容量列から出力sp2がアナログ積分器6に読み出されて積分されると同時に第2の静電容量列から出力sq2が他のアナログ積分器6に読み出されて積分される。そして、スイッチ7は、アナログ積分器6に接続し、読み出されて積分された出力sp2をADC8に供給する。次に、スイッチ7は、アナログ積分器6との接続を解除して他のアナログ積分器6に接続し、読み出されて積分された出力sq2をADC8に供給する。このようにして、出力spN、出力sqNまでがアナログ積分器6及びスイッチ7により順番にADC8に供給される。また、ドライブラインの駆動に合わせて全センスラインのアナログ積分器6が並列に動作する。
Specifically, first, the output sp1 is read from the first capacitance string to the
AD変換器8は、アナログ積分器6により積分された静電容量列からの出力をAD変換して内積演算部9に供給する。
The
内積演算部9は、出力sFirstと符号系列diとの内積演算に基づいて、RAM10に格納されたデータを参照しながら、k1番目(1≦k1<M)のドライブラインに対応する第1の静電容量列の容量値を推定し、出力sSecondと符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目(k1<k2、1<k1≦M)のドライブラインに対応する第2の静電容量列の容量値を推定する。
The inner product calculation unit 9 refers to the data stored in the
アプリケーション処理部11は、内積演算部9により推定された静電容量の容量値に基づいて、ジェスチャー認識処理を実行し、ジェスチャーコマンドを生成する。
The
(符号系列の具体例)
図5は、センサパネルに入力される直交する符号系列の具体例を説明するための図である。長さNの直交する符号系列diの具体例としては、例えば、下記に示す符号系列を挙げることができる。
(Specific example of code sequence)
FIG. 5 is a diagram for explaining a specific example of orthogonal code sequences input to the sensor panel. Specific examples of the orthogonal code sequence di having the length N include the following code sequences.
代表的な直交する符号系列であるアダマール(Hadamard)行列は、図5に示されるシルベスター(sylvester)法によって生成される。基本的な構造として、2行×2列の基本単位を作る。この基本単位の右上、左上、及び左下のビットは同一であり、右下はこれらのビット反転となっている。 A Hadamard matrix, which is a typical orthogonal code sequence, is generated by the sylvester method shown in FIG. As a basic structure, a basic unit of 2 rows × 2 columns is made. The upper right, upper left, and lower left bits of the basic unit are the same, and the lower right is an inversion of these bits.
次に、前述した2×2の基本要素を、右上、左上、右下、及び左下にブロックとして4つ合成して、4行×4列のビット配列の符号を作る。ここで、2×2の基本単位の作成と同様に、右下のブロックはビット反転となる。同様な手順で、8行×8列、16行×16列のビット配列の符号を生成する。これらの行列は、前述した本発明の「直交する」の定義を満足する。 Next, the above-described 2 × 2 basic elements are combined as four blocks in the upper right, upper left, lower right, and lower left to create a code of a bit array of 4 rows × 4 columns. Here, as in the creation of the 2 × 2 basic unit, the lower right block is bit-inverted. The code of the bit arrangement of 8 rows × 8 columns and 16 rows × 16 columns is generated in the same procedure. These matrices satisfy the above-described definition of “orthogonal” in the present invention.
本実施の形態において、例えば、センサパネル2のドライブラインが16本で構成されていれば、図5に示す16行×16列のビット配列の符号を直交する符号系列として使用することができる。ここで、アダマール(Hadamard)行列とは、要素が1または−1のいずれかであり、かつ各行が互いに直交であるような正方行列をいう。すなわち、アダマール行列の任意の2つの行は、互いに垂直なベクトルを表す。
In the present embodiment, for example, if the
本実施の形態に係る直交する符号系列は、N次のアダマール行列から任意にM行取り出した行列を使用することができる(ここで、M≦Nである)。以下に述べるように、シルベスター法以外の方法によるアダマール行列も本発明に適用することができる。 As the orthogonal code sequence according to the present embodiment, a matrix obtained by arbitrarily extracting M rows from the Nth-order Hadamard matrix can be used (where M ≦ N). As described below, a Hadamard matrix by a method other than the Sylvester method can also be applied to the present invention.
図6は直交する符号系列の他の具体例を説明するための図であり、図7は直交する符号系列のさらに他の具体例を説明するための図である。シルベスター法によるN次のアダマール行列は、N=2のべき乗になるが、Nが4の倍数であれば、アダマール行列は存在するという予想が存在し、例えば、図6には、N=12のときのアダマール行列が示されており、図7には、N=20のときのアダマール行列が示されている。これらのシルベスター法以外の方法によるアダマール行列も、本実施の形態に係る直交する符号系列として使用することができる。 FIG. 6 is a diagram for explaining another specific example of orthogonal code sequences, and FIG. 7 is a diagram for explaining another specific example of orthogonal code sequences. An N-order Hadamard matrix by the Sylvester method is a power of N = 2, but if N is a multiple of 4, there is an expectation that a Hadamard matrix exists. For example, in FIG. FIG. 7 shows the Hadamard matrix when N = 20. Hadamard matrices obtained by methods other than these Sylvester methods can also be used as orthogonal code sequences according to the present embodiment.
(内積演算の実際)
内積マトリックスC’ij=di・sjの計算は次の手順で行う。
(1)まず、推定部5のRAM10(図2)に格納された内積マトリックスをC’ij=0にリセットする。
(2)時刻tk(k=1、…、Nのいずれか)のタイミングでi番目(i=1、…、M)のドライブラインDLiを電圧V×dikで並列に駆動し、各静電容量に電荷Cij×V×dikを充電する。
(3)各センスラインj(j=1、…、L)を対応するアナログ積分器6に接続し、時刻tkで充電した静電容量からの出力電圧sjkを読み出し、各L本のセンスラインに対応して配置されたL個アナログ積分器6にそれぞれ読み出された時刻tkにおけるL個の出力電圧sjkを、スイッチ7により順番にAD変換器8に供給してAD変換し、AD変換器8によりAD変換された時刻tkにおける出力電圧sjkを内積演算部9に供給する。内積演算部9に供給された時刻tkにおける出力電圧sjkは、
(Actual product operation)
The inner product matrix C′ij = di · sj is calculated according to the following procedure.
(1) First, the inner product matrix stored in the RAM 10 (FIG. 2) of the estimation unit 5 is reset to C′ij = 0.
(2) The i-th (i = 1,..., M) drive line DLi is driven in parallel with the voltage V × dik at the timing of time tk (one of k = 1,. Is charged with a charge Cij × V × dik.
(3) Each sense line j (j = 1,..., L) is connected to the
となる。
(4)内積演算部9は、AD変換器8から出力されたL個の出力電圧sjkのそれぞれと、RAM10に格納された符号系列dikに応じて加減算を行い(符号系列dik=1のときは加算し、dik=−1のときは減算する)、その結果に基づいてC’ijの値を更新する。
It becomes.
(4) The inner product calculation unit 9 performs addition / subtraction according to each of the L output voltages sjk output from the
(5)符号系列の長さに相当するN回の処理が回るまでは、時刻をインクリメント(tk+1)し、(1)に戻る。
以上の処理が終わると、C’ijの値は、内積の計算結果となる。
(5) The time is incremented (tk + 1) and the process returns to (1) until N times of processing corresponding to the length of the code sequence are performed.
When the above processing is completed, the value of C′ij becomes the inner product calculation result.
本実施の形態に係るセンサパネル2のドライブラインの本数M、センスラインの本数L、及び符号系列の長さNは、例えば、4インチクラスの携帯情報端末等に適用する場合は、M=16、L=32とすれば、3mmピッチ程度になる。また、例えば、20インチクラスの画面を有する電子機器に適用する場合は、M=48、L=80により、6mmピッチ程度になる。符号系列の長さNの自由度は、非常に高いが、例えば、N=64〜512である。
The number M of drive lines, the number L of sense lines, and the length N of the code sequence of the
(駆動概念の先行技術との差異)
前述した特許文献2に記載の容量検出装置も、符号系列に基づいてドライブラインを駆動し、センスラインに接続され、駆動されたドライブラインとの複数の交差部の容量に生じる電流の総和を電気信号に変換した測定電圧を出力し、センスラインごとに、測定電圧と符号系列とにより積和演算を行い、各交差部の容量に対応する電圧値を求めている。しかしながら、ドライブラインの駆動概念が、下記のように、本実施の形態とは異なる。
(Difference from the prior art of driving concept)
The above-described capacitance detection device described in
例えば、説明の簡単化のために、1本のセンスラインと4本のドライブラインとの間に、容量(C1、C2、C3、C4)が形成されている例を考える。4本のドライブラインの駆動信号(符号系列)が、(1、1、−1、−1)であるとすると(特許文献2の表記では(1、1、0、0))、本実施の形態では、常に全ドライブラインが駆動され、
C1+C2−C3−C4 …(式3)
に相当する積分出力を得るが、特許文献2に開示された構成では、「1」に対応するドライブラインのみが駆動され、
C1+C2 …(式4)
に相当する積分出力を得る。本実施の形態の(式3)と特許文献2の(式4)とを比較すると、本実施の形態の積分出力の方が含まれる情報量が多いといえる。
For example, to simplify the description, consider an example in which capacitors (C1, C2, C3, C4) are formed between one sense line and four drive lines. If the drive signals (code sequences) of the four drive lines are (1, 1, -1, -1) (in the notation of
C1 + C2-C3-C4 (Formula 3)
In the configuration disclosed in
C1 + C2 (Formula 4)
An integral output corresponding to is obtained. Comparing (Equation 3) of this embodiment and (Equation 4) of
また、
Ci=C+ΔCi
ΔCi:容量の変化(ΔCiは通常、Cの1割程度である)
と表すと、
(式3)=C1+C2−C3−C4
=ΔC1+ΔC2−ΔC3−ΔC4
≒0.2×C …(式5)
(式4)=2×C+ΔC1+ΔC2
≒2×C …(式6)
となる。
Also,
Ci = C + ΔCi
ΔCi: change in capacity (ΔCi is usually about 10% of C)
And
(Formula 3) = C1 + C2-C3-C4
= ΔC1 + ΔC2-ΔC3-ΔC4
≒ 0.2 × C ... (Formula 5)
(Formula 4) = 2 × C + ΔC1 + ΔC2
≈ 2 x C (Formula 6)
It becomes.
タッチセンサーパネル等では、ΔCiはCの一割程度であるので、(式6)の値は、(式5)の値の10倍程度になる。即ち、特許文献2の(式6)を実現する積分回路は、(式5)を実現する本実施の形態の積分回路に比べてゲインを1/10程度に設定せざるを得ず、信号のSN比が劣る。このSN比の違いは、ドライブラインの数Mが増加すると、さらに大きくなる。
In a touch sensor panel or the like, ΔCi is about 10% of C, so the value of (Expression 6) is about 10 times the value of (Expression 5). That is, the integration circuit that realizes (Equation 6) of
常に全ドライブラインを並列に駆動している本実施の形態は、測定電圧のオフセット誤差をキャンセルするために、符号系列に基づいて第1のドライブライン(C1、C2)と第2のドライブライン(C3、C4)とに振り分けて駆動している特許文献2に記載の容量検出回路と異なっている。本実施の形態では、リセットスイッチのフィールドスルーによるオフセットは、ドライブラインに信号を入力しない状態(電圧Vrefで駆動している状態)におけるAD変換器の出力によって計測することができるので、この計測値をデジタル回路において減算すれば、オフセット誤差をキャンセルすることができる。
In the present embodiment in which all the drive lines are always driven in parallel, the first drive line (C1, C2) and the second drive line ( This is different from the capacitance detection circuit described in
(正負演算の先行技術との差異)
本実施の形態では、符号系列の値に応じて、+1の場合は+Vボルト、−1の場合は−VボルトになるようにM本のドライブラインを並列に駆動し、(式3)に相当する値を一挙に演算する。これに対して特許文献2に記載の構成では、(式4)のC1+C2を演算し、その後、C3+C4に相当する演算を行う。このように特許文献2に記載の構成では、演算が2相になるため、消費電力を抑えた高速化に不利である。
(Difference from prior art of positive and negative operations)
In the present embodiment, M drive lines are driven in parallel so as to be + V volts in the case of +1 and −V volts in the case of −1 in accordance with the value of the code sequence, which corresponds to (Equation 3). The values to be calculated are calculated at once. On the other hand, in the configuration described in
また、本実施の形態は、符号系列の値が−1の場合は−Vボルトになるようにドライブラインを駆動するが、特許文献2に記載の構成は、ドライブラインを+Vボルトに駆動するのみであり、−Vボルトに駆動する概念が無い点で相異する。
In the present embodiment, when the value of the code sequence is −1, the drive line is driven to be −V volts. However, the configuration described in
(推定部5の他の構成)
本実施の形態においては、L本のセンスラインにそれぞれ対応するアナログ積分器6を配置し、スイッチ7によりこれらのアナログ積分器6を切り換え、AD変換器8及び内積演算部9を一個ずつ配置した構成の例を示したが、本発明はこれに限定されない。アナログ積分器6を1個設け、このアナログ積分器6の入力切り換えによってセンスライン毎の読み出しを行うように構成してもよい。
(Other configurations of the estimation unit 5)
In the present embodiment,
また、AD変換器8を、センスライン及びアナログ積分器毎に設け、スイッチ7をAD変換器8と及び内積演算部9との間に設けるように構成してもよい。
Further, the
(他の実施形態の構成)
本実施の形態においては、ドライブラインとセンスラインとの間に形成される静電容量の容量値を検出する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、ドライブラインとセンスラインとの間に形成される線形素子の値を推定する構成に対しても本発明を適用することができるし、また、M個の入力xk(k=1、…、M)を有して入出力が線形な系のk番目の入力xkに対応する係数Ckを推定する構成に対しても本発明を適用することができる。
(Configuration of other embodiment)
In the present embodiment, the example in which the capacitance value of the capacitance formed between the drive line and the sense line is detected has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the present invention can be applied to a configuration for estimating the value of a linear element formed between a drive line and a sense line, and M inputs xk (k = 1,... The present invention can also be applied to a configuration that estimates the coefficient Ck corresponding to the kth input xk of the system having M) and linear input / output.
また、本実施の形態に記載したタッチセンサシステム1と、タッチセンサシステム1に設けられたセンサパネル2に重ねて配置された表示パネルとを備えた電子機器を構成してもよいし、また、タッチセンサシステム1と、センサパネル2を内蔵してセンサパネル2の機能を有する表示パネルとを備えた電子機器を構成してもよい。
Moreover, you may comprise the electronic device provided with the
(実施の形態2)
(2種類電圧によるセンサパネルの駆動方法)
図8は、実施の形態2に係るタッチセンサシステムに設けられたセンサパネルの駆動方法を説明するためのタイミングチャートである。
(Embodiment 2)
(Driving method of sensor panel by two kinds of voltages)
FIG. 8 is a timing chart for explaining a method of driving a sensor panel provided in the touch sensor system according to the second embodiment.
図4を参照して前述した実施の形態1に係るセンサパネルの駆動方法では、Vref、(Vref+V)、及び(Vref−V)の3種類の電圧によりセンサパネルを駆動したが、実施の形態2の駆動方法では2種類の電圧V1・V2により駆動する。 In the sensor panel driving method according to the first embodiment described above with reference to FIG. 4, the sensor panel is driven by three kinds of voltages Vref, (Vref + V), and (Vref−V). In this driving method, driving is performed by two kinds of voltages V1 and V2.
即ち、符号系列が+1の場合は、アナログ積分器6(図1)のリセット時に電圧V1により、各静電容量が結合されたセンスラインからの出力のサンプリング時に電圧V2によりドライブラインを駆動する。そして、符号系列が−1の場合は、アナログ積分器6のリセット時に電圧V2により、各静電容量が結合されたセンスラインからの出力のサンプリング時に電圧V1によりドライブラインを駆動する。
That is, when the code sequence is +1, the drive line is driven by the voltage V1 when the analog integrator 6 (FIG. 1) is reset, and by the voltage V2 when sampling the output from the sense line to which each capacitance is coupled. When the code sequence is −1, the drive line is driven by the voltage V1 when the
具体的には、図8に示す例では、ドライブラインDL1は、符号系列の対応する要素d11=+1、d12=+1であるので、アナログ積分器6のリセット時に電圧V1により駆動された後、サンプリング時に電圧V2により駆動され、次のリセット時に電圧V1により駆動された後、次のサンプリング時に電圧V2により駆動される。ドライブラインDL2は、符号系列の対応する要素d21=+1、d22=−1であるので、アナログ積分器6のリセット時に電圧V1により駆動された後、サンプリング時に電圧V2により駆動され、次のリセット時に電圧V2により駆動された後、次のサンプリング時に電圧V1により駆動される。
Specifically, in the example shown in FIG. 8, since the drive line DL1 has the corresponding elements d11 = + 1 and d12 = + 1 of the code sequence, the sampling is performed after being driven by the voltage V1 when the
ドライブラインDL3は、符号系列の対応する要素d31=−1、d32=−1であるので、アナログ積分器6のリセット時に電圧V2により駆動された後、サンプリング時に電圧V1により駆動され、次のリセット時に電圧V2により駆動された後、次のサンプリング時に電圧V1により駆動される。ドライブラインDL4は、符号系列の対応する要素d41=−1、d42=+1であるので、アナログ積分器6のリセット時に電圧V2により駆動された後、サンプリング時に電圧V1により駆動され、次のリセット時に電圧V1により駆動された後、次のサンプリング時に電圧V2により駆動される。ドライブラインDLMは、符号系列の対応する要素dM1=−1、dM2=+1であるので、アナログ積分器6のリセット時に電圧V2により駆動された後、サンプリング時に電圧V1により駆動され、次のリセット時に電圧V1により駆動された後、次のサンプリング時に電圧V2により駆動される。
Since the drive line DL3 has the corresponding elements d31 = −1 and d32 = −1 in the code sequence, it is driven by the voltage V2 when the
ここで、V1=Vdd、V2=Vss
とすると、出力は、
(Cf/Cint)×(V1−V2)=(Cf/Cint)×(Vdd−Vss)
となり、
図4を参照して前述した実施の形態1に係るセンサパネルの駆動方法において、
Vref=(Vdd−Vss)/2、
とおいた場合、
Vdd=Vref+V、
Vss=Vref−V、
であるから、
V=(Vdd−Vss)/2
となり、図8に示す例の半分の出力になる。従って、図8に示す実施の形態2の駆動方法によれば、図4の実施の形態1の駆動方法の2倍の信号強度を得ることができ、静電容量に蓄積される電荷を2倍にすることができる。
Here, V1 = Vdd, V2 = Vss
Then the output is
(Cf / Cint) × (V1−V2) = (Cf / Cint) × (Vdd−Vss)
And
In the sensor panel driving method according to the first embodiment described above with reference to FIG.
Vref = (Vdd−Vss) / 2,
If you say
Vdd = Vref + V,
Vss = Vref−V,
Because
V = (Vdd−Vss) / 2
Thus, the output is half that of the example shown in FIG. Therefore, according to the driving method of the second embodiment shown in FIG. 8, it is possible to obtain twice the signal intensity of the driving method of the first embodiment of FIG. 4, and double the charge accumulated in the capacitance. Can be.
(オフセット読み出し)
図9は、実施の形態2に係るタッチセンサシステムに設けられたセンサパネルの駆動方法を説明するための他のタイミングチャートである。
(Offset read)
FIG. 9 is another timing chart for explaining a driving method of the sensor panel provided in the touch sensor system according to the second embodiment.
図4または図8に示した態様によりドライブラインDL1〜DLMを並列駆動する前に、図9に示すように、リセット時もサンプリング時も一定電圧VrefによりドライブラインDL1〜DLMを駆動して、ドライブラインに信号を入れない状態にし、アナログ積分器6(図1及び図2)からオフセット出力値を読み出す。そして、アナログ積分器6から読み出したオフセット出力値をADC8によりAD変換する。次に、ADC8によりAD変換されたオフセット出力値を内積演算部9により計測し、このオフセット出力値をセンスラインSL1〜SLLごとにRAM10に格納する。
Before driving the drive lines DL1 to DLM in parallel according to the mode shown in FIG. 4 or FIG. 8, as shown in FIG. 9, the drive lines DL1 to DLM are driven by the constant voltage Vref at the time of resetting and sampling. The signal is not input to the line, and the offset output value is read from the analog integrator 6 (FIGS. 1 and 2). The offset output value read from the
(オフセット補償方法)
その後、図4または図8に示した態様によりドライブラインDL1〜DLMを並列駆動して、静電容量列からの出力をアナログ積分器6に出力する。そして、ADC8は、アナログ積分器6に出力された静電容量列からの出力をAD変換して内積演算部9に供給する。次に、内積演算部9は、ADC8により供給された静電容量列からの出力から、RAM10に格納されたオフセット出力値をセンスラインSL1〜SLLごとに減算して、アナログ積分器6に設けられたリセットスイッチのフィードスルーによるオフセットをキャンセルする。
(Offset compensation method)
Thereafter, the drive lines DL <b> 1 to DLM are driven in parallel according to the mode shown in FIG. 4 or 8, and the output from the capacitance string is output to the
なお、リセット時もサンプリング時も一定電圧VrefによりドライブラインDL1〜DLMを駆動して、アナログ積分器6からオフセット出力値を読み出し、ADC8によりAD変換したオフセット出力値を内積演算部9により計測する動作を複数回繰り返して複数個のオフセット出力値を計測し、この複数個のオフセット出力値を平均化することによりオフセットに含まれるノイズ成分を削減した平均オフセット出力値をRAM10に格納するように構成してもよい。複数回の繰り返し回数は、例えば、60Hzの場合、16回であり、240Hzの場合、100回に設定され得る。
Note that the drive lines DL1 to DLM are driven by the constant voltage Vref at the time of resetting and sampling, the offset output value is read from the
(実施の形態3)
(アナログ積分器のゲイン切り替え)
図10は、実施の形態3に係るセンサパネルの駆動方法を説明するための図である。実施の形態1で前述した構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明は繰り返さない。
(Embodiment 3)
(Analog integrator gain switching)
FIG. 10 is a diagram for explaining a driving method of the sensor panel according to the third embodiment. The same components as those described in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will not be repeated.
センサパネル2が4本のドライブラインDl1〜DL4と4本のセンスラインSL1〜SL4とを有しており、符号系列が、シルベスター法によって生成される4次のアダマール行列により構成される例を説明する。
An example in which the
アナログ積分器6Aは、一方の入力が基準電圧Vrefに結合されたオペアンプと、このオペアンプの出力と他方の入力との間に配置された容量Cintの積分容量と、この積分容量に対してそれぞれ並列に接続された3個の他の積分容量と、3個の他の積分容量のそれぞれとオペアンプの出力との間にそれぞれ設けられた3個のスイッチとを有している。
The
シルベスター法によって生成される4次のアダマール行列からなる符号系列の各要素の列方向に沿った総和は、1列目が「4」であり、2列目〜4列目が「0」である。従って、この符号系列の1列目の各要素によりドライブラインを駆動するときに、静電容量列からの出力の値は、2列目〜4列目により駆動する場合に比べて著しく大きくなってアナログ積分器6Aの容量を超え、アナログ積分器6Aが飽和するおそれがある。
The sum along the column direction of each element of the code sequence composed of the fourth-order Hadamard matrix generated by the Sylvester method is “4” in the first column and “0” in the second to fourth columns. . Therefore, when the drive line is driven by each element of the first column of this code sequence, the value of the output from the capacitance column is significantly larger than when driven by the second to fourth columns. The capacity of the
そこで、符号系列の各要素の列方向に沿った総和がアナログ積分器6Aが飽和する程度に大きい列により、ドライブラインを駆動するときは、アナログ積分器6Aの飽和を防止するように、アナログ積分器6Aに設けられたスイッチをオフからオンに切り替える。
Therefore, when the drive line is driven by a column in which the sum of the elements of the code sequence along the column direction is large enough to saturate the
シルベスター法によって生成されるアダマール行列は、1列目の要素が必ずすべて+1となり、列の要素の総和が他の列の総和よりも著しく大きくなり、アナログ積分器6Aが飽和するおそれが生じるが、上記のようにアナログ積分器6Aに設けられたスイッチをオフからオンに切り替えて、アナログ積分器6Aのゲインを切り替えることにより、アナログ積分器の飽和を防止することができる。
In the Hadamard matrix generated by the Sylvester method, all the elements in the first column are always +1, and the sum of the elements in the column becomes significantly larger than the sum of the other columns, and the
以上のように実施の形態3によれば、符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値に応じて、アナログ積分器のゲインを切り替えるので、アナログ積分器の飽和を防止することができる。 As described above, according to the third embodiment, since the gain of the analog integrator is switched according to the absolute value of the sum of the elements along the column direction of the code sequence, saturation of the analog integrator can be prevented. it can.
(アナログ積分器ゲイン切り替えの内積演算部ゲイン切り替えによる補償)
内積演算部9は、ゲインを切り替え可能なアナログ積分器6Aに出力された静電容量列からの出力をADC8によりAD変換したデジタル値と符号系列との内積演算に基づいて、各ドライブラインに対応する静電容量列の容量値を推定する。ここで、内積演算部9は、符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値に応じて、デジタル値の重み付けを切り替えて、アナログ積分器6Aのゲインとデジタル値の重み付けによるゲインとの積が、符号系列の各列ごとに一定にする。
(Compensation by analog product gain switching inner product calculation unit gain switching)
The inner product calculation unit 9 corresponds to each drive line based on the inner product calculation of the digital value obtained by AD-converting the output from the capacitance string output to the
(実施の形態4)
(内積計算の複数駆動による分割)
図11(a)及び(b)は実施の形態4に係るセンサパネルを駆動するための符号系列を説明するための図である。
(Embodiment 4)
(Division of inner product calculation by multiple driving)
FIGS. 11A and 11B are diagrams for explaining a code sequence for driving the sensor panel according to the fourth embodiment.
図11(a)には、シルベスター法によって生成される4次のアダマール行列により構成される符号系列が示されている。この符号系列は、図10に示される符号系列と同様に、各要素の列方向に沿った総和は、1列目が「4」であり、2列目〜4列目が「0」である。従って、この符号系列の1列目の各要素によりドライブラインを駆動するときに、静電容量列からの出力の値は、2列目〜4列目により駆動する場合に比べて著しく大きくなってアナログ積分器6Aの容量を超え、アナログ積分器6Aが飽和するおそれがある。
FIG. 11A shows a code sequence composed of a fourth-order Hadamard matrix generated by the Sylvester method. In this code sequence, as in the code sequence shown in FIG. 10, the sum along the column direction of each element is “4” in the first column and “0” in the second to fourth columns. . Therefore, when the drive line is driven by each element of the first column of this code sequence, the value of the output from the capacitance column is significantly larger than when driven by the second to fourth columns. The capacity of the
そこで、図11(b)に示すように、符号系列の1列目の(1、1、1、1)を、(1、1、0、0)によって表される列と、(0、0、1、1)によって表される列との2列に分割することにより、4本のドライブラインの駆動を4回から5回にし、各要素の列方向に沿った総和「4」を「2」と「2」とに分割して、列方向に沿った総和の最大値を「4」がら「2」に低減して、アナログ積分器の飽和を防止する。 Therefore, as shown in FIG. 11 (b), (1, 1, 1, 1) in the first column of the code sequence is replaced with a column represented by (1, 1, 0, 0) and (0, 0 1 and 1), the four drive lines are driven four to five times, and the total “4” along the column direction of each element is “2”. ”And“ 2 ”, and the maximum value of the total sum along the column direction is reduced to“ 2 ”from“ 4 ”to prevent saturation of the analog integrator.
実施の形態4では、シルベスター法によって生成される4次のアダマール行列により構成される符号系列の例を示したが、本発明はこれに限定されない。4次以外の2n次のアダマール行列により構成される符号系列に対して本発明を適用できるし、シルベスター法以外の方法により生成される任意の次数のアダマール行列により構成される符号系列に対しても本発明を適用することができる。
In
(実施の形態5)
(三角山型駆動方法)
図12は、実施の形態5に係るセンサパネルを駆動するための符号系列を説明するための図である。
(Embodiment 5)
(Triangular drive method)
FIG. 12 is a diagram for explaining a code sequence for driving the sensor panel according to the fifth embodiment.
実施の形態5に係るセンサパネルは、M本のドライブラインとL本のセンスラインとの間に形成される静電容量列のそれぞれに対して、シルベスター法によって生成される2n次(M<2n)のアダマール行列の各行に相当する+1または−1によって構成されて互いに直交する符号長N>Mの符号系列に基づいて、M本のドライブラインを並列に駆動する。図12には、16次のアダマール行列に基づくM(=13)本のドライブラインに対応した13行×16列の符号系列の例を示している。 The sensor panel according to the fifth embodiment has a 2 n order (M <) generated by the Sylvester method for each of the capacitance columns formed between the M drive lines and the L sense lines. 2 n ) M drive lines are driven in parallel based on code sequences of code length N> M, which are constituted by +1 or −1 corresponding to each row of the 2 n ) Hadamard matrix and are orthogonal to each other. FIG. 12 shows an example of a code sequence of 13 rows × 16 columns corresponding to M (= 13) drive lines based on a 16th-order Hadamard matrix.
図13は、センサパネルを駆動する方法を示すグラフである。横軸は、図12に示すN=16のアダマール行列の列方向に沿った位置を示している。縦軸は、このN=16のアダマール行列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値を示している。 FIG. 13 is a graph showing a method for driving the sensor panel. The horizontal axis indicates the position along the column direction of the N = 16 Hadamard matrix shown in FIG. The vertical axis represents the absolute value of the sum of each element along the column direction of the N = 16 Hadamard matrix.
N=16のアダマール行列の第1列目は、要素がすべて1であるので、列方向に沿った位置(横軸)と列方向に沿った各要素の総和の絶対値(縦軸)との関係は、線形的に単調増加する線L1により表される。 In the first column of the N = 16 Hadamard matrix, all the elements are 1, so that the position along the column direction (horizontal axis) and the absolute value of the sum of each element along the column direction (vertical axis) The relationship is represented by a linearly monotonically increasing line L1.
N=16のアダマール行列の第9列目((2(4−1)+1)列目)は、第1行から第8行までがすべて1であり、第9行から第16行までがすべて−1であるので、列方向に沿った位置(横軸)と列方向に沿った各要素の総和の絶対値(縦軸)との関係は、線形的に単調増加した後、線形的に単調減少して底辺長さ16、高さ8の三角山型形状を形成する線L2によって表される。 The 9th column of the N = 16 Hadamard matrix (column (2 (4-1) +1)) is all 1 from the 1st row to the 8th row, and all from the 9th row to the 16th row. Since −1, the relationship between the position along the column direction (horizontal axis) and the absolute value of the sum of the elements along the column direction (vertical axis) increases linearly and monotonically. It is represented by a line L2 that decreases to form a triangular mountain shape with a base length of 16 and a height of 8.
N=16のアダマール行列の第5列目((24−1−24−2+1)列目)は、第1行から第4行までがすべて1であり、第5行から第8行までがすべて−1であり、第9行から第12行までがすべて1であり、第13行から第16行までがすべて−1である。従って、列方向に沿った位置(横軸)と列方向に沿った各要素の総和の絶対値(縦軸)との関係は、底辺長さ8、高さ4の三角山型形状を2個形成する線L3によって表される。第13列目((24−1+24−2+1)列目)も、第1行から第4行までがすべて1であり、第5行から第8行までがすべて−1であり、第9行から第12行までがすべて−1であり、第13行から第16行までがすべて1であるので、同様に、三角山型形状を2個形成する線L3によって表される。 The fifth column ((2 4-1 -2 4-2 +1) column) of the N = 16 Hadamard matrix is all 1 from the first row to the fourth row, and the fifth row to the eighth row. All of the above are -1, all of the ninth to twelfth lines are 1, and all of the thirteenth to sixteenth lines are -1. Therefore, the relationship between the position along the column direction (horizontal axis) and the absolute value (vertical axis) of the sum of each element along the column direction is two triangular mountain shapes with a base length of 8 and a height of 4. It is represented by the line L3 to be formed. The 13th column (the (2 4-1 +2 4-2 +1) column) is also all 1 from the first row to the fourth row, and all -1 from the fifth row to the eighth row, Since the ninth to twelfth rows are all -1 and the thirteenth to sixteenth rows are all 1, it is similarly represented by a line L3 that forms two triangular mountain shapes.
第3列、第7列、第11列、及び第15列は、底辺長さ4、高さ2の三角山型形状を4個形成する線L4によって表される。第2列、第4列、第6列、第8列、第10列、第12列、第14列、及び第16列は、底辺の長さ2、高さ1の三角山型形状を8個形成する線L5により表される。 The third column, the seventh column, the eleventh column, and the fifteenth column are represented by a line L4 that forms four triangular mountain shapes having a base length of 4 and a height of 2. The second column, the fourth column, the sixth column, the eighth column, the tenth column, the twelfth column, the fourteenth column, and the sixteenth column have a triangular mountain shape with a base length of 2 and a height of 8 It is represented by a line L5 that is formed individually.
ここで、閾値Numを、符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値がこれを超えると、アナログ積分器6(図1)が飽和する値であるとする。図12及び図13に示す例では、Num=3であるとする。そして、ドライブライン数M=13であるとする。 Here, it is assumed that the threshold Num is a value at which the analog integrator 6 (FIG. 1) is saturated when the absolute value of the sum of the elements along the column direction of the code sequence exceeds this value. In the example shown in FIGS. 12 and 13, it is assumed that Num = 3. Assume that the drive line number M = 13.
線L5に対応する第2列、第4列、第6列、第8列、第10列、第12列、第14列、及び第16列、並びに、線L4に対応する第3列、第7列、第11列、及び第15列は、図13に示すように、いずれも、閾値Num=3を超えないので、M=13本のドライブラインを同時駆動しても、アナログ積分器6は飽和しない。
The second column, the fourth column, the sixth column, the eighth column, the tenth column, the twelfth column, the fourteenth column and the sixteenth column corresponding to the line L5, and the third column corresponding to the line L4, the second column As shown in FIG. 13, the seventh column, the eleventh column, and the fifteenth column do not exceed the threshold value Num = 3. Therefore, even if M = 13 drive lines are driven simultaneously, the
線L1に対応する第1列は、閾値Num=3を超えるので、閾値Num=3に基づいて、ドライブラインの1番目から順番に3本のドライブラインずつ4回駆動した後、ドライブラインDL13を駆動するように第1列を分割して駆動すると、アナログ積分器6は飽和しない。
Since the first column corresponding to the line L1 exceeds the threshold value Num = 3, the drive line DL13 is driven four times by three drive lines in order from the first drive line based on the threshold value Num = 3. When the first column is divided and driven so as to be driven, the
一般的には、ドライブラインの1番目からNum×[M/Num]番目までをNum個ずつ駆動することを[M/Num]回繰り返した後、残りの(M/Num)の余りの個数を並列駆動する。ここで、[x]:xの整数部であり、後述する説明においても同様である。 In general, after driving Num from the first drive line to the Num × [M / Num] th by [M / Num] times, the remaining number of remaining (M / Num) is calculated. Drive in parallel. Here, [x] is an integer part of x, and the same applies in the description to be described later.
線L2に対応する第9列は、閾値Num=3を超える。線L2に対応する第9列は、まず、ドライブラインの第2行目から第13行目までを符号系列の対応箇所により並列に駆動した後、ドライブラインの1行目を駆動する。 The ninth column corresponding to the line L2 exceeds the threshold Num = 3. In the ninth column corresponding to the line L2, first, the second to thirteenth rows of the drive line are driven in parallel by corresponding portions of the code series, and then the first row of the drive line is driven.
一般的には、ドライブラインの(2n−1−(M−2n−1))行目=(2n−M)行目に基づく行からM行目までを並列に駆動した後、ドライブラインの1行目から(2n−1−(M−2n−1))行目=(2n−M)行目までを、Num個ずつ駆動することを[(2n−1−(M−2n−1)−1)行目に基づく行/Num]回繰り返した後、残りの((2n−1−(M−2n−1)−1)行目に基づく行/Num)の余りの個数を並列駆動する。 In general, the drive line is driven in parallel from the (2 n-1 − (M−2 n−1 )) line = (2 n −M) line to the M line in the drive line. Num driving from the first line of the line to the (2 n-1 − (M−2 n−1 )) line = (2 n −M) line [(2 n−1 − ( M-2 n-1 ) -1) line / Num based on the line], and then the remaining ((2 n-1- (M-2 n-1 ) -1) line / Num) ) Are driven in parallel.
実施の形態5で示す例では、n=4、M=13であるから、(2n−1−(M−2n−1))行目=3行目であるが、3行目から13行目までを並列駆動しても、符号系列の列方向の総和は+1であり、閾値Num=3よりも2小さい。従って、2行目から13行目までを並列駆動しても、符号系列の列方向の総和は+2であり、閾値Num=3よりも、まだ小さい。このため、(2n−1−(M−2n−1))行目は3行目であるが、閾値Numの値を考慮し、(2n−1−(M−2n−1))行目=3行目に基づく行として2行目を選択し、2行目から13行目までを並列駆動する。 In the example shown in the fifth embodiment, since n = 4 and M = 13, the (2 n-1 − (M−2 n−1 )) line = the 3rd line, but the 3rd to 13th lines. Even in parallel driving up to the row, the sum in the column direction of the code sequence is +1, which is 2 smaller than the threshold Num = 3. Therefore, even if the second to thirteenth rows are driven in parallel, the sum of the code sequences in the column direction is +2, which is still smaller than the threshold Num = 3. For this reason, the (2 n-1- (M-2 n-1 )) line is the third line, but considering the value of the threshold Num, (2 n-1- (M-2 n-1 )) ) Row = Select the second row as a row based on the third row, and drive the second to thirteenth rows in parallel.
線L3に対応する第5列及び第13列は、閾値Num=3を超える。線L3に対応する第5列及び第13列は、まず、ドライブラインの1行目から8行目までを同時に並列駆動する。そして、ドライブラインの10行目から13行目までを駆動する。次に、ドライブラインの9本目を駆動する。 The fifth column and the thirteenth column corresponding to the line L3 exceed the threshold Num = 3. In the fifth and thirteenth columns corresponding to the line L3, first, the first to eighth rows of the drive line are simultaneously driven in parallel. Then, the 10th to 13th rows of the drive line are driven. Next, the ninth drive line is driven.
一般的には、まず、ドライブラインの1行目から(2n−1)行目までを同時並列に駆動する。そして、ドライブラインの((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))行目に基づく行からM行目までを並列に駆動する。次に、ドライブラインの(2n−1+1)行目から((((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))に基づく行)−1)行目までを、Num個ずつ駆動することを[((((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))に基づく行))−(2n−1+1)/Num]回繰り返した後、残りの(((((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))に基づく行))−(2n−1+1)/Num)の余りの個数を並列駆動する。 In general, first, the drive line from the first line to the (2 n-1 ) line is driven in parallel. Then, the drive line is driven in parallel from the line based on the ((2 n-1 +2 n-2 )-(M- (2 n-1 +2 n-2 ))) line of the drive line. Next, from the (2 n−1 +1) th row of the drive line ((((2 n−1 +2 n−2 ) − (M− (2 n−1 +2 n−2 ))) based row) − 1) Drive up to the Num number of rows by [((((2 n-1 +2 n-2 )-(M- (2 n-1 +2 n-2 ))) based rows))- After (2 n-1 +1) / Num] iterations, the remaining rows based on ((((((2 n-1 +2 n-2 )-(M- (2 n-1 +2 n-2 )))) ))-(2 n-1 +1) / Num) is driven in parallel.
実施の形態5で示す例では、n=4、M=13であるから、((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))行目=11行目であるが、11行目から13行目までを並列駆動しても、符号系列の列方向の総和は+1であり、閾値Num=3よりも2小さい。従って、10行目から13行目までを並列駆動しても、符号系列の列方向の総和は+2であり、閾値Num=3よりも、まだ小さい。このため、((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))行目=11行目であるが、閾値Numの値を考慮し、((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))行目=11行目に基づく行として10行目を選択し、10行目から13行目までを並列駆動する。 In the example shown in the fifth embodiment, since n = 4 and M = 13, the ((2 n-1 +2 n-2 )-(M- (2 n-1 +2 n-2 ))) line = Although the 11th row, even if the 11th to 13th rows are driven in parallel, the sum of the code sequences in the column direction is +1, which is 2 smaller than the threshold Num = 3. Therefore, even if the 10th to 13th rows are driven in parallel, the sum of the code sequences in the column direction is +2, which is still smaller than the threshold Num = 3. For this reason, the ((2 n-1 +2 n-2 )-(M- (2 n-1 +2 n-2 ))) line = 11th line, but considering the value of the threshold Num, (( 2 n-1 +2 n-2 )-(M- (2 n-1 +2 n-2 ))) line = 10th line is selected as a line based on the 11th line, and from the 10th line to the 13th line Are driven in parallel.
次に、ドライブライン数Mが12以下の場合のセンサパネル駆動方法を説明する。まず、8<M≦12の場合を説明する。線L1及び線L2の駆動方法は、前述した駆動方法と同じである。線L3の場合は、まず、ドライブラインの1行目から(2n−1)行目までを同時並列に駆動する。そして、ドライブラインの(2n−1)+1行目から(2n−1)+Num×[(M−(2n−1))/Num]番目までをNum個ずつ駆動することを[(M−(2n−1))/Num]回繰り返した後、残りの((M−(2n−1))/Num)の余りの個数を並列駆動する。 Next, a sensor panel driving method when the drive line number M is 12 or less will be described. First, the case of 8 <M ≦ 12 will be described. The driving method of the lines L1 and L2 is the same as the driving method described above. In the case of the line L3, first, the drive line from the first row to the (2 n-1 ) th row is driven simultaneously in parallel. The driveline (2 n-1) +1 row (2 n-1) + Num × [(M- (2 n-1)) / Num] th to drive Num pieces by up to [(M -(2 n-1 )) / Num] iterations, the remaining ((M- (2 n-1 )) / Num) remaining numbers are driven in parallel.
次に、4<M≦8の場合を説明する。線L1の駆動方法は、前述した線L1の駆動方法と同じである。線L2の駆動方法は、前述した線L1の駆動方法と同じである。線L3の駆動方法は、前述したドライブライン数M=13の場合の線L2の駆動方法と同じである。 Next, the case of 4 <M ≦ 8 will be described. The driving method of the line L1 is the same as the driving method of the line L1 described above. The driving method of the line L2 is the same as the driving method of the line L1 described above. The driving method of the line L3 is the same as the driving method of the line L2 when the number of drive lines M = 13 described above.
M≦4の場合は、線L1の駆動方法は前述した線L1の駆動方法と同じであり、線L2及び線L3の駆動方法も、前述した線L1の駆動方法と同じである。 In the case of M ≦ 4, the driving method of the line L1 is the same as the driving method of the line L1, and the driving method of the lines L2 and L3 is also the same as the driving method of the line L1.
ここで、閾値Num=1となった場合のセンサパネル駆動方法を説明する。ドライブライン数M=13とする。線L1、線L2、及び線L3の駆動方法は、前述した閾値Num=3の場合の駆動方法と同じである。線L4の場合は、まず、ドライブラインの1行目から(2n−1+2n−2)行目までを同時並列に駆動する。そして、ドライブラインの(2n−1+2n−2)+1番目から(2n−1+2n−2)+Num×[(M−(2n−1+2n−2))/Num]番目までをNum個ずつ駆動することを[(M−(2n−1+2n−2))/Num]回繰り返した後、残りの((M−(2n−1+2n−2))/Num)の余りの個数を並列駆動する。 Here, a sensor panel driving method when the threshold value Num = 1 is described. The drive line number M = 13. The driving method of the line L1, the line L2, and the line L3 is the same as the driving method when the threshold value Num = 3 described above. In the case of the line L4, first, the drive line from the first line to the (2 n-1 +2 n-2 ) line is driven simultaneously in parallel. Then, from the (2 n-1 +2 n-2 ) + 1th to (2 n-1 +2 n-2 ) + Num × [(M− (2 n−1 +2 n−2 )) / Num] th of the drive line Is repeated [(M− (2 n−1 +2 n− 2 )) / Num] times, and then the remaining ((M− (2 n−1 +2 n−2 )) / Num is driven. ) Are driven in parallel.
2n次(M<2n)のアダマール行列の次数が増大して、n>4となったときも前述した駆動方法と同様の方法により駆動すればよい。 When the order of the 2 n -th order (M <2 n ) Hadamard matrix increases and n> 4, the driving method may be the same as that described above.
なお、符号系列の列方向に沿った位置と、列方向に沿った各要素の総和の絶対値との関係が図13に示す関係になっていない場合でも、符号系列の行の順番を入れ替えることにより、符号系列の列方向に沿った位置と、列方向に沿った各要素の総和の絶対値とが図13に示す関係を有するシルベスター法によって生成される2n次(M<2n)のアダマール行列とすることができるときは、当該符号系列の行の順番を入れ替えて、上記駆動方法を実施するように構成してもよい。 Note that even if the relationship between the position along the column direction of the code sequence and the absolute value of the sum of the elements along the column direction is not the relationship shown in FIG. 13, the order of the rows of the code sequence is changed. Thus, the position of the code sequence along the column direction and the absolute value of the sum of the elements along the column direction are 2 n order (M <2 n ) generated by the Sylvester method having the relationship shown in FIG. When the Hadamard matrix can be obtained, the above driving method may be implemented by changing the order of the rows of the code sequence.
なお、前述した実施の形態1〜5では、直交符号系列によりドライブラインを並列に駆動する例を示したが、本発明はこれに限定されない。M系列に基づく符号系列によりドライブラインを駆動してもよい。 In the first to fifth embodiments described above, an example in which drive lines are driven in parallel by orthogonal code sequences has been described, but the present invention is not limited to this. The drive line may be driven by a code sequence based on the M sequence.
図14の(a)は、実施の形態に係るM系列に基づく符号系列を説明するための図である。M系列に基づく符号系列d1=(d11、d12、…、d1N)、d2=(d21、d22、…、d2N)、…、dM=(dM1、dM2、…、dMN)は、1番目からM番目までのドライブラインを並列駆動し、それぞれ、1または−1の要素を有しているものとし、M系列に基づく符号系列d1、d2、…、dMは、長さN(=2n−1)のM系列を巡回シフトした系列とすると、図14の(式8)に示す条件を満足する。 (A) of FIG. 14 is a figure for demonstrating the code sequence based on the M series which concerns on embodiment. Code sequence d 1 = (d 11 , d 12 ,..., D 1N ), d 2 = (d 21 , d 22 ,..., D 2N ),..., DM = (d M1 , d M2 ,. , D MN ) drive the first to M-th drive lines in parallel and have 1 or −1 elements, respectively, and code sequences d 1 , d 2 ,. If dM is a sequence obtained by cyclically shifting an M sequence having a length N (= 2 n −1), the condition shown in (Equation 8) in FIG. 14 is satisfied.
「M系列」は、二進擬似乱数列の一種であり、1と−1(または1と0)の2値のみから構成される。M系列の1周期の長さは、2n−1である。長さ=23−1=7のM系列の例としては、「1、−1、−1、1、1、1、−1」が挙げられる。長さ=24−1=15のM系列の例としては、「1、−1、−1、−1、1、1、1、1、−1、1、−1、1、1、−1、−1」が挙げられる。 The “M sequence” is a kind of binary pseudorandom number sequence, and is composed of only binary values of 1 and −1 (or 1 and 0). The length of one period of the M sequence is 2 n −1. Examples of the M series of length = 2 3 −1 = 7 include “1, −1, −1, 1, 1, 1, −1”. As an example of an M sequence of length = 2 4 −1 = 15, “1, -1, −1, −1, 1, 1, 1, 1, −1, 1, −1, 1, 1, − 1, -1 ".
図14の(b)は、M系列に基づく符号系列の具体例を示す図である。M系列に基づく符号系列MCSは、13行×15列の符号系列である。符号系列MCSの1行目は、長さ=15のM系列「1、−1、−1、−1、1、1、1、1、−1、1、−1、1、1、−1、−1」である。符号系列MCSの2行目は、1行目のM系列を左に1桁巡回シフトしたM系列であり、符号系列MCSの3行目は、2行目のM系列を左に1桁巡回シフトしたM系列である。以下同様に、符号系列MCSのk行目は、k−1行目のM系列を左に1桁巡回シフトしたM系列である(2≦k≦13)。 FIG. 14B is a diagram illustrating a specific example of a code sequence based on the M sequence. The code sequence MCS based on the M sequence is a code sequence of 13 rows × 15 columns. The first line of the code sequence MCS is an M sequence “1, −1, −1, −1, 1, 1, 1, 1, −1, 1, −1, 1, 1, −1 of length = 15. -1 ". The second row of the code sequence MCS is an M sequence obtained by cyclically shifting the M sequence of the first row to the left by one digit, and the third row of the code sequence MCS is cyclically shifted by one digit to the left of the M sequence of the second row. M series. Similarly, the kth row of the code sequence MCS is an M sequence obtained by cyclically shifting the M sequence of the (k−1) th row to the left by one digit (2 ≦ k ≦ 13).
(実施の形態6)
(タッチセンサシステムを搭載した電子機器)
図15は、タッチセンサシステム1を搭載した携帯電話機12の構成を示す機能ブロック図である。携帯電話機(電子機器)12は、CPU15と、RAM17と、ROM16と、カメラ21と、マイクロフォン18と、スピーカ19と、操作キー20と、表示パネル13と、表示制御回路14と、タッチセンサシステム1とを備えている。各構成要素は、相互にデータバスによって接続されている。
(Embodiment 6)
(Electronic device with touch sensor system)
FIG. 15 is a functional block diagram showing the configuration of the
CPU15は、携帯電話機12の動作を制御する。CPU15は、たとえばROM16に格納されたプログラムを実行する。操作キー20は、携帯電話機12のユーザによる指示の入力を受ける。RAM17は、CPU15によるプログラムの実行により生成されたデータ、または操作キー20を介して入力されたデータを揮発的に格納する。ROM16は、データを不揮発的に格納する。
The
また、ROM16は、EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory)やフラッシュメモリなどの書込みおよび消去が可能なROMである。なお、図14には示していないが、携帯電話機12が、他の電子機器に有線により接続するためのインターフェイス(IF)を備える構成としてもよい。
The
カメラ21は、ユーザの操作キー20の操作に応じて、被写体を撮影する。なお、撮影された被写体の画像データは、RAM17や外部メモリ(たとえば、メモリカード)に格納される。マイクロフォン18は、ユーザの音声の入力を受付ける。携帯電話機12は、当該入力された音声(アナログデータ)をデジタル化する。そして、携帯電話機12は、通信相手(たとえば、他の携帯電話機)にデジタル化した音声を送る。スピーカ19は、たとえば、RAM17に記憶された音楽データなどに基づく音を出力する。
The
タッチセンサシステム1は、センサパネル2と集積回路3とを有している。CPU15は、タッチセンサシステム1の動作を制御する。CPU15は、例えばROM16に記憶されたプログラムを実行する。RAM17は、CPU15によるプログラムの実行により生成されたデータを揮発的に格納する。ROM16は、データを不揮発的に格納する。
The
表示パネル13は、表示制御回路14により、ROM16、RAM17に格納されている画像を表示する。表示パネル13は、センサパネル2に重ねられているか、センサパネル2を内蔵している。
The
(実施の形態7)
〔タッチパネルシステムの構成〕
図17は、電子機器が備えている、本実施の形態に係るタッチパネルシステムの概略構成を示すブロック図である。
(Embodiment 7)
[Configuration of touch panel system]
FIG. 17 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the touch panel system according to the present embodiment, which is included in the electronic device.
タッチパネルシステム611は、センサパネル601およびタッチパネルコントローラ602を備えている。センサパネル601およびタッチパネルコントローラ602は、センサパネル601における複数箇所が同時にタッチされたことを検出することが可能であるように構成されている。該構成の一例として、いわゆる静電容量方式のタッチパネルが挙げられる。
The touch panel system 611 includes a
センサパネル601は、表示装置の表示パネル(図15に示されるような)に重ねて配置されている。該表示装置としては、液晶表示装置、プラズマディスプレイ、有機EL表示装置、および電界放出ディスプレイ等が挙げられる。センサパネル601の具体例としては、スマートフォン、タブレット端末、ノートパソコン等の、持ち運び可能な機器(携帯型の機器)である電子機器に設けられたタッチパネルが挙げられる。
The
センサパネル601は、垂直方向(図17中、X方向)に設けられていると共に互いに平行に設けられている、複数のドライブラインを備えている。また、センサパネル601は、水平方向(図17中、Y方向)に設けられていると共に互いに平行に設けられている、複数のセンスライン(S0、S1、S2、・・・Sn−1)を備えている。さらに、センサパネル601は、複数のドライブラインと複数のセンスラインとが交差する箇所にそれぞれ形成された、複数の静電容量(図1に示されるような)を備えている。
The
タッチパネルコントローラ602は、センサパネル601を用いたタッチ操作(センサパネル601のタッチに応じた、上記電子機器に対する指示)が可能であるように構成されているシステムである。本願明細書において、タッチパネルコントローラ602は、該タッチ操作を実現するための構成要素であって、センサパネル601を除く構成を意味するものとする。
The
タッチパネルコントローラ602は、駆動部603、増幅回路604、信号選択部605、A/D(アナログ‐デジタル)変換部606、復号処理部607、タッチ位置検出部608、およびタッチ無効化部609を備えている。タッチパネルシステム611には、ホストコンピュータ610が設けられている。
The
駆動部603は、実施の形態1〜5と同様に複数のドライブラインに電圧を印加して、該複数のドライブラインを駆動することにより、複数の静電容量に電荷を供給する。
The
増幅回路604は、上記複数の静電容量に蓄積された電荷の線形和信号をセンスライン毎に読み出し、信号選択部605に供給する。
The
信号選択部605は、センスライン毎に読み出された複数の上記線形和信号の一つを選択し、A/D変換部606に供給する。
The
A/D変換部606は、信号選択部605により選択された上記線形和信号を、アナログ信号からデジタル信号に変換し、復号処理部607に供給する。
The A /
復号処理部607は、A/D変換部606から供給された上記線形和信号を復号して、静電容量分布を求め、タッチ位置検出部608に供給する。
The
タッチ位置検出部608は、上記静電容量分布から、タッチされたセンサパネル601の箇所を、X座標およびY座標の分布に従って検出し、タッチ無効化部609に供給する。
The touch
タッチ無効化部609は、上記タッチされたセンサパネル601の箇所が、所定期間継続してタッチされたか否かを検出する。ここで、所定期間は、1秒〜数秒程度であり、例えば2秒が目安となる。そして、タッチ無効化部609は、上記タッチされたセンサパネル601の箇所が、所定期間継続してタッチされた場合、該タッチに応じたタッチ操作を無効とする。
The
タッチ無効化部609は、上記タッチ操作を有効とするときに、上記タッチされたセンサパネル601の箇所を示す情報をホストコンピュータ610に供給する。一方、タッチ無効化部609は、上記タッチ操作を無効とするときに、該情報をホストコンピュータ610に供給せず待機する。
The
すなわち、タッチ無効化部609は、センサパネル601における同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該タッチに応じた、センサパネル601を備えた電子機器に対する指示を無効とする機能を有している。
That is, the
ホストコンピュータ610は、例えばCPU(Central Processing Unit:コンピューターの中央演算処理装置)により構成されている。ホストコンピュータ610は、タッチ無効化部609から供給された情報に応じて、電子機器を制御する。具体例として、ホストコンピュータ610は、タッチ無効化部609から供給された情報に応じた表示データを、電子機器に設けられた表示装置に供給し、該表示装置の表示画面に画像を表示させる。
The
〔タッチ無効化部の実施例1〕
図16は、本実施の形態に係るタッチ無効化部609により、タッチ操作を無効化する一実施例を示すグラフである。
[Example 1 of Touch Invalidation Unit]
FIG. 16 is a graph showing an example in which the touch operation is invalidated by the
図16のグラフは、縦軸がタッチ検出値を示しており、横軸が経過時間を示している。 In the graph of FIG. 16, the vertical axis indicates the touch detection value, and the horizontal axis indicates the elapsed time.
本実施例では、センサパネル601における特定の1箇所に、物体が接触する場合の例について説明する。
In the present embodiment, an example will be described in which an object comes into contact with one specific place on the
センサパネル601に物体が接触すると、この接触の度合(センサパネル601への圧力、接触の範囲等)に応じて、接触の箇所に対応する静電容量に対応するタッチ検出値が大きくなる。タッチパネルコントローラ602のタッチ位置検出部608は、タッチ検出値がタッチ基準閾値Dth以上であるか、またはタッチ基準閾値Dthを超えているときに、接触の箇所に対するタッチが行われていると判断する。タッチ検出値がタッチ基準閾値Dth未満またはタッチ基準閾値Dth以下となるまでの間、タッチが継続しているとみなされる。
When an object comes into contact with the
なお、通常、人の指によってセンサパネル601に接触する程度であれば、この接触に伴い大きくなったタッチ検出値は、タッチ基準閾値Dthを超えることとなる。従って、ここでは、タッチ位置検出部608が、タッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超えているときに、タッチが行われていると判断し、タッチ基準閾値Dth以下であれば、タッチが行われていないと判断するものとする。
Normally, the touch detection value that increases with the contact exceeds the touch reference threshold Dth as long as the finger touches the
図16のグラフでは、タッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超えた値D1となった瞬間の時刻T1が、タッチ位置検出部608により、タッチが行われていると最初に判断された(タッチが開始された)時間に相当し、この瞬間をタッチの開始時刻T1としている。
In the graph of FIG. 16, the time T1 at the moment when the touch detection value becomes the value D1 exceeding the touch reference threshold value Dth is first determined by the touch
タッチ無効化部609は、上記のタッチが所定期間継続するか否かを検出する。換言すれば、タッチ無効化部609は、タッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超えている期間が、所定期間継続するか否かを検出する。
The
このとき、タッチ無効化部609は、上記所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値Tthを参照して、上記の検出を行う。タッチ時間閾値Tthとして設定された時間は、該時間を幅とする(該時間に渡る)一定の期間を示す。図16のグラフでは、タッチの開始時刻T1から、タッチの開始時刻T1に対してタッチ時間閾値Tth(所定期間)後に相当する時間である時刻T2までの期間が、タッチ時間閾値Tthの時間に相当し、このときのタッチ時間閾値Tthは、(時刻T2−時刻T1)となる。
At this time, the
このように、タッチ無効化部609は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値Tthの間、タッチが継続したか否かを判断するのが好ましい。
As described above, it is preferable that the
これにより、接触の箇所が所定期間継続してタッチされたか否かを、簡単な構成により判断することができる。 Thereby, it can be determined with a simple configuration whether or not the touched portion has been continuously touched for a predetermined period.
つまり、タッチ無効化部609は、タッチの継続期間TA・TB(タッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超え続けている期間)が、タッチ時間閾値Tthが示す時間以上であるか否かを検出する。
In other words, the
時刻T1で開始され時刻T3で終了するタッチの継続期間TAが、タッチ時間閾値Tthが示す時間以上であるとき、タッチ無効化部609は、上記のタッチが、所定期間継続したと判断する。そして、この判断に基づいて、タッチ無効化部609は、該タッチに応じたタッチ操作を無効とする(図16中の継続期間TA参照)。
When the touch duration TA that starts at time T1 and ends at time T3 is equal to or longer than the time indicated by the touch time threshold Tth, the
一方、時刻T4で開始され時刻T5で終了するタッチの継続期間TBが、時刻T4で開始され時刻T6で終了するタッチ時間閾値Tthが示す時間未満であるとき、タッチ無効化部609は、上記のタッチが、所定期間継続しなかったと判断する。そして、この判断に基づいて、タッチ無効化部609は、該タッチに応じたタッチ操作を有効とする(図16中の継続時間TB参照)。
On the other hand, when the touch duration TB that starts at time T4 and ends at time T5 is less than the time indicated by the touch time threshold Tth that starts at time T4 and ends at time T6, the
タッチ無効化部609は、センサパネル601における同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、このタッチによる電子機器に対する指示を無効とする。これにより、例えば電子機器を持つ手がセンサパネル601に接触する場合のように、センサパネル601に対する物体の意図しない接触が継続するとき、該接触による指示は行われない。このため、センサパネル601に対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することが可能となる。
When the same location on the
また、前述した従来技術のように、上記の誤動作を防止するために、タッチが行われているか否かの判断基準を変更する必要は無い。従って、タッチの有無を検出する感度の低下については、抑制することが可能となる。 In addition, unlike the prior art described above, it is not necessary to change the criterion for determining whether or not a touch is performed in order to prevent the above-described malfunction. Therefore, it is possible to suppress a decrease in sensitivity for detecting the presence or absence of touch.
図18は、本実施の形態に係るタッチ無効化部609により、タッチ操作を無効化する一実施例を示すフローチャートである。
FIG. 18 is a flowchart illustrating an example in which the touch operation is invalidated by the
まず、タッチ位置検出部608は、接触の箇所に対応するタッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超えているか否かを判断することにより、接触の箇所がタッチされているか否かを判断する(ステップF1)。タッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超えていない(ステップF1の結果がNoである)とき、改めて該判断を行う。
First, the touch
タッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超えている(ステップF1の結果がYesである)とき、タッチ無効化部609は、タッチの継続期間が、タッチ時間閾値Tthが示す時間以上であるか否かを検出する(ステップF2)。
When the touch detection value exceeds the touch reference threshold value Dth (the result of step F1 is Yes), the
タッチの継続期間が、タッチ時間閾値Tthが示す時間以上である(ステップF2の結果がYesである)とき、タッチ無効化部609は、上記のタッチが、所定期間継続したと判断し、該タッチに応じたタッチ操作を無効とする(ステップF31)。
When the duration of the touch is equal to or longer than the time indicated by the touch time threshold Tth (the result of step F2 is Yes), the
一方、タッチの継続期間が、タッチ時間閾値Tthが示す時間未満である(ステップF2の結果がNoである)とき、タッチ無効化部609は、上記のタッチが、所定期間継続しなかったと判断し、該タッチに応じたタッチ操作を有効とする(ステップF32)。
On the other hand, when the duration of the touch is less than the time indicated by the touch time threshold value Tth (the result of Step F2 is No), the
〔タッチ無効化部の実施例2〕
図19は、本実施の形態に係るタッチ無効化部609により、タッチ操作を無効化する別の実施例を示すグラフである。
[Example 2 of the touch invalidation unit]
FIG. 19 is a graph showing another example in which the touch operation is invalidated by the
図19のグラフは、図16のグラフに基づいている。以下では、図19のグラフを参照した説明を行うが、図16のグラフを参照した説明と異なる内容についてのみ説明し、その他の説明については便宜上省略する。 The graph of FIG. 19 is based on the graph of FIG. In the following, description will be made with reference to the graph of FIG. 19, but only the contents different from the description with reference to the graph of FIG. 16 will be described, and the other description will be omitted for convenience.
図16のグラフに示す実施例では、タッチ検出値によりタッチが行われているか否かを判断するための閾値であるタッチ基準閾値Dthが、時間経過に拘らず一定であった。 In the example shown in the graph of FIG. 16, the touch reference threshold value Dth, which is a threshold value for determining whether or not a touch is performed based on the touch detection value, is constant regardless of the passage of time.
一方、図19のグラフに示す実施例は、タッチ無効化部609が、時間経過に応じてタッチ基準閾値を変化させる例である。
On the other hand, the embodiment shown in the graph of FIG. 19 is an example in which the
図19のグラフに示す実施例において、タッチ無効化部609は、タッチの開始時刻T1から時刻T2までのタッチ時間しきい値Tthの期間に渡って、タッチ検出値がタッチ基準閾値Dthを超える値D1になったことにより、該タッチ基準閾値をDthからαだけ増加させる。すなわち、タッチ無効化部609は、タッチがタッチ時間しきい値Tth(所定期間)継続したときに、タッチ基準閾値を一定期間Dthからαだけ増加させる。ここで、一定期間は、例えば表示装置または電子機器の電源をオフにするまでの期間、またはそれより短い期間が挙げられる。また、増加後のタッチ基準閾値(Dth+α)は、少なくとも人の指によってセンサパネル601に接触する程度のタッチ検出値より十分大きく、センサパネル601に接触することがタッチであると判断されない程度の値とするのが好ましい。
In the example shown in the graph of FIG. 19, the
これにより、タッチ基準閾値をDthからαだけを増加させた後、すなわち図19中の時刻T2より後の時間において、タッチ無効化部609は、タッチの継続期間に関係無くタッチ操作を無効とすることができる。この場合、時刻T4で開始され時刻T5で終了するタッチの継続期間TBが、時刻T4で開始され時刻T6で終了するタッチ時間閾値Tthが示す時間未満であっても、タッチ無効化部609は、上記のタッチに応じたタッチ操作を無効とすることができる。
Thereby, after increasing the touch reference threshold by only α from Dth, that is, after the time T2 in FIG. 19, the
タッチの継続期間が、タッチ時間閾値Tthが示す時間以上であるとき、タッチ無効化部609は、上記のタッチが、所定期間継続したと判断し、該タッチに応じたタッチ操作を無効とすると共に、タッチ基準閾値をDthからαだけ増加させる(図19中の期間TA参照)。
When the duration of the touch is equal to or longer than the time indicated by the touch time threshold Tth, the
タッチ基準閾値をDthからαだけ増加させた後、次のタッチに対応するタッチの継続期間TBが、タッチ時間閾値Tthが示す時間未満であっても、タッチ検出値D1がタッチ基準閾値(Dth+α)以下になることから、タッチ無効化部609は、上記のタッチに応じたタッチ操作を無効とする(図19中の期間TB参照)。
After the touch reference threshold is increased from Dth by α, even if the touch duration TB corresponding to the next touch is less than the time indicated by the touch time threshold Tth, the touch detection value D1 is the touch reference threshold (Dth + α). Since it becomes the following, the touch invalidation
このように、タッチ無効化部609は、所定期間継続してタッチされたときに、タッチ基準閾値を増加させて、該タッチに応じたタッチ操作を一定期間無効とする構成とすることもできる。
As described above, the
これにより、センサパネル601に対する物体の意図しない接触が、短期間に何度も発生する場合であっても、タッチ無効化部609は、1度機能するだけで、該接触の度に発生し得る誤動作を防止することが可能となる。
As a result, even if an unintended contact of an object with the
また、同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、タッチ無効化部609がタッチ基準閾値を増加させることにより、この箇所に対するタッチに応じた指示を一定期間無効とすることを、簡単な構成により実現することができる。
In addition, when the same part is continuously touched for a predetermined period, the
〔電子機器の構成〕
図20は、本実施の形態に係る電子機器100の概略構成の一例を示すブロック図である。
[Configuration of electronic equipment]
FIG. 20 is a block diagram showing an example of a schematic configuration of
図20に示す電子機器100は、携帯型の機器であり、ここでは、スマートフォンの構成例を示している。
An
電子機器100は、バスライン101を備えている。そして、電子機器100は、バスライン101に接続されている、記憶部102、カメラ部103、入力操作部104、通信処理部105、画面表示部106、音声出力部107、および制御部108を備えている。
The
記憶部102は、例えばROM(Read Only Memory:読み出し専用メモリ)およびRAM(Random Access Memory:随時書込・読出メモリ)によって構成されている。記憶部102には、カメラ部103により撮像した画像のデータ、画面表示部106の主要部である表示画面に表示させる画像等の、各種のデータが格納されている。
The
カメラ部103は、例えば撮像レンズおよび撮像素子を備えた撮像モジュールにより構成されている。カメラ部103は、物体(被写体)の撮像を行うものである。
The
入力操作部104は、タッチパネル109および入力ボタン群110を備えている。
The
タッチパネル109は、センサパネル601(図17参照)と同じ構成であり、上記表示画面に重ねて配置されている。タッチパネル109は、タッチする箇所、タッチの継続期間等に応じて、様々な指示を電子機器100に対して行うことができる。
The
入力ボタン群110は、電子機器100の筐体(図示しない)等に設けられた複数のボタンである。入力ボタン群110は、押下するボタン、押下する複数のボタンの組み合わせ、ボタンを押下する期間またはタイミング等に応じて、様々な指示を電子機器100に対して行うことができる。
The
通信処理部105は、テレビジョン放送の受信、インターネットをはじめとする各種通信ネットワークへの接続、他の端末との通信(携帯端末の場合、通話等)といった、電子機器100から電子機器100外部への通信を担っている。通信処理部105は、電波を送受信する各種のアンテナおよびその周辺回路(周辺機器)等を備えている。
The
画面表示部(表示装置)106は、液晶表示装置、プラズマディスプレイ、有機EL表示装置、および電界放出ディスプレイのいずれかであり、画像を表示する表示画面を備えた表示装置である。上述したとおり、タッチパネル109は、画面表示部106の主要部である表示画面に重ねて配置されているが、ここでは、その詳細な構造については、図示および説明を省略している。
The screen display unit (display device) 106 is one of a liquid crystal display device, a plasma display, an organic EL display device, and a field emission display, and is a display device including a display screen for displaying an image. As described above, the
音声出力部107は、スピーカ等を備えており、外部に音を出力するものである。
The
制御部108は、バスライン101を介して、記憶部102、カメラ部103、入力操作部104、通信処理部105、画面表示部106、および音声出力部107を統括的に制御する。また、該制御のため、制御部108は、必要に応じて、保存すべきデータを記憶部102に書き込んだり、所望のデータを記憶部102から読み出したりする。
The
制御部108は、主にCPUにより構成されており、ホストコンピュータ610(図17参照)がこれに該当する。但し、センサパネル601からの入力に基づく信号処理を行うことを考慮すると、ハードウェアを含むタッチパネルコントローラ602(図17参照)の各構成要素が、制御部108に含まれると解釈することができる。
The
これにより、タッチの有無を検出する感度の低下を抑制しつつ、センサパネル601に対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することを可能とする電子機器100を実現することができる。
Accordingly, it is possible to realize the
〔タッチ無効化部の実施例3〕
タッチ無効化部609が機能する(同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、タッチに応じた電子機器に対する指示を無効とする)センサパネル601の部分を、センサパネル601における一部の領域に制限することが可能である。こうした実施例について、図21の(a)および(b)を参照して説明する。
[Third embodiment of touch invalidation unit]
The
図21の(a)および(b)は、本実施の形態に係るタッチ無効化部609により、タッチ操作を無効化するさらに別の実施例を示す図である。
FIGS. 21A and 21B are diagrams showing still another example in which the touch operation is invalidated by the
図21の(a)および(b)に示すタブレット端末(電子機器)200は、表示画面に重ねて配置されたセンサパネル601、重力センサ201、および額縁202を備えている。また、図示はしていないが、タブレット端末200は、タッチパネルコントローラ602(図17参照)を備えている。
A tablet terminal (electronic device) 200 shown in FIGS. 21A and 21B includes a
以下では、図21の(a)および(b)の図示内容に従って、タブレット端末200の平面形状が略長方形であり、その短辺を構成する額縁202の部分に重力センサ201が設けられているものとする。また、タブレット端末200の短辺が地面と対向するようにタブレット端末200を持った状態(図21の(a)参照)を縦持ちと称し、タブレット端末200の長辺が地面と対向するようにタブレット端末200を持った状態(図21の(b)参照)を横持ちと称する。 In the following, in accordance with the contents shown in FIGS. 21A and 21B, the planar shape of the tablet terminal 200 is substantially rectangular, and the gravity sensor 201 is provided in the frame 202 portion constituting the short side thereof. And Further, a state in which the tablet terminal 200 is held so that the short side of the tablet terminal 200 faces the ground (refer to FIG. 21A) is referred to as vertical holding, and the long side of the tablet terminal 200 faces the ground. A state where the tablet terminal 200 is held (see FIG. 21B) is referred to as horizontal holding.
重力センサ201は、重力(地面)に対するタブレット端末200の向きを検出するものである。タブレット端末200は、重力センサ201による、重力に対するタブレット端末200の向きの検出結果に応じて、その機能および動作等を制御することが可能であるように構成されている。 The gravity sensor 201 detects the orientation of the tablet terminal 200 with respect to gravity (ground). The tablet terminal 200 is configured to be able to control its function, operation, and the like according to the detection result of the orientation of the tablet terminal 200 with respect to gravity by the gravity sensor 201.
タブレット端末に限らず、電子機器では、重力センサを備えていることにより、該電子機器の向きに応じた制御が可能になることが周知である。例えば、タブレット端末200では、図21の(a)に示す縦持ちの場合と、図21の(b)に示す横持ちの場合とで、表示画像の向きを異ならせるといった制御を行うことができる。 It is well known that electronic devices, not limited to tablet terminals, can be controlled in accordance with the orientation of the electronic device by including a gravity sensor. For example, in the tablet terminal 200, it is possible to perform control such that the orientation of the display image is different depending on whether it is vertically held as shown in FIG. 21A or horizontally held as shown in FIG. .
図21の(a)に示すとおり、タブレット端末200を縦持ちするとき、タブレット端末200を持つ手(物体)203は、タブレット端末200の長辺を構成する額縁202の部分に位置するのが一般的である。そして、この手203の近くに位置するセンサパネル601の部分については、意図せずに手203が接触してしまう虞が高いと考えられる。
As shown in FIG. 21A, when the tablet terminal 200 is held vertically, the hand (object) 203 holding the tablet terminal 200 is generally located at the frame 202 that forms the long side of the tablet terminal 200. Is. And about the part of the
そこで、タブレット端末200を縦持ちするときは、センサパネル601における、タブレット端末200の長辺を構成する額縁202の部分の近傍のみを、タッチ無効化部9が機能する領域とすることが考えられる。タッチ無効化部9が機能する領域204が、その具体例に該当する。
Therefore, when the tablet terminal 200 is held vertically, it is considered that only the vicinity of the portion of the frame 202 constituting the long side of the tablet terminal 200 in the
一方、図21の(b)に示すとおり、タブレット端末200を横持ちするとき、タブレット端末200を持つ手203は、タブレット端末200の短辺を構成する額縁202の部分に位置するのが一般的である。そして、この手203の近くに位置するセンサパネル601の部分については、意図せずに手203が接触してしまう虞が高いと考えられる。
On the other hand, as shown in FIG. 21 (b), when the tablet terminal 200 is held sideways, the
そこで、タブレット端末200を横持ちするときは、センサパネル601における、タブレット端末200の短辺を構成する額縁202の部分の近傍のみを、タッチ無効化部609が機能する領域とすることが考えられる。タッチ無効化部609が機能する領域205が、その具体例に該当する。
Therefore, when the tablet terminal 200 is held sideways, it is conceivable that only the vicinity of the portion of the frame 202 constituting the short side of the tablet terminal 200 in the
タブレット端末200では、センサパネル601の特定箇所に長時間タッチすること(いわゆる、長押し)による、タブレット端末200に対する指示を実現したい場合がある。そして、このような長時間のタッチが行われることが予想されるセンサパネル601の領域を、タッチ無効化部609の機能が発揮される領域とするのは好ましくない。そこで、上記の構成によれば、センサパネル601の特定箇所に長時間タッチすることによる該指示の実現と、タッチ無効化部609によるタッチの無効化とを同時に実現させることが容易となる。
In the tablet terminal 200, there is a case where it is desired to realize an instruction to the tablet terminal 200 by touching a specific part of the
また、タブレット端末200では、その向きに応じて、タッチ無効化部609が機能する領域として好適である位置を変化させるべき場合がある。重力に対するタブレット端末200の向きを検出し、その検出結果に応じて該領域を変化させることで、タブレット端末200の向きの変化に対応して、タッチ無効化部609を機能させることが可能となる。
Moreover, in the tablet terminal 200, the position suitable as an area | region where the touch invalidation
以上の説明では、タブレット端末200に重力センサ201を設け、この重力センサ201によって検出された重力に対するタブレット端末200の向きに応じて、タッチ無効化部609が機能する領域を変化させる実施例について説明した。しかしながら、タッチ無効化部609が機能する領域は、予め定められた固定の領域であってもよい。
In the above description, an embodiment in which the gravity sensor 201 is provided in the tablet terminal 200 and the region in which the
例えば、予め、タブレット端末200を持つときに、センサパネル601に手203が接触する虞が高いと予想されるセンサパネル601の領域を、タッチ無効化部609が機能する領域としてもよい。また、額縁202の近傍に位置するセンサパネル601の部分全体を、タッチ無効化部609が機能する領域としてもよい。こうすることにより、重力センサ201による検出結果に応じた制御を行うまでもなく、タッチ無効化部609が機能する領域を定めることができる。
For example, when the tablet terminal 200 is held in advance, an area of the
本発明に係る線形系係数推定方法は、M個の入力Xk(k=1、…、M)を有して入出力が線形な系 The linear system coefficient estimation method according to the present invention is a system having M inputs Xk (k = 1,..., M) and linear inputs and outputs.
に対して、長さNの直交するM個の符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて前記M個の入力Xk(k=1、…、M)を入力して、N個の出力s=(s1、s2、…、sN)=(F(d11、d21、…、dM1)、F(d12、d22、…、dM2)、…、F(d1N、d2N、…、dMN))を出力する出力工程と、
前記出力sと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k番目の入力Xkに対応する係数Ckを推定する推定工程とを包含することを特徴とする。
On the other hand, based on M code sequences di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) orthogonal to length N, the M inputs Xk (k = 1,. , M) and N outputs s = (s1, s2,..., SN) = (F (d11, d21,..., DM1), F (d12, d22,..., DM2),. (D1N, d2N,..., DMN))
An estimation step of estimating a coefficient Ck corresponding to the k-th input Xk based on an inner product operation of the output s and the code sequence di.
この特徴により、長さNの直交するM個の符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて前記M個の入力Xk(k=1、…、M)を入力して、N個の出力s=(s1、s2、…、sN)=(F(d11、d21、…、dM1)、F(d12、d22、…、dM2)、…、F(d1N、d2N、…、dMN))を出力するので、M個の入力にすべて同時に入力して線形系の係数Ckを推定する。従って、従来の構成のように、M個の入力を1個ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、入力数Mが増大しても、線形系の係数値を取得するための処理時間は短くならず、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能な線形系係数推定方法を得ることができる。 With this feature, the M inputs Xk (k = 1,..., M) based on M code sequences di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. , M) and N outputs s = (s1, s2,..., SN) = (F (d11, d21,..., DM1), F (d12, d22,..., DM2),. (D1N, d2N,..., DMN)) is output, and all of the M inputs are simultaneously input to estimate the linear system coefficient Ck. Accordingly, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and input M inputs one by one, and even if the number of inputs M increases, the processing time for acquiring the coefficient value of the linear system is short. In addition, it is possible to obtain a linear system coefficient estimation method capable of maintaining high detection accuracy, good resolution, and high-speed operation.
本発明に係る他の線形系係数推定方法は、M個の入力Xk(k=1、…、M)を有して入出力が線形な第1の系及び第2の系 Another linear system coefficient estimation method according to the present invention includes a first system and a second system having M inputs Xk (k = 1,..., M) and linear inputs and outputs.
のそれぞれに対して、長さNの直交するM個の符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて前記M個の入力Xk(k=1、…、M)を入力して、前記第1の系からのN個の出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)=(F1(d11、d21、…、dM1)、F1(d12、d22、…、dM2)、…、F1(d1N、d2N、…、dMN))、及び、前記第2の系からのN個の出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)=(F2(d11、d21、…、dM1)、F2(d12、d22、…、dM2)、…、F2(d1N、d2N、…、dMN))を出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目の入力Xkに対応する前記第1の系の係数C1kを推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目の入力Xkに対応する前記第2の系の係数C2kを推定する推定工程とを包含することを特徴とする。 .., DiN) (i = 1,..., M), and the M inputs Xk (k = 1). ,..., M) and N outputs from the first system sFirst = (s11, s12,..., S1N) = (F1 (d11, d21,..., DM1), F1 (d12, d22) ,..., DM2),..., F1 (d1N, d2N,..., DMN)) and N outputs from the second system sSecond = (s21, s22,..., S2N) = (F2 (d11, , dM1), F2 (d12, d22,..., dM2),..., F2 (d1N, d2N,..., dMN)), and inner product operation of the output sFirst and the code sequence di The first corresponding to the k1th input Xk An estimation step of estimating a coefficient C2k of the second system corresponding to the k2th input Xk based on an inner product operation of the output sSecond and the code sequence di. It is characterized by that.
この特徴により、長さNの直交するM個の符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて前記M個の入力xk(k=1、…、M)を入力して、前記第1の系からのN個の出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)=(F1(d11、d21、…、dM1)、F1(d12、d22、…、dM2)、…、F1(d1N、d2N、…、dMN))、及び、前記第2の系からのN個の出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)=(F2(d11、d21、…、dM1)、F2(d12、d22、…、dM2)、…、F2(d1N、d2N、…、dMN))を出力するので、M個の入力にすべて同時に入力して第1の系の係数C1k及び第2の系の係数C2kを推定する。従って、従来の構成のように、M個の入力を1個ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、入力数Mが増大しても、第1及び第2の系の係数値を取得するための処理時間は短くならず、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能な線形系係数推定方法を得ることができる。 Due to this characteristic, the M inputs xk (k = 1,..., M) based on M code sequences di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. , M) and N outputs from the first system sFirst = (s11, s12,..., S1N) = (F1 (d11, d21,..., DM1), F1 (d12, d22,. , DM2),..., F1 (d1N, d2N,..., DMN)) and N outputs from the second system sSecond = (s21, s22,..., S2N) = (F2 (d11, d21, .., DM1), F2 (d12, d22,..., DM2),..., F2 (d1N, d2N,..., DMN)) are output simultaneously. Estimate C1k and the second system coefficient C2k. Therefore, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and input M inputs one by one, and the coefficient values of the first and second systems are obtained even when the number of inputs M increases. Thus, it is possible to obtain a linear system coefficient estimation method capable of high-speed operation while maintaining good detection accuracy and good resolution.
本発明に係る線形素子列値推定方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の線形素子列C1i(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の線形素子列C2i(i=1,…,M)のそれぞれに対して、長さNの直交するM個の符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の線形素子列からのN個の出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の線形素子列からのN個の出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の線形素子列の線形素子の値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の線形素子列の線形素子の値を推定する推定工程とを包含することを特徴とする。 The linear element array value estimation method according to the present invention includes a first linear element array C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M M codes orthogonal to each other in length N for each of the second linear element rows C2i (i = 1,..., M) formed between one drive line and another sense line Based on the series di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel, and N pieces from the first linear element array are driven. An output step of outputting an output sFirst = (s11, s12,..., S1N), and N outputs sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second linear element array, and the output sFirst Based on the inner product operation with the code sequence di, the k1 th A value of a linear element of the first linear element array corresponding to the live line is estimated, and the second linear corresponding to the k2nd drive line is calculated based on an inner product operation of the output sSecond and the code sequence di. And an estimation step of estimating a value of a linear element of the element array.
この特徴により、長さNの直交するM個の符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の線形素子列からのN個の出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の線形素子列からのN個の出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力するので、M本のドライブラインにすべて同時に入力して第1の線形素子列の線形素子の値及び第2の線形素子列の線形素子の値を推定する。従って、従来の構成のように、M本のドライブラインを1本ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、第1の線形素子列の線形素子の値及び第2の線形素子列の線形素子の値を取得するための処理時間が長くなり、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能な線形系係数推定方法を得ることができる。 Due to this feature, the M drive lines are driven in parallel on the basis of M code sequences of length N orthogonal to each other, di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M). N outputs from the first linear element array sFirst = (s11, s12,..., S1N), and N outputs from the second linear element array sSecond = (s21, s22,. , S2N) are output to the M drive lines at the same time, and the values of the linear elements of the first linear element array and the linear elements of the second linear element array are estimated. Therefore, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and drive M drive lines one by one, and the values of the linear elements of the first linear element array and the linear elements of the second linear element array are eliminated. It is possible to obtain a linear system coefficient estimation method that requires a long processing time for acquiring a value, maintains a good detection accuracy, has a good resolution, and can operate at high speed.
本願発明に係る静電容量検出方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列C1i(i=1,…,M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含することを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M Each element is configured by +1 or −1 for each of the second capacitance columns C2i (i = 1,..., M) formed between one drive line and another sense line. Based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, the code sequence is + V volts when the code sequence is +1, In this case, the M drive lines are driven in parallel so as to apply −V volts, and the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and the first SSecond = (s21, s22,... s2N) is output, and based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the output an estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on an inner product operation of sSecond and the code sequence di.
この特徴により、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力するので、M本のドライブラインにすべて同時に入力して、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する。従って、従来の構成のように、M本のドライブラインを1本ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を取得するための処理時間が長くなり、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能な静電容量検出方法を得ることができる。 With this feature, the code sequence based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. When the value of +1 is + V volts, and in the case of −1, the M drive lines are driven in parallel so as to apply −V volts, and the output sFirst = ( s11, s12,..., s1N), and the output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance row, so that all are input to the M drive lines simultaneously, A capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line and a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2th drive line are estimated. Therefore, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and scan and input M drive lines one by one, and the capacitance value of the first capacitance column corresponding to the k1th drive line and k2 The processing time for acquiring the capacitance value of the second capacitance row corresponding to the second drive line is lengthened, the detection accuracy is kept good, the resolution is good, and the high-speed operation is possible. A capacitance detection method can be obtained.
また、M本の全ドライブラインを、符号系列に応じて+Vボルト又は−Vボルトで並列に駆動するので、符号系列に応じてドライブラインを分割して駆動する特許文献2に記載の構成に比べて、静電容量列からの出力信号に含まれる情報量が多くなり、SN比も良好になる。さらに、2相演算する特許文献2に記載の構成に比べて、演算が一層で済むため、高速化に有利である。
In addition, since all M drive lines are driven in parallel at + V volts or −V volts according to the code sequence, the drive line is divided and driven according to the code sequence. As a result, the amount of information included in the output signal from the capacitance string increases, and the SN ratio also improves. Furthermore, compared with the configuration described in
本発明に係る集積回路は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列C1i(i=1,…,M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列C2i(i=1,…,M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたことを特徴とする。 The integrated circuit according to the present invention includes a first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M drives. A length in which each element is constituted by +1 or −1 for each of the second capacitance columns C2i (i = 1,..., M) formed between the line and one other sense line N orthogonal code sequences di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M), + V volts when the code sequence is +1, and − when the code sequence is −1. The M drive lines are driven in parallel so as to apply V volts, and the output from the first capacitance string sFirst = (s11, s12,..., S1N), and the second static Output from the capacitance string sSecond = (s21, s22,..., S2N) Based on the driving unit to output, and the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the output sSecond and the output And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on an inner product calculation with the code sequence di.
この特徴により、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させるので、M本のドライブラインにすべて同時に入力して、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する。従って、従来の構成のように、M本のドライブラインを1本ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定するための処理時間が長くなり、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能な静電容量検出方法に用いる集積回路を得ることができる。 With this feature, the code sequence based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. When the value of +1 is + V volts, and in the case of −1, the M drive lines are driven in parallel so as to apply −V volts, and the output sFirst = ( s11, s12,..., s1N) and the output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string are output simultaneously, so that all the M drive lines are input simultaneously. A capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line and a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2th drive line are estimated. Therefore, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and scan and input M drive lines one by one, and the capacitance value of the first capacitance column corresponding to the k1th drive line and k2 The processing time for estimating the capacitance value of the second capacitance row corresponding to the second drive line is lengthened, the detection accuracy is kept good, the resolution is good, and the high-speed operation is possible. An integrated circuit used for the capacitance detection method can be obtained.
また、M本の全ドライブラインを、符号系列に応じて+Vボルト又は−Vボルトで並列に駆動するので、符号系列に応じてドライブラインを分割して駆動する特許文献2に記載の構成に比べて、静電容量列からの出力信号に含まれる情報量が多くなり、SN比も良好になる。さらに、2相演算する特許文献2に記載の構成に比べて、演算が一層で済むため、高速化に有利である。
In addition, since all M drive lines are driven in parallel at + V volts or −V volts according to the code sequence, the drive line is divided and driven according to the code sequence. As a result, the amount of information included in the output signal from the capacitance string increases, and the SN ratio also improves. Furthermore, compared with the configuration described in
本発明に係るタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列C1i(i=1,…,M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)とを備えるセンサパネルと、上記センサパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、上記集積回路は、前記第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有することを特徴とする。 The touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, A sensor panel including a second capacitance column C2i (i = 1,..., M) formed between the drive line and another sense line; and an integrated circuit for controlling the sensor panel. The integrated circuit includes the first capacitance column C1i (i = 1,..., M) and the second capacitance column C2i (i = 1,...). For each of M), based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, each element consisting of +1 or -1. , If the code sequence is +1, + V volts, if it is -1, -V The M drive lines are driven in parallel so as to apply a fault, and an output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and the second electrostatic capacitance Based on the inner product operation of the output sFirst and the code sequence di based on the drive unit that outputs the output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the capacitor string, the first corresponding to the k1st drive line The capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2th drive line is estimated based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di. And an estimation unit.
この特徴により、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させるので、M本のドライブラインにすべて同時に入力して、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する。従って、従来の構成のように、M本のドライブラインを1本ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定するための処理時間が長くなり、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能なタッチセンサシステムを得ることができる。 With this feature, the code sequence based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. When the value of +1 is + V volts, and in the case of −1, the M drive lines are driven in parallel so as to apply −V volts, and the output sFirst = ( s11, s12,..., s1N) and the output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string are output simultaneously, so that all the M drive lines are input simultaneously. A capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line and a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2th drive line are estimated. Therefore, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and scan and input M drive lines one by one, and the capacitance value of the first capacitance column corresponding to the k1th drive line and k2 The processing time for estimating the capacitance value of the second capacitance row corresponding to the second drive line becomes longer, and the touch with high detection speed and good resolution while maintaining good detection accuracy. A sensor system can be obtained.
また、M本の全ドライブラインを、符号系列に応じて+Vボルト又は−Vボルトで並列に駆動するので、符号系列に応じてドライブラインを分割して駆動する特許文献2に記載の構成に比べて、静電容量列からの出力信号に含まれる情報量が多くなり、SN比も良好になる。さらに、2相演算する特許文献2に記載の構成に比べて、演算が一層で済むため、高速化に有利である。
In addition, since all M drive lines are driven in parallel at + V volts or −V volts according to the code sequence, the drive line is divided and driven according to the code sequence. As a result, the amount of information included in the output signal from the capacitance string increases, and the SN ratio also improves. Furthermore, compared with the configuration described in
本発明に係る電子機器は、本発明に係るタッチセンサシステムと、前記タッチセンサシステムに設けられたセンサパネルに重ねて配置されているか、または、前記センサパネルを内蔵した表示パネルとを備えたことを特徴とする。 An electronic apparatus according to the present invention includes the touch sensor system according to the present invention, and a display panel that is disposed so as to overlap with a sensor panel provided in the touch sensor system or that includes the sensor panel. It is characterized by.
この特徴により、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させるので、M本のドライブラインにすべて同時に入力して、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する。従って、従来の構成のように、M本のドライブラインを1本ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値、及びk2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定するための処理時間が長くなり、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能なタッチセンサシステムを備えた電子機器を得ることができる。 With this feature, the code sequence based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. When the value of +1 is + V volts, and in the case of −1, the M drive lines are driven in parallel so as to apply −V volts, and the output sFirst = ( s11, s12,..., s1N) and the output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string are output simultaneously, so that all the M drive lines are input simultaneously. A capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line and a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2th drive line are estimated. Therefore, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and scan and input M drive lines one by one, and the capacitance value of the first capacitance column corresponding to the k1th drive line and k2 The processing time for estimating the capacitance value of the second capacitance row corresponding to the second drive line becomes longer, and the touch with high detection speed and good resolution while maintaining good detection accuracy. An electronic device including a sensor system can be obtained.
また、M本の全ドライブラインを、符号系列に応じて+Vボルト又は−Vボルトで並列に駆動するので、符号系列に応じてドライブラインを分割して駆動する特許文献2に記載の構成に比べて、静電容量列からの出力信号に含まれる情報量が多くなり、SN比も良好になる。さらに、2相演算する特許文献2に記載の構成に比べて、演算が一層で済むため、高速化に有利である。
In addition, since all M drive lines are driven in parallel at + V volts or −V volts according to the code sequence, the drive line is divided and driven according to the code sequence. As a result, the amount of information included in the output signal from the capacitance string increases, and the SN ratio also improves. Furthermore, compared with the configuration described in
本発明に係る静電容量検出方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含する静電容量検出方法であって、前記出力工程は、前記アナログ積分器のリセット時にはVrefボルトで表される第1電圧により前記M本のドライブラインを駆動し、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時には、前記符号系列が前記+1の場合は(Vref+V)ボルトで表される第2電圧により、前記符号系列が前記−1の場合は(Vref−V)ボルトで表される第3電圧により前記M本のドライブラインを駆動することを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M Each element is configured by +1 or −1 for each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between one drive line and one other sense line. The M drive lines are driven in parallel based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. SFirst = (s11, s12,..., S1N) and the output sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string are output to the analog integrator. Output step, the output sFirst and the code sequence di The capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated based on the inner product calculation of the k1th drive line, and the k2nd drive based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di An estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance row corresponding to the line, wherein the output step is expressed by Vref volts when the analog integrator is reset. When the M drive lines are driven by the first voltage and the output from the first and second capacitance columns is sampled, if the code sequence is +1, the Vth is represented by (Vref + V) volts. When the code sequence is −1 by two voltages, the M drive lines are driven by a third voltage expressed by (Vref−V) volts.
上記特徴により、符号系列に基づいて、簡単な構成により、ドライブラインを並列に駆動することができる。 With the above feature, the drive lines can be driven in parallel with a simple configuration based on the code sequence.
本発明に係る静電容量検出方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含する静電容量検出方法であって、前記出力工程は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動することを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M Each element is configured by +1 or −1 for each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between one drive line and one other sense line. The M drive lines are driven in parallel based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. SFirst = (s11, s12,..., S1N) and the output sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string are output to the analog integrator. Output step, the output sFirst and the code sequence di The capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated based on the inner product calculation of the k1th drive line, and the k2nd drive based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di An estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance string corresponding to a line, wherein the output step includes the analog step when the code sequence is +1. When the integrator is reset, the drive line is driven by the first voltage when the output from the first and second capacitance strings is sampled, and when the code sequence is −1, The drive line is driven by the second voltage when the integrator is reset, and by the first voltage when the output from the first and second capacitance strings is sampled. That.
上記特徴により、より高い信号強度を得ることができ、静電容量に蓄積される電荷を増大させることができる。 With the above characteristics, higher signal intensity can be obtained, and the charge accumulated in the capacitance can be increased.
本発明に係る静電容量検出方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含する静電容量検出方法であって、前記出力工程の前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納することを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M Each element is configured by +1 or −1 for each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between one drive line and one other sense line. The M drive lines are driven in parallel based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. SFirst = (s11, s12,..., S1N) and the output sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string are output to the analog integrator. Output step, the output sFirst and the code sequence di The capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated based on the inner product calculation of the k1th drive line, and the k2nd drive based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di An estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance row corresponding to a line, before the output step, when the analog integrator is reset, and Driving the drive line with a first voltage when sampling the output from the first and second capacitance strings, and outputting the outputs from the first and second capacitance strings to the analog integrator; The outputs from the first and second capacitance arrays are read from the analog integrator as offset outputs and stored in a memory.
上記特徴により、アナログ積分器により生じるオフセットをキャンセルすることができる。 With the above feature, the offset caused by the analog integrator can be canceled.
本発明に係る集積回路は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えた集積回路であって、前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動することを特徴とする。 The integrated circuit according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M drives. For each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between the line and one other sense line, each element is constituted by +1 or −1 .., DiN) (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel, and the first electrostatic A drive unit that outputs the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the capacitance string and the output sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string to the analog integrator. And the inner product of the output sFirst and the code sequence di Is used to estimate the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1st drive line, and corresponds to the k2th drive line based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di. And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string, wherein the driving unit is configured to reset the analog integrator when the code sequence is +1. When the output from the first and second capacitance strings is sampled by one voltage, the drive line is driven by a second voltage. When the code sequence is −1, the analog integrator is reset when the analog integrator is reset. The drive line is driven by the first voltage when sampling the output from the first and second capacitance arrays by the second voltage.
上記特徴により、より高い信号強度を得ることができ、静電容量に蓄積される電荷を増大させることができる。 With the above characteristics, higher signal intensity can be obtained, and the charge accumulated in the capacitance can be increased.
本発明に係る集積回路は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えた集積回路であって、前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納することを特徴とする。 The integrated circuit according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M drives. For each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between the line and one other sense line, each element is constituted by +1 or −1 .., DiN) (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel, and the first electrostatic A drive unit that outputs the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the capacitance string and the output sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string to the analog integrator. And the inner product of the output sFirst and the code sequence di Is used to estimate the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1st drive line, and corresponds to the k2th drive line based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di. And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string, wherein the drive unit outputs outputs from the first and second capacitance strings to the analog integrator. Before driving the drive line with the first voltage when the analog integrator is reset and when the output from the first and second capacitance columns is sampled. The output from the capacitance string is output to the analog integrator, and the outputs from the first and second capacitance strings are read from the analog integrator as offset outputs and stored in the memory. To.
上記特徴により、アナログ積分器により生じるオフセットをキャンセルすることができる。 With the above feature, the offset caused by the analog integrator can be canceled.
本発明に係るタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)とを備えるセンサパネルと、前記センサパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動することを特徴とする。 The touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M number of the capacitance lines. A sensor panel including a second capacitance column Ci2 (i = 1,..., M) formed between the drive line and another sense line; and an integrated circuit for controlling the sensor panel. The integrated circuit includes the first capacitance row Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance row Ci2 (i = 1,...). For each of M), based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, each element consisting of +1 or -1. , Driving the M drive lines in parallel to form the first capacitance row Output sFirst = (s11, s12,..., S1N) and an output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string to an analog integrator; Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation, and the drive unit is configured such that when the code sequence is +1, Driving the drive line with a first voltage when the analog integrator is reset and with a second voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance strings; When the analog integrator is reset, the drive line is driven by the second voltage when the analog integrator is reset and by the first voltage when the outputs from the first and second capacitance columns are sampled. Features.
上記特徴により、より高い信号強度を得ることができ、静電容量に蓄積される電荷を増大させることができる。 With the above characteristics, higher signal intensity can be obtained, and the charge accumulated in the capacitance can be increased.
本発明に係るタッチセンサシステムは、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)とを備えるセンサパネルと、前記センサパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納することを特徴とする。 The touch sensor system according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M number of the capacitance lines. A sensor panel including a second capacitance column Ci2 (i = 1,..., M) formed between the drive line and another sense line; and an integrated circuit for controlling the sensor panel. The integrated circuit includes the first capacitance row Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance row Ci2 (i = 1,...). For each of M), based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, each element consisting of +1 or -1. , Driving the M drive lines in parallel to form the first capacitance row Output sFirst = (s11, s12,..., S1N) and an output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string to an analog integrator; Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di And an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance row corresponding to the k2nd drive line based on the calculation, and the driving unit includes the first and second capacitances. Before outputting the output from the string to the analog integrator, when the analog integrator is reset and when sampling the output from the first and second capacitance strings, the first voltage causes the The live line is driven, the outputs from the first and second capacitance strings are output to the analog integrator, and the outputs from the first and second capacitance strings are used as the offset output to the analog It is characterized by being read from the integrator and stored in a memory.
上記特徴により、アナログ積分器により生じるオフセットをキャンセルすることができる。 With the above feature, the offset caused by the analog integrator can be canceled.
本発明に係る電子機器は、本発明に係るタッチセンサシステムと、前記タッチセンサシステムに設けられたセンサパネルに重ねて配置されているか、または、前記センサパネルを内蔵した表示パネルとを備えたことを特徴とする。 An electronic apparatus according to the present invention includes the touch sensor system according to the present invention, and a display panel that is disposed so as to overlap with a sensor panel provided in the touch sensor system or that includes the sensor panel. It is characterized by.
本発明に係る静電容量検出方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含する静電容量検出方法であって、前記出力工程は、前記アナログ積分器の飽和を防止するために、前記符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値に応じて、前記アナログ積分器のゲインを切り替えることを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M Each element is configured by +1 or −1 for each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between one drive line and one other sense line. Based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, the code sequence is + V volts when the code sequence is +1, In this case, the M drive lines are driven in parallel so as to apply −V volts, and the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and the first SSecond = (s21, s22,... 2N) is output to the analog integrator, and the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1st drive line is estimated based on the inner product operation of the output sFirst and the code sequence di. And an estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di. In the method, the output step switches a gain of the analog integrator according to an absolute value of a sum of each element along a column direction of the code sequence in order to prevent saturation of the analog integrator. It is characterized by that.
上記特徴により、アナログ積分器の飽和を回避することができる。 With the above feature, saturation of the analog integrator can be avoided.
本発明に係る静電容量検出方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含する静電容量検出方法であって、前記出力工程は、前記アナログ積分器の飽和を防止するために、前記符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値に応じて、前記符号系列の列を複数の列に分割して、前記M本のドライブラインの駆動を複数回に分割することを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M Each element is configured by +1 or −1 for each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between one drive line and one other sense line. Based on the orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N, the code sequence is + V volts when the code sequence is +1, In this case, the M drive lines are driven in parallel so as to apply −V volts, and the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and the first SSecond = (s21, s22,... 2N) is output to the analog integrator, and the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1st drive line is estimated based on the inner product operation of the output sFirst and the code sequence di. And an estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the inner product calculation of the output sSecond and the code sequence di. In the method, in the output step, in order to prevent saturation of the analog integrator, a plurality of code sequence columns are converted into a plurality of code sequence columns according to an absolute value of a sum of elements along the code sequence column direction. The driving of the M drive lines is divided into a plurality of times by dividing into rows.
上記特徴により、アナログ積分器の飽和を回避することができる。 With the above feature, saturation of the analog integrator can be avoided.
本発明に係る静電容量検出方法は、(M=2n)本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記(M=2n)本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、シルベスター(sylvester)法によって生成される2n次のアダマール(Hadamard)行列の各行に相当する+1または−1によって構成されて互いに直交する符号長N=Mの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含する静電容量検出方法であって、前記出力工程は、前記アナログ積分器の飽和を防止するために、前記符号系列の第1列目を複数の列に分割して、前記符号系列の第1列目に相当する駆動を複数回に分割することを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between (M = 2 n ) drive lines and one sense line. , And for each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between the (M = 2 n ) drive lines and the other sense line. A code sequence of code length N = M, which is composed of +1 or −1 corresponding to each row of a 2 n -th order Hadamard matrix generated by the sylvester method and orthogonal to each other, di = (di1, di2, .., DiN) (i = 1,..., M), the M drive lines are applied to apply + V volts when the code sequence is +1 and −V volts when the code sequence is −1. Driving in parallel, the output sF from the first capacitance string rst = (s11, s12,..., s1N) and an output step of outputting an output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string to an analog integrator, and the output sFirst And the code sequence di to estimate the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line, and based on the dot product calculation of the output sSecond and the code sequence di And an estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance row corresponding to the k2th drive line, wherein the output step includes saturation of the analog integrator. In order to prevent this, the first column of the code sequence is divided into a plurality of columns, and the drive corresponding to the first column of the code sequence is divided into a plurality of times.
上記特徴により、アナログ積分器の飽和を回避することができる。 With the above feature, saturation of the analog integrator can be avoided.
本発明に係る静電容量検出方法は、M本のドライブラインと1本のセンスラインの間に形成される第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び、上記M本のドライブラインと他の1本のセンスラインの間に形成される第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、シルベスター(sylvester)法によって生成される2n次(M<2n)のアダマール(Hadamard)行列の各行に相当する+1または−1によって構成されて互いに直交する符号長N>Mの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する出力工程と、前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定工程とを包含する静電容量検出方法であって、前記出力工程は、前記符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値が前記アナログ積分器の飽和に関連する閾値Numを超える列を複数の列に分解して、前記符号系列の前記閾値Numを超える列に対応する駆動を複数回に分割することを特徴とする。 The capacitance detection method according to the present invention includes a first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M Each of the second capacitance columns Ci2 (i = 1,..., M) formed between one drive line and another sense line is generated by a sylvester method. A code sequence di = (di1, di2,..., DiN) composed of +1 or -1 corresponding to each row of a 2 nth- order (M <2 n ) Hadamard matrix and orthogonal to each other. Based on (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel so that + V volts is applied when the code sequence is +1 and −V volts is applied when the code sequence is −1. Output sFirst from the first capacitance string (S11, s12,..., S1N) and an output step of outputting an output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string to an analog integrator, and the output sFirst and the Based on the inner product operation with the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and based on the inner product operation between the output sSecond and the code sequence di, a capacitance detection method including an estimation step of estimating a capacitance value of the second capacitance column corresponding to the k2nd drive line, wherein the output step is along a column direction of the code sequence. Further, a column in which the absolute value of the sum of each element exceeds a threshold value Num relating to the saturation of the analog integrator is decomposed into a plurality of columns, and a drive corresponding to a column exceeding the threshold value Num in the code sequence is combined. It is divided into several times.
上記特徴により、2n次(M<2n)のアダマール行列による駆動において、アナログ積分器の飽和を回避することができる。 With the above feature, the saturation of the analog integrator can be avoided in driving with a 2 n -th order (M <2 n ) Hadamard matrix.
本実施の形態に係る線形素子列値推定方法では、前記符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)の各要素は、+Vまたは−Vによって構成されることが好ましい。 In the linear element sequence value estimation method according to the present embodiment, each element of the code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) is configured by + V or −V. It is preferable.
上記構成により、各ドライブラインを+Vボルトまたは−Vボルトの電圧を印加して駆動することができる。 With the above configuration, each drive line can be driven by applying a voltage of + V volts or -V volts.
本実施の形態に係る静電容量検出方法では、前記推定工程は、前記符号系列による1回の並列駆動ごとに、内積に必要な、符号に応じた加減算を実行することが好ましい。 In the capacitance detection method according to the present embodiment, it is preferable that the estimation step performs addition / subtraction according to the sign, which is necessary for the inner product, for each parallel drive by the code series.
上記構成により、1回の並列駆動ごとに内積演算を実行するので、符号系列の長さに対応するN回の並列駆動ごとに内積演算を実行する構成に比較して、パイプライン処理が可能で短時間で演算することができ、また、演算に必要なメモリが少なくて済む。 With the above configuration, the inner product operation is executed for each parallel drive, so that pipeline processing is possible as compared to the configuration in which the inner product operation is executed every N parallel drives corresponding to the length of the code sequence. The calculation can be performed in a short time, and the memory required for the calculation can be reduced.
上記静電容量検出方法では、前記出力工程は、前記第1の静電容量列からの出力sFirstを第1アナログ積分器に出力し、前記第2の静電容量列からの出力sSecondを第2アナログ積分器に出力し、前記推定工程は、前記第1アナログ積分器に出力された出力sFirstをAD変換器によりAD変換して前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算を実行し、前記第2アナログ積分器に出力された出力sSecondを前記AD変換器によりAD変換して前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算を実行することが好ましい。 In the capacitance detection method, the output step outputs the output sFirst from the first capacitance string to the first analog integrator and outputs the output sSecond from the second capacitance string to the second. Output to the analog integrator, the estimating step performs AD conversion of the output sFirst output to the first analog integrator by an AD converter, and performs an inner product operation of the output sFirst and the code sequence di, It is preferable that the output sSecond output to the second analog integrator is AD-converted by the AD converter and an inner product operation between the output sSecond and the code sequence di is executed.
上記構成により、アナログ積分器が各センスラインに対応して並列に配置されるので、マトリックス状に配置された静電容量の全体を検出する検出速度を向上させることができる。 With the above configuration, the analog integrator is arranged in parallel corresponding to each sense line, so that the detection speed for detecting the entire capacitance arranged in a matrix can be improved.
上記静電容量検出方法では、前記出力工程は、前記第1の静電容量列からの出力sFirstをアナログ積分器に出力した後、前記第2の静電容量列からの出力sSecondを前記アナログ積分器に出力し、前記推定工程は、前記アナログ積分器に出力された出力sFirstをAD変換器によりAD変換して前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算を実行し、前記アナログ積分器に出力された出力sSecondを前記AD変換器によりAD変換して前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算を実行することが好ましい。 In the capacitance detection method, the output step outputs the output sFirst from the first capacitance string to the analog integrator, and then outputs the output sSecond from the second capacitance string to the analog integration. In the estimation step, the output sFirst output to the analog integrator is AD-converted by an AD converter, and an inner product operation of the output sFirst and the code sequence di is performed. It is preferable that the output sSecond output is AD-converted by the AD converter to perform an inner product operation between the output sSecond and the code sequence di.
上記構成により、単一のアナログ積分器により推定工程を構成することができるので、より簡単な構成により静電容量を検出することができる。 With the above configuration, since the estimation step can be configured with a single analog integrator, the capacitance can be detected with a simpler configuration.
上記静電容量検出方法では、前記出力工程は、前記第1の静電容量列からの出力sFirstを第1アナログ積分器に出力し、前記第2の静電容量列からの出力sSecondを第2アナログ積分器に出力し、前記推定工程は、前記第1アナログ積分器に出力された出力sFirstを第1AD変換器によりAD変換して前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算を実行し、前記第2アナログ積分器に出力された出力sSecondを第2AD変換器によりAD変換して前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算を実行することが好ましい。 In the capacitance detection method, the output step outputs the output sFirst from the first capacitance string to the first analog integrator and outputs the output sSecond from the second capacitance string to the second. Output to the analog integrator, and the estimation step performs AD conversion of the output sFirst output to the first analog integrator by a first AD converter and performs an inner product operation of the output sFirst and the code sequence di, It is preferable that the output sSecond output to the second analog integrator is AD-converted by a second AD converter and an inner product operation between the output sSecond and the code sequence di is performed.
上記構成により、アナログ積分器及びAD変換器が各センスラインに対応して並列に配置されるので、マトリックス状に配置された静電容量の全体を検出する検出速度をより一層向上させることができる。 With the above configuration, the analog integrator and the AD converter are arranged in parallel corresponding to each sense line, so that the detection speed for detecting the entire capacitance arranged in a matrix can be further improved. .
本実施の形態に係る静電容量検出方法では、前記推定工程は、前記メモリに格納された第1の静電容量列からのオフセット出力を前記出力sFirstから減算した結果と、前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記メモリに格納された第2の静電容量列からのオフセット出力を前記出力sSecondから減算した結果と、前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定することが好ましい。 In the capacitance detection method according to the present embodiment, the estimation step includes subtracting the offset output from the first capacitance string stored in the memory from the output sFirst, the code sequence di, The capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated based on the inner product calculation of the first product, and the offset output from the second capacitance string stored in the memory is output as the output It is preferable to estimate the capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the inner product calculation of the result obtained by subtracting from sSecond and the code sequence di.
上記構成により、アナログ積分器により生じるオフセットをキャンセルすることができる。 With the above configuration, the offset caused by the analog integrator can be canceled.
本実施の形態に係る静電容量検出方法では、前記出力工程の前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出す動作を複数回繰り返して得られた複数個のオフセット出力を平均化してメモリに格納することが好ましい。 In the capacitance detection method according to the present embodiment, before the output step, when the analog integrator is reset, and when the output from the first and second capacitance strings is sampled, the first voltage is used. Driving the drive line, outputting the output from the first and second capacitance strings to the analog integrator, and using the output from the first and second capacitance strings as the offset output, the analog It is preferable to average a plurality of offset outputs obtained by repeating the operation of reading from the integrator a plurality of times and store them in the memory.
上記構成により、アナログ積分器により生じるオフセットに含まれるノイズ成分を削減した後、メモリに格納することができる。 With the above configuration, the noise component included in the offset generated by the analog integrator can be reduced and stored in the memory.
本実施の形態に係る静電容量検出方法では、前記推定工程は、前記出力sFirstをAD変換した第1デジタル値と前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondをAD変換した第2デジタル値と前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定し、前記推定工程は、前記符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値に応じて、前記第1及び第2デジタル値の重み付けを切り替えることが好ましい。 In the capacitance detection method according to the present embodiment, the estimation step corresponds to the k1th drive line based on the inner product operation of the first digital value obtained by AD-converting the output sFirst and the code sequence di. The second capacitance corresponding to the k2nd drive line is estimated based on the inner product calculation of the second digital value obtained by estimating the capacitance value of the first capacitance string and AD converting the output sSecond and the code sequence di. The capacitance value of the first and second digital values is switched in accordance with the absolute value of the sum of each element along the code sequence column direction. Is preferred.
上記構成により、アナログ積分器から内積演算部までのゲインを符号系列による駆動ごとに一定にすることができる。 With the above configuration, the gain from the analog integrator to the inner product calculation unit can be made constant for each drive by the code sequence.
本実施の形態に係る静電容量検出方法では、前記符号系列の列方向に沿った各要素の総和の絶対値が前記アナログ積分器の飽和に関連する閾値Numを超える列は、前記2n次のアダマール行列の1列目、(2n−1+1)列目、(2n−1+2n−2+1)列目、及び(2n−1−2n−2+1)列目のうちの少なくとも1つであることが好ましい。 In the capacitance detection method according to the present embodiment, the column in which the absolute value of the sum of the elements along the column direction of the code sequence exceeds the threshold Num related to the saturation of the analog integrator is the 2 nth order. Of the first, (2 n-1 +1), (2 n-1 +2 n-2 +1), and (2 n-1 -2 n-2 +1) columns At least one is preferred.
上記構成により、2n次(M<2n)のアダマール行列による駆動において、簡単なアルゴリズムにより、アナログ積分器の飽和を回避することができる。 With the above configuration, saturation of the analog integrator can be avoided by a simple algorithm in driving with a 2 n -th order (M <2 n ) Hadamard matrix.
本実施の形態に係る静電容量検出方法では、[x]をxの整数部とし、前記2n次のアダマール行列の1列目が前記閾値Numを超える場合、ドライブラインの1番目からNum×[M/Num]番目までをNum個ずつ駆動することを[M/Num]回繰り返した後、残りの(M/Num)の余りの個数を並列駆動し、前記アダマール行列の(2n−1+1)列目が前記閾値Numを超える場合、ドライブラインの(2n−1−(M−2n−1))行目に基づく行からM行目までを並列に駆動した後、ドライブラインの1行目から(2n−1−(M−2n−1)−1)行目に基づく行までを、Num個ずつ駆動することを[(2n−1−(M−2n−1)−1)行目に基づく行/Num]回繰り返した後、残りの((2n−1−(M−2n−1)−1)行目に基づく行/Num)の余りの個数を並列駆動し、前記アダマール行列の(2n−1+2n−2+1)列目が前記閾値Numを超える場合、まず、ドライブラインの1行目から(2n−1)行目までを同時並列に駆動し、そして、ドライブラインの((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))行目に基づく行からM行目までを並列に駆動し、次に、ドライブラインの(2n−1+1)行目から((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))行目に基づく行までを、Num個ずつ駆動することを[((((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))に基づく行))−(2n−1+1)/Num]回繰り返した後、残りの(((((2n−1+2n−2)−(M−(2n−1+2n−2)))に基づく行))−(2n−1+1)/Num)の余りの個数を並列駆動することが好ましい。 In the capacitance detection method according to the present embodiment, when [x] is an integer part of x and the first column of the 2 n -th order Hadamard matrix exceeds the threshold Num, the first Num × of drive lines After driving [M / Num] th by Num by [M / Num] times, the remaining number of remaining (M / Num) is driven in parallel, and (2 n−1 ) of the Hadamard matrix is driven. +1) When the column exceeds the threshold value Num, after driving from the row based on the (2 n-1- (M-2 n-1 )) row of the drive line to the M row in parallel, Driving from the first row to the row based on the (2 n-1- (M-2 n-1 ) -1) row by Num units [[2 n-1- (M-2 n-1 ) -1) Row / Num] based on the row, and then the remaining ((2 n-1 − (M-2 n-1 ) -1) The remaining number of rows / Num) based on the row is driven in parallel, and the (2 n-1 +2 n-2 +1) -th column of the Hadamard matrix sets the threshold value Num. In the case of exceeding, first, the drive line from the first line to the (2 n-1 ) line is simultaneously driven in parallel, and the drive line ((2 n-1 +2 n-2 )-(M- (2 n-1 +2 n-2 ))) Drive from the row to the M-th row in parallel, and then from the (2 n-1 +1) -th row of the drive line to ((2 n-1 +2 n) −2 ) − (M− (2 n−1 +2 n−2 ))) Num driving up to the row based on the row [(((((2 n−1 +2 n−2 ) − ( Row based on M- (2 n-1 +2 n-2 )))))-(2 n-1 +1) / Num] iterations and then the remaining ((((((2 n−1 +2 n−2 ) − (row based on M− (2 n−1 +2 n−2 ))))) − (2 n−1 +1) / Num) can be driven in parallel. preferable.
上記構成により、2n次(M<2n)のアダマール行列による駆動において、簡単なアルゴリズムにより、アナログ積分器の飽和を回避することができる。 With the above configuration, saturation of the analog integrator can be avoided by a simple algorithm in driving with a 2 n -th order (M <2 n ) Hadamard matrix.
本実施の形態に係る静電容量検出方法では、行の順番を入れ替えることにより、シルベスター法によって生成される2n次(M<2n)のアダマール行列からなる符号系列を生成し、当該符号系列に基づいて前記M本のドライブラインを並列に駆動することが好ましい。 In the capacitance detection method according to the present embodiment, by changing the order of the rows, a code sequence composed of a 2 n -th order (M <2 n ) Hadamard matrix generated by the Sylvester method is generated, and the code sequence Preferably, the M drive lines are driven in parallel based on the above.
本発明に係る線形系係数推定方法は、長さNの直交するM個の符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて前記M個の入力xk(k=1、…、M)を入力して、N個の出力s=(s1、s2、…、sN)=(F(d11、d21、…、dM1)、F(d12、d22、…、dM2)、…、F(d1N、d2N、…、dMN))を出力するので、M個の入力にすべて同時に入力して線形系の係数Ckを推定する。従って、従来の構成のように、M個の入力を1個ずつ選択して走査入力する必要が無くなり、入力数Mが増大しても、線形系の係数値を取得するための処理時間は短くならず、検出精度を良好に維持しながら、且つ、解像度も良好で高速動作が可能な線形系係数推定方法を得ることができるという効果を奏する。 The linear system coefficient estimation method according to the present invention is based on M code sequences di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. xk (k = 1,..., M) and N outputs s = (s1, s2,..., sN) = (F (d11, d21,..., dM1), F (d12, d22,...) , DM2),..., F (d1N, d2N,..., DMN)) are output simultaneously, and the coefficients Ck of the linear system are estimated by inputting all the M inputs simultaneously. Accordingly, unlike the conventional configuration, it is not necessary to select and input M inputs one by one, and even if the number of inputs M increases, the processing time for acquiring the coefficient value of the linear system is short. In addition, there is an effect that it is possible to obtain a linear system coefficient estimation method capable of high-speed operation with good resolution while maintaining good detection accuracy.
本発明のタッチパネルシステムは、上記の問題を解決するために、タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該タッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部を備えていることを特徴としている。 In order to solve the above problem, the touch panel system of the present invention invalidates an instruction to an electronic device including the touch panel according to the touch when the same portion of the touch panel is continuously touched for a predetermined period. It is characterized by including a touch invalidation unit.
上記の構成によれば、タッチ無効化部は、タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、このタッチによる電子機器に対する指示を無効とする。これにより、例えば電子機器を持つ手がタッチパネルに接触する場合のように、タッチパネルに対する物体の意図しない接触が継続するとき、該接触による指示は行われない。このため、タッチパネルに対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することが可能となる。 According to said structure, a touch invalidation part invalidates the instruction | indication with respect to the electronic device by this touch, when the same location in a touch panel is touched continuously for a predetermined period. Thereby, for example, when an unintended contact of an object with respect to the touch panel continues, such as when a hand holding an electronic device touches the touch panel, an instruction based on the touch is not performed. For this reason, it becomes possible to prevent the malfunctioning resulting from the unintended contact of the object with respect to a touch panel.
また、上記の構成によれば、上記の誤動作を防止するために、タッチが行われているか否かの判断基準を変更する必要は無い。従って、タッチの有無を検出する感度の低下については、抑制することが可能となる。 Moreover, according to said structure, in order to prevent said malfunctioning, it is not necessary to change the judgment criteria of whether the touch is performed. Therefore, it is possible to suppress a decrease in sensitivity for detecting the presence or absence of touch.
また、本発明の電子機器は、本発明のタッチパネルシステムと、上記タッチパネルに対応する表示装置とを備えており、上記タッチパネルシステムおよび表示装置は、上記タッチパネルにおける複数箇所が同時にタッチされたことを検出することが可能であるように構成されていることを特徴としている。 The electronic device of the present invention includes the touch panel system of the present invention and a display device corresponding to the touch panel. The touch panel system and the display device detect that a plurality of locations on the touch panel are touched simultaneously. It is characterized by being configured to be able to.
上記の構成によれば、本発明のタッチパネルシステムと同様に、タッチの有無を検出する感度の低下を抑制しつつ、タッチパネルに対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することを可能とする電子機器を実現することができる。 According to the above configuration, similarly to the touch panel system of the present invention, an electronic device that can prevent malfunction caused by unintended contact of an object with the touch panel while suppressing a decrease in sensitivity for detecting the presence or absence of touch. Equipment can be realized.
また、本発明のタッチパネルシステムの、上記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、上記タッチが継続したか否かを判断するのが好ましい。 In the touch panel system of the present invention, it is preferable that the touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued for a touch time threshold value that is a time corresponding to a predetermined period.
上記の構成によれば、上記箇所が所定期間継続してタッチされたか否かを、簡単な構成により判断することができる。 According to said structure, it can be judged with a simple structure whether the said location was continuously touched for the predetermined period.
また、本発明のタッチパネルシステムの、上記タッチ無効化部は、上記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた上記指示を無効とするのが好ましい。 Moreover, it is preferable that the said touch invalidation part of the touch panel system of this invention invalidates the said instruction | indication according to the next touch with respect to the said location, when the said location is touched continuously for a predetermined period.
上記の構成によれば、タッチパネルに対する物体の意図しない接触が、短期間に何度も発生する場合であっても、タッチ無効化部は、1度機能するだけで、該接触の度に発生し得る誤動作を防止することが可能となる。 According to the above configuration, even when an unintended contact of an object with respect to the touch panel occurs many times in a short period, the touch invalidation unit functions only once and occurs each time the contact is made. It is possible to prevent the obtained malfunction.
また、本発明のタッチ無効化部は、上記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、上記箇所に対するタッチが行われていると判断し、上記タッチ無効化部は、上記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、上記タッチ基準閾値を増加させるのが好ましい。 In the touch invalidation unit of the present invention, the level of the signal indicating the degree of contact of the object with the above location is equal to or higher than the touch reference threshold serving as a reference for the level, or exceeds the touch reference threshold. Sometimes, it is determined that a touch is made on the location, and the touch invalidation unit preferably increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period.
上記の構成によれば、上記箇所に対するタッチに応じた指示を一定期間無効とすることを、簡単な構成により実現することができる。 According to said structure, it can implement | achieve by a simple structure that the instruction | indication according to the touch with respect to the said location is invalidated for a fixed period.
また、本発明の電子機器は、上記タッチパネルにおける一部の領域のみが、上記タッチ無効化部が機能する上記箇所とされているのが好ましい。 Moreover, it is preferable that only the one part area | region in the said touch panel is the said location where the said touch invalidation part functions as the electronic device of this invention.
上記の構成によれば、タッチパネルにおける一部の領域のみを、タッチ無効化部の機能が発揮される領域とすることができる。 According to said structure, only the one part area | region in a touch panel can be made into the area | region where the function of a touch invalidation part is exhibited.
電子機器では、タッチパネルの特定箇所に長時間タッチすること(いわゆる、長押し)による、該電子機器に対する指示を実現したい場合がある。そして、このような長時間のタッチが行われることが予想されるタッチパネルの領域を、タッチ無効化部の機能が発揮される領域とするのは好ましくない。そこで、上記の構成によれば、タッチパネルの特定箇所に長時間タッチすることによる該指示の実現と、タッチ無効化部によるタッチの無効化とを同時に実現させることが容易となる。 In the electronic device, there is a case where it is desired to realize an instruction to the electronic device by touching a specific part of the touch panel for a long time (so-called long press). And it is not preferable to make the area | region of the touch panel in which such a long touch is anticipated to be an area | region where the function of a touch invalidation part is exhibited. Therefore, according to the above configuration, it is easy to simultaneously realize the instruction by touching a specific part of the touch panel for a long time and the invalidation of the touch by the touch invalidation unit.
特に、本発明の電子機器において、上記一部の領域は、上記電子機器を持つ手が上記タッチパネルに接触する領域であるのが好ましい。 In particular, in the electronic device of the present invention, it is preferable that the partial area is a region where a hand holding the electronic device is in contact with the touch panel.
また、本発明の電子機器は、重力に対する該電子機器の向きを検出する重力センサを備えており、上記タッチ無効化部は、上記重力センサの検出結果に応じて、上記一部の領域を変化させるのが好ましい。 In addition, the electronic device of the present invention includes a gravity sensor that detects the orientation of the electronic device with respect to gravity, and the touch invalidation unit changes the partial area according to a detection result of the gravity sensor. It is preferable to do so.
電子機器では、その向きに応じて、上記一部の領域として好適である位置を変化させるべき場合がある。上記の構成によれば、重力に対する電子機器の向きを検出し、その検出結果に応じて上記一部の領域を変化させることで、電子機器の向きの変化に対応して、タッチ無効化部を機能させることが可能となる。 In an electronic device, the position that is suitable as the partial area may be changed depending on the orientation. According to the above configuration, by detecting the orientation of the electronic device with respect to gravity and changing the part of the area according to the detection result, the touch invalidation unit is configured to correspond to the change in the orientation of the electronic device. It becomes possible to make it function.
また、本発明の電子機器は、液晶表示装置、プラズマディスプレイ、有機EL(ElectroLuminescence:電界発光)表示装置、および電界放出(FED)ディスプレイのいずれかであり、画像を表示する表示画面を備えた表示装置を備えており、上記タッチパネルは、上記表示装置の表示画面に重ねて配置されているのが好ましい。 The electronic apparatus of the present invention is any one of a liquid crystal display device, a plasma display, an organic EL (ElectroLuminescence) display device, and a field emission (FED) display, and includes a display screen that displays an image. It is preferable that the touch panel is arranged so as to overlap the display screen of the display device.
また、本発明の電子機器は、上記タッチパネルは、垂直方向に設けられていると共に互いに平行に設けられている、複数のドライブラインと、水平方向に設けられていると共に互いに平行に設けられている、複数のセンスラインと、上記複数のドライブラインと上記複数のセンスラインとが交差する箇所にそれぞれ形成された、複数の静電容量とを備えているのが好ましい。 In the electronic device of the present invention, the touch panel is provided in the vertical direction and in parallel with each other, and is provided in the horizontal direction and in parallel with each other. Preferably, a plurality of sense lines, and a plurality of capacitances formed respectively at the intersections of the plurality of drive lines and the plurality of sense lines are provided.
換言すれば、本発明に係るタッチパネルは、いわゆる静電容量方式のものであるのが好ましい。 In other words, the touch panel according to the present invention is preferably of a so-called capacitance type.
また、本発明の電子機器は、携帯型の機器である。ここで言う、携帯型の機器としては、スマートフォン、タブレット端末、ノートパソコン等の、持ち運び可能な機器が挙げられる。 The electronic device of the present invention is a portable device. Examples of portable devices mentioned here include portable devices such as smartphones, tablet terminals, and notebook computers.
以上のとおり、本発明のタッチパネルシステムは、タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該タッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部を備えている構成である。 As described above, the touch panel system of the present invention includes a touch invalidation unit that invalidates an instruction to an electronic device including the touch panel according to the touch when the same portion of the touch panel is continuously touched for a predetermined period. It is the structure equipped with.
従って、タッチパネルのタッチの有無を検出する感度の低下を抑制しつつ、タッチパネルに対する物体の意図しない接触に起因する誤動作を防止することが可能であるという効果を奏する。 Therefore, there is an effect that it is possible to prevent malfunction caused by unintentional contact of an object with respect to the touch panel while suppressing a decrease in sensitivity for detecting presence or absence of touch on the touch panel.
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope shown in the claims, and embodiments obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention.
本発明は、マトリックス状に構成された線形系の係数、素子値、または静電容量を推定または検出する方法、及びこの方法に従って動作する集積回路、タッチセンサシステム、及び電子機器に適用することができる。また本発明は、指紋検出システムに適用することもできる。 The present invention can be applied to a method of estimating or detecting a coefficient, element value, or capacitance of a linear system configured in a matrix, and an integrated circuit, a touch sensor system, and an electronic device that operate according to the method. it can. The present invention can also be applied to a fingerprint detection system.
本発明は、タッチパネルシステムおよび電子機器に利用することができる。具体的に、表示画面のサイズが20インチ以内であり、スマートフォン、タブレット端末、ノートパソコン、デジタルカメラ等の、持ち運び可能な機器である電子機器、およびこの電子機器が備えるタッチパネルシステムに利用することができる。 The present invention can be used for touch panel systems and electronic devices. Specifically, the display screen has a size of 20 inches or less, and can be used for a portable device such as a smartphone, a tablet terminal, a laptop computer, or a digital camera, and a touch panel system included in the electronic device. it can.
1 タッチセンサシステム
2 センサパネル
3 集積回路
4 駆動部
5 推定部
6、6A アナログ積分器
7 スイッチ
8 AD変換器
9 内積演算部
10 RAM
11 アプリケーション処理部
12 携帯電話機
13 表示パネル
14 表示制御回路
15 CPU
16 ROM
17 RAM
18 マイクロフォン
19 スピーカ
20 操作キー
21 カメラ
601 センサパネル
602 タッチパネルコントローラ
605 信号選択部
609 タッチ無効化部
611 タッチパネルシステム
100 電子機器
106 画面表示部(表示装置)
109 タッチパネル
200 タブレット端末(電子機器)
201 重力センサ
204 領域
205 領域
T1 時刻
T2 時刻
DESCRIPTION OF
11
16 ROM
17 RAM
18
109 Touch Panel 200 Tablet Terminal (Electronic Device)
201 Gravity sensor 204 Area 205 Area T1 Time T2 Time
Claims (13)
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、
前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense For each of the second capacitance columns C2i (i = 1,..., M) formed between the lines, the orthogonal code sequence di of length N, each element being constituted by +1 or −1. = (Di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M), so that + V volts is applied when the code sequence is +1, and −V volts is applied when the code sequence is −1. M drive lines are driven in parallel, and the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string and the output sSecond = from the second capacitance string = A drive unit for outputting (s21, s22,..., S2N);
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
A touch panel corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance row, and the second capacitance row;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, and a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記集積回路は、前記第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense A touch sensor system including a touch panel including a second capacitance column C2i (i = 1,..., M) formed between lines, and an integrated circuit that controls the touch panel,
The integrated circuit is configured so that each of the first capacitance column C1i (i = 1,..., M) and the second capacitance column C2i (i = 1,. When the code sequence is +1 based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. Is driven in parallel so that + V volt is applied, and in the case of −1, −V volt is applied, and an output sFirst = (s11, s12,... , S1N), and a drive unit that outputs an output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance string;
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, and a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、
前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense For each of the second capacitance strings Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines, the orthogonal code sequence di of length N, each element being constituted by +1 or −1. = (Di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel, and the output sFirst from the first capacitance string = ( s11, s12,..., s1N) and an output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string,
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di A touch sensor system comprising: an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on a calculation;
When the code sequence is +1, the driving unit uses the first voltage when the analog integrator is reset, and the second voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance columns. And when the code series is -1, the second voltage when the analog integrator is reset, and the first voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance strings. Drive the driveline,
A touch panel corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance row, and the second capacitance row;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, further comprising a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、
前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense For each of the second capacitance strings Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines, the orthogonal code sequence di of length N, each element being constituted by +1 or −1. = (Di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel, and the output sFirst from the first capacitance string = ( s11, s12,..., s1N) and an output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string,
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di A touch sensor system comprising: an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on a calculation;
The drive unit outputs the output from the first and second capacitance strings before the analog integrator is reset, and when the analog integrator is reset, and from the first and second capacitance strings. When sampling the output, the drive line is driven by a first voltage, and outputs from the first and second capacitance columns are output to the analog integrator, and the first and second capacitance columns are output. The output from is read from the analog integrator as an offset output and stored in a memory,
A touch panel corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance row, and the second capacitance row;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, further comprising a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、
前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、
前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense A touch panel comprising a second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines;
A touch sensor system comprising an integrated circuit for controlling the touch panel,
The integrated circuit is provided for each of the first capacitance row Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M). Based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N composed of elements of +1 or −1, the M drive lines are arranged in parallel. , SFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string and sSecond = (s21, s22,..., s2N) to the analog integrator, and
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
When the code sequence is +1, the driving unit uses the first voltage when the analog integrator is reset, and the second voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance columns. And when the code series is -1, the second voltage when the analog integrator is reset, and the first voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance strings. Drive the driveline,
The integrated circuit, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one-time touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel Further comprising
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの直交する符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、
前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、
前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense A touch panel comprising a second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines;
A touch sensor system comprising an integrated circuit for controlling the touch panel,
The integrated circuit is provided for each of the first capacitance row Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M). Based on an orthogonal code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) of length N composed of elements of +1 or −1, the M drive lines are arranged in parallel. , SFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string and sSecond = (s21, s22,..., s2N) to the analog integrator, and
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
The drive unit outputs the output from the first and second capacitance strings before the analog integrator is reset, and when the analog integrator is reset, and from the first and second capacitance strings. When sampling the output, the drive line is driven by a first voltage, and outputs from the first and second capacitance columns are output to the analog integrator, and the first and second capacitance columns are output. The output from is read from the analog integrator as an offset output and stored in a memory,
The integrated circuit, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one-time touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel Further comprising
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、
前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense For each of the second capacitance columns C2i (i = 1,..., M) formed between the lines, a code sequence di = (length N) in which each element is constituted by +1 or −1. (di1, di2,..., diN) (i = 1,..., M). Are driven in parallel, the output sFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and the output sSecond = (s21) from the second capacitance string. , S22, ..., s2N),
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
A touch panel corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance row, and the second capacitance row;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, and a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記集積回路は、前記第1の静電容量列C1i(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列C2i(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記符号系列が前記+1の場合は+Vボルト、前記−1の場合は−Vボルトを印加するように前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)を出力させる駆動部と、
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部と、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とを備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column C1i (i = 1,..., M) formed between M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense A touch panel comprising a second capacitance row C2i (i = 1,..., M) formed between the lines;
A touch sensor system comprising an integrated circuit for controlling the touch panel,
The integrated circuit is configured so that each of the first capacitance column C1i (i = 1,..., M) and the second capacitance column C2i (i = 1,. Based on a code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,..., M) whose length is composed of +1 or −1, + V when the code sequence is +1 The M drive lines are driven in parallel so as to apply volt, or -V volt in the case of -1, and the output sFirst = (s11, s12, ..., s1N from the first capacitance row ), And a drive unit that outputs an output sSecond = (s21, s22,..., S2N) from the second capacitance row;
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, and a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、
前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense For each of the second capacitance strings Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines, a code sequence di = (length N) in which each element is constituted by +1 or −1. (di1, di2,..., diN) (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel, and the output sFirst = (s11, s12,..., s1N) and an output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string to an analog integrator;
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di A touch sensor system comprising: an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on a calculation;
When the code sequence is +1, the driving unit uses the first voltage when the analog integrator is reset, and the second voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance columns. And when the code series is -1, the second voltage when the analog integrator is reset, and the first voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance strings. Drive the driveline,
A touch panel corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance row, and the second capacitance row;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, further comprising a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、
前記ドライブラインと前記センスラインと前記第1の静電容量列と前記第2の静電容量列とに対応するタッチパネルと、
前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部とをさらに備え、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense For each of the second capacitance strings Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines, a code sequence di = (length N) in which each element is constituted by +1 or −1. (di1, di2,..., diN) (i = 1,..., M), the M drive lines are driven in parallel, and the output sFirst = (s11, s12,..., s1N) and an output sSecond = (s21, s22,..., s2N) from the second capacitance string to an analog integrator;
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di A touch sensor system comprising: an estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on a calculation;
The drive unit outputs the output from the first and second capacitance strings before the analog integrator is reset, and when the analog integrator is reset, and from the first and second capacitance strings. When sampling the output, the drive line is driven by a first voltage, and outputs from the first and second capacitance columns are output to the analog integrator, and the first and second capacitance columns are output. The output from is read from the analog integrator as an offset output and stored in a memory,
A touch panel corresponding to the drive line, the sense line, the first capacitance row, and the second capacitance row;
If the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one, further comprising a touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel,
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、
前記駆動部は、前記符号系列が前記+1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に第1電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第2電圧により前記ドライブラインを駆動し、前記符号系列が前記−1の場合は、前記アナログ積分器のリセット時に前記第2電圧により、前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に前記第1電圧により前記ドライブラインを駆動し、
前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回のタッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense A touch panel comprising a second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines;
A touch sensor system comprising an integrated circuit for controlling the touch panel,
The integrated circuit is provided for each of the first capacitance row Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M). The M drive lines are driven in parallel based on a code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. , SFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string. A drive unit that outputs to an analog integrator;
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
When the code sequence is +1, the driving unit uses the first voltage when the analog integrator is reset, and the second voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance columns. And when the code series is -1, the second voltage when the analog integrator is reset, and the first voltage when sampling the outputs from the first and second capacitance strings. Drive the driveline,
The integrated circuit, when the same point in the touch panel is touched one time continuously for a predetermined period, according to the touch of the one-time touch invalidation unit for invalidating an instruction to electronic apparatus having the touch panel Further comprising
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit invalidates the instruction according to the next touch on the location when the location is continuously touched for a predetermined period ,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記タッチパネルを制御する集積回路とを備えたタッチセンサシステムであって、
前記集積回路は、前記第1の静電容量列Ci1(i=1、…、M)、及び前記第2の静電容量列Ci2(i=1、…、M)のそれぞれに対して、各要素が+1または−1によって構成される長さNの符号系列di=(di1、di2、…、diN)(i=1、…、M)に基づいて、前記M本のドライブラインを並列に駆動して、前記第1の静電容量列からの出力sFirst=(s11、s12、…、s1N)、及び、前記第2の静電容量列からの出力sSecond=(s21、s22、…、s2N)をアナログ積分器に出力する駆動部と、
前記出力sFirstと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k1番目のドライブラインに対応する前記第1の静電容量列の容量値を推定し、前記出力sSecondと前記符号系列diとの内積演算に基づいて、k2番目のドライブラインに対応する前記第2の静電容量列の容量値を推定する推定部とを有しており、
前記駆動部は、前記第1及び第2静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力する前において、前記アナログ積分器のリセット時、及び前記第1及び第2静電容量列からの出力のサンプリング時に第1電圧により前記ドライブラインを駆動して、前記第1及び第2の静電容量列からの出力を前記アナログ積分器に出力し、前記第1及び第2の静電容量列からの出力をオフセット出力として前記アナログ積分器から読み出してメモリに格納し、
前記集積回路は、前記タッチパネルにおける同じ箇所が所定期間継続してタッチされたときに、該タッチに応じた、該タッチパネルを備えた電子機器に対する指示を無効とするタッチ無効化部をさらに有し、
前記タッチ無効化部は、所定期間に相当する時間であるタッチ時間閾値の間、前記タッチが継続したか否かを判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続して1回タッチされたときに、この1回の箇所に対する次のタッチに応じた前記指示を無効とし、
前記タッチ無効化部は、前記箇所への物体の接触の度合を示す信号のレベルが、該レベルの基準となるタッチ基準閾値以上であるか、または該タッチ基準閾値を超えているときに、前記箇所に対するタッチが行われていると判断し、
前記タッチ無効化部は、前記箇所が所定期間継続してタッチされたときに、前記タッチ基準閾値を増加させて、当該タッチの前記信号のレベルが、増加後のタッチ基準閾値以下となるようにすることを特徴とするタッチセンサシステム。 A first capacitance column Ci1 (i = 1,..., M) formed between the M drive lines and one sense line, and the M drive lines and another sense A touch panel comprising a second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M) formed between the lines;
A touch sensor system comprising an integrated circuit for controlling the touch panel,
The integrated circuit is provided for each of the first capacitance row Ci1 (i = 1,..., M) and the second capacitance row Ci2 (i = 1,..., M). The M drive lines are driven in parallel based on a code sequence di = (di1, di2,..., DiN) (i = 1,. , SFirst = (s11, s12,..., S1N) from the first capacitance string, and sSecond = (s21, s22,... S2N) from the second capacitance string. A drive unit that outputs to an analog integrator;
Based on the inner product calculation of the output sFirst and the code sequence di, the capacitance value of the first capacitance string corresponding to the k1th drive line is estimated, and the inner product of the output sSecond and the code sequence di An estimation unit that estimates a capacitance value of the second capacitance string corresponding to the k2nd drive line based on the calculation;
The drive unit outputs the output from the first and second capacitance strings before the analog integrator is reset, and when the analog integrator is reset, and from the first and second capacitance strings. When sampling the output, the drive line is driven by a first voltage, and outputs from the first and second capacitance columns are output to the analog integrator, and the first and second capacitance columns are output. The output from is read from the analog integrator as an offset output and stored in a memory,
The integrated circuit further includes a touch invalidation unit that invalidates an instruction to the electronic device including the touch panel according to the touch when the same portion of the touch panel is continuously touched for a predetermined period of time.
The touch invalidation unit determines whether or not the touch has continued during a touch time threshold that is a time corresponding to a predetermined period,
The touch invalidation unit, when the point is touched once continuously for a predetermined time period, wherein the invalid instructing in response to the next touch on parts of this one,
When the level of a signal indicating the degree of contact of an object with the location is equal to or higher than a touch reference threshold that is a reference for the level or exceeds the touch reference threshold, Judging that the touch to the point is done,
The touch invalidation unit increases the touch reference threshold when the location is continuously touched for a predetermined period so that the signal level of the touch is equal to or lower than the increased touch reference threshold. A touch sensor system characterized by:
前記タッチセンサシステムに設けられたタッチパネルに重ねて配置されているか、または、前記タッチパネルを内蔵した表示パネルとを備えたことを特徴とする電子機器。
The touch sensor system according to any one of claims 1 to 12,
An electronic apparatus comprising: a touch panel provided in the touch sensor system, or a display panel including the touch panel.
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