JP5821188B2 - Manufacturing method of glass substrate for information recording medium - Google Patents

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Description

本発明は、磁気ディスクおよび光ディスク等の情報記録媒体に用いられるガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for producing a glass substrate used for an information recording medium such as a magnetic disk and an optical disk.

磁気ディスク記憶装置等に使用される磁気ディスクの基板としてガラス基板が用いられている。このガラス基板は通常、中央に円孔を有する円板状のものであり、その主表面および端面のいずれも、ヘッドによる読み書きのエラーを無くすため、異物欠点の存在を無くすことが望まれている。   A glass substrate is used as a substrate of a magnetic disk used in a magnetic disk storage device or the like. This glass substrate is usually in the shape of a disc having a circular hole in the center, and both the main surface and the end surface are desired to eliminate the presence of foreign matter defects in order to eliminate read / write errors by the head. .

また、磁気ディスク記憶装置等においては、記録密度向上を目指し、情報記録媒体用ガラス基板上に被覆された磁性膜の最表面とヘッドとの距離が一層近づく傾向にあり、ガラス基板表面に異物欠点が存在していると、読み書き時にヘッドが異物欠点と衝突し、ヘッドクラッシュの原因となる。   Also, in magnetic disk storage devices, etc., aiming to improve recording density, the distance between the outermost surface of the magnetic film coated on the glass substrate for information recording media and the head tends to be closer, and there is a foreign object defect on the glass substrate surface. If the head is present, the head collides with a foreign object defect at the time of reading and writing, causing a head crash.

情報記録媒体に用いられるガラス基板は通常、ガラス板を角切りし、円形加工、面取り加工、研削加工、外周および内周研磨、エッチング、1次および2次研磨、最終研磨、スクラブ並びに最終洗浄することにより製造される。従来から、ガラス基板の製造工程におけるエッチングおよび洗浄に用いる処理液として、硫酸を含む処理液が用いられている(例えば、特許文献1)。   A glass substrate used for an information recording medium is usually cut into a glass plate, rounded, chamfered, ground, peripheral and inner peripheral polishing, etching, primary and secondary polishing, final polishing, scrub and final cleaning. It is manufactured by. Conventionally, a treatment liquid containing sulfuric acid has been used as a treatment liquid used for etching and cleaning in a glass substrate manufacturing process (for example, Patent Document 1).

特開平7−296380号公報JP 7-296380 A

しかしながら、本発明者らは、特にアルカリ土類金属酸化物を含むガラス板からガラス基板を製造する工程において、エッチングおよび洗浄に硫酸を含む処理液を用いた場合、アルカリ土類金属酸化物と硫酸との反応生成物である難溶性の塩が生じ、該反応生成物が欠点異物としてガラス表面に残留するとともに、マスクとなってエッチングが進行することにより、ガラス基板表面の平坦度および平滑度が著しく低下するということを確認した。   However, the present inventors, in particular, in the process of producing a glass substrate from a glass plate containing an alkaline earth metal oxide, when using a treatment liquid containing sulfuric acid for etching and cleaning, the alkaline earth metal oxide and sulfuric acid As a result, a slightly soluble salt that is a reaction product is generated, and the reaction product remains as a defective foreign substance on the glass surface, and etching proceeds as a mask, thereby improving the flatness and smoothness of the glass substrate surface. It confirmed that it fell remarkably.

したがって、本発明はアルカリ土類金属酸化物を含むガラス板から情報記録媒体用ガラス基板を製造する場合に、ガラス基板表面に異物欠点を生じさせない磁気ディスク情報記録媒体用ガラス基板を製造する方法を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention provides a method for producing a glass substrate for magnetic disk information recording medium that does not cause a foreign matter defect on the glass substrate surface when producing a glass substrate for information recording medium from a glass plate containing an alkaline earth metal oxide. The purpose is to provide.

前記課題を鑑み鋭意検討した結果、アルカリ土類金属酸化物を含むガラス板をエッチングおよび洗浄する際に、酸として硫酸を含まずに、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含む処理液を用いることにより、ガラス基板表面に前記反応生成物を生じさせることがなく、平坦度および平滑度が向上することを見出し、本発明を完成させた。   As a result of intensive studies in view of the above problems, when etching and cleaning a glass plate containing an alkaline earth metal oxide, nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, without containing sulfuric acid as an acid, A treatment solution containing at least one selected from tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, citric acid, ascorbic acid, hydrobromic acid, hydroiodic acid, alkylsulfonic acid and alkylphosphonic acid As a result, it was found that the reaction product was not generated on the surface of the glass substrate and the flatness and smoothness were improved, and the present invention was completed.

すなわち、本発明の要旨は以下である。   That is, the gist of the present invention is as follows.

CaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を含有するガラス板をガラス円板に加工する円板加工工程、ガラス円板の主表面をラッピングするラッピング工程、ガラス円板のラッピングされた主表面を研磨する主表面研磨工程およびこれら工程間、これら工程内もしくはこれら工程後においてガラス円板を表面処理する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法であって、
表面処理に用いる処理液が、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
A disk processing step of processing a glass plate containing one or more of CaO, SrO and BaO into a glass disc, a wrapping step of wrapping the main surface of the glass disc, and a main surface of the glass disc wrapping A method for producing a glass substrate for an information recording medium comprising a main surface polishing step to be polished and a step of surface-treating a glass disk in or after these steps,
Treatment liquid used for surface treatment is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, citric acid, ascorbic acid, hydrobromic acid And a method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising at least one selected from hydroiodic acid, alkylsulfonic acid, and alkylphosphonic acid.

ガラス板をガラス円板に加工する円板加工工程、ガラス円板の主表面をラッピングするラッピング工程、ガラス円板のラッピングされた主表面を研磨する主表面研磨工程およびこれら工程間、これら工程内もしくはこれら工程後においてガラス円板を表面処理する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法であって、
ガラス板がモル百分率表示で、SiOを62〜74%、Alを7〜18%、Bを2〜15%を含有し、MgOを0〜10%、CaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を合計で1〜21%含有し、MgO、CaO、SrOおよびBaOの含有量合計が8〜21%、上記7成分の含有量合計が95%以上であり、
表面処理に用いる処理液が、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
A disk processing process for processing a glass plate into a glass disk, a lapping process for lapping the main surface of the glass disk, a main surface polishing process for polishing the lapped main surface of the glass disk, and between these processes. Or a method for producing a glass substrate for an information recording medium comprising a step of surface-treating a glass disc after these steps,
The glass plate contains mole percentages of SiO 2 62-74%, Al 2 O 3 7-18%, B 2 O 3 2-15%, MgO 0-10%, CaO, SrO and 1 to 21% in total of any one component of BaO is contained, the total content of MgO, CaO, SrO and BaO is 8 to 21%, and the total content of the seven components is 95% or more,
Treatment liquid used for surface treatment is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, citric acid, ascorbic acid, hydrobromic acid And a method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising at least one selected from hydroiodic acid, alkylsulfonic acid, and alkylphosphonic acid.

ガラス板をガラス円板に加工する円板加工工程、ガラス円板の主表面をラッピングするラッピング工程、ガラス円板のラッピングされた主表面を研磨する主表面研磨工程およびこれら工程間、これら工程内もしくはこれら工程後においてガラス円板を表面処理する工程を有する情報記録媒体用ガラス基板の製造方法であって、
ガラス板がモル百分率表示で、SiOを67〜72%、Alを11〜14%、Bを0〜2%未満を含有し、MgOを4〜9%、CaOを4〜6%、SrOを1〜6%、BaOを0〜5%含有し、MgO、CaO、SrOおよびBaOの含有量合計が14〜18%、上記7成分の含有量合計が95%以上であり、
表面処理に用いる処理液が、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
A disk processing process for processing a glass plate into a glass disk, a lapping process for lapping the main surface of the glass disk, a main surface polishing process for polishing the lapped main surface of the glass disk, and between these processes. Or a method for producing a glass substrate for an information recording medium having a step of surface-treating a glass disc after these steps,
A glass plate mole percentage display, a SiO 2 67 to 72% Al 2 O 3 11-14% contain B less than 2 O 3 0-2% the MgO 4 to 9% of CaO 4 ~ 6%, SrO 1-6%, BaO 0-5%, MgO, CaO, SrO and BaO total content is 14-18%, total content of the above 7 components is 95% or more ,
Treatment liquid used for surface treatment is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, citric acid, ascorbic acid, hydrobromic acid And a method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising at least one selected from hydroiodic acid, alkylsulfonic acid, and alkylphosphonic acid.

ガラス板におけるCaO、SrOおよびBaOの含有量合計がモル百分率表示で7%以上である前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the total content of CaO, SrO and BaO in the glass plate is 7% or more in terms of mole percentage.

ガラス板の徐冷点が650℃以上である前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The manufacturing method of the glass substrate for information recording media whose annealing point of a glass plate is 650 degreeC or more.

表面処理がエッチングである前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the surface treatment is etching.

エッチングに用いる処理液がさらにフッ酸を含む前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the treatment liquid used for etching further contains hydrofluoric acid.

前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法であって、ガラス円板の中央に孔を形成する工程を有し、情報記録媒体用ガラス基板の当該孔の内面が、前記エッチングがされた面または研磨された面である情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   A method for producing a glass substrate for information recording medium, comprising the step of forming a hole in the center of a glass disk, wherein the inner surface of the hole of the glass substrate for information recording medium is the etched surface or polished A method for producing a glass substrate for an information recording medium, which is a processed surface.

表面処理が洗浄である前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the surface treatment is cleaning.

フロート法またはダウンドロー法を用いてガラス板を製造する前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The manufacturing method of the said glass substrate for information recording media which manufactures a glass plate using a float glass process or a down draw method.

情報記録媒体が磁気ディスクである前記情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the information recording medium is a magnetic disk.

本発明の製造方法によれば、アルカリ土類金属酸化物を含むガラス基板表面における異物欠点の発生を効果的に抑制することが可能となり、その結果情報記録媒体用ガラス基板表面の平坦度および平滑度を向上することができる。   According to the production method of the present invention, it is possible to effectively suppress the occurrence of foreign matter defects on the surface of a glass substrate containing an alkaline earth metal oxide. As a result, the flatness and smoothness of the surface of the glass substrate for information recording media can be suppressed. The degree can be improved.

本発明の製造方法は、ガラス板をガラス円板に加工する円板加工工程、ガラス円板の主表面をラッピングするラッピング工程、ガラス円板のラッピングされた主表面を研磨する主表面研磨工程およびこれら工程間、これら工程内もしくはこれら工程後においてガラス円板を表面処理する工程を有する情報記録媒体用ガラス基板の製造方法である。   The manufacturing method of the present invention includes a disk processing step for processing a glass plate into a glass disc, a wrapping step for wrapping the main surface of the glass disc, a main surface polishing step for polishing the lapped main surface of the glass disc, and It is a manufacturing method of the glass substrate for information recording media which has the process of surface-treating a glass disk between these processes, in these processes, or after these processes.

前記ガラス板(以下、基板ガラスということがある)は、アルカリ土類金属酸化物として、CaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を含む。基板ガラスにおけるCaO、SrOおよびBaOの合計含有量は、モル百分率表示組成で、7%以上であることが好ましく、7.5%以上であることがより好ましく、8%以上であることが更に好ましい。また、通常21%以下であることが好ましく、18%以下であることがより好ましく、14%以下であることが更に好ましい。 The glass plate (hereinafter sometimes referred to as substrate glass) contains at least one component of CaO, SrO, and BaO as an alkaline earth metal oxide. The total content of CaO, SrO and BaO in the substrate glass is preferably 7% or more, more preferably 7.5% or more, and still more preferably 8% or more, in terms of a molar percentage composition. . Further, it is usually preferably 21% or less, more preferably 18% or less, and further preferably 14% or less.

基板ガラスにおけるCaO、SrOおよびBaOの合計含有量を7%以上とした場合に、エッチングおよび洗浄工程に用いる処理液を、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含む処理液とすることにより、異物欠点の発生をより効果的に抑制することができる。   When the total content of CaO, SrO and BaO in the substrate glass is 7% or more, the treatment liquid used for the etching and cleaning steps is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid. By treating with at least one selected from malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, citric acid, ascorbic acid, hydrobromic acid, hydroiodic acid, alkylsulfonic acid and alkylphosphonic acid, Generation | occurrence | production of a foreign material defect can be suppressed more effectively.

これは、硫酸を含む処理液を用いてCaO、SrOおよびBaOの合計含有量を7%以上である基板ガラスを表面処理すると、CaO、SrOおよびBaOと硫酸とが反応して難溶性の硫酸塩が生成され、異物欠点となるため、処理液に用いる酸として硫酸以外の酸を用いることにより、異物欠点の発生を抑制するものである。   When surface treatment is performed on a substrate glass having a total content of CaO, SrO and BaO of 7% or more using a treatment solution containing sulfuric acid, CaO, SrO, BaO and sulfuric acid react with each other to form a hardly soluble sulfate. Is generated and becomes a foreign matter defect. Therefore, by using an acid other than sulfuric acid as the acid used in the treatment liquid, the occurrence of the foreign matter defect is suppressed.

また、当該合計含有量を21%以下とすることにより、ガラスの失透温度が高くなりすぎるのを防ぎ、フロート法やフュージョン法、ダウンドロー法など大量生産に適したプロセスで生産することができる。   Moreover, by making the total content 21% or less, it is possible to prevent the glass from becoming too high in the devitrification temperature, and to produce by a process suitable for mass production such as a float method, a fusion method, and a downdraw method. .

本発明に用いる基板ガラスとしては、以下の組成の基板ガラス1および基板ガラス2が好ましい。なお、以下ではモル%を単に%と表示する。   As substrate glass used for this invention, the substrate glass 1 and the substrate glass 2 of the following compositions are preferable. Hereinafter, mol% is simply expressed as%.

(基板ガラス1)
基板ガラス1は、モル百分率表示で、SiOを62〜74%、Alを7〜18%、Bを2〜15%を含有し、MgOを0〜10%、CaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を合計で1〜21%含有し、MgO、CaO、SrOおよびBaOの含有量合計が8〜21%、上記7成分の含有量合計が95%以上である基板ガラスである。
(Substrate glass 1)
The substrate glass 1 contains SiO 2 62 to 74%, Al 2 O 3 7 to 18%, B 2 O 3 2 to 15% in terms of mole percentage, MgO 0 to 10%, CaO, A substrate containing 1 to 21% in total of any one or more of SrO and BaO, a total content of MgO, CaO, SrO and BaO of 8 to 21%, and a total content of the seven components of 95% or more It is glass.

SiOは必須成分である。基板ガラス1におけるSiOの含有量は、62%以上であり、65%以上であることが好ましい。また、74%以下であり、69%以下であることがより好ましい。62%未満ではガラスが傷つきやすくなる、またガラスの耐酸性が低くなる。一方、74%を超えると溶解性が低下し、ガラス製造が困難になる。 SiO 2 is an essential component. The content of SiO 2 in the substrate glass 1 is 62% or more, and preferably 65% or more. Moreover, it is 74% or less, and it is more preferable that it is 69% or less. If it is less than 62%, the glass tends to be damaged, and the acid resistance of the glass becomes low. On the other hand, if it exceeds 74%, the solubility is lowered and glass production becomes difficult.

Alは必須成分である。基板ガラス1におけるAlの含有量は、7%以上であり、9%以上であることがより好ましい。また、18%以下であり、12%以下であることがより好ましい。7%未満ではガラスが分相しやすくなり、基板を加工・洗浄した後に平滑な表面を維持できなくなるおそれがある。またはガラスが傷つきやすくなるおそれがある。一方、18%を超えると溶解性が低下し、ガラス製造が困難になる。またガラスの耐酸性が低くなる。 Al 2 O 3 is an essential component. The content of Al 2 O 3 in the substrate glass 1 is 7% or more, and more preferably 9% or more. Moreover, it is 18% or less, and it is more preferable that it is 12% or less. If it is less than 7%, the glass tends to undergo phase separation, and there is a possibility that a smooth surface cannot be maintained after the substrate is processed and washed. Or glass may be easily damaged. On the other hand, if it exceeds 18%, the solubility is lowered and glass production becomes difficult. Moreover, the acid resistance of glass becomes low.

なお、ガラスをよりキズつけにくくするには、SiOおよびAlの含有量の合計が70%以上であることが好ましく、72%以上であることがより好ましい。 Note that hardly put more scratch the glass is preferably that the total content of SiO 2 and Al 2 O 3 is 70% or more, more preferably 72% or more.

はガラスの溶解性を改善する効果があり、必須である。基板ガラス1におけるBの含有量は、2%以上であり、7%以上であることが好ましい。また、15%以下であり、12%以下であることが好ましい。2%未満ではガラスの溶解性が低下する。一方、15%を超えるとガラスが分相しやすくなり、基板を加工・洗浄した後に平滑な表面を維持できなくなる。またガラスの耐酸性が低くなる。 B 2 O 3 has an effect of improving the solubility of glass and is essential. The content of B 2 O 3 in the substrate glass 1 is 2% or more, and preferably 7% or more. Moreover, it is 15% or less, and it is preferable that it is 12% or less. If it is less than 2%, the solubility of the glass decreases. On the other hand, if it exceeds 15%, the glass tends to undergo phase separation, and a smooth surface cannot be maintained after processing and cleaning the substrate. Moreover, the acid resistance of glass becomes low.

MgOは、必須ではないが、含有させることによりガラスの溶解性を改善できる。またガラスの熱膨張係数を低下させる効果がある。基板ガラス1におけるMgOの含有量は10%以下であり、0〜7%であることが好ましい。10%を超えると、分相が起きやすくなる。またガラスの失透温度が高くなる。   Although MgO is not essential, the solubility of glass can be improved by containing MgO. Moreover, there exists an effect which reduces the thermal expansion coefficient of glass. The content of MgO in the substrate glass 1 is 10% or less, and preferably 0 to 7%. If it exceeds 10%, phase separation tends to occur. Moreover, the devitrification temperature of glass becomes high.

CaO、SrOおよびBaOはガラスの溶解性を改善する成分であり、いずれか1成分以上を含有しなければならない。基板ガラス1におけるCaO、SrOおよびBaOの含有量合計は、1〜21%であり、7〜14%であることが好ましい。当該含有量合計が1%未満では、溶解性が低下し、ガラス製造が困難になる。一方21%を超えるとガラスの失透温度が高くなる。またガラスが傷つきやすくなるおそれがある。   CaO, SrO, and BaO are components that improve the solubility of the glass, and must contain at least one component. The total content of CaO, SrO and BaO in the substrate glass 1 is 1 to 21%, and preferably 7 to 14%. When the total content is less than 1%, the solubility is lowered and glass production becomes difficult. On the other hand, if it exceeds 21%, the devitrification temperature of the glass becomes high. In addition, the glass may be easily damaged.

また、基板ガラス1におけるMgO、CaO、SrOおよびBaOの含有量合計(RO)は、8%以上であり、10%以上であることが好ましい。また、21%以下であり、16%以下であることが好ましい。当該含有量合計が8%未満ではガラスの溶解性が低下し、ガラス製造が困難になる。一方、ROが21%を超えるとガラスの失透温度が高くなる。またガラスが傷つきやすくなる。   Further, the total content (RO) of MgO, CaO, SrO and BaO in the substrate glass 1 is 8% or more, and preferably 10% or more. Moreover, it is 21% or less, and it is preferable that it is 16% or less. If the total content is less than 8%, the solubility of the glass is lowered and glass production becomes difficult. On the other hand, when RO exceeds 21%, the devitrification temperature of the glass increases. Moreover, it becomes easy to damage glass.

基板ガラス1は本質的に上記7成分からなるが、本発明の目的を損なわない範囲でその他の成分を合計で5%未満であれば含有してもよい。上記7成分以外の成分の含有量の合計が5%以上ではガラスが傷つきやすくなる。以下では上記7成分以外の成分について例示的に説明する。   The substrate glass 1 is essentially composed of the above seven components, but may contain other components as long as the total content is less than 5% within a range not impairing the object of the present invention. If the total content of components other than the above seven components is 5% or more, the glass is easily damaged. Hereinafter, components other than the above seven components will be exemplarily described.

ZnOはMgO、CaO、SrOおよびBaOと同様の効果を奏する成分であり、基板ガラス1においては、5%未満の範囲で含有してもよい。また、ZnOの含有量とROの合計は8〜21%であることが好ましく、10〜16%であることがより好ましい。   ZnO is a component that exhibits the same effect as MgO, CaO, SrO, and BaO. In the substrate glass 1, it may be contained in a range of less than 5%. Further, the total content of ZnO and RO is preferably 8 to 21%, and more preferably 10 to 16%.

LiO、NaOおよびKOは徐冷点Tを低下させるので、基板ガラス1におけるこれら3成分の含有量合計は0%であるか1%未満とすることが好ましい。 Since Li 2 O, Na 2 O and K 2 O decreases the annealing point T A, it is preferable that the total content of these three components in the substrate glass 1 to be less than is either 1% 0%.

VなどTiよりも原子番号が大きな原子の酸化物はガラスを傷つきやすくするおそれがある。基板ガラス1においてこれら酸化物を含有する場合、含有量合計は3%以下とすることが好ましく、2%以下がより好ましく、1%以下が更に好ましく、0.3%以下が最も好ましい。   An oxide having an atomic number larger than Ti, such as V, may easily damage the glass. When these oxides are contained in the substrate glass 1, the total content is preferably 3% or less, more preferably 2% or less, still more preferably 1% or less, and most preferably 0.3% or less.

SO、F、Cl、As、SbおよびSnO等は清澄剤として代表的な成分である。 SO 3 , F, Cl, As 2 O 3 , Sb 2 O 3, SnO 2 and the like are typical components as fining agents.

(基板ガラス2)
基板ガラス2は、モル百分率表示で、SiOを67〜72%、Alを11〜14%、Bを0〜2%未満を含有し、MgOを4〜9%、CaOを4〜6%、SrOを1〜6%、BaOを0〜5%含有し、MgO、CaO、SrOおよびBaOの含有量合計が14〜18%、上記7成分の含有量合計が95%以上である基板ガラスである。
(Substrate glass 2)
Substrate glass 2 in molar percentage display, a SiO 2 67 to 72% Al 2 O 3 11-14% contain B less than 2 O 3 0-2% 4-9% The MgO, CaO 4-6%, SrO 1-6%, BaO 0-5%, MgO, CaO, SrO and BaO total content is 14-18%, total content of the seven components is 95% or more It is substrate glass which is.

基板ガラス2は徐冷点Tまたは耐酸性を高くしたい場合に好適な基板ガラスである。 Substrate glass 2 is a suitable substrate glass when it is desired to increase the annealing point T A or acid resistance.

SiOは必須成分である。基板ガラス2におけるSiOの含有量は、67%以上であり、68%以上がより好ましい。また、72%以下であり、71%以下がより好ましい。67%未満ではガラスが傷つきやすくなる。またガラスの耐酸性が低くなる。一方、72%を超えると溶解性が低下し、ガラス製造が困難になる。 SiO 2 is an essential component. The content of SiO 2 in the substrate glass 2 is 67% or more, more preferably at least 68%. Moreover, it is 72% or less, and 71% or less is more preferable. If it is less than 67%, the glass tends to be damaged. Moreover, the acid resistance of glass becomes low. On the other hand, if it exceeds 72%, the solubility is lowered and glass production becomes difficult.

Alは必須成分である。基板ガラス2におけるAlの含有量は、11%以上であり、12%以上がより好ましい。また、14%以下であり、13.5%以下であることがより好ましい。11%未満ではガラスが分相しやすくなり、基板を加工・洗浄した後に平滑な表面を維持できなくなる、またはガラスが傷つきやすくなるおそれがある。一方、14%を超えると溶解性が低下し、ガラス製造が困難になる。 Al 2 O 3 is an essential component. The content of Al 2 O 3 in the substrate glass 2 is 11% or more, and more preferably 12% or more. Moreover, it is 14% or less, and it is more preferable that it is 13.5% or less. If it is less than 11%, the glass tends to phase-separate, and it may become impossible to maintain a smooth surface after the substrate is processed and washed, or the glass may be easily damaged. On the other hand, if it exceeds 14%, the solubility is lowered and glass production becomes difficult.

は必須成分ではないが、ガラスの溶解性を改善する効果がある。基板ガラス2におけるBの含有量は、2%未満とすることが好ましい。2%以上では耐酸性またはTが低下するおそれがある。 B 2 O 3 is not an essential component, but has an effect of improving the solubility of glass. The content of B 2 O 3 in the substrate glass 2 is preferably less than 2%. Is 2% or more may decrease acid resistance or T A.

MgO、CaOおよびSrOはガラスの溶解性を改善する成分であり、必須である。基板ガラス2におけるMgOの含有量は、4%以上であり、4.5%以上であることが好ましい。また、9%以下であり、8.5%以下であることが好ましい。MgOの含有量が4%未満であると溶解性が低下する。また、9%を超えるとガラスが傷つきやすくなる。またガラスの失透温度が高くなる。   MgO, CaO and SrO are components that improve the solubility of glass and are essential. The content of MgO in the substrate glass 2 is 4% or more, and preferably 4.5% or more. Moreover, it is 9% or less, and it is preferable that it is 8.5% or less. If the MgO content is less than 4%, the solubility is lowered. If it exceeds 9%, the glass tends to be damaged. Moreover, the devitrification temperature of glass becomes high.

基板ガラス2におけるCaOの含有量は4%以上であり、4.5%以上であることが好ましい。また、6%以下であり、5.5%以下であることが好ましい。CaOの含有量が4%未満であると溶解性が低下する。また、6%を超えるとガラスが傷つきやすくなる。またガラスの失透温度が高くなる。   The content of CaO in the substrate glass 2 is 4% or more, and preferably 4.5% or more. Moreover, it is 6% or less, and it is preferable that it is 5.5% or less. If the CaO content is less than 4%, the solubility is lowered. If it exceeds 6%, the glass tends to be damaged. Moreover, the devitrification temperature of glass becomes high.

基板ガラス2におけるSrOの含有量は1%以上であり、1.5%以上であることが好ましい。また、6%以下であり、5%以下であることが好ましい。SrOの含有量が1%未満であると溶解性が低下する。また、6%を超えるとガラスが傷つきやすくなる。またガラスの失透温度が高くなる。   The SrO content in the substrate glass 2 is 1% or more, preferably 1.5% or more. Moreover, it is 6% or less, and it is preferable that it is 5% or less. If the SrO content is less than 1%, the solubility is lowered. If it exceeds 6%, the glass tends to be damaged. Moreover, the devitrification temperature of glass becomes high.

BaOは必須成分ではないが、ガラスの溶解性を改善する効果があり、5%以下の範囲で含有してもよい。5%超ではガラスが傷つきやすくなる。またガラスの失透温度が高くなる。   BaO is not an essential component, but has an effect of improving the solubility of glass, and may be contained in a range of 5% or less. If it exceeds 5%, the glass tends to be damaged. Moreover, the devitrification temperature of glass becomes high.

また、基板ガラス2におけるMgO、CaO、SrOおよびBaOの含有量合計(RO)は、14%以上であり、15%以上であることが好ましい。また、18%以下であり、17.5%以下であることがより好ましい。ROが14%未満ではガラスの溶解性が低下し、ガラス製造が困難になる。一方、ROが18%を超えるとガラスが傷つきやすくなる。またガラスの失透温度が高くなる。   Further, the total content (RO) of MgO, CaO, SrO and BaO in the substrate glass 2 is 14% or more, and preferably 15% or more. Moreover, it is 18% or less, and it is more preferable that it is 17.5% or less. If RO is less than 14%, the solubility of the glass decreases, making glass production difficult. On the other hand, when RO exceeds 18%, the glass is easily damaged. Moreover, the devitrification temperature of glass becomes high.

基板ガラス2は本質的に上記7成分からなるが、本発明の目的を損なわない範囲でその他の成分を合計で5%未満であれば含有してもよい。上記7成分以外の成分の含有量の合計が5%超ではガラスが傷つきやすくなる。以下では上記7成分以外の成分について例示的に説明する。   Substrate glass 2 consists essentially of the above seven components, but may contain other components as long as the total content is less than 5% within the range not impairing the object of the present invention. If the total content of components other than the above seven components exceeds 5%, the glass tends to be damaged. Hereinafter, components other than the above seven components will be exemplarily described.

ZnOはMgO、CaO、SrOおよびBaOと同様の効果を奏する成分である。基板ガラス2におけるZnOの含有量は5%未満とすることが好ましい。また、ZnOの含有量とROの合計は14〜18%であることが好ましく、15〜17.5%であることがより好ましい。   ZnO is a component that exhibits the same effects as MgO, CaO, SrO, and BaO. The ZnO content in the substrate glass 2 is preferably less than 5%. Further, the total content of ZnO and RO is preferably 14 to 18%, and more preferably 15 to 17.5%.

LiO、NaOおよびKOはTを低下させるので、基板ガラス2におけるこれら3成分の含有量合計は0%であるか1%未満とすることが好ましい。 Since Li 2 O, Na 2 O and K 2 O decreases the T A, it is preferable that the total content of these three components in the substrate glass 2 to be less than is either 1% 0%.

VなどTiよりも原子番号が大きな原子の酸化物はガラスを傷つきやすくするおそれがあるので、基板ガラス2においてこれら酸化物を含有する場合、含有量合計は3%以下とすることが好ましく、2%以下がより好ましく、1%以下が更に好ましく、0.3%以下が最も好ましい。   Since oxides having an atomic number larger than Ti such as V may easily damage the glass, when these oxides are contained in the substrate glass 2, the total content is preferably 3% or less. % Or less is more preferable, 1% or less is more preferable, and 0.3% or less is most preferable.

SO、F、Cl、As、SbおよびSnO等は清澄剤として代表的な成分である。 SO 3 , F, Cl, As 2 O 3 , Sb 2 O 3, SnO 2 and the like are typical components as fining agents.

基板ガラスの徐冷点Tは650℃以上であることが好ましく、680℃以上であることがより好ましく、700℃以上であることが更に好ましい。また、通常750℃以下であることが好ましい。650℃以上とすることにより、磁気記録層形成時にガラスが反りにくくなり、読み書きのトラブルが起こりにくくなる。 It is preferred that the annealing point T A of the substrate glass is 650 ° C. or higher, more preferably 680 ° C. or higher, further preferably 700 ° C. or higher. Moreover, it is preferable that it is 750 degrees C or less normally. By setting the temperature to 650 ° C. or higher, the glass is less likely to warp when the magnetic recording layer is formed, and reading / writing troubles are less likely to occur.

基板ガラスのクラック発生率p(単位:%)は50%以下であることが好ましく、30%以下がより好ましく、10%以下が特に好ましい。50%以下とすることにより、ガラスにキズがつきにくくなり、応力集中が起こりにくくなる。その結果、弱い応力においても脆性的破壊が起こりにくくなる。   The crack occurrence rate p (unit:%) of the substrate glass is preferably 50% or less, more preferably 30% or less, and particularly preferably 10% or less. By setting it to 50% or less, the glass is hardly scratched and stress concentration hardly occurs. As a result, brittle fracture is less likely to occur even under weak stress.

pは次のようにして測定される。ガラスを平均粒径2mmの酸化セリウム砥粒で研磨後、平均粒径20nmのコロイダルシリカ砥粒で研磨し、厚さが1〜2mm、大きさが4cm×4cm、表面粗さRaが15nm以下であるガラス板を作製し、該ガラス板を徐冷点またはガラス転移点で30分保持後、1℃/分またはそれ以下の速度で室温まで冷却する。該ガラス板の表面に、23℃、相対湿度70%に制御した室内において荷重1000gでビッカース圧子を打ち込み、その4つの頂点から発生したクラック本数を測定する。この測定を10回繰り返し、100×(前記クラック本数の合計)÷40をpとする。   p is measured as follows. After polishing the glass with a cerium oxide abrasive having an average particle diameter of 2 mm, the glass is polished with a colloidal silica abrasive having an average particle diameter of 20 nm, the thickness is 1 to 2 mm, the size is 4 cm × 4 cm, and the surface roughness Ra is 15 nm or less. A glass plate is prepared, and the glass plate is held at a slow cooling point or a glass transition point for 30 minutes, and then cooled to room temperature at a rate of 1 ° C./min or less. A Vickers indenter is driven at a load of 1000 g in a room controlled at 23 ° C. and a relative humidity of 70% on the surface of the glass plate, and the number of cracks generated from the four apexes is measured. This measurement is repeated 10 times, and 100 × (total number of cracks) ÷ 40 is defined as p.

基板ガラスの耐酸性は0.1mg/cm以下であることが好ましい。0.1mg/cm以下とすることにより、酸を用いる研磨や洗浄の工程における面荒れを抑制することができる。なお、耐酸性は、90℃、0.1N塩酸に基板ガラスを20時間浸漬した後の重量減少量を測定し、試料表面積で除して求める。 The acid resistance of the substrate glass is preferably 0.1 mg / cm 2 or less. By setting it to 0.1 mg / cm 2 or less, it is possible to suppress surface roughness in a polishing or cleaning process using an acid. The acid resistance is determined by measuring the amount of weight loss after immersing the substrate glass in 0.1N hydrochloric acid at 90 ° C. for 20 hours and dividing by the sample surface area.

基板ガラスの比重は2.65以下であることが好ましく、2.60以下がより好ましく、2.55以下が更に好ましく、2.52以下が最も好ましい。2.65以下とすることにより、磁気ディスクドライブ回転時にモーター負荷がかかるのを防ぎ、消費電力を低下するとともに、ドライブ回転を安定にする。   The specific gravity of the substrate glass is preferably 2.65 or less, more preferably 2.60 or less, still more preferably 2.55 or less, and most preferably 2.52 or less. By setting it to 2.65 or less, it is possible to prevent a motor load from being applied during rotation of the magnetic disk drive, to reduce power consumption and to stabilize drive rotation.

本発明の製造方法においては通常次のような工程を経て情報記録媒体用ガラス基板を製造する。すなわち、ガラス板をガラス円板にし(円板加工工程)、ガラス円板の中央に円孔を開け、端面研磨、面取り、主表面ラッピング(ラッピング工程)、外周端面鏡面研磨を順次行う。その後円板状ガラス板を積層して内周端面をエッチング処理し、必要に応じて研磨する。次に、円板状ガラス板の主表面を研磨して(主表面研磨工程)、平坦かつ平滑な面とし情報記録媒体用ガラス基板とする。   In the production method of the present invention, a glass substrate for an information recording medium is usually produced through the following steps. That is, the glass plate is made into a glass disc (disc processing step), a circular hole is formed in the center of the glass disc, and end surface polishing, chamfering, main surface lapping (lapping step), and outer peripheral end surface mirror polishing are sequentially performed. Then, a disk-shaped glass plate is laminated | stacked, an inner peripheral end surface is etched, and it polishes as needed. Next, the main surface of the disk-shaped glass plate is polished (main surface polishing step) to obtain a flat and smooth surface, which is a glass substrate for an information recording medium.

本発明の製造方法は、円板加工工程、ラッピング工程および主表面研磨工程の各工程間、これら工程内もしくはこれら工程後においてガラス円板を表面処理する工程を含む。本発明において、「表面処理」とは、エッチング処理または洗浄処理をいう。   The manufacturing method of this invention includes the process of surface-treating a glass disk between each process of a disk processing process, a lapping process, and a main surface grinding | polishing process, or after these processes. In the present invention, “surface treatment” refers to etching treatment or cleaning treatment.

(ガラス板の製造)
本発明の製造方法に用いるガラス板の製造方法は特に限定されず、各種方法を適用できる。
(Manufacture of glass plates)
The manufacturing method of the glass plate used for the manufacturing method of this invention is not specifically limited, Various methods are applicable.

例えば、通常使用される各成分の原料を目標組成となるように調合し、これをガラス溶融窯で加熱溶融する。バブリング、撹拌、清澄剤の添加等によりガラスを均質化し、周知のフロート法、プレス法、フュージョン法またダウンドロー法などの方法により所定の厚さの板ガラスに成形し、徐冷後必要に応じて研削、研磨などの加工を行った後、所定の寸法・形状のガラス基板とする。   For example, the raw materials of each component normally used are prepared so as to have a target composition, and this is heated and melted in a glass melting kiln. Homogenize the glass by bubbling, stirring, adding a clarifying agent, etc., and forming it into a sheet glass of a predetermined thickness by methods such as the well-known float method, press method, fusion method or down draw method, and after slow cooling, as necessary After processing such as grinding and polishing, a glass substrate having a predetermined size and shape is obtained.

成形法としては、特に、大量生産に適したフロート法が好適である。また、フロート法以外の連続成形法、すなわち、フュージョン法およびダウンドロー法も好適である。   As the molding method, a float method suitable for mass production is particularly suitable. Further, continuous molding methods other than the float method, that is, the fusion method and the downdraw method are also suitable.

尚、ガラス板の厚さは、通常0.38〜1.2mm程度であることが好ましい。   In addition, it is preferable that the thickness of a glass plate is about 0.38-1.2mm normally.

(円板加工工程)
円板加工工程は、ガラス板を角切りし、内径および外径をくり抜いてドーナツ状のガラス円板に加工する工程である。
(Disc processing process)
The disk processing step is a step of cutting a glass plate into a donut-shaped glass disk by cutting out an inner diameter and an outer diameter.

(内周外周端面の研削)
ドーナツ状のガラス円板に加工した後、内周端面および外周端面を、ダイヤモンド砥石を用いて研削加工を行う。ダイヤモンド砥石は、#800メッシュアンダー品が好ましい。
(Grinding of inner and outer peripheral end faces)
After processing into a donut-shaped glass disk, the inner peripheral end face and the outer peripheral end face are ground using a diamond grindstone. The diamond grindstone is preferably a # 800 mesh under product.

(ラッピング工程)
ラッピング工程は、ガラス円板の主表面を研削(ラッピング)する工程である。主表面ラッピングは通常、平均粒径が6〜8μmである酸化アルミニウム砥粒または酸化アルミニウム質の砥粒を用いて行うことが好ましい。ラッピングされた主表面は通常、30〜40μm研磨されることが好ましい。
(Lapping process)
The lapping step is a step of grinding (lapping) the main surface of the glass disk. The main surface lapping is usually preferably performed using aluminum oxide abrasive grains having an average particle diameter of 6 to 8 μm or aluminum oxide abrasive grains. The lapped main surface is usually preferably polished by 30 to 40 μm.

主表面ラッピングした後、端面鏡面研磨を順次行う。尚、主表面ラッピング工程を粗ラッピング工程と精ラッピング工程とに分け、それらの間に形状加工工程(円形ガラス板中央の孔開け、面取り、端面研磨)を設けてもよい。   After lapping the main surface, end face mirror polishing is sequentially performed. The main surface lapping step may be divided into a rough lapping step and a fine lapping step, and a shape processing step (drilling at the center of the circular glass plate, chamfering, end polishing) may be provided between them.

端面鏡面研磨は、研磨材として酸化セリウムスラリー、研磨具としてブラシを用いたブラシ研磨を行い、外周端面に鏡面加工を施す。研磨材である酸化セリウムは、#200〜#1000メッシュ品が好ましい。また、このときの研磨量は、半径方向の除去量で例えば30μm程度が適当である。この鏡面加工により、表面粗さ(Ra)が1.0μm以下とすることが好ましく、0.7μm以下とすることがより好ましい。   In the end surface mirror polishing, brush polishing is performed using a cerium oxide slurry as an abrasive and a brush as a polishing tool, and the outer peripheral end surface is mirror-finished. The cerium oxide as the abrasive is preferably a # 200 to # 1000 mesh product. In addition, the polishing amount at this time is suitably about 30 μm in terms of the removal amount in the radial direction. By this mirror finishing, the surface roughness (Ra) is preferably 1.0 μm or less, and more preferably 0.7 μm or less.

これらの加工において、中央に円孔を有さないガラス基板を製造する場合には、当然、ガラス円板中央の孔開け及び内周端面の鏡面研磨は不要である。   In these processes, when a glass substrate having no circular hole in the center is manufactured, naturally, the drilling of the center of the glass disk and the mirror polishing of the inner peripheral end face are unnecessary.

(エッチング処理)
端面鏡面研磨の後に、内周または全面のエッチング処理をする。また、ガラス円板中央の孔の内面をエッチング処理してもよい。端面鏡面研磨は、ガラス円板を積層して内周端面を、酸化セリウム砥粒を用いたブラシ研磨を行い、エッチング処理をしてもよい。
(Etching process)
After end mirror polishing, the inner periphery or the entire surface is etched. Moreover, you may etch the inner surface of the hole of the glass disc center. In the end surface mirror polishing, a glass disk may be laminated, and the inner peripheral end surface may be subjected to brush polishing using cerium oxide abrasive grains and subjected to an etching process.

また、内周端面のブラシ研磨の代わりにそのエッチング処理された内周端面に例えばポリシラザン化合物含有液をスプレー法等によって塗布し、焼成して内周端面に被膜(保護被膜)形成を行ってもよい。   Further, instead of brushing the inner peripheral end face, for example, a polysilazane compound-containing liquid may be applied to the etched inner peripheral end face by a spray method or the like and baked to form a coating (protective coating) on the inner peripheral end face. Good.

エッチング処理は、円板状ガラス板をエッチング液中に浸漬して行う方法が一般的であるが、スプレー法、その他の方法でも可能である。なお、このエッチング処理は内周端面に高い突起を形成しないようなものであることが好ましく、また、このエッチング処理が本発明における表面処理である場合はエッチング液と接触させて行う。   The etching process is generally performed by immersing a disk-shaped glass plate in an etching solution, but can be performed by a spray method or other methods. In addition, it is preferable that this etching process is a thing which does not form a high protrusion in an inner peripheral end surface, and when this etching process is a surface treatment in this invention, it is made to contact with etching liquid.

内周端面のエッチング量、すなわちエッチング処理による内周端面ガラスの除去厚さであるエッチング深さは、2〜25μmであることが好ましい。2μm以上とすることにより、内周端面に存在する深い傷の除去が十分となり、機械的強度を向上することができる。好ましくは5μm以上である。また、25μm以下とすることにより、内周端面に高い突起が形成されるのを防ぐことができる。好ましくは20μm以下である。   The etching depth, which is the etching amount of the inner peripheral end face, that is, the removal thickness of the inner peripheral end face glass by the etching process, is preferably 2 to 25 μm. By setting the thickness to 2 μm or more, it is possible to sufficiently remove deep scratches existing on the inner peripheral end face and improve the mechanical strength. Preferably it is 5 micrometers or more. Moreover, by setting it as 25 micrometers or less, it can prevent that a high protrusion is formed in an inner peripheral end surface. Preferably it is 20 micrometers or less.

エッチング処理が本発明における表面処理である場合はそれに用いる処理液は、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含み、フッ酸をさらに含むことがより好ましい。なお、前記処理液は硫酸を含まない。   When the etching treatment is a surface treatment in the present invention, the treatment liquid used for the treatment is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, It contains at least one selected from citric acid, ascorbic acid, hydrobromic acid, hydroiodic acid, alkylsulfonic acid and alkylphosphonic acid, and more preferably further contains hydrofluoric acid. The treatment solution does not contain sulfuric acid.

これらの酸の中でも、現場作業性の観点から、硝酸、塩酸が特に好ましい。また、これらの酸は単独で用いてもよく、複数種を組み合わせて用いてもよい。複数種の組み合わせとしては、フッ酸と硝酸、フッ酸と塩酸の組み合わせが、現場作業性の観点から特に好ましい。   Among these acids, nitric acid and hydrochloric acid are particularly preferable from the viewpoint of workability on site. Moreover, these acids may be used independently and may be used in combination of multiple types. As a combination of plural kinds, a combination of hydrofluoric acid and nitric acid, or a combination of hydrofluoric acid and hydrochloric acid is particularly preferable from the viewpoint of workability on site.

フッ酸と硝酸を組み合わせて用いる場合、濃フッ酸と濃硝酸と水の混合比(質量)は、2:1:7〜1:3:6とすることが好ましく、1:1:8〜1:2:7とすることがより好ましい。当該範囲とすることにより、エッチング速度が適切になりエッチング処理がしやすくなる。   When hydrofluoric acid and nitric acid are used in combination, the mixing ratio (mass) of concentrated hydrofluoric acid, concentrated nitric acid and water is preferably 2: 1: 7 to 1: 3: 6, and 1: 1: 8 to 1. : 2: 7 is more preferable. By setting it as the said range, an etching rate becomes appropriate and it becomes easy to perform an etching process.

エッチング処理に用いる処理液に前記酸を含む処理液を用いることにより、アルカリ土類金属酸化物としてCaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を含む基板ガラスを用いてガラス基板を製造する場合に、ガラス基板表面の異物欠点の発生を効果的に抑制し、平坦度および平滑度を著しく向上することができる。 When a glass substrate is produced using a substrate glass containing at least one component of CaO, SrO and BaO as an alkaline earth metal oxide by using a treatment solution containing the acid as a treatment solution used for the etching treatment. The occurrence of foreign matter defects on the glass substrate surface can be effectively suppressed, and the flatness and smoothness can be remarkably improved.

エッチング処理に用いる処理液における前記酸の含有量は、1〜20質量%とすることが好ましく、4〜18質量%とすることがより好ましい。1質量%以上とすることにより、最低限必要なエッチング速度が得られやすくなる。20質量%以下とすることにより、エッチング速度が適切になりエッチング処理がしやすくなる。   The content of the acid in the treatment liquid used for the etching treatment is preferably 1 to 20% by mass, and more preferably 4 to 18% by mass. By setting it to 1% by mass or more, a minimum necessary etching rate can be easily obtained. By setting it to 20% by mass or less, the etching rate becomes appropriate and the etching process is facilitated.

(内周端面の研磨)
上記の工程を経た後、内周端面に研磨処理を施すことが好ましい。研磨方法としては、ブラシ研磨、スポンジ研磨、粘性流体研磨、磁性流体研磨及びスポンジ砥石研磨が好ましい。これらの研磨方法は、それぞれ単独であってもよく、適宜組み合わせてもよい。また、ガラス基板を一枚ずつ研磨してもよいし、複数枚を重ねて一度に研磨してもよい。
(Polishing the inner peripheral surface)
After the above steps, it is preferable to polish the inner peripheral end surface. As a polishing method, brush polishing, sponge polishing, viscous fluid polishing, magnetic fluid polishing, and sponge grindstone polishing are preferable. These polishing methods may be used alone or in appropriate combination. Further, the glass substrates may be polished one by one, or a plurality of stacked substrates may be polished at once.

尚、ブラシ研磨は、平均粒径が0.5〜1.8μmである酸化セリウムを含有するスラリーと樹脂製ブラシを用いて行うことが好ましい。スポンジ研磨は、平均粒径が0.5〜1.8μmである酸化セリウムを含有するスラリーとウレタン製スポンジを用いて行うことが好ましい。   In addition, it is preferable to perform brush grinding | polishing using the slurry and resin brush containing the cerium oxide whose average particle diameter is 0.5-1.8 micrometers. The sponge polishing is preferably performed using a slurry containing cerium oxide having an average particle diameter of 0.5 to 1.8 μm and a sponge made of urethane.

粘性流体研磨は、平均粒径が0.5〜1.8μmである酸化セリウムと、ポリアクリル酸、エチレングリコール、グリセリン、ポリビニルアルコール、カルボキシメチルセルロースナトリウム、ガラクトマンナンおよびメチル化ポリガラクチュロン酸等の増粘剤を含有し、粘度が0.01Pa・s以上のスラリーとを用いて行うことが好ましい。   Viscous fluid polishing includes cerium oxide having an average particle size of 0.5 to 1.8 μm, polyacrylic acid, ethylene glycol, glycerin, polyvinyl alcohol, sodium carboxymethylcellulose, galactomannan, methylated polygalacturonic acid, etc. It is preferable to use a slurry containing a thickener and having a viscosity of 0.01 Pa · s or more.

磁性流体研磨は、平均粒径が0.5〜1.8μmである酸化セリウムと磁性粉体との混合スラリーを用いて行うことが好ましい。   The magnetic fluid polishing is preferably performed using a mixed slurry of cerium oxide and magnetic powder having an average particle size of 0.5 to 1.8 μm.

スポンジ砥石研磨は、平均粒径が0.5〜1.8μmである酸化セリウム、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、炭酸カルシウムの何れかを混合した発泡ウレタン製スポンジ砥石を用いて行うことが好ましい。   The sponge grindstone polishing is preferably performed using a foamed urethane sponge grindstone in which any one of cerium oxide, aluminum oxide, magnesium oxide, and calcium carbonate having an average particle diameter of 0.5 to 1.8 μm is mixed.

このような研磨処理により、エッチング処理により形成された稜線が摩滅し、スピンドルシャフトと摺接したときのガラス微粉の発生を抑えることができる。   By such a polishing process, the ridgeline formed by the etching process is worn away, and the generation of glass fine powder when it comes into sliding contact with the spindle shaft can be suppressed.

更に、上記の研磨処理の後に、再度エッチング処理を行うこともできる。このエッチング処理により、摩滅により生じた稜線のエッジが消失し、ガラス微粉の発生をより抑えることができる。   Furthermore, the etching process can be performed again after the above polishing process. By this etching process, the edge of the ridge line caused by abrasion disappears, and the generation of glass fine powder can be further suppressed.

(主表面研磨工程)
次いで、主表面の研磨を行う。この研磨には、平均粒径が0.9〜1.8μmの酸化セリウムを含有するスラリーとウレタン製研磨パッドとを用いて行うことが好ましい。このときの板厚の減少量(研磨量)は、例えば30〜40μmが適当である。その後、更に、研磨剤として上記の酸化セリウムよりも平均粒径が小さい、例えば平均粒径0.15〜0.25μmの酸化セリウムを用い、研磨具としてウレタンパッドを用いて研磨する。このときの研磨量は、例えば1.6μm程度が適当である。
(Main surface polishing process)
Next, the main surface is polished. This polishing is preferably performed using a slurry containing cerium oxide having an average particle size of 0.9 to 1.8 μm and a urethane polishing pad. The reduction amount (polishing amount) of the plate thickness at this time is suitably 30 to 40 μm, for example. Thereafter, the polishing is further performed using cerium oxide having an average particle diameter smaller than that of the above cerium oxide as the abrasive, for example, an average particle diameter of 0.15 to 0.25 μm, and using a urethane pad as the polishing tool. The polishing amount at this time is suitably about 1.6 μm, for example.

尚、磁気ディスク記録装置の中には、磁気ディスクの外周端面を保持する形式のものもある。このような磁気ディスク記録装置に使用される磁気ディスク用のガラス基板などについては、上記のエッチング処理及び研磨処理を、ガラス板の外周端面に対して同様に行う。   Some magnetic disk recording devices hold the outer peripheral end face of the magnetic disk. For the glass substrate for a magnetic disk used in such a magnetic disk recording apparatus, the above etching process and polishing process are similarly performed on the outer peripheral end surface of the glass plate.

(洗浄工程)
洗浄工程は、ガラス円板を純水に浸漬した後に、硫酸と過酸化水素水とを混合して加熱した洗浄液に浸漬し、最後に純水でリンスすることにより、ガラス円板を洗浄する工程である。
(Washing process)
The cleaning step is a step of cleaning the glass disk by immersing the glass disk in pure water, then immersing it in a cleaning liquid heated by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide, and finally rinsing with pure water. It is.

尚、洗浄工程の前に、酸性洗浄剤やアルカリ洗浄剤を用いた前洗浄工程を実施してもよい。また、純水による浸漬工程やリンス工程においては、超音波洗浄を併用してもよく、流水またはシャワー水による洗浄を行ってもよい。   In addition, you may implement the pre-cleaning process using an acidic cleaning agent and an alkaline cleaning agent before a cleaning process. Moreover, in the immersion process or rinse process with pure water, ultrasonic cleaning may be used in combination, or cleaning with running water or shower water may be performed.

洗浄が本発明における表面処理である場合、それに用いる処理液は、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含み、硫酸を含まない。   When the cleaning is a surface treatment in the present invention, the treatment liquid used for the treatment is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, citric acid. It contains at least one selected from acids, ascorbic acid, hydrobromic acid, hydroiodic acid, alkylsulfonic acid and alkylphosphonic acid, and does not contain sulfuric acid.

これらの酸の中でも、現場作業性と洗浄効果の観点から、硝酸、塩酸、クエン酸、アスコルビン酸が特に好ましい。また、これらの酸は単独で用いてもよく、複数種を組み合わせて用いてもよいが、通常は単独で用いる。   Among these acids, nitric acid, hydrochloric acid, citric acid, and ascorbic acid are particularly preferable from the viewpoints of on-site workability and cleaning effect. These acids may be used alone or in combination of two or more, but are usually used alone.

洗浄に用いる処理液に前記酸を含む処理液を用いることにより、アルカリ土類金属酸化物としてCaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を含む基板ガラスを用いてガラス基板を製造する場合に、ガラス基板表面の異物欠点の発生を効果的に抑制し、平坦度および平滑度を著しく向上することができる。 When a glass substrate is produced using a substrate glass containing at least one component of CaO, SrO and BaO as an alkaline earth metal oxide by using a treatment solution containing the acid as a treatment solution used for cleaning, Generation | occurrence | production of the foreign material defect on the surface of a glass substrate can be suppressed effectively, and flatness and smoothness can be improved significantly.

洗浄に用いる処理液における前記酸の含有量は、10−6〜10−2mol/Lとすることが好ましく、10−4〜10−5mol/Lとすることがより好ましい。10−2mol/L以下とすることにより、過剰なリーチングが起こりにくくなる。10−6mol/L以上とすることにより、洗浄効果を得やすくなる。 The acid content in the treatment solution used for washing is preferably 10 −6 to 10 −2 mol / L, and more preferably 10 −4 to 10 −5 mol / L. By setting it to 10 −2 mol / L or less, excessive leaching hardly occurs. By setting it to 10 −6 mol / L or more, it becomes easy to obtain a cleaning effect.

洗浄に用いる処理液のpHは2〜6とすることが好ましく、4〜5とすることがより好ましい。pHを2以上とすることによりガラス中のアルカリ金属成分またはアルカリ土類金属成分の過剰なリーチングによる表面変化が起こりにくくなる。また、pHを6以下とすることによりエッチング速度が適切になり洗浄効果を得やすくなる。   The pH of the treatment liquid used for washing is preferably 2 to 6, and more preferably 4 to 5. When the pH is set to 2 or more, surface changes due to excessive leaching of alkali metal components or alkaline earth metal components in the glass are less likely to occur. Further, when the pH is set to 6 or less, the etching rate becomes appropriate and the cleaning effect is easily obtained.

洗浄液の液温は、エッチング速度に応じて適宜選択することでよい。   The liquid temperature of the cleaning liquid may be appropriately selected according to the etching rate.

(仕上げ研磨工程)
仕上げ研磨工程では、スラリーを用いて最終研磨を行う。耐酸性が劣るガラスの場合は仕上げ研磨工程の前にスラリーとスエードパッドを用いて研磨を行うことが好ましい(再研磨工程)。このスエードパッドはショアA硬度が60°以下である発泡樹脂層をPETや不織布に貼り付けたものとすることが好ましい。また、当該ショアA硬度を20°以上であることが好ましい。
(Finishing polishing process)
In the final polishing step, final polishing is performed using the slurry. In the case of a glass having poor acid resistance, it is preferable to perform polishing using a slurry and a suede pad before the final polishing step (repolishing step). The suede pad preferably has a foamed resin layer having a Shore A hardness of 60 ° or less attached to PET or a nonwoven fabric. Moreover, it is preferable that the said Shore A hardness is 20 degrees or more.

前記ショアA硬度を60°以下とすることにより、空孔率を小さくする必要性が生じにくく、親水性を保ち易い。またショアA硬度を20°以上とすることにより、研磨レートが遅くなるのを防ぐことができる。   By setting the Shore A hardness to 60 ° or less, it is difficult to reduce the porosity and it is easy to maintain hydrophilicity. Further, by setting the Shore A hardness to 20 ° or more, it is possible to prevent the polishing rate from becoming slow.

また、前記発泡樹脂層は単層でもよいし、異なる発泡形態の発泡層を2層以上重ね合わせたものでもよい。後者の場合、ガラスと接触する第一の発泡樹脂層のショアA硬度が20°以上50°以下、下層の第二の発泡樹脂層が40°以上60°以下であり、第一の発泡層が第二の発泡層よりも硬度が低いことが好ましい。   The foamed resin layer may be a single layer or may be a laminate of two or more foam layers having different foam forms. In the latter case, the Shore A hardness of the first foamed resin layer in contact with the glass is 20 ° or more and 50 ° or less, the lower second foamed resin layer is 40 ° or more and 60 ° or less, and the first foam layer is It is preferable that the hardness is lower than that of the second foam layer.

また、このような発泡樹脂層はポリウレタンであることが典型的である。特に、スエードパッドとしては、ショアA硬度が30〜60、圧縮率が0.5〜10%かつ密度が0.2〜0.9g/cmである発泡ウレタン樹脂からなるものが典型的である。 Such a foamed resin layer is typically polyurethane. In particular, the suede pad is typically made of a urethane foam resin having a Shore A hardness of 30 to 60, a compressibility of 0.5 to 10%, and a density of 0.2 to 0.9 g / cm 3. .

ショアA硬度は、それぞれJIS K7215に規定されているプラスチックのデュロメータA硬さを測定する方法によって測定する。   The Shore A hardness is measured by a method for measuring the durometer A hardness of plastic specified in JIS K7215.

また、圧縮率(単位:%)は次のようにして測定する。すなわち、研磨パッドから適切な大きさに切り出した測定試料について、ショッパー型厚さ測定器を用いて無荷重状態から10kPaの応力の負荷を30秒間加圧した時の材料厚さtを求め、次に厚さがtの状態から直ちに110kPaの応力の負荷を5分間加圧した時の材料厚さtを求め、tおよびtの値から(t−t)×100/tを算出し、これを圧縮率とする。 The compression rate (unit:%) is measured as follows. That is, for a measurement sample cut out to an appropriate size from the polishing pad, a material thickness t 0 when a stress of 10 kPa is applied for 30 seconds from a no-load state using a shopper type thickness measuring device is obtained, Next, the material thickness t 1 when a stress load of 110 kPa is immediately applied for 5 minutes from the state where the thickness is t 0 is obtained, and from the values of t 0 and t 1 , (t 0 −t 1 ) × 100 / to calculate the t 0, and this is the compression ratio.

(最終洗浄工程)
仕上げ研磨工程の後、最終洗浄を行うことが好ましい。最終洗浄工程では、少なくとも1回はpH10以上のアルカリ性洗浄剤による洗浄を行うことが好ましい。洗浄方法は、ガラス円板を浸漬して超音波振動を加えてもよいし、スクラブ洗浄を用いてもよい。また、両方を組み合わせてもよい。更に、洗浄の前後に、純水による浸漬工程やリンス工程を行うことが好ましい。
(Final cleaning process)
It is preferable to perform final cleaning after the finish polishing step. In the final cleaning step, it is preferable to perform cleaning with an alkaline cleaner having a pH of 10 or more at least once. As a cleaning method, ultrasonic vibration may be applied by immersing a glass disk, or scrub cleaning may be used. Moreover, you may combine both. Furthermore, it is preferable to perform an immersion step or a rinse step with pure water before and after cleaning.

最終洗浄工程における洗浄が本発明における表面処理である場合その処理液は、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含み、硫酸を含まない。   When the cleaning in the final cleaning step is a surface treatment in the present invention, the treatment liquid is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid And at least one selected from citric acid, ascorbic acid, hydrobromic acid, hydroiodic acid, alkylsulfonic acid and alkylphosphonic acid, and does not contain sulfuric acid.

これらの酸の中でも、現場作業性と洗浄効果の観点から、硝酸、塩酸が特に好ましい。また、これらの酸は単独で用いてもよく、複数種を組み合わせて用いてもよいが、通常は単独で用いる。   Among these acids, nitric acid and hydrochloric acid are particularly preferable from the viewpoint of workability on site and cleaning effect. These acids may be used alone or in combination of two or more, but are usually used alone.

最終洗浄に用いる処理液に前記酸を含む処理液を用いることにより、アルカリ土類金属酸化物としてCaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を含む基板ガラスを用いてガラス基板を製造する場合に、ガラス基板表面の異物欠点の発生を効果的に抑制し、平坦度および平滑度を著しく向上することができる。 When a glass substrate is produced using a substrate glass containing at least one component of CaO, SrO and BaO as an alkaline earth metal oxide by using a treatment liquid containing the acid as a treatment liquid used for final cleaning. The occurrence of foreign matter defects on the glass substrate surface can be effectively suppressed, and the flatness and smoothness can be remarkably improved.

最終洗浄に用いる処理液における前記酸の含有量は、10−6〜10−2mol/Lとすることが好ましく、10−5〜10−3mol/Lとすることがより好ましい。10−2mol/L以下とすることにより、過剰なリーチングが起こりにくくなる。10−6mol/L以上とすることにより、洗浄効果を得やすくなる。 The acid content in the treatment liquid used for final cleaning is preferably 10 −6 to 10 −2 mol / L, and more preferably 10 −5 to 10 −3 mol / L. By setting it to 10 −2 mol / L or less, excessive leaching hardly occurs. By setting it to 10 −6 mol / L or more, it becomes easy to obtain a cleaning effect.

最終洗浄に用いる処理液のpHは2〜6とすることが好ましく、3〜5とすることがより好ましい。pHを2以上とすることによりガラス中のアルカリ金属成分またはアルカリ土類金属成分の過剰なリーチングによる表面変化が起こりにくくなる。また、pHを6以下とすることによりエッチング速度が適切になり洗浄効果を得やすくなる。   The pH of the treatment liquid used for the final cleaning is preferably 2 to 6, and more preferably 3 to 5. When the pH is set to 2 or more, surface changes due to excessive leaching of alkali metal components or alkaline earth metal components in the glass are less likely to occur. Further, when the pH is set to 6 or less, the etching rate becomes appropriate and the cleaning effect is easily obtained.

最終洗浄の処理液の液温は、最終基板表面の清浄度により適宜調整することが好ましい。   The liquid temperature of the final cleaning treatment liquid is preferably adjusted as appropriate according to the cleanliness of the final substrate surface.

最終のリンス工程後にガラス円板を乾燥するが、乾燥方法としてはイソプロピルアルコール蒸気を用いる乾燥方法、スピン乾燥および真空乾燥などが用いられる。   The glass disk is dried after the final rinsing step. As a drying method, a drying method using isopropyl alcohol vapor, spin drying, vacuum drying, or the like is used.

本発明の製造方法により得られる情報記録媒体用ガラス基板は、基板ガラスにCaO、SrOおよびBaOの含有量合計がモル百分率表示で、たとえば7%以上である場合であっても、硫酸を含まない処理液により表面処理(エッチングまたは洗浄)することにより、処理液とガラス成分の反応生成物の発生を抑制することができる。なお、この反応生成物は光学顕微鏡、電子顕微鏡、原子間力顕微鏡、光学検査装置等により測定される。   The glass substrate for information recording medium obtained by the production method of the present invention does not contain sulfuric acid even when the total content of CaO, SrO and BaO is expressed in mole percentages, for example, 7% or more. By performing surface treatment (etching or cleaning) with the treatment liquid, generation of a reaction product between the treatment liquid and the glass component can be suppressed. This reaction product is measured by an optical microscope, an electron microscope, an atomic force microscope, an optical inspection device, or the like.

以下に実施例を示して本発明を更に説明する。   The present invention will be further described below with reference to examples.

(基板ガラス)
フロート法で成形された、以下の組成および物性である基板ガラス1および2を用いた。
(Substrate glass)
Substrate glasses 1 and 2 having the following composition and physical properties formed by the float process were used.

〔基板ガラス1〕
モル%表示組成:SiO 66.2%、Al 11.3%、B 7.6%、MgO 5.3%,CaO 4.7%、SrO 4.9%
比重:2.50
耐酸性:0.1mg/cm
徐冷点:725℃
クラック発生率p:0%
[Substrate glass 1]
Mol% composition: SiO 2 66.2%, Al 2 O 3 11.3%, B 2 O 3 7.6%, MgO 5.3%, CaO 4.7%, SrO 4.9%
Specific gravity: 2.50
Acid resistance: 0.1 mg / cm 2
Annealing point: 725 ° C
Crack occurrence rate p: 0%

〔基板ガラス2〕
モル%表示組成:SiO 64.5%、Al 12.0%、ZrO 1.8%、LiO 12.8%、NaO 5.5%、KO 3.4%。
比重:2.47
耐酸性:0.1mg/cm
徐冷点:520℃
クラック発生率p:10%
[Substrate glass 2]
Mol% composition: SiO 2 64.5%, Al 2 O 3 12.0%, ZrO 2 1.8%, Li 2 O 12.8%, Na 2 O 5.5%, K 2 O 3.4 %.
Specific gravity: 2.47
Acid resistance: 0.1 mg / cm 2
Annealing point: 520 ° C
Crack generation rate p: 10%

基板ガラスの物性は以下の方法で評価した。
(1)耐酸性(mg/cm
ガラスの耐酸性は、90℃、0.1N塩酸に基板ガラスを20時間浸漬した後の重量減少量を測定し、試料表面積で除して求めた。
The physical properties of the substrate glass were evaluated by the following methods.
(1) Acid resistance (mg / cm 2 )
The acid resistance of the glass was determined by measuring the weight loss after immersing the substrate glass in 0.1N hydrochloric acid at 90 ° C. for 20 hours and dividing by the sample surface area.

(2)徐冷点(℃)
基板ガラスの徐冷点は、ASTM C336の方法に基づいて測定した。
(2) Slow cooling point (° C)
The annealing point of the substrate glass was measured based on the method of ASTM C336.

(3)クラック発生率p(%)
基板ガラスのクラック発生率pは次のようにして測定した。ガラスを平均粒径2mmの酸化セリウム砥粒で研磨後、平均粒径20nmのコロイダルシリカ砥粒で研磨し、厚さが1〜2mm、大きさが4cm×4cm、表面粗さRaが15nm以下であるガラス板を作製した。
(3) Crack generation rate p (%)
The crack occurrence rate p of the substrate glass was measured as follows. After polishing the glass with a cerium oxide abrasive having an average particle diameter of 2 mm, the glass is polished with a colloidal silica abrasive having an average particle diameter of 20 nm, the thickness is 1 to 2 mm, the size is 4 cm × 4 cm, and the surface roughness Ra is 15 nm or less. A glass plate was produced.

前記ガラス板を、徐冷点またはガラス転移点で30分保持後、1℃/分またはそれ以下の速度で室温まで冷却した。該ガラス板の表面に、23℃、相対湿度70%に制御した室内において荷重1000gでビッカース圧子を打ち込み、その4つの頂点から発生したクラック本数を測定した。この測定を10回繰り返し、100×(前記クラック本数の合計)÷40をpとした。   The glass plate was held at a slow cooling point or a glass transition point for 30 minutes, and then cooled to room temperature at a rate of 1 ° C./min or less. On the surface of the glass plate, a Vickers indenter was driven at a load of 1000 g in a room controlled at 23 ° C. and a relative humidity of 70%, and the number of cracks generated from the four apexes was measured. This measurement was repeated 10 times, and 100 × (total number of cracks) ÷ 40 was defined as p.

(評価方法)
基板ガラス1および2について、下記条件の内周エッチング試験を行った。基板ガラスの異物欠点の有無を、光学顕微鏡を用いて調べた。基板ガラスの異物欠点の成分は、走査電子顕微鏡により調べた。走査電子顕微鏡では成分は判明するものの、化合物同定には至らなかった。そこで基板ガラスの異物欠点の化合物同定は、顕微ラマン分光装置により調べた。
(Evaluation method)
The substrate glass 1 and 2 were subjected to an inner circumference etching test under the following conditions. The presence or absence of foreign matter defects in the substrate glass was examined using an optical microscope. The component of the foreign substance defect of the substrate glass was examined by a scanning electron microscope. Although the components were found with a scanning electron microscope, the compounds were not identified. Therefore, the compound identification of the foreign substance defect of the substrate glass was examined by a micro Raman spectroscope.

〔内周エッチング試験〕
濃フッ酸:濃硝酸:水=1:2:7(液A)と濃フッ酸:濃硫酸:水=1:1:8(液B)を用意し、25℃の液Aと液Bを用いて基板ガラス1、2をそれぞれ2分間エッチングした後、光学顕微鏡(オリンパス社製MX50)により観察した結果、異物の存在を確認した。
[Inner etching test]
Concentrated hydrofluoric acid: concentrated nitric acid: water = 1: 2: 7 (liquid A) and concentrated hydrofluoric acid: concentrated sulfuric acid: water = 1: 1: 8 (liquid B) were prepared, and liquid A and liquid B at 25 ° C. were prepared. The substrate glasses 1 and 2 were etched for 2 minutes each and then observed with an optical microscope (MX50 manufactured by Olympus Corporation). As a result, the presence of foreign matter was confirmed.

その結果、液Aでエッチングしたときは基板ガラス1、2のいずれでも異物の存在は認められなかったが、液Bでエッチングしたときは基板ガラスでは異物の存在は認められなかったが、基板ガラスでは異物の存在が認められた。 As a result, no foreign matter was observed in either of the substrate glasses 1 and 2 when etched with the liquid A, but no foreign matter was found in the substrate glass 2 when etched with the liquid B. In glass 1 , the presence of foreign matter was observed.

また、基板ガラスの異物を走査電子顕微鏡(日立ハイテク社製S4700)により分析した結果、ガラス成分以外に、硫黄、並びにCaおよびSrなどのアルカリ土類金属が多く検出された。さらに、顕微ラマン分光装置(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製Nicolet Almega)で異物を同定したところ、硫酸カルシウム若しくは硫酸ストロンチウム、またはそれらの混合塩であることが確認された。 Moreover, as a result of analyzing the foreign material of the substrate glass 1 with a scanning electron microscope (S4700, manufactured by Hitachi High-Tech), a large amount of sulfur and alkaline earth metals such as Ca and Sr were detected in addition to the glass component. Further the identification of foreign matter Raman spectrometer (Thermo Fisher Scientific Inc. Nicolet Almega), was confirmed to be the calcium sulfate or strontium sulfate or mixed salts thereof.

本発明は磁気ディスク、情報記録媒体用ガラス基板の製造に利用できる。   The present invention can be used for manufacturing a magnetic disk and a glass substrate for an information recording medium.

Claims (3)

モル百分率表示で、SiOを62〜74%、Alを7〜18%、Bを2〜15%含有し、MgOを0〜10%、CaO、SrOおよびBaOのいずれか1成分以上を合計で1〜21%含有し、MgO、CaO、SrOおよびBaOの含有量合計が8〜21%、上記7成分の含有量合計が95%以上であり、LiO、NaOおよびKOの含有量合計が1%未満であるガラス板をガラス円板に加工する円板加工工程、ガラス円板の主表面をラッピングするラッピング工程、ガラス円板のラッピングされた主表面を研磨する主表面研磨工程およびこれら工程間、これら工程内もしくはこれら工程後においてガラス円板を表面処理する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法であって、
前記表面処理が洗浄であり、前記洗浄に用いる処理液が、硝酸、酢酸、塩酸、過塩素酸、プロピオン酸、酪酸、酒石酸、マロン酸、リンゴ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸、クエン酸、アスコルビン酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、アルキルスルフォン酸およびアルキルホスホン酸から選ばれる少なくとも1を含み、酸の含有量が10 −6 〜10 −4 mol/Lである情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
A molar percentage display, the SiO 2 62-74% of Al 2 O 3 7~18%, B 2 O 3 and containing 2-15%, the MgO 0% CaO, or SrO and BaO It contains 1 to 21% in total of one or more components, the total content of MgO, CaO, SrO and BaO is 8 to 21%, the total content of the seven components is 95% or more, Li 2 O, Na 2 A disk processing step of processing a glass plate having a total content of O and K 2 O of less than 1% into a glass disc, a wrapping step of wrapping the main surface of the glass disc, and a main surface of the glass disc that has been wrapped A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising a main surface polishing step for polishing the surface and a step of surface-treating the glass disk during or after these steps,
The surface treatment is cleaning, and the processing solution used for the cleaning is nitric acid, acetic acid, hydrochloric acid, perchloric acid, propionic acid, butyric acid, tartaric acid, malonic acid, malic acid, succinic acid, fumaric acid, maleic acid, citric acid , ascorbic acid, hydrobromic acid, hydroiodic acid, see contains at least one selected from alkyl sulfonic acids and alkyl phosphonic acid, acid content is 10 -6 ~10 -4 mol / L information recording medium Method for manufacturing glass substrate.
フロート法、プレス法、フュージョン法またはダウンドロー法を用いてガラス板を製造する請求項に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。 Float process, a pressing method, a fusion method or process for producing a glass substrate for information recording medium according to claim 1 for producing a glass plate using a down-draw method. 情報記録媒体が磁気ディスクである請求項1または2に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。 The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1 or 2 , wherein the information recording medium is a magnetic disk.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6353524B2 (en) * 2014-03-31 2018-07-04 Hoya株式会社 Substrate manufacturing method
CN107298534A (en) * 2017-05-16 2017-10-27 蚌埠市宏大制药机械有限公司 A kind of preparation method of centrifuge visor safety glass

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3804101B2 (en) * 1995-04-27 2006-08-02 旭硝子株式会社 Glass substrate for magnetic disk
JP4815688B2 (en) * 2000-10-31 2011-11-16 旭硝子株式会社 Aluminoborosilicate glass for LCD
JP2002150547A (en) * 2000-11-06 2002-05-24 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method for manufacturing glass substrate for information recording medium
JP4185266B2 (en) * 2001-07-25 2008-11-26 Hoya株式会社 Manufacturing method of substrate for information recording medium
JP2003212603A (en) * 2002-01-18 2003-07-30 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method for manufacturing glass substrate for information recording medium
JP4336524B2 (en) * 2002-05-31 2009-09-30 Hoya株式会社 Method for producing glass substrate for information recording medium
US7384870B2 (en) * 2002-05-31 2008-06-10 Hoya Corporation Method for manufacturing glass substrate
US7611639B2 (en) * 2002-10-23 2009-11-03 Hoya Corporation Glass substrate for information recording medium and method for manufacturing same
JP4941872B2 (en) * 2003-09-02 2012-05-30 日本電気硝子株式会社 Transparent alkali-free glass substrate for liquid crystal display
JP4378769B2 (en) * 2003-09-18 2009-12-09 日本電気硝子株式会社 Glass substrate
JP4923556B2 (en) * 2005-12-16 2012-04-25 日本電気硝子株式会社 Glass substrate for information recording media
JP5423674B2 (en) * 2008-06-25 2014-02-19 旭硝子株式会社 Etching method and display device of alkali-free glass substrate
WO2012001924A1 (en) * 2010-06-29 2012-01-05 コニカミノルタオプト株式会社 Process for producing glass substrate for information-recording medium

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