JP5750745B1 - 触覚センサ - Google Patents
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前記対象物に対して照射される低周波側と高周波側の超音波の周波数、および狭領域と広領域の超音波の存在領域が設定され、前記触覚センサを前記対象物の表面に接触させながら移動させて接触表面に各超音波を照射させ、前記対象物の表面からの反射波について、低周波かつ広領域の反射波Aと高周波かつ狭領域の反射波Bを受信するとともに、該反射波Aに係る照射波と反射波Bに係る照射波が前記対象物の表面への照射直前または反射後において重畳した反射波Cとして受信し、反射波A〜Cに係る波高を演算し、前記対象物の表面の粗さおよびうねりを推定し、該推定を基に触覚を評価することを特徴とする。
両探触子単独での夫々の反射エコー高さ変動と同じ変動を得ることができる。加えて探触子AとBへの超音波が干渉している箇所がある場合には,2つ(それ以上)の超音波の干渉波でのエコー高さ変動を得ることができるとともに、干渉を生じさせるタイミングを調整するために,一方の探触子へ電圧を印加する時間やタイミングを調整したり,伝播の距離(相手面との距離)を調整したりすることができる。また、超音波探触子と対象物を所定の距離(ここでは「近距離音場限界距離」という)以内の位置に設置した場合、反射波の反射波高分布(音圧分布)が,近距離音場限界距離を超えたときの反射波高分布と大きく変わることを利用した。つまり、後者において平坦でほぼ等しい音圧分布となり,前者において複数の局所高音圧箇所を持つ音圧分布となる。本発明は、こうした特性を生かし、対象物との距離および時間の相違する複数の探触子を設けることによって、対象物との接触の違いや細かな粗さの分布を感度良く検知できることになり,より細かな表面の粗さおよびウネリ(以下「表面性状」ということがある)の把握が可能となった。後述するように、同一領域に照射された超音波の反射波は、該領域とこれを受信した超音波探触子との距離によって、受信された音圧分布が変化する。ここでいう「近距離音場限界距離」とは、音圧が平坦でほぼ等しい領域を有する音圧分布を形成する距離と複数箇所に音圧の高い場所を有する音圧分布を形成する距離との境界となる距離をいう。
上記のように、対象物と探触子が「近距離音場限界距離」内に設置された場合の音場が、照射領域内で複雑に変動し、複数箇所に音圧の高い場所が現れることを利用することにより,対象物の略同一領域において、複数の局所高音圧箇所を持たすことが可能となる。従って、そこ(極端に狭い領域)での相手面との接触の違いを感度良く検知できることになり、より細かな表面性状の把握が可能になる。狭領域の探触子の照射領域中心近傍での音圧が平坦でほぼ等しくなる場合は後述する。本発明は、反射波Aに係る超音波探触子および反射波Bに係る超音波探触子を有する構成に加え、反射波Dに係る超音波探触子を対象物の表面に近接して設けることによって、こうした対象物の表面の微細状態を高精度に計測することが可能となる。
触覚センサを対象物の表面に接触させながら移動させて得られた対象物の表面からの反射波に係る情報は、超音波探触子からの照射量によって変化するとともに、時間の関数として現される。本発明は、反射波Aに係る超音波探触子からの照射量と反射波Bに係る超音波探触子からの照射量を変化させて、各超音波探触子が受信する反射波Aと反射波Bの波高の比を変化させることによって、対象物の表面の粗さおよびうねりの程度を推定し、該推定を基に触覚を評価することが可能となった。また、2つの異なる周波数と照射領域の超音波を照射した場合、その反射波に係る情報は、それぞれ固有の時間の関数として現される。本発明者は、2つの異なる周波数と照射領域の超音波を照射し、その反射波A,Bを重畳させた場合、その重畳した反射波Cに係る情報をフーリエ変換することによって、反射波Aおよび反射波Bに係る情報に分離することができることを見出した。従って、分離された反射波Aに係る情報と反射波Bに係る情報から、対象物の表面の粗さおよびうねりを推定し、該推定を基に触覚を評価することが可能となった。これらは、いずれかのみの比率を変化させることで、反射波Aに係る情報と反射波Bに係る情報の比率を変化させることができるとともに、両方を組合せることによって、より精度の高い対象物の表面の粗さおよびうねりの程度を推定することができる。
最初に、本センサを用いた表面状態の計測原理を説明する。図1は、所定の表面状態を有する対象物の表面に超音波を照射しながら所定の距離本センサまたは対象物を移動した場合の、反射波Aに係る照射領域と反射波Bに係る照射領域が重なり合う領域での反射波を受信した探触子の受信強度(振幅)/周波数特性の模式図を例示する。低周波領域L(例えば0.1〜2MHz)の超音波が広い領域に照射された場合では、対象物との接触表面の長周期の平均的な凹凸の情報(ウネリ)が得られ、徐々に周波数が高くなるに従い、接触表面の細かな凹凸が計測され、高周波領域H(例えば5MHz以上)の超音波が狭い領域に照射された場合では、表面のさらに細かな表面粗さの情報(粗さ)が得られる。
図2(A)、(C)は、本センサを構成する探触子の基本的な特性を例示する模式図である。対象物Mの表面Maに接触するように、本センサ10が載置されている。本センサ10は、軟質性の超音波透過性材料からなる透過体1と、その一端に形成され表面Maと接触する接触表面2と、他端の位置に装着された探触子3(3a,3b)と、を有する。探触子3は、駆動部(図示せず)によって駆動され、所定の周波数の超音波を発信し、接触表面2において反射された反射波を受信した探触子3からの信号は、コンピュータを中核として構成される計測装置(図示せず)により計測される。
(ア)反射波Aと反射波Bが干渉しない場合
両者の受信量(出力)を加算(演算)して触覚情報とするとともに、演算比率または超音波の照射量を変えることによって、触覚に関する個人差を実現することができる。
(イ)反射波Aと反射波Bが干渉した場合
干渉した反射波(反射波C)は、後述するように、人間の触覚に非常に近い情報として安定的に取り出すことができる。また、両者および重畳部分の受信量(出力)を加算(演算)して触覚情報とするとともに、演算比率または超音波の照射量を変えることによって個人差を実現することができる。
図4(A)〜(C)は、高周波で狭領域の反射波Bに係る探触子3bと対象物Mとの距離を変化させた場合の音圧分布の変化を例示する。図4(A)は、実際に探触子3bから発信された超音波における、濃淡をつけて音圧分布を模式的に例示したものである。探触子3bから近距離音場限界距離以内Dcでは複数箇所に音圧の高い場所が現れ、これを超えた距離Dbにおいては音圧が平坦でほぼ等しい領域が見られる。図4(B),(C)は、対象物Mとの距離を、近距離音場限界距離より短くした場合の音圧分布の変化を例示する。図4(B)のように、探触子3と対象物Mとの距離Dbにおいては、探触子3bの照射領域中心近傍(ガウス分布の頂上付近)の領域Raで、平坦でほぼ等しい音圧分布Saとなる。一方、図4(C)のように、探触子3bと対象物Mとの距離Dc内においては、照射領域内Rcで複雑に変動し,複数箇所に音圧の高い音圧分布Scとなる。大きな音圧の変動が現れる音圧分布Scを、平坦でほぼ等しい音圧分布Saの代わりに用いるか、もしくは組合せて演算(加算)することによって、この領域での対象物との接触の違い(触覚)を感度良く検知できることになり,音圧分布Saの場合よりさらに細かな表面性状の把握を行うことができる。
本センサにおいては、上記の表面状態の計測原理を用い、反射波Aと反射波Bが干渉した反射波Cを計測することによって、対象物の表面状態を人間の触覚に近い情報として計測することができる。具体的には、図5(A)〜(C)に例示するような本センサ10の構成例を挙げることができる。本センサ10において、反射波Aに係る照射波と反射波Bに係る照射波が、対象物Mの表面Maへの照射直前または反射後において重畳(干渉)し、反射波Cとして受信することができる。探触子3a,3bが他の反射波の影響を受けずに受信した情報から、互いに干渉せずに実測した反射波Aからの情報と反射波Bからの情報を得るとともに、探触子3cによって、反射波Aに係る情報と反射波Bに係る情報が干渉された反射波Cに係る情報として、直接的に得ることができる(実質的に演算されたものと同様の情報として取り出すことができる)。
T(i)=Ai×f+B×(1−f) [式1]
ここで、例えば、多くの人間の平均的な触覚に対応した演算比率foを設定することによって、個人差が補正された表面状態に対する客観性の高い触覚として評価することができる。具体的には、表面Maの状態を、波高Aiによって「粗さ」の大小あるいは波高Biによって「ウネリ」の大小等の触覚として評価するとともに、演算比率foにおいて、波高値Toとなる表面状態であるとして評価することができる。また、予め特定の個人間の触覚について計測し得られた各情報から演算比率fiを設定し、個人にあった触覚に近い情報として表面状態を評価することができる。また、波高値T(i)ではなく、これを時間あるいは本センサ10の移動距離で微分した変動値ΔT(i)で表面状態を評価することができる。波高値T(i)は、例えば押圧あるいは柔軟性の大小に相当する評価基準とし、変動値ΔT1は、例えば表面の凹凸あるいは鋭鈍の大小に相当する評価基準として用いることができる。また、反射波Aに係る情報と反射波Bに係る情報が独立して得られることから、演算比率fを設定して表面状態を評価する方法を示したが、探触子3a,3bに印加される、それぞれのPowerまたは印加時間(照射時間)を変動させ、探触子3a,3bから照射される超音波のDuty(所定時間内における照射時間と停止時間の比率)の比率を設定することによって、同様の機能を実現することができる。
図6は、本センサ10の他の構成例を示す。本センサ10は、反射波Aに係る探触子3aまたは反射波Bに係る探触子3bよりも接触表面Maからの距離が短く、近距離音場限界距離よりも短い位置に、反射波Dに係る探触子3dが設けられたことを特徴とする。上記のように、探触子3と対象物Mとの距離によって探触子3における音圧分布等の特性が大きく変化し、特に近距離音場限界距離Dc以内では非常に細かな表面性状の把握を行うことができる。第3構成例では、反射波Dに係る探触子3dを近距離音場限界距離以内Ddに設けることによって、より細かな表面性状の把握ができるという優れた機能を有する本センサ10を構成することができる。
透過体1は、本センサ10に適用可能な周波数領域の超音波透過性と軟質性を有し、探触子3を接触表面2との位置関係が略一定となる条件で保持することができる定形性を維持するとともに、対象物Mの表面Maの凹凸に追随して変形する接触表面2を有する。こうした要件を具備すれば、素材や形状等を限定するものではない。また、対象物Mの素材や表面状態等によって、種々の素材や形状を選択することができる。例えば、人間や動物の指先を透過体1とすることができる。爪の一部に探触子3を固定し、指腹を接触表面2とすることによって、超音波透過性の優れた本センサ10を構成することができる。あるいは、シリコンやシリコン系樹脂またはポリビニルアルコール(PVA)などの機能性高分子や澱粉などの天然高分子等の成形体を用いることによって、対象物Mの形状や表面状態に適した材料および形状を作製することができる。
図7(A)は、反射波Aに係る探触子3aと反射波Bに係る探触子3bによって挟まれる配置に、反射波Cに係る探触子3cが配設された構成を例示する。探触子3aでは反射波Aのみを受信し、探触子3bでは反射波Bのみを受信するとともに、反射波Aと反射波Bが重畳された反射波Cのみを探触子3cによって受信することができる。例えば、中央の軸心方向に移動させ、その方向に合せて超音波の照射のタイミングを合わせることによって、略同一領域に絞り込まれた領域からの反射波の情報として受信することができる。つまり、探触子3aによってその領域を含む広い領域の「ウネリ」を計測し、探触子3bによって絞り込まれた狭い領域における「粗さ」を計測することができると同時に、探触子3cによって実質的に同一領域における「粗さ」と「ウネリ」に係る情報が重畳された情報を計測することができる。
2 接触表面
3,3a,3b,3c 超音波探触子(探触子)
3a’,3b’ 仮想の探触子
10 触覚センサ(本センサ)
M 対象物
Ma 対象物の表面
Sa,Sb 反射波高分布(音圧分布)
Claims (4)
- 軟質性の超音波透過性材料を介在して、一端に形成され対象物の表面と接触する接触表面と、該接触表面に対向する他端の位置に装着された複数の超音波探触子と、を有する触覚センサであって、
前記対象物に対して照射される低周波側と高周波側の超音波の周波数、および狭領域と広領域の超音波の照射領域が設定され、前記触覚センサを前記対象物の表面に接触させながら移動させて接触表面に各超音波を照射させ、前記対象物の表面からの反射波について、低周波かつ広領域の反射波Aと高周波かつ狭領域の反射波Bを受信するとともに、該反射波Aに係る照射波と反射波Bに係る照射波が前記対象物の表面への照射直前または反射後において重畳した反射波Cとして受信し、反射波A〜Cに係る波高を演算し、前記対象物の表面の粗さおよびうねりを推定し、該推定を基に触覚を評価することを特徴とする触覚センサ。 - 前記対象物への超音波の照射時間、および/または前記超音波探触子と対象物との距離を、前記反射波Aに係る超音波探触子と反射波Bに係る超音波探触子で変えて照射し、前記対象物の表面の粗さおよびうねりを推定し、該推定を基に触覚を評価することを特徴とする請求項1に記載の触覚センサ。
- 前記反射波Aに係る超音波探触子または前記反射波Bに係る超音波探触子よりも前記接触表面からの距離が短く、近距離音場限界距離よりも短い位置に、反射波Dに係る超音波探触子が設けられ、前記対象物の表面に照射された前記反射波Dを受信した反射波Dに係る波高を演算し、前記対象物の表面の粗さおよびうねりを推定し、該推定を基に触覚を評価することを特徴とする請求項1または2に記載の触覚センサ。
- 前記反射波Aに係る超音波探触子からの照射量と前記反射波Bに係る超音波探触子からの照射量を変化させて、各超音波探触子が受信する反射波Aと反射波Bの波高から、前記対象物の表面の粗さおよびうねりの程度を推定し、
または/および受信された前記反射波Cの波高成分をフーリエ変換して、前記反射波Aに係る波高と反射波Bに係る波高に分離し、前記反射波Aに係る波高と反射波Bに係る波高の演算比率を変えて演算することによって、前記対象物の表面の粗さおよびうねりを推定し、
該推定を基に触覚を評価することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の触覚センサ。
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