JP5658018B2 - Ophthalmic examination equipment - Google Patents

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本発明は、被検者眼を検査する眼科検査装置に関する。   The present invention relates to an ophthalmic examination apparatus for examining a subject's eye.

眼科検査装置の一つである眼圧計は、眼圧を検査する。そして、測定された眼圧は、緑内障の診断などに用いられる。   A tonometer, which is one of ophthalmic examination apparatuses, examines intraocular pressure. The measured intraocular pressure is used for glaucoma diagnosis and the like.

非接触式眼圧計は、ノズルから角膜に向けて流体を噴射したときの角膜の変形状態を検出することにより眼圧を非接触にて測定する。特許文献1の眼圧計は、角膜の変形状態を観察及び記録する観察システムを有し、変形していない及び/又は変形している角膜の画像を記録する。ただし、このような装置であっても、眼内の状態を観察するという点では改善の余地がある。   The non-contact tonometer measures the intraocular pressure in a non-contact manner by detecting the deformation state of the cornea when a fluid is ejected from the nozzle toward the cornea. The tonometer of Patent Document 1 has an observation system that observes and records the deformed state of the cornea, and records an image of the cornea that is not deformed and / or deformed. However, even such an apparatus has room for improvement in terms of observing the state in the eye.

特開2006−231052号公報JP 2006-231052 A

本発明は、上記点を改善する新規の眼科検査装置を提供することを技術課題とする。   This invention makes it a technical subject to provide the novel ophthalmic examination apparatus which improves the said point.

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。   In order to solve the above problems, the present invention is characterized by having the following configuration.

圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する第1信号を経時的に検出する検出手段備える。

Comprising a detection means for detected over time the first signal associated with the fundus of the pressurized eye with pressurizing means.

本発明によれば、加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する情報が得られる。   According to the present invention, information related to the fundus of the eye pressurized by the pressurizing means is obtained.

以下、本発明の実施形態について図面に基づいて説明する。図1は本実施形態に係る眼科検査装置の具体例を示す概略図である。図2は角膜の変形状態を検出する光学系の具体例を示す図であって、ノズル付近の光学系を上方より見た図である。図3は制御系の具体例を示すブロック図である。なお、図1中におけるX方向は左右方向、Y方向は上下方向、Z方向は前後方向を表す。以下の測定系及び光学系は、図示無き筐体に内蔵されている。また、その筐体は、周知のアライメント用移動機構により、被検者眼Eに対して三次元的に移動されてもよい。また、手持ちタイプ(ハンディタイプ)であってもよい。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram showing a specific example of an ophthalmic examination apparatus according to this embodiment. FIG. 2 is a view showing a specific example of an optical system for detecting the deformed state of the cornea, and is a view of the optical system near the nozzle as viewed from above. FIG. 3 is a block diagram showing a specific example of the control system. In FIG. 1, the X direction represents the left-right direction, the Y direction represents the up-down direction, and the Z direction represents the front-rear direction. The following measurement system and optical system are built in a housing (not shown). Further, the housing may be moved three-dimensionally with respect to the subject's eye E by a known alignment moving mechanism. Moreover, a hand-held type (handy type) may be used.

本実施形態に係る眼科検査装置の概略について説明する。本装置は、例えば、加圧ユニット10、眼底検出系100、角膜検出系200(図2参照)、を含む。   An outline of the ophthalmic examination apparatus according to the present embodiment will be described. The apparatus includes, for example, a pressure unit 10, a fundus detection system 100, and a cornea detection system 200 (see FIG. 2).

加圧ユニット10は、眼Eを加圧する。加圧ユニット10として、例えば、図1に図示された空気圧縮機構の他、超音波を角膜Ecに向けて発するトランスデューサ、など加圧ユニットが用いられる。加圧する方向は、例えば、眼軸方向、眼軸に対して傾斜する方向である。なお、加圧ユニット10は、角膜Ecを変形させる程度の圧力を眼Eに対して加える構成が好ましい。その他、角膜Ecがわずかに振動する程度に微弱な圧力を眼Eに対して加える構成であってもよい。   The pressurizing unit 10 pressurizes the eye E. As the pressure unit 10, for example, a pressure unit such as a transducer that emits ultrasonic waves toward the cornea Ec in addition to the air compression mechanism illustrated in FIG. 1 is used. The direction of pressurization is, for example, an eye axis direction and a direction inclined with respect to the eye axis. The pressurizing unit 10 is preferably configured to apply a pressure to the eye E that deforms the cornea Ec. In addition, the structure which applies weak pressure to the eye E to such an extent that the cornea Ec vibrates slightly may be sufficient.

眼底検出系100は、加圧ユニット10によって加圧された眼の眼底に関連する第1信号を検出するために設けられている。眼底検出系100は、例えば、第1信号を経時的に検出する。眼底検出系100として、好ましくは、図1に図示されるように、眼底から反射された光と他の光との干渉状態を検出する干渉光学系100aが用いられる。   The fundus detection system 100 is provided for detecting a first signal related to the fundus of the eye pressurized by the pressure unit 10. For example, the fundus detection system 100 detects the first signal over time. As the fundus detection system 100, an interference optical system 100a that detects an interference state between light reflected from the fundus and other light is preferably used as shown in FIG.

干渉光学系(光干渉計)100aは、光源102、光分割器(例えば、図示されたカップラー104)、検出器120を含む。干渉光学系100aは、光源102から出射された光を光分割器によって分割し、分割された光の少なくとも一方を眼Eに照射する。そして、眼底から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器120にて検出する。検出器120から出力信号に基づいて眼底Efの状態が検出される。   The interference optical system (optical interferometer) 100 a includes a light source 102, a light splitter (for example, the illustrated coupler 104), and a detector 120. The interference optical system 100a divides the light emitted from the light source 102 by the light splitter, and irradiates the eye E with at least one of the divided lights. Then, the detector 120 detects an interference state between the light reflected from the fundus and other light. The state of the fundus oculi Ef is detected based on the output signal from the detector 120.

例えば、深さ方向における眼底の位置が検出される。これにより、角膜に力が加えられるとき、眼底の位置が検出される。また、高い精度にて眼底の状態が検出される。なお、ドップラー干渉計として眼底の位置変化に関する速度(例えば、眼底の変形の応答速度)を検出しても良い。   For example, the position of the fundus in the depth direction is detected. Thereby, when force is applied to the cornea, the position of the fundus is detected. In addition, the state of the fundus is detected with high accuracy. Note that the Doppler interferometer may detect a speed related to a change in the position of the fundus (for example, a response speed of deformation of the fundus).

干渉光学系100aは、例えば、眼によって反射された光と,装置内で形成された参照光と、の間の干渉状態を検出する。干渉光学系100aは、眼によって反射された2つの光(例えば、角膜反射と眼底反射)の間の干渉状態を検出する構成であってもよい。   The interference optical system 100a detects, for example, an interference state between light reflected by the eye and reference light formed in the apparatus. The interference optical system 100a may be configured to detect an interference state between two lights (for example, corneal reflection and fundus reflection) reflected by the eye.

干渉光学系100aは、眼底Efのある一点上に関する干渉信号を検出する干渉計であってもよいし、眼底の横断方向に関する複数の干渉信号を検出する干渉計であってもよい。また、干渉光学系100aは、眼底の検出に加えて、角膜の状態を検出するようにしてもよい。さらに、干渉光学系100aは、眼Eの眼軸長を計測する干渉光学系であってもよい。   The interference optical system 100a may be an interferometer that detects an interference signal related to one point on the fundus oculi Ef, or may be an interferometer that detects a plurality of interference signals related to the transverse direction of the fundus oculi. In addition to detecting the fundus, the interference optical system 100a may detect the state of the cornea. Further, the interference optical system 100a may be an interference optical system that measures the axial length of the eye E.

なお、眼底検出系100には、光検出器に限定されず、X線、磁気などの検出波を送受信することにより眼底Efの情報を得る構成が用いられる。角膜が加圧されるとき、眼の深さ方向に関して力が働くので、眼底検出系100は、深さ方向に関する眼底の変化(例えば、位置の変化、変化の速度)を検出できるデバイスであることが好ましい。   Note that the fundus detection system 100 is not limited to a photodetector, and uses a configuration that obtains information on the fundus oculi Ef by transmitting and receiving detection waves such as X-rays and magnetism. Since force acts in the depth direction of the eye when the cornea is pressurized, the fundus detection system 100 should be a device that can detect changes in the fundus (eg, position change, speed of change) in the depth direction. Is preferred.

角膜検出系200は、加圧ユニット10によって加圧された眼Eの角膜Ecに関連する第2信号を検出するために設けられている。角膜検出系200として、例えば、図2に図示された光学系の他、角膜断面像を撮像する撮像ユニット(例えば、シャインプルーフカメラ、OCT、スリットランプ)などの光検出器が用いられる。そして、光検出器からの検出信号に基づいて、加圧される角膜Ecの状態が検出される。なお、角膜検出系200には、光検出器に限定されず、X線、磁気エネルギーなどの放射体を送受信することにより角膜Ecの情報を得る構成が用いられる。   The cornea detection system 200 is provided to detect a second signal related to the cornea Ec of the eye E pressurized by the pressure unit 10. As the cornea detection system 200, for example, a light detector such as an imaging unit (for example, Scheimpflug camera, OCT, slit lamp) that captures a cross-sectional image of the cornea is used in addition to the optical system illustrated in FIG. Based on the detection signal from the photodetector, the state of the pressurized cornea Ec is detected. The cornea detection system 200 is not limited to a photodetector, and a configuration is used in which information on the cornea Ec is obtained by transmitting and receiving a radiator such as X-rays or magnetic energy.

なお、第1信号の検出と第2信号の検出は、同じ検出系によって実行されてもよい。例えば、干渉光学系100aは、第1信号の検出と第2信号の検出を兼用してもよい。干渉光学系100aは、角膜から反射された光と、他の光との干渉状態を検出器にて検出する。   Note that the detection of the first signal and the detection of the second signal may be performed by the same detection system. For example, the interference optical system 100a may combine detection of the first signal and detection of the second signal. The interference optical system 100a detects the interference state between the light reflected from the cornea and other light with a detector.

制御部80(図3参照)は、加圧ユニット10、眼底検出系100、角膜検出系200を制御する。制御部80は、眼底検出系100によって検出された第1信号を用いて,眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する。制御部80は、眼底検出系100によって検出された第1信号と角膜検出系200によって検出された第2信号とを用いて、眼内圧、眼全体の硬さの少なくともいずれかを計測しても良い。制御部80は、加圧された眼の応答結果を用いて眼の特性を検査する。本装置は、例えば、眼圧計、眼の硬さ計、眼底の硬さ計、眼軸長測定器の少なくともいずれかの装置として利用される。   The control unit 80 (see FIG. 3) controls the pressurizing unit 10, the fundus detection system 100, and the cornea detection system 200. Using the first signal detected by the fundus detection system 100, the control unit 80 measures at least one of intraocular pressure, whole eye hardness, fundus hardness, and axial length. The control unit 80 may measure at least one of the intraocular pressure and the hardness of the entire eye using the first signal detected by the fundus detection system 100 and the second signal detected by the cornea detection system 200. good. The controller 80 inspects the eye characteristics using the response result of the pressurized eye. This apparatus is used as at least one of a tonometer, an eye hardness meter, a fundus hardness meter, and an axial length measuring device, for example.

例えば、眼底検出系100は、角膜が加圧されている間の眼底Efの状態を観察できる。また、眼底検出系100は、角膜が加圧される前、又は角膜が加圧された後の眼底の状態を観察できる。眼底検出系100は、角膜への加圧に関連した眼底の評価に利用される。   For example, the fundus detection system 100 can observe the state of the fundus oculi Ef while the cornea is being pressurized. Further, the fundus detection system 100 can observe the state of the fundus before the cornea is pressurized or after the cornea is pressurized. The fundus detection system 100 is used for evaluation of the fundus associated with pressurization on the cornea.

角膜が加圧されたときに生じる波は、前房、水晶体、硝子体などの眼内媒質を伝搬した後、眼底に到達する。したがって、眼底検出系100は、このような波を受けた眼底の状態を観察できる。   A wave generated when the cornea is pressurized propagates through an intraocular medium such as the anterior chamber, the crystalline lens, and the vitreous body, and then reaches the fundus. Therefore, the fundus detection system 100 can observe the state of the fundus that has received such a wave.

これによれば、角膜が加圧されたときに生じる波を受けた眼底の状態と,眼内圧との関係が評価される。また、眼内圧に起因する眼内物質の硬さをより考慮した評価が可能となる。例えば、眼内圧が高い場合、圧縮によって眼内物質が硬くなり、波は眼底に伝達やすい。このため、眼底の変形量が大きい。一方、眼内圧が低い場合、眼内物質は柔らかく、波は眼底に伝達されにくい。このため、眼底の変形量が小さくなる。ここで、角膜に圧力が加えられたときの眼底の変化は、眼内圧が影響するから、眼底の状態を観察することによって、眼全体の圧力を考慮した眼圧測定が可能となる。   According to this, the relationship between the state of the fundus that has received waves generated when the cornea is pressurized and the intraocular pressure is evaluated. In addition, it is possible to evaluate in consideration of the hardness of the intraocular substance caused by the intraocular pressure. For example, when the intraocular pressure is high, the intraocular substance is hardened by the compression, and the wave is easily transmitted to the fundus. For this reason, the amount of deformation of the fundus is large. On the other hand, when the intraocular pressure is low, the intraocular substance is soft and the waves are not easily transmitted to the fundus. For this reason, the amount of deformation of the fundus is reduced. Here, the change in the fundus when pressure is applied to the cornea is influenced by the intraocular pressure. Therefore, by observing the state of the fundus, it is possible to measure the intraocular pressure in consideration of the pressure of the entire eye.

また、加圧された眼の眼底の状態を観察することによって、眼底の硬さ(例えば、眼底側強膜の硬さ)に関する評価が可能となる。例えば、眼底側強膜が硬い場合、眼底の変形量が小さい。一方、眼底側強膜が柔らかい場合、眼底の変形量が大きい。なお、眼内圧と眼底の硬さに関する評価を総合的に行うことも可能である。   Further, by observing the state of the fundus of the pressurized eye, it is possible to evaluate the fundus hardness (for example, the hardness of the fundus side sclera). For example, when the fundus side sclera is hard, the deformation amount of the fundus is small. On the other hand, when the fundus side sclera is soft, the deformation amount of the fundus is large. It is possible to comprehensively evaluate the intraocular pressure and the fundus hardness.

上記のような眼内圧、眼底の硬さに関する評価は、強度近視や緑内障などの症例に関する診断に利用できる可能性がある。例えば、眼底が柔らかければ、長眼軸長化しやすく、緑内障になりやすい可能性がある。   The evaluation regarding the intraocular pressure and fundus hardness as described above may be used for diagnosis of cases such as intense myopia and glaucoma. For example, if the fundus is soft, the length of the long eye axis is likely to increase, and glaucoma is likely to occur.

また、眼底検出系100は、力が加えられた眼Eの眼球の位置を観察できる。眼底検出系100は、角膜への加圧に関連した眼球の移動を評価するために利用される。例えば、角膜Ecへ力が加えられたとき、深さ方向における眼球の移動は、前述のように角膜Ecの状態を検出する際に影響を及ぼす可能性がある。また、角膜が振動していなくても、眼球の振動を角膜の振動と誤る可能性がある。したがって、眼底検出系100は、これらの問題の克服に利用される。   Further, the fundus detection system 100 can observe the position of the eyeball of the eye E to which force is applied. The fundus detection system 100 is used to evaluate the movement of the eyeball associated with pressurization on the cornea. For example, when a force is applied to the cornea Ec, the movement of the eyeball in the depth direction may affect the detection of the state of the cornea Ec as described above. Further, even if the cornea is not vibrating, the vibration of the eyeball may be mistaken for the vibration of the cornea. Therefore, the fundus detection system 100 is used to overcome these problems.

以下に、例えば、加圧ユニット10として空気圧縮機構、角膜検出系200として斜入射検出光学系及び干渉光学系100a、眼底検出系として干渉光学系100aを適用させた場合の実施形態の一例について説明する。   Hereinafter, an example of an embodiment in which an air compression mechanism is applied as the pressurizing unit 10, an oblique incidence detection optical system and the interference optical system 100a as the cornea detection system 200, and an interference optical system 100a as the fundus detection system will be described. To do.

<非接触式角膜加圧ユニット> 1は空気圧縮用のシリンダ部、2はピストンであり、これらは被検眼に噴出する空気を圧縮する空気圧縮機構として用いられる。3はロータリソレノイドであり、ロータリソレノイド3(以下、ソレノイド3として説明する)は駆動電流が付与されると、アーム4、コネクティングロッド(ピストンロッド)5を介してピストン2を圧縮方向(矢印A方向)に移動させる。ピストン2の移動によりシリンダ部1内の空気圧縮室34で圧縮された空気は、シリンダ1の先端に連結されるチューブ(パイプでもよい)70、圧縮された空気を収容する気密室71を介して、ノズル6から被検者眼Eの角膜に向けて噴出される。なお、シリンダ部1は水平面(XZ面)に対して平行に配置されており、ソレノイド3の駆動によってピストン2がシリンダ部1内で水平に移動されることにより空気の圧縮が行われる。   <Non-contact corneal pressurization unit> 1 is a cylinder part for air compression, 2 is a piston, and these are used as an air compression mechanism which compresses the air ejected to the eye to be examined. Reference numeral 3 denotes a rotary solenoid. When a drive current is applied to the rotary solenoid 3 (hereinafter referred to as the solenoid 3), the piston 2 is compressed in the compression direction (arrow A direction) via the arm 4 and the connecting rod (piston rod) 5. ). The air compressed in the air compression chamber 34 in the cylinder portion 1 by the movement of the piston 2 is passed through a tube (which may be a pipe) 70 connected to the tip of the cylinder 1 and an airtight chamber 71 for storing the compressed air. , And ejected from the nozzle 6 toward the cornea of the eye E of the subject. The cylinder portion 1 is disposed in parallel to the horizontal plane (XZ plane), and the piston 2 is moved horizontally in the cylinder portion 1 by driving the solenoid 3 to compress the air.

例えば、シリンダ部1はその長手方向が水平方向と平行に配置され、シリンダ部1の内面はピストン2をガイドする。このため、ピストン2の移動方向(圧縮方向)は、水平方向となる。なお、上記各構成部材は、装置本体の筐体内に設けられたステージ上にそれぞれ配置されている(図示省略)。   For example, the cylinder part 1 is arranged with its longitudinal direction parallel to the horizontal direction, and the inner surface of the cylinder part 1 guides the piston 2. For this reason, the moving direction (compression direction) of the piston 2 is the horizontal direction. Each of the above-described constituent members is disposed on a stage provided in the casing of the apparatus main body (not shown).

また、ソレノイド3には図示なきコイルバネが備えられており、付与される電流がカット又は減じられると、コイルバネの戻り方向への付勢力により、圧縮方向に移動されたピストン2が戻り方向(矢印Aの反対方向)に移動されて初期位置に戻される。また、本実施形態では、ノズル6の軸線の上方に空気圧縮機構が配置された構成(ノズル6の軸線を外した構成)となっているため、シリンダ部1まで涙等が吸込まれる可能性は少ない。   Further, the solenoid 3 is provided with a coil spring (not shown), and when the applied current is cut or reduced, the piston 2 moved in the compression direction is moved in the return direction (arrow A) by the biasing force in the return direction of the coil spring. In the opposite direction) to return to the initial position. Further, in the present embodiment, since the air compression mechanism is disposed above the axis of the nozzle 6 (a configuration in which the axis of the nozzle 6 is removed), tears and the like may be sucked into the cylinder unit 1. There are few.

8は透明なガラス板であり、ノズル6を保持するとともに、観察光やアライメント光を透過させる。また、ガラス板8は気密室71を構成する壁の一部として用いられる。9はノズル6の背面に設けられた透明なガラス板であり、気密室71の後壁を構成するとともに、観察光やアライメント光を透過させる。ガラス板9の背後には、観察・アライメント光学系11がその観察光軸及びアライメント光軸と、ノズル6の軸線が同軸になるように配置されているが、本発明とは関連が少ないため、説明は省略する。   A transparent glass plate 8 holds the nozzle 6 and transmits observation light and alignment light. The glass plate 8 is used as a part of a wall constituting the hermetic chamber 71. Reference numeral 9 denotes a transparent glass plate provided on the back surface of the nozzle 6, which constitutes the rear wall of the hermetic chamber 71 and transmits observation light and alignment light. Behind the glass plate 9, the observation / alignment optical system 11 is arranged so that the observation optical axis and the alignment optical axis and the axis of the nozzle 6 are coaxial. Description is omitted.

12は気密室71の圧力を検出する圧力センサ、13はエア抜き穴である。エア抜き穴13により、ピストン2に初速が付くまでの間の抵抗が減少され、時間に比例的な立ち上がりの圧力変化を得ることができる。   12 is a pressure sensor for detecting the pressure in the airtight chamber 71, and 13 is an air vent hole. The resistance until the initial speed is applied to the piston 2 is reduced by the air vent hole 13, and a rising pressure change proportional to time can be obtained.

<角膜検出系> 14は角膜変形検出用の赤外LED(図2参照)であり、LED14を出射した光はコリメ−タレンズ15により平行光束とされて被検眼の角膜に投光される。角膜で反射した光は受光レンズ16、ピンホ−ル板17を通過して受光素子である光検出器18に受光される。なお、角膜変形検出用の光学系は、被検眼が所定の変形状態(例えば、圧平状態)のときに光検出器18の受光量が最大となるように配置されている。すなわち、本角膜検出系は、角膜に指標を投光し、その反射光を受光することによって角膜の変形状態を検出する。   <Cornea Detection System> 14 is an infrared LED for detecting corneal deformation (see FIG. 2), and the light emitted from the LED 14 is collimated by the collimator lens 15 and projected onto the cornea of the eye to be examined. The light reflected by the cornea passes through the light receiving lens 16 and the pinhole plate 17 and is received by the photodetector 18 which is a light receiving element. The corneal deformation detection optical system is arranged so that the amount of light received by the photodetector 18 is maximized when the eye to be examined is in a predetermined deformed state (for example, an applanation state). In other words, the cornea detection system detects a deformed state of the cornea by projecting an index to the cornea and receiving the reflected light.

<干渉光学系> 図1に戻る。干渉光学系100aは、眼底に測定光を照射する。干渉光学系100aは、眼底によって反射された測定光と,参照光との干渉状態を受光素子(検出器120)によって検出する。干渉光学系100aは、光源102から出射された光束をカップラー(ビームスプリッタ)104によって測定光と参照光に分割する。そして、干渉光学系100aは、測定光学系(例えば、ダイクロイックミラー30)によって測定光を眼底Efに導き,また、参照光を参照光学系110aに導く。その後、眼底Efによって反射された測定光と,参照光とが合成された光(干渉光)を検出器(受光素子)120に受光させる。   <Interference Optical System> Returning to FIG. The interference optical system 100a irradiates the fundus with measurement light. The interference optical system 100a detects the interference state between the measurement light reflected by the fundus and the reference light by the light receiving element (detector 120). The interference optical system 100 a splits the light beam emitted from the light source 102 into measurement light and reference light by a coupler (beam splitter) 104. The interference optical system 100a guides the measurement light to the fundus oculi Ef by the measurement optical system (for example, the dichroic mirror 30), and guides the reference light to the reference optical system 110a. Thereafter, the detector (light receiving element) 120 receives light (interference light) obtained by combining the measurement light reflected by the fundus oculi Ef and the reference light.

また、干渉光学系100aは、角膜に測定光を照射する。干渉光学系100aは、角膜によって反射された測定光と,参照光との干渉状態を検出器120によって検出する。そして、干渉光学系100aは、測定光学系(例えば、ダイクロイックミラー30)によって測定光を角膜Ecに導き,また、参照光を参照光学系110bに導く。その後、角膜Ecによって反射された測定光束と,参照光とが合成された光(干渉光)を検出器120に受光させる。   The interference optical system 100a irradiates the cornea with measurement light. In the interference optical system 100a, the detector 120 detects an interference state between the measurement light reflected by the cornea and the reference light. The interference optical system 100a guides the measurement light to the cornea Ec by the measurement optical system (for example, the dichroic mirror 30), and guides the reference light to the reference optical system 110b. Thereafter, the detector 120 receives light (interference light) obtained by combining the measurement light beam reflected by the cornea Ec and the reference light.

フーリエドメインタイプの場合では、光のスペクトル強度が検出器120によって検出され、スペクトル強度に関するデータをフーリエ変換することによって深さプロファイル(Aスキャン信号)が取得される。干渉光学系100aとしては、例えば、Spectral-domain (SD方式)、Swept-source(SS方式)が挙げられる。また、Time-domain(TD方式)であってもよい。この場合、光コヒーレンストモグラフィーの技術が利用されうる。   In the case of the Fourier domain type, the spectral intensity of light is detected by the detector 120, and a depth profile (A scan signal) is obtained by Fourier-transforming data relating to the spectral intensity. Examples of the interference optical system 100a include Spectral-domain (SD system) and Swept-source (SS system). Moreover, Time-domain (TD system) may be used. In this case, a technique of optical coherence tomography can be used.

SD方式の場合、光源102として低コヒーレント光源(広帯域光源)が用いられ、検出器120には、ある波長幅を持つ光を各波長(周波数)成分に分光する分光光学系(スペクトルメータ)が設けられる。スペクトルメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。   In the case of the SD system, a low-coherent light source (broadband light source) is used as the light source 102, and the detector 120 is provided with a spectroscopic optical system (spectrum meter) that separates light having a certain wavelength width into each wavelength (frequency) component. It is done. The spectrum meter includes, for example, a diffraction grating and a line sensor.

SS方式の場合、光源102として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源(波長可変光源)が用いられ、検出器120として、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源102は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。   In the case of the SS system, a wavelength scanning light source (wavelength variable light source) that changes the emission wavelength at a high speed with time is used as the light source 102, and a single light receiving element is provided as the detector 120, for example. The light source 102 includes, for example, a light source, a fiber ring resonator, and a wavelength selection filter. Examples of the wavelength selection filter include a combination of a diffraction grating and a polygon mirror, and a filter using a Fabry-Perot etalon.

参照光学系110は、第1参照光学系110aと、第2参照光学系110bと、を備える。第1参照光学系110aは、眼底Efでの測定光の反射によって取得される光と合成される第1参照光を生成する。第2参照光学系110bは、角膜での測定光の反射によって取得される光と合成される第2参照光を生成する。光分割手段としてのビームスプリッタ111は、カップラー104から送られた参照光を分割し、第1参照光と第2参照光を生成する。   The reference optical system 110 includes a first reference optical system 110a and a second reference optical system 110b. The first reference optical system 110a generates first reference light that is combined with light acquired by reflection of measurement light on the fundus oculi Ef. The second reference optical system 110b generates second reference light that is combined with light acquired by reflection of measurement light from the cornea. The beam splitter 111 as a light splitting unit splits the reference light sent from the coupler 104 and generates first reference light and second reference light.

参照光学系110は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系110は、例えば、図1に図示された反射光学系(例えば、参照ミラー)によって構成される。そして、参照光学系110は、カップラー104から送られた光を反射光学系により反射することにより再度カップラー104に戻し、検出器120へ導く。他の例としては、参照光学系110は、透過光学系(例えば、光ファイバー)によって構成され、カップラー104からの光を戻さず透過させることにより検出器120へ導く。   The reference optical system 110 may be a Michelson type or a Mach-Zehnder type. The reference optical system 110 is configured by, for example, a reflection optical system (for example, a reference mirror) illustrated in FIG. Then, the reference optical system 110 returns the light transmitted from the coupler 104 to the coupler 104 again by reflecting the light from the reflection optical system, and guides it to the detector 120. As another example, the reference optical system 110 is constituted by a transmission optical system (for example, an optical fiber), and guides the light from the coupler 104 to the detector 120 by transmitting the light without returning.

参照光学系110aは、参照光路中に配置された光学部材を移動させることにより、測定光と第1参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、駆動機構55の駆動によって第1参照ミラー112が光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系106の測定光路中に配置されてもよい。   The reference optical system 110a has a configuration for changing the optical path length difference between the measurement light and the first reference light by moving an optical member arranged in the reference optical path. For example, the first reference mirror 112 is moved in the optical axis direction by driving the drive mechanism 55. The configuration for changing the optical path length difference may be arranged in the measurement optical path of the measurement optical system 106.

眼底の状態を検出する場合、眼底に照射された光の光路長と、第1参照光の光路長とがほぼ一致されるように光路差が調整される。そして、検出器120によって検出されたスペクトルデータが制御部80(図3参照)へ入力され、フーリエ変換を用いてスペクトルデータの周波数が解析される。これにより、眼Eの深さ方向における情報が取得される(図4のピークAR、PR参照)。   When detecting the state of the fundus, the optical path difference is adjusted so that the optical path length of the light applied to the fundus and the optical path length of the first reference light substantially coincide. Then, the spectrum data detected by the detector 120 is input to the control unit 80 (see FIG. 3), and the frequency of the spectrum data is analyzed using Fourier transform. Thereby, information in the depth direction of the eye E is acquired (see peaks AR and PR in FIG. 4).

第2参照光学系110bは、アライメント完了時において、干渉信号の検出可能範囲(深さプロファイルを取得できる範囲)に角膜Ecが含まれるように光路長を固定している。フーリエドメイン干渉計の場合、測定光と第2参照光との光路長が一致する位置から所定の距離までの範囲内における干渉信号が得られる。   The second reference optical system 110b fixes the optical path length so that the cornea Ec is included in the interference signal detectable range (a range in which the depth profile can be acquired) when the alignment is completed. In the case of a Fourier domain interferometer, an interference signal is obtained within a range from a position where the optical path lengths of the measurement light and the second reference light match to a predetermined distance.

そこで、Z方向のアライメントが適正に調整されると、角膜によって反射された測定光と第2参照光との干渉が生じ、その干渉光による干渉信号がAスキャン信号として検出されるようになる(図4のピークAC,PC参照)。   Therefore, when the alignment in the Z direction is properly adjusted, interference between the measurement light reflected by the cornea and the second reference light occurs, and an interference signal due to the interference light is detected as an A scan signal ( (See peaks AC and PC in FIG. 4).

<制御系> 図3にて制御系を説明する。制御部80は、装置全体の制御、眼圧の測定などを行う。制御部80には、検出回路21、処理回路22、駆動回路23、赤外光源14、光検出器18、光源102、検出器120、メモリ81、が接続されている。   <Control System> The control system will be described with reference to FIG. The control unit 80 performs control of the entire apparatus, measurement of intraocular pressure, and the like. The control unit 80 is connected to the detection circuit 21, the processing circuit 22, the drive circuit 23, the infrared light source 14, the photodetector 18, the light source 102, the detector 120, and the memory 81.

検出回路21は、圧力センサ12から出力される検出信号を処理する。処理回路22は、光検出器18から出力される受光信号を処理する。駆動回路23は、ソレノイド3を駆動させる。   The detection circuit 21 processes the detection signal output from the pressure sensor 12. The processing circuit 22 processes the light reception signal output from the photodetector 18. The drive circuit 23 drives the solenoid 3.

以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。制御部80は、測定を開始するトリガ信号が入力されると、駆動回路23を介してソレノイド3に電流を付与する。ソレノイド3が動作され、その駆動力がアーム4及びロッド5を介してピストン2に伝達されると、ピストン2が移動される。シリンダ部1内で圧縮された空気は、チューブ70を介して気密室71内の空気を圧縮する。そして、ノズル6を介して,圧縮された空気が角膜Ecに対して吹き付けられる。これにより、角膜Ecが徐々に変形される。   The operation of the apparatus having the above configuration will be described. When a trigger signal for starting measurement is input, the control unit 80 applies a current to the solenoid 3 via the drive circuit 23. When the solenoid 3 is operated and the driving force is transmitted to the piston 2 via the arm 4 and the rod 5, the piston 2 is moved. The air compressed in the cylinder portion 1 compresses the air in the airtight chamber 71 through the tube 70. Then, compressed air is blown against the cornea Ec through the nozzle 6. As a result, the cornea Ec is gradually deformed.

LED14から投光された光は角膜に照射され、角膜で反射された光は、光検出器18へ入射する。そして、光検出器18から出力される検出信号を用いて、角膜の状態が検出される。処理回路22は、光検出器18からの信号を処理し、受光光量が所定のピ−クを示したことを検知することにより、角膜Ecが圧平状態に達したことを検知する。   The light projected from the LED 14 is applied to the cornea, and the light reflected by the cornea enters the photodetector 18. And the state of the cornea is detected using the detection signal output from the photodetector 18. The processing circuit 22 processes the signal from the photodetector 18 and detects that the cornea Ec has reached the applanation state by detecting that the amount of received light shows a predetermined peak.

制御部80は、検出回路21を用いて、圧力センサ12から出力される検出信号を処理し、圧力値をモニタリングする。そして、制御部80は、圧平状態が検知されたときの圧力値を得て、これに基づいて眼圧値を算出する。   The control unit 80 processes the detection signal output from the pressure sensor 12 using the detection circuit 21 and monitors the pressure value. Then, the control unit 80 obtains a pressure value when the applanation state is detected, and calculates an intraocular pressure value based on the pressure value.

<眼底観察>
制御部80は、干渉光学系100aを制御し、空気圧縮機構によって角膜が変形されているときの眼底の状態を検出する。さらに、制御部80は、角膜の変形前後における眼底の状態を検出してもよい。
<Ocular fundus observation>
The control unit 80 controls the interference optical system 100a and detects the state of the fundus when the cornea is deformed by the air compression mechanism. Furthermore, the control unit 80 may detect the state of the fundus before and after deformation of the cornea.

制御部80は、光源102から光を出射させる。そして、光源102からの光(測定光)は、眼Eの眼底、角膜に向けて出射され、その反射光が検出器120に導光される。また、参照光は、第1参照光学系110a及び第2参照光学系110bの光路を介して検出器102に導光される。   The controller 80 emits light from the light source 102. Light (measurement light) from the light source 102 is emitted toward the fundus and cornea of the eye E, and the reflected light is guided to the detector 120. Further, the reference light is guided to the detector 102 through the optical paths of the first reference optical system 110a and the second reference optical system 110b.

アライメントが完了されると、角膜反射光と第2参照光との間の干渉信号は、Aスキャン信号として検出される(図4参照)。干渉信号ACは角膜前面に対応し、干渉信号PCは角膜後面に対応する。   When the alignment is completed, an interference signal between the cornea reflected light and the second reference light is detected as an A scan signal (see FIG. 4). The interference signal AC corresponds to the front surface of the cornea, and the interference signal PC corresponds to the rear surface of the cornea.

眼底反射光と第1参照光との間の干渉信号が検出される位置は、眼Eの眼軸長によって異なる。制御部80は、駆動機構55の駆動を制御し、第1参照ミラー112を連続的又は段階的に移動させる。そして、制御部80は、検出器120によってスペクトルデータを逐次取得し、各位置でのAスキャン信号を得る。制御部80は、眼底反射光と第1参照光に関連する干渉信号がAスキャン信号として検出されるように駆動機構55の駆動を制御する。   The position where the interference signal between the fundus reflection light and the first reference light is detected varies depending on the axial length of the eye E. The control unit 80 controls the driving of the driving mechanism 55 and moves the first reference mirror 112 continuously or stepwise. And the control part 80 acquires spectrum data one by one by the detector 120, and obtains the A scan signal in each position. The control unit 80 controls driving of the driving mechanism 55 so that an interference signal related to the fundus reflection light and the first reference light is detected as an A scan signal.

そして、測定光と第1参照光との光路差が少なくなり、検出範囲内に眼底Efが含まれるようになると、眼底に対応する干渉信号が検出される(図4(b)参照)。ARは網膜表面に対応する干渉信号であり、PRは網膜後面に対応する干渉信号である。   Then, when the optical path difference between the measurement light and the first reference light is reduced and the fundus oculi Ef is included in the detection range, an interference signal corresponding to the fundus is detected (see FIG. 4B). AR is an interference signal corresponding to the retina surface, and PR is an interference signal corresponding to the rear surface of the retina.

制御部80は、各Aスキャン信号の中で、眼底に対応する干渉信号が取得されたAスキャン信号を特定する。この場合、制御部80は、干渉信号の輝度値などを利用して眼底反射を含む干渉信号の有無を判定する。そして、制御部80は、駆動機構55を制御し、眼底信号を含むAスキャン信号が取得される位置に、第1参照ミラー112を配置する。   The control unit 80 specifies the A scan signal from which the interference signal corresponding to the fundus is acquired from each A scan signal. In this case, the control unit 80 determines the presence or absence of an interference signal including fundus reflection using the luminance value of the interference signal. Then, the control unit 80 controls the drive mechanism 55 and arranges the first reference mirror 112 at a position where the A scan signal including the fundus oculi signal is acquired.

<角膜変形に関する眼底の状態の観察>
眼底に対応する信号が取得されるようになると、制御部80は、Aスキャン信号を随時メモリ81に記憶していく。制御部80は、メモリ81に記憶された各Aスキャン信号を解析し、角膜変形に関連する眼底の経時的な変化を求める。Aスキャン信号は、連続的、又は段階的に記録され、角膜変形に関連した眼底の評価に利用される。
<Observation of fundus condition regarding corneal deformation>
When a signal corresponding to the fundus is acquired, the control unit 80 stores the A scan signal in the memory 81 as needed. The control unit 80 analyzes each A scan signal stored in the memory 81 and obtains a change in the fundus over time related to corneal deformation. The A-scan signal is recorded continuously or stepwise and is used to evaluate the fundus associated with corneal deformation.

例えば、制御部80は、Aスキャン信号に基づいて深さ方向における眼底の変化を検出する。角膜変形中、変形前、変形後での眼底の位置が比較されると、圧縮空気に影響された眼底の変形度(例えば、変形量(変位量)、変形速度、等)が求められる。眼底の位置は、眼底に対応する干渉信号(例えば、干渉信号AR、干渉信号PR)から求められる。なお、制御部80は、眼底の位置に関する時間的変化を求めても良い。制御部80は、ドップラーOCTの解析を適用して、眼底の位置変化に関する速度を定量化してもよい。   For example, the control unit 80 detects a change in the fundus in the depth direction based on the A scan signal. When the positions of the fundus before and after deformation are compared during corneal deformation, the degree of deformation of the fundus affected by the compressed air (for example, the amount of deformation (displacement), the deformation speed, etc.) is determined. The position of the fundus is obtained from an interference signal (for example, interference signal AR, interference signal PR) corresponding to the fundus. Note that the control unit 80 may obtain a temporal change regarding the position of the fundus. The controller 80 may apply the Doppler OCT analysis to quantify the velocity related to the position change of the fundus.

制御部80は、眼底の変形度を用いて眼圧を測定する。その一例を挙げると、制御部80は、眼底の変形度と眼圧との関係を利用して、眼圧を測定する。その他、眼底の変形度は、公知の測定方式(図2参照)によって算出される眼圧値を変動させるためのパラメータの一つとして用いられてもよい。なお、制御部80は、眼底の変形量がある量に達したときにおける圧力センサ12の検出結果を,眼圧値の算出に利用しても良い。   The control unit 80 measures intraocular pressure using the degree of deformation of the fundus. For example, the control unit 80 measures the intraocular pressure using the relationship between the degree of deformation of the fundus and the intraocular pressure. In addition, the degree of deformation of the fundus may be used as one of the parameters for changing the intraocular pressure value calculated by a known measurement method (see FIG. 2). Note that the control unit 80 may use the detection result of the pressure sensor 12 when the amount of deformation of the fundus reaches a certain amount for the calculation of the intraocular pressure value.

<角膜変形に関する角膜の状態の観察>
制御部80は、Aスキャン信号に基づいて深さ方向における角膜の変化を検出する。角膜変形中、変形前、変形後での角膜の位置が比較されると、圧縮空気に影響された角膜の変形度(例えば、変形量(変位量)、変形速度、等)が求められる。角膜の位置は、角膜に対応する干渉信号(例えば、干渉信号AC、干渉信号PC)から求められる。なお、制御部80は、角膜の位置に関する時間的変化を求めても良い。制御部80は、ドップラーOCTの解析を適用して、角膜の位置変化に関する速度を定量化してもよい。
<Observation of corneal state related to corneal deformation>
The controller 80 detects a change in the cornea in the depth direction based on the A scan signal. When the position of the cornea is compared during the corneal deformation, before the deformation, and after the deformation, the degree of deformation of the cornea affected by the compressed air (for example, the deformation amount (displacement amount), the deformation speed, etc.) is obtained. The position of the cornea is obtained from an interference signal (for example, interference signal AC, interference signal PC) corresponding to the cornea. Note that the control unit 80 may obtain a temporal change regarding the position of the cornea. The controller 80 may apply the Doppler OCT analysis to quantify the velocity related to the change in the position of the cornea.

制御部80は、変形された角膜の状態に基づいて眼圧を測定する。その一例を挙げると、制御部80は、角膜の変形度と眼圧との関係を利用して、眼圧を測定する。その他、角膜の変形度は、公知の測定方式(図2参照)によって算出される眼圧値を変動させるためのパラメータの一つとして用いられてもよい。なお、図2のような構成を設けず、干渉光学系100aを用いて角膜の状態を検出するようにしてもよい。   The control unit 80 measures the intraocular pressure based on the deformed state of the cornea. For example, the control unit 80 measures the intraocular pressure using the relationship between the degree of deformation of the cornea and the intraocular pressure. In addition, the degree of deformation of the cornea may be used as one of the parameters for changing the intraocular pressure value calculated by a known measurement method (see FIG. 2). Note that the configuration of the cornea may be detected using the interference optical system 100a without providing the configuration as shown in FIG.

上記構成によれば、干渉信号によって角膜と眼底の状態が観察されるので、眼底と角膜の両方の変形状態が求められる。したがって、角膜変形に関連した眼底の評価と、角膜自体の評価と、が適正に関連付けられる。   According to the above configuration, since the state of the cornea and the fundus is observed by the interference signal, both the fundus and the cornea are deformed. Therefore, the evaluation of the fundus related to the corneal deformation and the evaluation of the cornea itself are appropriately associated.

なお、制御部80は、角膜と眼底の両方の位置を検出することによって、放射エネルギーが角膜に加えられたときに眼球の位置を取得できる。角膜変形に関連した眼球の移動情報は、眼圧測定の評価に利用される。   Note that the control unit 80 can acquire the position of the eyeball when radiant energy is applied to the cornea by detecting the positions of both the cornea and the fundus. The movement information of the eyeball related to the corneal deformation is used for evaluation of intraocular pressure measurement.

なお、上記実施形態において、制御部80は、角膜変形に関連した眼軸長の変化を取得するようにしてもよい。例えば、制御部80は、角膜と眼底に対応する干渉信号を含むAスキャン信号を取得できるときの第1参照ミラー112の位置情報と、そのAスキャン信号における干渉信号ACと干渉信号PRとの位置情報に基づいて眼軸長を演算する(眼軸長の測定手法については、例えば、特開2007−313208号公報参照)。眼軸長の経時的な変化は、角膜と眼底の両方の変化に起因する情報であるから、角膜変形に関する眼球の評価に有用と考えられる。   In the above embodiment, the control unit 80 may acquire a change in the axial length related to corneal deformation. For example, the control unit 80 can acquire the position information of the first reference mirror 112 when the A scan signal including the interference signals corresponding to the cornea and the fundus can be acquired, and the positions of the interference signal AC and the interference signal PR in the A scan signal. The axial length is calculated based on the information (for the measuring method of the axial length, see, for example, JP 2007-313208 A). Since changes in the axial length over time are information resulting from changes in both the cornea and the fundus, it is considered useful for evaluating the eyeball related to corneal deformation.

なお、上記実施形態において、制御部80は、Aスキャン信号に対する信号処理によって眼底の各層の情報を取得し、層の変化を検出するようにしてもよい。例えば、角膜変形に関連した層厚の変化が眼圧測定に利用される。   In the above-described embodiment, the control unit 80 may acquire information of each layer of the fundus by signal processing on the A scan signal and detect a change in the layer. For example, a change in layer thickness associated with corneal deformation is used for measuring intraocular pressure.

なお、上記干渉光学系100aにおいて、光スキャナが測定光路中に設けられた構成であってもよい。例えば、制御部80は、光スキャナを駆動して横断方向に関して眼底上で測定光を走査させる。制御部80は、各走査位置にて取得されるAスキャン信号に基づいて角膜変形に関連する眼底断層像を得る。得られた断層像は、画像処理によって解析され、測定に利用される。例えば、角膜変形時における眼底形状の変化が測定に利用される。また、眼底の表面の一部がある形状(例えば、凹形状)になったときの圧力センサ12の検出結果が測定に利用されてもよい。   In the interference optical system 100a, the optical scanner may be provided in the measurement optical path. For example, the control unit 80 drives the optical scanner to scan the measurement light on the fundus in the transverse direction. The control unit 80 obtains a fundus tomographic image related to corneal deformation based on the A scan signal acquired at each scanning position. The obtained tomographic image is analyzed by image processing and used for measurement. For example, a change in fundus shape at the time of corneal deformation is used for measurement. Further, the detection result of the pressure sensor 12 when a part of the surface of the fundus has a certain shape (for example, a concave shape) may be used for the measurement.

なお、図1に図示された干渉光学系は、装置内で生成された参照光と、被検眼の各部位における反射によって取得される測定光と、を干渉させて干渉信号を得る構成としたが、これに限定されない。例えば、干渉光学系は、角膜での反射によって取得される光と、眼底での反射によって取得される光とを干渉させ、干渉された光を受光素子に受光させることにより干渉信号を得る構成(いわゆるデュアルビームタイプ)であってもよい。   The interference optical system shown in FIG. 1 is configured to obtain an interference signal by causing interference between the reference light generated in the apparatus and the measurement light acquired by reflection at each part of the eye to be examined. However, the present invention is not limited to this. For example, the interference optical system has a configuration in which light acquired by reflection on the cornea and light acquired by reflection on the fundus are caused to interfere, and a light receiving element receives the interfered light to obtain an interference signal ( A so-called dual beam type) may be used.

本実施形態に係る眼科検査装置の具体例を示す概略図である。It is the schematic which shows the specific example of the ophthalmic examination apparatus which concerns on this embodiment. 角膜の変形状態を検出する光学系の具体例を示す図であって、ノズル付近の光学系を上方より見た図である。It is a figure which shows the specific example of the optical system which detects the deformation | transformation state of a cornea, Comprising: It is the figure which looked at the optical system near a nozzle from the upper direction. 制御系の具体例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the specific example of a control system. 深さ方向に関する干渉信号の分布を示す一例である。It is an example which shows distribution of the interference signal regarding a depth direction.

10 加圧ユニット
100 眼底検出系
102 光源
104 光分割器(カップラー)
120 検出器
200 角膜検出系
100a 干渉光学系
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Pressurization unit 100 Fundus detection system 102 Light source 104 Optical splitter (coupler)
120 detector 200 cornea detection system 100a interference optical system

Claims (2)

圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する第1信号を経時的に検出する検出手段備える眼科検査装置。 Ophthalmologic examination apparatus comprising a detecting means for detected over time the first signal associated with the fundus of the pressurized eye with pressurizing means. 前記検出手段は、ドップラーOCTにより前記第1信号を検出することを特徴とする請求項1記載の眼科検査装置。 The ophthalmic examination apparatus according to claim 1, wherein the detection unit detects the first signal by Doppler OCT .
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