JP5547890B2 - Reactant for filling polysiloxane trench - Google Patents

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Description

本発明は、半導体素子に形成されたトレンチ内の絶縁保護膜用トレンチ埋め込み用反応物及びその含有溶液の作製方法に関する。   The present invention relates to a reactant for filling a trench for an insulating protective film in a trench formed in a semiconductor element and a method for producing a solution containing the reactant.

D R A M ( D y n a m i c R a n d o m A c c e s s M e m o r y ) に代表される電子デバイスの構成要素であるトランジスタなどの回路素子を電気的に分離するための技術のひとつとして、シャロートレンチ分離技術(STI技術)が開発されている。STI技術とは、基板中、回路素子の間隙にあたる箇所にトレンチを形成し、トレンチ内に絶縁材料を埋め込むことにより、回路素子間の電気的分離を行う技術である。
デバイスの高集積化が進行するにつれ、STI技術におけるトレンチ幅は狭くなり、そのためトレンチのアスペクト比( トレンチの開口幅を、トレンチの深さで除した値)も大きくなる傾向にある。
Shallow trench isolation technology (STI technology) has been developed as one of the technologies for electrically isolating circuit elements such as transistors, which are components of electronic devices such as DRAM (Dynamic R andom Access Memory). Has been. The STI technique is a technique for electrically isolating circuit elements by forming a trench in a position corresponding to a gap between circuit elements in a substrate and embedding an insulating material in the trench.
As device integration increases, the trench width in the STI technology becomes narrower, and therefore the trench aspect ratio (the value obtained by dividing the trench opening width by the trench depth) tends to increase.

このようなトレンチ埋め込みに使われる材料としては、高い電気絶縁性が求められるためシリコン酸化物が広く好適に用いられている。
トレンチ内にシリコン酸化物を埋め込むための手段としては、従来、高密度プラズマCVD法に代表されるスパッタ法によりトレンチを有するシリコン基材上にシリコン酸化物膜を形成している。しかしながら、近年半導体素子の微細化に伴い、トレンチ幅が狭くなり、アスペクト比が大きくなる傾向がある。トレンチ幅が0.2μm以下、アスペクト比が2以上の微細溝にCVD法によりシリコン酸化物を埋めると、微細溝の中にボイドが発生し易い問題があった。
As a material used for such trench filling, silicon oxide is widely used suitably because high electrical insulation is required.
As a means for embedding silicon oxide in the trench, conventionally, a silicon oxide film is formed on a silicon substrate having a trench by a sputtering method typified by a high-density plasma CVD method. However, with recent miniaturization of semiconductor elements, the trench width tends to be narrowed and the aspect ratio tends to be large. When silicon oxide is buried in a fine groove having a trench width of 0.2 μm or less and an aspect ratio of 2 or more by a CVD method, there is a problem that voids are easily generated in the fine groove.

スパッタ法以外の方法として、塗布法により微細溝を埋設し、酸化雰囲気下の焼成によりシリカ膜を形成する方法が知られており、材料としてはポリシラザン材料、ポリシラン材料、シリコーン材料が知られている。
ポリシラザン材料は、トレンチ埋め込み性が良く、シリコン酸化物膜への転化時の硬化収縮が少ない特長が報告されている。(例えば特許文献1)しかしながら、水蒸気酸化による焼成によって得られるシリコン酸化物膜中に残留窒素量が多く、電気的分離能が劣ること、また焼成時にアンモニアガスが発生するため、危険であるといった問題があった。
ポリシラン材料は、塗布したポリシラン化合物が蒸発し易く、また塗布量を多くすると、割れ易いといった問題があった。(例えば特許文献2)
As a method other than the sputtering method, a method of embedding a fine groove by a coating method and forming a silica film by baking in an oxidizing atmosphere is known, and a polysilazane material, a polysilane material, and a silicone material are known as materials. .
Polysilazane materials have been reported to have good trench embeddability and low cure shrinkage during conversion to silicon oxide films. (For example, Patent Document 1) However, the silicon oxide film obtained by baking by steam oxidation has a large amount of residual nitrogen, inferior electrical separation ability, and is dangerous because ammonia gas is generated during baking. was there.
The polysilane material has a problem that the applied polysilane compound is likely to evaporate and is easily broken when the coating amount is increased. (For example, Patent Document 2)

シリコーン材料は、塗膜、焼成時に脱水、脱アルコール縮合反応を伴うため、得られたシリコン酸化物膜中にボイドやクラックが発生する問題、有機基を有するシリコーン材料を用いた場合、焼成後のシリコン酸化物に残留炭素量が多く、電気特性が悪くなる問題、シリコーン材料からシリコン酸化物に転化する際に大きな硬化収縮を伴い、膜表面から微細溝の底部に向かって密度が不均一になるといった問題があった。
シリコーン材料を用いてボイドやクラックの発生を回避する方法として、酸化シリコン粒子とシリコン原子バインダーによる組成物が提案されている。(例えば特許文献3)しかしながら、シリコン原子バインダーに有機基を多く含むため焼成時にシリコン酸化物膜の硬化収縮が大きく、加熱後のシリコン酸化物のHFエッチレート(焼成後に1%HF水溶液中に1分間浸漬させたときの単位時間当たりの膜減量)が高いためCMP後のHF洗浄工程でトレンチ内に埋め込んだシリコン酸化物のダメージが大きい問題があった。
Silicone materials are accompanied by dehydration and dealcoholization condensation reactions during coating and firing, so the problem of voids and cracks occurring in the resulting silicon oxide film, when using silicone materials with organic groups, Silicon oxide has a large amount of residual carbon, resulting in poor electrical characteristics, large curing shrinkage when converting from silicone material to silicon oxide, and non-uniform density from the film surface to the bottom of the fine groove There was a problem.
As a method for avoiding the generation of voids and cracks using a silicone material, a composition comprising silicon oxide particles and a silicon atom binder has been proposed. (For example, Patent Document 3) However, since the silicon atom binder contains a large amount of organic groups, the curing shrinkage of the silicon oxide film during firing is large, and the HF etch rate of the silicon oxide after heating (1% in 1% HF aqueous solution after firing). Since the amount of film loss per unit time when immersed for a minute was high, there was a problem that the silicon oxide embedded in the trench in the HF cleaning process after CMP was greatly damaged.

残留炭素量を少なくし、高純度のシリコン酸化物を得る方法として、末端シラノール基が少なくし、水素化シリコーン化合物が提案されている。(例えば特許文献4)しかしながら、耐クラック性が悪いといった問題があった。
特開2001−308090号公報 特開2003−31568号公報 特開2006−310448号公報 特開2008−101206号公報
As a method for obtaining a high-purity silicon oxide by reducing the amount of residual carbon, a hydrogenated silicone compound has been proposed in which terminal silanol groups are reduced. (For example, Patent Document 4) However, there is a problem that the crack resistance is poor.
JP 2001-308090 A JP 2003-31568 A JP 2006-310448 A JP 2008-101206 A

本発明は、上記事情を鑑みなされたものであり、その目的は、基体に形成されたトレンチ内に酸化シリコンを埋め込むために使用するのに好適な溶液のポットライフが長く、埋め込み性が高く、硬化収縮率が小さく、HF耐性、クラック耐性を有するトレンチ埋め込み用縮合反応物を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and the purpose thereof is a long pot life of a solution suitable for being used for embedding silicon oxide in a trench formed in a substrate, and the embedding property is high. An object of the present invention is to provide a trench filling condensation reaction product having a low cure shrinkage ratio and having HF resistance and crack resistance.

本発明者らは上記目的を達成する方法を開発すべく鋭意研究を行った結果、以下に示すトレンチ埋め込み用組成物を見出し、本発明を完成させた。 即ち、本発明は、
[1] トレンチ埋め込み用縮合反応物であって、該縮合反応物が少なくともポリシロキサン化合物とシリカ粒子との縮合反応物を含み、該ポリシロキサン化合物がHSiO3/2基、MeHSiO基、及びHSiO基から選ばれる基の少なくとも一種を40mol%以上有し、該ポリシロキサンの重量平均分子量が1000以上200000以下であり、該シリカ粒子の平均一次粒径が1nm以上100nm以下であることを特徴とするトレンチ埋め込み用縮合反応物、
As a result of intensive studies to develop a method for achieving the above object, the present inventors have found the following trench filling composition and completed the present invention. That is, the present invention
[1] Condensation reaction product for trench embedding, wherein the condensation reaction product contains at least a condensation reaction product of a polysiloxane compound and silica particles, and the polysiloxane compound contains HSiO 3/2 group, MeHSiO group, and H 2. Having at least one group selected from SiO groups of 40 mol% or more, the weight average molecular weight of the polysiloxane is 1,000 or more and 200,000 or less, and the average primary particle size of the silica particles is 1 nm or more and 100 nm or less, Condensation reaction product for trench filling,

[2] 前記縮合反応物が、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子に加えてさらに一般式(1)に示されるシラン化合物とを縮合反応させた反応物を含む上記1に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物、
SiX4−n 一般式(1)
(一般式(1)中のnは1から3の整数であり、Rは水素原子又は、炭素数1から10の炭化水素基であり、Xはハロゲン原子、炭素数1から6のアルコキシ基、アセトキシ基から選ばれる基である。)
[2] The trench filling condensation product according to 1 above, wherein the condensation reaction product includes a reaction product obtained by condensation reaction of a polysiloxane compound and silica particles and a silane compound represented by the general formula (1). ,
R n SiX 4-n Formula (1)
(In general formula (1), n is an integer of 1 to 3, R is a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, X is a halogen atom, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, It is a group selected from an acetoxy group.)

[3] 前記ポリシロキサン化合物が一般式(2)から一般式(6)で表されるシラン化合物由来の成分を含み、一般式(2)で表されるシラン化合物を30mol%以上含む上記1又は2に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物、
HSiX3 一般式(2)
SiX 一般式(3)
SiX 一般式(4)
SiX 一般式(5)
SiX 一般式(6)
(一般式(5)及び一般式(6)中のRは水素原子又は、炭素数1から10の炭化水素基であり、一般式(2)から一般式(6)中のXは上記記載と同一であり、一般式(4)中のRは炭素数1から10の炭化水素基である。)
[3] The 1 or above, wherein the polysiloxane compound includes a component derived from the silane compound represented by the general formula (2) to the general formula (6) and includes 30 mol% or more of the silane compound represented by the general formula (2). The condensation reaction product for trench filling according to 2,
HSiX 3 general formula (2)
SiX 4 general formula (3)
R 2 SiX 3 general formula (4)
R 2 SiX 2 general formula (5)
R 3 SiX general formula (6)
(R in general formula (5) and general formula (6) is a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, and X in general formula (2) to general formula (6) is And R 2 in the general formula (4) is a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms.)

[4] 前記シリカ粒子が前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子、又は前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子と前記シラン化合物の合計に対して、1質量%以上80質量%以下である上記1から3のいずれか1項に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物、
[5] 前記シラン化合物が前記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の合計に対して、0質量%超過40質量%以下であることを特徴とする上記1から4のいずれか1に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物、
[6] 上記1〜5のいずれか1に記載の縮合反応物が含まれる溶液において、沸点100℃以上200℃以下のアルコール、ケトン、エステル、エーテル、炭化水素系溶媒から選ばれる少なくとも1種類の溶媒が、該溶液に占める溶媒の合計に対して50質量%以上含まれていることを特徴とするトレンチ埋め込み用反応溶液、
[4] The above-described items 1 to 3, wherein the silica particles are 1% by mass or more and 80% by mass or less based on the total of the polysiloxane compound and the silica particles, or the polysiloxane compound, the silica particles, and the silane compound. The condensation reaction product for trench embedding according to any one of the above,
[5] The trench according to any one of 1 to 4, wherein the silane compound is greater than 0% by mass and less than or equal to 40% by mass with respect to the total of the polysiloxane compound, silica particles, and silane compound. Condensation reaction product for embedding,
[6] In the solution containing the condensation reaction product according to any one of 1 to 5 above, at least one kind selected from alcohols, ketones, esters, ethers, and hydrocarbon solvents having a boiling point of 100 ° C. or higher and 200 ° C. or lower. A reaction solution for trench filling, wherein the solvent is contained in an amount of 50% by mass or more based on the total amount of the solvent in the solution;

[7]前記ポリシロキサンの製造工程において、前記一般式(2)〜(6)で表されるシラン化合物に含有するX数の合計に対して、0.1当量以上10当量以下の水と反応させる工程を有することを特徴とする、上記1〜6のいずれか1に記載の縮合反応物の製造方法、
[8]前記ポリシロキサン化合物及びシリカ粒子、又は前記ポリシロキサン化合物、シリカ粒子とシラン化合物の反応を酸性雰囲気下で行う上記7に記載の縮合反応物の製造方法、に関するものである。
[7] In the production process of the polysiloxane, it reacts with 0.1 to 10 equivalents of water with respect to the total number of X contained in the silane compounds represented by the general formulas (2) to (6). The method for producing a condensation reaction product according to any one of 1 to 6, characterized by comprising a step of:
[8] The method for producing a condensation reaction product as described in 7 above, wherein the reaction of the polysiloxane compound and silica particles, or the polysiloxane compound, silica particles and a silane compound is performed in an acidic atmosphere.

本発明は、基体に形成されたトレンチ内に酸化シリコンを埋め込むために使用するのに好適な焼成後のシリコン酸化膜の純度が高く、硬化収縮率が小さく、HF耐性、クラック耐性を有するトレンチ埋め込み用樹脂組成物を提供することを目的とする。   The present invention provides a buried buried trench having high purity, low cure shrinkage, HF resistance and crack resistance suitable for use to bury silicon oxide in a trench formed in a substrate. An object of the present invention is to provide a resin composition.

以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
本発明で使用されるポリスチレン換算重量平均分子量が1000以上かつ200000以下で、HSiO3/2基、MeHSiO基もしくはHSiO基から選ばれる基の中で少なくとも一種類の基を40mol%以上含むポリシロキサン化合物は一般式(2)から一般式(6)で表されるシラン化合物を酸性雰囲気下、一般式(2)から一般式(6)で表されるシラン化合物に含有するX数の合計に対して0.1当量以上10当量以下の水と反応させた縮合反応物である。
HSiX3 一般式(2)
SiX 一般式(3)
SiX 一般式(4)
SiX 一般式(5)
SiX 一般式(6)
一般式(2)、一般式(5)及び一般式(6)中のRは水素原子又は、炭素数1から10の炭化水素基であり、一般式(2)から一般式(6)中のXはハロゲン原子、炭素数1から6のアルコキシ基、アセトキシ基から選ばれる基であり、RおよびXは同一でも異なっていても構わない。RおよびXは同一でも異なっていても構わない。一般式(4)中のRは炭素数1から10の炭化水素基である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
Polystyrene having a polystyrene-reduced weight average molecular weight of 1,000 or more and 200,000 or less and containing at least one group of 40 mol% or more among groups selected from HSiO 3/2 group, MeHSiO group or H 2 SiO group used in the present invention. In the siloxane compound, the silane compound represented by the general formula (2) to the general formula (6) is added to the total number of X contained in the silane compound represented by the general formula (2) to the general formula (6) in an acidic atmosphere. On the other hand, it is a condensation reaction product reacted with 0.1 to 10 equivalents of water.
HSiX 3 general formula (2)
SiX 4 general formula (3)
R 2 SiX 3 general formula (4)
R 2 SiX 2 general formula (5)
R 3 SiX general formula (6)
R in the general formula (2), the general formula (5), and the general formula (6) is a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, and the general formula (2) to the general formula (6) X is a group selected from a halogen atom, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, and an acetoxy group, and R and X may be the same or different. R and X may be the same or different. R 2 in the general formula (4) is a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms.

本発明で使用されるポリシロキサン化合物を製造される際に用いられるシラン化合物の上記一般式(2)、一般式(5)及び一般式(6)中のRの具体例としては、水素原子、メチル、エチル、n−プロピル、イソプロピル、n−ブチル、s−ブチル、t−ブチル、n−ペンチル、i−ペンチル、ネオペンチル、シクロペンチル、n−ヘキシル、i−ヘキシル、シクロヘキシル、n−ヘプチル、i−ヘプチル、n−オクチル、i−オクチル、t―オクチル、n−ノニル、i−ノニル、n−デシル、i−デシル等の非環式又は環式の脂肪族炭化水素基、ビニル、プロペニル、ブテニル、ペンテニル、ヘキセニル、シクロヘキセニル、シクロヘキセニルエチル、ノルボルネニルエチル、ヘプテニル、オクテニル、ノネニル、デセニル、スチレニル等の非環式及び環式アルケニル基、ベンジル、フェネチル、2−メチルベンジル、3−メチルベンジル、4−メチルベンジル等のアラルキル基、PhCH=CH−基のようなアラアルケニル基、フェニル基、トリル基あるいはキシリル基のようなアリール基が挙げられる。この中でも焼成時に酸化シリコン酸化物への転換の際に重量減少が少なく、収縮率が小さい基として、好ましくは水素原子、メチル基、エチル基であり、より好ましくは水素基である。   Specific examples of R in the above general formula (2), general formula (5), and general formula (6) of the silane compound used in producing the polysiloxane compound used in the present invention include a hydrogen atom, Methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, s-butyl, t-butyl, n-pentyl, i-pentyl, neopentyl, cyclopentyl, n-hexyl, i-hexyl, cyclohexyl, n-heptyl, i- Acyclic or cyclic aliphatic hydrocarbon groups such as heptyl, n-octyl, i-octyl, t-octyl, n-nonyl, i-nonyl, n-decyl, i-decyl, vinyl, propenyl, butenyl, Pentenyl, hexenyl, cyclohexenyl, cyclohexenylethyl, norbornenylethyl, heptenyl, octenyl, nonenyl, decenyl, styryl Acyclic and cyclic alkenyl groups, aralkyl groups such as benzyl, phenethyl, 2-methylbenzyl, 3-methylbenzyl, 4-methylbenzyl, araalkenyl groups such as PhCH = CH- groups, phenyl groups, tolyl groups Or an aryl group like a xylyl group is mentioned. Among these, as a group having a small weight loss upon conversion to silicon oxide oxide upon firing and a small shrinkage rate, a hydrogen atom, a methyl group, and an ethyl group are preferable, and a hydrogen group is more preferable.

上記一般式(2)から一般式(6)中のXの具体例としては、例えばクロライド、ブロマイド、アイオダイド等のハロゲン原子、メトキシ基、エトキシ基、n−プロピルオキシ基、i−プロピルオキシ基、n−ブチルオキシ基、t−ブチルオキシ基、n−ヘキシルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基等のアルコキシ基、アセトキシ基等が挙げられる。この中でもクロライド、ブロマイド、アイオダイド等のハロゲン原子、メトキシ基、エトキシ基等のアルコキシ基やアセトキシ基が縮合反応の反応性が高いため好ましい。   Specific examples of X in the general formula (2) to the general formula (6) include, for example, halogen atoms such as chloride, bromide and iodide, methoxy group, ethoxy group, n-propyloxy group, i-propyloxy group, Examples thereof include an alkoxy group such as an n-butyloxy group, a t-butyloxy group, an n-hexyloxy group, and a cyclohexyloxy group, and an acetoxy group. Among these, halogen atoms such as chloride, bromide and iodide, alkoxy groups such as methoxy group and ethoxy group, and acetoxy groups are preferable because of high reactivity of the condensation reaction.

一般式(4)中のRの具体例としてはメチル、エチル、n−プロピル、イソプロピル、n−ブチル、s−ブチル、t−ブチル、n−ペンチル、i−ペンチル、ネオペンチル、シクロペンチル、n−ヘキシル、i−ヘキシル、シクロヘキシル、n−ヘプチル、i−ヘプチル、n−オクチル、i−オクチル、t―オクチル、n−ノニル、i−ノニル、n−デシル、i−デシル等の非環式又は環式の脂肪族炭化水素基、ビニル、プロペニル、ブテニル、ペンテニル、ヘキセニル、シクロヘキセニル、シクロヘキセニルエチル、ノルボルネニルエチル、ヘプテニル、オクテニル、ノネニル、デセニル、スチレニル等の非環式及び環式アルケニル基、ベンジル、フェネチル、2−メチルベンジル、3−メチルベンジル、4−メチルベンジル等のアラルキル基、PhCH=CH−基のようなアラアルケニル基、フェニル基、トリル基あるいはキシリル基のようなアリール基が挙げられる。この中でも焼成時に酸化シリコン酸化物への転換の際に重量減少が少なく収縮率が小さい基として、好ましくはメチル、エチル基である。 Specific examples of R 2 in the general formula (4) include methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, s-butyl, t-butyl, n-pentyl, i-pentyl, neopentyl, cyclopentyl, n- Acyclic or ring such as hexyl, i-hexyl, cyclohexyl, n-heptyl, i-heptyl, n-octyl, i-octyl, t-octyl, n-nonyl, i-nonyl, n-decyl, i-decyl An aliphatic hydrocarbon group of formula, acyclic and cyclic alkenyl groups such as vinyl, propenyl, butenyl, pentenyl, hexenyl, cyclohexenyl, cyclohexenylethyl, norbornenylethyl, heptenyl, octenyl, nonenyl, decenyl, styryl, etc. Arals such as benzyl, phenethyl, 2-methylbenzyl, 3-methylbenzyl, 4-methylbenzyl An aryl group such as a kill group, an araalkenyl group such as a PhCH═CH— group, a phenyl group, a tolyl group, or a xylyl group. Among these groups, methyl and ethyl groups are preferable as the group having a small weight loss and a small shrinkage rate upon conversion to silicon oxide during firing.

本発明で使用されるポリシロキサン化合物は、上記一般式(2)の水素化シラン化合物及び/又は上記一般式(5)中のHSiX又はMeHSiXで表される水素化シラン化合物の割合が、ポリシロキサン化合物を製造する際に用いられるシラン化合物の合計に対して40mol%以上が好ましく、より好ましくは50mol%以上である。上記一般式(2)で表される水素化シラン化合物の量が上記範囲内に入っている場合は、焼成時に酸化シリコン酸化物への転換の際に塗布膜の収縮率が小さいため好ましい。
又、水素化シラン化合物の中でも、上記一般式(2)で表される水素化シラン化合物の割合が30質量%以上であることが、クラック耐性を上げるため好ましい。
The polysiloxane compound used in the present invention is a ratio of the hydrogenated silane compound represented by the general formula (2) and / or the hydrogenated silane compound represented by H 2 SiX 2 or MeHSiX 2 in the general formula (5). However, it is preferably at least 40 mol%, more preferably at least 50 mol%, based on the total amount of silane compounds used in producing the polysiloxane compound. When the amount of the hydrogenated silane compound represented by the general formula (2) is within the above range, it is preferable because the shrinkage rate of the coating film is small during the conversion to silicon oxide during firing.
Moreover, among the hydrogenated silane compounds, the ratio of the hydrogenated silane compound represented by the general formula (2) is preferably 30% by mass or more in order to increase crack resistance.

本発明で使用されるポリシロキサン化合物の製造の際に使用される上記一般式(3)で表されるシラン化合物の割合はポリシロキサン化合物を製造する際に用いられるシラン化合物の合計に対して30mol%以下が好ましく、より好ましくは20mol%以下である。上記の範囲内であると、成膜性が良く収縮率も小さいため好ましい。
本発明で使用されるポリシロキサン化合物の製造の際に使用される上記一般式(4)で表されるシラン化合物の割合はポリシロキサン化合物を製造する際に用いられるシラン化合物の合計に対して30mol%以下が好ましく、より好ましくは20mol%以下である。上記の範囲内であると、成膜性が良く収縮率が小さいため好ましい。
The ratio of the silane compound represented by the general formula (3) used in the production of the polysiloxane compound used in the present invention is 30 mol with respect to the total of the silane compounds used in the production of the polysiloxane compound. % Or less, more preferably 20 mol% or less. Within the above range, the film forming property is good and the shrinkage rate is small, which is preferable.
The ratio of the silane compound represented by the general formula (4) used in the production of the polysiloxane compound used in the present invention is 30 mol with respect to the total of the silane compounds used in producing the polysiloxane compound. % Or less, more preferably 20 mol% or less. Within the above range, the film forming property is good and the shrinkage rate is small, which is preferable.

本発明で使用されるポリシロキサン化合物の製造の際に使用される上記一般式(5)で表されるシラン化合物の割合はポリシロキサン化合物を製造する際に用いられるシラン化合物の合計に対して50mol%以下が好ましく、より好ましくは30mol%以下である。上記の範囲内であると、埋め込み性がよく、耐クラック性が高いため好ましい。
本発明で使用されるポリシロキサン化合物の製造の際に使用される上記一般式(6)で表されるシラン化合物の割合はポリシロキサン化合物を製造する際に用いられるシラン化合物の合計に対して30mol%以下が好ましく、より好ましくは20mol%以下である。上記の範囲内であると、埋め込み性がよく、耐クラック性が高いため好ましい。
The ratio of the silane compound represented by the general formula (5) used in the production of the polysiloxane compound used in the present invention is 50 mol with respect to the total of the silane compounds used in the production of the polysiloxane compound. % Or less, more preferably 30 mol% or less. Within the above range, embeddability is good and crack resistance is high, which is preferable.
The ratio of the silane compound represented by the general formula (6) used in the production of the polysiloxane compound used in the present invention is 30 mol with respect to the total of the silane compounds used in producing the polysiloxane compound. % Or less, more preferably 20 mol% or less. Within the above range, embeddability is good and crack resistance is high, which is preferable.

本発明で使用されるポリシロキサン化合物は酸性雰囲気下で上記一般式(2)から(6)で表されるシラン化合物の縮合反応によって製造される。ポリシロキサン化合物を製造する際に上記一般式(2)から(6)で表されるシラン化合物の少なくとも1種類のシラン化合物のXにハロゲン原子やアセトキシ化合物が含まれている場合は、縮合反応のために水を加えることによって、反応系が酸性を示すため、シラン化合物の他に酸触媒を加えても、加えなくても、どちらでも構わない。またポリシロキサン化合物を製造する際に用いられる上記一般式(2)から(6)に表されるシラン化合物のXが全てアルコキシ基である場合は、酸触媒を加えることが好ましい。   The polysiloxane compound used in the present invention is produced by a condensation reaction of the silane compounds represented by the general formulas (2) to (6) under an acidic atmosphere. When producing a polysiloxane compound, when X of the silane compound represented by the general formulas (2) to (6) contains a halogen atom or an acetoxy compound, Therefore, since the reaction system shows acidity by adding water, it may be added or not added with an acid catalyst in addition to the silane compound. Moreover, when all X of the silane compound represented by the general formulas (2) to (6) used in producing the polysiloxane compound is an alkoxy group, it is preferable to add an acid catalyst.

酸触媒としては、無機酸又は有機酸を挙げることができる。
上記無機酸としては、例えば塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸、ホウ酸等を挙げることができる。
上記有機酸としては、例えば酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、安息香酸、p − アミノ安息香酸、p − トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、シトラコン酸、リンゴ酸、グルタル酸等を挙げる事ができる。
Examples of the acid catalyst include inorganic acids and organic acids.
Examples of the inorganic acid include hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, hydrofluoric acid, phosphoric acid, and boric acid.
Examples of the organic acid include acetic acid, propionic acid, butanoic acid, pentanoic acid, hexanoic acid, heptanoic acid, octanoic acid, nonanoic acid, decanoic acid, oxalic acid, maleic acid, methylmalonic acid, benzoic acid, and p-aminobenzoic acid. Examples include acid, p-toluenesulfonic acid, benzenesulfonic acid, trifluoroacetic acid, formic acid, malonic acid, sulfonic acid, phthalic acid, fumaric acid, citric acid, tartaric acid, citraconic acid, malic acid, glutaric acid, and the like.

これらの化合物は、一種又は二種以上を混合して用いることができる。また使用される酸触媒の量はポリシロキサン化合物を製造する際の反応系のPHを0.01から6.0の範囲に調整することがポリシロキサン化合物の重量平均分子量を制御できるため好ましい。
本発明で使用されるポリシロキサン化合物を製造する際は有機溶媒中または水と有機溶媒の混合溶液系中で製造される。縮合反応に使用される有機溶媒としては、例えばアルコール、エステル、ケトン、エーテル、脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素化合物、アミド化合物等を挙げることができる。
These compounds can be used alone or in combination of two or more. The amount of the acid catalyst used is preferably adjusted to a pH of 0.01 to 6.0 in the reaction system for producing the polysiloxane compound because the weight average molecular weight of the polysiloxane compound can be controlled.
When the polysiloxane compound used in the present invention is produced, it is produced in an organic solvent or a mixed solution system of water and an organic solvent. Examples of the organic solvent used in the condensation reaction include alcohols, esters, ketones, ethers, aliphatic hydrocarbons, aromatic hydrocarbon compounds, amide compounds, and the like.

上記アルコール類としては、例えばメチルアルコール、エチルアルコール、プロピルアルコール、ブチルアルコールのような一価アルコール、エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリン、トリメチロールプロパン、ヘキサントリオールのような多価アルコール、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテルのような多価アルコールのモノエーテル類等が挙げられる。   Examples of the alcohols include monohydric alcohols such as methyl alcohol, ethyl alcohol, propyl alcohol, and butyl alcohol, polyhydric alcohols such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, glycerin, trimethylolpropane, and hexanetriol, and ethylene glycol. Monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monopropyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monopropyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, B propylene glycol monopropyl ether, mono-ethers of polyhydric alcohols such as propylene glycol monobutyl ether.

上記エステル類としては例えば酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル等が挙げられる。ケトン類としては例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソアミルケトン等が挙げられる。
上記エーテル類としては上記の多価アルコールのモノエーテル類の他に、例えばエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールジプロピルエーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジブチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテルのような多価アルコールの水酸基の全てをアルキルエーテル化した多価アルコールエーテル類、テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン、アニソール等が挙げられる。
Examples of the esters include methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate and the like. Examples of ketones include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isoamyl ketone, and the like.
In addition to the above monoethers of polyhydric alcohols, for example, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol dipropyl ether, ethylene glycol dibutyl ether, propylene glycol dimethyl ether, propylene glycol diethyl ether, propylene glycol Examples include polyhydric alcohol ethers obtained by alkyl etherifying all hydroxyl groups of polyhydric alcohols such as dibutyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether and diethylene glycol diethyl ether, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, anisole and the like.

上記脂肪族炭化水素としては例えばヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デカン等が挙げられる。
上記芳香族炭化水素としては例えばベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒等が挙げられる。
上記アミド化合物としては例えばジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N− メチルピロリドン等を、それぞれ挙げることができる。
以上の溶媒の中でもメタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール等のアルコール系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン系溶媒、エチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル等のエーテル系溶媒、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が水と混合しやすく、シリカ粒子を分散させやすいため好ましい。
Examples of the aliphatic hydrocarbon include hexane, heptane, octane, nonane, decane, and the like.
Examples of the aromatic hydrocarbon include aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene and xylene.
Examples of the amide compound include dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone and the like.
Among these solvents, alcohol solvents such as methanol, ethanol, isopropanol and butanol, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone, ethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether Ether solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone and the like are preferable because they are easily mixed with water and silica particles are easily dispersed.

これらの溶媒は単独で使用してもいいし、複数の溶媒を合わせて使用しても構わない。また上記溶媒を用いずにバルク中で反応を行っても良い。
本発明で使用されるポリシロキサン化合物は上記一般式(2)から(6)で表されるシラン化合物に、水を添加することによって製造されることが好ましい。水の添加量としては、ポリシロキサン化合物を製造する際に用いられる上記一般式(2)から(6)で表されるシラン化合物のXの合計モル数に対して0.1当量から10当量の範囲で添加することが好ましく、更に好ましくは0.4当量以上、8当量以下の範囲である。水の添加量が0.1当量以上であると、ポリシロキサン化合物の分子量が上がるため好ましく、10当量以下で反応させることは、トレンチ埋め込み用反応物溶液のポットライフを長くし、成膜後のクラック耐性を向上させるため好ましい。
These solvents may be used alone, or a plurality of solvents may be used in combination. Moreover, you may react in a bulk, without using the said solvent.
The polysiloxane compound used in the present invention is preferably produced by adding water to the silane compound represented by the general formulas (2) to (6). The amount of water added is 0.1 equivalent to 10 equivalents relative to the total number of moles of X of the silane compound represented by the general formulas (2) to (6) used in the production of the polysiloxane compound. It is preferably added in a range, more preferably in a range of 0.4 equivalents or more and 8 equivalents or less. When the amount of water added is 0.1 equivalent or more, the molecular weight of the polysiloxane compound is preferably increased, and the reaction with 10 equivalents or less increases the pot life of the trench filling reactant solution, This is preferable for improving crack resistance.

本発明で使用されるポリシロキサン化合物を製造する際の反応温度は特に制限は無いが、−50℃から200℃の範囲、より好ましくは0℃から150℃の範囲で行うことが好ましい。上記の範囲で反応を行うことにより、ポリシロキサン化合物を製造する際の分子量を制御することができる。
本発明で用いられるトレンチ埋め込み用反応物を製造する際に用いるポリシロキサン化合物のポリスチレン換算での重量平均分子量は1,000以上200,000以下の範囲が好ましく、更に好ましくは2,000以上150,000以下である。ポリシロキサン化合物の重量平均分子量が1,000以上であると、成膜性とクラック耐性が良く、重量平均分子量が200,000以下であると、トレンチ埋め込みよう反応物のポットライフが長くなるため好ましい。本発明で使用されるポリシロキサン化合物は、上記有機溶液中で製造した後、そのままシリカ粒子と反応させても良いし、上記有機溶液中で製造した後、濃縮したり、他の有機溶媒に置換してから、シリカ粒子と反応させても構わない。
The reaction temperature for producing the polysiloxane compound used in the present invention is not particularly limited, but it is preferably in the range of −50 ° C. to 200 ° C., more preferably 0 ° C. to 150 ° C. By carrying out the reaction in the above range, the molecular weight when producing the polysiloxane compound can be controlled.
The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the polysiloxane compound used when producing the trench filling reactant used in the present invention is preferably in the range of 1,000 to 200,000, more preferably 2,000 to 150,000. 000 or less. When the weight average molecular weight of the polysiloxane compound is 1,000 or more, the film formability and crack resistance are good, and when the weight average molecular weight is 200,000 or less, the pot life of the reaction product is increased so as to fill the trench. . The polysiloxane compound used in the present invention may be reacted with silica particles as it is after being produced in the above organic solution, or after being produced in the above organic solution, concentrated or substituted with another organic solvent. Then, it may be reacted with silica particles.

次に本発明で使用されるシリカ粒子について説明する。
本実施の形態のトレンチ埋め込み用反応物に使用されるシリカ粒子とは、例えばヒュームドシリカ、コロイダルシリカ等を挙げることができる。
上記ヒュームドシリカは、シリコン原子を含む化合物を気相中で酸素及び水素を反応させることによって得ることができる。ここで原料となるケイ素化合物としては、例えばハロゲン化ケイ素( 例えば塩化ケイ素等) 等を挙げることができる。
コロイダルシリカは、原料化合物を加水分解及び縮合するゾルゲル法により合成することができる。コロイダルシリカの原料化合物としては、例えば、アルコキシケイ素( 例えばテトラエトキシシラン等) 、ハロゲン化シラン化合物( 例えばジフェニルジクロロシラン等) 等を挙げることができる。中でも、金属やハロゲン等の不純物が少ないことが求められていることより、アルコキシケイ素から得られたコロイダルシリカがより好ましい。
Next, the silica particles used in the present invention will be described.
Examples of the silica particles used in the trench filling reactant of the present embodiment include fumed silica and colloidal silica.
The fumed silica can be obtained by reacting a compound containing a silicon atom with oxygen and hydrogen in a gas phase. Examples of the silicon compound used as a raw material include silicon halides (for example, silicon chloride).
Colloidal silica can be synthesized by a sol-gel method in which a raw material compound is hydrolyzed and condensed. Examples of the raw material compound for colloidal silica include alkoxy silicon (for example, tetraethoxysilane) and halogenated silane compounds (for example, diphenyldichlorosilane). Among these, colloidal silica obtained from alkoxysilicon is more preferable because it is required to have less impurities such as metal and halogen.

シリカ粒子の平均一次粒子径は、1以上120nm以下であることが好ましく、1以上40nm以下であることがより好ましい。120nm以下であると、トレンチへの埋め込み性が高くなるため好ましく、1nm以上であると耐クラック性が向上するため好ましい。
シリカの平均二次粒子径は、2nm以上250nm以下であることが好ましく、2以上80nm以下であることがより好ましい。250nm以下であると、トレンチへの埋め込み性が高くなるため好ましく、2nm以上であると耐クラック性が向上するため好ましい。また、シリカ粒子の平均二次粒子径は、上記の範囲内で、基板に形成されたトレンチのうち、最小の開口幅に対して、0.1〜3倍であることがトレンチへの埋め込み性が高くなることより好ましく、0.1〜2倍であることが更に好ましい。
The average primary particle diameter of the silica particles is preferably 1 or more and 120 nm or less, and more preferably 1 or more and 40 nm or less. When the thickness is 120 nm or less, the embedding property in the trench is improved, and when the thickness is 1 nm or more, the crack resistance is improved.
The average secondary particle diameter of silica is preferably 2 nm or more and 250 nm or less, and more preferably 2 or more and 80 nm or less. When the thickness is 250 nm or less, the embedding property in the trench is improved, and when the thickness is 2 nm or more, the crack resistance is improved. In addition, the average secondary particle diameter of the silica particles is 0.1 to 3 times the minimum opening width of the trenches formed in the substrate within the above range. Is more preferable, and it is still more preferable that it is 0.1 to 2 times.

なお、シリカ粒子は、加熱された際に結合が開裂・再結合して再配列する、いわゆる「リフロー」といわれる現象を示すことが知られている。このため、シリカ粒子の平均二次粒子径がトレンチの開口幅より大きくても、後述する加熱工程においてリフロー現象が起こり、これによって細分化されたシリカ粒子の一部がトレンチ内部まで到達することとなる。
シリカ粒子の形状としては、球状、棒状、板状若しくは繊維状又はこれらのいくつかが合体した形状であることができるが、好ましくは球状である。なお、ここでいう球状とは、真球状の他、回転楕円体や卵形等の略球状である場合も含むものである。
シリカ粒子の比表面積としては、HF耐性が上がることより1000m/g以下 であることが好ましく、500m/g以下であることがより好ましい。
シリカ粒子としては、上記の要件に適合する限りで、制限は無く、市販品を使用することもできる。
Silica particles are known to exhibit a so-called “reflow” phenomenon in which, when heated, the bonds are cleaved, recombined and rearranged. For this reason, even if the average secondary particle diameter of the silica particles is larger than the opening width of the trench, a reflow phenomenon occurs in the heating process described later, and a part of the finely divided silica particles reaches the inside of the trench. Become.
The shape of the silica particles can be spherical, rod-like, plate-like, fiber-like, or a shape in which some of them are combined, but preferably spherical. The term “spherical” as used herein includes not only true spheres but also cases where the shape is substantially spherical, such as a spheroid or oval.
The specific surface area of the silica particles is preferably 1000 m 2 / g or less, more preferably 500 m 2 / g or less, because the HF resistance is increased.
The silica particles are not limited as long as they meet the above requirements, and commercially available products can also be used.

このような市販品としては、コロイダルシリカとして、例えばLEVASILシリーズ(H.C.Starck(株)製)、メタノールシリカゾルIPA−ST、同MEK−S T 、同NBA−ST、同XBA−ST、同DMAC−ST、同ST−UP、同ST−OU P、同ST−20、同ST−40、同ST−C、同ST−N、同ST−O、同ST−50 、同ST−OL(以上、日産化学工業( 株) 製) 、クオートロンP L シリーズ(扶桑化学( 株) 製) 等;粉体状のシリカ粒子として、例えばアエロジル130 、同300 、同380 、同TT600 、同OX50 ( 以上、日本アエロジル( 株) 製) 、シルデックスH31 、同H32、同H51 、同H52 、同H121 、同H122( 以上、旭硝子( 株) 製) 、E220A、E220 ( 以上、日本シリカ工業( 株) ) 、SYLYSIA470( 富士シリシア( 株)製)、SGフレーク( 日本板硝子( 株) 製) 等を、それぞれ挙げることができる。   As such a commercial product, as colloidal silica, for example, LEVASIL series (manufactured by HC Starck Co., Ltd.), methanol silica sol IPA-ST, same MEK-ST, same NBA-ST, same XBA-ST, same DMAC-ST, ST-UP, ST-UPP, ST-20, ST-40, ST-C, ST-N, ST-O, ST-50, ST-OL ( As mentioned above, manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), Quateron PL series (manufactured by Fuso Chemical Co., Ltd.), etc .; As powdered silica particles, for example, Aerosil 130, 300, 380, TT600, OX50 (above, Nippon Aerosil Co., Ltd.), Sildex H31, H32, H51, H52, H121, H122 (above, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.), E220A E220 (above, Nippon Silica Kogyo (Ltd.)), SYLYSIA470 (manufactured by Fuji Silysia Chemical Co., Ltd.), the SG Flake (manufactured by Nippon Sheet Glass Co., Ltd.), and the like, can be mentioned, respectively.

本発明のポリシロキサン化合物に上記シリカ粒子を反応させる際には、溶媒に分散した状態で反応させることができる。使用される溶媒としては、水若しくは有機溶媒又はこれらの混合溶媒を使用することができる。使用される有機溶媒は使用されるシリカ粒子の分散媒によって変わる。使用されるシリカ粒子の分散媒が水系の場合は、水若しくは、アルコール系溶媒をシリカ粒子の水分散媒に加えてからポリシロキサン化合物と反応を行ってもよいし、シリカ粒子の水溶液を一度アルコール系溶媒に置換してから、ポリシロキサン化合物と反応を行っても良い。使用できるアルコール溶媒としては、例えばメタノール、エタノール、n−プロパノール、2−プロパノール、n−ブタノール、メトキシエタノール、エトキシエタノール等であり、水と容易に混合するため好ましい。   When making the said silica particle react with the polysiloxane compound of this invention, it can be made to react in the state disperse | distributed to the solvent. As a solvent to be used, water, an organic solvent, or a mixed solvent thereof can be used. The organic solvent used varies depending on the dispersion medium of the silica particles used. When the silica particle dispersion medium used is aqueous, water or an alcohol-based solvent may be added to the silica particle aqueous dispersion medium and then reacted with the polysiloxane compound, or the silica particle aqueous solution may be once alcoholized. You may react with a polysiloxane compound after substituting with a system solvent. Examples of the alcohol solvent that can be used include methanol, ethanol, n-propanol, 2-propanol, n-butanol, methoxyethanol, ethoxyethanol, and the like, which are preferable because they are easily mixed with water.

使用されるシリカ粒子の分散媒がアルコール、ケトン、エステル、炭化水素等の溶媒の場合は、水若しくはアルコール、エーテル、ケトン、エステル等の溶媒を使用することができる。アルコール類としては例えばメタノール、エタノール、n−プロパノール、2−プロパノール、n−ブタノール等が挙げられる。エーテル系溶媒としては例えばジメトキシエタンが挙げられる。ケトン系溶媒としては例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等が挙げられる。エステル系溶媒としては、例えば酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、ギ酸エチル、ギ酸プロピル等が挙げられる。   When the dispersion medium of the silica particles used is a solvent such as alcohol, ketone, ester, or hydrocarbon, water or a solvent such as alcohol, ether, ketone, or ester can be used. Examples of alcohols include methanol, ethanol, n-propanol, 2-propanol, n-butanol and the like. Examples of the ether solvent include dimethoxyethane. Examples of the ketone solvent include acetone, methyl ethyl ketone, and methyl isobutyl ketone. Examples of the ester solvent include methyl acetate, ethyl acetate, propyl acetate, ethyl formate, propyl formate and the like.

シリカ粒子とポリシロキサン化合物の反応は酸性雰囲気下で行われることが好ましい。使用できる酸触媒はポリシロキサン化合物を製造する際と、同じ酸触媒を使用することができる。ポリシロキサン化合物を製造する際に一度酸触媒を取り除いた場合は、シリカ粒子とポリシロキサン化合物を反応する際に酸触媒を加える必要があるが、ポリシロキサン化合物を製造する際に酸触媒を取り除かずそのまま反応させる場合は、酸触媒を加えなくても、ポリシロキサン化合物を反応させる際に使用された酸触媒でポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応を行うことができるし、改めて酸触媒を加えても構わない。   The reaction between the silica particles and the polysiloxane compound is preferably performed in an acidic atmosphere. The acid catalyst which can be used can use the same acid catalyst as when manufacturing a polysiloxane compound. If the acid catalyst is removed once when producing the polysiloxane compound, it is necessary to add the acid catalyst when reacting the silica particles with the polysiloxane compound, but the acid catalyst is not removed when producing the polysiloxane compound. When reacting as it is, the acid catalyst used when reacting the polysiloxane compound can be reacted with the polysiloxane compound and the silica particles without adding the acid catalyst, or the acid catalyst can be added again. I do not care.

シリカ粒子とポリシロキサン化合物溶液の反応温度は特に制限は無く、通常の範囲である−50℃から200℃の範囲で行われる。
使用されるシリカ粒子の割合は、前記シリカ粒子が前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子、又は前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子と前記シラン化合物の合計に対して、1質量%以上80質量%以下が好ましく、より好ましくは5質量%以上70質量%以下であり、更に好ましくは10質量%以上60質量%以下である。1質量%以上であるとクラック耐性が上がるため好ましく、80質量%以下であると膜質が良くなるため好ましい。
The reaction temperature of the silica particles and the polysiloxane compound solution is not particularly limited, and it is carried out in the normal range of −50 ° C. to 200 ° C.
The ratio of the silica particles used is such that the silica particles are 1% by mass or more and 80% by mass or less based on the total of the polysiloxane compound and the silica particles, or the polysiloxane compound, the silica particles, and the silane compound. More preferably, it is 5 mass% or more and 70 mass% or less, More preferably, it is 10 mass% or more and 60 mass% or less. When it is 1% by mass or more, crack resistance is improved, and when it is 80% by mass or less, film quality is improved.

本発明のポリシロキサン系トレンチ埋め込み用反応物は、シリカ粒子の分散媒にポリシロキサン化合物溶液を加えて反応させた後に、一般式(1)に示されるシラン化合物を反応させても構わない。
SiX4−n 一般式(1)
一般式(1)中のnは1から3の整数である。Rは水素原子又は、炭素数1から10の炭化水素基であり、Xはハロゲン原子、炭素数1から6のアルコキシ基、アセトキシ基から選ばれる基であり、RおよびXは同一でも異なっていても構わない。一般式(1)中のR及びXは上記一般式(2)、(5)、(6)と同じ基から選ばれることが好ましく、Rの具体例としては、水素原子、メチル、エチル、n−プロピル、イソプロピル、n−ブチル、s−ブチル、t−ブチル、n−ペンチル、i−ペンチル、ネオペンチル、シクロペンチル、n−ヘキシル、i−ヘキシル、シクロヘキシル、n−ヘプチル、i−ヘプチル、n−オクチル、i−オクチル、t―オクチル、n−ノニル、i−ノニル、n−デシル、i−デシル等の非環式又は環式の脂肪族炭化水素基、ビニル、プロペニル、ブテニル、ペンテニル、ヘキセニル、シクロヘキセニル、シクロヘキセニルエチル、ノルボルネニルエチル、ヘプテニル、オクテニル、ノネニル、デセニル、スチレニル等の非環式及び環式アルケニル基、ベンジル、フェネチル、2−メチルベンジル、3−メチルベンジル、4−メチルベンジル等のアラルキル基、PhCH=CH−基のようなアラアルケニル基、フェニル基、トリル基あるいはキシリル基のようなアリール基が挙げられる。この中でも焼成時に酸化シリコン酸化物への転換の際に重量減少が少なく、収縮率が小さい基として、好ましくは水素原子、メチル基、エチル基であり、より好ましくは水素基である。
The polysiloxane trench filling reactant of the present invention may be reacted with a polysiloxane compound solution added to a dispersion medium of silica particles and then reacted with a silane compound represented by the general formula (1).
R n SiX 4-n Formula (1)
N in the general formula (1) is an integer of 1 to 3. R is a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, X is a group selected from a halogen atom, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms and an acetoxy group, and R and X are the same or different. It doesn't matter. R and X in the general formula (1) are preferably selected from the same groups as in the general formulas (2), (5) and (6). Specific examples of R include a hydrogen atom, methyl, ethyl, n -Propyl, isopropyl, n-butyl, s-butyl, t-butyl, n-pentyl, i-pentyl, neopentyl, cyclopentyl, n-hexyl, i-hexyl, cyclohexyl, n-heptyl, i-heptyl, n-octyl , I-octyl, t-octyl, n-nonyl, i-nonyl, n-decyl, i-decyl and the like acyclic or cyclic aliphatic hydrocarbon groups, vinyl, propenyl, butenyl, pentenyl, hexenyl, cyclo Acyclic and cyclic alkenyl groups such as hexenyl, cyclohexenylethyl, norbornenylethyl, heptenyl, octenyl, nonenyl, decenyl, styryl and the like; Aralkyl groups such as ru, phenethyl, 2-methylbenzyl, 3-methylbenzyl, 4-methylbenzyl, aralkenyl groups such as PhCH = CH- groups, and aryl groups such as phenyl, tolyl or xylyl groups. It is done. Among these, as a group having a small weight loss upon conversion to silicon oxide oxide upon firing and a small shrinkage rate, a hydrogen atom, a methyl group, and an ethyl group are preferable, and a hydrogen group is more preferable.

上記一般式(1)中のXの具体例としては、例えばクロライド、ブロマイド等のハロゲン原子、メトキシ基、エトキシ基、n−プロピルオキシ基、i−プロピルオキシ基、n−ブチルオキシ基、t−ブチルオキシ基、n−ヘキシルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基等のアルコキシ基、アセトキシ基等が挙げられる。この中でもメトキシ基、エトキシ基等のアルコキシ基やアセトキシ基が縮合反応の反応性が高いため好ましい。
本発明のトレンチ埋め込み用反応物に加える上記一般式(1)に示されるシラン化合物は、1種類でも良いし、複数のシラン化合物を加えても構わない。複数のシラン化合物を加える際には、1種類ずつ加えても良いし、複数のシラン化合物を混合させてから加えてもよい。
Specific examples of X in the general formula (1) include halogen atoms such as chloride and bromide, methoxy group, ethoxy group, n-propyloxy group, i-propyloxy group, n-butyloxy group, and t-butyloxy. Group, an alkoxy group such as an n-hexyloxy group and a cyclohexyloxy group, and an acetoxy group. Among these, alkoxy groups such as a methoxy group and an ethoxy group and an acetoxy group are preferable because of high reactivity of the condensation reaction.
The silane compound represented by the general formula (1) to be added to the reactant for filling the trench according to the present invention may be one kind or a plurality of silane compounds. When adding a plurality of silane compounds, they may be added one by one or after mixing a plurality of silane compounds.

上記一般式(1)に示されるシラン化合物の添加量はポリシロキサン化合物、シリカ粒子、シラン化合物の合計に対して、0質量%超過、40質量%以下の範囲が好ましく、より好ましくは0質量%超過、30質量%以下の範囲である。上記の範囲であると、本発明のトレンチ埋め込み用反応物のポットライフが長くなり、耐クラック性が上がるため好ましい。
上記一般式(1)に示されるシラン化合物は、ニートで加えてもよいし、一度溶媒で希釈してから加えても良い。希釈できる溶媒としては、シラン化合物が反応しなければどの溶媒を用いても構わない。例えばエーテル系、炭化水素系、ハロゲン化溶媒等が用いられる。
The addition amount of the silane compound represented by the general formula (1) is preferably in the range of more than 0% by mass and 40% by mass or less, more preferably 0% by mass with respect to the total of the polysiloxane compound, silica particles, and silane compound. Exceeding 30% by mass or less. The above range is preferable because the pot life of the trench-filling reaction product of the present invention is increased and crack resistance is increased.
The silane compound represented by the general formula (1) may be added neat, or may be added after once diluted with a solvent. As a solvent which can be diluted, any solvent may be used as long as the silane compound does not react. For example, ether type, hydrocarbon type, halogenated solvent and the like are used.

添加するシラン化合物の濃度は1wt%以上100wt%以下の範囲が好ましく、より好ましくは3質量%以上50質量%以下である。上記の範囲内であると、製造時の溶媒量が少なくなるため好ましい。
シラン化合物を添加する後に、−50℃以上200℃以下の範囲で、1分以上100時間の範囲で反応させることが好ましい。反応温度と反応時間を制御することで、本発明のトレンチ埋め込み用反応物を成膜する際の粘度を制御することができるため上記の範囲で反応させることが好ましい。
The concentration of the silane compound to be added is preferably in the range of 1 wt% to 100 wt%, more preferably 3 wt% to 50 wt%. It is preferable for it to be within the above range since the amount of solvent during production is reduced.
After adding a silane compound, it is preferable to make it react in the range of -50 degreeC or more and 200 degrees C or less for 1 minute or more and 100 hours. By controlling the reaction temperature and the reaction time, it is possible to control the viscosity at the time of film formation of the trench filling reactant of the present invention.

本発明のトレンチ埋め込み用反応物は、上記一般式(1)で表されるシラン化合物と反応させた後、沸点100℃以上200℃以下のアルコール、ケトン、エステル、エーテル、炭化水素系溶媒から選ばれる少なくとも1種類の溶媒が、本発明のポリシロキサン系トレンチ埋め込み用縮合反応物溶液に占める溶媒の合計に対して50質量%以上含まれている分散液または溶液にすることが好ましい。アルコール、ケトン、エステル、エーテル系溶媒は、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子との反応、あるいはポリシロキサンとシリカ粒子の反応物と、シラン化合物の反応の際にあらかじめ加えておいても構わないし、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応、あるいは、ポリシロキサン化合物、シリカ粒子とシラン化合物の反応を行った後に、上記から選ばれる溶媒を更に添加しても構わない。また反応物を形成させた後、一度反応の際に使用した溶媒を蒸留等の方法により、濃縮させた後に加えても構わない。   The reactant for trench filling of the present invention is selected from alcohols, ketones, esters, ethers and hydrocarbon solvents having a boiling point of 100 ° C. or higher and 200 ° C. or lower after reacting with the silane compound represented by the general formula (1). It is preferable to use a dispersion or solution in which at least one kind of the solvent is contained in an amount of 50% by mass or more based on the total amount of the solvent in the polysiloxane-based trench embedding condensation reaction solution of the present invention. Alcohol, ketone, ester and ether solvents may be added in advance during the reaction between the polysiloxane compound and silica particles, or the reaction between the polysiloxane and silica particles and the silane compound. After the reaction between the compound and the silica particles, or the reaction between the polysiloxane compound and the silica particles and the silane compound, a solvent selected from the above may be further added. Further, after the reaction product is formed, the solvent once used in the reaction may be added after concentration by a method such as distillation.

上記のアルコール、ケトン、エステル、エーテル、炭化水素系溶媒の具体例としては、例えばブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、オクタノール、メトキシエタノール、エトキシエタノール、プロピレングリコールモノメトキシエーテル、プロピレングリコールモノエトキシエーテル等のアルコール系溶媒、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、イソアミルケトン、エチルヘキシルケトン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、γ―ブチロラクトン等のケトン系溶媒、酢酸ブチル、酢酸ペンチル、酢酸ヘキシル、プロピルプロピオネート、ブチルプロピオネート、ペンチルプロピオネート、ヘキシルプロピオネート、プロピレングリコールメチルエチルアセテート、乳酸エチル等のエステル系溶媒、ブチルエチルエーテル、ブチルプロピルエーテル、ジブチルエーテル、アニソール、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールメチルエチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル等のエーテル系溶媒、トルエン、キシレン等の炭化水素系溶媒等が挙げられる。これらの溶媒系は、本発明のトレンチ埋め込み用反応物に含まれる溶媒系の中で50質量%以上含まれていれば、沸点が100℃以下の溶媒が混合されていても構わない。また上記の溶媒系が複数用いられていても構わない。上記の沸点が100℃以上200℃以下のアルコール、ケトン、エステル、エーテル、炭化水素系溶媒が50質量%以上含まれることによって、トレンチ埋め込み用反応物のポットライフを長くすることができ、また成膜性も向上するために好ましい。   Specific examples of the alcohol, ketone, ester, ether, and hydrocarbon solvent include alcohols such as butanol, pentanol, hexanol, octanol, methoxyethanol, ethoxyethanol, propylene glycol monomethoxy ether, and propylene glycol monoethoxy ether. Solvents, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, isoamyl ketone, ethyl hexyl ketone, cyclopentanone, cyclohexanone, γ-butyrolactone and other ketone solvents, butyl acetate, pentyl acetate, hexyl acetate, propyl propionate, butyl propionate, pentyl Ester solvents such as propionate, hexyl propionate, propylene glycol methyl ethyl acetate, ethyl lactate, butyl ethyl ether Examples include ether solvents such as butylpropyl ether, dibutyl ether, anisole, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, propylene glycol dimethyl ether, propylene glycol methyl ethyl ether, propylene glycol diethyl ether, and hydrocarbon solvents such as toluene and xylene. It is done. These solvent systems may be mixed with a solvent having a boiling point of 100 ° C. or lower as long as it is contained in an amount of 50% by mass or more in the solvent system included in the reactant for filling trenches of the present invention. A plurality of the above solvent systems may be used. By containing 50% by mass or more of alcohol, ketone, ester, ether, or hydrocarbon solvent having a boiling point of 100 ° C. or higher and 200 ° C. or lower, the pot life of the trench filling reactant can be increased. It is preferable for improving the film property.

ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応、あるいはポリシロキサン化合物、シリカ粒子、シラン化合物の反応の際に使用される溶媒、およびポリシロキサン化合物とシリカ粒子との反応、あるいはポリシロキサン化合物、シリカ粒子とシラン化合物の反応の際に生成される水やアルコールが、上記のアルコール、ケトン、エステル、エーテル系溶媒よりも沸点が低い場合は、反応の際か、反応後に上記から選ばれる溶媒を加えた後に、蒸留等の方法によって低沸点の溶媒を取り除く方が、本発明のトレンチ埋め込み用反応物のポットライフが長くなるため好ましい。
このような方法により製造されたトレンチ埋め込み用反応物は、通常の方法で塗布することができる。例えばスピンコート法、ディップコート法、ローラーブレード塗布法、スプレー塗布法等が挙げられる。中でも成膜時の塗布厚みが均一になるためスピンコート法が好ましい。
Solvent used in reaction of polysiloxane compound and silica particle, or reaction of polysiloxane compound, silica particle, silane compound, and reaction of polysiloxane compound and silica particle, or polysiloxane compound, silica particle and silane compound If the boiling point of water or alcohol produced during the reaction is lower than that of the alcohol, ketone, ester or ether solvent, distillation is performed during the reaction or after adding a solvent selected from the above after the reaction. It is preferable to remove the solvent having a low boiling point by a method such as the above because the pot life of the trench filling reaction product of the present invention becomes longer.
The trench filling reactant manufactured by such a method can be applied by a usual method. Examples thereof include spin coating, dip coating, roller blade coating, and spray coating. Among them, the spin coating method is preferable because the coating thickness at the time of film formation becomes uniform.

これらの方法で塗布した後、塗布膜中の残存溶媒を除くため50〜200℃で予備硬化することが好ましい。
予備硬化させて得られた膜を酸化、加熱焼成することによって酸化物を得ることができる。
本硬化の酸化、加熱焼成方法としては、ホットプレート、オーブン、ファーネス等の一般的な加熱手段を適用することができる。熱処理温度は、好ましくは100℃〜1200℃であり、より好ましくは200℃〜1000℃である。更に好ましくは300℃〜900℃である。上記の範囲に入っていれば、焼成後の膜密度が高く、また得られた膜質が良いため好ましい。加熱焼成時の雰囲気としては、空気や酸素又は水蒸気酸化のいずれを用いても構わない。酸化、加熱焼成温度としては200〜850℃の範囲で行われ、酸化前後にNやAr等の不活性雰囲気下で焼成しても構わない。
After coating by these methods, it is preferable to pre-cure at 50 to 200 ° C. in order to remove the residual solvent in the coating film.
An oxide can be obtained by oxidizing and heating and baking a film obtained by pre-curing.
General heating means such as a hot plate, an oven, and a furnace can be applied as the main curing oxidation and baking method. The heat treatment temperature is preferably 100 ° C to 1200 ° C, more preferably 200 ° C to 1000 ° C. More preferably, it is 300 to 900 degreeC. If it is in said range, since the film density after baking is high and the obtained film quality is good, it is preferable. Any of air, oxygen, or steam oxidation may be used as the atmosphere during the heating and firing. The oxidation and heating firing temperature is 200 to 850 ° C., and firing may be performed in an inert atmosphere such as N 2 or Ar before and after oxidation.

酸化、加熱焼成工程時の圧力に特に制限は無く加圧下、常圧下、減圧下又は真空中のいずれの圧力でも実施することができる。
また酸化、加熱燃焼時に光処理を併用しても構わない。この場合、光処理は加熱前後のどちらに行っても良いし、加熱しながら光処理を同時に行っても構わない。加熱と光処理を同時に行う場合の温度としては、好ましくは室温から500℃であり、処理時間は0.1から120分程度である。
光処理としては、可視光線、紫外線、遠紫外線などを使用できるほか、低圧もしくは高圧の水銀ランプ、重水素ランプや、アルゴン、クリプトン、キセノン等の希ガスの放電光や、YAGレーザー、アルゴンレーザー、炭酸ガスレーザー、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザー等を光源として使用することができる。これらの光源としては、好ましくは10〜5,000Wの出力のものである。これらの光の波長は、塗布した膜中の組成物に少しでも吸収があれば構わないが、好ましくは170nmから600nmの波長の光であり、照射量としては、0.1から1,000J/cmであり、より好ましくは1〜100J/cmである。光処理する時に同時にオゾンを発生させても構わない。上記の範囲で光処理することによって酸化反応が進行し、焼成後の膜質が良くなるため好ましい。
本発明のトレンチ埋め込み用樹脂組成物を使用して得られた絶縁膜は、例えばフラッシュメモリ等の絶縁膜として好適である。
There is no restriction | limiting in particular in the pressure at the time of an oxidation and a heat-firing process, It can implement by any pressure under pressure, a normal pressure, pressure reduction, or a vacuum.
Further, light treatment may be used in combination during oxidation and heat combustion. In this case, the light treatment may be performed before or after heating, or the light treatment may be performed simultaneously while heating. The temperature when heating and light treatment are performed simultaneously is preferably room temperature to 500 ° C., and the treatment time is about 0.1 to 120 minutes.
As light treatment, visible light, ultraviolet light, far ultraviolet light, etc. can be used, low pressure or high pressure mercury lamp, deuterium lamp, discharge light of rare gas such as argon, krypton, xenon, YAG laser, argon laser, An excimer laser such as a carbon dioxide laser, XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, or ArCl can be used as a light source. These light sources preferably have an output of 10 to 5,000 W. The wavelength of these lights may be as long as the composition in the coated film absorbs even a little, but it is preferably light having a wavelength of 170 nm to 600 nm, and the irradiation amount is from 0.1 to 1,000 J / cm 2 , more preferably 1 to 100 J / cm 2 . Ozone may be generated simultaneously with the light treatment. The light treatment within the above range is preferable because the oxidation reaction proceeds and the film quality after baking is improved.
The insulating film obtained by using the resin composition for filling a trench according to the present invention is suitable as an insulating film for a flash memory, for example.

以下、実施例及び比較例により本発明の実施の形態を詳細に説明する。本発明はこれらに限定されるものではない。
(1)ポリシロキサン化合物の分子量測定
東ソー製のゲルパーミネーションクロマトグラフィー(GPC)、HLC−8220を使用し、テトラヒドロフラン(THF)溶媒中、ポリシロキサン化合物を1質量%溶液にして測定し、示差屈折率計(RI)によりポリスチレン換算の重量平均分子量(Mw)を求めた。
(2)クラック耐性
焼成後の膜厚が0.7μmになるように塗布・焼成を行い、焼成後のSi基板を光学顕微鏡にて観察し、光学顕微鏡にてクラックが入っているか否かを判定し、クラックが入っていない場合を○とした。
(3)収縮率
Si基板の焼成前膜厚と、焼成後膜厚をHORIBA JOBINYVON製分光エリプソメーターUVISELで測定し、焼成前後の膜厚の差より収縮率を求めた。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to Examples and Comparative Examples. The present invention is not limited to these.
(1) Molecular weight measurement of polysiloxane compound Using Tosoh's gel permeation chromatography (GPC), HLC-8220, the polysiloxane compound was measured in a 1% by mass solution in tetrahydrofuran (THF) solvent, and differential refraction was measured. The weight average molecular weight (Mw) in terms of polystyrene was determined by a rate meter (RI).
(2) Crack resistance Coating and baking are performed so that the film thickness after baking becomes 0.7 μm, the Si substrate after baking is observed with an optical microscope, and it is determined whether or not there are cracks with the optical microscope. And the case where there was no crack was marked as “good”.
(3) Shrinkage rate The film thickness before firing of the Si substrate and the film thickness after firing were measured with a spectroscopic ellipsometer UVISEL manufactured by HORIBA JOBINYVON, and the shrinkage rate was determined from the difference in film thickness before and after firing.

(4)HF耐性
焼成後のSi基板を重量比1:199のHF溶液に20秒浸し、HF試験前後の膜厚を分光エリプソメーターで測定し、基板上の膜が溶解するHFレートが50nm/min以下であれば○とした。
(5)埋め込み性
トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工をした後、日立製作所製、走査型電子顕微鏡(SEM)S4700を使用し、加速電圧5kVで測定し、トレンチ内が埋まっていれば○とした。
(6)ワニスポットライフ
製造したポリシロキサン系トレンチ埋め込み用反応物溶液を室温で3日放置し、ゲル化しなければ○とした。
ポリシロキサン化合物の製造例
(4) HF resistance The fired Si substrate was immersed in an HF solution having a weight ratio of 1: 199 for 20 seconds, and the film thickness before and after the HF test was measured with a spectroscopic ellipsometer. The HF rate at which the film on the substrate was dissolved was 50 nm / If it is less than or equal to min, it was evaluated as ◯.
(5) Embeddability After cleaving a Si substrate having a trench and performing FIB processing, using a scanning electron microscope (SEM) S4700 manufactured by Hitachi, and measuring at an acceleration voltage of 5 kV, if the trench is buried ○.
(6) Crocodile spot life The produced polysiloxane-based trench filling reactant solution was allowed to stand at room temperature for 3 days, and it was evaluated as ◯ if it did not gel.
Production example of polysiloxane compound

[製造例1]
蒸留塔、滴下ロートを備えた1Lの4つ口フラスコにトリエトキシシラン37.19g(0.23mol)とイソプロパノール200gを入れ、水36.68g(2.04mol)と塩酸0.4gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌した。キシレン250gを加え、昇温してイソプロパノール、水、塩酸、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物の10質量%のキシレン溶液を得た。得られたキシレン溶液は中性であった。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は12,000であった。
[Production Example 1]
In a 1 L four-necked flask equipped with a distillation tower and a dropping funnel, 37.19 g (0.23 mol) of triethoxysilane and 200 g of isopropanol were placed, and a mixed solution of 36.68 g (2.04 mol) of water and 0.4 g of hydrochloric acid was added. It was dripped at room temperature. It stirred for 2 hours after completion | finish of dripping. 250 g of xylene was added, the temperature was raised, and isopropanol, water, hydrochloric acid and xylene were distilled off to obtain a 10% by mass xylene solution of the polysiloxane compound. The resulting xylene solution was neutral. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 12,000.

[製造例2]
蒸留塔、滴下ロートを備えた1Lの4つ口フラスコにトリエトキシシラン33.04g(0.20mol)とテトラエトキシシラン4.65g(0.022mol)とイソプロパノール200gを入れ、水37.41g(2.08mol)と塩酸0.4gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌した。キシレン250gを加え、昇温してイソプロパノール、水、塩酸、キシレンを留去し、10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液を得た。得られたキシレン溶液は中性であった。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は65,000であった。
[Production Example 2]
Into a 1 L four-necked flask equipped with a distillation tower and a dropping funnel was placed 33.04 g (0.20 mol) of triethoxysilane, 4.65 g (0.022 mol) of tetraethoxysilane, and 200 g of isopropanol, and 37.41 g (2 0.08 mol) and 0.4 g of hydrochloric acid were added dropwise at room temperature. It stirred for 2 hours after completion | finish of dripping. 250 g of xylene was added, the temperature was raised, and isopropanol, water, hydrochloric acid and xylene were distilled off to obtain a 10% by mass polysiloxane compound xylene solution. The resulting xylene solution was neutral. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 65,000.

[製造例3]
200mLのナスフラスコにトリエトキシシラン32.20g(0.20mol)とジメトキシジメチルシラン2.62g(0.022mol)とイソプロパノール50gを入れ、水11.37g(0.063mol)と塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は6,800であった。
[Production Example 3]
A 200 mL eggplant flask is charged with 32.20 g (0.20 mol) of triethoxysilane, 2.62 g (0.022 mol) of dimethoxydimethylsilane and 50 g of isopropanol, and mixed with 11.37 g (0.063 mol) of water and 1.0 g of hydrochloric acid. The solution was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of a polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 6,800.

[製造例4]
200mLのナスフラスコにトリエトキシシラン33.04g(0.20mol)とジメトキシメチルシラン2.37g(0.022mol)とイソプロパノール100gを入れ、水11.66g(0.65mol)と塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は7,200であった。
[Production Example 4]
A 200 mL eggplant flask is charged with 33.04 g (0.20 mol) of triethoxysilane, 2.37 g (0.022 mol) of dimethoxymethylsilane and 100 g of isopropanol, and mixed with 11.66 g (0.65 mol) of water and 1.0 g of hydrochloric acid. The solution was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of a polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 7,200.

[製造例5]
200mLのナスフラスコにトリエトキシシラン32.20g(0.20mol)とメトキシトリメチルシラン2.17g(0.021mol)とイソプロパノール50gを入れ、水10.96g(0.61mol)と塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は5,400であった。
[Production Example 5]
A 200 mL eggplant flask is charged with 32.20 g (0.20 mol) of triethoxysilane, 2.17 g (0.021 mol) of methoxytrimethylsilane and 50 g of isopropanol, and mixed with 10.96 g (0.61 mol) of water and 1.0 g of hydrochloric acid. The solution was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of a polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 5,400.

[製造例6]
200mLのナスフラスコにトリエトキシシラン19.61g(0.12mol)とジメトキシジメチルシラン4.41g(0.037mol)と、イソプロパノール50gを入れ、水7.77g(0.43mol)と塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は4,800であった。
[Production Example 6]
In a 200 mL eggplant flask, 19.61 g (0.12 mol) of triethoxysilane, 4.41 g (0.037 mol) of dimethoxydimethylsilane, and 50 g of isopropanol were added, and 7.77 g (0.43 mol) of water and 1.0 g of hydrochloric acid were added. The mixed solution was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of a polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 4,800.

[製造例7]
200mLのナスフラスコにトリエトキシシラン19.61g(0.12mol)とジメトキシメチルシラン4.10g(0.040mol)と、イソプロパノール100gを入れ、水7.84gと塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は5,200であった。
[Production Example 7]
In a 200 mL eggplant flask, 19.61 g (0.12 mol) of triethoxysilane, 4.10 g (0.040 mol) of dimethoxymethylsilane, and 100 g of isopropanol were added, and a mixed solution of 7.84 g of water and 1.0 g of hydrochloric acid was mixed at room temperature. It was dripped. After completion of dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of a polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 5,200.

[製造例8]
還流塔と滴下ロートを備えた500mLの4つ口フラスコにトリエトキシシラン19.61g(0.12mol)とイソプロパノール150gを入れ、ドライアイス−エタノール浴で冷却した。25質量%のジクロロシランのキシレン溶液16.48g(0.041mol)をシリンジにて滴下した。0℃まで昇温した後、水7.91gを滴下した。滴下終了後2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は7,500であった。
[Production Example 8]
In a 500 mL four-necked flask equipped with a reflux tower and a dropping funnel, 19.61 g (0.12 mol) of triethoxysilane and 150 g of isopropanol were placed and cooled in a dry ice-ethanol bath. 16.48 g (0.041 mol) of 25% by mass of dichlorosilane in xylene was added dropwise with a syringe. After raising the temperature to 0 ° C., 7.91 g of water was added dropwise. After completion of the dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of the polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 7,500.

[製造例9]
200mLのナスフラスコにトリエトキシシラン3.13g(0.019mol)とジメトキシジメチルシラン13.05g(0.109mol)と、イソプロパノール50gを入れ、水4.94g(0.27mol)と塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は3,700であった。
[Production Example 9]
In a 200 mL eggplant flask, 3.13 g (0.019 mol) of triethoxysilane, 13.05 g (0.109 mol) of dimethoxydimethylsilane, and 50 g of isopropanol were added, and 4.94 g (0.27 mol) of water and 1.0 g of hydrochloric acid were added. The mixed solution was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of a polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 3,700.

[製造例10]
200mLのナスフラスコにトリエトキシシラン3.64g(0.022mol)とメトキシトリメチルシラン12.87g(0.12mol)とイソプロパノール50gを入れ、水3.42g(0.19mol)と塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、ポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液を得た。一部をサンプリングしGPCを測定すると重量平均分子量は850であった。
以上の製造例1から9を表1にまとめた。
[Production Example 10]
A 200 mL eggplant flask is charged with 3.64 g (0.022 mol) of triethoxysilane, 12.87 g (0.12 mol) of methoxytrimethylsilane and 50 g of isopropanol, and mixed with 3.42 g (0.19 mol) of water and 1.0 g of hydrochloric acid. The solution was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 2 hours to obtain an isopropanol solution of a polysiloxane compound. When a part was sampled and GPC was measured, the weight average molecular weight was 850.
The above Production Examples 1 to 9 are summarized in Table 1.

Figure 0005547890
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[実施例1]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、触媒化成工業製の平均粒径7nm、20質量%濃度のイソプロパノール分散シリカ粒子;AZ−1003、15g、イソプロパノール100gと塩酸1.0gを入れ、上記製造例1で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液120gを室温で滴下した。滴下終了後、さらにキシレン250gを追加した後、オイルバス100℃に昇温し、4時間還流した。還流後にオイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 1]
Into a 4 L 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, an isopropanol-dispersed silica particle having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 20% by mass manufactured by Catalyst Kasei Kogyo; AZ-1003, 15 g, 100 g of isopropanol and 1.0 g of hydrochloric acid are placed. Then, 120 g of a 10% by mass polysiloxane compound produced in Production Example 1 was dropped at room temperature. After the addition was completed, 250 g of xylene was further added, and then the temperature was raised to 100 ° C. in an oil bath and refluxed for 4 hours. After refluxing, the temperature of the oil bath was raised, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a xylene solution of a reaction product of a polysiloxane compound and silica particles. The xylene solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を6インチのSi基板上に2mL滴下し、回転速度500rpmで10秒と、回転速度1000rpmで30秒間の2段階でスピンコートを行った。この基板を空気中、50℃、100℃、200℃のホットプレート上で2分間ずつ、段階的にプリベークし、溶媒を除去した。得られた塗膜はハジキや異物の観察されない均一なものであった。
得られたSi基板を酸素雰囲気下、5℃/minで400℃まで昇温し、30分焼成した。雰囲気を酸素から窒素に切り替え、30分放置後、700℃まで昇温し、1時間焼成し、2℃/minで室温まで降温した。
2 mL of a xylene solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles was dropped on a 6-inch Si substrate, and spin coating was performed in two stages of a rotation speed of 500 rpm for 10 seconds and a rotation speed of 1000 rpm for 30 seconds. This substrate was pre-baked stepwise for 2 minutes on a hot plate at 50 ° C., 100 ° C., and 200 ° C. in air to remove the solvent. The obtained coating film was uniform with no repelling or foreign matter observed.
The obtained Si substrate was heated to 400 ° C. at 5 ° C./min in an oxygen atmosphere and baked for 30 minutes. The atmosphere was switched from oxygen to nitrogen, and after standing for 30 minutes, the temperature was raised to 700 ° C., fired for 1 hour, and lowered to room temperature at 2 ° C./min.

焼成後のSi基板を上記(2)から(4)で示される評価を行い、評価結果を表2に示した。
また上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSiチップに1mL滴下し、上記条件でスピンコート、プリベーク、焼成を行った。
得られた焼成後の基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認められなかった。
The evaluation shown in the above (2) to (4) was performed on the fired Si substrate, and the evaluation results are shown in Table 2.
Also, 1 mL of a xylene solution of a reaction product of the polysiloxane compound and silica particles was dropped on a Si chip having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm, and spin coating, pre-baking, and baking were performed under the above conditions.
The obtained fired substrate was cleaved, and after FIB processing, SEM measurement was performed. As a result, local grooves, holes, cracks, and other voids were not observed, and no film formation abnormality was observed.

[実施例2]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、触媒化成工業製の平均粒径7nm、20質量%濃度のイソプロパノール分散シリカ粒子;AZ−1003、15g、イソプロパノール100gと塩酸1.0gを入れ、上記製造例2で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液122gを室温で滴下した。滴下終了後、さらにキシレン250gを追加した後、オイルバス100℃に昇温し、4時間還流した。還流後にオイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 2]
Into a 4 L 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, an isopropanol-dispersed silica particle having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 20% by mass manufactured by Catalyst Kasei Kogyo; AZ-1003, 15 g, 100 g of isopropanol and 1.0 g of hydrochloric acid are placed. Then, 122 g of a 10 mass% polysiloxane compound xylene solution produced in Production Example 2 was added dropwise at room temperature. After the addition was completed, 250 g of xylene was further added, and then the temperature was raised to 100 ° C. in an oil bath and refluxed for 4 hours. After refluxing, the temperature of the oil bath was raised, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a xylene solution of a reaction product of a polysiloxane compound and silica particles. The xylene solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
A xylene solution of a reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is applied to a 6-inch Si substrate and a Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例3]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、触媒化成工業製の平均粒径7nm、20質量%濃度のイソプロパノール分散シリカ粒子;AZ−1003、15g、イソプロパノール100gを入れ、上記製造例3で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液97gを室温で滴下した。滴下終了後、さらにキシレン250gを追加した後、オイルバス100℃に昇温し、4時間還流した。還流後にオイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 3]
Into a 4 L 1 L flask having a distillation tower and a dropping funnel, an isopropanol-dispersed silica particle having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 20% by mass; AZ-1003, 15 g, and 100 g of isopropanol manufactured by Catalyst Kasei Kogyo are put. 97 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in (1) was added dropwise at room temperature. After the addition was completed, 250 g of xylene was further added, and then the temperature was raised to 100 ° C. in an oil bath and refluxed for 4 hours. After refluxing, the temperature of the oil bath was raised, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a xylene solution of a reaction product of a polysiloxane compound and silica particles. The xylene solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
A xylene solution of a reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is applied to a 6-inch Si substrate and a Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例4]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、触媒化成工業製の平均粒径7nm、20質量%濃度のイソプロパノール分散シリカ粒子;AZ−1003、15g、イソプロパノール100gを入れ、上記製造例4で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液148gを室温で滴下した。滴下終了後、さらにキシレン250gを追加した後、オイルバス100℃に昇温し、4時間還流した。還流後にオイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 4]
Into a 4 L 1 L flask having a distillation tower and a dropping funnel, an isopropanol-dispersed silica particle having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 20% by mass; AZ-1003, 15 g, and 100 g of isopropanol manufactured by Catalyst Chemical Industry Co., Ltd. were placed. 148 g of an isopropanol solution of 10% by mass of the polysiloxane compound produced in (1) was added dropwise at room temperature. After the addition was completed, 250 g of xylene was further added, and then the temperature was raised to 100 ° C. in an oil bath and refluxed for 4 hours. After refluxing, the temperature of the oil bath was raised, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a xylene solution of a reaction product of a polysiloxane compound and silica particles. The xylene solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
A xylene solution of a reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is applied to a 6-inch Si substrate and a Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例5]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、触媒化成工業製の平均粒径7nm、20質量%濃度のイソプロパノール分散シリカ粒子;AZ−1003、15g、イソプロパノール100gを入れ、室温で上記製造例3で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液96gを室温で滴下した。滴下終了後、さらにキシレン250gを追加した後、オイルバス100℃に昇温し、4時間還流した。還流後にオイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水を留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 5]
Into a four-liter 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, an isopropanol-dispersed silica particle having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 20% by mass; 96 g of an isopropanol solution of 10% by mass of the polysiloxane compound produced in Example 3 was added dropwise at room temperature. After the addition was completed, 250 g of xylene was further added, and then the temperature was raised to 100 ° C. in an oil bath and refluxed for 4 hours. After refluxing, the temperature of the oil bath was raised, and isopropanol, hydrochloric acid, and water were distilled off from the distillation line to obtain a xylene solution of a reaction product of a polysiloxane compound and silica particles. The xylene solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
A xylene solution of a reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is applied to a 6-inch Si substrate and a Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例6]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、47.62gとイソプロパノール350gを入れ、上記製造例1で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液120gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン2.0g(0.012mol)とキシレン10gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にプロピレングリコールメチルエチルアセテート(PGMEA)200gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 6]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation tower and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle size of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 47.62 g and 350 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 120 g of a 10% by mass polysiloxane compound xylene solution produced in Production Example 1 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 2.0 g (0.012 mol) of triethoxysilane and 10 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 200 g of propylene glycol methyl ethyl acetate (PGMEA) was added, the temperature of the oil bath was raised, isopropanol, hydrochloric acid, water and xylene were distilled off from the distillation line, and PGMEA as a reaction product of polysiloxane compound, silica particles and silane compound was removed. A solution was obtained. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例7]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、47.62gとイソプロパノール350gを入れ、上記製造例2で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液113gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン2.0g(0.012mol)とキシレン10gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA200gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 7]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation tower and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle size of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 47.62 g and 350 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 113 g of a 10% by mass polysiloxane compound produced in Production Example 2 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 2.0 g (0.012 mol) of triethoxysilane and 10 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 200 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of polysiloxane compound, silica particles, and silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例8]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、47.62gとイソプロパノール162gを入れ、上記製造例3で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液94gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン2.0g(0.012mol)とキシレン34gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA200gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 8]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle size of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 47.62 g and 162 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 94 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 3 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 2.0 g (0.012 mol) of triethoxysilane and 34 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 200 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of polysiloxane compound, silica particles, and silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例9]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、71.43gとイソプロパノール243gを入れ、上記製造例6で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液83gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン4.51g(0.027mol)とキシレン88gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA200gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 9]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 71.43 g and 243 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 83 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 6 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 4.51 g (0.027 mol) of triethoxysilane and 88 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 200 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of polysiloxane compound, silica particles, and silane compound. The xylene solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例10]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、71.43gとイソプロパノール243gを入れ、上記製造例7で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液133gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン4.51g(0.027mol)とキシレン88gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA250gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 10]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 71.43 g and 243 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 133 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 7 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 4.51 g (0.027 mol) of triethoxysilane and 88 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 250 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of a polysiloxane compound, silica particles, and a silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例11]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、71.43gとイソプロパノール243gを入れ、上記製造例8で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液183gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン4.51g(0.027mol)とキシレン76gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA250gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 11]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 71.43 g and 243 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 183 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 8 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 4.51 g (0.027 mol) of triethoxysilane and 76 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 250 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of a polysiloxane compound, silica particles, and a silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例12]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、95.24gとイソプロパノール324gを入れ、上記製造例3で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液78gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン6.01g(0.037mol)とキシレン95gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA300gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 12]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 95.24 g and 324 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 78 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 3 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 6.01 g (0.037 mol) of triethoxysilane and 95 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 300 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of a polysiloxane compound, silica particles, and a silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[実施例13]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、95.24gとイソプロパノール324gを入れ、上記製造例6で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液76gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン6.01g(0.037mol)とキシレン95gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA300gを加え、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Example 13]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 95.24 g and 324 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 76 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 6 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 6.01 g (0.037 mol) of triethoxysilane and 95 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 300 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of a polysiloxane compound, silica particles, and a silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
その他の評価結果は表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
The other evaluation results are shown in Table 2.

[比較例1]
上記製造例2で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液を20質量%に濃縮し、6インチのSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキが見られ、不均一なものであった。
[Comparative Example 1]
The 10% by mass polysiloxane compound xylene solution produced in Production Example 2 was concentrated to 20% by mass, and a 6-inch Si substrate was coated, pre-baked and fired under the same conditions as in Example 1. The obtained Si substrate was repelled and non-uniform.

[比較例2]
200mLナスフラスコに扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、47.62gを入れ、上記製造例1で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液120gを反応させずに混合したところ、2層に分離した。エバポレーターにて水を留去したところ、ゲル化した。
[Comparative Example 2]
A 200 mL eggplant flask was charged with 10 mass% polysiloxane compound produced in the above Production Example 1 by placing water-dispersed silica particles having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 6.3 mass%; PL-06, 47.62 g, manufactured by Fuso Chemical Industries, Ltd. When 120 g of xylene solution was mixed without reacting, it was separated into two layers. When water was distilled off with an evaporator, gelation occurred.

[比較例3]
200mLナスフラスコに20質量%濃度のイソプロパノール分散シリカ粒子;AZ−1003、15gを入れ、上記製造例1で製造した10質量%のポリシロキサン化合物のキシレン溶液120gと反応させずに混合させた。エバポレーターにてイソプロパノールを留去したところ、ゲル化した。
[Comparative Example 3]
In a 200 mL eggplant flask, 20 mass% isopropanol-dispersed silica particles; 15-100 g of AZ-1003 were placed and mixed without reacting with 120 g of the 10 mass% polysiloxane compound xylene solution produced in Production Example 1 above. When isopropanol was distilled off with an evaporator, gelation occurred.

[比較例4]
蒸留塔及び滴下ロートを備えた500mL4つ口フラスコに20質量%濃度のイソプロパノール分散シリカ粒子;AZ−1003、15gとトリエトキシシラン27.57g(0.17mol)、テトラエトキシシラン9.19g(0.044mol)を入れ、水24.48gと塩酸1.0gの混合溶液を室温で滴下した。滴下終了後、2時間攪拌し、キシレン250gを追加した後、昇温してイソプロパノール、水、塩酸を除去した。得られたキシレン溶液は中性であった。このキシレン溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
上記シラン化合物とシリカ粒子の反応物のキシレン溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板は0.6μmでクラックが認められた。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、ボイド及びクラックの発生が認められた。
[Comparative Example 4]
In a 500 mL four-necked flask equipped with a distillation column and a dropping funnel, 20% by mass isopropanol-dispersed silica particles; AZ-1003, 15 g, 27.57 g (0.17 mol) of triethoxysilane, 9.19 g of tetraethoxysilane (0.1. 044 mol), and a mixed solution of 24.48 g of water and 1.0 g of hydrochloric acid was added dropwise at room temperature. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred for 2 hours, 250 g of xylene was added, and the temperature was raised to remove isopropanol, water and hydrochloric acid. The resulting xylene solution was neutral. This xylene solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.
A xylene solution of the reaction product of the silane compound and silica particles is applied to a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, pre-baking, and baking. went. The obtained Si substrate had cracks of 0.6 μm. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, generation of voids and cracks was observed.

[比較例5]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、71.43gとイソプロパノール243gを入れ、上記製造例9で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液72gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン4.51g(0.027mol)とキシレン56gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA200gを追加し、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Comparative Example 5]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle diameter of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 71.43 g and 243 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 72 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 9 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 4.51 g (0.027 mol) of triethoxysilane and 56 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 200 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of polysiloxane compound, silica particles, and silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板はハジキや異物の観察されない均一なものであった。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的な溝、孔、クラック等のボイドは観察されず、成膜異常は認めれなかった。
得られた6インチのSi基板のHF試験を行ったところ、Si基板は白濁した。HF試験後の膜厚をエリプソメーターで測定しようとしたが、測定できなかった。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The obtained Si substrate was uniform with no repelling or foreign matter observed. When the Si substrate having a trench was cleaved and subjected to SEM measurement after FIB processing, voids such as local grooves, holes and cracks were not observed, and no film formation abnormality was observed.
When the HF test of the obtained 6-inch Si substrate was performed, the Si substrate became cloudy. An attempt was made to measure the film thickness after the HF test with an ellipsometer, but the film thickness could not be measured.

[比較例6]
蒸留塔および滴下ロートを有する4つ口の1Lフラスコに、扶桑化学工業製の平均粒径7nm、6.3質量%濃度の水分散シリカ粒子;PL−06、47.62gとイソプロパノール162gを入れ、上記製造例10で製造したポリシロキサン化合物のイソプロパノール溶液71gを室温で滴下した。滴下終了後、30分攪拌し、トリエトキシシラン2.0g(0.012mol)とキシレン34gで希釈した溶液を滴下した。オイルバス100℃で4時間還流した。還流後にPGMEA200gを追加し、オイルバスを昇温し、蒸留ラインよりイソプロパノール、塩酸、水、キシレンを留去し、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の反応物のPGMEA溶液を得た。得られたポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液は中性であった。このPGMEA溶液を20質量%まで濃縮し、室温で3日間放置したが、ワニスはゲル化しなかった。
[Comparative Example 6]
Into a four-necked 1 L flask having a distillation column and a dropping funnel, put water-dispersed silica particles having an average particle size of 7 nm and a concentration of 6.3% by mass; PL-06, 47.62 g and 162 g of isopropanol, manufactured by Fuso Chemical Industry, 71 g of an isopropanol solution of the polysiloxane compound produced in Production Example 10 was added dropwise at room temperature. After completion of dropping, the mixture was stirred for 30 minutes, and a solution diluted with 2.0 g (0.012 mol) of triethoxysilane and 34 g of xylene was dropped. The mixture was refluxed at 100 ° C. for 4 hours. After refluxing, 200 g of PGMEA was added, the oil bath was heated, and isopropanol, hydrochloric acid, water, and xylene were distilled off from the distillation line to obtain a PGMEA solution of a reaction product of polysiloxane compound, silica particles, and silane compound. The PGMEA solution of the reaction product of the obtained polysiloxane compound and silica particles was neutral. The PGMEA solution was concentrated to 20% by mass and allowed to stand at room temperature for 3 days, but the varnish did not gel.

上記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子の反応物のPGMEA溶液を6インチのSi基板と、開口度100nm、深さ0.3μmのトレンチを有するSi基板に実施例1と同条件で塗膜、プリベーク、焼成を行った。得られたSi基板の膜厚は0.6μmであり、クラックの発生が認められた。トレンチを有するSi基板を割断し、FIB加工後、SEM測定を行ったところ、局所的なクラックが認められた。
以上の結果を表2に示した。
The PGMEA solution of the reaction product of the polysiloxane compound and silica particles is coated on a 6-inch Si substrate and an Si substrate having a trench with an opening degree of 100 nm and a depth of 0.3 μm under the same conditions as in Example 1, prebaking, and baking. Went. The film thickness of the obtained Si substrate was 0.6 μm, and generation of cracks was observed. When the Si substrate having a trench was cut and subjected to SEM measurement after FIB processing, local cracks were observed.
The above results are shown in Table 2.

Figure 0005547890
Figure 0005547890

表2より、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子あるいは、ポリシロキサン化合物、シリカ粒子とシラン化合物の反応物はワニスとしてのポットライフが長く、成膜性、クラック耐性、HF耐性、埋め込み性に優れていることが分かる。   From Table 2, the reaction product of polysiloxane compound and silica particles or polysiloxane compound, silica particles and silane compound has a long pot life as a varnish, and has excellent film-forming properties, crack resistance, HF resistance, and embedding properties. I understand.

本発明の組成物は、半導体素子に形成されたトレンチ内の絶縁保護膜用トレンチ埋め込み用反応物の分野で好適に利用できる。   The composition of the present invention can be suitably used in the field of trench filling reactants for insulating protective films in trenches formed in semiconductor devices.

Claims (8)

トレンチ埋め込み用縮合反応物であって、該縮合反応物が少なくともポリシロキサン化合物とシリカ粒子との縮合反応物を含み、該ポリシロキサン化合物がHSiO3/2基、MeHSiO基、及びHSiO基から選ばれる基の少なくとも一種を40mol%以上有し、該ポリシロキサンの重量平均分子量が1000以上200000以下であり、該シリカ粒子の平均一次粒径が1nm以上100nm以下であることを特徴とするトレンチ埋め込み用縮合反応物。 A condensation reaction product for trench filling, wherein the condensation reaction product contains at least a condensation reaction product of a polysiloxane compound and silica particles, and the polysiloxane compound is composed of an HSiO 3/2 group, a MeHSiO group, and an H 2 SiO group. Trench embedding characterized by having at least one selected group of 40 mol% or more, the polysiloxane having a weight average molecular weight of 1,000 or more and 200,000 or less, and an average primary particle size of the silica particles of 1 nm or more and 100 nm or less Condensation reaction product. 前記縮合反応物が、ポリシロキサン化合物とシリカ粒子との縮合反応物に加え、該縮合反応物を下記一般式(1):
SiX4−n 一般式(1)
一般式(1)中のnは1から3の整数であり、Rは水素原子、又は炭素数1から10の炭化水素基であり、Xはハロゲン原子、炭素数1から6のアルコキシ基、及びアセトキシ基からなる群から選ばれる基である。}で表されるシラン化合物とさらに縮合反応させた反応物を含む請求項1に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物。
The condensation reaction product is added to the condensation reaction product of the polysiloxane compound and the silica particles, and the condensation reaction product is represented by the following general formula (1):
R n SiX 4-n Formula (1)
{In the general formula (1), n is an integer of 1 to 3, R is a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, X is a halogen atom, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, And a group selected from the group consisting of acetoxy groups. } Containing silane compound represented by the further reaction product obtained by condensation reaction, condensation reaction for embedding trench according to claim 1.
前記ポリシロキサン化合物が下記一般式(2)から一般式(6):
HSiX3 一般式(2)
SiX 一般式(3)
SiX 一般式(4)
SiX 一般式(5)
SiX 一般式(6)
一般式(5)及び一般式(6)中のRは水素原子、又は炭素数1から10の炭化水素基であり、一般式(2)から一般式(6)中のXはハロゲン原子、炭素数1から6のアルコキシ基、及びアセトキシ基からなる群から選ばれる基であり、そして、一般式(4)中のRは炭素数1から10の炭化水素基である。で表されるシラン化合物由来の成分を含み、かつ、一般式(2)で表されるシラン化合物を30mol%以上含む請求項1又は2に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物。
Formula wherein the polysiloxane compound from the following general formula (2) (6):
HSiX 3 general formula (2)
SiX 4 general formula (3)
R 2 SiX 3 general formula (4)
R 2 SiX 2 general formula (5)
R 3 SiX general formula (6)
{R in General Formula (5) and General Formula (6) is a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms , and X in General Formula (2) to General Formula (6) is a halogen atom, It is a group selected from the group consisting of an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms and an acetoxy group, and R 2 in the general formula (4) is a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms. It comprises components derived from the silane compound represented by}, and, the general formula (2) silane compounds represented by containing more than 30 mol%, claim 1 or trench burying condensation reaction product according to 2.
前記シリカ粒子が前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子、又は前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子と前記シラン化合物の合計に対して、1質量%以上80質量%以下である請求項13のいずれか1項に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物。 The total of said silica particles and said polysiloxane compound silica particles, or the polysiloxane compound and the silica particles and the silane compound, is below 80 wt% or more 1 wt%, one of the claims 1 to 3, The condensation reaction product for trench filling according to claim 1. 前記シラン化合物が前記ポリシロキサン化合物とシリカ粒子とシラン化合物の合計に対して、0質量%超過40質量%以下である請求項2〜4のいずれか1項に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物。 The total of the silane compound the polysiloxane compound and silica particles and the silane compound, is below 0 wt% excess 40 wt%, the trench burying condensation reaction product according to any one of claims 2-4 . 請求項1〜5のいずれか1項に記載の縮合反応物が含まれる溶液において、沸点100℃以上200℃以下のアルコール、ケトン、エステル、エーテル、及び炭化水素系溶媒からなる群から選ばれる少なくとも1種類の溶媒が、該溶液に占める溶媒の合計に対して50質量%以上含まれていることを特徴とするトレンチ埋め込み用反応溶液。 In the solution containing the condensation reaction product according to any one of claims 1 to 5, at least selected from the group consisting of alcohols, ketones, esters, ethers, and hydrocarbon solvents having a boiling point of 100 ° C or higher and 200 ° C or lower. A trench filling reaction solution, wherein one kind of solvent is contained in an amount of 50% by mass or more based on the total amount of solvents in the solution. 前記ポリシロキサン化合物製造において、前記一般式(2)〜(6)で表されるシラン化合物に含有されるXの合計モル数に対して、0.1当量以上10当量以下の水と反応させる工程を含む、請求項のいずれか1項に記載のトレンチ埋め込み用縮合反応物の製造方法。 Oite the preparation of the polysiloxane compound, the formula (2) to the total number of moles of X contained in the silane compound represented by (6), 0.1 equivalents more than 10 equivalents or less of water The method for producing a condensation reaction product for trench embedding according to any one of claims 3 to 5 , comprising a reaction step. 前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子の反応、又は前記ポリシロキサン化合物と前記シリカ粒子と前記シラン化合物の反応を酸性雰囲気下で行う請求7に記載の方法The reaction of the polysiloxane compound and the silica particles, or the reaction is carried out between the polysiloxane compound and the silica particles and the silane compound in an acidic atmosphere, The method of claim 7.
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