JP5458263B2 - 変位/ひずみ計測装置 - Google Patents
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Description
この変位/ひずみ計測装置1を使用して、ひずみを計測する実験を行なったので、その計測結果を従来技術よる計測結果と比較して示す。
さて、以上説明したような構成に加えて、さらに、図12に示すように、撮像装置2の遮光筒6の先端に基準平板18と連結部材19を取付ければ、撮像装置2の計測対象物4に対する相対的な位置や姿勢を容易に調整することができる。以下、この撮像装置2の変形例の構成と作用を説明する。
2 撮像装置
3 コンピュータ
4 計測対象物
5 カメラ
6 遮光筒
7 カメラ本体
8 テレセントリックレンズ
9 LEDランプ
10 照明用電源コントローラ
11 拡散板
12 赤外線放射温度計
13 固定当接部材
14 マイクロメータ
15 被嵌合部材
16 位置決め部材
17 供試体
18 基準平板
19 連結部材
20 固定片
21 可動片
22 ロッド
23 ロッド
24 コイルばね
25 ボルト
Claims (6)
- 撮像装置と画像解析装置から構成されて、前記撮像装置で計測対象物を撮像した画像を前記画像解析装置で解析して、当該計測対象物の変位又はひずみを算出する変位/ひずみ計測装置において、
一端が前記撮像装置に進退自在に取付けられて、他端が前記計測対象物に当接する進退当接部材を少なくとも2個有して、前記撮像装置の光軸が計測対象物に対して垂直になるように調整する光軸調整装置を備える
ことを特徴とする変位/ひずみ計測装置。 - 計測対象物の表面温度を計測する赤外線放射温度計を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の変位/ひずみ計測装置。 - 前記画像解析装置は、前記赤外線放射温度計で計測された計測対象物の表面温度と、変位又はひずみが生じる前に計測された計測対象物の表面温度の温度差に起因する成分を、当該計測対象物の変位又はひずみから控除する
ことを特徴とする請求項2に記載の変位/ひずみ計測装置。 - 前記撮像装置の視野内に配置されるとともに、前記撮像装置から見える表面に図形パターンが形成された基準平板と、
前記撮像装置に固定されて、前記基準平板を揺動自在に支持する連結部材を備えて、
前記連結部材は、前記基準平板を前記撮像装置から前記計測対象物に向かう方向に付勢して、前記基準平板を前記計測対象物に押し付ける押圧手段を有する
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか一項に記載の変位/ひずみ計測装置。 - 前記光軸調整装置は、
前記進退当接部材を2個、前記撮像装置に固定されて前記計測対象物に当接する固定当接部材を1個、それぞれ有する
ことを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れか一項に記載の変位/ひずみ計測装置。 - 前記固定当接部材は、前記計測対象物に取付けられた被嵌合部材と嵌合する嵌合部を有する
ことを特徴とする請求項5に記載の変位/ひずみ計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN111829445A (zh) * | 2020-07-09 | 2020-10-27 | 河海大学 | 一种基于双棱镜的高精度光学引伸计 |
CN111829446A (zh) * | 2020-07-09 | 2020-10-27 | 河海大学 | 一种利用多个斜方棱镜的高精度双轴光学引伸计 |
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