JP5457879B2 - Polynomial generator for estimation, estimation apparatus, polynomial generation method for estimation, and estimation method - Google Patents

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Description

本発明は、状態量などの出力パラメータ値を推定するための推定用多項式を算出する推定用多項式生成装置、推定用多項式を用いて状態量などを推定する推定装置に関するものである。   The present invention relates to an estimation polynomial generating apparatus that calculates an estimation polynomial for estimating an output parameter value such as a state quantity, and an estimation apparatus that estimates a state quantity using the estimation polynomial.

半導体製造装置、FPD(Flat Panel Display)製造装置、あるいは太陽電池製造装置における熱プロセスやプラズマプロセスでは、ウエハやガラスの表面温度(実体温度)などの重要な状態量を処理プロセスの実行中にオンラインで管理、制御したいという要求がある。しかしながら、ウエハやガラスの表面に温度センサを装着したまま処理を行なうことは困難である。   In thermal processes and plasma processes in semiconductor manufacturing equipment, FPD (Flat Panel Display) manufacturing equipment, or solar cell manufacturing equipment, important state quantities such as wafer and glass surface temperatures (substance temperatures) are displayed online during processing. There is a demand to manage and control. However, it is difficult to perform processing with the temperature sensor mounted on the surface of the wafer or glass.

そこで、処理プロセスの実行中に測定可能な箇所の温度と処理プロセスの実行中には測定不可能なウエハやガラスの表面温度(実体温度)との関係をオフラインで予め調査し、処理プロセスの実行時には測定可能な温度と予め把握した関係に基づき、ウエハやガラスの表面温度(実体温度)を推定することにより、重要な状態量をオンラインで管理、制御するようにしている。このような場合に、オフラインの調査で得られる測定可能な温度とウエハやガラスの表面温度(実体温度)の計測データ(分析用データ)に対して、多変量解析手法を適用することにより、測定可能な温度とウエハやガラスの表面温度の数値的関係を近似推定する多項式を求める手法(多項式による状態量推定)が広く実施されている(例えば特許文献1参照)。多変量解析手法を用いる場合、処理プロセスの実行中に測定可能な温度は、多項式の入力パラメータに位置付けられる。一方、推定対象であるウエハやガラスの表面温度(実体温度)は、多項式の出力パラメータに位置付けられる。   Therefore, the relationship between the temperature at a location that can be measured during the processing process and the surface temperature (substance temperature) of the wafer or glass that cannot be measured during the processing process is examined offline in advance, and the processing process is executed. In some cases, important state quantities are managed and controlled on-line by estimating the surface temperature (substance temperature) of the wafer or glass based on the relationship between the measurable temperature and the preliminarily grasped relationship. In such a case, the measurement can be performed by applying the multivariate analysis method to the measurable temperature obtained by the offline survey and the measurement data (analytical data) of the surface temperature (substance temperature) of the wafer or glass. A method of obtaining a polynomial (approximate state quantity estimation using a polynomial) for approximating a numerical relationship between a possible temperature and the surface temperature of a wafer or glass is widely practiced (see, for example, Patent Document 1). When using a multivariate analysis approach, the temperature that can be measured during the execution of the processing process is positioned as a polynomial input parameter. On the other hand, the surface temperature (substance temperature) of the wafer or glass to be estimated is positioned as a polynomial output parameter.

特開平5−141999号公報JP-A-5-141999

状態量推定の対象は、多くの場合、入力パラメータと出力パラメータとが単純な線形関係にはない。したがって、状態量推定の精度を向上させたい場合には、多変量解析により求める推定用多項式を高次化しなければならない。このとき、実験的に入力条件を振らない限り、分析用データの入力パラメータ側のパラメータ空間には、データの疎密が存在することがある。推定用多項式を高次化する場合、データが密な領域の精度が向上しやすくなるが、データが疎な領域において非現実的な推定値を算出する多項式になる確率が高い。特に半導体製造装置などの装置に推定機能を実装して装置メーカが装置ユーザに出荷し、装置ユーザが分析用データを収集する場合などでは、装置メーカ側が想定する入力パラメータ空間と、装置ユーザ側が意識する入力パラメータ空間とが、必ずしも一致するとは限らない。したがって、このような装置の流通形態においては、分析用データ収集の疎密の問題が発生しやすいにもかかわらず、データ収集に十分な時間が使われるとは限らない。   In many cases, the target of state quantity estimation does not have a simple linear relationship between input parameters and output parameters. Therefore, in order to improve the accuracy of state quantity estimation, the estimation polynomial obtained by multivariate analysis must be made higher order. At this time, data density may exist in the parameter space on the input parameter side of the analysis data unless the input conditions are experimentally set. When the estimation polynomial is made higher-order, the accuracy of the dense data area is easily improved, but the probability of becoming an unrealistic estimation value polynomial in the sparse data area is high. In particular, when an estimation function is implemented in a device such as a semiconductor manufacturing device and the device manufacturer ships to the device user and the device user collects data for analysis, the input parameter space assumed by the device manufacturer and the device user are conscious. The input parameter space to be matched does not always match. Therefore, in such a distribution form of the apparatus, a sufficient time is not necessarily used for data collection even though the problem of density of data collection for analysis tends to occur.

説明を簡単にするため、入力パラメータを1個と仮定する。入力パラメータXと出力パラメータYの組み合わせ(X,Y)が、A(1.6,20.024)、B(2.0,21.000)、C(2.4,23.304)、D(2.8,27.272)、E(3.2,33.288)、F(3.5,39.375)となっているA〜Fの6組の値が分析用データとして得られているものとする。このときのA〜Fの6組の分析用データの分布を図6に示す。   For simplicity of explanation, it is assumed that there is one input parameter. The combination (X, Y) of the input parameter X and the output parameter Y is A (1.6, 20.024), B (2.0, 21.000), C (2.4, 23.304), D Six values of A to F, which are (2.8, 27.272), E (3.2, 33.288), and F (3.5, 39.375), are obtained as analytical data. It shall be. FIG. 6 shows the distribution of six sets of analysis data A to F at this time.

このときの分析用データの特徴であるが、仮にこの入出力パラメータ(X,Y)の物理的な関係を考えれば、常識的に単調増加の関係になることは予想ができるものとする。すなわち、入出力パラメータ(X,Y)が図7のような関係にあることが知識的に想像できるものと仮定する。このような関係がある場合においても、装置ユーザ側のデータ収集時間などの都合上、X=0付近のデータが得られていない状況、すなわちデータが疎な領域が存在するという状況は、半導体製造などの現場では頻繁に発生する。
ここで、A〜Fのデータの組を用いて、入出力パラメータ(X,Y)の関係を高精度に再現する3次多項式を多変量解析などにより求めると、例えば以下のような数式が得られることになる。
Y=X3−2.0X2+21.0 ・・・(1)
As a characteristic of the analysis data at this time, if the physical relationship between the input / output parameters (X, Y) is considered, it can be predicted that the relationship will increase monotonically in a common sense. That is, it is assumed that the input / output parameters (X, Y) can be imagined in a knowledgeable manner as shown in FIG. Even when there is such a relationship, the situation where data near X = 0 is not obtained due to the data collection time on the device user side, that is, the situation where there is a sparse data area is a semiconductor manufacturing It occurs frequently on the spot.
Here, when a cubic polynomial that reproduces the relationship between the input / output parameters (X, Y) with high accuracy is obtained by multivariate analysis using the data set of A to F, for example, the following mathematical formula is obtained. Will be.
Y = X 3 −2.0X 2 +21.0 (1)

式(1)の3次多項式により図8に示す3次曲線220が得られる。一方、221は前述のような常識的な仮定から得られる入出力パラメータ(X,Y)の関係を示す曲線である。図8に示すように、式(1)の3次多項式はA〜Fのデータと高精度に適合している。ただし、この3次多項式によると、X=0付近の点としてS(0.0,21.000)が得られている。すなわち、入力パラメータXのパラメータ空間には、1.6≦X≦3.5のデータが密な領域とこれ以外のデータが疎な領域とが存在するが、式(1)の3次多項式はデータが疎な領域において非現実的な推定値を算出する多項式になっているということである。   A cubic curve 220 shown in FIG. 8 is obtained by the cubic polynomial of equation (1). On the other hand, reference numeral 221 denotes a curve showing the relationship between the input / output parameters (X, Y) obtained from the common sense assumption as described above. As shown in FIG. 8, the cubic polynomial of the equation (1) matches the data A to F with high accuracy. However, according to this cubic polynomial, S (0.0, 21.000) is obtained as a point near X = 0. That is, in the parameter space of the input parameter X, there are a region where data of 1.6 ≦ X ≦ 3.5 is dense and a region where data other than this is sparse, but the cubic polynomial of equation (1) is This means that it is a polynomial that calculates an unrealistic estimate in a sparse area.

このような状況が発生しやすいので、データ収集には十分な時間を使う必要がある。しかし、例えば半導体製造プロセスなどでは、データ収集のための実験であってもウエハや反応ガスを消費しなければならないなど、コストがかかるのでデータ収集が簡略化されやすい。このような状況でオンラインでの温度推定などを実施すると、高精度の推定が期待できる領域(データが密な領域)と、非現実的な推定を行なう領域(データが疎な領域)が存在することになる。そして、非現実的な温度推定を行なう領域では、製造プロセスに大きな悪影響を及ぼしてしまう可能性があった。   Since this situation is likely to occur, it is necessary to use sufficient time for data collection. However, in a semiconductor manufacturing process, for example, even in an experiment for data collection, the wafer and the reaction gas must be consumed. When online temperature estimation is performed in such a situation, there are areas where high-precision estimation can be expected (area where data is dense) and areas where unrealistic estimation is performed (area where data is sparse). It will be. In the region where unrealistic temperature estimation is performed, there is a possibility that the manufacturing process may be greatly adversely affected.

本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、製造装置などを対象として分析用データを用いて推定用多項式を求め、推定用多項式を用いて状態量などの推定を行なう場合に、データ収集に十分な時間を取れない状況を補足することができる推定用多項式生成装置、推定装置、推定用多項式生成方法および推定方法を提供することを目的とする。   The present invention was made in order to solve the above-mentioned problem, and when an estimation polynomial is obtained using analysis data for a manufacturing apparatus or the like, and when estimating an amount of state using the estimation polynomial, It is an object of the present invention to provide an estimation polynomial generation device, an estimation device, an estimation polynomial generation method, and an estimation method that can supplement a situation where sufficient time cannot be taken for data collection.

本発明の推定用多項式生成装置は、入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる補充用の参照用データを推定用多項式の作成対象のタイプ別に予め記憶するデータベースと、前記推定用多項式の作成対象について入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる分析用データを予め記憶する分析用データ記憶手段と、入力空間の分割方法と入力空間を分割した小領域毎の必要データ数とを予め記憶する入力空間分割情報記憶手段と、前記分析用データが前記入力空間分割情報記憶手段に記憶された必要データ数に達しているかどうかを入力空間の小領域毎に判断する不足データ判断手段と、前記分析用データの補充に使用する参照用データを前記推定用多項式の作成対象のタイプから特定して、前記分析用データの不足分のデータを前記特定した参照用データから補充するデータ検索手段と、補充された分析用データを用いて、入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する推定用多項式を算出する推定用多項式算出手段とを備えることを特徴とするものである。   The estimation polynomial generating apparatus of the present invention includes a database for preliminarily storing reference data for supplementation consisting of a set of input parameter data and output parameter data corresponding thereto, for each type of estimation polynomial to be created; Analytical data storage means for preliminarily storing analytical data consisting of a set of input parameter data and corresponding output parameter data for the estimation polynomial creation target, input space dividing method, and input space dividing Input space division information storage means for storing the required number of data for each small area in advance, and whether the analysis data has reached the required number of data stored in the input space division information storage means Insufficient data judgment means for judging each area, and reference data used for supplementing the analysis data is a target for creating the estimation polynomial The output parameter value is estimated from the input parameter value using the data search means for replenishing the deficient data of the analysis data from the identified reference data and the replenished analysis data. An estimation polynomial calculating means for calculating an estimation polynomial is provided.

また、本発明の推定用多項式生成装置の1構成例において、前記データ検索手段は、前記データベースに前記推定用多項式の作成対象のタイプに対応する参照用データが複数組記憶されている場合に、これら複数組の参照用データの各々を用いて前記推定用多項式算出手段に推定用多項式を算出させ、算出された推定用多項式と前記分析用データとの誤差が最小になる参照用データを、前記分析用データの補充に使用する参照用データとして選択することを特徴とするものである。
また、本発明の推定用多項式生成装置の1構成例において、前記推定用多項式の作成対象は、製造装置であり、前記データベースの参照用データは、製造装置の機種タイプ別に整理されることを特徴とするものである。
また、本発明の推定用多項式生成装置の1構成例において、前記推定用多項式の作成対象は、空調システムであり、前記データベースの参照用データは、空調計装タイプ別に整理されることを特徴とするものである。
また、本発明の推定装置は、入力パラメータ値を取得する入力パラメータ値取得手段と、推定用多項式生成装置の推定用多項式算出手段が分析用データから算出した推定用多項式を用い、前記入力パラメータ値取得手段が取得した入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する多項式推定演算手段とを備えることを特徴とするものである。
Further, in one configuration example of the estimation polynomial generating apparatus of the present invention, the data search means stores a plurality of sets of reference data corresponding to the type of the estimation polynomial to be created in the database. Each of the plurality of sets of reference data is used to cause the estimation polynomial calculation means to calculate an estimation polynomial, and the reference data that minimizes the error between the calculated estimation polynomial and the analysis data is It is characterized in that it is selected as reference data to be used for supplementing analysis data.
Further, in one configuration example of the estimation polynomial generating apparatus of the present invention, the creation object of the estimation polynomial is a manufacturing apparatus, and the reference data in the database is organized by model type of the manufacturing apparatus. It is what.
Also, in one configuration example of the estimation polynomial generating apparatus of the present invention, the creation object of the estimation polynomial is an air conditioning system, and the reference data in the database is organized by air conditioning instrumentation type, To do.
Further, the estimation apparatus of the present invention uses the input parameter value acquisition means for acquiring the input parameter value and the estimation polynomial calculated by the estimation polynomial calculation means of the estimation polynomial generation apparatus from the analysis data, and uses the input parameter value Polynomial estimation calculation means for estimating the output parameter value from the input parameter value acquired by the acquisition means.

また、本発明の推定用多項式生成方法は、推定用多項式の作成対象について入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる分析用データを予め記憶する分析用データ記憶手段、および入力空間の分割方法と入力空間を分割した小領域毎の必要データ数とを予め記憶する入力空間分割情報記憶手段を参照し、前記分析用データが前記入力空間分割情報記憶手段に記憶された必要データ数に達しているかどうかを入力空間の小領域毎に判断する不足データ判断ステップと、入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる補充用の参照用データを推定用多項式の作成対象のタイプ別に予め記憶するデータベースを参照し、前記分析用データの補充に使用する参照用データを前記推定用多項式の作成対象のタイプから特定して、前記分析用データの不足分のデータを前記特定した参照用データから補充するデータ検索ステップと、補充した分析用データを用いて、入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する推定用多項式を算出する推定用多項式算出ステップとを備えることを特徴とするものである。   Further, the estimation polynomial generating method of the present invention comprises an analysis data storage means for preliminarily storing analysis data consisting of a set of input parameter data and output parameter data corresponding to the creation object of the estimation polynomial, And the input space division information storage means for preliminarily storing the input space division method and the required number of data for each small area obtained by dividing the input space, and the analysis data is stored in the input space division information storage means Estimating supplementary reference data consisting of a set of insufficient data judgment step for each small area of the input space to determine whether the required number of data has been reached, and input parameter data and corresponding output parameter data Refer to a database that is stored in advance for each type of polynomial to be created, and the reference data used to supplement the analysis data is From the input parameter value using the data search step for identifying the deficient polynomial of the analysis data and replenishing the deficient data of the analysis data from the identified reference data, and using the supplemented analysis data An estimation polynomial calculating step for calculating an estimation polynomial for estimating the output parameter value.

本発明によれば、分析用データが必要データ数に達しているかどうかを入力空間の小領域毎に判断し、分析用データの補充に使用する参照用データを推定用多項式の作成対象のタイプから特定して、分析用データの不足分のデータを特定した参照用データから補充し、補充した分析用データを用いて推定用多項式を算出するようにしたので、データ収集に十分な時間を取れない等の理由により推定用多項式の作成対象の分析用データが不足している状況を補足することができる。   According to the present invention, whether or not the analysis data has reached the required number of data is determined for each small area of the input space, and the reference data used for supplementing the analysis data is determined from the type for which the estimation polynomial is to be created. Since the data for the shortage of analysis data is identified and supplemented from the identified reference data and the estimation polynomial is calculated using the supplemented analysis data, sufficient time is not collected for data collection. For this reason, it is possible to supplement the situation in which the analysis data for which the estimation polynomial is created is insufficient.

本発明の第1の実施の形態に係る推定用多項式生成装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the polynomial generator for estimation which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る推定用多項式生成装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the polynomial generator for estimation which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態において分析用データを補充したことによる3次多項式から得られる、分析用データの入出力パラメータの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship of the input / output parameter of the data for analysis obtained from the cubic polynomial by having supplemented the data for analysis in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係る推定装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the estimation apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係る推定装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the estimation apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 分析用データの分布の1例を示す図である。It is a figure which shows one example of distribution of the data for analysis. 常識的な仮定から得られる、図6の分析用データの入出力パラメータの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship of the input / output parameter of the data for analysis of FIG. 6 obtained from a common sense assumption. 多変量解析によって求めた3次多項式から得られる、図6の分析用データの入出力パラメータの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship of the input / output parameter of the data for analysis of FIG. 6 obtained from the cubic polynomial calculated | required by multivariate analysis.

[発明の原理]
製造装置は、多くの場合に同じ種類の機種あるいは近いタイプの機種が、製造ライン上で複数使用されているケースが多い。つまり、全ての製造装置について個々に分析用データを十分に収集する必要性はない。しかし、推定用多項式の完全な共有化(使い回し)を行なうと、機種毎の差(機差と言う)を吸収できない。このような状況が製造装置における推定用多項式のデータ収集の実状であるので、データの共有化と機差への対応を、推定用多項式の作成ステップとして分離することに発明者は着眼した。
[Principle of the Invention]
In many cases, there are many cases where the same type of model or a similar type of model is used on the manufacturing line. In other words, it is not necessary to collect sufficient analysis data for all manufacturing apparatuses. However, if the estimation polynomial is completely shared (recycled), the difference between models (called machine difference) cannot be absorbed. Since such a situation is the actual state of data collection of the estimation polynomial in the manufacturing apparatus, the inventor has focused on separating the data sharing and the response to the machine difference as the estimation polynomial creation step.

そこで、同じ種類の機種あるいは近いタイプの機種についてデータベース化してデータ共有できるように構成し、新たに導入した装置が既にデータベース化されている機種と同じあるいは近い場合に、データベースから不十分なデータを適宜補充することに想到した。これにより、データ収集に十分な時間を取れない状況であっても、不足分のみを補充するのであるから、不十分なデータで信頼性の低い推定用多項式を作成するのに比べれば、信頼性の高い推定用多項式を得ることができる。   Therefore, it is configured so that data can be shared by creating a database for the same type of model or a model of a similar type, and if the newly installed device is the same as or close to the model already in the database, insufficient data is stored from the database. I thought of replenishing them as appropriate. As a result, even if there is not enough time for data collection, only the deficiency is replenished, so reliability is less than when creating a low-reliability estimation polynomial with insufficient data. A high estimation polynomial can be obtained.

具体的には、入力空間(図6の例であればX軸)を適当な数の小領域に分割し、特定の小領域内に規定された数のデータが存在しない場合に、データベースから同じ入力空間の同じ小領域内に存在するデータを検索して補充する。検索方法としては、例えば得られているデータに基づき、最も近い特性と推定できる別の機種のデータを、可能な限り利用するようにすればよい。   Specifically, the input space (X-axis in the example of FIG. 6) is divided into an appropriate number of small areas, and the same number from the database when there is no specified number of data in a specific small area Search and replenish data present in the same small area of the input space. As a search method, for example, data of another model that can be estimated as the closest characteristic based on the obtained data may be used as much as possible.

[第1の実施の形態]
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の第1の実施の形態に係る推定用多項式生成装置の構成を示すブロック図である。推定用多項式生成装置は、データベース部1と、分析用データ記憶部2と、入力空間分割情報記憶部3と、不足データ判断部4と、データ検索部5と、推定用多項式算出部6とを備える。
[First Embodiment]
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an estimation polynomial generating apparatus according to the first embodiment of the present invention. The estimation polynomial generator includes a database unit 1, an analysis data storage unit 2, an input space division information storage unit 3, an insufficient data determination unit 4, a data search unit 5, and an estimation polynomial calculation unit 6. Prepare.

本実施の形態の推定用多項式生成装置の動作を図2のフローチャートを参照して説明する。データベース部1には、製造装置の機種タイプを示す機種タイプ情報と、入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる参照用データとが、製造装置別に予め記憶されている。説明を簡単化するため、図6の例に合わせて例示する。すなわち、参照用データは、入力パラメータXの値と出力パラメータYの値との組からなる。   The operation of the estimation polynomial generating apparatus of this embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. In the database unit 1, model type information indicating the model type of the manufacturing apparatus, and reference data including a set of input parameter data and corresponding output parameter data are stored in advance for each manufacturing apparatus. . In order to simplify the description, an example is shown in accordance with the example of FIG. That is, the reference data includes a set of an input parameter X value and an output parameter Y value.

例えば製造装置Iについては、機種タイプαを示す機種タイプ情報がデータベース部1に記憶され、さらに入力パラメータXと出力パラメータYの組み合わせ(X,Y)が、1A(0.0,0.041)、1B(0.5,10.488)、1C(1.6,20.054)、1D(2.0,21.030)、1E(2.4,23.334)、1F(3.2,33.318)、1G(3.5,39.405)となっている1A〜1Gの7組の値が参照用データとして記憶されているものとする。   For example, for the manufacturing apparatus I, model type information indicating the model type α is stored in the database unit 1, and the combination (X, Y) of the input parameter X and the output parameter Y is 1A (0.0, 0.041). 1B (0.5, 10.488), 1C (1.6, 20.504), 1D (2.0, 21.030), 1E (2.4, 23.334), 1F (3.2 , 33.318), 7 sets of values 1A to 1G, which are 1G (3.5, 39.405), are stored as reference data.

また、製造装置IIについては、機種タイプαを示す機種タイプ情報がデータベース部1に記憶され、さらに入力パラメータXと出力パラメータYの組み合わせ(X,Y)が、2A(0.0,1.201)、2B(0.5,11.688)、2C(1.6,21.224)、2D(2.0,22.200)、2E(2.4,24.504)、2F(2.8,28.472)、2G(3.2,34.488)となっている2A〜2Gの7組の値が参照用データとして記憶されているものとする。   As for the manufacturing apparatus II, model type information indicating the model type α is stored in the database unit 1, and the combination (X, Y) of the input parameter X and the output parameter Y is 2A (0.0, 1.201). ), 2B (0.5, 11.688), 2C (1.6, 21.224), 2D (2.0, 22.200), 2E (2.4, 24.504), 2F (2. 8, 28.472) and 2G (3.2, 34.488), 7 sets of values 2A to 2G are stored as reference data.

また、製造装置IIIについては、機種タイプβを示す機種タイプ情報がデータベース部1に記憶され、さらに入力パラメータXと出力パラメータYの組み合わせ(X,Y)が、3A(0.0,10.803)、3B(0.5,15.733)、3C(1.6,20.434)、3D(2.0,22.234)、3E(2.4,23.554)、3F(2.8,28.642)、3G(3.2,32.118)となっている3A〜3Gの7組の値が参照用データとして記憶されているものとする。   As for the manufacturing apparatus III, model type information indicating the model type β is stored in the database unit 1, and the combination (X, Y) of the input parameter X and the output parameter Y is 3A (0.0, 10.803). ), 3B (0.5, 15.733), 3C (1.6, 20.434), 3D (2.0, 22.234), 3E (2.4, 23.554), 3F (2. 8, 28.642) and 3G (3.2, 32.118), 7 sets of values 3A to 3G are stored as reference data.

なお、入力パラメータの例としては、例えば半導体製造装置の熱プロセスやプラズマプロセスなどのプロセスの実行中に測定可能な温度がある。出力パラメータの例としては、プロセスの実行中に測定不可能なウエハやガラスの表面温度(実体温度)がある。参照用データは、処理プロセスよりも前に行われるオフラインの調査で求めることができる。   An example of the input parameter is a temperature that can be measured during execution of a process such as a thermal process or a plasma process of a semiconductor manufacturing apparatus. An example of the output parameter is the surface temperature (substance temperature) of the wafer or glass that cannot be measured during the process. The reference data can be obtained by an off-line survey performed before the processing process.

分析用データ記憶部2には、推定用多項式の作成対象となる製造装置IVの機種タイプ情報と、製造装置IVの、入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる分析用データが予め記憶されている。ここでは、製造装置IVについて、機種タイプαを示す機種タイプ情報が分析用データ記憶部2に記憶され、さらに入力パラメータXと出力パラメータYの組み合わせ(X,Y)が、4A(1.6,20.024)、4B(2.0,21.000)、4C(2.4,23.304)、4D(2.8,27.272)、4E(3.2,33.288)、4F(3.5,39.375)となっている4A〜4Fの6組の値が分析用データとして記憶されているものとする。参照用データと同様に、分析用データもオフラインの調査で求めることができる。   The analysis data storage unit 2 includes an analysis comprising a set of model type information of the manufacturing apparatus IV for which an estimation polynomial is to be created, input parameter data of the manufacturing apparatus IV, and output parameter data corresponding thereto. Data is stored in advance. Here, for the manufacturing apparatus IV, model type information indicating the model type α is stored in the analysis data storage unit 2, and the combination (X, Y) of the input parameter X and the output parameter Y is 4A (1.6, 20.024), 4B (2.0, 21.000), 4C (2.4, 23.304), 4D (2.8, 27.272), 4E (3.2, 33.288), 4F Assume that six sets of values 4A to 4F (3.5, 39.375) are stored as analysis data. Similar to the reference data, the analytical data can be obtained by an offline survey.

入力空間分割情報記憶部3には、入力空間X軸の分割方法と入力空間を分割した小領域毎の必要データ数とが予め記憶されている。入力空間の分割を規定する方法としては、例えば各小領域の範囲を数値で規定する方法がある。ここでは、小領域area1の範囲が0.0≦X<1.0、小領域area1の必要データ数が2、小領域area2の範囲が1.0≦X<2.0、小領域area2の必要データ数が2、小領域area3の範囲が2.0≦X<3.0、小領域area3の必要データ数が2、小領域area4の範囲が3.0≦X<4.0、小領域area4の必要データ数が1と規定されているものとする。なお、上記の製造装置I、製造装置II、製造装置IIIについては、いずれも全ての小領域において規定された必要データ数が得られていることになる。   The input space division information storage unit 3 stores in advance the division method of the input space X-axis and the necessary number of data for each small area obtained by dividing the input space. As a method of defining the division of the input space, for example, there is a method of defining the range of each small region by a numerical value. Here, the range of the small area area1 is 0.0 ≦ X <1.0, the required number of data in the small area area1 is 2, the range of the small area area2 is 1.0 ≦ X <2.0, and the small area area2 is necessary. The number of data is 2, the range of the small area area3 is 2.0 ≦ X <3.0, the required number of data of the small area area3 is 2, the range of the small area area4 is 3.0 ≦ X <4.0, and the small area area4 It is assumed that the required number of data is defined as 1. Note that, for the manufacturing apparatus I, the manufacturing apparatus II, and the manufacturing apparatus III, the necessary number of data defined in all the small areas is obtained.

不足データ判断部4は、分析用データ記憶部2に記憶された分析用データが、入力空間分割情報記憶部3に記憶された必要データ数に達しているかどうかを入力空間の小領域毎に判断する(図2ステップS1)。上記の4A〜4Fの分析用データの場合、装置ユーザ側のデータ収集時間などの都合上、データが不足しており、不足データ判断部4は、0.0≦X<1.0の小領域area1においてデータが2個不足していると判断する。   The deficient data determination unit 4 determines, for each small area of the input space, whether the analysis data stored in the analysis data storage unit 2 has reached the required number of data stored in the input space division information storage unit 3. (Step S1 in FIG. 2). In the case of the above-described data for analysis of 4A to 4F, the data is insufficient due to the data collection time on the device user side, and the shortage data determination unit 4 has a small area of 0.0 ≦ X <1.0. It is determined that two pieces of data are lacking in area1.

データ検索部5は、分析用データの補充に使用する参照用データを選択する(ステップS2)。まず、データ検索部5は、推定用多項式の作成対象となる製造装置IVの機種タイプ情報を分析用データ記憶部2から読み出し、データベース部1を参照して、製造装置IVと同じ機種タイプの製造装置を検索する。製造装置IVの機種タイプがαなので、選択する製造装置としては製造装置Iか製造装置IIに絞られる。   The data search unit 5 selects reference data to be used for supplementing analysis data (step S2). First, the data search unit 5 reads the model type information of the manufacturing apparatus IV for which the estimation polynomial is to be created from the analysis data storage unit 2 and refers to the database unit 1 to manufacture the same model type as the manufacturing apparatus IV. Search for devices. Since the model type of the manufacturing apparatus IV is α, the manufacturing apparatus to be selected is limited to the manufacturing apparatus I or the manufacturing apparatus II.

次に、データ検索部5は、検索した製造装置Iの参照用データを推定用多項式算出部6に渡して推定用多項式を算出させる。推定用多項式算出部6は、データ検索部5から受け取った参照用データに対して多変量解析を行い、入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する推定用多項式を算出する。推定用多項式算出部6は、多変量解析として例えばSVR(Support Vector Regression)を実行する。これにより、式(2)に示す推定用多項式が得られる。推定用多項式算出部6は、算出した推定用多項式をデータ検索部5に渡す。
Y=2.11X3−11.55X2+25.65X+0.05 ・・・(2)
Next, the data search unit 5 passes the searched reference data of the manufacturing apparatus I to the estimation polynomial calculation unit 6 to calculate the estimation polynomial. The estimation polynomial calculation unit 6 performs multivariate analysis on the reference data received from the data search unit 5, and calculates an estimation polynomial for estimating the output parameter value from the input parameter value. The estimation polynomial calculation unit 6 executes, for example, SVR (Support Vector Regression) as multivariate analysis. Thereby, the estimation polynomial shown in Expression (2) is obtained. The estimation polynomial calculation unit 6 passes the calculated estimation polynomial to the data search unit 5.
Y = 2.11X 3 -11.55X 2 + 25.65X + 0.05 (2)

同様に、データ検索部5は、検索した製造装置IIの参照用データを推定用多項式算出部6に渡して推定用多項式を算出させる。推定用多項式算出部6は、データ検索部5から受け取った参照用データに対して多変量解析を行い、式(3)に示す推定用多項式を算出する。推定用多項式算出部6は、算出した推定用多項式をデータ検索部5に渡す。
Y=2.11X3−11.55X2+25.65X+1.22 ・・・(3)
Similarly, the data search unit 5 passes the searched reference data of the manufacturing apparatus II to the estimation polynomial calculation unit 6 to calculate an estimation polynomial. The estimation polynomial calculation unit 6 performs multivariate analysis on the reference data received from the data search unit 5, and calculates the estimation polynomial shown in Expression (3). The estimation polynomial calculation unit 6 passes the calculated estimation polynomial to the data search unit 5.
Y = 2.11X 3 -11.55X 2 + 25.65X + 1.22 (3)

データ検索部5は、分析用データの入力パラメータXを、推定用多項式算出部6から受け取った式(2)の推定用多項式に代入して出力パラメータYを算出し、算出に用いた分析用データの出力パラメータYと算出した出力パラメータYとの誤差を求める。データ検索部5は、このような誤差算出を分析用データ毎に行うことで、出力パラメータYの平均誤差を算出する。データ検索部5は、式(3)の推定用多項式についても分析用データを用いて出力パラメータYの平均誤差を算出する。そして、データ検索部5は、出力パラメータYの平均誤差が最小になる推定用多項式に対応する製造装置の参照用データを、分析用データの補充に使用する参照用データとして最終的に選択する。本実施の形態では、製造装置Iの参照用データが選択される。以上で、ステップS2の参照用データの選択が終了する。   The data search unit 5 calculates the output parameter Y by substituting the input parameter X of the analysis data into the estimation polynomial of the equation (2) received from the estimation polynomial calculation unit 6, and the analysis data used for the calculation The error between the output parameter Y and the calculated output parameter Y is obtained. The data search unit 5 calculates the average error of the output parameter Y by performing such error calculation for each analysis data. The data search unit 5 also calculates the average error of the output parameter Y using the analysis data for the estimation polynomial of Equation (3). Then, the data search unit 5 finally selects the reference data of the manufacturing apparatus corresponding to the estimation polynomial that minimizes the average error of the output parameter Y as reference data used for supplementing the analysis data. In the present embodiment, reference data for the manufacturing apparatus I is selected. This completes the selection of the reference data in step S2.

なお、製造装置IVと同じ機種タイプの製造装置がデータベース部1に1台だけ登録されている場合には、推定用多項式算出部6で推定用多項式を算出して平均誤差を算出する必要はなく、1台だけ登録されている製造装置の参照用データを選択することは言うまでもない。   When only one manufacturing apparatus of the same model type as the manufacturing apparatus IV is registered in the database unit 1, it is not necessary to calculate the estimation polynomial by the estimation polynomial calculation unit 6 to calculate the average error. It goes without saying that the reference data of only one manufacturing apparatus registered is selected.

次に、データ検索部5は、不足データ判断部4が0.0≦X<1.0の小領域area1において不足していると判断した分析用データを、ステップS2で選択した製造装置Iの参照用データから補充する(ステップS3)。データベース部1には、製造装置Iの、0.0≦X<1.0の範囲の参照用データとして、1A(0.0,0.041)、1B(0.5,10.488)が記憶されている。したがって、この2個の参照用データが補充される。その結果、分析用データは、1A(0.0,0.041)、1B(0.5,10.488)、4A(1.6,20.024)、4B(2.0,21.000)、4C(2.4,23.304)、4D(2.8,27.272)、4E(3.2,33.288)、4F(3.5,39.375)となる。   Next, the data search unit 5 selects the analysis data that the insufficient data determination unit 4 has determined to be insufficient in the small area area1 of 0.0 ≦ X <1.0 in the manufacturing apparatus I selected in step S2. It supplements from the reference data (step S3). The database unit 1 includes 1A (0.0, 0.041) and 1B (0.5, 10.488) as reference data in the range of 0.0 ≦ X <1.0 of the manufacturing apparatus I. It is remembered. Therefore, these two reference data are supplemented. As a result, the analysis data is 1A (0.0, 0.041), 1B (0.5, 10.488), 4A (1.6, 20.024), 4B (2.0, 21.000). ), 4C (2.4, 23.304), 4D (2.8, 27.272), 4E (3.2, 33.288), 4F (3.5, 39.375).

推定用多項式算出部6は、補充された分析用データに対してSVRなどの多変量解析を行い、式(4)に示す推定用多項式を算出する(ステップS4)。
Y=2.11X3−11.55X2+25.65X+0.02 ・・・(4)
The estimation polynomial calculation unit 6 performs multivariate analysis such as SVR on the supplemented analysis data, and calculates the estimation polynomial shown in Expression (4) (step S4).
Y = 2.11X 3 -11.55X 2 + 25.65X + 0.02 (4)

式(4)の推定用多項式により図3に示す3次曲線222が得られる。220は式(1)の3次多項式により得られる3次曲線、221は常識的な仮定から得られる入出力パラメータ(X,Y)の関係を示す曲線である。3次曲線222によると、分析用データが疎な領域0.0≦X<1.0における推定値が、3次曲線220上の非現実的な値から常識的な値へと改善されていることが分かる。   A cubic curve 222 shown in FIG. 3 is obtained by the estimating polynomial of the equation (4). Reference numeral 220 denotes a cubic curve obtained from the cubic polynomial of equation (1), and 221 denotes a curve showing the relationship between input / output parameters (X, Y) obtained from common sense assumptions. According to the cubic curve 222, the estimated value in the region where the analysis data is sparse 0.0 ≦ X <1.0 is improved from an unrealistic value on the cubic curve 220 to a common sense value. I understand that.

なお、機種タイプの具体例としては、例えば「A社製5ゾーンリフロー炉」を機種タイプαとし、「A社製7ゾーンリフロー炉」を機種タイプβとし、「B社製5ゾーンリフロー炉」を機種タイプγとし、「B社製7ゾーンリフロー炉」を機種タイプζとする、といった程度でもよいし、もっと細かく分けてもよい。いずれにしろ、データ再利用の妥当性を考慮して、機種を適宜分類すればよい。   As specific examples of the model type, for example, “A company's 5-zone reflow furnace” is model type α, “A company's 7 zone reflow furnace” is model type β, and “B company's 5 zone reflow furnace” May be a model type γ, and “B company 7-zone reflow furnace” may be a model type ζ, or may be further subdivided. In any case, models may be classified as appropriate in consideration of the validity of data reuse.

本実施の形態では、特に本発明の適用対象になりやすいものとして製造装置を事例にあげてきたが、本発明は原理的に製造装置に限らず適用することも可能である。例えば、建物における空調制御システムの特性に関するデータであっても、本発明は利用可能である。この場合、上記機種タイプに相当する情報は、例えば熱源装置や空調方式などを総括した空調計装タイプになる。   In the present embodiment, a manufacturing apparatus has been described as an example that is easily applied to the present invention. However, the present invention is not limited to the manufacturing apparatus in principle and can be applied. For example, even if it is the data regarding the characteristic of the air-conditioning control system in a building, this invention can be utilized. In this case, the information corresponding to the model type is, for example, an air conditioning instrumentation type that summarizes a heat source device, an air conditioning system, and the like.

空調計装タイプの具体例としては、例えば「500平方メータレベル空間・4ゾーンVAV」を空調計装タイプαとし、「500平方メータレベル空間・6ゾーンVAV」を空調計装タイプβとし、「1000平方メータレベル空間・8ゾーンVAV」を空調計装タイプγとし、「1000平方メータレベル空間・12ゾーンVAV」を空調計装タイプζとする、といった程度でもよく、もっと細かく分けてもよい。いずれにしろ、データ再利用の妥当性を考慮して、機種を適宜分類すればよい。   As a specific example of the air conditioning instrumentation type, for example, “500 square meter level space · 4 zone VAV” is defined as air conditioning instrumentation type α, “500 square meter level space · 6 zone VAV” as air conditioning instrumentation type β, “ “1000 square meter level space · 8 zone VAV” may be an air conditioning instrumentation type γ, and “1000 square meter level space · 12 zone VAV” may be an air conditioning instrumentation type ζ. In any case, models may be classified as appropriate in consideration of the validity of data reuse.

また、推定用多項式を求める方法としてはSVRに限られず、重回帰分析などの類似の方法を適宜採用してもよい。
入力パラメータが複数個ある場合は、各入力パラメータを適宜分割した組合せで、適当な数の小領域に分割すればよい。
Further, the method for obtaining the estimation polynomial is not limited to SVR, and a similar method such as multiple regression analysis may be appropriately employed.
When there are a plurality of input parameters, each input parameter may be divided into an appropriate number of small regions by appropriately dividing the input parameters.

[第2の実施の形態]
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。図4は本発明の第2の実施の形態に係る推定装置の構成を示すブロック図である。図4の推定装置は、第1の実施の形態の推定用多項式生成装置で算出された推定用多項式を用いて推定値を算出するオンラインの段階で使用されるものであり、推定用多項式記憶部10と、入力パラメータ値取得部11と、多項式推定演算部12と、推定値出力部13とを備える。なお、推定装置は、推定用多項式生成装置を内部に有するものであってもよい。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the estimation apparatus according to the second embodiment of the present invention. The estimation apparatus of FIG. 4 is used at an online stage in which an estimation value is calculated using the estimation polynomial calculated by the estimation polynomial generation apparatus of the first embodiment, and an estimation polynomial storage unit 10, an input parameter value acquisition unit 11, a polynomial estimation calculation unit 12, and an estimated value output unit 13. Note that the estimation device may include an estimation polynomial generation device.

図5は本実施の形態の推定装置の動作を示すフローチャートである。推定用多項式記憶部10は、第1の実施の形態で説明した推定用多項式算出部6がステップS4で算出した推定用多項式を記憶している。
入力パラメータ値取得部11は、例えば半導体製造装置の熱プロセスやプラズマプロセスなどのプロセスの実行中に温度センサ(不図示)から入力される温度などの入力パラメータ値を取得する(図5ステップS10)。
FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the estimation apparatus of the present embodiment. The estimation polynomial storage unit 10 stores the estimation polynomial calculated by the estimation polynomial calculation unit 6 described in the first embodiment in step S4.
The input parameter value acquisition unit 11 acquires an input parameter value such as a temperature input from a temperature sensor (not shown) during execution of a process such as a thermal process or a plasma process of the semiconductor manufacturing apparatus (step S10 in FIG. 5). .

多項式推定演算部12は、推定用多項式記憶部10に記憶されている推定用多項式を用い、入力パラメータ値取得部11が取得した入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する(ステップS11)。多項式推定演算部12が推定した出力パラメータ値は、推定値出力部13を通じて外部に出力される。多項式推定演算部12は、このような推定処理を例えば一定時間毎に行う。こうして、本実施の形態では、第1の実施の形態の推定用多項式生成装置で算出された推定用多項式を用いて状態量などの出力パラメータ値を推定することができる。   The polynomial estimation calculation unit 12 uses the estimation polynomial stored in the estimation polynomial storage unit 10 to estimate the output parameter value from the input parameter value acquired by the input parameter value acquisition unit 11 (step S11). The output parameter value estimated by the polynomial estimation calculation unit 12 is output to the outside through the estimated value output unit 13. The polynomial estimation calculation unit 12 performs such estimation processing at regular intervals, for example. Thus, in the present embodiment, it is possible to estimate an output parameter value such as a state quantity using the estimation polynomial calculated by the estimation polynomial generation apparatus of the first embodiment.

第1、第2の実施の形態で説明した推定用多項式生成装置と推定装置の各々は、それぞれCPU、記憶装置およびインタフェースを備えたコンピュータと、これらのハードウェア資源を制御するプログラムによって実現することができる。推定用多項式生成装置と推定装置のCPUは、記憶装置に格納されたプログラムに従って第1、第2の実施の形態で説明した処理を実行する。   Each of the estimation polynomial generator and the estimation device described in the first and second embodiments is realized by a computer having a CPU, a storage device, and an interface, and a program for controlling these hardware resources. Can do. The estimation polynomial generation device and the CPU of the estimation device execute the processing described in the first and second embodiments in accordance with a program stored in the storage device.

本発明は、推定用多項式を用いて状態量などを推定する技術に適用することができる。   The present invention can be applied to a technique for estimating a state quantity or the like using an estimation polynomial.

1…データベース部、2…分析用データ記憶部、3…入力空間分割情報記憶部、4…不足データ判断部、5…データ検索部、6…推定用多項式算出部、10…推定用多項式記憶部、11…入力パラメータ値取得部、12…多項式推定演算部、13…推定値出力部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Database part, 2 ... Analysis data storage part, 3 ... Input space division | segmentation information storage part, 4 ... Insufficient data judgment part, 5 ... Data search part, 6 ... Estimation polynomial calculation part, 10 ... Estimation polynomial storage part , 11 ... input parameter value acquisition unit, 12 ... polynomial estimation calculation unit, 13 ... estimated value output unit.

Claims (10)

入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる補充用の参照用データを推定用多項式の作成対象のタイプ別に予め記憶するデータベースと、
前記推定用多項式の作成対象について入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる分析用データを予め記憶する分析用データ記憶手段と、
入力空間の分割方法と入力空間を分割した小領域毎の必要データ数とを予め記憶する入力空間分割情報記憶手段と、
前記分析用データが前記入力空間分割情報記憶手段に記憶された必要データ数に達しているかどうかを入力空間の小領域毎に判断する不足データ判断手段と、
前記分析用データの補充に使用する参照用データを前記推定用多項式の作成対象のタイプから特定して、前記分析用データの不足分のデータを前記特定した参照用データから補充するデータ検索手段と、
補充された分析用データを用いて、入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する推定用多項式を算出する推定用多項式算出手段とを備えることを特徴とする推定用多項式生成装置。
A database that pre-stores reference data for replenishment consisting of a set of input parameter data and corresponding output parameter data for each type of estimation polynomial to be created;
Analysis data storage means for preliminarily storing analysis data consisting of a set of input parameter data and output parameter data corresponding to the creation object of the estimation polynomial;
Input space division information storage means for preliminarily storing the input space division method and the required number of data for each small area obtained by dividing the input space;
Insufficient data judgment means for judging for each small area of the input space whether or not the analysis data has reached the required number of data stored in the input space division information storage means;
Data search means for identifying reference data to be used for replenishment of the analysis data from the type for which the estimation polynomial is to be created, and replenishing the deficient data of the analysis data from the identified reference data; ,
An estimation polynomial generating apparatus comprising: an estimation polynomial calculating means for calculating an estimation polynomial for estimating an output parameter value from an input parameter value using the supplemented analysis data.
請求項1記載の推定用多項式生成装置において、
前記データ検索手段は、前記データベースに前記推定用多項式の作成対象のタイプに対応する参照用データが複数組記憶されている場合に、これら複数組の参照用データの各々を用いて前記推定用多項式算出手段に推定用多項式を算出させ、算出された推定用多項式と前記分析用データとの誤差が最小になる参照用データを、前記分析用データの補充に使用する参照用データとして選択することを特徴とする推定用多項式生成装置。
The estimation polynomial generator according to claim 1,
In the case where a plurality of sets of reference data corresponding to the type for which the estimation polynomial is to be created are stored in the database, the data search means uses each of the plurality of sets of reference data to store the estimation polynomial The calculation means calculates the estimation polynomial, and the reference data that minimizes the error between the calculated estimation polynomial and the analysis data is selected as reference data to be used for supplementing the analysis data. A characteristic polynomial generator for estimation.
請求項1または2記載の推定用多項式生成装置において、
前記推定用多項式の作成対象は、製造装置であり、
前記データベースの参照用データは、製造装置の機種タイプ別に整理されることを特徴とする推定用多項式生成装置。
The estimation polynomial generator according to claim 1 or 2,
The creation object of the estimation polynomial is a manufacturing apparatus,
The estimation polynomial generating apparatus according to claim 1, wherein the reference data in the database is organized by model type of the manufacturing apparatus.
請求項1または2記載の推定用多項式生成装置において、
前記推定用多項式の作成対象は、空調システムであり、
前記データベースの参照用データは、空調計装タイプ別に整理されることを特徴とする推定用多項式生成装置。
The estimation polynomial generator according to claim 1 or 2,
The object of creation of the estimation polynomial is an air conditioning system,
Reference data in the database is arranged according to an air conditioning instrumentation type.
入力パラメータ値を取得する入力パラメータ値取得手段と、
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の推定用多項式生成装置の推定用多項式算出手段が分析用データから算出した推定用多項式を用い、前記入力パラメータ値取得手段が取得した入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する多項式推定演算手段とを備えることを特徴とする推定装置。
An input parameter value acquisition means for acquiring an input parameter value;
The estimation polynomial calculation unit of the estimation polynomial generation device according to any one of claims 1 to 4 uses an estimation polynomial calculated from analysis data, and uses the input parameter value acquired by the input parameter value acquisition unit. An estimation apparatus comprising: a polynomial estimation calculation means for estimating an output parameter value.
推定用多項式の作成対象について入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる分析用データを予め記憶する分析用データ記憶手段、および入力空間の分割方法と入力空間を分割した小領域毎の必要データ数とを予め記憶する入力空間分割情報記憶手段を参照し、前記分析用データが前記入力空間分割情報記憶手段に記憶された必要データ数に達しているかどうかを入力空間の小領域毎に判断する不足データ判断ステップと、
入力パラメータのデータとこれに対応する出力パラメータのデータとの組からなる補充用の参照用データを推定用多項式の作成対象のタイプ別に予め記憶するデータベースを参照し、前記分析用データの補充に使用する参照用データを前記推定用多項式の作成対象のタイプから特定して、前記分析用データの不足分のデータを前記特定した参照用データから補充するデータ検索ステップと、
補充した分析用データを用いて、入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する推定用多項式を算出する推定用多項式算出ステップとを備えることを特徴とする推定用多項式生成方法。
Analytical data storage means for preliminarily storing analytical data consisting of a set of input parameter data and corresponding output parameter data for the estimation polynomial creation target, and input space dividing method and input space divided With reference to the input space division information storage means for storing in advance the number of necessary data for each small area, whether or not the analysis data has reached the required number of data stored in the input space division information storage means An insufficient data determination step for determining each small area;
Reference data for replenishment consisting of a set of input parameter data and corresponding output parameter data is stored in advance for each type of estimation polynomial to be created, and used to replenish the analysis data. A data search step of identifying the reference data to be created from the type of the creation target of the estimation polynomial, and supplementing the deficient data of the analysis data from the identified reference data;
An estimation polynomial generation method comprising: an estimation polynomial calculation step for calculating an estimation polynomial for estimating an output parameter value from an input parameter value using the supplemented analysis data.
請求項6記載の推定用多項式生成方法において、
前記データ検索ステップは、前記データベースに前記推定用多項式の作成対象のタイプに対応する参照用データが複数組記憶されている場合に、これら複数組の参照用データの各々を用いて推定用多項式を算出し、算出した推定用多項式と前記分析用データとの誤差が最小になる参照用データを、前記分析用データの補充に使用する参照用データとして選択することを特徴とする推定用多項式生成方法。
The estimation polynomial generating method according to claim 6,
In the data search step, when a plurality of sets of reference data corresponding to the type for which the estimation polynomial is created is stored in the database, an estimation polynomial is obtained using each of the plurality of sets of reference data. An estimation polynomial generating method comprising: calculating reference data that minimizes an error between the calculated estimation polynomial and the analysis data as reference data used for supplementing the analysis data .
請求項6または7記載の推定用多項式生成方法において、
前記推定用多項式の作成対象は、製造装置であり、
前記データベースの参照用データは、製造装置の機種タイプ別に整理されることを特徴とする推定用多項式生成方法。
The estimation polynomial generating method according to claim 6 or 7,
The creation object of the estimation polynomial is a manufacturing apparatus,
The estimation polynomial generating method characterized in that the reference data in the database is organized by model type of the manufacturing apparatus.
請求項6または7記載の推定用多項式生成方法において、
前記推定用多項式の作成対象は、空調システムであり、
前記データベースの参照用データは、空調計装タイプ別に整理されることを特徴とする推定用多項式生成方法。
The estimation polynomial generating method according to claim 6 or 7,
The object of creation of the estimation polynomial is an air conditioning system,
The estimation polynomial generating method, wherein the database reference data is organized by air conditioning instrumentation type.
入力パラメータ値を取得する入力パラメータ値取得ステップと、
請求項6乃至9のいずれか1項に記載の推定用多項式算出ステップで算出した推定用多項式を用い、前記入力パラメータ値取得ステップで取得した入力パラメータ値から出力パラメータ値を推定する多項式推定演算ステップとを備えることを特徴とする推定方法。
An input parameter value acquisition step for acquiring an input parameter value;
A polynomial estimation calculation step for estimating an output parameter value from an input parameter value acquired in the input parameter value acquisition step using the estimation polynomial calculated in the estimation polynomial calculation step according to any one of claims 6 to 9. An estimation method comprising:
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