JP5456404B2 - Defective pixel detection method and image processing apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、被写体の画像を撮影する画像撮影装置において、検出器の欠陥画素を検出するための欠陥画素検出方法および画像処理装置に関するものである。   The present invention relates to a defective pixel detection method and an image processing apparatus for detecting defective pixels of a detector in an image capturing apparatus that captures an image of a subject.

放射線画像撮影装置は、例えば、医療用の診断画像や工業用の非破壊検査などを含む各種の分野で利用されている。放射線画像撮影装置において、被写体を透過した放射線(X線、α線、β線、γ線、電子線、紫外線等)を検出する放射線検出器としては、現在では、放射線を電気信号に変換するフラットパネル型検出器(FPD(Flat Panel Detector))を用いるものがある。   Radiographic imaging devices are used in various fields including, for example, medical diagnostic images and industrial nondestructive inspection. As a radiation detector for detecting radiation (X-rays, α-rays, β-rays, γ-rays, electron beams, ultraviolet rays, etc.) that has passed through a subject in a radiographic imaging apparatus, there is currently a flat that converts radiation into an electrical signal. Some use a panel type detector (FPD (Flat Panel Detector)).

放射線画像検出器にFPDを用いる方法としては、例えば放射線の入射によってアモルファスセレンなどの光導電膜が発した電子−正孔対(e−hペア)を収集して電気信号として読み出す、いわば放射線を直接的に電気信号に変換する直接方式と、放射線の入射によって発光(蛍光)する蛍光体で形成された蛍光体層(シンチレータ層)を有し、この蛍光体層によって放射線を可視光に変換し、この可視光を光電変換素子で読み出す、いわば放射線を可視光として電気信号に変換する間接方式との、2つの方式がある。   As a method of using FPD for a radiation image detector, for example, electron-hole pairs (e-h pairs) generated by a photoconductive film such as amorphous selenium by collecting radiation are collected and read out as an electrical signal. It has a direct system that directly converts it into an electrical signal and a phosphor layer (scintillator layer) that is made of phosphor that emits light (fluoresce) when incident radiation is applied. This phosphor layer converts radiation into visible light. There are two methods of reading out this visible light with a photoelectric conversion element, that is, an indirect method of converting radiation into an electric signal as visible light.

このようなFPDでは、放射線を検出するための多数の放射線検出素子(画素)が格子状に並んだ構造をしており、薄膜トランジスタ(TFT(Thin Film Transistor))などのスイッチング素子を用いて、放射線検出素子に蓄積された電荷を、例えば、1ラインずつ順次選択して出力する。   Such an FPD has a structure in which a large number of radiation detection elements (pixels) for detecting radiation are arranged in a lattice pattern, and radiation is generated by using a switching element such as a thin film transistor (TFT). For example, the charges accumulated in the detection element are sequentially selected and output line by line.

このFPDを利用する放射線画像撮影装置において、放射線画像の画質低下の一因として、FPDの欠陥画素が挙げられる。
すなわち、FPDの画素(放射線検出素子)は、全てが常に入射した放射線の照射量に対して適正な強度(濃度)の信号を出力する場合ばかりではなく、放射線の照射量に対して、適正な強度よりも低い値の信号や高い値の信号を出力する欠陥画素が存在する場合がある。
この欠陥画素は、放射線の照射による画素の劣化、あるいは、画素に蓄積された電荷を読み取るための信号読み取り電極や、スイッチング素子といった信号を読み取るための電気配線の不良など、種々の原因により発生する。そのため、欠陥の度合い、つまり、欠陥画素が出力する異常な信号の強度は様々であり、また、欠陥の形状も、単一または少数の欠陥画素が点状に現れる点欠陥や、欠陥画素がライン状に繋がって現れる線欠陥など様々である。
In the radiographic image capturing apparatus using the FPD, defective pixels of the FPD are cited as one cause of the deterioration of the image quality of the radiographic image.
That is, the FPD pixel (radiation detection element) is not only suitable for outputting a signal having an appropriate intensity (concentration) with respect to the radiation dose that is always incident, but is also suitable for the radiation dose. There may be a defective pixel that outputs a signal with a value lower than the intensity or a signal with a higher value.
This defective pixel occurs due to various causes such as deterioration of the pixel due to irradiation of radiation, or a failure of an electric wiring for reading a signal such as a signal reading electrode or a switching element for reading a charge accumulated in the pixel. . For this reason, the degree of defect, that is, the intensity of the abnormal signal output from the defective pixel varies, and the shape of the defect is a point defect in which a single or a small number of defective pixels appear as dots, or a defective pixel is a line. There are various line defects such as line defects that appear in a line.

当然のことであるが、欠陥画素は、適正な放射線画像信号を得ることができない。
また、FPDの欠陥画素は、放射線画像の撮影回数が増えるに従って、増加する傾向がある。
そのため、FPDを利用する放射線画像撮影装置では、所定のタイミングでFPDの欠陥画素の位置を検出しておき、放射線画像を撮影する際には、欠陥画素の検出結果に応じて、周辺の画素(その画像データ)を利用して画像欠陥を補正する、画像補正を行い、画像補正済の放射線画像を診断画像等として表示やプリントとして再生することが行われている。
As a matter of course, a defective pixel cannot obtain a proper radiation image signal.
Further, the defective pixels of the FPD tend to increase as the number of radiographic image capturing increases.
Therefore, in the radiographic image capturing apparatus using the FPD, the position of the defective pixel of the FPD is detected at a predetermined timing, and when a radiographic image is captured, peripheral pixels ( Image defects are corrected using the image data), image correction is performed, and the image-corrected radiation image is displayed as a diagnostic image or the like and reproduced as a print.

例えば、特許文献1には、FPDの点欠陥と線欠陥とを別々に検出し、最後に合成することにより、FPDの欠陥画素を検出する画像処理装置が開示されている。この画像処理装置では、まず、欠陥検出用画像を取得して、この欠陥検出用画像に対して、FPDの読出方向にメディアン減算をすることによって得られた第1の処理用画像を用いて点欠陥抽出用画像を生成し、この点欠陥抽出用画像から欠陥の連続性等を用いて線欠陥を除去することにより、FPDの点欠陥を検出すると共に、欠陥検出用画像にオフセット補正およびシェーディング補正を施して、この補正済み画像に対して、FPDの読出方向および直交方向にメディアン減算して線欠陥抽出用画像を生成し、この線欠陥抽出用画像から欠陥の連続性等を用いて点欠陥を除去することにより、FPDの線欠陥を検出し、さらに、検出した点欠陥および線欠陥を合成することにより、FPDの欠陥画素を検出する。   For example, Patent Document 1 discloses an image processing apparatus that detects a defective pixel of an FPD by separately detecting a point defect and a line defect of the FPD, and finally combining them. In this image processing apparatus, first, a defect detection image is acquired, and the first processing image obtained by performing median subtraction in the FPD reading direction on the defect detection image is used to make a point. By generating a defect extraction image and removing line defects from the point defect extraction image using defect continuity, etc., FPD point defects are detected, and offset correction and shading correction are performed on the defect detection image. The corrected image is subjected to median subtraction in the FPD reading direction and orthogonal direction to generate a line defect extraction image, and the defect defect continuity is used from the line defect extraction image. Is removed, and the line defect of the FPD is detected, and further, the defective pixel of the FPD is detected by synthesizing the detected point defect and line defect.

また、特許文献2には、経時的に不安定な欠損画素に対しても欠損登録に基づいた校正を行なうために、画素ごとに欠損の検出頻度を計数し、欠損の検出頻度が欠損設定値よりも大きいときに対称の画素を欠損画素として登録し、欠損の登録情報に基づいてX線検出信号の校正を行なうX線診断装置が開示されている。このX線診断装置では、全画素それぞれに対して、対象画素とそれに隣接する画素とからなるサブ画素を設定し、サブ画素領域内の各画素の値を求めて、それらの中間となる中間値をメディアンフィルタで抽出し、メディアンフィルタで抽出された中間値と対象画素の値との差分(絶対値)が、画素比較設定値よりも大きいときに対象画素における異常(欠損)として検出している。   Further, in Patent Document 2, in order to perform correction based on defect registration even for a defective pixel that is unstable over time, the defect detection frequency is counted for each pixel, and the defect detection frequency is determined as a defect setting value. An X-ray diagnostic apparatus is disclosed in which a symmetric pixel is registered as a defective pixel when it is larger than that, and an X-ray detection signal is calibrated based on the registration information of the defect. In this X-ray diagnostic apparatus, a subpixel consisting of a target pixel and a pixel adjacent to it is set for each of all pixels, and the value of each pixel in the subpixel region is obtained, and an intermediate value that is intermediate between them Is extracted by the median filter, and when the difference (absolute value) between the intermediate value extracted by the median filter and the value of the target pixel is larger than the pixel comparison set value, it is detected as an abnormality (missing) in the target pixel. .

特開2008−252564号公報JP 2008-252564 A 特開2007−143594号公報JP 2007-143594 A

ところで、前記特許文献1にも示されるように、FPD等の検出器の欠陥画素には、欠陥画素が画素配列方向に連続する線欠陥と、1つあるいは複数画素がまとまって欠陥画素が点状に存在する点欠陥とがある。ここで、線欠陥は、欠陥画素が異常な強度の信号を出力するため、隣接する正常なラインに電気的に影響を及ぼし、隣接する画素にも異常な出力信号を発生させる場合がある。
図7は、FPDに放射線を照射せずにデータを読み取った無曝射画像において、線欠陥が発生した画像の、線欠陥に直交する方向の画像の一部の出力信号を示したグラフであり、横軸に位置、縦軸に出力信号(規格化信号)を表す。図7に示すように、線欠陥が発生した画素は、異常に高い値を出力している。この線欠陥に隣接する片側の画素は、正常な画素であるにも関わらず、他の正常な画素よりも低い値を出力していることがわかる。また、線欠陥からの距離が近い画素ほど線欠陥の影響を受けて、より低い値を出力していることがわかる。
By the way, as also shown in Patent Document 1, the defective pixels of a detector such as an FPD include a line defect in which defective pixels are continuous in the pixel arrangement direction, and one or a plurality of pixels grouped into a defective pixel. There is a point defect that exists in Here, in the case of a line defect, a defective pixel outputs a signal having an abnormal intensity, so that an electrical influence is exerted on an adjacent normal line, and an abnormal output signal may be generated also in the adjacent pixel.
FIG. 7 is a graph showing an output signal of a part of an image in a direction orthogonal to the line defect in an image in which a line defect has occurred in an unexposed image obtained by reading data without irradiating the FPD with radiation. The horizontal axis represents the position, and the vertical axis represents the output signal (normalized signal). As shown in FIG. 7, the pixel in which the line defect occurs outputs an abnormally high value. It can be seen that the pixel on one side adjacent to the line defect outputs a lower value than the other normal pixels even though it is a normal pixel. In addition, it can be seen that a pixel having a shorter distance from the line defect outputs a lower value due to the influence of the line defect.

このような線欠陥の影響により出力信号が異常な値を示す画素(以下、「被影響画素」という)は、実際には正常な画素であり、その出力には正しい情報を含んでいる。   A pixel whose output signal shows an abnormal value due to the influence of such a line defect (hereinafter referred to as “affected pixel”) is actually a normal pixel, and its output includes correct information.

しかしながら、特許文献1のように、読出画像に対し、読出方向についてメディアン減算を行なった画像を欠陥検出用画像として欠陥の検出を行なう場合や、特許文献2のように、サブ画素内の中間値をメディアンフィルタで抽出し、この中間値と対象画素の値の差分が、画素比較設定値よりも大きいときに対象画素を欠損として検出する場合では、閾値の設定によっては、欠陥画素だけではなく、被影響画素も欠陥画素として検出してしまうおそれがある。従って、これらの検出結果に基づいて、撮影した画像の欠陥補正を行なうと、被影響画素、つまり、正常な画素も過剰に補正してしまい、補正の精度が悪くなる。   However, when a defect is detected using an image obtained by performing median subtraction with respect to the readout direction as a defect detection image as in Patent Document 1, or an intermediate value in a sub-pixel as in Patent Document 2. Is extracted by a median filter, and when the difference between the intermediate value and the value of the target pixel is larger than the pixel comparison setting value, the target pixel is detected as a defect. There is a possibility that the affected pixel is also detected as a defective pixel. Therefore, if defect correction of a captured image is performed based on these detection results, the affected pixels, that is, normal pixels are excessively corrected, and the correction accuracy is deteriorated.

また、前述のように、特許文献1では、欠陥検出用画像に対して、シェーディング補正およびオフセット補正を行なった後に、読出方向及び読出方向に直交する方向に、メディアン減算を行なって欠陥検出用画像を生成している。
しかしながら、読み取り画像に対して、シェーディング補正等を行なうと、線欠陥や点欠陥も補正されて、実際の欠陥よりも欠陥の範囲が小さくなったり、値が小さくなってしまう。そのため、この欠陥検出用画像を用いて欠陥を検出すると、欠陥の範囲を実際よりも小さく検出したり、設定した閾値よりも値が小さくなって欠陥を検出することができなくなったり、あるいは、欠陥を検出するために閾値を低く設定するとノイズを欠陥と誤検出してしまうなど、欠陥の検出能が低下してしまう。
従って、検出器が有する欠陥をより確実に検出するには、シェーディング補正等の補正を行なっていない未補正の欠陥検出用画像を使用するのが好ましいが、逆に、シェーディング補正等を行なわずに、欠陥画素検出を行なうと、被影響画素を欠陥として検出してしまうおそれが増大してしまう。
Further, as described above, in Patent Document 1, after performing shading correction and offset correction on a defect detection image, median subtraction is performed in a reading direction and a direction orthogonal to the reading direction, thereby detecting the defect detection image. Is generated.
However, if shading correction or the like is performed on the read image, line defects and point defects are also corrected, and the defect range becomes smaller or the value becomes smaller than the actual defect. Therefore, when a defect is detected using this defect detection image, the defect range is detected to be smaller than the actual value, the value becomes smaller than the set threshold value, and the defect cannot be detected. If the threshold value is set low in order to detect this, the detection ability of the defect is deteriorated, for example, noise is erroneously detected as a defect.
Therefore, in order to detect the defects of the detector more reliably, it is preferable to use an uncorrected defect detection image that has not been corrected by shading correction or the like, but conversely without performing shading correction or the like. If defective pixel detection is performed, the risk of detecting the affected pixel as a defect increases.

このように、線欠陥が隣接する画素に影響を及ぼし、隣接する画素が異常な出力信号を発生する場合は、この被影響画素を欠陥として検出してしまったり、あるいは、補正により被影響画素を欠陥として検出しないようにしても、欠陥の検出能が低下するおそれがあり、撮影した画像に高精度な欠陥補正を行なうことができず、高品質な画像を提供することができない可能性がある。   In this way, when a line defect affects an adjacent pixel and the adjacent pixel generates an abnormal output signal, the affected pixel is detected as a defect, or the affected pixel is detected by correction. Even if it is not detected as a defect, there is a possibility that the detection ability of the defect may be reduced, and it is impossible to perform high-precision defect correction on the photographed image and to provide a high-quality image. .

本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決することにあり、線欠陥が隣接する画素に影響を及ぼし、隣接する画素が異常な出力信号を発生する場合でも、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができる欠陥画素検出方法および画像処理装置を提供することにある。   An object of the present invention is to solve the problems of the prior art described above, where a line defect affects an adjacent pixel, and even when the adjacent pixel generates an abnormal output signal, a place where image correction is necessary. It is an object of the present invention to provide a defective pixel detection method and an image processing apparatus capable of accurately detecting the image and correcting the image accurately.

上記目的を達成するために、本発明は、二次元的に配列された画素を有する検出器の欠陥画素を検出するに際し、前記検出器から欠陥検出用画像を取得する工程と、前記欠陥検出用画像に対して、前記画素の配列方向の一方向である所定方向に、一次元の平滑化処理を行なって第1平滑化画像を生成し、前記欠陥検出用画像から前記第1平滑化画像を減算して、第1の画像を生成する工程と、前記第1の画像に対して、前記所定方向と直交する方向に、一次元の平滑化処理を行なって第2平滑化画像を生成し、前記第1の画像から前記第2平滑化画像を減算して、第2の画像を生成する工程と、前記第2の画像から、前記検出器の点欠陥を検出する工程とを有することを特徴とする欠陥画素検出方法を提供するものである。   In order to achieve the above object, the present invention provides a step of acquiring a defect detection image from the detector when detecting a defective pixel of a detector having two-dimensionally arranged pixels, and the defect detection The image is subjected to a one-dimensional smoothing process in a predetermined direction which is one direction of the pixel arrangement direction to generate a first smoothed image, and the first smoothed image is generated from the defect detection image. Subtracting to generate a first image, and performing a one-dimensional smoothing process on the first image in a direction orthogonal to the predetermined direction to generate a second smoothed image, Subtracting the second smoothed image from the first image to generate a second image; and detecting a point defect of the detector from the second image. A defective pixel detection method is provided.

ここで、前記欠陥検出用画像は、未補正の画像であることが好ましい。
また、前記平滑化処理は、メディアン処理であることが好ましい。
また、前記第2の画像から点欠陥を検出する工程は、所定の閾値を超えた画素を点欠陥として検出することが好ましい。
さらに、前記検出器の点欠陥を補正する工程を有することが好ましい。
Here, the defect detection image is preferably an uncorrected image.
The smoothing process is preferably a median process.
In the step of detecting a point defect from the second image, it is preferable that a pixel exceeding a predetermined threshold is detected as a point defect.
Furthermore, it is preferable to include a step of correcting a point defect of the detector.

また、前記検出器は、フラットパネル型の放射線検出器であることが好ましい。
ここで、前記欠陥検出用画像は、前記放射線検出器に放射線を一様に照射して前記放射線検出器から読み取った一様照射画像であることが好ましい。
あるいは、前記欠陥検出用画像は、放射線を照射せずに前記放射線検出器から読み取った無曝射画像であることが好ましい。
The detector is preferably a flat panel radiation detector.
Here, it is preferable that the defect detection image is a uniform irradiation image obtained by uniformly irradiating the radiation detector with radiation and reading from the radiation detector.
Alternatively, the defect detection image is preferably an unexposed image read from the radiation detector without irradiating radiation.

また、前記第1の画像を生成する工程に変えて、前記検出器の線欠陥を検出する工程、および、前記欠陥検出用画像を前記線欠陥の位置で分割する工程を有し、前記第2の画像を生成する工程は、分割された各画像に対して、前記画素の配列方向の一方向に、一次元の平滑化処理を行なって、平滑化画像を生成し、前記分割された各画像に対応する平滑化画像を減算して、前記第2の画像を生成することが好ましい。   Further, in place of the step of generating the first image, the step of detecting a line defect of the detector, and the step of dividing the defect detection image at the position of the line defect, In the step of generating the image, a one-dimensional smoothing process is performed on each of the divided images in one direction of the pixel arrangement direction to generate a smoothed image, and each of the divided images It is preferable to generate the second image by subtracting the smoothed image corresponding to.

また、本発明は、二次元的に配列された画素を有する検出器から出力された画像を処理する画像処理装置において、所定のタイミングで、前記検出器から欠陥検出用画像を取得する画像取得手段と、前記欠陥検出用画像に対して、前記画素の配列方向の一方向である所定方向に、一次元の平滑化処理を行なって第1平滑化画像を生成し、前記欠陥検出用画像から前記第1平滑化画像を減算して第1の画像を生成する第1画像処理手段と、前記第1の画像に対して、前記所定方向と直交する方向に一次元の平滑化処理を行なって第2平滑化画像を生成し、前記第1の画像から前記第2平滑化画像を減算して第2の画像を生成する第2画像処理手段と、前記第2の画像から点欠陥を検出する点欠陥検出手段とを有することを特徴とする画像処理装置を提供するものである。   The present invention also relates to an image processing device for processing an image output from a detector having two-dimensionally arranged pixels, and obtaining an image for defect detection from the detector at a predetermined timing. Then, a one-dimensional smoothing process is performed on the defect detection image in a predetermined direction which is one direction of the pixel arrangement direction to generate a first smoothed image, and the defect detection image A first image processing means for subtracting the first smoothed image to generate a first image; and a first-dimensional smoothing process is performed on the first image in a direction orthogonal to the predetermined direction. A second image processing means for generating a second smoothed image, subtracting the second smoothed image from the first image to generate a second image, and a point for detecting a point defect from the second image An image processing apparatus comprising: a defect detection unit; It is intended to provide.

ここで、前記欠陥検出用画像は、未補正の画像であることが好ましい。
また、前記第1画像処理手段および前記第2画像処理手段が行なう平滑化処理は、メディアン処理であることが好ましい。
また、前記点欠陥検出手段は、所定の閾値を超えた画素を点欠陥として検出することが好ましい。
さらに、前記検出器から取得した画像に対して、欠陥画素を補正する欠陥補正手段を有することが好ましい。
Here, the defect detection image is preferably an uncorrected image.
The smoothing process performed by the first image processing unit and the second image processing unit is preferably a median process.
Further, it is preferable that the point defect detection means detects a pixel exceeding a predetermined threshold as a point defect.
Furthermore, it is preferable to have defect correction means for correcting defective pixels with respect to the image acquired from the detector.

また、前記検出器は、フラットパネル型の放射線検出器であることが好ましい。
ここで、前記欠陥検出用画像は、前記放射線検出器に放射線を一様に照射して、前記放射線検出器から読み取った一様照射画像であることが好ましい。
あるいは、前記欠陥検出用画像は、放射線を照射せずに前記放射線検出器から読み取った無曝射画像であることが好ましい。
The detector is preferably a flat panel radiation detector.
Here, it is preferable that the defect detection image is a uniform irradiation image obtained by irradiating the radiation detector with radiation uniformly and reading from the radiation detector.
Alternatively, the defect detection image is preferably an unexposed image read from the radiation detector without irradiating radiation.

また、前記第1画像処理手段に変えて、前記検出器の線欠陥を検出する線欠陥検出手段、および、前記欠陥検出用画像を前記線欠陥の位置で分割する画像分割手段を有し、前記第2画像処理手段は、分割された各画像に対して、前記画素の配列方向の一方向に、一次元の平滑化処理を行なって平滑化画像を生成し、前記分割された各画像に対応する平滑化画像を減算して、前記第2の画像を生成することが好ましい。   Further, instead of the first image processing means, it has a line defect detection means for detecting a line defect of the detector, and an image dividing means for dividing the defect detection image at the position of the line defect, The second image processing means performs a one-dimensional smoothing process on each of the divided images in one direction of the pixel arrangement direction to generate a smoothed image, and corresponds to each of the divided images Preferably, the smoothed image to be subtracted is used to generate the second image.

本発明によれば、線欠陥が隣接する画素に影響を及ぼし、隣接する画素が異常な出力信号を発生する場合でも、画像補正が必要な箇所に正確に画像補正することができ、高品質な画像を提供することができる。   According to the present invention, even when a line defect affects an adjacent pixel and the adjacent pixel generates an abnormal output signal, the image can be accurately corrected at a place where image correction is necessary, and high quality is achieved. Images can be provided.

本発明を適用した放射線画像撮影装置の構成を概念的に表す一実施形態の図である。It is a figure of one Embodiment which represents notionally the structure of the radiographic imaging apparatus to which this invention is applied. 図1に示す放射線画像撮影装置の画像処理部の構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structure of the image process part of the radiographic imaging apparatus shown in FIG. (A)〜(E)は、点欠陥を検出するための欠陥検出用データを概念的に示す図である。(A)-(E) are the figures which show notionally the data for a defect detection for detecting a point defect. 図1に示す放射線画像撮影装置による欠陥検出を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the defect detection by the radiographic imaging apparatus shown in FIG. 画像処理部の他の一例の構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structure of another example of an image processing part. (A)〜(D)は、図5に示す画像処理部において点欠陥を検出するための欠陥検出用データを概念的に示す図である。(A)-(D) are the figures which show notionally the data for a defect detection for detecting a point defect in the image processing part shown in FIG. 線欠陥が発生した画像の一部の濃度を示すグラフである。It is a graph which shows the density | concentration of a part of image which a line defect generate | occur | produced.

以下、本発明を適用した放射線画像撮影装置の第1の態様について、添付の図面に示される好適実施例を基に、詳細に説明する。   Hereinafter, a first aspect of a radiographic imaging apparatus to which the present invention is applied will be described in detail based on a preferred embodiment shown in the accompanying drawings.

図1は、本発明の一実施形態を適用した放射線画像撮影装置の構成を概念的に表す図である。図1に示す放射線画像撮影装置(以下、撮影装置ともいう)10は、放射線を被写体(被検体)Hに照射し、被写体Hを透過した放射線を後述する放射線検出部30の放射線検出器32で検出して画像データに相当する電気信号に変換し、この変換した電気信号に基づいて、被写体Hが撮影された放射線画像を生成する。撮影装置10は撮影部12と、撮影データ処理部14と、画像処理部16と、出力部18と、撮影指示部20と、制御部22とによって構成されている。   FIG. 1 is a diagram conceptually showing the configuration of a radiographic imaging apparatus to which an embodiment of the present invention is applied. A radiographic image capturing apparatus (hereinafter also referred to as an image capturing apparatus) 10 shown in FIG. 1 irradiates a subject (subject) H with radiation, and the radiation transmitted through the subject H is a radiation detector 32 of a radiation detection unit 30 described later. It detects and converts into an electric signal corresponding to image data, and generates a radiographic image in which the subject H is photographed based on the converted electric signal. The imaging device 10 includes an imaging unit 12, an imaging data processing unit 14, an image processing unit 16, an output unit 18, an imaging instruction unit 20, and a control unit 22.

撮影指示部20は、撮影メニューや、撮影条件などを設定し、被写体Hの撮影を指示する部位である。撮影指示部20には、撮影メニューや、撮影条件を設定するための入力キーや、撮影の指示手段が設けられる。
図示例においては、撮影の指示手段として、2段押し型の撮影ボタンが用いられている。撮影ボタンは、1段目まで押下されると(半押しされると)撮影の準備状態となり、2段目まで押下されると(全押しされると)撮影が開始される。撮影指示部20は、撮影ボタンが押下されていない状態、1段目まで押下された状態、および2段目まで押下された状態を表す撮影の指示信号や、撮影条件等の情報を制御部22に出力する。
The shooting instruction unit 20 is a part that sets a shooting menu, shooting conditions, and the like and instructs shooting of the subject H. The shooting instruction unit 20 is provided with a shooting menu, input keys for setting shooting conditions, and shooting instruction means.
In the example shown in the drawing, a two-push type photographing button is used as a photographing instruction means. When the shooting button is pressed down to the first level (half-pressed), it is ready for shooting, and when it is pressed down to the second level (fully pressed), shooting starts. The shooting instruction unit 20 includes information such as a shooting instruction signal indicating a state where the shooting button is not pressed, a state where the shooting button is pressed down to the first level, and a state where the shooting button is pressed down to the second level, and shooting conditions. Output to.

制御部22は、撮影指示部20から供給された撮影の指示信号等に応じて、撮影装置10の各部位の動作を制御する部位である。
制御部22は、例えば、設定された撮影メニュー、撮影条件で撮影が行なわれるように撮影部12を制御する。
また、後に詳述するが、撮影装置10は、放射線検出器32の欠陥(欠陥画素)を検出して放射線検出器32における欠陥の位置やサイズの情報を示す欠陥マップを作成し、この欠陥マップを用いて撮影した放射線画像の欠陥の補正を行なう。制御部22は、欠陥の位置を検出するために、設定されたタイミングで、放射線検出器32から、欠陥検出に用いる欠陥検出用データを読み出すように撮影データ処理部14を制御する。具体的には、撮影装置10においては、撮影装置10の起動時、および、所定の時間間隔ごとに、欠陥の位置を検出するために、欠陥検出用データを取得する。このとき、後述する撮影のモードごとに欠陥検出用データを取得する。
さらに、制御部22は、撮影された放射線画像(放射線画像データ)に、所定の画像処理を行なうように、画像処理部16を制御する。
The control unit 22 is a part that controls the operation of each part of the imaging apparatus 10 in accordance with an imaging instruction signal or the like supplied from the imaging instruction unit 20.
For example, the control unit 22 controls the photographing unit 12 so that photographing is performed with the set photographing menu and photographing conditions.
As will be described in detail later, the imaging apparatus 10 detects a defect (defective pixel) of the radiation detector 32 and creates a defect map indicating information on the position and size of the defect in the radiation detector 32, and this defect map. The defect of the radiographic image image | photographed using is corrected. In order to detect the position of the defect, the control unit 22 controls the imaging data processing unit 14 to read out the defect detection data used for defect detection from the radiation detector 32 at the set timing. Specifically, the imaging apparatus 10 acquires defect detection data in order to detect the position of the defect when the imaging apparatus 10 is activated and at predetermined time intervals. At this time, defect detection data is acquired for each shooting mode described later.
Furthermore, the control unit 22 controls the image processing unit 16 so as to perform predetermined image processing on the captured radiation image (radiation image data).

撮影部12は、放射線源26と、被写体Hを撮影時に所定の位置に臥位で載せるための撮影台28と、被写体Hを透過した放射線を検出する放射線検出部30とによって構成される。撮影部12において、放射線源26が放射線を照射し、撮影台28上の被写体Hを透過した放射線を放射線検出部30の放射線検出器32で検出することで、被写体Hの撮影を行なう。撮影部12は、被写体Hを撮影した放射線画像のデータ(アナログデータ)を出力する。   The imaging unit 12 includes a radiation source 26, an imaging table 28 for placing the subject H in a supine position at the time of imaging, and a radiation detection unit 30 that detects radiation transmitted through the subject H. In the imaging unit 12, the radiation source 26 emits radiation, and the radiation that has passed through the subject H on the imaging table 28 is detected by the radiation detector 32 of the radiation detection unit 30, thereby imaging the subject H. The imaging unit 12 outputs radiographic image data (analog data) obtained by imaging the subject H.

放射線源26は、放射線画像撮影装置に利用される通常の放射線源である。
放射線検出器(Flat Panel Detector 以下、FPDとする)32は、被写体Hを透過した放射線を検出して、電気信号(放射線画像データ)に変換して、被写体Hが撮影された放射線画像のデータ(アナログデータを)出力する放射線(画像)の検出器であり、アモルファスセレンの光導電膜により、入射した放射線を電気信号に変換する。
The radiation source 26 is a normal radiation source used for a radiographic imaging apparatus.
A radiation detector (Flat Panel Detector, hereinafter referred to as FPD) 32 detects radiation that has passed through the subject H, converts it into an electrical signal (radiation image data), and data of a radiation image obtained by photographing the subject H ( A detector of radiation (image) that outputs analog data), and converts incident radiation into an electrical signal by a photoconductive film of amorphous selenium.

撮影データ処理部14は、制御部22からの指示に応じて、FPD32から、画像データを読み出し、読み出した画像データに対して、A/D(アナログ/デジタル)変換等の所定のデータ処理を行なう部位である。撮影データ処理部14は、データ処理後の画像データ(デジタルデータ)を出力する。   The photographing data processing unit 14 reads image data from the FPD 32 in accordance with an instruction from the control unit 22 and performs predetermined data processing such as A / D (analog / digital) conversion on the read image data. It is a part. The photographing data processing unit 14 outputs image data (digital data) after data processing.

撮影データ処理部14は、基本的に、蓄積時間に応じて、FPD32から画像データを読み出す。蓄積時間は、FPD32において、放射線が電荷に変換され、その電荷を蓄積している時間である。
撮影データ処理部14は、たとえば、被写体Hの撮影時には、曝射後、所定の蓄積時間が経過した後に放射線画像(放射線画像データ)をFPD32から読み出す。
The imaging data processing unit 14 basically reads image data from the FPD 32 according to the accumulation time. The accumulation time is a time during which radiation is converted into electric charges and accumulated in the FPD 32.
For example, when imaging the subject H, the imaging data processing unit 14 reads out a radiation image (radiation image data) from the FPD 32 after a predetermined accumulation time has elapsed after exposure.

ここで、撮影データ処理部14は、撮影メニューに応じて、異なる蓄積時間で放射線画像をFPD32から読み出す。そこで、撮影装置10は、蓄積時間に応じて、撮影のモード分けを行なっている。これに対応して、撮影装置10では、撮影のモードごとに欠陥検出用データを取得し、欠陥の検出を行ない、欠陥マップの作成を行なう。なお、いずれの撮影のモードであっても欠陥マップの作成方法は同じであるので、以下の説明では、基本的に一つの撮影モードについて説明を行なう。   Here, the imaging data processing unit 14 reads out radiation images from the FPD 32 at different accumulation times according to the imaging menu. Therefore, the photographing apparatus 10 performs photographing mode division according to the accumulation time. In response to this, the imaging apparatus 10 acquires defect detection data for each imaging mode, detects defects, and creates a defect map. Note that the method for creating the defect map is the same regardless of the shooting mode, and therefore, in the following description, only one shooting mode will be basically described.

すなわち、撮影データ処理部14は、撮影装置10の起動時、および、所定の時間間隔で、撮影のモードごとに、放射線画像の欠陥の位置を検出するための欠陥検出用データを取得する。具体的には、欠陥検出用データは、放射線をFPD32に一様に照射してFPD32から読み取ったデータである一様照射画像(いわゆるベタ画像)である。   That is, the imaging data processing unit 14 acquires defect detection data for detecting the position of the defect in the radiographic image for each imaging mode when the imaging apparatus 10 is activated and at predetermined time intervals. Specifically, the defect detection data is a uniform irradiation image (so-called solid image) that is data read from the FPD 32 by uniformly irradiating the FPD 32 with radiation.

なお、欠陥検出用データは、撮影データ処理部14がFPD32から取得する一様照射画像にとしたが、本発明はこれに限定はされず、放射線を照射せずにFPD32から読み取ったデータである無曝射画像を欠陥検出用データとしてもよい。   The defect detection data is a uniform irradiation image acquired by the imaging data processing unit 14 from the FPD 32. However, the present invention is not limited to this, and is data read from the FPD 32 without irradiation. An unexposed image may be used as defect detection data.

撮影データ処理部14が読み出した画像データは、次いで画像処理部16に送られる。図2に示すように、画像処理部16は、画像取得部42と、画像補正部44とを有して構成され、撮影データ処理部14から取得したデータ処理後の画像データに対して、オフセット補正やシェーディング補正、欠陥画素補正等の所定の画像処理を行ない、モニタ表示やプリント表示などの出力用の画像データとして出力部18に供給する部位である。また、画像補正部44は、欠陥の検出も行なう。
画像処理部16は、コンピュータ上で動作するプログラム(ソフトウェア)、専用のハードウェア、ないしは、両方を組み合わせて構成される。画像処理部16は、画像処理後の放射線画像を出力する。
The image data read by the photographing data processing unit 14 is then sent to the image processing unit 16. As shown in FIG. 2, the image processing unit 16 includes an image acquisition unit 42 and an image correction unit 44, and offsets image data after data processing acquired from the imaging data processing unit 14. This is a part that performs predetermined image processing such as correction, shading correction, and defective pixel correction, and supplies the image data to the output unit 18 as output image data such as monitor display or print display. The image correction unit 44 also detects defects.
The image processing unit 16 is configured by a program (software) operating on a computer, dedicated hardware, or a combination of both. The image processing unit 16 outputs the radiographic image after image processing.

画像取得部42は、制御部22からの指示に応じて、撮影データ処理部14が処理した画像データを取得して、画像処理部16の所定部位に供給するものである。
前述のように、撮影データ処理部14は、被写体Hを撮影した放射線画像や、欠陥を検出するための欠陥検出用データをFPD32から読み出すので、画像取得部42は、これらの画像データを、撮影データ処理部14から取得し、所定部位に供給する。
The image acquisition unit 42 acquires image data processed by the imaging data processing unit 14 in accordance with an instruction from the control unit 22 and supplies the image data to a predetermined part of the image processing unit 16.
As described above, since the imaging data processing unit 14 reads out the radiographic image obtained by imaging the subject H and the defect detection data for detecting defects from the FPD 32, the image acquisition unit 42 captures these image data. Obtained from the data processing unit 14 and supplied to a predetermined part.

画像補正部44は、制御部22からの指示に応じて、画像取得部42が取得した画像データ(放射線画像)に、所定の画像処理を施すものである。
画像補正部44が行なう画像処理には、特に限定はなく、線欠陥の補正、オフセット補正、シェーディング補正(ゲイン補正)、濃度補正、シャープネス処理、階調補正、モニタ表示用やプリント出力用のデータに画像データを変換するデータ変換など、各種の放射線画像撮影装置や画像処理装置で行なわれている画像処理(画像補正)が、全て利用可能である。また、これらの補正は、全て、公知の方法で行なえばよい。
図示例において、画像補正部44は、FPD32の点欠陥を補正する欠陥補正も行なうものであり、点欠陥の位置を検出して欠陥マップを作成し、放射線画像データに対して、点欠陥の補正を施すための、欠陥検出部46と、欠陥記憶部48と、欠陥補正部50とを有する。
The image correction unit 44 performs predetermined image processing on the image data (radiation image) acquired by the image acquisition unit 42 in accordance with an instruction from the control unit 22.
The image processing performed by the image correction unit 44 is not particularly limited, and data for line defect correction, offset correction, shading correction (gain correction), density correction, sharpness processing, gradation correction, monitor display, and print output Image processing (image correction) performed in various radiographic imaging devices and image processing devices, such as data conversion for converting image data, can be used. All of these corrections may be performed by a known method.
In the illustrated example, the image correction unit 44 also performs defect correction for correcting the point defect of the FPD 32, detects the position of the point defect, creates a defect map, and corrects the point defect for the radiation image data. A defect detection unit 46, a defect storage unit 48, and a defect correction unit 50.

画像取得部42は、欠陥検出部46には、欠陥検出用データを、欠陥補正部50には、被写体Hを撮影した放射線画像を、それぞれ、供給する。また、欠陥検出部46は、欠陥の検出結果を欠陥記憶部48に供給し、欠陥補正部50は、欠陥記憶部48に記憶された欠陥の情報を読み出す。   The image acquisition unit 42 supplies defect detection data to the defect detection unit 46 and a radiographic image of the subject H to the defect correction unit 50. In addition, the defect detection unit 46 supplies the defect detection result to the defect storage unit 48, and the defect correction unit 50 reads the defect information stored in the defect storage unit 48.

前述のように、撮影装置10では、電気配線の不良などにより、FPD32にライン状に繋がった欠陥画素、すなわち、線欠陥が発生する場合がある。この線欠陥は、その異常な信号が隣接する正常な画素のラインにも影響を及ぼし、隣接する画素のラインにも異常な出力を発生させる場合がある。この線欠陥の影響により出力信号が異常な値を示す画素(以下、「被影響画素」という)を欠陥画素として検出してしまうと、補正の精度が悪くなるおそれがある。
欠陥検出部46は、被影響画素を欠陥として検出することなく、FPD32の欠陥画素を検出するための部位である。
As described above, in the photographing apparatus 10, defective pixels connected to the FPD 32 in a line shape, that is, line defects may occur due to defective electrical wiring or the like. The line defect may affect the normal pixel line adjacent to the abnormal signal, and may generate an abnormal output in the adjacent pixel line. If a pixel whose output signal has an abnormal value due to the influence of the line defect (hereinafter referred to as “affected pixel”) is detected as a defective pixel, the accuracy of correction may be deteriorated.
The defect detection unit 46 is a part for detecting a defective pixel of the FPD 32 without detecting the affected pixel as a defect.

欠陥検出部46は、第1画像処理部52と、第2画像処理部54と、点欠陥検出部56とを有して構成され、画像取得部42が撮影データ処理部14から取得した欠陥検出用データを用いて、放射線画像の点欠陥の位置および大きさ(すなわち欠陥画素の位置)を検出する部位である。
欠陥検出部46は、検出した点欠陥の情報を欠陥記憶部48に供給する。
The defect detection unit 46 includes a first image processing unit 52, a second image processing unit 54, and a point defect detection unit 56, and defect detection acquired by the image acquisition unit 42 from the captured data processing unit 14. This is a part for detecting the position and size of the point defect of the radiographic image (that is, the position of the defective pixel) using the data for operation.
The defect detection unit 46 supplies the detected point defect information to the defect storage unit 48.

第1画像処理部52は、画像取得部42から供給された欠陥検出用データに、所定方向のメディアン減算を行ない、欠陥検出用データから、この所定方向に延在する線欠陥および被影響画素のラインを除去する部位である。
具体的には、第1画像処理部52は、画像処理部42から供給された未補正の欠陥検出用データに、画素配列の一方向(例えば、FPD32の読み取り電極が一方向に延在する場合は、一例としてこの方向)に、一次元のメディアンフィルタを掛けて第1平滑化画像を生成し、未補正の欠陥検出用データから第1平滑化画像を減算して第1画像を生成する。
第1画像処理部52は、生成した第1画像を第2画像処理部54に供給する。
The first image processing unit 52 performs median subtraction in a predetermined direction on the defect detection data supplied from the image acquisition unit 42, and from the defect detection data, the line defect and the affected pixel extending in the predetermined direction. This is the part where the line is removed.
Specifically, the first image processing unit 52 adds the uncorrected defect detection data supplied from the image processing unit 42 in one direction of the pixel array (for example, when the reading electrode of the FPD 32 extends in one direction). In this direction as an example, a one-dimensional median filter is applied to generate a first smoothed image, and the first smoothed image is subtracted from uncorrected defect detection data to generate a first image.
The first image processing unit 52 supplies the generated first image to the second image processing unit 54.

第2画像処理部54は、第1画像処理部52から供給された第1画像に、第1画像処理部54がメディアン減算を行なった所定方向と直交する方向のメディアン減算を行ない、第1画像から、この所定方向と直交する方向に延在する線欠陥および被影響画素のラインを除去する部位である。
具体的には、第2画像処理部54は、第1画像処理部52から供給された第1画像に、第1画像処理部54がメディアン減算を行なった方向である画像配列の一方向と直交する方向(例えば、FPD32のTFTが接続される方向)に一次元のメディアンフィルタを掛けて第2平滑化画像を生成し、第1画像から第2平滑化画像を減算して第2画像を生成する。
第2画像処理部54は、生成した第2画像を点欠陥検出部56に供給する。
The second image processing unit 54 performs median subtraction on the first image supplied from the first image processing unit 52 in a direction orthogonal to the predetermined direction in which the first image processing unit 54 performed median subtraction. From this, the line defect extending in the direction orthogonal to the predetermined direction and the line of the affected pixel are removed.
Specifically, the second image processing unit 54 is orthogonal to one direction of the image arrangement, which is the direction in which the first image processing unit 54 performs median subtraction on the first image supplied from the first image processing unit 52. A second smoothed image is generated by applying a one-dimensional median filter in a direction (for example, a direction in which the TFT of the FPD 32 is connected), and a second image is generated by subtracting the second smoothed image from the first image. To do.
The second image processing unit 54 supplies the generated second image to the point defect detection unit 56.

ここで、この点欠陥検出用の画像(第2画像)生成について、図3の欠陥検出用データを概念的に示す図を用いてより具体的に説明する。図3(A)は、FPD32から撮影データ処理部14が取得した未補正の欠陥検出用データの概略図であり、画素配列の一方向およびそれに直交する方向に線欠陥を有し、画像全体に分布した点欠陥を有する。なお、図3(A)〜(E)においては、図中左右方向をx方向、上下方向をy方向とする。
前述のように、撮影装置10では、起動時、および、所定の時間間隔で、欠陥検出用データを取得する。欠陥検出部46の第1画像処理部52は、取得した欠陥検出用データに、一例として、x方向に一次元のメディアンフィルタを掛ける。メディアフィルタでの処理により、欠陥検出用データから、y方向に延在する線欠陥と、点欠陥とを除去し、x方向に延在する線欠陥と被影響画素のラインとy方向に延在する被影響画素のラインとが残った第1平滑化画像(図3(B))を生成する。
Here, the generation of the point defect detection image (second image) will be described more specifically with reference to a diagram conceptually showing the defect detection data in FIG. FIG. 3A is a schematic diagram of uncorrected defect detection data acquired by the imaging data processing unit 14 from the FPD 32, and has line defects in one direction of the pixel array and a direction perpendicular thereto, and the entire image is displayed. Has distributed point defects. 3A to 3E, the horizontal direction in the figure is the x direction, and the vertical direction is the y direction.
As described above, the imaging apparatus 10 acquires defect detection data at the time of activation and at a predetermined time interval. For example, the first image processing unit 52 of the defect detection unit 46 applies a one-dimensional median filter in the x direction to the acquired defect detection data. The line filter extending in the y direction and the point defect are removed from the defect detection data by the processing by the media filter, and the line defect extending in the x direction and the affected pixel line and the y direction are extended. A first smoothed image (FIG. 3B) in which the affected pixel line remains is generated.

ここで、メディアンフィルタを掛けた際に、メディアンフィルタを掛けた方向と直交する方向に延在する被影響画素のラインが残存するのは、被影響画素のラインは図7に示すように、数十画素分の幅があるため、メディアンフィルタを掛けても、被影響画素の値は小さくなるものの完全には除去されないためである。なお、メディアンフィルタを被影響画素のラインの幅よりも十分大きなものとすれば、被影響画素のラインも完全に除去される。被影響画素のラインの幅よりも十分大きなメディアンフィルタも、本発明に適用することができる。
また、メディアンフィルタの設定によっては、メディアンフィルタを掛けた後の、メディアンフィルタを掛けた方向と直交する方向に延在する線欠陥の画素の値は、正常画素の値と同等レベルではなく、被影響画素の値と同等レベルになる場合もある。このようなメディアンフィルタも本発明に適用することができる。
Here, when the median filter is applied, the affected pixel lines extending in the direction orthogonal to the median filter direction remain, as shown in FIG. This is because there is a width of ten pixels, so even if the median filter is applied, the value of the affected pixel is reduced but not completely removed. If the median filter is sufficiently larger than the width of the affected pixel line, the affected pixel line is also completely removed. A median filter sufficiently larger than the line width of the affected pixel can also be applied to the present invention.
Further, depending on the median filter setting, the value of the pixel of the line defect extending in the direction orthogonal to the direction of the median filter after the median filter is applied is not equal to the value of the normal pixel, and is not equal to the normal pixel value. In some cases, the level is equal to the value of the affected pixel. Such a median filter can also be applied to the present invention.

さらに、第1画像処理部52は、欠陥検出用データから第1平滑化画像を減算して、欠陥検出用データからx方向に延在する線欠陥と被影響画素のラインとが除去された、図3(C)に示す第1画像を生成し、第2画像処理部54に供給する。
なお、第1平滑化画像のy方向に延在する被影響画素のラインは、値が小さくなっているため、欠陥検出用データから第1平滑化画像を減算しても、y方向に延在する被影響画素のラインは、完全には除去されず、値が小さくなった被影響画素のラインが残存する。
Further, the first image processing unit 52 subtracts the first smoothed image from the defect detection data, and the line defect and the affected pixel line extending in the x direction are removed from the defect detection data. A first image shown in FIG. 3C is generated and supplied to the second image processing unit 54.
Since the affected pixel line extending in the y direction of the first smoothed image has a small value, even if the first smoothed image is subtracted from the defect detection data, the line extends in the y direction. The affected pixel line is not completely removed, and the affected pixel line whose value has decreased remains.

次に、第2画像処理部54は、第1画像処理部52から供給された第1画像に画像のy方向に一次元のメディアンフィルタを掛ける。メディアンフィルタでの処理により、点欠陥を除去し、y方向に延在する線欠陥と被影響画素のラインとが残った第2平滑化画像(図3(D))を生成する。
さらに、第2画像処理部54は、第1画像から第2平滑化画像を減算して、第1画像からy方向に延在する線欠陥と被影響画素のラインとを除去し、点欠陥のみが残った、図3(E)に示す第2画像を生成し、点欠陥検出部56に供給する。
Next, the second image processing unit 54 applies a one-dimensional median filter to the first image supplied from the first image processing unit 52 in the y direction of the image. By the processing by the median filter, the point defect is removed, and a second smoothed image (FIG. 3D) in which the line defect extending in the y direction and the affected pixel line remain is generated.
Further, the second image processing unit 54 subtracts the second smoothed image from the first image to remove the line defect and the affected pixel line extending in the y direction from the first image, and only the point defect is obtained. A second image shown in FIG. 3E is generated and supplied to the point defect detection unit 56.

なお、第1画像処理部52および第2画像処理部54が行なうメディアン減算の方向は、それぞれx方向、および、y方向に限定はされず、第1画像処理部52がy方向、第2画像処理部54がx方向にメディアン減算を行なってもよい。   Note that the median subtraction directions performed by the first image processing unit 52 and the second image processing unit 54 are not limited to the x direction and the y direction, respectively. The first image processing unit 52 performs the y direction and the second image. The processing unit 54 may perform median subtraction in the x direction.

また、第1画像処理部52および第2画像処理部54は、画像にメディアンフィルタを掛けることで、第1および第2平滑化画像をそれぞれ生成しているが、本発明はこれに限定はされず、移動平均フィルタや加重平均フィルタ、あるいはローパスフィルタなど、各種の平滑化フィルタが利用可能である。なお、これらの場合でも一次元の平滑化フィルタを用いて第1および第2平滑化画像を生成する。   Further, the first image processing unit 52 and the second image processing unit 54 generate the first and second smoothed images by applying a median filter to the image, respectively, but the present invention is not limited to this. Alternatively, various smoothing filters such as a moving average filter, a weighted average filter, or a low-pass filter can be used. Even in these cases, the first and second smoothed images are generated using the one-dimensional smoothing filter.

点欠陥検出部56は、第2画像処理部54から供給された第2画像から、放射線画像(FPD32)の点欠陥を検出する部位である。
本発明では、一例として、第2画像の各画素の値を所定の閾値と比較して、所定の閾値を上回った画素を欠陥画素(点欠陥)として検出し、FPD32における欠陥画素の位置を示す欠陥マップを作成する。
点欠陥検出部56は、検出した欠陥マップを欠陥記憶部48に供給する。
The point defect detection unit 56 is a part that detects a point defect of the radiation image (FPD 32) from the second image supplied from the second image processing unit 54.
In the present invention, as an example, the value of each pixel in the second image is compared with a predetermined threshold, and a pixel that exceeds the predetermined threshold is detected as a defective pixel (point defect), and the position of the defective pixel in the FPD 32 is indicated. Create a defect map.
The point defect detection unit 56 supplies the detected defect map to the defect storage unit 48.

なお、点欠陥検出部56が行なう点欠陥の検出方法には特に限定はなく、各種の画像処理装置で行なわれている点欠陥の検出方法がすべて利用可能である。   The point defect detection method performed by the point defect detection unit 56 is not particularly limited, and all point defect detection methods performed in various image processing apparatuses can be used.

前述のように、撮影装置10では、FPD32に線欠陥が発生すると、線欠陥が隣接する画素のラインにも影響を及ぼし、被影響画素を発生させる場合がある。
これに対して、撮影装置10では、第1画像処理部52が欠陥検出用データに対して、画素配列の一方向にメディアン減算を行ない、画素配列の一方向に延在する線欠陥および被影響画素のラインを欠陥検出用データから除去する。さらに、第2画像処理部54がメディアン減算を行ない、先の画素配列の一方向と直交する方向に延在する線欠陥および被影響画素のラインを除去する。点欠陥検出部56は、欠陥検出用データから、画素配列の一方向およびそれと直交する方向の線欠陥と被影響画素のラインが除去された画像(第2画像)を用いて点欠陥の検出を行なうので、被影響画素を欠陥画素として誤検出することがなく、精度良く欠陥を検出することができる。
As described above, in the photographing apparatus 10, when a line defect occurs in the FPD 32, the line defect may affect the line of adjacent pixels, and an affected pixel may be generated.
On the other hand, in the imaging apparatus 10, the first image processing unit 52 performs median subtraction on the defect detection data in one direction of the pixel array, and the line defect extending in one direction of the pixel array and the influence thereof. The pixel line is removed from the defect detection data. Further, the second image processing unit 54 performs median subtraction to remove line defects and affected pixel lines extending in a direction orthogonal to one direction of the previous pixel array. The point defect detection unit 56 detects point defects using an image (second image) from which line defects in one direction of the pixel array and a direction perpendicular thereto are removed from the defect detection data (second image). Therefore, it is possible to detect the defect with high accuracy without erroneously detecting the affected pixel as a defective pixel.

欠陥記憶部48は、欠陥検出部46から供給された欠陥マップを記憶する部位である。
また、欠陥記憶部48は、指示に応じて、欠陥マップを欠陥補正部50に供給する。
The defect storage unit 48 is a part that stores the defect map supplied from the defect detection unit 46.
Further, the defect storage unit 48 supplies the defect map to the defect correction unit 50 in accordance with the instruction.

欠陥補正部50は、被写体Hを撮影し、FPD32で読み取られ、画像取得部42から供給された放射線画像に対して、欠陥記憶部48から読み出した欠陥マップに応じて、欠陥を補正する部位である。
欠陥の補正方法に特に限定はなく、読み出した欠陥マップに基づいて、欠陥の近傍の正常画素のデータを欠陥画素の画像データとする方法や、欠陥の両隣や周辺の複数の画素の平均値を欠陥画素のデータとする方法など、各種の放射線画像撮影装置で行なわれている画像欠陥補正方法が利用可能である。
欠陥補正部50は、欠陥を補正した放射線画像を次工程、図示例では、出力部18に供給する。
The defect correction unit 50 captures the subject H, reads it with the FPD 32, and corrects the defect according to the defect map read from the defect storage unit 48 with respect to the radiation image supplied from the image acquisition unit 42. is there.
The defect correction method is not particularly limited. Based on the read defect map, normal pixel data in the vicinity of the defect is used as image data of the defective pixel, and the average value of the pixels adjacent to and around the defect is calculated. An image defect correction method performed in various types of radiographic imaging apparatuses, such as a method for obtaining defective pixel data, can be used.
The defect correction unit 50 supplies the radiation image with the defect corrected to the next step, in the illustrated example, to the output unit 18.

出力部18は、画像処理部16から供給された画像処理後の放射線画像を出力する部位である。出力部18は、例えば、放射線画像を画面に表示するモニタ、放射線画像をプリント出力するプリンタ、放射線画像データを記憶する記憶装置等を有して構成される。   The output unit 18 is a part that outputs a radiographic image after image processing supplied from the image processing unit 16. The output unit 18 includes, for example, a monitor that displays a radiation image on a screen, a printer that prints out a radiation image, and a storage device that stores radiation image data.

次に、図1および図2を参照して、撮影装置10における撮影の作用を説明する。
本発明の撮影装置10の放射線画像の撮影は、公知の放射線画像撮影装置と同様である。すなわち、撮影指示部20において、撮影が指示されると、放射線源26が放射線を被写体Hに照射し、被写体Hを透過した放射線をFPD32が検出して電気信号に変換し、変換した電気信号から放射線画像を生成する。生成された放射線画像を撮影データ処理部14が読み出し、読み出した放射線画像に対して、A/D(アナログ/デジタル)変換等の所定のデータ処理を行ない、データ処理後の放射線画像を画像取得部42が取得し、画像処理部16に供給する。
画像処理部16では、シェーディング補正やオフセット補正等の必要な画像処理を行ない、また、欠陥記憶部48に記憶された欠陥マップに基づいて、放射線画像に対して、欠陥の補正を行ない、欠陥補正後の放射線画像を出力部18に供給する。出力部18は、取得した放射線画像のモニタ表示、プリンタからのプリント出力、記憶装置への保存等を行なう。
Next, referring to FIG. 1 and FIG. 2, the operation of photographing in the photographing apparatus 10 will be described.
The radiographic image capturing of the imaging apparatus 10 according to the present invention is the same as a known radiographic image capturing apparatus. That is, when imaging is instructed by the imaging instruction unit 20, the radiation source 26 irradiates the subject H with radiation, and the FPD 32 detects the radiation transmitted through the subject H and converts it into an electrical signal. A radiographic image is generated. The imaging data processing unit 14 reads the generated radiographic image, performs predetermined data processing such as A / D (analog / digital) conversion on the read radiographic image, and obtains the radiographic image after data processing as an image acquisition unit. 42 is acquired and supplied to the image processing unit 16.
The image processing unit 16 performs necessary image processing such as shading correction and offset correction, and performs defect correction on the radiation image based on the defect map stored in the defect storage unit 48, thereby correcting the defect. The subsequent radiation image is supplied to the output unit 18. The output unit 18 performs monitor display of the acquired radiation image, print output from a printer, storage in a storage device, and the like.

ここで、欠陥補正について、図4のフローチャートを用いて説明する。撮影装置10では、起動時、および、所定の時間間隔で、欠陥検出用データを、モード毎に取得する。欠陥検出部46は、取得した欠陥検出用データから点欠陥の検出を行ない欠陥マップを作成し、欠陥記憶部48に供給する。   Here, the defect correction will be described with reference to the flowchart of FIG. The imaging apparatus 10 acquires defect detection data for each mode at startup and at predetermined time intervals. The defect detection unit 46 detects a point defect from the acquired defect detection data, creates a defect map, and supplies the defect map to the defect storage unit 48.

欠陥記憶部48は、欠陥検出部46から供給された欠陥マップをモード毎に記憶する。
被写体の放射線画像の撮影を行なった際には、欠陥補正部50は、撮影のモードに応じて、欠陥記憶部48に記憶された欠陥マップの一つを選択して、読み出し、欠陥マップを基に、撮影された放射線画像の欠陥を補正し、欠陥補正後の放射線画像を出力部18に供給する。
The defect storage unit 48 stores the defect map supplied from the defect detection unit 46 for each mode.
When the radiographic image of the subject is captured, the defect correction unit 50 selects one of the defect maps stored in the defect storage unit 48 according to the imaging mode, reads it, and uses the defect map as a basis. Then, the defect of the captured radiographic image is corrected, and the radiographic image after the defect correction is supplied to the output unit 18.

前述のように、線欠陥は、その異常な信号が隣接する正常な画素のラインにも影響を及ぼし、隣接する正常な画素のラインにも異常な出力を発生させる場合がある。線欠陥の影響を受けた被影響画素を有する画像を用いて欠陥画素の検出を行なうと、被影響画素を欠陥画素として検出するなど、欠陥画素を正しく検出することができず、補正の精度が悪くなるおそれがある。   As described above, the line defect may affect the normal pixel line adjacent to the abnormal signal, and may generate an abnormal output in the adjacent normal pixel line. If a defective pixel is detected using an image having an affected pixel affected by a line defect, the defective pixel cannot be correctly detected, such as detecting the affected pixel as a defective pixel, and the correction accuracy is improved. May be worse.

これに対し、本発明の第1の態様によれば、このように、欠陥検出用データに対して、画素配列の一方向にメディアン減算を行ない、さらにこの画素配列の一方向と直交する方向にメディアン減算を行なって、画素配列の一方向およびその直交方向に延在する被影響画素のラインを除去した画像を用いて欠陥画素の検出を行なうので、被影響画素を欠陥画素として誤検出することがない。   On the other hand, according to the first aspect of the present invention, as described above, median subtraction is performed on the defect detection data in one direction of the pixel array, and further in a direction orthogonal to the one direction of the pixel array. Performing median subtraction to detect a defective pixel using an image from which the affected pixel line extending in one direction of the pixel array and the orthogonal direction is removed, so that the affected pixel is erroneously detected as a defective pixel. There is no.

また、前述の例では、シェーディング補正等の画像処理を行なわない、撮影データ処理部14が出力した欠陥検出用データを用いて、欠陥画素の検出を行なっているが、本発明は、これに限定はされず、シェーディング補正やオフセット補正等を行なった欠陥検出用データを用いて、欠陥画素の検出を行なってもよい。但し、欠陥検出用データにシェーディング補正等の補正を行なうと、欠陥の種類によっては、点欠陥の範囲が小さくなったり、値が小さくなったりするので、点欠陥を検出できなくなったり、あるいは、値が小さくなった点欠陥を検出するために閾値を下げるとノイズを欠陥と誤検出したりして、点欠陥の検出能が低下してしまう。
したがって、FPDが有する欠陥画素をより精度良く、確実に検出するには、未補正の欠陥検出用データを用いて点欠陥を検出するのが好ましい。しかしながら、未補正の欠陥検出用データを用いて、従来の欠陥画素検出方法で欠陥を検出すると、正常な画素である被影響画素も過って欠陥画素として検出してしまう。
In the above-described example, defective pixels are detected using defect detection data output from the imaging data processing unit 14 without performing image processing such as shading correction. However, the present invention is not limited to this. Instead, defective pixels may be detected using defect detection data subjected to shading correction, offset correction, or the like. However, if correction such as shading correction is performed on the defect detection data, the point defect range may be reduced or the value may be reduced depending on the type of defect. If the threshold value is lowered in order to detect a point defect whose size has become smaller, noise may be erroneously detected as a defect, and the point defect detection capability will deteriorate.
Therefore, in order to detect the defective pixels of the FPD more accurately and reliably, it is preferable to detect point defects using uncorrected defect detection data. However, if a defect is detected by a conventional defective pixel detection method using uncorrected defect detection data, an affected pixel that is a normal pixel is also detected as a defective pixel.

これに対して、本発明によれば、シェーディング補正等の補正を行なっていない未補正の欠陥検出用データを用いて点欠陥の検出を行なっても、被影響画素を欠陥画素と誤検出することなく、点欠陥を検出することができるので、FPDが有する欠陥画素を誤検出なく正確にかつ確実に検出できる。従って、本発明によれば、欠陥画素を精度良く検出することができ、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができ、高品質な放射線画像の撮影が可能となる。   On the other hand, according to the present invention, even if point defect detection is performed using uncorrected defect detection data that has not been subjected to correction such as shading correction, an affected pixel is erroneously detected as a defective pixel. In addition, since a point defect can be detected, a defective pixel included in the FPD can be accurately and reliably detected without erroneous detection. Therefore, according to the present invention, it is possible to detect defective pixels with high accuracy, accurately detect a portion requiring image correction, accurately correct the image, and capture a high-quality radiographic image. Become.

また、上記実施例では、蓄積時間に応じて、撮影のモード分けを行なっているが、本発明はこれに限定はされず、被写体撮影時の放射線の線量によってモード分けしてもよいし、蓄積時間と線量との組み合わせによってモード分けしてもよい。   Further, in the above-described embodiment, the imaging mode is divided according to the accumulation time. However, the present invention is not limited to this, and the mode may be divided according to the radiation dose at the time of photographing the subject. The mode may be divided according to the combination of time and dose.

以上説明した本発明の第1の態様は、欠陥検出用データに対して、画素配列の一方向にメディアン減算を行ない、さらにこの画素配列の一方向と直交する方向にメディアン減算を行なって、画素配列の一方向およびその直交方向に延在する被影響画素のラインを消去した画像を用いて点欠陥の検出を行なうものである。   In the first aspect of the present invention described above, the median subtraction is performed on the defect detection data in one direction of the pixel array, and further, the median subtraction is performed in a direction orthogonal to the one direction of the pixel array. A point defect is detected using an image in which a line of affected pixels extending in one direction of the array and the direction orthogonal thereto is deleted.

これに対し、本発明の第2の態様は、一方向のメディアン減算に変えて、事前に検出した線欠陥の情報を基に、欠陥検出用データを分割し、分割後の欠陥検出用データに対して、メディアン減算を一方向のみ行なった画像を用いて点欠陥の検出を行なうものである。   On the other hand, in the second aspect of the present invention, instead of the one-way median subtraction, the defect detection data is divided based on the information of the line defect detected in advance, and the divided defect detection data is obtained. On the other hand, point defects are detected using an image obtained by performing median subtraction only in one direction.

図5に、このような点欠陥の検出を行なう放射線画像撮影装置における、画像処理部80の一例のブロック図を示す。
本発明の放射線画像撮影装置の第2の態様は、一例として、図1に示す撮影装置10において、画像処理部16に代えて、図5に示す画像処理部80を配置した構成を有する。
なお、図5に示す画像処理部80は、線欠陥検出部88を有し、第1画像処理部52に代えて第3画像処理部86を有する以外は、前記画像処理部16と同じ構成を有するので、同じ部位には同じ符号を付し、以下の説明は、異なる部位を主に行なう。
FIG. 5 shows a block diagram of an example of the image processing unit 80 in the radiographic imaging apparatus that detects such point defects.
As an example, the second aspect of the radiographic image capturing apparatus of the present invention has a configuration in which an image processing unit 80 shown in FIG. 5 is arranged in place of the image processing unit 16 in the imaging apparatus 10 shown in FIG.
The image processing unit 80 shown in FIG. 5 has the same configuration as the image processing unit 16 except that it includes a line defect detection unit 88 and a third image processing unit 86 instead of the first image processing unit 52. Therefore, the same parts are denoted by the same reference numerals, and the following description will mainly be made on different parts.

線欠陥検出部88は、放射線画像(FPD32)の線欠陥を検出する部位である。
線欠陥検出部88が行なう線欠陥の検出方法には特に限定はなく、画像取得部42から供給された画像データから線欠陥を検出してもよく、あるいは、操作者がマウスやキーボードで入力した線欠陥の情報を取得してもよい。
線欠陥検出部88は、検出した線欠陥の情報を記憶しておき、第3画像処理部86に供給する。
The line defect detection unit 88 is a part that detects a line defect in the radiation image (FPD 32).
The line defect detection method performed by the line defect detection unit 88 is not particularly limited, and the line defect may be detected from the image data supplied from the image acquisition unit 42, or the operator inputs with a mouse or a keyboard. Information on line defects may be acquired.
The line defect detection unit 88 stores information on the detected line defect and supplies the information to the third image processing unit 86.

なお、線欠陥検出部88が、画像データから線欠陥を検出する場合の、線欠陥の検出方法には特に限定はなく、例えば、閾値で線欠陥を検出してもよいし、特許文献1に示されるようにメディアン減算を行なって線欠陥を検出してもよい。また、欠陥検出に用いる画像データは、点欠陥の検出に用いる欠陥検出用データであってもよいし、点欠陥の検出に用いる欠陥検出用データとは異なる画像データ(線欠陥検出用データ)であってもよい。   The line defect detection method when the line defect detection unit 88 detects a line defect from image data is not particularly limited. For example, the line defect may be detected with a threshold. As shown, median subtraction may be performed to detect line defects. The image data used for defect detection may be defect detection data used for point defect detection, or image data (line defect detection data) different from the defect detection data used for point defect detection. There may be.

第3画像処理部86は、画像取得部42から供給された欠陥検出用データを、線欠陥検出部88から供給された線欠陥の情報に基づいて、分割する部位である。
第3画像処理部86は、画像処理部42から供給された未補正の欠陥検出用データを、線欠陥検出部88から供給された線欠陥の情報を基に、線欠陥が存在する画素で分割して、複数の画像で構成される第3画像を生成する。
第3画像処理部86は、生成した第3画像を第2画像処理部54に供給する。
The third image processing unit 86 is a part that divides the defect detection data supplied from the image acquisition unit 42 based on the line defect information supplied from the line defect detection unit 88.
The third image processing unit 86 divides the uncorrected defect detection data supplied from the image processing unit 42 into pixels having line defects based on the line defect information supplied from the line defect detection unit 88. Then, a third image composed of a plurality of images is generated.
The third image processing unit 86 supplies the generated third image to the second image processing unit 54.

この画像処理部80における点欠陥の検出について、図6の欠陥検出用データを概念的に示す図を用いて説明する。図6(A)は、FPD32から撮影データ処理部14が取得した未補正の欠陥検出用データの概略図であり、画素配列の一方向およびそれに直交する方向に線欠陥を有し、画像全体に分布した点欠陥を有する。なお、図6(A)〜(D)においては、図中左右方向をx方向、上下方向をy方向とする。   Detection of point defects in the image processing unit 80 will be described with reference to a diagram conceptually showing the defect detection data shown in FIG. FIG. 6A is a schematic diagram of uncorrected defect detection data acquired by the imaging data processing unit 14 from the FPD 32, and has a line defect in one direction of the pixel array and a direction orthogonal thereto, and the entire image is displayed. Has distributed point defects. 6A to 6D, the horizontal direction in the figure is the x direction and the vertical direction is the y direction.

第1の態様と同様に、撮影装置10では、起動時、および、所定の時間間隔で、欠陥検出用データを、モード毎に取得する。また、欠陥記憶部48には、事前に取得した線欠陥の情報が記憶されている。欠陥検出部84の第3画像処理部86は、取得した欠陥検出用データを、線欠陥検出部88から供給された線欠陥の情報を基に、線欠陥が存在する画素で分割し、複数の画像、図示例では、4枚の画像で構成される第3画像を生成する(図6(B))。この第3画像は、線欠陥の位置で画像を分割しているので、線欠陥に隣接して現れる被影響画素のラインは、第3画像においては、分割された各画像の端に存在する。   Similarly to the first aspect, the imaging apparatus 10 acquires defect detection data for each mode at the time of activation and at predetermined time intervals. The defect storage unit 48 stores information on the line defects acquired in advance. The third image processing unit 86 of the defect detection unit 84 divides the acquired defect detection data by the pixels where the line defect exists based on the information on the line defect supplied from the line defect detection unit 88, In the illustrated example, a third image composed of four images is generated (FIG. 6B). Since the third image divides the image at the position of the line defect, the line of the affected pixel that appears adjacent to the line defect exists at the end of each divided image in the third image.

次に、第2画像処理部54は、第3画像処理部86から供給された第3画像に画像のy方向に一次元のメディアンフィルタを掛け、複数の画像で構成される第3平滑化画像を生成する。メディアンフィルタにより、点欠陥は除去されるが、被影響画素のラインは、画像の端に存在するため、メディアンフィルタでは除去されない。したがって、第3平滑化画像は、図6(C)に示すような被影響画素のラインのみが残った複数枚(4枚)の画像となる。
さらに、第2画像処理部54は、第3画像から対応する第3平滑化画像を減算して、第3画像から被影響画素のラインを除去し、点欠陥のみが残った、図6(D)に示す第4画像を生成し、点欠陥検出部56に供給する。
Next, the second image processing unit 54 applies a one-dimensional median filter to the third image supplied from the third image processing unit 86 in the y-direction of the image, and a third smoothed image configured by a plurality of images. Is generated. Although the point defect is removed by the median filter, the line of the affected pixel is not removed by the median filter because the line of the affected pixel exists at the edge of the image. Therefore, the third smoothed image is a plurality of (four) images in which only the lines of the affected pixels remain as shown in FIG.
Further, the second image processing unit 54 subtracts the corresponding third smoothed image from the third image to remove the affected pixel line from the third image, and only the point defect remains, FIG. ) And is supplied to the point defect detection unit 56.

点欠陥検出部56は、第2画像処理部54から供給された第4画像を用いて点欠陥を検出し、欠陥マップを作成する。
欠陥記憶部48は、点欠陥検出部56から供給された欠陥マップをモード毎に記憶する。
The point defect detection unit 56 detects a point defect using the fourth image supplied from the second image processing unit 54 and creates a defect map.
The defect storage unit 48 stores the defect map supplied from the point defect detection unit 56 for each mode.

なお、第2画像処理部54が行なうメディアン減算の方向は、x方向およびy方向のいずれであってもよい。例えば、読み取り方向などに起因して、y方向に線欠陥が多い画像の場合には、y方向にメディアン減算を行うのが好ましい。具体的には、電荷を読み取るための信号読み取り電極の接続方向に線欠陥(および被影響画素)が多く発生するので、信号読み取り電極の接続方向にメディアン減算を行うのが好ましい。   The direction of median subtraction performed by the second image processing unit 54 may be either the x direction or the y direction. For example, when an image has many line defects in the y direction due to the reading direction or the like, it is preferable to perform median subtraction in the y direction. Specifically, since many line defects (and affected pixels) occur in the connection direction of the signal reading electrode for reading the charge, it is preferable to perform median subtraction in the connection direction of the signal reading electrode.

このように、本発明の第2の態様によれば、欠陥検出用データを、予め取得した線欠陥の情報を基に分割して、画素配列の一方向にメディアン減算を行なって、被影響画素のラインを除去した画像を用いて点欠陥の検出を行なうので、被影響画素を欠陥画素として誤検出することがない。
また、第1の態様と同様に、欠陥画素を精度良く検出するため、シェーディング補正等の補正を行なっていない未補正の欠陥検出用データを用いて点欠陥を検出するのが好ましく、また、未補正の欠陥検出用データを用いて点欠陥の検出を行なっても、被影響画素を欠陥画素と誤検出することなく点欠陥を検出することができる。従って、欠陥画素を精度良く検出することができ、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができ、高品質な放射線画像の撮影が可能となる。
As described above, according to the second aspect of the present invention, the defect detection data is divided based on the information of the line defect acquired in advance, and the median subtraction is performed in one direction of the pixel array, thereby affecting the affected pixels. Since the point defect is detected using the image from which the line is removed, the affected pixel is not erroneously detected as a defective pixel.
As in the first aspect, in order to detect defective pixels with high accuracy, it is preferable to detect point defects using uncorrected defect detection data that has not been subjected to correction such as shading correction. Even when the point defect is detected using the defect detection data for correction, the point defect can be detected without erroneously detecting the affected pixel as a defective pixel. Therefore, it is possible to detect defective pixels with high accuracy, accurately detect a portion that requires image correction, accurately correct the image, and capture a high-quality radiographic image.

加えて、第2の態様では、線欠陥の情報を予め取得しておく必要はあるものの、一方向のみのメディアン減算で、点欠陥を検出するための画像を生成することができるので、二方向のメディアン減算を行なう第1の態様に比べて、処理速度は速くなる。   In addition, in the second aspect, although it is necessary to obtain information on line defects in advance, an image for detecting point defects can be generated by median subtraction only in one direction. Compared to the first mode in which the median subtraction is performed, the processing speed is increased.

以上、本発明の欠陥画素検出方法を適用した放射線画像撮影装置について詳細に説明したが、本発明は、上記実施例に限定はされず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変更を行なってもよいのは、もちろんである。また、二次元的に配列された画素を有する検出器を用いて撮影した画像を処理する画像処理装置に対しても、本発明の画像処理装置および欠陥画素検出方法を適用できることは、勿論である。   The radiographic imaging apparatus to which the defective pixel detection method of the present invention is applied has been described in detail above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various improvements and modifications can be made without departing from the gist of the present invention. Of course, changes may be made. Of course, the image processing apparatus and the defective pixel detection method of the present invention can also be applied to an image processing apparatus that processes an image captured using a detector having two-dimensionally arranged pixels. .

10 撮影装置(放射線画像撮影装置)
12 撮影部
14 撮影データ処理部
16、80 画像処理部
18 出力部
20 撮影指示部
22 制御部
26 放射線源
28 撮影台
30 放射線検出部
32 FPD(放射線検出器)
42 画像取得部
44、82 画像補正部
46、84 欠陥検出部
48 欠陥記憶部
50 欠陥補正部
52 第1画像処理部
54 第2画像処理部
56 点欠陥検出部
86 第3画像処理部
88 線欠陥検出部
H 被写体
10. Imaging device (radiological imaging device)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 Imaging | photography part 14 Imaging | photography data processing part 16, 80 Image processing part 18 Output part 20 Imaging | photography instruction | indication part 22 Control part 26 Radiation source 28 Imaging stand 30 Radiation detection part 32 FPD (radiation detector)
42 Image acquisition unit 44, 82 Image correction unit 46, 84 Defect detection unit 48 Defect storage unit 50 Defect correction unit 52 First image processing unit 54 Second image processing unit 56 Point defect detection unit 86 Third image processing unit 88 Line defect Detection unit H Subject

Claims (16)

二次元的に配列された画素を有する検出器の欠陥画素を検出するに際し、
前記検出器から欠陥検出用画像を取得する工程と、
前記検出器の線欠陥を検出する工程と、
前記欠陥検出用画像を前記線欠陥の位置で分割する工程と、
分割された各画像に対して、前記画素の配列方向の一方向に、一次元の平滑化処理を行なって、平滑化画像を生成し、前記分割された各画像に対応する平滑化画像を減算して、第2の画像を生成する工程と、
前記第2の画像から、前記検出器の点欠陥を検出する工程とを有することを特徴とする欠陥画素検出方法。
In detecting a defective pixel of a detector having two-dimensionally arranged pixels,
Obtaining a defect detection image from the detector;
Detecting line defects in the detector;
Dividing the defect detection image at the position of the line defect;
A one-dimensional smoothing process is performed on each of the divided images in one direction of the pixel arrangement direction to generate a smoothed image, and the smoothed image corresponding to each of the divided images is subtracted. And generating a second image;
And detecting a point defect of the detector from the second image.
前記欠陥検出用画像は、未補正の画像である請求項1に記載の欠陥画素検出方法。   The defective pixel detection method according to claim 1, wherein the defect detection image is an uncorrected image. 前記平滑化処理は、メディアン処理である請求項1または2に記載の欠陥画素検出方法。   The defective pixel detection method according to claim 1, wherein the smoothing process is a median process. 前記第2の画像から点欠陥を検出する工程は、所定の閾値を超えた画素を点欠陥として検出する請求項1〜3のいずれかに記載の欠陥画素検出方法。   The defective pixel detection method according to claim 1, wherein the step of detecting a point defect from the second image detects a pixel that exceeds a predetermined threshold as a point defect. さらに、前記検出器の点欠陥を補正する工程を有する請求項1〜4のいずれかに記載の欠陥画素検出方法。   Furthermore, the defective pixel detection method in any one of Claims 1-4 which has the process of correct | amending the point defect of the said detector. 前記検出器は、フラットパネル型の放射線検出器である請求項1〜5のいずれかに記載の欠陥画素検出方法。   The defective pixel detection method according to claim 1, wherein the detector is a flat panel type radiation detector. 前記欠陥検出用画像は、前記放射線検出器に放射線を一様に照射して前記放射線検出器から読み取った一様照射画像である請求項6に記載の欠陥画素検出方法。   The defective pixel detection method according to claim 6, wherein the defect detection image is a uniform irradiation image obtained by uniformly irradiating the radiation detector with radiation and reading from the radiation detector. 前記欠陥検出用画像は、放射線を照射せずに前記放射線検出器から読み取った無曝射画像である請求項6に記載の欠陥画素検出方法。   The defective pixel detection method according to claim 6, wherein the defect detection image is an unexposed image read from the radiation detector without irradiating radiation. 二次元的に配列された画素を有する検出器から出力された画像を処理する画像処理装置において、
所定のタイミングで、前記検出器から欠陥検出用画像を取得する画像取得手段と、
前記検出器の線欠陥を検出する線欠陥検出手段と、
前記欠陥検出用画像を前記線欠陥の位置で分割する画像分割手段と、
前記画像分割手段で分割された各画像に対して、前記画素の配列方向の一方向に、一次元の平滑化処理を行なって平滑化画像を生成し、前記分割された各画像に対応する平滑化画像を減算して、第2の画像を生成する第2画像処理手段と、
前記第2の画像から点欠陥を検出する点欠陥検出手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
In an image processing apparatus for processing an image output from a detector having two-dimensionally arranged pixels,
Image acquisition means for acquiring a defect detection image from the detector at a predetermined timing;
A line defect detecting means for detecting a line defect of the detector;
Image dividing means for dividing the defect detection image at the position of the line defect;
A smoothed image is generated by performing a one-dimensional smoothing process on each image divided by the image dividing means in one direction of the pixel arrangement direction, and a smoothing corresponding to each divided image. A second image processing means for subtracting the digitized image to generate a second image;
An image processing apparatus comprising point defect detection means for detecting a point defect from the second image.
前記欠陥検出用画像は、未補正の画像である請求項9に記載の画像処理装置。   The image processing apparatus according to claim 9, wherein the defect detection image is an uncorrected image. 記第2画像処理手段が行なう平滑化処理は、メディアン処理である請求項9または10に記載の画像処理装置。 Before Stories second image processing means smoothing process performed is the image processing apparatus according to claim 9 or 10 is a median processing. 前記点欠陥検出手段は、所定の閾値を超えた画素を点欠陥として検出する請求項9〜11のいずれかに記載の画像処理装置。   The image processing apparatus according to claim 9, wherein the point defect detection unit detects a pixel that exceeds a predetermined threshold as a point defect. さらに、前記検出器から取得した画像に対して、欠陥画素を補正する欠陥補正手段を有する請求項9〜12のいずれかに記載の画像処理装置。   The image processing apparatus according to claim 9, further comprising defect correction means that corrects defective pixels with respect to an image acquired from the detector. 前記検出器は、フラットパネル型の放射線検出器である請求項9〜13のいずれかに記載の画像処理装置。   The image processing apparatus according to claim 9, wherein the detector is a flat panel radiation detector. 前記欠陥検出用画像は、前記放射線検出器に放射線を一様に照射して、前記放射線検出器から読み取った一様照射画像である請求項14に記載の画像処理装置。   The image processing apparatus according to claim 14, wherein the defect detection image is a uniform irradiation image obtained by uniformly irradiating the radiation detector with radiation and reading the radiation detector. 前記欠陥検出用画像は、放射線を照射せずに前記放射線検出器から読み取った無曝射画像である請求項14に記載の画像処理装置。   The image processing apparatus according to claim 14, wherein the defect detection image is an unexposed image read from the radiation detector without irradiating radiation.
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