JP5443244B2 - Transparent conductive film - Google Patents

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Description

本発明は、多角形状のメッシュを複数備えるメッシュパターンを有する透明導電膜に関する。   The present invention relates to a transparent conductive film having a mesh pattern including a plurality of polygonal meshes.

近時、線材からなるパターンを透明基材上に設けた透明導電膜が開発されている。この透明導電膜は、電極や発熱シートとして使用可能である。例えば、タッチパネル用電極、無機EL素子、有機EL素子又は太陽電池の電極のみならず、車両のデフロスタ(霜取り装置)、窓ガラス等の一部に適用してもよい。   Recently, a transparent conductive film in which a pattern made of a wire is provided on a transparent substrate has been developed. This transparent conductive film can be used as an electrode or a heat generating sheet. For example, you may apply not only to the electrode for touchscreens, an inorganic EL element, an organic EL element, or the electrode of a solar cell but to some parts, such as a vehicle defroster (defroster) and a window glass.

上記した各種物品の使用者にとって、その用途の性質上、前記パターンの模様は、観察対象物の視認性を妨げる粒状ノイズに相当する。そこで、同一の又は異なるメッシュ形状を規則的又は不規則的に配置することで、粒状ノイズを抑止し、観察対象物の視認性を向上させるための技術が種々提案されている。   For the users of the various articles described above, the pattern pattern corresponds to granular noise that hinders the visibility of the observation object due to the nature of its application. Therefore, various techniques for suppressing granular noise and improving the visibility of an observation object by arranging the same or different mesh shapes regularly or irregularly have been proposed.

例えば、特許文献1には、図27Aに示すように、円の一部を切り欠いた円弧状の導電性を有する線材2が格子状に繰り返し配置されるとともに、前記円弧状の線材2の端部は、隣接する円弧状の線材2の中央部近傍に接続されるメッシュ層4が設けられている乗用移動体用窓及びそのパターンPT1の平面視形状が開示されている。これにより、視認性のみならず、電磁波のシールド性及び耐破損性を向上できる旨が記載されている。   For example, in Patent Document 1, as shown in FIG. 27A, arc-shaped conductive wires 2 in which a part of a circle is notched are repeatedly arranged in a lattice shape, and ends of the arc-shaped wires 2 are arranged. As for a part, the plane view shape of the window for passenger vehicles and the pattern PT1 with which the mesh layer 4 connected to the center part vicinity of the adjacent arc-shaped wire 2 and its pattern PT1 are disclosed. Thereby, it is described that not only the visibility but also the shielding property and damage resistance of electromagnetic waves can be improved.

また、特許文献2には、図27Bに示すように、基板上に一面に塗布して放置しておくと、自然に基板上に網目状の構造を形成する溶液、すなわち自己組織化する金属微粒子溶液を用いて製造した透明導電性基板及びそのパターンPT2の平面視形状が開示されている。これにより、モアレ現象が発生しない不規則な網目状の構造が得られる旨が記載されている。   Further, as shown in FIG. 27B, Patent Document 2 discloses a solution that spontaneously forms a network structure on a substrate, that is, a metal fine particle that self-assembles when left on the substrate after being applied to the substrate. A transparent conductive substrate manufactured using a solution and a plan view shape of the pattern PT2 are disclosed. As a result, it is described that an irregular network structure in which moire phenomenon does not occur can be obtained.

さらに、特許文献3には、図27Cに示すように、電磁波シールド層6が海島構造の海領域の構造を有し、電磁波シールド層6で囲まれた開口部からなる島領域8の形状が相互に異なっている光透過性電磁波シールド材及びそのパターンPT3の平面視形状が開示されている。これにより、モアレの発生がなく、光透過性及び電磁波シールド性が向上する旨が記載されている。   Furthermore, in Patent Document 3, as shown in FIG. 27C, the electromagnetic wave shielding layer 6 has a sea-island structure, and the shape of the island region 8 formed of the opening surrounded by the electromagnetic wave shielding layer 6 is mutually different. Are different from each other in light-transmitting electromagnetic wave shielding material and a plan view shape of the pattern PT3. Thus, it is described that there is no moiré and that light transmission and electromagnetic shielding properties are improved.

特開2009−137455号公報([0029])JP 2009-137455 A ([0029]) 特開2009−16700号公報([0022]〜[0024])JP 2009-16700 A ([0022] to [0024]) 特開2009−302439号公報([0011]〜[0015])JP 2009-302439 A ([0011] to [0015])

しかしながら、特許文献1及び2に開示されたパターンPT1、PT2では、粒状ノイズをさらに低減し、視認性を改善するにはパターンの構造上の問題がある。   However, the patterns PT1 and PT2 disclosed in Patent Documents 1 and 2 have a problem in the structure of the pattern in order to further reduce the granular noise and improve the visibility.

例えば、特許文献1のメッシュ状のパターンPT1は、円弧状の線材2を格子状に繰り返し配置しているので、線材2の周期性がきわめて高い。すなわち、パターンPT1のパワースペクトルを算出すると、線材2の配置間隔の逆数に相当する空間周波数帯域に鋭いピークを有すると予測される。ここで、パターンPT1の視認性をさらに改善するためには、前記円弧のサイズ(径)を小さくしなければならない。   For example, in the mesh pattern PT1 of Patent Document 1, since the arc-shaped wire 2 is repeatedly arranged in a lattice shape, the periodicity of the wire 2 is extremely high. That is, when the power spectrum of the pattern PT1 is calculated, it is predicted that the pattern has a sharp peak in the spatial frequency band corresponding to the reciprocal of the arrangement interval of the wires 2. Here, in order to further improve the visibility of the pattern PT1, the size (diameter) of the arc must be reduced.

また、特許文献2のメッシュ状のパターンPT2は、メッシュの形状やサイズが不揃いであるため、不規則性がきわめて高い。すなわち、パターンPT2のパワースペクトルを算出すると、空間周波数帯域によらず略一定の値である(ホワイトノイズ特性に近い)と予測される。ここで、ここで、パターンPT2の視認性をさらに改善するためには、自己組織化のサイズを小さくしなければならない。   Further, the mesh pattern PT2 of Patent Document 2 is extremely irregular because the mesh shape and size are not uniform. That is, when the power spectrum of the pattern PT2 is calculated, it is predicted to be a substantially constant value (close to white noise characteristics) regardless of the spatial frequency band. Here, in order to further improve the visibility of the pattern PT2, the size of the self-assembly must be reduced.

そうすると、特許文献1に開示された乗用移動体用窓や、特許文献2に開示された透明導電性基板のいずれも、視認性をさらに改善するためには、光透過率や生産性が低下するという不都合があった。   Then, in order to further improve the visibility of both the window for a passenger moving body disclosed in Patent Document 1 and the transparent conductive substrate disclosed in Patent Document 2, the light transmittance and productivity are reduced. There was an inconvenience.

さらに、特許文献3に開示されたパターンPT3は、メッシュ形状を構成していないので、この断裁面の配線形状にばらつきが生じる。そうすると、パターンPT3を例えば電極として用いる場合に、安定した通電性能を得られないという不都合があった。   Furthermore, since the pattern PT3 disclosed in Patent Document 3 does not constitute a mesh shape, the wiring shape of the cut surface varies. As a result, when the pattern PT3 is used as an electrode, for example, there is a disadvantage that a stable energization performance cannot be obtained.

本発明は上記した問題を解決するためになされたもので、パターンに起因するノイズ粒状感を低減可能であり、観察対象物の視認性を大幅に向上できるとともに、断裁後にも安定した通電性能を有する透明導電膜を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and can reduce the noise granularity caused by the pattern, can greatly improve the visibility of the observation object, and has a stable energization performance even after cutting. It aims at providing the transparent conductive film which has.

本発明は、多角形状のメッシュを複数備えるメッシュパターンを有する透明導電膜に関する。   The present invention relates to a transparent conductive film having a mesh pattern including a plurality of polygonal meshes.

そして、各メッシュの重心位置分布のパワースペクトルに関して、所定の空間周波数よりも高い空間周波数帯域側における平均強度が、前記所定の空間周波数よりも低い空間周波数帯域側における平均強度よりも大きくなるように、前記メッシュパターンが形成されていることを特徴とする。   Then, regarding the power spectrum of the center-of-gravity position distribution of each mesh, the average intensity on the spatial frequency band side higher than the predetermined spatial frequency is larger than the average intensity on the spatial frequency band side lower than the predetermined spatial frequency. The mesh pattern is formed.

このように、所定の空間周波数よりも高い空間周波数帯域側における平均強度が、前記所定の空間周波数よりも低い空間周波数帯域側における平均強度よりも大きくなっているので、低空間周波数帯域側と比べて高空間周波数帯域側のノイズ量が相対的に大きくなっている。人間の視覚は、低空間周波数帯域での応答特性は高いが、中〜高空間周波数帯域において応答特性が急激に低下する性質を有するので、人間にとって視覚的に感じられるノイズ感が減少する。これにより、透明導電膜が有するパターンに起因するノイズ粒状感を低減可能であり、観察対象物の視認性を大幅に向上できる。また、多角形状のメッシュを複数備えているので、断裁後における各配線の断面形状も略一定であり、安定した通電性能を有する。   Thus, since the average intensity on the spatial frequency band side higher than the predetermined spatial frequency is larger than the average intensity on the spatial frequency band side lower than the predetermined spatial frequency, compared with the low spatial frequency band side Therefore, the amount of noise on the high spatial frequency band side is relatively large. Human vision has a high response characteristic in the low spatial frequency band, but has a property that the response characteristic sharply decreases in the medium to high spatial frequency band, so that a sense of noise visually felt by humans is reduced. Thereby, the noise granularity resulting from the pattern which a transparent conductive film has can be reduced, and the visibility of an observation target object can be improved significantly. In addition, since a plurality of polygonal meshes are provided, the cross-sectional shape of each wiring after cutting is also substantially constant and has stable energization performance.

また、前記所定の空間周波数は、人間の視覚応答特性が最大応答の5%に相当する空間周波数であることが好ましい。   The predetermined spatial frequency is preferably a spatial frequency corresponding to 5% of the maximum response of human visual response characteristics.

さらに、前記人間の視覚応答特性は、明視距離が300mmでのDooley−Shaw関数に基づいて得られる視覚応答特性であり、前記所定の空間周波数は6cycle/mmであることが好ましい。   Furthermore, it is preferable that the human visual response characteristic is a visual response characteristic obtained based on a Dooley-Shaw function with a clear vision distance of 300 mm, and the predetermined spatial frequency is 6 cycles / mm.

本発明に係る透明導電膜によれば、各メッシュの重心位置分布のパワースペクトルに関して、所定の空間周波数よりも高い空間周波数帯域側における平均強度が、前記所定の空間周波数よりも低い空間周波数帯域側における平均強度よりも大きくなるように、メッシュパターンが形成されているので、低空間周波数帯域側と比べて高空間周波数帯域側のノイズ量が相対的に大きくなっている。人間の視覚は、低空間周波数帯域での応答特性は高いが、中〜高空間周波数帯域において応答特性が急激に低下する性質を有するので、人間にとって視覚的に感じられるノイズ感が減少する。これにより、透明導電膜が有するパターンに起因するノイズ粒状感を低減可能であり、観察対象物の視認性を大幅に向上できる。また、多角形状のメッシュを複数備えているので、断裁後における各配線の断面形状も略一定であり、安定した通電性能を有する。   According to the transparent conductive film of the present invention, with respect to the power spectrum of the center-of-gravity position distribution of each mesh, the average intensity on the spatial frequency band side higher than the predetermined spatial frequency is lower than the predetermined spatial frequency side. Since the mesh pattern is formed so as to be larger than the average intensity at, the amount of noise on the high spatial frequency band side is relatively larger than that on the low spatial frequency band side. Human vision has a high response characteristic in the low spatial frequency band, but has a property that the response characteristic sharply decreases in the medium to high spatial frequency band, so that a sense of noise visually felt by humans is reduced. Thereby, the noise granularity resulting from the pattern which a transparent conductive film has can be reduced, and the visibility of an observation target object can be improved significantly. In addition, since a plurality of polygonal meshes are provided, the cross-sectional shape of each wiring after cutting is also substantially constant and has stable energization performance.

本実施の形態に係る透明導電膜を製造するための製造装置の概略構成ブロック図である。It is a schematic block diagram of the manufacturing apparatus for manufacturing the transparent conductive film which concerns on this Embodiment. 図2Aは、図1の導電性フイルムの一部拡大平面図である。図2Bは、図1の導電性フイルムをタッチパネルに適用した場合の一構成例を示す概略分解斜視図である。2A is a partially enlarged plan view of the conductive film of FIG. FIG. 2B is a schematic exploded perspective view showing an example of the configuration when the conductive film of FIG. 1 is applied to a touch panel. 図2Aの導電性フイルムの概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the electroconductive film of FIG. 2A. 図1のメッシュ模様評価部及びデータ更新指示部の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the mesh pattern evaluation part and data update instruction | indication part of FIG. 画像データ作成条件の設定画面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the setting screen of image data creation conditions. 図1の製造装置の動作についてのフローチャートである。It is a flowchart about operation | movement of the manufacturing apparatus of FIG. 図7Aは、本実施の形態に係るメッシュパターンの模様を表す画像データを可視化した概略説明図である。図7Bは、図7Aの画像データに対してFFTを施して得られる二次元パワースペクトルの分布図である。図7Cは、図7Bに示す二次元パワースペクトル分布のVIIC−VIIC線に沿う断面図である。FIG. 7A is a schematic explanatory diagram visualizing image data representing the pattern of the mesh pattern according to the present embodiment. FIG. 7B is a distribution diagram of a two-dimensional power spectrum obtained by performing FFT on the image data of FIG. 7A. FIG. 7C is a cross-sectional view taken along the VIIC-VIIC line of the two-dimensional power spectrum distribution shown in FIG. 7B. Dooley−Shaw関数(観察距離300mm)のグラフである。It is a graph of a Dooley-Shaw function (observation distance 300mm). 出力用画像データの作成方法を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the production method of the image data for output. シード点の配置密度と全体透過率との関係の一例を表すグラフである。It is a graph showing an example of the relationship between the arrangement | positioning density of a seed point, and the whole transmittance | permeability. 図11A及び図11Bは、ボロノイ図を用いて、8つの点をそれぞれ囲繞する8つの領域を画定した結果の説明図である。FIG. 11A and FIG. 11B are explanatory diagrams showing the result of defining eight regions each surrounding eight points using Voronoi diagrams. 図12A及び図12Bは、ドロネー三角形分割法を用いて、8つの点をそれぞれ頂点とする8つの三角形状の領域を画定した結果の説明図である。FIG. 12A and FIG. 12B are explanatory diagrams of the result of defining eight triangular regions each having eight points as vertices using the Delaunay triangulation method. 図13Aは、画像データにおける画素アドレスの定義を表す説明図である。図13Bは、画像データにおける画素値の定義を表す説明図である。FIG. 13A is an explanatory diagram illustrating the definition of a pixel address in image data. FIG. 13B is an explanatory diagram illustrating the definition of pixel values in image data. 図14Aは、シード点の初期位置の模式図である。図14Bは、図14Aのシード点を基準とするボロノイ図である。FIG. 14A is a schematic diagram of an initial position of a seed point. FIG. 14B is a Voronoi diagram based on the seed point of FIG. 14A. 図9に示すステップS26の詳細フローチャートである。It is a detailed flowchart of step S26 shown in FIG. 図16Aは、画像領域内の第1シード点、第2シード点及び候補点の位置関係を表す説明図である。図16Bは、第2シード点と候補点とを交換してシード点の位置を更新した結果の説明図である。FIG. 16A is an explanatory diagram showing the positional relationship between the first seed point, the second seed point, and the candidate point in the image region. FIG. 16B is an explanatory diagram of the result of updating the position of the seed point by exchanging the second seed point and the candidate point. 本実施の形態に係るメッシュパターン及び従来例に係る各種パターンの画像データに対してそれぞれFFTを施して得られる二次元パワースペクトルのX軸に沿った断面図である。It is sectional drawing along the X-axis of the two-dimensional power spectrum obtained by performing FFT with respect to the image data of the mesh pattern which concerns on this Embodiment, and the various patterns which concern on a prior art example, respectively. 図11Bに示す各領域の重心位置を表す説明図である。It is explanatory drawing showing the gravity center position of each area | region shown to FIG. 11B. 本実施の形態に係るメッシュパターンに関し、複数のメッシュと各メッシュの重心位置との関係を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows the relationship between a some mesh and the gravity center position of each mesh regarding the mesh pattern which concerns on this Embodiment. 図20Aは、図19のメッシュパターンが有する各メッシュの重心位置分布を表す画像データを可視化した概略説明図である。図20Bは、図20Aの画像データに対してFFTを施して得られる二次元パワースペクトルの分布図である。図20Cは、図20Bに示す二次元パワースペクトル分布のXXC−XXC線に沿う断面図である。FIG. 20A is a schematic explanatory diagram in which image data representing the gravity center position distribution of each mesh included in the mesh pattern of FIG. 19 is visualized. 20B is a distribution diagram of a two-dimensional power spectrum obtained by performing FFT on the image data in FIG. 20A. 20C is a cross-sectional view taken along line XXC-XXC of the two-dimensional power spectrum distribution shown in FIG. 20B. 図7C及び図20Cのグラフの比較図である。It is a comparison figure of the graph of FIG. 7C and FIG. 20C. 図20Cの二次元スペクトルの特徴を表す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing showing the characteristic of the two-dimensional spectrum of FIG. 20C. 図23A〜図23Eは、本実施の形態に係る導電性フイルムの第1の製造方法を示す工程図である。FIG. 23A to FIG. 23E are process diagrams showing a first manufacturing method of the conductive film according to the present embodiment. 図24A及び図24Bは、本実施の形態に係る導電性フイルムの第2の製造方法を示す工程図である。24A and 24B are process diagrams showing a second method for producing a conductive film according to the present embodiment. 図25A及び図25Bは、本実施の形態に係る導電性フイルムの第3の製造方法を示す工程図である。25A and 25B are process diagrams showing a third manufacturing method of the conductive film according to the present embodiment. 本実施の形態に係る導電性フイルムの第4の製造方法を示す工程図である。It is process drawing which shows the 4th manufacturing method of the electroconductive film which concerns on this Embodiment. 図27A〜図27Cは、比較例に係るパターンの拡大平面図である。27A to 27C are enlarged plan views of patterns according to a comparative example.

以下、本実施の形態に係る透明導電膜についてそれを製造するための製造装置との関係において好適な実施形態を挙げ、添付の図面を参照しながら詳細に説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the transparent conductive film according to the present embodiment will be described in relation to a manufacturing apparatus for manufacturing the transparent conductive film, and will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1は、本実施の形態に係る透明導電膜を製造するための製造装置10の概略構成ブロック図である。   FIG. 1 is a schematic block diagram of a manufacturing apparatus 10 for manufacturing a transparent conductive film according to the present embodiment.

製造装置10は、メッシュパターンMに応じた模様を表す画像データImg(出力用画像データImgOutを含む。)を作成する画像処理装置12と、該画像処理装置12により作成された前記出力用画像データImgOutに基づいて製造工程下の導電性フイルム14(透明導電膜)に光16を照射して露光する露光部18と、前記画像データImgを作成するための各種条件(メッシュパターンMや後述する構造パターンの視認情報を含む。)を画像処理装置12に入力する入力部20と、該入力部20による入力作業を補助するGUI画像や、記憶された出力用画像データImgOut等を表示する表示部22とを基本的に備える。   The manufacturing apparatus 10 creates image data Img (including output image data ImgOut) representing a pattern corresponding to the mesh pattern M, and the output image data created by the image processing apparatus 12. Based on ImgOut, an exposure unit 18 that exposes the conductive film 14 (transparent conductive film) under the manufacturing process by irradiating light 16 and various conditions for creating the image data Img (mesh pattern M and structure to be described later) Input section 20 for inputting the image processing apparatus 12 to the image processing apparatus 12, and a display section 22 for displaying the GUI image for assisting the input operation by the input section 20, the stored output image data ImgOut, and the like. Is basically provided.

画像処理装置12は、画像データImg、出力用画像データImgOut、候補点SPの位置データSPd、及びシード点SDの位置データSDdを記憶する記憶部24と、擬似乱数を発生して乱数値を生成する乱数発生部26と、該乱数発生部26により生成された前記乱数値を用いて、所定の二次元画像領域の中からシード点SDの初期位置を選択する初期位置選択部28と、前記乱数値を用いて前記二次元画像領域の中から候補点SPの位置(シード点SDの位置を除く。)を決定する更新候補位置決定部30と、出力用画像データImgOutを露光部18の制御信号(露光データ)に変換する露光データ変換部32と、表示部22に各種画像を表示する制御を行う表示制御部34とを備える。   The image processing device 12 generates image data Img, output image data ImgOut, position data SPd of candidate points SP, and position data SDd of seed points SD, and generates random numbers by generating pseudo-random numbers. A random number generation unit 26 that performs the initial position selection unit 28 that selects an initial position of a seed point SD from a predetermined two-dimensional image region using the random number value generated by the random number generation unit 26, and An update candidate position determination unit 30 that determines the position of the candidate point SP (excluding the position of the seed point SD) from the two-dimensional image region using numerical values, and the output image data ImgOut as a control signal for the exposure unit 18 An exposure data conversion unit 32 that converts (exposure data) and a display control unit 34 that performs control to display various images on the display unit 22 are provided.

なお、シード点SDは、更新対象でない第1シード点SDNと、更新対象である第2シード点SDSとからなる。換言すれば、シード点SDの位置データSDdは、第1シード点SDNの位置データSDNdと、第2シード点SDSの位置データSDSdとから構成されている。   Note that the seed point SD includes a first seed point SDN that is not an update target and a second seed point SDS that is an update target. In other words, the position data SDd of the seed point SD is composed of the position data SDNd of the first seed point SDN and the position data SDSd of the second seed point SDS.

画像処理装置12は、入力部20から入力された視認情報(詳細は後述する。)に基づいてメッシュパターンMや構造パターンに応じた画像情報を推定する画像情報推定部36と、該画像情報推定部36から供給された前記画像情報及び記憶部24から供給されたシード点SDの位置に基づいてメッシュパターンMや構造パターンに応じた模様を表す画像データImgを作成する画像データ作成部38と、該画像データ作成部38により作成された画像データImgに基づいてメッシュ状の模様を評価するための評価値EVPを算出するメッシュ模様評価部40と、該メッシュ模様評価部40により算出された評価値EVPに基づいてシード点SDや評価値EVP等のデータの更新/非更新を指示するデータ更新指示部42とをさらに備える。   The image processing apparatus 12 includes an image information estimation unit 36 that estimates image information corresponding to the mesh pattern M and the structure pattern based on visual information (details will be described later) input from the input unit 20, and the image information estimation. An image data creation unit 38 for creating image data Img representing a pattern corresponding to the mesh pattern M or the structure pattern based on the image information supplied from the unit 36 and the position of the seed point SD supplied from the storage unit 24; A mesh pattern evaluation unit 40 for calculating an evaluation value EVP for evaluating a mesh pattern based on the image data Img created by the image data creation unit 38, and an evaluation value calculated by the mesh pattern evaluation unit 40 A data update instruction unit 42 that instructs to update / non-update data such as the seed point SD and the evaluation value EVP based on the EVP.

図1の導電性フイルム14は、図2Aに示すように、複数の導電部50と複数の開口部52とを有している。複数の導電部50は、複数の金属細線54が互いに交叉したメッシュパターンM(メッシュ状の配線)を形成している。すなわち、1つの開口部52と、該1つの開口部52を囲む少なくとも2つの導電部50の組み合わせ形状がメッシュ形状となっている。このメッシュ形状は開口部52毎に異なっており、それぞれ不規則(すなわち非周期的)に配列されている。以下、導電部50を構成する材料を「線材」という場合がある。   The conductive film 14 in FIG. 1 has a plurality of conductive portions 50 and a plurality of openings 52, as shown in FIG. 2A. The plurality of conductive portions 50 form a mesh pattern M (mesh-like wiring) in which a plurality of fine metal wires 54 intersect each other. That is, the combined shape of one opening 52 and at least two conductive portions 50 surrounding the one opening 52 is a mesh shape. This mesh shape is different for each opening 52, and is arranged irregularly (that is, aperiodically). Hereinafter, the material constituting the conductive portion 50 may be referred to as “wire”.

金属細線54の線幅は、5μm以上200μm(0.2mm)以下から選択可能である。もちろん、透光性を向上させたい場合は、5μm以上50μm以下から選択してもよい。また、開口部52の面積は、0.02mm2以上40mm2以下が好ましく、さらに好ましくは、0.1mm2以上1mm2以下である。 The line width of the fine metal wire 54 can be selected from 5 μm to 200 μm (0.2 mm). Of course, in order to improve translucency, you may select from 5 micrometers or more and 50 micrometers or less. Further, the area of the opening 52 is preferably 0.02 mm 2 or more and 40 mm 2 or less, and more preferably 0.1 mm 2 or more and 1 mm 2 or less.

このように構成しているので、導電性フイルム14の全体の光透過率は70%以上99%未満であり、80%以上99%未満、さらには、85%以上99%未満を実現することができる。   With this configuration, the entire light transmittance of the conductive film 14 is 70% or more and less than 99%, 80% or more and less than 99%, and further 85% or more and less than 99%. it can.

この導電性フイルム14は、タッチパネルの電極や、無機EL素子、有機EL素子又は太陽電池の電極として使用可能な導電性フイルムである。この導電性フイルム14は、図3に示すように、透明フイルム基材56(透明基材)と、該透明フイルム基材56上に形成された前記導電部50及び開口部52を備える。   This conductive film 14 is a conductive film that can be used as an electrode of a touch panel, an inorganic EL element, an organic EL element, or a solar cell. As shown in FIG. 3, the conductive film 14 includes a transparent film base 56 (transparent base), and the conductive portion 50 and the opening 52 formed on the transparent film base 56.

この導電性フイルム14をタッチパネルの電極として使用する場合の概略分解斜視図を図2Bに示す。例えば、静電容量方式のタッチパネルは、多数の電極がメッシュ状に配列して構成されており、人間の指先と導電膜との間での静電容量の変化を捉えて指先の位置を検出する。   A schematic exploded perspective view when this conductive film 14 is used as an electrode of a touch panel is shown in FIG. 2B. For example, a capacitive touch panel is configured by arranging a large number of electrodes in a mesh shape, and detects the fingertip position by detecting a change in capacitance between a human fingertip and a conductive film. .

導電性フイルム14の表面上に、該導電性フイルム14と同じサイズを有するフィルタ部材57を重畳して配置する。フィルタ部材57は、複数の赤色フィルタ58rと、複数の緑色フィルタ58gと、複数の青色フィルタ58bと、ブラックマトリクス59とを備える。   A filter member 57 having the same size as that of the conductive film 14 is disposed on the surface of the conductive film 14 so as to overlap therewith. The filter member 57 includes a plurality of red filters 58r, a plurality of green filters 58g, a plurality of blue filters 58b, and a black matrix 59.

フィルタ部材57の上下方向には、赤色フィルタ58r(緑色フィルタ58g、あるいは青色フィルタ58b)がそれぞれ並設されている。また、フィルタ部材57の左右方向には、赤色フィルタ58r、緑色フィルタ58g、青色フィルタ58b、赤色フィルタ58r…の順番で周期的に配設されている。すなわち、1つの赤色フィルタ58r、1つの緑色フィルタ58g、1つの青色フィルタ58bが配置された平面領域が、赤色光、緑色光又は青色光の組み合わせにより、任意の色の表示が自在である単位画素60を構成している。   Red filters 58r (green filter 58g or blue filter 58b) are arranged in parallel in the vertical direction of the filter member 57. Further, a red filter 58r, a green filter 58g, a blue filter 58b, a red filter 58r,... Are periodically arranged in the left-right direction of the filter member 57. That is, a unit pixel in which a plane area in which one red filter 58r, one green filter 58g, and one blue filter 58b are arranged can display any color by a combination of red light, green light, or blue light. 60.

ブラックマトリクス59は、外部からの反射光や、図示しないバックライトからの透過光が、隣接する単位画素60同士で混合することを防止するための遮光材の機能を有する。ブラックマトリクス59は、左右方向に延在する遮光材61hと、上下方向に延在する遮光材61vとからなる。これらの遮光材61h、61vは、矩形状の格子を形成しており、単位画素60を構成する一組のカラーフィルタ(すなわち、赤色フィルタ58r、緑色フィルタ58g及び青色フィルタ58b)をそれぞれ囲繞する。   The black matrix 59 has a function of a light shielding material for preventing the reflected light from the outside and the transmitted light from the backlight (not shown) from being mixed between the adjacent unit pixels 60. The black matrix 59 includes a light shielding material 61h extending in the left-right direction and a light shielding material 61v extending in the vertical direction. These light shielding members 61h and 61v form a rectangular lattice and surround a set of color filters (that is, a red filter 58r, a green filter 58g, and a blue filter 58b) constituting the unit pixel 60, respectively.

また、この導電性フイルム14は、電流を流すことで発熱する透明発熱体としても機能する。この場合は、導電性フイルム14の対向する端部に図示しない第1及び第2電極を形成し、第1電極から第2電極に電流を流す。これにより、透明発熱体が発熱し、透明発熱体に接する又は透明発熱体を組み込んだ加熱対象物(例えば、建物の窓ガラス、車両用の窓ガラス、車両用灯具の前面カバー等)が加熱される。その結果、加熱対象物に付着していた雪等が取り除かれることになる。   The conductive film 14 also functions as a transparent heating element that generates heat when an electric current is applied. In this case, first and second electrodes (not shown) are formed at opposite ends of the conductive film 14, and a current flows from the first electrode to the second electrode. As a result, the transparent heating element generates heat, and a heating object (for example, a window glass of a building, a window glass for a vehicle, a front cover of a vehicle lamp, etc.) that is in contact with or incorporates the transparent heating element is heated. The As a result, snow or the like attached to the heating object is removed.

図4は、図1に示すメッシュ模様評価部40及びデータ更新指示部42の詳細機能ブロック図である。   FIG. 4 is a detailed functional block diagram of the mesh pattern evaluation unit 40 and the data update instruction unit 42 shown in FIG.

メッシュ模様評価部40は、画像データ作成部38から供給された画像データImgに高速フーリエ変換(Fast Fourier Transformation;以下、FFTという。)を施して二次元スペクトルデータ(以下、単に「スペクトルSpc」という。)を取得するFFT演算部100と、該FFT演算部100から供給されたスペクトルSpcに基づいて評価値EVPを算出する評価値算出部102とを備える。   The mesh pattern evaluation unit 40 performs fast Fourier transformation (hereinafter referred to as FFT) on the image data Img supplied from the image data generation unit 38 and performs two-dimensional spectrum data (hereinafter simply referred to as “spectrum Spc”). .) And an evaluation value calculation unit 102 that calculates an evaluation value EVP based on the spectrum Spc supplied from the FFT calculation unit 100.

データ更新指示部42は、メッシュ模様評価部40による評価回数を計上するカウンタ108と、後述する擬似焼きなまし法で用いる擬似温度Tの値を管理する擬似温度管理部110と、メッシュ模様評価部40から供給された評価値EVP及び擬似温度管理部110から供給された擬似温度Tに基づいてシード点SDの更新確率を算出する更新確率算出部112と、該更新確率算出部112から供給された前記更新確率に基づいてシード点SDの位置データSDd等の更新/非更新を判定する位置更新判定部114と、擬似温度管理部110からの通知に応じて1つの画像データImgを出力用画像データImgOutとして決定する出力用画像データ決定部116とを備える。   The data update instruction unit 42 includes a counter 108 that counts the number of evaluations by the mesh pattern evaluation unit 40, a pseudo temperature management unit 110 that manages a value of a pseudo temperature T used in a pseudo annealing method described later, and the mesh pattern evaluation unit 40. An update probability calculation unit 112 that calculates an update probability of the seed point SD based on the supplied evaluation value EVP and the pseudo temperature T supplied from the pseudo temperature management unit 110, and the update supplied from the update probability calculation unit 112 The position update determination unit 114 that determines whether the position data SDd of the seed point SD is updated or not based on the probability, and one image data Img as output image data ImgOut in response to a notification from the pseudo temperature management unit 110. And an output image data determination unit 116 to determine.

図5は、画像データ作成条件の設定画面の一例を示す図である。   FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a setting screen for image data creation conditions.

設定画面120は、上方から順番に、左側のプルダウンメニュー122と、左側の表示欄124と、右側のプルダウンメニュー126と、右側の表示欄128と、7個のテキストボックス130、132、134、136、138、140、142と、[設定]、[中止]と表示されたボタン144、146とを備える。   The setting screen 120 includes a left pull-down menu 122, a left display column 124, a right pull-down menu 126, a right display column 128, and seven text boxes 130, 132, 134, 136 in order from the top. , 138, 140, 142 and buttons 144, 146 displayed as [Setting] and [Cancel].

プルダウンメニュー122、126の左方部には、「種類」なる文字列が表示されている。入力部20(例えば、マウス)の所定の操作により、プルダウンメニュー122、126の下方部に図示しない選択欄が併せて表示され、その中の項目を選択自在である。   On the left side of the pull-down menus 122 and 126, a character string “kind” is displayed. By a predetermined operation of the input unit 20 (for example, a mouse), a selection field (not shown) is also displayed in the lower part of the pull-down menus 122 and 126, and items in the selection field can be selected freely.

表示欄124は、5つの欄148a、148b、148c、148d、148eから構成されており、これらの左方部には、「光透過率」、「光反射率」、「色値L*」、「色値a*」及び「色値b*」なる文字列がそれぞれ表示されている。 The display column 124 includes five columns 148a, 148b, 148c, 148d, and 148e. On the left side of these, "light transmittance", "light reflectance", "color value L * ", Character strings “color value a * ” and “color value b * ” are respectively displayed.

表示欄128は、表示欄124と同様に、5つの欄150a、150b、150c、150d、150eから構成されており、これらの左方部には、「光透過率」、「光反射率」、「色値L*」、「色値a*」及び「色値b*」なる文字列がそれぞれ表示されている。 Similar to the display column 124, the display column 128 includes five columns 150a, 150b, 150c, 150d, and 150e. In the left part of these, the “light transmittance”, “light reflectance”, Character strings “color value L * ”, “color value a * ”, and “color value b * ” are displayed.

テキストボックス130の左方部には「全体透過率」と表示され、その右方部には「%」と表示されている。テキストボックス132の左方部には「膜厚」と表示され、その右方部には「μm」と表示されている。テキストボックス134の左方部には「配線の幅」と表示され、その右方部には「μm」と表示されている。テキストボックス136の左方部には「配線の厚さ」と表示され、その右方部には「μm」と表示されている。テキストボックス138の左方部には「パターンサイズH」と表示され、その右方部には「mm」と表示されている。テキストボックス140の左方部には「パターンサイズV」と表示され、その右方部には「mm」と表示されている。テキストボックス142の左方部には「画像解像度」と表示され、その右方部には「dpi」と表示されている。   “Total transmittance” is displayed on the left side of the text box 130, and “%” is displayed on the right side thereof. “Film thickness” is displayed on the left side of the text box 132, and “μm” is displayed on the right side thereof. “Wiring width” is displayed on the left side of the text box 134 and “μm” is displayed on the right side thereof. “Wiring thickness” is displayed on the left side of the text box 136, and “μm” is displayed on the right side thereof. “Pattern size H” is displayed on the left side of the text box 138, and “mm” is displayed on the right side thereof. “Pattern size V” is displayed on the left side of the text box 140, and “mm” is displayed on the right side thereof. "Image resolution" is displayed on the left side of the text box 142, and "dpi" is displayed on the right side thereof.

なお、7個のテキストボックス130、132、134、136、138、140、142のいずれにも、入力部20(例えば、キーボード)の所定の操作により算用数字の入力が自在である。   In any of the seven text boxes 130, 132, 134, 136, 138, 140, 142, arithmetic numbers can be input by a predetermined operation of the input unit 20 (for example, a keyboard).

基本的には、以上のように構成される製造装置10の動作について、図6のフローチャートを参照して説明する。   Basically, the operation of the manufacturing apparatus 10 configured as described above will be described with reference to the flowchart of FIG.

先ず、メッシュパターンMに応じた模様を表す画像データImg(出力用画像データImgOutを含む。)を作成する際に必要な各種条件を入力する(ステップS1)。   First, various conditions necessary for creating image data Img (including output image data ImgOut) representing a pattern corresponding to the mesh pattern M are input (step S1).

作業者は、表示部22に表示された設定画面120(図5参照)を介して、適切な数値等を入力する。これにより、メッシュパターンMの視認性に関わる視認情報を入力することができる。ここで、視認情報とは、メッシュパターンMの形状や光学濃度に寄与する各種情報であり、線材(金属細線54)の視認情報や、透明基材(透明フイルム基材56)の視認情報が含まれる。線材の視認情報として、例えば、該線材の種類、色値、光透過率、若しくは光反射率、又は金属細線54の断面形状若しくは太さの少なくとも1つが含まれる。透明基材の視認情報として、例えば、該透明基材の種類、色値、光透過率、光反射率又は膜厚の少なくとも1つが含まれる。   The operator inputs an appropriate numerical value or the like via the setting screen 120 (see FIG. 5) displayed on the display unit 22. Thereby, the visual information regarding the visibility of the mesh pattern M can be input. Here, the visual information is various information that contributes to the shape and optical density of the mesh pattern M, and includes visual information of the wire (metal thin wire 54) and visual information of the transparent substrate (transparent film substrate 56). It is. The visual information of the wire includes, for example, at least one of the type, color value, light transmittance, or light reflectance of the wire, or the cross-sectional shape or thickness of the thin metal wire 54. The visual information of the transparent substrate includes, for example, at least one of the type, color value, light transmittance, light reflectance, or film thickness of the transparent substrate.

作業者は、製造しようとする導電性フイルム14に関して、プルダウンメニュー122を用いて線材の種類を1つ選択する。図5の例では、「銀(Ag)」が選択されている。線材の種類を1つ選択すると、表示欄124が即時に更新され、該線材の物性に応じた既知の数値が新たに表示される。欄148a、148b、148c、148d、148eには、100μmの厚さを有する銀の光透過率(単位:%)、光反射率(単位:%)、色値L*、色値a*、色値b*(CIELAB)がそれぞれ表示される。 The operator uses the pull-down menu 122 to select one type of wire for the conductive film 14 to be manufactured. In the example of FIG. 5, “silver (Ag)” is selected. When one type of wire is selected, the display column 124 is immediately updated, and a known numerical value corresponding to the physical property of the wire is newly displayed. In columns 148a, 148b, 148c, 148d, and 148e, light transmittance (unit:%), light reflectance (unit:%), color value L * , color value a * , and color of silver having a thickness of 100 μm are described. Each value b * (CIELAB) is displayed.

また、作業者は、製造しようとする導電性フイルム14に関して、プルダウンメニュー126を用いて膜材(透明フイルム基材56)の種類を1つ選択する。図5の例では、「PETフイルム」が選択されている。膜材の種類を1つ選択すると、表示欄128が即時に更新され、該膜材の物性に応じた既知の数値が新たに表示される。欄150a、150b、150c、150d、150eには、1mmの厚さを有するPETフイルムの光透過率(単位:%)、光反射率(単位:%)、色値L*、色値a*、色値b*(CIELAB)がそれぞれ表示される。 The operator selects one type of film material (transparent film substrate 56) using the pull-down menu 126 for the conductive film 14 to be manufactured. In the example of FIG. 5, “PET film” is selected. When one type of film material is selected, the display field 128 is immediately updated, and a known numerical value corresponding to the physical property of the film material is newly displayed. In the columns 150a, 150b, 150c, 150d, and 150e, the light transmittance (unit:%), light reflectance (unit:%), color value L * , color value a * , and PET film having a thickness of 1 mm are included. Each of the color values b * (CIELAB) is displayed.

なお、プルダウンメニュー122、126の図示しない「マニュアル入力」の項目を選択することで、表示欄124、128から各物性値を直接入力できるようにしてもよい。   It should be noted that by selecting the “manual input” item (not shown) of the pull-down menus 122 and 126, the physical property values may be directly input from the display columns 124 and 128.

さらに、作業者は、製造しようとする導電性フイルム14に関して、テキストボックス130等を用いてメッシュパターンMの各種条件をそれぞれ入力する。   Further, the operator inputs various conditions of the mesh pattern M using the text box 130 or the like regarding the conductive film 14 to be manufactured.

テキストボックス130、132、134、136の入力値は、全体の光透過率(単位:%)、透明フイルム基材56の膜厚(単位:μm)、金属細線54の線幅(単位:μm)、金属細線54の厚さ(単位:μm)にそれぞれ対応する。   The input values of the text boxes 130, 132, 134, and 136 are the overall light transmittance (unit:%), the film thickness of the transparent film substrate 56 (unit: μm), and the line width of the metal thin wire 54 (unit: μm). , Corresponding to the thickness (unit: μm) of the thin metal wire 54.

テキストボックス138、140、142の入力値は、メッシュパターンMの横サイズ、メッシュパターンMの縦サイズ、出力用画像データImgOutの画像解像度(画素サイズ)に相当する。   The input values in the text boxes 138, 140, and 142 correspond to the horizontal size of the mesh pattern M, the vertical size of the mesh pattern M, and the image resolution (pixel size) of the output image data ImgOut.

作業者による[設定]ボタン144のクリック動作に応じて、画像情報推定部36は、メッシュパターンMに応じた画像情報を推定する。この画像情報は、画像データImg(出力用画像データImgOutを含む。)を作成する際に参照される。   The image information estimation unit 36 estimates the image information corresponding to the mesh pattern M in response to the click operation of the “set” button 144 by the operator. This image information is referred to when creating image data Img (including output image data ImgOut).

例えば、メッシュパターンMの縦サイズ(テキストボックス138の入力値)と出力用画像データImgOutの画像解像度(テキストボックス142の入力値)とに基づいて、出力用画像データの横方向の画素数を算出できるし、配線の幅(テキストボックス134の入力値)と前記画像解像度とに基づいて金属細線54の線幅に相当する画素数を算出できる。   For example, the number of pixels in the horizontal direction of the output image data is calculated based on the vertical size of the mesh pattern M (input value of the text box 138) and the image resolution of the output image data ImgOut (input value of the text box 142). In addition, the number of pixels corresponding to the line width of the thin metal wire 54 can be calculated based on the width of the wiring (input value of the text box 134) and the image resolution.

また、線材の光透過率(欄148aの表示値)と配線の厚さ(テキストボックス136の入力値)とに基づいて金属細線54単体の光透過率を推定できる。これに加えて、膜材の光透過率(欄150aの表示値)と膜厚(テキストボックス132の入力値)とに基づいて、透明フイルム基材56上に金属細線54を積層した状態での光透過率を推定できる。   Further, the light transmittance of the single metal wire 54 can be estimated based on the light transmittance of the wire (display value in the column 148a) and the thickness of the wiring (input value in the text box 136). In addition, based on the light transmittance of the film material (display value in the column 150a) and the film thickness (input value in the text box 132), the thin metal wire 54 is laminated on the transparent film substrate 56. Light transmittance can be estimated.

さらに、線材の光透過率(欄148aの表示)と、膜材の光透過率(欄150aの表示)と、全体透過率(テキストボックス130の入力値)と、配線の幅(テキストボックス132の入力値)とに基づいて、開口部52の個数を推定するとともに、シード点SDの個数を推定できる。なお、開口部52の領域を決定するアルゴリズムに応じて、シード点SDの個数を推定するようにしてもよい。   Furthermore, the light transmittance of the wire (displayed in the column 148a), the light transmittance of the film material (displayed in the column 150a), the overall transmittance (input value of the text box 130), and the width of the wiring (text box 132). The number of openings 52 and the number of seed points SD can be estimated based on the input value). Note that the number of seed points SD may be estimated in accordance with an algorithm for determining the region of the opening 52.

次いで、メッシュパターンMを形成するための出力用画像データImgOutを作成する(ステップS2)。   Next, output image data ImgOut for forming the mesh pattern M is created (step S2).

出力用画像データImgOutの作成方法の説明に先立って、画像データImgの評価方法について始めに説明する。本実施の形態では、ノイズ特性(例えば、粒状ノイズ)を定量化した評価値EVPに基づいて評価を行う。   Prior to the description of the generation method of the output image data ImgOut, the evaluation method of the image data Img will be described first. In the present embodiment, evaluation is performed based on an evaluation value EVP obtained by quantifying noise characteristics (for example, granular noise).

ノイズ特性を評価する例として、画像データImgの所定の領域範囲を定め、該領域範囲内の画素値に対してRMS(Root Mean Square)を求めてもよい。本実施の形態では、人間の視覚応答特性を評価に採り入れ、さらに改良した評価値EVPを用いている。   As an example of evaluating the noise characteristics, a predetermined region range of the image data Img may be defined, and RMS (Root Mean Square) may be obtained for the pixel values in the region range. In the present embodiment, human visual response characteristics are taken into account for evaluation, and a further improved evaluation value EVP is used.

図7Aは、メッシュパターンMの模様を表す画像データImgを可視化した概略説明図である。以下、この画像データImgを例に挙げて説明する。   FIG. 7A is a schematic explanatory diagram in which image data Img representing the mesh pattern M is visualized. Hereinafter, the image data Img will be described as an example.

先ずは、図7Aに示す画像データImgに対してFFTを施す。これにより、メッシュパターンMの形状について、部分的形状ではなく、全体の傾向(空間周波数分布)として把握できる。   First, FFT is applied to the image data Img shown in FIG. 7A. Thereby, about the shape of the mesh pattern M, it can grasp | ascertain not as a partial shape but as the whole tendency (spatial frequency distribution).

図7Bは、図7Aの画像データImgに対してFFTを施して得られるスペクトルSpcの分布図である。ここで、当該分布図の横軸はX軸方向に対する空間周波数を示し、その縦軸はY軸方向に対する空間周波数を示す。また、空間周波数帯域毎の表示濃度が薄いほど強度レベル(スペクトルSpcの値)が小さくなり、表示濃度が濃いほど強度レベルが大きくなっている。本図の例では、このスペクトルSpcの分布は、等方的であるとともに環状のピークを2個有している。   FIG. 7B is a distribution diagram of a spectrum Spc obtained by performing FFT on the image data Img of FIG. 7A. Here, the horizontal axis of the distribution diagram indicates the spatial frequency in the X-axis direction, and the vertical axis indicates the spatial frequency in the Y-axis direction. Further, the intensity level (spectrum Spc value) decreases as the display density for each spatial frequency band decreases, and the intensity level increases as the display density increases. In the example of this figure, the distribution of this spectrum Spc is isotropic and has two circular peaks.

図7Cは、図7Bに示すスペクトルSpcの分布のVIIC−VIIC線に沿った断面図である。スペクトルSpcは等方的であるので、図7Cはあらゆる角度方向に対する動径方向分布に相当する。本図から諒解されるように、低空間周波数帯域及び高空間周波数帯域での強度レベルが小さくなり、中間の空間周波数帯域のみ強度レベルが高くなるいわゆるバンドパス型の特性を有する。すなわち、図7Aに示す画像データImgは、画像工学分野の技術用語によれば、「グリーンノイズ」の特性を有する模様を表すものといえる。   FIG. 7C is a cross-sectional view of the distribution of spectrum Spc shown in FIG. 7B along the VIIC-VIIC line. Since the spectrum Spc is isotropic, FIG. 7C corresponds to the radial distribution for all angular directions. As can be understood from this figure, the intensity level in the low spatial frequency band and the high spatial frequency band is reduced, and a so-called bandpass type characteristic is obtained in which the intensity level is increased only in the intermediate spatial frequency band. That is, it can be said that the image data Img shown in FIG. 7A represents a pattern having the characteristics of “green noise” according to technical terms in the field of image engineering.

図8は、Dooley−Shaw関数(観察距離300mm)を表すグラフである。   FIG. 8 is a graph showing the Dooley-Shaw function (observation distance 300 mm).

Dooley−Shaw関数は、VTF(Visual Transfer Function)の一種であり、人間の視覚応答特性を模した代表的な関数である。具体的には、輝度のコントラスト比特性の2乗値に相当する。なお、グラフの横軸は空間周波数(単位:cycle/mm)であり、縦軸はVTFの値(単位は無次元)である。   The Dooley-Shaw function is a kind of VTF (Visual Transfer Function) and is a representative function that imitates human visual response characteristics. Specifically, this corresponds to the square value of the contrast ratio characteristic of luminance. The horizontal axis of the graph is the spatial frequency (unit: cycle / mm), and the vertical axis is the VTF value (unit is dimensionless).

観察距離を300mmとすると、0〜1.0cycle/mmの範囲ではVTFの値は一定(1に等しい。)であり、空間周波数が高くなるにつれて次第にVTFの値が減少する傾向がある。すなわち、この関数は、中〜高空間周波数帯域を遮断するローパスフィルタとして機能する。   If the observation distance is 300 mm, the VTF value is constant (equal to 1) in the range of 0 to 1.0 cycle / mm, and the VTF value tends to gradually decrease as the spatial frequency increases. That is, this function functions as a low-pass filter that cuts off the medium to high spatial frequency band.

なお、実際の人間の視覚応答特性は、0cycle/mm近傍で1より小さい値になっており、いわゆるバンドパスフィルタの特性を有する。しかし、本実施の形態において、図8に例示するように、極めて低い空間周波数帯域であってもVTFの値を1にすることで、評価値EVPへの寄与度を高くしている。これにより、メッシュパターンMの繰り返し配置に起因する周期性を抑制する効果が得られる。   Note that the actual human visual response characteristic has a value smaller than 1 in the vicinity of 0 cycle / mm, which is a so-called band-pass filter characteristic. However, in this embodiment, as illustrated in FIG. 8, the contribution to the evaluation value EVP is increased by setting the VTF value to 1 even in an extremely low spatial frequency band. Thereby, the effect which suppresses the periodicity resulting from the repeating arrangement | positioning of the mesh pattern M is acquired.

評価値EVPは、スペクトルSpcの値をF(Ux,Uy)とするとき、次の(1)式で算出される。

Figure 0005443244
The evaluation value EVP is calculated by the following equation (1) when the value of the spectrum Spc is F (Ux, Uy).
Figure 0005443244

ウィナー・ヒンチン(Wiener−Khintchen)の定理によれば、スペクトルSpcを全空間周波数帯域で積分した値は、RMSの2乗値に一致する。このスペクトルSpcに対してVTFを乗算し、この新たなスペクトルSpcを全空間周波数帯域で積分した値は、人間の視覚特性に略一致する評価指標となる。この評価値EVPは、人間の視覚応答特性で補正したRMSということができる。通常のRMSと同様に、評価値EVPは、常に0以上の値を取り、0に近づくほどノイズ特性が良好であるといえる。   According to the Wiener-Khintchen's theorem, the value obtained by integrating the spectrum Spc over the entire spatial frequency band matches the square value of RMS. A value obtained by multiplying the spectrum Spc by VTF and integrating the new spectrum Spc in the entire spatial frequency band is an evaluation index that substantially matches human visual characteristics. This evaluation value EVP can be said to be RMS corrected by human visual response characteristics. Similar to normal RMS, the evaluation value EVP always takes a value of 0 or more, and the closer to 0, the better the noise characteristics.

また、図8に示すVTFに対して逆フーリエ変換(例えば、IFFT)を施すことで、VTFに対応する実空間上のマスクを算出し、評価しようとする画像データImgに対して該マスクを作用して畳み込み演算を行い、新たな画像データImgに対してRMSを求めてもよい。これにより、(1)式を用いた上記方法と同等の演算結果を得ることができる。   Further, by performing inverse Fourier transform (for example, IFFT) on the VTF shown in FIG. 8, a mask in the real space corresponding to the VTF is calculated, and the mask is applied to the image data Img to be evaluated. Then, a convolution operation may be performed to obtain RMS for new image data Img. Thereby, the operation result equivalent to the said method using (1) Formula can be obtained.

なお、メッシュパターンMを決定するための目標レベル(許容範囲)や評価関数に応じて、評価値EVPの算出式を種々変更し得ることはいうまでもない。   Needless to say, the calculation formula of the evaluation value EVP can be variously changed according to the target level (allowable range) for determining the mesh pattern M and the evaluation function.

以下、上記した評価値EVPに基づいて出力用画像データImgOutを決定する具体的方法について説明する。例えば、模様が異なる画像データImgの作成と、評価値EVPによる評価とを順次繰り返す方法を用いることができる。かかる場合、出力用画像データImgOutを決定する最適化問題として、構成的アルゴリズムや逐次改善アルゴリズム等の種々の探索アルゴリズムを用いることができる。   Hereinafter, a specific method for determining the output image data ImgOut based on the evaluation value EVP will be described. For example, it is possible to use a method in which the creation of image data Img having a different pattern and the evaluation using the evaluation value EVP are sequentially repeated. In such a case, various search algorithms such as a structural algorithm and a sequential improvement algorithm can be used as an optimization problem for determining the output image data ImgOut.

本実施の形態では、擬似焼きなまし法(Simulated Annealing;以下、SA法という。)によるメッシュパターンMの最適化方法について、図9のフローチャート及び図1の機能ブロック図を主に参照しながら説明する。なお、SA法は、高温状態で鉄を叩くことで頑健な鉄を得る「焼きなまし法」を模した確率的探索アルゴリズムである。   In the present embodiment, a mesh pattern M optimization method using a simulated annealing method (hereinafter referred to as SA method) will be described with reference mainly to the flowchart of FIG. 9 and the functional block diagram of FIG. The SA method is a probabilistic search algorithm that imitates the “annealing method” in which robust iron is obtained by hitting iron in a high temperature state.

先ず、初期位置選択部28は、シード点SDの初期位置を選択する(ステップS21)。   First, the initial position selection unit 28 selects the initial position of the seed point SD (step S21).

初期位置の選択に先立って、乱数発生部26は、擬似乱数の発生アルゴリズムを用いて乱数値を発生する。ここで、擬似乱数の発生アルゴリズムとしてメルセンヌ・ツイスタ(Mersenne Twister)、SFMT(SIMD−oriented Fast Mersenne Twister)やXorshift法等の種々のアルゴリズムを用いてもよい。そして、初期位置選択部28は、乱数発生部26から供給された乱数値を用いて、シード点SDの初期位置をランダムに決定する。ここで、初期位置選択部28は、シード点SDの初期位置を画像データImg上の画素のアドレスとして選択し、シード点SDが互いに重複しない位置にそれぞれ設定する。   Prior to selection of the initial position, the random number generator 26 generates a random value using a pseudo-random number generation algorithm. Here, various algorithms such as Mersenne Twister, SFMT (SIMD-oriented Fast Mersenne Twister), and Xorshift method may be used as a pseudo-random number generation algorithm. Then, the initial position selecting unit 28 randomly determines the initial position of the seed point SD using the random number value supplied from the random number generating unit 26. Here, the initial position selection unit 28 selects the initial position of the seed point SD as the address of the pixel on the image data Img, and sets the seed points SD at positions where they do not overlap each other.

なお、初期位置選択部28は、画像情報推定部36から供給される画像データImgの縦方向・横方向の画素数に基づいて、二次元画像領域の範囲を予め決定しておく。また、初期位置選択部28は、シード点SDの個数を画像情報推定部36から予め取得し、その個数を決定しておく。   Note that the initial position selection unit 28 determines the range of the two-dimensional image region in advance based on the number of pixels in the vertical and horizontal directions of the image data Img supplied from the image information estimation unit 36. Further, the initial position selection unit 28 acquires the number of seed points SD from the image information estimation unit 36 in advance, and determines the number.

図10は、シード点SDの配置密度と、メッシュパターンMの全体透過率との関係の一例を表すグラフである。本図は、配置密度が高くなるにしたがって、配線の被覆面積が増加し、その結果、メッシュパターンMの全体透過率が低下することを示している。   FIG. 10 is a graph showing an example of the relationship between the arrangement density of the seed points SD and the overall transmittance of the mesh pattern M. This figure shows that the covering area of the wiring increases as the arrangement density increases, and as a result, the overall transmittance of the mesh pattern M decreases.

このグラフ特性は、膜材の光透過率(図5の欄150aの表示)、配線の幅(図5のテキストボックス132の入力値)及び領域決定アルゴリズム(例えば、ボロノイ図)に応じて変化する。よって、配線の幅等の各パラメータに応じた特性データを、関数やテーブル等の種々のデータ形式で、記憶部24に予め記憶してもよい。   This graph characteristic changes according to the light transmittance of the film material (indicated by the column 150a in FIG. 5), the wiring width (input value in the text box 132 in FIG. 5), and the region determination algorithm (for example, Voronoi diagram). . Therefore, characteristic data corresponding to each parameter such as the width of the wiring may be stored in the storage unit 24 in advance in various data formats such as functions and tables.

また、シード点SDの配置密度とメッシュパターンMの電気抵抗値との対応を予め取得しておき、該電気抵抗値の指定値に基づいてシード点SDの個数を決定するようにしてもよい。電気抵抗値は、導電部50の通電性を表す1つのパラメータであり、メッシュパターンMの設計に不可欠だからである。   Alternatively, the correspondence between the arrangement density of the seed points SD and the electric resistance value of the mesh pattern M may be acquired in advance, and the number of seed points SD may be determined based on a specified value of the electric resistance value. This is because the electrical resistance value is one parameter representing the conductivity of the conductive portion 50 and is indispensable for the design of the mesh pattern M.

なお、初期位置選択部28は、乱数値を用いることなくシード点SDの初期位置を選択してもよい。例えば、図示しないスキャナや記憶装置を含む外部装置から取得したデータを参照しながら、初期位置を決定することができる。このデータは、例えば、所定の2値画像データであってもよく、具体的には印刷用の網点データであってもよい。   Note that the initial position selection unit 28 may select the initial position of the seed point SD without using a random number value. For example, the initial position can be determined with reference to data acquired from an external device including a scanner and a storage device (not shown). This data may be, for example, predetermined binary image data, specifically, halftone dot data for printing.

次いで、画像データ作成部38は、初期データとしての画像データImgInitを作成する(ステップS22)。画像データ作成部38は、記憶部24から供給されたシード点SDの個数や位置データSDd、並びに画像情報推定部36から供給された画像情報に基づいて、メッシュパターンMに応じた模様を表す画像データImgInit(初期データ)を作成する。   Next, the image data creation unit 38 creates image data ImgInit as initial data (step S22). The image data creation unit 38 is an image representing a pattern corresponding to the mesh pattern M based on the number and position data SDd of the seed points SD supplied from the storage unit 24 and the image information supplied from the image information estimation unit 36. Data ImgInit (initial data) is created.

複数のシード点SDからメッシュ状の模様を決定するアルゴリズムは、種々の方法を採り得る。以下、図11A〜図12Bを参照しながら詳細に説明する。   An algorithm for determining a mesh pattern from a plurality of seed points SD may take various methods. Hereinafter, it demonstrates in detail, referring FIG. 11A-FIG. 12B.

図11Aに示すように、例えば、正方形状の二次元画像領域200内に8つの点P1〜P8を無作為に選択したとする。 As shown in FIG. 11A, for example, it is assumed that eight points P 1 to P 8 are randomly selected in a square two-dimensional image region 200.

図11Bは、ボロノイ図を用いて8つの点P1〜P8をそれぞれ囲繞する8つの領域V1〜V8を画定した結果を示す説明図である。なお、距離関数としてユークリッド距離を用いた。本図から諒解されるように、領域Vi(i=1〜8)内の任意の点において、点Piが最も近接する点であることを示している。 FIG. 11B is an explanatory diagram showing a result of defining eight regions V 1 to V 8 surrounding the eight points P 1 to P 8 , respectively, using the Voronoi diagram. The Euclidean distance was used as the distance function. As can be understood from the figure, the point P i is the closest point at any point in the region V i (i = 1 to 8).

また、ドロネー三角形分割法を用いて、図12A(図11Aと同図)の点P1〜P8をそれぞれ頂点とする8つの三角形状の領域を画定した結果を図12Bに示す。 Further, FIG. 12B shows a result of defining eight triangular regions having vertices at points P 1 to P 8 in FIG. 12A (same as FIG. 11A) using Delaunay triangulation.

ドロネー三角形分割法とは、点P1〜P8のうち、隣接する点同士を繋いで三角形状の領域を画定する方法である。この方法によっても、点P1〜P8の個数と同数の領域V1〜V8を決定することができる。 The Delaunay triangulation method is a method of defining a triangular region by connecting adjacent points among the points P 1 to P 8 . Also by this method, the same number of regions V 1 to V 8 as the number of points P 1 to P 8 can be determined.

ところで、画像データImg(初期画像データImgInitを含む。)を作成する前に、画素のアドレス及び画素値の定義を予め決定しておく。   By the way, before creating image data Img (including initial image data ImgInit), pixel address and pixel value definitions are determined in advance.

図13Aは、画像データImgにおける画素アドレスの定義を表す説明図である。例えば、画素サイズが10μmであり、画像データの縦横の画素数はそれぞれ8192個とする。後述するFFTの演算処理の便宜のため、2の冪乗(例えば、2の13乗)となるように設けている。このとき、画像データImgの画像領域全体は、約82mm四方の矩形領域に対応する。   FIG. 13A is an explanatory diagram illustrating the definition of a pixel address in the image data Img. For example, the pixel size is 10 μm, and the number of vertical and horizontal pixels of the image data is 8192. For convenience of FFT calculation processing described later, it is set to be a power of 2 (for example, 2 to the 13th power). At this time, the entire image area of the image data Img corresponds to a rectangular area of about 82 mm square.

図13Bは、画像データImgにおける画素値の定義を表す説明図である。例えば、1画素当たりの階調数を8ビット(256階調)とする。光学濃度0を画素値0(最小値)と対応させ、光学濃度4.5を画素値255(最大値)と対応させておく。その中間の画素値1〜254では、光学濃度に対して線形関係となるように値を定めておく。ここで、光学濃度とは、透過濃度のみならず、反射濃度であってもよいことはいうまでもなく、導電性フイルム14の使用態様等に応じて適宜選択できる。また、光学濃度の他に、三刺激値XYZや色値RGB、L***等であっても、上記と同様にして各画素値を定義することができる。 FIG. 13B is an explanatory diagram illustrating the definition of pixel values in the image data Img. For example, the number of gradations per pixel is 8 bits (256 gradations). The optical density 0 corresponds to the pixel value 0 (minimum value), and the optical density 4.5 corresponds to the pixel value 255 (maximum value). In the intermediate pixel values 1 to 254, values are determined so as to have a linear relationship with the optical density. Here, the optical density is not limited to the transmission density but may be the reflection density, and can be appropriately selected according to the use mode of the conductive film 14 and the like. In addition to the optical density, each pixel value can be defined in the same manner as described above even for tristimulus values XYZ, color values RGB, L * a * b * , and the like.

このようにして、画像データ作成部38は、画像データImgのデータ定義と、画像情報推定部36で推定された画像情報(ステップS1の説明を参照)に基づいて、メッシュパターンMに応じた画像データImgInitを作成する(ステップS22)。画像データ作成部38は、シード点SDの初期位置(図14A参照)を基準とするボロノイ図を用いて、図14Bに示すメッシュパターンMの初期状態を決定する。なお、画像の端部については、上下方向、左右方向に繰り返し配列されるように適切な処理を行う。例えば、画像の左端(又は右端)近傍のシード点SDについては、画像の右端(又は左端)近傍のシード点SDとの間で領域Viを得るようにする。同様に、画像の上端(又は下端)近傍のシード点SDについては、画像の下端(上端)近傍のシード点SDとの間で領域Viを得るようにする。 In this way, the image data creation unit 38 determines the image corresponding to the mesh pattern M based on the data definition of the image data Img and the image information estimated by the image information estimation unit 36 (see the description of step S1). Data ImgInit is created (step S22). The image data creation unit 38 determines the initial state of the mesh pattern M shown in FIG. 14B using a Voronoi diagram based on the initial position of the seed point SD (see FIG. 14A). Appropriate processing is performed on the edge of the image so that it is repeatedly arranged in the vertical and horizontal directions. For example, for the seed point SD near the left end (or right end) of the image, a region V i is obtained between the seed point SD near the right end (or left end) of the image. Similarly, the upper (or lower) seed point SD near the image, so as to obtain a region V i between the lower end of the image (upper end) in the vicinity of the seed point SD.

以下、画像データImg(画像データImgInitを含む。)は、光学濃度OD、色値L*、色値a*、色値b*の4チャンネルの各データを備える画像データであるとする。 Hereinafter, it is assumed that the image data Img (including the image data ImgInit) is image data including each data of four channels of the optical density OD, the color value L * , the color value a * , and the color value b * .

次いで、メッシュ模様評価部40は、評価値EVPInitを算出する(ステップS23)。なお、SA法において、評価値EVPは、対価関数(Cost Function)としての役割を担う。   Next, the mesh pattern evaluation unit 40 calculates an evaluation value EVPInit (step S23). In the SA method, the evaluation value EVP plays a role as a cost function.

具体的には、図4に示すFFT演算部100は、画像データImgInitに対してFFTを施す。そして、評価値算出部102は、FFT演算部100から供給されたスペクトルSpcに基づいて評価値EVPを算出する。   Specifically, the FFT operation unit 100 shown in FIG. 4 performs FFT on the image data ImgInit. Then, the evaluation value calculation unit 102 calculates the evaluation value EVP based on the spectrum Spc supplied from the FFT calculation unit 100.

画像データImgのうち、色値L*、色値a*、色値b*の各チャンネルに対して、上述した評価値EVP(L*)、EVP(a*)、EVP(b*)をそれぞれ算出する{(1)式を参照}。そして、所定の重み係数を用いて積和演算することで、評価値EVPを得る。 In the image data Img, the evaluation values EVP (L * ), EVP (a * ), and EVP (b * ) described above are applied to the channels of the color value L * , the color value a * , and the color value b * , respectively. Calculate {refer to equation (1)}. Then, an evaluation value EVP is obtained by performing a product-sum operation using a predetermined weight coefficient.

なお、色値L*、色値a*、色値b*の代わりに光学濃度ODを用いてもよい。評価値EVPに関しては、観察態様の種別、具体的には、補助光源は透過光が支配的であるか、反射光が支配的であるか、あるいは透過光・反射光の混合光であるかに応じて、人間の視感度により適合した演算手法を適宜選択することができる。 The optical density OD may be used instead of the color value L * , the color value a * , and the color value b * . Regarding the evaluation value EVP, the type of observation mode, specifically, whether the auxiliary light source is dominant in transmitted light, dominant in reflected light, or mixed light of transmitted and reflected light. Accordingly, it is possible to appropriately select a calculation method that is more suitable for human visibility.

また、メッシュパターンMを決定するための目標レベル(許容範囲)や評価関数に応じて、評価値EVPの算出式を種々変更し得ることはいうまでもない。   Needless to say, the calculation formula of the evaluation value EVP can be variously changed according to the target level (allowable range) for determining the mesh pattern M and the evaluation function.

このようにして、メッシュ模様評価部40は、評価値EVPInitを算出する(ステップS23)。   In this way, the mesh pattern evaluation unit 40 calculates the evaluation value EVPInit (step S23).

次いで、記憶部24は、ステップS22で作成された画像データImgInitと、ステップS23で算出された評価値EVPInitとを一時的に記憶する(ステップS24)。あわせて、擬似温度Tに初期値nΔT(nは自然数、ΔTは正の実数値である。)を代入する。   Next, the storage unit 24 temporarily stores the image data ImgInit created in step S22 and the evaluation value EVPInit calculated in step S23 (step S24). In addition, an initial value nΔT (n is a natural number and ΔT is a positive real value) is substituted for the pseudo temperature T.

次いで、カウンタ108は、変数Kを初期化する(ステップS25)。すなわち、Kに0を代入する。   Next, the counter 108 initializes a variable K (step S25). That is, 0 is substituted for K.

次いで、シード点SDの一部(第2シード点SDS)を候補点SPに置き換えた状態で、画像データImgTempを作成し、評価値EVPTempを算出した後に、シード点SDの「更新」又は「非更新」を判断する(ステップS26)。このステップS26について、図1、図4の機能ブロック図及び図15のフローチャートを参照しながら、更に詳細に説明する。   Next, the image data ImgTemp is generated in a state where a part of the seed point SD (second seed point SDS) is replaced with the candidate point SP, and the evaluation value EVPTtemp is calculated. "Update" is determined (step S26). Step S26 will be described in more detail with reference to the functional block diagrams of FIGS. 1 and 4 and the flowchart of FIG.

先ず、更新候補位置決定部30は、所定の二次元画像領域200から候補点SPを抽出し、決定する(ステップS261)。更新候補位置決定部30は、例えば、乱数発生部26から供給された乱数値を用いて、シード点SDのいずれの位置とも重複しない位置を決定する。なお、候補点SPの個数は1つであっても複数であってもよい。図16Aに示す例では、現在のシード点SDが8個(点P1〜P8)に対して、候補点SPは2個(点Q1と点Q2)である。 First, the update candidate position determination unit 30 extracts candidate points SP from a predetermined two-dimensional image region 200 and determines them (step S261). For example, the update candidate position determination unit 30 determines a position that does not overlap with any position of the seed point SD using the random number value supplied from the random number generation unit 26. Note that the number of candidate points SP may be one or plural. In the example shown in FIG. 16A, there are two candidate points SP (point Q 1 and point Q 2 ) with respect to eight current seed points SD (points P 1 to P 8 ).

次いで、シード点SDの一部と候補点SPとを無作為に交換する(ステップS262)。更新候補位置決定部30は、各候補点SPと交換(あるいは更新)される各シード点SDを無作為に対応付けておく。図16Aでは、点P1と点Q1とが対応付けられ、点P3と点Q2とが対応付けられたとする。図16Bに示すように、点P1と点Q1とが交換されるとともに、点P3と点Q2とが交換される。ここで、交換(あるいは更新)対象でない点P2、点P4〜P8を第1シード点SDNといい、交換(あるいは更新)対象である点P1及び点P3を第2シード点SDSという。 Next, a part of the seed point SD and the candidate point SP are randomly exchanged (step S262). The update candidate position determination unit 30 associates each seed point SD exchanged (or updated) with each candidate point SP at random. In FIG. 16A, it is assumed that the point P 1 and the point Q 1 are associated with each other, and the point P 3 and the point Q 2 are associated with each other. As shown in FIG. 16B, the point P 1 and the point Q 1 are exchanged, and the point P 3 and the point Q 2 are exchanged. Here, the point P 2 and the points P 4 to P 8 that are not the object of exchange (or update) are referred to as the first seed point SDN, and the points P 1 and P 3 that are the object of exchange (or update) are the second seed point SDS. That's it.

次いで、画像データ作成部38は、交換された新たなシード点SD(図16B参照)を用いて、画像データImgTempを作成する(ステップS263)。このとき、ステップS22(図9参照)の場合と同一の方法を用いるので、説明を割愛する。   Next, the image data creation unit 38 creates image data ImgTemp using the exchanged new seed point SD (see FIG. 16B) (step S263). At this time, since the same method as in the case of step S22 (see FIG. 9) is used, the description is omitted.

次いで、メッシュ模様評価部40は、画像データImgTempに基づいて、評価値EVPTempを算出する(ステップS264)。ステップS23(図9参照)の場合と同一の方法を用いるので、説明を割愛する。   Next, the mesh pattern evaluation unit 40 calculates an evaluation value EVPTemp based on the image data ImgTemp (step S264). Since the same method as in the case of step S23 (see FIG. 9) is used, the description is omitted.

次いで、更新確率算出部112は、シード点SDの位置の更新確率Probを算出する(ステップS265)。ここで、「位置の更新」とは、ステップS262で暫定的に交換して得たシード点SD(すなわち、第1シード点SDN及び候補点SP)を新たなシード点SDとして決定することをいう。   Next, the update probability calculation unit 112 calculates the update probability Prob of the position of the seed point SD (step S265). Here, “update of position” means that the seed point SD (that is, the first seed point SDN and the candidate point SP) obtained by provisional exchange in step S262 is determined as a new seed point SD. .

具体的には、メトロポリス基準に従って、シード点SDを更新する確率又は更新しない確率をそれぞれ算出する。更新確率Probは、次の(2)式で与えられる。

Figure 0005443244
Specifically, the probability of updating or not updating the seed point SD is calculated according to the metropolis standard. The update probability Prob is given by the following equation (2).
Figure 0005443244

ここで、Tは擬似温度を表し、絶対温度(T=0)に近づくに従って、更新則が確率論的から決定論的に変化する。   Here, T represents a pseudo temperature, and the update law changes deterministically from probabilistic as it approaches the absolute temperature (T = 0).

次いで、位置更新判定部114は、更新確率算出部112により算出された更新確率Probに従って、シード点SDの位置を更新するか否かについて判断する(ステップ266)。例えば、乱数発生部26から供給された乱数値を用いて、確率的に判断してもよい。   Next, the position update determination unit 114 determines whether or not to update the position of the seed point SD according to the update probability Prob calculated by the update probability calculation unit 112 (step 266). For example, the random number value supplied from the random number generator 26 may be used to make a probabilistic determination.

シード点SDを更新する場合は「更新」の旨を、更新しない場合は「非更新」の旨を記憶部24側にそれぞれ指示する(ステップS267、S268)。   When updating the seed point SD, the storage unit 24 is instructed to “update” and when not updating, the storage unit 24 is instructed (steps S267 and S268).

このようにして、ステップS26が完了する。   In this way, step S26 is completed.

図9に戻って、「更新」又は「非更新」のいずれか一方の指示に従って、シード点SDを更新するか否かが判定される(ステップS27)。シード点SDを更新しない場合は、ステップS28を行うことなく、次のステップS29に進む。   Returning to FIG. 9, it is determined whether or not the seed point SD is to be updated in accordance with either “update” or “non-update” instruction (step S27). If the seed point SD is not updated, the process proceeds to the next step S29 without performing step S28.

一方、シード点SDを更新する場合は、記憶部24は、現在記憶している画像データImgに対し、ステップS263で求めた画像データImgTempを上書き更新する(ステップS28)。また、記憶部24は、現在記憶している評価値EVPに対し、ステップS263で求めた評価値EVPTempを上書き更新する(ステップS28)。さらに、記憶部24は、現在記憶している第2シード点SDSの位置データSDSdに対し、ステップS261で求めた候補点SPの位置データSPdを上書き更新する(ステップS28)。その後、次のステップS29に進む。   On the other hand, when updating the seed point SD, the storage unit 24 overwrites and updates the image data ImgTemp obtained in step S263 with respect to the currently stored image data Img (step S28). Further, the storage unit 24 overwrites and updates the evaluation value EVPTemp obtained in step S263 with respect to the evaluation value EVP currently stored (step S28). Further, the storage unit 24 overwrites and updates the position data SPd of the candidate point SP obtained in step S261 with respect to the position data SDSd of the second seed point SDS currently stored (step S28). Thereafter, the process proceeds to next Step S29.

次いで、カウンタ108は、現時点でのKの値を1だけ加算する(ステップS29)。   Next, the counter 108 adds 1 to the current value of K (step S29).

次いで、カウンタ108は、現時点でのKの値と予め定められたKmaxの値との大小関係を比較する(ステップS30)。Kの値の方が小さい場合はステップS26まで戻り、以下ステップS26〜S30を繰り返す。なお、この最適化演算における収束性を十分確保するため、例えば、Kmax=10000と定めることができる。   Next, the counter 108 compares the magnitude relationship between the current value of K and a predetermined value of Kmax (step S30). If the value of K is smaller, the process returns to step S26, and thereafter steps S26 to S30 are repeated. In order to ensure sufficient convergence in this optimization calculation, for example, Kmax = 10000 can be set.

それ以外の場合は、擬似温度管理部110は、擬似温度TをΔTだけ減算し(ステップS31)、次のステップS32に進む。なお、擬似温度Tの変化量は、ΔTの減算のみならず、定数δ(0<δ<1)の乗算であってもよい。この場合は、(2)式に示す確率Prob(下段)が一定値だけ減算される。   In other cases, the pseudo temperature management unit 110 subtracts the pseudo temperature T by ΔT (step S31), and proceeds to the next step S32. The change amount of the pseudo temperature T may be not only the subtraction of ΔT but also a multiplication of a constant δ (0 <δ <1). In this case, the probability Prob (lower stage) shown in the equation (2) is subtracted by a certain value.

次いで、擬似温度管理部110は、現時点での擬似温度Tが0に等しいか否かを判定する(ステップS32)。Tが0と等しくない場合はステップS25に戻って、以下ステップS25〜S32を繰り返す。   Next, the pseudo temperature management unit 110 determines whether or not the current pseudo temperature T is equal to 0 (step S32). If T is not equal to 0, the process returns to step S25, and steps S25 to S32 are repeated thereafter.

一方、Tが0に等しい場合は、擬似温度管理部110は、出力用画像データ決定部116に対し、SA法によるメッシュ模様の評価が終了した旨を通知する。そして、記憶部24は、ステップS28で最後に更新された画像データImgの内容を出力用画像データImgOutに上書き更新する(ステップS33)。   On the other hand, when T is equal to 0, the pseudo temperature management unit 110 notifies the output image data determination unit 116 that the evaluation of the mesh pattern by the SA method has ended. Then, the storage unit 24 overwrites and updates the output image data ImgOut with the content of the image data Img last updated in step S28 (step S33).

このようにして、出力用画像データImgOutの作成を終了する(ステップS2)。なお、この出力用画像データImgOutは、その後、露光データ変換部32側に供給され、露光部18の制御信号に変換される画像データである。   In this way, the creation of the output image data ImgOut is finished (step S2). The output image data ImgOut is image data that is then supplied to the exposure data conversion unit 32 and converted into a control signal for the exposure unit 18.

なお、作業者が目視確認するために、得られた出力用画像データImgOutを表示部22に表示させ、メッシュパターンMを擬似的に可視化してもよい。   Note that the output image data ImgOut obtained may be displayed on the display unit 22 and the mesh pattern M may be visualized in a pseudo manner for visual confirmation by the operator.

図17は、本実施の形態に係るメッシュパターンM及び従来例に係る各種パターンPT1〜PT3の模様を表す画像データImgに対してそれぞれFFTを施して得られるスペクトルSpcのX軸に沿った断面図である。   FIG. 17 is a cross-sectional view along the X axis of the spectrum Spc obtained by performing FFT on the image data Img representing the patterns of the mesh pattern M according to the present embodiment and the various patterns PT1 to PT3 according to the conventional example. It is.

図27Aに示すパターンPT1のスペクトルSpcは、約10cycle/mmを頂点とした幅の広いピーク(2〜30cycle/mmの範囲)を有している。また、図27Bに示すパターンPT2のスペクトルSpcは、約3cycle/mmを中心とした幅の広いピーク(3〜20cycle/mmの範囲)を有している。さらに、図27Cに示すパターンPT3のスペクトルSpcは、約10cycle/mmを中心とした幅のやや狭いピーク(8〜18cycle/mmの範囲)を有している。これに対し、メッシュパターンMのスペクトルSpcは、8.8cycle/mmを中心とした幅の狭いピークを有している。   The spectrum Spc of the pattern PT1 shown in FIG. 27A has a wide peak (range of 2 to 30 cycles / mm) with the apex of about 10 cycles / mm. In addition, the spectrum Spc of the pattern PT2 shown in FIG. 27B has a wide peak (a range of 3 to 20 cycles / mm) centered at about 3 cycles / mm. Further, the spectrum Spc of the pattern PT3 shown in FIG. 27C has a slightly narrow peak (in the range of 8 to 18 cycles / mm) with a center of about 10 cycles / mm. On the other hand, the spectrum Spc of the mesh pattern M has a narrow peak centered on 8.8 cycles / mm.

ところで、図7Cに示すスペクトルSpcの特徴と、各メッシュの重心位置との関係について以下説明する。図18に示すように、図11Bと同様の二次元画像領域202に対し、上述したボロノイ図を用いて多角形状の各領域V1〜V8が画定されているものとする。なお、各領域V1〜V8内にそれぞれ属する各点C1〜C8は、各領域の重心位置を表している。 By the way, the relationship between the characteristics of the spectrum Spc shown in FIG. 7C and the centroid position of each mesh will be described below. As shown in FIG. 18, it is assumed that polygonal regions V 1 to V 8 are defined using the Voronoi diagram described above with respect to the two-dimensional image region 202 similar to FIG. 11B. Each point C 1 -C 8 respectively belonging to each area V 1 ~V within 8 represents the position of the center of gravity of each region.

図19は、本実施の形態に係るメッシュパターンMに関し、複数のメッシュと各メッシュの重心位置との関係を示す概略説明図である。   FIG. 19 is a schematic explanatory diagram showing the relationship between a plurality of meshes and the center of gravity position of each mesh with respect to the mesh pattern M according to the present embodiment.

図20Aは、図19のメッシュパターンMが有する各メッシュの重心位置の分布(以下、「重心分布C」という。)を表す画像データ(以下、「重心画像データImgc」という。)を可視化した概略説明図である。本図から諒解されるように、重心分布Cは、各重心位置が互いに重複することなく適度に分散している。   FIG. 20A is a schematic visualization of image data (hereinafter referred to as “centroid image data Imgc”) representing the distribution of the center of gravity of each mesh (hereinafter referred to as “centroid distribution C”) included in the mesh pattern M of FIG. It is explanatory drawing. As can be understood from the figure, in the center of gravity distribution C, the positions of the center of gravity are appropriately dispersed without overlapping each other.

図20Bは、図20Aの重心画像データImgcに対してFFTを施して得られる二次元パワースペクトル(以下、「重心スペクトルSpcc」という。)の分布図である。ここで、当該分布図の横軸はX軸方向に対する空間周波数を示し、その縦軸はY軸方向に対する空間周波数を示す。また、空間周波数帯域毎の表示濃度が薄いほど強度レベル(スペクトルの値)が小さくなり、表示濃度が濃いほど強度レベルが大きくなっている。本図の例では、この重心スペクトルSpccの分布は、等方的であるとともに環状のピークを1個有している。   20B is a distribution diagram of a two-dimensional power spectrum (hereinafter referred to as “centroid spectrum Spcc”) obtained by performing FFT on the centroid image data Imgc of FIG. 20A. Here, the horizontal axis of the distribution diagram indicates the spatial frequency in the X-axis direction, and the vertical axis indicates the spatial frequency in the Y-axis direction. Further, the intensity level (spectrum value) decreases as the display density for each spatial frequency band decreases, and the intensity level increases as the display density increases. In the example of this figure, the distribution of the centroid spectrum Spcc is isotropic and has one circular peak.

図20Cは、図20Bに示す重心スペクトルSpccの分布のXXC−XXC線に沿った断面図である。重心スペクトルSpccは等方的であるので、図20Cはあらゆる角度方向に対する動径方向分布に相当する。本図から諒解されるように、低空間周波数帯域での強度レベルが小さくなり、中間の空間周波数帯域には幅が広いピークを有している。さらに、低空間数端数帯域に対して、高空間周波数帯域での強度レベルが高くなるいわゆるハイパス型の特性を有する。すなわち、図20Aに示す重心画像データImgcは、画像工学分野の技術用語によれば、「ブルーノイズ」の特性を有する模様を表すものといえる。   FIG. 20C is a cross-sectional view along the line XXC-XXC of the distribution of the centroid spectrum Spcc shown in FIG. 20B. Since the center-of-gravity spectrum Spcc is isotropic, FIG. 20C corresponds to the radial direction distribution for all angular directions. As can be understood from this figure, the intensity level in the low spatial frequency band is small, and the intermediate spatial frequency band has a wide peak. Furthermore, it has a so-called high-pass characteristic in which the intensity level in the high spatial frequency band is higher than the low space fractional band. That is, it can be said that the center-of-gravity image data Imgc shown in FIG. 20A represents a pattern having the characteristics of “blue noise” according to technical terms in the field of image engineering.

図21は、図7C及び図20Cのグラフの比較図である。具体的には、メッシュパターンMのスペクトルSpcと、重心分布Cの重心スペクトルSpccとを比較する。便宜のため、最大のピーク値PKが一致するように、スペクトルSpc、Spccの強度を規格化している。 FIG. 21 is a comparative diagram of the graphs of FIGS. 7C and 20C. Specifically, the spectrum Spc of the mesh pattern M and the centroid spectrum Spcc of the centroid distribution C are compared. For convenience, the intensities of the spectra Spc and Spcc are normalized so that the maximum peak values P K coincide.

本図によると、ピークPkの空間周波数FPは一致しており、この値は8.8cycle/mmに相当する。空間周波数FPを超えた高空間周波数帯域では、スペクトルSpcの強度は徐々に減少するのに対し、重心スペクトルSpccの強度はなおも高い値を維持している。この理由は、メッシュパターンMの構成要素は互いに交差した所定の幅を有する線分であるのに対し、重心分布Cの構成要素が点であるためと推測される。 According to the figure, the spatial frequency F P peak Pk is coincident, this value corresponds to 8.8cycle / mm. The high spatial frequency band exceeding the spatial frequency F P, while reducing the spectral intensity of Spc gradually, the strength of the center of gravity spectrum Spcc maintains a still higher value. The reason for this is presumed that the constituent elements of the center of gravity distribution C are dots while the constituent elements of the mesh pattern M are line segments having a predetermined width intersecting each other.

図22は、図20Cの重心スペクトルSpccの特徴を表す概略説明図である。重心スペクトルSpccの値は、0〜5cycle/mmの範囲で徐々に増加し、6cycle/mmの周辺で急激に増加し、約10cycle/mmで幅が広いピークを有する。そして、10〜15cycle/mmの範囲で徐々に減少し、15cycle/mmを超える高空間周波数帯域で高い値を維持する。   FIG. 22 is a schematic explanatory diagram illustrating the features of the center-of-gravity spectrum Spcc of FIG. 20C. The value of the center-of-gravity spectrum Spcc gradually increases in the range of 0 to 5 cycles / mm, increases rapidly around 6 cycles / mm, and has a wide peak at about 10 cycles / mm. Then, it gradually decreases in the range of 10 to 15 cycles / mm and maintains a high value in a high spatial frequency band exceeding 15 cycles / mm.

ここで、基準空間周波数Fb(所定の空間周波数)を6cycle/mmに設定する。Fbよりも低い空間周波数帯域側、つまり、0〜Fb[cycle/mm]の範囲における重心スペクトルSpccの平均値をPLとする。一方、Fbよりも高い空間周波数帯域側、つまり、Fb[cycle/mm]〜ナイキスト周波数での重心スペクトルSpccの平均値をPHとする。このように、PHはPLよりも大きくなっている。重心スペクトルSpccはこのような特徴を有しているので、観察者にとって視覚的に感じられるノイズ感が減少する。この根拠は以下の通りである。 Here, the reference spatial frequency Fb (predetermined spatial frequency) is set to 6 cycles / mm. Let P L be the average value of the centroid spectrum Spcc in the spatial frequency band side lower than Fb, that is, in the range of 0 to Fb [cycle / mm]. On the other hand, a high spatial frequency band side than Fb, i.e., the mean value of centroid spectrum Spcc in Fb [cycle / mm] ~ Nyquist frequency and P H. In this way, P H is larger than P L. Since the center-of-gravity spectrum Spcc has such a feature, the noise feeling visually felt by the observer is reduced. The basis for this is as follows.

例えば、Fbの値は、人間の視覚応答特性が最大応答の5%に相当する空間周波数となるように設定している。この強度レベルであれば、視認が困難なレベルだからである。また、図8に示すように、明視距離が300mmでのDooley−Shaw関数に基づいて得られる視覚応答特性を用いている。本関数は、人間の視覚応答特性に良く適合するからである。   For example, the value of Fb is set so that the human visual response characteristic is a spatial frequency corresponding to 5% of the maximum response. This is because at this strength level, it is difficult to view. Moreover, as shown in FIG. 8, the visual response characteristic obtained based on the Dooley-Shaw function with a clear visual distance of 300 mm is used. This is because this function fits well with human visual response characteristics.

すなわち、Fbの値として、明視距離が300mmでのDooley−Shaw関数において、最大応答の5%に相当する空間周波数6cycle/mmを用いることができる。なお、6cycle/mmは、167μm間隔に相当する。   That is, as the value of Fb, a spatial frequency of 6 cycles / mm corresponding to 5% of the maximum response can be used in the Dooley-Shaw function with a clear visual distance of 300 mm. Note that 6 cycles / mm corresponds to an interval of 167 μm.

ところで、導電性フイルム14が有するメッシュパターンMの重心位置分布のパワースペクトルとは、以下の過程により得られたスペクトルに相当する。つまり、メッシュパターンMの模様を表す画像データImgOutを取得し、各メッシュ(閉空間)を識別し、その重心位置(例えば1画素のドット)をそれぞれ算出して重心画像データImgcを求め、その二次元パワースペクトル(スペクトルSpcc)を求めることにより、メッシュパターンMの重心位置分布のパワースペクトルを得る。   By the way, the power spectrum of the centroid position distribution of the mesh pattern M included in the conductive film 14 corresponds to a spectrum obtained by the following process. That is, the image data ImgOut representing the pattern of the mesh pattern M is acquired, each mesh (closed space) is identified, the center of gravity position (for example, one pixel dot) is calculated, and the center of gravity image data Imgc is obtained. By obtaining the dimensional power spectrum (spectrum Spcc), the power spectrum of the gravity center position distribution of the mesh pattern M is obtained.

なお、画像データImgOutの取得方法は、スキャナ等の入力装置を用いて導電性フイルム14の濃淡画像データとして取得してもよいし、メッシュパターンMの出力形成に実際に用いた画像データImgOut(図1参照)であってもよい。   The image data ImgOut may be acquired as grayscale image data of the conductive film 14 using an input device such as a scanner, or the image data ImgOut actually used for forming the mesh pattern M (see FIG. 1).

図6に戻って、露光部18は、メッシュパターンMの露光処理を行い(ステップS3)、その後、現像処理を行う(ステップS4)。   Returning to FIG. 6, the exposure unit 18 performs an exposure process for the mesh pattern M (step S3), and then performs a development process (step S4).

ここで、透明フイルム基材56上に金属細線54によるメッシュパターンMを形成するいくつの方法(第1方法〜第4方法)について図23A〜図26を参照しながら説明する。   Here, several methods (first method to fourth method) for forming the mesh pattern M by the fine metal wires 54 on the transparent film substrate 56 will be described with reference to FIGS. 23A to 26.

第1の製造方法としては、透明フイルム基材56上に設けられた銀塩感光層を露光し、現像、定着することによって形成された金属銀部にてメッシュパターンMを構成する方法である。   The first manufacturing method is a method in which a mesh pattern M is formed by a metallic silver portion formed by exposing, developing and fixing a silver salt photosensitive layer provided on a transparent film substrate 56.

具体的には、図23Aに示すように、ハロゲン化銀62(例えば臭化銀粒子、塩臭化銀粒子や沃臭化銀粒子)をゼラチン64に混ぜてなる銀塩感光層66を透明フイルム基材56上に塗布する。なお、図23A〜図23Cでは、ハロゲン化銀62を「粒々」として表記してあるが、あくまでも本発明の理解を助けるために誇張して示したものであって、大きさや濃度等を示したものではない。   Specifically, as shown in FIG. 23A, a silver salt photosensitive layer 66 obtained by mixing silver halide 62 (for example, silver bromide grains, silver chlorobromide grains or silver iodobromide grains) with gelatin 64 is formed as a transparent film. It is applied on the substrate 56. In FIG. 23A to FIG. 23C, although the silver halide 62 is described as “grains”, it is exaggerated to help understanding of the present invention, and the size, concentration, etc. are shown. It is not a thing.

その後、図23Bに示すように、銀塩感光層66に対して導電部50の形成に必要な露光を行う。すなわち、図10に示すパターン生成処理を経て得られた露光パターンに対応したマスクパターンを介して光16を銀塩感光層66に照射する。あるいは、銀塩感光層66に対するデジタル書込み露光によって、銀塩感光層66に、前記パターン生成処理にて生成された露光パターンを露光する。ハロゲン化銀62は、光エネルギーを受けると感光して「潜像」と称される肉眼では観察できない微小な銀核を生成する。   Thereafter, as shown in FIG. 23B, the silver salt photosensitive layer 66 is subjected to exposure necessary for forming the conductive portion 50. That is, the light 16 is irradiated to the silver salt photosensitive layer 66 through the mask pattern corresponding to the exposure pattern obtained through the pattern generation process shown in FIG. Alternatively, the exposure pattern generated by the pattern generation process is exposed to the silver salt photosensitive layer 66 by digital writing exposure on the silver salt photosensitive layer 66. When silver halide 62 receives light energy, it is exposed to light and generates fine silver nuclei called “latent images” that cannot be observed with the naked eye.

その後、潜像を肉眼で観察できる可視化された画像に増幅するために、図23Cに示すように、現像処理を行う。具体的には、潜像が形成された銀塩感光層66を現像液(アルカリ性溶液と酸性溶液のどちらもあるが通常はアルカリ性溶液が多い)にて現像処理する。この現像処理とは、ハロゲン化銀粒子ないし現像液から供給された銀イオンが現像液中の現像主薬と呼ばれる還元剤により潜像銀核を触媒核として金属銀に還元されて、その結果として潜像銀核が増幅されて可視化された銀画像(現像銀68)を形成する。   Thereafter, development processing is performed as shown in FIG. 23C in order to amplify the latent image into a visualized image that can be observed with the naked eye. Specifically, the silver salt photosensitive layer 66 on which the latent image is formed is developed with a developer (both alkaline solutions and acidic solutions, but usually alkaline solutions are large). In this development process, silver ions supplied from silver halide grains or a developer are reduced to metallic silver by using a latent image silver nucleus as a catalyst nucleus by a reducing agent called a developing agent in the developer, and as a result The image silver nuclei are amplified to form a visualized silver image (developed silver 68).

現像処理を終えたあとに銀塩感光層66中には光に感光できるハロゲン化銀62が残存するのでこれを除去するために図23Dに示すように定着処理液(酸性溶液とアルカリ性溶液のどちらもあるが通常は酸性溶液が多い)により定着を行う。   After the development processing is completed, silver halide 62 which can be exposed to light remains in the silver salt photosensitive layer 66. To remove this, a fixing processing solution (either an acidic solution or an alkaline solution is used as shown in FIG. 23D). However, fixing is usually performed by using an acidic solution.

この定着処理を行うことによって、露光された部位には金属銀部70が形成され、露光されていない部位にはゼラチン64のみが残存し、透光部72となる。すなわち、透明フイルム基材56上に金属銀部70と透光部72との組み合わせによるメッシュパターンMが形成されることになる。   By performing this fixing process, the metallic silver portion 70 is formed in the exposed portion, and only the gelatin 64 remains in the unexposed portion to become the light transmitting portion 72. That is, a mesh pattern M is formed on the transparent film substrate 56 by a combination of the metallic silver portion 70 and the light transmitting portion 72.

ハロゲン化銀62として臭化銀を用い、チオ硫酸塩で定着処理した場合の定着処理の反応式を以下に示す。
AgBr(固体)+2個のS23イオン → Ag(S232
(易水溶性錯体)
The reaction formula of the fixing process in the case where silver bromide is used as the silver halide 62 and the fixing process is performed with thiosulfate is shown below.
AgBr (solid) + 2 S 2 O 3 ions → Ag (S 2 O 3 ) 2
(Easily water-soluble complex)

すなわち、2個のチオ硫酸イオンS とゼラチン64中の銀イオン(AgBrからの銀イオン)が、チオ硫酸銀錯体を生成する。チオ硫酸銀錯体は水溶性が高いのでゼラチン64中から溶出されることになる。その結果、現像銀68が金属銀部70として定着されて残ることになる。この金属銀部70にてメッシュパターンMが構成されることになる。 That is, two thiosulfate ions S 2 O 3 and silver ions in gelatin 64 (silver ions from AgBr) form a silver thiosulfate complex. Since the silver thiosulfate complex has high water solubility, it is eluted from the gelatin 64. As a result, the developed silver 68 is fixed and remains as the metallic silver portion 70. The mesh pattern M is constituted by the metal silver portion 70.

したがって、現像工程は、潜像に対し還元剤を反応させて現像銀68を析出させる工程であり、定着工程は、現像銀68にならなかったハロゲン化銀62を水に溶出させる工程である。詳細は、T.H.James, The Theory of the Photographic Process, 4th ed., Macmillian Publishing Co.,Inc, NY,Chapter15, pp.438−442. 1977を参照されたい。   Therefore, the development step is a step of causing the reducing agent to react with the latent image to precipitate the developed silver 68, and the fixing step is a step of eluting the silver halide 62 that has not become the developed silver 68 into water. For details, see T.W. H. James, The Theory of the Photographic Process, 4th ed. , Macmillan Publishing Co. , Inc, NY, Chapter 15, pp. 438-442. See 1977.

なお、現像処理は多くの場合アルカリ性溶液で行われることから、現像処理工程から定着処理工程に入る際に、現像処理にて付着したアルカリ溶液が定着処理溶液(多くの場合は酸性溶液である)に持ち込まれるため、定着処理液の活性が変わるといった問題がある。また、現像処理槽を出た後、膜に残留した現像液により意図しない現像反応が更に進行する懸念もある。そこで、現像処理後で、定着処理工程に入る前に、酢酸(酢)溶液等の停止液で銀塩感光層66を中和もしくは酸性化することが好ましい。   In many cases, the development process is performed with an alkaline solution. Therefore, when entering the fixing process from the development process, the alkaline solution adhered in the development process is a fixing process solution (in many cases, an acidic solution). Therefore, there is a problem that the activity of the fixing processing solution changes. Further, there is a concern that an unintended development reaction may further progress due to the developer remaining in the film after leaving the development processing tank. Therefore, it is preferable to neutralize or acidify the silver salt photosensitive layer 66 with a stop solution such as an acetic acid (vinegar) solution after the development processing and before entering the fixing processing step.

そして、図23Eに示すように、例えばめっき処理(無電解めっきや電気めっきを単独ないし組み合わせる)を行って、金属銀部70のみに導電性金属74を担持させることによって、金属銀部70と該金属銀部70に担持された導電性金属74にてメッシュパターンMを形成するようにしてもよい。   Then, as shown in FIG. 23E, for example, by performing a plating process (single or combination of electroless plating and electroplating) and supporting the conductive metal 74 only on the metal silver part 70, the metal silver part 70 and the metal silver part 70 The mesh pattern M may be formed by the conductive metal 74 carried on the metal silver part 70.

ここで、上述した銀塩感光層66を用いた方法(銀塩写真技術)と、フォトレジストを用いた方法(レジスト技術)との違いを説明する。   Here, the difference between the above-described method using the silver salt photosensitive layer 66 (silver salt photographic technology) and the method using photoresist (resist technology) will be described.

レジスト技術では、露光処理により光重合開始剤が光を吸収して反応が始まりフォトレジスト膜(樹脂)自体が重合反応して現像液に対する溶解性の増大又は減少させ、現像処理により露光部分又は未露光部分の樹脂を除去する。なお、レジスト技術で現像液とよばれる液は還元剤を含まず、未反応の樹脂成分を溶解する例えばアルカリ性溶液である。一方、本発明の銀塩写真技術の露光処理では上記に記載したように、光を受けた部位のハロゲン化銀62内において発生した光電子と銀イオンからいわゆる「潜像」と呼ばれる微小な銀核が形成され、その潜像銀核が現像処理(この場合の現像液は必ず現像主薬と呼ばれる還元剤を含む)により増幅されて可視化された銀画像になる。このように、レジスト技術と銀塩写真技術とでは、露光処理から現像処理での反応が全く異なる。   In resist technology, the photopolymerization initiator absorbs light by the exposure process and the reaction starts, and the photoresist film (resin) itself undergoes a polymerization reaction to increase or decrease the solubility in the developer. The exposed resin is removed. Note that a solution called a developing solution in the resist technique is an alkaline solution that does not contain a reducing agent and dissolves an unreacted resin component, for example. On the other hand, in the exposure processing of the silver salt photographic technique of the present invention, as described above, fine silver nuclei called so-called “latent image” are formed from photoelectrons and silver ions generated in the silver halide 62 at the site receiving light. The latent image silver nuclei are amplified by a development process (in this case, the developer always contains a reducing agent called a developing agent) to become a visualized silver image. Thus, the resist technology and the silver salt photographic technology have completely different reactions from exposure processing to development processing.

レジスト技術の現像処理では露光部分又は未露光部分の重合反応しなかった樹脂部分が除去される。一方、銀塩写真技術の現像処理では、潜像を触媒核にして現像液に含まれる現像主薬と呼ばれる還元剤により還元反応がおこり、目に見える大きさまで現像銀68が成長するものであって、未露光部分のゼラチン64の除去は行われない。このように、レジスト技術と銀塩写真技術とでは、現像処理での反応も全く異なる。   In the development process of the resist technique, a resin part that has not undergone a polymerization reaction in an exposed part or an unexposed part is removed. On the other hand, in the development processing of the silver salt photographic technology, the developed silver 68 grows to a visible size by causing a reduction reaction with a reducing agent called a developing agent contained in the developer using the latent image as a catalyst nucleus. The gelatin 64 in the unexposed part is not removed. In this way, the resist technology and the silver salt photographic technology have completely different reactions in development processing.

なお、未露光部分のゼラチン64に含まれるハロゲン化銀62は、その後の定着処理によって溶出されるものであって、ゼラチン64自体の除去は行われない。   Note that the silver halide 62 contained in the unexposed portion of the gelatin 64 is eluted by the subsequent fixing process, and the gelatin 64 itself is not removed.

このように、銀塩写真技術では反応(感光)主体がハロゲン化銀であるのに対し、レジスト技術では光重合開始剤である。また、現像処理では、銀塩写真技術ではバインダ(ゼラチン64)は残存するが、レジスト技術ではバインダがなくなる。このような点で、銀塩写真技術とフォトレジスト技術は大きく相違する。   Thus, in silver salt photographic technology, the main reaction (photosensitive) is silver halide, whereas in resist technology, it is a photopolymerization initiator. In the development processing, the binder (gelatin 64) remains in the silver salt photographic technique, but the binder disappears in the resist technique. In this respect, the silver salt photographic technique and the photoresist technique are greatly different.

その他の製造方法(第2の製造方法)としては、図24Aに示すように、例えば透明フイルム基材56上に形成された銅箔75上のフォトレジスト膜76を形成して感光材料を得る。その後、感光材料に対して露光を行う。すなわち、図10に示すパターン生成処理を経て得られた露光パターンに対応したマスクパターンを介して光をフォトレジスト膜76に照射する。あるいは、フォトレジスト膜76に対するデジタル書込み露光によって、フォトレジスト膜76に、パターン生成装置にて生成された露光パターンを露光する。その後、現像処理することで、透明フイルム基材56上に導電部50に対応したレジストパターン78を形成し、図24Bに示すように、レジストパターン78から露出する銅箔75をエッチングする。この段階で、透明フイルム基材56上に、銅箔75による導電部50(メッシュパターンM)が形成される。   As another manufacturing method (second manufacturing method), as shown in FIG. 24A, for example, a photoresist film 76 on a copper foil 75 formed on a transparent film substrate 56 is formed to obtain a photosensitive material. Thereafter, the photosensitive material is exposed. That is, the photoresist film 76 is irradiated with light through a mask pattern corresponding to the exposure pattern obtained through the pattern generation process shown in FIG. Alternatively, the exposure pattern generated by the pattern generator is exposed to the photoresist film 76 by digital writing exposure on the photoresist film 76. Thereafter, by developing, a resist pattern 78 corresponding to the conductive portion 50 is formed on the transparent film substrate 56, and the copper foil 75 exposed from the resist pattern 78 is etched as shown in FIG. 24B. At this stage, the conductive portion 50 (mesh pattern M) made of the copper foil 75 is formed on the transparent film substrate 56.

また、第3の製造方法としては、図25Aに示すように、透明フイルム基材56上に金属微粒子を含むペースト80を印刷し、図25Bに示すように、印刷されたペースト80に、金属めっき82を行うことによって、導電部50(メッシュパターンM)を形成するようにしてもよい。   As a third manufacturing method, as shown in FIG. 25A, a paste 80 containing fine metal particles is printed on a transparent film substrate 56, and as shown in FIG. 25B, a metal plating is applied to the printed paste 80. By performing step 82, the conductive portion 50 (mesh pattern M) may be formed.

あるいは、第4の製造方法として、図26に示すように、透明フイルム基材56に金属薄膜84をスクリーン印刷版又はグラビア印刷版によって印刷してメッシュパターンMを形成するようにしてもよい。   Alternatively, as a fourth manufacturing method, as shown in FIG. 26, the metal thin film 84 may be printed on the transparent film substrate 56 by a screen printing plate or a gravure printing plate to form the mesh pattern M.

次に、本実施の形態に係る導電性フイルム14において、特に好ましい態様であるハロゲン化銀写真感光材料を用いる導電性金属薄膜の作製方法を中心にして述べる。   Next, in the conductive film 14 according to the present embodiment, a method for producing a conductive metal thin film using a silver halide photographic light-sensitive material which is a particularly preferable embodiment will be mainly described.

本実施の形態に係る導電性フイルム14は、上述したように、透明フイルム基材56上に感光性ハロゲン化銀塩を含有する乳剤層を有する感光材料を露光し、現像処理を施すことによって露光部及び未露光部に、それぞれ金属銀部70及び透光部72を形成し、さらに金属銀部70に物理現像及び/又はめっき処理を施すことによって金属銀部70に導電性金属74を担持させることで製造することができる。   As described above, the conductive film 14 according to the present embodiment is exposed by exposing a photosensitive material having an emulsion layer containing a photosensitive silver halide salt on the transparent film substrate 56 and developing the photosensitive material. The metallic silver portion 70 and the transparent portion 72 are respectively formed in the exposed portion and the unexposed portion, and the metallic silver portion 70 is further subjected to physical development and / or plating treatment, thereby supporting the conductive metal 74 on the metallic silver portion 70. Can be manufactured.

本実施の形態に係る導電性フイルム14の形成方法は、感光材料と現像処理の形態によって、次の3通りの形態が含まれる。   The method for forming the conductive film 14 according to the present embodiment includes the following three forms depending on the photosensitive material and the form of development processing.

(1) 物理現像核を含まない感光性ハロゲン化銀黒白感光材料を化学現像又は物理現像して金属銀部70を該感光材料上に形成させる態様。 (1) An embodiment in which a photosensitive silver halide black-and-white photosensitive material that does not contain physical development nuclei is chemically or physically developed to form a metallic silver portion 70 on the photosensitive material.

(2) 物理現像核をハロゲン化銀乳剤層中に含む感光性ハロゲン化銀黒白感光材料を物理現像して金属銀部70を該感光材料上に形成させる態様。 (2) An embodiment in which a photosensitive silver halide black-and-white photosensitive material containing physical development nuclei in a silver halide emulsion layer is physically developed to form a metallic silver portion 70 on the photosensitive material.

(3) 物理現像核を含まない感光性ハロゲン化銀黒白感光材料と、物理現像核を含む非感光性層を有する受像シートを重ね合わせて拡散転写現像して金属銀部70を非感光性受像シート上に形成させる態様。 (3) A photosensitive silver halide black-and-white photosensitive material that does not contain physical development nuclei and an image-receiving sheet having a non-photosensitive layer that contains physical development nuclei are overlaid and diffused and transferred to develop a non-photosensitive image of the metallic silver portion 70. Form formed on a sheet.

上記(1)の態様は、一体型黒白現像タイプであり、感光材料上に透光性電磁波シールド膜や光透過性導電膜等の透光性導電膜が形成される。得られる現像銀は化学現像銀又は物理現像銀であり、高比表面のフィラメントである点で後続するめっき又は物理現像過程で活性が高い。   The aspect (1) is an integrated black-and-white development type, and a light-transmitting conductive film such as a light-transmitting electromagnetic wave shielding film or a light-transmitting conductive film is formed on the photosensitive material. The resulting developed silver is chemically developed silver or physical developed silver, and is highly active in the subsequent plating or physical development process in that it is a filament with a high specific surface.

上記(2)の態様は、露光部では、物理現像核近縁のハロゲン化銀が溶解されて現像核上に沈積することによって感光材料上に透光性導電膜が形成される。これも一体型黒白現像タイプである。現像作用が、物理現像核上への析出であるので高活性であるが、現像銀の比表面は小さい球形である。   In the above aspect (2), the light-transmitting conductive film is formed on the photosensitive material by dissolving the silver halide near the physical development nucleus and depositing it on the development nucleus in the exposed portion. This is also an integrated black-and-white development type. Although the development action is precipitation on the physical development nuclei, it is highly active, but the specific surface of developed silver is a small sphere.

上記(3)の態様は、未露光部においてハロゲン化銀が溶解されて拡散して受像シート上の現像核上に沈積することによって受像シート上に透光性導電膜が形成される。いわゆるセパレートタイプであって、受像シートを感光材料から剥離して用いる態様である。   In the aspect (3), the light-transmitting conductive film is formed on the image receiving sheet by dissolving and diffusing the silver halide in the unexposed area and depositing on the development nuclei on the image receiving sheet. This is a so-called separate type in which the image receiving sheet is peeled off from the photosensitive material.

いずれの態様もネガ型現像処理及び反転現像処理のいずれの現像を選択することもできる(拡散転写方式の場合は、感光材料としてオートポジ型感光材料を用いることによってネガ型現像処理が可能となる)。   In either embodiment, either negative development processing or reversal development processing can be selected (in the case of the diffusion transfer method, negative development processing is possible by using an auto-positive type photosensitive material as the photosensitive material). .

ここでいう化学現像、熱現像、溶解物理現像、拡散転写現像は、当業界で通常用いられている用語どおりの意味であり、写真化学の一般教科書、例えば菊地真一著「写真化学」(共立出版社、1955年刊行)、C.E.K.Mees編「The Theory of Photographic Process, 4th ed.」(Macmillan社、1977年刊行)に解説されている。本件は液処理に係る発明であるが、その他の現像方式として熱現像方式を適用する技術も参考にすることができる。例えば、特開2004−184693号、同2004−334077号、同2005−010752号の各公報、特願2004−244080号、同2004−085655号の各明細書に記載された技術を適用することができる。   The chemical development, thermal development, dissolution physical development, and diffusion transfer development mentioned here have the same meanings as are commonly used in the industry, and are general textbooks of photographic chemistry such as Shinichi Kikuchi, “Photochemistry” (Kyoritsu Publishing) (Published in 1955), C.I. E. K. It is described in “The Theory of Photographic Process, 4th ed.” Edited by Mees (Macmillan, 1977). Although this case is an invention related to liquid processing, a technique of applying a thermal development system as another development system can also be referred to. For example, the techniques described in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2004-184893, 2004-334077, and 2005-010752, and Japanese Patent Application Nos. 2004-244080 and 2004-085655 can be applied. it can.

(感光材料)
被めっき素材としての感光材料(感光ウエブ)は、例えば、透明フイルム基材56上に銀塩(例えばハロゲン化銀)が含有した銀塩含有層を設けた長尺フレキシブル基材である。また、銀塩含有層上には保護層が設けられていてもよく、この保護層とは例えばゼラチンや高分子ポリマーといったバインダからなる層を意味し、擦り傷防止や力学特性を改良する効果を発現するために銀塩含有層上に形成される。保護層の厚みは0.02〜20μmであることが好ましい。
(Photosensitive material)
The photosensitive material (photosensitive web) as the material to be plated is, for example, a long flexible base material in which a silver salt-containing layer containing a silver salt (for example, silver halide) is provided on the transparent film base material 56. Further, a protective layer may be provided on the silver salt-containing layer, and this protective layer means a layer made of a binder such as gelatin or a high molecular polymer, and exhibits effects of preventing scratches and improving mechanical properties. To be formed on the silver salt-containing layer. The thickness of the protective layer is preferably 0.02 to 20 μm.

これらの銀塩含有層や保護層の組成等は、銀塩写真フイルム、印画紙、印刷製版用フイルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に適用されるハロゲン化銀乳剤層(銀塩含有層)や保護層を適宜適用することができる。   The composition of these silver salt-containing layers and protective layers, such as silver halide photographic film, photographic paper, film for printing plate making, emulsion mask for photomask, silver halide emulsion layer (silver salt-containing layer) and protection Layers can be applied as appropriate.

特に、感光材料としては、銀塩写真フイルム(銀塩感光材料)が好ましく、白黒銀塩写真フィルム(白黒銀塩感光材料)が最もよい。また、銀塩含有層に適用する銀塩としては、特にハロゲン化銀が最も好適である。なお、感光材料の幅は、例えば、20cm以上とし、厚みは50〜200μmとすることがよい。   In particular, as the light-sensitive material, a silver salt photographic film (silver salt light-sensitive material) is preferable, and a black-and-white silver salt photographic film (black-and-white silver salt light-sensitive material) is the best. The silver salt applied to the silver salt-containing layer is most preferably silver halide. The width of the photosensitive material is, for example, 20 cm or more, and the thickness is preferably 50 to 200 μm.

[透明フイルム基材56]
本実施の形態の製造方法に用いられる透明フイルム基材56としては、フレキシブルなプラスチックフイルムを用いることができる。
[Transparent film substrate 56]
As the transparent film base material 56 used in the manufacturing method of the present embodiment, a flexible plastic film can be used.

上記プラスチックフイルムの原料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリビニルブチラール、ポリアミド、ポリエーテル、ポリスルフォン、ポリエーテルスルフォン、ポリカーボネート、ポリアリレート、ポリエーテルイミド、ポリエーテルケトン、ポリエーテルエーテルケトン、EVA等のポリオレフィン類、ポリカーボネート、トリアセチルセルロース(TAC)、アクリル樹脂、ポリイミド、又はアラミド等を用いることができる。   Examples of the raw material for the plastic film include polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polyvinyl butyral, polyamide, polyether, polysulfone, polyethersulfone, polycarbonate, and polyarylate. , Polyetherimide, polyetherketone, polyetheretherketone, polyolefins such as EVA, polycarbonate, triacetylcellulose (TAC), acrylic resin, polyimide, or aramid can be used.

本実施の形態においては、透光性、耐熱性、取り扱い易さ及び価格の点から、上記プラスチックフイルムはポリエチレンテレフタレート(PET)フイルム又はトリアセチルセルロース(TAC)フイルムであることが好ましい。   In the present embodiment, the plastic film is preferably a polyethylene terephthalate (PET) film or a triacetyl cellulose (TAC) film from the viewpoint of translucency, heat resistance, ease of handling, and price.

窓ガラス用の透明発熱体では透光性が要求されるため、透明フイルム基材56の透光性は高いことが望ましい。この場合におけるプラスチックフイルムの全可視光透過率は70〜100%が好ましく、さらに好ましくは85〜100%であり、特に好ましくは90〜100%である。また、本発明では、前記プラスチックフイルムとして本発明の目的を妨げない程度に着色したものを用いることもできる。   Since the transparent heating element for window glass requires translucency, it is desirable that the translucency of the transparent film substrate 56 is high. In this case, the total visible light transmittance of the plastic film is preferably 70 to 100%, more preferably 85 to 100%, and particularly preferably 90 to 100%. Moreover, in this invention, what was colored to such an extent that the objective of this invention is not prevented as said plastic film can also be used.

本実施の形態におけるプラスチックフイルムは、単層で用いることもできるが、2層以上を組み合わせた多層フイルムとして用いることも可能である。   The plastic film in this embodiment can be used as a single layer, but can also be used as a multilayer film in which two or more layers are combined.

[保護層]
用いられる感光材料は、後述する乳剤層上に保護層を設けていてもよい。本実施の形態において「保護層」とは、ゼラチンや高分子ポリマーといったバインダからなる層を意味し、擦り傷防止や力学特性を改良する効果を発現するために感光性を有する乳剤層に形成される。上記保護層は、めっき処理する上では設けない方が好ましく、設けるとしても薄い方が好ましい。その厚みは0.2μm以下が好ましい。上記保護層の塗布方法の形成方法は特に限定されず、公知の塗布方法を適宜選択することができる。
[Protective layer]
The photosensitive material used may be provided with a protective layer on the emulsion layer described later. In the present embodiment, the “protective layer” means a layer made of a binder such as gelatin or a high molecular polymer, and is formed on a photosensitive emulsion layer in order to exhibit an effect of preventing scratches or improving mechanical properties. . The protective layer is preferably not provided for the plating treatment, and even if provided, the protective layer is preferably thin. The thickness is preferably 0.2 μm or less. The formation method of the coating method of the said protective layer is not specifically limited, A well-known coating method can be selected suitably.

[乳剤層]
本実施の形態の製造方法に用いられる感光材料は、透明フイルム基材56上に、光センサとして銀塩を含む乳剤層(銀塩感光層66)を有することが好ましい。本実施の形態における乳剤層には、銀塩のほか、必要に応じて、染料、バインダ、溶媒等を含有することができる。
[Emulsion layer]
The photosensitive material used in the manufacturing method of the present embodiment preferably has an emulsion layer (silver salt photosensitive layer 66) containing a silver salt as a photosensor on the transparent film substrate 56. In addition to the silver salt, the emulsion layer in the present embodiment can contain a dye, a binder, a solvent, and the like as required.

<銀塩>
本実施の形態で用いられる銀塩としては、ハロゲン化銀等の無機銀塩が好ましく、特に銀塩がハロゲン化銀写真感光材料用ハロゲン化銀粒子の形で用いられるのが好ましい。ハロゲン化銀は、光センサとしての特性に優れている。
<Silver salt>
The silver salt used in the present embodiment is preferably an inorganic silver salt such as silver halide. In particular, the silver salt is preferably used in the form of silver halide grains for a silver halide photographic light-sensitive material. Silver halide is excellent in characteristics as an optical sensor.

ハロゲン化銀写真感光材料の写真乳剤の形で好ましく用いられるハロゲン化銀について説明する。   The silver halide preferably used in the form of a photographic emulsion of the silver halide photographic light-sensitive material will be described.

本実施の形態では、光センサとして機能させるためにハロゲン化銀を使用することが好ましく、ハロゲン化銀に関する銀塩写真フイルムや印画紙、印刷製版用フイルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等で用いられる技術は、本実施の形態においても用いることができる。   In the present embodiment, it is preferable to use silver halide in order to function as an optical sensor, and a technique used for silver halide photographic film, photographic paper, printing plate making film, emulsion mask for photomask, etc. relating to silver halide. Can also be used in this embodiment.

上記ハロゲン化銀に含有されるハロゲン元素は、塩素、臭素、ヨウ素及びフッ素のいずれであってもよく、これらの組み合わせでもよい。例えば、AgCl、AgBr、AgIを主体としたハロゲン化銀が好ましく用いられ、さらにAgBrやAgClを主体としたハロゲン化銀が好ましく用いられる。塩臭化銀、沃塩臭化銀、沃臭化銀もまた好ましく用いられる。より好ましくは、塩臭化銀、臭化銀、沃塩臭化銀、沃臭化銀であり、最も好ましくは、塩化銀50モル%以上を含有する塩臭化銀、沃塩臭化銀が用いられる。   The halogen element contained in the silver halide may be any of chlorine, bromine, iodine and fluorine, or a combination thereof. For example, silver halide mainly composed of AgCl, AgBr, and AgI is preferably used, and silver halide mainly composed of AgBr or AgCl is preferably used. Silver chlorobromide, silver iodochlorobromide and silver iodobromide are also preferably used. More preferred are silver chlorobromide, silver bromide, silver iodochlorobromide and silver iodobromide, and most preferred are silver chlorobromide and silver iodochlorobromide containing 50 mol% or more of silver chloride. Used.

なお、ここで、「AgBr(臭化銀)を主体としたハロゲン化銀」とは、ハロゲン化銀組成中に占める臭化物イオンのモル分率が50%以上のハロゲン化銀をいう。このAgBrを主体としたハロゲン化銀粒子は、臭化物イオンのほかに沃化物イオン、塩化物イオンを含有していてもよい。   Here, “silver halide mainly composed of AgBr (silver bromide)” refers to silver halide in which the molar fraction of bromide ions in the silver halide composition is 50% or more. The silver halide grains mainly composed of AgBr may contain iodide ions and chloride ions in addition to bromide ions.

本実施の形態に用いられるハロゲン化銀乳剤は、VIII族、VIIB族に属する金属を含有してもよい。特に、4以上の階調を得るためや低かぶりを達成するために、ロジウム化合物、イリジウム化合物、ルテニウム化合物、鉄化合物、オスミウム化合物等を含有することが好ましい。   The silver halide emulsion used in this embodiment may contain a metal belonging to Group VIII or Group VIIB. In particular, it is preferable to contain a rhodium compound, an iridium compound, a ruthenium compound, an iron compound, an osmium compound or the like in order to obtain a gradation of 4 or more or to achieve low fog.

また、高感度化のためにはK4〔Fe(CN)6〕やK4〔Ru(CN)6〕、K3〔Cr(CN)6〕のごとき六シアノ化金属錯体のドープが有利に行われる。 For high sensitivity, doping with a metal hexacyanide complex such as K 4 [Fe (CN) 6 ], K 4 [Ru (CN) 6 ] or K 3 [Cr (CN) 6 ] is advantageous. Done.

これらの化合物の添加量はハロゲン化銀1モル当り10-10〜10-2モル/モルAgであることが好ましく、10-9〜10-3モル/モルAgであることがさらに好ましい。 The amount of these compounds added is preferably 10 −10 to 10 −2 mol / mol Ag per mol of silver halide, more preferably 10 −9 to 10 −3 mol / mol Ag.

その他、本実施の形態では、Pd(II)イオン及び/又はPd金属を含有するハロゲン化銀も好ましく用いることができる。Pdはハロゲン化銀粒子内に均一に分布していてもよいが、ハロゲン化銀粒子の表層近傍に含有させることが好ましい。ここで、Pdが「ハロゲン化銀粒子の表層近傍に含有する」とは、ハロゲン化銀粒子の表面から深さ方向に50nm以内において、他層よりもパラジウムの含有率が高い層を有することを意味する。   In addition, in the present embodiment, silver halide containing Pd (II) ions and / or Pd metal can be preferably used. Pd may be uniformly distributed in the silver halide grains, but is preferably contained in the vicinity of the surface layer of the silver halide grains. Here, Pd “contains in the vicinity of the surface layer of the silver halide grains” means that the Pd content is higher than the other layers within 50 nm in the depth direction from the surface of the silver halide grains. means.

このようなハロゲン化銀粒子は、ハロゲン化銀粒子を形成する途中でPdを添加することにより作製することができ、銀イオンとハロゲンイオンとをそれぞれ総添加量の50%以上添加した後に、Pdを添加することが好ましい。また、Pd(II)イオンを後熟時に添加する等の方法でハロゲン化銀表層に存在させることも好ましい。   Such silver halide grains can be prepared by adding Pd in the course of forming silver halide grains. After adding silver ions and halogen ions to 50% or more of the total addition amount, Pd Is preferably added. It is also preferred that Pd (II) ions be present in the surface layer of the silver halide by a method such as addition at the time of post-ripening.

このPd含有ハロゲン化銀粒子は、物理現像や無電解めっきの速度を速め、所望の発熱体の生産効率を上げ、生産コストの低減に寄与する。Pdは、無電解めっき触媒としてよく知られて用いられているが、本発明では、ハロゲン化銀粒子の表層にPdを偏在させることが可能なため、極めて高価なPdを節約することが可能である。   The Pd-containing silver halide grains increase the speed of physical development and electroless plating, increase the production efficiency of a desired heating element, and contribute to the reduction of production costs. Pd is well known and used as an electroless plating catalyst. However, in the present invention, Pd can be unevenly distributed on the surface layer of silver halide grains, so that extremely expensive Pd can be saved. is there.

本実施の形態において、ハロゲン化銀に含まれるPdイオン及び/又はPd金属の含有率は、ハロゲン化銀の、銀のモル数に対して10-4〜0.5モル/モルAgであることが好ましく、0.01〜0.3モル/モルAgであることがさらに好ましい。 In the present embodiment, the content of Pd ions and / or Pd metal contained in the silver halide is 10 −4 to 0.5 mol / mol Ag with respect to the number of moles of silver in the silver halide. It is more preferable that it is 0.01-0.3 mol / mol Ag.

使用するPd化合物の例としては、PdCl4や、Na2PdCl4等が挙げられる。 Examples of the Pd compound to be used include PdCl 4 and Na 2 PdCl 4 .

本実施の形態では、さらに光センサとしての感度を向上させるため、写真乳剤で行われる化学増感を施すこともできる。化学増感の方法としては、硫黄増感、セレン増感、テルル増感等のカルコゲン増感、金増感等の貴金属増感、還元増感等を用いることができる。これらは、単独又は組み合わせて用いられる。上記化学増感の方法を組み合わせて使用する場合には、例えば、硫黄増感法と金増感法、硫黄増感法とセレン増感法と金増感法、硫黄増感法とテルル増感法と金増感法等の組み合わせが好ましい。   In this embodiment, in order to further improve the sensitivity as an optical sensor, chemical sensitization performed with a photographic emulsion can be performed. As the chemical sensitization method, sulfur sensitization, selenium sensitization, chalcogen sensitization such as tellurium sensitization, noble metal sensitization such as gold sensitization, reduction sensitization and the like can be used. These are used alone or in combination. When the above chemical sensitization methods are used in combination, for example, sulfur sensitization method and gold sensitization method, sulfur sensitization method and selenium sensitization method and gold sensitization method, sulfur sensitization method and tellurium sensitization. A combination of a method and a gold sensitization method is preferable.

<バインダ>
乳剤層には、銀塩粒子を均一に分散させ、且つ、乳剤層と支持体との密着を補助する目的でバインダを用いることができる。本発明において、上記バインダとしては、非水溶性ポリマー及び水溶性ポリマーのいずれもバインダとして用いることができるが、水溶性ポリマーを用いることが好ましい。
<Binder>
In the emulsion layer, a binder can be used for the purpose of uniformly dispersing silver salt grains and assisting the adhesion between the emulsion layer and the support. In the present invention, as the binder, both a water-insoluble polymer and a water-soluble polymer can be used as a binder, but a water-soluble polymer is preferably used.

上記バインダとしては、例えば、ゼラチン、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリビニルピロリドン(PVP)、澱粉等の多糖類、セルロース及びその誘導体、ポリエチレンオキサイド、ポリサッカライド、ポリビニルアミン、キトサン、ポリリジン、ポリアクリル酸、ポリアルギン酸、ポリヒアルロン酸、カルボキシセルロース等が挙げられる。これらは、官能基のイオン性によって中性、陰イオン性、陽イオン性の性質を有する。   Examples of the binder include polysaccharides such as gelatin, polyvinyl alcohol (PVA), polyvinyl pyrrolidone (PVP), starch, cellulose and derivatives thereof, polyethylene oxide, polysaccharides, polyvinylamine, chitosan, polylysine, polyacrylic acid, poly Examples include alginic acid, polyhyaluronic acid, and carboxycellulose. These have neutral, anionic, and cationic properties depending on the ionicity of the functional group.

乳剤層中に含有されるバインダの含有量は、特に限定されず、分散性と密着性を発揮し得る範囲で適宜決定することができる。例えば、乳剤層中に含有されるバインダの含有量として、銀塩感光層66中のAg/バインダ体積比が1/4以上になるように調節することが好ましく、1/2以上になるように調節することがさらに好ましい。   The content of the binder contained in the emulsion layer is not particularly limited, and can be appropriately determined as long as dispersibility and adhesion can be exhibited. For example, the binder content in the emulsion layer is preferably adjusted so that the Ag / binder volume ratio in the silver salt photosensitive layer 66 is ¼ or more, and is ½ or more. It is further preferable to adjust.

<溶媒>
上記乳剤層の形成に用いられる溶媒は、特に限定されるものではないが、例えば、水、有機溶媒(例えば、メタノール等のアルコール類、アセトン等のケトン類、ホルムアミド等のアミド類、ジメチルスルホキシド等のスルホキシド類、酢酸エチル等のエステル類、エーテル類等)、イオン性液体、及びこれらの混合溶媒を挙げることができる。
<Solvent>
The solvent used for the formation of the emulsion layer is not particularly limited. For example, water, organic solvents (for example, alcohols such as methanol, ketones such as acetone, amides such as formamide, dimethyl sulfoxide, etc. Sulphoxides, esters such as ethyl acetate, ethers, etc.), ionic liquids, and mixed solvents thereof.

本発明の乳剤層に用いられる溶媒の含有量は、前記乳剤層に含まれる銀塩、バインダ等の合計の質量に対して30〜90質量%の範囲であり、50〜80質量%の範囲であることが好ましい。   The content of the solvent used in the emulsion layer of the present invention is in the range of 30 to 90% by mass and in the range of 50 to 80% by mass with respect to the total mass of silver salt, binder and the like contained in the emulsion layer. Preferably there is.

次に、導電部50(メッシュパターンM)を形成するための各工程について説明する。   Next, each process for forming the electroconductive part 50 (mesh pattern M) is demonstrated.

[露光]
本実施の形態では、露光部18により、透明フイルム基材56上に設けられた銀塩感光層66を有する感光材料への露光が行われる。露光は、電磁波を用いて行うことができる。電磁波としては、例えば、可視光線、紫外線等の光、X線等の放射線等が挙げられる。さらに露光には波長分布を有する光源を利用してもよく、特定の波長の光源を用いてもよい。
[exposure]
In the present embodiment, the exposure unit 18 exposes the photosensitive material having the silver salt photosensitive layer 66 provided on the transparent film substrate 56. The exposure can be performed using electromagnetic waves. Examples of the electromagnetic wave include light such as visible light and ultraviolet light, and radiation such as X-rays. Furthermore, a light source having a wavelength distribution may be used for exposure, or a light source having a specific wavelength may be used.

パターン像を形成させる露光方式としては、均一光をマスクパターンを介して感光面に照射してマスクパターンを像様形成させる面露光方式と、レーザ光等のビームを走査してパターン状の照射部を感光性面上に形成させる走査露光方式とがある。   As an exposure method for forming a pattern image, a surface exposure method for irradiating a photosensitive surface with uniform light through a mask pattern to form a mask pattern imagewise, and a pattern irradiation unit by scanning a beam such as a laser beam There is a scanning exposure method in which is formed on the photosensitive surface.

露光は、種々のレーザビームを用いて行うことができる。例えば、本実施の形態における露光は、ガスレーザ、発光ダイオード、半導体レーザ、半導体レーザ又は半導体レーザを励起光源に用いた固体レーザと非線形光学結晶を組み合わせた第2高調波発光光源(SHG)等の単色高密度光を用いた走査露光方式を好ましく用いることができ、さらに、KrFエキシマレーザ、ArFエキシマレーザ、F2レーザ等も用いることができる。システムをコンパクトで、安価なものにするために、露光は、半導体レーザ、半導体レーザあるいは固体レーザと非線形光学結晶を組合わせた第2高調波発生光源(SHG)を用いて行うことがより好ましい。特に、コンパクトで、安価、さらに寿命が長く、安定性が高い装置を設計するためには、露光は半導体レーザを用いて行うことが最も好ましい。   The exposure can be performed using various laser beams. For example, the exposure in this embodiment is performed by using a monochromatic light source such as a gas laser, a light emitting diode, a semiconductor laser, a semiconductor laser, or a second harmonic light source (SHG) that combines a solid state laser using a semiconductor laser as a pumping light source and a nonlinear optical crystal. A scanning exposure method using high-density light can be preferably used, and a KrF excimer laser, ArF excimer laser, F2 laser, or the like can also be used. In order to make the system compact and inexpensive, exposure is more preferably performed using a semiconductor laser, a semiconductor laser, or a second harmonic generation light source (SHG) that combines a solid-state laser and a nonlinear optical crystal. In particular, in order to design a compact, inexpensive, long-life and high-stability device, it is most preferable to perform exposure using a semiconductor laser.

銀塩感光層66をパターン状に露光する方法は、レーザビームによる走査露光が好ましい。特に特開2000−39677号公報記載のキャプスタン方式のレーザ走査露光装置が好ましく、さらには該キャプスタン方式においてポリゴンミラーの回転によるビーム走査の代わりに特開2004−1224号公報記載のDMDを光ビーム走査系に用いることも好ましい。特に、3m以上の長尺フレキシブルフイルムヒータを作製する場合には、湾曲した露光ステージ上において、感光材料を搬送しながらレーザビームで露光するのが好ましい。   The method of exposing the silver salt photosensitive layer 66 in a pattern is preferably scanning exposure using a laser beam. In particular, a capstan type laser scanning exposure apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-39677 is preferable. Further, in this capstan method, a DMD described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-1224 is optically used instead of beam scanning by rotation of a polygon mirror. It is also preferable to use it for a beam scanning system. In particular, when a long flexible film heater having a length of 3 m or more is produced, it is preferable to perform exposure with a laser beam while conveying the photosensitive material on a curved exposure stage.

メッシュパターンMは、後述するように、実質的に平行の直線状細線が交叉してなす三角形、四角形(菱形、正方形等)、六角形等の格子紋様や、平行な直線やジグザグ線、波線等、電圧の印加される電極間に電流を流せる構造であれば特に限定されない。   As will be described later, the mesh pattern M includes lattice patterns such as triangles, quadrilaterals (diamonds, squares, etc.) and hexagons formed by intersecting substantially parallel straight thin lines, parallel straight lines, zigzag lines, wavy lines, etc. The structure is not particularly limited as long as a current can flow between electrodes to which a voltage is applied.

[現像処理]
本実施の形態では、乳剤層を露光した後、さらに現像処理が行われる。現像処理は、銀塩写真フイルムや印画紙、印刷製版用フイルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に用いられる通常の現像処理の技術を用いることができる。現像液については特に限定はしないが、PQ現像液、MQ現像液、MAA現像液等を用いることもでき、市販品では、例えば、富士フイルム社処方のCN−16、CR−56、CP45X、FD−3、パピトール、KODAK社処方のC−41、E−6、RA−4、D−19、D−72等の現像液、又はそのキットに含まれる現像液を用いることができる。
[Development processing]
In this embodiment, after the emulsion layer is exposed, development processing is further performed. The development processing can be performed by a normal development processing technique used for silver salt photographic film, photographic paper, printing plate-making film, photomask emulsion mask, and the like. The developer is not particularly limited, but a PQ developer, MQ developer, MAA developer and the like can also be used. Commercially available products include, for example, CN-16, CR-56, CP45X, and FD prescribed by FUJIFILM Corporation. -3, Papitol, a developer such as C-41, E-6, RA-4, D-19, D-72, etc. formulated by KODAK, or a developer included in the kit can be used.

リス現像液を用いることもできる。リス現像液としては、KODAK社処方のD85等を用いることができる。本発明では、上記の露光及び現像処理を行うことにより露光部に金属銀部70、好ましくはパターン状の金属銀部70が形成されると共に、未露光部に後述する透光部72が形成される。   Lith developer can also be used. As the lith developer, D85 or the like prescribed by KODAK can be used. In the present invention, by performing the above exposure and development processing, a metal silver portion 70, preferably a patterned metal silver portion 70 is formed in the exposed portion, and a light transmitting portion 72 described later is formed in the unexposed portion. The

現像処理で用いられる現像液は、画質を向上させる目的で、画質向上剤を含有することができる。画質向上剤としては、例えばベンゾトリアゾール等の含窒素へテロ環化合物を挙げることができる。また、リス現像液を利用する場合、特に、ポリエチレングリコールを使用することも好ましい。   The developer used in the development process can contain an image quality improver for the purpose of improving the image quality. Examples of the image quality improver include nitrogen-containing heterocyclic compounds such as benzotriazole. Further, when a lith developer is used, it is particularly preferable to use polyethylene glycol.

現像処理後の露光部に含まれる金属銀の質量は、露光前の露光部に含まれていた銀の質量に対して50質量%以上の含有率であることが好ましく、80質量%以上であることがさらに好ましい。露光部に含まれる銀の質量が露光前の露光部に含まれていた銀の質量に対して50質量%以上であれば、高い導電性を得ることができるため好ましい。   The mass of the metallic silver contained in the exposed portion after the development treatment is preferably a content of 50% by mass or more, and 80% by mass or more with respect to the mass of silver contained in the exposed portion before exposure. More preferably. If the mass of silver contained in the exposed portion is 50% by mass or more based on the mass of silver contained in the exposed portion before exposure, it is preferable because high conductivity can be obtained.

本実施の形態における現像処理後の階調は、特に限定されるものではないが、4.0を超えることが好ましい。現像処理後の階調が4.0を超えると、透光部の透光性を高く保ったまま、導電性金属部の導電性を高めることができる。階調を4.0以上にする手段としては、例えば、前述のロジウムイオン、イリジウムイオンのドープが挙げられる。   The gradation after the development processing in the present embodiment is not particularly limited, but is preferably more than 4.0. When the gradation after the development processing exceeds 4.0, the conductivity of the conductive metal portion can be increased while keeping the translucency of the translucent portion high. Examples of means for setting the gradation to 4.0 or higher include the aforementioned doping of rhodium ions and iridium ions.

[物理現像及びめっき処理]
本実施の形態では、上述した露光及び現像処理により形成された金属銀部70の導電性を向上させる目的で、金属銀部70に導電性金属粒子を担持させるための物理現像及び/又はめっき処理を行ってもよい。本実施の形態では物理現像又はめっき処理のいずれか一方のみで導電性金属粒子を金属銀部70に担持させることが可能であるが、さらに物理現像とめっき処理とを組み合わせて導電性金属粒子を金属銀部70に担持させることもできる。
[Physical development and plating]
In the present embodiment, for the purpose of improving the conductivity of the metal silver portion 70 formed by the exposure and development processes described above, physical development and / or plating treatment for supporting the conductive metal particles on the metal silver portion 70. May be performed. In the present embodiment, it is possible to carry the conductive metal particles on the metal silver portion 70 by only one of the physical development and the plating treatment, but the conductive metal particles are further combined by combining physical development and the plating treatment. It can also be carried on the metallic silver part 70.

本実施の形態における「物理現像」とは、金属や金属化合物の核上に、銀イオン等の金属イオンを還元剤で還元して金属粒子を析出させることをいう。この物理現象は、インスタントB&Wフイルム、インスタントスライドフイルムや、印刷版製造等に利用されており、本発明ではその技術を用いることができる。   “Physical development” in the present embodiment means that metal particles such as silver ions are reduced by a reducing agent on metal or metal compound nuclei to deposit metal particles. This physical phenomenon is used for instant B & W film, instant slide film, printing plate manufacturing, and the like, and the technology can be used in the present invention.

[カレンダー処理]
現像処理済みの金属銀部70(全面金属銀部、金属メッシュパターン部又は金属配線パターン部)にカレンダー処理を施して平滑化するようにしてもよい。これによって金属銀部70の導電性が顕著に増大する。カレンダー処理は、カレンダーロールにより行うことができる。カレンダーロールは通常一対のロールからなる。
[Calendar processing]
The developed metal silver portion 70 (entire metal silver portion, metal mesh pattern portion, or metal wiring pattern portion) may be smoothed by performing a calendar process. As a result, the conductivity of the metallic silver part 70 is significantly increased. The calendar process can be performed by a calendar roll. The calendar roll usually consists of a pair of rolls.

カレンダー処理に用いられるロールとしては、エポキシ、ポリイミド、ポリアミド、ポリイミドアミド等のプラスチックロール又は金属ロールが用いられる。特に、両面に乳剤層を有する場合は、金属ロール同士で処理することが好ましい。片面に乳剤層を有する場合は、シワ防止の点から金属ロールとプラスチックロールの組み合わせとすることもできる。線圧力の上限値は1960N/cm(200kgf/cm、面圧に換算すると699.4kgf/cm2)以上、さらに好ましくは2940N/cm(300kgf/cm、面圧に換算すると935.8kgf/cm2)以上である。線圧力の上限値は、6880N/cm(700kgf/cm)以下である。 As a roll used for the calendar process, a plastic roll or a metal roll such as epoxy, polyimide, polyamide, polyimide amide or the like is used. In particular, when emulsion layers are provided on both sides, it is preferable to treat with metal rolls. When an emulsion layer is provided on one side, a combination of a metal roll and a plastic roll can be used from the viewpoint of preventing wrinkles. The upper limit of the linear pressure is 1960 N / cm (200 kgf / cm, converted to a surface pressure of 699.4 kgf / cm 2 ) or more, more preferably 2940 N / cm (300 kgf / cm, converted to a surface pressure of 935.8 kgf / cm 2). ) That's it. The upper limit of the linear pressure is 6880 N / cm (700 kgf / cm) or less.

カレンダーロールで代表される平滑化処理の適用温度は10℃(温調なし)〜100℃が好ましく、より好ましい温度は、金属メッシュパターンや金属配線パターンの画線密度や形状、バインダ種によって異なるが、おおよそ10℃(温調なし)〜50℃の範囲にある。   The application temperature of the smoothing treatment represented by the calender roll is preferably 10 ° C. (no temperature control) to 100 ° C., and the more preferable temperature varies depending on the line density and shape of the metal mesh pattern and metal wiring pattern, and the binder type. , Approximately 10 ° C. (no temperature control) to 50 ° C.

[蒸気接触処理]
カレンダー処理の直前あるいは直後に蒸気に接触させるとカレンダー処理による効果をより引き出すことができる。すなわち、導電性を著しく向上させることができる。使用する蒸気の温度は80℃以上が好ましく、100℃以上140℃以下がさらに好ましい。蒸気への接触時間は10秒から5分程度が好ましく、1分から5分がさらに好ましい。
[Vapor contact treatment]
The effect of the calendar process can be further brought out by bringing it into contact with steam immediately before or after the calendar process. That is, the conductivity can be significantly improved. The temperature of the steam used is preferably 80 ° C. or higher, more preferably 100 ° C. or higher and 140 ° C. or lower. The contact time with steam is preferably about 10 seconds to 5 minutes, more preferably 1 minute to 5 minutes.

なお、本発明は、下記表1及び表2に記載の公開公報及び国際公開パンフレットの技術と適宜組み合わせて使用することができる。「特開」、「号公報」、「号パンフレット」等の表記は省略する。   In addition, this invention can be used in combination with the technique of the publication | presentation gazette and international publication pamphlet which are described in following Table 1 and Table 2 suitably. Notations such as “JP,” “Gazette” and “No. Pamphlet” are omitted.

Figure 0005443244
Figure 0005443244

Figure 0005443244
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以下に、本発明の実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。なお、以下の実施例に示される材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更することができる。従って、本発明の範囲は以下に示す具体例により限定的に解釈されるべきものではない。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples of the present invention. In addition, the material, usage-amount, ratio, processing content, processing procedure, etc. which are shown in the following Examples can be changed suitably unless it deviates from the meaning of this invention. Accordingly, the scope of the present invention should not be construed as being limited by the specific examples shown below.

[ハロゲン化銀感光材料]
水媒体中のAg60gに対してゼラチン10.0gを含む、球相当径平均0.1μmの沃臭塩化銀粒子(I=0.2モル%、Br=40モル%)を含有する乳剤を調製した。
[Silver halide photosensitive material]
An emulsion containing 10.0 g of gelatin per 60 g of Ag in an aqueous medium and containing silver iodobromochloride grains having an average equivalent spherical diameter of 0.1 μm (I = 0.2 mol%, Br = 40 mol%) was prepared. .

また、この乳剤中にはK3Rh2Br9及びK2IrCl6を濃度が10-7(モル/モル銀)になるように添加し、臭化銀粒子にRhイオンとIrイオンをドープした。この乳剤にNa2PdCl4を添加し、さらに塩化金酸とチオ硫酸ナトリウムを用いて金硫黄増感を行った後、ゼラチン硬膜剤と共に、銀の塗布量が1g/m2となるようにポリエチレンテレフタレート(PET)上に塗布した。この際、Ag/ゼラチン体積比は1/2とした。 In this emulsion, K 3 Rh 2 Br 9 and K 2 IrCl 6 were added so as to have a concentration of 10 −7 (mol / mol silver), and silver bromide grains were doped with Rh ions and Ir ions. . After adding Na 2 PdCl 4 to this emulsion and further performing gold-sulfur sensitization with chloroauric acid and sodium thiosulfate, together with the gelatin hardener, the coating amount of silver is 1 g / m 2. It was coated on polyethylene terephthalate (PET). At this time, the volume ratio of Ag / gelatin was ½.

幅30cmのPET支持体に25cmの幅で20m分塗布を行ない、塗布の中央部24cmを残すように両端を3cmずつ切り落としてロール状のハロゲン化銀感光材料を得た。   Coating was performed for 20 m with a width of 25 cm on a PET support having a width of 30 cm, and both ends were cut off by 3 cm so as to leave a central portion of the coating, thereby obtaining a roll-shaped silver halide photosensitive material.

[露光パターンの作成]
本実施の形態で説明したSA法(図9等参照)を用いて、不規則に配置された配線からなるメッシュパターンM(図2A参照)を表す出力用画像データImgOutを作成した。
[Create exposure pattern]
Using the SA method (see FIG. 9 and the like) described in the present embodiment, output image data ImgOut representing a mesh pattern M (see FIG. 2A) composed of wirings arranged irregularly is created.

メッシュパターンMの設定条件は、全体透過率93%、透明フイルム基材56の厚さを20μm、金属細線54の幅を20μm、金属細線54の厚さを10μmとした。パターンサイズを縦横とも5mm、画像解像度を3500dpi(dot per inch)とした。シード点SDの初期位置はメルセンヌ・ツイスタを用いてランダムに決定し、ボロノイ図を用いて多角形状の各メッシュ領域を画定した。評価値EVPは画像データImgの色値L*、色値a*、色値b*に基づいて算出した。そして、同一の出力画像データImgOutを上下方向及び左右方向に並べて配置することで、周期的な露光パターンを形成した。 The setting conditions of the mesh pattern M were 93% overall transmittance, the thickness of the transparent film substrate 56 was 20 μm, the width of the fine metal wire 54 was 20 μm, and the thickness of the fine metal wire 54 was 10 μm. The pattern size was 5 mm both vertically and horizontally, and the image resolution was 3500 dpi (dot per inch). The initial position of the seed point SD was randomly determined using a Mersenne twister, and each polygonal mesh region was defined using a Voronoi diagram. The evaluation value EVP was calculated based on the color value L * , the color value a * , and the color value b * of the image data Img. A periodic exposure pattern was formed by arranging the same output image data ImgOut in the vertical direction and the horizontal direction.

一方、従来例に係るパターンPT1〜PT3(図27A〜図27C参照)を表す出力用画像データImgOutもあわせて作成した。   On the other hand, output image data ImgOut representing patterns PT1 to PT3 (see FIGS. 27A to 27C) according to the conventional example was also created.

[露光]
ハロゲン化銀感光材料に対する露光パターンの露光は、特開2004−1224号公報の発明の実施の形態記載のDMD(デジタル・ミラー・デバイス)を用いた露光ヘッドを25cm幅になるように並べ、感光材料の感光層上にレーザ光が結像するように露光ヘッド及び露光ステージを湾曲させて配置し、感材送り出し機構及び巻取り機構を取り付けた上、露光面のテンション制御及び巻取り、送り出し機構の速度変動が露光部分の速度に影響しないようにバッファ作用を有する撓みを設けた連続露光装置にて行った。露光の波長は400nmで、ビーム形は12μmの略正方形、及びレーザ光源の出力は100μJであった。
[exposure]
Exposure of the exposure pattern to the silver halide photosensitive material is performed by arranging exposure heads using DMD (digital mirror device) described in the embodiment of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-1224 so as to have a width of 25 cm. The exposure head and exposure stage are curved and arranged so that the laser beam forms an image on the photosensitive layer of the material, and the photosensitive material feeding mechanism and winding mechanism are attached, and the tension control and winding and feeding mechanism of the exposure surface are attached. The continuous exposure apparatus was provided with a bend having a buffering action so that the speed fluctuation of the above does not affect the speed of the exposed portion. The wavelength of exposure was 400 nm, the beam shape was approximately 12 μm, and the output of the laser light source was 100 μJ.

[現像液の組成]
現像液1リットル中に、以下の化合物が含まれる。
ハイドロキノン 20 g
亜硫酸ナトリウム 50 g
炭酸カリウム 40 g
エチレンジアミン・四酢酸 2 g
臭化カリウム 3 g
ポリエチレングリコール2000 1 g
水酸化カリウム 4 g
pH 10.3に調整
[Developer composition]
The following compounds are contained in 1 liter of developer.
Hydroquinone 20 g
Sodium sulfite 50 g
Potassium carbonate 40 g
Ethylenediamine tetraacetic acid 2 g
Potassium bromide 3 g
Polyethylene glycol 2000 1 g
Potassium hydroxide 4 g
Adjust to pH 10.3

[定着液の組成]
定着液1リットル中に、以下の化合物が含まれる。
チオ硫酸アンモニウム液(75%) 300 ml
亜硫酸アンモニウム・1水塩 25 g
1,3−ジアミノプロパン・四酢酸 8 g
酢酸 5 g
アンモニア水(27%) 1 g
pH 6.2に調整
[Fixing solution composition]
The following compounds are contained in 1 liter of the fixing solution.
Ammonium thiosulfate solution (75%) 300 ml
Ammonium sulfite monohydrate 25 g
1,3-diaminopropane tetraacetic acid 8 g
Acetic acid 5 g
Ammonia water (27%) 1 g
Adjust to pH 6.2

[現像処理]
上記処理剤を用いて露光済み感材を、富士フイルム社製自動現像機 FG−710PTSを用いて処理条件:現像35℃ 30秒、定着34℃ 23秒、水洗 流水(5L/分)の20秒処理で行った。
[Development processing]
The photosensitive material exposed using the above-mentioned processing agent is processed using an automatic developing machine FG-710PTS manufactured by FUJIFILM Corporation. Development conditions: development at 35 ° C. for 30 seconds, fixing at 34 ° C. for 23 seconds, washing water (5 L / min) for 20 seconds Made in the process.

ランニング条件として、感材の処理量を100m2/日で現像液の補充を500ml/m2、定着液を640ml/m2で3日間行った。このとき、めっき処理後の銅のパターンが12μm線幅300ミクロンピッチであることが確認された。 As running conditions, the processing amount of the photosensitive material was 100 m 2 / day, the developer was replenished at 500 ml / m 2 , and the fixing solution was 640 ml / m 2 for 3 days. At this time, it was confirmed that the copper pattern after the plating treatment had a 12 μm line width and a 300 micron pitch.

さらに、めっき液(硫酸銅0.06モル/L,ホルマリン0.22モル/L,トリエタノールアミン0.12モル/L,ポリエチレングリコール100ppm、黄血塩50ppm、α、α‘−ビピリジン20ppmを含有する、pH=12.5の無電解Cuめっき液)を用い、45℃にて無電解銅めっき処理を行った後、10ppmのFe(III)イオンを含有する水溶液で酸化処理を行ない、導電性フイルムの各試料を得た。   Further, plating solution (copper sulfate 0.06 mol / L, formalin 0.22 mol / L, triethanolamine 0.12 mol / L, polyethylene glycol 100 ppm, yellow blood salt 50 ppm, α, α′-bipyridine 20 ppm is contained. Electroless copper plating treatment at 45 ° C. using an electroless Cu plating solution having a pH of 12.5), followed by an oxidation treatment with an aqueous solution containing 10 ppm of Fe (III) ions. Each sample of film was obtained.

以下、パターンPT1〜PT3を有する導電性フイルム14を第1〜第3サンプルといい、メッシュパターンMを有する導電性フイルム14を第4サンプルという。   Hereinafter, the conductive film 14 having the patterns PT1 to PT3 is referred to as first to third samples, and the conductive film 14 having the mesh pattern M is referred to as fourth sample.

[評価]
(表面抵抗測定)
表面抵抗率の均一性を評価するために、導電性フイルム14の表面抵抗率をダイアインスツルメンツ社製ロレスターGP(型番MCP−T610)直列4探針プローブ(ASP)にて任意の10箇所測定した値の平均値である。
[Evaluation]
(Surface resistance measurement)
In order to evaluate the uniformity of the surface resistivity, the surface resistivity of the conductive film 14 was measured at 10 arbitrary points with a Lillestar GP (model number MCP-T610) series 4-probe probe (ASP) manufactured by Dia Instruments. Is the average value.

(ノイズ感の評価)
市販のカラー液晶ディスプレイ(画面サイズ4.7型、640×480ドット)を使用する。第1〜第4サンプルを貼付したタッチパネルを前記液晶ディスプレイに組み込み、液晶パネルの裏面から補助光としてのLEDランプを点灯させ、表示画面を観察し、ノイズ感の目視評価を行った。ノイズ感の視認性は液晶パネルの正面側から観察距離300mmで行った。
(Evaluation of noise)
A commercially available color liquid crystal display (screen size 4.7 type, 640 × 480 dots) is used. A touch panel to which the first to fourth samples were attached was incorporated in the liquid crystal display, an LED lamp as auxiliary light was turned on from the back surface of the liquid crystal panel, the display screen was observed, and a visual evaluation of the noise feeling was performed. The visibility of the noise feeling was performed at an observation distance of 300 mm from the front side of the liquid crystal panel.

[結果]
10枚の第1〜第4サンプルともに、表面抵抗率も透明電極として十分に実用化できるレベルであり、透光性も良好であった。特に、表面抵抗率のばらつきが最も小さかったのは、第4サンプル(本発明に係る導電性フイルム14)であった。
[result]
In all of the ten first to fourth samples, the surface resistivity was a level that could be sufficiently put into practical use as a transparent electrode, and the translucency was also good. In particular, the fourth sample (conductive film 14 according to the present invention) had the smallest variation in surface resistivity.

ノイズ感の視認性に関し、第4サンプル、第3サンプル、第1サンプル、第2サンプルの順番で高い評価結果が得られた。この順番は、図17に示すパワースペクトルのピークがなす面積が小さい順番に一致している。特に、第4サンプル(本発明に係る導電性フイルム14)でのノイズ感が一層目立たないことを確認した。   Regarding the visibility of the noise feeling, high evaluation results were obtained in the order of the fourth sample, the third sample, the first sample, and the second sample. This order matches the order in which the areas formed by the peaks of the power spectrum shown in FIG. 17 are small. In particular, it was confirmed that the noise sensation in the fourth sample (conductive film 14 according to the present invention) was less noticeable.

このように、各メッシュの重心スペクトルSpccに関して、所定の空間周波数BFよりも高い空間周波数帯域側における平均強度PHが、前記所定の空間周波数よりも低い空間周波数帯域側における平均強度PLよりも大きくなるように、メッシュパターンMが形成されているので、低空間周波数帯域側と比べて高空間周波数帯域側のノイズ量が相対的に大きくなっている。人間の視覚は、低空間周波数帯域での応答特性は高いが、中〜高空間周波数帯域において応答特性が急激に低下する性質を有するので、人間にとって視覚的に感じられるノイズ感が減少する。これにより、導電性フイルム14が有するパターンに起因するノイズ粒状感を低減可能であり、観察対象物の視認性を大幅に向上できる。また、多角形状のメッシュを複数備えているので、断裁後における各配線(金属細線54)の断面形状も略一定であり、安定した通電性能を有する。 Thus, with respect to the center-of-gravity spectrum Spcc of each mesh, the average intensity P H on the spatial frequency band side higher than the predetermined spatial frequency BF is higher than the average intensity P L on the spatial frequency band side lower than the predetermined spatial frequency. Since the mesh pattern M is formed so as to increase, the amount of noise on the high spatial frequency band side is relatively larger than that on the low spatial frequency band side. Human vision has a high response characteristic in the low spatial frequency band, but has a property that the response characteristic sharply decreases in the medium to high spatial frequency band, so that a sense of noise visually felt by humans is reduced. Thereby, the noise graininess resulting from the pattern which the electroconductive film 14 has can be reduced, and the visibility of an observation target object can be improved significantly. In addition, since a plurality of polygonal meshes are provided, the cross-sectional shape of each wiring (the metal thin wire 54) after cutting is substantially constant, and has stable energization performance.

なお、この発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、この発明の主旨を逸脱しない範囲で自由に変更できることは勿論である。   In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, Of course, it can change freely in the range which does not deviate from the main point of this invention.

10…製造装置 12…画像処理装置
14…導電性フイルム 16…光
18…露光部 20…入力部
24…記憶部 28…初期位置選択部
30…更新候補位置決定部 32…露光データ変換部
36…画像情報推定部 38…画像データ作成部
40…メッシュ模様評価部 42…データ更新指示部
50…導電部 52…開口部
54…金属細線 56…透明フイルム基材
57…フィルタ部材 59…ブラックマトリクス
60…単位画素 62…ハロゲン化銀
64…ゼラチン 66…銀塩感光層
68…現像銀 70…金属銀部
72…透光部 74…導電性金属
75…箔 76…フォトレジスト膜
78…レジストパターン 80…ペースト
82…金属めっき 84…金属薄膜
100…FFT演算部 102…評価値算出部
108…カウンタ 110…擬似温度管理部
112…更新確率算出部 114…位置更新判定部
116…出力用画像データ決定部 120…設定画面
122、126…プルダウンメニュー 124、128…表示欄
130、132、134、136、138、140、142…テキストボックス
144、146…ボタン 200、202…二次元画像領域
Img、ImgInit…画像データ Imgc…重心画像データ
ImgOut…出力用画像データ M…メッシュパターン
PT1〜PT3…パターン SD…シード点
SDd、SDNd、SDSd、SPd…位置データ
SDN…第1シード点 SDS…第2シード点
SP…候補点 Spc…スペクトル
Spcc…重心スペクトル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Manufacturing apparatus 12 ... Image processing apparatus 14 ... Conductive film 16 ... Light 18 ... Exposure part 20 ... Input part 24 ... Memory | storage part 28 ... Initial position selection part 30 ... Update candidate position determination part 32 ... Exposure data conversion part 36 ... Image information estimation unit 38 ... Image data creation unit 40 ... Mesh pattern evaluation unit 42 ... Data update instruction unit 50 ... Conductive unit 52 ... Opening 54 ... Metal thin wire 56 ... Transparent film substrate 57 ... Filter member 59 ... Black matrix 60 ... the unit pixel 62 ... silver halide 64 ... gelatin 66 ... photosensitive silver salt layer 68 ... ... developed silver 70 ... metallic silver portion 72 ... light transmission portion 74 ... conductive metal 75 ... copper foil 76 the photoresist film 78 ... resist pattern 80 ... Paste 82 ... Metal plating 84 ... Metal thin film 100 ... FFT operation unit 102 ... Evaluation value calculation unit 108 ... Counter 110 ... Pseudo temperature management unit 112 ... More New probability calculation unit 114 ... position update determination unit 116 ... output image data determination unit 120 ... setting screen 122, 126 ... pull-down menu 124, 128 ... display fields 130, 132, 134, 136, 138, 140, 142 ... text boxes 144, 146 ... button 200, 202 ... two-dimensional image region Img, ImgInit ... image data Imgc ... centroid image data ImgOut ... output image data M ... mesh pattern PT1-PT3 ... pattern SD ... seed point SDd, SDNd, SDSd, SPd ... position data SDN ... first seed point SDS ... second seed point SP ... candidate point Spc ... spectrum Spcc ... centroid spectrum

Claims (3)

多角形状のメッシュを複数備えるメッシュパターンを有する透明導電膜であって、
各前記メッシュの重心位置分布のパワースペクトルに関して、所定の空間周波数よりも高い空間周波数帯域側における平均強度が、前記所定の空間周波数よりも低い空間周波数帯域側における平均強度よりも大きくなるように、前記メッシュパターンが形成されている
ことを特徴とする透明導電膜。
A transparent conductive film having a mesh pattern comprising a plurality of polygonal meshes,
Regarding the power spectrum of the centroid position distribution of each mesh, the average intensity on the spatial frequency band side higher than the predetermined spatial frequency is larger than the average intensity on the spatial frequency band side lower than the predetermined spatial frequency. The transparent conductive film, wherein the mesh pattern is formed.
請求項1記載の透明導電膜において、
前記所定の空間周波数は、人間の視覚応答特性が最大応答の5%に相当する空間周波数である
ことを特徴とする透明導電膜。
The transparent conductive film according to claim 1,
The transparent conductive film, wherein the predetermined spatial frequency is a spatial frequency corresponding to 5% of a maximum response of human visual response characteristics.
請求項2記載の透明導電膜において、
前記人間の視覚応答特性は、明視距離が300mmでのDooley−Shaw関数に基づいて得られる視覚応答特性であり、
前記所定の空間周波数は6cycle/mmである
ことを特徴とする透明導電膜。
The transparent conductive film according to claim 2,
The human visual response characteristic is a visual response characteristic obtained based on a Dooley-Shaw function with a clear visual distance of 300 mm,
The said predetermined spatial frequency is 6 cycle / mm. The transparent conductive film characterized by the above-mentioned.
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