JP5426638B2 - Mobile communication terminal test system and test method - Google Patents

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本発明は、試験対象の移動体通信端末に、RFの試験信号をレベルを変化させて入力することにより、この移動体通信端末の試験を行う試験システム及び試験方法に関する。   The present invention relates to a test system and a test method for testing a mobile communication terminal by inputting an RF test signal to a test target mobile communication terminal while changing the level.

W−CDMA(Wideband Code Division Multiple Access)やLTE(Long Term Evolution)といった通信方式で通信を行う移動体通信端末に対して、通信が正常に行えることを試験するための試験システムが知られている。(例えば、特許文献1)
図5に、従来の試験システムの一例を示す。試験システム100は、移動体通信端末2のアンテナ端子と同軸ケーブル90で接続され、この同軸ケーブル90を介して、RFの試験信号を移動体通信端末2に入力するとともに、移動体通信端末2からのRF信号を受けて、このRF信号を解析したり、このRF信号を復調及び復号して得られる通信データを解析したりして、移動体通信端末2の試験を行う。この試験システム100は、全体制御装置110、擬似基地局装置120、信号解析装置40、信号発生装置50、結合器60、分配器70を含んで構成されている。
2. Description of the Related Art A test system for testing whether or not communication can be normally performed for a mobile communication terminal that performs communication using a communication method such as W-CDMA (Wideband Code Division Multiple Access) or LTE (Long Term Evolution) is known. . (For example, Patent Document 1)
FIG. 5 shows an example of a conventional test system. The test system 100 is connected to the antenna terminal of the mobile communication terminal 2 via a coaxial cable 90, and inputs an RF test signal to the mobile communication terminal 2 via the coaxial cable 90, and from the mobile communication terminal 2. The mobile communication terminal 2 is tested by analyzing the RF signal and analyzing communication data obtained by demodulating and decoding the RF signal. The test system 100 includes an overall control device 110, a pseudo base station device 120, a signal analysis device 40, a signal generation device 50, a combiner 60, and a distributor 70.

全体制御装置110は、擬似基地局装置120、信号解析装置40、信号発生装置50とGP−IBまたはイーサネット(登録商標)により接続されており、これらの装置をリモート制御し、各装置に対して、試験に必要な設定を行い、動作の開始や終了を指示する。また、信号や通信データの解析結果を各装置から収集して表示する。   The overall control device 110 is connected to the pseudo base station device 120, the signal analysis device 40, and the signal generation device 50 through GP-IB or Ethernet (registered trademark), and remotely controls these devices to each device. Make necessary settings for the test and instruct the start and end of the operation. Also, analysis results of signals and communication data are collected from each device and displayed.

擬似基地局装置120は、実際の基地局の動作を模擬し、所定の通信方式で移動体通信端末2と通信を行う。以下、擬似基地局装置120を構成する各部について説明する。送信部22は、移動体通信端末2に送信するためのRF信号を出力する。受信部28は、移動体通信端末2からのRF信号を受信し、ベースバンド信号に周波数変換して復調する。方向性結合器27は、送信部22からのRF信号を受けて、試験システム100内のRF信号経路80に出力するとともに、移動体通信端末2が出力したRF信号をこのRF信号経路80から受けて、受信部28に出力する。通信データ処理部29は、受信部28が復調した受信データを受けて処理するとともに、移動体通信端末2に送信すべき送信データを送信部22に出力する。擬似基地局制御部121は、全体制御装置110からの指示に基づき、擬似基地局装置120内の各部を制御するとともに、移動体通信端末2との通信結果を通信データ処理部29から受けて、全体制御装置110に送出する。 The pseudo base station apparatus 120 simulates the operation of an actual base station and communicates with the mobile communication terminal 2 by a predetermined communication method. Hereinafter, each part which comprises the pseudo base station apparatus 120 is demonstrated. The transmission unit 22 outputs an RF signal for transmission to the mobile communication terminal 2. The receiving unit 28 receives the RF signal from the mobile communication terminal 2, converts the frequency into a baseband signal, and demodulates it. The directional coupler 27 receives the RF signal from the transmission unit 22 and outputs the RF signal to the RF signal path 80 in the test system 100 and receives the RF signal output from the mobile communication terminal 2 from the RF signal path 80. Output to the receiver 28. The communication data processing unit 29 receives and processes the reception data demodulated by the reception unit 28, and outputs transmission data to be transmitted to the mobile communication terminal 2 to the transmission unit 22. The pseudo base station control unit 121 controls each unit in the pseudo base station device 120 based on an instruction from the overall control device 110, receives a communication result with the mobile communication terminal 2 from the communication data processing unit 29, and It is sent to the overall control device 110.

さらに、送信部22の構成について説明する。BB信号生成部23は、通信データ処理部29から出力される送信データに基づいて、デジタルのIQのベースバンド信号を生成する。レベル制御部24は、このベースバンド信号のレベルを制御する。レベル制御部24は、−10dBmから−40dBmの範囲で、0.1dBステップでデジタルのIQのベースバンド信号のレベルを制御可能である。レベル制御部24は、デジタルのIQのベースバンド信号のデータに、所望のレベルに対応した定数を乗算することにより、このレベルの制御を実現している。周波数変換部25は、レベル制御されたデジタルのIQのベースバンド信号をD/A変換して直交変調するとともに、RF信号に周波数変換する。ATT26は、0dBから100dBの範囲で5dBステップで減衰量を可変するステップアッテネータであり、設定された減衰量分、RF信号を減衰して出力する。ATT26は、例えば、5dB、10dB、20B、40dBといった減衰量の異なる複数の固定抵抗を、個別に切り替えて組み合わせることにより、所望の減衰量が得られるようになっている。   Furthermore, the structure of the transmission part 22 is demonstrated. The BB signal generation unit 23 generates a digital IQ baseband signal based on the transmission data output from the communication data processing unit 29. The level control unit 24 controls the level of this baseband signal. The level control unit 24 can control the level of the digital IQ baseband signal in a range of −10 dBm to −40 dBm in steps of 0.1 dB. The level control unit 24 realizes this level control by multiplying the digital IQ baseband signal data by a constant corresponding to a desired level. The frequency conversion unit 25 performs D / A conversion on the level-controlled digital IQ baseband signal to perform quadrature modulation, and also converts the frequency into an RF signal. The ATT 26 is a step attenuator that varies the attenuation in 5 dB steps in the range of 0 dB to 100 dB, and attenuates and outputs the RF signal by the set attenuation. The ATT 26 can obtain a desired attenuation amount by individually switching and combining a plurality of fixed resistors having different attenuation amounts, such as 5 dB, 10 dB, 20 B, and 40 dB.

ここで、レベル制御部24は、細かなステップで高速にレベル制御が可能であるが、レベル可変範囲が狭い特性となっている。対して、ATT26は、減衰量のステップが粗く、減衰量の切替に時間がかかるが、減衰量の可変範囲が広い特性となっている。送信部22は、レベル制御部24とATT26とを組み合わせて制御することにより、RF信号のレベルを制御している。なお、擬似基地局制御部121は、全体制御装置110からRF信号の送信レベルや周波数の指示を受けて、レベル制御部24に対するレベルの設定、周波数変換部25に対する周波数の設定、ATT26に対する減衰量の設定を行っている。   Here, the level control unit 24 can perform level control at high speed in fine steps, but has a characteristic in which the level variable range is narrow. In contrast, the ATT 26 has a rough attenuation step and takes a long time to switch the attenuation, but has a wide variable range of attenuation. The transmitter 22 controls the level of the RF signal by controlling the level controller 24 and the ATT 26 in combination. The pseudo base station control unit 121 receives an RF signal transmission level and frequency instruction from the overall control device 110, sets the level for the level control unit 24, sets the frequency for the frequency conversion unit 25, and attenuates the ATT 26. Is set.

信号解析装置40は、分配器70を介して移動体通信端末2からのRF信号を受けて、このRF信号のレベルや周波数特性を解析する。信号解析装置40を用いて行う試験としては、例えば隣接チャネル漏洩電力比測定(Adjacent Channel Leakage Ratio : ACLR)がある。   The signal analyzer 40 receives the RF signal from the mobile communication terminal 2 via the distributor 70 and analyzes the level and frequency characteristics of the RF signal. As a test performed using the signal analysis device 40, for example, there is an adjacent channel leakage power ratio (ACLR) measurement.

信号発生装置50は、例えば、妨害波を含むRF信号を移動体通信端末2に入力し、移動体通信端末2が正常に受信可能か否かの試験を行う場合に用いられる。この場合、信号発生装置50は、所定のレベル及び所定の周波数の妨害波の信号を出力する。   The signal generator 50 is used, for example, when an RF signal including an interference wave is input to the mobile communication terminal 2 and a test is performed to determine whether the mobile communication terminal 2 can normally receive the signal. In this case, the signal generator 50 outputs a signal of an interference wave having a predetermined level and a predetermined frequency.

結合器60は、擬似基地局装置120からのRF信号と信号発生器50からの信号とを結合して、移動体通信端末2に向けて出力するとともに、移動体通信端末2からのRF信号を擬似基地局装置120に向けて出力する。また、分配器70は、擬似基地局装置120からのRF信号を移動体通信端末2に向けて出力するとともに、移動体通信端末2からのRF信号を擬似基地局装置120と信号解析装置40とに分配して出力する。   The combiner 60 combines the RF signal from the pseudo base station apparatus 120 and the signal from the signal generator 50 and outputs the combined signal to the mobile communication terminal 2 and outputs the RF signal from the mobile communication terminal 2. Output toward the pseudo base station apparatus 120. The distributor 70 outputs the RF signal from the pseudo base station apparatus 120 to the mobile communication terminal 2 and outputs the RF signal from the mobile communication terminal 2 to the pseudo base station apparatus 120, the signal analysis apparatus 40, and the like. To distribute to and output.

擬似基地局装置120から同軸ケーブル90までのRF信号経路80には、不図示のフィルタや経路切替スイッチが備えられている。フィルタは、精度の高い試験を行うために、RF信号から試験に関係のない不要な周波数成分を除去するのに用いられ、複数種類のフィルタが選択可能にされている。また、経路切替スイッチは、このフィルタの選択を行ったり、擬似基地局装置120や移動体通信端末2からのRF信号が、結合器60、分配器70を経由するかしないかを切り替えている。経路切替スイッチは、試験項目や試験条件に適合したRF信号経路80を構成するように、全体制御装置110から制御される。   The RF signal path 80 from the pseudo base station apparatus 120 to the coaxial cable 90 is provided with a filter and a path switch not shown. In order to perform a highly accurate test, the filter is used to remove unnecessary frequency components not related to the test from the RF signal, and a plurality of types of filters can be selected. In addition, the path switch performs selection of this filter and switches whether or not the RF signal from the pseudo base station apparatus 120 or the mobile communication terminal 2 passes through the coupler 60 and the distributor 70. The path changeover switch is controlled by the overall control device 110 so as to configure an RF signal path 80 that conforms to test items and test conditions.

特開2011−61749号公報JP 2011-61749 A

試験項目の1つとして、擬似基地局装置120から移動体通信端末2に入力するRFの試験信号のレベルを、所定のステップ(例えば1dB)ずつ変化させ、移動体通信端末2が正常に受信を継続できるか否かを試験するものがある。図6(A)は、このような移動体通信端末2の受信特性試験における試験信号レベルの時間変化をグラフに示したものである。擬似基地局装置120から出力される試験信号は、グラフに実線で示すように、最大値Aから最小値Bまで、レベルを所定ステップずつ下げていくようになっている。あるいは逆に、グラフに点線で示すように、最小値Bから最大値Aまで、レベルを所定ステップずつ上げていくようになっている。   As one of the test items, the level of the RF test signal input from the pseudo base station apparatus 120 to the mobile communication terminal 2 is changed by a predetermined step (for example, 1 dB), and the mobile communication terminal 2 receives normally. Some test whether it can continue. FIG. 6A is a graph showing the time change of the test signal level in the reception characteristic test of the mobile communication terminal 2. The test signal output from the pseudo base station apparatus 120 is configured to decrease the level by a predetermined step from the maximum value A to the minimum value B as indicated by a solid line in the graph. Or, conversely, as indicated by a dotted line in the graph, the level is increased from the minimum value B to the maximum value A by a predetermined step.

しかしながら、このようにレベルを変化させている途中で、擬似基地局装置120のATT26の減衰量の切替が発生すると、図6(B)に示すように、ATT26の切替時間の分だけ、試験時間が余分にかかってしまう。これは、前述のように、レベル制御部24によるレベル制御が高速であるのに対し、ATT26の減衰量の切替は時間がかかるためである。   However, when switching of the attenuation amount of the ATT 26 of the pseudo base station apparatus 120 occurs while changing the level in this way, as shown in FIG. 6B, the test time is equal to the switching time of the ATT 26. Will take extra. This is because, as described above, the level control by the level control unit 24 is fast, but switching of the attenuation amount of the ATT 26 takes time.

本発明は、以上のような課題に対し、移動体通信端末の試験を短時間で行うために、時間のかかるステップアッテネータの減衰量の切替をすることなく、レベルが変化するRFの試験信号を試験対象の移動体通信端末に入力する試験を行うようにした試験システム及び試験方法を提供することを目的とする。   In order to perform the test of the mobile communication terminal in a short time with respect to the above-described problems, the present invention provides an RF test signal whose level changes without switching the attenuation of the time-consuming step attenuator. It is an object of the present invention to provide a test system and a test method for performing a test input to a mobile communication terminal to be tested.

上述の目的を達成するために、本発明の試験システムは、デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部(23)と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部(24)と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部(25)と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ(26)とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末(2)に送出する擬似基地局装置(20)と、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行うために、前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置(10)とを有する試験システムであって、前記全体制御装置は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を予め記憶するレベル対応情報記憶部(13)と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択するレベル設定部(14)とを備え、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定したのち、前記レベル制御部を制御して前記試験信号のレベルを変化させて、前記試験を行うことを特徴とする。
また、本発明の試験システムは、前記レベル対応情報記憶部は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出される構成であってもよい。
また、本発明の試験システムは、前記全体制御装置は、前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶部(11)と、前記シナリオ記憶部から読み出した前記シナリオに従って、前記擬似基地局装置を制御するシナリオ処理部(12)とを備え、前記レベル設定部は、前記シナリオ処理部が読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、この検出した試験信号レベルの最大値及び最小値に基づいて前記1つの減衰量を選択し、この選択した減衰量における、前記抽出した試験信号のレベルに関する情報に対応して前記レベル制御部を制御するための定数を決定し、この定数と前記選択した減衰量との組合せの情報を前記シナリオ処理部に送出し、前記シナリオ処理部は、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を前記レベル設定部から受けた前記組合せの情報に置き換えて、前記擬似基地局装置を制御する構成であってもよい。
また、本発明の試験方法は、デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部(23)と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部(24)と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部(25)と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ(26)とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末(2)に送出する擬似基地局装置(20)と、前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置(10)とを用いて、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行う試験方法であって、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を記憶するレベル対応情報記憶段階と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択する減衰量選択段階と、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定した場合に、前記レベル制御部を制御するための定数を決定する定数決定段階と、前記決定された定数及び前記選択された減衰量によってレベルが制御された前記試験信号を前記移動体通信端末に送出して前記試験を行う試験実行段階とを備えたことを特徴とする。
また、本発明の試験方法は、前記レベル対応情報記憶段階は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されるようになっていてもよい。
また、本発明の試験方法は、前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶段階と、前記記憶したシナリオを読み出すシナリオ読出段階と、前記減衰量選択段階を行うために、前記読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する検出段階と、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を、前記決定された定数及び前記選択された減衰量の情報に置き換える置換段階とを備え、前記試験実行段階は、前記置換段階で情報が置き換えられたシナリオに従って前記試験を行うようになっていてもよい。
In order to achieve the above object, a test system according to the present invention includes a BB signal generation unit (23) that generates a digital baseband signal, and a level control unit that controls the level of the baseband signal within a predetermined level range. (24), a frequency converter (25) that D / A converts the level-controlled baseband signal and converts the frequency into an RF signal, and a plurality of attenuation amounts can be set, and the RF signal is set. A step attenuator (26) that attenuates the amount of attenuation and outputs it as a test signal, and sends the test signal whose level is controlled by the level control unit and the step attenuator to the mobile communication terminal (2) to be tested. to perform the pseudo base station apparatus (20), the level of the test signal is changed and sends the mobile communication terminal testing for, the pseudo base A test system having a total control unit (10) for controlling the device, the overall control device, said level controller is controllable level range, the attenuation of the step attenuator, the level range and the A level correspondence information storage unit (13) for preliminarily storing level correspondence information in which the level variable range of the test signal derived based on the attenuation amount is associated with each attenuation amount of the step attenuator; A level setting unit (14) for selecting an attenuation amount corresponding to the level variable range including the maximum value and the minimum value of the level of the test signal in the test with reference to the level correspondence information, and the selected attenuation After setting only the amount as the attenuation amount of the step attenuator, the level control unit is controlled to change the level of the test signal, And performing the serial test.
In the test system of the present invention, the level correspondence information storage unit stores a path loss that is a loss of a path from the pseudo base station apparatus to the mobile communication terminal, and the level variable range includes the level control It may be derived based on a level range that can be controlled by the unit, the attenuation of the step attenuator, and the path loss.
In the test system of the present invention, in order for the overall control apparatus to perform the test, the pseudo base station apparatus includes control information including information related to the level of the test signal, and the pseudo base station apparatus transmits the mobile communication. A scenario storage unit (11) for storing a scenario in which communication messages to be communicated with a terminal are stored as a time-series sequence, and a scenario processing unit for controlling the pseudo base station apparatus according to the scenario read from the scenario storage unit (12), and the level setting unit extracts information on the level of the test signal from the scenario read by the scenario processing unit, detects the maximum value and the minimum value of the test signal level, and detects the detected test The one attenuation amount is selected based on the maximum value and the minimum value of the signal level, and the extracted test at the selected attenuation amount is selected. A constant for controlling the level control unit is determined in response to information on the level of the signal, and information on a combination of the constant and the selected attenuation amount is sent to the scenario processing unit. The scenario processing unit The pseudo base station apparatus may be controlled by replacing the information on the level of the test signal of the read scenario with the information on the combination received from the level setting unit.
The test method of the present invention includes a BB signal generation unit (23) that generates a digital baseband signal, a level control unit (24) that controls the level of the baseband signal within a predetermined level range, and this level. A frequency conversion unit (25) that D / A converts the controlled baseband signal and converts the frequency into an RF signal, and a plurality of attenuation amounts can be set, and the RF signal is attenuated by the set attenuation amount and tested. And a step attenuator (26) for outputting as a signal, and a pseudo base station device (20) for sending the test signal whose level is controlled by the level control unit and the step attenuator to the mobile communication terminal (2) to be tested. ) and, delivered to the using and the overall control device (10) for controlling the pseudo base transceiver station, the mobile communication terminal by changing the level of the test signal A level range controllable by the level control unit, an attenuation amount of the step attenuator, a level range of the test signal derived based on the level range and the attenuation amount And a level correspondence information storage step for storing level correspondence information associated with each attenuation amount of the step attenuator, and referring to the level correspondence information, the maximum value of the level of the test signal in the test, and An attenuation amount selection step for selecting an attenuation amount corresponding to the level variable range including the minimum value, and for controlling the level control unit when only the selected attenuation amount is set as the attenuation amount of the step attenuator. A constant determining step for determining a constant of the signal, and the test whose level is controlled by the determined constant and the selected attenuation amount. By sending a signal to the mobile communication terminal characterized by comprising a test executing to perform the test.
In the test method of the present invention, the level correspondence information storage step stores a path loss that is a loss of a path from the pseudo base station apparatus to the mobile communication terminal, and the level variable range includes the level control May be derived based on a level range controllable by the unit, the attenuation of the step attenuator, and the path loss.
Further, the test method of the present invention provides the control information of the pseudo base station apparatus including information on the level of the test signal and the communication message that the pseudo base station apparatus communicates with the mobile communication terminal in order to perform the test. Storing a scenario stored as a time-series sequence, a scenario reading step for reading the stored scenario, and a level of the test signal from the read scenario for performing the attenuation selection step A detection step of extracting information on the test signal level to detect a maximum value and a minimum value of the test signal; information on the level of the test signal in the read scenario; information on the determined constant and the selected attenuation amount And a test execution stage according to a scenario in which information is replaced in the replacement stage. It may be adapted to carry out the serial test.

本発明の試験システム及び試験方法は、試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含むレベル可変範囲に対応した減衰量のみをステップアッテネータの減衰量として設定し、レベル制御部を制御して試験信号のレベルを変化させて、試験を行う構成としている。このため、レベルが変化するRFの試験信号を移動体通信端末に入力する試験を行う際に、時間のかかるステップアッテネータの減衰量の切替をすることがなくなり、移動体通信端末の試験を短時間で行うことができる。   In the test system and test method of the present invention, only the attenuation corresponding to the level variable range including the maximum value and minimum value of the test signal level in the test is set as the attenuation amount of the step attenuator, and the level control unit is controlled. The test is performed by changing the level of the test signal. For this reason, when performing a test in which an RF test signal whose level changes is input to the mobile communication terminal, the time-consuming step attenuator attenuation is not switched, and the mobile communication terminal test can be performed in a short time. Can be done.

本発明の実施形態のブロック図Block diagram of an embodiment of the present invention 所定の試験項目におけるシナリオの例Example scenario for a given test item 所定の試験項目におけるレベル対応情報の例Example of level correspondence information for a given test item 本発明の実施形態のフローチャートFlowchart of an embodiment of the present invention 従来の試験システムのブロック図Block diagram of a conventional test system 試験信号のレベルの時間変化を示すグラフGraph showing test signal level over time

図1は、本発明の試験システム1の構成を示している。試験システム1は、全体制御装置10、擬似基地局装置20、信号解析装置40、信号発生装置50、結合器60、分配器70を含んで構成されている。なお、図5に示した従来の試験システム100と同一の構成のものには同一の付番を付し、適宜、説明を省略する。   FIG. 1 shows a configuration of a test system 1 of the present invention. The test system 1 includes an overall control device 10, a pseudo base station device 20, a signal analysis device 40, a signal generation device 50, a combiner 60, and a distributor 70. In addition, the same number is attached | subjected to the thing of the same structure as the conventional test system 100 shown in FIG. 5, and description is abbreviate | omitted suitably.

全体制御装置10は、試験システム1内の各装置とGP−IBまたはイーサネット(登録商標)により接続されており、これらの装置をリモート制御し、各装置に対して、試験に必要な設定を行い、動作の開始や終了を指示する。また、信号や通信データの解析結果を各装置から収集して表示する。全体制御装置10は、シナリオ記憶部11、シナリオ処理部12、レベル対応情報記憶部13、レベル設定部14を含んで構成されている。   The overall control device 10 is connected to each device in the test system 1 by GP-IB or Ethernet (registered trademark), and remotely controls these devices and performs settings necessary for the test on each device. Instruct the start and end of the operation. Also, analysis results of signals and communication data are collected from each device and displayed. The overall control apparatus 10 includes a scenario storage unit 11, a scenario processing unit 12, a level correspondence information storage unit 13, and a level setting unit 14.

シナリオ記憶部11は、試験項目毎に異なるシナリオを記憶している。試験項目は、移動体通信端末が採用する通信方式の試験規格として定められていたり、移動体通信端末のメーカが独自に定めていたりするものである。シナリオとは、試験システム1が、対応する試験項目を実施する際、必要な設定や動作のシーケンスを記述したものである。図2に、所定の試験項目におけるシナリオの一例を示す。図2において、シナリオには、「試験項目名」、「各装置の設定」、「各装置の制御及び通信のシーケンス」の情報が記述されている。   The scenario storage unit 11 stores different scenarios for each test item. The test item is defined as a test standard for a communication method adopted by the mobile communication terminal, or is uniquely determined by the manufacturer of the mobile communication terminal. A scenario describes a sequence of necessary settings and operations when the test system 1 performs a corresponding test item. FIG. 2 shows an example of a scenario for a predetermined test item. In FIG. 2, information of “test item name”, “setting of each device”, and “control and communication sequence of each device” is described in the scenario.

「試験項目名」は、試験項目を識別するための情報である。「各装置の設定」は、この試験項目に対応した試験システム1内の各装置及び各部への設定情報であり、全体制御装置10は、この設定情報に従ってリモート制御先の装置を設定する。例えば、全体制御装置10は、この設定情報に従って、擬似基地局装置20に、通信方式(W−CDMAまたはLTE)やRF信号の中心周波数(周波数変換部25に用いる)を指示し、信号解析装置40に測定項目、測定周波数範囲を指示し、信号発生装置50に発生する信号の種別、レベル、周波数を指示し、RF信号経路80の切替スイッチ(不図示)を切り替える。   “Test item name” is information for identifying a test item. “Setting of each device” is setting information for each device and each part in the test system 1 corresponding to this test item, and the overall control device 10 sets a remote control destination device according to this setting information. For example, the overall control apparatus 10 instructs the pseudo base station apparatus 20 in accordance with the setting information, the communication method (W-CDMA or LTE) and the center frequency of the RF signal (used for the frequency conversion unit 25), and the signal analysis apparatus The measurement item and the measurement frequency range are instructed to 40, the type, level, and frequency of the signal to be generated are instructed to the signal generator 50, and a changeover switch (not shown) of the RF signal path 80 is switched.

「各装置の制御及び通信のシーケンス」は、この試験項目の試験を実行する際の、各装置の制御の情報と、移動体通信端末2と通信するための擬似基地局装置20の送信メッセージとが、時系列に記述されている。全体制御装置10は、これに従い、擬似基地局装置20に移動体通信端末2と通信させ、信号解析装置40に測定を行わせ、信号発生装置50に信号を出力させ、各装置から解析結果を収集する。   “Sequence of control and communication of each device” includes information on control of each device when executing the test of this test item, and a transmission message of the pseudo base station device 20 for communicating with the mobile communication terminal 2. Are described in time series. In accordance with this, the overall control apparatus 10 causes the pseudo base station apparatus 20 to communicate with the mobile communication terminal 2, causes the signal analysis apparatus 40 to perform measurement, causes the signal generation apparatus 50 to output a signal, and outputs analysis results from each apparatus. collect.

シナリオ処理部12は、試験者が指定した試験項目に対応するシナリオを、シナリオ記憶部11から読み出す。そして、読み出したシナリオに記述された設定やシーケンスを順次実行する。また、シナリオ処理部12は、レベル設定部14からレベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報を受けて、シナリオの元の試験信号レベルの制御情報と置き換える。この置き換えられたレベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報は、シナリオに記述されたシーケンスに従ったタイミングで、全体制御装置10から擬似基地局装置20に送出される。   The scenario processing unit 12 reads the scenario corresponding to the test item specified by the tester from the scenario storage unit 11. Then, the settings and sequences described in the read scenario are sequentially executed. Further, the scenario processing unit 12 receives information on the combination of the constant of the level control unit 24 and the attenuation amount of the ATT 26 from the level setting unit 14 and replaces it with the control information of the original test signal level of the scenario. Information on the combination of the replaced constant of the level control unit 24 and the attenuation amount of the ATT 26 is transmitted from the overall control device 10 to the pseudo base station device 20 at a timing according to the sequence described in the scenario.

レベル対応情報記憶部13には、レベル対応情報が試験項目別にテーブル形式で記憶されている。図3に、所定の試験項目におけるレベル対応情報の一例を示す。レベル対応情報とは、擬似基地局装置20内のレベル制御部24のレベル制御範囲の最大値と最小値、擬似基地局装置20内のATT26の各ステップの減衰量、RF信号経路80及び同軸ケーブル90により生じるRF信号の損失を表わす経路ロス、これらの値から導出される試験信号レベル可変範囲の最大値と最小値、各対応情報を追番で識別するための設定番号Nの各項目が対応付けられた情報である。   The level correspondence information storage unit 13 stores level correspondence information for each test item in a table format. FIG. 3 shows an example of level correspondence information for a predetermined test item. The level correspondence information includes the maximum value and the minimum value of the level control range of the level control unit 24 in the pseudo base station apparatus 20, the attenuation amount of each step of the ATT 26 in the pseudo base station apparatus 20, the RF signal path 80, and the coaxial cable. Corresponding to each item of the path loss indicating the loss of the RF signal caused by 90, the maximum and minimum values of the test signal level variable range derived from these values, and the setting number N for identifying each correspondence information by serial number It is the attached information.

レベル制御部24のレベル制御範囲は、擬似基地局装置20の性能として予め決まっており、−10dBmから−40dBmまでの30dBの制御範囲を有している。ATT26の減衰量は、擬似基地局装置20の性能として予め決まっており、0dBから100dBまで5dBステップでの設定範囲を有し、レベル対応情報には、このステップ毎の減衰量が記憶されている。   The level control range of the level control unit 24 is determined in advance as the performance of the pseudo base station apparatus 20, and has a control range of 30 dB from −10 dBm to −40 dBm. The attenuation amount of the ATT 26 is determined in advance as the performance of the pseudo base station apparatus 20, and has a setting range in 5 dB steps from 0 dB to 100 dB, and the attenuation amount for each step is stored in the level correspondence information. .

経路ロスは、試験項目毎に値が異なる。これについて説明すると、結合器60、分配器70、前述のフィルタ(不図示)にはそれぞれ損失があり、前述の切替スイッチ(不図示)によって、これらがRF信号経路80に含まれるか否かが変わる。この切替は、所定の試験項目に適した構成となるように、全体制御装置からの指示により行われる。従って、試験項目毎にRF信号経路80の構成及び損失が異なり、そのため、試験項目毎に経路ロスの値が異なる。従って、レベル対応情報記憶部13は、試験項目毎にレベル対応情報を記憶している。なお、経路ロスには、同軸ケーブル90の損失も含まれている。経路ロスは、試験システムの設計段階で算出された設計値、もしくは試験システムの製造検査時に実測された実測値が記憶される。   The route loss has a different value for each test item. This will be described. Each of the coupler 60, the distributor 70, and the filter (not shown) has a loss, and whether or not these are included in the RF signal path 80 by the switch (not shown). change. This switching is performed according to an instruction from the overall control device so as to obtain a configuration suitable for a predetermined test item. Therefore, the configuration and loss of the RF signal path 80 are different for each test item. Therefore, the path loss value is different for each test item. Therefore, the level correspondence information storage unit 13 stores level correspondence information for each test item. The path loss includes the loss of the coaxial cable 90. The path loss stores a design value calculated at the design stage of the test system, or an actual value actually measured at the time of manufacturing inspection of the test system.

試験信号レベル可変範囲は、ATT26の各減衰量毎に、試験対象の移動体通信端末2の入力端において供給可能な試験信号レベルの最大値と最小値を示している。例えば、図2の設定番号N=2において、レベル制御部24の出力レベルの最大値は−10dBm、それがATT26により5dB減衰され、経路ロスによりさらに10dB減衰されて、移動体通信端末2の入力端における試験信号レベルは−25dBmとなる。つまり、「移動体通信端末2の入力端における試験信号レベル」=「レベル制御部24の出力レベル」−「ATT26の減衰量」−「経路ロス」の式によって算出される。これに従い、各設定番号Nそれぞれについて、移動体通信端末2の入力端において供給可能な試験信号レベルの最大値と最小値が決定されて記憶されている。。   The test signal level variable range indicates the maximum value and the minimum value of the test signal level that can be supplied at the input terminal of the mobile communication terminal 2 to be tested for each attenuation amount of the ATT 26. For example, in the setting number N = 2 in FIG. 2, the maximum value of the output level of the level control unit 24 is −10 dBm, which is attenuated by 5 dB by the ATT 26 and further attenuated by 10 dB by the path loss. The test signal level at the end is -25 dBm. That is, it is calculated by the equation: “Test signal level at input terminal of mobile communication terminal 2” = “output level of level control unit 24” − “attenuation amount of ATT 26” − “path loss”. Accordingly, for each setting number N, the maximum value and the minimum value of the test signal level that can be supplied at the input terminal of the mobile communication terminal 2 are determined and stored. .

レベル設定部14は、シナリオ処理部12がシナリオ記憶部11から読み出したシナリオから、試験信号レベルに関する情報を抽出し、その抽出した試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、レベル対応情報記憶部13を参照して、この試験信号レベルの最大値に対応したATT26の減衰量を決定する。また、レベル設定部14は、シナリオから抽出した試験信号レベルのそれぞれについて、その試験信号レベルに対応したレベル制御部24の定数及びATT26の減衰量を決定して、シナリオ処理部12に送出する。   The level setting unit 14 extracts information on the test signal level from the scenario read out from the scenario storage unit 11 by the scenario processing unit 12, detects the maximum value and the minimum value of the extracted test signal level, and stores the level correspondence information Referring to unit 13, the attenuation amount of ATT 26 corresponding to the maximum value of the test signal level is determined. Further, the level setting unit 14 determines the constant of the level control unit 24 corresponding to the test signal level and the attenuation amount of the ATT 26 for each test signal level extracted from the scenario, and sends it to the scenario processing unit 12.

レベル設定部14の動作について、図2及び図3を元に、具体的に説明する。シナリオ処理部12がシナリオ記憶部11から読み出した図2のシナリオには、試験信号レベルの設定を示す3つのシーケンス、「試験信号レベル=−27dBm」、「試験信号レベル=−32dBm」、「試験信号レベル=−47dBm」が記述されている(図2は途中のシーケンスを省略しているので、実際にはもっと多くのシーケンスがある)。レベル設定部14は、これらの情報を抽出し、この中で、試験信号のレベルの最大値=−27dBmと、最小値=−47dBmを検出する。   The operation of the level setting unit 14 will be specifically described with reference to FIGS. The scenario of FIG. 2 read by the scenario processing unit 12 from the scenario storage unit 11 includes three sequences indicating test signal level settings: “test signal level = −27 dBm”, “test signal level = −32 dBm”, “test “Signal level = −47 dBm” is described (the sequence in FIG. 2 is omitted, so there are actually more sequences). The level setting unit 14 extracts these pieces of information, and detects the maximum value = −27 dBm and the minimum value = −47 dBm of the test signal.

レベル設定部14は、レベル対応情報記憶部13を参照して、この試験項目に対応した図3のレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲を確認する。このシナリオの試験信号レベルの最大値=−27dBmをレベル可変範囲に含む設定は、設定番号N=1及び2である。N=3の場合は、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値=−30dBmであるから、シナリオの試験信号レベルの最大値よりも小さいので、適合しない。ここで、試験信号のSN比を考慮すると、レベル制御部24から大きなレベルで出力して、ATT26で減衰させるようにするのが好ましい。従って、設定番号N=1及び2のうち、設定番号N=2を選択する。そして、図3のレベル対応情報では、N=2におけるATT減衰量=5dBであるから、ATT26の第1の減衰量=5dBと決定する。   The level setting unit 14 refers to the level correspondence information storage unit 13 and confirms the test signal level variable range of the level correspondence information in FIG. 3 corresponding to this test item. Settings including the maximum value of the test signal level in this scenario = −27 dBm in the level variable range are setting numbers N = 1 and 2. In the case of N = 3, since the maximum value of the test signal level variable range of the level correspondence information is −30 dBm, it is smaller than the maximum value of the test signal level of the scenario, so it is not suitable. Here, considering the S / N ratio of the test signal, it is preferable to output the signal from the level control unit 24 at a large level and attenuate it by the ATT 26. Accordingly, among the setting numbers N = 1 and 2, the setting number N = 2 is selected. In the level correspondence information shown in FIG. 3, since the ATT attenuation at N = 2 = 5 dB, the first attenuation of ATT 26 is determined to be 5 dB.

また、レベル設定部14は、N=2におけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値を確認する。この場合、シナリオの試験信号のレベルの最小値=−47dBmは、N=2におけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値=−55dBmよりも大きい。従って、ATT26の第1の減衰量=5dBと決定することで、このシナリオにおける試験信号のレベル制御は、ATT26の減衰量を切り替えずに、レベル制御部24の制御のみで行えることになる。   Further, the level setting unit 14 confirms the minimum value of the test signal level variable range of the level correspondence information at N = 2. In this case, the minimum value of the test signal level of the scenario = −47 dBm is larger than the minimum value of the test signal level variable range of the level correspondence information at N = 2 = −55 dBm. Accordingly, by determining that the first attenuation amount of the ATT 26 is 5 dB, the level control of the test signal in this scenario can be performed only by the control of the level control unit 24 without switching the attenuation amount of the ATT 26.

なお、シナリオの試験信号のレベルの最小値が、その設定番号Nにおけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも小さい場合は、ATT26の減衰量の切替が必要となる。このため、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルを、第1の減衰量における試験信号レベル可変範囲との組合せでカバーするように、異なる設定番号Nを決定し、この設定番号NにおけるATT減衰量をレベル対応情報から読み取り、このATT減衰量をATT26に設定する第2の減衰量として決定する。つまり、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルのうち、レベルの大きい範囲は、ATT26を第1の減衰量に設定してレベル制御部24でレベルを可変させ、レベルの小さい範囲は、ATT26を第2の減衰量に設定してレベル制御部24でレベルを可変させる。なお、シナリオから検出した試験信号のレベルを、2つのATT減衰量を用いてもカバーできない場合は、3つ以上のATT減衰量を用いてカバーする。   When the minimum value of the test signal level of the scenario is smaller than the minimum value of the test signal level variable range of the level correspondence information in the setting number N, the attenuation amount of the ATT 26 needs to be switched. For this reason, a different setting number N is determined so as to cover the level from the maximum value to the minimum value of the test signal detected from the scenario in combination with the test signal level variable range in the first attenuation amount. The ATT attenuation amount at the number N is read from the level correspondence information, and this ATT attenuation amount is determined as the second attenuation amount to be set in the ATT 26. That is, among the levels from the maximum value to the minimum value of the test signal detected from the scenario, in the range where the level is large, the level is changed by the level control unit 24 by setting the ATT 26 to the first attenuation amount, and the level is small. For the range, the level is varied by the level control unit 24 with the ATT 26 set to the second attenuation amount. If the level of the test signal detected from the scenario cannot be covered using two ATT attenuations, the test signal level is covered using three or more ATT attenuations.

また、レベル設定部14は、シナリオから抽出した試験信号レベルのそれぞれについて、その試験信号レベルに対応したレベル制御部24の定数を決定する。すなわち、[レベル制御部24の出力レベル]=[シナリオに記述された試験信号レベル]+[経路ロス]+[決定したATT減衰量]の演算式により、レベル制御部24が制御して出力すべきレベルを求め、それに対応した定数を決定する。そして、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報を、シナリオ処理部12に送出する。   Further, the level setting unit 14 determines a constant of the level control unit 24 corresponding to each test signal level extracted from the scenario. In other words, the level control unit 24 controls and outputs it by an arithmetic expression of [output level of the level control unit 24] = [test signal level described in the scenario] + [path loss] + [determined ATT attenuation amount]. Find the power level and determine the corresponding constant. Then, information on the combination of the constant of the level control unit 24 and the attenuation amount of the ATT 26 is sent to the scenario processing unit 12.

擬似基地局装置20の擬似基地局制御部21は、全体制御装置10からの指示に基づき、擬似基地局装置20内の各部を制御するとともに、移動体通信端末2との通信結果を通信データ処理部29から受けて、全体制御装置10に送出する。ここで、擬似基地局制御部21は、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報を全体制御装置10から受けると、それに従ってレベル制御部24とATT26とを設定する。 The pseudo base station control unit 21 of the pseudo base station apparatus 20 controls each unit in the pseudo base station apparatus 20 based on an instruction from the overall control apparatus 10 and performs communication data processing on a communication result with the mobile communication terminal 2. Received from the unit 29 and sent to the overall control device 10. Here, when the pseudo base station control unit 21 receives information on the combination of the constant of the level control unit 24 and the attenuation amount of the ATT 26 from the overall control device 10, the pseudo base station control unit 21 sets the level control unit 24 and the ATT 26 accordingly.

次に、本発明の試験システム1の動作について、図4のフローチャートにより説明する。試験者が全体制御装置10に所望の試験項目を指定すると、シナリオ処理部12は、シナリオ記憶部11から指定された試験項目に対応するシナリオを読み出す(S1)。レベル設定部14は、シナリオ処理部12が読み出したシナリオから、試験信号レベルに関する情報を抽出し、その抽出した試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する(S2)。   Next, operation | movement of the test system 1 of this invention is demonstrated with the flowchart of FIG. When the tester specifies a desired test item in the overall control apparatus 10, the scenario processing unit 12 reads a scenario corresponding to the specified test item from the scenario storage unit 11 (S1). The level setting unit 14 extracts information on the test signal level from the scenario read by the scenario processing unit 12, and detects the maximum value and the minimum value of the extracted test signal level (S2).

レベル設定部14は、レベル対応情報記憶部13を参照して、所望の試験項目に対応したレベル対応情報の、設定番号N=1における試験信号レベル可変範囲の最大値を確認する(S3)。そして、レベル設定部14は、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値とを比較する(S4)。比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値よりも小さい場合は、設定番号Nの値を1増加させて(S5)、その増加させた設定番号Nにおけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値を用いて、再度比較を行う。   The level setting unit 14 refers to the level correspondence information storage unit 13 and checks the maximum value of the test signal level variable range at the setting number N = 1 in the level correspondence information corresponding to the desired test item (S3). Then, the level setting unit 14 compares the maximum value of the test signal level detected from the scenario with the maximum value of the test signal level variable range of the level correspondence information (S4). As a result of comparison, if the maximum value of the test signal level detected from the scenario is smaller than the maximum value of the test signal level variable range of the level correspondence information, the value of the setting number N is increased by 1 (S5), and the increase Comparison is performed again using the maximum value of the test signal level variable range of the level correspondence information in the set number N.

比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値よりも大きい場合は、このときの設定番号Nよりも1だけ小さい設定番号NaにおけるATT減衰量をレベル対応情報から読み取り、このATT減衰量をATT26に設定する第1の減衰量として決定する(S6)。つまり、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値との比較を、設定番号N=1から順次行い、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値を超過したら、直前の設定番号NにおけるATT減衰量を用いるようにしている。   As a result of the comparison, if the maximum value of the test signal level detected from the scenario is larger than the maximum value of the test signal level variable range of the level correspondence information, the ATT at the setting number Na that is smaller by 1 than the setting number N at this time The attenuation amount is read from the level correspondence information, and this ATT attenuation amount is determined as the first attenuation amount to be set in the ATT 26 (S6). That is, the maximum value of the test signal level detected from the scenario is compared with the maximum value of the test signal level variable range of the level correspondence information sequentially from the setting number N = 1, and the maximum value of the test signal level detected from the scenario However, when the maximum value of the test signal level variable range of the level correspondence information is exceeded, the ATT attenuation amount at the immediately preceding setting number N is used.

また、レベル設定部14は、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値とを比較する(S7)。この比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも大きい場合は、ATT26の切替が不要となる。   Further, the level setting unit 14 compares the minimum value of the test signal level detected from the scenario with the minimum value of the test signal level variable range of the level correspondence information (S7). As a result of this comparison, when the minimum value of the test signal level detected from the scenario is larger than the minimum value of the test signal level variable range of the level correspondence information, switching of the ATT 26 is not necessary.

また、比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも小さい場合は、ATT26の切替が必要となる。この場合、レベル設定部14は、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルを、設定番号Naにおける試験信号レベル可変範囲との組合せでカバーするような設定番号Nbを決定し、この設定番号NbにおけるATT減衰量をレベル対応情報から読み取り、このATT減衰量をATT26に設定する第2の減衰量として決定する(S8)。   Further, as a result of the comparison, when the minimum value of the test signal level detected from the scenario is smaller than the minimum value of the test signal level variable range of the level correspondence information, the ATT 26 must be switched. In this case, the level setting unit 14 determines a setting number Nb that covers the level from the maximum value to the minimum value of the test signal detected from the scenario in combination with the test signal level variable range in the setting number Na. The ATT attenuation at the setting number Nb is read from the level correspondence information, and this ATT attenuation is determined as the second attenuation to be set in the ATT 26 (S8).

このようにして、ATT26に設定する減衰量を決定したら、レベル設定部14は、レベル制御部24に設定する定数を決定する(S9)。レベル設定部14は、決定したレベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報をシナリオ処理部12に送出する。シナリオ処理部12は、読み込んだシナリオの試験信号レベルに関する情報を、この組合せの情報に置き換える(S10)。   After determining the attenuation amount set in the ATT 26 in this way, the level setting unit 14 determines a constant to be set in the level control unit 24 (S9). The level setting unit 14 sends information on the combination of the determined constant of the level control unit 24 and the attenuation amount of the ATT 26 to the scenario processing unit 12. The scenario processing unit 12 replaces the information related to the test signal level of the read scenario with this combination information (S10).

そして、シナリオ処理部12は、シナリオのシーケンスを実行する(S11)。ここで、例えば図2のシーケンスにおける「試験信号レベル=−27dBm」の試験信号レベルに関する情報は、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報に置き換わっているので、全体制御装置10から擬似基地局装置20には、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報が送られる。この情報を受けた擬似基地局装置20の擬似基地局制御部21は、ATT26にこの減衰量を設定してレベル制御部24にこの定数を設定し、試験信号を出力する。擬似基地局装置20から出力された試験信号は、RF信号経路80及び同軸ケーブル90を通過して、移動体通信端末2に入力される。この際、RF信号経路80及び同軸ケーブル90により、レベル対応情報の経路ロス分、試験信号は減衰される。図2のシーケンスにおける、「試験信号レベル=−32dBm」、「試験信号レベル=−47dBm」についても、それぞれ対応する減衰量と定数との組合せの情報に置き換えられており、それらの情報が擬似基地局装置20に送られて設定される。なお、ATT26に減衰量を設定する際、直前の減衰量と同じ設定であれば、ATT26の減衰量の切替は行われない。 Then, the scenario processing unit 12 executes a scenario sequence (S11). Here, for example, the information related to the test signal level of “test signal level = −27 dBm” in the sequence of FIG. 2 is replaced with the information of the combination of the constant of the level control unit 24 and the attenuation amount of the ATT 26. 10 to the pseudo base station apparatus 20 is sent information on the combination of the constant of the level control unit 24 and the attenuation amount of the ATT 26. Upon receiving this information, the pseudo base station control unit 21 of the pseudo base station apparatus 20 sets the attenuation amount in the ATT 26, sets this constant in the level control unit 24, and outputs a test signal. The test signal output from the pseudo base station apparatus 20 passes through the RF signal path 80 and the coaxial cable 90 and is input to the mobile communication terminal 2. At this time, the test signal is attenuated by the path loss of the level correspondence information by the RF signal path 80 and the coaxial cable 90. The “test signal level = −32 dBm” and “test signal level = −47 dBm” in the sequence of FIG. 2 are also replaced with information of combinations of corresponding attenuation amounts and constants. It is sent to the station device 20 and set. Note that when the attenuation amount is set in the ATT 26, the attenuation amount of the ATT 26 is not switched if the setting is the same as the previous attenuation amount.

このように、試験信号のレベルについて、シナリオに試験対象の移動体通信端末2に入力すべきレベルを記述しておけば、全体制御装置10が、そのレベルに対応し且つATT26の切替が極力発生しないようなレベル設定を決定する。このため、移動体通信端末2の試験を短時間で行うことができる。それとともに、シナリオ作成者は、経路ロスを考慮して擬似基地局装置20の信号出力レベルを決定してシナリオに記載する必要がなくなり、シナリオの作成が容易になる。 As described above, if the level of the test signal is described in the scenario as the level to be input to the mobile communication terminal 2 to be tested, the overall control device 10 can respond to that level and the switching of the ATT 26 is generated as much as possible. Determine the level setting that will not be performed. For this reason, the test of the mobile communication terminal 2 can be performed in a short time. At the same time, it is not necessary for the scenario creator to determine the signal output level of the pseudo base station apparatus 20 in consideration of the path loss and describe it in the scenario, and the scenario creation becomes easy.

本発明の試験システム及び試験方法は、不要なステップアッテネータ切替を無くし、短時間で試験を行うことができるので、移動体通信端末の試験に有用である。   The test system and test method of the present invention eliminates unnecessary step attenuator switching and can perform tests in a short time, and thus are useful for testing mobile communication terminals.

1…試験システム、10…全体制御装置、11…レベル対応情報記憶部、12…レベル設定部、13…シナリオ記憶部、14…シナリオ処理部、20…擬似基地局装置、21…擬似基地局制御部、22…送信部、23…BB信号生成部、24…レベル制御部、25…周波数変換部、26…ATT(ステップアッテネータ)、27…方向性結合器、28…受信部、29…通信データ処理部、40…信号解析装置、50…信号発生装置、60…結合器、70…分配器、80…RF信号経路、90…同軸ケーブル DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Test system, 10 ... Overall control apparatus, 11 ... Level correspondence information storage part, 12 ... Level setting part, 13 ... Scenario storage part, 14 ... Scenario processing part, 20 ... Pseudo base station apparatus , 21 ... Pseudo base station control parts, 22 ... transmission unit, 23 ... BB signal generating unit, 24 ... level controller, 25 ... frequency conversion unit, 26 ... ATT (step attenuator), 27 ... directional coupler, 28 ... receiving unit, 29 ... communication data Processing unit 40 ... Signal analysis device 50 ... Signal generation device 60 ... Coupler 70 ... Distributor 80 ... RF signal path 90 ... Coaxial cable

Claims (6)

デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部(23)と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部(24)と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部(25)と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ(26)とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末(2)に送出する擬似基地局装置(20)と、
前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行うために、前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置(10)とを有する試験システムであって、
前記全体制御装置は、
前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を予め記憶するレベル対応情報記憶部(13)と、
前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択するレベル設定部(14)とを備え、
前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定したのち、前記レベル制御部を制御して前記試験信号のレベルを変化させて、前記試験を行うことを特徴とする試験システム。
A BB signal generation unit (23) for generating a digital baseband signal, a level control unit (24) for controlling the level of the baseband signal within a predetermined level range, and the level-controlled baseband signal as D / A frequency conversion unit (25) that performs A conversion and frequency conversion to an RF signal, and a step attenuator (26) that can set a plurality of attenuation amounts and attenuates the RF signal by a set attenuation amount and outputs it as a test signal A pseudo base station apparatus (20) for transmitting the test signal whose level is controlled by the level control unit and the step attenuator to a mobile communication terminal (2) to be tested;
A test system having an overall control device (10) for controlling the pseudo base station device in order to perform a test to be transmitted to the mobile communication terminal by changing a level of the test signal,
The overall control device is:
The level range that can be controlled by the level control unit, the attenuation amount of the step attenuator, and the level range and the level variable range of the test signal derived based on the attenuation amount are the respective attenuations of the step attenuator. A level correspondence information storage unit (13) that prestores level correspondence information associated with each amount;
A level setting unit (14) that refers to the level correspondence information and selects an attenuation amount corresponding to the level variable range including the maximum value and the minimum value of the level of the test signal in the test,
A test system, wherein only the selected attenuation amount is set as the attenuation amount of the step attenuator, and then the level control unit is controlled to change the level of the test signal to perform the test.
前記レベル対応情報記憶部は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、
前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されることを特徴とする請求項1の試験システム。
The level correspondence information storage unit stores a path loss that is a loss of a path from the pseudo base station device to the mobile communication terminal,
The test system according to claim 1, wherein the level variable range is derived based on a level range that can be controlled by the level control unit, an attenuation amount of the step attenuator, and the path loss.
前記全体制御装置は、
前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶部(11)と、
前記シナリオ記憶部から読み出した前記シナリオに従って、前記擬似基地局装置を制御するシナリオ処理部(12)とを備え、
前記レベル設定部は、前記シナリオ処理部が読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、この検出した試験信号レベルの最大値及び最小値に基づいて前記1つの減衰量を選択し、この選択した減衰量における、前記抽出した試験信号のレベルに関する情報に対応して前記レベル制御部を制御するための定数を決定し、この定数と前記選択した減衰量との組合せの情報を前記シナリオ処理部に送出し、
前記シナリオ処理部は、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を前記レベル設定部から受けた前記組合せの情報に置き換えて、前記擬似基地局装置を制御することを特徴とする請求項1乃至2の試験システム。
The overall control device is:
In order to perform the test, control information of the pseudo base station apparatus including information regarding the level of the test signal and a communication message in which the pseudo base station apparatus communicates with the mobile communication terminal are stored as a time-series sequence. A scenario storage unit (11) for storing the scenario,
A scenario processing unit (12) for controlling the pseudo base station apparatus according to the scenario read from the scenario storage unit;
The level setting unit extracts information on the level of the test signal from the scenario read by the scenario processing unit to detect a maximum value and a minimum value of the test signal level, and detects the maximum value and the minimum value of the detected test signal level. The one attenuation amount is selected based on the value, and a constant for controlling the level control unit is determined in response to the information regarding the level of the extracted test signal in the selected attenuation amount. Sending information of the combination with the selected attenuation amount to the scenario processing unit,
The scenario processing unit controls the pseudo base station apparatus by replacing information on the level of the test signal of the read scenario with information on the combination received from the level setting unit. Two or two test systems.
デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部(23)と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部(24)と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部(25)と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ(26)とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末(2)に送出する擬似基地局装置(20)と、
前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置(10)とを用いて、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行う試験方法であって、
前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を記憶するレベル対応情報記憶段階と、
前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択する減衰量選択段階と、
前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定した場合に、前記レベル制御部を制御するための定数を決定する定数決定段階と、
前記決定された定数及び前記選択された減衰量によってレベルが制御された前記試験信号を前記移動体通信端末に送出して前記試験を行う試験実行段階とを備えたことを特徴とする試験方法。
A BB signal generation unit (23) for generating a digital baseband signal, a level control unit (24) for controlling the level of the baseband signal within a predetermined level range, and the level-controlled baseband signal as D / A frequency conversion unit (25) that performs A conversion and frequency conversion to an RF signal, and a step attenuator (26) that can set a plurality of attenuation amounts and attenuates the RF signal by a set attenuation amount and outputs it as a test signal A pseudo base station apparatus (20) for transmitting the test signal whose level is controlled by the level control unit and the step attenuator to a mobile communication terminal (2) to be tested;
A test method for performing a test of changing the level of the test signal and sending it to the mobile communication terminal using an overall control device (10) for controlling the pseudo base station device ,
The level range that can be controlled by the level control unit, the attenuation amount of the step attenuator, and the level range and the level variable range of the test signal derived based on the attenuation amount are the respective attenuations of the step attenuator. A level correspondence information storage stage for storing level correspondence information associated with each quantity;
An attenuation amount selection step of selecting an attenuation amount corresponding to the level variable range including the maximum value and the minimum value of the level of the test signal in the test with reference to the level correspondence information;
A constant determining step of determining a constant for controlling the level control unit when only the selected attenuation is set as the attenuation of the step attenuator;
And a test execution step of performing the test by transmitting the test signal, the level of which is controlled by the determined constant and the selected attenuation amount, to the mobile communication terminal.
前記レベル対応情報記憶段階は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、
前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されることを特徴とする請求項の試験方法。
The level correspondence information storage step stores a path loss that is a loss of a path from the pseudo base station apparatus to the mobile communication terminal,
5. The test method according to claim 4 , wherein the level variable range is derived based on a level range that can be controlled by the level control unit, an attenuation amount of the step attenuator, and the path loss.
前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶段階と、
前記記憶したシナリオを読み出すシナリオ読出段階と、
前記減衰量選択段階を行うために、前記読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する検出段階と、
前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を、前記決定された定数及び前記選択された減衰量の情報に置き換える置換段階とを備え、
前記試験実行段階は、前記置換段階で情報が置き換えられたシナリオに従って前記試験を行うことを特徴とする請求項4乃至5の試験方法。
In order to perform the test, control information of the pseudo base station apparatus including information regarding the level of the test signal and a communication message in which the pseudo base station apparatus communicates with the mobile communication terminal are stored as a time-series sequence. A scenario storage stage for storing the scenario,
A scenario reading step for reading out the stored scenario;
In order to perform the attenuation selection step, a detection step of extracting information on the level of the test signal from the read scenario and detecting a maximum value and a minimum value of the test signal level;
Replacing the information about the level of the test signal of the read scenario with the information on the determined constant and the selected attenuation amount, and
6. The test method according to claim 4, wherein the test execution stage performs the test according to a scenario in which information is replaced in the replacement stage.
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