JP5369675B2 - True / false judgment system - Google Patents

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Description

本発明は、身分証明証、会員証など本人認証のためのカード、あるいは物品あるいは物品の梱包に使われている梱包材、あるいは物品の識別のために付与されるタグ、シールなど真偽判定を必要とする物品の真偽判定を行うための装置に関する。 The present invention makes authenticity determinations such as identification cards, membership cards such as personal identification cards, packing materials used for packing goods or goods, or tags or stickers given for identification of goods. The present invention relates to an apparatus for determining authenticity of a required article.

身分証明証、会員証など本人認証のためのカード、あるいは工業製品の物品管理などの分野において、対象物の真偽判定を必要とする状況が少なからず存在する。このような真偽判定には、バーコードや2次元コードなどの光学的識別コードの付与、ICチップなど電磁気的な識別素子を付与する方法が用いられることが多い。
しかし、光学的識別コードを利用する場合は対象物に識別コードを個別に印字する、またICチップを利用する場合は対象物にICチップを埋め込む、あるいはICタグを付与するなど、対象物に対して何らかの処理を個別に行うことが必要であり、コストアップやデザイン上の制約が生じ、導入する際の障害になっていた。
There are not a few situations in which authenticity of an object is required in the field of identification card, card for identity authentication such as membership card, or industrial goods management. For such authenticity determination, a method of applying an optical identification code such as a bar code or a two-dimensional code or an electromagnetic identification element such as an IC chip is often used.
However, when using an optical identification code, the identification code is individually printed on the object. When using an IC chip, the IC chip is embedded in the object or an IC tag is attached to the object. Some processing must be performed individually, resulting in increased costs and design constraints, which has been an obstacle to introduction.

近年、新たに対象物の表面状態を検出して真偽判定に用いる技術が公開されている。
例えば、特許第3927326号(特許文献1)に示される技術は、対象物にレーザ光を照射し、その際に反射光として生じるスペックルパターンを検出し、認証に利用する技術である。
スペックルパターンは、レーザ光のようなコヒーレントな光が物体に照射された際に、物体の表面の凹凸によるランダム干渉により作り出される斑点状の模様(パターン)であるが、物体が同じ素材であっても対象物毎に異なるパターンを示す。そこで、予め同じ条件で対象物毎のパターンを測定しておき、被検物のパターンと予め測定したパターンを比較照合することにより真偽判定が可能となる。
特許文献1に記載の技術は、対象物に対し個別に印字やICチップを付加する必要がなく、対象物そのものの表面で判別するため、導入に際しての負荷が少ないことが特徴として挙げられる。
特許第3927326号公報
In recent years, a technique for newly detecting the surface state of an object and using it for authenticity determination has been disclosed.
For example, the technique disclosed in Japanese Patent No. 3927326 (Patent Document 1) is a technique that irradiates an object with laser light, detects a speckle pattern generated as reflected light at that time, and uses it for authentication.
A speckle pattern is a speckled pattern created by random interference caused by unevenness on the surface of an object when it is irradiated with coherent light such as laser light. However, the object is the same material. However, a different pattern is shown for each object. Therefore, it is possible to determine authenticity by measuring a pattern for each object in advance under the same conditions, and comparing and comparing the pattern of the test object with the pattern measured in advance.
The technique described in Patent Document 1 is characterized in that it is not necessary to individually add printing or an IC chip to an object, and because the determination is made on the surface of the object itself, the load at the time of introduction is small.
Japanese Patent No. 3927326

しかしながら、特許文献1に記載の技術は、レーザ光を照射した際の反射光を利用するため、対象物が透明な場合は適用できないという欠点がある。物品の外装材として透明な素材は広く利用されており、またIDカードでも意匠性を高めるために透明素材が用いられる場合もあるため、このような透明な素材で構成される物品(透明体)に対し、表面の意匠を損なうことなく、また識別のための素子等を付加することなく、真偽判定ができることは極めて有用である。 However, since the technique described in Patent Document 1 uses reflected light when irradiated with laser light, there is a drawback that it cannot be applied when the object is transparent. Transparent materials are widely used as exterior materials for articles, and transparent materials are sometimes used to enhance the design of ID cards, so articles made of such transparent materials (transparent materials) On the other hand, it is extremely useful to be able to determine authenticity without deteriorating the surface design and without adding an element for identification.

そこで、本発明は、対象物に対して個別に識別コードを付与する等の処理を必要とせずに透明な対象物に対しても真偽判定が可能となるシステムを提供することを課題とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a system capable of determining authenticity even for a transparent object without requiring a process such as individually assigning an identification code to the object. .

上記課題を解決するための本発明の真偽判定システムは、
レーザ光が物体に照射されたときに現れるスペックルパターンを利用した真偽判定システムであって、
透明基材と、入射光のうち所定の中心波長領域の左円偏光もしくは右円偏光のいずれか一方を反射し残りは透過する特性を有する光選択反射層からなる真偽判定体表面の予め定められた照射域にレーザ光を照射するレーザ光照射部と、前記照射域にレーザ光を照射して得られる固有のスペックルパターンを撮像する撮像部とからなる第1のスッペクルパターン検出手段と、前記第1のスッペクルパターン検出手段から得られるスペックルパターン情報を、真偽判定体を特定する識別コードと関連付けて登録する登録手段と、レーザ光照射部と撮像部からなる第2のスッペクルパターン検出手段から得られるスペックルパターン情報と前記登録手段に登録されたスペックルパターン情報とを照合する照合手段と
を備え
前記レーザ光照射部は円偏光変換フィルタを備え、所定の偏光に変換されたレーザ光を真偽判定体表面に照射することを特徴とする。
The authenticity determination system of the present invention for solving the above problems is
A true / false determination system using a speckle pattern that appears when an object is irradiated with laser light,
The surface of the authenticity judgment body comprising a transparent base material and a light selective reflection layer having a characteristic of reflecting either the left circularly polarized light or the right circularly polarized light in the predetermined central wavelength region of the incident light and transmitting the remaining light. First speckle pattern detection means comprising: a laser beam irradiation unit that irradiates a predetermined irradiation region with laser light; and an imaging unit that images a specific speckle pattern obtained by irradiating the irradiation region with laser light A registration unit that registers the speckle pattern information obtained from the first speckle pattern detection unit in association with an identification code that identifies the authenticity determination object, a second unit that includes a laser beam irradiation unit and an imaging unit. Collation means for collating speckle pattern information obtained from the speckle pattern detection means and speckle pattern information registered in the registration means ;
Equipped with a,
The laser light irradiation unit includes a circularly polarized light conversion filter, and irradiates the surface of the authenticity determination body with laser light converted to a predetermined polarization .

らに、上記撮像部は、円偏光選択フィルタを備え、所定偏光成分のレーザ光を撮像する
ようにしたことを特徴とする。
また、上記の照射域は、光選択反射層の表面の領域であることを特徴とする。
Et al is, the imaging unit includes a circular polarization selective filter, characterized in that so as to image the laser beam of the predetermined polarization component.
Further, the irradiation area is a surface area of the light selective reflection layer.

本発明の真偽判定システムでは、レーザ光照射部と真偽判定体とを走査手段により相対的に移動させることで、前記走査域にレーザ光を照射し、前記照射域からのスペックルパターンをフォトセンサで検出することによりスペックルパターン情報を得る。 In the authenticity determination system of the present invention, the laser light irradiation unit and the authenticity determination object are relatively moved by the scanning unit, so that the scanning area is irradiated with the laser light, and the speckle pattern from the irradiation area is obtained. Speckle pattern information is obtained by detecting with a photo sensor.

また、本発明の真偽判定システムは、第1のスッペクルパターン検出手段と第2のスッペクルパターン検出手段と前記登録手段はネットワークを介して接続される形態であることを特徴とする。 The authenticity determination system of the present invention is characterized in that the first speckle pattern detection means, the second speckle pattern detection means, and the registration means are connected via a network.

本発明の真偽判定システムによれば、判定対象とする対象物に対して、個別に識別コードの印字やICチップなどの判定のための素子等を付加することなく真偽判定のための比較照合が可能となる。特に、通常の手段では検出が困難な透明な対象物に対しても、透明性を損うことなく真偽判定が可能となる。 According to the authenticity determination system of the present invention, comparison for authenticity determination is performed without adding an element for determining an identification code, an IC chip, or the like to an object to be determined individually. Verification is possible. In particular, it is possible to determine the authenticity of a transparent object that is difficult to detect by ordinary means without impairing transparency.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の真偽判定システムの構成図である。
本発明の真偽判定システム は、光選択反射層を持つ真偽判定体10と、真偽判定体10にレーザ光を照射し、反射したレーザ光が作るスペックルパターンを撮像するスッペクルパターン検出手段1(第1のスペックルパターン検出手段)、同1´(第2のスペックルパターン検出手段)、およびスペックルパターンの登録、照合などを行う真偽判定サーバ50からなり、図の例では、スッペクルパターン検出手段1、1´と真偽判定サーバ50とは、ネットワーク5を介して結ばれた形態としている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a configuration diagram of a true / false determination system according to the present invention.
The authenticity determination system according to the present invention includes a true / false determination object 10 having a light selective reflection layer, and a speckle pattern detection that irradiates a laser light to the authenticity determination object 10 and images a speckle pattern formed by the reflected laser light. Means 1 (first speckle pattern detection means), 1 ′ (second speckle pattern detection means), and a true / false determination server 50 for registering and collating speckle patterns. The speckle pattern detection means 1, 1 ′ and the authenticity determination server 50 are connected via the network 5.

スッペクルパターン検出手段1、1´は、それぞれレーザ照射部21と撮像部22を持ち、検査対象物(被検体)上の真偽判定体10にレーザ光を照射し、光選択反射層から反射されるレーザ光が作るパターン(スペックルパターン)を撮像する。なお、スッペクルパターン検出手段1、1´に関しては、図3のようなスッペクルパターン検出装置20を例として後に詳述する。 The speckle pattern detection means 1 and 1 ′ have a laser irradiation unit 21 and an imaging unit 22, respectively, irradiate the authenticity determination body 10 on the inspection object (subject) with laser light and reflect it from the light selective reflection layer. A pattern (speckle pattern) created by the laser beam to be captured is imaged. The speckle pattern detection means 1, 1 ′ will be described in detail later by taking a speckle pattern detection device 20 as shown in FIG. 3 as an example.

真偽判定サーバ50の登録手段51は、予め、IDコードのような被検体を特定できる識別コードとそのスペックルパターンを登録するためのもので、スッペクルパターン検出手段1からのパターンデータを、被検体のIDと紐付けしてデータ格納部53に格納する。予め全ての被検体について同様の手順を経て、被検体のIDとスペックルパターンを格納する。 The registration means 51 of the authenticity determination server 50 is for registering an identification code such as an ID code and a speckle pattern in advance, and the pattern data from the speckle pattern detection means 1 The data is stored in the data storage unit 53 in association with the ID of the subject. The ID and speckle pattern of the subject are stored in advance through the same procedure for all the subjects.

照合手段52は、真偽判定時に、未知の被検体のスペックルパターンと登録されたスペックルパターンを照合するためのものである。すなわち、未知の被検体をスッペクルパターン検出手段1´で測定し、得られたスッペクルパターンを照合手段52でパターンDB55のパターンと比較照合し、一致するものがあれば「真」、それ以外は「偽」と判定される。
なお、スッペクルパターン検出手段1と同1´は同一装置の場合もあるし、異なる装置となる場合もある。
The collating means 52 is for collating the speckle pattern of an unknown subject with the registered speckle pattern at the time of authenticity determination. That is, an unknown subject is measured by the speckle pattern detecting means 1 ′, and the speckle pattern obtained is compared and collated with the pattern in the pattern DB 55 by the collating means 52. If there is a match, “true”, otherwise Is determined to be “false”.
Note that the speckle pattern detecting means 1 and 1 'may be the same device or different devices.

図2に本発明の真偽判定システムにおける真偽判定体の構造を示す。
真偽判定体10は、透明部材からなる基材11と光選択反射層12からなり、光選択反射層12は、入射光のうち所定の中心波長領域の左円偏光もしくは右円偏光のいずれか一方を反射し、残りは透過する特性を有する素材からなる層である。光選択反射層12は、上記中心波長領域以外の光を透過するため、目視では殆ど透明に見えるが、光選択反射層12の特性(円偏光の向き、波長)に合わせたレーザ光を照射すると光選択反射層12によってレーザ光は反射する。このとき、光選択反射層12の固有の状態に応じたスペックルパターンが生じるため、このパターンを検出し照合に用いることにより真偽判定を行うことができる。
FIG. 2 shows the structure of the authenticity determination body in the authenticity determination system of the present invention.
The authenticity determination body 10 includes a base material 11 made of a transparent member and a light selective reflection layer 12. The light selective reflection layer 12 is either left circularly polarized light or right circularly polarized light in a predetermined central wavelength region of incident light. A layer made of a material having a characteristic of reflecting one side and transmitting the rest. Since the light selective reflection layer 12 transmits light outside the above-described central wavelength region, the light selective reflection layer 12 looks almost transparent to the naked eye, but when irradiated with laser light that matches the characteristics (direction of circularly polarized light, wavelength) of the light selective reflection layer 12 The laser light is reflected by the light selective reflection layer 12. At this time, since a speckle pattern corresponding to the unique state of the light selective reflection layer 12 is generated, the authenticity determination can be performed by detecting this pattern and using it for collation.

このような光選択反射層12の特性から、透明部材からなる基材11と光選択反射層12で構成された真偽判定体10は、透明性を持つ一方で、上記のように真偽判定に有効な光を選択的に反射する。すなわち、透明体に対する真偽判定が実現できる。なお、真偽判定体としては、少なくとも基材上の一部に光選択反射層12が形成されていればよい。また、基材11は、透明部材である必要はなく、不透明な部材であってもよいが、本発明の特徴である透明体の真偽判定には、基材に透明部材を用いるのが効果的である。 From such characteristics of the light selective reflection layer 12, the authenticity determination body 10 composed of the base material 11 made of a transparent member and the light selective reflection layer 12 has transparency, but the authenticity determination as described above. It selectively reflects light that is effective. That is, the authenticity determination for the transparent body can be realized. In addition, as a authenticity determination body, the light selective reflection layer 12 should just be formed in at least one part on a base material. Further, the base material 11 does not need to be a transparent member and may be an opaque member, but it is effective to use a transparent member for the base material for the authenticity determination of the transparent body, which is a feature of the present invention. Is.

光選択反射層12としては、例えばコレステリック液晶層が挙げられる。コレステリック液晶は所定の選択波長域を中心に左円偏光もしくは右円偏光のいずれか一方を反射する光選択反射性を有する。
コレステリック液晶による円偏光の生成および真偽判定への適用は、本発明と同一の出願人になる特開2000−25373号公報(特許文献2)などに詳説されている。
また、コレステリック液晶を透明基材に塗布、貼付などの方法で透明基材上に積層することにより、本発明で用いられる真偽判定体を得ることができる。コレステリック液晶の形成法は、特許文献2とともに、やはり同一出願人による特開2005−297499号公報(特許文献3)に詳説されている。
特許第2000−25373号公報 特許第2005−297499号公報
Examples of the light selective reflection layer 12 include a cholesteric liquid crystal layer. The cholesteric liquid crystal has light selective reflectivity that reflects either left circularly polarized light or right circularly polarized light around a predetermined selected wavelength range.
The generation of circularly polarized light by cholesteric liquid crystal and its application to authenticity determination are described in detail in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-25373 (Patent Document 2), which is the same applicant as the present invention.
Moreover, the authenticity determination body used by this invention can be obtained by laminating | stacking a cholesteric liquid crystal on a transparent base material by methods, such as application | coating and sticking, on a transparent base material. A method for forming a cholesteric liquid crystal is described in detail in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-297499 (Patent Document 3) by the same applicant as well as Patent Document 2.
Japanese Patent No. 2000-25373 Japanese Patent No. 2005-297499

また、透明部材としては、使用目的にもよるので、限定されるものではないが、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート、ポリビニルアルコール、ポリスルホン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリアリレート、トリアセチルセルロース(TAC)、ジアセチルセルロース、ポリエチレン/ビニルアルコール等の各種のプラスチック素材を例示することができる。 The transparent member is not limited because it depends on the purpose of use. For example, polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate, polyvinyl alcohol, polysulfone, polyethylene, polypropylene, polystyrene, polyarylate, triacetyl cellulose ( TAC), diacetylcellulose, polyethylene / vinyl alcohol, and other various plastic materials.

図3にスッペクルパターン検出装置の構成を示す。
スッペクルパターン検出装置20は真偽判定体10にレーザ光を照射するためのレーザ光源21、および反射光によって生じるスペックルパターンを検出するための撮像部22からなる。レーザ光源の波長は光選択反射層12の選択反射域の中心波長に近いほど好ましい。
レーザ光源からのレーザ光に光選択反射層12で選定された同じ円偏光成分が含まれていればそのまま真偽判定体に照射しても良いが、円偏光変換フィルタ32を介して照射することにより、円偏光成分を増やすことができる。例えば、直線偏光を主成分とするレーザ光源から出る光を、図4(a)に示すような直線偏光板とλ/4板(位相板)による円偏光変換フィルタ32を入れることにより円偏光に変換することができる。
FIG. 3 shows the configuration of the speckle pattern detection apparatus.
The speckle pattern detection apparatus 20 includes a laser light source 21 for irradiating the authenticity determination body 10 with laser light and an imaging unit 22 for detecting a speckle pattern generated by reflected light. The wavelength of the laser light source is preferably closer to the center wavelength of the selective reflection region of the light selective reflection layer 12.
If the same circularly polarized light component selected by the light selective reflection layer 12 is included in the laser light from the laser light source, the authenticity determination body may be irradiated as it is, but it is irradiated through the circular polarization conversion filter 32. Thus, the circularly polarized light component can be increased. For example, light emitted from a laser light source mainly composed of linearly polarized light is converted into circularly polarized light by inserting a circularly polarizing conversion filter 32 using a linearly polarizing plate and a λ / 4 plate (phase plate) as shown in FIG. Can be converted.

位相板31は、複屈折を示す物質に光が通る際の進相軸と遅相軸での速度差から生じる位相の違いから「位相差」を生じさせる光学板である。λ/4板42は、同板を透過した光に1/4波長分(90度)の位相差が生じることを示し、直線偏光成分を円偏光に、また円偏光成分を直線偏光に変換する特性を持つ。 The phase plate 31 is an optical plate that generates a “phase difference” from a phase difference caused by a speed difference between a fast axis and a slow axis when light passes through a substance exhibiting birefringence. The λ / 4 plate 42 indicates that a phase difference of ¼ wavelength (90 degrees) is generated in the light transmitted through the plate, and converts the linearly polarized light component into circularly polarized light and the circularly polarized light component into linearly polarized light. Has characteristics.

反射光を検出するための撮像部22は、真偽判定体からの反射光をそのまま受けてもよいが、光選択反射層12が選択反射する円偏光成分と同じ円偏光成分を透過する円偏光選択フィルタ33を介して受けることが好ましい。円偏光選択フィルタ33を介すことにより、他の偏光成分から成る光が遮蔽されるため、真偽判定体からの反射光を効率よく検出することができる。 The imaging unit 22 for detecting reflected light may receive the reflected light from the authenticity determination body as it is, but circularly polarized light that transmits the same circularly polarized component as the circularly polarized component that is selectively reflected by the light selective reflection layer 12. It is preferable to receive via the selection filter 33. By passing through the circularly polarized light selection filter 33, light composed of other polarization components is shielded, so that the reflected light from the authenticity determination body can be detected efficiently.

図4(b)に円偏光選択フィルタ33の構成を示す。λ/4板42と直線偏光板41を適切に組み合わせることで右円偏光もしくは左円偏光成分を有する光のみを透過させることができる。なお、直線偏光板41は不要偏光成分を除去するためのものである。
図4は、λ/4板42と直線偏光板41を組み合せた円偏光フィルタを表したもので、図4(a)は直線偏光を円偏光に、また、図4(b)は円偏光を直線偏光に変換する様子を示す。
FIG. 4B shows the configuration of the circularly polarized light selection filter 33. By appropriately combining the λ / 4 plate 42 and the linearly polarizing plate 41, only light having right circularly polarized light or left circularly polarized light component can be transmitted. The linearly polarizing plate 41 is for removing unnecessary polarization components.
FIG. 4 shows a circularly polarizing filter in which a λ / 4 plate 42 and a linearly polarizing plate 41 are combined. FIG. 4A shows linearly polarized light as circularly polarized light, and FIG. 4B shows circularly polarized light. The state of conversion to linearly polarized light is shown.

撮像部22は、例えば二次元CCDのような撮像素子を用い、被検物を固定した状態で真偽判定体の所定の領域からのスペックルパターンを取り込むことができる。
上記の例は、レーザのスポット照射によるスペックルパターンを撮像するが、他に、撮像素子にフォトセンサのような素子を用いて、真偽判定体を動かすことにより一次元あるいは二次元の走査像として取り込み、このパターンで判定することも可能である。この場合は、真偽判定体の移動とともにレーザ光の照射位置も移動するため、スペックルパターンは連続的に変化し、したがってフォトセンサに入力する光は連続的に変化する。この変化のプロファイルを真偽判定に用いればよく、前記走査像は一次元であっても二次元であってもよい。
The imaging unit 22 uses an imaging device such as a two-dimensional CCD, for example, and can capture a speckle pattern from a predetermined area of the authenticity determination body with the test object fixed.
In the above example, a speckle pattern by laser spot irradiation is imaged. In addition, a one-dimensional or two-dimensional scanning image can be obtained by moving an authenticity determination body using an element such as a photosensor as an image sensor. It is also possible to make a determination using this pattern. In this case, since the irradiation position of the laser beam is moved with the movement of the authenticity determination body, the speckle pattern is continuously changed, and therefore the light input to the photosensor is continuously changed. The profile of this change may be used for authenticity determination, and the scanned image may be one-dimensional or two-dimensional.

図5は、真偽判定システムの動作フロー図である。図5(A)は、真偽判定のためのパターンの登録までのフローを、また、図5(B)は、未知パターンの照合判定のフローを示す。
図5(A)のパターン登録に当たっては、スペックルパターン検出手段1を用い、まず、検査箇所と決めた所定の検査域にレーザ光が照射されるよう、対象物をセットする(S51)。続いて、レーザ光照射部21で照射したレーザ光で生じるスペックルパターンを撮像部22により取り込む(S52)。取り込まれたスペックルパターンは、対象物固有の識別コードとともに真偽判定サーバ50に送られる(S53)。なお、識別コードとは、個々の対象物を特定できるものであればよく、例えば製造番号のようなものでもよい。
前記スペックルパターンと識別コードは、関連付けてデータ格納部53に記録される。
上記の手順を全ての対象物に対して繰り返すことにより(S55)、パターンデータDB55のようなデータベースが得られる。
FIG. 5 is an operation flowchart of the authenticity determination system. FIG. 5A shows a flow up to registration of a pattern for authenticity determination, and FIG. 5B shows a flow of unknown pattern matching determination.
In registering the pattern of FIG. 5A, the speckle pattern detection means 1 is used, and first, an object is set so that a predetermined inspection area determined as an inspection location is irradiated with laser light (S51). Subsequently, a speckle pattern generated by the laser beam irradiated by the laser beam irradiation unit 21 is captured by the imaging unit 22 (S52). The fetched speckle pattern is sent to the authenticity determination server 50 together with the identification code unique to the object (S53). The identification code may be any code that can identify individual objects, such as a production number.
The speckle pattern and the identification code are recorded in the data storage unit 53 in association with each other.
By repeating the above procedure for all objects (S55), a database such as the pattern data DB 55 is obtained.

未知の対象物の判定に当たっては、スペックルパターン検出手段1´を用い、登録の際と同様に、同対象物をセットし、レーザ光を照射し(S61)、スッペクルパターンを取り込む(S62)。取り込まれたスッペクルパターンは、真偽判定サーバ50に送られ(S63)、照合手段52は、同スッペクルパターンとパターンデータDB55に格納されたパターンとを比較照合し(S64)、合致するものがあれば「真」、それ以外は「偽」と判定する(S65)。例えば、結果が「真」であれば、対応する識別コードとともに、結果を操作者等に通知すればよい。 In the determination of the unknown object, the speckle pattern detection means 1 ′ is used to set the object, irradiate the laser beam (S61), and capture the speckle pattern (S62) as in the registration. . The fetched speckle pattern is sent to the true / false determination server 50 (S63), and the collating means 52 compares the speckle pattern with the pattern stored in the pattern data DB 55 (S64), and matches them. If there is, “true” is determined, otherwise “false” is determined (S65). For example, if the result is “true”, the result may be notified to the operator or the like together with the corresponding identification code.

以上のように、円偏光とスペックルパターンを用いた本発明の真偽判定システムによれば、判定対象とする対象物に対して、個別に識別コードの印字やICチップなどの判定のための素子等を付加することなく真偽判定のための比較照合が可能となるのはもちろんのこと、特に、通常の手段では検出が困難な透明な対象物に対して、その対象物の透明性や意匠性を損なうことなく真偽判定が可能となる仕組みを提供することができる。 As described above, according to the authenticity determination system of the present invention using circularly polarized light and a speckle pattern, an identification code can be individually printed or an IC chip can be determined for an object to be determined. Of course, comparison and verification for authenticity determination can be performed without adding an element or the like, especially for transparent objects that are difficult to detect by ordinary means. It is possible to provide a mechanism that enables authenticity determination without impairing design properties.

真偽判定システムの構成図Configuration diagram of authenticity determination system 真偽判定体の構成図Authenticator configuration diagram スッペクルパターン検出装置の構成図Configuration diagram of speckle pattern detection device 円偏光フィルタの動作を示す図Diagram showing the operation of the circular polarizing filter 真偽判定システムの動作フロー図Operation flow diagram of authenticity determination system

符号の説明Explanation of symbols

1、1´ スッペクルパターン検出手段
5 ネットワーク
10 真偽判定体
11 基材
12 光選択反射層
20 スッペクルパターン検出装置
21 レーザ光照射部
22 撮像部
32 円偏光変換フィルタ
33 円偏光選択フィルタ
41 直線偏光板
42 λ/4板
50 真偽判定サーバ
51 登録手段
52 照合手段
53 データ格納部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1 'Speckle pattern detection means 5 Network 10 Authenticity determination body 11 Base material 12 Light selective reflection layer 20 Speckle pattern detection apparatus 21 Laser beam irradiation part 22 Imaging part 32 Circular polarization conversion filter 33 Circular polarization selection filter 41 Linear Polarizing plate 42 λ / 4 plate 50 Authenticity determination server 51 Registration unit 52 Verification unit 53 Data storage unit

Claims (5)

スペックルパターンを利用した真偽判定システムであって、
透明基材と、入射光のうち所定の中心波長領域の左円偏光もしくは右円偏光のいずれか一方を反射し残りは透過する特性を有する光選択反射層からなる真偽判定体表面の予め定められた照射域にレーザ光を照射するレーザ光照射部と、
前記照射域にレーザ光を照射して得られる固有のスペックルパターンを撮像する撮像部とからなる第1のスッペクルパターン検出手段と、
前記第1のスッペクルパターン検出手段から得られるスペックルパターン情報を、真偽判定体を特定する識別コードと関連付けて登録する登録手段と、
レーザ光照射部と撮像部からなる第2のスッペクルパターン検出手段から得られるスペックルパターン情報と前記登録手段に登録されたスペックルパターン情報とを照合する照合手段と
を備え
前記レーザ光照射部は円偏光変換フィルタを備え、所定の偏光に変換されたレーザ光を真偽判定体表面に照射することを特徴とする真偽判定システム。
An authenticity determination system using speckle patterns,
The surface of the authenticity judgment body comprising a transparent base material and a light selective reflection layer having a characteristic of reflecting either the left circularly polarized light or the right circularly polarized light in the predetermined central wavelength region of the incident light and transmitting the remaining light. A laser beam irradiation unit for irradiating a predetermined irradiation region with laser beam;
A first speckle pattern detection means comprising an imaging unit that images a specific speckle pattern obtained by irradiating the irradiation area with laser light;
Registration means for registering the speckle pattern information obtained from the first speckle pattern detection means in association with an identification code that identifies the authenticity determination body;
Collating means for collating speckle pattern information obtained from the second speckle pattern detecting means comprising a laser beam irradiation part and an imaging part and speckle pattern information registered in the registering means ;
Equipped with a,
The laser beam irradiation unit includes a circularly polarized light conversion filter, and irradiates the authenticity determination body surface with a laser beam converted into a predetermined polarized light .
前記撮像部は、円偏光選択フィルタを備え、所定偏光成分のレーザ光を撮像するようにしたことを特徴とする請求項1記載の真偽判定システム。 The imaging unit according to claim 1 Symbol placement authenticity determination system characterized in that it comprises a circular polarization selective filter, and adapted to image a laser beam of a predetermined polarization component. 前記照射域は、光選択反射層の表面の領域であることを特徴とする請求項1または2記載の真偽判定システム。 The authenticity determination system according to claim 1 or 2 , wherein the irradiation area is an area of the surface of the light selective reflection layer. 前記レーザ光照射部と真偽判定体とを走査手段により相対的に移動させることで、前記走査域にレーザ光を照射し、前記照射域からのスペックルパターンをフォトセンサで検出してスペックルパターン情報を得ることを特徴とする請求項1〜いずれかに記載の真偽判定システム。 The laser light irradiation unit and the authenticity determination body are relatively moved by a scanning unit, so that the scanning area is irradiated with laser light, and a speckle pattern from the irradiation area is detected by a photosensor, and speckles are detected. authenticity determination system according to any one of claims 1-3, characterized in that to obtain the pattern information. 前記第1のスッペクルパターン検出手段と前記第2のスッペクルパターン検出手段と前記登録手段はネットワークを介して接続されることを特徴とする請求項1〜いずれかに記載の真偽判定システム。 Authenticity determination system according to claim 1-4 wherein the first Suppe cycle pattern detecting means second Suppe cycle pattern detecting means and the registration means, characterized in that it is connected via a network .
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