JP5358527B2 - Spectrophotometer and absorbance measurement method - Google Patents
Spectrophotometer and absorbance measurement method Download PDFInfo
- Publication number
- JP5358527B2 JP5358527B2 JP2010162411A JP2010162411A JP5358527B2 JP 5358527 B2 JP5358527 B2 JP 5358527B2 JP 2010162411 A JP2010162411 A JP 2010162411A JP 2010162411 A JP2010162411 A JP 2010162411A JP 5358527 B2 JP5358527 B2 JP 5358527B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- signal
- reference light
- period
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
本発明は、分光光度計、および吸光度測定方法に関するものである。 The present invention relates to a spectrophotometer and an absorbance measurement method.
分光光度計は光が照射された試料が、その光を吸収した割合い、すなわち吸光度を測定し、波長を横軸とした吸収スペクトルを作成して、試料の成分を分析するものである。 The spectrophotometer measures the proportion of the sample irradiated with light, that is, absorbs the light, that is, absorbs light, creates an absorption spectrum with the wavelength as the horizontal axis, and analyzes the components of the sample.
試料に照射されるリファレンス光の強度と、試料を透過したサンプル光の強度を測定し、両者の比を底を10とする対数で表したものが吸光度である。単位はAU(Absorbance Unit)を用い、10分の1の場合1AU、1万分の1の場合4AUとよぶ。吸光度は、リファレンス光に対するサンプル光の吸収割合であり、液体試料の場合は透過率になる。また、吸光度は、試料濃度に比例する。 The intensity of the reference light irradiated to the sample and the intensity of the sample light transmitted through the sample are measured, and the absorbance is the logarithm with the ratio of the two as the base. The unit is AU (Absorbance Unit), which is called 1 AU for 1/10 and 4 AU for 1 / 10,000. Absorbance is the absorption ratio of sample light to reference light, and in the case of a liquid sample, it is transmittance. The absorbance is proportional to the sample concentration.
波長を横軸とした吸収スペクトルを作成する場合、波長が変わってリファレンス光の強度が低下すると、光検知器の測定誤差の影響が現れ、データの精度が低下する。したがって、リファレンス光は、波長が変わっても光量が変わらないことが望ましい。 When creating an absorption spectrum having the wavelength as the horizontal axis, if the wavelength changes and the intensity of the reference light decreases, the influence of the measurement error of the photodetector appears and the accuracy of the data decreases. Therefore, it is desirable that the reference light does not change even if the wavelength changes.
しかし、可視域の光源として用いられるタングステンランプは、波長によって光量が変化する。また、紫外域の光源として用いられる重水素放電管も、波長によって光量が変化する。点滅を繰り返すのに適しているXeF(フッ化キセノン)ランプは、可視光域の分光分布が太陽光に近いが、重水素放電管やタングステンランプと比較すると、紫外域を含めた光量差が大きく、かつ絶対光量が少ない。また、XeFランプは、点灯と消灯を繰り返して使用されるため、点灯エラーが発生した場合には、得られたデータが不良となる懸念がある。 However, the amount of light of a tungsten lamp used as a light source in the visible range varies depending on the wavelength. Also, the amount of light of the deuterium discharge tube used as a light source in the ultraviolet region varies depending on the wavelength. The XeF (xenon fluoride) lamp, which is suitable for repeated blinking, has a spectral distribution in the visible light region close to that of sunlight, but the light intensity difference including the ultraviolet region is large compared to deuterium discharge tubes and tungsten lamps. And there is little absolute light quantity. Further, since the XeF lamp is repeatedly turned on and off, there is a concern that the obtained data may be defective when a lighting error occurs.
光源の光量が変化しても、光検知器の出力信号を積分して蓄積時間を長くすることで、波長が変わってもデータの分解能が変わらないようにする技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 A technique has been proposed in which the resolution of data does not change even if the wavelength changes by integrating the output signal of the light detector and extending the accumulation time even if the light amount of the light source changes (for example, Patent Document 1).
上記特許文献1には、積分値が一定値になるまで光検知器の積分時間を出力信号レベルに応じて変えることが記載されている。しかし、積分周期は一定なので、光量が少ない場合、データを得るまでの時間がかかってしまう。 Patent Document 1 describes that the integration time of the photodetector is changed according to the output signal level until the integration value becomes a constant value. However, since the integration period is constant, it takes time to obtain data when the amount of light is small.
本発明は、波長の変化により光量が少なくなる光源を使用したときに、ノイズの比率の上昇を防ぎ、紫外域および可視域での良好な吸収スペクトルを得ることができる分光光度計を提供することを目的とする。 The present invention provides a spectrophotometer capable of preventing an increase in the ratio of noise and obtaining a good absorption spectrum in the ultraviolet region and visible region when using a light source that reduces the amount of light due to a change in wavelength. With the goal.
上記課題を解決するために、本発明の実施態様は、リファレンス光の光検知器と試料を透過したサンプル光の光検知器のそれぞれを積分して光量を蓄積するとともに、リファレンス光の光量が予め設定された閾値を下回った場合、リファレンス光の光検知器と試料を透過したサンプル光の光検知器のそれぞれの積分時間を拡大するとともに、積分により得られたリファレンス光の信号およびサンプル光の信号のAD変換の周期を拡大することを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, the embodiment of the present invention integrates the light detector of the reference light and the light detector of the sample light transmitted through the sample to accumulate the light amount, and the light amount of the reference light is previously set. When the threshold value is below the set threshold, the integration time of the reference light detector and the sample light detector that has passed through the sample is expanded, and the reference light signal and sample light signal obtained by integration are expanded. The AD conversion cycle is expanded.
本発明によれば、波長の変化により光量が少なくなる光源を使用したときに、ノイズの比率の上昇を防ぎ、紫外域および可視域での良好な吸収スペクトルを得ることができる分光光度計を提供することができる。 According to the present invention, there is provided a spectrophotometer capable of preventing an increase in the ratio of noise and obtaining a good absorption spectrum in the ultraviolet region and the visible region when a light source whose amount of light is reduced due to a change in wavelength is used. can do.
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は、分光光度計の一例の可視紫外分光光度計の主要な構成を示す構成図である。光源電源1から電源が供給された光源2から発生したリファレンス光は、分光器16内の回折格子3で特定の波長に分光され、単波長の測定波長となる。制御部12は、光源電源1へパルス状の点灯信号を与え、XeFランプである光源2は、パルス発光する。回折格子3は、制御部12により制御される波長駆動モータ13で駆動される。測定波長のリファレンス光は、ハーフミラーにより二方向に分けられ、リファレンス光検知器6で検知されるとともに、試料セル5を透過してサンプル光としてサンプル光検知器9で検知される。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a main configuration of a visible ultraviolet spectrophotometer as an example of a spectrophotometer. The reference light generated from the
リファレンス光検知器6からは、パルス状のリファレンス光信号がリファレンス光積分アンプ7へ送られ、積分されてリファレンス光積分アンプ出力信号となり、リファレンス光信号AD変換器8にてアナログ信号からパルス状のリファレンス光AD変換信号に変換され、リファレンスデータとして制御部12の図示しない記憶部に格納される。
From the reference light detector 6, a pulsed reference light signal is sent to the reference
サンプル光検知器9で検知されたパルス状のサンプル光は、サンプル光積分アンプ10にて積分されてサンプル光積分アンプ出力信号となり、サンプル光信号AD変換器11にてアナログ信号からパルス状のサンプル光AD変換信号に変換され、サンプルデータとして制御部12の図示しない記憶部に格納される。
The pulsed sample light detected by the sample light detector 9 is integrated by the sample
制御部12には、コンピュータ15と、データ表示装置14が接続され、制御部12で実行される一連の制御の指示、あるいは測定データの画面表示が行われる。制御部12では、格納されたリファレンスデータとサンプルデータから吸光度を演算し、コンピュータ15やデータ表示装置14に吸光度データを送信する。
A
図2は、光源の不点灯処理を示すフローチャートである。図1に示した光源2は、制御部12から送られる点灯信号に従って、パルス状の点灯を行うが、点灯しないエラーが発生した場合、継続取得しているデータに欠落が生じてしまう。そこで、制御装置12は、以下に示すプログラミングされた手順を実行する。初期測定および条件設定において、分光器16の各機器の初期化、測定波長の設定が行われる(ステップ21)。次に、基本データ測定として、ある測定波長におけるリファレンス光を、適正なエネルギーレベルで測定し(ステップ22)、基本データ(X)を取得し、図示しない記憶部へ格納する(ステップ23)。次に、ある波長について、実際のデータ測定を行い、リファレンス光の実データ(Yt)を取得する(ステップ24)。次に、光源の点灯エラーの有無を判定する(ステップ25)。基本データ(X)を閾値Xとし、実データ測定毎に実データ(Yt)の値を比較し、実データ(Yt)が基本データ(X)の10分の1程度以下等、十分小さい場合には、不点灯エラー発生有と判断する。そして、実データへ不点灯であることを示すタグを付け、必要に応じて実データの収集を停止する(ステップ26)。ステップ25で光源の点灯エラーがない場合は、次の波長について実データ(Yt)を取得する。以下これを繰り返す。
FIG. 2 is a flowchart showing the light source non-lighting process. The
図3は、光源の光量が低いときの積分時間処理を示すフローチャートである。吸収スペクトルには、避けられない一定レベルの固定ノイズが重畳しているが、光源の光量が少ないと、光量に対する固定ノイズの割合が大きくなり、データの精度に影響を与える。初期測定および条件設定において、分光器16の各機器の初期化、測定波長の設定が行われる(ステップ31)。次に、ひとつの波長をnとしたとき、基本データ測定として、リファレンス光の設定された全波長領域における光量を測定し(ステップ32)、基本データ(Xa n)として図示しない記憶部へ格納し、例えば、基本データのうちの最大光量(Xa max.)の4分の1を閾値Eとする(ステップ33)。これにより、実データが、最大光量の4分の1より低い光量の波長についてのみ、積分時間処理を行うようにする。次に、ステップ33で記憶部へ格納した基本データ(Xa n)と閾値Eとを比較し(ステップ34)、基本データ(Xa n)が閾値Eより同じか大きい場合は、積分周期を光源2の点灯の周期tと同じままとして(ステップ35)、実データ(Yt)の測定を行う(ステップ36)。基本データ(Xa n)が閾値Eより小さい場合は、積分周期を光源2の点灯の周期tの2倍として(ステップ37)、実データ(Y2t)の測定を行う(ステップ38)。以上のように、制御装置12は、基本データの測定から閾値を決め、光量判定の後、光量が低い場合には、実データを例えば通常の2倍の時間で測定して積分しAD変換を行う積分時間制御を行うので、AD変換器からの信号のノイズの比率の上昇を防ぐことができ、紫外域および可視域での良好な吸収スペクトルを得ることができる。
FIG. 3 is a flowchart showing the integration time process when the light amount of the light source is low. In the absorption spectrum, fixed noise of a certain level that cannot be avoided is superimposed. However, if the light amount of the light source is small, the ratio of the fixed noise to the light amount increases, which affects the data accuracy. In the initial measurement and condition setting, each instrument of the spectrometer 16 is initialized and the measurement wavelength is set (step 31). Next, when one wavelength is n, as the basic data measurement, the light quantity in the entire wavelength region where the reference light is set is measured (step 32), and is stored in the storage unit (not shown) as the basic data (Xan). For example, ¼ of the maximum light amount (Xa max.) In the basic data is set as the threshold value E (step 33). As a result, the integration time processing is performed only for the wavelength of light whose actual data is lower than a quarter of the maximum light. Next, the basic data (Xan) stored in the storage unit in step 33 is compared with the threshold value E (step 34). If the basic data (Xan) is equal to or larger than the threshold value E, the integration period is set to the
図4は、出力信号の時間的変化を示すタイムチャートである。図1に示した光源2の点灯エラーや光量が低下したとき以外の正常時では、光源2から得られる光量は、波形41で示すような、周期tのパルス状の波形をしている。図1で説明したように、リファレンス光はリファレンス光積分アンプ7で、サンプル光はサンプル光積分アンプ10で積分され、波形42で示すような出力信号が出力される。続いてリファレンス光積分アンプ7からの出力がリファレンス光信号AD変換器8で、サンプル光積分アンプ10からの出力がサンプル光信号AD変換器11で、波形43に示すような周期tの矩形波に成形され、リファレンスデータおよびサンプルデータとして制御部12へ送信される。
FIG. 4 is a time chart showing temporal changes in the output signal. In the normal state other than when the
次に、不点灯処理を説明する。光源2の波形51は、正常点灯波形aに対してリファレンス光積分アンプ7とサンプル光積分アンプ10から波形52の波形a′の出力信号が、周期tで出力される。しかし、点灯しない場合の波形bに対しては、周期tのときにあるべき波形51の変化がないため、波形52も、周期tに対応する時間区間内で、波形b′で示されるように変化しない。図2に示した閾値Xを波形52に重ね合わせると図4に示すようになる。点灯しない場合は、図2のステップ24で実データ(Yt)を測定するごとに実行されるステップ25の、実データ(Yt)の波形52が閾値Xを超えるかどうかの判定で閾値Xを超えないので、不点灯と判断できる。
Next, the non-lighting process will be described. As for the
次に、光源の光量が低いときの処理を説明する。光源2は周期tで点灯して波形61になるが、光量が少ないと、リファレンス光がリファレンス光積分アンプ7で積分された波形62、または、サンプル光がサンプル光積分アンプ10で積分された波形62が、図3のステップ33で定義された閾値Eを超えないので、ステップ34で光量不足と判定される。この場合、ステップ37で、制御装置12により、リファレンス光積分アンプ7またはサンプル光積分アンプ10での積分の周期が、正常時の周期tの2倍に設定され、AD変換を行い、波形63を得る。これにより、AD変換器からの信号のノイズの比率の上昇を防ぐことができ、紫外域および可視域での良好な吸収スペクトルを得ることができる。
Next, processing when the light amount of the light source is low will be described. The
このように、本発明の実施例は、リファレンス光の光検知器と試料を透過したサンプル光の光検知器のそれぞれを積分して光量を蓄積するとともに、リファレンス光の光量が予め設定された閾値を下回った場合、リファレンス光の光検知器と試料を透過したサンプル光の光検知器のそれぞれの積分時間を拡大するとともに、積分により得られたリファレンス光の信号およびサンプル光の信号のAD変換の周期を拡大することを特徴としている。 As described above, the embodiment of the present invention integrates the light detector of the reference light and the light detector of the sample light transmitted through the sample to accumulate the light amount, and sets the light amount of the reference light to a preset threshold value. Below, the integration time of the reference light detector and the sample light detector that has passed through the sample is expanded, and the AD conversion of the reference light signal and the sample light signal obtained by the integration is performed. It is characterized by expanding the period.
これにより、波長の変化により光量が少なくなる光源を使用したときに、ノイズの比率の上昇を防ぎ、紫外域および可視域での吸収スペクトルを得ることができる可視紫外分光光度計を提供することができる。また、光源の点灯エラーが発生したときに、そのときのデータに点灯エラーであることを示す印を付加するとともに、必要に応じてデータの測定を停止させ、点灯エラー時のデータを他と区別するので、分析データ全体の信頼性が向上するという効果を得ることができる。 This provides a visible ultraviolet spectrophotometer that can prevent an increase in the ratio of noise and obtain an absorption spectrum in the ultraviolet region and the visible region when using a light source that reduces the amount of light due to a change in wavelength. it can. In addition, when a light source lighting error occurs, a mark indicating that it is a lighting error is added to the data at that time, and measurement of the data is stopped as necessary to distinguish the data at the time of the lighting error from others. Therefore, the effect that the reliability of the entire analysis data is improved can be obtained.
2 光源
3 回折格子
6 リファレンス光検知器
7 リファレンス光積分アンプ
8 リファレンス光信号AD変換器
9 サンプル光検知器
10 サンプル光積分アンプ
11 サンプル光信号AD変換器
12 制御部
14 データ表示装置
15 コンピュータ
2 light source 3 diffraction grating 6
Claims (4)
前記光をリファレンス光とサンプル光へ分けるハーフミラーと、
前記リファレンス光の光検知器からの信号を積分するリファレンス光積分アンプと、
前記リファレンス光積分アンプからの信号をディジタル信号へ変換するリファレンス光信号AD変換器と、
前記試料を透過したサンプル光の光検知器からの信号を積分するサンプル光積分アンプと、
前記サンプル光積分アンプからの信号をディジタル信号へ変換するサンプル光信号AD変換器と、
前記リファレンス光の光量が予め設定された閾値を下回った場合、前記リファレンス光の光検知器と前記試料を透過したサンプル光の光検知器のそれぞれの積分時間を拡大するとともに、前記積分により得られたリファレンス光の信号およびサンプル光の信号のAD変換の周期を拡大する制御装置とを備えたことを特徴とする分光光度計。 In a spectrophotometer that irradiates a sample with light of a specific wavelength at a specific period and obtains the absorbance of the sample when the wavelength is changed,
A half mirror that separates the light into reference light and sample light;
A reference light integrating amplifier that integrates a signal from the photodetector of the reference light;
A reference optical signal AD converter for converting a signal from the reference optical integration amplifier into a digital signal;
A sample light integrating amplifier that integrates the signal from the light detector of the sample light transmitted through the sample;
A sample optical signal AD converter for converting a signal from the sample optical integration amplifier into a digital signal;
When the light amount of the reference light falls below a preset threshold value, the integration time of each of the reference light photodetector and the sample light photodetector transmitted through the sample is expanded and obtained by the integration. A spectrophotometer comprising: a control device that expands the AD conversion period of the reference light signal and the sample light signal.
前記積分時間は、前記試料に照射される光の周期の2倍であり、かつ、前記AD変換の周期は、前記試料に照射される光の周期の2倍であることを特徴とする分光光度計。 The outer spectrophotometer according to claim 1,
The spectrophotometer characterized in that the integration time is twice the period of light irradiated on the sample, and the period of AD conversion is twice the period of light irradiated on the sample. Total.
前記光をリファレンス光と前記試料を透過するサンプル光とに分け、前記リファレンス光の光検知器と前記サンプル光の光検知器のそれぞれを積分して光量を蓄積するとともに、前記リファレンス光の蓄積された光量が予め設定された閾値を下回った場合、前記リファレンス光の光検知器と前記サンプル光の光検知器のそれぞれの積分時間を拡大するとともに、前記積分により得られた前記リファレンス光の信号および前記サンプル光の信号のAD変換の周期を拡大することを特徴とする吸光度測定方法。The light is divided into a reference light and a sample light that passes through the sample, and each of the reference light detector and the sample light detector is integrated to accumulate a light amount, and the reference light is accumulated. When the amount of light falls below a preset threshold value, the integration time of each of the reference light photodetector and the sample light photodetector is expanded, and the reference light signal obtained by the integration and A method for measuring absorbance, comprising: expanding an AD conversion cycle of the signal of the sample light.
前記積分時間は、The integration time is
前記試料に照射される光の周期の2倍であり、かつ、前記AD変換の周期は、前記試料に照射される光の周期の2倍であることを特徴とする吸光度測定方法。The absorbance measurement method characterized in that the period of light irradiated on the sample is twice and the period of AD conversion is twice the period of light irradiated on the sample.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010162411A JP5358527B2 (en) | 2010-07-20 | 2010-07-20 | Spectrophotometer and absorbance measurement method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010162411A JP5358527B2 (en) | 2010-07-20 | 2010-07-20 | Spectrophotometer and absorbance measurement method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012026730A JP2012026730A (en) | 2012-02-09 |
JP5358527B2 true JP5358527B2 (en) | 2013-12-04 |
Family
ID=45779864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010162411A Expired - Fee Related JP5358527B2 (en) | 2010-07-20 | 2010-07-20 | Spectrophotometer and absorbance measurement method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5358527B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6167920B2 (en) * | 2014-01-31 | 2017-07-26 | 株式会社島津製作所 | Spectrophotometer |
CN104897579A (en) * | 2015-06-25 | 2015-09-09 | 南京信息工程大学 | Water turbidity measuring system and method based on gating double optical paths |
JP6729336B2 (en) * | 2016-12-08 | 2020-07-22 | コニカミノルタ株式会社 | Reflection/transmission characteristic measuring device |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54113384A (en) * | 1978-02-24 | 1979-09-04 | Hitachi Ltd | Multi-wave spectroscopic photometer |
JPS57128823A (en) * | 1981-02-02 | 1982-08-10 | Shimadzu Corp | Spectrum measuring device |
JPS59178339A (en) * | 1983-03-29 | 1984-10-09 | Toshiba Corp | Measuring apparatus for absorbance |
JPH06307933A (en) * | 1993-04-21 | 1994-11-04 | Shimadzu Corp | Multiwavelength spectrophotometer |
DE19511782C2 (en) * | 1995-03-30 | 1997-07-31 | Kurandt System Gmbh | Process for checking color printing originals and device for carrying out the process |
JPH1019679A (en) * | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Shimadzu Corp | Spectrophotometer |
JP3297737B2 (en) * | 2000-02-16 | 2002-07-02 | 埼玉大学長 | Spectral imaging device |
JP2006153898A (en) * | 2006-03-16 | 2006-06-15 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Absorbance meter |
-
2010
- 2010-07-20 JP JP2010162411A patent/JP5358527B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012026730A (en) | 2012-02-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10508988B2 (en) | Method and system for gas detection | |
JP2007218787A (en) | Wavelength calibration method and device | |
JP5358527B2 (en) | Spectrophotometer and absorbance measurement method | |
JP2008256380A (en) | Optical measuring instrument and adjustment method therefor | |
JP2016109432A (en) | Spectrometric measurement device and spectrometric measurement method | |
US10816398B2 (en) | Spectrometer and spectrum measurement method thereof | |
US20150021491A1 (en) | Method and apparatus for measuring concentration of advanced-oxidation active species | |
JP6167920B2 (en) | Spectrophotometer | |
CN104422516A (en) | Wavelength calibration method for monochromator, and spectrophotometer | |
JP5556362B2 (en) | Spectral characteristic measuring apparatus and calibration method thereof | |
JP5900137B2 (en) | Solar cell evaluation apparatus and method | |
WO2011102377A1 (en) | Spectrophotometer and method for measuring performance thereof | |
US20130107255A1 (en) | Spectrophotometer | |
JP6646204B2 (en) | Measuring device using ultraviolet light source | |
JP5741774B1 (en) | Solar cell absolute spectral sensitivity measuring apparatus and method | |
JP2008096241A (en) | Spectrophotometer | |
JP3142018U (en) | Spectroscopic analyzer | |
JPH10185686A (en) | Spectrophotometer | |
JP5895691B2 (en) | Solar cell evaluation apparatus and method | |
Shaw et al. | Measurement of the ultraviolet-induced fluorescence yield from integrating spheres | |
WO2013046861A1 (en) | Spectrophotometer and signal integration method for spectrophotometer | |
JP2005037242A (en) | Spectroanalytical instrument | |
JP2013234895A (en) | Solar cell evaluating device and method | |
JP5654778B2 (en) | Image sensor, spectroscopic device, and method of operating image sensor | |
JP2003185498A (en) | Spectrophotometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120517 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120824 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120824 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130612 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130618 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130712 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130806 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130902 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |