JP5333335B2 - Material testing machine - Google Patents
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Description
この発明は、試験片に対して試験力を付与することにより材料試験を実行する材料試験機に関し、特に、複数の交流アンプを備えた材料試験機に関する。 The present invention relates to a material testing machine that executes a material test by applying a test force to a test piece, and more particularly to a material testing machine including a plurality of AC amplifiers.
このような材料試験機は、例えば、テーブル上に一対のねじ棹を互いに同期して回転自在に支持するとともに、それらのねじ棹にナットを介してクロスヘッドの両端部を支持した構成を有する。そして、モータの回転により一対のねじ棹を互いに同期して回転させることにより、クロスヘッドを一対のねじ棹に沿って移動させる。クロスヘッドとテーブルとには、それぞれつかみ具などの治具が連結されている。そして、これら一対のつかみ具などの治具により試験片の両端を把持した状態で、クロスヘッドを移動させることにより、試験片に対して試験力を加えるように構成されている。 Such a material testing machine has, for example, a configuration in which a pair of screw rods are rotatably supported on a table in synchronization with each other, and both end portions of the crosshead are supported on these screw rods via nuts. Then, the crosshead is moved along the pair of screw rods by rotating the pair of screw rods in synchronization with each other by the rotation of the motor. A jig such as a gripping tool is connected to the crosshead and the table. And it is comprised so that a test force may be applied with respect to a test piece by moving a crosshead in the state which hold | gripped both ends of the test piece with jigs, such as these pair of grips.
このような材料試験機においては、試験片に作用する試験力はロードセル等によって検出される。また、試験片における標点間の距離の変位量は、変位計により測定される。変位計により測定された変位量のデータは、サンプリング部によりサンプリングされ、試験片の変位データが試験片に対する試験力などのデータとともに取り込まれる。ここで、変位計は、変位計アンプを介して材料試験機に接続されている（特許文献１参照）。また、同様に、ロードセルもロードセル用のアンプを介して材料試験機に接続されている。これらのアンプとして、交流アンプが使用される場合が多い。 In such a material testing machine, the test force acting on the test piece is detected by a load cell or the like. Moreover, the displacement amount of the distance between the gauge marks in the test piece is measured by a displacement meter. The displacement data measured by the displacement meter is sampled by the sampling unit, and the displacement data of the test piece is taken together with data such as the test force on the test piece. Here, the displacement meter is connected to a material testing machine via a displacement meter amplifier (see Patent Document 1). Similarly, the load cell is also connected to the material testing machine via a load cell amplifier. An AC amplifier is often used as these amplifiers.
このように、材料試験機においては、同時に複数の交流アンプが使用される。このように、複数の交流アンプを使用するときには、互いの信号が干渉するのを防止するために、各アンプのキャリア周波数を異なる値に設定することが好ましい。しかしながら、各交流アンプのキャリア周波数をどの程度異ならせればよいかは明確ではない。また、周波数が異なれば、干渉の影響を小さくすることは可能ではあるが、干渉をゼロとすることは不可能である。特に、ＬＶＤＴ（Ｌｉｎｅａｒ Ｖａｒｉａｂｌｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ）式とも呼称される差動トランス式変位計を使用する場合においては、キャリア周波数に起因する磁界が外部に漏れやすいことから、干渉が特に問題となる。 Thus, in the material testing machine, a plurality of AC amplifiers are used at the same time. Thus, when using a plurality of AC amplifiers, it is preferable to set the carrier frequency of each amplifier to a different value in order to prevent the mutual signals from interfering with each other. However, it is not clear how much the carrier frequency of each AC amplifier should be different. If the frequencies are different, it is possible to reduce the influence of interference, but it is impossible to reduce the interference to zero. In particular, in the case of using a differential transformer displacement meter, which is also referred to as an LVDT (Linear Variable Differential Transformer) type, a magnetic field caused by the carrier frequency is likely to leak to the outside, so that interference is a particular problem.
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、複数の交流アンプを使用する場合においても、干渉の影響を防止することが可能な材料試験機を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a material testing machine capable of preventing the influence of interference even when a plurality of AC amplifiers are used.
請求項１に記載の発明は、複数の交流アンプを備えた材料試験機において、基準となる周波数をω０とし、ｎおよびｍを互いに異なる自然数としたときに、前記複数の交流アンプのうちの一つの交流アンプである第１交流アンプのキャリア周波数ωＡをｎω０とし、前記複数の交流アンプのうちの他の一つの交流アンプである第２交流アンプのキャリア周波数ωＢをｍω０とするとともに、前記第１交流アンプについては、ｎ周期の検波結果の平均値を出力値とし、前記第２交流アンプについては、ｍ周期の検波結果の平均値を出力値とすることを特徴とする。 According to the first aspect of the present invention, in the material testing machine including a plurality of AC amplifiers, when the reference frequency is ω0 and n and m are different natural numbers, one of the plurality of AC amplifiers is provided. The carrier frequency ωA of the first AC amplifier that is one AC amplifier is set to nω0, the carrier frequency ωB of the second AC amplifier that is another AC amplifier among the plurality of AC amplifiers is set to mω0, and the first For the AC amplifier, the average value of the detection results of n cycles is used as an output value, and for the second AC amplifier, the average value of the detection results of m cycles is used as an output value.
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記第１交流アンプの信号に対して、ｎ周期の検波結果の平均値を出力値とする第１検波回路と、前記第２交流アンプの信号に対して、ｍ周期の検波結果の平均値を出力値とする第２検波回路とを備える。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the first detection circuit using an average value of n-period detection results as an output value for the signal of the first AC amplifier, and the first And a second detection circuit that uses an average value of m-period detection results as an output value for the signal of the two AC amplifiers.
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記第１検波回路は、前記第１交流アンプの信号に対して当該第１交流アンプのキャリア周波数と同一の周波数の検波信号を乗算する検波信号乗算手段と、この乗算結果をｎ周期分積分する積分手段と、この積分結果に１／ｎを乗算する平均手段とを備えるとともに、前記第２検波回路は、前記第２交流アンプの信号に対して当該第２交流アンプのキャリア周波数と同一の周波数の検波信号を乗算する検波信号乗算手段と、この乗算結果をｍ周期分積分する積分手段と、この積分結果に１／ｍを乗算する平均手段とを備える。 According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the invention, the first detection circuit detects a detection signal having the same frequency as the carrier frequency of the first AC amplifier with respect to the signal of the first AC amplifier. Detection signal multiplication means for multiplying the multiplication result, integration means for integrating the multiplication result for n periods, and averaging means for multiplying the integration result by 1 / n, and the second detection circuit includes the second alternating current circuit. A detection signal multiplication means for multiplying a signal of the amplifier by a detection signal having the same frequency as the carrier frequency of the second AC amplifier, an integration means for integrating the multiplication result for m cycles, and 1 / m Average means for multiplying.
請求項１乃至請求項３に記載の発明によれば、複数の交流アンプを使用する場合においても、干渉の影響を防止することが可能となる。 According to the first to third aspects of the invention, even when a plurality of AC amplifiers are used, the influence of interference can be prevented.
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、この発明に係る材料試験機の概要図である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram of a material testing machine according to the present invention.
この材料試験機は、テーブル１６と、このテーブル１６上に鉛直方向を向く状態で回転可能に立設された一対のねじ棹１１、１２と、これらのねじ棹１１、１２に沿って移動可能なクロスヘッド１３と、このクロスヘッド１３を移動させて試験片１０に対して試験力を付与するための負荷機構３０とを備える。 This material testing machine is movable along a table 16, a pair of screw rods 11, 12 that are erected on the table 16 so as to be vertically oriented, and these screw rods 11, 12. A crosshead 13 and a load mechanism 30 for moving the crosshead 13 to apply a test force to the test piece 10 are provided.
クロスヘッド１３は、一対のねじ棹１１、１２に対して、図示を省略したナットを介して連結されている。各ねじ棹１１、１２の下端部には、負荷機構３０におけるウォーム減速機３２、３３が連結されている。このウォーム減速機３２、３３は、負荷機構３０の駆動源であるサーボモータ３１と連結されており、サーボモータ３１の回転がウォーム減速機３２、３３を介して、一対のねじ棹１１、１２に伝達される構成となっている。サーボモータ３１の回転によって、一対のねじ棹１１、１２が同期して回転することにより、クロスヘッド１３は、これらのねじ棹１１、１２に沿って昇降する。 The cross head 13 is connected to the pair of screw rods 11 and 12 via nuts (not shown). Worm speed reducers 32 and 33 in the load mechanism 30 are connected to lower ends of the screw rods 11 and 12. The worm speed reducers 32 and 33 are connected to a servo motor 31 that is a drive source of the load mechanism 30, and the rotation of the servo motor 31 is transferred to the pair of screw rods 11 and 12 via the worm speed reducers 32 and 33. It is configured to be transmitted. As the pair of screw rods 11 and 12 rotate in synchronization with the rotation of the servo motor 31, the crosshead 13 moves up and down along these screw rods 11 and 12.
クロスヘッド１３には、試験片１０の上端部を把持するための上つかみ具２１が付設されている。一方、テーブル１６には、試験片１０の下端部を把持するための下つかみ具２２が付設されている。引っ張り試験を行う場合には、試験片１０の両端部をこれらの上つかみ具２１および下つかみ具２２により把持した状態で、クロスヘッド１３を上昇させることにより、試験片１０に試験力（引張荷重）を負荷する。 The crosshead 13 is provided with an upper gripping tool 21 for gripping the upper end portion of the test piece 10. On the other hand, the table 16 is provided with a lower gripping tool 22 for gripping the lower end portion of the test piece 10. When performing a tensile test, the test force (tensile load) is applied to the test piece 10 by raising the cross head 13 in a state where both ends of the test piece 10 are held by the upper gripping tool 21 and the lower gripping tool 22. ).
このときに、試験片１０に作用する試験力はロードセル１４によって検出され、ロードセル用アンプユニット２５を介して演算制御部２３に入力される。また、試験片１０における標点間の距離の変位量は、変位計１５により測定され、変位計用アンプユニット２４を介して、演算制御部２３に入力される。 At this time, the test force acting on the test piece 10 is detected by the load cell 14 and input to the arithmetic control unit 23 via the load cell amplifier unit 25. Further, the displacement amount of the distance between the gauge marks in the test piece 10 is measured by the displacement meter 15 and input to the arithmetic control unit 23 via the displacement meter amplifier unit 24.
演算制御部２３はコンピュータやシーケンサーおよびこれらの周辺機器によって構成されており、ロードセル１４および変位計１５からの試験力データおよび変位量データを取り込んでデータ処理を実行する。また、サーボモータ３１は、この演算制御部２３により、フィードバック制御される。 The arithmetic control unit 23 is constituted by a computer, a sequencer, and peripheral devices thereof, and takes in test force data and displacement amount data from the load cell 14 and the displacement meter 15 and executes data processing. The servo motor 31 is feedback controlled by the arithmetic control unit 23.
図２は、上述したロードセル用アンプユニット２５および変位計用アンプユニット２４の概要図である。 FIG. 2 is a schematic diagram of the load cell amplifier unit 25 and the displacement meter amplifier unit 24 described above.
図２（ａ）に示すロードセル用アンプユニット２５は、ロードセル用アンプ２８と、アンプコントローラ２９とを備える。同様に、図２（ｂ）に示す変位計用アンプユニット２４は、変位計用アンプ２６と、アンプコントローラ２７とを備える。ここで、基準となる周波数をω０とし、ｎおよびｍを互いに異なる自然数としたときに、ロードセル用アンプ２８のキャリア周波数ωＡは、ｎω０に設定されている。また、変位計用アンプ２６のキャリア周波数ωＢは、ｍω０に設定されている。 The load cell amplifier unit 25 shown in FIG. 2A includes a load cell amplifier 28 and an amplifier controller 29. Similarly, the displacement meter amplifier unit 24 shown in FIG. 2B includes a displacement meter amplifier 26 and an amplifier controller 27. Here, when the reference frequency is ω0 and n and m are natural numbers different from each other, the carrier frequency ωA of the load cell amplifier 28 is set to nω0. The carrier frequency ωB of the displacement meter amplifier 26 is set to mω0.
図３は、上述したロードセル用アンプユニット２５におけるアンプコントローラ２９の要部を示すブロック図である。このアンプコントローラ２９は、検波回路４０と、回転行列回路５０と、キャリブレーション回路６０と、デジタルフィルタ７０とを備える。 FIG. 3 is a block diagram showing a main part of the amplifier controller 29 in the load cell amplifier unit 25 described above. The amplifier controller 29 includes a detection circuit 40, a rotation matrix circuit 50, a calibration circuit 60, and a digital filter 70.
検波回路４０は、ロードセル用アンプ２８からの信号を検波、すなわち、復調するためのものである。 The detection circuit 40 detects a signal from the load cell amplifier 28, that is, demodulates the signal.
この検波回路４０は、ロードセル用アンプ２８のキャリア周波数ωＡを示すアドレス情報が入力されることにより、このキャリア周波数ωＡと同じ周波数の余弦波を検波信号として出力するための波形メモリ４１を備える。ロードセル用アンプ２８からのｘ成分（実数成分）の信号と、この検波信号とは乗算される。この乗算結果は、ｎ周期積分回路４２によりｎ周期分積分される。そして、この積分結果は、１／ｎ平均化回路４３において１／ｎが乗算されることにより平均化される。 The detection circuit 40 includes a waveform memory 41 for outputting a cosine wave having the same frequency as the carrier frequency ωA as a detection signal when address information indicating the carrier frequency ωA of the load cell amplifier 28 is input. The x component (real component) signal from the load cell amplifier 28 is multiplied by this detection signal. The multiplication result is integrated for n periods by the n period integration circuit 42. The integration result is averaged by 1 / n multiplication in the 1 / n averaging circuit 43.
また、この検波回路４０は、ロードセル用アンプ２８のキャリア周波数ωＡを示すアドレス情報が入力されることにより、このキャリア周波数ωＡと同じ周波数の正弦波を検波信号として出力するための波形メモリ４４を備える。ロードセル用アンプ２８からのｙ成分（虚数成分）の信号と、この検波信号とは乗算される。この乗算結果は、ｎ周期積分回路４５によりｎ周期分積分される。そして、この積分結果は、１／ｎ平均化回路４６において１／ｎが乗算されることにより平均化される。 Further, the detection circuit 40 includes a waveform memory 44 for outputting a sine wave having the same frequency as the carrier frequency ωA as a detection signal when address information indicating the carrier frequency ωA of the load cell amplifier 28 is input. . The y component (imaginary component) signal from the load cell amplifier 28 is multiplied by this detection signal. The multiplication result is integrated by n cycles by the n cycle integration circuit 45. The integration result is averaged by 1 / n multiplication in the 1 / n averaging circuit 46.
回転行列回路５０においては、回転行列定数設定部５１の作用により、検波回路４０により検波されたｘ成分（実数成分）の信号と回転行列定数ａとが乗算されるとともに、回転行列定数設定部５２の作用により、検波回路４０により検波されたｙ成分（虚数成分）の信号と回転行列定数ｂとが乗算された後、これらの信号が加算される。これにより、検出信号と試験片１０の変位の座標系の整合がなされる。なお、この回転行列回路５０については、例えば、特開２００８−７６２９９号公報に開示されている。 In the rotation matrix circuit 50, the rotation matrix constant setting unit 51 multiplies the signal of the x component (real number component) detected by the detection circuit 40 by the rotation matrix constant a and the rotation matrix constant setting unit 52. As a result, the y component (imaginary component) signal detected by the detection circuit 40 is multiplied by the rotation matrix constant b, and then these signals are added. As a result, the coordinate system of the detection signal and the displacement of the test piece 10 is matched. The rotation matrix circuit 50 is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-76299.
しかる後、キャリブレーション回路６０におけるオフセット調整部６１の作用により、オフセットが調整されるとともに、キャリブレーション回路６０におけるゲイン調整部６２の作用により、ゲインが調整された後、デジタルフィルタ７０を介して、図１に示す演算制御部２３に出力信号が出力される。 Thereafter, the offset is adjusted by the action of the offset adjustment unit 61 in the calibration circuit 60, and the gain is adjusted by the action of the gain adjustment unit 62 in the calibration circuit 60. An output signal is output to the arithmetic control unit 23 shown in FIG.
なお、変位計用アンプユニット２４におけるアンプコントローラ２７は、上述したロードセル用アンプユニット２５におけるアンプコントローラ２９と同様の構成を有する。但し、一対の波形メモリには、変位計用アンプ２６のキャリア周波数ωＢを示すアドレス情報が入力される。また、ｎ周期分の積分を実行するｎ周期積分回路４２、４５にかえて、ｍ周期分の積分を実行するｍ周期積分回路が使用されるとともに、１／ｎを乗算する１／ｎ平均化回路４３、４６にかえて、１／ｍを乗算する１／ｍ平均化回路が使用される。 The amplifier controller 27 in the displacement meter amplifier unit 24 has the same configuration as the amplifier controller 29 in the load cell amplifier unit 25 described above. However, address information indicating the carrier frequency ωB of the displacement meter amplifier 26 is input to the pair of waveform memories. Further, instead of the n-cycle integration circuits 42 and 45 that execute integration for n cycles, an m-cycle integration circuit that executes integration for m cycles is used, and 1 / n averaging that multiplies 1 / n is used. Instead of the circuits 43 and 46, a 1 / m averaging circuit for multiplying 1 / m is used.
次に、以上のような構成を有する材料試験機のロードセル用アンプユニット２５および変位計用アンプユニット２４の干渉状態について検討する。 Next, the interference state of the load cell amplifier unit 25 and the displacement meter amplifier unit 24 of the material testing machine having the above-described configuration will be examined.
上述したように、ここで、基準となる周波数をω０とし、ｎおよびｍを互いに異なる自然数としたときに、ロードセル用アンプ２８のキャリア周波数ωＡと変位計用アンプ２６のキャリア周波数ωＢとは、下記の数式１で表される。 As described above, when the reference frequency is ω0 and n and m are different natural numbers, the carrier frequency ωA of the load cell amplifier 28 and the carrier frequency ωB of the displacement meter amplifier 26 are as follows. This is expressed by Equation 1.
ここで、干渉がない場合において、ロードセル用アンプ２８において検出される信号は、下記の数式２となる。 Here, when there is no interference, the signal detected by the load cell amplifier 28 is expressed by the following Equation 2.
この信号をｅｊωｔ で検波する。ｆ（ｔ）のフーリエ変換をＦ（ω）とした場合には、下記の数式３が成立する。 This signal is detected by e jωt . When the Fourier transform of f (t) is F (ω), the following formula 3 is established.
ここで、ｆ（ｔ）の座標を（ｘ，ｙ）とした場合には、下記の数式４が成立する。 Here, when the coordinates of f (t) are (x, y), the following mathematical formula 4 is established.
さらに演算をすすめると、下記の数式５および数式６が成立する。 When further calculations are performed, the following formulas 5 and 6 are established.
次に、干渉が生じた場合について考察する。数式２に示す条件の下、これに変位計用アンプユニット２４の信号が干渉する場合には、ロードセル用アンプ２８において検出される信号は、下記の数式７となる。 Next, a case where interference occurs will be considered. When the signal of the displacement meter amplifier unit 24 interferes with this under the condition shown in Expression 2, the signal detected by the load cell amplifier 28 is expressed by Expression 7 below.
この数式７において、フーリエ変換をロードセル用アンプ２８のキャリア周波数ωＡのｎ周期分だけ実行する。すなわち、ロードセル用アンプ２８の出力に対して、ｎ周期の検波結果の平均値を演算する。ロードセル用アンプ２８において検出される信号ｇ（ｔ）のフーリエ変換をＧ（ω）とした場合には、下記の数式８が成立する。 In Equation 7, Fourier transformation is executed for n cycles of the carrier frequency ωA of the load cell amplifier 28. That is, the average value of the detection results of n periods is calculated with respect to the output of the load cell amplifier 28. When the Fourier transform of the signal g (t) detected by the load cell amplifier 28 is G (ω), the following Expression 8 is established.
この数式８における（ｘ，ｙ）は、下記の数式９で求められる。 (X, y) in Equation 8 is obtained by Equation 9 below.
この数式９に、上述した数式１および数式７を代入する。ｘ成分（実数成分）については下記の数式１０が成立し、ｙ成分（虚数成分）については下記の数式１１が成立する。 The above Equation 1 and Equation 7 are substituted into this Equation 9. The following formula 10 is established for the x component (real number component), and the following formula 11 is established for the y component (imaginary number component).
この数式１０および数式１１に、再度、数式１を代入すると、下記の数式１２となる。 By substituting Formula 1 again into Formula 10 and Formula 11, the following Formula 12 is obtained.
この数式１２は、上述した数式５および数式６の計算結果と同じ値となっている。すなわち、数式１のように、ロードセル用アンプ２８のキャリア周波数ωＡと変位計用アンプ２６のキャリア周波数ωＢとを決定するとともに、ロードセル用アンプ２８についてはｎ周期の検波結果の平均値を出力値とし、変位計用アンプ２６についてはｍ周期の検波結果の平均値を出力値とすることにより、ロードセル用アンプ２８と変位計用アンプ２６との間の相互干渉を完全にキャンセルすることが可能となる。 This equation 12 has the same value as the calculation results of the above-described equations 5 and 6. That is, as shown in Equation 1, the carrier frequency ωA of the load cell amplifier 28 and the carrier frequency ωB of the displacement meter amplifier 26 are determined, and for the load cell amplifier 28, an average value of n-period detection results is used as an output value. The displacement meter amplifier 26 can completely cancel the mutual interference between the load cell amplifier 28 and the displacement meter amplifier 26 by using an average value of m-period detection results as an output value. .
なお、上述した実施形態においては、ロードセル用アンプ２８と変位計用アンプ２６との２個の交流アンプ間での相互干渉を防止しているが、３個以上の交流アンプ間の相互干渉も同様に防止することができる。この場合においては、各アンプ間において、上述した数式１の関係が成立するようにすればよい。 In the embodiment described above, mutual interference between the two AC amplifiers of the load cell amplifier 28 and the displacement meter amplifier 26 is prevented, but the mutual interference between three or more AC amplifiers is also the same. Can be prevented. In this case, the relationship of Equation 1 described above may be established between the amplifiers.
１０ 試験片
１１ ねじ棹
１２ ねじ棹
１３ クロスヘッド
１４ ロードセル
１５ 変位計
１６ テーブル
２１ 上つかみ具
２２ 下つかみ具
２３ 演算制御部
２４ 変位計用アンプユニット
２５ ロードセル用アンプユニット
２６ 変位計用アンプ
２７ アンプコントローラ
２８ ロードセル用アンプ
２９ アンプコントローラ
３０ 負荷機構
３１ サーボモータ
４０ 検波回路
４１ 波形メモリ
４２ ｎ周期積分回路
４３ １／ｎ平均化回路
４４ 波形メモリ
４５ ｎ周期積分回路
４６ １／ｎ平均化回路
５０ 回転行列回路
６０ キャリブレーション回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Test piece 11 Screw rod 12 Screw rod 13 Crosshead 14 Load cell 15 Displacement meter 16 Table 21 Upper gripper 22 Lower gripper 23 Operation control part 24 Displacement meter amplifier unit 25 Load cell amplifier unit 26 Displacement meter amplifier 27 Amplifier controller 28 Load Cell Amplifier 29 Amplifier Controller 30 Load Mechanism 31 Servo Motor 40 Detection Circuit 41 Waveform Memory 42 n Period Integration Circuit 43 1 / n Average Circuit 44 Waveform Memory 45 n Period Integration Circuit 46 1 / n Average Circuit 50 Rotation Matrix Circuit 60 Calibration circuit
Claims (3)
基準となる周波数をω０とし、ｎおよびｍを互いに異なる自然数としたときに、
前記複数の交流アンプのうちの一つの交流アンプである第１交流アンプのキャリア周波数ωＡをｎω０とし、前記複数の交流アンプのうちの他の一つの交流アンプである第２交流アンプのキャリア周波数ωＢをｍω０とするとともに、
前記第１交流アンプについては、ｎ周期の検波結果の平均値を出力値とし、前記第２交流アンプについては、ｍ周期の検波結果の平均値を出力値とすることを特徴とする材料試験機。 In a material testing machine with multiple AC amplifiers,
When the reference frequency is ω0 and n and m are different natural numbers,
The carrier frequency ωA of the first AC amplifier that is one AC amplifier among the plurality of AC amplifiers is set to nω0, and the carrier frequency ωB of the second AC amplifier that is the other AC amplifier among the plurality of AC amplifiers. And mω0,
For the first AC amplifier, an average value of detection results of n periods is used as an output value, and for the second AC amplifier, an average value of detection results of m periods is used as an output value. .
前記第１交流アンプの信号に対して、ｎ周期の検波結果の平均値を出力値とする第１検波回路と、
前記第２交流アンプの信号に対して、ｍ周期の検波結果の平均値を出力値とする第２検波回路と、
を備える材料試験機。 The material testing machine according to claim 1,
A first detection circuit that uses an average value of n-cycle detection results as an output value for the signal of the first AC amplifier;
A second detection circuit having an output value of an average value of m-period detection results for the signal of the second AC amplifier;
Material testing machine equipped with.
前記第１検波回路は、前記第１交流アンプの信号に対して当該第１交流アンプのキャリア周波数と同一の周波数の検波信号を乗算する検波信号乗算手段と、この乗算結果をｎ周期分積分する積分手段と、この積分結果に１／ｎを乗算する平均手段とを備えるとともに、
前記第２検波回路は、前記第２交流アンプの信号に対して当該第２交流アンプのキャリア周波数と同一の周波数の検波信号を乗算する検波信号乗算手段と、この乗算結果をｍ周期分積分する積分手段と、この積分結果に１／ｍを乗算する平均手段とを備える材料試験機。 The material testing machine according to claim 2,
The first detection circuit multiplies the signal of the first AC amplifier by a detection signal having the same frequency as the carrier frequency of the first AC amplifier, and integrates the multiplication result for n periods. An integration means, and an averaging means for multiplying the integration result by 1 / n,
The second detection circuit multiplies the signal of the second AC amplifier by a detection signal having the same frequency as the carrier frequency of the second AC amplifier, and integrates the multiplication result for m cycles. A material testing machine comprising integration means and averaging means for multiplying the integration result by 1 / m.
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