JP5319985B2 - Storage device use limit prediction method, use limit prediction device or use limit prediction time analysis program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ストレージ機器の使用限界予想方法又はその使用限界予想装置若しくはその使用限界予想時間解析用プログラムに関し、特に、特定のホスト機器との関係で最適なストレージ機器を特定するために使用されるストレージ機器の使用限界予想方法又はその使用限界予想装置若しくはその使用限界予想時間解析用プログラムに関するものである。 The present invention relates to a storage device use limit prediction method, a use limit prediction device thereof, or a use limit prediction time analysis program thereof, and particularly used to identify an optimal storage device in relation to a specific host device. The present invention relates to a storage device use limit prediction method, a use limit prediction device thereof, or a use limit prediction time analysis program thereof.
コンピュータ（電子計算機）は、個人により私的に使用されたり通常の事務処理作業において使用されたりしているばかりではなく、例えば、ＡＴＭ（現金自動預払機）やＰＯＳシステムにより動作するコンピュータ等をはじめとした様々な機器（以下、これらの機器をホスト機器と言う。）に接続され又は組み込まれて使用されている。 Computers (electronic computers) are not only used privately by individuals or in ordinary paperwork, but also include, for example, computers operated by ATMs (automated teller machines) and POS systems. Are connected to or incorporated in various devices (hereinafter referred to as host devices).
一方、市場では、こうしたコンピュータの信頼性を高めるために、半導体メモリにデータを記憶させるＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ、すなわちフラッシュメモリ等からなる大容量記憶手段），ＳＤカード（Ｓｅｃｕｒｅ Ｄｉｇｉｔａｌ ｍｅｍｏｒｙ ｃａｒｄ），ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）メモリ等各種のストレージ機器が販売されている。例えば、上記ＳＳＤは、可動部（ヘッドやモータ）がないため，耐衝撃性に優れ、また、ヘッドを移動させるためのシーク時間やディスクの回転数を高めるスピンアップ時間をゼロにできること、さらにはＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）と比較してよりデータ転送速度を高められるばかりではなく振動に強くまた塵埃から保護され、湿度による悪影響を防止できる点で優れている。したがって、上記ホスト機器の使用者は、市場で販売されている上記ＳＳＤ等のストレージ機器を、該ストレージ機器に表示されている仕様を確認しながら購入しているのが実情である。 On the other hand, in order to increase the reliability of such computers in the market, SSD (Solid State Drive, that is, a large-capacity storage means including a flash memory) for storing data in a semiconductor memory, SD card (Secure Digital memory card), USB Various storage devices such as (Universal Serial Bus) memory are sold. For example, since the SSD has no moving parts (head or motor), it has excellent impact resistance, and the seek time for moving the head and the spin-up time for increasing the rotational speed of the disk can be reduced to zero. Compared with HDD (Hard Disk Drive), it is excellent not only in that the data transfer speed can be increased, but also that it is resistant to vibration and protected from dust, and can prevent adverse effects of humidity. Therefore, it is a fact that the user of the host device purchases the storage device such as the SSD sold in the market while checking the specifications displayed on the storage device.
しかしながら、上記各種のストレージ機器は、それぞれの仕様がメーカーにより表示されてはいるものの、表示されている仕様は、例えば、平均アクセス時間、単位時間当たりのコマンド伝送回数（ＩＯＰＳ）、インターフェイスの規格、容量、サイズ等ごく一部である場合が多く、使用者としては、複数販売されているストレージ機器から、上記ホスト機器の特性や使用者が期待する要求に最も適切なストレージ機器を購入することはできないのが実情である。特に、選択されるべきストレージ機器は長期間使用可能であることが求められるが、市販されているストレージ機器には、イレースカウントの最大値や特定の時間内に一定の容量のデータを書き込んだ場合における使用限界時間（寿命）は表示されているものの、こうしたイレースカウントの最大値や大まかな使用限界時間では、該ストレージ機器が実際に接続されるホスト機器との間で送受信されるデータの属性・性質・傾向如何により大きく異なる。すなわち、ストレージ機器が実際に接続されるホスト機器との間で送受信されるデータの属性・性質・傾向によって、該ストレージ機器の使用限界予想時間は大きく異なることとなり、単純に該ストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値や大まかな使用限界時間のみからでは判断できない。 However, although the specifications of the various storage devices are displayed by the manufacturer, the displayed specifications include, for example, average access time, command transmission count per unit time (IOPS), interface standard, In many cases, the capacity, size, etc. are only a small part, and as a user, it is not possible to purchase the storage device that is most suitable for the characteristics of the host device and the requirements that the user expects from the storage devices sold multiple times. The reality is that you can't. In particular, the storage device to be selected is required to be usable for a long period of time. However, when the maximum value of the erase count or a certain amount of data is written within a specific time, it is required to be commercially available. Although the use limit time (lifetime) is displayed, the maximum erase count value and rough use limit time indicate the attributes of data sent / received to / from the host device to which the storage device is actually connected. It varies greatly depending on the nature and tendency. In other words, the expected usage limit time of the storage device varies greatly depending on the attribute / property / trend of data transmitted / received to / from the host device to which the storage device is actually connected, and is simply displayed on the storage device. Judgment cannot be made based on the maximum value of the erase count or the rough use limit time alone.
なお、機器の所謂寿命を予測する方法やシステムとしては、これまで幾つかの発明が提案されている（特許文献１，２参照）が、これらは何れも入力データ値をその幅の中から乱数で決めるものであり、ＳＳＤなどのようなストレージ機器の使用限界予想時間（予想寿命）を特定・解析することを目的とするものではない。
そこで、本発明は、最も適切なストレージ機器を選択できるように、特定のホスト機器から伝送されるログデータの特性から使用限界予想時間（予想寿命）を特定・解析し、適切なストレージ機器を選択する際の判断要素を入手するために使用されるストレージ機器の使用限界予想方法又はその使用限界予想装置若しくはその使用限界予想時間解析用プログラムを提供することを目的とするものである。 Therefore, the present invention specifies and analyzes the expected use limit time (expected life) from the characteristics of log data transmitted from a specific host device so that the most appropriate storage device can be selected, and selects an appropriate storage device. It is an object of the present invention to provide a storage device usage limit prediction method, a use limit prediction device thereof, or a use limit prediction time analysis program thereof that is used for obtaining a determination factor when performing the determination.
上述した目的を達成するため、第１の発明（請求項１記載の発明）は、ストレージ機器の使用限界予想方法に係るものであって、特定のホスト機器とストレージ機器との間において採取し且つ記憶手段を備えたコンピュータの該記憶手段に記憶されたログデータから、該コンピュータを利用して、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）毎にアクセス回数をカウントして該ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を、８時間から７２０時間単位のアクセスカウント値に変換することによってテストスクリプトを生成するテストスクリプト生成工程と、上記テストスクリプト生成工程により生成されたテストスクリプトを上記記憶手段に記憶させるテストスクリプト記憶工程と、上記コンピュータと特定のストレージ機器とを互いに接続し、上記テストスクリプトを上記記憶手段から読出すテストスクリプト読出し工程と、上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、書き込み又は読み出しに係るコマンドであるか、ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか否かを判別するコマンド判別工程と、上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、上記ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、このＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を時間の推移とともに取得するイレースカウント値取得工程と、上記イレースカウント値取得工程により取得したイレースカウント値を、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶するイレースカウント値記憶工程と、上記テストスクリプトが全て読み出されたことを条件に、上記イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算する上昇係数演算工程と、上記上昇係数演算工程により得られた上昇係数と上記特定のストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値とから、上記特定のストレージ機器の使用限界予想時間を演算する工程と、を有してなることを特徴とするものである。 In order to achieve the above-mentioned object, a first invention (the invention according to claim 1) relates to a storage device usage limit prediction method, which is collected between a specific host device and a storage device, and From the log data stored in the storage means of the computer having the storage means , using the computer, the number of accesses is counted for each logical block address (LBA), and the count value of the number of accesses for each LBA is calculated. A test script generation step of generating a test script by converting the access count value from 8 hours to 720 hours; a test script storage step of storing the test script generated by the test script generation step in the storage means; Connect the computer and a specific storage device to each other and test A test script reading process for reading the cryptography from the storage means, and determining whether the command read by the test script reading process is a command related to writing or reading or a command related to SMART data a command determination step, the command read by the test script reading step, when a command according to the SMART data erase count value acquisition for acquiring erase count value included in the SMART data with the passage of time a step, the erase count value obtained by the erase count value acquisition step, and the erase count value storage step of storing in the storage means constituting the computer, on condition that the test script is read out all of the erase Coun From the rising coefficient calculation step of calculating an increase coefficient based on the temporal transition value, the maximum value of the increase coefficient and the specific storage device on the displayed erase counts obtained by the increase coefficient calculation step, the specific And a step of calculating an expected use time limit of the storage device.
この発明において、特定のホスト機器（将来選択された特定のストレージ機器が接続されるホスト機器。例えば、ＡＴＭにおいて使用されるコンピュータ又はＰＯＳシステムにおいては、これらＡＴＭやＰＯＳシステムに使用されるサーバコンピュータ等）とストレージ機器との間において採取された多数のログデータは、予め上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶されている。なお、このログデータは、上記特定のホスト機器と、適当なストレージ機器とを接続し、この接続（以下、該ホスト機器とストレージ機器との接続をバスという。）間に、コントロール用コンピュータ（ログデータを解析するために使用されるコンピュータ）に接続されたバスアナライザを接続することによって採取しても良いし、上記接続（バス）間に上記バスアナライザと同等の機能を有するコンピュータを直接接続することにより採取されたものであっても良い。そして、上記ログデータを採取するために使用されるストレージ機器は、例えば、ＳＳＤ，ＳＤカード，ＵＳＢメモリ、ＨＤＤ等の各種の記憶媒体又は記憶装置を使用することができる。また、上記ホスト機器とストレージ機器とは、これらストレージ機器が備える適切な規格による端子によって接続がなされるものであるが、この接続の端子の規格としては例えば、ＵＳＢ，ＩＥＥＥ１３９４（ＦｉｒｅＷｉｒｅ），ＳＡＴＡ（Ｓｅｒｉａｌ Ａｄｖａｎｃｅｄ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ），ＰＡＴＡ（Ｐａｒａｒｒｅｌ Ａｄｖａｎｃｅｄ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ），ＳＤカードスロット等が挙げられる。また、上記バスアナライザはこれらホスト機器とストレージ機器とのバスの間に接続されるものであることから、このバスアナライザにも、上記ホスト機器及びストレージ機器と接続するためのＵＳＢ，ＩＥＥＥ１３９４（ＦｉｒｅＷｉｒｅ），ＳＡＴＡ，ＰＡＴＡ，ＳＤカードスロット等の端子が設けられている。 In the present invention, a specific host device (a host device to which a specific storage device selected in the future is connected. For example, in a computer or POS system used in an ATM, a server computer used in the ATM or POS system, etc. ) And a storage device, a large number of log data collected in advance is stored in storage means constituting the computer. The log data is obtained by connecting the specific host device to an appropriate storage device, and connecting the control device (log) between the connections (hereinafter, the connection between the host device and the storage device is referred to as a bus). It may be collected by connecting a bus analyzer connected to a computer used for analyzing data), or a computer having a function equivalent to that of the bus analyzer is directly connected between the connections (buses). It may be collected by this. The storage device used for collecting the log data can use various storage media or storage devices such as an SSD, an SD card, a USB memory, and an HDD. The host device and the storage device are connected by terminals according to appropriate standards provided in these storage devices. Examples of the connection terminal standards include USB, IEEE 1394 (FireWire), SATA ( Serial Advanced Technology Attachment (PAT), PAT (Parallel Advanced Technology Attachment), SD card slot, and the like. In addition, since the bus analyzer is connected between the host device and the storage device, the bus analyzer is also connected to the host device and the storage device by USB, IEEE1394 (FireWire). , SATA, PATA, SD card slot and other terminals are provided.
そして、この第１の発明では、先ず、上記コンピュータに記憶された多数のログデータから、テストスクリプトを生成する。このテストスクリプトの生成方法は、上記コンピュータを利用して、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）毎にアクセス回数をカウントして該ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を、８時間から７２０時間単位のアクセスカウント値に変換することによって生成する（テストスクリプト生成工程）。なお、このアクセスカウント値を変換する単位は、特定のストレージ機器が接続されるホスト機器の特性・傾向等により決定される。例えば、ホスト機器によっては書込みや読出しが２４時間の間で変化し、一週間の間では変化しない場合（或いは大きく変化する場合）、一月単位で変化する場合（例えば、ＡＴＭの場合、月の下旬に支払い等をする企業が多いことから、月の上旬や中旬に比べて使用される頻度が高くなるため、一月単位（７２０時間単位）のアクセスカウント値に変換することが有効である。）等、種々の特性・傾向があり、こうしたホスト機器の特性・傾向に従って上記アクセスカウント値を変換する単位を適宜決定する。 In the first aspect of the invention, first, a test script is generated from a large number of log data stored in the computer. This test script generation method uses the above-mentioned computer to count the number of accesses for each logical block address (LBA) and obtain the count value of the number of accesses for each LBA as an access count value in units of 8 to 720 hours. (Test script generation process). The unit for converting the access count value is determined by the characteristics / trends of the host device to which the specific storage device is connected. For example, depending on the host device, writing / reading changes in 24 hours, does not change in one week (or changes significantly), changes in monthly units (for example, in the case of ATM, monthly Since there are many companies that make payments at the end of the month, it is used more frequently than at the beginning or middle of the month, so it is effective to convert it to an access count value per month (720 hours). ) Etc., and the unit for converting the access count value is appropriately determined according to the characteristics / trends of the host device.
また、こうしたテストスクリプト生成工程が終了すると、次いで、上記コンピュータと特定のストレージ機器とを互いに接続し、該コンピュータにより、上記テストスクリプトを上記記憶手段から読出し（テストスクリプト読出し工程）、次に、上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、書き込み又は読み込みに係るコマンドであるか、ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか否かを判別する（コマンド判別工程）。そして、上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、上記ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、このＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を時間の推移とともに取得する（イレースカウント値取得工程）。次いで、上記イレースカウント値取得工程により取得したイレースカウント値を、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶する（イレースカウント値記憶工程）。さらに、上記テストスクリプトが全て読み出されると、イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算する（上昇係数演算工程）。なお、上記テストスクリプト読出し工程から上昇係数演算工程までの動作は、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶された所定のプログラムにより実行される。 When the test script generation step is completed, the computer and a specific storage device are connected to each other, and the computer reads the test script from the storage means (test script read step). It is determined whether the command read in the test script reading step is a command related to writing or reading or a command related to SMART data (command determining step). Then, the command read by the test script reading step, when a command according to the SMART data obtains the erase count contained in the SMART data with the passage of time (erase count acquisition step) . Next, the erase count value acquired in the erase count value acquisition step is stored in the storage means constituting the computer (erase count value storage step). Further, when all the test scripts are read, an increase coefficient based on the temporal transition of the erase count value is calculated (an increase coefficient calculation step). The operations from the test script reading process to the increase coefficient calculation process are executed by a predetermined program stored in the storage means constituting the computer.
そして、上記上昇係数演算工程により得られた上昇係数と特定のストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値とから、該特定のストレージ機器の使用限界予想時間を演算する。上記イレースカウントの最大値は、購入しようとする特定のストレージ機器に表示されたデータに基づくものであり、上記コンピュータに接続したストレージ機器に係るものである。 Then, the expected use limit time of the specific storage device is calculated from the increase coefficient obtained by the increase coefficient calculating step and the maximum value of the erase count displayed on the specific storage device. The maximum value of the erase count is based on data displayed on a specific storage device to be purchased, and relates to the storage device connected to the computer.
また、第２の発明（請求項２記載の発明）は、ストレージ機器の使用限界予想装置に係るものであって、記憶手段と、表示手段及び／又は出力手段と、入力手段と、これら記憶手段，表示手段及び／又は出力手段，入力手段に接続され上記記憶手段，表示手段，入力手段，出力手段を制御する制御手段とを備えたコンピュータと、このコンピュータに接続されたストレージ機器と、このストレージ機器に接続された特定のホスト機器と、を備え、上記記憶手段には、上記特定のホスト機器と上記ストレージ機器との間において採取したログデータから、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）毎のアクセス回数をカウントして該ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を、８時間から７２０時間単位のアクセスカウント値に変換することによって生成されたテストスクリプトと、上記特定のストレージ機器のイレースカウントの最大値と、使用限界解析用プログラムと、が記憶され、上記入力手段による解析操作を開始条件として、上記制御手段は、上記使用限界解析用プログラムにより、上記テストスクリプトを上記記憶手段から読出すテストスクリプト読出し工程と、このテストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、書き込み又は読み込みに係るコマンドであるか、ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか否かを判別するコマンド判別工程と、上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、上記ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、このＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を時間の推移とともに取得するイレースカウント値取得工程と、上記イレースカウント値取得工程により取得したイレースカウント値を、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶するイレースカウント値記憶工程と、上記テストスクリプトが全て読み出されたことを条件に、上記イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算し、上記イレースカウントの最大値との関係で、上記ストレージ機器の使用限界予想時間を演算し、この使用限界予想時間を上記表示手段に表示し、又は上記入力手段による出力操作を条件として上記出力手段により出力する使用限界予想時間表示工程と、を備えてなることを特徴とするものである。 A second invention (invention according to claim 2) relates to a storage device use limit prediction apparatus, comprising storage means, display means and / or output means, input means, and these storage means. display means and / or output means, connected to said storage means to the input means, display means, input means, a computer and a control means for controlling the output means, the attached storage device to the computer, this storage and a specific host devices connected to the device, the said storage means, from the log data collected in between said particular host device and the storage device, the access count for each logical block address (LBA) Generated by counting and converting the count value of the number of accesses for each LBA from 8 hours to 720 hours. And the test scripts, the maximum value of the erase count of the specific storage device, and a program for use limit analysis, is stored, as a start condition analysis operation by said input means, said control means, the use limit analysis A test script reading step for reading the test script from the storage means by the program for use, and a command read by the test script reading step is a command related to writing or reading, or a command related to SMART data a command determination step of determining whether the command read by the test script reading step, when a command according to the SMART data, along with the transition of the erase count value included in the SMART data time Erasure county to get A value acquisition step, the erase count value obtained by the erase count value acquisition step, and the erase count value storage step of storing in the storage means constituting the computer, on condition that the test script is read all, calculates the increase coefficient based on the time course of the erase count value, in relation to the maximum value of the erase count, it calculates the usage limit expected time of the storage device, displays the use limit estimated time on the display means and, or those characterized by comprising and a use limit estimated time display step of outputting by the output means an output operation by said input means as a condition.
なお、この第２の発明において、上記コンピュータを構成する記憶手段には、（１）特定のホスト機器とストレージ機器との間において採取したログデータから、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）毎のアクセス回数をカウントして該ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を、８時間から７２０時間単位のアクセスカウント値に変換することによって生成されたテストスクリプトと、（２）特定のストレージ機器のイレースカウントの最大値と、（３）使用限界解析用プログラムと、が予め記憶されている。そして、上記使用限界解析用プログラムにより、上記テストスクリプト読出し工程、コマンド判別工程、イレースカウント値取得工程、イレースカウント値記憶工程がそれぞれ実行され、次いで、上記テストスクリプトが全て読み出されたことを条件に、イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算し、上記イレースカウントの最大値との関係で、上記ストレージ機器の使用限界予想時間を演算し、この使用限界予想時間を上記表示手段に表示し、又は上記入力手段による出力操作を条件として出力手段により出力する使用限界予想時間表示工程が実行される。 In the second aspect of the invention, the storage means constituting the computer stores (1) the number of accesses for each logical block address (LBA) from log data collected between a specific host device and the storage device. A test script generated by counting and converting the count value of the number of accesses for each LBA to an access count value in units of 8 hours to 720 hours, and (2) a maximum value of an erase count of a specific storage device, , (3) a usage limit analysis program is stored in advance. Then, the test for reading the test script, the command determining step, the erase count value acquiring step, and the erase count value storing step are respectively executed by the use limit analysis program, and then all the test scripts are read. In addition, the coefficient of increase based on the temporal transition of the erase count value is calculated, the expected use limit time of the storage device is calculated in relation to the maximum value of the erase count, and the expected use limit time is calculated in the display means. The use limit expected time display step of displaying or outputting by the output means on condition of the output operation by the input means is executed.
また、第３の発明（請求項３記載の発明）は、ストレージ機器の使用限界予想時間解析用プログラムに係るものであって、記憶手段と、表示手段及び／又は出力手段と、入力手段と、これら記憶手段，表示手段及び／又は出力手段，入力手段に接続され上記記憶手段，表示手段，入力手段，出力手段を制御する制御手段とを備えてなるとともに、特定のホスト機器に接続されたストレージ機器に接続され、且つ、上記記憶手段には、上記特定のホスト機器とストレージ機器との間において採取したログデータから、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）毎のアクセス回数をカウントして該ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を、８時間から７２０時間単位のアクセスカウント値に変換することによって生成されたテストスクリプトと、特定のストレージ機器のイレースカウントの最大値と、使用限界解析用プログラムと、が記憶されたコンピュータに対して、上記入力手段による解析操作を開始条件として、上記テストスクリプトを上記記憶手段から読出すテストスクリプト読出し工程と、このテストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、書き込み又は読み込みに係るコマンドであるか、ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか否かを判別するコマンド判別工程と、上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、上記ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、このＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を時間の推移とともに取得するイレースカウント値取得工程と、上記イレースカウント値取得工程により取得したイレースカウント値を、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶するイレースカウント値記憶工程と、上記テストスクリプトが全て読み出されたことを条件に、上記イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算し、上記イレースカウントの最大値との関係で、上記ストレージ機器の使用限界予想時間を演算し、この使用限界予想時間を上記表示手段に表示し、又は上記入力手段による出力操作を条件として出力手段により出力する機能を実現させることを特徴とするものである。
A third invention (invention according to claim 3) relates to a storage device use limit expected time analysis program, comprising storage means, display means and / or output means, input means, these storage means, display means and / or output means, connected to said storage means to the input means, display means, input means, it becomes a control means for controlling the output means, storage connected to a particular host device Connected to the device, and the storage means counts the number of accesses for each logical block address (LBA) from the log data collected between the specific host device and the storage device, and accesses for each LBA. A test script generated by converting the count value of the number of times to an access count value in units of 8 hours to 720 hours, and a specific script Read test script from the storage means, starting with an analysis operation by the input means for a computer storing the maximum erase count value of the storage device and a use limit analysis program A process for determining whether the command read in the test script reading process is a command related to writing or reading, or a command related to SMART data, and the test script reading process. acquired read command, if a command according to the SMART data, and the erase count value obtaining step of obtaining an erase count value included in the SMART data with the passage of time, by the erase count acquisition step Erase The count value, and the erase count value storage step of storing in the storage means constituting the computer, on condition that the test script is read every calculates the increase coefficient based on the time course of the erase count value Then, the expected usage limit time of the storage device is calculated in relation to the maximum value of the erase count, the expected usage limit time is displayed on the display means, or the output means by the input means is used as a condition by the output means. It is characterized by realizing the function to output.
上記第１の発明（請求項１記載の発明）に係るストレージ機器の使用限界予想方法、第２の発明（請求項２記載の発明）に係るストレージ機器の使用限界予想装置並びに第３の発明（請求項３記載の発明）に係るストレージ機器の使用限界予想時間解析用プログラムによれば、ストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値のみでは判断できないストレージ機器の使用限界予想時間を知ることができるので、誤ったストレージ機器を購入してしまう危険性を有効に防止することができる。特に、本発明では、特定のホスト機器とストレージ機器との間において採取した多数のログデータを使用してテストスクリプトを生成するとともに、実際に購入を検討している特定のストレージ機器とコンピュータを接続して該ストレージ機器の使用限界予想時間を演算又は表示するものであることから、より一層正確な使用限界予想時間を演算又は表示させることができ、単純に該ストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値のみからでは判断できない確実な情報を入手でき、誤ったストレージ機器を選択する危険性を防止することができる。 A storage device usage limit prediction method according to the first invention (invention of claim 1), a storage device use limit prediction device according to the second invention (invention of claim 2), and a third invention ( According to the storage device usage limit expected time analysis program according to the third aspect of the invention, it is possible to know the storage device usage limit expected time that cannot be determined only by the maximum erase count displayed on the storage device. Therefore, the risk of purchasing an incorrect storage device can be effectively prevented. In particular, in the present invention, a test script is generated using a large number of log data collected between a specific host device and a storage device, and a specific storage device that is actually considered for purchase is connected to a computer. Thus, the expected usage limit time of the storage device is calculated or displayed, so that a more accurate expected usage limit time can be calculated or displayed, and the erase count displayed on the storage device can be simply calculated. Reliable information that cannot be determined only from the maximum value can be obtained, and the risk of selecting the wrong storage device can be prevented.
この発明を実施するための最良の形態では、特定のホスト機器との関係において、該ホスト機器の特性に応じた最適なＳＳＤ（ストレージ機器）を選択する際に行われる各工程を説明する。その工程は、大別すると以下の工程からなる。
（１）ＡＴＭ（現金自動預払機）やＰＯＳシステムにより動作するコンピュータ等のホスト機器からストレージ機器に伝送されるデータ（ログデータ）を採取する工程
（２）この工程により採取されたログデータを解析用プログラムにより種々解析する工程
（３）上記ログデータから所定のプログラムによりテストスクリプトを生成する工程
（４）このテストスクリプトを使用して特定のストレージ機器（ＳＳＤ）の予想寿命（予想される使用限界時期）を所定のプログラムにより算出し表示する工程
本発明に係るログデータ解析装置ないしこの装置を構成するコンピュータを動作させるプログラムは、上記（３）及び（４）の工程を実行するものである。
In the best mode for carrying out the present invention, each step performed when selecting an optimum SSD (storage device) according to the characteristics of a host device in relation to a specific host device will be described. The process is roughly divided into the following steps.
(1) A step of collecting data (log data) transmitted from a host device such as an ATM (automated teller machine) or a computer operating by a POS system to a storage device (2) An analysis of log data collected by this step (3) A step of generating a test script from the log data by a predetermined program (4) An expected life of a specific storage device (SSD) using this test script (expected usage limit) Step of calculating and displaying (time) with a predetermined program A log data analyzing apparatus according to the present invention or a program for operating a computer constituting the apparatus executes the steps (3) and (4).
［ログデータを採取する工程］
この工程は、図１に示すように、例えばＡＴＭ等のホスト機器（サーバコンピュータ）１とストレージ機器（ＳＳＤ）２とを接続し、また、この接続（バス）間に、バスアナライザ３を接続し、さらにこのバスアナライザ３には、コントロール用コンピュータ（ログデータを解析するために使用されるコンピュータ）４に接続した後に行われる。上記ホスト機器１は、主な構成要素として、中央演算処理装置（ＣＰＵ）、主記憶部（メインメモリ）、補助記憶部（サブメモリ）、入力装置（キーボード，マウス等）、出力装置（ディスプレー，プリンタ）等を備えている。
[Step of collecting log data]
In this process, as shown in FIG. 1, for example, a host device (server computer) 1 such as ATM and a storage device (SSD) 2 are connected, and a bus analyzer 3 is connected between these connections (buses). Further, this bus analyzer 3 is performed after being connected to a control computer 4 (a computer used for analyzing log data). The host device 1 includes, as main components, a central processing unit (CPU), a main storage unit (main memory), an auxiliary storage unit (sub memory), an input device (keyboard, mouse, etc.), an output device (display, Printer).
また、上記ホスト機器１に接続されるストレージ機器２は、上記ログデータを採取するために使用されるストレージ機器であって、例えば、ＳＳＤ，ＳＤカード，ＵＳＢメモリ、ＨＤＤ等の各種の記憶媒体又は記憶装置を使用することができる。なお、本実施の形態では、ストレージ機器２としてＳＳＤを採用し、このＳＳＤには、フラッシュディスクコントローラ２１、フラッシュディスクコントローラに接続されたＤＲＡＭ２２と、上記フラッシュディスクコントローラ２１に接続されたＮＡＮＤフラッシュメモリ２３とを備えている。このフラッシュディスクコントローラ２１は、ホスト機器１からこのＳＳＤ２に対するデータの読み出しや書き込みに応じてＮＡＮＤフラッシュメモリ２３からデータの読み出しや書き込みの中継をするものである。また、ＤＲＡＭ２２は、このＳＳＤ２に対して一時に大量のデータが書き込まれた際に全てをＮＡＮＤフラッシュメモリ２３に書き込みを終えるまでの間に短期間データを蓄えるバッファとして動作し、或いは、頻繁に読み出されるデータを予め蓄えるキャッシュとして動作をする。また、ＮＡＮＤフラッシュメモリ２３は、上記ＤＲＡＭ２２に比べてデータの読み出し及び書込の速度はやや遅いものの記憶できるデータの量は非常に大きく、このＳＳＤ２が記憶するデータは全てこのＮＡＮＤフラッシュメモリ２３内に記憶されており、また、このＳＳＤ２内にはこのＮＡＮＤフラッシュメモリ２３は複数個内蔵されている。また、本実施の形態では、上記ホスト機器１をストレージ機器２にインストールしたオペレーションシステム（ＯＳ）により起動して使用する際に適したストレージ機器２を探すことを目的としていることから、上記ＳＳＤ（内のＮＡＮＤフラッシュメモリ）には、このホスト機器１を動作させるオペレーションシステム（ＯＳ）が記憶されている。なお、このＳＳＤ２のデータの読み出し又は書き込みの速さの性能の良し悪しやこのＳＳＤ２の寿命は、上記ＮＡＮＤフラッシュメモリ２３からのデータの読み出し又は書き込みの速度以外にも、上記フラッシュディスクコントローラ２１が適切に上記ＤＲＡＭ２２やＮＡＮＤフラッシュメモリ２３へのデータの書き込みや読み出しの割り当てをするアルゴリズム、特に、ＮＡＮＤフラッシュメモリ２３の特定のＬＢＡに偏って集中することなくＮＡＮＤフラッシュメモリ２３の全体に渡って平均的に書き込むようなアルゴリズムの良し悪し等によっても決まる。 The storage device 2 connected to the host device 1 is a storage device used for collecting the log data. For example, various storage media such as SSD, SD card, USB memory, HDD, etc. A storage device can be used. In the present embodiment, an SSD is adopted as the storage device 2. The SSD includes a flash disk controller 21, a DRAM 22 connected to the flash disk controller, and a NAND flash memory 23 connected to the flash disk controller 21. And. The flash disk controller 21 relays reading and writing of data from the NAND flash memory 23 in accordance with reading and writing of data from the host device 1 to the SSD 2. Further, the DRAM 22 operates as a buffer for storing data for a short period of time until all of the data is written to the NAND flash memory 23 when a large amount of data is written to the SSD 2 at a time, or frequently read out. It operates as a cache that stores data to be stored in advance. The NAND flash memory 23 has a very large amount of data that can be stored although the data read / write speed is slightly slower than the DRAM 22, and all the data stored in the SSD 2 is stored in the NAND flash memory 23. A plurality of NAND flash memories 23 are built in the SSD 2. In addition, the present embodiment aims to search for a storage device 2 suitable for starting and using the host device 1 by an operation system (OS) installed in the storage device 2. In the NAND flash memory, an operation system (OS) for operating the host device 1 is stored. Note that the read / write speed performance of the SSD 2 and the life of the SSD 2 are determined by the flash disk controller 21 in addition to the data read / write speed from the NAND flash memory 23. In addition, an algorithm for assigning data writing to and reading from the DRAM 22 and the NAND flash memory 23, particularly, the NAND flash memory 23 on the whole without being concentrated on a specific LBA of the NAND flash memory 23 on the average. It depends on the quality of the writing algorithm.
一方、上記バスアナライザ３は、データを受け取るインターフェースコントローラ５を備え、このインターフェースコントローラ５には、キャプチャデータ（ログデータ）が格納される記憶装置としてのＤＲＡＭ６が接続されている。また、上記インターフェースコントローラ５には、上記ＤＲＡＭ６に格納されたキャプチャデータをコントロールＰＣ４に伝送するマイクロプロセッサ７が接続されている。 On the other hand, the bus analyzer 3 includes an interface controller 5 that receives data, and the interface controller 5 is connected to a DRAM 6 as a storage device in which capture data (log data) is stored. The interface controller 5 is connected to a microprocessor 7 for transmitting capture data stored in the DRAM 6 to the control PC 4.
そして、上記コントロールＰＣ４は、本発明を構成する制御手段としての中央演算処理装置（ＣＰＵ）８と、記憶手段としてのメモリ９とを備えたコンピュータ本体と、このコンピュータ本体に接続された入力装置（又は入力部）１１と、表示装置（又は表示部）１２と、を備えている。上記ＣＰＵ８と、上記入力装置１１及び表示装置１２とは接続されている。なお、この実施の形態では本発明を構成する出力手段を示していないが、この出力手段としては、例えば表示装置１２であるディスプレイ以外で使用者にデータを可視情報として出力するプリンタ等や、図示しない他のコンピュータに情報を出力するネットワーク等の手段であっても良い。 The control PC 4 includes a computer main body having a central processing unit (CPU) 8 as a control means constituting the present invention and a memory 9 as a storage means, and an input device ( Or an input unit) 11 and a display device (or display unit) 12. The CPU 8 is connected to the input device 11 and the display device 12. In this embodiment, the output means constituting the present invention is not shown. However, as the output means, for example, a printer that outputs data as visible information to the user other than the display that is the display device 12, or the like It may be a means such as a network for outputting information to other computers.
また、上記コントロールＰＣ４を構成する上記メモリ９は、図示しない主記憶部（メインメモリ）と補助記憶部（サブメモリ）を備え、ログデータは上記補助記憶部に記憶される。また、このメモリ９を構成する補助記憶部には、コンピュータとして基本的に記憶されているオペレーションプログラム（ＯＳ）やこのコントロールＰＣ４の動作に欠かせない各種のデバイスドライバ等以外に、予め（Ａ）ログデータ採取用プログラムと、（Ｂ）ログデータ解析用プログラムと、（Ｃ）テストスクリプト生成用プログラムとからなるコントロールプログラムと、（Ｄ）使用限界予想時間解析用プログラムと、特定のストレージ機器のイレースカウントの最大値とが格納されている。 The memory 9 constituting the control PC 4 includes a main storage unit (main memory) and an auxiliary storage unit (sub memory) (not shown), and log data is stored in the auxiliary storage unit. In addition to the operation program (OS) basically stored as a computer and various device drivers indispensable for the operation of the control PC 4, the auxiliary storage unit that constitutes the memory 9 includes (A) in advance. A log data collection program, (B) a log data analysis program, (C) a control program comprising a test script generation program, (D) a use limit expected time analysis program, and an erase of a specific storage device Stores the maximum count value.
上記（Ａ）ログデータ採取用プログラムは、上記（１）の工程（ＡＴＭ（現金自動預払機）やＰＯＳシステムにより動作するコンピュータ等のホスト機器からストレージ機器に伝送されるデータ（ログデータ）を採取する工程）において、上記コントロールＰＣ４に対して、後述する各動作ないし機能を実現させるプログラムである。 The log data collection program (A) collects data (log data) transmitted from the host device such as a computer (ATM (automated teller machine) or POS system) to the storage device (1). In the process, the control PC 4 realizes each operation or function described later.
また、上記（Ｂ）ログデータ解析用プログラムは、上記（２）の工程（上記（１）の工程により採取されたログデータを解析用プログラムにより種々解析する工程）において、上記コントロールＰＣ４に対して、後述する各動作ないし機能を実現させるプログラムである。 In addition, the (B) log data analysis program is used for the control PC 4 in the step (2) (a step of variously analyzing log data collected in the step (1) by the analysis program). This is a program for realizing each operation or function described later.
また、上記（Ｃ）テストスクリプト生成用プログラムは、上記（３）の工程（上記ログデータから所定のプログラムによりテストスクリプトを生成する工程）において、上記コントロールＰＣ４に対して、後述する各動作ないし機能を実現させるプログラムである。
また、（Ｄ）使用限界予想時間解析用プログラムは、上記（４）の工程（このテストスクリプトを使用して特定のストレージ機器（ＳＳＤ）の予想寿命（予想される使用限界時期）を所定のプログラムにより算出し表示する工程）において、上記コントロールＰＣ４に対して、後述する各動作ないし機能を実現させるプログラムである。
In addition, the (C) test script generation program has the following operations or functions for the control PC 4 in the step (3) (step of generating a test script from the log data using a predetermined program). It is a program that realizes.
The (D) use limit expected time analysis program is a predetermined program for determining the expected life (expected use limit time) of a specific storage device (SSD) using the test script (4). In the process of calculating and displaying the above, the control PC 4 is a program for realizing each operation or function described later.
そこで、上記（１）の工程を説明すると、図２に示すように、上記コントロールプログラムが上記コントロールＰＣ４において起動（ステップＳｔ１）されると、上記ＣＰＵ８は、上記表示装置１２に、図示しないキャプチャ開始ボタン、（キャプチャ）停止ボタン、解析スタートボタンを少なくとも表示する。そこで、上記入力装置１１により作業者（使用者）による上記キャプチャ開始ボタンが押されたか（クリックされたか）否かが、上記ＣＰＵ８により判別され（ステップＳｔ２）、該キャプチャ開始ボタンが押されたと判別された場合には、上記バスを流れるデータのキャプチャが開始される（ステップＳｔ３）。すなわち、上記キャプチャ開始ボタンが押されたと判別された場合には、上記ＣＰＵ８が、上記バスアナライザ３を構成するマイクロプロセッサ７を介して、インターフェースコントローラ５に伝送されたバスを流れるデータを一定周期毎（１０ｎｓ）に上記ＤＲＡM６に格納させるとともに、このＤＲＡＭ６に格納されたバスを流れるデータをログデータとして、上記インターフェースコントローラ５とマイクロプロセッサ７を介して、上記メモリ９に一定周期毎に順次格納（採取）する。なお、この実施の形態では、上記ストレージ機器２（を構成するＮＡＮＤフラッシュメモリ２３）に記憶されたＯＳによりホスト機器１が起動する際に上記バスを流れているデータからキャプチャしたデータをログデータとして採取することが目的であるから、上記ステップＳｔ３でのデータのキャプチャが開始された後に、使用者はストレージ機器２内のＯＳによりホスト機器１を起動する。また、使用者は、このホスト機器１がストレージ機器２内のＯＳによって起動が完了し終えて必要なデータのキャプチャが完了したと判断した場合には、このキャプチャを終了するための操作をする（以下のステップＳｔ４）。 Therefore, the process (1) will be described. As shown in FIG. 2, when the control program is activated in the control PC 4 (step St1), the CPU 8 causes the display device 12 to start a capture (not shown). At least a button, a (capture) stop button, and an analysis start button are displayed. Therefore, it is determined by the CPU 8 whether or not the capture start button by the operator (user) has been pressed (clicked) by the input device 11 (step St2), and it is determined that the capture start button has been pressed. If so, capture of data flowing through the bus is started (step St3). That is, if it is determined that the capture start button has been pressed, the CPU 8 sends the data flowing through the bus transmitted to the interface controller 5 via the microprocessor 7 constituting the bus analyzer 3 at regular intervals. The data stored in the DRAM 6 is stored in the DRAM 6 at (10 ns), and the data flowing through the bus stored in the DRAM 6 is sequentially stored as log data in the memory 9 via the interface controller 5 and the microprocessor 7 (collected). ) In this embodiment, data captured from data flowing through the bus when the host device 1 is activated by the OS stored in the storage device 2 (the NAND flash memory 23 constituting the storage device 2) is used as log data. Since the purpose is to collect the data, after the data capture in step St3 is started, the user activates the host device 1 by the OS in the storage device 2. In addition, when the user determines that the host device 1 has finished starting up by the OS in the storage device 2 and the necessary data has been captured, the user performs an operation to end the capture ( The following step St4).
そして、こうしたログデータを一定周期毎に順次格納されている段階において、上記ＣＰＵ８は、上記表示装置１２に表示された停止ボタンが押されたか（クリックされたか）否かを判別する（ステップＳｔ４）。上記ＣＰＵ８が、上記停止ボタンが押されたと判別した場合には、それまで行われていたバスを流れるデータをキャプチャする動作が停止され（図２のフローチャートには図示しない。）、次いで、上記メモリ９に格納されたログデータを、表示装置１２に表示する（ステップＳｔ５）。なお、このログデータが表示装置１２に表示された時点においても、該表示装置１２には、上記解析スタートボタンが表示されている。 Then, at the stage where such log data is sequentially stored at regular intervals, the CPU 8 determines whether or not the stop button displayed on the display device 12 has been pressed (clicked) (step St4). . When the CPU 8 determines that the stop button has been pressed, the operation of capturing data flowing through the bus that has been performed is stopped (not shown in the flowchart of FIG. 2), and then the memory The log data stored in 9 is displayed on the display device 12 (step St5). Even when the log data is displayed on the display device 12, the analysis start button is displayed on the display device 12.
なお、以上の動作は、上述したように、上記コントロールプログラムを構成する（Ａ）ログデータ採取用プログラムにより実行されるものであるが、上記ステップＳｔ５が終了すると、次いで、上記コントロールＰＣ４においては、上記（Ｂ）ログデータ解析用プログラムにより、以下に説明する各種の動作ないし機能が実現される。 The above operation is executed by the log data collection program constituting the control program as described above. When step St5 is completed, the control PC 4 Various operations or functions described below are realized by the log data analysis program (B).
［ログデータを解析用プログラムにより種々解析する工程］
上記ステップＳｔ５が実行されると、次いで、上記ＣＰＵ８は、上記表示装置１２に表示された解析スタートボタンが押されたか（クリックされたか）否かを判別する（ステップＳｔ６）。このステップＳｔ６において、ＣＰＵ８が、解析スタートボタンが押されたと判別した場合には、図３に示すように、上記ログデータをメモリ（サブメモリ）９に格納し（ステップＳｔ７）し、次いで、コマンド種別の解析と、セクタの存在回数のカウント種別の解析と、アドレス分布の解析と、アドレス分布とセクタの存在回数のカウントとの複合解析が、それぞれ並行して開始される（ステップＳｔ８、ステップＳｔ９、ステップＳｔ１０、ステップＳｔ１１）。
[Process for analyzing log data by analysis program]
When step St5 is executed, the CPU 8 then determines whether or not the analysis start button displayed on the display device 12 has been pressed (clicked) (step St6). If the CPU 8 determines in step St6 that the analysis start button has been pressed, the log data is stored in the memory (submemory) 9 (step St7) as shown in FIG. The analysis of the type, the analysis of the count type of the sector presence count, the analysis of the address distribution, and the combined analysis of the address distribution and the count of the sector presence count are started in parallel (step St8, step St9). , Step St10, Step St11).
上記コマンド種別の解析が開始される（ステップＳｔ８）と、上記ＣＰＵ８は、上記メモリ９に格納されたログデータを一行毎（或いは、ログデータの内、最初の一連のデータ。以下同じ）に、上記メモリ９を構成する主記憶部に取り込み（ステップＳｔ１２）、次いで、この取り込まれたログデータのコマンド種別毎の発生回数をカウントする（ステップＳｔ１３）。すなわち、取り込まれたログデータが読取りコマンドである場合と、書込みコマンドである場合とに峻別し、それぞれのコマンドの発生回数をそれぞれカウントする。 When the analysis of the command type is started (step St8), the CPU 8 stores the log data stored in the memory 9 line by line (or the first series of data in the log data; the same applies hereinafter). The data is taken into the main storage unit constituting the memory 9 (step St12), and then the number of occurrences of the taken log data for each command type is counted (step St13). In other words, when the captured log data is a read command and when it is a write command, the number of occurrences of each command is counted.
そして、上記ＣＰＵ８は、上記ログデータの最終行（或いは、ログデータのうち、最後の一連のデータ。以下同じ）まで主記憶部に取り込まれたか否かを判別し（ステップＳｔ１４）、最終行まで取り込まれたと判別した場合には、解析結果である上記読取りコマンドと書込みコマンドのそれぞれのコマンドの発生回数に係るカウント値を上記メモリ（サブメモリ）９に格納させ（ステップＳｔ１５）、さらにこの解析結果であるカウント結果をそれぞれ上記表示装置１２に表示する（ステップＳｔ１６）。なお、この表示装置１２に表示された解析結果情報は、本発明を構成する第１の解析結果情報である。この実施の形態においては、図５に示すように、この表示装置１２に表示されるカウント結果は、読取りコマンドと書込みコマンドとのそれぞれカウント結果の相対的割合を示す数字と共に円グラフにより表示される。なお、本発明において、上記カウント結果は、読取りコマンドと書込みコマンドのそれぞれのコマンドの発生回数に係るカウント値を数字として併記して表示した場合でも良いし、また、棒グラフによって、読取りコマンドと書込みコマンドとのそれぞれカウント結果が比較可能な態様で表示されても良い。 Then, the CPU 8 determines whether or not the last line of the log data (or the last series of data in the log data; the same applies hereinafter) has been taken into the main memory (step St14). If it is determined that the data has been fetched, the count value relating to the number of occurrences of each of the read command and the write command, which is the analysis result, is stored in the memory (sub-memory) 9 (step St15). Are displayed on the display device 12 (step St16). The analysis result information displayed on the display device 12 is first analysis result information constituting the present invention. In this embodiment, as shown in FIG. 5, the count result displayed on the display device 12 is displayed by a pie chart together with a number indicating the relative ratio of the count result of the read command and the write command. . In the present invention, the count result may be displayed when the count value relating to the number of occurrences of each of the read command and the write command is displayed together as a number, or the read command and the write command are represented by a bar graph. And the respective count results may be displayed in a comparable manner.
こうした解析結果情報が表示装置に表示されることによって、上記特定のホスト機器が、書込みが多いのか読出しが多いのかが判明する。そして、上記特定のホスト機器が、書込みが多い場合には、選択されるべきストレージ機器の特性としては、書込みに耐性機能があり、書込み速度が速いものであることが要求されることが判明する。 By displaying such analysis result information on the display device, it can be determined whether the specific host device is frequently written or read. Then, when the above-mentioned specific host device has many writes, it is found that the characteristics of the storage device to be selected are required to have a write-resistant function and a high write speed. .
また、上記セクタの存在回数のカウント種別の解析が開始される（ステップＳｔ９）と、上記ＣＰＵ８は、上記メモリ（サブメモリ）９に格納されたログデータを一行毎にメモリ（メインメモリ）９に取り込み（ステップＳｔ１７）、次いで、この取り込まれたログデータから、読取り（Ｒｅａｄ）と書込み（Ｗｒｉｔｅ）別にセクタの存在回数をカウントする（ステップＳｔ１８）。すなわち、取り込まれたログデータから、読取り（Ｒｅａｄ）と書込み（Ｗｒｉｔｅ）別にデータ長毎におけるセクタの存在回数をカウントする。 When the analysis of the count type of the number of sectors present is started (step St9), the CPU 8 stores the log data stored in the memory (sub memory) 9 in the memory (main memory) 9 line by line. Fetching (step St17), and then counting the number of sectors existing for each read (read) and write (write) from the fetched log data (step St18). In other words, the number of sectors existing for each data length is counted from read log data for each read (Read) and write (Write).
そして、上記ＣＰＵ８は、上記ログデータの最終行まで取り込まれたか否かを判別し（ステップＳｔ１９）、最終行まで取り込まれたと判別した場合には、解析結果である上記セクタの存在回数のカウント毎の発生回数に係るカウント値を上記メモリ（サブメモリ）９に格納させ（ステップＳｔ２０）、さらにこの解析結果であるカウント結果をそれぞれ読取り（Ｒｅａｄ）と書込み（Ｗｒｉｔｅ）別にセクタ長毎に上記表示装置１２に表示する（ステップＳｔ２１）。なお、この表示装置１２に表示された解析結果情報は、本発明を構成する第２の解析結果情報である。 Then, the CPU 8 determines whether or not the last line of the log data has been captured (step St19). If it is determined that the log data has been captured, the CPU 8 counts the number of times the sector exists as an analysis result. Is stored in the memory (sub-memory) 9 (step St20), and the count result, which is the analysis result, is read for each sector length and read for each sector length. 12 (step St21). The analysis result information displayed on the display device 12 is second analysis result information constituting the present invention.
この実施の形態においては、この表示装置１２に表示される読取り（Ｒｅａｄ）のカウント結果は、図６に示すように、また、書込み（Ｗｒｉｔｅ）のカウント結果は、図７に示すように、それぞれデータ長毎の割合を示す数値と共に円グラフにより表示される。こうした解析結果情報の表示により、特定のホスト機器がどのようなデータ長でストレージ機器にアクセスしているかという傾向が判明する。すなわち、短い（小さい）セクタの存在回数のカウントでアクセスが多い場合には、この特定のホスト機器は短い（小さい）セクタの存在回数のカウントでストレージ機器にアクセスする傾向があることが判明する。このため、この特定のホスト機器のために選択されるべきストレージ機器の特性としては、短い（小さな）データでのランダムアクセス性能が良好であることが要求されることが判明する。また、特に書込みで短い（小さい）セクタの存在回数のカウントが多い場合には、短い（小さな）データでのランダムアクセスが多いと考えられることから、選択されるべきストレージ機器の特性としては、書込みに対する耐性機能（書込み平均化及びＤＲＡMが搭載され書込み制限が機能として付与された）を備えたものであることが要求されることが判明する。 In this embodiment, the read count result displayed on the display device 12 is as shown in FIG. 6, and the write count result is as shown in FIG. A pie chart is displayed together with a numerical value indicating the ratio for each data length. By displaying such analysis result information, the tendency of what data length a specific host device is accessing the storage device is found. In other words, if there is a large number of accesses by counting the number of short (small) sectors, this particular host device tends to access the storage device by counting the number of short (small) sectors. For this reason, it is found that the characteristics of the storage device to be selected for this specific host device are required to have good random access performance with short (small) data. In addition, especially when the number of short (small) sectors in writing is large, random access with short (small) data is considered to be frequent. It is proved that the device is required to have a tolerance function (write averaging and DRAM are provided and write restriction is given as a function).
また、上記アドレス分布の解析が開始される（ステップＳｔ１０）と、上記ＣＰＵ８は、上記メモリ（サブメモリ）９に格納されたログデータを一行毎にメモリ（メインメモリ）９に取り込み（ステップＳｔ２２）、次いで、この取り込まれたログデータから、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）毎のアクセス回数をカウントする（ステップＳｔ２３）。次いで、上記ＣＰＵ８は、上記ログデータの最終行まで取り込まれたか否かを判別し（ステップＳｔ２４）、最終行まで取り込まれたと判別した場合には、解析結果である上記ＬＢＡ毎のアクセス回数に係るカウント値を上記メモリ（サブメモリ）９に格納させ（ステップＳｔ２５）、さらにこの解析結果であるカウント結果をＬＢＡ毎に上記表示装置１２に表示する（ステップＳｔ２６）。なお、この表示装置１２に表示された解析結果情報は、本発明を構成する第３の解析結果情報である。 When the analysis of the address distribution is started (step St10), the CPU 8 fetches the log data stored in the memory (sub memory) 9 into the memory (main memory) 9 line by line (step St22). Then, the number of accesses for each logical block address (LBA) is counted from the captured log data (step St23). Next, the CPU 8 determines whether or not the last line of the log data has been captured (step St24). If it is determined that the log data has been captured up to the last line, the CPU 8 determines the number of accesses for each LBA as an analysis result. The count value is stored in the memory (sub memory) 9 (step St25), and the count result as the analysis result is displayed on the display device 12 for each LBA (step St26). The analysis result information displayed on the display device 12 is the third analysis result information constituting the present invention.
この実施の形態においては、図８に示すように、この表示装置１２に表示されるＬＢＡ毎のカウント結果は、縦軸がアクセス回数、横軸がＬＢＡとした棒グラフが表示される。こうした解析結果情報の表示により、ストレージ機器２全体のどのような場所に対してアクセスが行われているか、というアクセス回数についてのアドレス分布の傾向が判明する。すなわち、ストレージ機器２の記憶容量全体に対して平均的にアクセスする場合と、偏った場所にアクセスする場合とでは使用限度期間（寿命）の長短に大きく影響し、偏った場所に対する書込みアクセスが多い場合（偏ったアクセスをしている場合）は、書込みに対する平均化処理を行う機能を備えたストレージ機器（ＳＳＤ）が要求されることが判明する。 In this embodiment, as shown in FIG. 8, the count result for each LBA displayed on the display device 12 is displayed as a bar graph with the vertical axis representing the number of accesses and the horizontal axis representing the LBA. By displaying such analysis result information, it becomes possible to determine the tendency of the address distribution with respect to the number of accesses, such as what location in the entire storage device 2 is being accessed. In other words, the average access to the entire storage capacity of the storage device 2 and the access to the uneven location greatly affect the length of the use limit period (life), and there are many write accesses to the uneven location. In the case (in the case of uneven access), it is found that a storage device (SSD) having a function of performing an averaging process for writing is required.
また、上記ＬＢＡ毎のカウント結果とデータ長毎のセクタの存在回数との複合解析が開始される（ステップＳｔ１１）と、上記ＣＰＵ８は、上記メモリ（サブメモリ）９に格納されたログデータを一行毎にメモリ（メインメモリ）９に取り込み（ステップＳｔ２７）、次いで、この取り込まれたログデータから、上記ＬＢＡとデータ長毎のセクタの存在回数とを抽出する（ステップＳｔ２８）。次いで、上記ＣＰＵ８は、上記ログデータの最終行まで取り込まれたか否かを判別し（ステップＳｔ２９）、最終行まで取り込まれたと判別した場合には、上記抽出結果（解析結果）を上記メモリ（サブメモリ）９に格納させ（ステップＳｔ３０）、解析結果である上記抽出結果を上記表示装置１２に表示する（ステップＳｔ３１）。なお、上記抽出結果情報は、以下第４の解析結果情報と言う。 When the combined analysis of the count result for each LBA and the number of sectors existing for each data length is started (step St11), the CPU 8 executes one line of log data stored in the memory (sub memory) 9. Every time, the data is fetched into the memory (main memory) 9 (step St27), and the LBA and the number of sectors existing for each data length are extracted from the fetched log data (step St28). Next, the CPU 8 determines whether or not the last line of the log data has been captured (step St29). If it is determined that the log data has been captured, the extraction result (analysis result) is stored in the memory (sub-data). The data is stored in the memory 9 (step St30), and the extraction result, which is an analysis result, is displayed on the display device 12 (step St31). The extraction result information is hereinafter referred to as fourth analysis result information.
この実施の形態においては、図９に示すように、縦軸をアクセス回数とし、横軸をデータ長とした棒グラフが表示される。こうしたＬＢＡ毎のカウント結果とデータ長毎のセクタの存在回数との複合解析によれば、書込みの場合にアクセスしたデータのデータ長と使用限度時間（寿命）とは密接な関連のある結果が得られる。すなわち、上記ステップＳｔ２８におけるこの第４の解析結果情報の解析の際には、ストレージ機器（ＳＳＤ）２に対して複数回のデータの書込み及び読取りが連続する場合（データの書込みコマンド及び読取りコマンドが、間に読取りコマンド及び書込みコマンドを挟むことなく連続して発生する場合）であって、かつ、これらの複数回のデータの書込み及び読取りが連続したＬＢＡに対してなされる場合には、このデータの書込み及び読取りが連続したＬＢＡに対してなされる分についてはこの複数回のデータの書込み及び読取りをまとめて１回のデータの書込み及び読取りとしてカウントし、かつ、この１回のデータの書込み及び読取りとしてまとめてカウントされた複数回のデータの書込み及び読取りでされた全部のデータ長の合計をデータ長とし、さらにこれをデータ長毎のセクタの存在回数として抽出する。これは、実際にホスト機器１がストレージ機器２に対してデータを書込み及び読出しの動作をする際には、上述のようなこのデータの書込み及び読出しが連続する場合であって、かつ、これらの複数回のデータの書込み及び読取りが連続したＬＢＡに対してなされる場合には、ログデータ上は複数回の書込み及び読取りがされている（複数回の読取りコマンド及び書込みコマンドの実行を別々にしている。例えば、対象となるＬＢＡが連続している書込みコマンドが３回連続している場合には、書込みコマンドを３回連続して実行している）ように見えるものの、実際には、この複数回の書込み及び読取りを連続して一回で行っている（上記の例で言えば、対象となるＬＢＡが連続している場合には、書込みコマンドが３回に分かれていても１回の連続した書込みをまとめて行っている）という動作が実情であるためであって、第４の解析結果情報はこの実情に合わせた解析の結果が得られる。このため、この読取りコマンド及び書込みコマンドの発生回数をカウントしてこれら読取りコマンド及び書込みコマンドのデータ長（或いは、データ長毎におけるセクタの存在回数）を抽出して得られる第２の解析結果情報に比べ、この第４の解析結果情報によれば、より実際のホスト機器１とストレージ機器２との動作に即した結果が得られる。すなわち、ＳＳＤに対して短いデータのランダムライト（任意書込み）が多い場合は、このＳＳＤの使用限度時間（寿命）が短くなり、逆にデータ長が長い場合には、このＳＳＤの使用限度時間（寿命）が比較的長くなる。したがって、例えば、図９に示す棒グラフのように、１セクタ（５１２バイト）という短いデータの書込みアクセスが多い場合には、ＳＳＤの使用限度時間（寿命）が短くなるため、書込みに対する耐性機能（書込み平均化及びＤＲＡMが搭載され書込み制限が機能として付与された）を備えたものであることが要求されることが判明する。 In this embodiment, as shown in FIG. 9, a bar graph is displayed with the vertical axis representing the number of accesses and the horizontal axis representing the data length. According to such a combined analysis of the count result for each LBA and the number of sectors existing for each data length, the data length of the accessed data in the case of writing and the use limit time (lifetime) are closely related. It is done. That is, when the fourth analysis result information is analyzed in the above-described step St28, when the data writing and reading a plurality of times are continuously performed on the storage device (SSD) 2, the data writing command and the reading command are If the data is written and read a plurality of times for consecutive LBAs, the data is read from the data. The number of data writes and reads made to consecutive LBAs is counted as a single data write and read collectively, and this one data write and read Sum of all data lengths written and read multiple times counted together as a read And data length, further extracts this as presence the number of sectors of data lengths each. This is the case where the host device 1 actually writes and reads data to and from the storage device 2 when the data is written and read continuously as described above. When data is written and read a plurality of times for a continuous LBA, the log data is written and read a plurality of times (the execution of the read command and the write command is performed separately). For example, when the write command with the target LBA is continuous three times, the write command is executed three times continuously) Write and read once in a row (in the above example, if the target LBA is continuous, the write command is divided into 3 Times of successive be for operation of being performed collectively writing) is in reality, a fourth analysis result information of a result of the analysis combined with this situation is obtained. Therefore, the second analysis result information obtained by counting the number of occurrences of the read command and the write command and extracting the data length of the read command and the write command (or the number of sectors existing for each data length) is obtained. In comparison, according to the fourth analysis result information, a result more in line with the actual operation of the host device 1 and the storage device 2 can be obtained. That is, when there are many random data (arbitrary write) of short data with respect to the SSD, the use time limit (life) of the SSD is shortened. Conversely, when the data length is long, the use time limit of the SSD ( (Lifetime) is relatively long. Therefore, for example, as in the bar graph shown in FIG. 9, when there are many data write accesses of one sector (512 bytes), the SSD use limit time (lifetime) is shortened. It turns out that it is required to be equipped with averaging and DRAM and with write restrictions given as a function.
特に、この実施の形態では、ＬＢＡ毎のカウント結果によるアドレス分布とデータ長毎のセクタの存在回数との複合解析が行われ、図９に示す棒グラフが表示されることから、より詳細なアクセス傾向が判明し、より精度の高いＳＳＤ選定が可能となる。 In particular, in this embodiment, a composite analysis of the address distribution based on the count result for each LBA and the number of sectors existing for each data length is performed, and the bar graph shown in FIG. This makes it possible to select SSDs with higher accuracy.
なお、この実施の形態では、上記第１の解析結果情報、第２の解析結果情報、第３の解析結果情報、第４の解析結果情報をそれぞれ別個に図示して説明したが、これら第１ないし第４の解析結果情報は、それぞれ別個に独立して表示装置（或いは、単一の表示装置である一つのディスプレイ上に表示された複数のウインドウ）に表示されても良いばかりではなく、全ての解析結果情報が一度に表示されても良い。また、各解析結果情報がそれぞれ独立して表示される場合には、各解析結果情報に対応し（使用者により）クリックされる部位をプログラム上に設け、クリックされることにより該当する解析結果情報が表示装置１２に選択的に表示されるものであっても良い。 In this embodiment, the first analysis result information, the second analysis result information, the third analysis result information, and the fourth analysis result information are separately illustrated and described. The fourth analysis result information may not only be displayed separately and independently on a display device (or a plurality of windows displayed on one display which is a single display device) but also all of them. The analysis result information may be displayed at once. In addition, when each analysis result information is displayed independently, a site to be clicked (by the user) corresponding to each analysis result information is provided in the program, and the corresponding analysis result information is clicked when clicked. May be selectively displayed on the display device 12.
そして、この実施の形態では、上記ステップＳｔ１６、２１、２６、３１が終了すると、次いで、上記ログデータから所定のプログラムによりテストスクリプトを生成する工程に移行する。 In this embodiment, when steps St16, 21, 26, and 31 are completed, the process proceeds to a step of generating a test script from the log data by a predetermined program.
［テストスクリプトを生成する工程］
このテストスクリプトを生成する工程は、上記（Ｃ）テストスクリプト生成用プログラムにより実行される。すなわち、上記第１ないし第４の解析結果情報が表示装置１２に表示される（ステップＳｔ１６、２１、２６、３１）と、上記テストスクリプト生成用プログラムにより、図４に示すように、上記ＣＰＵ８は、（使用者により上記入力装置１１を使用して）表示装置１２に表示された上記解析スタートボタンがクリックされたか否か（テストスプリクトを出力するか否か）を判別する（ステップＳｔ３２）。このステップＳｔ３２において、ＣＰＵ８が、テストスクリプトを出力する（クリックされた）と判別した場合には、テストスクリプトの生成が開始され（ステップＳｔ３３）、前述したステップＳｔ７においてメモリ（サブメモリ）９に記憶されたログデータを一行毎にメモリ（メインメモリ）９に取り込み（ステップＳｔ３４）、読み取り／書き込みの各コマンド別に各ＬＢＡのアクセス発生回数を抽出する。（ステップＳｔ３５）。そして、こうした動作中、上記ＣＰＵ８が、上記ログデータの最終行に至ったか否かを判別し（ステップＳｔ３６）、最終行に達したと判別した場合には、ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を日（２４時間）単位のアクセスへ変換したテストスクリプトを生成し、一定周期毎にＳＭＡＲＴデータを取得するコマンドを挿入し（ステップＳｔ３７）、このテストスクリプトをメモリ（サブメモリ）９に保存し、終了する（ステップＳｔ３９）。なお、本発明においては、上記ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を変換する単位（時間）は、８時間から７２０時間単位のアクセスカウント値であれば良い。
[Process of generating test script]
The step of generating the test script is executed by the (C) test script generation program. That is, when the first to fourth analysis result information is displayed on the display device 12 (steps St16, 21, 26, and 31), as shown in FIG. It is determined whether or not the analysis start button displayed on the display device 12 is clicked (whether or not a test script is output) (using the input device 11 by the user) (step St32). If the CPU 8 determines that the test script is to be output (clicked) in step St32, generation of the test script is started (step St33) and stored in the memory (sub memory) 9 in step St7 described above. The obtained log data is taken into the memory (main memory) 9 line by line (step St34), and the number of times the LBA has been accessed is extracted for each read / write command. (Step St35). During such operation, the CPU 8 determines whether or not the last line of the log data has been reached (step St36). If it is determined that the last line has been reached, the count value of the number of accesses for each LBA is set. Generate test script converted to daily (24 hours) unit access, insert command to acquire SMART data at regular intervals (step St37), save this test script in memory (sub memory) 9 and finish (Step St39). In the present invention, the unit (time) for converting the count value of the number of accesses for each LBA may be an access count value of 8 hours to 720 hours.
［ストレージ機器（ＳＳＤ）の予想寿命を算出し表示する工程］
以下、特定のストレージ機器（ＳＳＤ）の予想寿命（予想される使用限界時期）を上記（Ｄ）使用限界予想時間解析用プログラムにより算出し表示する工程について説明する。なお、この工程は、上述した工程により生成したテストスクリプトを使用するものである。
[Step of calculating and displaying the expected life of a storage device (SSD)]
Hereinafter, a process of calculating and displaying the expected life (expected use limit time) of a specific storage device (SSD) by the above (D) use limit expected time analysis program will be described. In this step, the test script generated by the above-described step is used.
先ず、この工程では、図１０に示すように、上記コントロールＰＣ４と、寿命を予測する特定のストレージ機器（ＳＳＤ）を接続する。そして、こうした準備が終了すると、コントロールＰＣにおいて、上記コントロールプログラムを構成する（Ｄ）使用限界予想時間解析用プログラム（テストツール）を起動させる（ステップＳｔ４０）。なお、この使用限界予想時間解析用プログラムが起動されると、上記表示装置１２には、テストスクリプト入力用のボタンが表示される。したがって、ＣＰＵ８が、（使用者による上記入力装置１１により）上記表示装置１２に表示された上記テストスクリプト入力用のボタンがクリックされたか否かが判別され（ステップＳｔ４１）、これがクリックされたと判別された場合には、上記ＣＰＵ８が、それまでメモリ（サブメモリ）９に格納されている上記テストスクリプトを、メモリ９を構成する主記憶部（メインメモリ）に一行毎に取り込む（ステップＳｔ４２）。次いで、こうして一行毎に取り込まれたテストスクリプトのコマンドがＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか、書込み又は読出しに係るコマンドであるかを判別し（ステップＳｔ４３）、上記テストスクリプトのコマンドがＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、ターゲットデバイスである上記ストレージ機器（ＳＳＤ）２にコマンドを発行する（ステップＳｔ４４）。そして、こうしたコマンドが発行されると次いで、ＣＰＵ８は、コマンドステータス（ＳＳＤに発行したコマンドが正常に実行されたか否か）を判別する（ステップＳｔ４５）。そして、このコマンドステータスが正常でないと判別された場合（例えば、物理的な破壊がされている場合）には、プログラムは終了（ステップＳｔ５６）し、正常であると判別された場合には、次いで、上記ＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を取得し（ステップＳｔ４６）し、該イレースデータのカウント値を上記メモリ（サブメモリ）９に保存する（ステップＳｔ４７）とともに、該イレースデータのカウント値を時間と共にグラフ表示する（ステップＳｔ４８）。このグラフは、例えば、図１２に示すように、縦軸にイレースカウント値を、横軸に該イレースカウント値の取得時間をそれぞれ取った折れ線グラフである。 First, in this step, as shown in FIG. 10, the control PC 4 and a specific storage device (SSD) for predicting the lifetime are connected. When such preparation is completed, the control PC starts up the (D) use limit expected time analysis program (test tool) constituting the control program (step St40). When the use limit expected time analysis program is started, the display device 12 displays a button for inputting a test script. Therefore, the CPU 8 determines whether or not the test script input button displayed on the display device 12 is clicked (by the input device 11 by the user) (step St41), and it is determined that this is clicked. In the case where the CPU 8 has received the test script, the test script stored in the memory (sub-memory) 9 is fetched line by line into the main memory (main memory) constituting the memory 9 (step St42). Next, it is determined whether the command of the test script fetched for each line is a command related to SMART data or a command related to writing or reading (step St43), and the command of the test script relates to SMART data. If it is a command, the command is issued to the storage device (SSD) 2 as the target device (step St44). When such a command is issued, the CPU 8 then determines the command status (whether or not the command issued to the SSD has been executed normally) (step St45). When it is determined that the command status is not normal (for example, when physical destruction has occurred), the program ends (step St56). When it is determined that the command status is normal, Then, the erase count value included in the SMART data is acquired (step St46), the count value of the erase data is stored in the memory (submemory) 9 (step St47), and the count value of the erase data is stored in time. A graph is also displayed (step St48). For example, as shown in FIG. 12, this graph is a line graph in which the vertical axis represents the erase count value and the horizontal axis represents the acquisition time of the erase count value.
一方、上記ステップＳｔ４３において、ＣＰＵ８により、テストスクリプトのコマンドが書込み又は読出しに係るコマンドであると判別された場合には、ターゲットデバイスである上記ストレージ機器（ＳＳＤ）２に書込みコマンド又は読出しコマンドの何れかを発行する（ステップＳｔ４９）。そして、こうしたコマンドが発行されると、ＣＰＵ８は、コマンドステータス（ＳＳＤに発行したコマンドが正常に実行されたか否か）を判別する（ステップＳｔ５０）。そして、このコマンドステータスが正常でないと判別された場合（例えば、書込みエラーが発生した場合など）には、プログラムは終了（ステップＳｔ５６）し、正常であると判別された場合には、次いで、テストスクリプトの最終行を取り込んだか否かがＣＰＵ８により判別される（ステップＳｔ５２）。そして、ＣＰＵ８により、全てのテストスクリプトが取り込まれたと判別された場合には、上記表示装置１２に「テストを終了するか否か」を使用者に伝える図示しない終了案内情報が表示され（ステップＳｔ５３）、その後ＣＰＵ８は、この案内表示に従って所定の「終了する」旨に該当する部位をクリックしたか（或いは「再度テストをする」旨に該当する部位をクリックしたか）、すなわちテストを終了するか否かを判別する（ステップＳｔ５４）。このステップＳｔ５４において、「再度テストをする」旨を示す部位がクリックされたとＣＰＵ８が判別した場合には、再びステップＳｔ４２に戻る。なお、この実施の形態では、上記テストスクリプトは、日単位のアクセスへ変換したものであることから、上記「再度テストをする」旨を示す部位を、例えば６回クリックすることにより、一週間分のテストを実行しても良い。 On the other hand, if the CPU 8 determines in step St43 that the command of the test script is a command related to writing or reading, the storage device (SSD) 2 that is the target device is notified of either the writing command or the reading command. Is issued (step St49). When such a command is issued, the CPU 8 determines the command status (whether or not the command issued to the SSD has been executed normally) (step St50). When it is determined that the command status is not normal (for example, when a write error occurs), the program ends (step St56). When it is determined that the command status is normal, the test is performed. The CPU 8 determines whether or not the last line of the script has been fetched (step St52). If the CPU 8 determines that all the test scripts have been captured, the display device 12 displays end guidance information (not shown) that tells the user whether or not to end the test (step St53). ) Then, according to this guidance display, the CPU 8 has clicked on a part corresponding to a predetermined “end” (or has clicked a part corresponding to “test again”), that is, whether to end the test. It is determined whether or not (step St54). In step St54, when the CPU 8 determines that a part indicating "test again" has been clicked, the process returns to step St42 again. In this embodiment, since the test script is converted to daily access, for example, by clicking the portion indicating “test again” for six times, the data for one week can be obtained. You may run the test.
そして、上記「終了する」旨を示す部位がクリックされたとＣＰＵ８が判別した場合には、以下に説明する寿命計算とこの計算による予測寿命を表示装置１２に表示する。すなわち、この寿命計算とは、上記コントロールＰＣ４に接続されたストレージ機器であるＳＳＤ２の使用限度時期を計算することを指し、具体的には、上記図１２に示す時間に対するイレースカウント値の増加率を計算し、このイレースカウント値の増加率に従って、予めメモリ（サブメモリ）９に記憶されているイレースカウントの最大値に達する時間を計算する。つまり、こうした一連の計算により、上記ＳＳＤ２の予測使用限度時期が判明する。なお、上記計算方法により算出された予測使用限度時期は、少なくとも該時期を使用者に伝達できる態様であれば良く、例えば文字情報により表示装置１２に表示される場合以外に、図１３に示すように、グラフにより表示されるものであっても良い。 When the CPU 8 determines that the portion indicating “to end” has been clicked, the life calculation described below and the predicted life by this calculation are displayed on the display device 12. In other words, the lifetime calculation means calculating the use limit time of the SSD 2 which is a storage device connected to the control PC 4, and specifically, the increase rate of the erase count value with respect to the time shown in FIG. The time required to reach the maximum erase count stored in the memory (sub memory) 9 in advance is calculated according to the increase rate of the erase count value. That is, the predicted use limit time of the SSD 2 is determined by such a series of calculations. Note that the predicted use limit time calculated by the above calculation method only needs to be an aspect in which at least the time can be transmitted to the user. For example, as shown in FIG. Alternatively, it may be displayed as a graph.
したがって、上記使用限界予想時間解析用プログラムを使用した工程によれば、特定のストレージ機器（ＳＳＤ）２の使用限界予想時間が、特定のホスト機器１との関係において解析（判明）することができ、より確実なＳＳＤ２の選択が可能となる。 Therefore, according to the process using the above expected use limit time analysis program, the expected use limit time of a specific storage device (SSD) 2 can be analyzed (identified) in relation to the specific host device 1. Therefore, the SSD 2 can be selected more reliably.
このように、本実施の形態に係る一連の工程によれば、特定のホスト機器１との関係において、選択されるべきストレージ機器２を色々な角度から解析することができ、最も適切なストレージ機器を選択する際の判断要素を入手することができる。 As described above, according to the series of steps according to the present embodiment, the storage device 2 to be selected can be analyzed from various angles in relation to the specific host device 1, and the most appropriate storage device can be analyzed. Judgment factors when selecting can be obtained.
なお、上述した実施の形態では、図１と図２を参照して説明した方法・工程により、ログデータを採取したが、上記ログデータは、こうした採取方法以外の方法により採取し、予めコントロールＰＣ４を構成するメモリ９に格納しておいた上で、上記解析用プログラムにより、上記ステップＳｔ６以下の動作が実行されるものであっても良い。 In the above-described embodiment, the log data is collected by the method and process described with reference to FIGS. 1 and 2. However, the log data is collected by a method other than such a collection method, and the control PC 4 The operation after step St6 may be executed by the analysis program.
また、上記実施の形態においては、ログデータを解析用プログラムにより種々解析する工程において、上記ステップＳｔ８からステップＳｔ１６、ステップＳｔ９からステップＳｔ２１、ステップＳｔ１０からステップＳｔ２６、ステップＳｔ１１からステップＳｔ３１が、それぞれ並行して行われる例を図示して説明したが、本発明は、これらの動作・工程がそれぞれ並行して実行されるのではなく、上記ステップＳｔ１６により第１の解析結果情報が表示された後に、上記ステップＳｔ９から上記ステップＳｔ２１までを実行し、さらに、上記ステップＳｔ１０からステップＳｔ２６を実行し、その後、ステップＳｔ１１からステップＳｔ３１を実行するものであっても良い。 In the above-described embodiment, in the process of analyzing log data in various ways using the analysis program, the above-described steps St8 to St16, Steps St9 to St21, Steps St10 to St26, and Steps St11 to St31 are performed in parallel. However, in the present invention, these operations and processes are not executed in parallel, but after the first analysis result information is displayed in step St16, Steps St9 to St21 may be executed, steps St10 to St26 may be executed, and then steps St11 to St31 may be executed.
１ ホスト機器
２ ストレージ機器（ＳＳＤ）
３ バスアナライザ
４ コントロールＰＣ
８ ＣＰＵ
９ メモリ
１１ 入力装置
１２ 表示装置
1 Host device 2 Storage device (SSD)
3 Bus analyzer 4 Control PC
8 CPU
9 Memory 11 Input device 12 Display device
Claims (3)
上記テストスクリプト生成工程により生成されたテストスクリプトを上記記憶手段に記憶させるテストスクリプト記憶工程と、
上記コンピュータと特定のストレージ機器とを互いに接続し、上記テストスクリプトを上記記憶手段から読出すテストスクリプト読出し工程と、
上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、書き込み又は読み出しに係るコマンドであるか、ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか否かを判別するコマンド判別工程と、
上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、上記ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、このＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を時間の推移とともに取得するイレースカウント値取得工程と、
上記イレースカウント値取得工程により取得したイレースカウント値を、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶するイレースカウント値記憶工程と、
上記テストスクリプトが全て読み出されたことを条件に、上記イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算する上昇係数演算工程と、
上記上昇係数演算工程により得られた上昇係数と上記特定のストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値とから、上記特定のストレージ機器の使用限界予想時間を演算する工程と、
を有してなることを特徴とするストレージ機器の使用限界予想方法。 From the log data collected between the specific host device and the storage device and stored in the storage means of the computer having the storage means , the number of accesses is calculated for each logical block address (LBA) using the computer. A test script generation step of generating a test script by counting and converting the count value of the number of accesses for each LBA to an access count value in units of 8 hours to 720 hours;
A test script storage step of storing the test script generated by the test script generation step in the storage means;
A test script reading step of connecting the computer and a specific storage device to each other and reading the test script from the storage means;
A command discriminating step for discriminating whether or not the command read out by the test script reading step is a command related to writing or reading or a command related to SMART data;
The test script reading step command read by the, when a command according to the SMART data, and the erase count value obtaining step of obtaining an erase count value included in the SMART data with the passage of time,
An erase count value storage step of storing the erase count value acquired in the erase count value acquisition step in a storage means constituting the computer;
On condition that the test script is read all, and increase the coefficient calculation step of calculating an increase coefficient based on the time course of the erase count values,
From the maximum value of the resulting increase coefficient and the display to a particular storage device the erase counts and by the increase in the coefficient calculating step, a step of calculating a use limit estimated time of the specific storage device,
A method for predicting the use limit of a storage device, characterized by comprising:
上記記憶手段には、
上記特定のホスト機器と上記ストレージ機器との間において採取したログデータから、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）毎のアクセス回数をカウントして該ＬＢＡ毎のアクセス回数のカウント値を、８時間から７２０時間単位のアクセスカウント値に変換することによって生成されたテストスクリプトと、
上記特定のストレージ機器のイレースカウントの最大値と、
使用限界解析用プログラムと、が記憶され、
上記入力手段による解析操作を開始条件として、上記制御手段は、上記使用限界解析用プログラムにより、
上記テストスクリプトを上記記憶手段から読出すテストスクリプト読出し工程と、
このテストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、書き込み又は読み込みに係るコマンドであるか、ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか否かを判別するコマンド判別工程と、
上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、上記ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、このＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を時間の推移とともに取得するイレースカウント値取得工程と、
上記イレースカウント値取得工程により取得したイレースカウント値を、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶するイレースカウント値記憶工程と、
上記テストスクリプトが全て読み出されたことを条件に、上記イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算し、上記イレースカウントの最大値との関係で、上記ストレージ機器の使用限界予想時間を演算し、
この使用限界予想時間を上記表示手段に表示し、又は上記入力手段による出力操作を条件として上記出力手段により出力する使用限界予想時間表示工程と、
を備えてなることを特徴とするストレージ機器の使用限界予想装置。 Storage means, display means and / or output means, an input means, these storage means, display means and / or output means, connected to said storage means to the input means, display means, input means, control for controlling the output means A storage device connected to the computer, a specific host device connected to the storage device, and a storage device connected to the computer.
In the storage means,
From the log data collected in between said particular host device and the storage device, the count value of the access count for each said LBA by counting the number of accesses for each logical block address (LBA), 720 time units from 8 hours A test script generated by converting to an access count value of
The maximum erase count of the specific storage device above ,
A usage limit analysis program, and
With the analysis operation by the input means as a start condition, the control means uses the usage limit analysis program,
A test script reading step of reading the test script from the storage means;
A command discriminating step for discriminating whether or not the command read by the test script reading step is a command related to writing or reading or a command related to SMART data;
The test script reading step command read by the, when a command according to the SMART data, and the erase count value obtaining step of obtaining an erase count value included in the SMART data with the passage of time,
An erase count value storage step of storing the erase count value acquired in the erase count value acquisition step in a storage means constituting the computer;
On condition that the test script is read every calculates the increase coefficient based on the time course of the erase count value, in relation to the maximum value of the erase counts, the use limit expected time of the storage devices Operate,
And the use limit expected time was displayed on the display means, or used limit estimated time display step of outputting by the output means an output operation by said input means as a condition,
An apparatus for predicting the use limit of a storage device, comprising:
上記入力手段による解析操作を開始条件として、
上記テストスクリプトを上記記憶手段から読出すテストスクリプト読出し工程と、
このテストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、書き込み又は読み込みに係るコマンドであるか、ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドであるか否かを判別するコマンド判別工程と、
上記テストスクリプト読出し工程により読み出されたコマンドが、上記ＳＭＡＲＴデータに係るコマンドである場合には、このＳＭＡＲＴデータに含まれるイレースカウント値を時間の推移とともに取得するイレースカウント値取得工程と、
上記イレースカウント値取得工程により取得したイレースカウント値を、上記コンピュータを構成する記憶手段に記憶するイレースカウント値記憶工程と、
上記テストスクリプトが全て読み出されたことを条件に、上記イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算し、上記イレースカウントの最大値との関係で、上記ストレージ機器の使用限界予想時間を演算し、
この使用限界予想時間を上記表示手段に表示し、又は上記入力手段による出力操作を条件として出力手段により出力する機能を実現させることを特徴とするストレージ機器の使用限界予想時間解析用プログラム。 Storage means, display means and / or output means, an input means, these storage means, display means and / or output means, connected to said storage means to the input means, display means, input means, control for controlling the output means And a storage block connected to a specific host device , and the storage means includes a logical block from log data collected between the specific host device and the storage device. A test script generated by counting the number of accesses for each address (LBA) and converting the count value of the number of accesses for each LBA from an access count value in units of 8 hours to 720 hours, and a specific storage device For a computer that stores the maximum erase count and usage limit analysis program,
With the analysis operation by the input means as a start condition,
A test script reading step of reading the test script from the storage means;
A command discriminating step for discriminating whether or not the command read by the test script reading step is a command related to writing or reading or a command related to SMART data;
The test script reading step command read by the, when a command according to the SMART data, and the erase count value obtaining step of obtaining an erase count value included in the SMART data with the passage of time,
An erase count value storage step of storing the erase count value acquired in the erase count value acquisition step in a storage means constituting the computer;
On condition that the test script is read every calculates the increase coefficient based on the time course of the erase count value, in relation to the maximum value of the erase counts, the use limit expected time of the storage devices Operate,
A storage device use limit expected time analysis program characterized by realizing a function of displaying the expected use limit time on the display means or outputting the output means on the condition of an output operation by the input means.
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