JP5241677B2 - measuring device - Google Patents
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Description
本発明は、電子機器の電気的特性を測定する測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring apparatus for measuring electrical characteristics of electronic equipment.
従来、工場の製造ラインにおいて、電子機器の検査を行う種々の測定装置が使用されている。これらの測定装置は、電子機器の製造コストを低減することを目的として、検査工程における測定時間の短縮化が常に要求されている。この要求に対応するため、製造ラインで使用される測定装置は、測定者が予め設定した複数の測定項目を含むリストに従って連続的に測定動作するモード（以下「リスト動作モード」という。）を有している（例えば、特許文献１参照）。特許文献１には、周波数スイープの開始周波数及び終了周波数や、測定点の個数、電力レベル等のパラメータが定められたリストに基づき、複数の周波数帯域についてスイープ測定を行う測定装置が提案されている。
Conventionally, various measuring devices for inspecting electronic devices have been used in factory production lines. These measuring apparatuses are always required to shorten the measuring time in the inspection process for the purpose of reducing the manufacturing cost of electronic equipment. In order to meet this requirement, the measurement apparatus used in the production line has a mode (hereinafter referred to as “list operation mode”) in which measurement is continuously performed according to a list including a plurality of measurement items preset by the measurer. (For example, refer to Patent Document 1).
初期のリスト動作モードを備えた測定装置では、測定装置を制御する外部コントローラから測定装置までの間の通信時間の短縮化や、測定装置が備えるソフトウェアの処理時間の短縮化といったソフトウェアの改良による測定時間短縮化が主体であった。その後、さらなる高速化要求に対応するため、実装された専用ハードウェアによるリスト動作モードを備えた測定装置が登場した。この種の測定装置は、周波数設定やレベル設定等を行うための限られたパラメータの変更を高速に切り替える機能を有するものであり、例えば図９及び図１０に示すように構成されていた。 For measuring devices with an initial list operation mode, measurement is made by improving software such as shortening the communication time between the external controller that controls the measuring device and the measuring device, and shortening the processing time of the software provided in the measuring device. The main purpose was to shorten the time. Later, in order to meet the demand for higher speeds, a measuring device equipped with a list operation mode with dedicated hardware implemented appeared. This type of measuring apparatus has a function of switching a limited parameter change for performing frequency setting, level setting, and the like at high speed, and is configured as shown in FIGS. 9 and 10, for example.
従来の測定装置１は、図９に示すように、ＣＰＵ（中央演算装置）部２と、このＣＰＵ部２にＣＰＵバス３を介して接続された機能ブロックＡ４ａ〜Ｄ４ｄと、リスト機能部Ａ５ａ〜Ｄ５ｄとを備えている。ここで、機能ブロックＡ４ａ〜Ｄ４ｄは、例えば、入力切替スイッチや可変減衰器等であって、指定されたパラメータに応じて構成が設定された後、ＣＰＵ部２の制御によって所定の機能を発揮するものである。
As shown in FIG. 9, the conventional
また、リスト機能部Ａ５ａ〜Ｄ５ｄは、それぞれ、機能ブロックＡ４ａ〜Ｄ４ｄに組み込まれ、機能ブロックＡ４ａ〜Ｄ４ｄのリスト動作モードにおける構成を設定するものである。これらの代表としてリスト機能部Ａ５ａの構成を図１０に示す。同図に示すように、リスト機能部Ａ５ａは、ＣＰＵバス３に接続されたメモリ制御部６と、パラメータａ〜ｅを設定情報として格納した設定情報メモリ７とを備えている。
The list function units A5a to D5d are incorporated in the function blocks A4a to D4d, respectively, and set the configuration of the function blocks A4a to D4d in the list operation mode. As a representative of these, the configuration of the list function unit A5a is shown in FIG. As shown in the figure, the list function unit A5a includes a memory control unit 6 connected to the
前述の構成により、従来の測定装置１は、リスト動作モードにおいて、ＣＰＵ部２がメモリ制御部６を介してパラメータａ〜ｅを機能ブロックＡ４ａに設定し、機能ブロックＡ４ａを所定の機能で動作させる。例えば、機能ブロックＡ４ａが入力切替スイッチの場合、ＣＰＵ部２は、機能ブロックＡ４ａに対してパラメータａ〜ｅをリスト機能部Ａ５ａに設定させることによって、機能ブロックＡ４ａが入力する信号の入力先を決定できるようになっている。すなわち、従来の測定装置１は、リスト動作モードにおいて、ＣＰＵ部２が機能ブロックＡ４ａ〜Ｄ４ｄごとに、リスト機能部Ａ５ａ〜Ｄ５ｄが有する各設定情報を順に設定して動作するものである。
With the above-described configuration, in the
しかしながら、従来の測定装置は、個々の機能ブロックにそれぞれリスト機能部を組み込む構成となっているので、リスト機能部が回路基板上で分散すると同時に、回路全体の規模が増大するものであった。したがって、従来の測定装置では、リスト動作モードにおける制御が複雑化し、機能ブロック間の同期化が困難となり、開発期間が長期化するという課題があった。 However, since the conventional measuring apparatus has a configuration in which the list function units are incorporated in the individual functional blocks, the list function units are dispersed on the circuit board, and at the same time, the scale of the entire circuit increases. Therefore, the conventional measuring apparatus has a problem that the control in the list operation mode is complicated, the synchronization between the functional blocks is difficult, and the development period is prolonged.
他方、測定の対象物である携帯電話機やＰＤＡ端末等の電子機器は高機能化や多機能化が年々進んでいる。それに伴って測定装置も高機能化や多機能化が進み、例えばシグナルアナライザにおいては、ＦＦＴ機能や変調解析機能、信号発生器機能等が設けられ、それらの機能を実現するために複雑な構成のハードウェアが実装されている。 On the other hand, electronic devices such as mobile phones and PDA terminals, which are objects to be measured, are becoming more sophisticated and multifunctional every year. Along with this, measurement devices have become more sophisticated and multifunctional. For example, signal analyzers are equipped with FFT functions, modulation analysis functions, signal generator functions, etc., and have complicated configurations to realize these functions. Hardware is implemented.
このような状況下において、特に、携帯電話機のように大量生産される電子機器の製造現場では、製造コストを低減するため、電子機器の検査工程における測定時間を、例えば数百マイクロ秒程度でも短くしたいとの要望がある。 Under such circumstances, particularly in the manufacturing site of electronic devices that are mass-produced such as mobile phones, in order to reduce the manufacturing cost, the measurement time in the inspection process of the electronic devices can be shortened even by several hundred microseconds, for example. There is a demand to do.
しかしながら、従来の測定装置によって検査工程の測定時間を短縮しようとすると、測定装置の高機能化や多機能化に伴って、機能ブロック及びリスト機能部の構成数が増加することにより回路規模が増大してしまい、すべての機能ブロックごとに各リスト機能部を付加することは困難となり、限定された機能ブロックにリスト機能部を付加している。したがって、従来の測定装置では、限定されたパラメータ変更にのみリスト動作モードが使用可能であり、複雑なパラメータ変更には対応できないという課題があった。 However, when trying to shorten the measurement time of the inspection process with the conventional measuring device, the circuit scale increases due to the increase in the number of functional blocks and list function units as the measuring device becomes more functional and multifunctional. Therefore, it is difficult to add each list function unit for every function block, and list function units are added to limited function blocks. Therefore, the conventional measuring apparatus has a problem that the list operation mode can be used only for limited parameter changes and cannot cope with complicated parameter changes.
本発明は、前述のような事情に鑑みてなされたものであり、リスト動作モードにおける制御の簡素化及び測定時間の短縮化を図ることができる測定装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the circumstances as described above, and an object thereof is to provide a measuring apparatus capable of simplifying control and shortening measurement time in the list operation mode.
本発明の請求項１に係る測定装置は、被測定対象物に対する複数の測定項目を含むリストに基づいて前記被測定対象物を測定するリスト動作モードと、前記リストによらないで前記被測定対象物を測定する通常動作モードとを有し、入力した設定情報に応じた機能を実現する複数の機能ブロック（６０ａ〜６０ｄ）を備え、前記リスト動作モードにおける前記複数の測定項目ごとの測定前及び前記通常動作モードにおける測定前に前記複数の機能ブロックの各構成が設定され、設定された機能ブロックの構成で前記被測定対象物を測定する測定装置において、前記通常動作モードにおける測定前に前記複数の機能ブロックの構成を設定する設定情報を前記複数の機能ブロックのそれぞれに出力するとともに、前記リスト動作モードにおける前記複数の測定項目ごとの測定前に前記複数の機能ブロックの前記リストに基づく設定情報を取得する中央演算装置（１０）と、前記中央演算装置が取得した前記設定情報を格納する設定情報格納手段（２８）と、前記リスト動作モードにおける前記複数の測定項目ごとの測定前に、前記設定情報格納手段が格納した前記設定情報を読み出して前記複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定する機能ブロック設定手段（２０）と、前記中央演算装置と前記複数の機能ブロックのそれぞれと前記機能ブロック設定手段とに相互接続されたバス手段（３０）と、を備え、前記バス手段は、前記中央演算装置が、前記通常動作モードにおける前記複数の機能ブロックの構成を設定するため、前記複数の機能ブロックごとに予め対応付けられたアドレスに前記設定情報を記録する第１のアドレス空間（３０ａ）と、前記中央演算装置が、前記リスト動作モードにおける前記複数の機能ブロックの構成を設定するため、前記複数の機能ブロックごとに予め対応付けられたアドレスに前記設定情報を記録する第２のアドレス空間（３０ｄ）とを有し、前記機能ブロック設定手段は、前記中央演算装置が取得した前記リストに基づく設定情報と前記第２のアドレス空間におけるアドレス情報とを対応付けて前記設定情報格納手段に格納するアドレス情報付加部（２４）と、前記機能ブロック設定手段が前記設定情報格納手段から読み出すアドレス情報を前記第１のアドレス空間におけるアドレス情報に変換して前記バス手段に送出するアドレス情報変換部（２５）と、を備えた構成を有している。
The measuring apparatus according to
この構成により、本発明の請求項１に係る測定装置は、設定情報格納手段が、リスト動作モードにおける測定で使用する設定情報を格納し、機能ブロック設定手段が、設定情報格納手段が格納した設定情報を読み出して複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定するので、複数の機能ブロックごとに機能を設定する手段を設ける必要がなく、機能ブロック設定手段が一括して複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定することができる。したがって、本発明の測定装置は、リスト動作モードにおける制御の簡素化を図ることができる。
With this configuration, in the measurement apparatus according to
また、この構成により、本発明の請求項１に係る測定装置は、機能ブロック設定手段が、各機能ブロックの構成設定を行ってリスト動作モードにおける測定をリストの測定項目ごとに実施できるので、中央演算装置が各機能ブロックの構成設定を行う従来のものとは異なり、リスト動作モードにおける測定時間の短縮化を図ることができる。
In addition, with this configuration, the measuring apparatus according to
また、この構成により、本発明の請求項１に係る測定装置は、複数の機能ブロックごとに機能を設定する手段を設ける必要がなく、機能ブロック設定手段が一括して複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定することができる。
Further, this configuration measuring apparatus according to
さらに、本発明の請求項２に係る測定装置は、前記第１のアドレス空間と前記第２のアドレス空間とにおいて前記設定情報の記録対象である各機能ブロックがアドレスごとに同一であり、前記第２のアドレス空間におけるアドレスは、前記第１のアドレス空間におけるアドレスを予め定めた値だけオフセットさせたものである構成を有している。
Furthermore, in the measurement apparatus according to
この構成により、本発明の請求項２に係る測定装置は、第１及び第２のアドレス空間に記録される情報が同一の内容となるので、通常動作モード及びリスト動作モードのそれぞれにおける各機能ブロックの構成を設定するためのプログラムを共通化することができて好ましい。
With this configuration, in the measuring apparatus according to
本発明は、リスト動作モードにおける制御の簡素化及び測定時間の短縮化を図ることができるという効果を有する測定装置を提供することができるものである。 The present invention can provide a measuring apparatus having an effect that simplification of control and reduction of measurement time can be achieved in the list operation mode.
まず、本発明の一実施形態における測定装置の概要について図１及び図２に基づき説明する。 First, an outline of a measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
図１に示すように、本実施形態における測定装置は、ＣＰＵ部１０、リスト機能部２０、制御バス３０、機能ブロックＡ６０ａ〜Ｄ６０ｄを備えている。ここで、機能ブロックＡ６０ａ〜Ｄ６０ｄは、背景技術欄で説明したものと同様に、例えば、入力切替スイッチや可変減衰器等であって、指定された設定情報に応じて構成が設定され、その構成により所定の機能が実現されるものである。なお、ＣＰＵ部１０は、本発明に係る中央演算装置を構成する。また、リスト機能部２０は、本発明に係る機能ブロック設定手段を構成する。また、制御バス３０は、本発明に係るバス手段を構成する。
As shown in FIG. 1, the measurement apparatus according to the present embodiment includes a
ＣＰＵ部１０は、例えば、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤ、インタフェース等で構成されている。また、ＣＰＵ部１０は、測定者が操作する操作パネル（図示省略）からの操作信号に基づき、予め設定された複数の測定項目を含むリストに従って連続的に測定動作するリスト動作モードと、測定者が指定した測定を単発的に行うモード（以下「通常動作モード」という。）とを判別して動作するようになっている。ここでリストは、例えば携帯電話機の測定においては、特定の周波数でのレベル測定や、高調波成分のレベル測定、スプリアス測定等の測定項目を含むものである。
The
また、ＣＰＵ部１０は、通常動作モードにおいて、図１に実線の矢印で示したように、制御バス３０を介し、機能ブロックＡ６０ａ〜Ｄ６０ｄに各機能を設定するための設定情報を出力するようになっている。
Further, in the normal operation mode, the
リスト機能部２０は、ハードウェア（例えばＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）のような回路構成がプログラム可能な回路）で構成される。このリスト機能部２０は、リスト動作モードにおいて、図１に破線の矢印で示したように、制御バス３０を介し、機能ブロックＡ６０ａ〜Ｄ６０ｄに各機能を設定するための設定情報を出力するようになっている。このリスト機能部２０は、図２（ａ）に示すように、シーケンス処理部２０ａ、メモリ部２０ｂを備えている。
The
シーケンス処理部２０ａは、リスト動作モードにおいて、各機能ブロックを所望の構成に設定するための設定情報をメモリ部２０ｂに登録する動作や、メモリ部２０ｂに登録された設定情報に基づいて各機能ブロックの構成設定を実行する動作を行うようになっている。
In the list operation mode, the
メモリ部２０ｂのアドレス空間には、図２（ｂ）に示すように、コマンド部及び設定情報部が備えられている。コマンド部には、例えば、ある機能ブロックを所望の構成に設定するための設定命令、所定のアドレスにジャンプするジャンプ命令、ＣＰＵ部１０からのトリガ信号を受信するまで待機させるトリガ待ち命令、リスト動作モードを終了する終了命令等の信号が格納される。また、設定情報部には、各機能ブロックに対応付けられたアドレス、その機能ブロックを所望の構成に設定するためのデータ、ジャンプ先を示すアドレス等の信号が格納される。
As shown in FIG. 2B, the address space of the
前述の構成により、本実施形態における測定装置は、通常動作モードではＣＰＵ部１０が、リスト動作モードではリスト機能部２０が、それぞれ別個に各機能ブロックを所望の構成に設定することができるようになっている。すなわち、本実施形態における測定装置では、リスト機能部２０が一括して複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定することができる。したがって、本発明の測定装置は、リスト動作モードにおける制御の簡素化を図ることができる。また、本実施形態における測定装置では、従来のものとは異なり、リスト動作モードにおいてＣＰＵ部１０が各機能ブロックの構成設定に直接関与せず、従来よりも高速に各機能ブロックの構成設定を行うことが可能となる。したがって、本実施形態における測定装置は、リスト動作モードにおける測定時間の短縮化を図ることができる。
With the above-described configuration, the measurement apparatus according to the present embodiment can set each functional block to a desired configuration separately in the
次に、本実施形態における測定装置を、携帯電話機を被測定対象物として測定する測定装置に適用した例を挙げて説明する。 Next, an example in which the measurement apparatus according to the present embodiment is applied to a measurement apparatus that measures a mobile phone as an object to be measured will be described.
図３に示すように、本実施形態における測定装置１００は、ＣＰＵ部１０、リスト機能部２０、制御バス３０、シグナルアナライザ部４０、信号発生部５０を備えている。
As shown in FIG. 3, the measuring
まず、シグナルアナライザ部４０の構成について説明する。シグナルアナライザ部４０は、入力端子４１、ＳＷ（スイッチ）４２ａ〜４２ｃ、校正信号源４３、可変減衰器４４、ミキサ４５ａ〜４５ｄ、ＢＰＦ（バンドパスフィルタ）４６、第１局発４７ａ〜第３局発４７ｃ、ＡＤＣ（アナログデジタルコンバータ）４８、ＩＦ（中間周波数）処理部４９を備えている。このシグナルアナライザ部４０は、種々の被測定対象物の測定に対応できるよう広範な周波数に対応可能であり、例えば、周波数が９ＫＨｚ〜６ＧＨｚ程度の入力信号を処理できるものである。
First, the configuration of the
入力端子４１は、携帯電話機（図示省略）に同軸ケーブルで接続され、携帯電話機からのＲＦ（無線周波数）信号を入力するようになっている。 The input terminal 41 is connected to a mobile phone (not shown) via a coaxial cable, and receives an RF (radio frequency) signal from the mobile phone.
ＳＷ４２ａ〜４２ｃは、それぞれ、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、端子ｘ及びｙのいずれか一方を選択するようになっている。
Each of the SWs 42a to 42c receives setting information via the
校正信号源４３は、シグナルアナライザ部４０を校正する際に、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、校正用の信号を出力するようになっている。この校正用の信号は、例えば１時間程度の間隔で使用者が操作する校正機能を行う場合に出力されるものである。
The
可変減衰器４４は、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、ＳＷ４２ａからの信号に対する減衰量を設定するようになっている。
The
ミキサ４５ａ〜４５ｄは、第１局発４７ａ〜第３局発４７ｃからの局部発振周波数の信号によって周波数変換するようになっている。例えば、ミキサ４５ａは、ＳＷ４２ｂからの信号と第１局発４７ａの生成信号とを乗算して周波数変換し、ミキサ４５ｂに出力するものである。
The
ＢＰＦ４６は、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、フィルタの帯域幅を設定するようになっている。
The
第１局発４７ａ〜第３局発４７ｃは、それぞれ、制御バス３０を介して設定情報を入力し、設定情報に基づいた局部発振周波数の信号を生成して出力するようになっている。
Each of the first
ＡＤＣ４８は、入力したアナログ信号をデジタル信号に変換し、ＩＦ処理部４９に出力するようになっている。
The
ＩＦ処理部４９は、ＡＤＣ４８から入力したデジタル信号に基づいて、例えば、出力レベル、送信電力、高調波成分レベル、隣接チャネル漏洩電力、スプリアス等を測定するようになっている。なお、ＩＦ処理部４９による測定結果を示す信号は、例えば、図示しない画面表示制御部に送られ、操作パネルの画面に表示される。
The
以上のシグナルアナライザ部４０の構成において、制御バス３０を介して設定情報を入力する構成要素（ＳＷ４２ａ、校正信号源４３、可変減衰器４４等）は、前述の概要で説明した機能ブロックに対応するものである。
In the configuration of the
次に、信号発生部５０の構成について説明する。信号発生部５０は、局発５１ａ及び５１ｂ、ベースバンド部５２、変調部５３、ＳＷ５４ａ〜５４ｄ、Ａｍｐ（アンプ）５５ａ〜５５ｄ、ミキサ５６、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）５７、可変減衰器５８、出力端子５９を備えている。この信号発生部５０は、シグナルアナライザ部４０を用いて携帯電話機を測定する際に、携帯電話機に入力する信号を発生するものである。
Next, the configuration of the
局発５１ａ及び５１ｂは、制御バス３０を介して設定情報を入力し、設定情報に基づいた局部発振周波数の信号を生成して出力するようになっている。
The
ベースバンド部５２は、Ｉ（同位相）信号及びＱ（直交位相）信号を生成し、変調部５３に出力するようになっている。
The
変調部５３は、例えば、ダイレクト直交変調器で構成され、ベースバンド部５２が出力するＩ信号及びＱ信号を用いて局発５１ａの出力信号を直交変調し、直交変調したＩＦ信号をＳＷ５４ａに出力するようになっている。
The
ＳＷ５４ａは、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、出力側端子を切り替えるようになっている。
The
Ａｍｐ５５ａ〜５５ｄは、それぞれ、入力した信号を増幅するものである。
ミキサ５６は、Ａｍｐ５５ａからの信号と局発５１ｂの生成信号とを乗算して周波数変換するようになっている。
The
３つのＬＰＦ５７は、それぞれ、予め設定された通過帯域を有し、ＳＷ５４ｂと５４ｃとの間に設けられている。ＳＷ５４ｂ及び５４ｃは、それぞれ、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、３つのＬＰＦ５７のうちのいずれか１つを選択するようになっている。
Each of the three
ＳＷ５４ｄは、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、３つある入力側端子を切り替えるようになっている。
The
可変減衰器５８は、制御バス３０を介して設定情報を入力し、入力した設定情報に基づいて、ＳＷ５４ｄからの信号に対する減衰量を設定するようになっている。
The
出力端子５９は、携帯電話機（図示省略）に同軸ケーブルで接続され、可変減衰器５８の出力信号を携帯電話機に出力するようになっている。
The output terminal 59 is connected to a mobile phone (not shown) by a coaxial cable, and outputs an output signal of the
以上の信号発生部５０の構成において、制御バス３０を介して設定情報を入力する構成要素（局発５１ａ、ＳＷ５４ａ、可変減衰器５８等）は、前述の概要で説明した機能ブロックに対応するものである。
In the configuration of the
次に、制御バス３０について説明する。図４左に示すように、制御バス３０のアドレス空間は、ＣＰＵ直接設定領域３０ａ、リストモード制御レジスタ３０ｂ、リストコマンド入力レジスタ３０ｃ、リストデータ設定領域３０ｄを有している。この制御バス３０のアドレス空間は、例えば３２ビットのバス幅を有する。
Next, the
ＣＰＵ直接設定領域３０ａは、通常動作モードにおいてＣＰＵ部１０が直接、設定情報を記録する領域である。リストモード制御レジスタ３０ｂは、リスト動作モードを開始する際に、リスト動作モードの開始を示す信号がＣＰＵ部１０によって記録される領域である。リストコマンド入力レジスタ３０ｃは、リスト動作モードにおいて登録するコマンド（例えばジャンプ命令やトリガ待ち命令等）に応じた信号がＣＰＵ部１０によって記録される領域である。リストデータ設定領域３０ｄは、リスト動作モードにおいて各機能ブロックの構成を設定するためのデータがＣＰＵ部１０によって記録される領域である。
The CPU
ここで、ＣＰＵ直接設定領域３０ａ及びリストデータ設定領域３０ｄの構成の詳細について説明する。なお、ＣＰＵ直接設定領域３０ａ及びリストデータ設定領域３０ｄは、それぞれ、本発明に係る第１及び第２のアドレス空間を構成する。
Here, the configuration of the CPU
ＣＰＵ直接設定領域３０ａには、図４中央に示すように、シグナルアナライザ部４０（図３参照）における各機能ブロックの構成設定を行うための各レジスタが用意されている。具体的には、ＣＰＵ直接設定領域３０ａのアドレス０ｘ２０００〜０ｘ２００２は、それぞれ、ＳＷ４２ａ〜ＳＷ４２ｃを所望の切替状態に設定するための設定レジスタとして使用される。例えば、ＣＰＵ直接設定領域３０ａのアドレス０ｘ２０００に「端子ｘ側」という内容を示す信号が記録されている場合、これはＳＷ４２ａを端子ｘ側に設定することを意味している。ＣＰＵ直接設定領域３０ａは通常動作モードで使用される領域であるので、各アドレス内の情報は測定者の操作パネルの操作に応じて変化する。
In the CPU
また、アドレス０ｘ２００３〜０ｘ２００５は、それぞれ、第１局発４７ａ〜第３局発４７ｃに所望の局部発振周波数の信号を生成させるための設定レジスタとして使用される。また、アドレス０ｘ２００６は、可変減衰器４４を所望の減衰量に設定するための設定レジスタとして使用される。なお、アドレス０ｘ２００７以降の領域には、校正信号源４３、ＢＰＦ４６等の設定レジスタがあるが図示を省略している。また、信号発生部５０における各機能ブロックの構成設定の各レジスタについても図示を省略している。
The addresses 0x2003 to 0x2005 are used as setting registers for causing the first
前述の構成において、例えば、ＣＰＵ部１０が、アドレス０ｘ２０００に「０」を記録した場合はＳＷ４２ａが端子ｘを選択し、アドレス０ｘ２０００に「１」を記録した場合はＳＷ４２ａが端子ｙを選択するという状態に設定される。
In the above configuration, for example, when the
他方、リストデータ設定領域３０ｄは、図４の中央下段に示すように、ＣＰＵ直接設定領域３０ａと同一の内容となっており、そのアドレスはＣＰＵ直接設定領域３０ａのアドレス値に所定のＯｆｆｓｅｔ（オフセット）値を加えたものとなっている。ＣＰＵ部１０が、リストに基づいてリストデータ設定領域３０ｄに設定情報を順次記録していくと、その順序が各機能ブロックの構成設定の順序となる。
On the other hand, the list
なお、本実施形態では、リストデータ設定領域３０ｄをＣＰＵ直接設定領域３０ａと同一の内容としたので、通常動作モード及びリスト動作モードのそれぞれにおける各機能ブロックの構成を設定するためのプログラムを共通化することができて好ましい。ただし、本発明はこれに限定されるものではなく、リストデータ設定領域３０ｄをＣＰＵ直接設定領域３０ａと異なる内容としてもよい。
In this embodiment, since the list
次に、リスト機能部２０の構成の詳細について図３〜図５に基づき説明する。なお、ＣＰＵ部１０の構成は、前述の概要で説明したので省略する。
Next, details of the configuration of the
図５に示すように、リスト機能部２０は、制御バスインタフェース２１、リストモード制御部２２、リストコマンド入力部２３、シーケンスメモリデータ生成部２４、制御データ生成部２５、シーケンサ２６、シーケンスメモリコントローラ２７、シーケンスメモリ２８を備えている。このリスト機能部２０は、前述したように、例えばＦＰＧＡで構成される。この構成において、シーケンスメモリ２８は、前述の概要で説明した図２のメモリ部２０ｂに相当し、その他の構成要素は、同図のシーケンス処理部２０ａに相当する。なお、シーケンスメモリ２８は、本発明に係る設定情報格納手段を構成する。
As shown in FIG. 5, the
制御バスインタフェース２１は、リストモード制御部２２、リストコマンド入力部２３及びシーケンスメモリデータ生成部２４に制御バス３０からの信号を出力するとともに、制御データ生成部２５からの信号を制御バス３０に出力するようになっている。
The
リストモード制御部２２は、リスト動作モードに設定するための所定信号（例えば「１」を示す信号）がリストモード制御レジスタ３０ｂに記録されたとき、リスト動作モードが設定された旨を示す信号をシーケンサ２６に出力するようになっている。
The list
リストコマンド入力部２３は、所定の命令を示す信号がリストコマンド入力レジスタ３０ｃに記録されたとき、その命令と、その命令に関する設定情報とを所定の形式で表した信号をシーケンスメモリコントローラ２７に出力するようになっている。例えば、「アドレス０ｘ０００５にジャンプするジャンプ命令」を示す信号がリストコマンド入力レジスタ３０ｃに記録されたとき、リストコマンド入力部２３は、ジャンプ命令を示す信号と、ジャンプ先のアドレス０ｘ０００５を示す信号とを所定の形式で表してシーケンスメモリコントローラ２７に出力する。なお、リストコマンド入力レジスタ３０ｃに記録される命令が、例えば、トリガ待ち命令や終了命令の場合、これらの命令に関する設定情報は「情報なし」となる。
When a signal indicating a predetermined instruction is recorded in the list
シーケンスメモリデータ生成部２４は、ＣＰＵ部１０によって機能ブロックを所望の構成に設定するための信号がリストデータ設定領域３０ｄに記録されたとき、設定命令が記録されたと判断するようになっている。そして、シーケンスメモリデータ生成部２４は、その記録順に、コマンド（設定命令）と、その設定命令に関する設定情報（アドレス及び設定内容）とを所定の形式で表し、その信号をシーケンスメモリコントローラ２７に出力するようになっている。
The sequence memory
例えば、アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２０００）に「端子ｘ側」を示す信号が記録されたとき、シーケンスメモリデータ生成部２４は、コマンド（設定命令）と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２０００）及び「端子ｘ側」］とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７に出力する。なお、シーケンスメモリデータ生成部２４は、本発明に係るアドレス情報付加部を構成する。
For example, when a signal indicating “terminal x side” is recorded at the address (Offset + 0x2000), the sequence memory
シーケンスメモリコントローラ２７は、リストコマンド入力部２３及びシーケンスメモリデータ生成部２４からの信号をシーケンスメモリ２８に記録するようになっている。シーケンスメモリ２８のアドレス空間には、例えば図４右に示したように、コマンド部及び設定情報部に各情報が記録される。図４右に示した例は、前述の概要で説明した設定情報部の内容よりも具体的に示したものであり、アドレス０ｘ００００から順に０ｘ０００ｂまで、コマンド部及び設定情報部に各情報が記録された状態を示している。
The
なお、シーケンスメモリ２８のアドレス空間のデータ幅（ＭＳＢからＬＳＢまで）は、制御バス３０とは独立して設定できるので、制御バス３０のバス幅よりも、容易に広範化（例えば６４ビット）が可能である。
Since the data width (from MSB to LSB) of the address space of the
シーケンサ２６は、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ００００から順次、コマンド部及び設定情報部の内容を読み出すようになっている。このとき、コマンドが「設定命令」であった場合、シーケンサ２６は、同アドレスの設定情報部に記録された設定情報をシーケンスメモリコントローラ２７経由で制御データ生成部２５に出力するようになっている。また、コマンドが例えば「ジャンプ命令」であった場合、シーケンサ２６は、同アドレスの設定情報部に記録されたアドレスにジャンプする処理を行うようになっている。
The
制御データ生成部２５は、シーケンスメモリコントローラ２７を経由して送られた設定情報を、アドレス情報及び設定データに変換し、制御バスインタフェース２１を介して制御バス３０に送出するようになっている。具体的には、制御データ生成部２５は、例えば、アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２０００）からＯｆｆｓｅｔ値を取り除いたアドレス０ｘ２０００の情報と、このアドレスに関連付けられたＳＷ４２ａを「端子ｘ側」に設定するためのデータとに変換し、制御バスインタフェース２１を介して制御バス３０に送出するようになっている。この構成により、リスト動作モードにおいて、通常動作モードと同じ信号が制御バス３０に送出されることとなる。なお、制御データ生成部２５は、本発明に係るアドレス情報変換部を構成する。
The control
次に、本実施形態における測定装置１００の動作について説明する。
Next, operation | movement of the measuring
まず、図３、図４及び図６に基づき、測定装置１００の動作の概要について説明する。
First, an outline of the operation of the measuring
ＣＰＵ部１０は、測定者がリスト動作モードに設定したか否かを判断する（ステップＳ１１）。例えば、操作パネルに設けたリスト動作モードの設定ボタンを測定者がオンにした場合、ＣＰＵ部１０は、リスト動作モードに設定されたと判断する。
The
ステップＳ１１において、ＣＰＵ部１０が、リスト動作モードに設定されたと判断しなかった場合は、測定装置１００は通常動作モードで動作する（ステップＳ１２）。具体的には、測定者が操作パネルの操作により各機能ブロックの構成を設定し、これに応じてＣＰＵ部１０がＣＰＵ直接設定領域３０ａに各機能ブロックの設定情報を記録した後、測定装置１００は通常動作モードでの測定動作を行う。
In step S11, when the
一方、ステップＳ１１において、ＣＰＵ部１０が、リスト動作モードに設定されたと判断した場合は、測定装置１００はリスト動作モードで動作する。
On the other hand, when the
すなわち、ＣＰＵ部１０は、リスト動作モードに設定するための所定信号（例えば「１」を示す信号）をリストモード制御レジスタ３０ｂに記録する（ステップＳ１３）。続いて、測定装置１００は、リスト情報の登録（ステップＳ１４）を実行した後、リスト動作モードによる測定を実行する（ステップＳ１５）。ここでリスト情報とは、リストに従って測定する際に、各機能ブロックを所望の構成に設定するための情報をいう。なお、リストのデータは、例えばＣＰＵ部１０のＨＤＤに予め保存されているものとする。
That is, the
次に、図３〜図５、図７に基づき、前述のステップＳ１４におけるリスト情報の登録動作について説明する。ここでは、シグナルアナライザ部４０の各機能ブロックを図４右に示した内容で登録する例を挙げて説明する。この登録例は、例えば、携帯電話機に対する第１のレベル測定と、第２のレベル測定との２つの測定がリストに挙げられている場合のものである。以下、シグナルアナライザ部４０の入力信号が、入力端子４１からミキサ４５ａ経由でＩＦ処理部４９まで進む経路において行う測定を第１のレベル測定とする。また、第１のレベル測定と同じ経路を使用し、第１局発４７ａの局部発振周波数のみを変更して行う測定を第２のレベル測定とする。
Next, the list information registration operation in step S14 will be described with reference to FIGS. 3 to 5 and FIG. Here, an example of registering each functional block of the
まず、ＣＰＵ部１０は、「ＳＷ４２ａを端子ｘ側」に設定するため、アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２０００）に「端子ｘ側」を示す信号を記録する。すると、シーケンスメモリデータ生成部２４は、コマンド（設定命令）と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２０００）及び「端子ｘ側」］とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ００００に登録する（ステップＳ２１）。その結果、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ００００におけるコマンド部には「設定命令」、設定情報部には「端子ｘ側」を示す各信号が記録される。
First, the
同様に、ＣＰＵ部１０は、「可変減衰器４４の減衰値を１０ｄＢ」に設定するため、アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００６）に「減衰値１０ｄＢ」を示す信号を記録する。すると、シーケンスメモリデータ生成部２４は、コマンド（設定命令）と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００６）及び「減衰値１０ｄＢ」］とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ０００１に登録する（ステップＳ２２）。
Similarly, the
同様に、ＣＰＵ部１０は、「ＳＷ４２ｂを端子ｘ側」に設定するため、アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００１）に「端子ｘ側」を示す信号を記録する。すると、シーケンスメモリデータ生成部２４は、コマンド（設定命令）と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００１）及び「端子ｘ側」とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ０００２に登録する（ステップＳ２３）。
Similarly, the
続いて、ＣＰＵ部１０は、「アドレス０ｘ０００５にジャンプ」するための信号をリストコマンド入力レジスタ３０ｃに記録する。すると、リストコマンド入力部２３は、コマンド（ジャンプ命令）と、設定情報（ジャンプ先のアドレス０ｘ０００５）とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ０００３に登録する（ステップＳ２４）。
Subsequently, the
以下、ＣＰＵ部１０及びシーケンスメモリデータ生成部２４は、順次、ステップＳ２１と同様な処理を行う。すなわち、ＢＰＦ４６の帯域を８００ＭＨｚ〜９００ＭＨｚに設定することをアドレス０ｘ０００４に登録する（ステップＳ２５）。次に、第１局発４７ａの局部発振周波数を７８９５ＭＨｚに設定することをアドレス０ｘ０００５に登録する（ステップＳ２６）。次に、第２局発４７ｂの局部発振周波数を４９００ＭＨｚに設定することをアドレス０ｘ０００６に登録する（ステップＳ２７）。次に、ＳＷ４２ｃを端子ｘ側に設定することをアドレス０ｘ０００７に登録する（ステップＳ２８）。次に、第３局発４７ｃの局部発振周波数を８２０ＭＨｚに設定することをアドレス０ｘ０００８に登録する（ステップＳ２９）。
Thereafter, the
続いて、ＣＰＵ部１０は、「トリガを待つ命令」を示す信号をリストコマンド入力レジスタ３０ｃに記録する。すると、リストコマンド入力部２３は、コマンド（トリガ待ち命令）と、設定情報（情報なし）とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ０００９に登録する（ステップＳ３０）。
Subsequently, the
さらに、ステップＳ２１と同様に、「第１局発４７ａの局部発振周波数を８１９５ＭＨｚ」に設定するため、アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００３）に「局部発振周波数８１９５ＭＨｚ」を記録する。すると、シーケンスメモリデータ生成部２４は、コマンド（設定命令）と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００３）及び「局部発振周波数８１９５ＭＨｚ」］とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ０００ａに登録する（ステップＳ３１）。
Further, as in step S21, “local oscillation frequency 8195 MHz” is recorded in the address (Offset + 0x2003) in order to set “local oscillation frequency of first
そして、ＣＰＵ部１０は、「終了命令」を示す信号を、リストコマンド入力レジスタ３０ｃに記録する。すると、リストコマンド入力部２３は、コマンド（終了命令）と、設定情報（情報なし）とを所定形式の信号に形式変換し、シーケンスメモリコントローラ２７を介し、シーケンスメモリ２８のアドレス０ｘ０００ｂに登録する（ステップＳ３２）。
Then, the
次に、前述のようにシーケンスメモリ２８に登録された情報（図４右）に基づき、リスト動作モードにおける測定の実行動作について、図３〜図５、図８を参照しながら説明する。 Next, the measurement execution operation in the list operation mode will be described with reference to FIG. 3 to FIG. 5 and FIG. 8 based on the information registered in the sequence memory 28 (FIG. 4 right) as described above.
まず、シーケンサ２６は、シーケンスメモリ２８の読み出し対象のアドレス値を０ｘ００００とし（ステップＳ４１）、そのアドレスに登録された情報をシーケンスメモリコントローラ２７経由で読み出す（ステップＳ４２）。具体的には、シーケンサ２６は以下の処理を行う。
First, the
（アドレス０ｘ００００の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００に登録されたコマンド部のコマンド「設定命令」と、設定情報部の設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２０００）及び「端子ｘ側」］とを読み出す。
(Information reading at address 0x0000, instruction execution)
The
次に、シーケンサ２６は、読み出したコマンドが「終了命令」であるか否かを判断する（ステップＳ４３）。ここで読み出したコマンドは「設定命令」であって「終了命令」ではないので、読み出した「設定命令」を実行する（ステップＳ４４）。すなわち、シーケンサ２６は、ＳＷ４２ａを端子ｘ側に設定する。
Next, the
具体的には、シーケンサ２６は、シーケンスメモリコントローラ２７から制御データ生成部２５に設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２０００）及び「端子ｘ側」］を出力させる。すると、制御データ生成部２５は、入力した設定情報を、Ｏｆｆｓｅｔ分を除いたアドレス０ｘ２０００と、設定データ（端子ｘ側）とを含む信号に変換し、制御バス３０に送出する。その結果、ＳＷ４２ａは端子ｘ側に設定される。
Specifically, the
（アドレス０ｘ０００１以降の情報読出、命令実行）
続いて、シーケンサ２６は、シーケンスメモリ２８の読み出し対象のアドレス値をインクリメントし（ステップＳ４５）、ステップＳ４２に戻る。すなわち、ステップＳ４３において、読み出したコマンドが「終了命令」と判断されるまで、ステップＳ４２〜Ｓ４５の処理を繰り返す。ステップＳ４３において、読み出したコマンドが「終了命令」であると判断された場合は、リスト動作モードによる測定を終了する。
(Reading information after address 0x0001, command execution)
Subsequently, the
（アドレス０ｘ０００１の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００での処理と同様に、次のアドレス０ｘ０００１に登録されたコマンド「設定命令」と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００１）及び「減衰値１０ｄＢ」］とを読み出し、これらを制御データ生成部２５が所定形式の信号に形式変換して制御バス３０に送出する。その結果、可変減衰器４４の減衰値は１０ｄＢに設定される。
(Information reading at address 0x0001, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００２の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００での処理と同様に、次のアドレス０ｘ０００２に登録されたコマンド「設定命令」と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００１）及び「端子ｘ側」］とを読み出し、これらを制御データ生成部２５が所定形式の信号に形式変換して制御バス３０に送出する。その結果、ＳＷ４２ｂは端子ｘ側に設定される。
(Information reading at address 0x0002, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００３の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、次のアドレス０ｘ０００３に登録されたコマンド「ジャンプ命令」と、設定情報部の情報（ジャンプ先アドレス０ｘ０００５）とを読み出す。その結果、シーケンサ２６は、アドレス０ｘ０００５にジャンプする。
(Information reading at address 0x0003, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００５の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００での処理と同様に、ジャンプ先のアドレス０ｘ０００５に登録されたコマンド「設定命令」と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００３）及び「７８９５ＭＨｚ」］とを読み出し、これらを制御データ生成部２５が所定形式の信号に形式変換して制御バス３０に送出する。その結果、第１局発４７ａの局部発振周波数は７８９５ＭＨｚに設定される。
(Information reading at address 0x0005, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００６の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００での処理と同様に、ジャンプ先のアドレス０ｘ０００６に登録されたコマンド「設定命令」と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００４）及び「４９００ＭＨｚ」］とを読み出し、これらを制御データ生成部２５が所定形式の信号に形式変換して制御バス３０に送出する。その結果、第２局発４７ｂの局部発振周波数は４９００ＭＨｚに設定される。
(Information reading at address 0x0006, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００７の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００での処理と同様に、次のアドレス０ｘ０００７に登録されたコマンド「設定命令」と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００２）及び「端子ｘ側」とを読み出し、制御データ生成部２５が、これらを制御データ生成部２５が所定形式の信号に形式変換して制御バス３０に送出する。その結果、ＳＷ４２ｃは端子ｘ側に設定される。
(Information reading at address 0x0007, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００８の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００での処理と同様に、ジャンプ先のアドレス０ｘ０００８に登録されたコマンド「設定命令」と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００５）及び「８２０ＭＨｚ」］とを読み出し、これらを制御データ生成部２５が所定形式の信号に形式変換して制御バス３０に送出する。その結果、第３局発４７ｃの局部発振周波数は８２０ＭＨｚに設定される。
(Information reading at address 0x0008, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００９の情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、次のアドレス０ｘ０００９に登録されたコマンド「トリガ待ち命令」と、設定情報部の情報（情報なし）とを読み出す。その結果、シーケンサ２６は、ＣＰＵ部１０からのトリガを入力するまで待機する。ＣＰＵ部１０は、アドレス０ｘ００００〜０ｘ０００８で設定した各機能ブロックの構成を含むシグナルアナライザ部４０を用いて、携帯電話機の第１のレベル測定を開始し、第１のレベル測定が完了すると測定完了を示すトリガをシーケンサ２６に向けて送出する。シーケンサ２６は、ＣＰＵ部１０からのトリガを受けると現在のアドレス値をインクリメントし、次アドレスの情報を読み出す。
(Information reading at address 0x0009, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００ａの情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ００００での処理と同様に、次のアドレス０ｘ０００ａに登録されたコマンド「設定命令」と、設定情報［アドレス（Ｏｆｆｓｅｔ＋０ｘ２００３）及び「８１９５ＭＨｚ」］とを読み出し、これらを制御データ生成部２５が所定形式の信号に形式変換して制御バス３０に送出する。その結果、第１局発４７ａの局部発振周波数は８１９５ＭＨｚに設定される。
(Information reading at address 0x000a, instruction execution)
The
（アドレス０ｘ０００ｂの情報読出、命令実行）
シーケンサ２６は、アドレス０ｘ０００ｂに登録されたコマンド「終了命令」と、設定情報部の情報（情報なし）とを読み出す。その結果、シーケンサ２６は、終了命令を実行する。ＣＰＵ部１０は、アドレス０ｘ０００ａで設定した機能ブロックの構成を含むシグナルアナライザ部４０を用いて、携帯電話機の第２のレベル測定を開始し、第２のレベル測定が終了した時点でリスト動作モードによる第２の測定が終了する。
(Information reading at address 0x000b, instruction execution)
The
以上のように、本実施形態における測定装置１００によれば、シーケンスメモリ２８が、リスト動作モードにおける測定で使用する設定情報を格納し、シーケンサ２６が、シーケンスメモリ２８が格納した設定情報を読み出して複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定するので、複数の機能ブロックごとに機能を設定する手段を設ける必要がなく、リスト機能部２０が一括して複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定することができる。したがって、本発明の測定装置１００は、リスト動作モードにおける制御の簡素化を図ることができる。
As described above, according to the measuring
また、本実施形態における測定装置１００によれば、リスト機能部２０が、各機能ブロックの構成設定を行ってリスト動作モードにおける測定をリストの測定項目ごとに実施できるので、リスト動作モードにおいてＣＰＵ部１０が各機能ブロックの構成設定に直接関与せず、リスト動作モードにおける測定時間の短縮化を図ることができる。
In addition, according to the
なお、前述の実施形態では、説明を簡単にするため、第１及び第２のレベル測定がリストにある場合の動作説明を行ったが、実際には例えば下記に示すような測定項目がリストに挙げられる。
（１）周波数２．１ＧＨｚにおけるレベル測定
（２）周波数２．４ＧＨｚにおけるレベル測定
（３）周波数２．７ＧＨｚにおけるレベル測定
（４）第２高調波成分のレベル測定
（５）第３高調波成分のレベル測定
（６）第５高調波成分のレベル測定
（７）隣接チャネル漏洩電力の測定
（８）スプリアス測定
製造ラインの検査工程では、上記（１）〜（８）に示した測定を行う場合、測定項目ごとに数十個の機能ブロックの設定をした後に各測定を行ってトリガ待ち状態とし、以降同様に、機能ブロックの設定、測定、トリガ待ちの処理を繰り返す。したがって、本実施形態における測定装置１００では、測定項目数が多いほど、リスト動作モードにおける測定時間の短縮化の効果が大きくなる。
In the above-described embodiment, for the sake of simplicity, the description of the operation in the case where the first and second level measurements are in the list has been performed. However, for example, the following measurement items are included in the list. Can be mentioned.
(1) Level measurement at frequency 2.1 GHz (2) Level measurement at frequency 2.4 GHz (3) Level measurement at frequency 2.7 GHz (4) Level measurement of second harmonic component (5) Third harmonic component Level measurement (6) Level measurement of fifth harmonic component (7) Measurement of adjacent channel leakage power (8) Spurious measurement In the production line inspection process, when the measurements shown in the above (1) to (8) are performed, After setting several tens of functional blocks for each measurement item, each measurement is performed to enter a trigger wait state, and thereafter the function block setting, measurement, and trigger wait processing are repeated in the same manner. Therefore, in the
また、リスト動作モードによる測定項目は、通常、ユーザごとに少しずつ異なる。そのため、従来の測定装置（図９参照）でユーザの要望に対応しようとすると、用意するメモリの容量や、どの機能ブロックにどういう機能を付加するかをユーザごとに考慮しなければならず、測定装置のコスト高や開発期間の長期化が回避できなかった。これに対し、本実施形態における測定装置１００では、１つのリスト機能部２０を備えるだけで多種多様な機能ブロックへの設定が可能となるので、ユーザの要望に柔軟に対応することができる。
In addition, the measurement items in the list operation mode are usually slightly different for each user. Therefore, when trying to meet the user's request with the conventional measuring device (see FIG. 9), it is necessary to consider for each user the capacity of the memory to be prepared and what function is added to which functional block. The cost of the equipment and the prolonged development period could not be avoided. On the other hand, in the
また、従来の測定装置では、機能ブロックの構成設定を行うリスト機能部が回路基板上で分散しているので、コマンドや設定情報を格納するメモリも点在し、その記憶容量が限定されていた。そのため、設定情報のデータ長が限定されるので、比較的大きなデータ長を要する複雑なコマンドや設定情報を格納できなかった。これに対し、本実施形態における測定装置１００では、リスト機能部２０が備えるシーケンスメモリ２８を専用メモリとして設けることができるので、容易に大容量化することができ、複雑なコマンドや設定情報を容易に格納することができる。また、シーケンスメモリ２８を大容量化することにより、機能ブロックごとに使用するメモリ量が偏る場合でも、機能ブロック全体として効率よくメモリを使用することができる。
Further, in the conventional measuring apparatus, since the list function units for setting the functional blocks are distributed on the circuit board, the memory for storing commands and setting information is also scattered, and the storage capacity is limited. . For this reason, since the data length of the setting information is limited, it is impossible to store complicated commands and setting information that require a relatively large data length. On the other hand, in the measuring
また、従来の測定装置では、機能ブロックの構成設定を行うリスト機能部が回路基板上で分散しているので、複数の機能ブロックに対する設定情報の設定順序を定めるのが困難な場合があった。これに対して、本実施形態における測定装置１００では、シーケンスメモリ２８への登録順に設定情報を読み出して機能ブロックに設定すればよいので、設定順序を定めるのが容易となる。
Further, in the conventional measuring apparatus, since the list function units for setting the configuration of the functional blocks are distributed on the circuit board, it may be difficult to determine the setting order of the setting information for a plurality of functional blocks. On the other hand, in the measuring
また、一般に、測定装置は、標準仕様の機能構成に対し、オプションのモジュールが追加できるようになっており、ユーザの要望に対応できる構成を有している。このオプションモジュールの追加に対しては、従来のものでは、個々の機能ブロックにそれぞれリスト機能部を組み込む構成となっているので、ユーザの要望に柔軟に対応することが困難であった。これに対し、本実施形態における測定装置１００では、オプションモジュールの機能ブロックに対応したアドレスの割り当てを製造時に予約しておくことにより、ユーザの要望に柔軟に対応することができる。
In general, an optional module can be added to the functional configuration of the standard specification, and the measuring device has a configuration that can respond to user requests. With respect to the addition of this option module, the conventional one has a configuration in which the list function unit is incorporated in each functional block, and thus it has been difficult to flexibly respond to the user's request. On the other hand, the measuring
なお、前述の実施形態において、携帯電話機の測定装置を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、携帯電話機以外の電子機器の測定装置に適用しても同様な効果が得られる。 In the above-described embodiment, the mobile phone measurement device has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, and the same applies when applied to a measurement device of an electronic device other than a mobile phone. An effect is obtained.
以上のように、本発明に係る測定装置は、リスト動作モードにおける制御の簡素化及び測定時間の短縮化を図ることができるという効果を有し、電子機器の電気的特性を測定する測定装置等として有用である。 As described above, the measuring apparatus according to the present invention has an effect of simplifying the control and shortening the measuring time in the list operation mode, and the measuring apparatus that measures the electrical characteristics of the electronic device. Useful as.
１０ ＣＰＵ部（中央演算装置）
２０ リスト機能部（機能ブロック設定手段）
２０ａ シーケンス処理部
２０ｂ メモリ部
２１ 制御バスインタフェース
２２ リストモード制御部
２３ リストコマンド入力部
２４ シーケンスメモリデータ生成部（アドレス情報付加部）
２５ 制御データ生成部（アドレス情報変換部）
２６ シーケンサ
２７ シーケンスメモリコントローラ
２８ シーケンスメモリ（設定情報格納手段）
３０ 制御バス（バス手段）
３０ａ ＣＰＵ直接設定領域（第１のアドレス空間）
３０ｂ リストモード制御レジスタ
３０ｃ リストコマンド入力レジスタ
３０ｄ リストデータ設定領域（第２のアドレス空間）
４０ シグナルアナライザ部
４１ 入力端子
４２ａ〜４２ｃ ＳＷ
４３ 校正信号源
４４ 可変減衰器
４５ａ〜４５ｄ ミキサ
４６ ＢＰＦ
４７ａ 第１局発
４７ｂ 第２局発
４７ｃ 第３局発
４８ ＡＤＣ
４９ ＩＦ処理部
５０ 信号発生部
５１ａ、５１ｂ 局発
５２ ベースバンド部
５３ 変調部
５４ａ〜５４ｄ ＳＷ
５５ａ〜５５ｄ Ａｍｐ
５６ ミキサ
５７ ＬＰＦ
５８ 可変減衰器
５９ 出力端子
１００ 測定装置
10 CPU (Central processing unit)
20 List function part (Function block setting means)
20a
25 Control data generator (address information converter)
26
30 Control bus (bus means)
30a CPU direct setting area (first address space)
30b List
40 Signal Analyzer 41
43
47a
49 IF
55a-55d Amp
56
58 Variable attenuator 59
Claims (2)
前記通常動作モードにおける測定前に前記複数の機能ブロックの構成を設定する設定情報を前記複数の機能ブロックのそれぞれに出力するとともに、前記リスト動作モードにおける前記複数の測定項目ごとの測定前に前記複数の機能ブロックの前記リストに基づく設定情報を取得する中央演算装置（１０）と、
前記中央演算装置が取得した前記設定情報を格納する設定情報格納手段（２８）と、
前記リスト動作モードにおける前記複数の測定項目ごとの測定前に、前記設定情報格納手段が格納した前記設定情報を読み出して前記複数の機能ブロックの構成をそれぞれ設定する機能ブロック設定手段（２０）と、
前記中央演算装置と前記複数の機能ブロックのそれぞれと前記機能ブロック設定手段とに相互接続されたバス手段（３０）と、
を備え、
前記バス手段は、前記中央演算装置が、前記通常動作モードにおける前記複数の機能ブロックの構成を設定するため、前記複数の機能ブロックごとに予め対応付けられたアドレスに前記設定情報を記録する第１のアドレス空間（３０ａ）と、前記中央演算装置が、前記リスト動作モードにおける前記複数の機能ブロックの構成を設定するため、前記複数の機能ブロックごとに予め対応付けられたアドレスに前記設定情報を記録する第２のアドレス空間（３０ｄ）とを有し、
前記機能ブロック設定手段は、前記中央演算装置が取得した前記リストに基づく設定情報と前記第２のアドレス空間におけるアドレス情報とを対応付けて前記設定情報格納手段に格納するアドレス情報付加部（２４）と、前記機能ブロック設定手段が前記設定情報格納手段から読み出すアドレス情報を前記第１のアドレス空間におけるアドレス情報に変換して前記バス手段に送出するアドレス情報変換部（２５）と、
を備えたことを特徴とする測定装置。 A list operation mode for measuring the measurement object based on a list including a plurality of measurement items for the measurement object, and a normal operation mode for measuring the measurement object without depending on the list, A plurality of function blocks (60a to 60d) for realizing functions according to the input setting information, and the plurality of functions before measurement for each of the plurality of measurement items in the list operation mode and before measurement in the normal operation mode; In the measuring device in which each configuration of the block is set and the object to be measured is measured with the configuration of the set functional block,
Setting information for setting the configuration of the plurality of functional blocks before the measurement in the normal operation mode is output to each of the plurality of functional blocks, and the plurality of the measurement blocks before the measurement for each of the plurality of measurement items in the list operation mode. A central processing unit (10) for obtaining setting information based on the list of functional blocks;
Setting information storage means (28) for storing the setting information acquired by the central processing unit;
Functional block setting means (20) for reading the setting information stored by the setting information storage means and setting the configuration of the plurality of functional blocks before measurement for each of the plurality of measurement items in the list operation mode ;
Bus means (30) interconnected to the central processing unit, each of the plurality of functional blocks, and the functional block setting means;
With
In the bus means, the central processing unit records the setting information at an address previously associated with each of the plurality of functional blocks in order to set the configuration of the plurality of functional blocks in the normal operation mode. Address space (30a) and the central processing unit record the setting information at addresses previously associated with the plurality of functional blocks in order to set the configuration of the plurality of functional blocks in the list operation mode. A second address space (30d)
The function block setting means associates the setting information based on the list acquired by the central processing unit with the address information in the second address space and stores the setting information in the setting information storage means (24) An address information conversion unit (25) for converting the address information read from the setting information storage unit by the functional block setting unit into address information in the first address space and sending the address information to the bus unit;
A measuring apparatus comprising:
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