JP5220499B2 - Optical pulse tester - Google Patents
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Description
本発明は、PON(Passive Optical Network )システムにおける加入者線端局装置(OLT:Optical Line Terminal )から光スプリッタを経由して各ユーザ宅側の加入者線終端装置(ONU:Optical Network Unit)間の光ファイバ線路における光損失や障害点位置の測定を行う光パルス試験器に関するものである。 The present invention relates to a subscriber line terminal unit (ONU: Optical Network Unit) on each user's home side from an optical line terminal (OLT) in a PON (Passive Optical Network) system via an optical splitter. The present invention relates to an optical pulse tester for measuring the optical loss and the position of a fault point in an optical fiber line.
近年、FTTH(Fiber To The Home )などの光アクセス・システムの高速化は著しく、この5年ほどの間に約100倍程度の高速・広帯域化が実現され、更なる高速化に向けた研究が行われている。そして、光アクセス網の高速ブロードバンド化の一実現方法として、伝送路途中に特段の中継装置を設けることなく、複数の加入者宅との間で高速のデータ送受を行うことが可能なシステムとしてPONシステムが実用化されている。 In recent years, the speed of optical access systems such as FTTH (Fiber To The Home) has been remarkably increased, and about 100 times faster and wider bandwidth has been realized in the last 5 years. Has been done. As a method for realizing high-speed broadband optical access networks, PON is a system capable of high-speed data transmission / reception with a plurality of subscriber homes without providing a special relay device in the middle of the transmission path. The system has been put into practical use.
このPONシステムとは、OLTから1本の光ファイバを光スプリッタで分岐し、複数のユーザ宅にそれぞれ設置されたONUで共用する伝送方式であり、OLTの共有や光ファイバコストを低く抑えることが可能である。また、PONシステムには、フレームの違いや伝送速度の違いによってB−PON(Broadband-PON )、GE−PON(Gigabit Ethernet(登録商標)-PON) 、G−PON(Gigabit-PON )などがあるが、基本的な構成は何れもOLTと各ユーザ宅のONUが光スプリッタを介して接続する構成となっている。 This PON system is a transmission method in which one optical fiber is branched from an OLT by an optical splitter and shared by ONUs installed in a plurality of user homes, and the OLT sharing and optical fiber cost can be kept low. Is possible. The PON system includes B-PON (Broadband-PON), GE-PON (Gigabit Ethernet (registered trademark) -PON), G-PON (Gigabit-PON), etc., depending on the difference in frame and transmission speed. However, the basic configuration is such that the OLT and the ONU at each user's house are connected via an optical splitter.
このような光アクセス・システムでは、ユーザ当たりの導入コストだけでなく、運用コストも安価であることが重要なポイントとなり、高速性と経済性を兼ね備えたシステムが要求される。従って、運用コストを下げる意味でも、OLTと複数のONU間の分岐光線路を安価に監視できるシステムが期待されている。なお、これらの技術は、ビル内の通信技術としても用いることができる。 In such an optical access system, not only the introduction cost per user but also the operation cost is important, and a system having both high speed and economy is required. Therefore, a system that can monitor the branched optical line between the OLT and the plurality of ONUs at low cost is also expected in order to reduce the operation cost. Note that these technologies can also be used as in-building communication technologies.
図6は、下記特許文献1に開示される光分岐路監視システムにおける概略構成図である。図示のように、下記特許文献1の光分岐監視システム100は、OLTである伝送装置101を含む通信業者局と複数のONU102とが光スプリッタ103によって光多分岐接続された光多分岐通信システムの各分岐線路1a1 〜1a8 を監視する光分岐線路監視システムにおいて、各ONU102は、それぞれ固有に割り当てられた固有の監視波長光を反射するFBG102−1〜102−8を備え、通信業者局は、各FBG102−1〜102−8の入力端における各監視波長光の強度がONU102の最小受信強度未満となるように各監視波長光を出射する制御部104を備える。そして、伝送装置101は、OTDR105によりONU102毎に割り当てた監視波長を順次出力しながら各線路を監視し、OTDR105の光検出には高感度の光検出が可能なフォトカウンティング方式が提案されている。
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of an optical branch monitoring system disclosed in
また、上記システムとは別の方式として、各ONUに固有の監視波長と固有の監視波長を反射するFBGを割り当てるのではなく、各ONUに同一の監視波長と同一の監視波長を反射する光フィルタを用いる方法も考えられている。この方式を用いれば、OLT側の光源波長も1つの波長で良く、安価な監視システムが実現できるというメリットがある。なお、この場合、光スプリッタらの反射位置が異なるように、光スプリッタから各ONUまでの光ファイバ長を変えて運用する必要がある。
しかしながら、上述した従来の方式のうち前者となる各ONUに固有の監視波長光と固有の監視波長光を反射するFBGを割り当てる方法では、複数の波長を持つ光源及びFBGが必要となるため、システム構成が高価となり、それに伴い運用コストが嵩んでしまうという問題があった。 However, in the above-described conventional method, the method of assigning the unique monitoring wavelength light and the FBG reflecting the unique monitoring wavelength light to each former ONU requires a light source and an FBG having a plurality of wavelengths. There is a problem that the configuration becomes expensive and the operation cost increases accordingly.
また、後者の各ONUに同一の監視波長光と同一の監視波長光を反射する光フィルタを用いる方法では、各ONUまでの光ファイバ長の管理、運用上1m以下程度の高い位置分解能が要求されるため、監視波長光の短パルス化による位置精度の向上、及び監視波長光の短パルス化と光スプリッタでの光分岐による監視波長光の検出レベルの低下に対応できる高感度、高安定な光信号検出が必要となり、やはりシステム構成などが高価になるという問題があった。 Further, in the latter method using an optical filter that reflects the same monitoring wavelength light and the same monitoring wavelength light for each ONU, a high positional resolution of about 1 m or less is required for the management and operation of the optical fiber length to each ONU. Therefore, high-sensitivity, highly stable light that can cope with improvement in positional accuracy by shortening the monitoring wavelength light, and reduction in the detection level of monitoring wavelength light by shortening the monitoring wavelength light and optical branching by the optical splitter There is a problem that signal detection is necessary and the system configuration is expensive.
さらに、光多分岐通信システムにおける光線路障害点探索にあたり、位置精度を向上するためには監視波長光の短パルス化が必要であるが、現状、光線路障害点探索で用いる監視波長光は1パルスあたり3ns(分解能:80cm)というのが限界であり、これ以上の位置精度を実現することができなかった。 Further, in order to improve the positional accuracy in searching for an optical line fault point in an optical multi-branch communication system, it is necessary to shorten the pulse of the monitoring wavelength light. The limit is 3 ns per pulse (resolution: 80 cm), and position accuracy beyond this cannot be realized.
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、敷設された光ファイバ線路における障害点の位置を高い位置精度で正確に測定できる安価な光パルス試験器を提供することを目的とするものである。 Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide an inexpensive optical pulse tester capable of accurately measuring the position of a fault point in a laid optical fiber line with high positional accuracy. To do.
上記目的を達成するために、請求項1に記載の光パルス試験器は、加入者線端局装置2と複数の加入者線終端装置3が光スプリッタ5によって光信号を1対多に分岐接続された光多分岐通信システムにおける前記加入者端局装置側から被測定光ファイバ6に試験光を入射し、前記加入者終端装置側の直前に設置された光フィルタ4から反射されて前記加入者線端局装置側に戻る戻り光を受光検出して前記被測定光ファイバの光損失や障害点位置の測定を行う光パルス試験器において、
前記試験光を尖頭形パルスに変調する尖頭形パルス変調信号及び前記試験光を矩形パルスに変調する矩形パルス変調信号を出力する変調信号発生部11bと、該変調信号発生部からの変調信号に基づき変調された試験光を出射する光源11aとを備え、前記障害点位置を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記尖頭形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射し、前記被測定光ファイバ6の光損失を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記矩形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射する光源部11と、
前記被測定光ファイバからの戻り光から前記試験光の光信号のみを取り出すフィルタ手段14と、
該フィルタ手段で取り出された前記試験光の光信号を光電変換する光検出手段15と、
該光検出手段で光電変換された電気信号に基づき、前記被測定光ファイバの障害点位置の測定に関する処理制御を行う信号処理制御部16と、
から構成されることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the optical pulse tester according to
A
Filter means 14 for extracting only the optical signal of the test light from the return light from the optical fiber to be measured;
Photodetection means 15 for photoelectrically converting the optical signal of the test light extracted by the filter means;
A signal
It is comprised from these.
請求項2記載の光パルス試験器は、請求項1記載の光パルス試験器において、前記信号処理制御部16は、前記試験光を前記被測定光ファイバ6へ出射したときの前記加入者線終端装置3からの戻り光の反射レベルと、予め設定された前記光多分岐通信システムの被測定光ファイバが正常状態のときの前記加入者線終端装置からの戻り光の反射レベルである基準反射レベルデータとを比較し、
前記基準反射レベルデータを基準としたときに前記測定した戻り光の反射レベルが所定の範囲内であった場合は、前記被測定光ファイバが正常状態であると判定することを特徴とする。
The optical pulse tester according to claim 2 is the optical pulse tester according to
When the measured reflection level of the return light is within a predetermined range with the reference reflection level data as a reference, it is determined that the measured optical fiber is in a normal state .
本発明の光パルス試験器によれば、被測定光ファイバにおける障害点位置の測定する際に、矩形パルスよりもパルス幅の細い尖頭形パルスを用いることで空間分解能が向上し、より高精度に障害点位置の測定することができる。また、尖頭形パルスの変調には一般的な微分回路を用いているため、システム構成が安価な光パルス試験器を提供することができる。 According to the optical pulse tester of the present invention, when measuring the position of a fault point in an optical fiber to be measured, the spatial resolution is improved by using a pointed pulse with a narrower pulse width than that of a rectangular pulse, thereby achieving higher accuracy. It is possible to measure the position of the obstacle. Moreover, since a general differential circuit is used for the modulation of the pointed pulse, an optical pulse tester having a low system configuration can be provided.
さらに、障害点位置を測定する場合は尖頭形パルスに変調した試験光を、光損失の測定を行う場合は矩形パルスに変調された試験光を選択することできるため、ユーザの所望する試験内容に応じて最適な波形に切り替えることで、信頼性の高い光線路試験を行うことができる。 Furthermore, when measuring the position of a fault point, test light modulated into a peak pulse can be selected, and when measuring optical loss, test light modulated into a rectangular pulse can be selected. By switching to an optimal waveform according to the above, a highly reliable optical line test can be performed.
そして、1対1の接続でなく、PONシステムなどのような1対多に分岐接続された光多分岐通信システムにおける光線路試験を行った場合、各ONUとの間の障害点位置の測定時に尖頭形パルスで変調された試験光を用いることで、高い位置精度で正確な障害点位置の測定が可能となり、試験の手間や作業効率の向上を図ることができる。 When performing an optical line test in an optical multi-branch communication system in which one-to-many branch connection such as a PON system is performed instead of a one-to-one connection, when measuring the position of a fault point with each ONU By using test light modulated with a pointed pulse, it is possible to accurately measure the position of the obstacle point with high positional accuracy, and to improve the labor and work efficiency of the test.
以下、本発明を実施するための最良の形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。図1は本発明に係る光パルス試験器の構成及び同機器を用いたPONシステムを示す概略構成図であり、図2は同光パルス試験器の変調信号発生部における尖頭形パルス変調信号を発生させる微分回路の一例を示す回路図であり、図3(a)は光損失測定時に用いる矩形パルス波形を示す説明図であり、図3(b)は障害点位置の測定時に用いる尖頭形パルス波形を示す説明図であり、図4は矩形パルス及び尖頭形パルスで測定した場合の測定波形を示す説明図であり、図5は本発明に係る光パルス試験器を他の形態で用いた例を示す説明図である。 Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a configuration of an optical pulse tester according to the present invention and a PON system using the same device, and FIG. 2 shows a peak-shaped pulse modulation signal in a modulation signal generation unit of the optical pulse tester. FIG. 3A is a circuit diagram showing an example of a differentiation circuit to be generated, FIG. 3A is an explanatory diagram showing a rectangular pulse waveform used at the time of optical loss measurement, and FIG. 3B is a pointed shape used at the time of measuring a fault point position. FIG. 4 is an explanatory diagram showing a pulse waveform, FIG. 4 is an explanatory diagram showing a measurement waveform when measured with a rectangular pulse and a pointed pulse, and FIG. 5 is a diagram illustrating another embodiment of the optical pulse tester according to the present invention. It is explanatory drawing which shows the example which was.
本例の光パルス試験器は、敷設された被測定光ファイバに所定パルス幅の試験光を入射し、これに伴って被測定光ファイバから戻ってくる戻り光(後方散乱光又はフレネル反射光)を受光して被測定光ファイバの光損失や障害点位置の測定などの光線路試験を行う光パルス試験器において、光損失を測定する矩形パルス変調信号と、障害点位置を検出する尖頭形パルス変調信号を発生させる変調信号発生部を備え、被測定光ファイバの障害点位置を測定する光線路試験を行う際に、尖頭形パルス変調信号で変調した試験光を用いることで、高精度に光ファイバの障害点位置を測定するものである。 The optical pulse tester of this example makes test light having a predetermined pulse width incident on an optical fiber to be measured and returns light (backscattered light or Fresnel reflected light) returning from the optical fiber to be measured. In an optical pulse tester that performs optical line tests such as measuring optical loss and fault point position of the optical fiber under test by receiving light, a rectangular pulse modulation signal that measures optical loss and a pointed shape that detects the fault point position A modulation signal generator that generates a pulse modulation signal is used, and high accuracy is achieved by using test light modulated with a pointed pulse modulation signal when performing an optical line test to measure the position of the fault point of the optical fiber under measurement. In addition, the position of the fault point of the optical fiber is measured.
まず、本発明に係る光パルス試験器の構成について、図1〜4を参照しながら説明する。図1に示すように、本例の光パルス試験器1は、光源部11、分岐手段12、光増幅手段13、フィルタ手段14、光検出手段15、信号処理制御部16、記憶手段17、表示手段18、操作手段19を備え、機器の所定箇所に設けられた光端子20を介して被測定光ファイバ6と接続される。
First, the configuration of the optical pulse tester according to the present invention will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 1, the
なお、以下の説明では、本例の光パルス試験器1を、加入者線端局装置であるOLT2と、光パルス試験器1からの試験光を反射する光フィルタ4を直前に備えた複数の加入者線終端装置であるONU3とが光スプリッタ5によって光多分岐接続されたPONシステムにおける光線路試験に用いた例で説明する。
In the following description, the
光源部11は、被測定光ファイバ6に試験光を出射する光源11aと、光線路試験の種類によって光源11aから出射される試験光を変調する変調信号発生手段11bとで構成される。
The
光源11aは、例えばLD(Laser Diode )で構成され、光線路試験を行なう際に、後述する変調信号発生手段11bからの変調信号(矩形パルス変調信号又は尖頭形パルス変調信号) に基づき変調されたパルス状の試験光を出射している。なお、PONシステムにおける光通信では例えば通信用(1.31/1.49/1.55μm)及び励起用(0.98/1.48μm)の波長を使用してるため、これらの波長とは異なる波長(1.65μm、0.78μm)の試験光を出射している。
The
変調信号発生手段11bは、制御手段16cからの変調指令(矩形パルス変調指令又は尖頭形パルス変調指令)を入力すると、試験光の光パルスを矩形パルスに変調するための矩形パルス変調信号若しくは尖頭形パルス(三角波)に変調するための尖頭形パルス変調信号を出力する。
When a modulation command (rectangular pulse modulation command or peak pulse modulation command) is input from the
すなわち、変調信号発生手段11bは、被測定光ファイバ6の光損失を測定する場合に、制御手段16cから矩形パルスに変調するための矩形パルス変調指令が出力されると、この指令に基づき試験光を矩形パルスに変調するための矩形パルス変調信号を光源11aに出力する。また、被測定光ファイバ6の障害点位置を検知する場合は、制御手段16cから尖頭形パルスに変調するため尖頭形パルス変調指令が出力され、この指令に基づき試験光を尖頭形パルスに変調するための尖頭形パルス変調信号を光源11aに出力する。
That is, when measuring the optical loss of the
変調信号発生手段11bにおける矩形パルス変調信号の発生回路としては、既存の光パルス試験器1に具備されるパルス発生回路(不図示)の構成と同様であり、制御手段16cからの矩形パルス変調指令に基づき、所定の発生タイミングで矩形パルス変調信号を光源11aに出力する。
また、尖頭形パルス変調信号の発生回路としては、例えば図2に示すような一般的な微分回路で構成され、制御手段16cからの尖頭形パルス変調指令に基づき、所定の発生タイミングで尖頭形パルス変調信号を光源11aに出力する。
The generation circuit of the rectangular pulse modulation signal in the modulation signal generation means 11b is the same as the configuration of the pulse generation circuit (not shown) provided in the existing
In addition, the peak-shaped pulse modulation signal generation circuit is configured by a general differentiation circuit as shown in FIG. 2, for example, and the peak-shaped pulse modulation signal is generated at a predetermined generation timing based on the peak-shaped pulse modulation command from the control means 16c. The head-shaped pulse modulation signal is output to the
ここで、各変調信号によって発生する波形パルスについて説明する。矩形パルス変調信号によって変調される矩形パルスは、図3(a)に示すように従来から用いられるものと同様であり、パルス幅10nsで分解能が最小1.6m、パルス幅3nsで分解能が最小80cmである。これに対し、尖頭形パルスは、図3(b)に示すように矩形パルスと比べてパルス幅が細くなっている(1.5dBdownでの分解能が80cm以下)。 Here, the waveform pulse generated by each modulation signal will be described. The rectangular pulse modulated by the rectangular pulse modulation signal is the same as that conventionally used as shown in FIG. 3 (a), with a pulse width of 10 ns and a minimum resolution of 1.6 m, and a pulse width of 3 ns and a minimum resolution of 80 cm. It is. On the other hand, as shown in FIG. 3B, the pulse width of the pointed pulse is narrower than that of the rectangular pulse (resolution at 1.5 dBdown is 80 cm or less).
従って、矩形パルスを出射して、その戻り光に基づく波形表示をした場合、例えば図4に示すような波形A(図中点線)が表示される。また、尖頭形パルスを出射して、その戻り光に基づく波形表示をした場合、例えば図4に示すような波形B(図中実線)が表示される。図中の波形からも確認できるように、矩形パルスによって得られる波形ではONU3の直前に設置された光フィルタ4の位置が曖昧で正確に表示されないのに対し、尖頭形パルスによって得られる波形では各光フィルタ4の位置が正確に表示される。
Therefore, when a rectangular pulse is emitted and a waveform is displayed based on the return light, for example, a waveform A (dotted line in the figure) as shown in FIG. 4 is displayed. Further, when a peak-shaped pulse is emitted and a waveform is displayed based on the return light, a waveform B (solid line in the figure) as shown in FIG. 4 is displayed, for example. As can be confirmed from the waveform in the figure, the waveform obtained by the rectangular pulse is vague and the position of the
このように、従来のように矩形パルスに比べて尖頭形パルスの方がパルス幅が細いため、障害点位置を測定する際に矩形パルスよりもさらに分解能を上げることが可能となり、より正確な障害点位置の測定が行えるようになる。
また、尖頭形パルスを用いると、矩形パルスを用いた場合に比べて受光信号のオーバーシュートやアンダーシュートが少ないため、測定した波形における反射点後方の落ち込みが緩和され、誤検出が無くせるという利点もある。
In this way, since the pulse width of the pointed pulse is narrower than that of the rectangular pulse as in the past, it is possible to increase the resolution further than the rectangular pulse when measuring the fault point position, and more accurate. It becomes possible to measure the position of the obstacle.
In addition, using a pointed pulse reduces the overshoot and undershoot of the received light signal compared to the case of using a rectangular pulse, so the fall behind the reflection point in the measured waveform is mitigated, and false detection can be eliminated. There are also advantages.
分岐手段12は、例えば3dBカプラなどの光方向性結合器で構成され、光源11aから被測定光ファイバ6に対して出射された試験光の入射に伴って被測定光ファイバ6から戻ってくる戻り光(後方散乱光及びフレネル反射光)を光増幅手段13に導出している。
The branching
光増幅手段13は、分岐手段12から導出された戻り光を直接光の状態で増幅してフィルタ手段14に出力している。
The
フィルタ手段14は、入射する光のうち所定波長の光のみを透過させるフィルタであり、光源11aから出力された試験光の戻り光(本例では矩形パルスに変調された1.65μmの光及び尖頭形パルスに変調された0.78μmの光)の光信号のみを透過し、この透過した光信号を光検出手段15に出力している。
The filter means 14 is a filter that transmits only light having a predetermined wavelength of incident light, and returns light of test light output from the
光検出手段15は、例えばAPD(Avalanche Photo Diode )で構成され、フィルタ手段14を透過した光信号を受光検出して電気信号に変換(光電変換)し、この変換された電気信号を信号処理制御部16に出力している。
The light detection means 15 is composed of, for example, an APD (Avalanche Photo Diode), receives and detects an optical signal transmitted through the filter means 14, converts it into an electrical signal (photoelectric conversion), and performs signal processing control on the converted electrical signal. To the
信号処理制御部16は、A/D変換手段16aと、加算処理手段16bと、制御手段16cとで構成され、光検出手段15からの電気信号に基づき光線路試験に係る各種処理制御を行っている。
The signal
A/D変換手段16aは、光検出手段15から出力された電気信号をA/D変換し、この変換した電気信号を加算処理手段16bに出力している。
The A / D conversion unit 16a performs A / D conversion on the electrical signal output from the
加算処理手段16bは、A/D変換手段16aから出力された電気信号の処理(単純加算や平均加算、また必要に応じてこれらの加算結果のフィルタ処理など)を行い、この処理によって得られた処理データを制御手段16cに出力している。
The
制御手段16cは、例えばCPUやROM、RAMなどで構成されるマイクロコンピュータで構成される。制御手段16cは、加算処理手段16bで得られた処理データに基づき、表示手段18に表示させる波形データの生成や波形中に存在するイベント点(例えば障害点位置)のオートサーチ処理などの波形表示制御、例えばユーザの設定などによって選択された光線路試験の種類に適した波形の試験光(矩形パルス又は尖頭形パルス)に変調するための変調指令(矩形パルス変調指令又は尖頭形パルス変調指令)の出力、表示手段18に表示される表示波形の切替え制御など、光パルス試験器1を駆動する際に必要な各種制御を行っている。
The control means 16c is comprised with the microcomputer comprised, for example with CPU, ROM, RAM, etc. Based on the processing data obtained by the addition processing means 16b, the control means 16c generates waveform data to be displayed on the display means 18 and displays waveforms such as auto search processing for event points (for example, fault point positions) existing in the waveform. Modulation command (rectangular pulse modulation command or pointed pulse modulation) to modulate to test light (rectangular pulse or pointed pulse) suitable for the type of optical line test selected by control, eg user settings Command) and control of switching the display waveform displayed on the display means 18 and the like, various controls necessary for driving the
また、制御手段16cは、加算処理手段16bから出力された処理データに基づく戻り光の反射レベルデータと、記憶手段17に記憶された正常状態の反射レベルである戻り光の基準反射レベルデータとを比較し、基準反射レベルデータを基準としたときに測定した戻り光の反射レベルが所定の範囲内(任意に設定可能)にあるか否かを判定し、所定範囲内であった場合は、正常状態であると判定する。さらに、制御手段16cは、この判定結果の内容を表示手段18に出力制御している。 Further, the control means 16c obtains the return light reflection level data based on the processing data output from the addition processing means 16b and the return light reference reflection level data that is the normal state reflection level stored in the storage means 17. Comparison is made to determine whether or not the return light reflection level measured when the reference reflection level data is used as a reference is within a predetermined range (can be arbitrarily set). It is determined that it is in a state. Further, the control means 16c controls the display means 18 to output the contents of this determination result.
記憶手段17は、例えば書き換え可能なROMやRAMなどの半導体メモリやHDDなどで構成され、例えば敷設時の測定などにより被測定光ファイバ6が正常状態のときの各ONU3の直前に設置された光フィルタ4からの戻り光の反射レベル(ピークレベルとノイズレベルとの二点間損失)を各ONU3の位置と反射レベルとを関連付けした状態で基準反射レベルデータとして記憶している。また、記憶手段17は、光パルス試験器1の各部を駆動する際に必要な駆動制御データも記憶している。
The storage means 17 is composed of, for example, a rewritable semiconductor memory such as ROM or RAM, an HDD, and the like. The reflection level of the return light from the filter 4 (two-point loss between the peak level and the noise level) is stored as reference reflection level data in a state where the position of each ONU 3 is associated with the reflection level. The
なお、記憶手段17に記憶された基準反射レベルデータは、敷設する被測定光ファイバの距離やONU3の設置位置などの正確な情報を把握している場合は、敷設時に測定する必要はなく、例えば操作手段19から直接数値入力し、この値を基準反射レベルデータとして記憶させることもできる。 The reference reflection level data stored in the storage means 17 need not be measured at the time of installation when accurate information such as the distance of the optical fiber to be installed and the installation position of the ONU 3 is known. It is also possible to input a numerical value directly from the operation means 19 and store this value as reference reflection level data.
表示手段18は、例えば液晶ディスプレイなどの表示装置で構成され、制御手段16cの制御により、光線路試験の波形測定に基づく波形表示、装置駆動時の各種設定内容などの表示情報の表示出力をしている。 The display means 18 is composed of a display device such as a liquid crystal display, for example, and displays and displays display information such as waveform display based on waveform measurement of the optical path test and various setting contents when the device is driven, under the control of the control means 16c. ing.
操作手段19は、装置の駆動/停止、光線路試験の選択やその試験に関するパラメータ設定、光線路試験の種類によって異なる試験光の選択/切り替え(すなわち、試験内容に応じた変調信号の選択/切り替え)、表示手段18に表示される表示波形の切り替えなど、光パルス試験器1を操作する際に使用される各種操作キーによって構成され、キー操作に伴う操作信号を制御手段16cに出力している。
The operation means 19 drives / stops the apparatus, selects an optical line test, sets parameters relating to the test, and selects / switches test light depending on the type of optical line test (that is, selects / switches a modulation signal according to the test contents). ), Which is constituted by various operation keys used when operating the
そして、上述した光パルス試験器1を用いて光損失の測定を行う場合、ユーザは、被測定光ファイバ6の光損失の測定を行うため光端子20を介して被測定光ファイバ6と接続し、光損失の測定に適した矩形パルスの試験光を出射するべく、操作手段19にて矩形パルスの試験光を選択する。
When measuring the optical loss using the
矩形パルスの試験光が選択されると、変調信号発生手段11bに対して制御手段16cから矩形パルス変調指令を出力し、この指令に基づき変調信号発生手段11bから矩形パルス変調信号を光源11aに出力する。そして、変調された矩形パルスの試験光が被測定光ファイバ6に出射し、この試験光の戻り光(後方散乱光)を分岐手段12で光増幅手段13へ導出する。
When rectangular pulse test light is selected, a rectangular pulse modulation command is output from the control means 16c to the modulation signal generating means 11b, and a rectangular pulse modulation signal is output from the modulation signal generating means 11b to the
導出された戻り光は、フィルタ手段14におけるフィルタ処理後に光検出手段15で光電変換され、さらに光電変換された電気信号をA/D変換手段16aでA/D変換され、このデジタル信号に基づき加算処理手段16bで加算処理された処理データに基づき、波形表示処理した表示内容を表示手段18に表示させる。 The derived return light is subjected to photoelectric conversion by the light detection means 15 after the filter processing in the filter means 14, and further the A / D conversion means 16a performs A / D conversion of the photoelectrically converted electric signal, and is added based on this digital signal. Based on the processing data added by the processing means 16b, the display contents subjected to the waveform display processing are displayed on the display means 18.
また、上述した光パルス試験器1を用いて障害点位置の測定を行う場合、ユーザは、上記と同様に光パルス試験器1を被測定光ファイバ6と接続した後、障害点位置の測定に適した尖頭形パルスの試験光を出射するべく、操作手段19にて尖頭形パルスの試験光を選択する。
Further, when the failure point position is measured using the
尖頭形パルスの試験光が選択されると、変調信号発生手段11bに対して制御手段16cから尖頭形パルス変調指令を出力し、この指令に基づき変調信号発生手段11bから尖頭形パルス変調信号を光源11aに出力する。そして、変調された尖頭形パルスの試験光が被測定光ファイバ6に出射し、この試験光の戻り光(フレネル反射光)を分岐手段12で光増幅手段13へ導出する。
When the test light of the peak-shaped pulse is selected, a peak-shaped pulse modulation command is output from the
導出された戻り光は、フィルタ手段14におけるフィルタ処理後に光検出手段15で光電変換され、さらに光電変換された電気信号をA/D変換手段16aでA/D変換され、このデジタル信号に基づき加算処理手段16bで加算処理された処理データに基づき、波形表示処理した表示内容を表示手段18に表示させる。 The derived return light is subjected to photoelectric conversion by the light detection means 15 after the filter processing in the filter means 14, and further the A / D conversion means 16a performs A / D conversion of the photoelectrically converted electric signal, and is added based on this digital signal. Based on the processing data added by the processing means 16b, the display contents subjected to the waveform display processing are displayed on the display means 18.
このように、上述した光パルス試験器1は、光損失の測定を行う場合は、被測定光ファイバ6の光損失の測定に適した矩形パルスの試験光を出射するべく、変調信号発生手段11bから矩形パルス変調信号を光源11aに出力し、この変調信号によって変調された試験光を被測定光ファイバ6に出射する。また、障害点位置の測定を行う場合は、被測定光ファイバ6の障害点位置の測定に適した尖頭形パルスの試験光を出射するべく、変調信号発生手段11bから尖頭形パルス変調信号を光源11aに出力し、この変調信号によって変調された試験光を被測定光ファイバ6に出射する。
In this way, the
これにより、障害点位置の測定時に矩形パルスよりもパルス幅の細い尖頭形パルスを用いるため、従来からの矩形パルスにおける障害点位置の測定に比べて空間分解能が向上し、より高精度に障害点位置の測定を行うことができる。また、尖頭形パルスの変調に一般的な微分回路を用いているため、システム構成が安価で、且つ高精度、高安定化な光検出が可能な光パルス試験器1を提供することができる。
This makes it possible to use a pointed pulse with a narrower pulse width than the rectangular pulse when measuring the position of the obstacle, thus improving the spatial resolution compared to the conventional measurement of the position of the obstacle point in the rectangular pulse and providing more accurate obstacles. The point position can be measured. In addition, since a general differential circuit is used for the modulation of the pointed pulse, the
ところで、上述した形態において、戻り光である後方散乱光の偏光特性が問題となる場合は、光源11aと分岐手段12との間の光路、分岐手段12と光端子20との間の光路、分岐手段12と光増幅手段13との間の光路の何れかに偏光をランダムに偏光にする偏光スクランブラを挿入することで、偏光特性に依存しない測定を行うことができる。
By the way, in the above-described embodiment, when the polarization characteristic of the backscattered light that is the return light becomes a problem, the optical path between the
また、上述した説明では、本例の光パルス試験器1を加入者線端局装置であるOLT2と複数の加入者線終端装置であるONU3が光スプリッタ5を用いた分岐光ファイバ伝送路を介して接続されるPONシステムに用いる例で説明したが、これに限定されることなはく、例えば図5に示すように、敷設された被測定光ファイバ6と接続して試験光を出力し、この出力した光の戻り光を受光することで、上記形態と同様に光ファイバの光損失及び障害点位置の検知を行うことができる。
In the above description, the
さらに、上述した形態では、光パルス試験器1の構成として光増幅手段13を具備した例で説明したが、この光増幅手段13は被測定光ファイバ6の敷設距離が長い場合にその減衰した戻り光を増幅して感度向上させるための手段であるため、敷設距離が短い箇所でのみ使用したり、被測定光ファイバ6からの戻り光が減衰せずに十分感度が確保できる場合は、特に具備する必要はない。
Further, in the above-described embodiment, the
以上、本願発明における最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者などによりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。 As mentioned above, although the best form in this invention was demonstrated, this invention is not limited with the description and drawing by this form. That is, it is a matter of course that all other forms, examples, operation techniques, and the like made by those skilled in the art based on this form are included in the scope of the present invention.
1…光パルス試験器
2…加入者線端局装置(OLT)
3…加入者線終端装置(ONU)
4…光フィルタ
5…光スプリッタ
6…被測定光ファイバ
11…光源部(11a…光源、11b…変調信号発生手段)
12…分岐手段
13…光増幅手段
14…フィルタ手段
15…光検出手段
16…信号処理制御手段(16a…A/D変換手段、16b…加算処理手段、16c…制御手段)
17…記憶手段
18…表示手段
19…操作手段
20…光端子
1 ... Optical pulse tester 2 ... Subscriber line terminal equipment (OLT)
3. Subscriber line termination unit (ONU)
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
17 ... Storage means 18 ... Display means 19 ... Operation means 20 ... Optical terminal
Claims (2)
前記試験光を尖頭形パルスに変調する尖頭形パルス変調信号及び前記試験光を矩形パルスに変調する矩形パルス変調信号を出力する変調信号発生部(11b)と、該変調信号発生部からの変調信号に基づき変調された試験光を出射する光源(11a)とを備え、前記障害点位置を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記尖頭形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射し、前記被測定光ファイバ(6)の光損失を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記矩形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射する光源部(11)と、
前記被測定光ファイバからの戻り光から前記試験光の光信号のみを取り出すフィルタ手段(14)と、
該フィルタ手段で取り出された前記試験光の光信号を光電変換する光検出手段(15)と、
該光検出手段で光電変換された電気信号に基づき、前記被測定光ファイバの障害点位置の測定に関する処理制御を行う信号処理制御部(16)と、
から構成されることを特徴とする光パルス試験器。 The subscriber terminal device in an optical multi-branch communication system in which a subscriber line terminal device (2) and a plurality of subscriber line terminators (3) are branched and connected in a one-to-many manner with an optical splitter (5). The test light is incident on the optical fiber to be measured (6) from the side, and the return light reflected from the optical filter (4) installed immediately before the subscriber termination device side and returning to the subscriber line terminal device side is returned. In the optical pulse tester that detects the light loss and the position of the fault point of the optical fiber to be measured by detecting the received light,
A modulation signal generator (11b) for outputting a peak pulse modulation signal for modulating the test light into a peak pulse and a rectangular pulse modulation signal for modulating the test light into a rectangular pulse; A light source (11a) that emits test light modulated based on the modulation signal, and when the position of the obstacle point is measured, it is modulated by the peak-shaped pulse modulation signal output from the modulation signal generator When the test light is emitted from the light source and the optical loss of the optical fiber to be measured (6) is measured, the test light modulated by the rectangular pulse modulation signal output from the modulation signal generator is A light source unit (11) emitting from the light source;
Filter means (14) for extracting only the optical signal of the test light from the return light from the optical fiber to be measured;
A light detection means (15) for photoelectrically converting the optical signal of the test light extracted by the filter means;
A signal processing control unit (16) that performs processing control related to measurement of a fault point position of the optical fiber to be measured, based on the electrical signal photoelectrically converted by the light detection unit;
An optical pulse tester comprising:
前記基準反射レベルデータを基準としたときに前記測定した戻り光の反射レベルが所定の範囲内であった場合は、前記被測定光ファイバが正常状態であると判定することを特徴とする請求項1記載の光パルス試験器。 The signal processing control unit (16) has a reflection level of return light from the subscriber line terminating device (3) when the test light is emitted to the optical fiber to be measured (6), and the preset level. Compared with the reference reflection level data, which is the reflection level of the return light from the subscriber line termination device when the optical fiber under test of the optical multi-branch communication system is in a normal state,
Claim wherein the reference reflection level data the measured return light reflection level when a reference is in if it was within a predetermined range, wherein said measured optical fiber is determined to be in a normal state The optical pulse tester according to 1 .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008178086A JP5220499B2 (en) | 2008-07-08 | 2008-07-08 | Optical pulse tester |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008178086A JP5220499B2 (en) | 2008-07-08 | 2008-07-08 | Optical pulse tester |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010019591A JP2010019591A (en) | 2010-01-28 |
JP5220499B2 true JP5220499B2 (en) | 2013-06-26 |
Family
ID=41704666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008178086A Expired - Fee Related JP5220499B2 (en) | 2008-07-08 | 2008-07-08 | Optical pulse tester |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5220499B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5315269B2 (en) * | 2010-03-12 | 2013-10-16 | 日本電信電話株式会社 | Optical equipment judgment system and judgment method |
JP2011196686A (en) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Anritsu Corp | Light beam path monitor, light beam path monitoring system, and light beam path monitoring method |
JP5438660B2 (en) * | 2010-11-18 | 2014-03-12 | 株式会社フジクラ | Optical line test apparatus and optical line test system |
WO2023223417A1 (en) * | 2022-05-17 | 2023-11-23 | 日本電信電話株式会社 | Communication system, optical power supply system, and optical power supply method |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001272304A (en) * | 2000-03-24 | 2001-10-05 | Ntt Comware Corp | Cable inspection device and method thereof |
JP4160939B2 (en) * | 2003-07-28 | 2008-10-08 | アンリツ株式会社 | Optical line fault search method |
JP5748934B2 (en) * | 2006-09-29 | 2015-07-15 | 横河電機株式会社 | Optical pulse generator and optical pulse tester |
-
2008
- 2008-07-08 JP JP2008178086A patent/JP5220499B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010019591A (en) | 2010-01-28 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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