JP5163172B2 - Software test item editing support apparatus and software test item editing support method - Google Patents

Software test item editing support apparatus and software test item editing support method Download PDF

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Description

本発明は、ソフトウェアのテストに使用するソフトウェアテスト項目編集支援装置およびソフトウェアテスト項目編集支援方法に係わり、特にソフトウェアのテストの効率化に寄与するソフトウェアテスト項目編集支援装置およびソフトウェアテスト項目編集支援方法に関する。   The present invention relates to a software test item editing support apparatus and software test item editing support method used for software testing, and more particularly, to a software test item editing support apparatus and software test item editing support method that contribute to the efficiency of software testing. .

ソフトウェアは開発段階でテストを行い、その信頼性をチェックする必要がある。ソフトウェア部品としてのソフトウェアモジュールを例に挙げると、テストを行う際には、テストの対象となるソフトウェアモジュールと、入力データと、入力データに応じて期待される実行結果とを含めたテスト項目を作成している。   Software needs to be tested at the development stage to check its reliability. Taking a software module as a software component as an example, when performing a test, a test item including the software module to be tested, input data, and the expected execution result according to the input data is created. doing.

ソフトウェアモジュールの品質を上げるためには、異なる観点や異なるテスト技法を用いて作成した多くのテスト項目を生成し、テストを実施する必要がある。そこで、同じソフトウェアモジュールをテストする際でも、テストの観点や使用するテスト技法の種類を増やすほどテスト項目が増大する。   In order to improve the quality of software modules, it is necessary to generate and test many test items created using different viewpoints and different test techniques. Therefore, even when testing the same software module, the test items increase as the viewpoint of the test and the types of test techniques used increase.

テスト項目の増大に対処するために、ソフトウェアのテストを行う際のテスト項目の作成を自動化する技術が本発明の関連技術として提案されている(たとえば特許文献1参照)。この関連技術では、過去の様々なテスト項目を蓄積しておいて、利用者がこの中からテスト項目を選択することでテスト項目を生成する負担を軽減している。
特開2005−332098号公報(第0015段落、図2)
In order to deal with the increase in test items, a technology for automating the creation of test items when testing software has been proposed as a related technology of the present invention (see, for example, Patent Document 1). In this related technique, various past test items are accumulated, and the user selects a test item from them, thereby reducing the burden of generating the test item.
JP 2005-332098 A (paragraph 0015, FIG. 2)

このように本発明の関連技術を用いることでテスト項目の作成の負担を軽減できるものの、ソフトウェアのテストでは、作成されたテスト項目の数だけテストが実施される。このため、ソフトウェアモジュールの品質を上げようとしてテスト項目の数を増加させればさせるほど、多大なテスト工数が発生することになり、ソフトウェアの開発が長時間化することになる。   As described above, although the burden of creating test items can be reduced by using the related technology of the present invention, in the software test, the test is performed by the number of created test items. For this reason, as the number of test items is increased in order to increase the quality of the software module, a greater number of test steps are required, and the software development takes longer.

そこで本発明の目的は、複数のソフトウェアについてテストを行うとき、テストの内容自体を変えることなく、テストに掛る工数の削減が可能なソフトウェアテスト項目編集支援装置およびソフトウェアテスト項目編集支援方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a software test item editing support apparatus and a software test item editing support method capable of reducing the number of man-hours required for testing without changing the test content itself when testing a plurality of software. There is.

本発明では、(イ)ソフトウェアのテストに使用するテスト項目のうち予め定めた複数のソフトウェアのテスト時に統合化の検討対象となるテスト項目をそれぞれ記憶するテスト項目記憶手段と、(ロ)このテスト項目記憶手段に記憶されたテスト項目ごとに前記した予め定めた複数のソフトウェアにおける対応するソフトウェアと入力データ範囲を予め対応付けて対応表として記憶した対応表記憶手段と、(ハ)前記したテスト項目記憶手段に記憶されたテスト項目ごとに前記した対応表を用いて入力データ範囲を比較し、前記した予め定めた複数のソフトウェアの少なくとも一部で共通の入力データ範囲が存在するかを判別するテスト項目別比較手段と、(ニ)このテスト項目別比較手段で共通の入力データ範囲が存在すると判別されたテスト項目を1つの統合化テスト項目としてまとめることでテスト項目の統合化の編集を行うテスト項目編集手段とをソフトウェアテスト項目編集支援装置に具備させる。   In the present invention, (a) test item storage means for storing test items to be considered for integration when testing a plurality of predetermined software items among test items used for software testing, and (b) this test Correspondence table storage means for previously storing corresponding software and input data ranges in a plurality of predetermined software described above for each test item stored in the item storage means, and storing them as a correspondence table; (c) the test items described above A test for comparing input data ranges for each test item stored in the storage means using the correspondence table and determining whether a common input data range exists in at least a part of the plurality of predetermined software. It was determined that there was a common input data range for the item comparison means and (d) this test item comparison means. To and a test item editing means for editing the integration test item by summarizing the strike item as a single integrated test items in the software test item editing support device.

また、本発明では、(イ)ソフトウェアのテストに使用するテスト項目のうち予め定めた複数のソフトウェアのテスト時に、所定の制御プログラムを実行するCPUが、統合化の検討対象となるテスト項目を、記憶装置内に設けたテスト項目記憶手段にそれぞれ記憶するテスト項目記憶ステップと、(ロ)このテスト項目記憶ステップで前記したテスト項目記憶手段に記憶されたテスト項目ごとに前記した予め定めた複数のソフトウェアにおける対応するソフトウェアと入力データ範囲を、前記したCPUが、前記した記憶装置内に設けた対応表記憶手段に予め対応付けて対応表として記憶する対応表記憶ステップと、(ハ)前記したテスト項目記憶ステップで前記したテスト項目記憶手段に記憶したテスト項目ごとに前記したCPUが、前記した対応表を用いて入力データ範囲を比較することで、前記した予め定めた複数のソフトウェアの少なくとも一部で共通の入力データ範囲が存在するかを判別するテスト項目別比較ステップと、(ニ)このテスト項目別比較ステップで共通の入力データ範囲が存在すると判別されたテスト項目を前記したCPUが、1つの統合化テスト項目としてまとめることでテスト項目の統合化の編集を行うテスト項目編集ステップとをソフトウェアテスト項目編集支援方法に具備させる。 In the present invention, (a) when testing a plurality of predetermined software among test items used for software testing, a CPU that executes a predetermined control program selects test items to be considered for integration . (B) a plurality of predetermined items for each test item stored in the test item storage means in the test item storage step. A correspondence table storing step in which the corresponding software and the input data range in the software are stored in the correspondence table storage means provided in the storage device in advance as a correspondence table; (c) the test described above The CPU described above for each test item stored in the test item storage means in the item storage step By comparing the input data range using the correspondence table, and by the test item comparison step common input data range in at least some of the plurality of software it is determined whether there a predetermined described above, (d) the test itemized comparison step in common input data range is above the determined test items to be present the CPU, the test item editing step for editing the integration of test items by summarized as a single integrated test items Are provided in the software test item editing support method.

このように本発明では、複数のソフトウェアで共通の入力データ範囲が存在するテスト項目を1つのテスト項目として、その確認内容(出力)を統合するので、テスト項目の減少によるテストの実施数の削減が可能になる。   As described above, according to the present invention, test items having a common input data range among a plurality of software are regarded as one test item, and the confirmation contents (output) are integrated. Therefore, the number of test executions can be reduced by reducing the number of test items. Is possible.

このような本発明の着目点を、実施の形態の説明の前に、簡単に説明する。   Such a point of interest of the present invention will be briefly described before the description of the embodiment.

テストを実行し、その実行結果の何を確認するかという出力は、各テストの目的によって異なる。しかしながら、テストの実行の際に与える入力データは同じものとなる場合がある。また、同じテスト対象のソフトウェアモジュールであったとしても、テストの目的やテスト技法やテスト設計者やテストツールによってテスト項目の入力データや出力はそれぞれ異なることが多い。そこで、ソフトウェアのテストに際して、これらのテスト項目はそれぞれ独立したテスト項目としてみなされている。この結果、テストに際して、従来ではすべてのテスト項目を実施することになり、多くの工数が掛かることになった。   The output of what the test is executed and what the execution result is confirmed depends on the purpose of each test. However, the input data given in the execution of the test may be the same. Even if the software modules are the same test target, the test item input data and output are often different depending on the purpose of the test, the test technique, the test designer, and the test tool. Therefore, when testing software, these test items are regarded as independent test items. As a result, all the test items are conventionally performed in the test, which requires a lot of man-hours.

たとえば、あるプログラムXをテストする場合を考える。ソフトウェアモジュールの入力と出力に着目して機能を検証するプログラムのテスト方法として、ブラックボックステストが存在する。ブラックボックステストのように入力データAと、出力B(入力データAの時の処理)の対応関係を確認する目的のテストで、入力データは、プログラム仕様で入力条件として与えられた、「M<A<N」の中から任意の値A′を1つ選ぶものとし、「プログラムXは、入力データA′を与えたとき、出力Bとなる」というテスト項目となったとする。   For example, consider the case where a certain program X is tested. There is a black box test as a test method of a program for verifying the function by focusing on the input and output of the software module. Like the black box test, this test is intended to confirm the correspondence between input data A and output B (processing for input data A). The input data is given as an input condition in the program specification. Assume that one arbitrary value A ′ is selected from “A <N”, and the test item “Program X becomes output B when input data A ′ is given” is selected.

一方、モジュールの内部構造に着目してテストを行うテスト方法としてホワイトボックステストが存在する。このホワイトボックステストのようにプログラムX中の所定の分岐処理Kを通ることを確認する目的のテストでは、この分岐処理Kを通るために必要となるプログラムXへの入力データCを検討する。そして、分岐処理Kを通るための入力データCの条件として「P<C<Q」をプログラムコードから導き出した上で、「P<C<Q」の中から任意の値C′を1つ選択し、「プログラムXは入力データC′を与えたとき、分岐処理Kを通る。」というテスト項目となったとする。   On the other hand, there is a white box test as a test method for performing a test focusing on the internal structure of the module. In a test for the purpose of confirming that the predetermined branch process K in the program X passes through like the white box test, the input data C to the program X necessary for passing through the branch process K is examined. Then, “P <C <Q” is derived from the program code as the condition of the input data C for passing through the branch process K, and one arbitrary value C ′ is selected from “P <C <Q”. Assume that the test item “Program X passes branch process K when input data C ′ is applied” is set.

このとき、M<E<NかつP<E<Qとなる入力データEが存在する場合、2つのテスト項目は、「プログラムXは入力データEを与えたとき、分岐処理Kを通り、出力Bとなる」のように1つのテスト項目にまとめることができる。   At this time, if there is input data E satisfying M <E <N and P <E <Q, the two test items are: “When program X gives input data E, it passes through branch process K and outputs B Can be combined into one test item.

本発明では、ソフトウェアのテストにおいて、たとえば同じソフトウェアモジュールをテスト対象とするテスト項目が複数ある場合、各テスト項目のうち、共通の入力データ範囲を持つテスト項目を探し出して、共通入力データ範囲を使用したテスト項目を作成し、そのテスト項目へ既存のテスト項目の確認内容(出力)を統合することでテスト項目数を実質的に削減することにしている。   In the present invention, in a software test, for example, when there are a plurality of test items for which the same software module is to be tested, a test item having a common input data range is searched for among the test items, and the common input data range is used. The number of test items is substantially reduced by creating the test items and integrating the confirmation contents (output) of the existing test items into the test items.

次に、本発明を一実施の形態に基づいて説明する。   Next, the present invention will be described based on an embodiment.

図1は、本発明の一実施の形態によるソフトウェアテスト項目編集支援装置の構成を示したものである。ソフトウェアテスト項目編集支援装置100は、入力装置101と、この入力装置101から入力されたデータを処理するデータ処理装置102と、データ処理装置102の結果を出力する出力装置103と、データ処理装置102に接続され、所定の事項を記憶する記憶装置104とから構成されている。   FIG. 1 shows the configuration of a software test item editing support apparatus according to an embodiment of the present invention. The software test item editing support device 100 includes an input device 101, a data processing device 102 that processes data input from the input device 101, an output device 103 that outputs a result of the data processing device 102, and a data processing device 102. And a storage device 104 that stores predetermined items.

ここでデータ処理装置102は、CPU(Central Processing Unit)111と、制御プログラムを格納したハードディスク等のメモリ112を備えた制御部113を備えており、たとえば通常のパーソナルコンピュータでこれを構成することができる。入力装置101は、図示しないキーボードやポインティングデバイスとしてのマウスといった入力デバイスで構成することができる。また、出力装置103は、同じく図示しない液晶ディスプレイ等のディスプレイやプリンタといった出力デバイスで構成することができる。更に、記憶装置104は、たとえばデータ処理装置102がパーソナルコンピュータで構成されている場合に、USB(Universal Serial Bus)等の接続手段を介したハードディスク、光ディスク等の外部記憶装置や半導体メモリ装置であってもよいし、パーソナルコンピュータに元々備えられた内蔵メモリとして構成されていてもよい。   Here, the data processing apparatus 102 includes a central processing unit (CPU) 111 and a control unit 113 including a memory 112 such as a hard disk storing a control program. For example, the data processing apparatus 102 can be configured by a normal personal computer. it can. The input device 101 can be configured by an input device such as a keyboard (not shown) or a mouse as a pointing device. Further, the output device 103 can be configured by an output device such as a display such as a liquid crystal display (not shown) or a printer. Further, the storage device 104 is an external storage device such as a hard disk or an optical disk or a semiconductor memory device via connection means such as a USB (Universal Serial Bus) when the data processing device 102 is configured by a personal computer. Alternatively, it may be configured as a built-in memory originally provided in the personal computer.

データ処理装置102は、前記した制御プログラムをCPU111が実行することによって各種の機能部品を実現することができる。本実施の形態のソフトウェアテスト項目編集支援装置100の場合、データ処理装置102は、テスト項目登録部121と、統合化ソフトウェアモジュール候補選択部122と、統合化テスト項目候補選択部123と、共通入力データ範囲検討部124と、統合化候補テスト項目登録部125および統合化テスト項目表示部126を機能的に実現している。もちろん、これらの少なくとも一部をハードウェアとして構成することも自由である。   The data processing apparatus 102 can implement various functional components by the CPU 111 executing the above-described control program. In the case of the software test item editing support apparatus 100 according to the present embodiment, the data processing apparatus 102 includes a test item registration unit 121, an integrated software module candidate selection unit 122, an integrated test item candidate selection unit 123, and a common input. The data range review unit 124, the integration candidate test item registration unit 125, and the integration test item display unit 126 are functionally realized. Of course, at least a part of these can be configured as hardware.

一方、記憶装置104はテスト項目を記憶するテスト項目記憶部131と、統合前のテスト項目と統合後のテスト項目との関連を保持するテスト項目対応テーブル132と、統合化テスト項目を記憶する統合化テスト項目記憶部133を備えている。   On the other hand, the storage device 104 stores a test item storage unit 131 that stores test items, a test item correspondence table 132 that holds a relationship between test items before integration and test items after integration, and integration that stores integrated test items. The test item storage unit 133 is provided.

図2は、テスト項目記憶部の一例を具体的に示したものである。テスト項目記憶部131におけるテスト項目の列は、「テスト項目番号」と、「対象ソフトウェアモジュール」と、「入力データ範囲」および「出力(期待される結果でテスト実施時に確認する内容)」から構成されている。テスト項目記憶部131には、これらの関連が0個以上の任意の個数記憶されている。   FIG. 2 specifically shows an example of the test item storage unit. The test item column in the test item storage unit 131 is composed of “test item number”, “target software module”, “input data range”, and “output (contents to be confirmed at the time of test execution based on expected results)”. Has been. The test item storage unit 131 stores an arbitrary number of these relationships of zero or more.

図3は、テスト項目対応テーブルの一例を具体的に表わしたものである。テスト項目対応テーブル132は、前記したように統合前のテスト項目と統合後のテスト項目との関連を保持するテーブルである。テスト項目対応テーブル132には、統合前の「テスト項目番号」と、統合後のテスト項目番号としての「統合化テスト項目番号」と、「対象ソフトウェアモジュール」との関連が0個以上の任意の個数記憶されている。   FIG. 3 specifically shows an example of the test item correspondence table. As described above, the test item correspondence table 132 is a table that holds the relationship between the test items before integration and the test items after integration. In the test item correspondence table 132, any “zero or more” associations between “test item number” before integration, “integrated test item number” as the test item number after integration, and “target software module” The number is stored.

図4は、統合化テスト項目記憶部の記憶内容の一例を具体的に表わしたものである。統合化テスト項目記憶部133は、統合後のテスト項目を0個以上記憶している。テスト項目の列は、「統合化テスト項目番号」と、「対象ソフトウェアモジュール」と、「入力データ範囲」および「出力」からなっている。   FIG. 4 specifically shows an example of the contents stored in the integrated test item storage unit. The integrated test item storage unit 133 stores zero or more test items after integration. The column of test items includes “integrated test item number”, “target software module”, “input data range”, and “output”.

図1に戻ってデータ処理装置102の説明を行う。テスト項目登録部121は、入力装置101から入力されたテスト項目に関する情報をテスト項目記憶部131に登録するようになっている。ここでテスト項目に関する情報とは、図2のテスト項目記憶部131に示しているように、「テスト項目番号」、「対象ソフトウェアモジュール」、「入力データ範囲」および「出力」である。統合化ソフトウェアモジュール候補選択部122は、テスト項目記憶部131からテスト項目を読み込み、順番にまだテスト項目の統合化を検討していないソフトウェアモジュール名を1つ選択する部分である。   Returning to FIG. 1, the data processing apparatus 102 will be described. The test item registration unit 121 is configured to register information on the test item input from the input device 101 in the test item storage unit 131. Here, the information regarding the test item includes “test item number”, “target software module”, “input data range”, and “output” as shown in the test item storage unit 131 of FIG. The integrated software module candidate selection unit 122 is a part that reads test items from the test item storage unit 131 and sequentially selects one software module name that has not yet been considered for integration of test items.

統合化テスト項目候補選択部123は、テスト項目記憶部131に登録されたテスト項目を統合化の対象として1つ選択する。具体的には、統合化テスト項目候補選択部123は、テスト項目記憶部131からテスト項目を読み込んで、統合化ソフトウェアモジュール候補選択部122で選択したソフトウェアモジュールをテストする1つ以上のテスト項目の中で、まだ統合化を検討していないテスト項目を1つ選択する。これを統合化候補テスト項目と称することにする。テスト項目対応テーブル132からは、統合化を検討済のテスト項目番号も読み込む。   The integrated test item candidate selection unit 123 selects one test item registered in the test item storage unit 131 as an integration target. Specifically, the integrated test item candidate selection unit 123 reads one or more test items from the test item storage unit 131 and tests the software module selected by the integrated software module candidate selection unit 122. Among them, select one test item that has not yet been considered for integration. This is referred to as an integration candidate test item. From the test item correspondence table 132, the test item numbers for which integration has been considered are also read.

共通入力データ範囲検討部124は、図3に示したテスト項目対応テーブル132と、図4に示した統合化テスト項目記憶部133とを参照し、統合化テスト項目候補選択部123で選択した統合化候補テスト項目の入力データ範囲と、テスト項目対応テーブル132に既に登録されている、同じ対象ソフトウェアモジュールのすべての統合化テスト項目の入力データ範囲とを比較する。そして、共通の範囲がないかを統合化テスト項目の1つ1つについて調べていくようになっている。   The common input data range review unit 124 refers to the test item correspondence table 132 illustrated in FIG. 3 and the integrated test item storage unit 133 illustrated in FIG. 4, and the integration selected by the integrated test item candidate selection unit 123. The input data range of the integration candidate test items is compared with the input data ranges of all integrated test items of the same target software module already registered in the test item correspondence table 132. Then, each integrated test item is examined for a common range.

統合化候補テスト項目登録部125は、共通入力データ範囲検討部124の結果を基にして、共通部分がない場合は選択したテスト項目をそのまま新規の統合化テスト項目として登録するようになっている。また、共通部分がある場合には、共通部分の入力データ範囲に限定して統合テスト項目を更新し、統合するテスト項目の出力を新たに追加するようになっている。   Based on the result of the common input data range examination unit 124, the integration candidate test item registration unit 125 registers the selected test item as a new integration test item as it is when there is no common part. . If there is a common part, the integration test item is updated only in the input data range of the common part, and the output of the test item to be integrated is newly added.

統合化テスト項目表示部126は、図4に示した統合化テスト項目記憶部133から読み取った統合化テスト項目を、出力装置103を介してテスト設計者に表示するようになっている。   The integrated test item display unit 126 displays the integrated test items read from the integrated test item storage unit 133 illustrated in FIG. 4 to the test designer via the output device 103.

図5は、以上のような構成のソフトウェアテスト項目編集支援装置の全体的な処理の流れを表わしたものである。図1と共に説明する。   FIG. 5 shows the overall processing flow of the software test item editing support apparatus configured as described above. This will be described with reference to FIG.

まずソフトウェアテスト項目編集支援装置100は、テスト項目登録部121がテスト項目の登録を行ったかどうかをチェックする(ステップS201)。テスト設計者が入力装置101を使用してテスト項目の登録のための入力操作を行っていたとすると、たとえば図2に示すように、その登録内容がテスト項目記憶部131の記憶内容として出力装置103に表示される。テスト項目が1つ以上登録されていなければ(N)、登録処理が待機される。   First, the software test item editing support apparatus 100 checks whether or not the test item registration unit 121 has registered a test item (step S201). If the test designer performs an input operation for registering a test item using the input device 101, the registered content is stored as the stored content of the test item storage unit 131 as shown in FIG. Is displayed. If one or more test items are not registered (N), the registration process is waited.

テスト項目が登録されていた場合(ステップS201:Y)、統合化ソフトウェアモジュール候補選択部122は、対象とするすべてのソフトウェアモジュールについて統合化を検討したかどうかを判別する(ステップS202)。この結果として対象とするすべてのソフトウェアモジュールについて統合化を検討したことが判明すれば(Y)、これ以上の処理を行う必要がない。そこで、この場合には、これらの統合化テスト項目を出力装置103に出力して(ステップS203)、一連の処理を終了する(エンド)。   When the test item has been registered (step S201: Y), the integrated software module candidate selection unit 122 determines whether integration has been considered for all target software modules (step S202). As a result, if it is found that integration has been considered for all target software modules (Y), no further processing is required. Therefore, in this case, these integrated test items are output to the output device 103 (step S203), and the series of processing ends (end).

一方、対象とするソフトウェアモジュールの少なくとも一部について統合化が未検討であった場合には(ステップS202:N)、テスト設計者が入力装置101を用いて、未検討のソフトウェアモジュール名を1つ選択するかどうかをチェックする(ステップS204)。未検討のソフトウェアモジュール名が選択された場合には(Y)、この選択されたソフトウェアモジュール名をテストするすべてのテスト項目について統合化がすでに検討されたかのチェックが行われる(ステップS205)。これらの検討が行われている場合には(Y)、ステップS202に処理が戻る。このステップS202で、テストの対象のすべてのソフトウェアモジュールについて統合化が検討されたと判別された場合には(Y)、先と同様にステップS203に処理が進むことになる。   On the other hand, when integration has not been studied for at least some of the target software modules (step S202: N), the test designer uses the input device 101 to select one unconsidered software module name. It is checked whether to select (step S204). If an unreviewed software module name is selected (Y), it is checked whether integration has already been considered for all test items that test the selected software module name (step S205). If these considerations have been made (Y), the process returns to step S202. If it is determined in step S202 that integration has been considered for all the software modules to be tested (Y), the process proceeds to step S203 as before.

これに対して、テストの対象のソフトウェアモジュールの中に、統合化が未検討のものがある場合には(ステップS202:N)、ステップS205に処理が進み、そのソフトウェアモジュール名が1つ選択されることになる。以下、同様である。   On the other hand, if there is a software module that is not yet considered for integration (step S202: N), the process proceeds to step S205, and one software module name is selected. Will be. The same applies hereinafter.

ところで、ステップS205で、選択されたソフトウェアモジュール名をテストする少なくとも一部のテスト項目について統合化が検討されていないと判別された場合(N)、ソフトウェアテスト項目編集支援装置100は、テスト設計者が入力装置101を用いて、未検討のテスト項目の1つを統合化候補テスト項目として選択するのを待機する(ステップS206)。   By the way, when it is determined in step S205 that integration is not considered for at least some of the test items that test the selected software module name (N), the software test item editing support apparatus 100 determines that the test designer Waits to select one of the unexamined test items as an integration candidate test item using the input device 101 (step S206).

統合化候補テスト項目の選択が行われるまでの処理の様子を、遡って、ステップS204の処理から説明する。ステップS204で、未検討のソフトウェアモジュール名として「ソフトウェアモジュールA」が選択されたものとする。「ソフトウェアモジュールA」については、図2のテスト項目記憶部131の記憶内容から、「テスト項目番号」が「1」〜「4」の4種類のテスト項目が存在する。ステップS205では、これら4種類のテスト項目すべてについて統合化が検討されたかのチェックが行われる。そこで、統合化後のテスト項目番号としての「統合化テスト項目番号」を記したテスト項目対応テーブル132(図3参照)が読み込まれる。この場合、「テスト項目番号」が「1」のテスト項目だけについて統合化が検討されていたとする(ステップS205:N)。この場合には、テスト設計者は「テスト項目番号」が「2」〜「4」の中から1つのテスト項目を、統合化候補テスト項目の選択として行うことになる(ステップS206)。   The processing until the integration candidate test item is selected will be described retroactively from the processing in step S204. In step S204, it is assumed that “software module A” is selected as an unconsidered software module name. Regarding “software module A”, there are four types of test items with “test item numbers” “1” to “4” based on the stored contents of the test item storage unit 131 of FIG. In step S205, it is checked whether integration has been considered for all four types of test items. Therefore, the test item correspondence table 132 (see FIG. 3) in which “integrated test item number” as the test item number after integration is written is read. In this case, it is assumed that integration is considered only for the test item whose “test item number” is “1” (step S205: N). In this case, the test designer performs one test item from among “2” to “4” having “test item numbers” as selection of integration candidate test items (step S206).

一例として、図2に示したテスト項目記憶部131における「テスト項目番号」が「2」のソフトウェアモジュール名である「ソフトウェアモジュールA」が統合化候補テスト項目として選択されたとする(ステップS206:Y)。次のステップS207で、共通入力データ範囲検討部124は、図3に示したテスト項目対応テーブル132と、図4に示した統合化テスト項目記憶部133とを参照する。そして、統合化候補テスト項目における「入力データ範囲」と、対象ソフトウェアモジュールのすべての統合化テスト項目の「入力データ範囲」との間に、共通の入力データ範囲が存在するかを調査する。なお、このとき、共通の入力データ範囲が、2つ以上の統合化テスト項目に存在する場合には、共通の入力データ範囲が一番広くなる統合化テスト項目を統合先として選択する。   As an example, it is assumed that “software module A”, which is a software module name having “2” as the “test item number” in the test item storage unit 131 illustrated in FIG. 2, is selected as the integration candidate test item (step S206: Y ). In the next step S207, the common input data range review unit 124 refers to the test item correspondence table 132 shown in FIG. 3 and the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. Then, it is investigated whether a common input data range exists between the “input data range” in the integration candidate test item and the “input data range” of all the integration test items of the target software module. At this time, if a common input data range exists in two or more integrated test items, the integrated test item having the widest common input data range is selected as the integration destination.

共通の入力データ範囲が存在する場合には(ステップS208:Y)、統合化テスト項目を、共通の「入力データ範囲」の内容として更新する。そして、統合化候補テスト項目との紐付けを行って、統合化候補テスト項目の出力を統合化テスト項目の出力に追加する。このとき、更新された統合化テスト項目は、図4に示す統合化テスト項目記憶部133に保存する(ステップS209)。   If there is a common input data range (step S208: Y), the integrated test item is updated as the content of the common “input data range”. Then, linking with the integration candidate test item is performed, and the output of the integration candidate test item is added to the output of the integration test item. At this time, the updated integrated test item is stored in the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. 4 (step S209).

一方、ステップS208で共通の入力データ範囲が存在しないものとされた場合には(N)、統合化候補テスト項目を新たな統合化テスト項目として、図3に示したテスト項目対応テーブル132に登録する。統合化テスト項目番号は、既存の統合化テスト項目番号の一番大きい数に「1」を加えた番号とする(ステップS210)。   On the other hand, if it is determined in step S208 that no common input data range exists (N), the integration candidate test item is registered in the test item correspondence table 132 shown in FIG. 3 as a new integration test item. To do. The integrated test item number is a number obtained by adding “1” to the largest number of existing integrated test item numbers (step S210).

以上のステップS209あるいはステップS210の処理が行われたら、ステップS205に戻って、すべてのテスト項目について統合化を検討したかどうかの判別が行われる。以下同様である。   If the process of the above step S209 or step S210 is performed, it will return to step S205 and it will be discriminate | determined whether integration was examined about all the test items. The same applies hereinafter.

以上説明した処理を、図面と共に更に具体的に説明する。   The processing described above will be described more specifically with reference to the drawings.

図6(A)は、図5のステップS204でソフトウェアモジュールAを選択し、ステップS206で最初に検討するテスト項目としてテスト項目番号「1」を選択した場合を示したものである。この場合には、統合化候補テスト項目として「テスト項目番号」の「1」を選択した次のステップS207で、同図(B)に示すテスト項目対応テーブル132を参照して、選択したテスト項目と統合化テスト項目との比較を行う。この時点で、テスト項目対応テーブル132のソフトウェアモジュールAに関する「統合化テスト項目番号」は「1」となっている(図5ステップS208:N)。このため、図5のステップS210の処理が行われる。   FIG. 6A shows the case where the software module A is selected in step S204 of FIG. 5 and the test item number “1” is selected as the test item to be first examined in step S206. In this case, in step S207 after “1” of “test item number” is selected as the integration candidate test item, the selected test item is referred to with reference to the test item correspondence table 132 shown in FIG. Compare with integrated test items. At this time, the “integrated test item number” for the software module A in the test item correspondence table 132 is “1” (step S208: N in FIG. 5). For this reason, the process of step S210 of FIG. 5 is performed.

すなわち、「テスト項目番号」の「1」(「入力データ範囲」が0<x<80)の内容がそのまま統合化テスト項目として、図6(C)に示す統合テスト項目記憶部133に登録される。「統合化テスト項目番号」は、既存の統合化テスト項目番号の一番大きい数に「1」を加えた番号とする。この時点では、既存の統合化テスト項目がないため、「統合化テスト項目番号」はこの図に示したように「1」となる。   That is, the content of “1” of “test item number” (“input data range” is 0 <x <80) is directly registered in the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. 6C as an integrated test item. The The “integrated test item number” is a number obtained by adding “1” to the largest number of existing integrated test item numbers. At this point, since there is no existing integrated test item, the “integrated test item number” is “1” as shown in FIG.

図6(B)に示すテスト項目対応テーブル132には、同図(D)に示すテスト項目記憶部131と、同図(C)に示す統合化テスト項目記憶部133とを紐付ける情報として「テスト項目番号」の「1」と、「統合化テスト項目番号」の「1」と、「対象ソフトウェアモジュール」である「ソフトウェアモジュールA」とが登録される。   In the test item correspondence table 132 shown in FIG. 6B, information associating the test item storage unit 131 shown in FIG. 6D with the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. “1” of “test item number”, “1” of “integrated test item number”, and “software module A” that is “target software module” are registered.

図7(A)は、図6の例の次に図5のステップS206でテスト項目番号の「2」を検討するテスト項目として選択した場合を示したものである。この場合には、まず、ステップS207において、図7(B)に示すテスト項目対応テーブル132を参照し、統合化テスト項目との比較を行う。この時点ではテスト項目対応テーブル132は図6(B)に示したテスト項目対応テーブル132の状態である。そこで、「テスト項目番号」が「2」と「統合化テスト項目番号」の「1」についての入力データ範囲を比較する。   FIG. 7A shows a case where the test item number “2” is selected as the test item to be examined in step S206 of FIG. 5 after the example of FIG. In this case, first, in step S207, the test item correspondence table 132 shown in FIG. 7B is referred to and compared with the integrated test item. At this time, the test item correspondence table 132 is in the state of the test item correspondence table 132 shown in FIG. Therefore, the input data range for “1” of “integrated test item number” is compared with “2” for “test item number”.

統合化テスト項目番号「1」の入力データ範囲は、図6(C)の統合テスト項目記憶部133にあるように「0<x<80」である。一方、テスト項目が「2」の入力データ範囲は図7(D)に示すように「50<x<100」である。したがって、共通の入力データ範囲として「50<x<80」が存在する(図5ステップS208:Y)。この場合には図5のステップS209の処理となり、図7(B)に示すテスト項目対応テーブル132には、テスト項目記憶部131と、統合テスト項目記憶部133とを紐付ける情報としてテスト項目番号の「2」と、統合化テスト項目番号の「1」と、対象ソフトウェアモジュールである「ソフトウェアモジュールA」とが登録される。   The input data range of the integrated test item number “1” is “0 <x <80” as in the integrated test item storage unit 133 of FIG. On the other hand, the input data range in which the test item is “2” is “50 <x <100” as shown in FIG. Therefore, “50 <x <80” exists as a common input data range (step S208: Y in FIG. 5). In this case, the process of step S209 in FIG. 5 is performed, and the test item number is used as information for associating the test item storage unit 131 and the integrated test item storage unit 133 in the test item correspondence table 132 shown in FIG. “2”, “1” of the integrated test item number, and “software module A” that is the target software module are registered.

同図(C)に示す統合テスト項目記憶部133では、「統合化テスト項目番号」の「1」における「入力データ範囲」を「50<x<80」に更新する。そして、「出力」の列にはテスト項目番号が「2」の「出力」として、「分岐処理Lを実行する」を追加する。   In the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. 5C, the “input data range” in “1” of the “integrated test item number” is updated to “50 <x <80”. Then, “execute branch process L” is added to the “output” column as “output” with the test item number “2”.

図8(A)は、図7の例の次に図5のステップS206でテスト項目番号の「3」を検討するテスト項目として選択した例を示したものである。まず、ステップS207において、テスト項目対応テーブル132を参照し、統合化テスト項目との比較を行う。この時点ではテスト項目対応テーブル132は図7(B)に示すテスト項目対応テーブル132の状態である。そこで、「テスト項目番号」が「3」と「統合化テスト項目番号」の「1」についての入力データ範囲を比較する。   FIG. 8A shows an example in which the test item number “3” is selected as a test item to be examined in step S206 of FIG. 5 after the example of FIG. First, in step S207, the test item correspondence table 132 is referred to and compared with the integrated test item. At this time, the test item correspondence table 132 is in the state of the test item correspondence table 132 shown in FIG. Therefore, the input data ranges for “3” and “1” of “integrated test item number” are compared.

統合化テスト項目番号が「1」の入力データ範囲は、図7(C)の統合テスト項目記憶部133にあるように「50<x<80」である。一方、テスト項目が「3」の入力データ範囲は、図8(D)に示すように「45<x<65」である。したがって、共通の入力データ範囲として「50<x<65」が存在する(図5ステップS208:Y)。この場合には図5のステップS209の処理となり、図8(B)に示すテスト項目対応テーブル132には、テスト項目記憶部131と、統合テスト項目記憶部133とを紐付ける情報としてテスト項目番号の「3」と、統合化テスト項目番号の「1」と、対象ソフトウェアモジュールである「ソフトウェアモジュールA」とが登録される。   The input data range with the integrated test item number “1” is “50 <x <80” as in the integrated test item storage unit 133 of FIG. On the other hand, the input data range in which the test item is “3” is “45 <x <65” as shown in FIG. Therefore, “50 <x <65” exists as a common input data range (step S208: Y in FIG. 5). In this case, the process of step S209 in FIG. 5 is performed, and the test item number is used as information for associating the test item storage unit 131 and the integrated test item storage unit 133 in the test item correspondence table 132 shown in FIG. "3", the integrated test item number "1", and the target software module "software module A" are registered.

同図(C)に示す統合テスト項目記憶部133では、「統合化テスト項目番号」の「1」における「入力データ範囲」を「50<x<65」に更新する。そして、「出力」の列には「テスト項目番号」が「3」として「分岐処理Mを実行する」を追加する。   In the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. 5C, the “input data range” in “1” of the “integrated test item number” is updated to “50 <x <65”. Then, “execute branching process M” is added to the “output” column with “test item number” being “3”.

図9(A)は、図8の例の次に図5のステップS206でテスト項目番号の「4」を検討するテスト項目として選択した例を示したものである。まず、ステップS207において、テスト項目対応テーブル132を参照し、統合化テスト項目との比較を行う。この時点ではテスト項目対応テーブル132は図8(B)に示すテスト項目対応テーブル132の状態である。そこで、「テスト項目番号」が「4」と「統合化テスト項目番号」の「1」についての入力データ範囲を比較する。   FIG. 9A shows an example in which the test item number “4” is selected as the test item to be examined in step S206 of FIG. 5 after the example of FIG. First, in step S207, the test item correspondence table 132 is referred to and compared with the integrated test item. At this time, the test item correspondence table 132 is in the state of the test item correspondence table 132 shown in FIG. Therefore, the input data ranges for “4” and “1” of “integrated test item number” are compared.

統合化テスト項目番号が「1」の入力データ範囲は、図8(C)の統合テスト項目記憶部133にあるように「50<x<65」である。一方、テスト項目が「4」の入力データ範囲は、図9(D)に示すように「x>100」である。したがって、共通の入力データ範囲が存在しない。このため図5のステップS210に示す処理となり、図9(C)に示す統合テスト項目記憶部133には、既存の統合化テスト項目番号の一番大きい数に「1」を加えた統合化テスト項目番号が「2」として、「テスト項目番号」が「4」のテスト項目の情報がそのまま保存される。   The input data range with the integrated test item number “1” is “50 <x <65” as in the integrated test item storage unit 133 in FIG. On the other hand, the input data range in which the test item is “4” is “x> 100” as shown in FIG. Therefore, there is no common input data range. For this reason, the process shown in step S210 of FIG. 5 is performed, and the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. 9C adds the largest number of existing integrated test item numbers to “1”. The information of the test item with the item number “2” and the “test item number” “4” is stored as it is.

同図(B)に示すテスト項目対応テーブル132には、テスト項目記憶部131と、統合テスト項目記憶部133とを紐付ける情報としてテスト項目番号が「4」と、統合化テスト項目番号が「2」と、対象ソフトウェアモジュール「ソフトウェアモジュールA」とが登録される。   In the test item correspondence table 132 shown in FIG. 5B, the test item number “4” and the integrated test item number “3” are information associating the test item storage unit 131 and the integrated test item storage unit 133. 2 ”and the target software module“ software module A ”are registered.

図5のステップS209またはステップS210に示す処理を実施した後は、ステップS205を経由してステップS206の処理に戻る。そして、ステップS204で選択したソフトウェアモジュールに関するすべてのテスト項目について、ステップS206からステップS210までの処理を実施することになる。   After performing the process shown in step S209 or step S210 of FIG. 5, the process returns to step S206 via step S205. Then, the processing from step S206 to step S210 is performed for all the test items related to the software module selected in step S204.

ステップS204で選択した未検討のソフトウェアモジュールに対するテスト項目の統合化検討がすべて終わった後は(ステップS205:Y)、ステップS202経由でステップS204に処理が戻る。このようにして、残りのソフトウェアモジュールについても同様にステップS205〜ステップS210の処理が実施されることになる。   After all the test item integration studies for the unexamined software modules selected in step S204 are completed (step S205: Y), the process returns to step S204 via step S202. In this way, the processing from step S205 to step S210 is similarly performed for the remaining software modules.

図1に示した統合化テスト項目表示部126は、図4に示した統合化テスト項目記憶部133から「統合化テスト項目」を読み取り、出力装置103を介してテスト設計者に提供することになる(ステップS203)。   The integrated test item display unit 126 shown in FIG. 1 reads the “integrated test item” from the integrated test item storage unit 133 shown in FIG. 4 and provides it to the test designer via the output device 103. (Step S203).

以上説明した本実施の形態のソフトウェアテスト項目編集支援装置100によれば、複数のテスト項目の共通した入力データ範囲を1つのテスト項目で実施できるように調整し、統合している。この結果としてテストの実施数を実質的に減らすことができ、テスト工数を削減することができるという効果がある。   According to the software test item editing support apparatus 100 of the present embodiment described above, the input data range common to a plurality of test items is adjusted and integrated so that it can be implemented with one test item. As a result, the number of test executions can be substantially reduced, and the test man-hours can be reduced.

<本発明の変形可能性>   <Possibility of deformation of the present invention>

図10は、本発明の第1の変形例におけるソフトウェアテスト項目編集支援装置の構成を表わしたものである。図10で図1と同一部分には同一の符号を付しており、これらの説明を適宜省略する。   FIG. 10 shows the configuration of the software test item editing support apparatus in the first modification of the present invention. 10, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.

この第1の変形例のソフトウェアテスト項目編集支援装置100Aでは、データ処理装置102Aが新たにテストプログラム生成部127を備えている。また、データ処理装置102Aは、この第1の変形例に対処するためのソフトウェアモジュールとしての制御プログラムを格納したメモリ112Aを有する制御部113Aを備えている。テストプログラム生成部127がソフトウェアで機能的に実現されるものであってもよいことは当然である。   In the software test item editing support apparatus 100A of the first modification, the data processing apparatus 102A newly includes a test program generation unit 127. Further, the data processing apparatus 102A includes a control unit 113A having a memory 112A that stores a control program as a software module for dealing with the first modification. Of course, the test program generation unit 127 may be functionally realized by software.

テストプログラム生成部127は、統合化された新しいテスト項目に対し、テストプログラムを作成するようになっている。テスト設計者は、このソフトウェアテスト項目編集支援装置100Aを用いることで、テスト項目の統合だけでなく、統合後のテスト項目を実行するためのテストプログラムの作成も行うことができる。   The test program generator 127 creates a test program for the new integrated test item. By using this software test item editing support apparatus 100A, the test designer can not only integrate test items but also create a test program for executing the test items after integration.

図11は、本発明の第2の変形例におけるソフトウェアテスト項目編集支援装置の構成を表わしたものである。図11で図1と同一部分には同一の符号を付しており、これらの説明を適宜省略する。   FIG. 11 shows the configuration of the software test item editing support apparatus in the second modification of the present invention. In FIG. 11, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.

この第2の変形例のソフトウェアテスト項目編集支援装置100Bでは、データ処理装置102Bが新たにソフトウェアモジュールとしてのプログラムを登録するプログラム登録部128と、登録されたプログラムの解析を行うプログラム解析部129を備えている。また、データ処理装置102Bは、この第2の変形例に対処するための制御プログラムを格納したメモリ112Bを有する制御部113Bを備えている。プログラム登録部128とプログラム解析部129の全部または一部がハードウェアで機能的に実現されるものであってもよいことは先の実施の形態と同一である。   In the software test item editing support device 100B of the second modification, the data processing device 102B includes a program registration unit 128 for newly registering a program as a software module, and a program analysis unit 129 for analyzing the registered program. I have. Further, the data processing apparatus 102B includes a control unit 113B having a memory 112B that stores a control program for coping with the second modification. It is the same as the previous embodiment that all or part of the program registration unit 128 and the program analysis unit 129 may be functionally realized by hardware.

プログラム解析部129は、周知の手法でプログラムを解析して、「テスト項目番号」、「入力データ範囲」および「出力」といったテスト項目を抽出する。これについての具体的な説明は省略する。   The program analysis unit 129 analyzes the program by a known method, and extracts test items such as “test item number”, “input data range”, and “output”. A specific description of this will be omitted.

このように第2の変形例のソフトウェアテスト項目編集支援装置100Bでは、テスト設計者がプログラム登録部128を使用してプログラムを登録することができるようになっている。プログラム解析部129は、プログラムからテスト項目を直接抽出する。データ処理装置102Bでこれ以外の回路部分は、先の実施の形態と同一である。   Thus, in the software test item editing support apparatus 100B of the second modified example, the test designer can register the program using the program registration unit 128. The program analysis unit 129 directly extracts test items from the program. Other circuit portions of the data processing apparatus 102B are the same as those of the previous embodiment.

なお、実施の形態およびこれらの変形例では、ソフトウェアモジュールに本発明を適用した例を説明したが、ソフトウェアモジュール以外の一般的なソフトウェアにも本発明を適用することができる。   In the embodiments and the modifications thereof, examples in which the present invention is applied to software modules have been described. However, the present invention can also be applied to general software other than software modules.

本発明の一実施の形態によるソフトウェアテスト項目編集支援装置の構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the structure of the software test item edit assistance apparatus by one embodiment of this invention. 本実施の形態でテスト項目記憶部の一例を具体的に示した説明図である。It is explanatory drawing which showed an example of the test item memory | storage part concretely in this Embodiment. 本実施の形態でテスト項目対応テーブルの一例を具体的に表わした説明図である。It is explanatory drawing which represented specifically an example of the test item corresponding | compatible table in this Embodiment. 本実施の形態で統合化テスト項目記憶部の記憶内容の一例を具体的に表わした説明図である。It is explanatory drawing which represented specifically an example of the memory content of the integrated test item memory | storage part in this Embodiment. 本実施の形態のソフトウェアテスト項目編集支援装置の全体的な処理を示す流れ図である。It is a flowchart which shows the whole process of the software test item edit assistance apparatus of this Embodiment. 本実施の形態の図5のステップS204でソフトウェアモジュールAを選択し、ステップS206で最初に検討するテスト項目としてテスト項目番号「1」を選択した場合の装置の動作を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows operation | movement of an apparatus when the software module A is selected by step S204 of FIG. 5 of this Embodiment, and test item number "1" is selected as a test item examined first by step S206. 図6の例の次に図5のステップS206でテスト項目番号の「2」を検討するテスト項目として選択した場合における装置の動作を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing the operation of the apparatus when the test item number “2” is selected as a test item to be examined in step S206 of FIG. 5 following the example of FIG. 図7の例の次に図5のステップS206でテスト項目番号の「3」を検討するテスト項目として選択した場合における装置の動作を示す説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram showing the operation of the apparatus when “3” of the test item number is selected as a test item to be examined in step S206 of FIG. 5 following the example of FIG. 図8の例の次に図5のステップS206でテスト項目番号の「4」を検討するテスト項目として選択した場合における装置の動作を示す説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram showing the operation of the apparatus when the test item number “4” is selected as a test item to be examined in step S206 of FIG. 5 following the example of FIG. 本発明の第1の変形例におけるソフトウェアテスト項目編集支援装置の構成を表わしたブロック図である。It is a block diagram showing the structure of the software test item edit assistance apparatus in the 1st modification of this invention. 本発明の第2の変形例におけるソフトウェアテスト項目編集支援装置の構成を表わしたブロック図である。It is a block diagram showing the structure of the software test item edit assistance apparatus in the 2nd modification of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

100、100A、100B ソフトウェアテスト項目編集支援装置
101 入力装置
102、102A、102B データ処理装置
103 出力装置
104 記憶装置
111 CPU
112、112A、112B メモリ
121 テスト項目登録部
122 統合化ソフトウェアモジュール候補選択部
123 統合化テスト項目候補選択部
124 共通入力データ範囲検討部
125 統合化候補テスト項目登録部
126 統合化テスト項目表示部
127 テストプログラム生成部
128 プログラム登録部
129 プログラム解析部
131 テスト項目記憶部
132 テスト項目対応テーブル
133 統合化テスト項目記憶部
100, 100A, 100B Software test item editing support device 101 Input device 102, 102A, 102B Data processing device 103 Output device 104 Storage device 111 CPU
112, 112A, 112B Memory 121 Test item registration unit 122 Integrated software module candidate selection unit 123 Integrated test item candidate selection unit 124 Common input data range examination unit 125 Integration candidate test item registration unit 126 Integrated test item display unit 127 Test program generation unit 128 Program registration unit 129 Program analysis unit 131 Test item storage unit 132 Test item correspondence table 133 Integrated test item storage unit

Claims (7)

ソフトウェアのテストに使用するテスト項目のうち予め定めた複数のソフトウェアのテスト時に統合化の検討対象となるテスト項目をそれぞれ記憶するテスト項目記憶手段と、
このテスト項目記憶手段に記憶されたテスト項目ごとに前記予め定めた複数のソフトウェアにおける対応するソフトウェアと入力データ範囲を予め対応付けて対応表として記憶した対応表記憶手段と、
前記テスト項目記憶手段に記憶されたテスト項目ごとに前記対応表を用いて入力データ範囲を比較し、前記予め定めた複数のソフトウェアの少なくとも一部で共通の入力データ範囲が存在するかを判別するテスト項目別比較手段と、
このテスト項目別比較手段で共通の入力データ範囲が存在すると判別されたテスト項目を1つの統合化テスト項目としてまとめることでテスト項目の統合化の編集を行うテスト項目編集手段
とを具備することを特徴とするソフトウェアテスト項目編集支援装置。
Test item storage means for storing test items to be considered for integration when testing a plurality of predetermined software among test items used for software testing,
Correspondence table storage means for previously storing corresponding software and input data ranges in the plurality of predetermined software for each test item stored in the test item storage means and storing them as a correspondence table;
The input data ranges are compared using the correspondence table for each test item stored in the test item storage means, and it is determined whether or not a common input data range exists in at least a part of the plurality of predetermined software. Comparison means by test item,
Test item editing means for editing the integration of test items by combining the test items determined to have a common input data range by the test item comparison means as one integrated test item. Feature software test item editing support device.
前記ソフトウェアは、ソフトウェア部品としてのソフトウェアモジュールであることを特徴とする請求項1記載のソフトウェアテスト項目編集支援装置。   The software test item editing support apparatus according to claim 1, wherein the software is a software module as a software component. 前記テスト項目編集手段で編集する前のテスト項目と編集後のテスト項目の関連を表わしたテスト項目対応テーブルを具備することを特徴とする請求項1記載のソフトウェアテスト項目編集支援装置。   2. The software test item editing support apparatus according to claim 1, further comprising a test item correspondence table representing a relationship between a test item before editing by the test item editing means and a test item after editing. 前記テスト項目別比較手段で複数のテスト項目について共通の入力データ範囲が存在したとき、前記共通の入力データ範囲と一致する入力データ範囲を持ったテスト項目を前記統合化テスト項目とすることを特徴とする請求項1記載のソフトウェアテスト項目編集支援装置。 When a common input data range exists for a plurality of test items in the test item comparison means, a test item having an input data range that matches the common input data range is set as the integrated test item. The software test item editing support apparatus according to claim 1. 前記統合化テスト項目に対して、テストプログラムを作成するテストプログラム生成手段を具備することを特徴とする請求項1記載のソフトウェアテスト項目編集支援装置。 2. The software test item editing support apparatus according to claim 1, further comprising test program generation means for creating a test program for the integrated test item. 前記テスト項目の統合化の対象となるソフトウェアモジュールを登録するソフトウェアモジュール登録手段と、このソフトウェアモジュール登録手段の登録したソフトウェアモジュールからテスト項目を抽出するテスト項目抽出手段とを具備することを特徴とする請求項2記載のソフトウェアテスト項目編集支援装置。 Software module registration means for registering software modules to be integrated with the test items, and test item extraction means for extracting test items from the software modules registered by the software module registration means. The software test item editing support apparatus according to claim 2 . ソフトウェアのテストに使用するテスト項目のうち予め定めた複数のソフトウェアのテスト時に、所定の制御プログラムを実行するCPUが、統合化の検討対象となるテスト項目を、記憶装置内に設けたテスト項目記憶手段にそれぞれ記憶するテスト項目記憶ステップと、Test item storage in which a test item to be examined for integration is stored in a storage device by a CPU that executes a predetermined control program when testing a plurality of predetermined software items among test items used for software testing A test item storage step for storing each in the means;
このテスト項目記憶ステップで前記テスト項目記憶手段に記憶されたテスト項目ごとに前記予め定めた複数のソフトウェアにおける対応するソフトウェアと入力データ範囲を、前記CPUが、前記記憶装置内に設けた対応表記憶手段に予め対応付けて対応表として記憶する対応表記憶ステップと、Correspondence table storage provided in the storage device by the CPU with corresponding software and input data ranges in the plurality of predetermined software for each test item stored in the test item storage means in the test item storage step A correspondence table storing step for storing the correspondence table in advance as a correspondence table;
前記テスト項目記憶ステップで前記テスト項目記憶手段に記憶したテスト項目ごとに前記CPUが、前記対応表を用いて入力データ範囲を比較することで、前記予め定めた複数のソフトウェアの少なくとも一部で共通の入力データ範囲が存在するかを判別するテスト項目別比較ステップと、For each test item stored in the test item storage means in the test item storage step, the CPU compares the input data range using the correspondence table, so that it is common to at least a part of the predetermined plurality of software. A test item comparison step for determining whether or not the input data range exists,
このテスト項目別比較ステップで共通の入力データ範囲が存在すると判別されたテスト項目を前記CPUが、1つの統合化テスト項目としてまとめることでテスト項目の統合化の編集を行うテスト項目編集ステップTest item editing step in which the CPU edits the integration of test items by combining the test items determined to have a common input data range in the test item comparison step as one integrated test item
とを具備することを特徴とするソフトウェアテスト項目編集支援方法。And a software test item editing support method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6658297B2 (en) * 2016-05-19 2020-03-04 富士通株式会社 Test case generation method, test case generation program and test case generation device
WO2018083515A1 (en) 2016-11-02 2018-05-11 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Computer system, test method, and recording medium
WO2019229883A1 (en) * 2018-05-30 2019-12-05 三菱電機株式会社 Test device, test method, and test program

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02287737A (en) * 1989-04-28 1990-11-27 Nec Corp Automatic designing system for test item
JPH05197590A (en) * 1992-01-21 1993-08-06 Pfu Ltd Display processing system for software test item
JP2762934B2 (en) * 1994-07-29 1998-06-11 日本電気株式会社 Test item design support system
JP2004145594A (en) * 2002-10-24 2004-05-20 Hitachi Eng Co Ltd Automatic functional test procedure generation method and generation system
JP2005332098A (en) * 2004-05-19 2005-12-02 Nec Corp Testing item extraction system, testing item extraction device, testing item extraction method used for the device, and program therefor
JP2007193504A (en) * 2006-01-18 2007-08-02 Hitachi Information Systems Ltd Test case preparation method, test case preparation system and test case preparation program

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