JP5151171B2 - Microscope image processing system and microscope image processing method - Google Patents

Microscope image processing system and microscope image processing method Download PDF

Info

Publication number
JP5151171B2
JP5151171B2 JP2007027227A JP2007027227A JP5151171B2 JP 5151171 B2 JP5151171 B2 JP 5151171B2 JP 2007027227 A JP2007027227 A JP 2007027227A JP 2007027227 A JP2007027227 A JP 2007027227A JP 5151171 B2 JP5151171 B2 JP 5151171B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
processing
post
spectrum
spectral
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007027227A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2008191505A (en
Inventor
陽子 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2007027227A priority Critical patent/JP5151171B2/en
Publication of JP2008191505A publication Critical patent/JP2008191505A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5151171B2 publication Critical patent/JP5151171B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

本発明は、顕微鏡画像処理システムおよび顕微鏡画像処理方法に関するものである。   The present invention relates to a microscope image processing system and a microscope image processing method.

生物学や医学の分野において、標本にレーザ光を照射し、標本から発せられる蛍光をスペクトルに分解して観察する、スペクトルレーザ顕微鏡が広く使用されている。標本から発せられる蛍光は、蛍光試薬の種類、励起する波長など様々な条件に依存して、特定のスペクトル成分を有する光として発せられる。したがって、標本から発せられる蛍光のスペクトル成分を観察することにより、標本内の物質の存在、状態、反応などを確認することができる。   In the fields of biology and medicine, a spectrum laser microscope is widely used in which a specimen is irradiated with laser light and fluorescence emitted from the specimen is decomposed into a spectrum and observed. Fluorescence emitted from a specimen is emitted as light having a specific spectral component depending on various conditions such as the type of fluorescent reagent and the wavelength to be excited. Therefore, by observing the spectral component of the fluorescence emitted from the specimen, the presence, state, reaction, etc. of the substance in the specimen can be confirmed.

スペクトル成分を観察した結果を、標本の2次元画像と組み合わせて表示することが行われている(たとえば、特許文献1)。   The result of observing spectral components is displayed in combination with a two-dimensional image of a sample (for example, Patent Document 1).

また、スペクトル成分を、後処理によって、所定の帯域に分類したバンドパスデータなどに加工し、たとえば、標本の2次元画像と組み合わせて表示することも行われている。このように、スペクトル成分を平均化するなど、後処理によって加工したデータを、本明細書において後処理加工データと呼称する。   Further, the spectral components are processed into band pass data classified into a predetermined band by post-processing and displayed in combination with, for example, a two-dimensional image of a sample. Data processed by post-processing such as averaging spectral components in this way is referred to as post-processed data in this specification.

特開昭58-200209号公報JP 58-200209 A

後処理加工データを作成する際には、スペクトル成分を平均化するなど、後処理加工を行った結果のみが利用される。ここで、後処理加工データは、元のスペクトル成分のデータとはリンクされていなかった。したがって、顕微鏡の利用者(以下、ユーザと呼称する)は、後処理加工データ画面において、後処理加工データが特徴を持つ特定の領域のスペクトルデータを参照することはできなかった。   When creating post-processed data, only the results of post-processing such as averaging the spectral components are used. Here, the post-processing processed data is not linked to the original spectral component data. Therefore, the user of the microscope (hereinafter referred to as a user) cannot refer to the spectral data of a specific region characterized by the post-processing processed data on the post-processing processed data screen.

後処理加工データ画面において、後処理加工データが特徴を持つ特定の領域のスペクトルデータを作成することのできる顕微鏡画像処理システム、および顕微鏡画像処理方法に対するニーズがある。   There is a need for a microscope image processing system and a microscope image processing method capable of creating spectral data of a specific region characterized by post-processing processed data on the post-processing processed data screen.

本発明の第1の態様による顕微鏡画像処理システムは、光源からの走査光を観察試料に照射したときに試料の照射部位ごとに検出された観察試料のスペクトルデータと、前記スペクトルデータが検出された前記試料中の照射部位の位置情報を収集するスペクトルデータ収集手段と、前記スペクトルデータと前記位置情報を格納するスペクトルデータ格納手段と、前記スペクトルデータを処理し、後処理加工データを作成し、後処理加工データ画面を作成する後処理加工データ画面作成手段と、前記後処理加工データを格納する後処理加工データ格納手段と、前記後処理加工データ画面において特定された領域の対応するスペクトルデータを前記位置情報を基にスペクトルデータ格納手段から読み出すか、或いは作成する特定領域スペクトル読み出し・作成手段と、を備えることを特徴とする。
本発明の第2の態様による顕微鏡画像処理システムは、光源からの走査光を観察試料に照射したときに試料の照射部位に対応する顕微鏡画像面の画素位置ごとに検出された観察試料のスペクトルデータと、前記スペクトルデータが検出された前記試料中の照射部位に対応する顕微鏡画像面の画素位置の位置情報を収集するスペクトルデータ収集手段と、前記スペクトルデータと前記位置情報を格納するスペクトルデータ格納手段と、前記スペクトルデータを処理し、後処理加工データを作成し、後処理加工データ画面を作成する後処理加工データ画面作成手段と、前記後処理加工データを格納する後処理加工データ格納手段と、前記後処理加工データ画面において特定された領域の対応するスペクトルデータを前記位置情報を基にスペクトルデータ格納手段から読み出すか、或いは作成する特定領域スペクトル読み出し・作成手段と、を備えることを特徴とする。
In the microscope image processing system according to the first aspect of the present invention , when the observation light is irradiated with the scanning light from the light source , the spectral data of the observation sample detected for each irradiation portion of the sample and the spectrum data are detected. Spectral data collection means for collecting position information of an irradiation site in the sample, spectrum data storage means for storing the spectrum data and the position information, processing the spectrum data, creating post-processing processed data, the post-processing processing data screen creation means for creating a treatment processing data screen, and post-processed data storing means for storing the post processed data, the corresponding spectral data of the area identified in the post processed data screen Read from the spectrum data storage means based on the position information or create a specific area spectrum read Characterized in that it comprises the out-creating means.
The microscope image processing system according to the second aspect of the present invention is the spectral data of the observation sample detected for each pixel position on the microscope image surface corresponding to the irradiation site of the sample when the observation sample is irradiated with the scanning light from the light source. Spectrum data collecting means for collecting position information of pixel positions on a microscope image plane corresponding to an irradiation site in the sample from which the spectrum data is detected, spectrum data storing means for storing the spectrum data and the position information Processing the spectrum data, creating post-processing processing data, post-processing processing data screen creation means for creating a post-processing processing data screen, post-processing processing data storage means for storing the post-processing processing data, spectrum corresponding to the spectral data of the specified region in the post processed data screen on the basis of the position information Or read from over data storage unit, or a specific region spectrum read-generating means for generating, characterized in that it comprises a.

本発明の第3の態様による顕微鏡画像処理方法は、光源からの走査光を観察試料に照射したときに試料の照射部位ごとに検出された観察試料のスペクトルデータと、前記スペクトルデータが検出された前記試料中の照射部位の位置情報を収集するステップと、前記スペクトルデータと前記位置情報を格納するステップと、前記スペクトルデータを処理し、後処理加工データを作成し、後処理加工データ画面を作成するステップと、前記後処理加工データ画面において特定された領域の対応するスペクトルデータを前記位置情報を基に読み出すか、或いは作成するステップと、を含むことを特徴とする。 In the microscope image processing method according to the third aspect of the present invention , when the observation sample is irradiated with the scanning light from the light source , the spectrum data of the observation sample detected for each irradiated portion of the sample and the spectrum data are detected. A step of collecting position information of an irradiation site in the sample; a step of storing the spectrum data and the position information; and processing the spectrum data to generate post-processing processing data and generating a post-processing processing data screen And a step of reading or creating corresponding spectrum data of the region specified on the post-processing processed data screen based on the position information.

本発明によれば、検出された観察試料のスペクトルデータと、前記スペクトルデータが検出された前記試料中の位置情報を格納しているので、後処理加工データ画面において特定された領域のスペクトルデータを、前記位置情報を基に作成することができる。したがって、ユーザは後処理加工データ画面に表示された情報と関連するスペクトルデータを参照することができ、有効な解析を行うことができる。   According to the present invention, since the spectrum data of the detected observation sample and the position information in the sample where the spectrum data is detected are stored, the spectrum data of the area specified in the post-processing processed data screen is stored. , And can be created based on the position information. Therefore, the user can refer to the spectrum data related to the information displayed on the post-processing processed data screen, and can perform an effective analysis.

本発明によれば、後処理加工データ画面において、後処理加工データが特徴を持つ特定の領域のスペクトルデータを作成することのできる顕微鏡画像処理システム、および顕微鏡画像処理方法が得られる。   According to the present invention, it is possible to obtain a microscope image processing system and a microscope image processing method capable of creating spectrum data of a specific region characterized by post-processing processing data on the post-processing processing data screen.

図1は、本発明の一実施形態によるスペクトルレーザ顕微鏡の構成図を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a spectral laser microscope according to an embodiment of the present invention.

図1において、本実施形態によるスペクトルレーザ顕微鏡は、レーザ顕微鏡本体300、スペクトルディテクタ200およびレーザ顕微鏡コントローラ100から構成されている。   In FIG. 1, the spectrum laser microscope according to the present embodiment includes a laser microscope main body 300, a spectrum detector 200, and a laser microscope controller 100.

レーザ顕微鏡本体300は、ステージ309に置かれた標本に照射する励起光を発するレーザ光源301と、レーザ光源301からのレーザ光を平行光とするコリメートレンズ303と、レーザ光を標本に向けて反射し、標本からの蛍光を透過するダイクロックミラー305と、ダイクロックミラー305とステージ309との間に配置された、XYスキャナ311および対物レンズ307と、を含む。   The laser microscope main body 300 includes a laser light source 301 that emits excitation light that irradiates a specimen placed on a stage 309, a collimator lens 303 that collimates the laser light from the laser light source 301, and reflects the laser light toward the specimen. And a dichroic mirror 305 that transmits fluorescence from the specimen, and an XY scanner 311 and an objective lens 307 disposed between the dichroic mirror 305 and the stage 309.

スペクトルデータ検出手段であるスペクトルディテクタ200は、分光素子201と、マルチチャネル光検出器203と、光信号サンプリング回路205と、を含む。レーザ顕微鏡本体300の光学系とスペクトルディテクタ200の光学系とは、図示しない光学系によって接続されている。   The spectral detector 200 as spectral data detection means includes a spectroscopic element 201, a multichannel photodetector 203, and an optical signal sampling circuit 205. The optical system of the laser microscope main body 300 and the optical system of the spectrum detector 200 are connected by an optical system (not shown).

図2は、マルチチャンネル光検出器203の出力であるスペクトル成分(輝度値)を示す図である。マルチチャンネル光検出器203は、n個のチャンネルを備える。したがって、レーザを照射する標本の各部に対応してn個の出力値が得られる。   FIG. 2 is a diagram illustrating a spectral component (luminance value) that is an output of the multichannel photodetector 203. The multi-channel photodetector 203 has n channels. Therefore, n output values are obtained corresponding to each part of the sample irradiated with the laser.

顕微鏡コントローラ100は、光信号サンプリング回路205から各チャネルのスペクトル成分を受け取り、画像データとして処理する顕微鏡画像処理システム110と、装置制御回路120と、装置制御回路120の指令によりXYスキャナ311を駆動する、XYスキャナ駆動回路140と、装置制御回路120の指令によりマルチチャンネル光検出器203に電圧を供給する高圧電源130と、を含む。顕微鏡画像処理システム110は、顕微鏡画像を表示する表示装置115を備える。   The microscope controller 100 receives the spectral components of each channel from the optical signal sampling circuit 205 and drives the XY scanner 311 according to instructions from the microscope image processing system 110, the apparatus control circuit 120, and the apparatus control circuit 120 that process them as image data. , An XY scanner driving circuit 140, and a high-voltage power supply 130 that supplies a voltage to the multichannel photodetector 203 according to a command from the apparatus control circuit 120. The microscope image processing system 110 includes a display device 115 that displays a microscope image.

図3は、本発明の一実施形態による顕微鏡画像処理システム110の構成を示す図である。顕微鏡画像処理システム110は、スペクトルデータ収集部1010と、スペクトルデータ格納部1030と、後処理加工データ画面作成部1050と、特定領域スペクトル作成部1070と、後処理加工データ格納部1090と、を備える。   FIG. 3 is a diagram showing a configuration of the microscope image processing system 110 according to the embodiment of the present invention. The microscope image processing system 110 includes a spectrum data collection unit 1010, a spectrum data storage unit 1030, a post-processing processed data screen generation unit 1050, a specific region spectrum generation unit 1070, and a post-processing processed data storage unit 1090. .

図4は、本発明の一実施形態による顕微鏡画像処理システム110の処理を示す流れ図である。   FIG. 4 is a flowchart showing the processing of the microscope image processing system 110 according to an embodiment of the present invention.

図4のステップS4010において、顕微鏡画像処理システム110のスペクトルデータ収集部1010は、スペクトルデータを収集する。より詳細に、スペクトルデータ収集部1010は、光信号サンプリング回路205から各チャネルのスペクトル成分を受け取るとともに、装置制御回路120から、画素位置データを受け取る。画素位置は、XYスキャナ311のスキャン位置に対応する。本明細書において、XYスキャナ311のスキャン位置に対応する画素位置を、原画面の画素位置と呼称する。チャネル数はn個であるので、原画面の画素位置ごとにn個のスペクトルデータが得られる。画面の画素数は、一例として、
512×512
個である。
In step S4010 of FIG. 4, the spectrum data collection unit 1010 of the microscope image processing system 110 collects spectrum data. More specifically, the spectral data collection unit 1010 receives the spectral components of each channel from the optical signal sampling circuit 205 and also receives the pixel position data from the device control circuit 120. The pixel position corresponds to the scan position of the XY scanner 311. In this specification, a pixel position corresponding to the scan position of the XY scanner 311 is referred to as a pixel position on the original screen. Since the number of channels is n, n pieces of spectral data are obtained for each pixel position on the original screen. As an example, the number of pixels on the screen
512x512
It is a piece.

図4のステップS4020において、スペクトルデータ収集部1010は、スペクトルデータを、スペクトルデータ格納部1030に格納する。   In step S4020 of FIG. 4, the spectrum data collection unit 1010 stores the spectrum data in the spectrum data storage unit 1030.

図5は、スペクトルデータ格納部1030のデータ構造を示す図である。スペクトルデータ格納部1030は、原画面の画素位置ごとにn個のスペクトルデータを格納する。   FIG. 5 is a diagram illustrating a data structure of the spectrum data storage unit 1030. The spectrum data storage unit 1030 stores n pieces of spectrum data for each pixel position on the original screen.

図4のステップS4030において、後処理加工データ画面作成部1050は、スペクトルデータ収集部1010に格納されたスペクトルデータに基づいて、後処理加工データ画面を作成する。   In step S4030 of FIG. 4, the post-processing processed data screen creation unit 1050 creates a post-processing processed data screen based on the spectrum data stored in the spectrum data collection unit 1010.

以下に、後処理加工データの処理方法の具体例について説明する。   Below, the specific example of the processing method of post-processing process data is demonstrated.

バンドパスデータ処理は、nチャンネルのスペクトル成分を、より小さい数のバンド(帯域)にまとめる処理である。一例として、3個の帯域にまとめて、標本の2次元画像と重ねて、3色で後処理加工データ画面に表示してもよい。   The band pass data process is a process for collecting n-channel spectral components into a smaller number of bands. As an example, three bands may be combined and displayed on the post-processing processed data screen in three colors, superimposed on a two-dimensional image of the specimen.

スペクトル成分の比による処理(Ratio処理)は、画素ごとに、2個の、特定の波長におけるスペクトル成分の比を求める処理である。一例として、比の大きさを色に対応させて、標本の2次元画像と重ねて、後処理加工データ画面にとして表示してもよい。   The processing based on the ratio of spectral components (Ratio processing) is processing for obtaining the ratio of two spectral components at a specific wavelength for each pixel. As an example, the magnitude of the ratio may correspond to the color, and may be displayed on the post-processing processed data screen superimposed on the two-dimensional image of the specimen.

スペクトル成分の相関処理(Colocalization処理)は、2個の、特定の波長におけるスペクトル成分の相関を求める処理である。一例として、横軸によって一方の特定の波長におけるスペクトル成分を表し、縦軸に他方の特定の波長におけるスペクトル成分を表すように、後処理加工データ画面に表示してもよい。   Spectral component correlation processing (Colocalization processing) is processing for obtaining a correlation between two spectral components at a specific wavelength. As an example, a spectral component at one specific wavelength may be represented on the horizontal axis, and a spectral component at the other specific wavelength may be represented on the vertical axis.

スペクトル成分を要因に分解する処理(Unmixing処理)は、複数の要因によって生じたスペクトルパターンを個々の要因によるスペクトルパターンに分解する処理である。個々の要因とは、たとえば、複数の波長の励起光などである。図9の(a)は、複数の要因によって生じたスペクトルパターンYを示す図であり、図9の(b)は、個々の要因によるスペクトルパターンYa、YbおよびYcを示す図である。演算によって以下の式を満たすa、bおよびcを求める。

Figure 0005151171
The process of decomposing a spectrum component as a factor (Unmixing process) is a process of decomposing a spectrum pattern caused by a plurality of factors into a spectrum pattern due to individual factors. Each factor is, for example, excitation light having a plurality of wavelengths. FIG. 9A is a diagram showing a spectrum pattern Y generated by a plurality of factors, and FIG. 9B is a diagram showing spectrum patterns Ya, Yb and Yc caused by individual factors. A, b, and c satisfying the following expressions are obtained by calculation.
Figure 0005151171

一例として、a、bおよびcのそれぞれを、標本の2次元画像と重ねて、後処理加工データ画面に表示してもよい。   As an example, each of a, b, and c may be displayed on the post-processing processed data screen so as to overlap the two-dimensional image of the specimen.

後処理加工データ画面作成部1050は、たとえば、上記の処理方法によって作成した後処理加工データを後処理加工データ格納部1090に格納する。   The post-processing processed data screen creation unit 1050 stores, for example, post-processing processed data created by the above processing method in the post-processing processed data storage unit 1090.

図6は、後処理加工データ格納部1090のデータ構造を示す図である。後処理加工データ格納部1090は、後処理加工データ画面の画素位置ごとに、当該画素位置に対応する後処理加工データを格納する。後処理加工データ格納部1090は、さらに、後処理加工データ画面の画素位置ごとに、対応する原画面の画素位置を格納する。後処理加工データ画面の画素位置が原画面の画素位置と同じ場合には、後処理加工データ画面の画素位置を原画面の画素位置として使用してもよい。又、後処理加工データ格納時に対応する画素位置を格納しているが、必ずしも必須ではなく、例えば、スペクトルデータ格納時のみ画素位置をも格納しておき、後処理加工データを表示し、表示された画像上にユーザが例えば座標を指示し、スペクトルデータを読み出してもよい。   FIG. 6 is a diagram showing a data structure of the post-processing processed data storage unit 1090. The post-processing processing data storage unit 1090 stores post-processing processing data corresponding to the pixel position for each pixel position on the post-processing processing data screen. The post-processing processed data storage unit 1090 further stores a corresponding pixel position of the original screen for each pixel position of the post-processed processed data screen. When the pixel position on the post-processing processed data screen is the same as the pixel position on the original screen, the pixel position on the post-processed data screen may be used as the pixel position on the original screen. Also, the corresponding pixel position is stored at the time of post-processing processing data storage, but it is not always necessary. For example, the pixel position is also stored only at the time of storing spectrum data, and the post-processing processing data is displayed and displayed. For example, the user may specify the coordinates on the image and read the spectrum data.

図4のステップS4040において、特定領域スペクトル作成部1070は、後処理加工データ画面上で指定された特定領域のスペクトルを作成する。より詳細に、特定領域スペクトル作成部1070は、後処理加工データ格納部1090の、後処理加工データ画面上で指定された特定領域に対応する後処理加工データ画面の画素位置のデータにアクセスし、対応する原画面の画素位置を求める。つぎに、特定領域スペクトル作成部1070は、当該原画面の画素位置に基づいて、スペクトルデータ格納部1030にアクセスし、特定領域のスペクトルデータを求める。特定領域のスペクトルデータは、対応する画素のスペクトルデータを平均して求めてもよい。   In step S4040 of FIG. 4, the specific region spectrum creation unit 1070 creates a spectrum of the specific region specified on the post-processing processed data screen. More specifically, the specific region spectrum creation unit 1070 accesses the data of the pixel position of the post-processing processed data screen corresponding to the specific region specified on the post-processing processed data screen of the post-processing processed data storage unit 1090, The pixel position of the corresponding original screen is obtained. Next, the specific region spectrum creation unit 1070 accesses the spectrum data storage unit 1030 based on the pixel position of the original screen, and obtains spectral data of the specific region. The spectral data of the specific region may be obtained by averaging the spectral data of the corresponding pixels.

後処理加工データ画面上で特定領域を指定するには、四角形や円などの表示を画面上に設け、ユーザが、その表示をクリックやドラッグして所望の位置に所望の大きさで配置できるようにしてもよい。本実施の形態では、画素位置で位置情報を把握しているが、その他、座標を設け、座標により位置情報を把握してもよい。   In order to specify a specific area on the post-processing data screen, a display such as a rectangle or a circle is provided on the screen so that the user can click or drag the display and place it in a desired size at a desired position. It may be. In the present embodiment, the position information is grasped by the pixel position, but other coordinates may be provided and the position information may be grasped by the coordinates.

図7は、横軸によって一方の特定の波長Siにおけるスペクトル成分を表し、縦軸に他方の特定の波長Sjにおけるスペクトル成分を表すように後処理加工データ画面(相関処理画面)を示す図であり、Scatterグラムと称する。これは2次画像上、枠で囲んだ部分のデータの分布を見るものである。本発明によれば、後処理加工データ画面において、図7に円形で示したような特定の領域を指定してスペクトルデータを参照することができる。これにより、例えば、図9(b)に示したUnmixing処理後のスペクトルデータとUnmixing処理前のスペクトルデータを比較する場合に有効である。   FIG. 7 is a diagram showing a post-processing processed data screen (correlation processing screen) so that the horizontal axis represents the spectral component at one specific wavelength Si and the vertical axis represents the spectral component at the other specific wavelength Sj. This is called the Scatter gram. This is to look at the distribution of data in the portion surrounded by a frame on the secondary image. According to the present invention, it is possible to refer to spectrum data by designating a specific region as shown by a circle in FIG. 7 on the post-processing processed data screen. This is effective, for example, when comparing the spectrum data after the unmixing process shown in FIG. 9B and the spectrum data before the unmixing process.

図8は、スペクトルデータを参照した結果を示す図である。   FIG. 8 is a diagram illustrating a result of referring to spectrum data.

従来の画像処理システムにおいては、後処理加工データ画面を表示するためのデータは、スペクトルデータ格納部1030に格納された、画素ごとのスペクトルデータとリンクされていなかった。したがって、後処理加工データ画面からスペクトルデータを参照することはできなかった。   In the conventional image processing system, the data for displaying the post-processing processed data screen is not linked to the spectral data for each pixel stored in the spectral data storage unit 1030. Therefore, spectrum data could not be referred from the post-processing processed data screen.

これに対して、本発明においては、後処理加工データ画面を表示するためのデータは、スペクトルデータ格納部1030に格納された、画素ごとのスペクトルデータとリンクされているので、後処理加工データ画面からスペクトルデータを参照することができる。   On the other hand, in the present invention, the data for displaying the post-processing processed data screen is linked with the spectral data for each pixel stored in the spectral data storage unit 1030. Spectral data can be referred to.

このように、本発明によれば、後処理加工データ画面において、後処理加工データが特徴を持つ特定の領域のスペクトルを作成することができるので、ユーザが解析を行う際に有効な手段を提供することができる。   As described above, according to the present invention, since a spectrum of a specific region characterized by post-processing processed data can be created on the post-processing processed data screen, it provides an effective means for the user to perform analysis. can do.

本発明の一実施形態によるスペクトルレーザ顕微鏡の構成図を示す図である。It is a figure which shows the block diagram of the spectrum laser microscope by one Embodiment of this invention. マルチチャンネル光検出器203の出力であるスペクトル成分(輝度値)を示す図である。It is a figure which shows the spectrum component (luminance value) which is the output of the multichannel photodetector 203. FIG. 本発明の一実施形態による顕微鏡画像処理システム110の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the microscope image processing system 110 by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による顕微鏡画像処理システムの処理を示す流れ図である。It is a flowchart which shows the process of the microscope image processing system by one Embodiment of this invention. スペクトルデータ格納部のデータ構造を示す図である。It is a figure which shows the data structure of a spectrum data storage part. 後処理加工データ格納部のデータ構造を示す図である。It is a figure which shows the data structure of a post-processing process data storage part. 横軸によって一方の特定の波長Siにおけるスペクトル成分を表し、縦軸に他方の特定の波長Sjにおけるスペクトル成分を表すように後処理加工データ画面を示す図である。It is a figure which shows the post-processing process data screen so that the spectral component in one specific wavelength Si may be represented by a horizontal axis, and the spectral component in the other specific wavelength Sj may be represented on a vertical axis | shaft. スペクトルデータを参照した結果を示す図である。It is a figure which shows the result which referred spectral data. 複数の要因によって生じたスペクトルパターンY、および個々の要因によるスペクトルパターンYa、YbおよびYcを示す図である。It is a figure which shows the spectrum pattern Y produced | generated by the some factor, and the spectrum patterns Ya, Yb, and Yc by each factor.

符号の説明Explanation of symbols

1010…スペクトルデータ収集部、1030…スペクトルデータ格納部、1050…後処理加工データ画面作成部、1070…特定領域スペクトル作成部、1090…特定領域スペクトル作成部 1010: Spectrum data collection unit, 1030 ... Spectrum data storage unit, 1050 ... Post-processing processed data screen creation unit, 1070 ... Specific region spectrum creation unit, 1090 ... Specific region spectrum creation unit

Claims (8)

光源からの走査光を観察試料に照射したときに試料の照射部位ごとに検出された観察試料のスペクトルデータと、前記スペクトルデータが検出された前記試料中の照射部位の位置情報を収集するスペクトルデータ収集手段と、
前記スペクトルデータと前記位置情報を格納するスペクトルデータ格納手段と、
前記スペクトルデータを処理し、後処理加工データを作成し、後処理加工データ画面を作成する後処理加工データ画面作成手段と、
前記後処理加工データを格納する後処理加工データ格納手段と、
前記後処理加工データ画面において特定された領域の対応するスペクトルデータを前記位置情報を基にスペクトルデータ格納手段から読み出すか、或いは作成する特定領域スペクトル読み出し・作成手段と、を備えることを特徴とする、顕微鏡画像処理システム。
Spectral data that collects the spectral data of the observation sample detected for each irradiated part of the sample when the observation sample is irradiated with the scanning light from the light source, and the position information of the irradiated part in the sample from which the spectral data was detected Collecting means;
Spectrum data storage means for storing the spectrum data and the position information;
Processing the spectrum data, creating post-processing processing data, post-processing processing data screen creation means for creating a post-processing processing data screen,
Post-processing processing data storage means for storing the post-processing processing data;
A specific region spectrum reading / creating unit that reads or creates corresponding spectrum data of the region identified on the post-processing processed data screen from the spectrum data storage unit based on the position information is provided. Microscope image processing system.
光源からの走査光を観察試料に照射したときに試料の照射部位に対応する顕微鏡画像面の画素位置ごとに検出された観察試料のスペクトルデータと、前記スペクトルデータが検出された前記試料中の照射部位に対応する顕微鏡画像面の画素位置の位置情報を収集するスペクトルデータ収集手段と、
前記スペクトルデータと前記位置情報を格納するスペクトルデータ格納手段と、
前記スペクトルデータを処理し、後処理加工データを作成し、後処理加工データ画面を作成する後処理加工データ画面作成手段と、
前記後処理加工データを格納する後処理加工データ格納手段と、
前記後処理加工データ画面において特定された領域の対応するスペクトルデータを前記位置情報を基にスペクトルデータ格納手段から読み出すか、或いは作成する特定領域スペクトル読み出し・作成手段と、を備えることを特徴とする、顕微鏡画像処理システム。
And spectral data of the observation sample detected for each pixel position of the microscope image plane corresponding to the irradiated portion of the sample when irradiated with scanning light from a light source to an observation sample, irradiation of the sample to the spectral data is detected Spectral data collection means for collecting position information of the pixel position on the microscope image surface corresponding to the site ;
Spectrum data storage means for storing the spectrum data and the position information;
Processing the spectrum data, creating post-processing processing data, post-processing processing data screen creation means for creating a post-processing processing data screen,
Post-processing processing data storage means for storing the post-processing processing data;
A specific region spectrum reading / creating unit that reads or creates corresponding spectrum data of the region identified on the post-processing processed data screen from the spectrum data storage unit based on the position information is provided. Microscope image processing system.
前記後処理加工データ格納手段は、後処理加工データの位置情報を格納することを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡画像処理システム。 The post processed data storing means, a microscope image processing system according to claim 1 or 2, wherein the location information is stored in the post-treatment processing data. 前記後処理加工データ格納手段が、後処理加工データ画面の画素位置ごとに、対応するスペクトルデータの位置情報を格納することによって、前記後処理加工データと前記スペクトルデータの情報が対応付けされていることを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡画像処理システム。 The post-processing processed data storage means stores the position information of the corresponding spectral data for each pixel position on the post-processed processed data screen, thereby associating the post-processed processed data with the spectral data information. The microscope image processing system according to claim 1 or 2 , wherein 前記後処理加工データが、スペクトル成分のバンドパスデータであることを特徴とする、請求項1からのいずれか1項に記載の顕微鏡画像処理システム。 The post processing data, characterized in that it is a band-pass data of spectral components, the microscopic image processing system according to any one of claims 1 to 4. 前記後処理加工データが、2個の、特定の波長におけるスペクトル成分の比又は相関であることを特徴とする、請求項1からのいずれか1項に記載の顕微鏡画像処理システム。 The microscope image processing system according to any one of claims 1 to 4 , wherein the post-processing data is a ratio or correlation between two spectral components at a specific wavelength. 前記後処理加工データが、スペクトル成分を複数の要因に分解したものであることを特徴とする、請求項1からのいずれか1項に記載の顕微鏡画像処理システム。 The microscope image processing system according to any one of claims 1 to 4 , wherein the post-processing data is obtained by decomposing a spectral component into a plurality of factors. 光源からの走査光を観察試料に照射したときに試料の照射部位ごとに検出された観察試料のスペクトルデータと、前記スペクトルデータが検出された前記試料中の照射部位の位置情報を収集するステップと、
前記スペクトルデータと前記位置情報を格納するステップと、
前記スペクトルデータを処理し、後処理加工データを作成し、後処理加工データ画面を作成するステップと、
前記後処理加工データ画面において特定された領域の対応するスペクトルデータを前記位置情報を基に読み出すか、或いは作成するステップと、を含むことを特徴とする、顕微鏡画像処理方法。
Collecting the spectral data of the observation sample detected for each irradiation region of the sample when the observation sample is irradiated with the scanning light from the light source, and the position information of the irradiation region in the sample where the spectral data is detected; ,
Storing the spectral data and the position information;
Processing the spectral data, creating post-processed processed data, creating a post-processed processed data screen;
Reading or creating spectral data corresponding to a region specified on the post-processing processed data screen based on the position information.
JP2007027227A 2007-02-06 2007-02-06 Microscope image processing system and microscope image processing method Active JP5151171B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007027227A JP5151171B2 (en) 2007-02-06 2007-02-06 Microscope image processing system and microscope image processing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007027227A JP5151171B2 (en) 2007-02-06 2007-02-06 Microscope image processing system and microscope image processing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008191505A JP2008191505A (en) 2008-08-21
JP5151171B2 true JP5151171B2 (en) 2013-02-27

Family

ID=39751649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007027227A Active JP5151171B2 (en) 2007-02-06 2007-02-06 Microscope image processing system and microscope image processing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5151171B2 (en)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08278447A (en) * 1995-04-06 1996-10-22 Olympus Optical Co Ltd Scanning optical microscope device
JP4539342B2 (en) * 2005-01-19 2010-09-08 株式会社ニコン Analysis device, microscope, and analysis program

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008191505A (en) 2008-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Pologruto et al. ScanImage: flexible software for operating laser scanning microscopes
JP5489469B2 (en) Fluorescence signal analysis apparatus and fluorescence signal analysis method
JP5354938B2 (en) Fluorescence microscope device
JP4899648B2 (en) Spectrum observation method and spectrum observation system
JP6587004B2 (en) Apparatus, system, method, and program
JP2018097382A (en) High-resolution luminescence microscopy
US10753871B2 (en) Information processing device, image acquisition system, information processing method, and image information acquisition method
US20170160200A1 (en) Optical analysis device
US20120300295A1 (en) Light stimulus apparatus and observing apparatus with light controlling unit
EP2775336B1 (en) Microscope apparatus
JP5151171B2 (en) Microscope image processing system and microscope image processing method
US7983466B2 (en) Microscope apparatus and cell observation method
JP2009002795A (en) Fluorescent x-ray analyzer
JP2009042835A (en) Input support apparatus and computer program
JP2012211770A (en) Electron beam analyzer
JP2006195076A (en) Scanning type optical apparatus
WO2023161375A1 (en) Device for measuring intrinsic autofluorescence of a biological sample and method using thereof
JP2020052434A (en) Optical instrument and method for forming image
JP2011252950A (en) Imaging device and imaging program
JP2003015045A (en) Scanning type microscope device
JP2014217438A (en) Probe detector
JP2017188722A (en) Electron beam application device
JP2004170306A (en) Measuring device
JP2007108059A (en) Excitation light irradiation device
JP2004271946A (en) Confocal laser scanning type microscopic device and sample information recording method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100125

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110125

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120424

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120622

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121119

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151214

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5151171

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151214

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250