JP5146832B2 - Optical scanning apparatus and image forming apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、光走査装置および画像形成装置に関するものである。   The present invention relates to an optical scanning device and an image forming apparatus.

複写機、プリンタ、ファクシミリ等の画像形成装置の中には、潜像担持体上に画像情報に応じた書込光を偏向走査することにより照射して潜像担持体上に潜像を形成し、この潜像を現像して画像を得るものが知られている(例えば、特許文献1)。書込光を偏向走査する光走査装置は、一般に、レーザーダイオード(LD)などの光源から照射された光が、光学ハウジングに取り付けられたコリメートレンズやアパーチャによって所定の形状に成形されて回転多面鏡たるポリゴンミラーに入射する。ポリゴンミラーに入射した光は、ポリゴンミラーを備えた偏向走査手段たるポリゴンスキャナによって偏向走査され、結像レンズ等の光学系の部品などを通って、潜像担持体に照射される。光源、アパーチャ、ポリゴンスキャナなどは、光学ハウジングに収納されている。そして、結像レンズなどの光学系の部品にホコリやゴミが付着しないように、光学ハウジングをカバー部材などで覆って光走査装置内を密閉している。光源、アパーチャ、ポリゴンスキャナなどは、光学ハウジングのベース台に取り付けられている。   Some image forming apparatuses such as copiers, printers, facsimiles, and the like form a latent image on a latent image carrier by irradiating the latent image carrier with writing light according to image information by deflecting scanning. An image obtained by developing this latent image is known (for example, Patent Document 1). An optical scanning apparatus that deflects and scans writing light is generally a rotating polygon mirror in which light emitted from a light source such as a laser diode (LD) is shaped into a predetermined shape by a collimating lens or aperture attached to an optical housing. Incident on a polygonal mirror. The light incident on the polygon mirror is deflected and scanned by a polygon scanner, which is a deflection scanning means including the polygon mirror, and is irradiated onto the latent image carrier through an optical system component such as an imaging lens. A light source, an aperture, a polygon scanner, and the like are housed in an optical housing. Then, the optical scanning device is sealed by covering the optical housing with a cover member or the like so that dust and dust do not adhere to optical system components such as the imaging lens. The light source, the aperture, the polygon scanner, and the like are attached to the base base of the optical housing.

近年、画像形成速度の高速化や画素密度の高密度化の要求に伴い、ポリゴンミラーを、40000〜50000[rpm]で高速回転させている。このため、ポリゴンミラーを高速で回転駆動するためのポリゴンモータの軸受部などが発熱する。また、ポリゴンモータの駆動時は、ポリゴンモータを駆動制御するための駆動基板上の電子制御部品も発熱する。光走査装置内は、カバー部材で密閉されているため、ポリゴンモータや駆動基板で発生した熱は、光走査装置内部に篭ってしまい、内部が高温になってしまう。光走査装置内が高温となると、アパーチャなどの光学系の部品が熱変形してしまうおそれがある。光学系の部品が熱変形すると、潜像担持体表面に光を結像できなくなるおそれがある。また、カラー画像形成装置の場合は、各潜像担持体表面への照射位置がずれて、色ずれが生じてしまう。   In recent years, polygon mirrors have been rotated at a high speed of 40000 to 50000 [rpm] in response to demands for higher image forming speed and higher pixel density. For this reason, a polygon motor bearing for rotating the polygon mirror at high speed generates heat. Further, when the polygon motor is driven, the electronic control component on the drive board for driving and controlling the polygon motor also generates heat. Since the inside of the optical scanning device is hermetically sealed with a cover member, the heat generated by the polygon motor and the driving substrate is transferred to the inside of the optical scanning device, and the inside becomes high temperature. When the temperature inside the optical scanning device becomes high, there is a possibility that optical parts such as an aperture are thermally deformed. If the components of the optical system are thermally deformed, there is a risk that light cannot be imaged on the surface of the latent image carrier. Further, in the case of a color image forming apparatus, the irradiation position on the surface of each latent image carrier is shifted, resulting in a color shift.

そこで、従来、光学ハウジングをアルミなどの熱伝導性の高い部材で構成している。これにより、ポリゴンスキャナや駆動基板が取り付けられる光学ハウジングの一部であるベース台が熱伝導性の高い材質となる。その結果、ポリゴンスキャナから発熱した熱が、ベース台へ伝導し、ベース台から光走査装置の外部へ熱を放出させることができる。このように、ポリゴンモータや駆動基板から発生した熱を外部へ放出させることができるので、光走査装置内の温度上昇を抑えることができ、光学系部品の熱変形を抑えることができる。
特開2008−102291号公報
Therefore, conventionally, the optical housing is composed of a member having high thermal conductivity such as aluminum. Thereby, the base stand which is a part of the optical housing to which the polygon scanner and the driving substrate are attached becomes a material having high thermal conductivity. As a result, heat generated from the polygon scanner is conducted to the base table, and heat can be released from the base table to the outside of the optical scanning device. As described above, heat generated from the polygon motor and the driving substrate can be released to the outside, so that temperature rise in the optical scanning device can be suppressed, and thermal deformation of the optical system components can be suppressed.
JP 2008-102291 A

しかしながら、光学ハウジングのベース台には、ポリゴンスキャナのほか、アパーチャなどが取り付けられている。その結果、ベース台に伝導したポリゴンスキャナなどの熱が、ベース台からアパーチャに伝導して、アパーチャが加熱されてしまう。アパーチャは、樹脂で形成されているため、熱の影響を受けて変形しやすい。このため、ベース台から伝導した熱によってアパーチャが熱変形して光を所定形状に形成するためのスリットの形状が変わってしまう。その結果、アパーチャを通過した光を、狙いの形状に成形することができなくなる。特に、特許文献1に記載のように、アパーチャが、直接ベース台に固定される場合、ベース台からアパーチャに直接熱が伝熱し、アパーチャが早期に加熱されてしまう。その結果、アパーチャが早期に熱変形してしまう。   However, in addition to the polygon scanner, an aperture or the like is attached to the base base of the optical housing. As a result, heat from the polygon scanner or the like conducted to the base table is conducted from the base table to the aperture, and the aperture is heated. Since the aperture is made of resin, it is easily deformed under the influence of heat. For this reason, the aperture is thermally deformed by the heat conducted from the base, and the shape of the slit for forming light into a predetermined shape changes. As a result, the light that has passed through the aperture cannot be formed into a target shape. In particular, as described in Patent Document 1, when the aperture is directly fixed to the base table, heat is directly transferred from the base table to the aperture, and the aperture is heated early. As a result, the aperture is thermally deformed at an early stage.

本発明は以上の問題点に鑑みなされたものであり、その目的は、アパーチャの熱的影響による変形を抑制することができる光走査装置および画像形成装置を提供することである。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide an optical scanning device and an image forming apparatus capable of suppressing deformation due to the thermal influence of an aperture.

上記目的を達成するために、請求項1の発明は、光源と、前記光源から出射される光ビームを狙いの形状に成形するアパーチャと、該光ビームを偏向走査する偏向走査手段とを収納する光学ハウジングを有し、光源から出射した光ビームによって走査対象物を光走査する光走査装置において、前記光学ハウジングは、前記偏向走査手段が固定されるベース台と、前記ベース台上に設けられ、前記アパーチャが取り付けられるアパーチャ取付面とを有し、前記アパーチャ取付面の前記ベース台からの高さを、光路の前記ベース台からの高さよりも高くしたことを特徴とするものである。
また、請求項2の発明は、請求項1の光走査装置において、前記アパーチャ取付面は、2次加工で平面度が出された面であることを特徴とするものである。
また、請求項3の発明は、請求項2の光走査装置において、前記アパーチャは、スリットが形成されたスリット面とスリット面から垂直に延びて、前記アパーチャ取付面と当接して、前記アパーチャ取付面が形成された前記アパーチャ固定部に固定されるフランジ面とを有することを特徴とするものである。
また、請求項4の発明は、請求項3の光走査装置において、前記フランジ面にガイド穴を設け、前記アパーチャ固定部に、前記ガイド穴と係合するガイドピンを設けたことを特徴とするものである。
また、請求項5の発明は、請求項1乃至4いずれかの光走査装置において、前記アパーチャ固定部を、前記アパーチャのスリットと対向しない位置に設けたことを特徴とするものである。
また、請求項6の発明は、請求項1乃至5いずれかの光走査装置において、前記ハウジングは、アルミからなることを特徴とするものである。
また、請求項7の発明は、請求項1乃至6いずれかの光走査装置において、前記光源を複数備え、複数の光ビームを射出するマルチビーム光源ユニットを用いたことを特徴とするものである。
また、請求項8の発明は、潜像を担持する潜像担持体と、光走査によって該潜像担持体の表面に潜像を形成する光走査手段と、該潜像担持体に担持された潜像を現像する現像手段とを備える画像形成装置において、上記光走査手段として、請求項1乃至7いずれかの光走査装置を用いたことを特徴とするものである。
To achieve the above object, the invention of claim 1 houses a light source, an aperture for shaping a light beam emitted from the light source into a target shape, and a deflection scanning means for deflecting and scanning the light beam. has an optical housing, an optical scanning device for optically scanning a scanning object by the light beam emitted from the light source, the optical housing includes a base stand before Symbol deflection scanning means is fixed, provided on the base stand on And an aperture mounting surface to which the aperture is mounted, and the height of the aperture mounting surface from the base table is higher than the height of the optical path from the base table.
According to a second aspect of the present invention, in the optical scanning device according to the first aspect, the aperture mounting surface is a surface having a flatness obtained by secondary processing.
According to a third aspect of the present invention, in the optical scanning device according to the second aspect, the aperture extends perpendicularly from the slit surface on which the slit is formed, contacts the aperture mounting surface, and the aperture mounting And a flange surface fixed to the aperture fixing portion on which the surface is formed.
According to a fourth aspect of the present invention, in the optical scanning device of the third aspect, a guide hole is provided in the flange surface, and a guide pin that engages with the guide hole is provided in the aperture fixing portion. Is.
According to a fifth aspect of the present invention, in the optical scanning device according to any one of the first to fourth aspects, the aperture fixing portion is provided at a position not facing the slit of the aperture.
According to a sixth aspect of the present invention, in the optical scanning device according to any of the first to fifth aspects, the housing is made of aluminum.
According to a seventh aspect of the present invention, in the optical scanning device according to any one of the first to sixth aspects, a multi-beam light source unit that includes a plurality of the light sources and emits a plurality of light beams is used. .
The invention according to claim 8 is a latent image carrier that carries a latent image, optical scanning means that forms a latent image on the surface of the latent image carrier by optical scanning, and a latent image carrier that carries the latent image. An image forming apparatus including a developing unit that develops a latent image uses the optical scanning device according to claim 1 as the optical scanning unit.

本発明によれば、アパーチャ取付面のベース台からの高さを、光路のベース台からの高さよりも高くしたので、アパーチャ取付面のベース台からの高さが、光路のベース台からの高さよりも低いものに比べて、ベース台からアパーチャ取付面までの距離を遠くできる。これにより、ベース台から取付面までの熱伝導距離をアパーチャ取付面のベース台からの高さが、光路のベース台からの高さよりも低いものに比べて長くすることができる。その結果、ベース台から取付面へ熱が伝導する過程での放熱量を、アパーチャ取付面のベース台からの高さが、光路のベース台からの高さよりも低いものに比べて、多くでき、アパーチャ取付面に伝導する熱量を低減することができる。その結果、アパーチャ取付面の温度上昇を抑制することができ、アパーチャ取付面からアパーチャに伝導される熱量を低減することができる。よって、アパーチャの温度上昇を抑制することができる。その結果、アパーチャが熱変形するのを抑制することができ、経時にわたりアパーチャを通過した光を、狙いの形状に成形することができる。   According to the present invention, since the height of the aperture mounting surface from the base table is higher than the height of the optical path from the base table, the height of the aperture mounting surface from the base table is the same as the height of the optical path from the base table. The distance from the base stand to the aperture mounting surface can be increased compared to a lower one. As a result, the heat conduction distance from the base table to the mounting surface can be made longer than the height of the aperture mounting surface from the base table being lower than the height of the optical path from the base table. As a result, the amount of heat radiation in the process of heat conduction from the base base to the mounting surface can be increased compared to the height of the aperture mounting surface from the base base lower than the height from the base base of the optical path, The amount of heat conducted to the aperture mounting surface can be reduced. As a result, the temperature rise of the aperture mounting surface can be suppressed, and the amount of heat conducted from the aperture mounting surface to the aperture can be reduced. Therefore, the temperature rise of the aperture can be suppressed. As a result, it is possible to suppress thermal deformation of the aperture, and light that has passed through the aperture over time can be formed into a target shape.

以下、本発明を適用した画像形成装置、光走査装置の実施形態について説明する。
図1は、実施形態に係る画像形成装置を示す概略構成図である。この画像形成装置は、周知の電子写真プロセスによってトナー像を形成するものである。そして、潜像担持体たるドラム状の感光体50の周りに、帯電装置51、現像装置52、転写ローラ53、クリーニング装置54等を備えている。感光体50は、表面に有機感光層が被覆されたものであり、暗中にて図中時計回り方向に回転駆動される。そして、帯電装置51によって表面が一様帯電せしめられる。一様帯電後の感光体50表面は、光走査装置1によって光走査されることで、静電潜像を担持する。この静電潜像は、周知の一成分現像方式あるいは二成分現像方式を採用した現像装置52によって現像されてトナー像になる。
Hereinafter, embodiments of an image forming apparatus and an optical scanning apparatus to which the present invention is applied will be described.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an image forming apparatus according to an embodiment. This image forming apparatus forms a toner image by a known electrophotographic process. A charging device 51, a developing device 52, a transfer roller 53, a cleaning device 54, and the like are provided around a drum-shaped photoconductor 50 serving as a latent image carrier. The photoreceptor 50 has an organic photosensitive layer coated on the surface, and is driven to rotate clockwise in the drawing in the dark. Then, the charging device 51 uniformly charges the surface. The surface of the photoreceptor 50 after the uniform charging is optically scanned by the optical scanning device 1 to carry an electrostatic latent image. This electrostatic latent image is developed into a toner image by a developing device 52 that employs a well-known one-component development method or two-component development method.

転写ローラ53は、感光体50の表面に当接して転写ニップを形成している。この転写ニップにおいては、転写ローラ53に対して転写バイアスが印加されることで、転写ローラ53と感光体50の画像部との間に転写電界が形成される。   The transfer roller 53 is in contact with the surface of the photoconductor 50 to form a transfer nip. In the transfer nip, a transfer electric field is formed between the transfer roller 53 and the image portion of the photoreceptor 50 by applying a transfer bias to the transfer roller 53.

画像形成装置の筺体に対しては、記録紙Pを複数枚重ねた紙束の状態で収容する給紙カセット55が着脱されるようになっている。給紙カセット55内の記録紙Pは、給紙ローラ55aの回転駆動によって1枚ずつ給紙路に送り出される。そして、給紙路の末端付近に配設されたレジストローラ対56のレジストニップに挟み込まれる。   A paper feed cassette 55 that accommodates a plurality of recording sheets P in a bundle of sheets is attached to and detached from the housing of the image forming apparatus. The recording paper P in the paper feed cassette 55 is sent out one by one to the paper feed path by the rotational drive of the paper feed roller 55a. Then, the sheet is sandwiched between the registration nips of the registration roller pair 56 disposed near the end of the sheet feeding path.

レジストローラ対56は、レジストニップに挟み込んだ記録紙Pを、感光体50上のトナー像に重ね合わせ得るタイミングで、上述した転写ニップに向けて送り出す。転写ニップに挟み込まれた記録紙Pには、転写電界やニップ圧の作用により、感光体50上のトナー像が静電転写される。このようにしてトナー像が転写された記録紙Pは、定着装置57によって表面のトナー像の定着処理が施された後、排紙ローラ対58を経て、機外のスタックトレイ59上に排紙される。   The registration roller pair 56 sends the recording paper P sandwiched in the registration nip toward the transfer nip described above at a timing at which the recording paper P can be superimposed on the toner image on the photoconductor 50. The toner image on the photoconductor 50 is electrostatically transferred to the recording paper P sandwiched between the transfer nips by the action of a transfer electric field or nip pressure. The recording paper P onto which the toner image has been transferred in this manner is subjected to fixing processing of the toner image on the surface by the fixing device 57, and then discharged onto a stack tray 59 outside the apparatus through a pair of paper discharge rollers 58. Is done.

転写ニップを通過した後の感光体50表面には、記録紙Pに転写されなかった転写残トナーが付着している。この転写残トナーは、クリーニング装置54によって感光体50表面から除去される。その後、感光体50表面は、図示しない除電ランプによって除電された後、帯電装置51によって再び一様帯電せしめられる。   Untransferred toner that has not been transferred to the recording paper P adheres to the surface of the photoreceptor 50 after passing through the transfer nip. This transfer residual toner is removed from the surface of the photoreceptor 50 by the cleaning device 54. Thereafter, the surface of the photoconductor 50 is neutralized by a neutralizing lamp (not shown) and then uniformly charged by the charging device 51.

図2は、光走査装置1の内部構成を上側から示す構成図であり、図3は、LDユニット周辺の断面図である。本実施形態の光走査装置1は、複数本の光を同時照射して、ポリゴンミラー反射面のほぼ同じ場所に入射させるマルチビーム交差方式の光走査装置である。
光走査装置1は、LDユニット103、駆動基板102、アパーチャ106、シリンドリカルレンズ403(図3参照)、ポリゴンスキャナ101、fθレンズ107、湾曲軸型トロイダルレンズ108、反射ミラー110,111などを有し、これらが光学ハウジング104に収納されている。
光学ハウジング104は、アルミダイキャストで成形されており、上記LDユニット103と駆動基板102とが取り付けられる光源領域と、ポリゴンスキャナなどが取り付けられる光走査領域とを仕切る仕切り板104bが設けられている。
FIG. 2 is a configuration diagram showing the internal configuration of the optical scanning device 1 from above, and FIG. 3 is a cross-sectional view around the LD unit. The optical scanning device 1 of the present embodiment is a multi-beam crossing type optical scanning device that simultaneously irradiates a plurality of lights and makes them enter substantially the same location on the polygon mirror reflecting surface.
The optical scanning device 1 includes an LD unit 103, a drive substrate 102, an aperture 106, a cylindrical lens 403 (see FIG. 3), a polygon scanner 101, an fθ lens 107, a curved axis type toroidal lens 108, reflection mirrors 110 and 111, and the like. These are accommodated in the optical housing 104.
The optical housing 104 is formed by aluminum die casting, and is provided with a partition plate 104b that partitions a light source region to which the LD unit 103 and the drive substrate 102 are attached and an optical scanning region to which a polygon scanner or the like is attached. .

マルチビーム光源ユニットたるLDユニット103は、半導体レーザからなる第1光源401a及び第2光源401b、第1コリメートレンズ402a、第2コリメートレンズ402bを有している。LDユニット103では、第1光源401aから照射された照射光の光束と第2光源401bから照射された照射光の光束とが不図示のポリゴンミラー近傍にて交差するように第1光源401a及び第2光源401bが装着保持されている。また、第1光源401a及び第2光源401bから照射される光は、第1コリメートレンズ402a及び第2コリメートレンズ402bによってそれぞれの光軸と焦点とが調節される。LDユニット103には第1光源401aと第2光源401bとが所定の間隔で固定されている。2つの光源が固定されたLDユニット103は走査光学系に対して回転可能に光学ハウジング104に取り付けられており、LDユニット103を回転させることによって、感光体50面上でのビームピッチが調節される。本実施形態においては、1200[dpi]を達成するためにビームピッチが21.2[μm]となるようにLDユニット103を回転調整してから、光学ハウジング104に固定されている。   The LD unit 103, which is a multi-beam light source unit, includes a first light source 401a and a second light source 401b made of a semiconductor laser, a first collimating lens 402a, and a second collimating lens 402b. In the LD unit 103, the first light source 401a and the first light source 401a and the first light source 401a and the second light source 401b are crossed in the vicinity of a polygon mirror (not shown) so that the light beam emitted from the first light source 401a and the light beam emitted from the second light source 401b intersect each other. Two light sources 401b are mounted and held. The light beams emitted from the first light source 401a and the second light source 401b are adjusted in their optical axes and focal points by the first collimating lens 402a and the second collimating lens 402b. A first light source 401a and a second light source 401b are fixed to the LD unit 103 at a predetermined interval. The LD unit 103 to which the two light sources are fixed is attached to the optical housing 104 so as to be rotatable with respect to the scanning optical system. By rotating the LD unit 103, the beam pitch on the surface of the photoreceptor 50 is adjusted. The In the present embodiment, the LD unit 103 is rotated and adjusted so that the beam pitch is 21.2 [μm] in order to achieve 1200 [dpi], and then fixed to the optical housing 104.

光源領域に固定されている駆動基板102は、ポリゴンモータ101aなどの駆動を制御するもので、光学ハウジング104のベース台104aにネジ止めされている。光走査領域には、アパーチャ106、シリンドリカルレンズ403、ポリゴンスキャナ101、fθレンズ107、湾曲軸型トロイダルレンズ108、反射ミラー110,111などが固定されている。ポリゴンスキャナ101は、ポリゴンモータ101a、回転多面鏡たる不図示のポリゴンミラーなどから構成されており、光学ハウジング104のベース台104aに固定されている。アパーチャ106には、図4に示すような矩形状のスリットが2つ設けられている。一方のスリット301a(図8参照)に第1光源401aの光束が通過して、矩形状の光束に整形され、他方のスリット301bに第2光源401bの光束が通過して、矩形状の光束に整形される。   The driving substrate 102 fixed to the light source region controls driving of the polygon motor 101a and the like, and is screwed to the base table 104a of the optical housing 104. In the optical scanning area, an aperture 106, a cylindrical lens 403, a polygon scanner 101, an fθ lens 107, a curved axis type toroidal lens 108, reflection mirrors 110 and 111, and the like are fixed. The polygon scanner 101 includes a polygon motor 101 a, a polygon mirror (not shown) that is a rotating polygon mirror, and the like, and is fixed to the base table 104 a of the optical housing 104. The aperture 106 is provided with two rectangular slits as shown in FIG. The light beam from the first light source 401a passes through one slit 301a (see FIG. 8) and is shaped into a rectangular light beam, and the light beam from the second light source 401b passes through the other slit 301b to form a rectangular light beam. It is shaped.

図5に示すように、LDユニット103に固定された第1光源401a及び第2光源401bから出射された光束502,503は、それぞれコリメートレンズ402a、402bを透過した後、LDユニット103から出て走査領域内に進入する。そして、アパーチャ106で一定の形状に整形された後、シリンドリカルレンズ403を透過することで、副走査方向(感光体表面上における感光体表面移動方向に相当する方向)に集光せしめられる。次いで、反射ミラー110で反射され、不図示のポリゴンミラー近傍にて交差して、ポリゴンミラーに入射する。ポリゴンミラーに入射した光は、ポリゴンミラーの反射面に反射しながら主走査方向(感光体表面上における軸線方向に相当する方向)に偏向せしめられる。そして、ポリゴンミラーによって一定の角速度で主走査方向に偏向せしめられる光ビームの偏向方向の移動速度を等速に変換するfθレンズ107、面倒れを補正するための湾曲軸型トロイダルレンズ108、折り返しミラー111を順次経由した後、ハウジング104外に放たれて、図示しない感光体の表面に達する。   As shown in FIG. 5, the light beams 502 and 503 emitted from the first light source 401a and the second light source 401b fixed to the LD unit 103 pass through the collimator lenses 402a and 402b, respectively, and then exit the LD unit 103. Enter the scan area. Then, after being shaped into a fixed shape by the aperture 106, the light is condensed in the sub-scanning direction (direction corresponding to the direction of movement of the photosensitive member surface on the photosensitive member surface) by passing through the cylindrical lens 403. Next, the light is reflected by the reflecting mirror 110, crosses in the vicinity of a polygon mirror (not shown), and enters the polygon mirror. The light incident on the polygon mirror is deflected in the main scanning direction (direction corresponding to the axial direction on the surface of the photosensitive member) while being reflected by the reflection surface of the polygon mirror. The fθ lens 107 that converts the moving speed of the light beam deflected in the main scanning direction at a constant angular velocity by the polygon mirror to a constant velocity, the curved-axis toroidal lens 108 for correcting the surface tilt, the folding mirror After sequentially passing through 111, it is released out of the housing 104 and reaches the surface of the photoreceptor not shown.

次に、本実施形態の特徴点について説明する。
ポリゴンスキャナ101のポリゴンモータ101aは、光を偏向走査する際、高速で回転するため、軸受部などが発熱する。また、駆動基板102上の図示しない電子制御部品も発熱する。このようなポリゴンスキャナ101の発熱部たるポリゴンモータ101aや駆動基板102上の電子制御部品の発熱によって、光走査装置1内が高温となり、レンズやミラー、アパーチャなどが熱変形し倍率偏差、ビームスポット径、ビームウエスト位置に変化が生じてしまう。ビームウエスト位置の変動は、深度余裕をなくしてしまい感光体像面上で要求されるビームスポット径の仕様を達成するのが難しくなる。このため、本実施形態においては、光学ハウジング104をアルミダイキャストで製造し、光学ハウジング104を熱伝導性の高いアルミ材料としている。これにより、駆動基板102から発生した熱やポリゴンモータ101aで発生した熱が光学ハウジング104のベース台104aに伝導し、光学ハウジング104から外部へ熱を放熱することができる。その結果、光走査装置1内の温度上昇を抑制することができ、レンズ、ミラー、アパーチャなどの熱変形を抑制することができる。なお、アルミ以外に亜鉛やマグネシウムなど、熱伝導率が120〜160[W/m℃]の材料で光学ハウジングを形成することで、同様の効果を得ることができる。
ポリゴンモータ101aや駆動基板102からベース台104aに伝熱した熱は、図2の矢印のように伝熱する。従来は、図6に示すように、アパーチャ106を直接ベース台104aに固定していたため、ポリゴンモータ101aや駆動基板102から発生した熱がベース台104aからアパーチャ106に伝導し、アパーチャ106が加熱されてしまう。アパーチャ106は樹脂などの熱変形しやすい材料で成形されるため、アパーチャ106が加熱されると、熱膨張によってスリット301a、301bの形状が変形してしまう。特に、アパーチャ106のスリット301a、301bが光軸に対して微小に傾斜していても、スポット径があまり影響を受けないよう、スリット回りをテーパにして薄くしているので、スリット301a、301bの回りは、温度上昇しやすく、熱膨張によって変形しやすい。その結果、アパーチャ通過後の光が所望の形状に整形されなくなり、ビームスポット径が変動してしまうなどの不具合が生じてしまう。
そこで、本実施形態の光走査装置1においては、アパーチャ固定台を光学ハウジングに設け、アパーチャ106が取り付けられるアパーチャ固定部に設けたアパーチャ取付面たる受け面のベース台104aからの高さを光路のベース台104aからの高さよりも高くしている。以下に、具体的に説明する。
Next, features of the present embodiment will be described.
The polygon motor 101a of the polygon scanner 101 rotates at high speed when deflecting and scanning light, so that the bearings and the like generate heat. Also, an electronic control component (not shown) on the drive board 102 also generates heat. Due to the heat generated by the polygon motor 101a serving as the heat generating portion of the polygon scanner 101 and the electronic control components on the drive substrate 102, the temperature inside the optical scanning device 1 becomes high, and the lens, mirror, aperture, etc. are thermally deformed, resulting in magnification deviation, beam spot Changes occur in the diameter and beam waist position. Variation in the beam waist position eliminates the depth margin and makes it difficult to achieve the required beam spot diameter specification on the photoreceptor image surface. For this reason, in this embodiment, the optical housing 104 is manufactured by aluminum die casting, and the optical housing 104 is made of an aluminum material having high thermal conductivity. As a result, heat generated from the drive substrate 102 and heat generated by the polygon motor 101a are conducted to the base base 104a of the optical housing 104, and heat can be radiated from the optical housing 104 to the outside. As a result, temperature rise in the optical scanning device 1 can be suppressed, and thermal deformation of the lens, mirror, aperture, and the like can be suppressed. The same effect can be obtained by forming the optical housing with a material having a thermal conductivity of 120 to 160 [W / m ° C.] other than aluminum, such as zinc or magnesium.
The heat transferred from the polygon motor 101a or the drive substrate 102 to the base table 104a is transferred as indicated by the arrows in FIG. Conventionally, as shown in FIG. 6, since the aperture 106 is directly fixed to the base table 104a, heat generated from the polygon motor 101a and the drive board 102 is conducted from the base table 104a to the aperture 106, and the aperture 106 is heated. End up. Since the aperture 106 is formed of a material that is easily thermally deformed, such as a resin, when the aperture 106 is heated, the shapes of the slits 301a and 301b are deformed due to thermal expansion. In particular, even if the slits 301a and 301b of the aperture 106 are slightly inclined with respect to the optical axis, the slits are tapered and thin so that the spot diameter is not significantly affected. Around, the temperature easily rises and is easily deformed by thermal expansion. As a result, the light after passing through the aperture is not shaped into a desired shape, causing problems such as fluctuations in the beam spot diameter.
Therefore, in the optical scanning device 1 of the present embodiment, an aperture fixing base is provided in the optical housing, and the height from the base base 104a of the receiving surface, which is an aperture mounting surface provided in the aperture fixing portion to which the aperture 106 is attached, is set in the optical path. The height is higher than the height from the base table 104a. This will be specifically described below.

図7は、アパーチャ106を光走査装置1に固定する様子を示す斜視図であり、図8は、アパーチャ106を装置本体に固定した様子を示す斜視図である。なお、図中のX軸方向は、LDユニットからの光進行方向であり、Y軸方向は、上下方向であり、Z軸方向は、X軸およびY軸と直交する方向である。
図7に示すように、仕切り板104bのLDユニット103からの光を通過させるための切り欠き部104cよりもZ軸方向に離れた位置にアパーチャ固定部たるアパーチャ固定台201が設けられている。これにより、アパーチャ固定台201がアパーチャ106のスリット301a,301bと対向することがない。よって、アパーチャ固定台201が、スリット301a,301bを通過した光を遮ることがない。また、アパーチャ固定台は、図9に示すように、中が空洞となっており、アパーチャ固定台の内周面は、外気と接触している。アパーチャ固定台201の上面201aには、アパーチャ取付面たるアパーチャ受け面205が設けられている。また、ガイドピン202が設けられている。アパーチャ受け面205は、2次加工を施して平面度が出された面である。これら受け面205の中央には、雌ネジが切られたネジ穴206が設けられている。
FIG. 7 is a perspective view showing how the aperture 106 is fixed to the optical scanning device 1, and FIG. 8 is a perspective view showing how the aperture 106 is fixed to the apparatus main body. In the figure, the X-axis direction is the light traveling direction from the LD unit, the Y-axis direction is the vertical direction, and the Z-axis direction is a direction orthogonal to the X-axis and the Y-axis.
As shown in FIG. 7, an aperture fixing base 201 serving as an aperture fixing part is provided at a position farther in the Z-axis direction than the notch 104c for allowing the light from the LD unit 103 of the partition plate 104b to pass therethrough. Accordingly, the aperture fixing base 201 does not face the slits 301a and 301b of the aperture 106. Therefore, the aperture fixing base 201 does not block the light that has passed through the slits 301a and 301b. Further, as shown in FIG. 9, the aperture fixing base is hollow, and the inner peripheral surface of the aperture fixing base is in contact with the outside air. On the upper surface 201a of the aperture fixing base 201, an aperture receiving surface 205 as an aperture mounting surface is provided. A guide pin 202 is provided. The aperture receiving surface 205 is a surface on which flatness is obtained by performing secondary processing. In the center of these receiving surfaces 205, a screw hole 206 in which a female screw is cut is provided.

アパーチャ106は、スリット301a,301bが形成されたスリット面207の上端にフランジ面203が設けられており、このフランジ面203の両端には、上記ガイドピン202が挿入されるガイド穴204a,204bが設けられている。第1ガイド穴204aは、図中Z軸方向に延びる長穴となっており、光軸方向(図中X軸方向)長さは、ガイドピン202の直径とほぼ同じ長さとなっている。第2ガイド穴204bは、ガイドピン202の直径とほぼ同じ直径の穴となっている。これらガイド穴204a,204bよりも内側には、ネジが貫通するための貫通孔208が設けられている。
また、アパーチャ106のスリット面207の上下方向(図中Y軸方向)の長さは、ベース台104aからアパーチャ受け面205までの長さよりも短くなっている。このように構成することで、アパーチャ106を固定したとき、アパーチャ106のスリット面207の下端とベース台104aとの当接を避けることができる(図3参照)。これにより、ベース台104aからアパーチャ106へ直接熱が伝熱することがない。また、スリット面207のZ軸方向の長さは、アパーチャ固定台201間の長さより短くすることで、アパーチャ固定部201からの伝熱がフランジ面203のみとなり、アパーチャ106の温度上昇を抑制することができる。
The aperture 106 is provided with a flange surface 203 at the upper end of the slit surface 207 in which the slits 301 a and 301 b are formed, and guide holes 204 a and 204 b into which the guide pins 202 are inserted are formed at both ends of the flange surface 203. Is provided. The first guide hole 204a is a long hole extending in the Z-axis direction in the figure, and the length in the optical axis direction (X-axis direction in the figure) is substantially the same as the diameter of the guide pin 202. The second guide hole 204 b is a hole having a diameter substantially the same as the diameter of the guide pin 202. Inside the guide holes 204a and 204b, a through hole 208 is provided for the screw to pass therethrough.
Further, the length of the slit surface 207 of the aperture 106 in the vertical direction (Y-axis direction in the drawing) is shorter than the length from the base base 104a to the aperture receiving surface 205. With this configuration, when the aperture 106 is fixed, contact between the lower end of the slit surface 207 of the aperture 106 and the base 104a can be avoided (see FIG. 3). Thereby, heat is not directly transferred from the base 104a to the aperture 106. Further, by making the length of the slit surface 207 in the Z-axis direction shorter than the length between the aperture fixing bases 201, heat transfer from the aperture fixing portion 201 becomes only the flange surface 203, and the temperature increase of the aperture 106 is suppressed. be able to.

アパーチャ106の装置本体への固定は、ガイド穴204a,204bにガイドピン202を挿入して、フランジ面203を受け面205に当接させる。ガイド穴204a,204bにガイドピン202を挿入することで、アパーチャ106が図中X軸方向(光軸方向)とZ軸方向と、Y軸中心の回転方向との位置決めがなされる。すなわち、第2ガイド穴204bをガイドピン202とほぼ同じ直径としているので、第2ガイド穴204bにガイドピン202が差し込まれることによって、Z軸方向の位置決めがなされる。これにより、アパーチャ106を通過した光の主走査方向のズレを抑制することができる。また、第1ガイド穴204aのX軸方向の長さがガイドピン202の直径とほぼ同じになっているので、第1ガイド穴204aと第2ガイド穴204bとにガイドピン202が差し込まれることで、X軸方向と、Y軸中心の回転方向の位置決めがなされる。Y軸中心の回転方向の位置決めがなされるので、スリット301a,301bを光軸に対して直交させることができ、所望のスポット径を得ることができる。   The aperture 106 is fixed to the apparatus main body by inserting the guide pin 202 into the guide holes 204 a and 204 b and bringing the flange surface 203 into contact with the surface 205. By inserting the guide pin 202 into the guide holes 204a and 204b, the aperture 106 is positioned in the X-axis direction (optical axis direction), the Z-axis direction, and the rotation direction about the Y-axis center in the figure. That is, since the second guide hole 204b has almost the same diameter as the guide pin 202, the guide pin 202 is inserted into the second guide hole 204b, thereby positioning in the Z-axis direction. Thereby, the shift | offset | difference of the main scanning direction of the light which passed the aperture 106 can be suppressed. Further, since the length of the first guide hole 204a in the X-axis direction is substantially the same as the diameter of the guide pin 202, the guide pin 202 is inserted into the first guide hole 204a and the second guide hole 204b. , Positioning in the X-axis direction and the rotation direction about the Y-axis center is performed. Since positioning in the rotational direction about the Y-axis center is performed, the slits 301a and 301b can be orthogonal to the optical axis, and a desired spot diameter can be obtained.

また、受け面205は、2次加工によって平面度が出されているため、フランジ面203が受け面205に当接することで、アパーチャ106のY軸方向と、X軸中心の回転方向と、Z軸中心の回転方向との位置決めがなされる。アパーチャ106がY軸方向に位置決めされることによって、アパーチャ106を通過した光の副走査方向のズレが抑制される。また、アパーチャ106がZ軸中心の回転方向に位置決めされることによって、スリット301a,301bを光軸に対して直交させることができ、所望のスポット径を得ることができる。さらに、アパーチャ106がX軸中心の回転方向に位置決めされることで、スリット301a,301bが光軸に対して回転方向にずれることがなくなり、アパーチャ通過後の光を所望の形状に整形することができる。   Further, since the flatness of the receiving surface 205 is obtained by secondary processing, when the flange surface 203 abuts on the receiving surface 205, the Y axis direction of the aperture 106, the rotation direction about the X axis, and Z Positioning with the rotational direction of the shaft center is performed. By positioning the aperture 106 in the Y-axis direction, deviation in the sub-scanning direction of light that has passed through the aperture 106 is suppressed. Further, by positioning the aperture 106 in the rotation direction about the Z-axis, the slits 301a and 301b can be orthogonal to the optical axis, and a desired spot diameter can be obtained. Further, since the aperture 106 is positioned in the rotation direction about the X axis, the slits 301a and 301b are not shifted in the rotation direction with respect to the optical axis, and the light after passing through the aperture can be shaped into a desired shape. it can.

このようにして、アパーチャ106が位置決めされたら、図8に示すように、貫通孔208にネジ113を差し込んで、ネジ穴206にネジをねじ込んで、アパーチャ106をアパーチャ固定台201に固定する。   When the aperture 106 is positioned in this manner, as shown in FIG. 8, the screw 113 is inserted into the through hole 208, the screw is screwed into the screw hole 206, and the aperture 106 is fixed to the aperture fixing base 201.

本実施形態においては、図9に示すように、アパーチャ固定台201の内周面は、外気と接触しているため、ベース台104aからアパーチャ固定台201に伝導した熱が、アパーチャ固定台201から外部へ放出される。しかも、図9に示すように、アパーチャ取付面であるアパーチャ受け面205のベース台104aからの高さHが、光路Lのベース台104aからの高さhよりも高くなっている。これにより、ベース台104aからアパーチャ受け面205までの距離を、アパーチャ受け面205のベース台104aからの高さHが、光路Lのベース台104aからの高さhよりも低いものに比べて長くすることができる。これにより、アパーチャ固定台201から受け面205へ熱が導電される過程で、アパーチャ固定台201から放出される放熱量が、アパーチャ受け面205のベース台104aからの高さHが、光路Lのベース台104aからの高さhよりも低いものに比べて多くできる。これにより、受け面205の温度上昇を、アパーチャ受け面205のベース台104aからの高さHが、光路Lのベース台104aからの高さhよりも低いものに比べて抑えることができる。その結果、受け面205からアパーチャ106へ伝導する熱量を少なくすることができ、アパーチャ106の温度上昇を抑制することができる。これにより、アパーチャ熱膨張によるスリット301a、301bの変形を抑制することができ、アパーチャ通過後の光を所望の形状に整形することができる。   In the present embodiment, as shown in FIG. 9, the inner peripheral surface of the aperture fixing base 201 is in contact with the outside air, so that heat conducted from the base base 104 a to the aperture fixing base 201 is transmitted from the aperture fixing base 201. Released to the outside. In addition, as shown in FIG. 9, the height H of the aperture receiving surface 205, which is an aperture mounting surface, from the base table 104a is higher than the height h of the optical path L from the base table 104a. Accordingly, the distance from the base table 104a to the aperture receiving surface 205 is longer than the height H of the aperture receiving surface 205 from the base table 104a is lower than the height h of the optical path L from the base table 104a. can do. As a result, in the process in which heat is conducted from the aperture fixing base 201 to the receiving surface 205, the amount of heat released from the aperture fixing base 201 is such that the height H of the aperture receiving surface 205 from the base base 104a is equal to that of the optical path L. The number can be increased as compared with a height lower than the height h from the base table 104a. As a result, the temperature rise of the receiving surface 205 can be suppressed as compared to the case where the height H of the aperture receiving surface 205 from the base table 104a is lower than the height h of the optical path L from the base table 104a. As a result, the amount of heat conducted from the receiving surface 205 to the aperture 106 can be reduced, and the temperature rise of the aperture 106 can be suppressed. Thereby, the deformation of the slits 301a and 301b due to the thermal expansion of the aperture can be suppressed, and the light after passing through the aperture can be shaped into a desired shape.

また、本実施形態の光走査装置1によれば、アパーチャ受け面205を2次加工で平面度を出しているので、アパーチャ106をこの受け面204に当接させることで、アパーチャ106の位置決めを行うことができる。これにより、アパーチャ106が光軸方向に傾いたり、倒れたりしてアパーチャが固定されるのを防止することができる。   Further, according to the optical scanning device 1 of the present embodiment, the aperture receiving surface 205 is flattened by secondary processing. Therefore, the aperture 106 is brought into contact with the receiving surface 204 to position the aperture 106. It can be carried out. As a result, it is possible to prevent the aperture 106 from being fixed due to the aperture 106 being inclined in the optical axis direction or falling down.

また、アパーチャ106は、スリット301a、301bが形成されたスリット面207とスリット面207から垂直に延びて、アパーチャ受け面205と当接して固定されるフランジ面203とを設けている。これにより、受け面205にフランジ面203を当接させることで、アパーチャ106を上下方向(Y軸方向)と、光軸(X軸)中心の回転方向と、上下方向および光軸方向の両方に直交するZ軸中心の回転方向との位置決めを行うことができる。これにより、スリット301a、301bを通過した光の副走査方向のズレを抑制できるとともに、所望のビーム形状に整形することができる。   The aperture 106 is provided with a slit surface 207 in which slits 301 a and 301 b are formed and a flange surface 203 that extends perpendicularly from the slit surface 207 and is fixed in contact with the aperture receiving surface 205. Thus, by bringing the flange surface 203 into contact with the receiving surface 205, the aperture 106 is moved in the vertical direction (Y-axis direction), the rotation direction about the optical axis (X-axis), and both the vertical direction and the optical axis direction. Positioning with the rotation direction of the orthogonal Z-axis center can be performed. As a result, it is possible to suppress the deviation in the sub-scanning direction of the light that has passed through the slits 301a and 301b and to shape it into a desired beam shape.

また、フランジ面203にガイド穴204a、204bを設け、アパーチャ固定台上面201aに、ガイド穴204a、204bと係合するガイドピン202を設けることで、アパーチャ106をX軸(光軸)方向と、Y軸(上下方向)中心の回転方向とに位置決めすることができる。これにより、スリット301a、301bを通過した光の副走査方向のズレを抑制できるとともに、所望のビーム形状に整形することができる。   Also, guide holes 204a and 204b are provided in the flange surface 203, and guide pins 202 that engage with the guide holes 204a and 204b are provided in the aperture fixing base upper surface 201a, whereby the aperture 106 is moved in the X-axis (optical axis) direction. It can be positioned in the rotational direction around the Y axis (vertical direction). As a result, it is possible to suppress the deviation in the sub-scanning direction of the light that has passed through the slits 301a and 301b and to shape it into a desired beam shape.

また、アパーチャ固定部たるアパーチャ固定台201を、アパーチャ106のスリット301a,301bと対向しない位置に設けたことで、アパーチャ固定台201が、光束を遮ることがない。   Further, by providing the aperture fixing base 201 as the aperture fixing portion at a position not facing the slits 301a and 301b of the aperture 106, the aperture fixing base 201 does not block the light beam.

また、光学ハウジング104を、アルミで構成することで、光学ハウジング104の熱伝導を高めることができる。これにより、偏向手段たるポリゴンスキャナ101などから発生した熱が光学ハウジング104に伝導し、光学ハウジング104から外気へ放熱させることができる。これにより、光走査装置内の温度上昇を抑制することができる。   Moreover, the heat conduction of the optical housing 104 can be enhanced by configuring the optical housing 104 with aluminum. As a result, heat generated from the polygon scanner 101 or the like as the deflecting means is conducted to the optical housing 104 and can be radiated from the optical housing 104 to the outside air. Thereby, the temperature rise in the optical scanning device can be suppressed.

また、光源を複数備え、複数の光ビームを射出するマルチビーム光源ユニットたるLDユニット103を用いることによって、副走査方向の高密度化を達成することができる。   Further, by using the LD unit 103 that is a multi-beam light source unit that includes a plurality of light sources and emits a plurality of light beams, high density in the sub-scanning direction can be achieved.

実施形態に係る画像形成装置を示す概略構成図。1 is a schematic configuration diagram illustrating an image forming apparatus according to an embodiment. 光走査装置の構成を示す概略断面図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view illustrating a configuration of an optical scanning device. LDユニット周辺の断面図。Sectional drawing around LD unit. スリットの形状を示す図。The figure which shows the shape of a slit. LDユニットからポリゴンミラーへ入射するまでの光の経路について説明する図。The figure explaining the path | route of the light until it injects into a polygon mirror from LD unit. 従来のアパーチャの固定について説明する図。The figure explaining fixation of the conventional aperture. アパーチャを光走査装置1に固定する様子を示す斜視図。The perspective view which shows a mode that an aperture is fixed to the optical scanning device 1. FIG. アパーチャを装置本体に固定した様子を示す斜視図The perspective view which shows a mode that the aperture was fixed to the apparatus main body. アパーチャ固定台周辺の斜視図。The perspective view around an aperture fixing stand.

符号の説明Explanation of symbols

1:光走査装置
50:感光体
51:帯電装置
52:現像装置
53:転写ローラ
54:クリーニング装置
55:給紙カセット
56:レジストローラ対
57:定着装置
58:排紙ローラ対
59:スタックトレイ
101:ポリゴンスキャナ
101a:ポリゴンモータ
102:駆動基板
103:LDユニット
104:光学ハウジング
104a:ベース台
106:アパーチャ
201:アパーチャ固定台
202:ガイドピン
203:フランジ面
204a,204b:ガイド穴
205:受け面
206:ネジ穴
207:スリット面
208:貫通孔
301a,301b:スリット
h:光路のベース台からの高さ
H:アパーチャ受け面のベース台からの高さH
L:光路
1: optical scanning device 50: photoconductor 51: charging device 52: developing device 53: transfer roller 54: cleaning device 55: paper feed cassette 56: registration roller pair 57: fixing device 58: paper discharge roller pair 59: stack tray 101 : Polygon scanner 101a: Polygon motor 102: Drive substrate 103: LD unit 104: Optical housing 104 a: Base base 106: Aperture 201: Aperture fixing base 202: Guide pin 203: Flange surfaces 204 a and 204 b: Guide hole 205: Receiving surface 206 : Screw hole 207: Slit surface 208: Through-holes 301 a and 301 b: Slit h: Height from the base of the optical path H: Height of the aperture receiving surface from the base
L: Light path

Claims (8)

光源と、前記光源から出射される光ビームを狙いの形状に成形するアパーチャと、該光ビームを偏向走査する偏向走査手段とを収納する光学ハウジングを有し、光源から出射した光ビームによって走査対象物を光走査する光走査装置において、
前記光学ハウジングは、前記偏向走査手段が固定されるベース台と、前記ベース台上に設けられ、前記アパーチャが取り付けられるアパーチャ取付面とを有し、
前記アパーチャ取付面の前記ベース台からの高さを、光路の前記ベース台からの高さよりも高くしたことを特徴とする光走査装置。
An optical housing that houses a light source, an aperture that shapes the light beam emitted from the light source into a target shape, and a deflection scanning unit that deflects and scans the light beam, and is scanned by the light beam emitted from the light source In an optical scanning device for optically scanning an object,
Wherein the optical housing has a base stand before Symbol deflection scanning means is fixed, provided on the base stand on, and said aperture mounting surface aperture is attached,
An optical scanning device characterized in that the height of the aperture mounting surface from the base table is higher than the height of the optical path from the base table.
請求項1の光走査装置において、
前記アパーチャ取付面は、2次加工で平面度が出された面であることを特徴とする光走査装置。
The optical scanning device according to claim 1.
2. The optical scanning device according to claim 1, wherein the aperture mounting surface is a surface having flatness obtained by secondary processing.
請求項2の光走査装置において、
前記アパーチャは、スリットが形成されたスリット面とスリット面から垂直に延びて、前記アパーチャ取付面と当接して、前記アパーチャ取付面が形成された前記アパーチャ固定部に固定されるフランジ面とを有することを特徴とする光走査装置。
The optical scanning device according to claim 2.
The aperture includes a slit surface in which a slit is formed, a flange surface that extends perpendicularly from the slit surface, contacts the aperture mounting surface, and is fixed to the aperture fixing portion in which the aperture mounting surface is formed. An optical scanning device.
請求項3の光走査装置において、
前記フランジ面にガイド穴を設け、前記アパーチャ固定部に、前記ガイド穴と係合するガイドピンを設けたことを特徴とする光走査装置。
The optical scanning device according to claim 3.
An optical scanning device characterized in that a guide hole is provided in the flange surface, and a guide pin that engages with the guide hole is provided in the aperture fixing portion.
請求項1乃至4いずれかの光走査装置において、
前記アパーチャ固定部を、前記アパーチャのスリットと対向しない位置に設けたことを特徴とする光走査装置。
In the optical scanning device in any one of Claims 1 thru | or 4,
The optical scanning device according to claim 1, wherein the aperture fixing portion is provided at a position not facing the slit of the aperture.
請求項1乃至5いずれかの光走査装置において、
前記ハウジングは、アルミからなることを特徴とする光走査装置。
The optical scanning device according to claim 1,
The optical scanning device characterized in that the housing is made of aluminum.
請求項1乃至6いずれかの光走査装置において、
前記光源を複数備え、複数の光ビームを射出するマルチビーム光源ユニットを用いたことを特徴とする光走査装置。
In the optical scanning device in any one of Claims 1 thru | or 6,
An optical scanning device comprising a plurality of light sources and a multi-beam light source unit that emits a plurality of light beams.
潜像を担持する潜像担持体と、光走査によって該潜像担持体の表面に潜像を形成する光走査手段と、該潜像担持体に担持された潜像を現像する現像手段とを備える画像形成装置において、
上記光走査手段として、請求項1乃至7いずれかの光走査装置を用いたことを特徴とする画像形成装置。
A latent image carrier that carries a latent image, an optical scanning unit that forms a latent image on the surface of the latent image carrier by optical scanning, and a developing unit that develops the latent image carried on the latent image carrier. In the image forming apparatus provided,
An image forming apparatus using the optical scanning device according to claim 1 as the optical scanning unit.
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