JP5107776B2 - Memory controller, memory system, and method of writing data to memory device - Google Patents
Memory controller, memory system, and method of writing data to memory device Download PDFInfo
- Publication number
- JP5107776B2 JP5107776B2 JP2008099308A JP2008099308A JP5107776B2 JP 5107776 B2 JP5107776 B2 JP 5107776B2 JP 2008099308 A JP2008099308 A JP 2008099308A JP 2008099308 A JP2008099308 A JP 2008099308A JP 5107776 B2 JP5107776 B2 JP 5107776B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- data
- volatile
- control unit
- volatile memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
本発明は、不揮発性メモリを備えたメモリデバイスへデータを書き込むためのメモリコントローラ、このようなメモリコントローラを備えたメモリシステム、及びメモリデバイスへのデータの書込方法に関する。 The present invention relates to a memory controller for writing data to a memory device having a nonvolatile memory, a memory system having such a memory controller, and a method for writing data to the memory device.
不揮発性メモリへのデータの書き込みには、通常、ROMライタなどのメモリコントローラを用いる。メモリコントローラは、不揮発性メモリへのデータの書き込み時或いは書き込み後に、正常に書き込みが行われたことを確認するためにベリファイを行う。 For writing data into the nonvolatile memory, a memory controller such as a ROM writer is usually used. The memory controller performs verification in order to confirm that data has been normally written during or after data is written to the nonvolatile memory.
ROMライタは、一度に複数の不揮発性メモリにデータを書き込むことができる。書き込まれるデータ(以下、「書込データ」という。)は、ROMライタの外部に設けられたホスト装置からROMライタに内蔵された揮発性メモリに一旦書き込まれた後に、複数の不揮発性メモリに書き込まれる。この際、揮発性メモリに書き込まれている書込データはそのまま保持される。
ROMライタは、ベリファイ時に不揮発性メモリに書き込まれた書込データ(即ち、不揮発性メモリセルへ書き込まれた不揮発性メモリセルデータ)を読み出して、内蔵の揮発性メモリに書き込む。これにより、ROMライタの揮発性メモリには2つのデータが記憶される。ROMライタは、これら2つのデータ(検証データとなる不揮発性メモリに書き込む前の書込データと、被検証データとなる不揮発性メモリから読み出した書込データ)を比較することでベリファイを行う。ROMライタは、ベリファイにより不揮発性メモリへのデータの書き込みが正常に行われていると判断すると、当該不揮発性メモリへの書き込みを終了する。
The ROM writer can write data to a plurality of nonvolatile memories at a time. Data to be written (hereinafter referred to as “write data”) is temporarily written in a volatile memory built in the ROM writer from a host device provided outside the ROM writer and then written in a plurality of nonvolatile memories. It is. At this time, the write data written in the volatile memory is held as it is.
The ROM writer reads out the write data written in the nonvolatile memory at the time of verification (that is, nonvolatile memory cell data written in the nonvolatile memory cell) and writes it in the built-in volatile memory. As a result, two pieces of data are stored in the volatile memory of the ROM writer. The ROM writer performs verification by comparing these two pieces of data (write data before writing to the nonvolatile memory serving as verification data and write data read from the nonvolatile memory serving as verification data). When the ROM writer determines that the data writing to the nonvolatile memory is normally performed by the verification, the ROM writer ends the writing to the nonvolatile memory.
このようにROMライタに内蔵された揮発性メモリは、少なくともベリファイ時に用いられる2つのデータを記憶するだけの容量が必要になる。また、不揮発性メモリに一度に書き込めるデータ量が、ROMライタの揮発性メモリの記憶容量に依存することになる。さらに、揮発性メモリへの書き込み、読み出しによりベリファイにかかる時間が長くなるために、データの書き込み動作全体に時間がかかる。 As described above, the volatile memory built in the ROM writer needs to have a capacity for storing at least two data used for verification. Further, the amount of data that can be written to the nonvolatile memory at a time depends on the storage capacity of the volatile memory of the ROM writer. Furthermore, since the time required for verification becomes longer due to writing to and reading from the volatile memory, the entire data writing operation takes time.
不揮発性メモリ及び揮発性メモリを一つのメモリデバイスに内蔵して用いることで、上記のようなROMライタの欠点を補うことができる。
特許文献1には、メモリデバイスのバッファ(揮発性メモリ)に書込データを一時的に格納しておき、格納した書込データを不揮発性メモリに書き込むことが記載されている。不揮発性メモリへ書込データが書き込まれた後に、バッファに格納された書込データと不揮発性メモリに書き込まれた書込データとによりベリファイが行われる。
特許文献2には、複数のフラッシュメモリとメモリコントローラに接続されたSRAM(Static Random Access Memory)とを備えたメモリカードの発明が記載されている。SRAMには、フラッシュメモリに書込データを書き込む際に当該書込データが一時的に書き込まれる。ベリファイは、書き込み時に印加される電圧の各段階で行われる。
特許文献3には、複数のフラッシュメモリとライトバッファを備えた半導体ディスクの発明が記載されている。空いているフラッシュメモリに書込データを順次書き込むことで、書き込み速度が遅いフラッシュメモリの欠点を補っている。
以上のような特許文献1〜3では、ベリファイの際に同じメモリデバイスからベリファイに用いる2つのデータを読み出す。そのために、メモリコントローラ側に揮発性メモリが不要になる。しかし、一つのメモリデバイスから順にベリファイに用いる2つのデータを読み出すために、読み出し時間が長くなりがちである。その結果、メモリデバイスへの書き込み動作全体にかかる時間が長くなる。
In
本発明は、上記のような問題に鑑み、メモリデバイスへの書き込み動作全体にかかる時間を従来よりも短縮する技術を提供することを課題とする。 In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a technique for reducing the time required for the entire writing operation to a memory device as compared with the conventional technique.
上記の課題を解決する本発明のメモリコントローラは、不揮発性メモリ及び揮発性メモリを内蔵しており前記揮発性メモリから前記不揮発性メモリへのデータのコピーが可能になっているメモリデバイスを、複数接続可能である。このメモリコントローラは、接続可能な前記メモリデバイスに1対1に対応しており、各々が、対応するメモリデバイスの前記揮発性メモリに対する前記データの書き込みを可能にするとともに、対応するメモリデバイスの前記不揮発性メモリ及び前記揮発性メモリからの前記データの読み出しを可能にする複数のメモリ制御部と、一のメモリ制御部により一のメモリデバイスの不揮発性メモリから読み出された第1データを、他のメモリ制御部により他のメモリデバイスの揮発性メモリから読み出された第2データを用いてベリファイする検証部と、備えている。 A memory controller of the present invention that solves the above problems includes a plurality of memory devices that incorporate a nonvolatile memory and a volatile memory, and that can copy data from the volatile memory to the nonvolatile memory. Connectable. The memory controller has a one-to-one correspondence with the connectable memory devices, each enabling writing of the data to the volatile memory of the corresponding memory device, and the corresponding memory device A plurality of memory control units that enable reading of the data from the nonvolatile memory and the volatile memory, and the first data read from the nonvolatile memory of one memory device by the one memory control unit, A verification unit that performs verification using the second data read from the volatile memory of another memory device by the memory control unit.
本発明のメモリコントローラは、メモリデバイスの揮発性メモリにのみデータを書き込むことが可能になっており、不揮発性メモリに直接書き込むことはない。不揮発性メモリには、同じメモリデバイス内の揮発性メモリからデータが書き込まれる。このような構成であるために、メモリコントローラ内に揮発性メモリを用意する必要がない。そのために、不揮発性メモリに一度に書き込めるデータ量は、メモリデバイスの揮発性メモリに依存して、メモリコントローラに依存することはない。
不揮発性メモリに書き込まれたデータ(第1データ)のベリファイは、この不揮発性メモリを有するメモリデバイスとは異なる、他のメモリデバイスが有する揮発性メモリに書き込まれたデータ(第2データ)を用いて行われる。これら2つメモリデバイスは、異なるメモリ制御部によりデータが読み出される。そのために本発明のメモリコントローラは、例えば、前記一のメモリ制御部と前記他のメモリ制御部とが、互いに同期して動作しており、これにより、前記他のメモリ制御部が、前記一のメモリ制御部が前記第1データを読み出すのと同時に前記第2データを読み出すことが可能になる。従来は、1つのメモリデバイスから第1データと第2データを読み出しており、同時に読み出すことは困難であった。本発明のメモリコントローラでは、同時に読み出すことができるために、従来よりも高速にベリファイに用いる2つのデータを読み出すことが可能になる。また、一のメモリ制御部と他のメモリ制御部とが、互いに同期して動作する場合には、一のメモリ制御部と他のメモリ制御部とは、それぞれ対応するメモリデバイスの前記揮発性メモリに同時に同じデータを書き込むことができる。
前記一のメモリ制御部は、例えば、前記他のメモリデバイスの前記揮発性メモリに書き込まれたデータを前記他のメモリ制御部を介して読み出して、前記一のメモリデバイスの前記揮発性メモリに書き込む構成であってもよい。このような構成では、例えば、一のメモリデバイスの揮発メモリへのデータの書き込みが、他のメモリデバイスを用いて可能になる。また、一のメモリデバイスを別の新たなメモリデバイスに交換したときに、当該新たなメモリデバイスへの書き込みが当該他のメモリデバイスを用いて可能になる。
前記検証部と前記一のメモリ制御部との間及び前記検証部と前記他のメモリ制御部との間は、各々異なる線路で接続されていてもよい。このような構成では、第1データと第2データとを各々別の線路で取得するので、同時に取得でき、高速なベリファイが可能になる。
The memory controller of the present invention can write data only to the volatile memory of the memory device, and does not write directly to the nonvolatile memory. In the nonvolatile memory, data is written from a volatile memory in the same memory device. Because of such a configuration, it is not necessary to prepare a volatile memory in the memory controller. Therefore, the amount of data that can be written to the nonvolatile memory at a time depends on the volatile memory of the memory device and does not depend on the memory controller.
The data (first data) written in the nonvolatile memory is verified using data (second data) written in the volatile memory of another memory device, which is different from the memory device having the nonvolatile memory. Done. Data is read from these two memory devices by different memory control units. For this purpose, in the memory controller of the present invention, for example, the one memory control unit and the other memory control unit operate in synchronization with each other, whereby the other memory control unit The second data can be read simultaneously with the memory controller reading the first data. Conventionally, the first data and the second data are read from one memory device, and it is difficult to read them simultaneously. Since the memory controller of the present invention can read simultaneously, it is possible to read two data used for verification faster than the conventional method. When one memory control unit and another memory control unit operate in synchronization with each other, the one memory control unit and the other memory control unit respectively correspond to the volatile memory of the corresponding memory device. The same data can be written simultaneously.
The one memory control unit reads, for example, data written in the volatile memory of the other memory device via the other memory control unit, and writes the data to the volatile memory of the one memory device. It may be a configuration. In such a configuration, for example, data can be written to the volatile memory of one memory device using another memory device. In addition, when one memory device is replaced with another new memory device, writing to the new memory device becomes possible using the other memory device.
Different lines may be connected between the verification unit and the one memory control unit and between the verification unit and the other memory control unit. In such a configuration, since the first data and the second data are acquired by different lines, they can be acquired simultaneously, and high-speed verification is possible.
このような本発明のメモリコントローラは、例えば、前記複数のメモリ制御部の少なくとも一つが、対応するメモリデバイスが挿抜可能なソケットを備えたROMライタのような構成にすることができる。このソケットを介してデータを送受信可能である。挿抜可能なソケットであるために、書き込みが終了すると別のメモリデバイスに取り替えることができる。 In such a memory controller of the present invention, for example, at least one of the plurality of memory control units can be configured as a ROM writer including a socket into which a corresponding memory device can be inserted and removed. Data can be transmitted and received through this socket. Since the socket can be inserted and removed, it can be replaced with another memory device when writing is completed.
本発明のメモリシステムは、各々が不揮発性メモリ及び揮発性メモリを内蔵しており前記揮発性メモリから前記不揮発性メモリへのデータのコピーが可能になっている複数のメモリデバイスと、前記複数のメモリデバイスに1対1に対応しており、各々が、対応するメモリデバイスの前記揮発性メモリに対するデータの書き込みを可能にするとともに、対応するメモリデバイスの前記不揮発性メモリ及び前記揮発性メモリからのデータの読み出しを可能にする複数のメモリ制御部と、一のメモリ制御部により一のメモリデバイスの不揮発性メモリから読み出された第1データを、他のメモリ制御部により他のメモリデバイスの揮発性メモリから読み出された第2データを用いてベリファイを行う検証部と、を備えている。
このようなメモリシステムは、例えばコンピュータシステムに搭載可能であり、当該コンピュータシステムの不揮発性メモリとして用いることができる。
A memory system according to the present invention includes a plurality of memory devices each including a nonvolatile memory and a volatile memory, and capable of copying data from the volatile memory to the nonvolatile memory, and the plurality of memory devices. The memory devices have a one-to-one correspondence, each enabling writing of data to the volatile memory of the corresponding memory device, and from the non-volatile memory and the volatile memory of the corresponding memory device. A plurality of memory control units that enable data reading, and the first data read from the non-volatile memory of one memory device by one memory control unit is volatilized by another memory control unit to another memory device. A verification unit that performs verification using the second data read from the memory.
Such a memory system can be mounted on a computer system, for example, and can be used as a nonvolatile memory of the computer system.
本発明のデータの書込方法は、各々が不揮発性メモリ及び揮発性メモリを内蔵しており前記揮発性メモリから前記不揮発性メモリへのデータのコピーが可能になっている複数のメモリデバイスに、前記複数のメモリデバイスとの間でデータの送受信が可能なメモリコントローラによりデータを書き込む方法である。このデータの書込方法では、前記メモリコントローラが、各メモリデバイスの前記揮発性メモリに、異なる経路で同時に同じデータを書き込む第1段階と、前記メモリコントローラが、各メモリデバイスに対して、前記揮発性メモリに書き込まれたデータを前記不揮発性メモリにコピーさせるための制御データを送信する第2段階と、各メモリデバイスが、前記制御データを受信して内蔵する前記揮発性メモリに書き込まれた前記データを内蔵する前記不揮発性メモリにコピーする第3段階と、前記メモリコントローラが、所定の一つのメモリデバイスの不揮発性メモリに書き込まれた第1データを、他のメモリデバイスの揮発性メモリに書き込まれた第2データを用いてベリファイを行う第4段階と、を含む。 The data writing method of the present invention includes a plurality of memory devices each including a nonvolatile memory and a volatile memory, and capable of copying data from the volatile memory to the nonvolatile memory. In this method, data is written by a memory controller capable of transmitting / receiving data to / from the plurality of memory devices. In this data writing method, the memory controller first writes the same data to the volatile memory of each memory device simultaneously through different paths, and the memory controller A second stage of transmitting control data for copying the data written in the volatile memory to the non-volatile memory, and the memory device receiving the control data and writing the volatile memory in the volatile memory A third stage of copying data to the non-volatile memory containing the data; and the memory controller writes the first data written in the non-volatile memory of one predetermined memory device to the volatile memory of another memory device And a fourth step of performing verification using the second data.
前記4段階で、前記メモリコントローラが、前記ベリファイに用いる前記第1データと前記第2データとを同時取得可能であれば、高速なベリファイが可能になる。
前記第4段階で、前記ベリファイがフェイルと判断されると、前記メモリコントローラが、例えば、前記制御データを前記メモリデバイスに再送信する。こうすることで、例えば一のメモリデバイスでデータのコピーが良好に終了しなかった場合に、再度データのコピーを行わせることができる。この後、第3、第4段階を再び行うことで、再ベリファイが行われる。
さらに、ベリファイの結果、前記第1データが前記一のメモリデバイスの前記不揮発性メモリに正常に書き込まれていると判断されると、前記メモリコントローラが、新たな別のメモリデバイスの揮発性メモリに前記他のメモリデバイスの前記揮発性メモリのデータを書き込むようにしてもよい。当該他のメモリデバイスを用いて、新たなメモリデバイスの不揮発性メモリへのデータの書き込みが可能になる。
If the memory controller can simultaneously acquire the first data and the second data used for the verification in the four stages, high-speed verification is possible.
If it is determined in the fourth step that the verification fails, the memory controller retransmits the control data to the memory device, for example. By doing so, for example, when data copying is not successfully completed with one memory device, data copying can be performed again. Thereafter, re-verification is performed by performing the third and fourth steps again.
Further, if it is determined as a result of the verification that the first data is normally written in the nonvolatile memory of the one memory device, the memory controller stores the first data in a volatile memory of another new memory device. Data in the volatile memory of the other memory device may be written. Using the other memory device, data can be written to the nonvolatile memory of the new memory device.
以上のような本発明により、不揮発性メモリに書き込まれたデータのベリファイを、この不揮発性メモリを内蔵するメモリデバイスとは異なる、他のメモリデバイスの揮発性メモリに書き込まれたデータを用いて行うことで、ベリファイを従来よりも高速に行うことができる。そのために、メモリデバイスへの書き込み動作全体にかかる時間を従来よりも短縮することができる。 According to the present invention as described above, the data written in the nonvolatile memory is verified using the data written in the volatile memory of another memory device different from the memory device incorporating the nonvolatile memory. As a result, verification can be performed at a higher speed than before. Therefore, the time required for the entire writing operation to the memory device can be reduced as compared with the conventional case.
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、本発明の実施形態であるメモリシステム1の構成図である。
メモリシステム1は、メモリコントローラ10と、各々が不揮発性メモリ21a、21b及び揮発性メモリ22a、22bを有する2つのメモリデバイス20a、20bとを備える。この実施形態では2つのメモリデバイス20a、20bによる構成を説明するが、さらに多くのメモリデバイスを備えた構成であってもよい。メモリコントローラ10には入力装置2、出力装置3、及びホスト装置4が接続される。入力装置2は、メモリコントローラ10を操作するための様々な指示データを入力するための装置である。入力装置2には、例えば、キーボードや操作パネルなどを用いることができる。出力装置3は、メモリコントローラ10の操作に必要な情報や操作結果等を画像或いは音声により出力する。出力装置3には、例えばディスプレイやスピーカなどを用いることができる。メモリコントローラ10、入力装置2、及び出力装置3は、一体に構成されていてもよい。ホスト装置4は、汎用のパーソナルコンピュータなどの情報処理装置である。ホスト装置4は、メモリコントローラ10からの要求に応じて、書込データをメモリコントローラ10に送信する。
FIG. 1 is a configuration diagram of a
The
メモリコントローラ10は、入力インタフェース(入力I/F)11、出力インタフェース(出力I/F)12、通信制御部13、ベリファイを行う検証部14、メモリデバイス20a、20bが接続される第1、第2メモリ制御部15a、15b、及び制御部16を備えている。メモリコントローラ10は、ホスト装置4からメモリデバイス20a、20bの不揮発性メモリ21a、21bに書き込むべき書込データを取得して、この書込データをメモリデバイス20a、20bの揮発性メモリ22a、22bに同時に書き込む。
The
入力I/F11は、入力装置2との間のインタフェース制御を行う。入力I/F11は、入力装置2から入力される様々な指示データを制御部16へ送る。特に、この実施形態ではメモリデバイス20a、20bへの書き込みを指示する書込指示データが入力I/F11を介して入力装置2から制御部16へ送られる。
出力I/F12は、出力装置3との間のインタフェース制御を行う。出力I/F12は、制御部16の制御により、出力装置3により出力できる形態で操作結果などを出力する。出力I/F12は、例えば、出力装置3にメモリデバイス20a、20bへの書き込み操作のステータスを表示したり、書き込み終了時に書き込み終了の表示を行い、検証終了時に検証終了の表示を行う。
通信制御部13は、ホスト装置4との間の通信を行うためのインタフェースである。通信制御部13は、例えば、入力装置2からメモリコントローラ10に書込指示データがあると、制御部16の制御によりホスト装置4から書込データを取得する。
この実施形態では、ホスト装置4から書込データを取得する。しかし、これに限らず、例えば入力装置2により、書込指示データとともに書込データが入力されるような形態でもよい。この場合、ホスト装置4及び通信制御部13は不要になる。
The input I / F 11 performs interface control with the
The output I / F 12 performs interface control with the
The communication control unit 13 is an interface for performing communication with the
In this embodiment, write data is acquired from the
検証部14は、制御部16の制御により、メモリデバイス20a、20bの不揮発性メモリ21a、21bに書き込まれた書込データのベリファイを行う。検証部14は、例えば、メモリデバイス20aの不揮発性メモリ21aから取り込まれた書込データ(不揮発性メモリセルへの書き込み後にそのセルから読み出された被検証データ)と、メモリデバイス20bの揮発性メモリ22bから取り込まれた検証に用いる検証データ(不揮発性メモリセルへの書き込み元データである検証データ)とを比較することでベリファイを行う。つまり、ベリファイに用いる検証データは、被検証データとなる書込データが書き込まれた不揮発性メモリを有するメモリデバイスとは異なるメモリデバイスの揮発性メモリから取り込まれる。検証部14では、書込データと検証データの単純な比較の他に、例えば書込データと検証データのそれぞれのハッシュ値の比較によりベリファイを行う。検証データは、書込データと同じでもよく、また、検証専用のデータであってもよい。例えばハッシュ値の比較でベリファイを行う場合には、検証データが書込データのハッシュ値であってもよい。
The verification unit 14 verifies the write data written in the
第1、第2メモリ制御部15a、15bは、制御部16により制御され、それぞれメモリデバイス20a、20bに対応して設けられる。第1、第2メモリ制御部15a、15bは、メモリデバイス20a、20bとの間で書込データ、検証データ、被検証データなどの送受信を行うためのデータ線17と、メモリデバイス20a、20bの動作を制御する制御データを送受信するための制御線18とで、対応するメモリデバイス20a、20bに接続される。制御データによる制御により、メモリデバイス20a、20bへの書込データ及び検証データの書き込み、読み出しが行われる。また、制御データによりメモリデバイス20a、20bに、揮発性メモリ22a、22bから不揮発性メモリ21a、21bへの書込データのコピーを行わせる(詳細については後述する)。第1、第2メモリ制御部15a、15bには、それぞれ対応するメモリデバイス20a、20bが、例えば図示しないソケットを介して接続される。ソケットにより、メモリデバイス20a、20bが挿抜可能になる。メモリ制御部の数だけ、このメモリコントローラ10にはメモリデバイスが接続可能である。このような構成により、メモリコントローラ10は、各メモリデバイス20a、20bとの間で異なる経路によりデータの送受信を行うことができる。
第1メモリ制御部15aは、不揮発性メモリ21aへのデータの書き込みのためにメモリデバイス20aの揮発性メモリ22aに対して書込データを書き込む。また、メモリデバイス20aの不揮発性メモリ21aから被検証データとして書込データを読み出すとともに、メモリデバイス20bの不揮発性メモリ21bの被検証データとなる書込データの検証に用いるために揮発性メモリ22aから検証データを読み出す。
第2メモリ制御部15bは、第1メモリ制御部15aと同様の機能を有する。第2メモリ制御部15bは、第1メモリ制御部15aがメモリデバイス20aの揮発性メモリ22aに書込データを書き込むのと同時に、メモリデバイス20bの揮発性メモリ22bに書込データを書き込む。
検証データは、通常、第1、第2メモリ制御部15a、15bがメモリデバイス20a、20bの揮発性メモリ22a、22bに書込データを書き込む際に、同時に揮発性メモリ22a、22bに書き込まれる。
The first and second
The first
The second
The verification data is normally written into the volatile memories 22a and 22b at the same time when the first and second
第1、第2メモリ制御部15a、15bは、各々異なる線路で検証部14に接続される。各線路は、検証データが送受信される検証データ用線と被検証用データが送受信される被検証データ用線とで構成される。このような構成では、ベリファイに用いる検証データ及び被検証データを、従来よりも高速に検証部14に提供することができる。
The first and second
制御部16は、入力装置2から入力される指示データに応じて、メモリコントローラ10の各構成要素の動作を制御して指示に沿った処理を行う。制御部16は、メモリデバイス20a、20bに入力される制御データを生成して、第1、第2メモリ制御部15a、15bに入力する。また、制御部16は、例えば、一つの信号により第1、第2メモリ制御部15a、15bの動作を制御する。そのために、第1、第2メモリ制御部15a、15bの書き込み、読み出し動作は同期して行われる。
The control unit 16 controls the operation of each component of the
図2は、メモリデバイス20aの概略断面図である。メモリデバイス20bもメモリデバイス20aと同じ構成である。ここでは、メモリデバイス20aの構成を説明し、メモリデバイス20bの構成についての説明は省略する。
メモリデバイス20aには、MCP(Multi Chip Package)積層技術が用いられており、基板23上に、不揮発性メモリ21a及び揮発性メモリ22aが積層されている。不揮発性メモリ21aと揮発性メモリ22aとは、図示しない層間絶縁体の一例である接着剤(例えば、ポリイミド、シリコーン、エポキシ系の熱伝導性接着剤など)やスペーサなどで接着され、不揮発性メモリ21aは、図示しない接着剤などで基板23に接着される。なお、図2はメモリデバイスの構造の一例であり、一つのパッケージに不揮発性メモリ21a及び揮発性メモリ22aが内蔵されるPoP(Package-on-Package)構造でもよい。また、不揮発性メモリ21a及び揮発性メモリ22aの他に、例えばメモリコントローラ10の機能を有する半導体チップを更に備えた構成であってもよい。
不揮発性メモリ21aと揮発性メモリ22aとは、同じデータが入力される端子同士が配線24により接続されている。基板23の下部にはボール電極25が配置されている。配線24とボール電極25とは、基板23の内部配線により接続されている。ボール電極25には、メモリデバイス20aの外部から電源電圧が印加されるとともに、メモリコントローラ10との間でデータ線17及び制御線18を介して各種データ(例えば、書込データ、検証データ、被検証データなど)の送受信が行われる。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the memory device 20a. The memory device 20b has the same configuration as the memory device 20a. Here, the configuration of the memory device 20a will be described, and the description of the configuration of the memory device 20b will be omitted.
An MCP (Multi Chip Package) stacking technique is used for the memory device 20 a, and a
The
図3は、メモリデバイス20aの回路構成を説明する図である。メモリコントローラ10から不揮発性メモリ21aへ書き込まれる書込データは、一旦、揮発性メモリ22aに書き込まれた後に、揮発性メモリ22aから不揮発性メモリ21aへコピーされる。不揮発性メモリ21aに書き込まれた書込データ及び揮発性メモリ22aに書き込まれた検証データを読み出す際には、メモリコントローラ10が不揮発性メモリ21a及び揮発性メモリ22aから直接読み出す。
FIG. 3 is a diagram illustrating a circuit configuration of the memory device 20a. The write data written from the
メモリコントローラ10と、不揮発性メモリ21aと、揮発性メモリ22aとの間は、各種クロック信号、各種コマンド信号、アドレス信号AD、などの制御データ、及び書込データであるデータ信号DQが送受信される。不揮発性メモリ21aと揮発性メモリ22aとのいずれが活性化されるかは、チップセレクト信号CS1、CS2により決まる。
Control data such as various clock signals, various command signals, and address signals AD, and a data signal DQ that is write data are transmitted and received between the
揮発性メモリ22aは、メモリコントローラ10から出力される制御データであるロウアドレスセレクト信号RAS、カラムアドレスセレクト信号CAS、ライトイネーブル信号WEをデコードして揮発性メモリ22aのメモリセルにアクセスする不図示のコマンド判定回路を備えている。
不揮発性メモリ21aは、揮発性メモリ22aから読み出されたデータを異なるアドレスに書き込む機能を有する。この機能はコマンド判定回路26及びアドレス制御回路27により実現される。
The volatile memory 22a decodes a row address select signal RAS, a column address select signal CAS, and a write enable signal WE, which are control data output from the
The
図4は、不揮発性メモリ21aに備えられたコマンド判定回路26及びアドレス制御回路27の一例を示す回路図である。
コマンド判定回路26は、インバータ31と、アンドゲート32〜35と、スイッチ36、37とを備えている。
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of the command determination circuit 26 and the
The command determination circuit 26 includes an inverter 31, AND
インバータ31は、チップセレクト信号CS1の反転信号を出力する。すなわち、不揮発性メモリ21aが選択され、チップセレクト信号CS1がローレベルになるとインバータ31からはハイレベルが出力される。
The inverter 31 outputs an inverted signal of the chip select signal CS1. That is, when the
アンドゲート32は、ロウアドレスセレクト信号RASがローレベルになり、カラムアドレスセレクト信号CAS及びライトイネーブル信号WEがハイレベルになると、出力であるアクティブ信号ACTがハイレベルになる。
アンドゲート33は、チップセレクト信号CS1がローレベルの状態で、カラムアドレスセレクト信号CAS及びライトイネーブル信号WEがローレベルになり、ロウアドレスセレクト信号RASがハイレベルになると、出力がハイレベルになる。スイッチ36において、後述の実行コード判定信号CBCがローレベルの場合には、アンドゲート33の出力がライト信号WTに出力される。実行コード判定信号CBCがハイレベルの場合には、ハイレベルのパルスが強制的にライト信号WTに出力される。
アンドゲート34は、ロウアドレスセレクト信号RAS及びライトイネーブル信号WEがローレベルになり、カラムアドレスセレクト信号CASがハイレベルになると、出力であるプリチャージ信号PRがハイレベルになる。
アンドゲート35は、チップセレクト信号CS1がローレベルで、カラムアドレスセレクト信号CASがローレベルで、ロウアドレスセレクト信号RAS及びライトイネーブル信号WEがハイレベルになると、ハイレベルが出力される。スイッチ37において、後述の実行コード判定信号CBCがローレベルの場合には、アンドゲート35の出力がリード信号RDに出力され、実行コード判定信号CBCがハイレベルの場合にはローレベルがリード信号RDに出力される。
In the AND
The AND gate 33 outputs a high level when the column address select signal CAS and the write enable signal WE are at a low level while the chip select signal CS1 is at a low level, and the row address select signal RAS is at a high level. In the
In the AND gate 34, when the row address select signal RAS and the write enable signal WE become low level and the column address select signal CAS becomes high level, the output precharge signal PR becomes high level.
The AND
アドレス制御回路27は、実行コード判定回路38と、アドレスラッチレイテンシ付加回路39と、ロウアドレスラッチ回路40と、カラムアドレスラッチ回路41とを備えている。
実行コード判定回路38には、データ信号DQ、アクティブ信号ACT、及びプリチャージ信号PRが入力される。アクティブ信号ACTがハイレベルになると、データ信号DQに含まれる実行コードCMDを取得する。実行コードCMDにより、不揮発性メモリ21aは、揮発性メモリ22aからのデータコピーが可能なモードになる。実行コードCMDにより、アドレスのレイテンシを付加するか否かが決定する。実行コードCMDにより、データの転送元(揮発性メモリ22a)と転送先(不揮発性メモリ21a)とが異なる場合、実行コード判定信号CBCがハイレベルになる。なお、実行コード判定信号CBCは、プリチャージ信号PRがハイレベルになるとローレベルになる。
The
The execution code determination circuit 38 receives the data signal DQ, the active signal ACT, and the precharge signal PR. When the active signal ACT becomes high level, the execution code CMD included in the data signal DQ is acquired. With the execution code CMD, the
アドレスラッチレイテンシ付加回路39には、クロック信号CLK及び実行コード判定信号CBCが入力される。実行コード判定信号CBCがハイレベルであると、ロウアドレスラッチ回路40及びカラムアドレスラッチ回路41におけるアドレスにレイテンシを付加するアドレスレイテンシ制御信号が出力される。付加するアドレスのレイテンシの値は「1」であってもよいし、「1」を上回る値でもよい。実行コード判定信号CBCがローレベルであるとアドレスのレイテンシ値は「0」となる。レイテンシの値は、図示しないモードレジスタ設定サイクルによって予め設定することができる。
The address latch
ロウアドレスラッチ回路40は、アクティブ信号ACTと、アドレスラッチレイテンシ付加回路39からのアドレスレイテンシ制御信号と、アドレス信号ADとが入力される。アクティブ信号ACTがハイレベルになると、アドレスラッチレイテンシ付加回路39からのアドレスレイテンシ制御信号に応じたアドレスレイテンシで、ロウアドレスがラッチされ、ロウアドレスROWADが出力される。
The row
カラムアドレスラッチ回路41は、ライト信号WTと、リード信号RDと、アドレスラッチレイテンシ付加回路39からのアドレスレイテンシ制御信号と、アドレス信号ADとが入力される。ライト信号WTがハイレベルになるとアドレスラッチレイテンシ付加回路39からのアドレスレイテンシ制御信号に応じたアドレスレイテンシで、カラムアドレスがラッチされ、カラムアドレスCOLADが出力される。なお、リード信号RDがハイレベルの場合には、アドレスレイテンシは「0」で、アドレス信号ADがラッチされる。
The column address latch circuit 41 receives the write signal WT, the read signal RD, the address latency control signal from the address latch
揮発性メモリ22aの図示しないライト制御回路について説明する。後述するように、不揮発性メモリ21aのライトデータは、揮発性メモリ22aのリードデータであり、不揮発性メモリ21aがそのデータをラッチする。よって、不揮発性メモリ21aのライトレイテンシWCL(コマンドからライトデータをラッチするまでのCLK数規定)は、転送元である揮発性メモリ22aのリードレイテンシRCLと同じである。揮発性メモリ22aのライト制御回路に含まれるデータラッチレイテンシ付加回路は、アドレスラッチレイテンシ付加回路39と同様な回路であり、実行コード判定回路38の実行コード判定信号CBCとクロック信号CLKを入力し、図示しないデータラッチ回路を制御する。
A write control circuit (not shown) of the volatile memory 22a will be described. As will be described later, the write data of the
図5を参照して、メモリデバイス20aで行われる揮発性メモリ22aから不揮発性メモリ21aへの書込データのコピー動作について説明する。図5は、メモリデバイス20aの動作を表すタイミングチャートである。クロック信号CLK、チップセレクト信号CS2、ロウアドレスセレクト信号RAS、カラムアドレスセレクト信号CAS、ライトイネーブル信号WE、アドレス信号AD、及びデータ信号DQは、メモリコントローラ10の第1メモリ制御部15aから入力される。中段のアクティブ信号ACT、リード信号RD、ライト信号WT、及びプリチャージ信号PRは、揮発性メモリ22aのメモリコマンドである。下段のアクティブ信号ACT、リード信号RD、ライト信号WT、及びプリチャージ信号PRは、不揮発性メモリ21aのメモリコマンドである。
With reference to FIG. 5, the write data copy operation from the volatile memory 22a to the
時刻T1において、チップセレクト信号CS2及びロウアドレスセレクト信号RASがローレベルになり、カラムアドレスセレクト信号CAS及びライトイネーブル信号WEがハイレベルになると、不揮発性メモリ21aのアクティブ信号ACTがハイレベルになる。これとともにデータ信号DQから実行コードCMDが取得される。本実施形態では、転送先のアドレスレイテンシALは「+1」である。また、転送元のリードレイテンシRCLは「+2」である。転送先のライトレイテンシWCLは「+2」であり、その数値は、転送元のリードレイテンシRCLに合わせられる。つまり、リードレイテンシRCLとライトレイテンシWCLが等しい。
揮発性メモリ22aのアクティブ信号ACTがハイレベルになる。これにより、揮発性メモリ22aでは、ロウアドレス“3A”がセット(ラッチ)される。
At time T1, when the chip select signal CS2 and the row address select signal RAS are at a low level, and the column address select signal CAS and the write enable signal WE are at a high level, the active signal ACT of the
The active signal ACT of the volatile memory 22a becomes high level. As a result, the row address “3A” is set (latched) in the volatile memory 22a.
時刻T2において、転送先のアドレスレイテンシALが“1”であるため、不揮発性メモリ21aでは、アクティブ信号ACTから1CLK遅れたタイミングでロウアドレス“1B”がセット(ラッチ)される。
At time T2, since the address latency AL of the transfer destination is “1”, the
時刻T3において、チップセレクト信号CS2及びカラムアドレスセレクト信号CASがローレベルに、ロウアドレスセレクト信号RAS及びライトイネーブル信号WEがハイレベルになると、揮発性メモリ22aのリード信号RDがハイレベルになる。これにより、揮発性メモリ22aのカラムアドレス“B0”がセット(ラッチ)される。
他方、不揮発性メモリ21aでは、実行コード判定信号CBCがハイレベルのため、ライト信号WTがハイレベルにされる。
揮発性メモリ22aのリードレイテンシRCLが“2”に設定されているため、2サイクル後(時刻T5)から揮発性メモリ22aのデータがデータ信号DQとして出力される。
At time T3, when the chip select signal CS2 and the column address select signal CAS become low level, and the row address select signal RAS and the write enable signal WE become high level, the read signal RD of the volatile memory 22a becomes high level. As a result, the column address “B0” of the volatile memory 22a is set (latched).
On the other hand, in the
Since the read latency RCL of the volatile memory 22a is set to “2”, the data of the volatile memory 22a is output as the data signal DQ after two cycles (time T5).
時刻T4において、転送先のアドレスレイテンシALが“1”であるため、不揮発性メモリ21aでは、カラムアドレス“A0”がセット(ラッチ)される。
不揮発性メモリ21aに与えられる転送先アドレスが、アドレスレイテンシ技術によって揮発性メモリ22aに与えられる転送元アドレスと同一サイクル内(T2、T4)で確立できる。
At time T4, since the address latency AL of the transfer destination is “1”, the column address “A0” is set (latched) in the
The transfer destination address given to the
時刻T5〜T8において、揮発性メモリ22aのアドレス“3AB0”に格納されるデータD1〜D4が、リードレイテンシRCL=2によって順次読み出されるとともに、不揮発性メモリ21aのアドレス“1BA0”へ、揮発性メモリ22aと同じライトレイテンシWCL=2で、データD1〜D4が書き込まれる。
At times T5 to T8, the data D1 to D4 stored in the address “3AB0” of the volatile memory 22a are sequentially read by the read latency RCL = 2, and the volatile memory is transferred to the address “1BA0” of the
時刻T9において、ロウアドレスセレクト信号RAS及びライトイネーブル信号WEがローレベルになり、カラムアドレスセレクト信号CASがハイレベルになるため、不揮発性メモリ21aでは、プリチャージ信号PRがハイレベルとなる。これにより、実行コード判定信号CBCがローレベルとなり、不揮発性メモリ21aは通常の動作モードに復帰する。
At time T9, since the row address select signal RAS and the write enable signal WE are at a low level and the column address select signal CAS is at a high level, the precharge signal PR is at a high level in the
以上、詳細に説明したとおり、このメモリデバイス20aでは、転送元となる揮発性メモリ22aから転送先となる不揮発性メモリ21aへのデータのコピーを、メモリコントローラ10からの制御データにより、メモリデバイス20a内の動作のみで行なうことができる。
As described above in detail, in this memory device 20a, the data copy from the volatile memory 22a serving as the transfer source to the
図6は、メモリシステム1によるメモリデバイス20aへの書き込み動作の処理流れ図である。
メモリコントローラ10は、入力装置2からメモリデバイス20a、20bへの書込指示データを受信する(ステップS10)。メモリコントローラ10は、ホスト装置4からメモリデバイス20a、20bへ書込データを書き込む(転送する)。書込データは、メモリコントローラ10によりメモリデバイス20a、20bの各揮発性メモリ22a、22bに同時に書き込まれる(ステップS20)。
FIG. 6 is a process flowchart of a write operation to the memory device 20a by the
The
メモリコントローラ10は、書込データをメモリデバイス20a、20bの各揮発性メモリ22a、22bに書き込むと、制御データをメモリデバイス20a、20bに送信する。メモリデバイス20a、20bは、メモリコントローラ10から制御データを受信すると、メモリデバイス20a、20b内の各揮発性メモリ22a、22bに書き込まれた書込データを、同じメモリデバイス20a、20b内の不揮発性メモリ21a、21bにそれぞれコピーする(ステップS30)。
次いでメモリコントローラ10は、不揮発性メモリ21a、21bに書き込まれた書込データの検証を行う。ここでは、メモリデバイス20aの不揮発性メモリ21aに書き込まれた書込データの検証を例に説明する。
メモリコントローラ10は、メモリデバイス20aの不揮発性メモリ21aから、第1メモリ制御部15aにより、被検証データとして書込データを読み出す。読み出された書込データは、検証部14に送られる。同時にメモリコントローラ10は、メモリデバイス20bの揮発性メモリ22bから、第2メモリ制御部15bにより検証データを読み出す。読み出された検証データは、検証部14に送られる(ステップS40)。検証データは、例えばメモリコントローラ10からステップS20で揮発性メモリ22bに書き込まれた書込データである。
When the write data is written in the volatile memories 22a and 22b of the memory devices 20a and 20b, the
Next, the
The
検証部14では、メモリデバイス20aの不揮発性メモリ21aから被検証データとして読み出された書込データとメモリデバイス20bの揮発性メモリ22bから読み出された検証データとを比較して、ベリファイを行う(ステップS50)。つまり、一のメモリデバイスの不揮発性メモリに書き込まれた書込データの検証は、他のメモリデバイスの揮発性メモリから読み出される検証データにより行われる。
メモリコントローラ10は、ベリファイの結果、不揮発性メモリ21aへの書き込みが正常に行われている場合(ベリファイパス)には、メモリデバイス20aへの書き込みを終了する(ステップS60:Y)。正常に書き込みが行われていない場合(ベリファイフェイル)には、例えば以下に示す通り、ステップS20に戻る方法とステップ30に戻る方法とがある(ステップS60:N)。
ベリファイフェイルの原因が揮発性メモリ22aにある場合、メモリコントローラ10は、ステップS20に戻り、ホスト装置4から揮発性メモリ22aへ書込データを再び書き込む(転送する)段階から、書き込み動作を、書き込みとその検証が正常に終了するまで繰り返す(ステップS20〜ステップS60のループ)。メモリコントローラ10に書込データを一時記憶するためのメモリを設けていないために、再度、ホスト装置4から書込データを揮発性メモリ22aへ書き込む。
ベリファイフェイルの原因が不揮発性メモリ21aにある場合、メモリコントローラ10は、ステップS30に戻り、揮発性メモリ22aから不揮発性メモリ21aへ書込データをコピーする段階から、書き込み動作を、書き込みとその検証が正常に終了するまで繰り返す(ステップS30〜ステップS60のループ)。メモリコントローラ10に書込データを一時記憶するためのメモリを設けていないため、再度、揮発性メモリ22aから不揮発性メモリ21aに書込データをコピーする。
The verification unit 14 performs verification by comparing the write data read as the data to be verified from the
As a result of the verification, if the writing to the
If the cause of the verify failure is in the volatile memory 22a, the
If the cause of the verify failure is in the
ベリファイも含めて書き込みが終了したメモリデバイスを新たな別のメモリデバイスに取り替えると、当該別のメモリデバイスへの書込データの書き込みは、高速に行うことができる。例えば、書き込みが終了したメモリデバイス20aをソケットから挿抜して新たな別のメモリデバイスを挿入すると、このメモリデバイスの揮発性メモリに対しては、第2メモリ制御部15bと第1メモリ制御部15aとを介して、メモリデバイス20bの揮発性メモリ22bから書込データを書き込むことができる。これにより、新たにホスト装置4から書込データを転送する必要がなくなり、書き込みが高速に行われる。また、ホスト装置4は、一度いづれかの揮発性メモリへ書込データを転送した後は、メモリコントローラ10或いはメモリシステム1からのディスターブがなく、図示しないその他のデバイスと通信することができる。
When a memory device that has been written, including verification, is replaced with another new memory device, writing of write data to the other memory device can be performed at high speed. For example, when the memory device 20a that has been written is inserted and removed from the socket and another new memory device is inserted, the second
従来は、同じメモリデバイスから被検証データとしての書込データと検証データを読み出すために、各々に必要な時間を加算した時間必要である。しかし、上記のような本実施形態では、被検証データである書込データが書き込まれたメモリデバイスとは異なるメモリデバイスから検証データを読み出すために、書込データと検証データとを同時に読み出し可能である。そのために、ベリファイにかかる時間を従来よりも短縮できる。これにより、書込動作全体の時間も短縮できる。
メモリコントローラ10は、ROMライタとして用いる他に、例えばコンピュータシステム内に設けられ、同じコンピュータシステム内のメモリデバイスに書き込む装置としても用いることができる。コンピュータシステム内に設けられる場合には、例えばメモリデバイスがメモリコントローラから挿抜できないように、接続される。
Conventionally, in order to read write data and verification data as data to be verified from the same memory device, it is necessary to add time required for each. However, in this embodiment as described above, since the verification data is read from a memory device different from the memory device to which the write data that is the verification data is written, the write data and the verification data can be read simultaneously. is there. Therefore, the time required for verification can be shortened compared to the conventional case. Thereby, the time of the entire writing operation can be shortened.
In addition to being used as a ROM writer, the
1…メモリシステム、10…メモリコントローラ、11…入力インタフェース、12…出力インタフェース、13…通信制御部、14…検証部、15a…第1メモリ制御部、15b…第2メモリ制御部、16…制御部、17…データ線、18…制御線、20a,20b…メモリデバイス、21a,21b…不揮発性メモリ、22a,22b…揮発性メモリ、23…基板、24…配線、25…ボール電極、26…コマンド判定回路、27…アドレス制御回路、31…インバータ、32〜35…アンドゲート、36,37…スイッチ、38…実行コード判定回路38、39…アドレスラッチレイテンシ付加回路、40…ロウアドレスラッチ回路、41…カラムアドレスラッチ回路、2…入力装置、3…出力装置、4…ホスト装置
DESCRIPTION OF
Claims (11)
接続可能な前記メモリデバイスに1対1に対応しており、各々が、対応するメモリデバイスの前記揮発性メモリに対する前記データの書き込みを可能にするとともに、対応するメモリデバイスの前記不揮発性メモリ及び前記揮発性メモリからの前記データの読み出しを可能にする複数のメモリ制御部と、
一のメモリ制御部により一のメモリデバイスの不揮発性メモリから読み出された第1データを、他のメモリ制御部により他のメモリデバイスの揮発性メモリから読み出された第2データを用いてベリファイする検証部と、を備えている、
メモリコントローラ。 A memory controller having a built-in nonvolatile memory and a volatile memory and capable of connecting a plurality of memory devices capable of copying data from the volatile memory to the nonvolatile memory,
Each of the connectable memory devices has a one-to-one correspondence, each enabling writing of the data to the volatile memory of the corresponding memory device, and the non-volatile memory of the corresponding memory device and the A plurality of memory controllers that allow reading of the data from volatile memory;
The first data read from the non-volatile memory of one memory device by one memory control unit is verified using the second data read from the volatile memory of another memory device by another memory control unit. And a verification unit
Memory controller.
請求項1記載のメモリコントローラ。 The one memory control unit and the other memory control unit operate in synchronization with each other, whereby the other memory control unit reads the first data from the one memory control unit. At the same time, the second data is read out.
The memory controller according to claim 1.
請求項2記載のメモリコントローラ。 The one memory control unit and the other memory control unit simultaneously write the same data to the volatile memory of the corresponding memory device,
The memory controller according to claim 2.
請求項1又は2記載のメモリコントローラ。 The one memory control unit reads data written in the volatile memory of the other memory device through the other memory control unit, and writes the data to the volatile memory of the one memory device.
The memory controller according to claim 1 or 2.
請求項1〜4のいずれか1項記載のメモリコントローラ。 Between the verification unit and the one memory control unit and between the verification unit and the other memory control unit are connected by different lines, respectively.
The memory controller according to claim 1.
請求項1〜5のいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 At least one of the plurality of memory control units includes a socket into which a corresponding memory device can be inserted and removed, and transmits and receives data through the socket.
The memory controller according to claim 1.
前記複数のメモリデバイスに1対1に対応しており、各々が、対応するメモリデバイスの前記揮発性メモリに対するデータの書き込みを可能にするとともに、対応するメモリデバイスの前記不揮発性メモリ及び前記揮発性メモリからのデータの読み出しを可能にする複数のメモリ制御部と、
一のメモリ制御部により一のメモリデバイスの不揮発性メモリから読み出された第1データを、他のメモリ制御部により他のメモリデバイスの揮発性メモリから読み出された第2データを用いてベリファイする検証部と、を備えている、
メモリシステム。 A plurality of memory devices each including a nonvolatile memory and a volatile memory, and capable of copying data from the volatile memory to the nonvolatile memory;
The plurality of memory devices correspond one-to-one, and each enables writing of data to the volatile memory of the corresponding memory device, and the nonvolatile memory and the volatile of the corresponding memory device A plurality of memory control units that enable reading of data from the memory;
The first data read from the non-volatile memory of one memory device by one memory control unit is verified using the second data read from the volatile memory of another memory device by another memory control unit. And a verification unit
Memory system.
前記メモリコントローラが、各メモリデバイスの前記揮発性メモリに、異なる経路で同時に同じデータを書き込む第1段階と、
前記メモリコントローラが、各メモリデバイスに対して、前記揮発性メモリに書き込まれたデータを前記不揮発性メモリにコピーさせるための制御データを送信する第2段階と、
各メモリデバイスが、前記制御データを受信して内蔵する前記揮発性メモリに書き込まれた前記データを内蔵する前記不揮発性メモリにコピーする第3段階と、
前記メモリコントローラが、所定の一のメモリデバイスの前記不揮発性メモリに書き込まれた第1データを、他のメモリデバイスの揮発性メモリに書き込まれた第2データを用いてベリファイを行う第4段階と、を含む、
データの書込方法。 A method of writing data to a plurality of memory devices each including a nonvolatile memory and a volatile memory by a memory controller capable of transmitting / receiving data to / from the plurality of memory devices,
A first stage in which the memory controller writes the same data simultaneously in different paths to the volatile memory of each memory device;
A second stage in which the memory controller transmits control data for causing each memory device to copy data written in the volatile memory to the nonvolatile memory;
A third stage in which each memory device receives the control data and copies the data written in the built-in volatile memory to the built-in nonvolatile memory;
A fourth stage in which the memory controller verifies the first data written in the non-volatile memory of a predetermined memory device using the second data written in the volatile memory of another memory device; ,including,
How to write data.
請求項8記載のデータの書込方法。 In the four steps, the memory controller simultaneously acquires the first data and the second data used for the verification.
The data writing method according to claim 8.
請求項8又は9記載のデータの書込方法。 In the fourth step, when the verify is determined to fail, the memory controller retransmits the control data to the memory device.
10. The data writing method according to claim 8 or 9.
請求項8〜10のいずれか1項記載のデータの書込方法。 As a result of the verification, when it is determined that the first data is normally written in the nonvolatile memory of the one memory device, the memory controller stores the first data in the volatile memory of another new memory device. Write the volatile memory data of other memory devices,
The data writing method according to claim 8.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008099308A JP5107776B2 (en) | 2008-04-07 | 2008-04-07 | Memory controller, memory system, and method of writing data to memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008099308A JP5107776B2 (en) | 2008-04-07 | 2008-04-07 | Memory controller, memory system, and method of writing data to memory device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009252294A JP2009252294A (en) | 2009-10-29 |
JP5107776B2 true JP5107776B2 (en) | 2012-12-26 |
Family
ID=41312858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008099308A Expired - Fee Related JP5107776B2 (en) | 2008-04-07 | 2008-04-07 | Memory controller, memory system, and method of writing data to memory device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5107776B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9076530B2 (en) | 2013-02-07 | 2015-07-07 | Seagate Technology Llc | Non-volatile write buffer data retention pending scheduled verification |
JP6030485B2 (en) * | 2013-03-21 | 2016-11-24 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | Electronic control unit |
JP2014191372A (en) * | 2013-03-26 | 2014-10-06 | Mega Chips Corp | Nonvolatile storage system, nonvolatile storage device, memory controller, and program |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05290589A (en) * | 1992-04-03 | 1993-11-05 | Nippon Steel Corp | Semiconductor integrated circuit |
US6535780B1 (en) * | 1999-11-10 | 2003-03-18 | Data I/O Corporation | High speed programmer system |
JP3872241B2 (en) * | 1999-11-19 | 2007-01-24 | 株式会社 沖情報システムズ | A fall prevention foot mechanism for self-supporting devices |
CN1278239C (en) * | 2002-01-09 | 2006-10-04 | 株式会社瑞萨科技 | Storage system and storage card |
JP2006309829A (en) * | 2005-04-27 | 2006-11-09 | Nec Electronics Corp | Nonvolatile semiconductor memory device and its control method |
-
2008
- 2008-04-07 JP JP2008099308A patent/JP5107776B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009252294A (en) | 2009-10-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7925854B2 (en) | System and method of operating memory devices of mixed type | |
US8433874B2 (en) | Address assignment and type recognition of serially interconnected memory devices of mixed type | |
CN115987299B (en) | Error detection code generation circuit and memory system including the same | |
JP5427360B2 (en) | Memory system based on flash memory | |
JP7007102B2 (en) | How to operate the non-volatile memory module and storage device | |
TW201519237A (en) | Apparatuses and methods for configuring I/Os of memory for hybrid memory modules | |
KR20200100951A (en) | Memory apparatus and data processing system including the same | |
JP2010009646A (en) | Semiconductor memory device | |
TW201602783A (en) | Apparatuses and methods for implementing masked write commands | |
TWI729239B (en) | Semiconductor device | |
KR20100085564A (en) | Data processing system and data processing method thereof | |
KR100877609B1 (en) | Semiconductor memory system performing data error correction using flag cell array of buffer memory and driving method thereof | |
JP5107776B2 (en) | Memory controller, memory system, and method of writing data to memory device | |
KR20210069514A (en) | Memory system and method of training the memory system | |
US10319455B2 (en) | Semiconductor device | |
US10976368B2 (en) | Memory apparatus relating to determination of a failed region and test method thereof, memory module and system using the same | |
JP5010263B2 (en) | Nonvolatile semiconductor memory device | |
US20100146224A1 (en) | Request processing device, request processing system, and access testing method | |
US8537624B2 (en) | Semiconductor memory device and method of operating the same | |
JP4074276B2 (en) | Semiconductor device | |
US10698781B2 (en) | Semiconductor memory module, semiconductor memory system, and method of accessing semiconductor memory module | |
US9997234B1 (en) | Semiconductor devices | |
US20180196616A1 (en) | Memory device and memory module | |
JP2007207397A (en) | Semiconductor storage device | |
US10621039B2 (en) | Electronic devices |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20100324 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100412 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100818 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110406 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110603 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20120829 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120904 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121004 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151012 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |