JP5104545B2 - 検証データ作成方法,検証データ作成装置及び検証データ作成プログラム - Google Patents
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Description
(付記1)
コンピュータが、システムの検証に利用する複数のテスト項目を含む検証データを作成する検証データ作成方法であって、
因子の種類毎に数値を定義し、所定数の前記因子の組み合わせにより構成される複数のテスト項目から、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計の最小値、最大値を算出して、前記最小値と最大値との間を複数に分割した複数の区間を生成する区間生成ステップと、
2因子間の前記因子の種類の組み合わせを全て網羅するように複数の前記テスト項目を生成するテスト項目生成ステップと、
前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計を前記テスト項目毎に算出し、前記数値の合計によって網羅されていない前記区間を未網羅の区間として選択する未網羅区間選択ステップと、
未網羅の区間を網羅するように前記テスト項目を生成する未網羅区間テスト項目生成ステップと、
を有する検証データ作成方法。
(付記2)
前記未網羅区間テスト項目生成ステップは、
前記未網羅の区間から一の前記区間を選択し、選択した前記区間の最小値、最大値に対して、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計が、選択した前記区間の最小値及び最大値の中間値となるように前記テスト項目を生成する付記1記載の検証データ作成方法。
(付記3)
前記未網羅区間テスト項目生成ステップは、
前記テスト項目を構成する全因子のうち前記因子の種類が決まっている既決定因子については前記因子の種類に応じた数値、前記テスト項目を構成する全因子のうち、前記種類を決定する決定対象の前記因子以外で前記因子の種類が決まっていない未決定因子については前記数値の最小値及び最大値を設定し、
前記既決定因子の前記数値と、前記未決定因子の前記数値の最小値及び最大値を積算した前記数値とを加算した最小合計値及び最大合計値を算出し、前記最小合計値又は最大合計値に加算したときに前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計が、選択した前記区間の最小値及び最大値の中間値に近くなる前記因子の種類を決定対象の前記因子の種類として選択する付記2記載の検証データ作成方法。
(付記4)
システムの検証に利用する複数のテスト項目を含む検証データを作成する検証データ作成装置であって、
因子の種類毎に数値を定義し、所定数の前記因子の組み合わせにより構成される複数のテスト項目から、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計の最小値、最大値を算出して、前記最小値と最大値との間を複数に分割した複数の区間を生成する区間生成手段と、
2因子間の前記因子の種類の組み合わせを全て網羅するように複数の前記テスト項目を生成するテスト項目生成手段と、
前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計を前記テスト項目毎に算出し、前記数値の合計によって網羅されていない前記区間を未網羅の区間として選択する未網羅区間選択手段と、
未網羅の区間を網羅するように前記テスト項目を生成する未網羅区間テスト項目生成手段と、
を有する検証データ作成装置。
(付記5)
システムの検証に利用する複数のテスト項目を含む検証データを作成するコンピュータに、
因子の種類毎に数値を定義し、所定数の前記因子の組み合わせにより構成される複数のテスト項目から、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計の最小値、最大値を算出して、前記最小値と最大値との間を複数に分割した複数の区間を生成する区間生成ステップと、
2因子間の前記因子の種類の組み合わせを全て網羅するように複数の前記テスト項目を生成するテスト項目生成ステップと、
前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計を前記テスト項目毎に算出し、前記数値の合計によって網羅されていない前記区間を未網羅の区間として選択する未網羅区間選択ステップと、
未網羅の区間を網羅するように前記テスト項目を生成する未網羅区間テスト項目生成ステップと、
を実行させるための検証データ作成プログラム。
12 出力装置
13 ドライブ装置
14 補助記憶装置
15 主記憶装置
16 演算処理装置
17 インターフェース装置
18 記録媒体
20 検証データ生成装置
21 負荷量区間生成部
22 テスト項目生成部
23 未網羅区間選択部
24 未網羅区間テスト項目生成部
25 因子情報格納部
30 WDM装置
31 ネットワーク部を構成するネットワークボード
32 クロスコネクト部
33−1〜33−n クライアントボード
Claims (5)
- コンピュータが、システムの検証に利用する複数のテスト項目を含む検証データを作成する検証データ作成方法であって、
因子の種類毎に設定されている数値に応じて、所定数の前記因子の組み合わせにより構成される複数のテスト項目から、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計の最小値、最大値を算出して、前記最小値と最大値との間を複数に分割した複数の区間を生成する区間生成ステップと、
2因子間の前記因子の種類の組み合わせを全て網羅するように複数の前記テスト項目を生成するテスト項目生成ステップと、
前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計を前記テスト項目毎に算出し、前記数値の合計によって網羅されていない前記区間を未網羅の区間として選択する未網羅区間選択ステップと、
未網羅の区間を網羅するように前記テスト項目を生成する未網羅区間テスト項目生成ステップと、
を有する検証データ作成方法。 - 前記未網羅区間テスト項目生成ステップは、
前記未網羅の区間から一の前記区間を選択し、選択した前記区間の最小値、最大値に対して、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計が、選択した前記区間の最小値及び最大値の中間値となるように前記テスト項目を生成する請求項1記載の検証データ作成方法。 - 前記未網羅区間テスト項目生成ステップは、
前記テスト項目を構成する全因子のうち前記因子の種類が決まっている既決定因子については前記因子の種類に応じた数値、前記テスト項目を構成する全因子のうち、前記種類を決定する決定対象の前記因子以外で前記因子の種類が決まっていない未決定因子については前記数値の最小値及び最大値を設定し、
前記既決定因子の前記数値と、前記未決定因子の前記数値の最小値及び最大値を積算した前記数値とを加算した最小合計値及び最大合計値を算出し、前記最小合計値又は最大合計値に加算したときに前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計が、選択した前記区間の最小値及び最大値の中間値に近くなる前記因子の種類を決定対象の前記因子の種類として選択する請求項2記載の検証データ作成方法。 - システムの検証に利用する複数のテスト項目を含む検証データを作成する検証データ作成装置であって、
因子の種類毎に設定されている数値に応じて、所定数の前記因子の組み合わせにより構成される複数のテスト項目から、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計の最小値、最大値を算出して、前記最小値と最大値との間を複数に分割した複数の区間を生成する区間生成手段と、
2因子間の前記因子の種類の組み合わせを全て網羅するように複数の前記テスト項目を生成するテスト項目生成手段と、
前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計を前記テスト項目毎に算出し、前記数値の合計によって網羅されていない前記区間を未網羅の区間として選択する未網羅区間選択手段と、
未網羅の区間を網羅するように前記テスト項目を生成する未網羅区間テスト項目生成手段と、
を有する検証データ作成装置。 - システムの検証に利用する複数のテスト項目を含む検証データを作成するコンピュータに、
因子の種類毎に設定されている数値に応じて、所定数の前記因子の組み合わせにより構成される複数のテスト項目から、前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計の最小値、最大値を算出して、前記最小値と最大値との間を複数に分割した複数の区間を生成する区間生成ステップと、
2因子間の前記因子の種類の組み合わせを全て網羅するように複数の前記テスト項目を生成するテスト項目生成ステップと、
前記テスト項目を構成する全因子の前記数値の合計を前記テスト項目毎に算出し、前記数値の合計によって網羅されていない前記区間を未網羅の区間として選択する未網羅区間選択ステップと、
未網羅の区間を網羅するように前記テスト項目を生成する未網羅区間テスト項目生成ステップと、
を実行させるための検証データ作成プログラム。
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JP2008137461A JP5104545B2 (ja) | 2008-05-27 | 2008-05-27 | 検証データ作成方法,検証データ作成装置及び検証データ作成プログラム |
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JP2008137461A JP5104545B2 (ja) | 2008-05-27 | 2008-05-27 | 検証データ作成方法,検証データ作成装置及び検証データ作成プログラム |
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2008137461A Expired - Fee Related JP5104545B2 (ja) | 2008-05-27 | 2008-05-27 | 検証データ作成方法,検証データ作成装置及び検証データ作成プログラム |
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JP2003099283A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-04 | Toshiba Corp | ソフトウェアシステムのテスト優先度導出支援方法、テストケース設計支援方法、およびその支援プログラム |
JP2004288034A (ja) * | 2003-03-24 | 2004-10-14 | Fuji Xerox Co Ltd | テスト計画作成支援装置 |
JP2006252316A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Omron Corp | テスト計画表作成方法 |
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JP2007249826A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | テスト項目生成装置 |
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