JP5079678B2 - Device mounted appearance inspection apparatus and inspection method - Google Patents

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    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages

Description

本発明は、電子部品実装における外観検査装置であって、主にクリーム半田印刷されたプリント基板の半田付け状態を検査する装置及び検査する方法に関する。   The present invention relates to an appearance inspection apparatus for electronic component mounting, and more particularly to an apparatus and an inspection method for inspecting a soldering state of a printed circuit board printed with cream solder.

従来からプリント基板(4)上にクリーム半田(40)を印刷する方法として、図15に示す手法が行われている。クリーム半田(40)とはペースト状で金属を含む半田である。
複数の孔(90)(90)を開設したメタルマスク(9)の下側に、プリント基板(4)を配備する。該メタルマスク(9)上の一端部に、ペースト状のクリーム半田(40)の塊を載置し、押込み板であるスキージ(91)で該半田(40)を孔(90)に挿入する。孔(90)内の半田(40)は刷り込まれ、プリント基板(4)上に印刷される。
周知の如く、プリント基板(4)上には、銅製のパターン(41)が形成され、半田(40)が正確に印刷されると、図16(a)に示すように、半田(40)がパターン(41)からはみ出すことなく正確に載る。しかし、プリント基板(4)のソリやメタルマスク(9)の下側に異物等があると、隙間ができ、図16(b)に示すように、半田(40)がパターン(41)からはみ出したり、メタルマスク(9)の孔(90)に目詰まりがあると、図16(c)に示すように、半田(40)がパターン(41)上に少ししか載らないことがある。これでは半田付けが正確になされていないから、プリント基板(4)に電子部品が正確に半田付けされない虞れがある。特に、図16(b)に示すように、半田(40)がパターン(41)からはみ出すと、隣接する半田(40)と接触し、所謂ブリッジ不良となる。
そこで、従来からプリント基板(4)上の半田付け状態を検査する装置が提案されている。
Conventionally, as a method of printing the cream solder (40) on the printed circuit board (4), the method shown in FIG. 15 has been performed. Cream solder (40) is a paste-like solder containing metal.
A printed circuit board (4) is disposed below the metal mask (9) having a plurality of holes (90) (90). A lump of paste-like cream solder (40) is placed on one end of the metal mask (9), and the solder (40) is inserted into the hole (90) with a squeegee (91) which is a pushing plate. The solder (40) in the hole (90) is imprinted and printed on the printed circuit board (4).
As is well known, when a copper pattern (41) is formed on the printed circuit board (4) and the solder (40) is printed accurately, the solder (40) is formed as shown in FIG. It is placed accurately without protruding from the pattern (41). However, if foreign matter or the like is present under the warp of the printed circuit board (4) or the metal mask (9), a gap is formed, and the solder (40) protrudes from the pattern (41) as shown in FIG. 16 (b). If the hole (90) of the metal mask (9) is clogged, the solder (40) may be placed on the pattern (41) only slightly as shown in FIG. 16 (c). In this case, since the soldering is not performed accurately, there is a possibility that the electronic component is not accurately soldered to the printed circuit board (4). In particular, as shown in FIG. 16 (b), when the solder (40) protrudes from the pattern (41), it contacts the adjacent solder (40), resulting in a so-called bridging failure.
Therefore, conventionally, an apparatus for inspecting the soldering state on the printed circuit board (4) has been proposed.

図17は、従来の検査装置(7)を示すブロック図である(特許文献1参照)。これは複数のパターン上に夫々半田(40)が印刷されたプリント基板(4)をカメラ(70)にて撮像し、該画像を画像記憶手段(71)に送る。次に2値化手段(72)が、画像記憶手段(71)が記憶している画像を2値化し、複数の半田(40)(40)間の検査用窓枠Q(図18(a)参照)内の画像を取り出し、2値化する。その後、投影手段(73)が2値化画像の投影を求め、図18(b)に示す投影像の値がしきい値S以上であれば、半田(40)(40)間が繋がったブリッジ不良としていた。これらの処理、判定は制御部(74)で行っている。   FIG. 17 is a block diagram showing a conventional inspection apparatus (7) (see Patent Document 1). In this case, the printed circuit board (4) on which the solder (40) is printed on a plurality of patterns is imaged by the camera (70), and the image is sent to the image storage means (71). Next, the binarization means (72) binarizes the image stored in the image storage means (71), and the inspection window frame Q between the plurality of solders (40) (40) (FIG. 18 (a)). (See) is taken out and binarized. Thereafter, the projection means 73 obtains the projection of the binarized image. If the value of the projection image shown in FIG. 18B is equal to or greater than the threshold value S, the bridge in which the solder 40 and 40 are connected. It was bad. These processes and determinations are performed by the control unit (74).

また、他の従来例として、市販のイメージスキャナを用いて、プリント基板(4)上の半田付け状態を検査する装置がある(特許文献2参照)。図19は、イメージスキャナ(2)の断面図である。イメージスキャナ(2)は周知の如く、上面のカバー(24)が透明であって、ガイド軸(21)に沿って左右に移動可能な読取りモジュール(5)を内部に設けている。該カバー(24)に治具(28)を載置し、該治具(28)に半田(40)を下向きにしたプリント基板(4)を置く。読取りモジュール(5)をガイド軸(21)に沿って半田(40)の画像を走査する。
図20は、読取りモジュール(5)の内部を示す断面図である。ライト(53)からの光は、検査対象品(図示せず)の下面を照らし、その反射光が開口である画像読取り部(54)から読取りモジュール(5)内に入る。該光はミラー(55)(55a)(55b)(55c)に反射されて、レンズ(56)(56a)を通ってCCDイメージセンサ(57)に達して、検査対象品の画像を読み取る。
読取りモジュール(5)は、一端部が1本のガイド軸(21)に沿って移動し、他端部がガイド(図示せず)に載置されている。
更に他の従来例として、イメージスキャナによって画像を取り込み、2値化画像とマスク画像とをマスク処理手段により、半田面積・半田ズレを判定するものがある。前記2値化画像と前記マスク画像を反転したマスク処理手段により、所定の座標及び面積を計算し、ブリッジの判定をする検査装置がある(特許文献3参照)。
As another conventional example, there is an apparatus for inspecting a soldering state on a printed circuit board (4) using a commercially available image scanner (see Patent Document 2). FIG. 19 is a cross-sectional view of the image scanner (2). As is well known, the image scanner (2) has a transparent upper surface cover (24) and a reading module (5) that can move left and right along the guide shaft (21). The jig (28) is placed on the cover (24), and the printed board (4) with the solder (40) facing downward is placed on the jig (28). The reading module (5) scans the image of the solder (40) along the guide shaft (21).
FIG. 20 is a cross-sectional view showing the inside of the reading module (5). The light from the light (53) illuminates the lower surface of the inspection object (not shown), and the reflected light enters the reading module (5) from the image reading unit (54) which is an opening. The light is reflected by the mirrors (55) (55a) (55b) (55c), passes through the lenses (56) (56a), reaches the CCD image sensor (57), and reads the image of the inspection object.
One end of the reading module (5) moves along one guide shaft (21), and the other end is placed on a guide (not shown).
As another conventional example, there is an example in which an image is captured by an image scanner, and a binarized image and a mask image are determined by a mask processing unit to determine a solder area and a solder misalignment. There is an inspection apparatus that performs a bridge determination by calculating predetermined coordinates and area by using a mask processing means obtained by inverting the binarized image and the mask image (see Patent Document 3).

特開平6−18237号公報JP-A-6-18237 実開平5−25871号公報Japanese Utility Model Publication No. 5-25871 特開2005−156381号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-156381

上記の検査装置では、以下の解決すべき点がある。先ず、図17に示す検査装置(7)では、カメラ(70)は半田(40)の高い所から撮像する。従って、カメラ(70)と半田(40)の距離が実際は30−80cmと離れている。ところが、高い場所から検査すべき全ての半田(40)(40)の画像を取り込もうとすると、分解能が低すぎて、精密な検査ができない。従って、カメラ(70)又は検査装置を前後左右に移動させて、1回に検査すべき半田(40)(40)の個数を少なくして、検査する手法が一般的である。これでは、検査装置の構造が複雑で、装置全体が高価となる。
また、図19に示す検査装置では、プリント基板(4)を治具(28)上に置くから人手を介する。従って、人手を介する検査工程又は抜き取り検査には適しているが、プリント基板(4)を自動的に搬送して、複数の半田(40)(40)を連続的に検査するには不向きである。その理由は、図19に示す検査装置では、半田(40)を下向きにしてプリント基板(4)を置く必要がある。ところが、半田(40)を印刷した状態では、半田(40)が硬化しておらず、半田(40)を下向きにすると半田(40)が垂れたり落下する虞れがある。また、プリント基板(4)上のゴミがイメージスキャナ(2)又は透明カバー(24)上に落下する虞れもある。これでは画像処理上、阻害要因となり、課題が残る。半田(40)やゴミ等の落下を防止するには、専用の治具が別途必要となり、設備コストの増大に繋がる。
更に、画像処理に於いて、特許文献1では個々に検査範囲を設定する為、時間が掛かり過ぎる。また、特許文献3に於いては、半田の面積にて良否を判定しているが、半田の表面は印刷される毎に変化する凹凸があり、色の変化も大きく、暗い部分も生じる。
特に暗い部分が、半田か、隣接するレジストか判別し難く、まして上記のように変化するため、半田の色としては特定することができない。従って、半田面積を正確に積算し難く、半田不足による誤判定、ブリッジの誤判定を招来する虞れがある。
出願人は、市販のイメージスキャナ(2)を上下逆さにして、イメージスキャナ(2)の下側にプリント基板(4)を搬送し、半田(40)を上向きにしてプリント基板(4)を連続的に検査する装置を着想した。
本発明の目的は、イメージスキャナ(2)を用いて低コストでスムーズに半田付け状態を検査することができる装置を提供することにある。
The above inspection apparatus has the following problems to be solved. First, in the inspection apparatus (7) shown in FIG. 17, the camera (70) takes an image from a place where the solder (40) is high. Therefore, the distance between the camera (70) and the solder (40) is actually 30-80 cm apart. However, when trying to capture images of all the solder (40) (40) to be inspected from a high place, the resolution is too low to perform a precise inspection. Therefore, a general inspection method is such that the camera (70) or the inspection apparatus is moved back and forth and right and left to reduce the number of solders (40) and (40) to be inspected at one time. This complicates the structure of the inspection apparatus and makes the entire apparatus expensive.
Further, in the inspection apparatus shown in FIG. 19, since the printed circuit board (4) is placed on the jig (28), it requires manual labor. Therefore, although it is suitable for the inspection process or sampling inspection through manual labor, it is not suitable for continuously inspecting a plurality of solders (40) and (40) by automatically transporting the printed circuit board (4). . This is because the printed circuit board (4) needs to be placed with the solder (40) facing down in the inspection apparatus shown in FIG. However, in a state where the solder (40) is printed, the solder (40) is not cured, and if the solder (40) is turned downward, the solder (40) may be dripped or dropped. There is also a possibility that dust on the printed circuit board (4) may fall on the image scanner (2) or the transparent cover (24). This becomes a hindrance factor in image processing and a problem remains. In order to prevent the solder (40) or dust from falling, a special jig is required, which leads to an increase in equipment cost.
Further, in the image processing, since Patent Document 1 sets the inspection range individually, it takes too much time. In Patent Document 3, the quality of the solder is judged based on the area of the solder. However, the surface of the solder has irregularities that change every time it is printed, the color changes greatly, and a dark part also occurs.
In particular, it is difficult to determine whether the dark portion is solder or an adjacent resist, and since it changes as described above, it cannot be specified as the color of the solder. Therefore, it is difficult to accurately integrate the solder area, and there is a risk of erroneous determination due to insufficient solder and erroneous determination of the bridge.
The applicant turns the commercially available image scanner (2) upside down, conveys the printed circuit board (4) to the lower side of the image scanner (2), and continues the printed circuit board (4) with the solder (40) facing upward. Inspired by an inspection device.
An object of the present invention is to provide an apparatus capable of smoothly inspecting a soldering state at low cost using an image scanner (2).

検査装置は、少なくとも1本のガイド軸(21)に沿って移動し、画像読取り部(54)を下側に向けて画像を走査する読取りモジュール(5)及び該読取りモジュール(5)を水平状態に支持する水平支持部材を具えたイメージスキャナ(2)と、該イメージスキャナ(2)の画像読取り部(54)の下側に検査対象物を搬送する搬送手段と、読取りモジュール(5)が走査した画像を処理してモニター(11)に表示する手段を設けている。
イメージスキャナ(2)の下面には、検査対象物に対向して透明カバー(24)が設けられ、イメージスキャナ(2)には、画像読取り部(54)と検査対象物との焦点距離を合わせる為に上下間隔及び傾きを微調整する第1の手段と、検査画像を読みとる為の平面位置及び角度θの微調整をする第2の手段を設けている。
また、検査装置は、半田印刷前基板のパターンを認識する手段と、半田印刷後基板のパターンを認識する手段と、前記半田印刷前基板のパターンと半田印刷後パターンの画像とを重ね合わせ、半田が印刷されていない検査対象外のパターンを一括削除し、削除されなかった半田印刷後のパターン全体をマスターとして面積積算する手段と、該マスターに基づいて検査対象であるパターンの良否判定基準となる面積比率を設定する手段を具え、
判定基準となる面積比率を設定した後に、イメージスキャナ(2)の下側に搬送されてきた検査対象である半田印刷後のパターンの残り面積を求め、該パターンの残り面積のマスターに対する割合が、判定基準面積比率以上か否かにより、半田不足を判定する。
更に検査装置は、前記半田印刷後のパターン画像をノイズ処理する手段と、該ノイズ処理されたパターン画像とマスターの画像とを重ね合わせ、隣接する検査対象パターンどうしが半田(40)により連結又は接近しているか否か、又は半田(40)どうしが連結又は接近しているか否かの判断をする手段を具え、ブリッジ又はブリッジ仕掛かりを判定している。
The inspection apparatus moves along at least one guide shaft (21) and scans the image with the image reading unit (54) facing downward, and the reading module (5) is in a horizontal state. An image scanner (2) having a horizontal support member supported by the image scanner, a conveying means for conveying an inspection object to the lower side of the image reading unit (54) of the image scanner (2), and a reading module (5) scanning Means for processing the processed image and displaying it on the monitor (11) is provided.
A transparent cover (24) is provided on the lower surface of the image scanner (2) so as to face the inspection object, and the focal length between the image reading unit (54) and the inspection object is adjusted to the image scanner (2). For this purpose, a first means for finely adjusting the vertical interval and the inclination and a second means for finely adjusting the plane position and the angle θ for reading the inspection image are provided.
Further, the inspection apparatus superimposes the means for recognizing the pattern of the substrate before solder printing, the means for recognizing the pattern of the substrate after solder printing, and the pattern of the substrate before solder printing and the image of the pattern after solder printing. Is a means for collectively deleting the unprinted patterns that are not printed, and integrating the area of the entire pattern after solder printing that has not been deleted as a master, and is a pass / fail judgment criterion for the pattern to be inspected based on the master With means to set the area ratio,
After setting the area ratio to be a determination criterion, the remaining area of the pattern after solder printing, which is the inspection target conveyed to the lower side of the image scanner (2), is obtained, and the ratio of the remaining area of the pattern to the master is Whether or not the solder is insufficient is determined based on whether or not the area ratio is equal to or greater than the determination reference area ratio.
Further, the inspection apparatus superimposes the noise-processed pattern image and the master image on the pattern image after the solder printing, and adjacent inspection target patterns are connected or approached by the solder (40). A means for determining whether or not the solder (40) is connected or approaching each other is provided, and a bridge or a bridge device is determined.

1.読取りモジュール(5)は、1本のガイド軸(21)及び水平支持部材に支持されているから、画像読取り部(54)を下側に向けても、画像を走査することができる。更に、透明カバー(24)と検査対象物との距離が確保されているから、スムーズに画像が走査できる。
検査対象物の上側から、画像を走査するから、検査対象物から画像読取り部(54)又は透明カバー(24)上にゴミ等が落下することはなく、正確に検査画像を走査することができる。
イメージスキャナ(2)は上下間隔及び傾きを微調整して焦点を合わせているから、精度良く検査することができる。
2.イメージスキャナ(2)は市販品又は市販品を一部改造したものを用いるから、低コストで上面に印刷された半田付け状態を人手を介せず、自動的に連続して検査することができる。
3.更に、画像処理に於いて、該検査装置では一括で検査範囲が指定でき、プログラム作成時間も短縮される。また、半田が印刷されていないパターンの残り面積を積算して、該残り面積のマスターに対する割合が判定基準となる面積比率以上か否かにより、良否を判定するから、半田不足の判定も容易である。この判定は半田(40)の面積に関係なく、隣接したパターン又は印刷された半田どうしが半田により連結されているか、又は半田が接近しているかを単に判定するため、ブリッジ又はブリッジ仕掛かりの判定も誤りが少ない。誤った判定が少ないことにより、生産ストップが少なく、生産効率も良い。不良の判定に於いても、モニターに拡大して表示されるから、基板の不良個所も判り易い。従って、良否の判定が確実であり、リアルタイムでフィードバックもできる。
1. Since the reading module (5) is supported by one guide shaft (21) and a horizontal support member, the image can be scanned even when the image reading unit (54) is directed downward. Furthermore, since the distance between the transparent cover (24) and the inspection object is secured, the image can be scanned smoothly.
Since the image is scanned from above the inspection object, dust or the like does not fall on the image reading unit (54) or the transparent cover (24) from the inspection object, and the inspection image can be scanned accurately. .
Since the image scanner (2) is focused by finely adjusting the vertical interval and inclination, it can be inspected with high accuracy.
2. Since the image scanner (2) uses a commercially available product or a partially modified version of the commercially available product, the soldered state printed on the upper surface can be automatically and continuously inspected without human intervention at low cost. .
3. Further, in the image processing, the inspection apparatus can specify the inspection range at a time, and the program creation time can be shortened. In addition, since the remaining area of the pattern on which the solder is not printed is integrated and the ratio of the remaining area with respect to the master is determined as to whether or not the area ratio is a criterion, it is easy to determine whether the solder is insufficient. is there. This determination is performed regardless of the area of the solder (40), so that it is simply determined whether adjacent patterns or printed solders are connected by solder, or whether the solder is approaching. There are few errors. Less mistaken judgments result in fewer production stops and better production efficiency. Even when a defect is judged, it is enlarged and displayed on the monitor, so that the defective part of the substrate can be easily understood. Therefore, pass / fail judgment is reliable and feedback can be performed in real time.

第1実施例
以下、本発明の一実施例を図を用いて詳述する。先に検査装置の構成について詳述する。
図1は、検査装置(1)の概略を示す正面図であり、図2は、該検査装置(1)の斜視図である。
検査装置(1)は、左右に延びて間欠駆動されるコンベアベルト(32)上に配備され、該コンベアベルト(32)上には半田付けされるべき複数のプリント基板(4)(4)が互いに離れて載置される。検査装置(1)よりもコンベアベルト(32)上流側には、印刷機(8)が配備される。検査装置(1)よりもコンベアベルト(32)下流側には、プリント基板(4)への電子部品搭載機及び半田を熱硬化するリフロー炉(図示せず)がある。印刷機(8)のコンベアベルト(32)と、検査装置(1)のコンベアベルト(32)は僅かに離れている。
印刷機(8)内では、メタルマスク(9)にプリント基板(4)を密着させ、スキージ(91)にてクリーム半田(40)がプリント基板(4)のパターン上に印刷される。この工程は従来と同様である。
First Embodiment Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. First, the configuration of the inspection apparatus will be described in detail.
FIG. 1 is a front view schematically showing the inspection apparatus (1), and FIG. 2 is a perspective view of the inspection apparatus (1).
The inspection device (1) is arranged on a conveyor belt (32) that extends from side to side and is intermittently driven, and a plurality of printed boards (4) and (4) to be soldered are mounted on the conveyor belt (32). They are placed apart from each other. A printing machine (8) is provided upstream of the conveyor belt (32) from the inspection device (1). On the downstream side of the conveyor belt (32) from the inspection device (1), there is an electronic component mounting machine on the printed circuit board (4) and a reflow furnace (not shown) for thermosetting the solder. The conveyor belt (32) of the printing machine (8) and the conveyor belt (32) of the inspection device (1) are slightly separated.
In the printer (8), the printed circuit board (4) is brought into close contact with the metal mask (9), and the cream solder (40) is printed on the pattern of the printed circuit board (4) by the squeegee (91). This process is the same as the conventional process.

検査装置(1)は、コンベアベルト(32)によって搬送された半田印刷済みのプリント基板(4)の上方に位置するイメージスキャナ(2)、該イメージスキャナ(2)の画像をデジタル処理するパーソナルコンピュータ(10)「以下、PC(10)と言う」、該PC(10)にて処理された画像を映すモニター(11)、作業者がモニター(11)の画像を見て半田付けの良否を手入力するキーボード(12)を具える。PC(10)のデジタル画像処理は、後述する。また、イメージスキャナ(2)は市販品、又は市販品を一部改造したものであり、安価に入手することができる。
コンベアベルト(32)上には、プリント基板(4)の下流側端面に当接するストッパ(33)が出没可能に設けられ、プリント基板(4)がイメージスキャナ(2)によって画像走査される際には、ストッパ(33)によって移動を規制される。画像操作後は、ストッパ(33)がプリント基板(4)から離れて下流への移動が許される。
The inspection device (1) is an image scanner (2) located above a printed circuit board (4) on which solder printing has been carried by a conveyor belt (32), and a personal computer that digitally processes the image of the image scanner (2) (10) “Hereafter referred to as PC (10)”, a monitor (11) that displays an image processed by the PC (10), and an operator can check the image on the monitor (11) to determine whether soldering is good or bad. It has a keyboard (12) for inputting. The digital image processing of the PC (10) will be described later. The image scanner (2) is a commercially available product or a part of the commercially available product, and can be obtained at low cost.
On the conveyor belt (32), a stopper (33) that comes into contact with the downstream end face of the printed circuit board (4) is provided so as to be able to protrude and retract, and when the printed circuit board (4) is scanned by the image scanner (2). Is restricted by the stopper (33). After the image operation, the stopper (33) is separated from the printed circuit board (4) and allowed to move downstream.

図2に示すように、イメージスキャナ(2)の側部にはナット(35)が設けられ、該ナット(35)はコンベアのフレーム(3)に立設された第1ネジ軸(30)に螺合する。第1ネジ軸(30)を回転させれば、イメージスキャナ(2)が昇降して、画像走査するプリント基板(4)との間隔を調節することができる。即ち、ナット(35)と第1ネジ軸(30)とで、イメージスキャナ(2)とプリント基板(4)との間隔をミリ単位で調節する調節手段を構成する。
イメージスキャナ(2)とプリント基板(4)との間隔を調節することにより、プリント基板(4)の半田(40)付け状態のみならず、プリント基板(4)に電子部品を載置して半田付けした状態も検査することができる。
As shown in FIG. 2, a nut (35) is provided on the side of the image scanner (2), and the nut (35) is attached to a first screw shaft (30) erected on the conveyor frame (3). Screw together. If the first screw shaft (30) is rotated, the image scanner (2) can be moved up and down to adjust the distance from the printed circuit board (4) for image scanning. That is, the nut (35) and the first screw shaft (30) constitute adjusting means for adjusting the distance between the image scanner (2) and the printed circuit board (4) in millimeters.
By adjusting the distance between the image scanner (2) and the printed circuit board (4), not only the soldered state (40) of the printed circuit board (4) but also the electronic components are placed on the printed circuit board (4) and soldered. The attached state can also be inspected.

図3は、イメージスキャナ(2)の下面図であり、図4は、図2をA−A線を含む面にて破断した断面図である。イメージスキャナ(2)は2本の互いに離間したガイド軸(21)(21)に沿って左右に移動可能な読取りモジュール(5)をキャビネット(20)内部に設けており、ステッピングモータ(22)に連結した駆動ベルト(23)によって読取りモジュール(5)は駆動される。読取りモジュール(5)は、2本のガイド軸(21)(21)によって水平に支持されており、一方のガイド軸(21)に余裕の少ない状態で嵌まり、他方のガイド軸(21)に余裕がある状態で嵌まる。イメージスキャナ(2)の下面には、透明なカバー(24)が被さる。又は、透明カバー(24)がなく、読取り部にホコリ防止用透明カバー(図示せず)を配置しても良い。
本例にあっては、通常のイメージスキャナ(2)の使用とは異なり、画像読取り部(54)を下側に向けている。読取りモジュール(5)の走査動作は、制御回路(29)によって制御され、読取りモジュール(5)が2本のガイド軸(21)(21)に嵌まっているから、イメージスキャナ(2)を上下を反転させても使用することができる。
コンベアベルト(32)(32)は、プリント基板(4)の幅長さに合わせて、互いに離間して2本設けられている。各コンベアベルト(32)はベルト受け(34)に受けられて、各ベルト受け(34)はフレーム(3)(3)間に設けられた第2ネジ軸(31)に螺合する。第2ネジ軸(31)を回転させることにより、コンベアベルト(32)(32)間の間隔を調節することができる。
FIG. 3 is a bottom view of the image scanner (2), and FIG. 4 is a cross-sectional view of FIG. 2 cut along a plane including the line AA. The image scanner (2) has a reading module (5) that can move left and right along two guide shafts (21) and (21) that are spaced apart from each other. The reading module (5) is driven by the connected drive belt (23). The reading module (5) is horizontally supported by two guide shafts (21) and (21), and is fitted in one of the guide shafts (21) with a small margin, and the other guide shaft (21). It fits in a state where there is room. A transparent cover (24) covers the lower surface of the image scanner (2). Alternatively, the transparent cover (24) may be omitted, and a dust-preventing transparent cover (not shown) may be disposed in the reading unit.
In this example, unlike the normal use of the image scanner (2), the image reading unit (54) is directed downward. The scanning operation of the reading module (5) is controlled by the control circuit (29). Since the reading module (5) is fitted to the two guide shafts (21) and (21), the image scanner (2) is moved up and down. It can be used even if it is reversed.
Two conveyor belts (32) and (32) are provided apart from each other in accordance with the width of the printed circuit board (4). Each conveyor belt (32) is received by a belt receiver (34), and each belt receiver (34) is screwed onto a second screw shaft (31) provided between the frames (3) and (3). By rotating the second screw shaft (31), the interval between the conveyor belts (32) and (32) can be adjusted.

(検査手順)
以下、検査手順を説明する。印刷機(8)にてクリーム半田(40)が印刷されたプリント基板(4)はベルト(32)に載置されて、ストッパ(33)にて止められて、イメージスキャナ(2)の下方に位置する。イメージスキャナ(2)の画像読取り部(54)及び透明カバー(24)と、プリント基板(4)の上下間隔は、予め第1ネジ軸(30)を回転させて調節され、本例では1cm以下の数ミリ程度である。この寸法に限定されない。
画像読取り部(54)又は透明カバー(24)とプリント基板(4)の間に数ミリの隙間を空けているのは、以下(i)−(iv)の理由による。
(i)クリーム半田(40)が未だ硬化していないので、画像読取り部(54)又は透明カバー(24)とプリント基板(4)が接すると、クリーム半田(40)が画像読取り部(54)又は透明カバー(24)に付着する虞れがある。
(ii)隙間がないとプリント基板(4)をベルト(32)にて正しく搬送できない。
(iii)イメージスキャナ(2)では検査対象物であるプリント基板(4)との間に数ミリの隙間がないと、正確に画像を走査できない。
(iv)画像読取り部(54)の焦点距離が8mm程度であり、その隙間がないと、正確に画像を走査できない。
イメージスキャナ(2)の読取りモジュール(5)を左右に移動させて、プリント基板(4)の半田(40)の画像を取り込み、PC(10)にて画像処理して、不良と判定した場合、モニター(11)に表示する。作業者はモニター(11)の画像を見て半田印刷の真の良否を判断し、「良」と判断すれば、ベルト(32)を移動させて、次のプリント基板(4)をイメージスキャナ(2)の下方に移動させる。「否」即ち不良品と判断すれば、プリント基板(4)を取り出す。この場合、プリント基板(4)を取り出すまで、ストッパ(33)は解除されず、モニター(11)の画像も更新されない。
(Inspection procedure)
Hereinafter, the inspection procedure will be described. The printed circuit board (4) on which the cream solder (40) is printed by the printing machine (8) is placed on the belt (32), stopped by the stopper (33), and below the image scanner (2). To position. The vertical distance between the image reading unit (54) and the transparent cover (24) of the image scanner (2) and the printed circuit board (4) is adjusted in advance by rotating the first screw shaft (30). Is about several millimeters. It is not limited to this dimension.
The reason why a gap of several millimeters is provided between the image reading unit (54) or the transparent cover (24) and the printed circuit board (4) is as follows (i) to (iv).
(i) Since the cream solder (40) is not yet cured, when the image reading unit (54) or the transparent cover (24) is in contact with the printed circuit board (4), the cream solder (40) is transferred to the image reading unit (54). Or there exists a possibility of adhering to a transparent cover (24).
(ii) If there is no gap, the printed circuit board (4) cannot be correctly conveyed by the belt (32).
(iii) In the image scanner (2), an image cannot be scanned accurately unless there is a gap of several millimeters between the printed circuit board (4) as an inspection object.
(iv) If the focal length of the image reading unit (54) is about 8 mm and there is no gap, the image cannot be scanned accurately.
When the reading module (5) of the image scanner (2) is moved to the left and right, the image of the solder (40) of the printed circuit board (4) is captured, and the image is processed by the PC (10). Display on the monitor (11). The operator looks at the image on the monitor (11) to judge whether the solder printing is true or not, and if it is judged as “good”, the belt (32) is moved to move the next printed circuit board (4) to the image scanner ( Move to the bottom of 2). If “No”, that is, a defective product is determined, the printed circuit board (4) is taken out. In this case, the stopper (33) is not released and the image on the monitor (11) is not updated until the printed circuit board (4) is taken out.

PC(10)で画像処理し、良否を判定したデータ及びプリント基板(4)の顧客名、検査対象品名、日付、検査方式等は全て情報として、PC(10)内に保存される。この情報を再生産に活用するのが好ましい。また、モニター(11)への表示に於いて、判定すべき箇所を自動的に拡大表示して、判定を容易にしてもよい。更に、「否」との判定を前工程にフィードバックすべく、プリント基板(4)上の「否」位置を縮小表示して該位置を確認しやすくしてもよい。これらの設定は、PC(10)内のソフトウエアにより対応可能である。   Data that has been subjected to image processing by the PC (10) and judged pass / fail, the customer name of the printed circuit board (4), the name of the object to be inspected, the date, the inspection method, etc. are all stored in the PC (10) as information. This information is preferably used for reproduction. Further, in the display on the monitor (11), the portion to be determined may be automatically enlarged and displayed to facilitate the determination. Further, in order to feed back the determination of “NO” to the previous process, the “NO” position on the printed circuit board (4) may be displayed in a reduced size so that the position can be easily confirmed. These settings can be handled by software in the PC (10).

読取りモジュール(5)を水平に支持する構成は、上記の2本のガイド軸(21)(21)に限定されない。例えば、図5に示すように、1本のガイド軸(21)にて、読取りモジュール(5)の一端部を支持し、読取りモジュール(5)の他端部から突片(58)を突出する。イメージスキャナ(2)のキャビネット(20)内部から受け片(25)を突出し、該受け片(25)にて突片(58)の下面を受けてもよい。また、図6に示すように、2つの突片(58)(58a)を上下に離間して設け、上側の突片(58)の下面を受け片(25)の上面に当接させてもよい。この場合、下側の突片(58a)と受け片(25)の下面との間には隙間があっても良い。即ち、突片(58)(58a)間の間隔は正確な精度が要求されず、これによりコスト上昇を抑えることもできる。図7に示すように、上側の突片(58)をガイド軸(21)で受けてもよい。
更に、図8に示すように、受け部材(26)を透明カバー(24)上に設け、該受け部材(26)にて読取りモジュール(5)の他端部から突出した突片(58)の下面を受けてもよい。図5乃至図8では、駆動ベルト(23)を図示しない。
The configuration for horizontally supporting the reading module (5) is not limited to the two guide shafts (21) and (21). For example, as shown in FIG. 5, one guide shaft (21) supports one end of the reading module (5), and the protruding piece (58) protrudes from the other end of the reading module (5). . The receiving piece (25) may protrude from the inside of the cabinet (20) of the image scanner (2), and the receiving piece (25) may receive the lower surface of the protruding piece (58). Further, as shown in FIG. 6, two projecting pieces (58) and (58a) may be provided apart from each other in the vertical direction, and the lower surface of the upper projecting piece (58) may be brought into contact with the upper surface of the piece (25). Good. In this case, there may be a gap between the lower projecting piece (58a) and the lower surface of the receiving piece (25). In other words, the interval between the projecting pieces (58) and (58a) is not required to have an accurate accuracy, which can suppress an increase in cost. As shown in FIG. 7, the upper projecting piece (58) may be received by the guide shaft (21).
Further, as shown in FIG. 8, a receiving member (26) is provided on the transparent cover (24), and the protruding member (58) protruding from the other end of the reading module (5) by the receiving member (26). The lower surface may be received. 5 to 8, the drive belt (23) is not shown.

また、前記の如く、透明カバー(24)とプリント基板(4)の間に数ミリの隙間を空ける必要がある。上記では、ナット(35)と第1ネジ軸(30)から構成される調節手段にて、透明カバー(24)とプリント基板(4)の間に隙間を設けていたが、これに代えて、図9に示す構成でもよい。
図9は、他の実施例を示すイメージスキャナ(2)の側面断面図であって、コンベアのフレーム(3)とイメージスキャナ(2)の透明カバー(24)との間にスペーサ(6)を設けている。これによって、透明カバー(24)とプリント基板(4)の間に隙間を設けてもよい。スペーサ(6)は図9に一点鎖線で示すように、フレーム(3)を貫通して床面(69)に載置されてもよい。
また、図10は、他の実施例を示すイメージスキャナ(2)の正面断面図である。図9と同様に、コンベアのフレーム(3)とイメージスキャナ(2)の透明カバー(24)との間にスペーサ(6)を設けている。しかし、図9と異なり、図10では左側のスペーサ(6)には、イメージスキャナ(2)の下端部が枢支(60)されている。図10に示す構成により、検査終了後に、イメージスキャナ(2)を枢支(60)を中心として上向きに回動させて、検査済みのプリント基板(4)を上から取り出すことができる。但し、これに限定されない。これにより、下流のコンベア及びストッパ(33)が不要になり、設備コストを低減することができる。
又は、イメージスキャナ(2)の両側にスライドガイドを取り付け(図示せず)、検査終了後に、イメージスキャナ(2)を奥側にスライドさせて、プリント基板(4)を取り出すことも好ましい。
Further, as described above, it is necessary to leave a gap of several millimeters between the transparent cover (24) and the printed circuit board (4). In the above, the adjusting means composed of the nut (35) and the first screw shaft (30) provided a gap between the transparent cover (24) and the printed circuit board (4). The configuration shown in FIG. 9 may be used.
FIG. 9 is a side sectional view of an image scanner (2) showing another embodiment, and a spacer (6) is provided between the frame (3) of the conveyor and the transparent cover (24) of the image scanner (2). Provided. Thus, a gap may be provided between the transparent cover (24) and the printed circuit board (4). The spacer (6) may pass through the frame (3) and be placed on the floor surface (69), as indicated by a dashed line in FIG.
FIG. 10 is a front sectional view of an image scanner (2) showing another embodiment. As in FIG. 9, a spacer (6) is provided between the conveyor frame (3) and the transparent cover (24) of the image scanner (2). However, unlike FIG. 9, the lower end of the image scanner (2) is pivotally supported (60) by the left spacer (6) in FIG. With the configuration shown in FIG. 10, after the inspection is completed, the image scanner (2) can be rotated upward about the pivot (60) to take out the inspected printed circuit board (4) from above. However, it is not limited to this. Thereby, a downstream conveyor and a stopper (33) become unnecessary, and can reduce installation cost.
Alternatively, it is also preferable to attach slide guides (not shown) on both sides of the image scanner (2) and slide the image scanner (2) to the back side after inspection to take out the printed circuit board (4).

第2実施例
図11は、別の実施例に於けるイメージスキャナ(2)を示す平面図である。一般的な市販スキャナは、最大読取りがA4サイズ(縦21cm×横30cm)であり、プリント基板(4)のサイズは、A4サイズで分解能を上げると走査時間が長くなる。本例にあっては、イメージスキャナ(2)内に3つの読取りモジュール、即ち、第1読取りモジュール(5)、第2読取りモジュール(50)、第3読取りモジュール(51)が設けられている。図示の便宜上、ガイド軸(21)(21)を図示しない。プリント基板(4)の上流側、即ち右側から1/3の領域は、第1読取りモジュール(5)にて画像走査され、プリント基板(4)の下流側、即ち左側から1/3の領域は、第2読取りモジュール(50)にて画像走査される。即ち、図12にて、領域Xが第1読取りモジュール(5)にて画像走査され、領域Yが第2読取りモジュール(50)にて画像走査される。即ち、第1、第2読取りモジュール(5)(50)では、プリント基板(4)の長手方向中央部の領域Zが画像走査されない。このとき、該プリント基板(4)の下流側に位置するプリント基板(4)は、第3読取りモジュール(51)にて残り1/3の領域Zが画像走査される。この方法により、前記第1と第2モジュール(5)(50)の接触は避けられる。
次に、プリント基板(4)はストッパ(33)が解除されて、第3読取りモジュール(51)に送られる。第3読取りモジュール(51)にて、領域Zが画像走査される。本例にあっては、3つの読取りモジュール(5)(50)(51)にて半田(40)の画像を走査するので、走査する時間を短縮することができる。即ち、検査対象面を分割して、各読取りモジュール(5)(50)(51)にて分割した検査対象面を読み取るので、画像走査する時間を短縮することができる。
Second Embodiment FIG. 11 is a plan view showing an image scanner (2) in another embodiment. A typical commercially available scanner has a maximum reading of A4 size (length 21 cm × width 30 cm), and the size of the printed circuit board 4 is increased when the resolution is increased with the A4 size. In this example, three reading modules, that is, a first reading module (5), a second reading module (50), and a third reading module (51) are provided in the image scanner (2). For convenience of illustration, the guide shafts (21) and (21) are not shown. The area 1/3 from the upstream side of the printed circuit board (4), that is, the right side is scanned with the first reading module (5), and the area of 1/3 from the downstream side of the printed circuit board (4), that is, the left side. The image is scanned by the second reading module (50). That is, in FIG. 12, the image of the area X is scanned by the first reading module (5), and the area Y is scanned by the second reading module (50). That is, in the first and second reading modules (5) and (50), image scanning is not performed on the region Z at the center in the longitudinal direction of the printed circuit board (4). At this time, the printed circuit board (4) located on the downstream side of the printed circuit board (4) is subjected to image scanning on the remaining 1/3 of the region Z by the third reading module (51). By this method, contact between the first and second modules (5), (50) is avoided.
Next, the stopper (33) is released from the printed board (4), and the printed board (4) is sent to the third reading module (51). In the third reading module (51), the region Z is image-scanned. In this example, since the image of the solder (40) is scanned by the three reading modules (5), (50) and (51), the scanning time can be shortened. That is, since the inspection target surface is divided and the inspection target surfaces divided by the reading modules (5), (50), and (51) are read, the time for image scanning can be shortened.

図13(a)は、別のサイズのプリント基板(4)を走査する第1乃至第3読取りモジュール(5)(50)(51)の位置関係を示す平面図である。プリント基板(4)のサイズは、上記長手方向の2/3程度であり、この場合は、図13にVで示すプリント基板(4)の右端部と第1読取りモジュール(5)の間は画像が走査されない。しかし、第2読取りモジュール(50)にてプリント基板(4)の左端部が走査され、第3読取りモジュール(51)にて、プリント基板(4)の長手方向中央部が画像走査される点は、上記と同様である。
また、プリント基板(4)の縦横サイズは、上記のA4サイズに限定されず、A4サイズよりも縦横が長いサイズであってもよい。例えば、横がA4よりも長い場合は、上記図11が応用できる。又、縦が長い場合は、図13(b)に示すように、コンベアベルト(32)に対し、直交して走査する複数の読取りモジュール(5)(5)を配置すれば良い。
FIG. 13A is a plan view showing the positional relationship of the first to third reading modules (5), (50), and (51) that scan the printed circuit board (4) of another size. The size of the printed circuit board (4) is about 2/3 of the longitudinal direction. In this case, there is no image between the right end of the printed circuit board (4) indicated by V in FIG. 13 and the first reading module (5). Is not scanned. However, the second reading module (50) scans the left edge of the printed circuit board (4), and the third reading module (51) scans the image of the longitudinal center of the printed circuit board (4). The same as above.
The vertical and horizontal sizes of the printed circuit board (4) are not limited to the A4 size described above, and may be a size that is longer than the A4 size. For example, when the width is longer than A4, the above FIG. 11 can be applied. If the length is long, as shown in FIG. 13 (b), a plurality of reading modules (5) and (5) for scanning at right angles to the conveyor belt (32) may be arranged.

第3実施例
図14は、他の実施例に於けるイメージスキャナ(2)を示す平面図である。本例にあっては、複数、図14では10個の縦型読取りモジュール(52)(52)が配備され、該縦型読取りモジュール(52)(52)は移動しない。その代わりに、コンベアベルト(32)上のプリント基板(4)が移動する。これは、プリント基板(4)の傷や汚れ、ゴミやパターンの検査に於いては、5−10ミクロン程度の高い分解能で検査する必要があり、相当の時間が掛かる。従って、横型に比べ、平面積が小さく、縦型の読取りモジュール(52)(52)を数多く配備して、検査面を分割し、プリント基板(4)の移動距離も短く、走査時間を少なくした。尚、縦型読取りモジュール(52)(52)の個数は、図14で示す個数に限定されない。
Third Embodiment FIG. 14 is a plan view showing an image scanner (2) in another embodiment. In this example, a plurality of vertical reading modules (52) and (52) in FIG. 14 are provided, and the vertical reading modules (52) and (52) do not move. Instead, the printed circuit board (4) on the conveyor belt (32) moves. This is because it takes a considerable time to inspect the printed circuit board (4) with a high resolution of about 5 to 10 microns in the inspection of scratches, dirt, dust and patterns. Therefore, compared with the horizontal type, the flat area is small, and a lot of vertical type reading modules (52) and (52) are provided, the inspection surface is divided, the moving distance of the printed circuit board (4) is short, and the scanning time is reduced. . The number of vertical reading modules (52) and (52) is not limited to the number shown in FIG.

第4実施例
図26(a)は、他の実施例のイメージスキャナの側面断面図であり、(b)はその平面図である。イメージスキャナ(2)の外側には保護カバー(200)が取り付けられ、該保護カバー(200)の下面は透明カバー(24)にて覆われる。イメージスキャナ(2)の外側にはステー(300)が被さり、該ステー(300)の下端部はネジ(310)にて、コンベアのフレーム(3)(3)に取り付けられている。ステー(300)の天面と保護カバー(200)の上面は、イメージスキャナ(2)の幅方向に沿って離れた2本の第1調整ネジ(210)(210)にて連結され、イメージスキャナ(2)内の読取りモジュール(5)と検査対象物であるプリント基板(4)との上下間隔及び傾きθ1は、第1調整ネジ(210)(210)を回転させることにより調整される。即ち、第1調整ネジ(210)(210)は、読取りモジュール(5)の画像読取り部(54)と検査対象物との焦点距離を合わせる為に、上下間隔及び傾きθ1を微調整する第1の手段を構成する。
但し、第1調整ネジ(210)はステー(300)の天面に余裕を持って螺合し、僅かな平面方向のガタ付きを許す。ステー(300)の側面と、保護カバー(200)の側面には、第2調整ネジ(220)(220)が螺合し、該第2調整ネジ(220)(220)を回転させることにより、読取りモジュール(5)の平面位置及び角度θ2が調整される。即ち、第2調整ネジ(220)(220)は読取りモジュール(5)の画像読取り部(54)の平面位置及び角度θ2を調整する第2の手段を構成する。
Fourth Embodiment FIG. 26 (a) is a side sectional view of an image scanner of another embodiment, and FIG. 26 (b) is a plan view thereof. A protective cover (200) is attached to the outside of the image scanner (2), and the lower surface of the protective cover (200) is covered with a transparent cover (24). A stay (300) covers the outside of the image scanner (2), and the lower end of the stay (300) is attached to the conveyor frames (3) and (3) with screws (310). The top surface of the stay (300) and the upper surface of the protective cover (200) are connected by two first adjustment screws (210) and (210) separated along the width direction of the image scanner (2). The vertical distance and inclination θ1 between the reading module (5) in (2) and the printed circuit board (4) as the inspection object are adjusted by rotating the first adjusting screws (210) and (210). In other words, the first adjustment screws 210 and 210 make a first adjustment to finely adjust the vertical interval and the inclination θ1 in order to adjust the focal length between the image reading unit 54 of the reading module 5 and the inspection object. The means is configured.
However, the first adjusting screw (210) is screwed onto the top surface of the stay (300) with a margin to allow slight backlash in the planar direction. A second adjustment screw (220) (220) is screwed onto the side surface of the stay (300) and the side surface of the protective cover (200), and by rotating the second adjustment screw (220) (220), The planar position and angle θ2 of the reading module (5) are adjusted. That is, the second adjustment screws 220 and 220 constitute a second means for adjusting the planar position and the angle θ2 of the image reading unit 54 of the reading module 5.

読取りモジュール(5)はコンベアベルト(32)の移動方向に沿って略平行に走査することができる。プリント基板(4)の長さがA4サイズ(縦21cm×横30cm)以下であれば、1回の走査で画像を読みとるが、A4サイズを超えれば2回に分けて走査する。フレーム(3)上には、コンベアベルト(32)の搬送方向に沿って、第1ストッパ(320)と第2ストッパ(330)とが設けられている。第1ストッパ(320)と第2ストッパ(330)は、プリント基板(4)に向かって昇降可能であり、プリント基板(4)が読取りモジュール(5)に対向していないときは、上昇している。
プリント基板(4)の長さがA4サイズを超えるときは、図26(c)に示す如く、先ず第1ストッパ(320)をプリント基板(4)の側面に当てて、プリント基板(4)の搬送方向に沿う前半部A1を走査する。その後、第1ストッパ(320)とプリント基板(4)の当接を解除し、図26(d)に示す如く、プリント基板(4)がプリント基板(4)の搬送側に位置する第2ストッパ(330)にまで搬送される。その後、残りの後部分B1領域が走査される。
一般に、市販のイメージスキャナ(2)の読取りモジュール(5)では、A4サイズまでしか走査できない。しかし、本例ではプリント基板(4)の横長さが、A4サイズを超えても、2回に分けて走査することにより、最大約60cmまで読みとり可能である。
The reading module (5) can scan substantially parallel along the direction of movement of the conveyor belt (32). If the length of the printed circuit board (4) is A4 size (length 21 cm x width 30 cm) or less, the image is read in one scan, but if it exceeds the A4 size, it is scanned in two steps. On the frame (3), a first stopper (320) and a second stopper (330) are provided along the conveying direction of the conveyor belt (32). The first stopper (320) and the second stopper (330) can be moved up and down toward the printed circuit board (4). When the printed circuit board (4) does not face the reading module (5), the first stopper (320) and the second stopper (330) move up. Yes.
When the length of the printed circuit board (4) exceeds the A4 size, the first stopper (320) is first applied to the side surface of the printed circuit board (4) as shown in FIG. The front half A1 along the transport direction is scanned. Thereafter, the contact between the first stopper (320) and the printed circuit board (4) is released, and as shown in FIG. 26 (d), the printed circuit board (4) is positioned on the conveyance side of the printed circuit board (4). (330). Thereafter, the remaining rear portion B1 region is scanned.
In general, the reading module (5) of the commercially available image scanner (2) can scan only up to A4 size. However, in this example, even if the horizontal length of the printed circuit board (4) exceeds the A4 size, it can be read up to about 60 cm by scanning in two steps.

第5実施例
図27(a)は、他の実施例のイメージスキャナの側面断面図であり、(b)はその平面図、(c)、(d)は読取りモジュール(5)の走査動作を示す平面図である。本例にあっては、プリント基板(4)の搬送方向に対し、読取りモジュール(5)の走査方向は略直交する。第1調整ネジ(210)(210)及び第2調整ネジ(220)(220)を設けた構成は、図26に示す実施例と同様である。
本例では、読取りモジュール(5)はコンベアベルト(32)の移動方向に略直交して走査することができる。ステー(300)上に、保護カバー(200)を被せ、イメージスキャナ(2)をステー(300)から吊り下げている。読取りモジュール(5)の1回の走査では、長さが約21cm程度のプリント基板(4)しか読みとることができない。しかし、プリント基板(4)を搬送して再度読みとる、即ち2回走査することにより、長さが縦約30cm、横約40cm程度のプリント基板(4)まで読みとることができる。
Fifth Embodiment FIG. 27 (a) is a side sectional view of an image scanner of another embodiment, (b) is a plan view thereof, and (c) and (d) are scanning operations of the reading module (5). FIG. In this example, the scanning direction of the reading module (5) is substantially orthogonal to the conveyance direction of the printed circuit board (4). The configuration in which the first adjustment screws (210) and (210) and the second adjustment screws (220) and (220) are provided is the same as the embodiment shown in FIG.
In this example, the reading module (5) can scan substantially perpendicular to the direction of movement of the conveyor belt (32). A protective cover (200) is put on the stay (300), and the image scanner (2) is suspended from the stay (300). Only one printed circuit board (4) having a length of about 21 cm can be read by one scan of the reading module (5). However, the printed circuit board (4) is conveyed and read again, that is, by scanning twice, the printed circuit board (4) having a length of about 30 cm and a width of about 40 cm can be read.

(検査画像処理の第1例)
イメージスキャナ(2)により読み取った後に於ける、PC(10)のデジタル画像処理と判定手段の一例について詳述する。また、他の例については後記する。
図21は、プリント基板(4)の半田印刷されるべきパターン(41)と半田印刷されないパターン(41a)を示す、半田印刷前基板の概略平面図である。尚、A、Bは半導体、Cはチップで、後に搭載される電子部品である。Dは、半田付着防止レジスト塗膜である。該レジストは一般的に緑色で、パターン(41)(41a)を除き全面的に薄く塗布されている。また、半田印刷されないパターン(41a)とは、例えば後工程にて人手で半田を付着するパターンである。
図22は、前記図21のプリント基板(4)上の半田印刷されるべきパターン(41)上に、半田(40)が印刷されたパターンの状態を示す。図22は、半田(40)がパターン(41)上に被さり、パターン(41)が隠れている。一方、半田印刷されていないパターン(41a)のみ存在している状態を示す。
(First example of inspection image processing)
An example of digital image processing and determination means of the PC (10) after reading by the image scanner (2) will be described in detail. Other examples will be described later.
FIG. 21 is a schematic plan view of a board before solder printing showing a pattern (41) to be solder-printed and a pattern (41a) not to be solder-printed on the printed board (4). A and B are semiconductors, and C is a chip, which is an electronic component to be mounted later. D is a solder adhesion preventing resist coating film. The resist is generally green and is thinly coated on the entire surface except for the patterns (41) and (41a). Moreover, the pattern (41a) not subjected to solder printing is a pattern in which solder is manually attached in a later process, for example.
FIG. 22 shows a state in which the solder (40) is printed on the pattern (41) to be solder-printed on the printed circuit board (4) of FIG. In FIG. 22, the solder (40) covers the pattern (41), and the pattern (41) is hidden. On the other hand, the state where only the pattern (41a) not printed by solder exists is shown.

前記PC(10)に於いて、図21に示す前記半田印刷前基板のパターン(41)(41a)を抽出し、その後、2値化及びノイズ処理したパターン画像を認識する。次に、図22に示す前記半田印刷後基板の半田の色を抽出し、2値化・ノイズ処理した半田(40)印刷後のパターン画像を認識する。但し、この場合は正確に印刷されているかをモニター(11)で拡大し確認した後に実行する。当然に不具合であればやり直す。正確な印刷の場合、上記画像認識後に下流に搬送する。次に、前記図21のパターン(41)(41a)画像と前記半田(40)印刷後のパターン画像を重ね合わせ、半田(40)が印刷されていない検査対象外のパターン(41a)を一括削除する。
これにより、半田が印刷されるべきパターン(41)のみが存在する。夫々のパターン(41)の全体面積を積算して、これをマスターとする。次に、該マスターに基づいて、検査対象であるパターン(41)の良否判定の基準となる面積比率を設定する。この面積比率とは、パターン(41)の全体面積に対して、半田が印刷されずに残ったパターン(41)の面積の許容範囲を指す。該積算面積及び面積比率はPC(10)内に格納され、該面積比率を設定した後に、イメージスキャナ(2)の下側に搬送されてきた検査対象であるパターン(41)の面積を求める。
In the PC (10), the pattern (41) (41a) of the board before solder printing shown in FIG. 21 is extracted, and then the binarized and noise processed pattern image is recognized. Next, the solder color of the substrate after the solder printing shown in FIG. 22 is extracted, and the pattern image after the solder (40) printing subjected to binarization and noise processing is recognized. However, in this case, it is executed after enlarging and confirming on the monitor (11) whether or not the printing is correctly performed. Of course, if there is a problem, start over. In the case of accurate printing, the image is conveyed downstream after the image recognition. Next, the pattern (41) (41a) image of FIG. 21 and the pattern image after printing the solder (40) are overlapped, and the pattern (41a) that is not to be inspected without the solder (40) printed is collectively deleted. To do.
Thereby, only the pattern (41) on which the solder is to be printed exists. The total areas of the respective patterns (41) are integrated and used as a master. Next, based on the master, an area ratio serving as a reference for determining whether the pattern (41) to be inspected is acceptable or not is set. The area ratio refers to an allowable range of the area of the pattern (41) that remains without being printed with respect to the entire area of the pattern (41). The integrated area and area ratio are stored in the PC (10), and after setting the area ratio, the area of the pattern (41) to be inspected that has been conveyed to the lower side of the image scanner (2) is obtained.

図23(a)、(b)、(c)、(d)は、半田印刷後の検査基板に於いて、パターン(41)上の一部分に半田(40)が印刷された状態を示す。残っているパターン(41)の面積をマスターで除して、パターン(41)が残っている割合を求める。良否判定の基準となる面積比率を超えて、パターン(41)が残っている場合、半田不足と判定する。
即ち、半田印刷後のパターン(41)の残り面積が、判定基準である面積比率以上か否かにより、半田不足を判定する。
例えば、図23(a)に示す如く、半田(40)がパターン(41)の全面に印刷されていないときは、パターン(41)が残っている。該パターン(41)の良否判定基準となる基準面積を20%以下と設定している場合、図23(a)のパターン(41)上には、半田(40)が80%以下しか印刷されておらず、パターン(41)の残り面積は、パターン(41)全体面積の20%以上であるから、半田不足と認定する。
図23(b)は、パターン(41)全面に半田(40)が正確に印刷されており、パターン(41)の残り面積は0%であり、20%以下であるから良品と判定する。
半田(40)の凹凸で、影が仮に存在しても、影の下のパターン(41)が隠れて見えないから、半田不足の判定には影響がない。即ち、図23(c)のように、レジストと半田(40)との境界線が曖昧なエリア(40D)があっても、その下のパターン(41)が隠れており、パターン(41)が露出している部分が20%以上あれば、半田不足と判定できる。これとは逆に、図23(d)では、パターン(41)が曖昧なエリア(40D)に隠れて全く見えないから、半田印刷が良好と判る。
23 (a), (b), (c), and (d) show a state in which the solder (40) is printed on a part of the pattern (41) on the inspection board after the solder printing. The area of the remaining pattern (41) is divided by the master to obtain the ratio of remaining pattern (41). If the pattern (41) remains beyond the area ratio that is a criterion for pass / fail judgment, it is judged that the solder is insufficient.
That is, the shortage of solder is determined based on whether or not the remaining area of the pattern (41) after solder printing is equal to or larger than the area ratio that is a criterion.
For example, as shown in FIG. 23A, when the solder (40) is not printed on the entire surface of the pattern (41), the pattern (41) remains. When the reference area, which is a pass / fail criterion for the pattern (41), is set to 20% or less, the solder (40) is printed on the pattern (41) in FIG. Since the remaining area of the pattern (41) is 20% or more of the entire area of the pattern (41), it is recognized that the solder is insufficient.
In FIG. 23 (b), the solder (40) is accurately printed on the entire surface of the pattern (41), and the remaining area of the pattern (41) is 0%, which is 20% or less.
Even if there is a shadow due to the unevenness of the solder (40), the pattern (41) under the shadow is hidden and cannot be seen, so there is no effect on the determination of insufficient solder. That is, as shown in FIG. 23 (c), even if there is an area (40D) where the boundary between the resist and the solder (40) is ambiguous, the pattern (41) below is hidden and the pattern (41) is If the exposed part is 20% or more, it can be determined that the solder is insufficient. On the contrary, in FIG. 23 (d), the pattern (41) is hidden behind the ambiguous area (40D) and cannot be seen at all.

尚、一般に画像処理は検査対象物の色を抽出し、光の三原色に当たる赤緑青(RGB)に於いて、検査対象物の色分布と明るさとで特定する。その後、一般に行う2値化処理・ノイズ処理をして認識する。ところが、半田(40)は印刷毎に色の変化があり、また光が乱反射してRGBがまだらに映り、半田(40)の色として特定しがたい虞れがある。本例では、色変化が無いパターン(41)の面積を計算する。この手段により、半田不足の誤判定が少なくて済む。
印刷された半田(40)の表面は、半田粒子の大きさ及び印刷むら等により、銅製のパターン(41)に比べて凹凸が大きく、色の変化も大きい。半田の色を抽出する際、前記レジストの色と一部混ざり合って該レジストと半田(40)の境界線が不正確となる虞れがある。イメージスキャナ(2)での画像読込みに於いて、特にこの傾向がある。従って、半田面積の判定が正確に欠ける虞れがある。本発明はこのことに鑑みて、比較的凹凸が少ないパターン(41)の面積を積算することにした。この手段により、半田不足の誤判定が少なくて済む。
In general, the image processing extracts the color of the inspection object and specifies the color distribution and brightness of the inspection object in red, green, and blue (RGB) corresponding to the three primary colors of light. Thereafter, it is recognized by performing binarization processing and noise processing that are generally performed. However, there is a possibility that the color of the solder (40) changes every time printing is performed, and light is irregularly reflected so that RGB is reflected in the mottle, making it difficult to specify the color of the solder (40). In this example, the area of the pattern (41) having no color change is calculated. By this means, misjudgment of lack of solder can be reduced.
The surface of the printed solder (40) has large irregularities and a large color change compared to the copper pattern (41) due to the size of solder particles and uneven printing. When extracting the color of the solder, there is a possibility that the boundary line between the resist and the solder (40) may become inaccurate due to partial mixing with the color of the resist. This tendency is particularly seen in image reading by the image scanner (2). Therefore, there is a possibility that the determination of the solder area is not accurately performed. In view of this, the present invention has decided to integrate the area of the pattern (41) with relatively little unevenness. By this means, misjudgment of lack of solder can be reduced.

図24(a)は、2値化処理後にノイズ処理をした前記半田(40)印刷後のパターン画像とマスターであるパターン(41)の画像を重ね合わせ、隣接するパターン(41)(41)どうしが半田(40)によって連結されているブリッジ状態を示す。該連結状態を認識して、ブリッジ状態か否かを判定する。本例では、図24(b)に示す如く、前記レジストと半田(40)との境界線が不正確で曖昧なエリア(40D)があったとしても、図示の如く、隣接するパターン(41)(41)どうしが半田(40)により連結又は接近しているか否か、又は半田(40)どうしが半田(40)により連結又は接近しているか否かを認識するだけであり、シンプルに判定することができる。従って、ブリッジの誤判定が少なくて済む。
マスターには、後記するように、半田印刷前基板のパターンとフィルム(96)の画像(95)とを重ね合わせて形成したものを使用してもよい。
FIG. 24 (a) shows a pattern image after printing the solder (40) subjected to noise processing after binarization processing and an image of a pattern (41) as a master, and adjacent patterns (41) (41) are overlapped. Shows a bridge state where the two are connected by solder (40). The connected state is recognized, and it is determined whether or not it is in a bridge state. In this example, as shown in FIG. 24B, even if there is an area (40D) where the boundary line between the resist and the solder (40) is inaccurate and ambiguous, as shown in FIG. (41) Simply determine whether or not the solder (40) is connected or approached by the solder (40) or whether the solder (40) is connected or approached by the solder (40). be able to. Accordingly, it is possible to reduce the erroneous determination of the bridge.
As described later, the master may be formed by superimposing a pattern on the substrate before solder printing and an image (95) of the film (96).

尚、図24(c)は、半田(40)のにじみ状態を示す。該にじみ半田(40)は半田溶解時に半田の表面張力により、パターン中央部に引き寄せられて、図24(d)に示す如く、にじみが小さくなる、又は無くなる場合が多い。この現象は、隣接するパターン間には前記レジスト塗膜があるために、上記半田が引き寄せられ易い。但し、隣接するパターン(41)(41)が半田(40)により連結している場合、両パターン(41)(41)の半田(40)が互いに引っ張られブリッジが存在したまま半田付けされる。
従来では、にじみ半田(40)が所定の座標範囲よりはみ出していても、前記連結していない場合があり、ブリッジと誤判定する虞れがある。本例では隣接するパターン(41)(41)どうしが半田(40)により連結又は接近しているか否かを認識するだけであり、誤判定の虞れはない。
FIG. 24 (c) shows the bleeding state of the solder (40). The blur solder (40) is attracted to the center of the pattern by the surface tension of the solder when the solder is melted, and the blur is often reduced or eliminated as shown in FIG. This phenomenon tends to attract the solder because the resist coating film is present between adjacent patterns. However, when the adjacent patterns (41) and (41) are connected by the solder (40), the solder (40) of both the patterns (41) and (41) is pulled together and soldered while the bridge exists.
Conventionally, even if the bleeding solder (40) protrudes from a predetermined coordinate range, the soldering (40) may not be connected, and there is a risk of erroneous determination as a bridge. In this example, it is only recognized whether adjacent patterns (41) and (41) are connected or approached by the solder (40), and there is no possibility of erroneous determination.

また、図25(a)、(b)に示す如く、半田印刷ズレの場合であっても、該パターン(41)の残り面積が、判定基準である面積比率の範囲内であれば良品、範囲外は不良品と判定する。上記範囲内であっても、前記半田(40)により連結している場合、ブリッジと判定するから心配はない。
更に、隣り合う半田(40)(40)間の距離が一定長さ以下で有れば、ブリッジの虞れがあるとして、不良品と判定する。換言すれば、クリーム状の半田(40)(40)に部品が搭載されたときに、半田(40)(40)がパターン(41)(41)からはみ出ることがある。隣り合うパターン(41)(41)又は半田(40)(40)が非常に接近していれば、半田(40)(40)が連結する虞れがある。従って、隣り合うパターン(41)(41)又は半田(40)(40)が極端に接近していれば、ブリッジの虞れがある(ブリッジ仕掛かりと言う)として、不良品と判定する。
Further, as shown in FIGS. 25 (a) and 25 (b), even in the case of solder printing misalignment, if the remaining area of the pattern (41) is within the range of the area ratio that is a criterion, The outside is determined to be defective. Even if it is within the above range, if it is connected by the solder (40), there is no worry because it is determined as a bridge.
Further, if the distance between the adjacent solders (40) and (40) is equal to or less than a certain length, it is determined that the product is defective because there is a possibility of bridging. In other words, when components are mounted on the creamy solder (40) (40), the solder (40) (40) may protrude from the patterns (41) (41). If adjacent patterns (41) and (41) or solders (40) and (40) are very close, solder (40) and (40) may be connected. Therefore, if adjacent patterns (41), (41) or solders (40), (40) are extremely close to each other, it is determined that there is a possibility of bridging (referred to as a bridging mechanism) and a defective product is determined.

検査基板の検査が全て終了し、良品と判定した場合、該基板を下流に搬送させる。具体的には、ストッパ(33)を解除し、コンベアベルト(32)を駆動させ搬送する指令の信号をPC(10)から制御装置に送る。
不良があった場合は、搬送指令の信号は送らず、ストッパ(33)は解除されない。モニター(11)に不良箇所が赤枠で囲まれて拡大表示され、更にモニター(11)の隅部に縮小された基板全体と不良箇所の位置が画像表示される。作業者は該画像を見て良否の判断をする。良品と判断した場合は、キーボード(12)のOKボタンを操作して、基板を下流に搬送させる。又、不良と判断した場合は、基板を取り出す。尚、不良の箇所が判っているので、フィードバックをする。即ち、印刷機(8)の修正又はメタルマスク(9)の清掃を行い、不良原因を取り除く。
When all the inspection of the inspection substrate is completed and it is determined that it is a non-defective product, the substrate is transported downstream. Specifically, the stopper (33) is released, and the conveyor belt (32) is driven to convey the command signal from the PC (10) to the control device.
If there is a defect, the conveyance command signal is not sent and the stopper (33) is not released. On the monitor (11), the defective portion is enlarged and displayed with a red frame, and the entire reduced substrate and the position of the defective portion are displayed on the corner of the monitor (11). The operator judges the quality by looking at the image. If it is determined that the product is non-defective, the OK button on the keyboard 12 is operated to transport the substrate downstream. If it is determined to be defective, the substrate is taken out. Since the defective part is known, feedback is provided. That is, the printer (8) is corrected or the metal mask (9) is cleaned to remove the cause of the defect.

(検査画像処理の第2例)
図15を用いて説明した如く、プリント基板(4)上にクリーム半田(40)を印刷する際には、複数の孔(90)(90)を開設したメタルマスク(9)を用意する必要がある。このメタルマスク(9)の孔(90)(90)の位置や大きさのデータは、フォトデータとしてPC(10)内に取り込むことができる。該フォトデータには、半田印刷されないパターン(41a)のデータは入っていない。本例ではこのフォトデータを利用して、半田(40)が被さらない検査対象外のパターン(41a)を一括削除する。即ち、前記検査画像処理の第1例では、半田印刷前基板のパターン(41)(41a)に半田印刷後基板のパターン画像(41)を重ね合わせて、検査対象外のパターン(41a)を削除していたが、本例では半田印刷後基板のパターン画像(41)の代わりに、フォトデータを半田印刷前基板のパターン(41)(41a)に被せる。
(Second example of inspection image processing)
As described with reference to FIG. 15, when the cream solder (40) is printed on the printed circuit board (4), it is necessary to prepare a metal mask (9) having a plurality of holes (90) (90). is there. The position and size data of the holes (90) and (90) of the metal mask (9) can be taken into the PC (10) as photo data. The photo data does not include data of a pattern (41a) which is not solder-printed. In this example, this photo data is used to collectively delete the pattern (41a) that is not covered by the solder (40) and is not inspected. That is, in the first example of the inspection image processing, the pattern image (41) of the board after solder printing is superimposed on the pattern (41) (41a) of the board before solder printing, and the pattern (41a) not to be inspected is deleted. However, in this example, instead of the pattern image (41) of the board after solder printing, photo data is placed on the patterns (41) and (41a) of the board before solder printing.

図28(a)に示すように、フォトデータに基づいて孔(90)の画像(95)が生成され、該画像は透明なフィルム(96)の上面に焼き付けられる。フィルム(96)上には基準マーク(99)が設けられ、半田印刷前基板(4)の四隅にも同様の基準マークが設けられている。このフィルム(96)の画像(95)をフィルム(96)の上からイメージスキャナ(2)にて取り込んだ後に、半田印刷前基板(4)に被せ、基準マーク(99)どうしを合わせる。
これにより、フィルム(96)の画像(95)は、半田印刷前基板のパターン(41)(41a)に正しく被さり、半田印刷されるパターン(41)が隠れる。半田(40)が被さらない検査対象外のパターン(41a)を一括削除する。
これにより、半田印刷されるべき検査対象パターン(41)のみが存在する画像が製作される。夫々のパターン(41)の全体面積を積算して、これをマスターとする。次に、該マスターに基づいて、パターン(41)の良否判定の基準となる面積比率を例えば20%と設定する。
次に、検査すべき半田印刷後のプリント基板(4)のパターン(41)画像をイメージスキャナ(2)にて取り込んで、半田が印刷されていないパターン(41)の面積を求める。このパターン(41)の面積をマスターで除して、パターン(41)が残っている割合を求める。良否判定の基準となる面積比率を超えて、パターン(41)が残っている場合、半田不足と判定する。具体的には、面積比率である20%を超えて、パターン(41)が残っている場合、半田不足と判定する。パターン(41)が残っている面積が面積比率である20%以下で有れば、良品と判定する。
As shown in FIG. 28 (a), an image (95) of the hole (90) is generated based on the photo data, and the image is printed on the upper surface of the transparent film (96). Reference marks (99) are provided on the film (96), and similar reference marks are also provided at the four corners of the board (4) before solder printing. After the image (95) of this film (96) is taken in from the top of the film (96) by the image scanner (2), it is placed on the board (4) before solder printing, and the reference marks (99) are aligned.
As a result, the image (95) of the film (96) is correctly covered with the patterns (41) and (41a) of the board before solder printing, and the pattern (41) to be solder printed is hidden. The pattern (41a) that is not covered by the solder (40) is deleted at once.
Thereby, an image in which only the inspection target pattern (41) to be solder-printed exists is produced. The total areas of the respective patterns (41) are integrated and used as a master. Next, based on the master, an area ratio that is a criterion for determining the quality of the pattern (41) is set to 20%, for example.
Next, the pattern (41) image of the printed circuit board (4) after solder printing to be inspected is taken in by the image scanner (2), and the area of the pattern (41) on which the solder is not printed is obtained. The area of the pattern (41) is divided by the master to obtain the ratio of the pattern (41) remaining. If the pattern (41) remains beyond the area ratio that is a criterion for pass / fail judgment, it is judged that the solder is insufficient. Specifically, if the pattern (41) remains beyond the area ratio of 20%, it is determined that the solder is insufficient. If the area where the pattern (41) remains is 20% or less which is the area ratio, it is determined as a non-defective product.

図28(b)に示す如く、フィルム(96)の画像(95)を読取りモジュール(5)にて取り込む際には、フィルム(96)上に光を当てるから、該画像(95)の陰影(97)を取り込む虞れがある。フィルム(96)に厚みがあるから、陰影(97)は画像(95)に対して平面位置がずれている。パターン(41)の検査は20−40ミクロン程度のズレを検査するから、この平面位置のズレの影響は大きい。
従って、先ずPC(10)内の前記フォトデータの画像をミラー反転させて、フィルム(96)に焼き付ける。図28(c)に示すように、焼き付けた画像(95)をフィルム(96)の下面になるように上下反転し、陰影を取り込まないようにして、画像(95)を取り込めば、精度の高い検査を行うことができる。尚、上下反転したフィルム(96)の画像(95)を取り込む際には、該フィルム(96)の下に白色板(98)を敷いておけば、不必要な画像又はノイズ等を取り込むことが防止できる。
As shown in FIG. 28 (b), when the image (95) of the film (96) is captured by the reading module (5), light is applied to the film (96). 97). Since the film (96) is thick, the shadow (97) is out of plane with respect to the image (95). Since the inspection of the pattern (41) inspects a deviation of about 20-40 microns, the influence of the deviation of the planar position is great.
Accordingly, the image of the photo data in the PC (10) is first mirror-inverted and printed on the film (96). As shown in FIG. 28 (c), if the burned image (95) is turned upside down so as to be on the lower surface of the film (96) and the image (95) is captured without capturing the shadow, the accuracy is high. Inspection can be performed. When capturing the image (95) of the upside down film (96), an unnecessary image or noise can be captured if a white plate (98) is placed under the film (96). Can be prevented.

(検査画像処理の第3例)
従来と同様に、パターン(41)(41a)は一般的には銅製であるが、近年、抵抗値が少ない、半田が付きやすい等に鑑みて、金製のパターン(41)(41a)が用いられることがある。この金製のパターン(41)(41a)の上から光を照射して、パターン(41)(41a)の画像を読取りモジュール(5)にて取り込むと、半田(40)自体に含まれている色もあり、半田(40)とパターン(41)(41a)を識別することができない虞れがある。
更に、半田(40)は周辺の色や影等で曖昧なところがある。出願人はこの点に鑑みて、半田(40)の特定色に着目した。即ち、半田(40)に隣接するレジストやパターン(40)(40a)の色等を含まない半田特定色であるRGBを抽出し、半田(40)内に点在する該半田特定色を繋いで、半田(40)が印刷された領域を特定する。
具体的には、図29に示すように、読取りモジュール(5)が取り込んだ半田(40)の画像を2値化処理・ノイズ処理をすることにより、半田特定色の要素(46)が周囲に比して黒く映し出される。この周囲に比して黒く映し出された半田特定色の要素全てを、一点鎖線で示す仮想枠(45)にて囲むことにより、半田(40)が印刷されている領域が推定される。この仮想枠(45)内の面積をマスターで除して、半田(40)が印刷されている割合を求める。PC(10)には、予め半田(40)印刷の良否判定の基準となる面積比率が設定されている。
仮想枠(45)内の面積の割合が面積比率以下で有れば、半田不足と判定する。仮想枠(45)内の面積の割合が面積比率を超えれていれば、良品と判定する。
(Third example of inspection image processing)
As in the past, the pattern (41) (41a) is generally made of copper, but in recent years, the gold pattern (41) (41a) has been used in view of low resistance, easy soldering, etc. May be. When the gold pattern (41) (41a) is irradiated with light and the image of the pattern (41) (41a) is captured by the reading module (5), it is contained in the solder (40) itself. There is also a color, and there is a possibility that the solder (40) and the patterns (41) (41a) cannot be distinguished.
Furthermore, the solder (40) is ambiguous due to surrounding colors and shadows. In view of this point, the applicant paid attention to a specific color of the solder (40). That is, RGB that is a solder specific color not including the color of the resist adjacent to the solder (40) and the pattern (40) (40a) is extracted, and the solder specific color scattered in the solder (40) is connected. The area where the solder (40) is printed is specified.
Specifically, as shown in FIG. 29, by performing binarization processing and noise processing on the image of the solder (40) taken in by the reading module (5), the solder specific color element (46) is surrounded by the surroundings. Compared to black. The area where the solder (40) is printed is estimated by enclosing all the elements of the solder specific color projected in black compared with the surrounding area with a virtual frame (45) indicated by a one-dot chain line. By dividing the area in the virtual frame (45) by the master, the ratio of the printed solder (40) is obtained. In the PC (10), an area ratio that is a criterion for determining whether or not the solder (40) is printed is set in advance.
If the area ratio in the virtual frame (45) is equal to or less than the area ratio, it is determined that the solder is insufficient. If the area ratio in the virtual frame (45) exceeds the area ratio, it is determined as a non-defective product.

上記例では、プリント基板(4)の半田(40)印刷状態を確認する検査装置を開示したが、プリント基板(4)に電子部品を実装した状態、又は更にリフロー炉にて硬化した半田(40)付けの状態を検査してもよい。ここで、検査する半田(40)付けの状態には、半田(40)の有無、過小、過多、ブリッジ等が含まれる。また、検査する電子部品の実装状態には、電子部品の有無、位置ズレ、電子部品自体の間違い、極性の間違いが含まれる。
電子部品、具体的には携帯電話、デジタルカメラ等に用いる薄型の電子部品を実装したプリント基板(4)を検査するのに適しており、プリント基板(4)と画像読取り部(54)の上下間隔は、画像読取り部(54)の焦点距離である7−9mm程度に調節される。上下間隔及び傾きθ1を微調整する第1の手段、及び画像読取り部(54)の平面位置及び角度θ2を調整する第2の手段は、焦点距離を調節して、画像を正確に読み込むには、不可欠である。
又、イメージスキャナ(2)の読取り部(54)へ照明と対向する面に画像を明るくする為に、反射板(図示せず)を置いても良い。
また、本例の検査装置を、メタルマスク(9)の孔(90)の形状、位置精度、及び孔(90)周辺の半田屑の付着の有無の検査に使用してもよい。また、印刷前基板の精度を検査してもよい。
In the above example, the inspection device for confirming the printed state of the solder (40) of the printed circuit board (4) is disclosed. However, the solder (40) in which the electronic component is mounted on the printed circuit board (4) or further cured in a reflow furnace. ) You may inspect the condition. Here, the state of the solder (40) to be inspected includes the presence / absence of solder (40), too small, too much, and a bridge. In addition, the mounting state of the electronic component to be inspected includes the presence / absence of the electronic component, misalignment, an error in the electronic component itself, and an error in polarity.
It is suitable for inspecting printed circuit boards (4) mounted with electronic parts, specifically thin electronic parts used for mobile phones, digital cameras, etc. The upper and lower sides of the printed circuit board (4) and the image reading unit (54) The interval is adjusted to about 7-9 mm which is the focal length of the image reading unit (54). The first means for finely adjusting the vertical interval and the inclination θ1 and the second means for adjusting the planar position and the angle θ2 of the image reading unit (54) are for adjusting the focal length and accurately reading the image. ,It is essential.
Further, a reflection plate (not shown) may be placed on the reading unit (54) of the image scanner (2) to brighten the image on the surface facing the illumination.
Moreover, you may use the test | inspection apparatus of this example for the test | inspection of the presence or absence of the adhesion of the shape of the hole (90) of a metal mask (9), position accuracy, and the hole (90) periphery. Moreover, you may test | inspect the precision of the board | substrate before printing.

上記実施例の説明は、本発明を説明するためのものであって、特許請求の範囲に記載の発明を限定し、或は範囲を減縮する様に解すべきではない。例えば、本発明に適した外観検査対象物であれば、電子部品実装関連でなくとも良い。又、本発明の各部構成は上記実施例に限らず、特許請求の範囲に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能であることは勿論である。   The above description of the embodiments is for explaining the present invention, and should not be construed as limiting the invention described in the claims or reducing the scope thereof. For example, as long as it is an appearance inspection object suitable for the present invention, it does not have to be related to electronic component mounting. In addition, the configuration of each part of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the technical scope described in the claims.

検査装置の概略を示す正面図である。It is a front view which shows the outline of an inspection apparatus. 検査装置の斜視図である。It is a perspective view of an inspection device. イメージスキャナの下面図である。It is a bottom view of an image scanner. 図2をA−A線を含む面にて破断した断面図である。It is sectional drawing which fractured | ruptured FIG. 2 in the surface containing an AA line. 読取りモジュールを水平に支持する他の構成を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the other structure which supports a reading module horizontally. 読取りモジュールを水平に支持する他の構成を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the other structure which supports a reading module horizontally. 読取りモジュールを水平に支持する他の構成を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the other structure which supports a reading module horizontally. 読取りモジュールを水平に支持する他の構成を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the other structure which supports a reading module horizontally. 他の実施例のイメージスキャナの側面断面図である。It is side surface sectional drawing of the image scanner of another Example. 他の実施例を示すイメージスキャナの正面断面図である。It is front sectional drawing of the image scanner which shows another Example. 別の実施例に於けるイメージスキャナを示す平面図である。It is a top view which shows the image scanner in another Example. 分割された検査対象面を示す平面図である。It is a top view which shows the test | inspection surface divided | segmented. 他の実施例に於けるイメージスキャナを示す平面図である。It is a top view which shows the image scanner in another Example. 他の実施例に於けるイメージスキャナを示す平面図である。It is a top view which shows the image scanner in another Example. プリント基板上にクリーム半田を印刷する手法を示す平面図である。It is a top view which shows the method of printing cream solder on a printed circuit board. (a)、(b)、(c)は、パターン上に印刷されたクリーム半田を示す図である。(a), (b), (c) is a figure which shows the cream solder printed on the pattern. 従来の検査装置を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conventional inspection apparatus. (a)、(b)は、図17の検査装置の検査原理を示す図である。(a), (b) is a figure which shows the test | inspection principle of the test | inspection apparatus of FIG. イメージスキャナの断面図である。It is sectional drawing of an image scanner. 読取りモジュールの内部を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the inside of a reading module. 半田印刷前のプリント基板を示す平面図である。It is a top view which shows the printed circuit board before solder printing. 半田印刷後のプリント基板を示す平面図である。It is a top view which shows the printed circuit board after solder printing. 半田印刷後のプリント基板上にて、パターンの一部に半田が印刷された状態を示す。A state in which solder is printed on a part of a pattern on a printed circuit board after solder printing is shown. (a)、(b)はブリッジ状態を示す平面図であり、(c)、(d)は半田のにじみ状態を示す平面図である。(a), (b) is a top view which shows a bridge state, (c), (d) is a top view which shows the bleeding state of a solder. (a)、(b)は、半田印刷ズレ状態を示す平面図である。(a), (b) is a top view which shows a solder printing misalignment state. (a)は、他の実施例のイメージスキャナの側面断面図であり、(b)はその平面図、(c)、(d)はイメージスキャナの走査状態を示す平面図である。(a) is side sectional drawing of the image scanner of another Example, (b) is the top view, (c), (d) is a top view which shows the scanning state of an image scanner. (a)は、他の実施例のイメージスキャナの側面断面図であり、(b)はその平面図、(c)、(d)はイメージスキャナの走査状態を示す平面図である。(a) is side sectional drawing of the image scanner of another Example, (b) is the top view, (c), (d) is a top view which shows the scanning state of an image scanner. (a)、(b)、(c)は、検査画像処理の例を示す説明図である。(a), (b), (c) is explanatory drawing which shows the example of test | inspection image processing. 半田特定色の要素全てを囲む仮想枠を示す平面図である。It is a top view which shows the virtual frame surrounding all the elements of a solder specific color.

符号の説明Explanation of symbols

(1) 検査装置
(2) イメージスキャナ
(4) プリント基板
(5) 読取りモジュール
(11) モニター
(21) ガイド軸
(40) 半田
(54) 画像読取り部
(1) Inspection equipment
(2) Image scanner
(4) Printed circuit board
(5) Reading module
(11) Monitor
(21) Guide shaft
(40) Solder
(54) Image reader

Claims (15)

少なくとも1本のガイド軸(21)に沿って移動し、画像読取り部(54)を下側に向けて画像を走査する読取りモジュール(5)及び該読取りモジュール(5)を水平状態に支持する水平支持部材を具えたイメージスキャナ(2)と、該イメージスキャナ(2)の画像読取り部(54)の下側に検査対象物を搬送する搬送手段と、読取りモジュール(5)が走査した画像を処理してモニター(11)に表示する手段を設け、
イメージスキャナ(2)の下面には、検査対象物に対向して透明カバー(24)が設けられ、イメージスキャナ(2)の外側には、該透明カバー(24)を備える保護カバー(200)が取り付けられ、該保護カバー(200)の外側には、検査対象物の搬送方向に離間した一対のステー(300)が被さり、
各ステー(300)の天面と保護カバー(200)の上面は、イメージスキャナ(2)の幅方向に沿って離れた2本の第1調整ネジ(210)(210)にて連結され、イメージスキャナ(2)内の読取りモジュール(5)と検査対象物との上下間隔と、検査対象物に対する読取りモジュール(5)の傾きとは、第1調整ネジ(210)(210)を回転させることにより微調整され、
各ステー(300)の側面と保護カバー(200)の側面には、第2調整ネジ(220)(220)が螺合し、該第2調整ネジ(220)(220)を回転させることにより、イメージスキャナ(2)の平面位置が微調整され、イメージスキャナ(2)が水平面内で微小に回転する検査装置。
A reading module (5) that moves along at least one guide shaft (21) and scans an image with the image reading unit (54) facing downward, and a horizontal that supports the reading module (5) in a horizontal state An image scanner (2) provided with a support member, a conveying means for conveying an inspection object to the lower side of the image reading unit (54) of the image scanner (2), and an image scanned by the reading module (5) To provide a display on the monitor (11),
A transparent cover (24) is provided on the lower surface of the image scanner (2) so as to face the object to be inspected, and a protective cover (200) including the transparent cover (24) is provided on the outer side of the image scanner (2). Attached to the outside of the protective cover (200) is covered with a pair of stays (300) separated in the direction of conveyance of the inspection object,
The top surface of each stay (300) and the upper surface of the protective cover (200) are connected by two first adjusting screws (210) and (210) which are separated along the width direction of the image scanner (2). The vertical distance between the reading module (5) in the scanner (2) and the inspection object and the inclination of the reading module (5) with respect to the inspection object are determined by rotating the first adjusting screws (210) and (210). Tweaked,
A second adjustment screw (220) (220) is screwed onto the side surface of each stay (300) and the side surface of the protective cover (200), and by rotating the second adjustment screw (220) (220), An inspection device in which the plane position of the image scanner (2) is finely adjusted, and the image scanner (2) rotates slightly in a horizontal plane .
読取りモジュール(5)の走査方向は、検査対象物の搬送方向に略平行である、又は、検査対象物の搬送方向に対して略直交する、請求項1に記載の検査装置。 2. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the scanning direction of the reading module (5) is substantially parallel to the conveyance direction of the inspection object or substantially orthogonal to the conveyance direction of the inspection object. イメージスキャナ(2)は枢支(60)を中心として上向きに回動可能、又は奥向きにスライド可能に設けられて、検査終了後に、上向きに回動又は奥向きスライドされて、検査対象物を取り出し可能に開放する、請求項1又は2に記載の検査装置。   The image scanner (2) can be rotated upward or slidable about the pivot (60), and can be slid upward. After the inspection is completed, the image scanner (2) is rotated upward or slid backward to remove the inspection object. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection apparatus is opened so as to be removable. 検査対象物を停止させる第1ストッパ(320)と第2ストッパ(330)を、検査対象物の搬送方向に沿って設け、1つの読取りモジュール(5)にて第1ストッパ(320)に停止された検査対象物の前端部と、第2ストッパ(330)に停止された検査対象物の後端部を走査する、請求項1乃至3の何れかに記載の検査装置。   A first stopper (320) and a second stopper (330) for stopping the inspection object are provided along the conveyance direction of the inspection object, and the first stopper (320) is stopped by one reading module (5). The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the inspection apparatus scans a front end portion of the inspection object and a rear end portion of the inspection object stopped by the second stopper (330). イメージスキャナ(2)内には、読取りモジュール(5)が複数個設けられ、検査対象物の検査面を分割して読取る、請求項1乃至4の何れかに記載の検査装置。   5. The inspection apparatus according to claim 1, wherein a plurality of reading modules (5) are provided in the image scanner (2), and the inspection surface of the inspection object is divided and read. 検査対象物は、半田印刷前基板の精度、プリント基板(4)上に実装された電子部品の有無、位置ズレ、電子部品自体の間違い、極性の間違い、硬化した半田(40)の有無、過少、過多、ブリッジである、請求項1に記載の検査装置。   The inspection object is the accuracy of the board before solder printing, the presence / absence of electronic components mounted on the printed circuit board (4), misalignment, incorrect electronic components themselves, wrong polarity, presence / absence of hardened solder (40), too little The inspection device according to claim 1, wherein the inspection device is excessive, bridged. 検査対象物は、メタルマスク(9)の孔(90)の形状、位置の精度、及び孔(90)周辺の半田の付着の有無である、請求項1に記載の検査装置。 The inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection object is the shape and position accuracy of the hole (90) of the metal mask (9) and the presence or absence of solder scraps around the hole (90). 検査対象物は、プリント基板(4)上に印刷された半田(40)又はパターン(41)である、請求項1乃至5の何れかに記載の検査装置。   6. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection object is solder (40) or a pattern (41) printed on the printed circuit board (4). 半田印刷前基板のパターンを認識する手段と、半田印刷後基板のパターンを認識する手段と、前記半田印刷前基板のパターンと半田印刷後パターンの画像とを重ね合わせ、半田が印刷されていない検査対象外のパターンを一括削除し、削除されなかった半田印刷後のパターン全体をマスターとして面積積算する手段と、該マスターに基づいて検査対象であるパターンの良否判定基準となる面積比率を設定する手段を具え、
判定基準となる面積比率を設定した後に、イメージスキャナ(2)の下側に搬送されてきた検査対象である半田印刷後のパターンの残り面積を求め、該パターンの残り面積のマスターに対する割合が、判定基準となる面積比率以上か否かにより、半田不足を判定する、請求項8に記載の検査装置。
A means for recognizing a pattern of a board before solder printing, a means for recognizing a pattern of a board after solder printing, and a pattern of the board before solder printing and an image of the pattern after solder printing, and inspecting that solder is not printed A means for collectively deleting unexamined patterns and integrating the entire area after the solder printing that has not been deleted as a master, and a means for setting an area ratio as a pass / fail judgment criterion for a pattern to be inspected based on the master With
After setting the area ratio to be a determination criterion, the remaining area of the pattern after solder printing, which is the inspection target conveyed to the lower side of the image scanner (2), is obtained, and the ratio of the remaining area of the pattern to the master is The inspection apparatus according to claim 8, wherein a solder shortage is determined based on whether or not the area ratio is a criterion for determination.
半田印刷前基板のパターンを認識する手段と、半田印刷すべき領域が設定されたフォトデータを用いて作成されたフィルム(96)の画像(95)を認識する手段と、半田印刷前基板のパターンとフィルム(96)の画像(95)とを重ね合わせ、フィルム(96)の画像(95)が被さっていない検査対象外のパターンを一括削除し、削除されなかったパターン全体をマスターとして面積積算する手段と、該マスターに基づいて検査対象パターンの良否判定基準となる面積比率を設定する手段を具え、
判定基準となる面積比率を設定した後に、イメージスキャナ(2)の下側に搬送されてきた検査対象である半田印刷後のパターンの残り面積を求め、該パターンの残り面積のマスターに対する割合が、判定基準となる面積比率以上か否かにより、半田不足を判定する、請求項8に記載の検査装置。
Means for recognizing the pattern of the board before solder printing, means for recognizing the image (95) of the film (96) created using the photo data in which the area to be solder printed is set, and the pattern of the board before solder printing And the image (95) of the film (96) are overlaid, the pattern not covered by the image (95) of the film (96) is deleted at once, and the area that is not deleted is integrated as the master Means, and means for setting an area ratio to be a quality determination criterion of the inspection target pattern based on the master,
After setting the area ratio to be a determination criterion, the remaining area of the pattern after solder printing, which is the inspection target conveyed to the lower side of the image scanner (2), is obtained, and the ratio of the remaining area of the pattern to the master is The inspection apparatus according to claim 8, wherein a solder shortage is determined based on whether or not the area ratio is a criterion for determination.
前記フォトデータをミラー反転して、画像(95)はフィルム(96)の下面に形成される、請求項10に記載の検査装置。   The inspection apparatus according to claim 10, wherein the photo data is mirror-reversed, and the image (95) is formed on the lower surface of the film (96). 半田印刷前基板のパターンを認識する手段と、半田印刷後基板のパターンを認識する手段と、前記半田印刷前基板のパターンと半田印刷後パターンの画像とを重ね合わせ、半田が被さっていない検査対象外のパターンを一括削除し、削除されなかったパターン画像をマスターとして面積積算する手段を具え、
面積積算後に、イメージスキャナ(2)の下側に搬送されてきた検査対象であるパターン上の半田印刷領域から、半田特定色を抽出し、該半田特定色の箇所を囲む仮想枠(45)から半田印刷領域の面積を推定し、該推定した半田印刷領域の面積と、マスターの面積との比率から、半田不足を判定する、請求項8に記載の検査装置。
An inspection object in which the means for recognizing the pattern of the substrate before solder printing, the means for recognizing the pattern of the substrate after solder printing, and the pattern of the substrate before solder printing and the image of the pattern after solder printing are overlapped. A means to collectively delete areas outside the pattern and integrate the pattern images that were not deleted as a master,
After the area integration, the solder specific color is extracted from the solder print area on the pattern to be inspected that has been conveyed to the lower side of the image scanner (2), and the virtual frame (45) surrounding the solder specific color portion is extracted. The inspection apparatus according to claim 8, wherein an area of the solder printing region is estimated, and solder shortage is determined from a ratio between the estimated area of the solder printing region and the area of the master.
半田印刷前基板のパターンを認識する手段と、半田印刷すべき領域が設定されたフォトデータを用いて作成されたフィルム(96)の画像(95)を認識する手段と、半田印刷前基板のパターンとフィルム(96)の画像(95)とを重ね合わせ、フィルム(96)の画像(95)が被さっていない検査対象外のパターンを一括削除し、削除されなかったパターン全体をマスターとして面積積算する手段を具え、
面積積算後に、イメージスキャナ(2)の下側に搬送されてきた検査対象であるパターン上の半田印刷領域から、半田特定色を抽出し、該半田特定色の箇所を囲む仮想枠(45)から半田印刷領域の面積を推定し、該推定した半田印刷領域の面積と、マスターの面積との比率から、半田不足を判定する、請求項8に記載の検査装置。
Means for recognizing the pattern of the board before solder printing, means for recognizing the image (95) of the film (96) created using the photo data in which the area to be solder printed is set, and the pattern of the board before solder printing And the image (95) of the film (96) are overlaid, the pattern not covered by the image (95) of the film (96) is deleted at once, and the area that is not deleted is integrated as the master With means,
After the area integration, the solder specific color is extracted from the solder print area on the pattern to be inspected that has been conveyed to the lower side of the image scanner (2), and the virtual frame (45) surrounding the solder specific color portion is extracted. The inspection apparatus according to claim 8, wherein an area of the solder printing region is estimated, and solder shortage is determined from a ratio between the estimated area of the solder printing region and the area of the master.
前記半田(40)印刷後のパターン画像をノイズ処理する手段と、ノイズ処理されたパターン画像と、マスターの画像とを重ね合わせ、隣接する検査対象パターン(41)(41)又は半田(40)(40)どうしが半田により連結しているか、又は接近しているか否かの判断をする手段を具え、ブリッジ又はブリッジ仕掛かりを判定している、請求項9又は12に記載の検査装置。   The solder (40) means for noise processing the pattern image after printing, the noise-processed pattern image and the master image are superimposed, and adjacent inspection target patterns (41) (41) or solder (40) ( 40) The inspection apparatus according to claim 9 or 12, further comprising means for determining whether or not the two are connected by solder, and determining a bridge or a bridge device. 半田印刷前基板のパターンとフィルム(96)の画像(95)とで形成されたマスターの画像と、半田(40)印刷後のパターンとを重ね合わせ、隣接する検査対象パターン(41)(41)又は半田(40)(40)どうしが半田により連結しているか、又は接近しているか否かの判断をする手段を具え、ブリッジ又はブリッジ仕掛かりを判定している、請求項10、11又は13の何れかに記載の検査装置。
The master image formed by the pattern of the board before solder printing and the image (95) of the film (96) and the pattern after printing of the solder (40) are overlapped, and adjacent inspection target patterns (41) (41) Or a means for determining whether or not the solders (40) and (40) are connected by solder or approaching each other, and a bridge or a bridge device is determined. The inspection apparatus in any one of.
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