JP5058356B1 - Couplers and electronics - Google Patents

Couplers and electronics Download PDF

Info

Publication number
JP5058356B1
JP5058356B1 JP2011098533A JP2011098533A JP5058356B1 JP 5058356 B1 JP5058356 B1 JP 5058356B1 JP 2011098533 A JP2011098533 A JP 2011098533A JP 2011098533 A JP2011098533 A JP 2011098533A JP 5058356 B1 JP5058356 B1 JP 5058356B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coupler
coupling element
open end
plane
ground plane
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011098533A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2012231314A (en
Inventor
寛 島崎
隆司 峯邑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2011098533A priority Critical patent/JP5058356B1/en
Priority to US13/300,162 priority patent/US8797115B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5058356B1 publication Critical patent/JP5058356B1/en
Publication of JP2012231314A publication Critical patent/JP2012231314A/en
Priority to US14/318,509 priority patent/US9178259B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B5/00Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems
    • H04B5/70Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems specially adapted for specific purposes
    • H04B5/79Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems specially adapted for specific purposes for data transfer in combination with power transfer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P5/00Coupling devices of the waveguide type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/12Supports; Mounting means
    • H01Q1/22Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles
    • H01Q1/2258Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles used with computer equipment
    • H01Q1/2266Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles used with computer equipment disposed inside the computer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q5/00Arrangements for simultaneous operation of antennas on two or more different wavebands, e.g. dual-band or multi-band arrangements
    • H01Q5/30Arrangements for providing operation on different wavebands
    • H01Q5/307Individual or coupled radiating elements, each element being fed in an unspecified way
    • H01Q5/342Individual or coupled radiating elements, each element being fed in an unspecified way for different propagation modes
    • H01Q5/357Individual or coupled radiating elements, each element being fed in an unspecified way for different propagation modes using a single feed point
    • H01Q5/364Creating multiple current paths
    • H01Q5/371Branching current paths
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q9/00Electrically-short antennas having dimensions not more than twice the operating wavelength and consisting of conductive active radiating elements
    • H01Q9/04Resonant antennas
    • H01Q9/30Resonant antennas with feed to end of elongated active element, e.g. unipole
    • H01Q9/42Resonant antennas with feed to end of elongated active element, e.g. unipole with folded element, the folded parts being spaced apart a small fraction of the operating wavelength

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Near-Field Transmission Systems (AREA)
  • Details Of Aerials (AREA)
  • Support Of Aerials (AREA)

Abstract

【課題】周辺部品による影響の低減と位置ずれに対する十分な耐性との双方を実現することができるカプラを実現する。
【解決手段】実施形態によれば、カプラは、他のカプラとの間の電磁的結合によって電磁波を送受信する。前記カプラは、第1開放端と第2の開放端とを有する線状の結合素子と、地板と、前記結合素子と給電点との間を接続する給電素子と、前記結合素子と前記地板との間を接続する短絡素子とを具備する。前記給電素子は、前記結合素子の前記第1開放端と前記第2の開放端の間の中間部に接続された第1端と、前記給電点に接続された第2端とを有する。前記短絡素子は、前記結合素子の前記中間部に接続された第3端と、前記地板に接続された第4端とを有する。
【選択図】図1
A coupler capable of realizing both a reduction in the influence of peripheral parts and a sufficient tolerance against displacement is realized.
According to an embodiment, a coupler transmits and receives electromagnetic waves by electromagnetic coupling with other couplers. The coupler includes a linear coupling element having a first open end and a second open end, a ground plane, a feed element connecting the coupling element and a feed point, the coupling element and the ground plane. And a short-circuit element for connecting the two. The feed element has a first end connected to an intermediate portion between the first open end and the second open end of the coupling element, and a second end connected to the feed point. The short-circuit element has a third end connected to the intermediate portion of the coupling element and a fourth end connected to the ground plane.
[Selection] Figure 1

Description

本発明の実施形態は、一般に、電磁波を送受信するためのカプラに関し、例えば近接無線通信に使用されるカプラおよび電子機器に関する。   Embodiments of the present invention generally relate to a coupler for transmitting and receiving electromagnetic waves, for example, a coupler and an electronic device used for proximity wireless communication.

近年、近接無線通信技術の開発が進められている。近接無線通信技術は、互いに近接された2つのデバイス間の通信を可能にする。近接無線通信機能を有するデバイスそれぞれはカプラを含む。2つのデバイスが通信範囲内に近接された時、それら2つのデバイスのカプラは互いに電磁気的に結合される。この結合により、それらデバイスは互いに信号を無線で送受信することができる。   In recent years, development of proximity wireless communication technology has been advanced. Proximity wireless communication technology allows communication between two devices in close proximity to each other. Each device having a proximity wireless communication function includes a coupler. When two devices are in close proximity, the couplers of the two devices are electromagnetically coupled to each other. This combination allows the devices to send and receive signals to and from each other wirelessly.

典型的なカプラは、例えば、結合素子、電極ポール、共振スタブ、グランド等から構成される。共振スタブは共振部として機能する。この共振スタブは、プリント回路基板上の導体パターンによって形成される。信号は、共振スタブおよび電極ポールを介して結合素子に供給される。この結果、結合素子に電流が流れ、カプラの周囲には電磁場が生じる。この電磁場は、互いに近接された2つのデバイスそれぞれに設けられたカプラ同士の電磁的結合を可能にする。   A typical coupler includes, for example, a coupling element, an electrode pole, a resonant stub, and a ground. The resonance stub functions as a resonance part. The resonant stub is formed by a conductor pattern on the printed circuit board. The signal is supplied to the coupling element via the resonant stub and the electrode pole. As a result, a current flows through the coupling element, and an electromagnetic field is generated around the coupler. This electromagnetic field enables electromagnetic coupling between the couplers provided in each of the two devices close to each other.

特開2008−154198号公報JP 2008-154198 A

ところで、カプラには、そのカプラと相手のカプラとの間の位置ずれに対する十分な耐性が要求される。これは、たとえ近接されたデバイス同士の位置関係が多少ずれても、デバイス間の無線通信に影響が与えられないようにするためである。   By the way, the coupler is required to have sufficient resistance against the positional deviation between the coupler and the counterpart coupler. This is to prevent the wireless communication between devices from being affected even if the positional relationship between adjacent devices is slightly deviated.

さらに、デバイスに内蔵されるカプラには、そのハイ・インピーダンス化も求められる。なぜなら、カプラをデバイス内に実装すると、カプラとデバイス内の他の周辺部品との間の結合が発生し、カプラの入力インピーダンスが低下されるからである。入力インピーダンスの低下は、カプラの電磁場放射効率を劣化させる要因となる。   Furthermore, the coupler built in the device is also required to have a high impedance. This is because when the coupler is mounted in the device, coupling between the coupler and other peripheral components in the device occurs, and the input impedance of the coupler is lowered. The decrease in input impedance is a factor that degrades the electromagnetic field radiation efficiency of the coupler.

またさらに、最近では、様々なデバイスにカプラを容易に実装できるようにする目的で、カプラの低背化も要求されている。   Furthermore, recently, in order to make it easy to mount the coupler on various devices, a reduction in the height of the coupler is also required.

本発明の目的は、周辺部品による影響の低減と位置ずれに対する十分な耐性との双方を実現することができるカプラおよび電子機器を提供することである。   An object of the present invention is to provide a coupler and an electronic device that can realize both the reduction of the influence of peripheral components and sufficient resistance against displacement.

実施形態によれば、カプラは、他のカプラとの間の電磁的結合によって電磁波を送受信するように構成される。前記カプラは、第1開放端と第2の開放端とを備える線状の結合素子と、地板と、前記結合素子と給電点との間を接続する給電素子と、前記結合素子と前記地板との間を接続する短絡素子とを具備する。前記給電素子は、前記結合素子の前記第1開放端と前記第2の開放端の間の中間部に接続された第1端と、前記給電点に接続された第2端とを備える。前記短絡素子は、前記結合素子の前記中間部に接続された第3端と、前記地板に接続された第4端とを備える。前記結合素子、前記給電素子、前記給電点および前記地板は第1平面上にある。前記短絡素子は、前記第1平面との間に隙間を置いて前記第1平面に対して対向する第2平面と前記第1平面との間に延在する第1素子であって、前記第1平面上の前記結合素子の前記中間部に接続される第5端と前記第2平面に接続される第6端とを備える第1素子と、前記第2平面上にある第2素子であって、前記第1素子の前記第6端に接続される第7端と、前記第1平面上の前記地板に電気的に結合される第8端とを備える。 According to the embodiment, the coupler is configured to transmit and receive electromagnetic waves by electromagnetic coupling with other couplers. The coupler includes a linear coupling element having a first open end and a second open end, a ground plane, a feed element connecting the coupling element and a feed point, the coupling element, and the ground plane. And a short-circuit element for connecting the two. The feed element includes a first end connected to an intermediate portion between the first open end and the second open end of the coupling element, and a second end connected to the feed point. The short-circuit element includes a third end connected to the intermediate portion of the coupling element and a fourth end connected to the ground plane. The coupling element, the feeding element, the feeding point, and the ground plane are on the first plane. The short-circuit element is a first element that extends between the first plane and the second plane that faces the first plane with a gap between the first plane and the first plane. A first element having a fifth end connected to the intermediate portion of the coupling element on one plane and a sixth end connected to the second plane; and a second element on the second plane. And a seventh end connected to the sixth end of the first element, and an eighth end electrically coupled to the ground plane on the first plane.

実施形態に係るカプラの構成例を示す図。The figure which shows the structural example of the coupler which concerns on embodiment. 同実施形態に係るカプラに流れる電流の向きを説明するための図。The figure for demonstrating the direction of the electric current which flows into the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラの実装構造の例を示す斜視図。The perspective view which shows the example of the mounting structure of the coupler which concerns on the same embodiment. 図3に示したカプラの実装構造を裏面側から見た斜視図。The perspective view which looked at the mounting structure of the coupler shown in FIG. 3 from the back surface side. 同実施形態に係るカプラの他の構成例を示す図。The figure which shows the other structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのさらに他の構成例を示す図。The figure which shows the further another structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのさらに他の構成例を示す図。The figure which shows the further another structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのさらに他の構成例を示す図。The figure which shows the further another structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのさらに他の構成例を示す図。The figure which shows the further another structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラに適用される、一平面上に実装可能な構成例を示す図。The figure which shows the structural example applicable to the coupler which concerns on the same embodiment, and can be mounted on one plane. 図10のカプラの実装構造の例を示す斜視図。The perspective view which shows the example of the mounting structure of the coupler of FIG. 図10のカプラの他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram illustrating another configuration example of the coupler of FIG. 10. 図10のカプラのさらに他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the coupler of FIG. 10. 図10のカプラのさらに他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the coupler of FIG. 10. 図10のカプラのさらに他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the coupler of FIG. 10. 図10のカプラのさらに他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the coupler of FIG. 10. 同実施形態に係るカプラの特性測定において用いられるパラメータを説明するための図。The figure for demonstrating the parameter used in the characteristic measurement of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラと金属板との間の距離を説明するための図。The figure for demonstrating the distance between the coupler and metal plate which concern on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのS21特性を示す図。The figure which shows the S21 characteristic of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのS11特性を示す図。The figure which shows the S11 characteristic of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラの放射効率特性を示す図。The figure which shows the radiation efficiency characteristic of the coupler which concerns on the same embodiment. 基準カプラを同実施形態に係るカプラに対して右側にずらした場合のカプラ特性測定において用いられるパラメータを説明するための図。The figure for demonstrating the parameter used in the coupler characteristic measurement at the time of shifting a reference | standard coupler to the right side with respect to the coupler which concerns on the same embodiment. 基準カプラを同実施形態に係るカプラに対して左側にずらした場合のカプラ特性測定において用いられるパラメータを説明するための図。The figure for demonstrating the parameter used in the coupler characteristic measurement at the time of shifting a reference | standard coupler to the left side with respect to the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラの図22の測定条件下における特性と同実施形態に係るカプラの図23の測定条件下における特性を示す図。The figure which shows the characteristic on the measurement conditions of FIG. 22 of the coupler which concerns on the same embodiment, and the characteristic on the measurement conditions of FIG. 23 of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラの電流分布の解析結果を示す図。The figure which shows the analysis result of the current distribution of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラを搭載した電子機器の外観の例を示す斜視図。The perspective view which shows the example of the external appearance of the electronic device carrying the coupler which concerns on the embodiment. 図26の電子機器内におけるカプラの配置を説明するための図。FIG. 27 is a diagram for explaining the arrangement of couplers in the electronic apparatus of FIG. 26. 同実施形態に係るカプラを含むカードが、図26の電子機器のカードスロットに装着される様子を示す図。FIG. 27 is an exemplary view showing a state in which a card including the coupler according to the embodiment is installed in a card slot of the electronic device in FIG. 26. 同実施形態に係るカプラを搭載した他の電子機器の外観の例を示す斜視図。The perspective view which shows the example of the external appearance of the other electronic device carrying the coupler concerning the embodiment. 図26の電子機器のシステム構成を示すブロック図。FIG. 27 is a block diagram showing a system configuration of the electronic apparatus in FIG. 26. 同実施形態に係るカプラを含むカードの構造例を説明するための図。The figure for demonstrating the structural example of the card | curd containing the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラを含むカードの他の構造例を説明するための図。The figure for demonstrating the other structural example of the card | curd containing the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのさらに他の構成例を示す図。The figure which shows the further another structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのさらに他の構成例を示す図。The figure which shows the further another structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 同実施形態に係るカプラのさらに他の構成例を示す図。The figure which shows the further another structural example of the coupler which concerns on the same embodiment. 図10のカプラのさらに他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the coupler of FIG. 10. 図10のカプラのさらに他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the coupler of FIG. 10. 図10のカプラのさらに他の構成例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the coupler of FIG. 10.

以下、図面を参照して、実施形態を説明する。
まず、図1を参照して、実施形態に係るカプラ1の構成について説明する。このカプラ1は、カプラ1と他のカプラとの間の電磁的結合によって電磁波を送受信する。カプラ1は、近接無線通信において使用される。近接無線通信は、互いに近接されたデバイス間のデータ転送を実行する。近接無線通信方式としては、例えばTransferJet(登録商標)を使用し得る。TransferJetは、UWB(Ultra Wide Band)を利用した近接無線通信方式である。2つのデバイスが通信範囲(例えば3cm)内に接近した場合、それらデバイスそれぞれに設けられたカプラ間が電磁気的に結合される。これによってそれらデバイスは互いに信号を無線で送受信することができる。
Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.
First, the configuration of the coupler 1 according to the embodiment will be described with reference to FIG. The coupler 1 transmits and receives electromagnetic waves by electromagnetic coupling between the coupler 1 and other couplers. The coupler 1 is used in close proximity wireless communication. Proximity wireless communication performs data transfer between devices that are close to each other. For example, TransferJet (registered trademark) can be used as the close proximity wireless communication system. TransferJet is a proximity wireless communication method using UWB (Ultra Wide Band). When two devices approach within a communication range (for example, 3 cm), a coupler provided in each of the devices is electromagnetically coupled. This allows these devices to send and receive signals to and from each other wirelessly.

図1に示されるように、カプラ1は、結合素子11と、地板12と、給電素子13と、給電点14と、短絡素子15とを含む。地板12は平板状である。結合素子11、給電素子13、および短絡素子15は、いずれも線状である。   As shown in FIG. 1, the coupler 1 includes a coupling element 11, a ground plane 12, a feeding element 13, a feeding point 14, and a short-circuit element 15. The ground plane 12 has a flat plate shape. The coupling element 11, the feeding element 13, and the short-circuit element 15 are all linear.

結合素子11は細長い素子であり、第1開放端E1と第2開放端E2とを有する。第1開放端E1は結合素子11の一端であり、ここには何も接続されない。第2開放端E2は結合素子11の他端であり、ここにも何も接続されない。結合素子11は、カプラ1と他のカプラとの間の電磁気的な結合のために用いられる。結合素子11は、その結合素子11の長手方向が地板12に対して平行に延在するように配置されている。   The coupling element 11 is an elongated element and has a first open end E1 and a second open end E2. The first open end E1 is one end of the coupling element 11, and nothing is connected here. The second open end E2 is the other end of the coupling element 11, and nothing is connected here. The coupling element 11 is used for electromagnetic coupling between the coupler 1 and another coupler. The coupling element 11 is arranged such that the longitudinal direction of the coupling element 11 extends in parallel to the ground plane 12.

給電素子13は、給電点14と結合素子11との間を接続する。この給電素子13の一端は、結合素子11の第1開放端E1と第2開放端E2の間の中間部A1に接続されている。一方、給電素子13の他端は、給電点14に接続されている。結合素子11の中間部A1は、結合素子11の長手方向の中間点またはその中間点近傍に位置する。   The feeding element 13 connects between the feeding point 14 and the coupling element 11. One end of the feeding element 13 is connected to an intermediate portion A1 between the first open end E1 and the second open end E2 of the coupling element 11. On the other hand, the other end of the feeding element 13 is connected to the feeding point 14. The middle portion A1 of the coupling element 11 is located at or near the middle point of the coupling element 11 in the longitudinal direction.

図2は、カプラ1に流れる電流を示している。図2の各矢印は電流の向きを示している。本実施形態においては、上述したように給電点14は給電素子13を介して結合素子11の中間部A1に結合されるので、結合素子11においては、互いに逆向きの電流、つまり中間部A1から第1開放端E1に向かう電流と、中間部A1から第2開放端E2に向かう電流が流れる。しかも、これら電流の強さ(電流量)は、同じである。したがって、結合素子11においては、電流分布は中間部A1に関して略対称となる。   FIG. 2 shows the current flowing through the coupler 1. Each arrow in FIG. 2 indicates the direction of current. In the present embodiment, since the feeding point 14 is coupled to the intermediate portion A1 of the coupling element 11 via the feeding element 13 as described above, in the coupling element 11, currents in opposite directions, that is, from the intermediate portion A1. The electric current which goes to the 1st open end E1 and the electric current which goes to the 2nd open end E2 from intermediate part A1 flow. Moreover, the intensity of these currents (current amount) is the same. Therefore, in the coupling element 11, the current distribution is substantially symmetric with respect to the intermediate portion A1.

対向する2つのカプラ間の結合の強さの度合いは、一方のカプラに流れる電流の方向と他方のカプラに流れる電流の方向が同じである場合に比べ、互いに逆向きである場合の方が強くなる傾向がある。本実施形態では、結合素子11に同じ電流量で且つ互いに逆向きの電流を流すことができるので、カプラ間の位置ずれに対する耐性を高めることができる。   The strength of the coupling between two opposing couplers is stronger when the direction of the current flowing through one coupler and the direction of the current flowing through the other coupler are opposite to each other. Tend to be. In the present embodiment, currents having the same amount of current and in opposite directions can be passed through the coupling element 11, so that it is possible to increase resistance to misalignment between the couplers.

図1に示されているように、短絡素子15は、カプラ1のインピーダンス(入力インピーダンス)を高めるために、結合素子11と地板12との間を接続する(短絡)。本実施形態においては、短絡素子15は、結合素子11上に流れる電流の対称性を損なうことなく、周辺部品の影響(金属近接による影響)に起因するカプラ1の特性の低下を抑制するために、結合素子11の中間部A1と地板12との間を接続する。より詳しくは、短絡素子15の一端は、結合素子11の中間部A1に、つまり結合素子11と給電素子13との間の接続点に接続されている。短絡素子15の他端は、地板12に接続されている。短絡素子15の他端と給電点14との間の距離を広げることで帯域内のカプラ1のインピーダンスとカプラ1の所望周波数帯域とを調整することができる。短絡素子15の他端と給電点14との間の距離が短ければカプラ1によってカバーされる帯域は狭帯域となり、短絡素子15の他端と給電点14との間の距離が離れればカプラ1によってカバーされる帯域は広帯域となる。   As shown in FIG. 1, the short-circuit element 15 connects the coupling element 11 and the ground plane 12 (short-circuit) in order to increase the impedance (input impedance) of the coupler 1. In the present embodiment, the short-circuit element 15 is used to suppress deterioration of the characteristics of the coupler 1 due to the influence of peripheral parts (the influence of metal proximity) without impairing the symmetry of the current flowing on the coupling element 11. The intermediate portion A1 of the coupling element 11 and the ground plane 12 are connected. More specifically, one end of the short-circuit element 15 is connected to an intermediate portion A1 of the coupling element 11, that is, a connection point between the coupling element 11 and the power feeding element 13. The other end of the short-circuit element 15 is connected to the ground plane 12. By widening the distance between the other end of the short-circuit element 15 and the feeding point 14, the impedance of the coupler 1 in the band and the desired frequency band of the coupler 1 can be adjusted. If the distance between the other end of the short-circuit element 15 and the feeding point 14 is short, the band covered by the coupler 1 becomes a narrow band, and if the distance between the other end of the short-circuit element 15 and the feeding point 14 is long, the coupler 1 The band covered by is wide.

もし中間部A1以外の結合素子11のある点と地板12との間を接続したならば、カプラ1のハイ・インピーダンス化は実現できるものの、結合素子11における電流分布が中間部A1に関して非対称となる。いま、中間部A1と第1開放端E1との間の中間位置を、短絡素子によって地板12に接続した場合を想定する。この場合、中間部A1と第1開放端E1との間の中間位置から、第1開放端E1に向かう電流の強さは、中間部A1と第1開放端E1との間の中間位置から、第2開放端E2に向かう電流の強さよりも弱くなる。また、もし端E1と地板12との間を短絡素子によって接続すると、結合素子11においては、端E2に向かう電流しか流れなくなり、この結果、位置ずれに対する耐性は低下される。   If a point between the coupling element 11 other than the intermediate part A1 and the ground plane 12 is connected, the high impedance of the coupler 1 can be realized, but the current distribution in the coupling element 11 becomes asymmetric with respect to the intermediate part A1. . Now, it is assumed that the intermediate position between the intermediate part A1 and the first open end E1 is connected to the ground plane 12 by a short-circuit element. In this case, from the intermediate position between the intermediate portion A1 and the first open end E1, the strength of the current toward the first open end E1 is from the intermediate position between the intermediate portion A1 and the first open end E1. It becomes weaker than the intensity of the current toward the second open end E2. Further, if the end E1 and the ground plane 12 are connected by a short-circuit element, only the current flowing toward the end E2 flows in the coupling element 11, and as a result, the resistance to displacement is reduced.

本実施形態では、短絡素子15は、結合素子11の中間部A1(結合素子11と結合素子11との間の接続点)と地板12との間を接続する。したがって、同じ電流量で互いに逆向きの電流を結合素子11に流すことを妨げることなく、つまり、カプラ1の位置ずれ耐性を弱めることなく、カプラ1のハイ・インピーダンス化を図ることができる。カプラ1のハイ・インピーダンス化により、周辺部品の影響(金属近接による影響)に起因するカプラ1の特性の低下を抑制することができる。   In the present embodiment, the short-circuit element 15 connects the intermediate portion A1 of the coupling element 11 (a connection point between the coupling element 11 and the coupling element 11) and the ground plane 12. Accordingly, the high impedance of the coupler 1 can be achieved without hindering the flow of mutually opposite currents to the coupling element 11 with the same amount of current, that is, without weakening the displacement tolerance of the coupler 1. By making the coupler 1 have a high impedance, it is possible to suppress deterioration of the characteristics of the coupler 1 due to the influence of peripheral parts (effect of metal proximity).

さらに、結合素子11、給電素子13および給電点14は第1平面上に配置してもよく、短絡素子15は、第1平面に対して隙間を置いて対向する第2平面上に配置してもよい。第2平面上の短絡素子15は、第1平面と第2平面との間に延在する素子部(接続部)15aを介して、第1平面上の結合素子11の中間部A1に接続されてもよい。この素子部(接続部)15aは、短絡素子15の一部分として機能する。   Further, the coupling element 11, the feeding element 13, and the feeding point 14 may be arranged on the first plane, and the short circuit element 15 is arranged on the second plane facing the first plane with a gap. Also good. The short-circuit element 15 on the second plane is connected to the intermediate part A1 of the coupling element 11 on the first plane via an element part (connection part) 15a extending between the first plane and the second plane. May be. This element part (connection part) 15 a functions as a part of the short-circuit element 15.

より詳しくは、短絡素子15は、少なくとも2つの素子部15a,15bを備える。素子部15aは、第1平面と第2平面との間に延在する。素子部15aは、結合素子11の中間部A1から、第1平面に対して鉛直な方向に延在する。素子部15aの一端は結合素子11の中間部A1に接続される。素子部15aの他端は、第2平面に接続される。   More specifically, the short-circuit element 15 includes at least two element portions 15a and 15b. The element portion 15a extends between the first plane and the second plane. The element portion 15a extends from the intermediate portion A1 of the coupling element 11 in a direction perpendicular to the first plane. One end of the element portion 15a is connected to the intermediate portion A1 of the coupling element 11. The other end of the element portion 15a is connected to the second plane.

素子部15bは第2平面上に配置される。第2平面上においては、素子部15bは、素子部15bが第1平面上の給電素子13と平行に延在するように配置される。素子部15bの一端は、素子部15aの他端に接続される。素子部15bの他端は、地板12に電気的に結合される。   The element unit 15b is disposed on the second plane. On the second plane, the element portion 15b is arranged so that the element portion 15b extends in parallel with the power feeding element 13 on the first plane. One end of the element unit 15b is connected to the other end of the element unit 15a. The other end of the element portion 15b is electrically coupled to the ground plane 12.

地板12は、例えば、第1平面上に配置される。この場合、短絡素子15の他端は、第1平面と第2平面との間に延在する別の素子部(接続部)を介して地板12に接続される。もちろん、地板12は、第2平面上に配置しても良い。また、第1平面と第2平面にそれぞれ地板12を配置してもよい。   The ground plane 12 is arrange | positioned on a 1st plane, for example. In this case, the other end of the short-circuit element 15 is connected to the ground plane 12 via another element part (connection part) extending between the first plane and the second plane. Of course, the ground plane 12 may be arranged on the second plane. Moreover, you may arrange | position the ground plane 12 to a 1st plane and a 2nd plane, respectively.

このように、結合素子11、地板12、給電素子13および給電点14を第1平面上に配置し、且つ短絡素子15を、第1平面と第2平面との間に延在する素子15aと、第2平面上に配置される素子15bとを用いて構成する図1の構造においては、結合素子11の中央部A1に関して短絡素子15と給電素子13とがほぼ対称となるので、結合素子11における電流分布の対称性をより高めることができる。   In this way, the coupling element 11, the ground plane 12, the feeding element 13, and the feeding point 14 are arranged on the first plane, and the short-circuiting element 15 is extended between the first plane and the second plane with the element 15a. In the structure of FIG. 1 configured using the element 15b disposed on the second plane, the short-circuit element 15 and the feeding element 13 are substantially symmetrical with respect to the central portion A1 of the coupling element 11, and thus the coupling element 11 The symmetry of the current distribution at can be further increased.

より詳しくは、この図1の構造は、結合素子11における電流分布を中間部A1に関してほぼ完全に対称にすることができる。このことは、この構造をカプラ1に適用した場合においては、第1平面上におけるカプラ1の形状が、いわゆるT型モノポールアンテナと同一の形状となることからも理解されよう。換言すれば、図1の構造においては、短絡素子15は、結合素子11における電流分布の対称性にほとんど全く悪影響を与えることはない。   More specifically, the structure of FIG. 1 can make the current distribution in the coupling element 11 almost completely symmetric with respect to the intermediate portion A1. This can be understood from the fact that when this structure is applied to the coupler 1, the shape of the coupler 1 on the first plane is the same as that of a so-called T-type monopole antenna. In other words, in the structure of FIG. 1, the short-circuit element 15 has almost no adverse effect on the symmetry of the current distribution in the coupling element 11.

なお、第1平面と第2平面との間には誘電体をスペーサとして挿入してもよい。   A dielectric may be inserted as a spacer between the first plane and the second plane.

給電点14から第1開放端E1および第2開放端E2の各々までの電気長は、カプラ1によって送受信される電磁波(高周波信号)の中心周波数に対応する波長λの1/4である。換言すれば、結合素子11の端E1と端E2との間の電気長の1/2と給電素子13の電気長との和は、波長λの1/4である。   The electrical length from the feeding point 14 to each of the first open end E1 and the second open end E2 is ¼ of the wavelength λ corresponding to the center frequency of the electromagnetic wave (high frequency signal) transmitted and received by the coupler 1. In other words, the sum of 1/2 of the electrical length between the end E1 and the end E2 of the coupling element 11 and the electrical length of the feed element 13 is 1/4 of the wavelength λ.

また、第1平面から鉛直方向に伸びる素子15aの電気長は、波長λの1/10以下である。   The electrical length of the element 15a extending in the vertical direction from the first plane is 1/10 or less of the wavelength λ.

結合素子11の長さの1/2をL1、給電素子13の長さをL2とすると、L1+L2は、λ/4である。これにより、結合素子11の一部分(中間部A1と第1開放端E1との間の部分)と給電素子13とが、一つの共振カプラ部(共振部)として機能する。さらに結合素子11の他の一部分(中間部A1と第2開放端E2との間の部分)と給電素子13とが、別の一つの共振カプラアンテナ部(共振部)として機能する。したがって、共振スタブのような専用の共振部を、結合素子11と地板12との間に設けることなく、所望の周波数の無線信号を送受信することができる。   When L1 is 1/2 of the length of the coupling element 11 and L2 is the length of the feeding element 13, L1 + L2 is λ / 4. Thus, a part of the coupling element 11 (a part between the intermediate part A1 and the first open end E1) and the power feeding element 13 function as one resonance coupler part (resonance part). Further, another part of the coupling element 11 (a part between the intermediate part A1 and the second open end E2) and the feeding element 13 function as another resonance coupler antenna part (resonance part). Therefore, it is possible to transmit and receive a radio signal having a desired frequency without providing a dedicated resonance unit such as a resonance stub between the coupling element 11 and the ground plane 12.

よって、本実施形態のカプラ1の構造は、地板と結合素子との間に共振部を配置する構造を採用する場合に比し、地板12と結合素子11との間の距離D1を短くすることを可能にする。換言すれば、本実施形態のカプラ1の構造は、結合素子とは別に共振部が設けられる通常のカプラに比し、必要な実装面積を大幅に少なくすることができる。さらに、短絡素子15内の素子15aの長さを波長λの1/10という短い長さに設定することにより、カプラ1を薄型の直方体形状によって実現することが可能となる。これにより、カプラ1を薄型基板(薄型誘電体基板)に容易な実装することが可能となり、カプラ1の小型化、薄型化を図ることができる。   Therefore, the structure of the coupler 1 of the present embodiment is such that the distance D1 between the ground plane 12 and the coupling element 11 is shortened compared to the case where the structure in which the resonance portion is disposed between the ground plane and the coupling element is employed. Enable. In other words, the structure of the coupler 1 of the present embodiment can significantly reduce the required mounting area as compared to a normal coupler provided with a resonance unit separately from the coupling element. Furthermore, by setting the length of the element 15a in the short-circuit element 15 to a length as short as 1/10 of the wavelength λ, the coupler 1 can be realized with a thin rectangular parallelepiped shape. Thereby, the coupler 1 can be easily mounted on a thin substrate (thin dielectric substrate), and the coupler 1 can be reduced in size and thickness.

結合素子とは別に共振部が設けられる通常のカプラにおいては、共振部の分だけ実装面が大きくなると共に、カプラに金属が近接した状態においては、結合素子に流れる電流の低下が引き起こされ、これによってカプラの特性(例えば放射効率)が低下される可能性がある。本実施形態のカプラ1においては、結合素子11における電流分布を中間部A1に関して対称に維持した状態で、カプラ1の入力インピーダンスを高めることができるので、たとえカプラ1に金属が近接しても、結合素子11に多くの電流を流すことができる。よって、金属近接時のカプラ1の特性(例えば、放射効率、S21、等)の低下を抑制することができる。   In a normal coupler provided with a resonance part separately from the coupling element, the mounting surface becomes larger by the amount of the resonance part, and in the state where the metal is close to the coupler, the current flowing through the coupling element is reduced. May reduce the characteristics (eg, radiation efficiency) of the coupler. In the coupler 1 of the present embodiment, the input impedance of the coupler 1 can be increased with the current distribution in the coupling element 11 maintained symmetrically with respect to the intermediate portion A1, so even if a metal is close to the coupler 1, A large amount of current can flow through the coupling element 11. Therefore, it is possible to suppress a decrease in characteristics (for example, radiation efficiency, S21, etc.) of the coupler 1 when the metal is close to the metal.

次に、図3、図4を参照して、図1のカプラ1を実現するための実装構造の例を説明する。ここでは、上述のスペーサとして基板(誘電体基板)を用いる場合について説明する。   Next, an example of a mounting structure for realizing the coupler 1 of FIG. 1 will be described with reference to FIGS. Here, a case where a substrate (dielectric substrate) is used as the spacer described above will be described.

図3、図4に示すカプラ構造は平面型カプラに対応している。図3は、カプラ1を基板の表面側から見た斜視図であり、図4はカプラ1を基板の裏面側から見た斜視図である。   The coupler structure shown in FIGS. 3 and 4 corresponds to a planar coupler. FIG. 3 is a perspective view of the coupler 1 as viewed from the front surface side of the substrate, and FIG. 4 is a perspective view of the coupler 1 as viewed from the back surface side of the substrate.

図3に示されているように、カプラ1は、基板(誘電体基板)20を備えている。基板20は幅W、奥行きD、高さHの直方体形状を有している。基板20は薄型基板であり、その高さHは、カプラ1によって送受信される電磁波(高周波信号)の中心周波数に対応する波長λの1/10以下である。基板20の第1表面20a上においては、結合素子11、地板12、給電素子13、および給電点14が配置されている。   As shown in FIG. 3, the coupler 1 includes a substrate (dielectric substrate) 20. The substrate 20 has a rectangular parallelepiped shape having a width W, a depth D, and a height H. The substrate 20 is a thin substrate, and its height H is 1/10 or less of the wavelength λ corresponding to the center frequency of the electromagnetic wave (high frequency signal) transmitted and received by the coupler 1. On the first surface 20 a of the substrate 20, the coupling element 11, the ground plane 12, the power feeding element 13, and the power feeding point 14 are arranged.

第1表面20aは上述の第1平面に対応する。結合素子11、給電素子13および給電点14は基板20の第1表面20a上の第1領域に配置される。結合素子11は、その結合素子11の長手方向が基板20の幅Wの方向に伸びた一辺20cと平行に延在するように、基板20の第1表面20a上の第1領域に配置される。この場合、結合素子11は、結合素子11の長辺11cが基板20の第1表面20aの一辺20cと面一となるように、基板20の第1表面20a上の第1領域に配置してもよい。給電素子13は、結合素子11の中央部A1と給電点14との間に延在される。地板12は、基板20の第1表面20a上の第2領域に配置される。   The first surface 20a corresponds to the first plane described above. The coupling element 11, the feeding element 13, and the feeding point 14 are arranged in a first region on the first surface 20 a of the substrate 20. The coupling element 11 is disposed in the first region on the first surface 20a of the substrate 20 so that the longitudinal direction of the coupling element 11 extends in parallel with the one side 20c extending in the width W direction of the substrate 20. . In this case, the coupling element 11 is arranged in the first region on the first surface 20a of the substrate 20 so that the long side 11c of the coupling element 11 is flush with the one side 20c of the first surface 20a of the substrate 20. Also good. The feeding element 13 extends between the central portion A1 of the coupling element 11 and the feeding point 14. The ground plane 12 is disposed in the second region on the first surface 20 a of the substrate 20.

結合素子11および給電素子13は金属の配線パターンによって実現してもよい。また地板12は板状のグランド層によって実現してもよい。基板20上には、さらに、カプラ1と電気的に接続される通信モジュールを設けてもよい。   The coupling element 11 and the feeding element 13 may be realized by a metal wiring pattern. The ground plane 12 may be realized by a plate-like ground layer. A communication module that is electrically connected to the coupler 1 may be further provided on the substrate 20.

この通信モジュールは、カプラ1を介して、他のデバイスとの近接無線通信を実行するように構成された通信デバイスである。   This communication module is a communication device configured to execute close proximity wireless communication with another device via the coupler 1.

図4に示されているように、短絡素子15は、基板20の第2表面(裏面)20b上の第3領域に配置されている。第2表面(裏面)20bは上述の第2平面に対応する。基板20の第2表面(裏面)20b上の第3領域は、基板20の第1表面20a上の第1領域に対向している。第2表面(裏面)20b上の短絡素子15は上述の素子部15bに対応する。第2表面(裏面)20b上においては、この短絡素子15は、第1表面20a上の結合素子11の中央部A1に対向する位置と、第1表面20a上の地板12に対向する位置との間に延在される。この場合、短絡素子15は、短絡素子15が基板20を介して給電素子13に対向するように、給電素子13とほぼ平行に延在されるようにしてもよい。これにより、結合素子11の中央部A1に関して短絡素子15と給電素子13とがほぼ対称な構造となる。この短絡素子15の一端は、例えば、基板20内のスルーホール151を介して、基板20の第1表面20a上の結合素子11の中間部A1に接続される。   As shown in FIG. 4, the short-circuit element 15 is disposed in a third region on the second front surface (back surface) 20 b of the substrate 20. The second front surface (back surface) 20b corresponds to the second plane described above. The third region on the second surface (back surface) 20 b of the substrate 20 faces the first region on the first surface 20 a of the substrate 20. The short-circuit element 15 on the second front surface (back surface) 20b corresponds to the above-described element portion 15b. On the second surface (rear surface) 20b, the short-circuit element 15 has a position facing the central portion A1 of the coupling element 11 on the first surface 20a and a position facing the ground plane 12 on the first surface 20a. Extended in between. In this case, the short-circuit element 15 may extend substantially parallel to the power feeding element 13 so that the short-circuit element 15 faces the power feeding element 13 via the substrate 20. As a result, the short-circuit element 15 and the feed element 13 are substantially symmetrical with respect to the central portion A1 of the coupling element 11. One end of the short-circuit element 15 is connected to an intermediate part A1 of the coupling element 11 on the first surface 20a of the substrate 20 via, for example, a through hole 151 in the substrate 20.

このスルーホール151は、結合素子11の中間部A1から、第1表面20aに対して鉛直な方向に延在する。このスルーホール151は上述の素子(接続部)15aに相当する。もちろん、上述の素子(接続部)15aとしてスルーホール151を使用する代わりに、基板20の一側面(一辺20cを含む側面)上に配置された配線パターンを上述の素子部(接続部)15aとして使用しても良い。この場合、短絡素子15の一端は、基板20の一側面(一辺20cを含む側面)上に配置された配線パターンを介して、基板20の第1表面20a上の結合素子11の中間部A1に接続される。   The through hole 151 extends from the intermediate portion A1 of the coupling element 11 in a direction perpendicular to the first surface 20a. The through hole 151 corresponds to the above-described element (connection portion) 15a. Of course, instead of using the through hole 151 as the element (connection part) 15a, a wiring pattern arranged on one side surface (side surface including one side 20c) of the substrate 20 is used as the element part (connection part) 15a. May be used. In this case, one end of the short-circuit element 15 is connected to the intermediate portion A1 of the coupling element 11 on the first surface 20a of the substrate 20 through a wiring pattern disposed on one side surface (side surface including one side 20c) of the substrate 20. Connected.

短絡素子15の他端は、例えば、基板20内のスルーホール152を介して、基板20の第1表面20a上の地板12に接続される。もちろん、短絡素子15の他端を、スルーホール152以外の他の配線パターン等を介して地板12に電気的に接続してもよい。   The other end of the short-circuit element 15 is connected to the ground plane 12 on the first surface 20a of the substrate 20 through, for example, a through hole 152 in the substrate 20. Of course, the other end of the short-circuit element 15 may be electrically connected to the ground plane 12 via a wiring pattern other than the through hole 152.

なお、地板12は、基板20の第2表面20b上の第4領域に配置しても良い。第2表面20b上の第4領域は、基板20の第1表面20a上の第1領域とは対向しない領域である。このように、地板12を、基板20の第2表面20b上における、基板20の第1表面20a上の第1領域と非対向の第4領域に配置するのは、以下の理由による。   The ground plane 12 may be disposed in the fourth region on the second surface 20b of the substrate 20. The fourth region on the second surface 20 b is a region that does not face the first region on the first surface 20 a of the substrate 20. As described above, the ground plate 12 is disposed in the fourth region on the second surface 20b of the substrate 20 that is not opposed to the first region on the first surface 20a of the substrate 20 for the following reason.

図3および図4に示す平面型カプラ構造においては、結合素子11、給電素子13、および短絡素子15は、地板12に対向していない。よって、たとえ基板20として薄型基板を用いた場合であっても、カプラ1のエネルギ損失が増加することを防ぐことができる。この理由は以下の通りである。   In the planar coupler structure shown in FIGS. 3 and 4, the coupling element 11, the feeding element 13, and the short-circuit element 15 do not face the ground plane 12. Therefore, even if a thin substrate is used as the substrate 20, it is possible to prevent the energy loss of the coupler 1 from increasing. The reason is as follows.

カプラ1の特性は、結合素子11と地板12との間の距離に影響される。もし結合素子11と地板12との間の距離が短すぎるならば、結合素子11と地板12との間の結合に起因して、結合素子11から発生される電磁場の一部が地板12に流れ込みやすくなる。これにより、エネルギ損出が発生し、カプラ1と他のカプラとの間の電磁的結合が弱まってしまう。結合素子11と地板12との間の距離を長く設定すれば、結合素子11と地板12との間の結合を回避し得る。しかし、結合素子と地板との間の距離を長くするためには、カプラ実装面積もしくは距離D1を広げなくてはならず、カプラ1の高さを増加させる要因になる。本実施形態では、結合素子1は地板12に対向しないので、容易に結合素子1と地板12との間の距離を十分に確保することができる。よって、たとえ基板20として薄型基板を用いた場合であっても、カプラ1のエネルギ損失が増加することを防ぐことができる。   The characteristics of the coupler 1 are affected by the distance between the coupling element 11 and the ground plane 12. If the distance between the coupling element 11 and the ground plane 12 is too short, a part of the electromagnetic field generated from the coupling element 11 flows into the ground plane 12 due to the coupling between the coupling element 11 and the ground plane 12. It becomes easy. As a result, energy loss occurs, and electromagnetic coupling between the coupler 1 and another coupler is weakened. If the distance between the coupling element 11 and the ground plane 12 is set long, coupling between the coupling element 11 and the ground plane 12 can be avoided. However, in order to increase the distance between the coupling element and the ground plane, the coupler mounting area or distance D1 must be increased, which increases the height of the coupler 1. In the present embodiment, since the coupling element 1 does not face the ground plane 12, a sufficient distance between the coupling element 1 and the ground plane 12 can be easily secured. Therefore, even if a thin substrate is used as the substrate 20, it is possible to prevent the energy loss of the coupler 1 from increasing.

次に、図5から図9を参照して、本実施形態のカプラ1の他のいくつかの構成例について説明する。   Next, with reference to FIGS. 5 to 9, some other configuration examples of the coupler 1 of the present embodiment will be described.

図5に示すカプラ1においては、給電点14は、中央部A1の直下ではなく、中央部A1の直下にオフセットを加えることによって得られる位置(オフセットされた位置)に設けられている。このように給電点14の位置をオフセットしても、図1の構成と同様の効果を得ることができる。   In the coupler 1 shown in FIG. 5, the feeding point 14 is provided not at a position directly below the center portion A1 but at a position (offset position) obtained by adding an offset immediately below the center portion A1. Thus, even if the position of the feeding point 14 is offset, the same effect as the configuration of FIG. 1 can be obtained.

図6に示すカプラ1においては、給電点14のみならず、短絡点(短絡素子15と地板12との間の接続点)もオフセットされている。より詳しくは、給電点14は、中央部A1の直下ではなく、中央部A1の直下に対して第1方向のオフセットを加えることによって得られる位置(オフセットされた位置)に設けられている。短絡点は、中央部A1の直下ではなく、中央部A1の直下に対して第2方向のオフセットを加えることによって得られる位置(オフセットされた位置)に設けられている。第1方向のオフセット長(L3)は、第2方向のオフセット長(L3)と同じ長さである。さらに、第2方向は第1方向と逆方向である。   In the coupler 1 shown in FIG. 6, not only the feeding point 14 but also a short-circuit point (a connection point between the short-circuit element 15 and the ground plane 12) is offset. More specifically, the feeding point 14 is provided not at a position directly below the center portion A1, but at a position (offset position) obtained by adding an offset in the first direction to the position immediately below the center portion A1. The short-circuit point is provided not at a position directly below the center portion A1, but at a position (offset position) obtained by applying an offset in the second direction to the position immediately below the center portion A1. The offset length (L3) in the first direction is the same length as the offset length (L3) in the second direction. Further, the second direction is opposite to the first direction.

このように、図6の構成においては、給電素子13および短絡素子15は結合素子11の中央部A1に共通接続されており、且つ給電点14と短絡点が互いに逆方向に同じ距離だけオフセットされている。したがって、図5の構成よりも、カプラ1における電流分布の対称性を高めることができる。   Thus, in the configuration of FIG. 6, the feed element 13 and the short-circuit element 15 are commonly connected to the central portion A1 of the coupling element 11, and the feed point 14 and the short-circuit point are offset by the same distance in the opposite directions. ing. Therefore, the symmetry of the current distribution in the coupler 1 can be improved as compared with the configuration of FIG.

図7に示すカプラ1においては、給電点14と短絡点が互いに逆方向に同じ距離だけオフセットされており、さらに、給電素子13と結合素子11との間の接続点と短絡素子15と結合素子11との間の接続点とが僅かに離れている。   In the coupler 1 shown in FIG. 7, the feeding point 14 and the short-circuit point are offset by the same distance in the opposite directions, and further, the connection point between the feeding element 13 and the coupling element 11, the short-circuit element 15 and the coupling element. 11 is slightly separated from the connection point.

図8に示すカプラ1においては、短絡素子15は、複数の接続点(短絡点)で地板12に接続されている。同様に、図9に示すカプラ1においても、短絡素子15は、複数の接続点(短絡点)で地板12に接続されている。   In the coupler 1 shown in FIG. 8, the short circuit element 15 is connected to the ground plane 12 at a plurality of connection points (short circuit points). Similarly, also in the coupler 1 shown in FIG. 9, the short circuit element 15 is connected to the ground plane 12 at a plurality of connection points (short circuit points).

次に、図10を参照して、一平面上に配置可能なカプラ1の構成例について説明する。   Next, a configuration example of the coupler 1 that can be arranged on one plane will be described with reference to FIG.

図10のカプラ1においては、短絡素子15は、結合素子11および給電素子13が配置される第1平面上に配置されている。短絡素子15は図10に示すように折り曲げられた形状を有しており、その短絡素子15の一端は結合素子11の中央部A1に接続されている。また短絡素子15の他端は地板12に接続されている。図10のカプラ1においても、結合素子11における電流分布を、中間部A1に関してほぼ対称にすることができる。また、図10のカプラ1の構造は、基板の片面のみを利用するだけでカプラ1を容易に実現できるというメリットもある。   In the coupler 1 of FIG. 10, the short-circuit element 15 is disposed on the first plane on which the coupling element 11 and the power feeding element 13 are disposed. The short-circuit element 15 has a bent shape as shown in FIG. 10, and one end of the short-circuit element 15 is connected to the central portion A <b> 1 of the coupling element 11. The other end of the short-circuit element 15 is connected to the ground plane 12. Also in the coupler 1 of FIG. 10, the current distribution in the coupling element 11 can be made substantially symmetrical with respect to the intermediate portion A1. Further, the structure of the coupler 1 in FIG. 10 has an advantage that the coupler 1 can be easily realized by using only one side of the substrate.

図11は、図10のカプラ1を実現するための実装構造の例を示している。この図11は、カプラ1を基板表面側から見た斜視図である。   FIG. 11 shows an example of a mounting structure for realizing the coupler 1 of FIG. FIG. 11 is a perspective view of the coupler 1 as viewed from the substrate surface side.

図11に示されているように、カプラ1は、基板(誘電体基板)20を備えている。基板20の第1表面20a上においては、結合素子11、地板12、給電素子13、給電点14および短絡素子15が配置されている。   As shown in FIG. 11, the coupler 1 includes a substrate (dielectric substrate) 20. On the first surface 20 a of the substrate 20, the coupling element 11, the ground plane 12, the feeding element 13, the feeding point 14 and the short-circuit element 15 are arranged.

より詳しくは、結合素子11、給電素子13、給電点14および短絡素子15は基板20の第1表面20a上の第1領域に配置される。結合素子11はその結合素子11の長手方向が基板20の幅Wの方向と平行に延在するように基板20の第1表面20a上の第1領域に配置される。給電素子13は結合素子11の中央部A1と給電点14との間に延在される。短絡素子15は結合素子11の中央部A1と地板12との間に配置される。   More specifically, the coupling element 11, the feeding element 13, the feeding point 14, and the short-circuit element 15 are disposed in the first region on the first surface 20 a of the substrate 20. The coupling element 11 is disposed in the first region on the first surface 20 a of the substrate 20 such that the longitudinal direction of the coupling element 11 extends in parallel with the width W direction of the substrate 20. The feeding element 13 extends between the central portion A1 of the coupling element 11 and the feeding point 14. The short-circuit element 15 is disposed between the central portion A1 of the coupling element 11 and the ground plane 12.

結合素子11および給電素子13は金属の配線パターンによって実現してもよい。また地板12は板状のグランド層によって実現してもよい。基板20上には、さらに、カプラ1と電気的に接続される通信モジュールを設けてもよい。   The coupling element 11 and the feeding element 13 may be realized by a metal wiring pattern. The ground plane 12 may be realized by a plate-like ground layer. A communication module that is electrically connected to the coupler 1 may be further provided on the substrate 20.

次に、図12から図16を参照して、一平面上に実装可能なカプラ1の他のいくつかの構成例について説明する。   Next, some other configuration examples of the coupler 1 that can be mounted on one plane will be described with reference to FIGS.

図12に示すカプラ1においては、給電点14は、中央部A1の直下ではなく、中央部A1の直下にオフセットを加えることによって得られる位置(オフセットされた位置)に設けられている。また、短絡素子15と地板12との接続点(短絡点)は、給電点14のオフセット方向と逆の方向にオフセットされている。   In the coupler 1 shown in FIG. 12, the feeding point 14 is provided not at a position directly below the center portion A1, but at a position (offset position) obtained by adding an offset immediately below the center portion A1. Further, the connection point (short-circuit point) between the short-circuit element 15 and the ground plane 12 is offset in a direction opposite to the offset direction of the feed point 14.

さらに、図12に示すカプラ1においては、短絡素子15は直線形状を有している。   Furthermore, in the coupler 1 shown in FIG. 12, the short-circuit element 15 has a linear shape.

図13に示すカプラ1においては、結合素子11の両端部がそれぞれ下方に折り曲げられている。この構成により、たとえ基板20の幅Wが狭い場合であっても、結合素子11の長さを適切な長さに設定することができる。   In the coupler 1 shown in FIG. 13, both ends of the coupling element 11 are bent downward. With this configuration, even if the width W of the substrate 20 is narrow, the length of the coupling element 11 can be set to an appropriate length.

図14に示すカプラ1においては、結合素子11の両端部がそれぞれ下方に折り曲げられており、さらに、地板12の上端の両側が切り取られており、地板12の上端の両側にはテーパ12A,12Bが設けられている。この構成により、たとえ結合素子11の両端部がそれぞれ下方に折り曲げた場合であっても、結合素子11と地板12との間の距離を十分に確保することができる。   In the coupler 1 shown in FIG. 14, both end portions of the coupling element 11 are bent downward, and both ends of the upper end of the ground plate 12 are cut off. Is provided. With this configuration, even if both end portions of the coupling element 11 are bent downward, a sufficient distance between the coupling element 11 and the ground plane 12 can be secured.

図15に示すカプラ1においては、短絡素子15は直線形状を有している。   In the coupler 1 shown in FIG. 15, the short-circuit element 15 has a linear shape.

図16に示すカプラ1においては、給電素子13の両側に2つの短絡素子15が設けられている。給電素子13の両側に2つの短絡素子15があるので、図10の構成よりも電流分布の対称性を高めることができる。   In the coupler 1 shown in FIG. 16, two short-circuit elements 15 are provided on both sides of the power feeding element 13. Since there are two short-circuit elements 15 on both sides of the power supply element 13, the symmetry of the current distribution can be improved as compared with the configuration of FIG.

次に、図17乃至図21を参照して、カプラ1の特性測定の結果について説明する。ここでは、カプラ1が2つの平面上に実装される構造である場合を想定する。図17、図18は測定条件を示している。図19は、図17、図18の測定条件下におけるカプラ1のS21特性を示している。図19の横軸は周波数を表し、図19の縦軸は透過係数(S21[dB])を表している。同様に、図20は、図17、図18の測定条件下におけるカプラ1のリターンロス特性(S11[dB])を示し、図21は、図17、図18の測定条件下におけるカプラ1の放射効率を示している。測定条件は次の通りである。   Next, with reference to FIG. 17 to FIG. 21, the result of the characteristic measurement of the coupler 1 will be described. Here, it is assumed that the coupler 1 has a structure mounted on two planes. 17 and 18 show the measurement conditions. FIG. 19 shows the S21 characteristic of the coupler 1 under the measurement conditions shown in FIGS. The horizontal axis in FIG. 19 represents the frequency, and the vertical axis in FIG. 19 represents the transmission coefficient (S21 [dB]). Similarly, FIG. 20 shows the return loss characteristic (S11 [dB]) of the coupler 1 under the measurement conditions of FIGS. 17 and 18, and FIG. 21 shows the radiation of the coupler 1 under the measurement conditions of FIGS. Shows efficiency. The measurement conditions are as follows.

図17では、カプラ1の背面側に金属板25を配置している。カプラ1を電子機器に実装した状態においては、カプラ1の近くに、金属(電子機器内の他の周辺部品)が存在することになる。この環境を再現するために、カプラ1の背面側に金属板25が配置されている。カプラ1と金属板25との間の距離は図18に示すように1mmである。   In FIG. 17, a metal plate 25 is disposed on the back side of the coupler 1. In a state in which the coupler 1 is mounted on the electronic device, metal (other peripheral components in the electronic device) exists near the coupler 1. In order to reproduce this environment, a metal plate 25 is disposed on the back side of the coupler 1. The distance between the coupler 1 and the metal plate 25 is 1 mm as shown in FIG.

図17に示すように、カプラ1の結合素子11に対して基準カプラ10の結合素子10Bは左方向に10mmずらされ、かつカプラ1と基準カプラ10との間の縦方向のオフセット距離は10mmに設定されている。基準カプラ10としてはこの分野で広く知られているカプラを用いればよい。図17の例では、基準カプラ10は基板10A、結合素子10B、および地板10Cを備えている。   As shown in FIG. 17, the coupling element 10B of the reference coupler 10 is shifted leftward by 10 mm with respect to the coupling element 11 of the coupler 1, and the vertical offset distance between the coupler 1 and the reference coupler 10 is 10 mm. Is set. As the reference coupler 10, a coupler widely known in this field may be used. In the example of FIG. 17, the reference coupler 10 includes a substrate 10A, a coupling element 10B, and a ground plane 10C.

カプラ1の周辺に金属が存在し、且つカプラ1に対して基準カプラ10の位置がずれている場合でも、十分なカプラ特性が得られることが、図19乃至図21から理解されよう。   It will be understood from FIGS. 19 to 21 that sufficient coupler characteristics can be obtained even when a metal exists around the coupler 1 and the position of the reference coupler 10 is deviated from the coupler 1.

次に、図22、図23、図24を参照して、カプラ1の特性測定の結果の別の例について説明する。ここでは、カプラ1が2つの平面上に実装される構造である場合を想定する。図22、図23は測定条件を示している。図24は、図22の測定条件下におけるカプラ1の特性(曲線21)と、図23の測定条件下におけるカプラ1の特性(曲線22)を示している。図24の横軸は周波数を表し、図24の縦軸は透過係数(S21[dB])を表している。   Next, another example of the result of measuring the characteristics of the coupler 1 will be described with reference to FIGS. 22, 23, and 24. FIG. Here, it is assumed that the coupler 1 has a structure mounted on two planes. 22 and 23 show the measurement conditions. FIG. 24 shows the characteristic of the coupler 1 (curve 21) under the measurement conditions of FIG. 22 and the characteristic of the coupler 1 (curve 22) under the measurement conditions of FIG. The horizontal axis in FIG. 24 represents the frequency, and the vertical axis in FIG. 24 represents the transmission coefficient (S21 [dB]).

測定条件は次の通りである。   The measurement conditions are as follows.

図22は、カプラ1の結合素子に対して基準カプラ10の結合素子を右方向に10mmずらし、かつカプラ間の縦方向のオフセット距離を10mmとしている。カプラ1の背面には図17の場合と同様に、カプラ1から1mmの間隔置いて金属板25が配置されている。図23は、図17の場合と同様に、カプラ1の結合素子に対して基準カプラ10の結合素子を左方向に10mmずらし、かつカプラ間の縦方向のオフセット距離を10mmとしている。   In FIG. 22, the coupling element of the reference coupler 10 is shifted 10 mm to the right with respect to the coupling element of the coupler 1, and the vertical offset distance between the couplers is 10 mm. As in the case of FIG. 17, a metal plate 25 is disposed on the back surface of the coupler 1 with a 1 mm spacing from the coupler 1. In FIG. 23, similarly to the case of FIG. 17, the coupling element of the reference coupler 10 is shifted 10 mm to the left with respect to the coupling element of the coupler 1 and the vertical offset distance between the couplers is 10 mm.

カプラ1に対して基準カプラ10の位置を左右どちらの方向にずらした場合でも、十分なカプラ特性が得られることが、図24から理解されよう。   It will be understood from FIG. 24 that sufficient coupler characteristics can be obtained even when the position of the reference coupler 10 is shifted in the left or right direction with respect to the coupler 1.

図25は、カプラ1の背面に金属板25を配置した場合における、カプラ1の電流(表面電流)分布の解析結果を示している。   FIG. 25 shows the analysis result of the current (surface current) distribution of the coupler 1 when the metal plate 25 is disposed on the back surface of the coupler 1.

図25では、電流量が多い部分ほど濃い色で示されている。本実施形態のカプラ1においては、たとえカプラ1に金属が近接された時においても、結合素子に多くの電流が流れることが図25から理解されよう。また、結合素子周辺では電界も高くなる。   In FIG. 25, the portion where the amount of current is large is shown in a darker color. In the coupler 1 of this embodiment, it can be understood from FIG. 25 that a large amount of current flows through the coupling element even when a metal is brought close to the coupler 1. In addition, the electric field increases around the coupling element.

図26は、カプラ1が搭載される電子機器の外観を示す斜視図である。この電子機器は、情報処理装置、例えば、バッテリ駆動可能なノートブック型の携帯型パーソナルコンピュータ30として実現されている。   FIG. 26 is a perspective view showing an external appearance of an electronic device in which the coupler 1 is mounted. This electronic device is realized as an information processing apparatus, for example, a notebook-type portable personal computer 30 that can be driven by a battery.

コンピュータ30は、本体300およびディスプレイユニット350を備えている。ディスプレイユニット350は、回動自在に本体300に取り付けられている。ディスプレイユニット350は、本体300の上面を露出させる開放位置と、本体300の上面を覆う閉塞位置との間で回動する。ディスプレイユニット350の筐体内には、LCD(liquid crystal display)351が設けられている。   The computer 30 includes a main body 300 and a display unit 350. The display unit 350 is rotatably attached to the main body 300. The display unit 350 rotates between an open position that exposes the upper surface of the main body 300 and a closed position that covers the upper surface of the main body 300. An LCD (liquid crystal display) 351 is provided in the housing of the display unit 350.

本体300は薄い箱状の筐体を有している。本体300の筐体は、下部ケース300aとこれに嵌合されたトップカバー300bとを含んでいる。本体300の上面上には、キーボード301、タッチパッド302および電源スイッチ303等が配置されている。また本体300の筐体の外壁、たとえば、右側壁には、カードスロット304が設けられている。図26の例では、光ディスクドライブ305の収納部の上部にカードスロット304が配置されている。本体300の筐体内には、カプラ1が設けられている。カプラ1は、図27に示すように、例えば、基板20上の結合素子11がトップカバー300bに対向し、且つ本体300の筐体の外壁に対向するように配置される。つまり、カプラ1の基板20は、基板20の第1表面20aがトップカバー300bに対向し、且つ結合素子11が配置される基板20上の第1領域が、地板12が配置される第2領域よりも本体300の筐体の外壁(たとえば右側壁)に近接する向きで、筐体内に配置される。かくして右側壁の一部、およびトップカバー300bのパームレスト領域300cの一部は、それぞれ通信面として機能する。   The main body 300 has a thin box-shaped housing. The housing of the main body 300 includes a lower case 300a and a top cover 300b fitted thereto. On the upper surface of the main body 300, a keyboard 301, a touch pad 302, a power switch 303, and the like are arranged. A card slot 304 is provided on the outer wall of the housing of the main body 300, for example, the right side wall. In the example of FIG. 26, a card slot 304 is arranged at the upper part of the storage part of the optical disk drive 305. A coupler 1 is provided in the housing of the main body 300. As shown in FIG. 27, for example, the coupler 1 is disposed so that the coupling element 11 on the substrate 20 faces the top cover 300b and faces the outer wall of the casing of the main body 300. That is, in the substrate 20 of the coupler 1, the first surface 20a of the substrate 20 faces the top cover 300b, and the first region on the substrate 20 where the coupling element 11 is disposed is the second region where the ground plane 12 is disposed. It is arranged in the casing in a direction closer to the outer wall (for example, the right side wall) of the casing of the main body 300. Thus, a part of the right side wall and a part of the palm rest area 300c of the top cover 300b each function as a communication surface.

なお、カプラ1はディスプレイユニット350の筐体内に設けても良い。   The coupler 1 may be provided in the housing of the display unit 350.

また、カプラ1は、図28に示すように、カードスロット304に取り外し自在に挿入されるカード装置(たとえばSDカード)306内に設けても良い。この場合、カード装置306の一端部には、ホストとのインターフェースのためのコネクタ306Aが設けられている。カプラ1は、カード装置306の他端部側に結合素子11が位置するように、カード装置306内に配置される。上述したように、カプラ1はハイ・インピーダンス化されているので、カプラ1をカード装置306として実現した場合でも、本体300内の周辺部品との間の結合による影響を低減することができる。   Further, as shown in FIG. 28, the coupler 1 may be provided in a card device (for example, an SD card) 306 that is removably inserted into the card slot 304. In this case, a connector 306A for interfacing with the host is provided at one end of the card device 306. The coupler 1 is arranged in the card device 306 so that the coupling element 11 is located on the other end side of the card device 306. As described above, since the coupler 1 has a high impedance, even when the coupler 1 is realized as the card device 306, it is possible to reduce the influence of coupling with peripheral components in the main body 300.

カプラ1が搭載される電子機器は携帯型パーソナルコンピュータ30に制限されない。図29は、カプラ1をスレートPC40に実装した例を示している。   The electronic device on which the coupler 1 is mounted is not limited to the portable personal computer 30. FIG. 29 shows an example in which the coupler 1 is mounted on the slate PC 40.

図30は、コンピュータ30のシステム構成を示すブロック図である。
コンピュータ30は、カプラ装置1、キーボード301、タッチパッド302、電源スイッチ303、光ディスクドライブ(ODD)305およびLCD351の他に、ハードディスクドライブ(HDD)404、CPU405、主メモリ406、BIOS(basic input/output system)−ROM407、ノースブリッジ408、グラフィクスコントローラ409、ビデオメモリ(VRAM)410、サウスブリッジ411、エンベデッドコントローラ/キーボードコントローラIC(EC/KBC)412、電源コントローラ413および近接無線通信デバイス414を含む。
FIG. 30 is a block diagram illustrating a system configuration of the computer 30.
In addition to the coupler apparatus 1, the keyboard 301, the touch pad 302, the power switch 303, the optical disk drive (ODD) 305 and the LCD 351, the computer 30 includes a hard disk drive (HDD) 404, CPU 405, main memory 406, BIOS (basic input / output). system) -ROM 407, north bridge 408, graphics controller 409, video memory (VRAM) 410, south bridge 411, embedded controller / keyboard controller IC (EC / KBC) 412, power supply controller 413, and proximity wireless communication device 414.

ハードディスクドライブ404は、オペレーティングシステム(OS)や各種アプリケーションプログラム等を格納する。CPU405は、コンピュータ30の動作を制御するためのプロセッサであり、ハードディスクドライブ404から主メモリ406にロードされる各種プログラムを実行する。CPU405が実行するプログラムには、オペレーティングシステム501、近接無線通信ガジェットアプリケーションプログラム502、認証アプリケーションプログラム503、あるいは送信トレイアプリケーションプログラム504を含む。またCPU405は、ハードウェア制御のために、BIOS−ROM407に格納されたBIOSプログラムを実行する。   The hard disk drive 404 stores an operating system (OS), various application programs, and the like. The CPU 405 is a processor for controlling the operation of the computer 30 and executes various programs loaded from the hard disk drive 404 to the main memory 406. Programs executed by the CPU 405 include an operating system 501, a proximity wireless communication gadget application program 502, an authentication application program 503, or a transmission tray application program 504. The CPU 405 executes a BIOS program stored in the BIOS-ROM 407 for hardware control.

ノースブリッジ408は、CPU405のローカルバスとサウスブリッジ411との間を接続する。ノースブリッジ408は、主メモリ406をアクセス制御するメモリコントローラを内蔵する。また、ノースブリッジ408は、AGPバスなどを介してグラフィクスコントローラ409との通信を実行する機能を有する。グラフィクスコントローラ409は、LCD351を制御する。グラフィクスコントローラ409は、ビデオメモリ410に記憶された表示データから、LCD351に表示させる表示イメージを表す映像信号を生成する。なお表示データは、CPU405の制御の下にビデオメモリ410に書き込まれる。   The north bridge 408 connects the local bus of the CPU 405 and the south bridge 411. The north bridge 408 includes a memory controller that controls access to the main memory 406. The north bridge 408 has a function of executing communication with the graphics controller 409 via an AGP bus or the like. The graphics controller 409 controls the LCD 351. The graphics controller 409 generates a video signal representing a display image to be displayed on the LCD 351 from the display data stored in the video memory 410. The display data is written into the video memory 410 under the control of the CPU 405.

サウスブリッジ411は、LPCバス上のデバイスを制御する。サウスブリッジ411は、ハードディスクドライブ404を制御するためのATAコントローラを内蔵している。さらに、サウスブリッジ411は、BIOS−ROM407をアクセス制御するための機能を有している。エンベデッドコントローラ/キーボードコントローラIC(EC/KBC)412は、エンベデッドコントローラと、キーボードコントローラとが集積された1チップマイクロコンピュータである。エンベデッドコントローラは、ユーザによる電源スイッチ303の操作に応じて情報処理装置30をパワーオン/パワーオフするように電源コントローラ413を制御する。キーボードコントローラは、キーボード301およびタッチパッド302を制御する。電源コントローラ413は、図示しない電源装置の動作を制御する。なお当該電源装置は、コンピュータ30の各部の動作電力を生成する。   The south bridge 411 controls devices on the LPC bus. The south bridge 411 includes an ATA controller for controlling the hard disk drive 404. Further, the south bridge 411 has a function for controlling access to the BIOS-ROM 407. An embedded controller / keyboard controller IC (EC / KBC) 412 is a one-chip microcomputer in which an embedded controller and a keyboard controller are integrated. The embedded controller controls the power supply controller 413 to power on / off the information processing apparatus 30 in accordance with the operation of the power switch 303 by the user. The keyboard controller controls the keyboard 301 and the touch pad 302. The power controller 413 controls the operation of a power device (not shown). The power supply device generates operating power for each unit of the computer 30.

近接無線通信デバイス414は近接無線通信を実行するための通信モジュールである。近接無線通信デバイス414は、PHY/MAC部414aを備える。PHY/MAC部414aは、CPU405による制御の下に動作する。PHY/MAC部414aは、カプラ1を介して信号を無線で送受信する。この近接無線通信デバイス414は本体300の筐体内に収容される。   The close proximity wireless communication device 414 is a communication module for executing close proximity wireless communication. The close proximity wireless transfer device 414 includes a PHY / MAC unit 414a. The PHY / MAC unit 414a operates under the control of the CPU 405. The PHY / MAC unit 414a transmits and receives signals wirelessly via the coupler 1. The close proximity wireless transfer device 414 is accommodated in the housing of the main body 300.

なお、近接無線通信デバイス414とサウスブリッジ411との間のデータの転送は、例えば、PCI(peripheral component interconnect)バスを介して行われる。なお、PCIの代わりにPCI Expressを用いても良い。   Note that data transfer between the close proximity wireless transfer device 414 and the south bridge 411 is performed via, for example, a PCI (peripheral component interconnect) bus. Note that PCI Express may be used instead of PCI.

上述したように、近接無線通信デバイス414とカプラ1はカード装置306内に内蔵してもよい。   As described above, the close proximity wireless transfer device 414 and the coupler 1 may be built in the card device 306.

なお、ここでは、カプラ1を搭載する電子機器の例としてコンピュータ30を説明したが、この電子機器としては、たとえば、TVであってもよい。カプラ1はTVの筐体内に配置される。TVがカードスロットを有するならば、そのカードスロットに、カプラ1を内蔵したカード、またはカプラ1と近接無線通信デバイス414の双方を内蔵したカードを挿入しても良い。   Here, the computer 30 has been described as an example of an electronic device on which the coupler 1 is mounted. However, the electronic device may be a TV, for example. The coupler 1 is disposed in the TV casing. If the TV has a card slot, a card containing the coupler 1 or a card containing both the coupler 1 and the proximity wireless communication device 414 may be inserted into the card slot.

次に、図31、図32を参照して、カード装置306のいくつかの構成例を説明する。   Next, some configuration examples of the card device 306 will be described with reference to FIGS. 31 and 32.

図31はカード装置306の第1の構成例を示している。カード装置306の筐体内には、プリント回路基板のような基板(誘電体基板)500が設けられる。この基板500の第1表面上の第1領域には上述の結合素子11および給電素子13が配置される。基板500の第1表面上の第2領域には近接無線通信デバイス414が配置される。なお、第2領域には、近接無線通信デバイス414に加え、不揮発性メモリなどを設けても良い。基板500の第2表面(裏面)上における、第1領域に対向した第3領域には、短絡素子15が配置されている。短絡素子15は基板500内のスルーホール等を介して結合素子11の中央部A1に接続される。基板500の第2表面(裏面)上における、第1領域に非対向の第4領域には、地板12としてのグランド層が配置されている。給電端子14は第1表面側または第2表面側のどちらに設けても良い。近接無線通信デバイス414のいくつかのグランドピンは、基板500内のスルーホールを介して地板12に接続される。   FIG. 31 shows a first configuration example of the card device 306. In the casing of the card device 306, a substrate (dielectric substrate) 500 such as a printed circuit board is provided. In the first region on the first surface of the substrate 500, the coupling element 11 and the feeding element 13 described above are arranged. A proximity wireless communication device 414 is disposed in the second region on the first surface of the substrate 500. In the second area, a nonvolatile memory or the like may be provided in addition to the close proximity wireless transfer device 414. On the second surface (back surface) of the substrate 500, the short-circuit element 15 is disposed in the third region facing the first region. The short-circuit element 15 is connected to the central portion A1 of the coupling element 11 through a through hole or the like in the substrate 500. On the second surface (back surface) of the substrate 500, a ground layer as the ground plane 12 is disposed in a fourth region that is not opposed to the first region. The power supply terminal 14 may be provided on either the first surface side or the second surface side. Some ground pins of the close proximity wireless transfer device 414 are connected to the ground plane 12 through through holes in the substrate 500.

図32はカード装置306の第2の構成例を示している。図32においては、基板500の第1表面上の第1領域には上述の結合素子11および給電素子13が配置される。基板500の第1表面上の第2領域には地板12が配置される。基板500の第2表面(裏面)上における、第1領域に対向した第3領域には、短絡素子15が配置されている。基板500の第2表面(裏面)上における、第1領域に非対向の第4領域には、近接無線通信デバイス414が配置される。   FIG. 32 shows a second configuration example of the card device 306. In FIG. 32, the coupling element 11 and the feeding element 13 described above are arranged in the first region on the first surface of the substrate 500. The ground plane 12 is disposed in the second region on the first surface of the substrate 500. On the second surface (back surface) of the substrate 500, the short-circuit element 15 is disposed in the third region facing the first region. A proximity wireless communication device 414 is disposed in a fourth region that is not opposed to the first region on the second surface (back surface) of the substrate 500.

以上説明したように、本実施形態においては、給電素子13の一端が結合素子11の中間部A1に接続され、かつ短絡素子15の一端が、結合素子11の中間部A1の中間部A1に接続され、短絡素子15の他端が地板12に接続されているので、結合素子11に同じ電流量で互いに逆向きの電流を流すことを妨げることなく、つまり、カプラ1の位置ずれ耐性を弱めることなく、カプラ1のハイ・インピーダンス化を図ることができる。よって、周辺部品による影響の低減と位置ずれに対する十分な耐性との双方を容易に実現することができる。   As described above, in the present embodiment, one end of the feeding element 13 is connected to the intermediate part A1 of the coupling element 11, and one end of the short circuit element 15 is connected to the intermediate part A1 of the intermediate part A1 of the coupling element 11. In addition, since the other end of the short-circuit element 15 is connected to the ground plane 12, it is possible to reduce the resistance to displacement of the coupler 1 without impeding the flow of currents in the opposite directions to the coupling element 11 with the same amount of current. Therefore, the coupler 1 can have a high impedance. Therefore, it is possible to easily realize both the reduction of the influence due to the peripheral parts and the sufficient tolerance against the displacement.

なお、カプラ1の共振周波数は上述のL1+L2の長さに基づいて決定されるが、このカプラ1の共振周波数を調整するために、図1のカプラ1の結合素子11と給電点14との間にインダクタなどの素子を追加してもよい。図33は、図1のカプラ1の給電点14と結合素子11との間にインダクタLを共振周波数調整用素子(集中定数素子)として直列に挿入した例である。図33では、給電素子13にインダクタLが挿入されている。図34は図1のカプラ1の短絡素子15にインダクタLを直列に挿入した例である。図35は、図1のカプラ1において、結合素子11と給電点14との間につまり給電素子13にインダクタLを直列に挿入し、かつ短絡素子15にインダクタLを直列に挿入した例である。   The resonance frequency of the coupler 1 is determined based on the length of L1 + L2 described above. In order to adjust the resonance frequency of the coupler 1, the coupling element 11 of the coupler 1 in FIG. An element such as an inductor may be added. FIG. 33 shows an example in which an inductor L is inserted in series as a resonance frequency adjusting element (lumped constant element) between the feeding point 14 of the coupler 1 of FIG. 1 and the coupling element 11. In FIG. 33, an inductor L is inserted into the feed element 13. FIG. 34 shows an example in which an inductor L is inserted in series with the short-circuit element 15 of the coupler 1 of FIG. FIG. 35 is an example in which, in the coupler 1 of FIG. 1, an inductor L is inserted in series between the coupling element 11 and the feeding point 14, that is, the feeding element 13, and an inductor L is inserted in series in the short-circuiting element 15. .

インダクタなどの素子を追加する構成は、一平面上に配置可能な図10のカプラ1にも適用してもよい。図36は、図10のカプラ1の給電素子13にインダクタLを直列に挿入した例である。図37は、図10のカプラ1の短絡素子13にインダクタLを直列に挿入した例である。図38は、図10のカプラ1において、結合素子11と給電点14との間につまり給電素子13にインダクタLを直列に挿入し、かつ短絡素子15にインダクタLを直列に挿入した例である。   A configuration in which an element such as an inductor is added may be applied to the coupler 1 in FIG. 10 that can be arranged on one plane. FIG. 36 shows an example in which an inductor L is inserted in series with the feed element 13 of the coupler 1 of FIG. FIG. 37 shows an example in which an inductor L is inserted in series with the short-circuit element 13 of the coupler 1 of FIG. FIG. 38 is an example in which, in the coupler 1 of FIG. 10, an inductor L is inserted in series between the coupling element 11 and the feed point 14, that is, the feed element 13, and an inductor L is inserted in series in the short-circuit element 15. .

なお、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   In addition, although some embodiment of this invention was described, these embodiment is shown as an example and is not intending limiting the range of invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

1…カプラ、11…結合素子、12…地板、13…給電素子、15…短絡素子。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Coupler, 11 ... Coupling element, 12 ... Ground plane, 13 ... Feeding element, 15 ... Short circuit element

Claims (13)

他のカプラとの間の電磁的結合によって電磁波を送受信するように構成されるカプラであって、
第1開放端と第2開放端とを備える線状の結合素子と、
地板と、
前記結合素子と給電点との間を接続する給電素子であって、前記結合素子の前記第1開放端と前記第2開放端の間の中間部に接続された第1端と、前記給電点に接続された第2端とを備える給電素子と、
前記結合素子と前記地板との間を接続する短絡素子であって、前記結合素子の前記中間部に接続される第3端と、前記地板に接続される第4端とを備える短絡素子とを具備し、
前記結合素子、前記給電素子、前記給電点および前記地板は第1平面上にあり、
前記短絡素子は、
前記第1平面との間に隙間を置いて前記第1平面に対して対向する第2平面と前記第1平面との間に延在する第1素子であって、前記第1平面上の前記結合素子の前記中間部に接続される第5端と前記第2平面に接続される第6端とを備える第1素子と、
前記第2平面上にある第2素子であって、前記第1素子の前記第6端に接続される第7端と、前記第1平面上の前記地板に電気的に結合される第8端とを備える第2素子とを備えるカプラ。
A coupler configured to transmit and receive electromagnetic waves by electromagnetic coupling with other couplers,
A linear coupling element comprising a first open end and a second open end;
With the main plate,
A feeding element for connecting the coupling element and a feeding point, the first end connected to an intermediate portion between the first open end and the second open end of the coupling element, and the feed point A feed element comprising a second end connected to
A short-circuit element connecting between the coupling element and the ground plane, the short-circuit element including a third end connected to the intermediate portion of the coupling element and a fourth end connected to the ground plane. Equipped,
The coupling element, the feeding element, the feeding point and the ground plane are on a first plane;
The short-circuit element is
A first element extending between the first plane and a second plane opposed to the first plane with a gap between the first plane, and the first element on the first plane; A first element comprising a fifth end connected to the intermediate portion of the coupling element and a sixth end connected to the second plane;
A second element on the second plane, a seventh end connected to the sixth end of the first element, and an eighth end electrically coupled to the ground plane on the first plane; And a second element including the coupler.
前記給電点から前記第1開放端および前記第2開放端の各々までの電気長は、前記電磁波の中心周波数に対応する波長の1/4である請求項1記載のカプラ。   The coupler according to claim 1, wherein an electrical length from the feeding point to each of the first open end and the second open end is ¼ of a wavelength corresponding to a center frequency of the electromagnetic wave. 前記第2素子の前記第8端は、スルーホールまたは他の配線パターンを介して前記第1平面上の前記地板に電気的に結合される請求項1記載のカプラ。The coupler according to claim 1, wherein the eighth end of the second element is electrically coupled to the ground plane on the first plane through a through hole or another wiring pattern. 前記給電点から前記第1開放端および前記第2開放端の各々までの電気長は、前記電磁波の中心周波数に対応する波長の1/4であり、
前記第1素子の電気長は前記電磁波の中心周波数に対応する波長の1/10以下である請求項記載のカプラ。
The electrical length from the feeding point to each of the first open end and the second open end is 1/4 of the wavelength corresponding to the center frequency of the electromagnetic wave,
The first element of the electrical length coupler of claim 1 wherein less than 1/10 of a wavelength corresponding to the center frequency of the electromagnetic wave.
前記給電点から前記第1開放端および前記第2開放端の各々までの電気長は、前記電磁波の中心周波数に対応する波長の1/4であり、
前記結合素子内の前記中間部と前記第1開放端との間の第1部分と前記給電素子とが第1共振部として機能するように構成され、前記結合素子内の前記中間部と前記第2開放端との間の第2部分と前記給電素子とが第2共振部として機能するように構成される請求項1記載のカプラ。
The electrical length from the feeding point to each of the first open end and the second open end is 1/4 of the wavelength corresponding to the center frequency of the electromagnetic wave,
A first portion between the intermediate portion in the coupling element and the first open end and the feeding element are configured to function as a first resonance portion, and the intermediate portion in the coupling element and the first portion The coupler according to claim 1, wherein the second portion between the two open ends and the feeding element are configured to function as a second resonating unit.
他のカプラとの間の電磁的結合によって電磁波を送受信するように構成されるカプラであって、
第1表面と第2表面とを備える基板と、
前記基板の前記第1表面上にあり、第1開放端と第2開放端とを備える線状の結合素子と、
前記基板の前記第1表面上にある地板と、
前記基板の前記第1表面上にあり、前記結合素子と前記第1表面上の給電点との間を接続する給電素子であって、前記結合素子の前記第1開放端と前記第2開放端の間の中間部に接続された第1端と、前記給電点に接続された第2端とを備える給電素子と、
前記基板の前記第2表面上にあり、前記結合素子と前記地板との間を接続する短絡素子とを具備し、
前記短絡素子は、
前記第1表面と前記第2表面との間に延在する第1素子であって、前記第1表面上の前記結合素子の前記中間部に接続される第5端と前記第2表面に接続される第6端とを備える第1素子と、
前記第2表面上にある第2素子であって、前記第1素子の前記第6端に接続される第7端と、前記第1表面上の前記地板に電気的に結合される第8端とを備える第2素子とを備えるカプラ。
A coupler configured to transmit and receive electromagnetic waves by electromagnetic coupling with other couplers,
A substrate comprising a first surface and a second surface;
A linear coupling element on the first surface of the substrate and comprising a first open end and a second open end;
A ground plane on the first surface of the substrate;
A feeding element on the first surface of the substrate and connecting between the coupling element and a feeding point on the first surface, the first open end and the second open end of the coupling element A feeding element comprising a first end connected to an intermediate portion between and a second end connected to the feeding point;
A short-circuit element on the second surface of the substrate and connecting between the coupling element and the ground plane;
The short-circuit element is
A first element extending between the first surface and the second surface, connected to the second surface and a fifth end connected to the intermediate portion of the coupling element on the first surface; A first element comprising a sixth end to be
A second element on the second surface, a seventh end connected to the sixth end of the first element, and an eighth end electrically coupled to the ground plane on the first surface; And a second element including the coupler.
前記給電点から前記第1開放端および前記第2開放端の各々までの電気長は、前記電磁波の中心周波数に対応する波長の1/4である請求項6記載のカプラ。   The coupler according to claim 6, wherein an electrical length from the feeding point to each of the first open end and the second open end is ¼ of a wavelength corresponding to a center frequency of the electromagnetic wave. 前記給電点から前記第1開放端および前記第2開放端の各々までの電気長は、前記電磁波の中心周波数に対応する波長の1/4であり、
前記結合素子内の前記中間部と前記第1開放端との間の第1部分と前記給電素子とが第1共振部として機能し、前記結合素子内の前記中間部と前記第2開放端との間の第2部分と前記給電素子とが第2共振部として機能するように構成される請求項6記載のカプラ。
The electrical length from the feeding point to each of the first open end and the second open end is 1/4 of the wavelength corresponding to the center frequency of the electromagnetic wave,
The first portion between the intermediate part in the coupling element and the first open end and the power feeding element function as a first resonance part, and the intermediate part in the coupling element and the second open end The coupler of Claim 6 comprised so that the 2nd part between and the said electric power feeding element may function as a 2nd resonance part.
前記カプラは電子機器のカードスロットに取り外し自在に挿入されるように構成されるカード装置内にある請求項6記載のカプラ。   The coupler according to claim 6, wherein the coupler is in a card device configured to be removably inserted into a card slot of an electronic device. 前記カード装置は、前記カプラと電気的に接続される通信モジュールを備え、前記通信モジュールは前記カプラの前記基板上にある請求項記載のカプラ。 The coupler according to claim 9 , wherein the card device includes a communication module electrically connected to the coupler, and the communication module is on the substrate of the coupler. 前記第2素子の前記第8端は、スルーホールまたは他の配線パターンを介して前記第1表面上の前記地板に電気的に結合される請求項6記載のカプラ。The coupler according to claim 6, wherein the eighth end of the second element is electrically coupled to the ground plane on the first surface through a through hole or another wiring pattern. 他のカプラとの間の電磁的結合によって電磁波を送受信するように構成されるカプラを具備する電子機器であって、
筐体と、
前記筐体内にあり、前記カプラと電気的に接続される通信モジュールと、
前記筐体内にあり、アプリケーションを実行するプロセッサとを具備し、
前記カプラは、
第1表面と第2表面とを備える基板と、
前記基板の前記第1表面上にあり、第1開放端と第2開放端とを備える線状の結合素子と、
前記基板の前記第1表面上にある地板と、
前記基板の前記第1表面上にあり、前記結合素子と前記第1表面上の給電点との間を接続する給電素子であって、前記結合素子の前記第1開放端と前記第2開放端の間の中間部に接続された第1端と、前記給電点に接続された第2端とを備える給電素子と、
前記基板の前記第2表面上にあり、前記結合素子と前記地板との間を接続する短絡素子とを具備し、
前記短絡素子は、
前記第1表面と前記第2表面との間に延在する第1素子であって、前記第1表面上の前記結合素子の前記中間部に接続される第5端と前記第2表面に接続される第6端とを備える第1素子と、
前記第2表面上にある第2素子であって、前記第1素子の前記第6端に接続される第7端と、前記第1表面上の前記地板に電気的に結合される第8端とを備える第2素子とを備える電子機器。
An electronic device comprising a coupler configured to transmit and receive electromagnetic waves by electromagnetic coupling with another coupler,
A housing,
A communication module in the housing and electrically connected to the coupler;
A processor in the housing for executing an application;
The coupler is
A substrate comprising a first surface and a second surface;
A linear coupling element on the first surface of the substrate and comprising a first open end and a second open end;
A ground plane on the first surface of the substrate;
A feeding element on the first surface of the substrate and connecting between the coupling element and a feeding point on the first surface, the first open end and the second open end of the coupling element A feeding element comprising a first end connected to an intermediate portion between and a second end connected to the feeding point;
A short-circuit element on the second surface of the substrate and connecting between the coupling element and the ground plane;
The short-circuit element is
A first element extending between the first surface and the second surface, connected to the second surface and a fifth end connected to the intermediate portion of the coupling element on the first surface; A first element comprising a sixth end to be
A second element on the second surface, a seventh end connected to the sixth end of the first element, and an eighth end electrically coupled to the ground plane on the first surface; An electronic device comprising: a second element comprising:
前記第2素子の前記第8端は、スルーホールまたは他の配線パターンを介して前記第1表面上の前記地板に電気的に結合される請求項12記載の電子機器。The electronic device according to claim 12, wherein the eighth end of the second element is electrically coupled to the ground plane on the first surface through a through hole or another wiring pattern.
JP2011098533A 2011-04-26 2011-04-26 Couplers and electronics Expired - Fee Related JP5058356B1 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011098533A JP5058356B1 (en) 2011-04-26 2011-04-26 Couplers and electronics
US13/300,162 US8797115B2 (en) 2011-04-26 2011-11-18 Coupler and electronic apparatus
US14/318,509 US9178259B2 (en) 2011-04-26 2014-06-27 Coupler and electronic apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011098533A JP5058356B1 (en) 2011-04-26 2011-04-26 Couplers and electronics

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012162674A Division JP5362081B2 (en) 2012-07-23 2012-07-23 Card device and electronic device provided with coupler

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5058356B1 true JP5058356B1 (en) 2012-10-24
JP2012231314A JP2012231314A (en) 2012-11-22

Family

ID=47067449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011098533A Expired - Fee Related JP5058356B1 (en) 2011-04-26 2011-04-26 Couplers and electronics

Country Status (2)

Country Link
US (2) US8797115B2 (en)
JP (1) JP5058356B1 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5058356B1 (en) 2011-04-26 2012-10-24 株式会社東芝 Couplers and electronics
TWI495192B (en) * 2012-07-27 2015-08-01 Askey Computer Corp Multiband antenna
JP6058573B2 (en) 2014-03-13 2017-01-11 株式会社東芝 Antennas and electronics
JP2015195426A (en) * 2014-03-31 2015-11-05 株式会社東芝 Electronic apparatus
JP6151214B2 (en) * 2014-04-28 2017-06-21 株式会社東芝 Electronics
JP7179574B2 (en) * 2018-10-17 2022-11-29 キヤノン株式会社 Communication system and communication method

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1312948C (en) 2000-05-26 2007-04-25 松下电器产业株式会社 Antenna, antenna arrangement and radio arrangement
JP4585711B2 (en) * 2000-05-26 2010-11-24 パナソニック株式会社 ANTENNA, ANTENNA ARRAY METHOD, ANTENNA DEVICE, ARRAY ANTENNA DEVICE, AND RADIO DEVICE
JP2003124742A (en) * 2001-10-11 2003-04-25 Samsung Electronics Co Ltd Antenna
JP2004048471A (en) * 2002-07-12 2004-02-12 Tdk Corp Equipment built-in gnd mounted antenna
TW563274B (en) * 2002-10-08 2003-11-21 Wistron Neweb Corp Dual-band antenna
JP2005117458A (en) 2003-10-09 2005-04-28 Sony Corp Radio connection system, radio connection control method, access point device and communication equipment
US7327316B2 (en) * 2005-09-19 2008-02-05 Tyco Electronics Corporation Embedded planar inverted F antenna (PIFA) tuned with variable grounding point
US8068495B2 (en) 2005-09-27 2011-11-29 Intel Corporation Mechanisms for data rate improvement in a wireless network
EP3324485B1 (en) * 2006-04-18 2023-01-11 QUALCOMM Incorporated Mobile terminal with a tunable multi-resonace monopole antenna
JP4893483B2 (en) 2006-09-11 2012-03-07 ソニー株式会社 Communications system
JP4345849B2 (en) 2006-11-21 2009-10-14 ソニー株式会社 COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATION DEVICE, AND HIGH FREQUENCY COUPLER
EP1926223B1 (en) 2006-11-21 2018-02-28 Sony Corporation Communication system and communication apparatus
JP4983425B2 (en) 2007-06-18 2012-07-25 ソニー株式会社 Communication device
JP4930359B2 (en) 2007-12-18 2012-05-16 ソニー株式会社 Antenna device
TWI420741B (en) * 2008-03-14 2013-12-21 Advanced Connectek Inc Multi-antenna module
JP4469909B1 (en) 2008-11-28 2010-06-02 株式会社東芝 Electronics
TWM361110U (en) * 2009-02-27 2009-07-11 Wistron Neweb Corp Antenna structure
JP5435338B2 (en) 2009-06-15 2014-03-05 日立金属株式会社 Multiband antenna
TWM398213U (en) * 2010-07-02 2011-02-11 Wistron Neweb Corp Wideband antenna
JP5058330B2 (en) * 2010-12-10 2012-10-24 株式会社東芝 Card device and electronic device provided with coupler
JP5058356B1 (en) 2011-04-26 2012-10-24 株式会社東芝 Couplers and electronics
US20120274530A1 (en) * 2011-04-27 2012-11-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Coupler

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012231314A (en) 2012-11-22
US20120274426A1 (en) 2012-11-01
US20140312995A1 (en) 2014-10-23
US8797115B2 (en) 2014-08-05
US9178259B2 (en) 2015-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5058356B1 (en) Couplers and electronics
US8547184B2 (en) High-frequency coupler and communication device
JP5058330B2 (en) Card device and electronic device provided with coupler
US8581112B2 (en) Coupler apparatus
JP4875176B2 (en) Antenna and coupler
US20130271326A1 (en) Electronic apparatus and conversion adaptor
JP5362081B2 (en) Card device and electronic device provided with coupler
JP5417497B2 (en) Card device and electronic device provided with coupler
JP4922382B2 (en) Coupler device and coupling element
US9288894B2 (en) Coupler apparatus
JP4875174B2 (en) Coupler device
JP5284336B2 (en) Electronics
US9276318B2 (en) Coupler apparatus and communication apparatus
JP2012044715A (en) Communication device
JP5647918B2 (en) Mobile communication terminal
KR101197938B1 (en) Inverted F antenna
JP2012134948A (en) Antenna, adjusting method of the same and electronic apparatus equipped with antenna

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120703

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120731

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5058356

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees