JP5022746B2 - Insulation abnormality diagnosis method and insulation abnormality diagnosis apparatus for electrical equipment - Google Patents

Insulation abnormality diagnosis method and insulation abnormality diagnosis apparatus for electrical equipment Download PDF

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本発明は、稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより、絶縁異常個所の有無を判断する電気設備の絶縁異常診断方法および絶縁異常診断装置に関する。   The present invention relates to an insulation abnormality diagnosis method and an insulation abnormality diagnosis apparatus for an electrical facility that determines the presence or absence of an insulation abnormality location by detecting ultraviolet rays radiated along with creeping discharge generated on the surface of the electrical facility in operation. .

変圧器をはじめとする電気設備においては、経年あるいは環境により絶縁物に塩分や塵埃などの汚損物が付着し、このような汚損物が吸湿すると絶縁物表面の電気抵抗が低下して故障や事故を引き起こすことがある。絶縁物表面の電気抵抗が低下すると、設備表面では沿面放電が発生し、放電電流が流れると同時に電磁波、超音波、紫外線などが放射されることが知られている。そのため、従来、それら物理量を検出することで絶縁異常個所の存在有無を診断することが行なわれてきた。しかし、放電に伴って発生する上記物理量は極めて微弱であるため、ノイズを含む測定信号中から放電に伴う物理量のみを如何に正確に抽出するかが課題となってきた。   In electrical equipment such as transformers, fouling substances such as salt and dust adhere to the insulation over time or the environment, and if such fouling material absorbs moisture, the electrical resistance of the insulation surface decreases, causing failure or accidents. May cause. It is known that when the electrical resistance of the insulator surface decreases, creeping discharge occurs on the equipment surface, and discharge current flows and electromagnetic waves, ultrasonic waves, ultraviolet rays, etc. are radiated simultaneously. For this reason, conventionally, the presence or absence of abnormal insulation has been diagnosed by detecting these physical quantities. However, since the physical quantity generated along with the discharge is very weak, it has become a problem how to accurately extract only the physical quantity associated with the discharge from the measurement signal including noise.

図17(a)は、放電の発生時に接地線に流れる電流波形の例を示しており、図17(b)は、そのときの電気設備への印加交流電圧波形の例を示している。放電は、放電発生個所に加わる電圧があるしきい値を超えると発生し、しきい値を下回ると停止する。このため、印加交流電圧の1サイクルの期間に2度発生する特定のパターンを持つことが多い。また、放電はひとたび始まると一定時間継続することが多い。放電発生の有無は、そうした放電現象の有する特性に基づいて判断される。   FIG. 17A shows an example of a waveform of a current flowing through the ground line when a discharge occurs, and FIG. 17B shows an example of an AC voltage waveform applied to the electrical equipment at that time. Discharge occurs when the voltage applied to the location where the discharge occurs exceeds a certain threshold value, and stops when the voltage falls below the threshold value. For this reason, it often has a specific pattern that occurs twice during one cycle of the applied AC voltage. In addition, once discharge starts, it often continues for a certain period of time. The presence or absence of discharge is determined based on the characteristics of such a discharge phenomenon.

従来技術として特許文献1,2には、放電に伴う超音波を検出して判断する方法が開示されている。この方法は、超音波センサにより捉えた信号の中から放電特有の周波数成分を抽出して包絡線検波し、次に、その信号から印加交流電圧の2倍の周波数成分を抽出し、その成分の強弱により放電の有無を判断している。   As prior art, Patent Documents 1 and 2 disclose a method for detecting and judging ultrasonic waves accompanying discharge. This method extracts the frequency component peculiar to the discharge from the signal captured by the ultrasonic sensor and detects the envelope, and then extracts the frequency component twice the applied AC voltage from the signal, The presence / absence of discharge is judged by strength.

また、特許文献3には、部分放電の発生により接地線に流れる電流波形を数十サイクルにわたって測定し、そこからバックグラウンド・ノイズとの差が顕著な周波数成分を抽出して時系列で測定者に提示する装置が開示されている。
特開2001−305178号公報 特開平09−127181号公報 特開2004−101418号公報
In Patent Document 3, the current waveform flowing in the ground line due to the occurrence of partial discharge is measured over several tens of cycles, and frequency components that are significantly different from the background noise are extracted from the current waveform. An apparatus to be presented is disclosed.
JP 2001-305178 A Japanese Patent Laid-Open No. 09-127181 JP 2004-101418 A

しかし、超音波や接地線電流を検出する従来の方法では、沿面放電の強度が微弱な場合には、超音波や接地線電流中に含まれる放電音や放電電流の信号レベルが低いため、放電信号とノイズとの分離が難しく放電発生の有無の判定が困難となる。   However, in the conventional method for detecting ultrasonic waves and grounding line current, when the creeping discharge intensity is weak, the signal level of the discharge sound and discharge current contained in the ultrasonic wave and grounding line current is low. It is difficult to separate a signal and noise, and it is difficult to determine whether or not a discharge has occurred.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を判断できる電気設備の絶縁異常診断方法および絶縁異常診断装置を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and the purpose of the present invention is to diagnose the insulation abnormality of electrical equipment that can detect the presence or absence of insulation abnormality by reliably detecting the presence or absence of creeping discharge even with a weak discharge. A method and an insulation abnormality diagnosis apparatus are provided.

上記目的を達成するために、請求項1記載の電気設備の絶縁異常診断方法および請求項記載の電気設備の絶縁異常診断装置は、稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する電気設備の絶縁異常診断方法および絶縁異常診断装置であって、紫外線の累積検出回数を測定し、所定時間内の累積検出回数の傾きが所定のしきい値を超えた場合に絶縁異常個所が存在すると判断するところに特徴を有する。 In order to achieve the above object, an insulation abnormality diagnosis method for electrical equipment according to claim 1 and an insulation abnormality diagnosis device for electrical equipment according to claim 6 are accompanied by creeping discharge generated on the surface of the electrical equipment in operation. An insulation abnormality diagnosis method and an insulation abnormality diagnosis apparatus for an electrical facility that determines the presence or absence of an insulation abnormality by detecting emitted ultraviolet light, measuring the accumulated number of times of ultraviolet light detection, and measuring the accumulated number of times of detection within a predetermined time. It is characterized in that it is determined that there is an abnormality in insulation when the inclination exceeds a predetermined threshold value.

放電が発生していない場合における紫外線(すなわち外乱光による紫外線)の累積検出回数の傾きは時間の経過とともにほぼ一定であるのに対し、放電が発生している場合における紫外線の累積検出回数の傾きは変化する。請求項1および記載の構成によれば、所定時間内の紫外線の累積検出回数の傾きに変化が生じ所定のしきい値を超えた場合に、放電が発生したと判断できる。 The slope of the cumulative number of UV detections when discharge is not occurring (that is, UV light due to ambient light) is almost constant over time, whereas the slope of the cumulative number of UV detections when discharge is occurring Will change. According to the first and sixth aspects of the present invention, it can be determined that the discharge has occurred when the slope of the cumulative number of UV detections within a predetermined time changes and exceeds a predetermined threshold value.

放電の際に放射される紫外線は放電強度が弱くても検出可能であるが、同時に、外乱光などの放電以外の原因による紫外線も検出されてしまう。これに対して、請求項1および記載の構成によれば、所定時間内の紫外線の累積検出回数の傾きが所定の条件を満たすか否かに基づいて絶縁異常個所の有無を判断するので、より正確な絶縁異常個所の有無の判断ができる。 Ultraviolet rays emitted during discharge can be detected even when the discharge intensity is weak, but at the same time, ultraviolet rays caused by causes other than discharge such as disturbance light are also detected. On the other hand, according to the configuration of claims 1 and 6 , since the presence or absence of an insulation abnormality point is determined based on whether or not the slope of the cumulative number of UV detection times within a predetermined time satisfies a predetermined condition, It is possible to determine the presence or absence of an abnormal insulation location more accurately.

請求項記載の電気設備の絶縁異常診断方法および請求項記載の電気設備の絶縁異常診断装置は、紫外線を検出した時間間隔を測定し、所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔が特定の間隔範囲に集中して分布する場合に絶縁異常個所が存在すると判断するところに特徴を有する。 The insulation abnormality diagnosis method for electrical equipment according to claim 2 and the insulation abnormality diagnosis apparatus for electrical equipment according to claim 7 measure a time interval at which ultraviolet rays are detected, and specify an ultraviolet detection time interval measured within a predetermined time. It is characterized in that it is judged that there is an insulation abnormality part when it is concentrated in the interval range.

放電が発生していない場合における紫外線検出時間間隔(すなわち外乱光による紫外線の検出時間間隔)はばらつきが大きくデータが広範囲に分布するのに対し、放電が発生している場合における紫外線検出時間間隔はばらつきが小さくデータが特定の時間間隔に集中して分布する。請求項および記載の構成によれば、所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔が特定の間隔範囲に集中して分布する場合に、放電が発生したと判断できる。 The UV detection time interval when there is no discharge (that is, the UV detection time interval due to ambient light) varies widely and the data is distributed over a wide range, whereas the UV detection time interval when discharge is occurring Variation is small and data is concentrated and distributed at a specific time interval. According to the configurations of claims 2 and 7 , it can be determined that a discharge has occurred when the UV detection time intervals measured within a predetermined time are concentrated and distributed in a specific interval range.

請求項記載の電気設備の絶縁異常診断方法および請求項記載の電気設備の絶縁異常診断装置は、紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相を測定し、所定時間内に測定された紫外線検出時電圧位相が特定の位相範囲に集中して分布する場合に絶縁異常個所が存在すると判断するところに特徴を有する。 Insulation abnormality diagnosis apparatus for electrical equipment according to claim 3 of the electrical equipment according insulating abnormality diagnosis method and claim 8 measures the applied voltage phase of the electrical equipment at the time of detection of the UV was measured within a predetermined time It is characterized in that it is determined that there is an insulation abnormality location when the voltage phase at the time of UV detection is concentrated and distributed in a specific phase range.

放電が発生していない場合における紫外線検出時の印加電圧位相(すなわち外乱光による紫外線を検出した時の印加電圧位相)は0度〜360度にわたって均等に分布するのに対し、放電が発生している場合における紫外線検出時の印加電圧位相は特定の位相に集中する。請求項および記載の構成によれば、所定時間内に測定された紫外線検出時電圧位相が特定の位相範囲に集中して分布する場合に、放電が発生したと判断できる。 The applied voltage phase at the time of detecting the ultraviolet ray when no discharge has occurred (that is, the applied voltage phase when detecting the ultraviolet ray due to disturbance light) is evenly distributed from 0 to 360 degrees, whereas the discharge is generated. The applied voltage phase at the time of detecting the ultraviolet rays in the case where the light is present concentrates on a specific phase. According to the configurations of claims 3 and 8 , it can be determined that discharge has occurred when the voltage phase during UV detection measured within a predetermined time is concentrated and distributed in a specific phase range.

請求項記載の電気設備の絶縁異常診断方法および請求項記載の電気設備の絶縁異常診断装置は、紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相を測定し、所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数が所定のしきい値を超えた場合に絶縁異常個所が存在すると判断するところに特徴を有する。 The insulation abnormality diagnosis method for electrical equipment according to claim 4 and the insulation abnormality diagnosis apparatus for electrical equipment according to claim 9 measure an applied voltage phase of the electrical equipment at the time when ultraviolet rays are detected and are measured within a predetermined time. It is characterized in that it is determined that there is an insulation abnormality part when the number of voltage phases at the time of detecting a specific ultraviolet ray exceeds a predetermined threshold value.

放電が発生している場合における紫外線検出時電圧位相が特定位相である回数は、放電が発生していない場合における紫外線検出時電圧位相(すなわち外乱光による紫外線を検出した時の電圧位相)が特定位相である回数よりも多くなる。請求項および記載の構成によれば、所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数が所定のしきい値を超えた場合に、放電が発生したと判断できる。 The number of times the voltage phase during UV detection when the discharge is occurring is a specific phase is the voltage phase when UV is detected when there is no discharge (that is, the voltage phase when UV light is detected due to ambient light) More than the number of phases. According to the configurations of claims 4 and 9 , it can be determined that a discharge has occurred when the number of times of a specific UV detection voltage phase measured within a predetermined time exceeds a predetermined threshold.

請求項記載の電気設備の絶縁異常診断方法および請求項10記載の電気設備の絶縁異常診断装置は、紫外線の検出回数と、紫外線を検出した時間間隔と、紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相とを測定し、所定時間内の紫外線検出回数と、所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔と、所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数とを変量として算出したマハラノビスの距離を所定のしきい値と比較することにより絶縁異常個所の有無を判断するところに特徴を有する。 An insulation abnormality diagnosis method for electrical equipment according to claim 5 and an insulation abnormality diagnosis device for electrical equipment according to claim 10 include the number of times of detection of ultraviolet rays, the time interval at which ultraviolet rays are detected, and the electrical equipment at the time of detection of ultraviolet rays. The applied voltage phase is measured, and the number of UV detection times within a predetermined time, the UV detection time interval measured within the predetermined time, and the number of voltage phases during specific UV detection measured within the predetermined time are used as variables. It is characterized in that the presence / absence of an insulation abnormality point is determined by comparing the calculated Mahalanobis distance with a predetermined threshold value.

放電が発生している場合におけるマハラノビスの距離は比較的小さい値に分布するのに対し、放電が発生していない場合におけるマハラノビスの距離はそれよりも大きい値に分布する。請求項および10記載の構成によれば、マハラノビスの距離を所定のしきい値と比較することにより、放電の有無を判断できる。 The Mahalanobis distance when the discharge is generated is distributed to a relatively small value, whereas the Mahalanobis distance when the discharge is not generated is distributed to a larger value. According to the structure of Claim 5 and 10 , the presence or absence of discharge can be determined by comparing the Mahalanobis distance with a predetermined threshold value.

また、所定時間内の紫外線検出回数のみ、所定時間内の紫外線検出時間間隔のみ、あるいは所定時間内の紫外線検出時電圧位相の回数のみによる判定が困難な場合であっても、マハラノビスの距離に基づいて放電発生の有無を判定することができ、絶縁異常個所の存在の有無の判断精度が増大し、診断結果の信頼性が向上する。   Even if it is difficult to determine only the number of UV detection times within a predetermined time, only the UV detection time interval within a predetermined time, or only the number of voltage phases during UV detection within a predetermined time, it is based on the Mahalanobis distance. Thus, the presence / absence of the occurrence of discharge can be determined, the accuracy of determining the presence / absence of an insulation abnormality location is increased, and the reliability of the diagnosis result is improved.

本発明によれば、検出した紫外線から得られる所定時間内における各種の情報が所定の条件を満たすか否かに基づいて放電発生の有無を判断でき、微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を判断できる。   According to the present invention, it is possible to determine whether or not a discharge has occurred based on whether or not various kinds of information obtained from the detected ultraviolet rays within a predetermined time satisfy a predetermined condition, and even creeping discharge can be reliably performed. The presence or absence of insulation abnormality can be determined by detecting the presence or absence of occurrence.

(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態について図1ないし図3を参照しながら説明する。図1は、絶縁異常診断装置の構成をブロック図で示したものである。絶縁異常診断装置1は、稼働中の電気設備(変圧器)の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断(診断)するものであり、紫外線センサ2(紫外線検出手段に相当)および信号処理装置3(判断手段、測定手段、検出回数測定手段、時間間隔測定手段、電圧位相測定手段、マハラノビス距離算出手段に相当)を備えて構成されている。紫外線センサ2は、絶縁異常診断の対象である電気設備、例えば変圧器4の近傍に設置され、この変圧器4表面の絶縁異常個所において放電により発生する紫外線を検出する。紫外線センサ2は、紫外線を検出するとパルス状の電圧信号を出力する。
(First embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an insulation abnormality diagnosis apparatus. The insulation abnormality diagnosis device 1 judges (diagnosis) the presence or absence of an insulation abnormality part by detecting ultraviolet rays radiated along with the creeping discharge generated on the surface of the electrical equipment (transformer) in operation. It comprises an ultraviolet sensor 2 (corresponding to ultraviolet detection means) and a signal processing device 3 (corresponding to judgment means, measurement means, detection frequency measurement means, time interval measurement means, voltage phase measurement means, Mahalanobis distance calculation means). Yes. The ultraviolet sensor 2 is installed in the vicinity of an electrical facility that is an object of insulation abnormality diagnosis, for example, the transformer 4, and detects ultraviolet rays generated by discharge at an insulation abnormality portion on the surface of the transformer 4. The ultraviolet sensor 2 outputs a pulsed voltage signal when detecting ultraviolet rays.

信号処理装置3は、信号処理回路5とパーソナルコンピュータなどの情報処理装置6を備えて構成されている。信号処理回路5は、検出回数データ用メモリ7、電圧位相データ用メモリ8、図示しないCPUなどを備えて構成されており、この信号処理回路5には、紫外線センサ2が出力した電圧信号および変圧器4に印加されている電圧の位相信号(印加電圧位相信号)が入力されるようになっている。そして、信号処理回路5は、紫外線センサ2が出力した電圧信号の回数(パルス数)を紫外線検出回数データCiとして検出回数データ用メモリ7に記憶し、紫外線を検出した時点の変圧器4の印加電圧位相信号を紫外線検出時電圧位相データPiとして電圧位相データ用メモリ8に記憶する。   The signal processing device 3 includes a signal processing circuit 5 and an information processing device 6 such as a personal computer. The signal processing circuit 5 includes a detection frequency data memory 7, a voltage phase data memory 8, a CPU (not shown), and the like. The signal processing circuit 5 includes the voltage signal output from the ultraviolet sensor 2 and the voltage transformation. The phase signal (applied voltage phase signal) of the voltage applied to the device 4 is input. The signal processing circuit 5 stores the number (number of pulses) of the voltage signal output from the ultraviolet sensor 2 in the detection number data memory 7 as the ultraviolet detection number data Ci, and applies the transformer 4 at the time when the ultraviolet ray is detected. The voltage phase signal is stored in the voltage phase data memory 8 as the voltage phase data Pi when UV is detected.

情報処理装置6は、図示しないCPU,RAM,ROM,入出力インタフェース,それらを結ぶバス,電源装置,ハードディスク装置などを備えて構成されている。この情報処理装置6は、検出回数データ用メモリ7に記憶されている紫外線検出回数データCiおよび電圧位相データ用メモリ8に記憶されている紫外線検出時電圧位相データPiを、一定時間(後述する待機時間T1)ごとに取り込むようになっている。そして、情報処理装置6は、これら取り込んだ紫外線検出回数データCiおよび紫外線検出時電圧位相データPiを用いて、診断プログラムに従って変圧器4の絶縁異常個所の有無を診断する。   The information processing device 6 includes a CPU, a RAM, a ROM, an input / output interface, a bus connecting them, a power supply device, a hard disk device, and the like (not shown). This information processing device 6 receives the UV detection frequency data Ci stored in the detection frequency data memory 7 and the UV detection voltage phase data Pi stored in the voltage phase data memory 8 for a certain period of time (waiting described later). They are taken in every time T1). Then, the information processing device 6 diagnoses the presence or absence of an insulation abnormality portion of the transformer 4 in accordance with the diagnostic program, using the acquired ultraviolet detection number data Ci and ultraviolet detection voltage phase data Pi.

次に、上記絶縁異常診断装置1において情報処理装置6により実行される絶縁異常診断方法について説明する。
図2は、本実施形態における絶縁異常の診断手順を示すフローチャートである。まず、ステップS1では、信号処理回路5から紫外線検出回数データCiを取得する。次に、ステップS2では、累積検出回数データCsに、ステップS1にて取得した紫外線検出回数データCiを加え、新たな累積検出回数データCsとする。情報処理装置6は、所定時間として傾き算出対象時間T2が経過しない間は(ステップS3:NO)、ステップS7に移行して、待機時間T1が経過するまで待機し(S7:NO)、待機時間T1が経過すると(S7:YES)、ステップS1に戻る。
Next, an insulation abnormality diagnosis method executed by the information processing apparatus 6 in the insulation abnormality diagnosis apparatus 1 will be described.
FIG. 2 is a flowchart showing an insulation abnormality diagnosis procedure in the present embodiment. First, in step S <b> 1, ultraviolet detection frequency data Ci is acquired from the signal processing circuit 5. Next, in step S2, the ultraviolet detection frequency data Ci acquired in step S1 is added to the cumulative detection frequency data Cs to obtain new cumulative detection frequency data Cs. While the inclination calculation target time T2 does not elapse as the predetermined time (step S3: NO), the information processing apparatus 6 proceeds to step S7 and waits until the standby time T1 elapses (S7: NO). When T1 has elapsed (S7: YES), the process returns to step S1.

上記したステップS3において、傾き算出対象時間T2が経過すると(YES)、情報処理装置6は、ステップS4に移行し、累積検出回数データCsに基づいて、傾き算出対象時間T2内の累積検出回数の傾きD(累積検出回数の増加)を算出する。ステップS5では、ステップS4にて算出した累積検出回数の傾きDと所定のしきい値Dthとを比較する。傾きDがしきい値Dthを超えた場合には(S5:YES)、情報処理装置6は、絶縁異常個所が存在すると判断しステップS6の絶縁異常処理に進む。ステップS6では、例えばアラームを発したり、診断結果をファイルに記述するといった絶縁異常発生時の所定の処理をする。傾きDがしきい値Dth以下であれば(S5:NO)、ステップS7にて待機時間T1が経過するまで待機した後、ステップS1に戻る。   In step S3 described above, when the inclination calculation target time T2 has elapsed (YES), the information processing apparatus 6 proceeds to step S4, and based on the cumulative detection count data Cs, the cumulative detection count within the tilt calculation target time T2 is set. A slope D (increase in the cumulative number of detections) is calculated. In step S5, the slope D of the cumulative number of detections calculated in step S4 is compared with a predetermined threshold value Dth. When the slope D exceeds the threshold value Dth (S5: YES), the information processing apparatus 6 determines that there is an insulation abnormality part, and proceeds to the insulation abnormality process in step S6. In step S6, for example, a predetermined process is performed when an insulation abnormality occurs, such as generating an alarm or describing a diagnosis result in a file. If the slope D is equal to or less than the threshold value Dth (S5: NO), the process waits until the standby time T1 elapses in step S7, and then returns to step S1.

図3(a)は、変圧器4に沿面放電が発生していない場合(未放電時)における紫外線(すなわち外乱光による紫外線)の累積検出回数の例を示し、図3(b)は、微弱な沿面放電が発生している場合(放電時)における紫外線の累積検出回数の例を示す。この場合、上記ステップS7の待機時間T1を10秒、ステップS3の傾き算出対象時間T2を60分、全体の紫外線測定時間を120分とした。   FIG. 3A shows an example of the cumulative number of times of detection of ultraviolet rays (that is, ultraviolet rays due to disturbance light) when no creeping discharge occurs in the transformer 4 (when no discharge occurs), and FIG. An example of the cumulative number of UV detection times when a creeping discharge has occurred (during discharge) is shown. In this case, the standby time T1 in step S7 is 10 seconds, the slope calculation target time T2 in step S3 is 60 minutes, and the total ultraviolet measurement time is 120 minutes.

図3(a)では、測定開始から60分間の累積検出回数の傾きDは8回/時であり、60分から120分までの60分間の累積検出回数の傾きDは13回/時である。一方、図3(b)では、測定開始から60分間の累積検出回数の傾きDは13回/時であり、60分から120分までの60分間の累積検出回数の傾きDは63回/時に変化する。このように、外乱光による紫外線の累積検出回数の傾きDがほぼ一定であるのに対し、沿面放電が発生するとその傾きDが変化する。従って、しきい値Dthを例えば20回/時とすることにより、放電の有無を判定できる。   In FIG. 3A, the slope D of the cumulative detection count for 60 minutes from the start of measurement is 8 times / hour, and the slope D of the cumulative detection count for 60 minutes from 60 minutes to 120 minutes is 13 times / hour. On the other hand, in FIG. 3B, the slope D of the cumulative detection frequency for 60 minutes from the start of measurement is 13 times / hour, and the slope D of the cumulative detection frequency for 60 minutes from 60 minutes to 120 minutes changes at 63 times / hour. To do. Thus, while the slope D of the cumulative number of UV detections due to ambient light is substantially constant, the slope D changes when creeping discharge occurs. Therefore, the presence or absence of discharge can be determined by setting the threshold value Dth to 20 times / hour, for example.

以上説明したように本実施形態では、紫外線の累積検出回数を測定し、所定時間(傾き算出対象時間T2)内の累積検出回数の傾きDが所定のしきい値Dthを超えた場合に放電発生と判定するので、外乱光と同程度の強度である微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を高い信頼性で判断することができる。   As described above, in the present embodiment, the cumulative number of detection times of ultraviolet rays is measured, and discharge occurs when the slope D of the cumulative number of detections within a predetermined time (inclination calculation target time T2) exceeds a predetermined threshold value Dth. Therefore, it is possible to reliably detect the presence or absence of creeping discharge and determine the presence or absence of an insulation abnormality with high reliability even with a weak discharge having the same intensity as ambient light.

(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について図4および図5を参照しながら説明する。なお、本実施形態および後述する第3ないし第6の実施形態において、絶縁異常診断装置の構成は図1に示したものと同様である。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the present embodiment and third to sixth embodiments described later, the configuration of the insulation abnormality diagnosis device is the same as that shown in FIG.

図4は、本実施形態における絶縁異常の診断手順を示すフローチャートである。まず、ステップS21では、信号処理回路5から紫外線検出回数データCiを取得する。次に、ステップS22では、紫外線検出回数を保持する配列CNTに、ステップS21にて取得した紫外線検出回数データCiを格納する。情報処理装置6は、所定時間として検出回数和の算出対象時間T3が経過しない間は(ステップS23:NO)、ステップS27に移行して、待機時間T1が経過するまで待機し(S27:NO)、待機時間T1が経過すると(S27:YES)、ステップS21に戻る。   FIG. 4 is a flowchart showing an insulation abnormality diagnosis procedure in the present embodiment. First, in step S <b> 21, ultraviolet detection frequency data Ci is acquired from the signal processing circuit 5. Next, in step S22, the ultraviolet detection number data Ci acquired in step S21 is stored in the array CNT holding the number of ultraviolet detections. The information processing device 6 proceeds to step S27 and waits until the standby time T1 elapses (S27: NO) while the calculation target time T3 of the detection count sum does not elapse as the predetermined time (step S23: NO). When the standby time T1 has elapsed (S27: YES), the process returns to step S21.

上記したステップS23において、検出回数和の算出対象時間T3が経過すると(YES)、情報処理装置6は、ステップS24に移行し、配列CNTの要素の和を紫外線検出回数CSとして算出する。ステップS25では、ステップS24にて算出した紫外線検出回数CSと予め定めてある所定のしきい値CSthとを比較する。紫外線検出回数CSがしきい値Cthを超えた場合には(S25:YES)、絶縁異常個所が存在すると判断しステップS26の絶縁異常処理に進む。紫外線検出回数CSがしきい値Cth以下であれば(S25:NO)、ステップS27にて待機時間T1が経過するまで待機した後、ステップS21に戻る。   In step S23 described above, when the detection time sum calculation target time T3 has elapsed (YES), the information processing apparatus 6 proceeds to step S24, and calculates the sum of the elements of the array CNT as the ultraviolet detection number CS. In step S25, the number of UV detection times CS calculated in step S24 is compared with a predetermined threshold value CSth. When the number of UV detection times CS exceeds the threshold value Cth (S25: YES), it is determined that there is an insulation abnormality part, and the process proceeds to an insulation abnormality process in step S26. If the number of UV detection times CS is equal to or less than the threshold value Cth (S25: NO), after waiting in step S27 until the waiting time T1 has elapsed, the process returns to step S21.

図5は、変圧器4に沿面放電が発生していない場合(未放電時)と沿面放電が発生している場合(放電時)における10分間の紫外線検出回数CSの度数分布の例を示す。この場合、上記ステップS27の待機時間T1を10秒、ステップS23の検出回数和の算出対象時間T3を10分、全体の紫外線測定時間は120分とした。未放電時の紫外線検出回数CSは0〜9回に分布し、10回を超えることはない。一方、放電時の紫外線検出回数CSは0〜46回に分布し、10回以上の頻度が高い。これは、放電発生時には外乱光による紫外線の検出回数に放電光による紫外線の検出回数が加わるためである。このように、検出回数和の算出対象時間T3の紫外線検出回数は未放電時よりも放電時の方が多くなるので、しきい値CSthを10回とすることにより、放電の有無を判定できる。   FIG. 5 shows an example of the frequency distribution of the number of UV detections CS for 10 minutes when no creeping discharge occurs in the transformer 4 (when not discharging) and when creeping discharge occurs (when discharging). In this case, the waiting time T1 in step S27 was 10 seconds, the calculation target time T3 of the sum of detection times in step S23 was 10 minutes, and the total ultraviolet measurement time was 120 minutes. The number of UV detection times CS when not discharged is distributed from 0 to 9 times and does not exceed 10 times. On the other hand, the number of UV detection times CS at the time of discharge is distributed from 0 to 46 times, and is frequently 10 times or more. This is because the number of times of detection of ultraviolet rays by discharge light is added to the number of times of detection of ultraviolet rays by disturbance light when a discharge occurs. As described above, the number of times of UV detection during the calculation target time T3 of the sum of detection times is larger during discharge than during non-discharge. Therefore, the presence or absence of discharge can be determined by setting the threshold value CSth to ten.

以上説明したように本実施形態では、所定時間(検出回数和の算出対象時間T3)内の紫外線検出回数CSが所定のしきい値CSthを超えた場合に放電発生と判定するので、外乱光と同程度の強度である微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を高い信頼性で判断することができる。   As described above, in this embodiment, it is determined that the discharge has occurred when the number of UV detection times CS within a predetermined time (the calculation target time T3 of the detection frequency sum) exceeds a predetermined threshold value CSth. Even with a weak discharge having the same strength, it is possible to reliably detect the presence or absence of creeping discharge and determine the presence or absence of an insulation abnormality with high reliability.

絶縁物表面の汚損や湿気の程度に依存する沿面放電の回数を、ノイズ環境の良くない稼動中の電気設備にて厳密に測定することは技術的に困難である。
本実施形態では、放電回数ではなく、放電回数と相関のある紫外線検出回数CSに基づいて絶縁異常個所の有無を判断している。すなわち、所定時間内の紫外線検出回数が所定の条件を満たすか否かに基づいて絶縁異常個所の有無を判断するので、実際の放電回数を測定できなくても、より正確に絶縁異常個所の有無を判断できる。
It is technically difficult to accurately measure the number of creeping discharges depending on the degree of soiling and moisture on the surface of an insulator in an operating electrical facility with a poor noise environment.
In the present embodiment, the presence / absence of an abnormal insulation point is determined based on the number of UV detection times CS correlated with the number of discharges, not the number of discharges. In other words, since the presence or absence of an insulation abnormality location is determined based on whether or not the number of UV detections within a predetermined time satisfies a predetermined condition, even if the actual number of discharges cannot be measured, the presence or absence of an insulation abnormality location is more accurately detected. Can be judged.

(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態について図6ないし図8を参照しながら説明する。
図6は、本実施形態における絶縁異常の診断手順を示すフローチャートである。まず、ステップS31では、信号処理回路5から紫外線検出回数データCiを取得する。次に、ステップS32では、紫外線検出回数を保持する配列CNTに、ステップS31にて取得した紫外線検出回数データCiを格納する。情報処理装置6は、前回の尖り度Kの算出(ステップS35参照)から所定時間T4が経過しない間は(ステップS33:NO)、ステップS38に移行して、待機時間T1が経過するまで待機し(S38:NO)、待機時間T1が経過すると(S38:YES)、ステップS31に戻る。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 6 is a flowchart showing an insulation abnormality diagnosis procedure in the present embodiment. First, in step S31, ultraviolet detection frequency data Ci is acquired from the signal processing circuit 5. Next, in step S32, the ultraviolet detection number data Ci acquired in step S31 is stored in the array CNT holding the number of ultraviolet detections. While the predetermined time T4 has not elapsed since the previous calculation of the kurtosis K (see step S35) (step S33: NO), the information processing apparatus 6 proceeds to step S38 and waits until the standby time T1 has elapsed. (S38: NO) When the standby time T1 has elapsed (S38: YES), the process returns to step S31.

上記したステップS33において、所定時間T4が経過すると(YES)、情報処理装置6は、ステップS34に移行し、配列CNTの要素を用いて紫外線検出時間間隔を算出し、この紫外線検出時間間隔を保持する配列INTを生成する。   In step S33 described above, when the predetermined time T4 has elapsed (YES), the information processing apparatus 6 proceeds to step S34, calculates the ultraviolet detection time interval using the elements of the array CNT, and holds this ultraviolet detection time interval. An array INT is generated.

ここで、配列INTの生成方法について図7を参照しながら説明する。配列CNTに図7に示すようにデータが格納されている場合、CNT[j+0]、CNT[j+3]、CNT[j+8]にて紫外線を少なくとも1回検出している。そこで、これら紫外線を検出している配列CNTのうち隣り合うもの(この場合、CNT[j+0]とCNT[j+3]、CNT[j+3]とCNT[j+8])のインデックスの差を算出すると、
(j+3)−(j+0)=3
(j+8)−(j+3)=5
となる。配列CNTのインデックスは待機時間T1ごとに1増加するので、インデックスの差が3であればINT[0]に3T1を格納し、インデックスの差が5であればINT[1]に5T1を格納する。この手順をインデックス[j+0]から[j+T4/T1]まで繰り返す。
Here, a method of generating the array INT will be described with reference to FIG. When data is stored in the array CNT as shown in FIG. 7, ultraviolet rays are detected at least once by CNT [j + 0], CNT [j + 3], and CNT [j + 8]. Therefore, when calculating the difference between the indexes of adjacent arrays (in this case, CNT [j + 0] and CNT [j + 3], CNT [j + 3] and CNT [j + 8]) among the arrays CNT that detect these ultraviolet rays,
(J + 3)-(j + 0) = 3
(J + 8)-(j + 3) = 5
It becomes. Since the index of the array CNT increases by 1 for each waiting time T1, if the index difference is 3, 3T1 is stored in INT [0], and if the index difference is 5, 5T1 is stored in INT [1]. . This procedure is repeated from index [j + 0] to [j + T4 / T1].

ステップS35では、生成された配列INTの要素を用いて尖り度Kを算出する。この場合、尖り度Kは、配列INT(INT[0],INT[1],・・・,INT[n−1])の平均をm、標準偏差をσとして、次の(1)式により算出する。

Figure 0005022746
In step S35, the kurtosis K is calculated using the elements of the generated array INT. In this case, the kurtosis K is expressed by the following equation (1), where m is the average of the array INT (INT [0], INT [1],..., INT [n−1]), and σ is the standard deviation. calculate.
Figure 0005022746

尖り度Kはデータが平均の回りに集中している度合いを示す尺度であり、データが集中しているほど、その値は大きくなる。ステップS36では、算出した尖り度Kと所定のしきい値Kthとを比較する。尖り度Kがしきい値Kthを超えた場合には(S36:YES)、情報処理装置6は、絶縁異常個所が存在すると判断しステップS37の絶縁異常処理に進む。尖り度Kがしきい値Kth以下であれば(S36:NO)、ステップS38にて待機時間T1が経過するまで待機した後、ステップS31に戻る。   The kurtosis degree K is a scale indicating the degree of concentration of data around the average, and the value increases as the data concentrates. In step S36, the calculated kurtosis K is compared with a predetermined threshold value Kth. When the kurtosis K exceeds the threshold value Kth (S36: YES), the information processing apparatus 6 determines that there is an insulation abnormality part, and proceeds to insulation abnormality processing in step S37. If the kurtosis K is equal to or less than the threshold value Kth (S36: NO), after waiting in step S38 until the waiting time T1 elapses, the process returns to step S31.

図8は、変圧器4に沿面放電が発生していない場合(未放電時)と沿面放電が発生している場合(放電時)における紫外線検出時間間隔の度数分布の例を示す。この場合、上記ステップS38の待機時間T1を10秒、ステップS33の所定時間T4を120分とした。放電が発生すると紫外線の検出時間間隔が短くなるので、放電時の紫外線検出時間間隔データは、未放電時に比べ短い時間間隔範囲(図8では左端側の範囲)に集中する。また、図8に示すデータに基づいて検出時間間隔データの尖り度Kを算出すると、放電時の尖り度Kは14.2となり、未放電時の尖り度Kは5.3となる。従って、しきい値Kthを10と設定することにより、放電の有無を判定できる。   FIG. 8 shows an example of the frequency distribution of the UV detection time interval when no creeping discharge occurs in the transformer 4 (when not discharging) and when creeping discharge occurs (when discharging). In this case, the waiting time T1 in step S38 is 10 seconds, and the predetermined time T4 in step S33 is 120 minutes. When the discharge occurs, the ultraviolet detection time interval is shortened, and therefore, the ultraviolet detection time interval data at the time of discharge is concentrated in a shorter time interval range (a range on the left end side in FIG. 8) than at the time of non-discharge. Further, when the kurtosis K of the detection time interval data is calculated based on the data shown in FIG. 8, the kurtosis K at the time of discharge is 14.2 and the kurtosis K at the time of non-discharge is 5.3. Therefore, by setting the threshold value Kth to 10, the presence or absence of discharge can be determined.

以上説明したように本実施形態では、紫外線を検出した時間間隔(配列INT)を測定し、所定時間T4内の紫外線検出時間間隔が特定の間隔範囲に集中して分布する場合に放電発生と判定するので、外乱光と同程度の強度である微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を高い信頼性で判断することができる。   As described above, in the present embodiment, the time intervals (array INT) at which ultraviolet rays are detected are measured, and it is determined that a discharge has occurred when the ultraviolet ray detection time intervals within the predetermined time T4 are concentrated in a specific interval range. Therefore, even with a weak discharge having the same intensity as that of disturbance light, it is possible to reliably detect the presence or absence of creeping discharge and determine the presence or absence of an insulation abnormality with high reliability.

上記第2の実施形態において説明したように、厳密な放電回数の測定は困難である。本実施形態では、放電回数ではなく、放電回数と相関のある紫外線検出時間間隔に基づいて絶縁異常個所の有無を判断している。すなわち、所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔が所定の条件を満たすか否かに基づいて絶縁異常個所の有無を判断するので、実際の放電回数を測定できなくても、より正確に絶縁異常個所の有無を判断できる。
なお、本実施形態では、データが集中する指標として尖り度Kを用いた例を示したが、例えば分散のようなデータのばらつきの程度を示す指標を用いてもよい。
As described in the second embodiment, it is difficult to measure the exact number of discharges. In the present embodiment, the presence / absence of an abnormal insulation portion is determined based on the UV detection time interval correlated with the number of discharges, not the number of discharges. In other words, since the presence or absence of abnormal insulation is determined based on whether or not the UV detection time interval measured within a predetermined time satisfies a predetermined condition, insulation can be performed more accurately even if the actual number of discharges cannot be measured. The presence or absence of abnormal parts can be determined.
In the present embodiment, an example in which the kurtosis K is used as an index for concentrating data is shown, but an index indicating the degree of data variation such as variance may be used.

(第4の実施形態)
次に、本発明の第4の実施形態について図9および図10を参照しながら説明する。
図9は、本実施形態における絶縁異常の診断手順を示すフローチャートである。まず、ステップS41では、信号処理回路5から紫外線検出時電圧位相データPiを取得する。次に、ステップS42では、ステップS41にて取得した紫外線検出時電圧位相データPiを、検出時位相を保持する配列PHSに格納する。情報処理装置6は、前回の歪み度Sの算出(ステップS44参照)から所定時間T5が経過しない間は(ステップS43:NO)、ステップS47に移行して、待機時間T1が経過するまで待機し(S47:NO)、待機時間T1が経過すると(S47:YES)、ステップS41に戻る。
(Fourth embodiment)
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure for diagnosing insulation abnormality in the present embodiment. First, in step S41, the voltage phase data Pi at the time of ultraviolet detection is acquired from the signal processing circuit 5. Next, in step S42, the ultraviolet detection voltage phase data Pi acquired in step S41 is stored in the array PHS that holds the detection phase. As long as the predetermined time T5 has not elapsed since the previous calculation of the degree of distortion S (see step S44) (step S43: NO), the information processing apparatus 6 proceeds to step S47 and waits until the standby time T1 has elapsed. (S47: NO) When the standby time T1 has elapsed (S47: YES), the process returns to step S41.

上記したステップS43において、所定時間T5が経過すると(YES)、情報処理装置6は、ステップS44に移行し、配列PHSの要素を用いて歪み度Sを算出する。この場合、歪み度Sは、配列PHS(PHS[0],PHS[1],・・・・,PHS[n−1])の平均をm、標準偏差をσとして、次の(2)式により算出する。

Figure 0005022746
In step S43 described above, when the predetermined time T5 has elapsed (YES), the information processing apparatus 6 proceeds to step S44, and calculates the degree of distortion S using the elements of the array PHS. In this case, the degree of distortion S is expressed by the following equation (2), where m is the average of the array PHS (PHS [0], PHS [1],..., PHS [n−1]), and σ is the standard deviation. Calculated by
Figure 0005022746

歪み度Sはデータが平均の回りに分布していない度合いを示す尺度であり、データが均等に分布しているほど、その値は小さくなる。ステップS45では、算出した歪み度Sと所定のしきい値Sthとを比較する。歪み度Sがしきい値Sthを超えた場合には(S45:YES)、情報処理装置6は、絶縁異常個所が存在すると判断しステップS46の絶縁異常処理に進む。歪み度Sがしきい値Sth以下であれば(S45:NO)、ステップS47にて待機時間T1が経過するまで待機した後、ステップS41に戻る。   The degree of distortion S is a scale indicating the degree to which the data is not distributed around the average, and the value becomes smaller as the data is evenly distributed. In step S45, the calculated degree of distortion S is compared with a predetermined threshold value Sth. If the degree of distortion S exceeds the threshold value Sth (S45: YES), the information processing apparatus 6 determines that there is an insulation abnormality part and proceeds to the insulation abnormality process in step S46. If the degree of distortion S is less than or equal to the threshold value Sth (S45: NO), the process waits until the waiting time T1 elapses in step S47, and then returns to step S41.

図10(a)は、変圧器4に沿面放電が発生していない場合(未放電時)における紫外線検出時電圧位相の度数分布の例を示し、図10(b)は、沿面放電が発生している場合(放電時)における紫外線検出時電圧位相の度数分布の例を示す。この場合、上記のステップS47の待機時間T1を10秒、ステップS43の所定時間T5を120分とした。一般に沿面放電は電気設備(変圧器4)の印加電圧がピーク付近となるときに発生することが知られており、紫外線検出時電圧位相は90度と270度付近に集中して分布する。一方、未放電時の紫外線検出時電圧位相(すなわち外乱光による紫外線を検出した時点の印加電圧位相)は、0度から360度にわたって均等に分布する。図10(a)に示すデータ(未放電時のデータ)に基づいて歪み度Sを算出すると0.04となり、図10(b)に示すデータ(放電時のデータ)に基づいて歪み度Sを算出すると0.46となる。従って、しきい値Sthを0.1とすることにより、放電の有無を判定できる。   FIG. 10 (a) shows an example of the frequency distribution of the voltage phase at the time of UV detection when creeping discharge is not generated in the transformer 4 (when not discharged), and FIG. 10 (b) shows that creeping discharge occurs. The example of the frequency distribution of the voltage phase at the time of ultraviolet detection in the case of (when discharging) is shown. In this case, the waiting time T1 in step S47 is 10 seconds, and the predetermined time T5 in step S43 is 120 minutes. In general, it is known that creeping discharge occurs when the applied voltage of the electrical equipment (transformer 4) is in the vicinity of the peak, and the voltage phase at the time of detecting the ultraviolet rays is concentrated around 90 degrees and 270 degrees. On the other hand, the voltage phase at the time of UV detection at the time of non-discharge (that is, the applied voltage phase at the time of detecting UV by disturbance light) is evenly distributed from 0 degrees to 360 degrees. If the degree of distortion S is calculated based on the data shown in FIG. 10A (data at the time of non-discharge), it becomes 0.04, and the degree of distortion S is calculated based on the data shown in FIG. 10B (data at the time of discharge). When calculated, it becomes 0.46. Therefore, the presence or absence of discharge can be determined by setting the threshold value Sth to 0.1.

以上説明したように本実施形態では、紫外線を検出した時点の変圧器4の印加電圧位相を測定し、所定時間T5内の紫外線検出時電圧位相が特定の位相範囲(90度と270度付近)に集中して分布する場合に絶縁異常個所が存在すると判断するので、外乱光と同程度の強度である微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を高い信頼性で判断することができる。   As described above, in the present embodiment, the voltage phase applied to the transformer 4 at the time of detecting ultraviolet rays is measured, and the voltage phase at the time of detecting ultraviolet rays within a predetermined time T5 is within a specific phase range (near 90 degrees and 270 degrees). It is judged that there is an insulation abnormality location when it is concentrated in the area, so even if it is a weak discharge with the same intensity as the disturbance light, the presence or absence of the insulation abnormality location is detected reliably. Can be determined with high reliability.

(第5の実施形態)
次に、本発明の第5の実施形態について図11および図12を参照しながら説明する。
図11は、本実施形態における絶縁異常の診断手順を示すフローチャートである。まず、ステップS51では、信号処理回路5から紫外線検出時電圧位相データPiを取得する。次に、ステップS52では、ステップS51にて取得した紫外線検出時電圧位相データPiを検出時電圧位相を保持する配列PHSに格納する。情報処理装置6は、前回の特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPの算出(ステップS54参照)から所定時間T6が経過しない間は(ステップS53:NO)、ステップS57に移行して、待機時間T1が経過するまで待機し(S57:NO)、待機時間T1が経過すると(S57:YES)、ステップS51に戻る。
(Fifth embodiment)
Next, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 11 is a flowchart showing a procedure for diagnosing insulation abnormality in the present embodiment. First, in step S51, the UV detection voltage phase data Pi is acquired from the signal processing circuit 5. Next, in step S52, the ultraviolet detection voltage phase data Pi acquired in step S51 is stored in the array PHS that holds the detection voltage phase. While the predetermined time T6 has not elapsed (step S53: NO) from the calculation of the number of times CP of the specific UV detection voltage phase (see step S54) last time (step S53: NO), the information processing apparatus 6 proceeds to step S57 and waits for Wait until T1 has elapsed (S57: NO), and when the standby time T1 has elapsed (S57: YES), the process returns to step S51.

上記したステップS53において、前回の特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPの算出から所定時間T6が経過すると(YES)、情報処理装置6は、ステップS54に移行し、配列PHSの要素が電圧ピーク付近(すなわち90度あるいは270度付近)であるものの個数を特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPとして算出(カウント)する。算出された特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPは、所定時間T6内に印加電圧のピーク(振幅が最大となるときの位相)付近において紫外線を検出した回数(電圧ピーク付近における紫外線検出回数)を示す。ステップS55では、算出した特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPと所定のしきい値CPthとを比較する。特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPがしきい値CPthを超えた場合には(S55:YES)、絶縁異常個所が存在すると判断しステップS56の絶縁異常処理に進む。特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPがしきい値CPth以下であれば(S55:NO)、絶縁異常個所が存在しないと判断して、ステップS57にて待機時間T1が経過するまで待機した後、ステップS51に戻る。   In step S53 described above, when the predetermined time T6 has elapsed from the previous calculation of the specific UV detection voltage phase count CP (YES), the information processing apparatus 6 proceeds to step S54, and the elements of the array PHS are voltage peaks. The number of objects in the vicinity (that is, near 90 degrees or 270 degrees) is calculated (counted) as the frequency CP of the specific UV detection voltage phase. The calculated number UV of the voltage phase at the time of UV detection is the number of times UV is detected near the peak of the applied voltage (phase when the amplitude is maximum) within the predetermined time T6 (the number of UV detections near the voltage peak). Indicates. In step S55, the calculated number of times of UV detection voltage phase CP is compared with a predetermined threshold value CPth. If the number of times UV of the specific UV detection voltage phase exceeds the threshold value CPth (S55: YES), it is determined that there is an insulation abnormality part, and the process proceeds to the insulation abnormality process of step S56. If the number CP of the voltage phase at the time of detecting the specific ultraviolet ray is equal to or less than the threshold value CPth (S55: NO), it is determined that there is no insulation abnormality, and after waiting until the standby time T1 elapses in step S57. Return to step S51.

図12は、変圧器4に沿面放電が発生していない場合(未放電時)と沿面放電が発生している場合(放電時)において、印加電圧ピーク付近における紫外線を検出した回数、すなわち特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPの度数分布の例を示す。この場合、待機時間T1を10秒、所定時間T5を10分とした。印加電圧ピーク付近における紫外線検出回数は、未放電時には4回以下に集中して分布し、放電時には5回以上にも分布する。従って、しきい値CPthを5回と設定することにより、放電の有無を判定できる。   FIG. 12 shows the number of times that ultraviolet rays are detected in the vicinity of the applied voltage peak when the creeping discharge is not generated in the transformer 4 (at the time of non-discharge) and when the creeping discharge is generated (at the time of discharge). An example of the frequency distribution of the number of times CP of the voltage phase at the time of UV detection is shown. In this case, the waiting time T1 was 10 seconds, and the predetermined time T5 was 10 minutes. The number of UV detection times near the applied voltage peak is concentrated to 4 times or less when not discharged, and 5 times or more when discharged. Therefore, the presence or absence of discharge can be determined by setting the threshold value CPth to 5 times.

以上説明したように本実施形態では、紫外線を検出した時点の変圧器4の印加電圧位相を測定し、所定時間T6内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相(90度あるいは270度付近)の回数CPが所定のしきい値CPthを超えた場合に絶縁異常個所が存在すると判定するので、外乱光と同程度の強度である微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を高い信頼性で判断することができる。   As described above, in the present embodiment, the voltage phase applied to the transformer 4 at the time when ultraviolet rays are detected is measured, and the specific ultraviolet detection voltage phase (90 degrees or around 270 degrees) measured within a predetermined time T6. When the number of times CP exceeds a predetermined threshold value CPth, it is determined that there is an insulation abnormality, so it is possible to reliably detect the occurrence of creeping discharge even with a weak discharge having the same intensity as ambient light. Thus, the presence or absence of an abnormal insulation point can be determined with high reliability.

(第6の実施形態)
次に、本発明の第6の実施形態について図13ないし図16を参照しながら説明する。
図13は、本実施形態における絶縁異常の診断手順を示すフローチャートである。まず、ステップS61にて、信号処理回路5から紫外線検出回数データCiを取得し、ステップS62にて、取得した紫外線検出回数データCiを紫外線検出回数を保持する配列CNTに格納する。次に、ステップS63にて、紫外線検出時電圧位相データPiを取得し、ステップS64にて、取得した紫外線検出時電圧位相データPiを紫外線検出時電圧位相を保持する配列PHSに格納する。情報処理装置6は、所定時間T7が経過しない間は(ステップS65:NO)、ステップS72に移行して、待機時間T1が経過するまで待機し(S72:NO)、待機時間T1が経過すると(S72:YES)、ステップS61に戻る。
(Sixth embodiment)
Next, a sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 13 is a flowchart showing a procedure for diagnosing insulation abnormality in the present embodiment. First, in step S61, ultraviolet detection number data Ci is acquired from the signal processing circuit 5, and in step S62, the acquired ultraviolet detection number data Ci is stored in an array CNT that holds the number of ultraviolet detections. Next, in step S63, the ultraviolet detection voltage phase data Pi is acquired, and in step S64, the acquired ultraviolet detection voltage phase data Pi is stored in the array PHS that holds the ultraviolet detection voltage phase. While the predetermined time T7 does not elapse (step S65: NO), the information processing apparatus 6 proceeds to step S72 and waits until the standby time T1 elapses (S72: NO), and when the standby time T1 elapses ( (S72: YES), the process returns to step S61.

上記したステップS65において、所定時間T7が経過すると(YES)、情報処理装置6は、ステップS66にて配列CNTの要素の和すなわち紫外線検出回数CSを算出する。ステップS67では、配列CNTから紫外線検出時間間隔を求め(図7参照)、その平均値IMを算出する。ステップS68では、配列PHSの中で要素が電圧ピーク付近であるものの個数、すなわち特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPをカウントして求める。ステップS69では、所定時間T7内の紫外線検出回数CSと所定時間T7内に測定された紫外線検出時間間隔の平均値IMと所定時間T7内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPとからマハラノビスの距離MDを算出し、ステップS70に移行して、算出したマハラノビスの距離MDと所定のしきい値MDthとを比較する。マハラノビスの距離MDがしきい値MDthより小さければ(S70:YES)、絶縁異常個所が存在すると判断しステップS71の絶縁異常処理に進む。マハラノビスの距離MDがしきい値MDth以上である場合には(S70:NO)、絶縁異常個所が存在しないと判断して、ステップS72にて待機時間T1が経過するまで待機した後、ステップS61に戻る。   In step S65 described above, when the predetermined time T7 has elapsed (YES), the information processing apparatus 6 calculates the sum of elements of the array CNT, that is, the number of UV detection times CS in step S66. In step S67, an ultraviolet detection time interval is obtained from the array CNT (see FIG. 7), and an average value IM is calculated. In step S68, the number of elements in the array PHS that have a voltage peak vicinity, that is, the number CP of the specific UV detection voltage phase is counted. In step S69, the number of UV detection times CS within the predetermined time T7, the average value IM of the UV detection time intervals measured within the predetermined time T7, and the number CP of the specific UV detection voltage phase measured within the predetermined time T7. , The Mahalanobis distance MD is calculated, and the process proceeds to step S70 to compare the calculated Mahalanobis distance MD with a predetermined threshold value MDth. If the Mahalanobis distance MD is smaller than the threshold value MDth (S70: YES), it is determined that there is an insulation abnormality part, and the process proceeds to an insulation abnormality process in step S71. If the Mahalanobis distance MD is greater than or equal to the threshold value MDth (S70: NO), it is determined that there is no insulation abnormality, and the process waits until the standby time T1 elapses in step S72. Return.

ここで、マハラノビスの距離について説明する。予想や診断のためのパターン認識に用いる品質工学の手法の一つであるMT法(マハラノビス・タグチ法)において、多変量で記述されるある状態を基準にして、この基準データ群にどれだけ似ているかを、変量間の相関も考慮して表す尺度をマハラノビスの距離という。本実施形態では、放電が発生している状態において、所定時間T7内の紫外線検出回数CSと所定時間T7内に測定された紫外線検出時間間隔の平均値IMと所定時間T7内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPとを算出し、これらを変量としたデータの集合を基準データ群とする。   Here, the Mahalanobis distance will be described. In MT method (Mahalanobis-Taguchi method), which is one of the quality engineering methods used for pattern recognition for prediction and diagnosis, how similar to this reference data group is based on a certain state described in multivariate. A measure that expresses whether or not it takes into account the correlation between variables is called the Mahalanobis distance. In the present embodiment, the number of UV detection times CS within a predetermined time T7, the average value IM of the UV detection time intervals measured within the predetermined time T7, and the specific measurement measured within the predetermined time T7 in a state where discharge is occurring. The number of times CP of the voltage phase during UV detection is calculated, and a set of data with these values as variables is used as a reference data group.

基準データ群を用いてマハラノビスの距離を算出する手順について説明する。
図14は、所定時間T7内に算出(測定)された紫外線検出回数CSと紫外線検出時間間隔の平均値IMと特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPとをそれぞれ変量1、変量2、変量3とした場合の基準データ群を示している。ここで、準備したn個の基準データについて、変量1〜3の平均m1〜m3と標準偏差σ1〜σ3を算出する。
A procedure for calculating the Mahalanobis distance using the reference data group will be described.
FIG. 14 shows the variable 1, variable 2, and variable 3 as the number of UV detections CS, the average value IM of UV detection time intervals, and the number CP of specific UV detection voltage phases calculated (measured) within a predetermined time T7, respectively. A reference data group is shown. Here, averages m1 to m3 of variables 1 to 3 and standard deviations σ1 to σ3 are calculated for the prepared n pieces of reference data.

続いて、n個の基準データの各要素yi1、yi2、yi3(i=1、2、…、n)について、平均m1〜m3と標準偏差σ1〜σ3を用いて以下の(3)式により正規化する。図15は、正規化された各要素Yi1、Yi2、Yi3(i=1、2、…、n)による基準データ群を示している。

Figure 0005022746
Subsequently, each element yi1, yi2, yi3 (i = 1, 2,..., N) of the n reference data is normalized by the following equation (3) using averages m1 to m3 and standard deviations σ1 to σ3. Turn into. FIG. 15 shows a reference data group with normalized elements Yi1, Yi2, Yi3 (i = 1, 2,..., N).
Figure 0005022746

図15に示す正規化された変量から相関係数を算出し、式(4)に示す相関係数行列Rを作成する。

Figure 0005022746
A correlation coefficient is calculated from the normalized variables shown in FIG. 15, and a correlation coefficient matrix R shown in Expression (4) is created.
Figure 0005022746

ここでは変量が3個であるので、相関係数行列Rは3×3の行列となる。式(5)は、相関係数行列Rの要素rpq(=rqp)を導出するための式である。   Here, since there are three variables, the correlation coefficient matrix R is a 3 × 3 matrix. Expression (5) is an expression for deriving the element rpq (= rqp) of the correlation coefficient matrix R.

続いて、式(6)に示す相関係数行列Rの逆行列R−1を算出する。

Figure 0005022746
Subsequently, an inverse matrix R −1 of the correlation coefficient matrix R shown in Expression (6) is calculated.
Figure 0005022746

式(7)は、相関係数行列Rの行列式|R|を示している。マハラノビスの距離MDは、変量数(ここでは3)と、ある正規化した紫外線検出回数CS、紫外線検出時間間隔の平均値IMおよび特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPのデータと、逆行列R−1を用いて以下の(8)式のように算出される。

Figure 0005022746
Expression (7) represents the determinant | R | of the correlation coefficient matrix R. The Mahalanobis distance MD includes a variable number (here, 3), a certain normalized UV detection count CS, UV detection time interval average value IM, specific UV detection voltage phase count CP data, and inverse matrix R. -1 is used to calculate the following equation (8).
Figure 0005022746

算出されたマハラノビスの距離MDが小さいほど、基準データ群に近いことを意味し、放電が発生していると判定できる。   As the calculated Mahalanobis distance MD is smaller, it means that it is closer to the reference data group, and it can be determined that discharge has occurred.

図16は、変圧器4に沿面放電が発生していない場合(未放電時)と沿面放電が発生している場合(放電時)における基準データ群(紫外線検出回数CSと紫外線検出時間間隔の平均値IMと特定の紫外線検出時電圧位相の回数CP)からマハラノビスの距離MDを算出した例である。この場合、待機時間T1を10秒、所定時間T7を10分とした。放電時のマハラノビスの距離MDは0付近に集中し、未放電時のマハラノビスの距離MDは5以上に分布する。従って、この例ではしきい値MDthを5とすることにより、マハラノビスの距離が5よりも小さい場合に放電あり、5以上の場合は放電なしと判定することができる。   FIG. 16 shows a reference data group (average number of UV detection times CS and UV detection time interval) when no creeping discharge occurs in the transformer 4 (when not discharging) and when creeping discharge occurs (when discharging). This is an example in which the Mahalanobis distance MD is calculated from the value IM and the specific UV detection voltage phase count CP). In this case, the waiting time T1 was 10 seconds, and the predetermined time T7 was 10 minutes. The Mahalanobis distance MD at the time of discharge is concentrated in the vicinity of 0, and the Mahalanobis distance MD at the time of non-discharge is distributed to 5 or more. Accordingly, in this example, by setting the threshold value MDth to 5, it can be determined that there is a discharge when the Mahalanobis distance is less than 5, and there is no discharge when the distance is 5 or more.

以上説明したように本実施形態では、紫外線の検出回数と、紫外線を検出した時間間隔と、紫外線を検出した時点の変圧器4の印加電圧位相とを測定し、所定時間内の紫外線検出回数CSと、所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔の平均値IMと、所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPとを変量としてマハラノビスの距離MDを算出し、算出したマハラノビスの距離MDが所定のしきい値MDthよりも小さい場合に絶縁異常個所が存在すると判定するので、外乱光と同程度の強度である微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を高い信頼性で判断することができる。   As described above, in the present embodiment, the number of detection times of ultraviolet rays, the time interval at which the ultraviolet rays are detected, and the voltage phase applied to the transformer 4 when the ultraviolet rays are detected are measured, and the number of detection times of ultraviolet rays CS within a predetermined time. And calculating the Mahalanobis distance MD using the average value IM of the UV detection time intervals measured within the predetermined time and the number of times CP of the specific UV detection voltage phase measured within the predetermined time as variables. When the Mahalanobis distance MD is smaller than the predetermined threshold value MDth, it is determined that there is an abnormality in insulation. Therefore, whether or not creeping discharge has occurred is surely detected even with a weak discharge having the same intensity as disturbance light. By detecting it, it is possible to determine with high reliability the presence or absence of an insulation abnormality.

なお、本実施形態では、放電時の紫外線検出回数CSと紫外線検出時間間隔の平均値IMと特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPを基準データとしたが、未放電時の紫外線検出回数CSと紫外線検出時間間隔の平均値IMと特定の紫外線検出時電圧位相の回数CPを基準データとしてもよい。この場合、算出されたマハラノビスの距離MDがしきい値MDth以上の場合に、放電が発生していると判定できる。   In the present embodiment, the number of UV detection times CS during discharge, the average value IM of UV detection time intervals, and the number CP of specific UV detection voltage phases are used as reference data. The average value IM of the UV detection time intervals and the number CP of the specific UV detection voltage phase may be used as reference data. In this case, when the calculated Mahalanobis distance MD is greater than or equal to the threshold value MDth, it can be determined that a discharge has occurred.

(その他の実施形態)
なお、本発明は上記し且つ図面に示す各実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のように変形または拡張することができる。
待機時間T1ごとに取得する紫外線検出回数データCiや紫外線検出時電圧位相データPiをファイルに記憶(保管)しておき、測定時間終了後に、ファイルに記憶されたデータを用いて同様の絶縁異常診断を行うようにしてもよい。
(Other embodiments)
In addition, this invention is not limited to each embodiment shown above and shown in drawing, For example, it can deform | transform or expand as follows.
The UV detection frequency data Ci and the UV detection voltage phase data Pi acquired at each standby time T1 are stored (stored) in a file, and after the measurement time, the same insulation abnormality diagnosis is performed using the data stored in the file. May be performed.

検出回数データ用メモリ7に累積検出回数データCsを記憶し、この累積検出回数データCsを用いて紫外線検出回数データCiを取得する構成としてもよい。
待機時間T1および所定時間T2〜T7は、適宜変更して実施することができる。
A configuration may be adopted in which the cumulative detection frequency data Cs is stored in the detection frequency data memory 7 and the ultraviolet detection frequency data Ci is acquired using the cumulative detection frequency data Cs.
The waiting time T1 and the predetermined times T2 to T7 can be changed as appropriate.

本発明の絶縁異常診断装置を示すブロック図The block diagram which shows the insulation abnormality diagnostic apparatus of this invention 本発明の第1の実施形態の絶縁異常診断の制御内容を示すフローチャートThe flowchart which shows the control content of the insulation abnormality diagnosis of the 1st Embodiment of this invention. (a)は未放電時、(b)は放電時の累積検出回数の例を示す図(A) is the time of non-discharge, (b) is a figure which shows the example of the cumulative detection frequency at the time of discharge. 本発明の第2の実施形態を示す図2相当図FIG. 2 equivalent view showing the second embodiment of the present invention 未放電時と放電時における10分間の紫外線検出回数の度数分布の例を示す図The figure which shows the example of the frequency distribution of the number of times of ultraviolet-ray detection for 10 minutes at the time of non-discharge and discharge 本発明の第3の実施形態を示す図2相当図FIG. 2 equivalent view showing the third embodiment of the present invention 配列INTの生成方法を説明するための図The figure for demonstrating the production | generation method of array INT 未放電時と放電時における紫外線検出時間間隔の度数分布の例を示す図The figure which shows the example of frequency distribution of the ultraviolet detection time interval at the time of non-discharge and discharge 本発明の第4の実施形態を示す図2相当図FIG. 2 equivalent view showing a fourth embodiment of the present invention (a)は未放電時、(b)は放電時の紫外線検出時電圧位相の度数分布の例を示す図(A) is the time of undischarge, (b) is a figure which shows the example of frequency distribution of the voltage phase at the time of ultraviolet detection at the time of discharge 本発明の第5の実施形態を示す図2相当図FIG. 2 equivalent view showing a fifth embodiment of the present invention 未放電時と放電時において、印加電圧ピーク付近における紫外線を検出した回数の度数分布の例を示す図The figure which shows the example of the frequency distribution of the frequency | count which detected the ultraviolet-ray in the vicinity of an applied voltage peak at the time of undischarge and discharge 本発明の第6の実施形態を示す図2相当図FIG. 2 equivalent view showing a sixth embodiment of the present invention 正規化前の基準データ群を示す図Diagram showing reference data group before normalization 正規化後の基準データ群を示す図Diagram showing standard data group after normalization 未放電時と放電時における基準データ群から算出したマハラノビスの距離を示す図The figure which shows the distance of Mahalanobis calculated from the reference data group at the time of non-discharge and discharge 従来技術の説明に用いるもので、(a)放電の発生時に接地線に流れる電流波形、(b)電気設備への印加交流電圧波形を示す図This figure is used for explanation of the prior art, and (a) a waveform showing a current waveform flowing in a ground line when a discharge occurs, and (b) a waveform showing an AC voltage waveform applied to electrical equipment.

符号の説明Explanation of symbols

図面中、1は絶縁異常診断装置、2は紫外線センサ(紫外線検出手段)、3は信号処理装置(判断手段、測定手段、検出回数測定手段、時間間隔測定手段、電圧位相測定手段、マハラノビス距離算出手段)、4は変圧器(電気設備)、6は情報処理装置である。   In the drawings, 1 is an insulation abnormality diagnosis device, 2 is an ultraviolet sensor (ultraviolet detection means), 3 is a signal processing device (determination means, measurement means, detection frequency measurement means, time interval measurement means, voltage phase measurement means, Mahalanobis distance calculation. Means), 4 is a transformer (electrical equipment), and 6 is an information processing apparatus.

Claims (10)

稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する電気設備の絶縁異常診断方法であって、
紫外線の累積検出回数を測定し、所定時間内の累積検出回数の傾きが所定のしきい値を超えた場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断方法。
A method for diagnosing an insulation abnormality in an electrical facility that determines the presence or absence of an insulation abnormality location by detecting ultraviolet rays radiated along with a creeping discharge generated on the surface of the electrical facility in operation,
A method for diagnosing an insulation abnormality in electrical equipment, wherein the number of times of cumulative detection of ultraviolet rays is measured, and when an inclination of the cumulative number of detections within a predetermined time exceeds a predetermined threshold, it is determined that an insulation abnormality location exists.
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する電気設備の絶縁異常診断方法であって、
紫外線を検出した時間間隔を測定し、所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔が特定の間隔範囲に集中して分布する場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断方法。
A method for diagnosing an insulation abnormality in an electrical facility that determines the presence or absence of an insulation abnormality location by detecting ultraviolet rays radiated along with a creeping discharge generated on the surface of the electrical facility in operation,
The time interval at which ultraviolet rays are detected is measured, and when the ultraviolet ray detection time intervals measured within a predetermined time are concentrated and distributed in a specific interval range, it is determined that there is an insulation abnormality part . Insulation abnormality diagnosis method.
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する電気設備の絶縁異常診断方法であって、
紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相を測定し、所定時間内に測定された紫外線検出時電圧位相が特定の位相範囲に集中して分布する場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断方法。
A method for diagnosing an insulation abnormality in an electrical facility that determines the presence or absence of an insulation abnormality location by detecting ultraviolet rays radiated along with a creeping discharge generated on the surface of the electrical facility in operation,
Measure the applied voltage phase of the electrical equipment at the time of detecting the ultraviolet ray, and determine that there is an insulation abnormality location when the ultraviolet detection voltage phase measured within a predetermined time is concentrated and distributed in a specific phase range An insulation abnormality diagnosis method for electrical equipment, characterized by:
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する電気設備の絶縁異常診断方法であって、
紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相を測定し、所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数が所定のしきい値を超えた場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断方法。
A method for diagnosing an insulation abnormality in an electrical facility that determines the presence or absence of an insulation abnormality location by detecting ultraviolet rays radiated along with a creeping discharge generated on the surface of the electrical facility in operation,
Measures the voltage phase applied to the electrical equipment at the time of detecting ultraviolet rays, and determines that there is an abnormal insulation location when the number of times of the specific ultraviolet detection voltage phase measured within a specified time exceeds a specified threshold value. An insulation abnormality diagnosis method for electrical equipment, comprising:
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する電気設備の絶縁異常診断方法であって、
紫外線の検出回数と、紫外線を検出した時間間隔と、紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相とを測定し、
所定時間内の紫外線検出回数と、所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔と、所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数とを変量として算出したマハラノビスの距離を所定のしきい値と比較することにより絶縁異常個所の有無を判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断方法。
A method for diagnosing an insulation abnormality in an electrical facility that determines the presence or absence of an insulation abnormality location by detecting ultraviolet rays radiated along with a creeping discharge generated on the surface of the electrical facility in operation,
Measure the number of detection times of ultraviolet rays, the time interval when ultraviolet rays were detected, and the applied voltage phase of the electrical equipment at the time of detecting ultraviolet rays,
The Mahalanobis distance calculated using the number of UV detection times within a predetermined time, the UV detection time interval measured within the predetermined time, and the number of specific UV detection voltage phases measured within the predetermined time as variables An insulation abnormality diagnosis method for electrical equipment, wherein the presence or absence of an insulation abnormality part is determined by comparing with a threshold value .
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出する紫外線検出手段と、前記紫外線検出手段によって紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する判断手段とを備えた電気設備の絶縁異常診断装置であって、
前記紫外線検出手段により検出された紫外線の累積検出回数を測定する測定手段を備え、
前記判断手段は、前記測定手段により所定時間内の前記累積検出回数の傾きが所定のしきい値を超えた場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断装置
Ultraviolet detecting means for detecting ultraviolet rays radiated along with creeping discharge generated on the surface of the electrical equipment in operation, and judging means for judging the presence or absence of an insulation abnormality by detecting the ultraviolet rays by the ultraviolet detecting means. An insulation abnormality diagnosis device for electrical equipment provided,
Measuring means for measuring the cumulative number of detection times of ultraviolet rays detected by the ultraviolet detection means,
The determining means, the slope of the cumulative number of times of detection in the measuring means a predetermined time of the electrical equipment, characterized in that it is determined that the insulation abnormality location is present if it exceeds a predetermined threshold insulation abnormality diagnosis device .
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出する紫外線検出手段と、前記紫外線検出手段によって紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する判断手段とを備えた電気設備の絶縁異常診断装置であって、
前記紫外線検出手段が紫外線を検出した時間間隔を測定する測定手段を備え、
前記判断手段は、前記測定手段により所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔が特定の間隔範囲に集中して分布する場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断装置。
Ultraviolet detecting means for detecting ultraviolet rays radiated along with creeping discharge generated on the surface of the electrical equipment in operation, and judging means for judging the presence or absence of an insulation abnormality by detecting the ultraviolet rays by the ultraviolet detecting means. An insulation abnormality diagnosis device for electrical equipment provided,
A measuring means for measuring a time interval at which the ultraviolet ray detecting means detects the ultraviolet ray;
The determination means determines that there is an abnormal insulation location when the UV detection time intervals measured within a predetermined time by the measurement means are concentrated in a specific interval range. Abnormality diagnosis device.
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出する紫外線検出手段と、前記紫外線検出手段によって紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する判断手段とを備えた電気設備の絶縁異常診断装置であって、
前記紫外線検出手段が紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相を測定する測定手段を備え、
前記判断手段は、前記測定手段により所定時間内に測定された紫外線検出時電圧位相が特定の位相範囲に集中して分布する場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断装置。
Ultraviolet detecting means for detecting ultraviolet rays radiated along with creeping discharge generated on the surface of the electrical equipment in operation, and judging means for judging the presence or absence of an insulation abnormality by detecting the ultraviolet rays by the ultraviolet detecting means. An insulation abnormality diagnosis device for electrical equipment provided,
A measuring means for measuring the applied voltage phase of the electrical equipment at the time when the ultraviolet detecting means detects the ultraviolet light,
The determination means determines that an insulation abnormality location exists when the voltage phase at the time of ultraviolet detection measured by the measurement means within a predetermined time is concentrated and distributed in a specific phase range . Insulation abnormality diagnosis device.
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出する紫外線検出手段と、前記紫外線検出手段によって紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する判断手段とを備えた電気設備の絶縁異常診断装置であって、
前記紫外線検出手段が紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相を測定する測定手段を備え、
前記判断手段は、前記測定手段により所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数が所定のしきい値を超えた場合に絶縁異常個所が存在すると判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断装置。
Ultraviolet detecting means for detecting ultraviolet rays radiated along with creeping discharge generated on the surface of the electrical equipment in operation, and judging means for judging the presence or absence of an insulation abnormality by detecting the ultraviolet rays by the ultraviolet detecting means. An insulation abnormality diagnosis device for electrical equipment provided,
A measuring means for measuring the applied voltage phase of the electrical equipment at the time when the ultraviolet detecting means detects the ultraviolet light,
The determination means determines that an insulation abnormality portion exists when the number of times of a specific UV detection voltage phase measured within a predetermined time by the measurement means exceeds a predetermined threshold value. Equipment insulation abnormality diagnosis device.
稼働中の電気設備の表面で発生する沿面放電に伴って放射される紫外線を検出する紫外線検出手段と、前記紫外線検出手段によって紫外線を検出することにより絶縁異常個所の有無を判断する判断手段とを備えた電気設備の絶縁異常診断装置であって、
前記紫外線検出手段による紫外線の検出回数を測定する検出回数測定手段と、
前記紫外線検出手段が紫外線を検出した時間間隔を測定する時間間隔測定手段と、
前記紫外線検出手段が紫外線を検出した時点の電気設備の印加電圧位相を測定する電圧位相測定手段と、
前記検出回数測定手段により所定時間内に測定された紫外線検出回数と、前記時間間隔測定手段により所定時間内に測定された紫外線検出時間間隔と、前記電圧位相測定手段により所定時間内に測定された特定の紫外線検出時電圧位相の回数とを変量としてマハラノビスの距離を算出するマハラノビス距離算出手段とを備え、
前記判断手段は、前記マハラノビス距離算出手段により算出されたマハラノビスの距離を所定のしきい値と比較することにより絶縁異常個所の有無を判断することを特徴とする電気設備の絶縁異常診断装置。
Ultraviolet detecting means for detecting ultraviolet rays radiated along with creeping discharge generated on the surface of the electrical equipment in operation, and judging means for judging the presence or absence of an insulation abnormality by detecting the ultraviolet rays by the ultraviolet detecting means. An insulation abnormality diagnosis device for electrical equipment provided,
A detection frequency measuring means for measuring the number of times of detection of ultraviolet rays by the ultraviolet light detection means;
A time interval measuring means for measuring a time interval when the ultraviolet ray detecting means detects the ultraviolet ray; and
Voltage phase measuring means for measuring the applied voltage phase of the electrical equipment at the time when the ultraviolet ray detecting means detects ultraviolet rays;
The number of UV detection times measured within a predetermined time by the detection number measuring means, the UV detection time interval measured within a predetermined time by the time interval measuring means, and the voltage phase measuring means measured within a predetermined time A Mahalanobis distance calculating means for calculating the Mahalanobis distance using the number of times of a specific UV detection voltage phase as a variable,
The determination means determines the presence / absence of an insulation abnormality portion by comparing the Mahalanobis distance calculated by the Mahalanobis distance calculation means with a predetermined threshold value .
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