JP5015859B2 - Conveying device and processing device - Google Patents

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Description

本発明は、搬送装置および処理装置に関するものである。   The present invention relates to a transport apparatus and a processing apparatus.

従来から、熱処理を行う熱処理路が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1の熱処理路では、処理品が載置された台板を主プッシャの先端の主プッシャヘッドで押し、主プッシャに押された台板はカムローラ上を移動して加熱炉へと搬送される構成が記載されている。
特許第3536224号公報
Conventionally, a heat treatment path for performing heat treatment is known (see, for example, Patent Document 1). In the heat treatment path of Patent Document 1, the base plate on which the processed product is placed is pushed by the main pusher head at the tip of the main pusher, and the base plate pushed by the main pusher moves on the cam roller and is conveyed to the heating furnace. The configuration is described.
Japanese Patent No. 3536224

一般に、熱処理路においては、搬送路内が高温になるため、処理品の搬送手段を熱処理室内に入れたまま熱処理することは好ましくない。そのため、熱処理室の一方側から搬送手段を出し入れして処理品の受け渡しを行っていた。そのため、連続的に熱処理を行う装置を構成することが困難であった。
また、特許文献1の熱処理路のように、耐熱性を確保するために、装置の外部から主プッシャで台板を押して処理品を機械的に搬送するものが一般的であり、モータなどを用いて電気的に稼働させて処理品を搬送する構成は困難であった。ただし、機械的に処理品を搬送させる場合にも、処理品が載置された台板を一方向にしか搬送できなかったため、処理装置の全体構成が制約されていた。
In general, in the heat treatment path, the inside of the transfer path becomes high temperature, so it is not preferable to perform the heat treatment with the processed product transfer means in the heat treatment chamber. For this reason, the transfer means is taken in and out from one side of the heat treatment chamber to deliver the processed product. For this reason, it has been difficult to configure an apparatus that performs heat treatment continuously.
In addition, as in the heat treatment path of Patent Document 1, in order to ensure heat resistance, it is common to press the base plate with the main pusher from the outside of the apparatus and mechanically convey the processed product, using a motor or the like. Thus, it is difficult to electrically operate and convey the processed product. However, even when the processed product is mechanically transported, the base plate on which the processed product is placed can be transported only in one direction, so that the entire configuration of the processing apparatus is limited.

そこで、本発明は、上述の事情に鑑みてなされたものであり、処理装置の構成の自由度を向上することができる搬送機構を提供するものである。   Therefore, the present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a transport mechanism that can improve the degree of freedom of the configuration of the processing apparatus.

請求項1に記載した発明は、複数の処理室に接続された処理物の搬送室と、該搬送室の内部に配置され、前記処理物を前記複数の処理室に搬送する搬送手段と、該搬送手段を前記処理室に対して出し入れする移動機構と、を備えた搬送装置において、前記搬送手段と前記移動機構とを相互に接続および分断する断接部を備え、前記断接部は、前記搬送手段および前記移動機構のいずれか一方に形成されたフックと、前記搬送手段および前記移動機構のいずれか他方に形成され、前記フックと係合する係合部と、により構成され、該断接部が接続された状態において、前記移動機構が前記搬送手段を前記処理室に対して出し入れし、前記断接部が分断された状態において、前記搬送手段が前記処理物を前記複数の処理室に搬送するように構成されていることを特徴としている。
請求項1に記載した発明によれば、搬送手段と移動機構とを接続/分断可能に構成するとともに、移動機構は処理室と対向するように配置し、搬送手段は搬送室内を移動可能に配置することで、複数の処理室に対して順に処理物を搬送し、連続的に処理を行うことができる。つまり、処理装置の構成の自由度を向上することができる効果がある。
また、請求項1に記載した発明によれば、搬送手段および移動機構に容易な加工を施すことで、搬送手段と移動機構とを接続/分断可能に構成することができる。
The invention described in claim 1 includes a transfer chamber for a processed object connected to a plurality of processing chambers, a transfer unit that is disposed inside the transfer chamber and transfers the processed object to the plurality of processing chambers, the conveying device and a movement mechanism for loading and unloading the conveying means with respect to the processing chamber, comprising a disconnection unit for connecting and dividing the said conveying means and said moving mechanism to each other, the disengaging portion includes the A hook formed on one of the conveying means and the moving mechanism; and an engaging portion formed on the other of the conveying means and the moving mechanism and engaged with the hook. in a state in which parts are connected, the moving mechanism and out the conveying means relative to the processing chamber, in a state in which the disengaging portion is divided, the conveying means the treated to the plurality of processing chambers Configured to carry It is characterized in that.
According to the first aspect of the present invention, the conveying means and the moving mechanism are configured to be connectable / disconnectable, the moving mechanism is arranged to face the processing chamber, and the conveying means is arranged to be movable in the conveying chamber. By doing so, it is possible to carry the processing continuously by sequentially transferring the processed objects to the plurality of processing chambers. That is, there is an effect that the degree of freedom of the configuration of the processing apparatus can be improved.
In addition, according to the first aspect of the present invention, the conveying means and the moving mechanism can be connected / disconnected by performing easy processing on the conveying means and the moving mechanism.

請求項2に記載した発明は、前記断接部は、前記搬送手段と前記移動機構の先端部とが相互に接続および分断されてなり、前記移動機構の先端部の上下移動が可能となるように、該移動機構に支点が取り付けられていることを特徴としている According to a second aspect of the present invention, in the connecting / disconnecting portion, the conveying means and the distal end portion of the moving mechanism are mutually connected and disconnected so that the distal end portion of the moving mechanism can be moved up and down. to is characterized in that is mounted et the fulcrum to the moving mechanism.

請求項3に記載した発明は、処理装置が、請求項1または2に記載の搬送装置を備えたことを特徴としている。
請求項3に記載した発明によれば、複数の処理室に対して順に処理物を搬送し、連続的に処理を行うことができる。つまり、処理装置の構成の自由度を向上することができる効果がある。
The invention described in claim 3 is characterized in that the processing apparatus includes the transfer device according to claim 1 or 2.
According to the third aspect of the present invention, it is possible to sequentially carry out the processing by sequentially transferring the processing objects to the plurality of processing chambers. That is, there is an effect that the degree of freedom of the configuration of the processing apparatus can be improved.

請求項4に記載した発明は、前記搬送装置を構成する処理室は、熱処理室であることを特徴としている。
請求項4に記載した発明によれば、連続的に熱処理を行うことができる効果がある。
The invention described in claim 4 is characterized in that the processing chamber constituting the transfer device is a heat treatment chamber.
According to the invention described in claim 4, there is an effect that heat treatment can be continuously performed.

請求項5に記載した発明は、前記搬送装置を構成する搬送手段から前記処理室に処理物を受け渡す受け渡し機構を備えていることを特徴としている。
請求項5に記載した発明によれば、熱処理室に処理物を受け渡すことで、搬送手段を熱処理室内に残すことなく熱処理を行うことが可能になり、搬送手段の信頼性を向上させることができる効果がある。
The invention described in claim 5 is characterized in that it comprises a transfer mechanism for transferring the processed material into the processing chamber from the transfer means constituting the conveying device.
According to the invention described in claim 5, by delivering the processed material to the heat treatment chamber, it becomes possible to perform the heat treatment without leaving the transfer means in the heat treatment chamber, thereby improving the reliability of the transfer means. There is an effect that can be done.

本発明によれば、搬送手段と移動機構とを接続/分断可能に構成するとともに、移動機構は処理室と対向するように配置し、搬送手段は搬送室内を移動可能に配置することで、複数の処理室に対して順に処理物を搬送し、連続的に処理を行うことができる。つまり、処理装置の構成の自由度を向上することができる効果がある。   According to the present invention, the transfer means and the moving mechanism are configured to be connectable / disconnectable, the moving mechanism is arranged to face the processing chamber, and the transfer means is arranged to be movable in the transfer chamber. The processing objects can be sequentially conveyed to the processing chambers and processed continuously. That is, there is an effect that the degree of freedom of the configuration of the processing apparatus can be improved.

(基板処理装置)
本発明の実施形態に係る基板処理装置について、図1〜図13に基づいて説明する。
図1は基板処理装置の概略構成図である。図1に示すように、基板処理装置10は、基板Wを基板処理装置10内に取り込む仕込室11と、仕込室11と連接され、基板Wに対して第一の処理を行う第一処理室12と、第一処理室12に連接され、基板Wを載置可能なフォーク51を備えた搬送室13と、搬送室13と連接され、基板Wに対して第二の処理を行う第二処理室14と、第二処理室14に連接され、処理が完了した基板Wを基板処理装置10外に取り出す取出室15と、を備えている。また、各室の境界には、ゲートバルブ17a〜17fが設けられている。なお、本実施形態では、基板Wをマッフル40内に配置した状態で、基板処理装置10内を移動しながら各室にて適宜処理が行われる。
(Substrate processing equipment)
A substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a substrate processing apparatus. As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus 10 includes a preparation chamber 11 that takes a substrate W into the substrate processing apparatus 10, and a first processing chamber that is connected to the preparation chamber 11 and performs a first process on the substrate W. 12, a transfer chamber 13 that is connected to the first processing chamber 12 and includes a fork 51 on which the substrate W can be placed, and a second process that is connected to the transfer chamber 13 and performs the second processing on the substrate W. A chamber 14 and a take-out chamber 15 connected to the second processing chamber 14 and extracting the processed substrate W to the outside of the substrate processing apparatus 10. In addition, gate valves 17a to 17f are provided at the boundaries of the chambers. In the present embodiment, processing is appropriately performed in each chamber while moving in the substrate processing apparatus 10 with the substrate W placed in the muffle 40.

また、本実施形態における基板処理装置10は、搬送室13を折り返し点として略コの字状に装置構成がなされている。そして、この基板処理装置10は、高熱環境下で基板Wの処理を行う連続式熱処理炉として構成されている。例えば、基板処理装置10を用いて、CIS系太陽電池の光吸収層を形成する装置である。   In addition, the substrate processing apparatus 10 according to the present embodiment has a substantially U-shaped configuration with the transfer chamber 13 as a turning point. The substrate processing apparatus 10 is configured as a continuous heat treatment furnace that processes the substrate W in a high heat environment. For example, the substrate processing apparatus 10 is an apparatus that forms a light absorption layer of a CIS solar cell.

仕込室11は、別の装置からマッフル40を受け入れ可能に構成されている。仕込室11には、室内を真空状態(減圧状態)にすることが可能な真空ポンプ18が接続されている。   The charging chamber 11 is configured to receive the muffle 40 from another device. A vacuum pump 18 capable of bringing the chamber into a vacuum state (depressurized state) is connected to the charging chamber 11.

また、取出室15は、仕込室11と略同一の構造を有しており、第二処理室14から処理の完了したマッフル40を受け入れ可能に構成されている。取出室15には、室内を真空状態(減圧状態)にすることが可能な真空ポンプ98が接続されている。そして、マッフル40を次の工程を行う装置へ取り出し可能に構成されている。   The take-out chamber 15 has substantially the same structure as the preparation chamber 11 and is configured to receive the muffle 40 that has been processed from the second processing chamber 14. A vacuum pump 98 capable of bringing the chamber into a vacuum state (depressurized state) is connected to the take-out chamber 15. And it is comprised so that the muffle 40 can be taken out to the apparatus which performs the next process.

図2は第一処理室12の側面断面図である。図2に示すように、第一処理室12には、マッフル40(基板W)に対してセレン化水素(HSe)を供給・循環させるガス流通機構20を備えている。第一処理室12は、内部に空間部21が構成された略直方体で形成されている。第一処理室12の外壁22は、二重壁構造になっており、その隙間23に冷却水Cが供給されるようになっている。 FIG. 2 is a side sectional view of the first processing chamber 12. As shown in FIG. 2, the first processing chamber 12 includes a gas distribution mechanism 20 that supplies and circulates hydrogen selenide (H 2 Se) to the muffle 40 (substrate W). The first processing chamber 12 is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape having a space portion 21 therein. The outer wall 22 of the first processing chamber 12 has a double wall structure, and the cooling water C is supplied to the gap 23.

図3は図2のA部拡大図である。図3に示すように、第一処理室12の外壁22は、第一処理室12の外周面を構成する外側壁24と、隙間23を挟んで第一処理室12の内周面を構成する内側壁25と、で構成されている。なお、外側壁24は例えばSUS304で形成され、内側壁25は例えばSUS316で形成されている。つまり、内側壁25の方が耐腐食性の高い部材を採用することが好ましい。外側壁24と内側壁25との間には、支持部材26が適宜設けられている。また、内側壁25の空間部21側には断熱材27が設けられている。断熱材27は、ピン28により内側壁25に支持固定されている。さらに、断熱材27の空間部21側には、断熱材27に沿うようにヒータ29が取り付けられている。ヒータ29は例えばカーボンヒータで構成されている。   FIG. 3 is an enlarged view of a portion A in FIG. As shown in FIG. 3, the outer wall 22 of the first processing chamber 12 forms an inner peripheral surface of the first processing chamber 12 with an outer wall 24 constituting the outer peripheral surface of the first processing chamber 12 and a gap 23 interposed therebetween. And an inner wall 25. The outer wall 24 is made of SUS304, for example, and the inner wall 25 is made of SUS316, for example. That is, it is preferable to employ a member having a higher corrosion resistance on the inner wall 25. A support member 26 is appropriately provided between the outer side wall 24 and the inner side wall 25. A heat insulating material 27 is provided on the space 21 side of the inner wall 25. The heat insulating material 27 is supported and fixed to the inner wall 25 by pins 28. Furthermore, a heater 29 is attached to the space 21 side of the heat insulating material 27 along the heat insulating material 27. The heater 29 is composed of, for example, a carbon heater.

図2に戻り、第一処理室12には、ガス流通機構20の配管35,36が接続されている。また、配管35と配管36との間には、ガス流通機構20の循環ファン37が配置されている。なお、ガス流通機構20は、図示しないヒータが設けられており、第一処理室12内と略同一の温度に保持できるようになっている。これにより、ガス流通機構20におけるガスの凝固を防止することができる。2本の配管35,36は、第一処理室12の外部において循環ファン37の吸込側37aと吐出側37bにそれぞれ1本ずつ接続されている。また、2本の配管35,36は、第一処理室12の空間部21において端部35a,36aが露出した状態で配置されている。なお、端部35a,36aは、高さ方向において略同一の高さに位置するように形成されている。端部35a,36aは、マッフル40と接続可能に構成されている。また、ガス流通機構20により、マッフル40内にセレン化水素が供給されるようになっている。   Returning to FIG. 2, pipes 35 and 36 of the gas distribution mechanism 20 are connected to the first processing chamber 12. A circulation fan 37 of the gas distribution mechanism 20 is disposed between the pipe 35 and the pipe 36. The gas distribution mechanism 20 is provided with a heater (not shown) so that it can be maintained at substantially the same temperature as that in the first processing chamber 12. Thereby, coagulation | solidification of the gas in the gas distribution mechanism 20 can be prevented. Two pipes 35 and 36 are connected to the suction side 37 a and the discharge side 37 b of the circulation fan 37, respectively, outside the first processing chamber 12. The two pipes 35 and 36 are arranged in a state where the end portions 35 a and 36 a are exposed in the space portion 21 of the first processing chamber 12. The end portions 35a and 36a are formed so as to be positioned at substantially the same height in the height direction. The end portions 35 a and 36 a are configured to be connectable to the muffle 40. Further, hydrogen selenide is supplied into the muffle 40 by the gas flow mechanism 20.

さらに、第一処理室12の下面33には、貫通孔34が形成されている。貫通孔34には、配管38が接続されており、配管38の先端には排気ポンプ39が設けられている。排気ポンプ39により第一処理室12の空間部21の排気ができるようになっている。   Further, a through hole 34 is formed in the lower surface 33 of the first processing chamber 12. A pipe 38 is connected to the through hole 34, and an exhaust pump 39 is provided at the tip of the pipe 38. An exhaust pump 39 can exhaust the space 21 of the first processing chamber 12.

また、第一処理室12には、例えばNガスを第一処理室12内に供給可能な図示しないガス供給装置が設けられている。そして、このガス供給装置と排気ポンプ39とで、第一処理室12内の圧力を制御する雰囲気制御機構が構成される。このようにすることで、第一処理室12内を所定圧力のガスで満たすことが可能になり、マッフル40から第一処理室12内へのセレン化水素ガスの漏洩、および第一処理室12から外部へのセレン化水素ガスの漏洩を防止することができる。
また、第一処理室12の空間部21には、マッフル40を載置するための図示しないテーブルが設けられている。
The first processing chamber 12 is provided with a gas supply device (not shown) that can supply, for example, N 2 gas into the first processing chamber 12. The gas supply device and the exhaust pump 39 constitute an atmosphere control mechanism that controls the pressure in the first processing chamber 12. By doing in this way, it becomes possible to fill the inside of the 1st processing chamber 12 with the gas of predetermined pressure, leakage of hydrogen selenide gas from the muffle 40 into the 1st processing chamber 12, and the 1st processing chamber 12 Of hydrogen selenide gas from the outside to the outside can be prevented.
In addition, a table (not shown) for mounting the muffle 40 is provided in the space 21 of the first processing chamber 12.

図4はマッフル40の側面断面図である。図4に示すように、マッフル40は、略直方体で形成されており、その内部は空間部45が構成されている。なお、マッフル40は例えばニッケルを含有した鉄など比較的耐腐食性の高い材料で形成されている。また、マッフル40は、第一処理室12の空間部21に配置できる大きさで形成されている。マッフル40の空間部45には、基板Wが縦置きまたは横置きで複数枚配置できるようになっている。つまり、複数の基板Wを同時に処理できるようになっている。マッフル40の上面46には、貫通孔47が複数(本実施形態では2箇所)形成されている。貫通孔47には、ガス流通機構20の配管35,36が接続できるように構成されている。   FIG. 4 is a side sectional view of the muffle 40. As shown in FIG. 4, the muffle 40 is formed in a substantially rectangular parallelepiped, and a space portion 45 is formed inside the muffle 40. The muffle 40 is formed of a material having relatively high corrosion resistance such as iron containing nickel. The muffle 40 is formed in a size that can be disposed in the space 21 of the first processing chamber 12. In the space 45 of the muffle 40, a plurality of substrates W can be arranged vertically or horizontally. That is, a plurality of substrates W can be processed simultaneously. A plurality of through holes 47 (two in this embodiment) are formed on the upper surface 46 of the muffle 40. The through holes 47 are configured so that the pipes 35 and 36 of the gas flow mechanism 20 can be connected thereto.

図1に戻り、第二処理室14は、第一処理室12と略同一の構造を有している。第二処理室14は、マッフル40(基板W)に対して硫化水素(HS)を供給・循環させるガス流通機構60を備えている。第二処理室14は、内部に空間部81が構成された略直方体で形成されている。第二処理室14の外壁82は、第一処理室12と略同一の二重壁構造になっている。 Returning to FIG. 1, the second processing chamber 14 has substantially the same structure as the first processing chamber 12. The second processing chamber 14 includes a gas distribution mechanism 60 that supplies and circulates hydrogen sulfide (H 2 S) to the muffle 40 (substrate W). The second processing chamber 14 is formed in a substantially rectangular parallelepiped with a space portion 81 formed therein. The outer wall 82 of the second processing chamber 14 has a double wall structure substantially the same as that of the first processing chamber 12.

第二処理室14には、ガス流通機構60の配管85,86が接続されている。また、配管85と配管86との間には、ガス流通機構60の循環ファン87が配置されている。なお、ガス流通機構60には、図示しないヒータが設けられており、第二処理室14内と略同一の温度に保持できるようになっている。これにより、ガス流通機構60におけるガスの凝固を防止することができる。さらに、第二処理室14には、排気ポンプ89が設けられている。排気ポンプ89により第二処理室14の空間部81の排気ができるようになっている。   Pipes 85 and 86 of the gas distribution mechanism 60 are connected to the second processing chamber 14. A circulation fan 87 of the gas circulation mechanism 60 is disposed between the pipe 85 and the pipe 86. The gas flow mechanism 60 is provided with a heater (not shown) so that it can be maintained at substantially the same temperature as in the second processing chamber 14. Thereby, coagulation | solidification of the gas in the gas distribution mechanism 60 can be prevented. Further, an exhaust pump 89 is provided in the second processing chamber 14. An exhaust pump 89 can exhaust the space 81 of the second processing chamber 14.

搬送室13は、第一処理室12および第二処理室14が連接されている。搬送室13には、マッフル40を載置するためのフォーク51と、フォーク51を移動させるための第一シリンダ65および第二シリンダ75が配置されている。このフォーク51と第一シリンダ65および第二シリンダ75とで、搬送装置41を構成している。また、搬送室13には、室内を真空状態(減圧状態)にすることが可能な真空ポンプ49が接続されている。   The transfer chamber 13 is connected to the first processing chamber 12 and the second processing chamber 14. In the transfer chamber 13, a fork 51 for placing the muffle 40 and a first cylinder 65 and a second cylinder 75 for moving the fork 51 are arranged. The fork 51, the first cylinder 65, and the second cylinder 75 constitute a transport device 41. Further, a vacuum pump 49 capable of bringing the chamber into a vacuum state (depressurized state) is connected to the transfer chamber 13.

図5は、フォーク51の配置状態を示す説明図であり、図1のB−B線に沿う断面図である。
図5に示すように、フォーク51の下方には、搬送室13から第一処理室12(第二処理室14)へ指向した第一レール53が設けられており、フォーク51の下部に取り付けられた車輪52が第一レール53上に載置されている。また、第一レール53の下方には、第一処理室12の出口部から第二処理室14の入口部へ指向した第二レール55(図1参照)が設けられており、第一レール53の下部に取り付けられた車輪54が第二レール55上に載置されている。なお、第二レール55は、搬送室13の床面FLに配置されている。
FIG. 5 is an explanatory view showing an arrangement state of the forks 51, and is a cross-sectional view taken along line BB of FIG.
As shown in FIG. 5, a first rail 53 directed from the transfer chamber 13 to the first processing chamber 12 (second processing chamber 14) is provided below the fork 51, and is attached to the lower portion of the fork 51. The wheel 52 is placed on the first rail 53. A second rail 55 (see FIG. 1) is provided below the first rail 53 and is directed from the outlet of the first processing chamber 12 to the inlet of the second processing chamber 14. A wheel 54 attached to the lower part of the second wheel 55 is placed on the second rail 55. The second rail 55 is disposed on the floor surface FL of the transfer chamber 13.

また、搬送室13における第一処理室12が連接された壁部61と対向した壁部63には第一シリンダ65が取り付けられている。第一シリンダ65のロッド65aは、壁部63に形成された貫通孔64に挿通されており、搬送室13内に位置しているロッド65aの先端部67、すなわち移動機構の先端部にはフック68が形成されている。また、搬送室13の壁部63の外側において、貫通孔64を覆うようにベローズ69が取り付けられている。これにより、搬送室13の減圧状態を確保することができる。また、第一シリンダ65には支点70が取り付けられており、支点70を中心に第一シリンダ65の先端部67、すなわち移動機構の先端部を上下移動させることができるようになっている。 A first cylinder 65 is attached to a wall 63 facing the wall 61 connected to the first processing chamber 12 in the transfer chamber 13. The rod 65a of the first cylinder 65 is inserted into a through-hole 64 formed in the wall portion 63, and is hooked to the distal end portion 67 of the rod 65a located in the transfer chamber 13, that is, the distal end portion of the moving mechanism. 68 is formed. A bellows 69 is attached outside the wall 63 of the transfer chamber 13 so as to cover the through hole 64. Thereby, the pressure-reduced state of the transfer chamber 13 can be ensured. Further, a fulcrum 70 is attached to the first cylinder 65, and the tip 67 of the first cylinder 65 , that is, the tip of the moving mechanism can be moved up and down around the fulcrum 70.

一方、フォーク51には、第一シリンダ65のフック68に係合可能な係合部71が形成されている。このフック68と係合部71とにより、断接部90が構成される。
図1に戻り、搬送室13における第二処理室14が連接された壁部61と対向した壁部63には第二シリンダ75が取り付けられている。第二シリンダ75のロッド75aは、壁部63に形成された貫通孔74に挿通されており、搬送室13内に位置しているロッド75aの先端部77、すなわち移動機構の先端部にはフック78が形成されている。また、搬送室13の壁部63の外側において、貫通孔74を覆うようにベローズ79が取り付けられている。これにより、搬送室13の減圧状態を確保することができる。また、第二シリンダ75には支点80が取り付けられており、支点80を中心に第二シリンダ75の先端部77、すなわち移動機構の先端部を上下移動させることができるようになっている。
On the other hand, the fork 51 is formed with an engaging portion 71 that can engage with the hook 68 of the first cylinder 65. The hook 68 and the engaging portion 71 constitute a connection / disconnection portion 90.
Returning to FIG. 1, a second cylinder 75 is attached to the wall portion 63 of the transfer chamber 13 that faces the wall portion 61 connected to the second processing chamber 14. The rod 75a of the second cylinder 75 is inserted into a through hole 74 formed in the wall 63, and is hooked to the tip 77 of the rod 75a located in the transfer chamber 13, that is, the tip of the moving mechanism. 78 is formed. A bellows 79 is attached outside the wall 63 of the transfer chamber 13 so as to cover the through hole 74. Thereby, the pressure-reduced state of the transfer chamber 13 can be ensured. Further, a fulcrum 80 is attached to the second cylinder 75, and the tip 77 of the second cylinder 75 , that is, the tip of the moving mechanism can be moved up and down around the fulcrum 80.

なお、仕込室11および取出室15にも、搬送室13の第一レール53、フォーク51および第一シリンダ65と同様の設備が設けられており、マッフル40(基板W)を搬送可能に構成されている。   The preparation chamber 11 and the take-out chamber 15 are also provided with the same equipment as the first rail 53, the fork 51 and the first cylinder 65 of the transfer chamber 13, and are configured to be able to transfer the muffle 40 (substrate W). ing.

(作用)
次に、基板処理装置10を用いて、CIS系太陽電池の光吸収層を形成する場合について、図6〜図12に基づいて説明する。なお、図7〜図12は搬送室13内でのマッフル40(基板W)の移動方法を示す説明図である。
(Function)
Next, the case where the light absorption layer of a CIS type solar cell is formed using the substrate processing apparatus 10 will be described with reference to FIGS. 7 to 12 are explanatory views showing a method for moving the muffle 40 (substrate W) in the transfer chamber 13.

図6は、CIS系太陽電池の基本構成図である。図6に示すように、CIS系太陽電池100は、ガラス基板101上に裏面電極層102、光吸収層103、バッファ層104および透明電極層105が順に積層されたものである。ここで、基板処理装置10に搬入される段階では、ガラス基板101上に裏面電極層102と光吸収層103を構成するCu層、In層とが積層された状態で搬入される。マッフル40(基板W)を搬入する際に、ゲートバルブ17aを開状態にし、仕込室11に搬入する(図1参照)。   FIG. 6 is a basic configuration diagram of a CIS solar cell. As shown in FIG. 6, the CIS solar cell 100 is obtained by sequentially laminating a back electrode layer 102, a light absorption layer 103, a buffer layer 104, and a transparent electrode layer 105 on a glass substrate 101. Here, in the stage of carrying in to the substrate processing apparatus 10, it carries in in the state in which the Cu layer and In layer which comprise the back surface electrode layer 102 and the light absorption layer 103 were laminated | stacked on the glass substrate 101. FIG. When carrying in the muffle 40 (substrate W), the gate valve 17a is opened and carried into the preparation chamber 11 (see FIG. 1).

仕込室11にマッフル40が搬入されると、真空ポンプ18で室内を真空状態(減圧状態)にする。室内が真空状態になった後、ゲートバルブ17bを開状態にし、マッフル40を第一処理室12へと搬送する。なお、第一処理室12は既に排気ポンプ39により真空排気されている。   When the muffle 40 is carried into the preparation chamber 11, the vacuum pump 18 brings the chamber into a vacuum state (depressurized state). After the chamber is in a vacuum state, the gate valve 17 b is opened and the muffle 40 is transferred to the first processing chamber 12. The first processing chamber 12 has already been evacuated by the exhaust pump 39.

第一処理室12では、室内に設置されたテーブル(不図示)にマッフル40を載置する。このときマッフル40の貫通孔47に配管35,36を接続する。例えば、テーブルを上昇させて、貫通孔47と配管35,36とを接続させる。そして、図示しない処理ガス供給装置から配管35,36内にHSeガスを供給し、循環ファン37を駆動させてHSeガスをマッフル40の空間部45に供給する。 In the first processing chamber 12, the muffle 40 is placed on a table (not shown) installed in the room. At this time, the pipes 35 and 36 are connected to the through holes 47 of the muffle 40. For example, the table is raised and the through hole 47 and the pipes 35 and 36 are connected. Then, H 2 Se gas is supplied into the pipes 35 and 36 from a processing gas supply device (not shown), and the circulation fan 37 is driven to supply the H 2 Se gas to the space 45 of the muffle 40.

同時に、第一処理室12の空間部21に例えばNガスを図示しないガス供給装置により供給する。ここで、マッフル40の空間部45の圧力P1と第一処理室12の空間部21の圧力P2とは、圧力を調整しながらガスを供給する。なお、P1≦P2とすることで、マッフル40から第一処理室12へのHSeガスの漏洩を防止することができる。さらに、P1およびP2を略同一(P1≒P2)とすることで、第一処理室12からマッフル40へのNガスの浸入を防止すること可能になり、マッフル40内のHSeガスの濃度を維持することができる。また、これらのガス圧は、大気圧より若干小さくなるようにすることが好ましい。このようにすることで、ガスが装置外へ漏洩することを防止できる。 At the same time, for example, N 2 gas is supplied to the space 21 of the first processing chamber 12 by a gas supply device (not shown). Here, the pressure P1 in the space 45 of the muffle 40 and the pressure P2 in the space 21 of the first processing chamber 12 supply gas while adjusting the pressure. Note that by setting P1 ≦ P2, leakage of H 2 Se gas from the muffle 40 to the first processing chamber 12 can be prevented. Furthermore, by making P1 and P2 substantially the same (P1≈P2), it becomes possible to prevent the ingress of N 2 gas from the first processing chamber 12 into the muffle 40, and the H 2 Se gas in the muffle 40 can be prevented. The concentration can be maintained. Further, it is preferable that these gas pressures are slightly lower than the atmospheric pressure. By doing in this way, it can prevent that gas leaks out of an apparatus.

また、HSeガスをマッフル40に供給し、ヒータ29を駆動してマッフル40(空間部45)を加熱する。そして、マッフル40(空間部45)が所望の温度まで加熱されたら、その状態で保持する。この保持の間に、光吸収層103が形成される。光吸収層103が形成されたら、テーブルを下降してマッフル13の貫通孔47と配管35,36とを離間させる。 Further, H 2 Se gas is supplied to the muffle 40 and the heater 29 is driven to heat the muffle 40 (space portion 45). And if the muffle 40 (space part 45) is heated to desired temperature, it will hold | maintain in that state. During this holding, the light absorption layer 103 is formed. When the light absorption layer 103 is formed, the table is lowered to separate the through hole 47 of the muffle 13 and the pipes 35 and 36.

そして、排気ポンプ39を駆動して、第一処理室12の空間部21、マッフル40の空間部45および配管35,36内に残存しているガス類を排気するとともに、第一処理室12内を真空状態に保持する。   Then, the exhaust pump 39 is driven to exhaust gases remaining in the space portion 21 of the first processing chamber 12, the space portion 45 of the muffle 40 and the pipes 35 and 36, and in the first processing chamber 12. Is kept in a vacuum state.

図7に示すように、第一処理室12の空間部21を減圧状態に保持し、ゲートバルブ17cを開状態にして、搬送室13のフォーク51を空間部21に移動する。なお、搬送室13は既に真空ポンプ49により真空状態に保持されている。フォーク51でマッフル40(基板W)を受け取ると、フォーク51を第一処理室12から搬出して、マッフル40を搬送室13へと搬送する。具体的には、第一シリンダ65のフック68をフォーク51の係合部71に係合し、その状態で第一シリンダ65によりフォーク51を前方に押し、第一レール53上に沿ってフォーク51を移動させ、フォーク51の先端部をマッフル40が載置されたテーブル(不図示)表面に形成された溝部に挿入する。その後、マッフル40が載置されたテーブルが下降することにより、マッフル40がテーブルからフォーク51へ受け渡される(受け渡し機構)。フォーク51の上面51aにマッフル40が載置されたら、第一シリンダ65によりフォーク51を手前側に引くようにして、フォーク51を第一処理室12の空間部21から退避させる。   As shown in FIG. 7, the space 21 of the first processing chamber 12 is held in a reduced pressure state, the gate valve 17 c is opened, and the fork 51 of the transfer chamber 13 is moved to the space 21. The transfer chamber 13 is already kept in a vacuum state by the vacuum pump 49. When the fork 51 receives the muffle 40 (substrate W), the fork 51 is unloaded from the first processing chamber 12 and the muffle 40 is transferred to the transfer chamber 13. Specifically, the hook 68 of the first cylinder 65 is engaged with the engaging portion 71 of the fork 51, and the fork 51 is pushed forward by the first cylinder 65 in this state, and the fork 51 is moved along the first rail 53. The tip of the fork 51 is inserted into a groove formed on the surface of a table (not shown) on which the muffle 40 is placed. Thereafter, when the table on which the muffle 40 is placed descends, the muffle 40 is delivered from the table to the fork 51 (delivery mechanism). When the muffle 40 is placed on the upper surface 51 a of the fork 51, the fork 51 is retracted from the space portion 21 of the first processing chamber 12 by pulling the fork 51 forward by the first cylinder 65.

図8に示すように、マッフル40が載置されたフォーク51が搬送室13内に戻ると、ゲートバルブ17cを閉状態にする。
図9に示すように、第一シリンダ65を下方に押し下げると、支点70を中心に第一シリンダ65の先端部67が押し上げられる。つまり、フック68がフォーク51の係合部71から離間して、フォーク51と第一シリンダ65との係合状態が解除される。
As shown in FIG. 8, when the fork 51 on which the muffle 40 is placed returns to the inside of the transfer chamber 13, the gate valve 17c is closed.
As shown in FIG. 9, when the first cylinder 65 is pushed down, the tip portion 67 of the first cylinder 65 is pushed up around the fulcrum 70. That is, the hook 68 is separated from the engaging portion 71 of the fork 51, and the engaged state between the fork 51 and the first cylinder 65 is released.

次に、図10に示すように、フォーク51が載置された第一レール53を、第二処理室14側へと移動させる。つまり、フォーク51および第一レール53を、第二レール55に沿って移動させる。具体的には、第一レール53の車輪54が第二レール55に載置されているため、第一レール53に対して第二レール55に沿う方向の力をかけることで、第一レール53を第二処理室14側へと移動させる。この移動機構として、上述した構成と略同一のシリンダを用いてもよいし、チェーン式やラック&ピニオン式を用いてもよい。   Next, as shown in FIG. 10, the first rail 53 on which the fork 51 is placed is moved to the second processing chamber 14 side. That is, the fork 51 and the first rail 53 are moved along the second rail 55. Specifically, since the wheel 54 of the first rail 53 is placed on the second rail 55, by applying a force in the direction along the second rail 55 to the first rail 53, the first rail 53 Is moved to the second processing chamber 14 side. As this moving mechanism, a cylinder substantially the same as the above-described configuration may be used, or a chain type or a rack and pinion type may be used.

図11に示すように、マッフル40が載置されたフォーク51が搬送室13内の第二処理室14側まで移動してきたら、第二シリンダ75を支点80を中心に押し上げるようにして、第二シリンダ75のフック78をフォーク51の係合部71に係合する。   As shown in FIG. 11, when the fork 51 on which the muffle 40 is placed has moved to the second processing chamber 14 side in the transfer chamber 13, the second cylinder 75 is pushed up around the fulcrum 80, and the second The hook 78 of the cylinder 75 is engaged with the engaging portion 71 of the fork 51.

図12に示すように、ゲートバルブ17dを開状態にした後、第二シリンダ75を前方に押し、第一レール53上に沿ってフォーク51を移動させ、マッフル40が載置されたフォーク51を第二処理室14の空間部に位置させる。その後、第二処理室14内の図示しないテーブルが上昇して、マッフル40がフォーク51からテーブルへと受け渡される。フォーク51からテーブルへとマッフル40が受け渡されたら、第二シリンダ75によりフォーク51を手前側に引くようにして、フォーク51を第二処理室14の空間部から退避させる。そして、ゲートバルブ17dを閉状態にする。また、マッフル40の貫通孔47に配管85,86を接続する。   As shown in FIG. 12, after opening the gate valve 17d, the second cylinder 75 is pushed forward, the fork 51 is moved along the first rail 53, and the fork 51 on which the muffle 40 is placed is moved. It is located in the space part of the second processing chamber 14. Thereafter, a table (not shown) in the second processing chamber 14 is raised, and the muffle 40 is transferred from the fork 51 to the table. When the muffle 40 is transferred from the fork 51 to the table, the fork 51 is retracted from the space of the second processing chamber 14 by pulling the fork 51 forward by the second cylinder 75. Then, the gate valve 17d is closed. Further, pipes 85 and 86 are connected to the through holes 47 of the muffle 40.

第二処理室14では、マッフル40が配置された状態で、図示しない処理ガス供給装置から配管85,86内にHSガスを供給し、循環ファン87を駆動させてHSガスをマッフル40の空間部45に供給する。 In the second processing chamber 14, in a state where the muffle 40 is disposed, H 2 S gas is supplied into the pipes 85 and 86 from a processing gas supply device (not shown), and the circulation fan 87 is driven to muffle the H 2 S gas. 40 space parts 45 are supplied.

同時に、第二処理室14の空間部に例えばNガスを図示しないガス供給装置により供給する。また、HSガスを第二処理室14の空間部に供給する前か供給と略同時に、ヒータを駆動して空間部を加熱する。これによりHSガスの凝固を防止する。そして、空間部が所望の温度まで加熱されたら、その状態で保持する。この保持時間の間に、S雰囲気の中で高温アニールされることで、第一処理室12で用いられたSe2−を安定化することができる。 At the same time, for example, N 2 gas is supplied to the space of the second processing chamber 14 by a gas supply device (not shown). Further, the heater is driven to heat the space portion before or substantially simultaneously with the supply of the H 2 S gas to the space portion of the second processing chamber 14. This prevents the H 2 S gas from solidifying. And if a space part is heated to desired temperature, it will hold | maintain in that state. Se 2− used in the first processing chamber 12 can be stabilized by annealing at a high temperature in the S atmosphere during the holding time.

そして、処理終了後、排気ポンプ89を駆動して、第二処理室14の空間部、マッフル40の空間部45および配管85,86内に残存しているガス類を排気するとともに、第二処理室14内を真空状態に保持する。   Then, after the processing is completed, the exhaust pump 89 is driven to exhaust gases remaining in the space portion of the second processing chamber 14, the space portion 45 of the muffle 40, and the pipes 85 and 86, and the second processing. The inside of the chamber 14 is kept in a vacuum state.

次に、マッフル40を第二処理室14から取出室15へ移動する。なお、取出室15は、真空ポンプ98で室内を真空状態(減圧状態)にしておく。室内が真空状態になった後、ゲートバルブ17eを開状態にし、マッフル40を第二処理室14から取出室15へと搬送する。マッフル40が取出室15へ載置されたら、ゲートバルブ17eを閉状態にする。そして、ゲートバルブ17fを開状態にして、ロボットアームなどにマッフル40が受け渡され、その後の工程へと進んでいく。そして、その後の工程でバッファ層104および透明電極層105を形成することで図6に示すCIS系太陽電池100が製造される。   Next, the muffle 40 is moved from the second processing chamber 14 to the extraction chamber 15. The extraction chamber 15 is kept in a vacuum state (depressurized state) by a vacuum pump 98. After the chamber is in a vacuum state, the gate valve 17 e is opened, and the muffle 40 is transferred from the second processing chamber 14 to the extraction chamber 15. When the muffle 40 is placed in the take-out chamber 15, the gate valve 17e is closed. Then, the gate valve 17f is opened, the muffle 40 is delivered to the robot arm or the like, and the process proceeds to the subsequent steps. And the CIS type solar cell 100 shown in FIG. 6 is manufactured by forming the buffer layer 104 and the transparent electrode layer 105 in the subsequent process.

本実施形態によれば、複数の処理室12,14に接続されたマッフル40(基板W)の搬送室13と、搬送室13の内部に配置され、マッフル40(基板W)を複数の処理室12,14に搬送するフォーク51と、フォーク51を処理室12,14に対して出し入れするシリンダ65,75と、を備えた搬送装置において、フォーク51とシリンダ65,75とを相互に接続および分断する断接部90を備え、断接部90が接続された状態で、シリンダ65,75がフォーク51を処理室12,14に対して出し入れし、断接部90が分断された状態で、フォーク51がマッフル40(基板W)を複数の処理室12,14に搬送するように構成した。
したがって、フォーク51とシリンダ65,75とを接続/分断可能に構成するとともに、シリンダ65,75は処理室12,14と対向するように配置し、フォーク51は搬送室13内を移動可能に配置することで、複数の処理室12,14に対して順にマッフル40(基板W)を搬送し、連続的に処理を行うことができる。つまり、基板処理装置10の構成の自由度を向上することができる。
According to the present embodiment, the transfer chamber 13 of the muffle 40 (substrate W) connected to the plurality of processing chambers 12 and 14 and the muffle 40 (substrate W) are disposed inside the transfer chamber 13. In a transport device including a fork 51 transported to 12, 14 and cylinders 65, 75 for moving the fork 51 into and out of the processing chambers 12, 14, the fork 51 and the cylinders 65, 75 are connected and disconnected from each other. In the state in which the connecting / disconnecting portion 90 is connected, the cylinders 65, 75 withdraw / insert the fork 51 into / from the processing chambers 12, 14 with the connecting / disconnecting portion 90 connected thereto, 51 is configured to transfer the muffle 40 (substrate W) to the plurality of processing chambers 12 and 14.
Accordingly, the fork 51 and the cylinders 65 and 75 are configured to be connectable / disconnectable, the cylinders 65 and 75 are disposed to face the processing chambers 12 and 14, and the fork 51 is disposed to be movable in the transfer chamber 13. By doing so, the muffle 40 (the substrate W) can be sequentially transferred to the plurality of processing chambers 12 and 14, and processing can be performed continuously. That is, the degree of freedom of the configuration of the substrate processing apparatus 10 can be improved.

また、断接部90を、シリンダ65,75に形成されたフック68と、フォーク51に形成され、フック68と係合する係合部71と、で構成したため、フォーク51およびシリンダ65,75に容易な加工を施すことで、フォーク51とシリンダ65,75とを接続/分断させることができる。   In addition, since the connecting / disconnecting portion 90 includes the hook 68 formed on the cylinders 65 and 75 and the engaging portion 71 formed on the fork 51 and engaged with the hook 68, the fork 51 and the cylinders 65 and 75 are connected to each other. By applying easy processing, the fork 51 and the cylinders 65 and 75 can be connected / disconnected.

また、基板処理装置10に、上述した搬送装置を備えたため、複数の処理室12,14に対して順にマッフル40(基板W)を搬送し、連続的に処理を行うことができる。つまり、基板処理装置10の構成の自由度を向上することができる。   In addition, since the substrate processing apparatus 10 includes the transfer device described above, the muffle 40 (substrate W) can be transferred in order to the plurality of processing chambers 12 and 14 and processed continuously. That is, the degree of freedom of the configuration of the substrate processing apparatus 10 can be improved.

さらに、処理室12,14を熱処理室としたため、連続的に熱処理を行うことができる。   Furthermore, since the processing chambers 12 and 14 are heat treatment chambers, heat treatment can be performed continuously.

そして、フォーク51から処理室12,14にマッフル40(基板W)を受け渡す受け渡し機構を備えたため、シリンダ65,75を処理室12,14内に残すことなく熱処理を行うことが可能になり、フォーク51の信頼性を向上させることができる。   Since the fork 51 is provided with a delivery mechanism for delivering the muffle 40 (substrate W) from the forks 51 to the processing chambers 12 and 14, it becomes possible to perform heat treatment without leaving the cylinders 65 and 75 in the processing chambers 12 and 14, The reliability of the fork 51 can be improved.

尚、本発明の技術範囲は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、上述した実施形態に種々の変更を加えたものを含む。すなわち、実施形態で挙げた具体的な形状や構成等は一例にすぎず、適宜変更が可能である。
例えば、基板処理装置の構成を図13に示すように、仕込室、第一処理室、第二処理室および取出室を全て搬送室に接続したような構成にしてもよい。この場合、各室に対応してそれぞれシリンダを設けるようにすればよい。このようにすることで、各処理室においてセレン化水素処理および硫化水素処理を連続して行うことにより、複数の基板をバッチ処理することもできる。
また、本実施形態では、熱処理を行う場合に採用したが、熱処理以外の処理を行う装置に本発明を適用してもよい。
また、本実施形態では基板をマッフルに収容した状態で、マッフルを搬送しながら各処理を行う場合の説明をしたが、基板を露出した状態で装置内を搬送するように構成してもよい。
さらに、本実施形態では、シリンダにフックを形成し、フォークに係合部を形成した場合の説明をしたが、フォークにフックを形成し、シリンダに係合部を形成してもよい。また、断接部90はフックおよび係合部に限られず、断接自在な他の構成としてもよい。
さらに、本実施形態では、処理室と搬送室との間の基板の受け渡しの際に、処理室内のテーブルを昇降させることで基板を受け渡す場合の説明をしたが、テーブルは固定でフォークを昇降させるようにして基板の受け渡しをするようにしてもよい。
It should be noted that the technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and includes those in which various modifications are made to the above-described embodiment without departing from the spirit of the present invention. That is, the specific shapes, configurations, and the like given in the embodiment are merely examples, and can be changed as appropriate.
For example, as shown in FIG. 13, the substrate processing apparatus may be configured such that the preparation chamber, the first processing chamber, the second processing chamber, and the extraction chamber are all connected to the transfer chamber. In this case, a cylinder may be provided corresponding to each chamber. By doing in this way, a plurality of substrates can be batch-processed by performing hydrogen selenide processing and hydrogen sulfide processing continuously in each processing chamber.
In the present embodiment, the heat treatment is employed. However, the present invention may be applied to an apparatus that performs a treatment other than the heat treatment.
Further, in the present embodiment, a case has been described in which each processing is performed while the muffle is being transported in a state where the substrate is accommodated in the muffle, but the inside of the apparatus may be transported while the substrate is exposed.
Further, in the present embodiment, the case where the hook is formed on the cylinder and the engaging portion is formed on the fork has been described. However, the hook may be formed on the fork and the engaging portion may be formed on the cylinder. Moreover, the connection / disconnection part 90 is not restricted to a hook and an engaging part, It is good also as another structure which can be connected / disconnected.
Furthermore, in this embodiment, the case where the substrate is delivered by raising and lowering the table in the processing chamber when delivering the substrate between the processing chamber and the transfer chamber has been described. However, the table is fixed and the fork is raised and lowered. In this way, the substrate may be delivered.

本発明の実施形態における基板処理装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the substrate processing apparatus in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における第一処理室の側面断面図である。It is side surface sectional drawing of the 1st process chamber in embodiment of this invention. 図2のA部拡大図である。It is the A section enlarged view of FIG. 本発明の実施形態におけるマッフルの側面断面図である。It is side surface sectional drawing of the muffle in embodiment of this invention. 図1のB−B線に沿う断面図である。It is sectional drawing which follows the BB line of FIG. CIS系太陽電池の基本構成図である。It is a basic lineblock diagram of a CIS type solar cell. 本発明の実施形態における搬送室での処理の流れを示す説明図(1)である。It is explanatory drawing (1) which shows the flow of the process in the conveyance chamber in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における搬送室での処理の流れを示す説明図(2)である。It is explanatory drawing (2) which shows the flow of the process in the conveyance chamber in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における搬送室での処理の流れを示す説明図(3)である。It is explanatory drawing (3) which shows the flow of the process in the conveyance chamber in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における搬送室での処理の流れを示す説明図(4)である(全体構成図)。It is explanatory drawing (4) which shows the flow of a process in the conveyance chamber in embodiment of this invention (whole structure figure). 本発明の実施形態における搬送室での処理の流れを示す説明図(5)である。It is explanatory drawing (5) which shows the flow of the process in the conveyance chamber in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における搬送室での処理の流れを示す説明図(6)である。It is explanatory drawing (6) which shows the flow of the process in the conveyance chamber in embodiment of this invention. 基板処理装置の別の態様を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows another aspect of a substrate processing apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

10…基板処理装置(処理装置) 12…第一処理室(処理室) 13…搬送室 14…第二処理室(処理室) 41…搬送装置 51…フォーク(搬送手段) 65…第一シリンダ(移動機構) 68,78…フック 71…係合部 75…第二シリンダ(移動機構) 90…断接部 W…基板(処理物)   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Substrate processing apparatus (processing apparatus) 12 ... First processing chamber (processing chamber) 13 ... Transfer chamber 14 ... Second processing chamber (processing chamber) 41 ... Transfer apparatus 51 ... Fork (transfer means) 65 ... First cylinder ( 68, 78 ... hook 71 ... engaging portion 75 ... second cylinder (moving mechanism) 90 ... connecting / disconnecting portion W ... substrate (processed)

Claims (5)

複数の処理室に接続された処理物の搬送室と、
該搬送室の内部に配置され、前記処理物を前記複数の処理室に搬送する搬送手段と、
該搬送手段を前記処理室に対して出し入れする移動機構と、を備えた搬送装置において、
前記搬送手段と前記移動機構とを相互に接続および分断する断接部を備え、
前記断接部は、前記搬送手段および前記移動機構のいずれか一方に形成されたフックと、前記搬送手段および前記移動機構のいずれか他方に形成され、前記フックと係合する係合部と、により構成され、
該断接部が接続された状態において、前記移動機構が前記搬送手段を前記処理室に対して出し入れし、前記断接部が分断された状態において、前記搬送手段が前記処理物を前記複数の処理室に搬送するように構成されていることを特徴とする搬送装置。
A processing chamber for processing objects connected to a plurality of processing chambers;
A transfer means disposed inside the transfer chamber for transferring the processing object to the plurality of processing chambers;
A transfer mechanism including a transfer mechanism for moving the transfer means in and out of the processing chamber;
A connecting / disconnecting portion that connects and disconnects the conveying means and the moving mechanism;
The connecting / disconnecting portion includes a hook formed on one of the conveying means and the moving mechanism, an engaging portion formed on either one of the conveying means and the moving mechanism, and engaging with the hook; Composed of
In a state in which the cross contact portion is connected, the moving mechanism and out the conveying means relative to the processing chamber, in a state in which the disengaging portion is divided, the conveying means the process was of the plurality A transfer apparatus configured to transfer to a processing chamber.
前記断接部は、前記搬送手段と前記移動機構の先端部とが相互に接続および分断されてなり、
前記移動機構の先端部の上下移動が可能となるように、該移動機構に支点が取り付けられていることを特徴とする請求項1に記載の搬送装置。
The connecting / disconnecting portion is formed by connecting and disconnecting the transport means and the distal end portion of the moving mechanism,
Conveying apparatus according to claim 1, wherein such vertical movement of the distal end portion of the moving mechanism is possible, characterized in that the fulcrum on said moving mechanism is installed.
請求項1または2に記載の搬送装置を備えたことを特徴とする処理装置。   A processing apparatus comprising the transfer apparatus according to claim 1. 前記搬送装置を構成する処理室は、熱処理室であることを特徴とする請求項3に記載の処理装置。 The processing apparatus according to claim 3, wherein the processing chamber constituting the transfer device is a heat treatment chamber. 前記搬送装置を構成する搬送手段から前記処理室に処理物を受け渡す受け渡し機構を備えていることを特徴とする請求項4に記載の処理装置。 Processing apparatus according to claim 4, characterized in that it comprises a transfer mechanism for transferring the processed material from the conveying means to the processing chamber constituting the conveying device.
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