JP4946793B2 - Electronic device including optical wiring and optical wiring thereof - Google Patents

Electronic device including optical wiring and optical wiring thereof Download PDF

Info

Publication number
JP4946793B2
JP4946793B2 JP2007277806A JP2007277806A JP4946793B2 JP 4946793 B2 JP4946793 B2 JP 4946793B2 JP 2007277806 A JP2007277806 A JP 2007277806A JP 2007277806 A JP2007277806 A JP 2007277806A JP 4946793 B2 JP4946793 B2 JP 4946793B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
optical waveguides
waveguides
electronic device
optical waveguide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007277806A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2009104064A (en
Inventor
明夫 菅間
重憲 青木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2007277806A priority Critical patent/JP4946793B2/en
Publication of JP2009104064A publication Critical patent/JP2009104064A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4946793B2 publication Critical patent/JP4946793B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Description

本発明は、光配線を備えた電子装置及びその光配線に関し、特に、配線密度が高く且つクロストークの小さい光配線を備えた電子装置及びその光配線に関する。   The present invention relates to an electronic device including an optical wiring and an optical wiring thereof, and more particularly to an electronic device including an optical wiring having a high wiring density and a small crosstalk and the optical wiring thereof.

LSI等の半導体装置の信号処理速度は、著しく向上している。その結果、半導体装置自体の信号処理速度は、半導体装置の間(例えば、CPUとメモリの間)を接続する電気配線の信号伝送速度を越えるまでになっている。   The signal processing speed of a semiconductor device such as an LSI is remarkably improved. As a result, the signal processing speed of the semiconductor device itself exceeds the signal transmission speed of the electrical wiring connecting the semiconductor devices (for example, between the CPU and the memory).

このため、複数の半導体装置が電気配線によって接続された電子装置の信号処理速度は、半導体装置間を接続する電気配線の伝送速度によって律速されるようになっている。   For this reason, the signal processing speed of an electronic device in which a plurality of semiconductor devices are connected by electrical wiring is controlled by the transmission speed of electrical wiring that connects the semiconductor devices.

このような電子装置の信号処理速度の限界を超える技術として、光配線(光インターコネクション)が注目されている(特許文献1)。
特開平11−264912号公報 池上徹彦、土屋治彦、三上修:半導体フォトニクス工学、コロナ社(1995年)、p.55。
Optical wiring (optical interconnection) has attracted attention as a technology that exceeds the limit of the signal processing speed of such an electronic device (Patent Document 1).
JP-A-11-264912 Tetsuhiko Ikegami, Haruhiko Tsuchiya, Osamu Mikami: Semiconductor Photonics Engineering, Corona (1995), p.55.

(1)光配線を備えた電子装置
図14は、半導体装置2の間で交わされる信号を光信号10で伝送する光配線4を備えた電子装置6の平面図である。図15は、この電子装置6のA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。
(1) Electronic Device with Optical Wiring FIG. 14 is a plan view of an electronic device 6 with an optical wiring 4 that transmits a signal exchanged between the semiconductor devices 2 using an optical signal 10. FIG. 15 is a cross-sectional view of the electronic device 6 taken along the line AA ′ when viewed from the direction of the arrow.

また、図16(a)は、図14に図示する電子装置6を構成する光配線4の平面図である。図16(b)は、光配線4のA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。   FIG. 16A is a plan view of the optical wiring 4 constituting the electronic device 6 shown in FIG. FIG. 16B is a cross-sectional view of the optical wiring 4 taken along the line AA ′ when viewed from the direction of the arrow.

電子装置6は、図14及び図15に示すように、基板8と、基板8の上に形成された、電気信号を処理する複数の半導体装置2と、基板8の上に形成された複数の光導波路12によって構成される光配線4を備えている。ここで、光導波路12は、半導体装置2の間で交わされる信号が電気から光に変換されてなる光信号10を伝送するチャネルとして機能する。   As shown in FIGS. 14 and 15, the electronic device 6 includes a substrate 8, a plurality of semiconductor devices 2 that are formed on the substrate 8 and process electrical signals, and a plurality of semiconductor devices 2 that are formed on the substrate 8. An optical wiring 4 constituted by the optical waveguide 12 is provided. Here, the optical waveguide 12 functions as a channel for transmitting an optical signal 10 obtained by converting a signal exchanged between the semiconductor devices 2 from electricity to light.

尚、光信号10は光配線4を構成する全ての光導波路12を伝播するが、図面が複雑になるにならないように、図14には、一つの光導波路12を伝播する光信号10のみを代表として記載した。以下の図面でも、同様である。良く知られているように、光導波路はコアとクラッドで構成される。上記光配線4では複数の光導波路12によって一のクラッドが共有されるので、図14乃至図16では、各光導波路を表す符号はそのコアに付した。以下で説明する図面においても、同様である。   Although the optical signal 10 propagates through all the optical waveguides 12 constituting the optical wiring 4, only the optical signal 10 propagating through one optical waveguide 12 is shown in FIG. 14 so as not to complicate the drawing. Described as representative. The same applies to the following drawings. As is well known, an optical waveguide is composed of a core and a clad. In the optical wiring 4, one clad is shared by the plurality of optical waveguides 12. Therefore, in FIGS. 14 to 16, reference numerals representing the respective optical waveguides are attached to the cores. The same applies to the drawings described below.

光配線4では、図16(a)に示すように、光導波路12が互いに平行に形成されている。また、図16(b)に示すように、光導波路12のコアの断面が矩形に形成されている。更に、光導波路12は、コア及びクラッドの屈折率が等しく形成される。   In the optical wiring 4, as shown in FIG. 16A, the optical waveguides 12 are formed in parallel to each other. Further, as shown in FIG. 16B, the core of the optical waveguide 12 has a rectangular cross section. Furthermore, the optical waveguide 12 is formed so that the refractive indexes of the core and the clad are equal.

但し、光配線4は、必ずしも、全ての領域に於いて光導波路12が互いに平行に形成されていなくてもよい。例えば、半導体装置間の配線を容易にするため、夫々の光導波路12が部分的に適宜屈曲して、平行でなくなる領域が存在してもよい。   However, the optical wiring 4 does not necessarily have to have the optical waveguides 12 formed in parallel with each other in all regions. For example, in order to facilitate wiring between the semiconductor devices, there may be a region where the respective optical waveguides 12 are partially bent as appropriate and become non-parallel.

更に、電子装置6は、例えば面発光レーザからなる発光素子14と、面型の受光素子16と、45°ミラー18を備えている。尚、発光素子14及び受光素子16は、夫々半導体装置2によって駆動される。   Further, the electronic device 6 includes a light emitting element 14 made of, for example, a surface emitting laser, a surface light receiving element 16, and a 45 ° mirror 18. The light emitting element 14 and the light receiving element 16 are each driven by the semiconductor device 2.

ここで、発光素子14及び受光素子16は、半導体装置2と共に、電気配線が施された基板20に搭載されている。基板20には、上記光信号10が通過するためのビアホール(図示せず)が開口している。   Here, the light emitting element 14 and the light receiving element 16 are mounted together with the semiconductor device 2 on the substrate 20 on which electrical wiring is provided. The substrate 20 has a via hole (not shown) through which the optical signal 10 passes.

また、電気配線の施された基板20は、支持体21と光配線4によって保持され、基板8との間に隙間を開けた状態で固定される。この隙間に45°ミラー18が配置され、発光素子14又は受光素子16と光導波路12を光学的に結合する。   Further, the substrate 20 to which the electrical wiring is applied is held by the support 21 and the optical wiring 4 and is fixed with a gap between the substrate 20 and the substrate 8. A 45 ° mirror 18 is disposed in the gap, and optically couples the light emitting element 14 or the light receiving element 16 and the optical waveguide 12.

半導体装置2の間に於ける信号の伝送は、以下のように行われる。   Signal transmission between the semiconductor devices 2 is performed as follows.

まず、一方の半導体装置2によって生成された電気信号が、発光素子14によって光信号10に変換される。発光素子14によって光に変換された光信号10は、基板8に向かって放射され、45°ミラー18によって進行方向が変えられ光導波路12に入射する。光導波路12を伝播した光信号10は、45°ミラー18によって基板8に垂直な方向に進行方向が変えられ、面型の受光素子16に入射する。受光素子16に入射した光信号10は電気信号に変換され、他方の半導体装置2に受信される。   First, an electrical signal generated by one semiconductor device 2 is converted into an optical signal 10 by the light emitting element 14. The optical signal 10 converted into light by the light emitting element 14 is radiated toward the substrate 8, and its traveling direction is changed by the 45 ° mirror 18 and enters the optical waveguide 12. The traveling direction of the optical signal 10 propagated through the optical waveguide 12 is changed by the 45 ° mirror 18 in the direction perpendicular to the substrate 8 and is incident on the planar light receiving element 16. The optical signal 10 incident on the light receiving element 16 is converted into an electric signal and received by the other semiconductor device 2.

このようにして、光配線を備えた電子装置では、半導体装置間の信号伝送が行われる。
(2)光配線を備えた電子装置の高速化及びその課題
(光配線を備えた電子装置内に於ける)半導体装置間の伝送速度の向上は、光配線4を構成する光導波路12の本数を増加させることによって可能になる。
In this way, in an electronic device provided with optical wiring, signal transmission between semiconductor devices is performed.
(2) Speeding up of an electronic device provided with optical wiring and its problem (in an electronic device provided with optical wiring) Improvement of transmission speed between semiconductor devices is the number of optical waveguides 12 constituting the optical wiring 4. It becomes possible by increasing.

長距離光伝送では、波長の異なる多数の光信号を一本の光ファイバで伝送する波長多重化技術が、伝送速度の向上に有効であった。   In long-distance optical transmission, wavelength multiplexing technology that transmits a large number of optical signals having different wavelengths through a single optical fiber has been effective in improving the transmission speed.

しかし、光配線技術に、この光多重化技術を適用することは困難である。光配線4は、縦及び横が高々20〜30cm程度の基板8の上に形成される。このような小さな基板上で、半導体装置毎に、波長多重化のための光学部品(合波器、分波器等)を配置することは困難である。   However, it is difficult to apply this optical multiplexing technology to the optical wiring technology. The optical wiring 4 is formed on a substrate 8 whose height and width are about 20 to 30 cm at most. On such a small substrate, it is difficult to arrange optical components (multiplexer, demultiplexer, etc.) for wavelength multiplexing for each semiconductor device.

このため、光配線技術では、例えば図14のように光導波路12を多数備えた光配線4を用いて、空間的に光信号を多重化して伝送速度の向上を実現している。   For this reason, in the optical wiring technology, for example, as shown in FIG. 14, an optical wiring 4 provided with a large number of optical waveguides 12 is used to spatially multiplex optical signals to improve the transmission speed.

従って、半導体装置間の信号伝送速度を向上させようとすると、光導波路12の間隔を狭めて伝送チャネルを増やすことが必要になる。例えば、最も一般的な光配線4では光導波路12の間隔は250μmである。   Therefore, in order to improve the signal transmission speed between semiconductor devices, it is necessary to increase the number of transmission channels by narrowing the interval between the optical waveguides 12. For example, in the most general optical wiring 4, the interval between the optical waveguides 12 is 250 μm.

しかし、光導波路間隔をこれ以上狭くしようとすると、まず隣接した光導波路間でクロストークが著しく増大する。更に光導波路間隔を狭くすると、遂には、図16(a)に示すように、光信号10が完全に隣の光導波路に乗り移ってしまう。   However, if the interval between the optical waveguides is further narrowed, first, the crosstalk is remarkably increased between the adjacent optical waveguides. When the distance between the optical waveguides is further reduced, the optical signal 10 is finally transferred to the adjacent optical waveguide as shown in FIG.

このような状況下では、もはや半導体装置間における光信号の伝送は困難である。このため、光配線内に於ける光導波路12の間隔を、現状の250μmから大きく狭めることは困難である。このように、従来の光配線の構造のまま単に光導波路間隔を狭めて伝送速度を向上させる手法は、限界に達している。   Under such circumstances, it is no longer possible to transmit optical signals between semiconductor devices. For this reason, it is difficult to greatly reduce the distance between the optical waveguides 12 in the optical wiring from the current 250 μm. As described above, the conventional method of simply reducing the distance between the optical waveguides to improve the transmission speed with the structure of the optical wiring has reached the limit.

そこで、発明の目的は、光導波路12の間隔を狭くしても隣接する光導波路間のクロストークが大きくならない光導波路構造を構築することによって光配線の高密度化を可能にし、もって光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を向上させることである。   Accordingly, an object of the present invention is to make it possible to increase the density of optical wiring by constructing an optical waveguide structure in which the crosstalk between adjacent optical waveguides does not increase even if the interval between the optical waveguides 12 is narrowed. It is to improve the signal processing speed of an electronic device that performs signal transmission between semiconductor devices.

(第1の側面)
上記の目的を達成するために、本発明の第1の側面は、基板と、前記基板の上に形成された、電気信号を処理する複数の半導体装置と、前記半導体装置の間で交わされる信号が電気から光に変換されてなる光信号を伝送する、前記基板の上に形成された複数の光導波路によって構成される光配線を備え、前記光配線が、前記光導波路が互いに平行に形成された領域を具備する電子装置において、前記領域に於いて、前記光導波路のコアの断面が矩形に形成され、隣接する前記光導波路からなる第1及び第2の光導波路は、コア及びクラッドの屈折率が等しく、且つ前記第1及び第2の光導波路の間で、前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なることを特徴とする。
(First side)
In order to achieve the above object, according to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate, a plurality of semiconductor devices formed on the substrate for processing electrical signals, and signals exchanged between the semiconductor devices. Includes an optical wiring composed of a plurality of optical waveguides formed on the substrate for transmitting an optical signal converted from electricity to light, and the optical wiring is formed in parallel with each other. In the electronic device including the region, the core of the optical waveguide is formed in a rectangular cross section in the region, and the first and second optical waveguides composed of the adjacent optical waveguides are refracted by the core and the clad. The ratio is equal, and one or both of the width and thickness of the cross section is different between the first and second optical waveguides.

第1の側面によれば、隣接する光導波路の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なるので、当該光導波路間の伝播定数が異なる。従って、第1の側面によれば、光配線を構成する光導波路の間隔を狭くしても隣接する光導波路間のクロストークを小さくすることができるので、光配線の高密度化が可能になり、光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を飛躍的に向上させることができる。   According to the first aspect, since one or both of the width and thickness of the adjacent optical waveguides are different, the propagation constants between the optical waveguides are different. Therefore, according to the first aspect, since the crosstalk between adjacent optical waveguides can be reduced even if the interval between the optical waveguides constituting the optical wiring is reduced, the density of the optical wiring can be increased. The signal processing speed of an electronic device that performs signal transmission between semiconductor devices by optical wiring can be dramatically improved.

(第2の側面)
上記の目的を達成するために、本発明の第2の側面は、第1の側面において、前記幅及び前記厚さの何れか一方又は双方を異ならせることにより、前記第1及び第2の光導波路の間のクロストークを、−30dB以下にしたことを特徴とする。
(Second aspect)
In order to achieve the above object, according to a second aspect of the present invention, in the first aspect, either one or both of the width and the thickness is made different, whereby the first and second light guides are used. The crosstalk between the waveguides is -30 dB or less.

(第3の側面)
上記の目的を達成するために、本発明の第3の側面は、基板と、前記基板の上に形成された、電気信号を処理する第1及び第2の半導体装置と、前記第1及び第2の半導体装置の間で交わされる信号が電気から光に変換されてなる光信号を伝送する、前記基板の上に形成された複数の光導波路によって構成される光配線を備え、前記光配線が、前記光導波路が互いに平行に形成された領域を具備する電子装置において、前記領域に於いて、前記光導波路のコアの断面が矩形に形成され、前記光配線は、コア及びクラッドの屈折率が等しく且つ隣接する前記光導波路からなる第1及び第2の光導波路が交互に配置され、且つ、前記第1及び第2の光導波路の間で、前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なるように構成されており、前記第1の光導波路が、前記第1の半導体装置から前記第2の半導体装置に送信される前記光信号を伝送し、前記第2の光導波路が、前記第2の半導体装置から前記第1の半導体装置に送信される前記光信号を伝送することを特徴とする。
(Third aspect)
In order to achieve the above object, according to a third aspect of the present invention, there is provided a substrate, first and second semiconductor devices formed on the substrate for processing electrical signals, and the first and second semiconductor devices. An optical wiring configured by a plurality of optical waveguides formed on the substrate for transmitting an optical signal obtained by converting a signal exchanged between two semiconductor devices from electricity to light, the optical wiring comprising: In the electronic device including a region in which the optical waveguides are formed in parallel to each other, a cross section of the core of the optical waveguide is formed in a rectangular shape in the region, and the optical wiring has a refractive index of the core and the cladding. First and second optical waveguides consisting of the optical waveguides that are equal and adjacent to each other are alternately arranged, and either one of the width and thickness of the cross section between the first and second optical waveguides or Both are configured differently, A first optical waveguide transmits the optical signal transmitted from the first semiconductor device to the second semiconductor device, and the second optical waveguide transmits the first optical device from the second semiconductor device. The optical signal transmitted to the semiconductor device is transmitted.

第3の側面によれば、同一方向に伝播する光信号は、コアの幅及び厚さが同一の光導波路を伝播するので、第1の側面に係わる光配線に於いて生じるスキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)を解消することができる。
(第4の側面)
上記の目的を達成するために、本発明の第4の側面は、基板と、前記基板の上に形成された、電気信号を処理する複数の半導体装置と、前記半導体装置の間で交わされる信号が電気から光に変換されてなる光信号を伝送する、前記基板の上に形成された複数の光導波路によって構成される光配線を備え、前記光配線が、前記光導波路が互いに平行に形成された領域を具備する電子装置において、前記領域に於いて、前記光導波路のコアの断面が矩形に形成され、隣接する前記光導波路からなる第1及び第2の光導波路は、コア及びクラッドの屈折率が等しく、且つ、前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なる複数通りの短光導波路が複数縦列接続されてなり、前記第1及び第2の光導波路を夫々構成し且つ互いに隣接する前記短光導波路は、前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なることを特徴とする。
According to the third aspect, since the optical signal propagating in the same direction propagates through the optical waveguide having the same core width and thickness, the skew generated in the optical wiring related to the first side (between the optical waveguides). The difference in the arrival time of the optical signal in (1) can be eliminated.
(Fourth aspect)
In order to achieve the above object, according to a fourth aspect of the present invention, there is provided a substrate, a plurality of semiconductor devices formed on the substrate for processing electrical signals, and signals exchanged between the semiconductor devices. Includes an optical wiring composed of a plurality of optical waveguides formed on the substrate for transmitting an optical signal converted from electricity to light, and the optical wiring is formed in parallel with each other. In the electronic device including the region, the core of the optical waveguide is formed in a rectangular cross section in the region, and the first and second optical waveguides composed of the adjacent optical waveguides are refracted by the core and the clad. A plurality of short optical waveguides having the same ratio and different in one or both of the width and thickness of the cross section are connected in cascade, and the first and second optical waveguides are respectively configured and mutually connected. Adjacent short light Waveguides, either or both of the width and thickness of the cross section are different from each other.

第4の側面によれば、コア断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なる短光導波路を縦列接続して光導波路を構成するので、当該光導波路からなる光配線の光導波路密度を高くすることができると同時に、スキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)のない光配線を構成することが容易になる。従って、第4の側面によれば、光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を飛躍的に向上させると同時に、当該電子装置に於いてスキューのない信号処理を実現することが容易になる。   According to the fourth aspect, since the optical waveguide is formed by cascading short optical waveguides having different one or both of the width and thickness of the core cross section, the optical waveguide density of the optical wiring composed of the optical waveguide is reduced. At the same time, it is easy to construct an optical wiring without skew (difference in arrival time of optical signals between optical waveguides). Therefore, according to the fourth aspect, the signal processing speed of the electronic device that performs signal transmission between the semiconductor devices by the optical wiring is dramatically improved, and at the same time, the signal processing without skew is realized in the electronic device. It becomes easy.

(第5の側面)
上記の目的を達成するために、本発明の第5の側面は、第4の側面において、前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なる前記短光導波路毎に、前記短光導波路の長さの総和を取った値が、前記第1及び第2の光導波路の間で等しいことを特徴とする。
(5th side)
In order to achieve the above object, according to a fifth aspect of the present invention, there is provided the short optical waveguide according to the fourth aspect, wherein the short optical waveguide differs in any one or both of the width and thickness of the cross section. A value obtained by summing the lengths of is equal between the first and second optical waveguides.

第5の側面によれば、信号処理速度が飛躍的に高く且つスキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)のない、光配線を備えた電子装置を実現することができる。   According to the fifth aspect, it is possible to realize an electronic device including an optical wiring that has a remarkably high signal processing speed and has no skew (difference in arrival time of optical signals between optical waveguides). .

本発明では、隣接する光導波路のコア断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせることによって、隣接する光導波路の伝播定数を異ならせ、光導波路の間隔を狭くしても隣接する光導波路間のクロストークが大きくならないようにする。このため、本発明によれば、光配線を構成する光導波路の密度を高くすることができる。   In the present invention, either or both of the width and the thickness of the core cross section of the adjacent optical waveguides are made different so that the propagation constants of the adjacent optical waveguides are made different so that they are adjacent even if the interval between the optical waveguides is narrowed. Prevent crosstalk between optical waveguides from becoming large. For this reason, according to this invention, the density of the optical waveguide which comprises an optical wiring can be made high.

従って、本発明によれば、光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を、飛躍的に向上させることができる。   Therefore, according to the present invention, it is possible to dramatically improve the signal processing speed of an electronic device that performs signal transmission between semiconductor devices through an optical wiring.

また、本発明では、コア断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なる短光導波路を縦列接続して光導波路を構成する。このため、当該光導波路からなる光配線の光導波路密度を高くすることができると同時に、スキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)のない光配線を構成することができる。   In the present invention, the optical waveguide is configured by cascading short optical waveguides having different one or both of the width and thickness of the core cross section. For this reason, the optical waveguide density of the optical wiring composed of the optical waveguide can be increased, and at the same time, the optical wiring without skew (difference in arrival time of the optical signal between the optical waveguides) can be configured. .

従って、本発明によれば、光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を飛躍的に向上させことができ、且つ半導体装置間の信号伝送をスキューのない状態で行うことができる。   Therefore, according to the present invention, it is possible to dramatically improve the signal processing speed of an electronic device that performs signal transmission between semiconductor devices using an optical wiring, and to perform signal transmission between semiconductor devices without skew. Can do.

以下、図面にしたがって本発明の実施の形態について説明する。但し、本発明の技術的範囲はこれらの実施の形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された事項とその均等物まで及ぶものである。なお、図面が異なっても対応する部分には同一符号を付し、その説明は省略する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the technical scope of the present invention is not limited to these embodiments, but extends to the matters described in the claims and equivalents thereof. Note that even if the drawings are different, corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

(実施の形態1)
本実施の形態は、隣接する光導波路のコア断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせることによって、光導波路の間隔を狭くしてもクロストークが大きくならないようにした光配線を備えた電子装置に係るものである。
(Embodiment 1)
In the present embodiment, the optical wiring in which the crosstalk does not increase even if the interval between the optical waveguides is narrowed by making either one or both of the width and the thickness of the core cross section of the adjacent optical waveguide different. The present invention relates to an electronic device provided.

(1)装置構成
本実施の形態に係る電子装置の構成は、図14及び図15に示した電子装置(関連技術)と殆ど同じである。
(1) Device Configuration The configuration of the electronic device according to the present embodiment is almost the same as that of the electronic device (related technology) shown in FIGS.

但し、本実施の形態に係る電子装置を構成する光配線24は、図6に示すように、隣接する光導波路26,28の間で、コアの断面の幅W1,W2及び厚さD1,D2の何れか一方又は双方が異なる点で、図14及び図15に示した電子装置6と相違する(図6では、コアの断面の幅W1及びW2が異なっている。)。尚、図6(a)は光配線24の平面図であり、図6(b)は、図6(a)のA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。   However, as shown in FIG. 6, the optical wiring 24 constituting the electronic device according to the present embodiment has a width W1, W2 and a thickness D1, D2 of the cross section of the core between the adjacent optical waveguides 26, 28. 14 differs from the electronic device 6 shown in FIG. 14 and FIG. 15 in that either one or both are different (in FIG. 6, the widths W1 and W2 of the cross section of the core are different). 6A is a plan view of the optical wiring 24, and FIG. 6B is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 6A viewed from the direction of the arrow. .

ここで、第1及び第2の光導波路26,28のコアの構成は、第1及び第2の光導波路26,28のコアの断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせることにより、第1及び第2の光導波路26,28の間のクロストークを−30dB以下にしたものであることが好ましい。   Here, the configuration of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28 is such that either one or both of the width and thickness of the cross section of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28 are different. Therefore, it is preferable that the crosstalk between the first and second optical waveguides 26 and 28 is set to −30 dB or less.

また、第1及び第2の光導波路26,28のコアの構成は、第1及び第2の光導波路26,28のコアの断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせることにより、第1及び第2の光導波路26,28の間のクロストークを−50dB以下にしたものが更に好ましい。更には、第1及び第2の光導波路26,28のコアの構成は、第1及び第2の光導波路26,28のコアの断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせることにより、第1及び第2の光導波路26,28の間のクロストークを−70dB以下にしたものが最も好ましい。   In addition, the configuration of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28 is made by changing either one or both of the width and thickness of the cross section of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28. More preferably, the crosstalk between the first and second optical waveguides 26 and 28 is set to -50 dB or less. Furthermore, the configuration of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28 is such that either one or both of the width and thickness of the cross section of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28 are different. Therefore, it is most preferable that the crosstalk between the first and second optical waveguides 26 and 28 is −70 dB or less.

但し、クロストークを小さくし過ぎると第1及び第2の光導波路26,28のコアの断面の非対称性が大きくなり、第1及び第2の光導波路26,28の特性(例えば、伝送速度)の違いが大きくなり過ぎるので、クロストークを必要以上に小さくすることは好ましくない。このような観点から、クロストークの下限としては、−120dB以上が好ましく、更に好ましくは−100dB以上であり、更に好ましくは−80dB以上であり、最も好ましくは−40dB以上である。   However, if the crosstalk is made too small, the cross-sectional asymmetry of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28 is increased, and the characteristics (for example, transmission speed) of the first and second optical waveguides 26 and 28 are increased. Therefore, it is not preferable to make the crosstalk smaller than necessary. From such a viewpoint, the lower limit of crosstalk is preferably −120 dB or more, more preferably −100 dB or more, still more preferably −80 dB or more, and most preferably −40 dB or more.

(2)原 理
まず、隣接する光導波路のコア断面の幅及び厚さが等しい場合、光導波路間隔が狭くなるとクロストークが大きくなる理由について説明する。尚、以下の説明では、隣接する光導波路のコアとクラッドの比屈折率差は等しいものとする
図1に示すように近接して平行に配置された2本の光導波路30,32を伝播する光信号は、これら近接する光導波路の間を交互に往復しながら伝播する。
(2) Principle First, the reason why crosstalk increases when the distance between the optical waveguides becomes narrow when the width and thickness of the core sections of adjacent optical waveguides are equal. In the following description, it is assumed that the relative refractive index difference between the core and the clad of the adjacent optical waveguides is the same, and propagates through two optical waveguides 30 and 32 arranged in parallel and close as shown in FIG. The optical signal propagates while reciprocating alternately between these adjacent optical waveguides.

ここで、光信号10が入射された光導波路30に於ける光信号のパワーをP(z)、他方の光導波路32における信号光のパワーをP(z)とすると、光導波路30,32の伝播定数が等しい場合、光信号のパワーP(z),P(z)は、伝播方向に於ける位置座標zに対して図2のように交互に大きくなる。ここで、図2の縦軸は、規格化された光信号のパワーである。また、横軸は、光の伝播方向における位置座標zである。 Here, when the power of the optical signal in the optical waveguide 30 on which the optical signal 10 is incident is P 1 (z) and the power of the signal light in the other optical waveguide 32 is P 2 (z), the optical waveguide 30, When the propagation constants of 32 are equal, the optical signal powers P 1 (z) and P 2 (z) alternately increase as shown in FIG. 2 with respect to the position coordinate z in the propagation direction. Here, the vertical axis in FIG. 2 represents the power of the standardized optical signal. The horizontal axis is the position coordinate z in the light propagation direction.

近接する光導波路のコア断面の幅及び厚さが等しい場合、両光導波路の伝播定数β及びβは等しくなる。この場合、一方の光導波路を伝播する光信号(P(z))は、図2に示すように、除々に他方の光導波路(P(z))に乗り移りやがて光信号全体が他方の光導波路を伝播するようになる。完全に他方に乗り移った光信号は、今度は元の光導波路に除々乗り移りやがて光信号全体が再び元の光導波路を伝播するようになる(例えば、非特許文献1)。 When the width and thickness of the core cross-sections of the adjacent optical waveguides are equal, the propagation constants β 1 and β 2 of both optical waveguides are equal. In this case, as shown in FIG. 2, the optical signal (P 1 (z)) propagating through one optical waveguide gradually changes to the other optical waveguide (P 2 (z)), and the entire optical signal eventually becomes the other optical waveguide. Propagates through the optical waveguide. The optical signal completely transferred to the other side is gradually transferred to the original optical waveguide, and the entire optical signal is propagated again through the original optical waveguide (for example, Non-Patent Document 1).

光信号10は、このような往復運動を近接した2本の光導波路30,32の間で繰り返す。   The optical signal 10 repeats such a reciprocating motion between the two optical waveguides 30 and 32 that are close to each other.

この往復運動の周期の半分すなわち一方の光導波路から他方の光導波路に完全にパワーが移行する距離は、結合長Lと呼ばれる(図2参照)。この結合長は、2本の光導波路が近接するほど短くなる。   The half of the period of this reciprocation, that is, the distance at which power is completely transferred from one optical waveguide to the other optical waveguide is called a coupling length L (see FIG. 2). This coupling length becomes shorter as the two optical waveguides are closer to each other.

一例としてコア及びクラッドの比屈折率差が0.5%で、一方のコアの幅を3μmその厚さが3μmの光導波路では、その間隔が100μm〜200μmである場合、結合長は1km以上の長距離に及ぶ。従って、長さが高々20〜30cmの光配線では、隣接する光導波路12を100μm〜200μm離すことによって、光導波路間の光パワーの移行すなわちクロストークはさほど問題にならなくなる。   As an example, in an optical waveguide in which the relative refractive index difference between the core and the clad is 0.5% and the width of one core is 3 μm and the thickness is 3 μm, when the interval is 100 μm to 200 μm, the coupling length is 1 km or more. Long range. Therefore, in an optical wiring having a length of 20 to 30 cm at most, the transition of the optical power between the optical waveguides, that is, the crosstalk becomes less serious by separating the adjacent optical waveguides 12 by 100 μm to 200 μm.

しかし、光導波路の間隔を100μm以下に狭めると、その結合長が光配線を構成する光導波路の長さに近づいてくる。その結果、信号光が入射した光導波路(一方の光導波路30)から他方の光導波路32への光パワーの移行すなわちクロストークが大きくなり、無視し得なくなる。   However, when the distance between the optical waveguides is narrowed to 100 μm or less, the coupling length approaches the length of the optical waveguides constituting the optical wiring. As a result, the shift of optical power from the optical waveguide (one optical waveguide 30) into which the signal light has entered (that is, the crosstalk) to the other optical waveguide 32 becomes large and cannot be ignored.

さらに、光導波路の間隔が狭まり20〜30μm程度になると、結合長は30cm程度まで縮小する。このような状況下では、光信号が隣接する光導波路30,32の間を移動するようになり、もはや光配線はその機能を果し得なくなる。   Further, when the interval between the optical waveguides is reduced to about 20 to 30 μm, the coupling length is reduced to about 30 cm. Under such a situation, the optical signal moves between the adjacent optical waveguides 30 and 32, and the optical wiring can no longer perform its function.

一方、本実施の形態では、隣接する光導波路26,28の間で、コア断面の幅W1,W2及び厚さD1,D2の何れか一方又は双方を異ならせる。図6には、隣接する光導波路26,28の間で、コアの幅W1,W2が異なる例を示した。この場合、両光導波路26,28の伝播定数β及びβは異なった値になる。 On the other hand, in the present embodiment, one or both of the width W1, W2 and the thickness D1, D2 of the core cross section are made different between the adjacent optical waveguides 26, 28. FIG. 6 shows an example in which the core widths W1 and W2 are different between the adjacent optical waveguides 26 and 28. FIG. In this case, the propagation constants β 1 and β 2 of both optical waveguides 26 and 28 have different values.

隣接する光導波路の間で伝播定数が異なると、光導波路間の光パワーの移行は不完全なものになる。   If the propagation constants are different between adjacent optical waveguides, the optical power transfer between the optical waveguides is incomplete.

図3は、隣接する光導波路の伝播定数が異なる場合に、光導波路30,32を伝播する光のパワーの変化を説明する図である。縦軸は、規格化された光信号のパワーである。また、横軸は、光の伝播方向における位置座標zである。   FIG. 3 is a diagram for explaining a change in power of light propagating through the optical waveguides 30 and 32 when the propagation constants of adjacent optical waveguides are different. The vertical axis represents the power of the standardized optical signal. The horizontal axis is the position coordinate z in the light propagation direction.

図3に示すように、隣接する光導波路30,32の伝播定数が異なる場合、信号光が入射した光導波路(一方の光導波路30、図1参照)を伝播する光信号のパワーをP(z)は、結合長Lに於いても零にはならない。一方、(他方の)光導波路32に乗り移る信号光のパワーをP(z)は、結合長Lに於いても、最初に信号光10が光導波路30に入射した時の光信号光強度(=1)までは大きくならない(P<1)。 As shown in FIG. 3, when the propagation constants of the adjacent optical waveguides 30 and 32 are different, the power of the optical signal propagating through the optical waveguide into which the signal light is incident (one optical waveguide 30, see FIG. 1) is represented by P 1 ( z) does not become zero even at the coupling length L. On the other hand, the power of the signal light transferred to the (other) optical waveguide 32 is P 2 (z), which is the optical signal light intensity when the signal light 10 is first incident on the optical waveguide 30 even in the coupling length L ( = 1) does not increase (P 2 <1).

このことは、光導波路の密度を高くした結果、結合長が光導波路の長さと同程度或いはそれより短くなったとしても、例えば図6のように、隣接する光導波路26,28の間でコア断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせておけば、隣接する光導波路26,28間に於ける光パワーの移行を小さくできることを示している。この場合のクロストークは、高々、結合長Lに於いて他方の光導波路32に移行した光パワー(P(z))でしかならない。 Even if the coupling length becomes the same as or shorter than the length of the optical waveguide as a result of increasing the density of the optical waveguide, the core between the adjacent optical waveguides 26 and 28, for example, as shown in FIG. It has been shown that if one or both of the width and thickness of the cross section are made different, the transition of the optical power between the adjacent optical waveguides 26 and 28 can be reduced. The crosstalk in this case is at most only the optical power (P 2 (z)) transferred to the other optical waveguide 32 in the coupling length L.

従って、光配線4を高密度化しても、隣接する光導波路26,28の間でコア断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせることにより、光導波路間のクロストークを小さくすることが可能になる。   Therefore, even if the optical wiring 4 is densified, the crosstalk between the optical waveguides is reduced by making either or both of the width and the thickness of the core cross section between the adjacent optical waveguides 26 and 28 different. It becomes possible.

図3に示した例では、コア断面の幅又は厚さの非対称性があまり大きくないので、隣接した光導波路に移行する光パワーはまだ大きい。しかし、コア断面の幅又は厚さの非対称性を適宜大きくすれば、隣接した光導波路に移行する光パワーすなわちクロストークの値を、実用上無視し得る程度まで小さくすることができる。   In the example shown in FIG. 3, since the asymmetry of the width or thickness of the core cross section is not so large, the optical power transferred to the adjacent optical waveguide is still large. However, if the asymmetry of the width or thickness of the core cross section is appropriately increased, the value of optical power transferred to the adjacent optical waveguide, that is, the value of crosstalk can be reduced to a level that can be ignored in practice.

例えば、コア及びクラッドの比屈折率差が0.5%で、一方のコアの幅を3μmその厚さを3μmとし、他方のコアの幅を2μmその厚さを3μmとすると、光導波路の間隔を20μmに近づいても隣接する光導波路間のクロストークは-30dB以下になる。   For example, if the relative refractive index difference between the core and the clad is 0.5%, the width of one core is 3 μm and the thickness is 3 μm, and the width of the other core is 2 μm and the thickness is 3 μm, the distance between the optical waveguides The crosstalk between adjacent optical waveguides becomes -30 dB or less even when the value approaches 20 μm.

このように、本実施の形態によれば、光配線4を構成する光導波路26,28の間隔を狭くしても隣接する光導波路間のクロストークを小さくすることができるので、光配線の高密度化が可能になり、光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を飛躍的に向上させることができる。
(実施の形態2)
本実施の形態に係る電子装置は、実施の形態1に係る電子装置22で問題となるスキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)をなくした電子装置である。
As described above, according to the present embodiment, even if the distance between the optical waveguides 26 and 28 constituting the optical wiring 4 is reduced, the crosstalk between adjacent optical waveguides can be reduced. Densification is possible, and the signal processing speed of an electronic device that performs signal transmission between semiconductor devices by optical wiring can be dramatically improved.
(Embodiment 2)
The electronic device according to the present embodiment is an electronic device in which the skew (difference in arrival time of optical signals between optical waveguides) that is a problem in the electronic device 22 according to the first embodiment is eliminated.

図7は、本実施の形態における電子装置34を説明する平面図である。   FIG. 7 is a plan view for explaining the electronic device 34 in the present embodiment.

本実施の形態に係る電子装置34の構成は、実施の形態1に示した電子装置と殆ど同じである。すなわち、本実施の形態に係る電子装置34では、図7のように、コア及びクラッドの屈折率が等しく且つ隣接する光導波路からなる第1及び第2の光導波路26,28が交互に配置され、第1及び第2の光導波路26,28の間で、断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なるように構成されている。   The configuration of the electronic device 34 according to the present embodiment is almost the same as the electronic device shown in the first embodiment. That is, in the electronic apparatus 34 according to the present embodiment, as shown in FIG. 7, the first and second optical waveguides 26 and 28 having the same refractive index of the core and the clad and made of adjacent optical waveguides are alternately arranged. The first and second optical waveguides 26 and 28 are configured such that one or both of the width and thickness of the cross section are different.

但し、本実施の形態に係る電子装置34は、第1の光導波路26が、(発光素子14及び受光素子16を介して)第1の半導体装置36から第2の半導体装置38に送信される光信号40を伝送し、第2の光導波路28が、(発光素子14及び受光素子16を介して)第2の半導体装置38から第1の半導体装置36に送信される光信号42を伝送する点を特徴とする。   However, in the electronic device 34 according to the present embodiment, the first optical waveguide 26 is transmitted from the first semiconductor device 36 to the second semiconductor device 38 (via the light emitting element 14 and the light receiving element 16). The optical signal 40 is transmitted, and the second optical waveguide 28 transmits the optical signal 42 transmitted from the second semiconductor device 38 to the first semiconductor device 36 (via the light emitting element 14 and the light receiving element 16). Features a point.

上述した実施の形態1では、隣接する光導波路26,28の断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なるようにして、両者の伝播定数が一致しないようにした。このような場合、隣接する光導波路26,28を伝播する信号光の速度に違いが生じてしまう。更に、実施の形態1に係わる電子装置22は、図4に示すように、中央で隣接する光導波路86,88を除き、隣接する光導波路が同一方向に光信号を伝送するように構成されている。尚、図4は、実施の形態1における電子装置22の構成を説明する平面図である。   In the first embodiment described above, either or both of the cross-sectional width and thickness of the adjacent optical waveguides 26 and 28 are made different so that their propagation constants do not match. In such a case, a difference occurs in the speed of the signal light propagating through the adjacent optical waveguides 26 and 28. Further, as shown in FIG. 4, the electronic device 22 according to the first embodiment is configured such that adjacent optical waveguides transmit optical signals in the same direction except for the optical waveguides 86 and 88 adjacent in the center. Yes. FIG. 4 is a plan view for explaining the configuration of the electronic device 22 according to the first embodiment.

このため、実施の形態1に係わる電子装置22では、第1の半導体装置36から第2の半導体装置38に光信号が到達する時間が光導波路間で異なってしまうスキューが生じてしまう。   For this reason, in the electronic device 22 according to the first embodiment, a skew occurs in which the time for the optical signal to reach the second semiconductor device 38 from the first semiconductor device 36 differs between the optical waveguides.

これに対して、本実施の形態では、上述したように、第1の半導体装置36から第2の半導体装置38に光信号40を伝送する第1の光導波路26は、例えば、図7のように、全て幅の広い光導波路で構成されている。一方、第2の半導体装置38から第1の半導体装置36に光信号42を伝送する第2の光導波路28は、例えば、図7のように、全て幅の狭い光導波路42によって構成されている。   In contrast, in the present embodiment, as described above, the first optical waveguide 26 that transmits the optical signal 40 from the first semiconductor device 36 to the second semiconductor device 38 is, for example, as shown in FIG. In addition, they are all constituted by wide optical waveguides. On the other hand, the second optical waveguide 28 that transmits the optical signal 42 from the second semiconductor device 38 to the first semiconductor device 36 is constituted by a narrow optical waveguide 42 as shown in FIG. 7, for example. .

このように、一方の半導体装置から他方の半導体装置に光信号を伝送する光導波路のコア形状を同じにしておけば、これらの光導波路の伝播定数が等しくなるのでスキューは生じない。一方、隣接する光導波路間では、コアの形状が異なるのでクロストークが小さくなり、光配線の高密度化が可能になる。   Thus, if the core shapes of the optical waveguides that transmit optical signals from one semiconductor device to the other semiconductor device are the same, the propagation constants of these optical waveguides become equal, and no skew occurs. On the other hand, since the core shapes are different between adjacent optical waveguides, the crosstalk is reduced, and the optical wiring can be densified.

従って、本実施によれば、実施の形態1に係わる光配線に於いて生じるスキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)を解消することができる。   Therefore, according to the present embodiment, the skew (difference in arrival time of the optical signal between the optical waveguides) generated in the optical wiring according to the first embodiment can be eliminated.

(実施の形態3)
本実施の形態に係る電子装置は、実施の形態1と同じように、光導波路の間隔を狭くしてもクロストークが大きくないようにした光配線を備えた電子装置に係るものである。
(Embodiment 3)
As in the first embodiment, the electronic device according to the present embodiment relates to an electronic device including an optical wiring that prevents crosstalk from increasing even if the interval between the optical waveguides is reduced.

本実施の形態に係る電子装置は、光配線の構成が、実施の形態1に示した電子装置とは異なる。その他の点は、実施の形態1に係る電子装置22と同じである。このような光配線を採用することにより、実施の形態2のように光の伝送方向を隣接する光導波路の間で逆向きにしなくても、容易にスキューを解決することができる。但し、この点に関しては、下記実施の形態4で詳しく説明する。   The electronic device according to this embodiment is different from the electronic device shown in Embodiment 1 in the configuration of the optical wiring. The other points are the same as those of the electronic device 22 according to the first embodiment. By adopting such an optical wiring, it is possible to easily solve the skew even if the light transmission direction is not reversed between the adjacent optical waveguides as in the second embodiment. However, this point will be described in detail in Embodiment 4 below.

図8は、本実施の形態に係る光配線44の一例を説明する図である。図8(a)は平面図である。図8(b)は、図8(a)に示したA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。   FIG. 8 is a diagram for explaining an example of the optical wiring 44 according to the present embodiment. FIG. 8A is a plan view. FIG. 8B is a cross-sectional view of the cross section taken along the line AA ′ shown in FIG.

図8(b)のように、本実施の形態でも、光導波路46,48のコアの断面が矩形に形成される。   As shown in FIG. 8B, also in this embodiment, the cores of the optical waveguides 46 and 48 have a rectangular cross section.

ここで、本実施の形態に係わる電子装置44は、図8(a)のように、隣接する光導波路からなる第1及び第2の光導波路46,48が、コア及びクラッドの屈折率が等しく、且つ、コアの断面の幅W1,W2及び厚さD1,D2の何れか一方又は双方(図8の例では、コアの幅W1,W2)が異なる複数通りの光導波路50,52(以下、短光導波路と呼ぶ)が複数縦列接続されてなることを特徴とする。ここで、縦列接続とは、光の伝播方向に於いて光導波路を接続することを意味する。   Here, in the electronic device 44 according to the present embodiment, as shown in FIG. 8A, the first and second optical waveguides 46 and 48 composed of adjacent optical waveguides have the same refractive indexes of the core and the clad. In addition, a plurality of optical waveguides 50 and 52 (hereinafter, referred to as “core widths W1 and W2 in the example of FIG. 8) having different one or both of the width W1 and W2 and the thicknesses D1 and D2 of the cross section of the core. A short optical waveguide) is connected in cascade. Here, the cascade connection means that the optical waveguides are connected in the light propagation direction.

更に、本実施の形態の電子装置は、第1及び第2の光導波路46,48を夫々構成し且つ互いに隣接する短光導波路50,52が、そのコアの断面の幅W1,W2及び厚さD1,D2の何れか一方又は双方(図8の例では、コアの幅W1,W2)が異なることを特徴とする。   Further, in the electronic device of the present embodiment, the short optical waveguides 50 and 52 that constitute the first and second optical waveguides 46 and 48, respectively, are adjacent to each other in the width W1, W2 and thickness of the core cross section. One or both of D1 and D2 (in the example of FIG. 8, the core widths W1 and W2) are different.

このように構成することにより、第1及び第2の光導波路46,48を構成し互いに隣接する短光導波路50,52は、コアの断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方(図8の例では、コアの幅W1,W2)が異なることになる。従って、隣接する短光導波路50,52の伝播定数が異なった値になるので、隣接する短光導波路50,52の間に於ける光の移行は、たとえ短光導波路50,52の長さが結合長又は以上であっても僅かなものにしかならない。このため、短光導波路50,52が縦列接続されてなる第1及び第2の光導波路46,48の間に於ける信号光10の移行も、僅かなものにしかならない。   By configuring in this way, the short optical waveguides 50 and 52 constituting the first and second optical waveguides 46 and 48 and adjacent to each other are either or both of the width and thickness of the cross section of the core (FIG. 8). In this example, the core widths W1 and W2) are different. Accordingly, since the propagation constants of the adjacent short optical waveguides 50 and 52 have different values, the light transition between the adjacent short optical waveguides 50 and 52 is caused by the length of the short optical waveguides 50 and 52. Even a bond length or more is negligible. For this reason, the signal light 10 is only slightly transferred between the first and second optical waveguides 46 and 48 in which the short optical waveguides 50 and 52 are connected in cascade.

例えば、短光導波路50,52のコア及びクラッドの比屈折率差が0.5%で、短光導波路50のコアの幅が3μmその厚さが3μmであり、短光導波路52のコアの幅が2μmその厚さが3μmである場合、第1及び第2の光導波路50,52の間隔が20μmに近づいても、短光導波路50,52のクロストークは-30dB以下である。   For example, the relative refractive index difference between the core and the clad of the short optical waveguides 50 and 52 is 0.5%, the core width of the short optical waveguide 50 is 3 μm, the thickness is 3 μm, and the core width of the short optical waveguide 52 is When the thickness is 3 μm, the crosstalk of the short optical waveguides 50 and 52 is −30 dB or less even when the distance between the first and second optical waveguides 50 and 52 approaches 20 μm.

故に、本実施の形態によれば、光配線44を構成する光導波路46,48の間隔を狭くしても隣接する光導波路間のクロストークを小さくすることができるので、光配線の高密度化が可能になり、光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を飛躍的に向上させることができる。   Therefore, according to the present embodiment, even if the distance between the optical waveguides 46 and 48 constituting the optical wiring 44 is reduced, the crosstalk between the adjacent optical waveguides can be reduced. Therefore, the signal processing speed of an electronic device that performs signal transmission between semiconductor devices through optical wiring can be dramatically improved.

(実施の形態4)
本実施の形態に係る電子装置は、実施の形態3に係る電子装置においてスキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)をなくした電子装置である。
(Embodiment 4)
The electronic device according to the present embodiment is an electronic device in which the skew (difference in arrival time of optical signals between optical waveguides) in the electronic device according to the third embodiment is eliminated.

本実施の形態に係る電子装置の構成は、略実施の形態3に於ける電子装置と同じである。   The configuration of the electronic device according to the present embodiment is substantially the same as that of the electronic device according to the third embodiment.

但し、本実施の形態に係る電子装置の光配線44は、その光導波路46,48のコア断面の幅W1,W2及び厚さD1,D2の何れか一方又は双方が異なる短光導波路50,52毎に、短光導波路の長さの総和を取った値が、第1及び第2の光導波路46,48の間で等しいことを特徴とする。   However, the optical wiring 44 of the electronic device according to the present embodiment has short optical waveguides 50 and 52 in which one or both of the widths W1 and W2 and the thicknesses D1 and D2 of the core sections of the optical waveguides 46 and 48 are different. The value obtained by taking the sum of the lengths of the short optical waveguides is equal between the first and second optical waveguides 46 and 48.

例えば、図8に示す光配線44を備えた電子装置では、第1の光導波路46に於いて幅の広い短光導波路50の長さの総和を取った値L1が第2の光導波路48に於いて幅の広い短光導波路50の長さの総和を取った値L2に等しく(L1=L2)、且つ、第1の光導波路46に於いて幅の狭い短光導波路52の長さの総和を取った値M1が第2の光導波路48に於いて幅の狭い短光導波路52の長さの総和を取った値M2に等しい(M1=M2)。   For example, in the electronic device including the optical wiring 44 shown in FIG. 8, the value L1 obtained by summing the lengths of the wide short optical waveguides 50 in the first optical waveguide 46 is the second optical waveguide 48. The sum of the lengths of the short optical waveguides 52 having the same width is equal to the value L2 obtained by taking the sum of the lengths of the short optical waveguides 50 having the wider width (L1 = L2). The obtained value M1 is equal to the value M2 obtained by taking the sum of the lengths of the narrow short optical waveguides 52 in the second optical waveguide 48 (M1 = M2).

光信号10が第1の光導波路46の端から端に伝播するために要する時間Tは、光信号10が第1の光導波路46を構成する全ての短光導波路50を伝播するのに要する時間t11と、光信号10が第1の光導波路46を構成する全ての短光導波路52を伝播するのに要する時間t12の和である(すなわち、T=t11+t12)。尚、短光導波路50,52間の遷移領域54を光信号10が伝播する時間は、短光導波路50,52を光信号10が伝播するのに要する時間に比べ十分短いと考えられるので、ここでは無視した。 The time T 1 required for the optical signal 10 to propagate from end to end of the first optical waveguide 46 is required for the optical signal 10 to propagate through all the short optical waveguides 50 constituting the first optical waveguide 46. and the time t 11, the optical signal 10 is a sum of the time t 12 required to propagate all the short optical waveguides 52 constituting the first optical waveguide 46 (i.e., T 1 = t 11 + t 12). The time required for the optical signal 10 to propagate through the transition region 54 between the short optical waveguides 50 and 52 is considered to be sufficiently shorter than the time required for the optical signal 10 to propagate through the short optical waveguides 50 and 52. I ignored it.

一方、光信号10が第2の光導波路48の端から端に伝播するために要する時間Tは、光信号10が第2の光導波路48を構成する全ての短光導波路50を伝播するのに要する時間t21と、光信号10が第2の光導波路48を構成する全ての短光導波路52を伝播するのに要する時間t22の和である(すなわち、T=t21+t22)。 On the other hand, the time T 2 required for the optical signal 10 to propagate from end to end of the second optical waveguide 48 is such that the optical signal 10 propagates through all the short optical waveguides 50 constituting the second optical waveguide 48. to the time required t 21, the optical signal 10 is a sum of the time t 22 required to propagate all the short optical waveguides 52 constituting the second optical waveguide 48 (i.e., T 2 = t 21 + t 22 ).

ところで、光信号10が第1の光導波路46を構成するコア幅の広い全ての短光導波路50を伝播するのに要する時間t11は、第1の光導波路46に於いて幅の広い短光導波路50の長さの総和を取った値L1と短光導波路50の伝播定数β1で決まる。 By the way, the time t 11 required for the optical signal 10 to propagate through all the short optical waveguides 50 having a large core width constituting the first optical waveguide 46 is short optical light having a wide width in the first optical waveguide 46. It is determined by a value L1 obtained by summing the lengths of the waveguides 50 and a propagation constant β1 of the short optical waveguide 50.

すなわち、信号光10の角周波数をωとすると、t11=L1×β1/ωとなる。 That is, when the angular frequency of the signal light 10 is ω, t 11 = L1 × β1 / ω.

同様に、光信号10が第1の光導波路46を構成するコア幅の広い全ての短光導波路52を伝播するのに要する時間t12は、t12=M1×β2/ωとなる。 Similarly, the time t 12 required for the optical signal 10 to propagate through all the short optical waveguides 52 having a large core width constituting the first optical waveguide 46 is t 12 = M1 × β2 / ω.

従って、光信号10が第1の光導波路46の端から端に伝播するために要する時間Tは、T=t11+t12=L1×β1/ω+M1×β2/ωとなる。 Accordingly, the time T 1 required for the optical signal 10 to propagate from end to end of the first optical waveguide 46 is T 1 = t 11 + t 12 = L1 × β1 / ω + M1 × β2 / ω.

同様に、光信号10が第2の光導波路48の端から端に伝播するために要する時間Tは、T=t21+t22=L2×β1/ω+M2×β2/ωとなる。 Similarly, the time T 2 required for the optical signal 10 to propagate from end to end of the second optical waveguide 48 is T 2 = t 21 + t 22 = L2 × β1 / ω + M2 × β2 / ω. .

ここで、上述したようにL1=L2であり且つM1=M2なので、T1=T2となる。   Here, as described above, since L1 = L2 and M1 = M2, T1 = T2.

すなわち、光信号10が第1の光導波路46の端から端に伝播するために要する時間Tは、光信号10が第1の光導波路48の端から端に伝播するために要する時間Tに等しくなる。 That is, the time T 1 required for the optical signal 10 to propagate from end to end of the first optical waveguide 46 is the time T 2 required for the optical signal 10 to propagate from end to end of the first optical waveguide 48. Is equal to

故に、本実施の形態によれば、実施の形態1に係わる光配線に於いて生じるスキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)を解消することができる。   Therefore, according to the present embodiment, it is possible to eliminate the skew (difference in arrival time of the optical signal between the optical waveguides) that occurs in the optical wiring according to the first embodiment.

本実施例は、隣接する光導波路のコア断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方を異ならせることによって、光導波路の間隔を狭くしてもクロストークが大きくならないようにした光配線を備えた電子装置に係るものである。   This embodiment includes an optical wiring in which crosstalk does not increase even if the interval between the optical waveguides is narrowed by making either one or both of the width and the thickness of the core cross section of the adjacent optical waveguide different. This relates to an electronic device.

(1)装置構成
図4は、半導体装置2の間で交わされる信号を光10で伝送する光配線24を備えた電子装置22の平面図である。図5は、図4のA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。
(1) Device Configuration FIG. 4 is a plan view of an electronic device 22 provided with an optical wiring 24 that transmits signals exchanged between the semiconductor devices 2 using light 10. FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 4 as viewed from the direction of the arrow.

また、図6(a)は、光配線24の平面図である。図6(b)は、図6(a)のA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。   FIG. 6A is a plan view of the optical wiring 24. FIG. 6B is a cross-sectional view of the cross section taken along the line AA ′ in FIG.

電子装置22は、図4及び図5に示すように、例えば、石英、ガラス、シリコン、セラミック、及び樹脂の何れかからなる基板8と、基板8の上に形成された、例えば、CPUやメモリからなる電気信号を処理する複数の半導体装置2と、基板8の上に形成された複数の光導波路26,28からなる光配線24を備えている。ここで、光導波路26,28は、半導体装置2の間で交わされる信号が電気から光に変換されてなる光信号10を伝送するチャネルとして機能する。   4 and 5, the electronic device 22 includes, for example, a substrate 8 made of any one of quartz, glass, silicon, ceramic, and resin, and a CPU or memory formed on the substrate 8, for example. And a plurality of semiconductor devices 2 for processing electrical signals, and an optical wiring 24 composed of a plurality of optical waveguides 26 and 28 formed on the substrate 8. Here, the optical waveguides 26 and 28 function as a channel for transmitting an optical signal 10 obtained by converting a signal exchanged between the semiconductor devices 2 from electricity to light.

本実施例に於ける光導波路26,28は、ポリイミド樹脂(日立化成工業、商品名OPI)によって形成される。但し、光導波路26,28を形成する材料は、特定の材料に限定されるものではなく、例えば、石英、ガラス、シリコン、及び樹脂(エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等)の何れかであってもよい。   The optical waveguides 26 and 28 in the present embodiment are formed of polyimide resin (Hitachi Chemical Industry, trade name OPI). However, the material for forming the optical waveguides 26 and 28 is not limited to a specific material, and may be any of quartz, glass, silicon, and resin (epoxy resin, acrylic resin, polyimide resin, etc.), for example. May be.

光配線24には、図6(a)に示すように、第1及び第2の光導波路26,28が互いに平行に形成されている。また、光導波路26,28の間隔は20μmである。   In the optical wiring 24, as shown in FIG. 6A, first and second optical waveguides 26 and 28 are formed in parallel to each other. The interval between the optical waveguides 26 and 28 is 20 μm.

また、図6(b)に示すように、第1及び第2光導波路26,28のコアの断面は、矩形に形成される。ここで、第1の光導波路26のコアの幅W1は3μmで、その厚さD1は3μmである。また、第2の光導波路28のコアの幅W2は2μmで、その厚さD2は3μmである。また、第1及び第2の光導波路26,28は互いにコア及びクラッドの屈折率が等しく、コアとクラッドの比屈折率差は0.5%である。   Further, as shown in FIG. 6B, the cross sections of the cores of the first and second optical waveguides 26 and 28 are formed in a rectangular shape. Here, the width W1 of the core of the first optical waveguide 26 is 3 μm, and the thickness D1 thereof is 3 μm. Further, the width W2 of the core of the second optical waveguide 28 is 2 μm, and the thickness D2 thereof is 3 μm. The first and second optical waveguides 26 and 28 have the same refractive index of the core and the clad, and the relative refractive index difference between the core and the clad is 0.5%.

電子装置22は、更に、面発光レーザからなる発光素子14と、面型の受光素子16と、45°ミラー18を備えている(図4及び図5参照)。尚、半導体装置2は、発光素子14及び受光素子16の駆動回路を備えている。   The electronic device 22 further includes a light emitting element 14 made of a surface emitting laser, a surface light receiving element 16, and a 45 ° mirror 18 (see FIGS. 4 and 5). The semiconductor device 2 includes a drive circuit for the light emitting element 14 and the light receiving element 16.

また、発光素子14及び受光素子16は、半導体装置2と共に、電気配線が施されたシリコン基板20の上に搭載されている。シリコン基板20には、発光素子14から出射された光信号10が通過し又は受光素子16に入射する光信号10が通過するビアホール(図示せず)が開口されている。   The light emitting element 14 and the light receiving element 16 are mounted together with the semiconductor device 2 on a silicon substrate 20 on which electrical wiring is provided. A via hole (not shown) through which the optical signal 10 emitted from the light emitting element 14 passes or the optical signal 10 incident on the light receiving element 16 passes is opened in the silicon substrate 20.

また、電気配線の施された基板20は、図5に示すように、支持体21と光配線4によって保持され、基板8との間に隙間を開けた状態で固定される。この隙間に45°ミラー18が配置され、45°ミラー18は発光素子14又は受光素子16と光導波路12を光学的に結合する。   Moreover, the board | substrate 20 to which electric wiring was given is hold | maintained by the support body 21 and the optical wiring 4, and is fixed in the state which opened the clearance gap between the board | substrates 8, as shown in FIG. A 45 ° mirror 18 is disposed in the gap, and the 45 ° mirror 18 optically couples the light emitting element 14 or the light receiving element 16 and the optical waveguide 12.

以上のように構成された電子装置22では、光配線24のクロストークは−30dB以下である。   In the electronic device 22 configured as described above, the crosstalk of the optical wiring 24 is −30 dB or less.

すなわち、本実施例の電子装置22では、光配線24を構成する光導波路26,28の間隔が20μmと、従来の光配線の光導波路間隔100〜200μmより一桁狭くなっているが、光導波路26,28間のクロストークは-30dB以下と実用上問題のない程度に小さい。   That is, in the electronic device 22 of this embodiment, the distance between the optical waveguides 26 and 28 constituting the optical wiring 24 is 20 μm, which is an order of magnitude narrower than the optical waveguide spacing 100 to 200 μm of the conventional optical wiring. The crosstalk between 26 and 28 is as low as −30 dB or less so that there is no practical problem.

(2)動 作
本実施例に於ける電子装置24は、以下のように動作する。
(2) Operation The electronic device 24 in this embodiment operates as follows.

まず、一方の半導体装置2によって生成された電気信号が、発光素子14によって光信号10に変換される。発光素子14によって光電変換された光信号10は、図5のように、基板8に向かって放射され45°ミラー18によって進行方向が変えられ光導波路26,28に入射する。光信号10は光導波路26,28を伝播し、45°ミラー18によって基板8に垂直な方向に進行方向が変えられ、面型の受光素子16に入射する。受光素子16に入射した光信号10は電気信号に変換され、他方の半導体装置2に受信される。   First, an electrical signal generated by one semiconductor device 2 is converted into an optical signal 10 by the light emitting element 14. As shown in FIG. 5, the optical signal 10 photoelectrically converted by the light emitting element 14 is radiated toward the substrate 8, the traveling direction thereof is changed by the 45 ° mirror 18, and the light signal 10 enters the optical waveguides 26 and 28. The optical signal 10 propagates through the optical waveguides 26, 28, the traveling direction is changed in a direction perpendicular to the substrate 8 by the 45 ° mirror 18, and enters the planar light receiving element 16. The optical signal 10 incident on the light receiving element 16 is converted into an electric signal and received by the other semiconductor device 2.

ここで、光導波路26,28は、夫々のコアの幅が2μmと3μmと異なって形成されているので、両光導波路26,28の間でパワーの移行は殆ど起こらず、クロストークは-30dB以下と実用上問題にならない小さな値にしかならない。   Here, since the optical waveguides 26 and 28 have different core widths of 2 μm and 3 μm, almost no power transfer occurs between the optical waveguides 26 and 28, and the crosstalk is −30 dB. It is only a small value that does not cause any practical problems.

本実施例に係る電子装置は、実施例1に係る電子装置22で問題となるスキュー(光導波路間に於ける、光信号の到達時間の差)をなくした電子装置である。   The electronic apparatus according to the present embodiment is an electronic apparatus that eliminates a skew (difference in arrival time of an optical signal between optical waveguides) that is a problem in the electronic apparatus 22 according to the first embodiment.

図7は、本実施例に係る電子装置34の構成を説明する平面図である。   FIG. 7 is a plan view illustrating the configuration of the electronic device 34 according to the present embodiment.

本実施例に係る電子装置34の構成は、実施例1に示した電子装置と殆ど同じである。   The configuration of the electronic device 34 according to the present embodiment is almost the same as the electronic device shown in the first embodiment.

但し、本実施例に係る電子装置34は、交互に配置された第1の光導波路26が、(発光素子14及び受光素子16を介して)第1の半導体装置36から第2の半導体装置38に送信される光信号40を伝送し、交互に配置された第2の光導波路42が、(発光素子14及び受光素子16を介して)第2の半導体装置38から第1の半導体装置36に送信される光信号42を伝送する点を特徴とする。   However, in the electronic device 34 according to the present embodiment, the first optical waveguides 26 arranged alternately are arranged from the first semiconductor device 36 to the second semiconductor device 38 (via the light emitting element 14 and the light receiving element 16). The second optical waveguides 42 that transmit the optical signals 40 transmitted to and alternately arranged from the second semiconductor device 38 to the first semiconductor device 36 (via the light emitting element 14 and the light receiving element 16). It is characterized in that the transmitted optical signal 42 is transmitted.

図4に示した実施例1に係わる電子装置22では、発光素子14と受光素子16は、互いに混じり合わずに、半導体装置2が搭載された基板20の右半分又は左半分に配置されている。従って、例えば、上側の半導体装置2によって生成された信号は、光信号10に変換されて、コア幅の広い光導波路26及びコア幅の狭い光導波路28の双方を伝播して下側の半導体装置2に向かって伝送される。   In the electronic device 22 according to the first embodiment illustrated in FIG. 4, the light emitting element 14 and the light receiving element 16 are not mixed with each other and are disposed on the right half or the left half of the substrate 20 on which the semiconductor device 2 is mounted. . Therefore, for example, a signal generated by the upper semiconductor device 2 is converted into the optical signal 10 and propagates through both the optical waveguide 26 having a large core width and the optical waveguide 28 having a narrow core width, and the lower semiconductor device. 2 is transmitted.

第1及び第2の光導波路24,26は、コアの幅が異なっている。このため、第1及び第2の光導波路26,28ではその伝播定数が異なる。従って、第1の光導波路26を伝播し上側から下側に向かう光信号の到達時間と、第2の光導波路28を伝播し同じく上側から下側に向かう光信号の到達時間には差が生じてしまう。すなわち、スキューが発生する。   The first and second optical waveguides 24 and 26 have different core widths. For this reason, the propagation constants of the first and second optical waveguides 26 and 28 are different. Therefore, there is a difference between the arrival time of the optical signal propagating through the first optical waveguide 26 and going from the upper side to the lower side, and the arrival time of the optical signal propagating through the second optical waveguide 28 and going from the upper side to the lower side. End up. That is, skew occurs.

一方、図7に示す本実施例の電子装置34では、発光素子14と受光素子16が、半導体装置36,38が搭載された基板20の上に交互に配置されている。従って、例えば、上側の半導体装置36によって生成された信号が光電変換された光信号1
40は、全て、コアの幅が広い光導波路26伝播して下側の半導体装置38に向かって伝送される。
On the other hand, in the electronic apparatus 34 of this embodiment shown in FIG. 7, the light emitting elements 14 and the light receiving elements 16 are alternately arranged on the substrate 20 on which the semiconductor devices 36 and 38 are mounted. Therefore, for example, an optical signal 1 obtained by photoelectrically converting a signal generated by the upper semiconductor device 36.
All of the signals 40 propagate through the optical waveguide 26 having a wide core and are transmitted toward the lower semiconductor device 38.

従って、電子装置34の上側から下側に向かう光信号40は、伝播定数の同じ幅広の光導波路26を伝播することになる。同様に、電子装置34の下側から上側に向かう光信号42も、伝播定数の同じ幅狭の光導波路28を伝播することになる。   Accordingly, the optical signal 40 traveling from the upper side to the lower side of the electronic device 34 propagates through the wide optical waveguide 26 having the same propagation constant. Similarly, the optical signal 42 directed from the lower side to the upper side of the electronic device 34 propagates through the narrow optical waveguide 28 having the same propagation constant.

このため、本実施例の電子装置34では、光信号が到達する時間が光導波路間で異なるスキューは発生しない。また、隣接する光導波路間でコアの形状が異なるので、光導波路の間隔が狭くなってもクロストークが大きくなることはない。従って、光配線を高密度化することができる。   For this reason, in the electronic device 34 of the present embodiment, the skew in which the time that the optical signal reaches differs between the optical waveguides does not occur. Further, since the core shapes are different between adjacent optical waveguides, the crosstalk does not increase even if the interval between the optical waveguides is reduced. Therefore, the optical wiring can be densified.

本実施例に係る電子装置は、実施例1と同じように、光導波路の間隔を狭くしてもクロストークが大きくならないようにした光配線を備えた電子装置に係るものである。   As in the first embodiment, the electronic device according to the present embodiment relates to an electronic device including an optical wiring that prevents crosstalk from increasing even if the interval between the optical waveguides is narrowed.

但し、本実施例に係る電子装置によれば、実施例2のように光の伝送方向を隣接する光導波路間で逆向きにしなくても、光導波路間の光信号の到達時間の差すなわちスキューを容易になくすことができる
(1)構 成
本実施例に係る電子装置は、光配線の構成が、実施例1に示した電子装置とは異なる。その他の点は、実施例1に係る電子装置22と同じである。
However, according to the electronic apparatus of this embodiment, even if the light transmission direction is not reversed between adjacent optical waveguides as in the second embodiment, the difference in arrival time of optical signals between the optical waveguides, that is, the skew. (1) Configuration The electronic device according to the present embodiment is different from the electronic device shown in the first embodiment in the configuration of the optical wiring. The other points are the same as those of the electronic device 22 according to the first embodiment.

図8は、本実施例に係る光配線44の構成を説明する図である。図8(a)は平面図である。図8(b)は、図8(a)のA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。   FIG. 8 is a diagram illustrating the configuration of the optical wiring 44 according to the present embodiment. FIG. 8A is a plan view. FIG. 8B is a cross-sectional view of the cross section taken along the line AA ′ of FIG.

図8(b)のように、本実施例でも、光導波路46,48のコアの断面が矩形に形成される。   As shown in FIG. 8B, also in this embodiment, the cores of the optical waveguides 46 and 48 are formed in a rectangular cross section.

本実施例に於ける光導波路46,48も、実施例1に係わる光配線24と同様、ポリイミド樹脂(日立化成工業、商品名OPI)によって形成される。但し、光導波路26,28を形成する材料は、特定の材料に限定されるものでなく、例えば、石英、ガラス、シリコン、及び樹脂(エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂)の何れかであってもよい。   The optical waveguides 46 and 48 in the present embodiment are also formed of polyimide resin (Hitachi Chemical Industries, trade name OPI), similarly to the optical wiring 24 according to the first embodiment. However, the material for forming the optical waveguides 26 and 28 is not limited to a specific material, and may be any one of, for example, quartz, glass, silicon, and resin (epoxy resin, acrylic resin, polyimide resin). Also good.

ここで、本実施例の電子装置は、図8(a)のように、隣接する光導波路からなる第1及び第2の光導波路46,48が、そのコア及びクラッドの屈折率が等しく、且つ、矩形に形成されたコアの断面の幅W1,W2が異なる二通りの光導波路50,52(以下、短光導波路と呼ぶ)が複数縦列接続されて構成されている。   Here, as shown in FIG. 8A, the electronic device of the present embodiment has the first and second optical waveguides 46 and 48 formed of adjacent optical waveguides having the same refractive index of the core and the cladding, and A plurality of optical waveguides 50 and 52 (hereinafter referred to as short optical waveguides) having different cross-sectional widths W1 and W2 of a core formed in a rectangular shape are connected in cascade.

第1の短光導波路50は、幅が3μmで厚さが3μmである。一方、第2の短光導波路52は、幅が2μmであり厚さが3μmである。そして、隣接する第1及ぶ第2の光導波路46,48の間隔は20μmである。また、第1及ぶ第2の光導波路46,48の比屈折率差は、共に0.5%である。   The first short optical waveguide 50 has a width of 3 μm and a thickness of 3 μm. On the other hand, the second short optical waveguide 52 has a width of 2 μm and a thickness of 3 μm. The distance between adjacent first and second optical waveguides 46 and 48 is 20 μm. The relative refractive index difference between the first and second optical waveguides 46 and 48 is 0.5%.

更に、本実施例の電子装置は、第1及び第2の光導波路46,48を構成し且つ互いに隣接する短光導波路50,52が、そのコアの断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方(図8の例では、コアの幅w1,w2)が異なることを特徴とする。   Further, in the electronic device of the present embodiment, the short optical waveguides 50 and 52 constituting the first and second optical waveguides 46 and 48 and adjacent to each other are either one of the width and thickness of the cross section of the core, or Both are different (in the example of FIG. 8, the core widths w 1 and w 2) are different.

このように、第1及び第2の光導波路46,48を構成し互いに隣接する短光導波路50,52は、そのコアの断面の幅が異なっている。このため、隣接する短光導波路50,52の伝播定数β1,β2は、異なった値になる。   As described above, the short optical waveguides 50 and 52 constituting the first and second optical waveguides 46 and 48 and adjacent to each other have different core cross-sectional widths. For this reason, the propagation constants β1 and β2 of the adjacent short optical waveguides 50 and 52 have different values.

従って、隣接する短光導波路50,52間に於ける光の移行は、短導波路50,52の長さが結合長と同程度又はそれ以上になっても、大きな値にはならない。例えば、本実施例に於ける短光導波路46,48間のクロストークは、−30dB以下である。   Accordingly, the transition of light between the adjacent short optical waveguides 50 and 52 does not become a large value even if the length of the short waveguides 50 and 52 is equal to or longer than the coupling length. For example, the crosstalk between the short optical waveguides 46 and 48 in this embodiment is −30 dB or less.

このため、短光導波路50,52が複数縦列接続されてなる第1及び第2の光導波路46,48の間に於ける信号光の移行はごく僅かである。   For this reason, there is very little transfer of signal light between the first and second optical waveguides 46 and 48 in which a plurality of short optical waveguides 50 and 52 are connected in cascade.

故に、本実施例によれば、光配線44を構成する光導波路46,48の間隔を狭くしても隣接する光導波路46,48の間のクロストークを小さくすることができるので、光配線の高密度化が可能になり、光配線によって半導体装置間の信号伝送を行う電子装置の信号処理速度を向上させることができる。   Therefore, according to this embodiment, even if the interval between the optical waveguides 46 and 48 constituting the optical wiring 44 is narrowed, the crosstalk between the adjacent optical waveguides 46 and 48 can be reduced. The density can be increased, and the signal processing speed of an electronic device that performs signal transmission between semiconductor devices by optical wiring can be improved.

更に、本実施例では、第1の光導波路46を構成する幅の広い2本の短光導波路50の光導波路長の和(l1+l3)と、第2の光導波路48を構成する幅の広い2本の短光導波路50の光導波路長の和(l6+l8)が等しい(l1、l3、l6、及びl8は、図8(a)参照)。また、第1の光導波路46を構成する幅の狭い2本の短光導波路52の光導波路長の和(l2+l4)と、第2の光導波路48を構成する幅の狭い2本の短光導波路52の光導波路長(l5+l7)の和が等しい(l2、l4、l5、及びl7は、図8(a)参照)。   Furthermore, in the present embodiment, the sum of the optical waveguide lengths of the two short optical waveguides 50 constituting the first optical waveguide 46 (l1 + l3) and the width constituting the second optical waveguide 48 are increased. The sum of the optical waveguide lengths of the two wide short optical waveguides 50 (l6 + l8) is equal (for l1, l3, l6, and l8, see FIG. 8 (a)). In addition, the sum of the optical waveguide lengths of the two short optical waveguides 52 that form the first optical waveguide 46 (l 2 +14) and the two short optical waveguides that form the second optical waveguide 48. The sum of the optical waveguide lengths (l5 + l7) of the optical waveguide 52 is equal (see FIG. 8A for l2, l4, l5, and l7).

短光導波路50,52は夫々コア幅が異なるので、伝播定数が異なっている。従って、夫々の短光導波路に於ける光の伝播速度が異なる。しかし、上述したように、第1の光導波路46を構成するコア幅の広い短光導波路50の光導波路長の和(l1+l3)が、第2の光導波路48を構成するコア幅の広い短光導波路50の光導波路長の和(l6+l8)に等しい。また、第1の光導波路46を構成するコア幅の狭い短光導波路52の光導波路長の和(l2+l4)が、第2の光導波路48を構成するコア幅の狭い短光導波路52の光導波路長l5+l7)の和に等しい。   Since the short optical waveguides 50 and 52 have different core widths, their propagation constants are different. Therefore, the propagation speed of light in each short optical waveguide is different. However, as described above, the sum of the optical waveguide lengths of the short optical waveguide 50 having a large core width constituting the first optical waveguide 46 (l1 + l3) is the wide core width configuring the second optical waveguide 48. It is equal to the sum of the optical waveguide lengths of the short optical waveguide 50 (l6 + 18). In addition, the sum of the optical waveguide lengths of the short optical waveguide 52 having the narrow core width constituting the first optical waveguide 46 (l2 + 14) is the sum of the short optical waveguide 52 having the narrow core width configuring the second optical waveguide 48. It is equal to the sum of the optical waveguide lengths l5 + l7).

このため、信号光が第1の光導波路を伝播するために要する時間と、信号光が第2の光導波路を伝播するために要する時間は等しくなる。すなわち、本実施例に係る電子装置では、スキューは発生しない。尚、短光導波路50及び短光導波路52の遷移領域54は短光導波路50,52に比べて短いので、以上の説明では、この遷移領域54を伝播する光の時間は無視した。   For this reason, the time required for the signal light to propagate through the first optical waveguide is equal to the time required for the signal light to propagate through the second optical waveguide. That is, no skew occurs in the electronic apparatus according to the present embodiment. Since the transition region 54 of the short optical waveguide 50 and the short optical waveguide 52 is shorter than the short optical waveguides 50 and 52, the time of light propagating through the transition region 54 is ignored in the above description.

(2)動 作
本実施例に係る電子装置の動作は、実施例1に於ける電子装置と基本的には同じである。
(2) Operation The operation of the electronic apparatus according to the present embodiment is basically the same as that of the electronic apparatus according to the first embodiment.

但し、信号光が、コア幅の異なる短光導波路50,52を交互に伝播する点で相違する。   However, the difference is that the signal light alternately propagates through the short optical waveguides 50 and 52 having different core widths.

本実施例に係る電子装置は、光導波路が多層に形成されてなる光配線を備えた電子装置に係るものである。また、本実施例に係る電子装置は、光導波路のコアの幅でなくコアの厚さが、隣接する光導波路間で異なる場合がある例である。   The electronic device according to this embodiment relates to an electronic device provided with an optical wiring in which optical waveguides are formed in multiple layers. The electronic device according to the present embodiment is an example in which the thickness of the core, not the width of the core of the optical waveguide, may be different between adjacent optical waveguides.

本実施例に係る電子装置は、光配線の断面構造が、実施例1又は2に係る電子装置とは異なる。その他の点は、実施例1又は2に係る電子装置と同じである。従って、光配線の構造についてのみ説明し、その他の説明は省略する。   The electronic device according to the present embodiment is different from the electronic device according to the first or second embodiment in the cross-sectional structure of the optical wiring. Other points are the same as those of the electronic device according to the first or second embodiment. Therefore, only the structure of the optical wiring will be described, and other description will be omitted.

図9は、本実施例に係る電子装置が備える光配線56の構成を説明する図である。   FIG. 9 is a diagram illustrating the configuration of the optical wiring 56 provided in the electronic device according to the present embodiment.

また、図9(a)は、光配線56の平面図である。図9(b)は、図9(a)のA−A´線に於ける断面を矢印の方向から見た断面図である。   FIG. 9A is a plan view of the optical wiring 56. FIG. 9B is a cross-sectional view of the cross section taken along the line AA ′ of FIG.

図9(b)に示すように、光配線56は、第1の光導波路層66に上に第2の光導波路層68が積層されている。   As shown in FIG. 9B, in the optical wiring 56, the second optical waveguide layer 68 is laminated on the first optical waveguide layer 66.

そして、第1の光導波路層66は、コアの幅が3μmで厚さが2μmの第1の光導波路62と、コアの幅が2μmで厚さが2μmの第2の光導波路64が交互に配置されて構成されている。ここで、光導波路62と光導波路64の間隔は20μmである。   The first optical waveguide layer 66 includes a first optical waveguide 62 having a core width of 3 μm and a thickness of 2 μm, and a second optical waveguide 64 having a core width of 2 μm and a thickness of 2 μm alternately. Arranged and configured. Here, the distance between the optical waveguide 62 and the optical waveguide 64 is 20 μm.

また、第2の光導波路層68は、コアの幅が3μmで厚さが3μmの第3の光導波路58と、コアの幅が2μmで厚さが3μmの第4の光導波路60が交互に配置されて構成されている。ここで、光導波路58と光導波路60の間隔は20μmである。   The second optical waveguide layer 68 includes a third optical waveguide 58 having a core width of 3 μm and a thickness of 3 μm, and a fourth optical waveguide 60 having a core width of 2 μm and a thickness of 3 μm alternately. Arranged and configured. Here, the distance between the optical waveguide 58 and the optical waveguide 60 is 20 μm.

そして、第1の光導波路層66を構成する第1の光導波路62,64と第2の光導波路層68を構成する第1の光導波路58,60の間隔も20μmである。   The distance between the first optical waveguides 62 and 64 constituting the first optical waveguide layer 66 and the first optical waveguides 58 and 60 constituting the second optical waveguide layer 68 is also 20 μm.

すなわち、同一光導波路層内では、例えば第1の光導波路62と第2の光導波路64のように、コア幅の異なる光導波路が隣接する。一方、異なる光導波路層66,68の間では、例えば第1の光導波路62と第3の光導波路58のように、コアの厚さが異なる光導波路が隣接する。   That is, in the same optical waveguide layer, optical waveguides having different core widths, such as the first optical waveguide 62 and the second optical waveguide 64, are adjacent to each other. On the other hand, between the different optical waveguide layers 66 and 68, optical waveguides having different core thicknesses, such as the first optical waveguide 62 and the third optical waveguide 58, are adjacent to each other.

従って、本実施例に於ける光配線56では、隣接する光導波路の間で、コアの断面の幅及び厚さの何れか一方が異なっている。   Therefore, in the optical wiring 56 in the present embodiment, either the width or thickness of the cross section of the core is different between adjacent optical waveguides.

従って、本実施例に係る電子装置では、光導波路間での信号光の移行は殆ど起こらない。また、光導波路が積層されているので、実施例1乃至3の電子装置より高密度化された光配線が可能になる。   Therefore, in the electronic device according to the present embodiment, the signal light hardly transfers between the optical waveguides. Further, since the optical waveguides are laminated, optical wiring with higher density than the electronic devices of the first to third embodiments is possible.

尚、図9の例では、光導波路58,60,62,64のコア断面の幅及び厚さの何れか一方が異なっている。しかし、光導波路層の積層構造はこの様な構成に限られず、例えば、図10のように、夫々が異なる光導波路層66,68に属し且つ隣接する光導波路(光導波路60及び光導波路62、光導波路58及び光導波路64)のコアの厚さ及び幅の双方が異なるようにしてもよい。   In the example of FIG. 9, either the width or the thickness of the core cross section of the optical waveguides 58, 60, 62, 64 is different. However, the laminated structure of the optical waveguide layers is not limited to such a configuration. For example, as shown in FIG. 10, optical waveguide layers 66 and 68 that are different from each other and adjacent to each other (optical waveguide 60 and optical waveguide 62, Both the thickness and width of the cores of the optical waveguide 58 and the optical waveguide 64) may be different.

また、積層する光導波路層66,68の平面構造も、図9(a)にように幅の異なるストライプ状の光導波路が交互に配置された構造に限られるものではなく、例えば図8(a)のように幅の異なる短光導波路50,52が縦列接続されてなる光導波路46,48が、夫々を構成する幅の異なる短光導波路(短光導波路50及び短光導波路52)が対向するように配置された構造であってもよい。   Further, the planar structure of the laminated optical waveguide layers 66 and 68 is not limited to the structure in which stripe-shaped optical waveguides having different widths are alternately arranged as shown in FIG. 9A. For example, FIG. The optical waveguides 46 and 48 in which the short optical waveguides 50 and 52 having different widths are connected in cascade as shown in FIG. 6 are opposed to the short optical waveguides (the short optical waveguide 50 and the short optical waveguide 52) having different widths. The structure may be arranged as described above.

本実施例は、上記実施例1乃至4に係わる電子装置を構成する光配線の製造方法に係わるものである。   The present embodiment relates to a method of manufacturing an optical wiring constituting the electronic device according to the first to fourth embodiments.

図11乃至図13は、実施例1乃至3に係わる光配線22,24,44の製造方法を説明する断面工程図である。実施例4に係わる光配線56は、光導波路層を二度形成して積層する点で、下記製造工程とは相違するが、その他の点では共通する。   11 to 13 are cross-sectional process diagrams illustrating a method for manufacturing the optical wirings 22, 24, and 44 according to the first to third embodiments. The optical wiring 56 according to the fourth embodiment is different from the following manufacturing process in that the optical waveguide layer is formed and laminated twice, but is common in other points.

まず、例えば、石英、ガラス、シリコン、セラミック、及び樹脂の何れかからなる平坦な基板8の上に、クラッド形成用のポリイミド樹脂溶液(日立化成、商品名:OPI-N3205)をスピンコートによって塗布し、350℃で加熱して硬化させる。硬化したポリイミド樹脂溶液は、ポリイミドからなる下部クラッド70を形成する(図11(a))。   First, for example, a polyimide resin solution for clad formation (Hitachi Kasei, trade name: OPI-N3205) is applied on a flat substrate 8 made of any one of quartz, glass, silicon, ceramic, and resin by spin coating. And cured by heating at 350 ° C. The cured polyimide resin solution forms a lower clad 70 made of polyimide (FIG. 11A).

次に、下部クラッド70の上に、コア形成用のポリイミド樹脂溶液(日立化成、商品名:OPI-N3305又はOPI-N3405)をスピンコートによって塗布し、350℃で加熱して硬化させる。硬化したポリイミド樹脂溶液は、ポリイミドからなるコア用樹脂層72を形成する(図11(b))。   Next, a polyimide resin solution for core formation (Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name: OPI-N3305 or OPI-N3405) is applied onto the lower clad 70 by spin coating, and is cured by heating at 350 ° C. The cured polyimide resin solution forms a core resin layer 72 made of polyimide (FIG. 11B).

次に、スパッタ法又は蒸着法により金属薄膜74をコア用樹脂層72の上に堆積する(図11(c))。   Next, a metal thin film 74 is deposited on the core resin layer 72 by sputtering or vapor deposition (FIG. 11C).

次に、この金属薄膜74の上に、フォトレジスト膜を塗布し、形成すべき光配線のコア形状に応じたレジストパター76に形成する(図12(d))。   Next, a photoresist film is applied on the metal thin film 74 to form a resist pattern 76 corresponding to the core shape of the optical wiring to be formed (FIG. 12D).

次に、このレジストパター76をマスクとして、金属薄膜74をウェットエッチングして、金属薄膜パターン78を形成する(図12(e))。   Next, using the resist pattern 76 as a mask, the metal thin film 74 is wet etched to form a metal thin film pattern 78 (FIG. 12E).

次に、この金属薄膜パターン78をマスクとして、コア用樹脂72をドライエッチングして、コアを形成する(図12(f))。   Next, using the metal thin film pattern 78 as a mask, the core resin 72 is dry-etched to form a core (FIG. 12F).

次に、金属薄膜パターン78を除去し、再度、クラッド形成用のポリイミド樹脂溶液(日立化成、商品名:OPI-N3205)をスピンコートによって塗布し、350℃で加熱して硬化させる。硬化したポリイミド樹脂溶液は、ポリイミドからなる上部クラッド82を形成する(図13)。   Next, the metal thin film pattern 78 is removed, and a polyimide resin solution for clad formation (Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name: OPI-N3205) is applied again by spin coating, and cured by heating at 350 ° C. The cured polyimide resin solution forms an upper clad 82 made of polyimide (FIG. 13).

以上の工程により、基板8の上に、ポリイミドからなるクラッド70,82とコア80を備え、所定のコア形状を有する光配線が形成さえる。   Through the above steps, an optical wiring having a predetermined core shape is formed on the substrate 8 with the clads 70 and 82 made of polyimide and the core 80.

以上の例では、光配線を構成する光導波路のコアの幅及び厚さは、2μm又は3μmである。従って、これらの光導波路はシングルモード光導波路である。しかし、上記光配線を構成する光導波路は、必ずしもシングルモード光導波路である必要はなく、マルチモード光導波路であってもよい。   In the above example, the width and thickness of the core of the optical waveguide constituting the optical wiring are 2 μm or 3 μm. Therefore, these optical waveguides are single mode optical waveguides. However, the optical waveguide constituting the optical wiring is not necessarily a single mode optical waveguide, and may be a multimode optical waveguide.

また、以上の例では、半導体装置2が送信する電気信号を光信号に変換する発光素子14及び光信号を電気信号に変換して半導体装置2に供給する受光素子16は、夫々面型の発光素子(面発光レーザ)及び面型の受光器であった。   In the above example, the light-emitting element 14 that converts the electrical signal transmitted by the semiconductor device 2 into an optical signal and the light-receiving element 16 that converts the optical signal into an electrical signal and supplies the electrical signal to the semiconductor device 2 are each a surface-type light emission. It was an element (surface emitting laser) and a surface light receiver.

しかし、発光素子14又は受光素子16は、面型の光素子に限られるものではなく、導波型の光素子であってもよい。例えば、発光素子14としては、例えば、ファブリペロー型レーザであってもよい。また、受光素子16としては、導波路型フォトダイオードであってもよい。この場合には、45°ミラー18を用いることなく直接、光配線を構成する光導波路に発光素子14及び受光素子16を光学的に結合することができる。   However, the light emitting element 14 or the light receiving element 16 is not limited to a surface type optical element, and may be a waveguide type optical element. For example, the light emitting element 14 may be a Fabry-Perot laser, for example. The light receiving element 16 may be a waveguide type photodiode. In this case, the light emitting element 14 and the light receiving element 16 can be optically coupled directly to the optical waveguide constituting the optical wiring without using the 45 ° mirror 18.

更に、上述した例では、本発明に係わる光配線を半導体装置間の光信号伝送(光による信号の伝送)に用いている(ボード内光配線)。しかし、本発明に係わる光配線の適用範囲は、半導体装置間の光信号伝送に限られるものではなく、複数の半導体装置からなる電子装置の間の信号伝送(ボード間光配線)または半導体装置内の信号伝送(チップ内光配線)にも適用可能である。   Furthermore, in the above-described example, the optical wiring according to the present invention is used for optical signal transmission (signal transmission by light) between semiconductor devices (in-board optical wiring). However, the application range of the optical wiring according to the present invention is not limited to the optical signal transmission between the semiconductor devices, but the signal transmission between the electronic devices composed of a plurality of semiconductor devices (inter-board optical wiring) or in the semiconductor device. It is also applicable to signal transmission (in-chip optical wiring).

本発明は、複数の半導体装置からなる電子装置の製造業または半導体装置の製造業において利用可能である。   The present invention can be used in an electronic device manufacturing industry or a semiconductor device manufacturing industry comprising a plurality of semiconductor devices.

実施の形態1の原理を説明する図(その1)である。FIG. 3 is a diagram (part 1) for explaining the principle of the first embodiment; 実施の形態1の原理を説明する図(その2)である。FIG. 2 is a diagram (part 2) for explaining the principle of the first embodiment; 実施の形態1の原理を説明する図(その3)である。FIG. 4 is a third diagram illustrating the principle of the first embodiment; 実施例1に於ける電子装置の構成を説明する平面図である。1 is a plan view illustrating a configuration of an electronic device in Example 1. FIG. 実施例1に於ける電子装置の構成を説明する断面図である。1 is a cross-sectional view illustrating a configuration of an electronic device in Example 1. FIG. 実施の形態1及び実施例1に於ける光配線の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the optical wiring in Embodiment 1 and Example 1. FIG. 実施の形態2及び実施例2に係る電子装置の構成を説明する平面図である。6 is a plan view illustrating a configuration of an electronic device according to Embodiment 2 and Example 2. FIG. 本実施の形態3及び実施例3に係る光配線の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the optical wiring which concerns on this Embodiment 3 and Example 3. FIG. 実施例4に係る光配線の構成を説明する図である(その1)。It is a figure explaining the structure of the optical wiring which concerns on Example 4 (the 1). 実施例4に係る光配線の構成を説明する図である(その2)。It is a figure explaining the structure of the optical wiring which concerns on Example 4 (the 2). 実施例5に係わる光配線の製造方法を説明する断面図である(その1)。It is sectional drawing explaining the manufacturing method of the optical wiring concerning Example 5 (the 1). 実施例5に係わる光配線の製造方法を説明する断面図である(その2)。It is sectional drawing explaining the manufacturing method of the optical wiring concerning Example 5 (the 2). 実施例5に係わる光配線の製造方法を説明する断面図である(その3)。It is sectional drawing explaining the manufacturing method of the optical wiring concerning Example 5 (the 3). 半導体装置の間で交わされる信号を光で伝送する光配線を備えた電子装置を説明する平面図である(関連技術)。It is a top view explaining the electronic device provided with the optical wiring which transmits the signal exchanged between semiconductor devices with light (related art). 光配線を備えた電子装置を説明する断面図である(関連技術)。It is sectional drawing explaining the electronic device provided with the optical wiring (related technique). 電子装置を構成する光配線の構成を説明する図である(関連技術)。It is a figure explaining the structure of the optical wiring which comprises an electronic device (related technique).

符号の説明Explanation of symbols

2・・・半導体装置 4・・・光配線 6・・・電子装置(関連技術)
8・・・基板 10・・・光信号 12・・・光導波路
14・・・発光素子 16・・・受光素子 18・・・45°ミラー
20・・・電気配線の施された基板 22・・・電子装置(実施の形態1)
21・・・支持体
24・・・光配線(実施の形態1) 26・・・第1の光導波路(実施の形態1)
28・・・第2の光導波路(実施の形態1)
30,32・・・近接し平行に配置された光導波路
34・・・電子装置(実施の形態2) 36・・・第1の半導体装置
38・・・第2の半導体装置
40・・・第1の半導体装置から第2の半導体装置に伝送される光信号
42・・・第2の半導体装置から第1の半導体装置に伝送される光信号
44・・・光配線(実施の形態3) 46,48・・・光導波路(実施の形態3)
50,52・・・短光導波路 54・・・遷移領域
56・・・光配線(実施例4)
58,60,62,64・・・光導波路(実施例4)
66・・・第1の導波路層 68・・・第2の導波路層
70・・・下部クラッド 72・・・コア用樹脂層 74・・・金属薄膜
76・・・レジストパターン 78・・・金属薄膜パターン
80・・・コア 82・・・上部クラッド
84,86・・・中央で隣接する光導波
2 ... Semiconductor device 4 ... Optical wiring 6 ... Electronic device (related technology)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 8 ... Substrate 10 ... Optical signal 12 ... Optical waveguide 14 ... Light emitting element 16 ... Light receiving element 18 ... 45 degree mirror
20 ... Substrate with electrical wiring 22 ... Electronic device (Embodiment 1)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 ... Support 24 ... Optical wiring (Embodiment 1) 26 ... 1st optical waveguide (Embodiment 1)
28: Second optical waveguide (Embodiment 1)
30, 32... Optical waveguides 34 arranged close to each other in parallel... Electronic device (Embodiment 2) 36... First semiconductor device 38.
40... Optical signal transmitted from the first semiconductor device to the second semiconductor device 42... Optical signal transmitted from the second semiconductor device to the first semiconductor device 44. Form 3) 46, 48 ... Optical waveguide (Embodiment 3)
50, 52 ... Short optical waveguide 54 ... Transition region 56 ... Optical wiring (Example 4)
58, 60, 62, 64 ... Optical waveguide (Example 4)
66 ... First waveguide layer 68 ... Second waveguide layer 70 ... Lower cladding 72 ... Core resin layer 74 ... Metal thin film 76 ... Resist pattern 78 ... Metal thin film pattern 80 ... Core 82 ... Upper clad
84, 86 ... Optical waveguides adjacent in the center

Claims (2)

基板と、
前記基板の上に形成された、電気信号を処理する複数の半導体装置と、
前記半導体装置の間で交わされる信号が電気から光に変換されてなる光信号を伝送する、前記基板の上に形成された複数の光導波路によって構成される光配線を備え、
前記光配線が、前記光導波路が互いに平行に形成された領域を具備する電子装置において、
前記領域に於いて、
前記光導波路のコアの断面が矩形に形成され、
隣接する前記光導波路からなる第1及び第2の光導波路は、
コア及びクラッドの屈折率が等しく、且つ、前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なる複数通りの短光導波路が複数縦列接続されてなり、
前記第1及び第2の光導波路を夫々構成し且つ互いに隣接する前記短光導波路は、前記第1及び第2の光導波路の間のクロストークが−30dB以下となるように、前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なる
ことを特徴とする電子装置。
A substrate,
A plurality of semiconductor devices formed on the substrate for processing electrical signals;
An optical wiring composed of a plurality of optical waveguides formed on the substrate, which transmits an optical signal obtained by converting a signal exchanged between the semiconductor devices from electricity to light,
In the electronic device in which the optical wiring includes a region in which the optical waveguides are formed in parallel to each other,
In the area,
A cross section of the core of the optical waveguide is formed in a rectangular shape,
The first and second optical waveguides composed of the adjacent optical waveguides are:
A plurality of short optical waveguides in which the refractive indexes of the core and the clad are equal, and either one or both of the width and thickness of the cross section are different are connected in cascade.
Said first and said second optical waveguide each constructed and adjacent short optical waveguide, cross-talk between the first and second optical waveguide so that less -30 dB, the pre-Symbol section One or both of the width and the thickness are different from each other.
請求項1に記載の電子装置において、
前記断面の幅及び厚さの何れか一方又は双方が異なる前記短光導波路毎に、前記短光導波路の長さの総和を取った値が、前記第1及び第2の光導波路の間で等しいことを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1 ,
A value obtained by summing up the lengths of the short optical waveguides is the same between the first and second optical waveguides for each of the short optical waveguides having different one or both of the width and thickness of the cross section. An electronic device characterized by that.
JP2007277806A 2007-10-25 2007-10-25 Electronic device including optical wiring and optical wiring thereof Active JP4946793B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007277806A JP4946793B2 (en) 2007-10-25 2007-10-25 Electronic device including optical wiring and optical wiring thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007277806A JP4946793B2 (en) 2007-10-25 2007-10-25 Electronic device including optical wiring and optical wiring thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009104064A JP2009104064A (en) 2009-05-14
JP4946793B2 true JP4946793B2 (en) 2012-06-06

Family

ID=40705770

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007277806A Active JP4946793B2 (en) 2007-10-25 2007-10-25 Electronic device including optical wiring and optical wiring thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4946793B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011128206A (en) * 2009-12-15 2011-06-30 Nec Corp Array waveguide diffraction grating
JP5573626B2 (en) * 2010-11-22 2014-08-20 日立化成株式会社 Manufacturing method of optical waveguide
US20150049998A1 (en) * 2013-08-13 2015-02-19 Futurewei Technologies, Inc. Compact Optical Waveguide Arrays and Optical Waveguide Spirals
JP2015087659A (en) * 2013-10-31 2015-05-07 住友ベークライト株式会社 Optical waveguide, opto-electric hybrid substrate, and electronic apparatus
WO2022176804A1 (en) * 2021-02-22 2022-08-25 株式会社フジクラ Optical transmission/reception device and optical communication device using same

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0381706A (en) * 1989-08-25 1991-04-08 Furukawa Electric Co Ltd:The Deltabeta type optical directional coupler
JPH0894864A (en) * 1994-04-08 1996-04-12 Olympus Optical Co Ltd Image fiber and its production
JP2005201937A (en) * 2004-01-13 2005-07-28 Sony Corp Optical waveguide array and manufacturing method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009104064A (en) 2009-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9128240B2 (en) Spot-size converter, manufacturing method thereof, and integrated optical circuit device
JP5259829B2 (en) Optical coupling device and optical multiplexing / demultiplexing device
JP5290534B2 (en) Optical integrated circuit and optical integrated circuit module
JP3883901B2 (en) Optical path conversion device and manufacturing method thereof
JP5445579B2 (en) Optical waveguide module
JP5560602B2 (en) Optical waveguide
US20100215313A1 (en) Optical interconnection assembled circuit
JP7024359B2 (en) Fiber optic connection structure
JPH11271541A (en) Wavelength branching filter circuit
JP2014146002A (en) Optical device and method of manufacturing the same
JP4946793B2 (en) Electronic device including optical wiring and optical wiring thereof
JP3748528B2 (en) Optical path conversion device and manufacturing method thereof
JP4983149B2 (en) Optical transmitter
US20090245723A1 (en) Optical waveguide circuit and multi-core central processing unit using the same
JPH1152198A (en) Optical connecting structure
JP2020042225A (en) Optical waveguide element
US20230280524A1 (en) Optical Waveguide Device and Method for Manufacturing the Same
JP2017004006A (en) Optical device and manufacturing method thereof
JP6991259B2 (en) Optical waveguide element
JP2007058233A (en) Optical path conversion device
JP5163608B2 (en) Optical coupling structure and method of manufacturing electrical wiring board
JP4954828B2 (en) Optical waveguide circuit and manufacturing method thereof
JP3886840B2 (en) Optical path conversion device
JP6554071B2 (en) Waveguide chip for multichip connection
JP6029703B2 (en) Optical waveguide device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100616

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110928

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111004

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111201

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120207

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120220

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150316

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4946793

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150