JP4945226B2 - Trimming circuit - Google Patents

Trimming circuit Download PDF

Info

Publication number
JP4945226B2
JP4945226B2 JP2006325318A JP2006325318A JP4945226B2 JP 4945226 B2 JP4945226 B2 JP 4945226B2 JP 2006325318 A JP2006325318 A JP 2006325318A JP 2006325318 A JP2006325318 A JP 2006325318A JP 4945226 B2 JP4945226 B2 JP 4945226B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
trimming
limit data
data setting
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006325318A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2008140960A (en
Inventor
健太郎 戸田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lapis Semiconductor Co Ltd
Original Assignee
Lapis Semiconductor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lapis Semiconductor Co Ltd filed Critical Lapis Semiconductor Co Ltd
Priority to JP2006325318A priority Critical patent/JP4945226B2/en
Publication of JP2008140960A publication Critical patent/JP2008140960A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4945226B2 publication Critical patent/JP4945226B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、例えば、大規模集積回路(以下「LSI」という。)等において、トリミング(調整)対象となる被トリミング回路にトリミングを行わせるためのトリミング信号を生成して出力するトリミング回路に関するものである。   The present invention relates to a trimming circuit that generates and outputs a trimming signal for causing a trimming target circuit to be trimmed (adjusted) in a large scale integrated circuit (hereinafter referred to as “LSI”) or the like. It is.

従来、トリミング回路に関する技術としては、例えば、次のような文献に記載されるものがあった。   Conventionally, as a technique related to a trimming circuit, for example, there are those described in the following documents.

特開平5−63090号公報JP-A-5-63090 特開2006−277808号公報JP 2006-277808 A

これらの特許文献1、2に記載された従来のトリミング回路では、外部から入力されるトリミング用データと、ヒューズ回路中のヒューズの切断によって生成されるトリミング用データとのいずれか一方を、セレクタにより選択してトリミング対象である被トリミング回路へ供給するようになっている。   In the conventional trimming circuits described in these Patent Documents 1 and 2, either one of trimming data input from the outside or trimming data generated by cutting a fuse in the fuse circuit is selected by a selector. It is selected and supplied to a circuit to be trimmed that is a trimming target.

又、従来の他のトリミング回路として、アナログ系の回路を搭載するシステムLSI等において、アナログブロックのチューニング用として、ヒューズ回路、フラッシュメモリ、あるいは、ワン・タイム・プログラマブル・リード・オンリ・メモリ(One Time Programmable read only memory、以下「OTP」という。)を搭載したものや、メタルマスクにて設定値を変更するもの等、個々の装置(デバイス)特性のばらつきに対応している製品も知られている。   As another conventional trimming circuit, in a system LSI or the like equipped with an analog circuit, a fuse circuit, a flash memory, or a one time programmable read only memory (One Products that support variations in individual device (device) characteristics, such as those equipped with Time Programmable read only memory (hereinafter referred to as “OTP”) and those that change setting values with a metal mask, are also known. Yes.

しかしながら、従来のトリミング回路では、次の(a)、(b)のような課題があった。   However, the conventional trimming circuit has the following problems (a) and (b).

(a) 特許文献1、2に記載された従来のトリミング回路では、セレクタを選択動作させるための選択信号等を生成する回路が必要になるが、この回路が複雑で、回路素子数が増えるので、結果として回路規模が増大し、トリミング回路の回路規模を小型化することが困難である。   (A) In the conventional trimming circuits described in Patent Documents 1 and 2, a circuit for generating a selection signal or the like for selecting the selector is required, but this circuit is complicated and the number of circuit elements increases. As a result, the circuit scale increases and it is difficult to reduce the circuit scale of the trimming circuit.

(b) フラッシュメモリを除くヒューズ回路、OTP、メタルマスク等を用いた従来の他のトリミング回路では、それらのヒューズ回路、OTP、メタルマスク等による特性ばらつきへの対処として、一度決めた設定値を変更できないと言う欠点が存在する。このような欠点により、被トリミング回路をトリミングした時の評価においては、設定値を変更できないことから、数多くのサンプルが必要となるし、例えば、半導体製造メーカからユーザへの出荷後に設定値を変更することが不可能であり、不具合対応、特性改善等は不可能となる。   (B) In other conventional trimming circuits using fuse circuits, OTPs, metal masks, etc., excluding flash memory, set values that have been determined once are taken as countermeasures against characteristic variations due to those fuse circuits, OTPs, metal masks, etc. There is a drawback that it cannot be changed. Because of these drawbacks, the setting value cannot be changed in the evaluation when the circuit to be trimmed is trimmed, so a large number of samples are required. For example, the setting value is changed after shipment from the semiconductor manufacturer to the user. It is impossible to deal with problems and improve characteristics.

この対策として、例えば、本設定値用に中央処理装置(以下「CPU」という。)やその他の方法を用いて設定できるレジスタを設けることにより、常に設定値を可変にするという方法も考えられる。しかし、レジスタによる設定では、起動時に毎回値を設定しなくてはならず、ユーザ側でのソフト作成、起動時間の増加等の欠点が発生する。しかも、レジスタ数が多い場合には、対応は不可能となることもあり得る。   As a countermeasure against this, for example, a method of making the setting value variable by providing a central processing unit (hereinafter referred to as “CPU”) or a register that can be set using another method for the setting value can be considered. However, in the setting by the register, the value must be set every time when starting up, and disadvantages such as software creation on the user side and increase in starting time occur. Moreover, if the number of registers is large, it may not be possible to cope with it.

そこで、本発明は、従来の前記課題(a)、(b)を解決するために、ヒューズ回路等の制限データ設定手段としての制限データ設定回路と、何度でも可変可能な可変データ設定手段としてのレジスタとの両方を混載し、これらの両手段を切り替え可能にして、トリミング評価や、半導体メーカからの出荷後等の対応に自由度を持たせ、更に、回路構成の簡単化と回路規模の小型化が可能なトリミング回路を提供することを目的とする。 Accordingly, the present invention is conventional the problems (a), in order to resolve the (b), and restriction data setting circuit as limiting data setting means such as a fuse circuit, a variable, variable data setting means as many times Both of these registers can be mounted together, and both of these means can be switched to provide flexibility in trimming evaluation and after shipment from a semiconductor manufacturer. Furthermore, the circuit configuration is simplified and the circuit scale is reduced. An object of the present invention is to provide a trimming circuit that can be miniaturized.

本発明のトリミング回路は、制限データ設定回路、読み出し回路、及び、レジスタを有している。 The trimming circuit of the present invention has a limit data setting circuit , a read circuit, and a register .

前記制限データ設定回路は、変更回数が制限された制限データが設定されると、前記設定された制限データに基づき、被トリミング回路へ供給するための実行用トリミング信号を生成するものである。前記読み出し回路は、読み出し信号に基づき、前記制限データ設定回路により生成された前記実行用トリミング信号を読み出す回路である。更に、前記レジスタは、前記読み出し回路により読み出された前記実行用トリミング信号を保持する機能と、設定される可変データに基づき、前記被トリミング回路へ供給するための評価用トリミング信号を生成して保持する機能とを有し、保持した前記評価用トリミング信号又は前記実行用トリミング信号のいずれか一方を選択して前記被トリミング回路へ与えるものである。 The limit data setting circuit is configured to generate an execution trimming signal to be supplied to the trimming circuit based on the set limit data when limit data with a limited number of changes is set. The read circuit is a circuit for reading the execution trimming signal generated by the limit data setting circuit based on a read signal. Further, the register generates a trimming signal for evaluation to be supplied to the circuit to be trimmed based on a function for holding the execution trimming signal read by the reading circuit and variable data to be set. A holding function, and selects either the held evaluation trimming signal or the execution trimming signal and supplies the selected trimming signal to the trimming circuit.

本発明によれば、制限データ設定回路の出力信号を読み出す読み出し回路と、この読み出した出力信号を保持するレジスタとを有し、そのレジスタには、制限データ設定回路以外の可変データを設定できる機能を設けている。そのため、制限データ設定回路に制限データを設定する前は、レジスタへの可変データの設定により、評価用トリミング信号を生成できる。更に、制限データ設定回路に制限データを設定した後は、読み出し回路により読み出し動作を実施するか、しないか、あるいは、読み出し動作を行った後に制限データ設定回路を有効にしたり、無効にしたりすることが可能となる。これにより、トリミング評価や、半導体メーカからの出荷後の使い易さが向上すると共に、不具合発生時の対応が容易になる。According to the present invention, the read circuit for reading the output signal of the limit data setting circuit and the register for holding the read output signal are provided, and in the register, variable data other than the limit data setting circuit can be set. Is provided. Therefore, before setting the limit data in the limit data setting circuit, the evaluation trimming signal can be generated by setting the variable data in the register. Furthermore, after setting the limit data in the limit data setting circuit, whether or not the read operation is performed by the read circuit, or the limit data setting circuit is enabled or disabled after the read operation is performed. Is possible. This improves trimming evaluation and ease of use after shipment from a semiconductor manufacturer, and facilitates handling when a problem occurs.
しかも、被トリミング回路へ与える評価用トリミング信号と実行用トリミング信号との切り替えを、読み出し回路により行っているので、その切り替えの回路構成の簡単化と回路規模の小型化が可能になる。In addition, since switching between the evaluation trimming signal and the execution trimming signal to be applied to the circuit to be trimmed is performed by the readout circuit, the circuit configuration for the switching can be simplified and the circuit scale can be reduced.

トリミング回路は、ヒューズ回路等の制限データ設定手段としての制限データ設定回路と、何度でも可変可能な可変データ設定手段としてのレジスタとの両方を混載し、これらの両手段を選択手段により切り替え可能にしている。 Trimming circuit, and mixed and restriction data setting circuit as limiting data setting means such as a fuse circuit, both the register as a variable, variable data setting means many times, can be switched by the selection means of these two means I have to.

(実施例1の構成)
図1は、本発明の実施例1を示すトリミング回路の概略の構成図である。
このトリミング回路は、例えば、アナログ回路の調整用等としてLSI等の様々な回路やシステムに設けられる回路であり、制限データ設定手段(例えば、ヒューズ回路やOTP等の制限データ設定回路)10と、可変データ設定手段(例えば、レジスタ)20とを有し、これらの出力側が、選択手段(例えば、論理回路)30を介して、トリミング対象である被トリミング回路40に接続されている。
(Configuration of Example 1)
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing a first embodiment of the present invention.
This trimming circuit is, for example, a circuit provided in various circuits and systems such as an LSI for adjusting an analog circuit, etc., and a limit data setting means (for example, a limit data setting circuit such as a fuse circuit or OTP) 10; A variable data setting unit (for example, a register) 20 is provided, and an output side of the variable data setting unit (for example, a register) 20 is connected to a trimming target circuit 40 to be trimmed via a selection unit (for example, a logic circuit) 30.

制限データ設定回路10は、変更回数が制限(例えば、一度だけ変更可能)された制限データD10が設定されると、この制限データD10に基づき、被トリミング回路40へ供給するためのnビットの実行用トリミング信号S10を生成して出力する回路である。この制限データ設定回路10は、例えば、制限データD10の書き込みを行わない状態で、nビットの実行用トリミング信号S10としてオール“0”を出力する機能を有している。レジスタ20は、例えば、nビットを持つ初期値が“0”のレジスタであり、CPU等からの書き込みデータである可変データD20が設定されると、この可変データD20に基づき、被トリミング回路40へ供給するための評価用トリミング信号S20を生成して出力する回路である。これらの制御データ設定回路10及びレジスタ20の出力側には、論理回路30が接続されている。   The limit data setting circuit 10 executes n bits to be supplied to the trimming circuit 40 based on the limit data D10 when the limit data D10 whose number of changes is limited (for example, can be changed only once) is set. This is a circuit for generating and outputting the trimming signal S10 for output. For example, the limit data setting circuit 10 has a function of outputting all “0” as the n-bit execution trimming signal S10 without writing the limit data D10. The register 20 is, for example, a register having an n-bit initial value of “0”. When variable data D20 that is write data from the CPU or the like is set, the register 20 is supplied to the trimming circuit 40 based on the variable data D20. This circuit generates and outputs an evaluation trimming signal S20 to be supplied. A logic circuit 30 is connected to the output side of the control data setting circuit 10 and the register 20.

論理回路30は、レジスタ20から評価用トリミング信号S20が出力されている時には、この評価用トリミング信号S20を選択して被トリミング回路40へ与え、レジスタ20から評価用トリミング信号S20が出力されていない時には、実行用トリミング信号S10を選択して被トリミング回路40へ与える回路であり、例えば、n個の2入力の論理和ゲート(以下「ORゲート」という。)31−1〜31−nにより構成されている。 When the evaluation trimming signal S20 is output from the register 20 , the logic circuit 30 selects the evaluation trimming signal S20 and applies it to the trimmed circuit 40, and the evaluation trimming signal S20 is not output from the register 20. In some cases, it is a circuit that selects the execution trimming signal S10 and applies it to the circuit to be trimmed 40, and is composed of, for example, n two-input OR gates (hereinafter referred to as "OR gates") 31-1 to 31-n. Has been.

図2は、図1中の制限データ設定回路10を例えばOTPにより構成した場合のOTPの概略を示す構成図である。 FIG. 2 is a configuration diagram showing an outline of OTP when the limit data setting circuit 10 in FIG. 1 is configured by, for example, OTP.

OTPは、プログラマブル・リード・オンリ・メモリ(以下「PROM」という。)の一種であって、例えば、イラサブルPROM(以下「EPROM」という。)における消去用の窓を省略した構造をしており、メモリセルに一度だけデータを書き込むことができるようになっている。   The OTP is a kind of programmable read only memory (hereinafter referred to as “PROM”), and has a structure in which, for example, an erasure window in an irreducible PROM (hereinafter referred to as “EPROM”) is omitted. Data can be written to the memory cell only once.

このOTPは、データ格納用のメモリセルマトリクス11を有している。メモリセルマトリクス11は、複数のワード線WL及びこれに直交する複数のビット線BLを有し、これらの交差箇所に接続された図示しないメモリセルが、マトリクス状に配列されている。複数のワード線WLには、これを選択するための行アドレスデコーダ12が接続されている。更に、複数のビット線BLには、入出力回路13を介して、ビット線選択用の列アドレスデコーダ14が接続されている。   This OTP has a memory cell matrix 11 for data storage. The memory cell matrix 11 has a plurality of word lines WL and a plurality of bit lines BL orthogonal to the word lines WL, and memory cells (not shown) connected to the intersections are arranged in a matrix. A row address decoder 12 for selecting this is connected to the plurality of word lines WL. Further, a column address decoder 14 for bit line selection is connected to the plurality of bit lines BL via an input / output circuit 13.

制限データD10を書き込む場合には、この制限データD10が入出力回路13に入力され、行アドレスデコーダ12及び列アドレスデコード14によって選択されたメモリセルに書き込まれる。又、実行用トリミング信号S10を出力する場合には、行アドレスデコーダ12及び列アドレスデコード14によって選択されたメモリセルから、制限データD10が読み出され、これが入出力回路13により実行用トリミング信号S10に変換されて出力される。   When the limit data D10 is written, the limit data D10 is input to the input / output circuit 13 and written to the memory cell selected by the row address decoder 12 and the column address decode 14. When the execution trimming signal S10 is output, the limit data D10 is read from the memory cell selected by the row address decoder 12 and the column address decode 14, and this is output by the input / output circuit 13 to the execution trimming signal S10. Is converted to output.

図3は、図1中の制限データ設定回路10を例えばn個のヒューズ回路により構成した場合の1個のヒューズ回路の概略を示す構成図である。 FIG. 3 is a configuration diagram showing an outline of one fuse circuit when the limit data setting circuit 10 in FIG. 1 is configured by, for example, n fuse circuits.

1個のヒューズ回路は、負荷抵抗15、出力端子16、及び、レーザヒューズ17を有し、これらが電源電圧VDDノードとグランドとの間に直列に接続されている。n個のヒューズ回路において、nビットの制限データD10を設定する場合は、この制限データD10に対応する箇所のレーザヒューズ17を切断する。レーザヒューズ17が切断されると、出力端子16の電位が電源電圧VDD側の“H”レベル(=“1”)になる。レーザヒューズ17を切断しない場合は、出力端子16の電位がグランド側の“L”レベル(=“0”)になる。これにより、n個のヒューズ回路の出力端子16から、nビットの実行用トリミング信号S10が出力される。   One fuse circuit has a load resistor 15, an output terminal 16, and a laser fuse 17, which are connected in series between the power supply voltage VDD node and the ground. When n-bit limit data D10 is set in n fuse circuits, the laser fuse 17 at a location corresponding to the limit data D10 is cut. When the laser fuse 17 is cut, the potential of the output terminal 16 becomes the “H” level (= “1”) on the power supply voltage VDD side. When the laser fuse 17 is not cut, the potential of the output terminal 16 becomes the “L” level (= “0”) on the ground side. As a result, an n-bit execution trimming signal S10 is output from the output terminals 16 of the n fuse circuits.

(実施例1の動作)
先ず、被トリミング回路40のトリミング動作を評価する段階においては、制限データ設定回路10は用いず(出力を無効状態のオール“0”にしておき)、CPU等から、種々のトリミングコードの可変データD20をレジスタ20に設定する。すると、レジスタ20から、そのトリミングコードに対応した評価用トリミング信号S20が出力され、これが論理回路30により選択されて被トリミング回路40へ供給され、この被トリミング回路40がトリミング動作を行う。テスタ等で被トリミング回路40の出力信号をモニタ(測定)し、所望の出力信号が出力された時に、最適なトリミングコードのトリミング信号S20が判明し(検索でき)、レジスタ20を使用したトリミング動作が完了する。
(Operation of Example 1)
First, in the stage of evaluating the trimming operation of the trimming circuit 40, the limit data setting circuit 10 is not used (the output is set to all “0” in an invalid state), and variable data of various trimming codes is obtained from the CPU or the like. D20 is set in the register 20. Then, an evaluation trimming signal S20 corresponding to the trimming code is output from the register 20, and is selected by the logic circuit 30 and supplied to the trimming circuit 40. The trimming circuit 40 performs a trimming operation. The output signal of the trimming circuit 40 is monitored (measured) by a tester or the like, and when the desired output signal is output, the trimming signal S20 having the optimum trimming code is found (can be searched), and the trimming operation using the register 20 is performed. Is completed.

トリミングコードの最適値が決定した後は、これに対応したパターンの制限データD10を制限データ設定回路10に設定する(書き込む)。この際、レジスタ20には可変データD20を設定しないで、本実施例1のトリミング回路が設けられたシステムの起動時のリセット信号等により、レジスタ20の出力をオール“0”にする。すると、制限データ設定回路10から出力された実行用トリミング信号S10が有効となり、これが論理回路30により選択されて被トリミング回路40へ与えられる。つまり、レジスタ20を使用したトリミングが完了した後に、制限データ設定回路10を使用したトリミングが行われることによって、被トリミング回路40へのトリミング信号S10が固定され、この被トリミング回路40にて最適なトリミング動作が行われる。   After the optimum value of the trimming code is determined, the limit data D10 of the pattern corresponding to this is set (written) in the limit data setting circuit 10. At this time, the variable data D20 is not set in the register 20, but the output of the register 20 is set to all "0" by a reset signal or the like at the start of the system provided with the trimming circuit of the first embodiment. Then, the execution trimming signal S10 output from the limit data setting circuit 10 becomes valid, and is selected by the logic circuit 30 and applied to the trimming circuit 40. In other words, after the trimming using the register 20 is completed, the trimming signal S10 to the trimming circuit 40 is fixed by performing the trimming using the limit data setting circuit 10, and the trimming circuit 40 is optimal. Trimming operation is performed.

(実施例1の効果)
本実施例1によれば、LSI等の種々の回路やシステムに設けられるトリミング回路において、回路内部の信号を設定する際に、設定値の変更前は出力値が“0”である一度だけ制限データD10の設定変更が可能な制限データ設定回路10と、何度でも可変データD20の設定変更が可能なレジスタ20と、制限データ設定回路10の出力を有効にするか、レジスタ20の出力を有効にするかを選択するためにこの両者の論理和を取る論理回路30とを有しているので、次のような効果がある。
(Effect of Example 1)
According to the first embodiment, in a trimming circuit provided in various circuits such as an LSI or a system, when setting a signal inside the circuit, the output value is limited to “0” once before the set value is changed. The limit data setting circuit 10 that can change the setting of the data D10, the register 20 that can change the setting of the variable data D20 any number of times, and the output of the limit data setting circuit 10 are enabled or the output of the register 20 is enabled In order to select whether or not, the logic circuit 30 that takes the logical sum of the two is provided, and the following effects are obtained.

被トリミング回路40に対する評価段階では、レジスタ20に可変データD20を設定して評価するため、何度でも設定値を変更できる。最適値の決定後は、この最適値に対応する制限データD10を制限データ設定回路10に設定する。これにより、例えば、システムを起動する度に、リセット信号によりレジスタ20が初期化されて出力がオール“0”になり、このレジスタ20の出力が無効化されるので、制限データ設定回路10から出力されるトリミング信号S10が論理回路30に選択されて被トリミング回路40に供給され、トリミングが行われる。そのため、システムを起動する度に、レジスタ20に最適値を設定し直す手間が省ける。しかも、論理回路30を選択動作させるための他の回路が不要になるので、回路構成の簡単化と回路規模の小型化が可能になる。   In the evaluation stage for the circuit 40 to be trimmed, the variable data D20 is set in the register 20 for evaluation, so that the set value can be changed any number of times. After the optimum value is determined, the restriction data D10 corresponding to the optimum value is set in the restriction data setting circuit 10. Thereby, for example, every time the system is started, the register 20 is initialized by the reset signal and the output becomes all “0”, and the output of the register 20 is invalidated. The trimming signal S10 to be performed is selected by the logic circuit 30 and supplied to the circuit to be trimmed 40 for trimming. Therefore, it is possible to save the trouble of resetting the optimum value in the register 20 every time the system is started. In addition, since no other circuit for selectively operating the logic circuit 30 is required, the circuit configuration can be simplified and the circuit scale can be reduced.

(実施例2の構成)
図4は、本発明の実施例2を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例1を示す図1中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 2)
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing a second embodiment of the present invention. Elements common to those in FIG. 1 showing the first embodiment are denoted by common reference numerals.

本実施例2のトリミング回路では、実施例1の制限データ設定回路10に代えて、設定値変更前は出力値が“1”である一度だけ制限データD10Aの設定変更が可能な制限データ設定回路10Aが設けられ、更に、実施例1の論理回路30に代えて、n個の2入力の論理積ゲート(以下ANDゲート」という。)31A−1〜31A−nからなる論理回路30Aが設けられている。その他の構成は、実施例1と同様である。 In the trimming circuit according to the second embodiment, instead of the limit data setting circuit 10 according to the first embodiment, a limit data setting circuit that can change the setting of the limit data D10A only once when the output value is “1” before the set value is changed. In addition, in place of the logic circuit 30 of the first embodiment, a logic circuit 30A including n 2-input AND gates (hereinafter referred to as AND gates”) 31A-1 to 31A-n is provided. It has been. Other configurations are the same as those of the first embodiment.

(実施例2の動作)
被トリミング回路40の評価の段階においては、制限データ設定回路10Aの出力値が“1”であるので、論理回路30Aにより、その制限データ設定回路10Aの出力が用いられずに、レジスタ20の出力が選択される。そして、CPU等からの書き込みデータである可変データD20がレジスタ20に設定され、このレジスタ20から出力される評価用トリミング信号S20が論理回路30Aにより選択され、被トリミング回路40へ供給されてトリミング動作が行われる。これにより、一度だけ設定変更が可能な制限データ設定回路10Aは無効な状態で、被トリミング回路40に対する最適な設定値の検索が行える。
(Operation of Example 2)
Since the output value of the limit data setting circuit 10A is “1” at the stage of evaluation of the trimming circuit 40, the output of the register 20 is not used by the logic circuit 30A without using the output of the limit data setting circuit 10A. Is selected. Then, variable data D20 as write data from the CPU or the like is set in the register 20, and the evaluation trimming signal S20 output from the register 20 is selected by the logic circuit 30A and supplied to the trimming circuit 40 for trimming operation. Is done. As a result, the optimum setting value for the trimming circuit 40 can be searched while the restriction data setting circuit 10A that can be changed only once is invalid.

最適値が決定した後は、この最適値に対応した制限データD10Aを制限データ設定回路10Aに書き込んで設定する。そして、システム起動時のリセット信号によりレジスタ20を初期化する等して、レジスタ20には可変データD20を設定しない。これにより、制限データ設定回路10Aから出力される実行用トリミングデータS10Aが論理回路30Aにより選択されるので、制限データ設定回路10Aが有効になり、その実行用トリミング信号S10Aにより、被トリミング回路40のトリミング動作が行われる。   After the optimum value is determined, the restriction data D10A corresponding to the optimum value is written and set in the restriction data setting circuit 10A. Then, the variable data D20 is not set in the register 20, for example, by initializing the register 20 with a reset signal at system startup. As a result, the execution trimming data S10A output from the limit data setting circuit 10A is selected by the logic circuit 30A, so that the limit data setting circuit 10A becomes valid, and the execution trimming signal S10A causes the trimming circuit 40 Trimming operation is performed.

(実施例2の効果)
本実施例2によれば、実施例1と同様に、評価段階では、レジスタ20に可変データD20を設定して評価するため、何度でも設定値を変更でき、更に、最適値の決定後は制限データ設定回路10Aに制限データD10Aを設定することにより、システムを起動する度に、最適値を設定し直す手間が省ける。しかも、論理回路30Aを選択動作させるための他の回路が不要になるので、回路構成の簡単化と回路規模の小型化が可能になる。
(Effect of Example 2)
According to the second embodiment, as in the first embodiment, in the evaluation stage, the variable data D20 is set in the register 20 for evaluation. Therefore, the set value can be changed any number of times, and after the optimum value is determined, By setting the limit data D10A in the limit data setting circuit 10A, it is possible to save the trouble of resetting the optimum value every time the system is started. In addition, since no other circuit for selectively operating the logic circuit 30A is required, the circuit configuration can be simplified and the circuit scale can be reduced.

(実施例3の構成)
図5は、本発明の実施例3を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例1を示す図1中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 3)
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing a third embodiment of the present invention. Elements common to those in FIG. 1 showing the first embodiment are denoted by common reference numerals.

本実施例3のトリミング回路では、実施例1の制限データ設定回路10の出力側と論理回路30の入力側との間に、出力制御手段(例えば、出力制御回路)50が追加されている。   In the trimming circuit of the third embodiment, an output control means (for example, an output control circuit) 50 is added between the output side of the limited data setting circuit 10 of the first embodiment and the input side of the logic circuit 30.

出力制御回路50は、制御信号(例えば、無効化信号)S50に基づき、制限データ設定回路10から論理回路30への実行用トリミング信号S10の出力を制御(例えば、無効化)する回路であり、n個の2入力ANDゲート51−1〜51−nにより構成されている。各ANDゲート51−1〜51−nは、一方の入力端子が、制限データ設定回路10の出力端子に接続され、他方の入力端子に、無効化信号S50が入力され、出力端子が、各ORゲート31−1〜31−nの入力端子に接続されている。その他の構成は、実施例1と同様である。   The output control circuit 50 is a circuit that controls (for example, invalidates) the output of the execution trimming signal S10 from the limit data setting circuit 10 to the logic circuit 30 based on the control signal (for example, invalidation signal) S50. It is composed of n two-input AND gates 51-1 to 51-n. Each of the AND gates 51-1 to 51-n has one input terminal connected to the output terminal of the limit data setting circuit 10, the other input terminal to which the invalidation signal S50 is input, and the output terminal connected to each OR terminal. The gates 31-1 to 31-n are connected to the input terminals. Other configurations are the same as those of the first embodiment.

(実施例3の動作)
出力制御回路50は、無効化信号S50により、一度だけ制限データS10の設定変更が可能な制限データ設定回路10の出力信号を無効にして、レジスタ20の設定値のみを有効にする機能を有している。そのため、制限データ設定回路10により、設定値を“1”に固定した後に、この制限データ設定回路10を無効にして、何度でも設定変更が可能なレジスタ20を有効にしたい場合に、無効化信号S50を有効にし、CPU等からの書き込みデータである可変データD20をレジスタ20へ書き込むことで、可能になる。
(Operation of Example 3)
The output control circuit 50 has a function of invalidating the output signal of the restriction data setting circuit 10 that can change the setting of the restriction data S10 only once by the invalidation signal S50 and validating only the set value of the register 20. ing. Therefore, after the setting value is fixed to “1” by the restriction data setting circuit 10, the restriction data setting circuit 10 is invalidated and the register 20 that can be changed any number of times is invalidated. This is made possible by enabling the signal S50 and writing the variable data D20, which is write data from the CPU or the like, into the register 20.

(実施例3の効果)
本実施例3によれば、出力制御回路50を設けたので、制限データ設定回路10を設定してしまった後でも、この制限データ設定回路10を無効にして、レジスタ20を有効にすることができる。これにより、デバイスを交換することなく、設定値を変更することができ、不具合発生時の対応等が可能になる。
(Effect of Example 3)
According to the third embodiment, since the output control circuit 50 is provided, even after the limit data setting circuit 10 is set, the limit data setting circuit 10 can be disabled and the register 20 can be enabled. it can. As a result, the set value can be changed without exchanging the device, and it becomes possible to cope with a failure.

(実施例4の構成)
図6は、本発明の実施例4を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例2を示す図4中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 4)
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing a fourth embodiment of the present invention. Elements common to those in FIG. 4 showing the second embodiment are denoted by common reference numerals.

本実施例4のトリミング回路では、実施例2の制限データ設定回路10Aの出力側と論理回路30Aの入力側との間に、出力制御手段(例えば、出力制御回路)50Aが追加されている。   In the trimming circuit of the fourth embodiment, output control means (for example, an output control circuit) 50A is added between the output side of the limited data setting circuit 10A of the second embodiment and the input side of the logic circuit 30A.

出力制御回路50Aは、制御信号(例えば、無効化信号)S50Aに基づき、制限データ設定回路10Aから論理回路30Aへの実行用トリミング信号S10Aの出力を制御(例えば、無効化)する回路であり、n個の2入力ORゲート51A−1〜51A−nにより構成されている。各ORゲート51A−1〜51A−nは、一方の入力端子が、制限データ設定回路10Aの出力端子に接続され、他方の入力端子に、無効化信号S50Aが入力され、出力端子が、各ANDゲート31A−1〜31A−nの入力端子に接続されている。その他の構成は、実施例2と同様である。   The output control circuit 50A is a circuit that controls (for example, invalidates) the output of the execution trimming signal S10A from the limit data setting circuit 10A to the logic circuit 30A based on the control signal (for example, invalidation signal) S50A. It is composed of n two-input OR gates 51A-1 to 51A-n. Each of the OR gates 51A-1 to 51A-n has one input terminal connected to the output terminal of the limited data setting circuit 10A, the other input terminal to which the invalidation signal S50A is input, and the output terminal connected to each AND. The gates 31A-1 to 31A-n are connected to the input terminals. Other configurations are the same as those of the second embodiment.

(実施例4の動作)
出力制御回路50Aは、無効化信号S50Aにより、一度だけ制限データS10Aの設定変更が可能な制限データ設定回路10Aの出力信号を無効にして、レジスタ20の設定値のみを有効にする機能を有している。そのため、制限データ設定回路10Aにより、設定値を“0”に固定した後に、この制限データ設定回路10Aを無効にして、何度でも設定変更が可能なレジスタ20を有効にしたい場合に、無効化信号S50Aを有効にし、CPU等からの書き込みデータである可変データD20をレジスタ20へ書き込むことで、可能になる。
(Operation of Example 4)
The output control circuit 50A has a function of invalidating the output signal of the limit data setting circuit 10A that can change the setting of the limit data S10A only once by the invalidation signal S50A and enabling only the set value of the register 20. ing. Therefore, after the setting value is fixed to “0” by the restriction data setting circuit 10A, the restriction data setting circuit 10A is invalidated, and the register 20 that can be changed over and over is invalidated. This is made possible by enabling the signal S50A and writing the variable data D20, which is write data from the CPU or the like, into the register 20.

(実施例4の効果)
本実施例4によれば、実施例3と同様の効果がある。
(Effect of Example 4)
According to the fourth embodiment, there are the same effects as the third embodiment.

(実施例5の構成)
図7は、本発明の実施例5を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例1を示す図1中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 5)
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing a fifth embodiment of the present invention. Elements common to those in FIG. 1 showing the first embodiment are denoted by common reference numerals.

本実施例5のトリミング回路では、実施例1のレジスタ20、及び論理回路30に代えて、読み出し回路60、及び可変データ設定手段(例えば、レジスタ)20Aが設けられている。そして、実施例1と同様の制限データ設定回路10の出力側には、読み出し回路60を介して、レジスタ20Aが接続され、このレジスタ20Aの出力側に、被トリミング回路40が接続されている。   In the trimming circuit according to the fifth embodiment, a read circuit 60 and variable data setting means (for example, a register) 20A are provided instead of the register 20 and the logic circuit 30 according to the first embodiment. A register 20A is connected to the output side of the limit data setting circuit 10 similar to that of the first embodiment via a read circuit 60, and a circuit to be trimmed 40 is connected to the output side of the register 20A.

読み出し回路60は、読み出し信号S60に基づき、制限データ設定回路10により生成された実行用トリミング信号S10を読み出し、これをレジスタ20Aへ与える回路である。レジスタ20Aは、読み出し回路60により読み出された実行用トリミング信号S10を保持する機能と、CPU等からの書き込みデータである可変データD20Aに基づき、被トリミング回路40へ供給するための評価用トリミング信号S20Aを生成して保持する機能とを有し、保持した評価用トリミング信号S10又は実行用トリミング信号S20Aのいずれか一方を選択して被トリミング回路40へ与える回路である。   The readout circuit 60 is a circuit that reads out the execution trimming signal S10 generated by the restriction data setting circuit 10 based on the readout signal S60 and supplies it to the register 20A. The register 20A has a function of holding the execution trimming signal S10 read by the reading circuit 60 and variable data D20A that is write data from the CPU or the like, and supplies the trimming signal for evaluation to the trimming circuit 40. This circuit has a function of generating and holding S20A, and selects one of the held evaluation trimming signal S10 or execution trimming signal S20A and supplies it to the trimmed circuit 40.

(実施例5の動作)
一度だけ設定変更が可能な制限データ設定回路10に制限データD10を設定する前は、CPU等からレジスタ20Aへ可変データD20Aを書き込んで設定する。これにより、レジスタ20Aから評価用トリミング信号S20Aが出力され、被トリミング回路40に対するトリミング動作の評価が行われ、評価用トリミング信号S20Aの最適値が決定される。
(Operation of Example 5)
Before the limit data D10 is set in the limit data setting circuit 10 that can be changed only once, the variable data D20A is written and set from the CPU or the like to the register 20A. Thus, the evaluation trimming signal S20A is output from the register 20A, the trimming operation for the circuit to be trimmed 40 is evaluated, and the optimum value of the evaluation trimming signal S20A is determined.

最適値が決定されると、この最適値に対応した一度だけ設定変更が可能な制限データD10が制限データ設定回路10に設定される。その後、システムの起動時等に、読み出し信号S60が読み出し回路60に入力され、この読み出し回路60により、制限データ設定回路10から実行用トリミング信号S10が読み出されてレジスタ20Aに書き込まれる。レジスタ20Aに書き込まれた実行用トリミング信号S10は、被トリミング回路40に供給され、この被トリミング回路40でトリミング動作が行われる。   When the optimum value is determined, the restriction data D10 that can be changed only once corresponding to the optimum value is set in the restriction data setting circuit 10. Thereafter, when the system is started, the read signal S60 is input to the read circuit 60, and the read trimming signal S10 is read from the limited data setting circuit 10 by the read circuit 60 and written to the register 20A. The execution trimming signal S10 written in the register 20A is supplied to the trimming circuit 40, and the trimming circuit 40 performs a trimming operation.

制限データD10を制限データ設定回路10に設定した後にその設定値が間違っていたので訂正する場合、あるいは、制限データ設定回路10に設定した制限データD10と異なるデータでトリミング回路を動作させたい場合には、読み出し回路60による読み出し動作を行わずに、あるいは、読み出し動作を行った後に、CPU等からレジスタ20Aへ所望の可変データD20Aを書き込み、この書き込んだデータD20Aに基づく制御信号により被トリミング回路40を動作させる。   When the limit data D10 is set in the limit data setting circuit 10 and the setting value is incorrect and is corrected, or when the trimming circuit is operated with data different from the limit data D10 set in the limit data setting circuit 10. The desired variable data D20A is written from the CPU or the like to the register 20A without performing the read operation by the read circuit 60 or after the read operation, and the trimming circuit 40 is controlled by a control signal based on the written data D20A. To work.

(実施例5の効果)
本実施例5によれば、制限データ設定回路10の出力信号を読み出す読み出し回路60と、この読み出した出力信号を保持するレジスタ20Aとを有し、そのレジスタ20Aには、制限データ設定回路10以外のCPU等からのデータを設定できる機能を設けている。そのため、制限データ設定回路10に制限データD10を設定する前は、実施例1、2と同様に、レジスタ20Aへの可変データD20Aの設定により、評価用トリミング信号S20Aを生成できる。更に、制限データ設定回路10に制限データD10を設定した後は、読み出し回路60により読み出し動作を実施するか、しないか、あるいは、読み出し動作を行った後に制限データ設定回路10を有効にしたり、無効にしたりすることが可能となる。これにより、トリミング評価や、半導体メーカからの出荷後の使い易さが向上すると共に、不具合発生時の対応が容易になる。
(Effect of Example 5)
According to the fifth embodiment, the read circuit 60 that reads the output signal of the limit data setting circuit 10 and the register 20A that holds the read output signal are included. The register 20A includes other than the limit data setting circuit 10. A function for setting data from the CPU or the like is provided. Therefore, before setting the limit data D10 in the limit data setting circuit 10, the evaluation trimming signal S20A can be generated by setting the variable data D20A in the register 20A as in the first and second embodiments. Further, after setting the limit data D10 in the limit data setting circuit 10, the read circuit 60 performs or does not perform the read operation, or enables or disables the limit data setting circuit 10 after performing the read operation. It becomes possible to make it. This improves trimming evaluation and ease of use after shipment from a semiconductor manufacturer, and facilitates handling when a problem occurs.

しかも、被トリミング回路40へ与える評価用トリミング信号S20Aと実行用トリミング信号S10との切り替えを、読み出し回路60により行っているので、その切り替えの回路構成の簡単化と回路規模の小型化が可能になる。   In addition, since switching between the evaluation trimming signal S20A and the execution trimming signal S10 to be applied to the trimming circuit 40 is performed by the readout circuit 60, the circuit configuration for the switching can be simplified and the circuit scale can be reduced. Become.

(実施例6の構成)
図8は、本発明の実施例6を示すトリミング回路の概略の構成図である。
このトリミング回路は、制限データ設定手段(例えば、制限データ設定回路)10Bを有し、この出力側が、出力制御手段(例えば、出力制御回路)70を介して、被トリミング回路40に接続されている。
(Configuration of Example 6)
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing Embodiment 6 of the present invention.
This trimming circuit has a limit data setting means (for example, limit data setting circuit) 10B, and its output side is connected to the trimming circuit 40 via an output control means (for example, output control circuit) 70. .

制限データ設定回路10Bは、変更回数が制限(例えば、1回))されたnビットの制限データD10Bを設定するnビットの制限データ設定部18と、変更回数が制限(例えば、1回)されたnビットの制限データD10B1を設定するnビットの制限データ設定部19とを有し、制限データD10Bが設定されると、この制限データD10Bに基づき、被トリミング回路40へ供給するための実行用トリミング信号S10Bを生成して出力する回路である。各制限データ設定部18及び各制限データ設定部19は、書き込みを行わない状態で“0”を出力し、書き込みが行われると“1”を出力する機能を有し、例えば、図2のOTP、あるいは図3のヒューズ回路等によりそれぞれ構成されている。 The limit data setting circuit 10B has an n-bit limit data setting unit 18 for setting the n-bit limit data D10B in which the number of changes is limited (for example, once), and the number of changes is limited (for example, once). and a n-bit limit data setting unit 19 for setting the n bits of restriction data D10B1 was, the restriction data D10B is set, based on this limited data D10B, for execution to be supplied to the trimming circuit 40 This circuit generates and outputs a trimming signal S10B. Each limit data setting unit 18 and each limit data setting unit 19 have a function of outputting “0” without writing, and outputting “1” when writing is performed. For example, the OTP in FIG. Or the fuse circuit of FIG.

出力制御回路70は、nビットの制限データ設定部19に設定されるnビットの制限データD10B1を反転するn個のインバータ71−1〜71−nと、n個の2入力ANDゲート72−1〜72−nとにより構成されている。n個の2入力ANDゲート72−1〜72−nは、nビットの制限データ設定部18に設定されたnビットの制限データD10Bと、n個のインバータ71−1〜71−nの出力データとの論理積を取って、実行用トリミング信号S10Bの出力を制御する回路である。 The output control circuit 70 includes n inverters 71-1 to 71-n for inverting the n-bit restriction data D10B1 set in the n-bit restriction data setting unit 19, and n two-input AND gates 72-1. To 72-n. The n 2-input AND gates 72-1 to 72-n include the n-bit restriction data D10B set in the n-bit restriction data setting unit 18 and the output data of the n inverters 71-1 to 71-n. And controls the output of the execution trimming signal S10B.

(実施例6の動作)
図8において、例えば、nビットの制限データ設定部18における丸印の1ビットに“1”を設定した後に、この隣のビットの制限データ設定部19に“1”を設定することにより、ANDゲート72−nから出力される実行用トリミング信号S10Bを無効化(“0”)できる。これにより、一度だけ設定変更が可能な制限データ設定部18に、一度だけ設定した制限データD10Bを、無効化させることが可能になる。
(Operation of Example 6)
In FIG. 8, for example, after “1” is set in one bit of a circle in the n-bit limit data setting unit 18, AND is set by setting “1” in the limit data setting unit 19 of the adjacent bit. The execution trimming signal S10B output from the gate 72-n can be invalidated ("0"). This makes it possible to invalidate the limit data D10B set only once in the limit data setting unit 18 that can change the setting only once.

(実施例6の効果)
本実施例6によれば、出力制御回路70を設けたので、制限データ設定部18に制限データD10Bを設定してしまった後でも、この制限データ設定部18を一度だけ無効にすることができる。これにより、デバイスを交換することなく、設定値を変更することができ、評価や、半導体メーカからの出荷後の使い易さが向上すると共に、不具合発生時の対応が容易になる。
(Effect of Example 6)
According to the sixth embodiment, since the output control circuit 70 is provided, even after the limit data D10B is set in the limit data setting unit 18, the limit data setting unit 18 can be invalidated only once. . This makes it possible to change the set value without replacing the device, improving the ease of use after evaluation and shipping from the semiconductor manufacturer, and facilitating handling when a failure occurs.

(実施例7の構成)
図9は、本発明の実施例7を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例6を示す図8中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 7)
FIG. 9 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing a seventh embodiment of the present invention. Elements common to those in FIG. 8 showing the sixth embodiment are denoted by common reference numerals.

本実施例7のトリミング回路は、実施例6と同様の制限データ設定手段(例えば、制限データ設定回路)10Bを有し、この出力側が、実施例6とは異なる出力制御手段(例えば、出力制御回路)70Aを介して、実施例1と同様の被トリミング回路40に接続されている。   The trimming circuit according to the seventh embodiment includes the same limit data setting means (for example, limit data setting circuit) 10B as that of the sixth embodiment. The output side of the trimming circuit is different from that of the sixth embodiment (for example, output control). Circuit) 70A and connected to the trimming circuit 40 similar to that of the first embodiment.

出力制御回路70Aは、nビットの制御データ設定部19に設定されるnビットの制御データD10B1を反転するn個のインバータ71−1〜71−nと、n個の2入力ORゲート72A−1〜72A−nとにより構成されている。n個の2入力ORゲート72A−1〜72A−nは、nビットの制限データ設定部18に設定されたnビットの制限データD10Bと、n個のインバータ71−1〜71−nの出力データとの論理和を取って、実行用トリミング信号S10Bの出力を制御する回路である。   The output control circuit 70A includes n inverters 71-1 to 71-n for inverting the n-bit control data D10B1 set in the n-bit control data setting unit 19, and n two-input OR gates 72A-1. To 72A-n. The n two-input OR gates 72A-1 to 72A-n include the n-bit limit data D10B set in the n-bit limit data setting unit 18 and the output data of the n inverters 71-1 to 71-n. Is a circuit that controls the output of the execution trimming signal S10B.

(実施例7の動作)
図9において、例えば、nビットの制限データ設定部18における丸印の1ビットに“0”を設定した後に、この隣のビットの制御データ設定部19に“0”を設定することにより、ORゲート72A−nから出力される実行用トリミング信号S10Bを無効化(“1”)できる。これにより、一度だけ設定変更が可能な制限データ設定部18に、一度だけ設定した制限データD10Bを、無効化させることが可能になる。
(Operation of Example 7)
In FIG. 9, for example, after setting “0” to one bit of a circle in the n-bit limit data setting unit 18, by setting “0” to the control data setting unit 19 of this adjacent bit, OR The execution trimming signal S10B output from the gates 72A-n can be invalidated (“1”). This makes it possible to invalidate the limit data D10B set only once in the limit data setting unit 18 that can change the setting only once.

(実施例7の効果)
本実施例7によれば、出力制御回路70Aを設けたので、実施例6とほぼ同様の効果がある。
(Effect of Example 7)
According to the seventh embodiment, since the output control circuit 70A is provided, there are substantially the same effects as in the sixth embodiment.

(実施例8の構成)
図10は、本発明の実施例8を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例1及び6をそれぞれ示す図1及び図8中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 8)
FIG. 10 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing an eighth embodiment of the present invention. Elements common to those in FIGS. 1 and 8 showing the first and sixth embodiments are denoted by common reference numerals. ing.

本実施例8のトリミング回路は、実施例6の制限データ設定回路10B及び出力制御回路70と、実施例1のレジスタ20及び論理回路30とが、組み合わされて構成されている。   The trimming circuit according to the eighth embodiment is configured by combining the limited data setting circuit 10B and the output control circuit 70 according to the sixth embodiment and the register 20 and the logic circuit 30 according to the first embodiment.

(実施例8の動作)
制限データ設定回路10Bに制限データD10Bを設定する前は、CPU等からレジスタ20に可変データD20を設定してデバッグ、評価等を実施する。制限データ設定部18に制限データD10B(例えば、図10の丸印のビットに“1”)を設定した後に、その制限データD10Bを無効にしたい場合は、その制限データ設定部18と論理積を取っている隣のビットの制御データ設定部19に”1”を設定することにより、設定値を無効化(“0”)できる。その後、再度値を設定したい場合は、CPU等から可変データD20をレジスタ20に設定することにより、通常動作を実現できる。
(Operation of Example 8)
Before the limit data D10B is set in the limit data setting circuit 10B, the variable data D20 is set in the register 20 from the CPU or the like to perform debugging, evaluation, and the like. After setting the limit data D10B (for example, “1” in the circled bit in FIG. 10) in the limit data setting unit 18, if it is desired to invalidate the limit data D10B, a logical product with the limit data setting unit 18 is obtained. The set value can be invalidated (“0”) by setting “1” in the control data setting unit 19 of the adjacent bit taken. Thereafter, when it is desired to set the value again, normal operation can be realized by setting the variable data D20 in the register 20 from the CPU or the like.

(実施例8の効果)
本実施例8によれば、制限データ設定回路10Bに制限データD10Bを設定する前、あるいは、してしまった後でも、その設定値を無効にすることができ、最終的にはレジスタ20で可変データD20を設定するという制限データ設定回路誤書き込み対策の実現が可能となる。
(Effect of Example 8)
According to the eighth embodiment, the set value can be invalidated before or after the limit data D10B is set in the limit data setting circuit 10B. It is possible to realize a countermeasure against erroneous writing of the limited data setting circuit that sets the data D20.

(実施例9の構成)
図11は、本発明の実施例9を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例2及び7をそれぞれ示す図4及び図9中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 9)
FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing a ninth embodiment of the present invention. Elements common to those in FIGS. 4 and 9 showing the second and seventh embodiments are denoted by common reference numerals. ing.

本実施例9のトリミング回路は、実施例7の制限データ設定回路10B及び出力制御回路70Aと、実施例2のレジスタ20及び論理回路30Aとが、組み合わされて構成されている。   The trimming circuit according to the ninth embodiment is configured by combining the limited data setting circuit 10B and the output control circuit 70A according to the seventh embodiment and the register 20 and the logic circuit 30A according to the second embodiment.

(実施例9の動作)
制限データ設定回路10Bに制限データD10Bを設定する前は、CPU等からレジスタ20に可変データD20を設定してデバッグ、評価等を実施する。制限データ設定部18に制限データD10B(例えば、図11の丸印のビットに“0”)を設定した後に、その制限データD10Bを無効にしたい場合は、その制限データ設定部18と論理和を取っている隣のビットの制御データ設定部19に”0”を設定することにより、設定値を無効化(“0”)できる。その後、再度値を設定したい場合は、CPU等から可変データD20をレジスタ20に設定することにより、通常動作を実現できる。
(Operation of Example 9)
Before the limit data D10B is set in the limit data setting circuit 10B, the variable data D20 is set in the register 20 from the CPU or the like to perform debugging, evaluation, and the like. If the restriction data D10B is set in the restriction data setting section 18 (for example, “0” in the circled bit in FIG. 11) and then the restriction data D10B is to be invalidated, a logical sum with the restriction data setting section 18 is obtained. The set value can be invalidated (“0”) by setting “0” in the control data setting unit 19 of the adjacent bit taken. Thereafter, when it is desired to set the value again, normal operation can be realized by setting the variable data D20 in the register 20 from the CPU or the like.

(実施例9の効果)
本実施例9によれば、実施例8とほぼ同様の効果がある。
(Effect of Example 9)
According to the ninth embodiment, there are almost the same effects as the eighth embodiment.

(実施例10の構成)
図12は、本発明の実施例10を示すトリミング回路の概略の構成図である。
本実施例10のトリミング回路では、実施例1の図1に示す制限データ設定回路10と同様のm個の制限データ設定回路10−1〜10−mを有し、これらの出力側に、出力切り替え用のセレクタ80を介して、実施例1と同様の被トリミング回路40が接続されている。更に、セレクタ80には、このセレクタ80の切り替えを制御するための他の制限データ設定手段(例えば、制限データ設定回路)81が接続されている。制限データ設定回路81は、他の制限データ設定回路10−1〜10−mのアドレスAD1〜ADmを保持する一度だけ保持データの変更可能なnビットの回路である。
(Configuration of Example 10)
FIG. 12 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing Embodiment 10 of the present invention.
The trimming circuit according to the tenth embodiment includes m number of limit data setting circuits 10-1 to 10-m similar to the limit data setting circuit 10 shown in FIG. 1 according to the first embodiment. A circuit to be trimmed 40 similar to that of the first embodiment is connected via a selector 80 for switching. Furthermore, another restriction data setting means (for example, a restriction data setting circuit) 81 for controlling the switching of the selector 80 is connected to the selector 80. The limit data setting circuit 81 is an n-bit circuit that can change the held data once and holds the addresses AD1 to ADm of the other limit data setting circuits 10-1 to 10-m.

(実施例10の動作)
一度だけ設定できる制限データ設定回路(例えば、アドレスAD1の制限データ設定回路10−1)に制限データD10を設定した後に、その値を修正したい場合には、セレクト信号用の一度だけ設定できる制限データ設定回路81にアドレス値(例えば、AD2)を設定する。すると、制限データ設定部81から出力される切り替え制御信号により、全く別のアドレスAD2の一度だけ設定できる制限データ設定回路10−2の設定値が選択されるので、再度、設定し直すことが可能となる。
(Operation of Example 10)
After setting the limit data D10 in the limit data setting circuit that can be set only once (for example, the limit data setting circuit 10-1 at the address AD1), if you want to modify the value, the limit data that can be set once for the select signal An address value (for example, AD2) is set in the setting circuit 81. Then, since the setting value of the limit data setting circuit 10-2 that can be set only once for a completely different address AD2 is selected by the switching control signal output from the limit data setting unit 81, it can be set again. It becomes.

(実施例10の効果)
本実施例10によれば、制限データ設定回路(例えば、10−1)に制限データD10を設定してしまった後でも、セレクタ80により、他の制限データ設定回路(例えば、10−2)を選択してその設定値を変更することができる。これにより、使い勝手が向上する。
(Effect of Example 10)
According to the tenth embodiment, even after the limit data D10 is set in the limit data setting circuit (for example, 10-1), another limit data setting circuit (for example, 10-2) is set by the selector 80. You can select and change the set value. This improves usability.

(実施例11の構成)
図13は、本発明の実施例11を示すトリミング回路の概略の構成図であり、実施例5及び10をそれぞれ示す図7及び図12中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
(Configuration of Example 11)
FIG. 13 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing an eleventh embodiment of the present invention. Elements common to those in FIGS. 7 and 12 showing the fifth and tenth embodiments are denoted by common reference numerals. ing.

本実施例11のトリミング回路は、実施例10の制限データ設定回路10−1〜10−n,81、及びセレクタ80と、実施例5の読み出し回路60、レジスタ20A、及び被トリミング回路40とが、組み合わされて構成されている。   The trimming circuit according to the eleventh embodiment includes the limited data setting circuits 10-1 to 10-n, 81 and the selector 80 according to the tenth embodiment, and the read circuit 60, the register 20A, and the trimmed circuit 40 according to the fifth embodiment. , Are combined.

(実施例11の動作)
制限データ設定回路(例えば、10−1)に制限データD10を設定する前は、CPU等からレジスタ20Aに可変データD20Aを設定してデバッグ、評価等を実施する。制限データ設定回路10−1に制御データD10を設定した後に、その設定値を修正したい場合には、セレクト信号用の制限データ設定回路81にアドレス値(例えば、AD2)を設定する。すると、制限データ設定部81から出力される切り替え制御信号により、全く別のアドレスAD2の制限データ設定回路10−2の設定値が選択されるので、再度、設定し直すことが可能となる。
(Operation of Example 11)
Before setting the limit data D10 in the limit data setting circuit (for example, 10-1), the variable data D20A is set in the register 20A from the CPU or the like, and debugging, evaluation, and the like are performed. After setting the control data D10 in the limit data setting circuit 10-1, if it is desired to modify the set value, an address value (for example, AD2) is set in the limit data setting circuit 81 for the select signal. Then, since the set value of the limit data setting circuit 10-2 of the completely different address AD2 is selected by the switching control signal output from the limit data setting unit 81, it becomes possible to set again.

(実施例11の効果)
本実施例11によれば、制限データ設定部(例えば、10−1)に制限データD10を設定する前は、可変データD20Aをレジスタ20Aに設定することにより、被トリミング回路40へ供給するトリミング信号S20Aを生成できる。制限データ設定回路(例えば、10−1)に制限データD10を設定してしまった後でも、セレクタ80により、他の制限データ設定回路(例えば、10−2)を選択してその設定値を変更することができる。これにより、使い勝手が向上する。
(Effect of Example 11)
According to the eleventh embodiment, before setting the limit data D10 in the limit data setting unit (for example, 10-1), the trimming signal to be supplied to the trimming circuit 40 is set by setting the variable data D20A in the register 20A. S20A can be generated. Even after the limit data D10 is set in the limit data setting circuit (for example, 10-1), the selector 80 selects another limit data setting circuit (for example, 10-2) and changes the set value. can do. This improves usability.

(変形例)
本発明は、実施例1〜11に限定されず、種々の利用形態や変形が可能である。この利用形態や変形例としては、例えば、次の(1)、(2)のようなものがある。
(Modification)
This invention is not limited to Examples 1-11, A various utilization form and deformation | transformation are possible. For example, the following forms (1) and (2) are used as the usage form and the modification examples.

(1) 制限データ設定回路10,10−1〜10−n,・・・におけるデータ設定回数は、1回に限らず、この回路を構成している図2のOTPや図3のヒューズ回路等を工夫することにより、数回の変更も可能である。   (1) The number of data settings in the limit data setting circuits 10, 10-1 to 10-n,... Is not limited to one, but the OTP in FIG. 2 and the fuse circuit in FIG. It is possible to change several times by devising.

(2) 図12の制限データ設定回路10−1〜10−n,81、及びセレクタ80は、図1や図4〜図6等のトリミング回路にも組み合わせて使用することが可能である。   (2) The limit data setting circuits 10-1 to 10-n and 81 and the selector 80 shown in FIG. 12 can be used in combination with the trimming circuits shown in FIG. 1 and FIGS.

本発明の実施例1を示すトリミング回路の概略の構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a trimming circuit showing Embodiment 1 of the present invention. FIG. 図1中の制御データ設定回路10を例えばOTPにより構成した場合のOTPの概略を示す構成図である。It is a block diagram which shows the outline of OTP at the time of comprising the control data setting circuit 10 in FIG. 1 by OTP, for example. 図1中の制御データ設定回路10を例えばn個のヒューズ回路により構成した場合の1個のヒューズ回路の概略を示す構成図である。It is a block diagram which shows the outline of one fuse circuit at the time of comprising the control data setting circuit 10 in FIG. 1 by n fuse circuits, for example. 本発明の実施例2を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 2 of this invention. 本発明の実施例3を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 3 of this invention. 本発明の実施例4を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 4 of this invention. 本発明の実施例5を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 5 of this invention. 本発明の実施例6を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 6 of this invention. 本発明の実施例7を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 7 of this invention. 本発明の実施例8を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 8 of this invention. 本発明の実施例9を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 9 of this invention. 本発明の実施例10を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 10 of this invention. 本発明の実施例11を示すトリミング回路の概略の構成図である。It is a schematic block diagram of the trimming circuit which shows Example 11 of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10,10−1〜10−m,10A,10B,81 制限データ設定回路
20,20A レジスタ
30,30A 論理回路
40 被トリミング回路
50,50A,70,70A 出力制御回路
60 読み出し回路
70 セレクタ
10, 10-1 to 10-m, 10A, 10B, 81 Restricted data setting circuit 20, 20A Register 30, 30A Logic circuit 40 Circuit to be trimmed 50, 50A, 70, 70A Output control circuit 60 Read circuit 70 Selector

Claims (2)

変更回数が制限された制限データが設定されると、前記設定された制限データに基づき、被トリミング回路へ供給するための実行用トリミング信号を生成する制限データ設定回路と、A limit data setting circuit that generates an execution trimming signal to be supplied to the trimming circuit based on the set limit data when the limit data with a limited number of changes is set;
読み出し信号に基づき、前記制限データ設定回路により生成された前記実行用トリミング信号を読み出す読み出し回路と、A readout circuit for reading out the execution trimming signal generated by the restriction data setting circuit based on a readout signal;
前記読み出し回路により読み出された前記実行用トリミング信号を保持する機能と、設定される可変データに基づき、前記被トリミング回路へ供給するための評価用トリミング信号を生成して保持する機能とを有し、保持した前記評価用トリミング信号又は前記実行用トリミング信号のいずれか一方を選択して前記被トリミング回路へ与えるレジスタと、A function of holding the execution trimming signal read by the reading circuit; and a function of generating and holding an evaluation trimming signal to be supplied to the trimming circuit based on the set variable data. A register that selects one of the held trimming signal for evaluation or the trimming signal for execution and supplies it to the circuit to be trimmed,
を有することを特徴とするトリミング回路。A trimming circuit comprising:
前記制限データ設定回路は、前記制限データの変更が一度だけ可能なヒューズ回路、ワン・タイム・プログラマブル・リード・オンリ・メモリ、あるいは、ワン・タイム・プログラム可能な回路又は素子により構成したことを特徴とする請求項1記載のトリミング回路。The limit data setting circuit is composed of a fuse circuit capable of changing the limit data only once, a one-time programmable read-only memory, or a one-time programmable circuit or element. The trimming circuit according to claim 1.
JP2006325318A 2006-12-01 2006-12-01 Trimming circuit Active JP4945226B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006325318A JP4945226B2 (en) 2006-12-01 2006-12-01 Trimming circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006325318A JP4945226B2 (en) 2006-12-01 2006-12-01 Trimming circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008140960A JP2008140960A (en) 2008-06-19
JP4945226B2 true JP4945226B2 (en) 2012-06-06

Family

ID=39602129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006325318A Active JP4945226B2 (en) 2006-12-01 2006-12-01 Trimming circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4945226B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103576728A (en) * 2012-07-27 2014-02-12 株式会社理光 Trimming circuit, trimming method and power device

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6125769B2 (en) 2012-07-06 2017-05-10 ローム株式会社 Semiconductor devices, liquid crystal display devices, electronic equipment

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1116342A (en) * 1997-06-23 1999-01-22 Fujitsu Ltd Type changeable semiconductor device and operation testing of the same
JP3176324B2 (en) * 1997-07-29 2001-06-18 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 Semiconductor integrated circuit
JP4629192B2 (en) * 2000-07-07 2011-02-09 富士通セミコンダクター株式会社 Trimming circuit, adjustment circuit, and semiconductor device
JP4076816B2 (en) * 2002-08-08 2008-04-16 富士通株式会社 Semiconductor device and control method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103576728A (en) * 2012-07-27 2014-02-12 株式会社理光 Trimming circuit, trimming method and power device
US9148133B2 (en) 2012-07-27 2015-09-29 Ricoh Electronic Devices Co., Ltd. Trimming circuit, power supply including trimming circuit, and trimming method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008140960A (en) 2008-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4957800B2 (en) Semiconductor memory device and system
US8095834B2 (en) Macro and command execution from memory array
US7768831B2 (en) Flash memory device and method of controlling flash memory device
KR102154436B1 (en) Semiconductor memory device
US7885111B2 (en) Flash memory device and method for providing initialization data
JP3892832B2 (en) Semiconductor memory device
CN100353454C (en) A secure poly fuse rom with a power-on or on-reset hardware security features and method therefor
US20060140027A1 (en) Semiconductor memory device and method of operating the same
JP2006079811A (en) Semiconductor memory device equipped with parity generator for error detection
JP2007164895A (en) Nonvolatile semiconductor memory device
US7624329B2 (en) Programming a memory device having error correction logic
KR100888261B1 (en) Memory subsystem capable of using bank identification and method thereof
JP4889961B2 (en) Semiconductor integrated circuit and burn-in test method thereof
JP4945226B2 (en) Trimming circuit
US7310277B2 (en) Non-volatile semiconductor storage device with specific command enable/disable control signal
KR20140124545A (en) Non-volatile memory and boot up operation method of the same
US20070106884A1 (en) Hybrid memory system for a microcontroller
JP4327626B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device
JP4582078B2 (en) Memory controller, flash memory system, and flash memory control method
JP4323527B2 (en) Semiconductor memory device
JP4284331B2 (en) Access method for nonvolatile semiconductor memory device
JP2005050442A (en) Redundant memory circuit
JP4660316B2 (en) Nonvolatile memory device
US20030135702A1 (en) Microcomputer for accessing a replacing block area preset in a nonvolatile memory in place of a replaced block area accessed in the nonvolatile memory
JP4491267B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080811

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20090107

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090427

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111122

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111222

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120207

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120305

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4945226

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150309

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350