JP4909878B2 - Disk drive device and clearance adjustment method thereof - Google Patents

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Description

本発明はディスク・ドライブ装置及びそのクリアランス調整方法に関し、特に、気圧センサを有していないディスク・ドライブ装置に好適なクリアランス調整手法に関する。   The present invention relates to a disk drive device and a clearance adjustment method thereof, and more particularly to a clearance adjustment technique suitable for a disk drive device that does not have a barometric pressure sensor.

ディスク・ドライブ装置として、光ディスク、光磁気ディスク、あるいはフレキシブル磁気ディスクなどの様々な態様のディスクを使用する装置が知られているが、その中で、ハードディスク・ドライブ(HDD)は、コンピュータの記憶装置として広く普及し、現在のコンピュータ・システムにおいて欠かすことができない記憶装置の一つとなっている。さらに、コンピュータにとどまらず、動画像記録再生装置、カーナビゲーション・システムあるいは携帯電話など、HDDの用途はその優れた特性により益々拡大している。   As a disk drive device, a device using a disk of various modes such as an optical disk, a magneto-optical disk, or a flexible magnetic disk is known. Among them, a hard disk drive (HDD) is a computer storage device. As one of the storage devices indispensable in the present computer system, it is widely used. In addition to the computer, the use of the HDD such as a moving image recording / reproducing apparatus, a car navigation system, or a mobile phone is increasing more and more due to its excellent characteristics.

HDDで使用される磁気ディスクは、同心円状に形成された複数のデータ・トラックとサーボ・トラックとを有している。各サーボ・トラックはアドレス情報を有する複数のサーボ・データから構成される。また、各データ・トラックには、ユーザ・データを含む複数のデータ・セクタが記録されている。円周方向に離間するサーボ・データの間に、データ・セクタが記録されている。揺動するアクチュエータに支持されたヘッド・スライダのヘッド素子部が、サーボ・データのアドレス情報に従って所望のデータ・セクタにアクセスすることによって、データ・セクタへのデータ書き込み及びデータ・セクタからのデータ読み出しを行うことができる。   A magnetic disk used in an HDD has a plurality of data tracks and servo tracks formed concentrically. Each servo track is composed of a plurality of servo data having address information. Each data track is recorded with a plurality of data sectors including user data. Data sectors are recorded between servo data spaced apart in the circumferential direction. The head element part of the head slider supported by the oscillating actuator accesses the desired data sector according to the servo data address information, thereby writing data to the data sector and reading data from the data sector. It can be performed.

磁気ディスクの記録密度を向上には、磁気ディスク上を浮上するヘッド素子部と磁気ディスクとの間のクリアランス(浮上高)及びその変化を小さくすることが重要である。このため、クリアランスを調整するいくつかの機構が提案されている。そのうちの一つは、ヘッド・スライダにヒータを備え、そのヒータでヘッド素子部を加熱することよってクリアランスを調整する(例えば、特許文献1を参照)。本明細書において、これをTFC(Thermal Flyheight Control)と呼ぶ。TFCは、ヒータに電流を供給して発熱させ、熱膨張によってヘッド素子部を突出させる。これによって、磁気ディスクとヘッド素子部との間のクリアランスを小さくする。この他、ピエゾ素子を使用してヘッド素子部と磁気ディスクとの間のクリアランスを調整する機構などが知られている。   In order to improve the recording density of the magnetic disk, it is important to reduce the clearance (flying height) between the head element portion that floats on the magnetic disk and the magnetic disk and changes thereof. For this reason, several mechanisms for adjusting the clearance have been proposed. One of them includes a heater in the head slider, and the clearance is adjusted by heating the head element portion with the heater (see, for example, Patent Document 1). In this specification, this is called TFC (Thermal Flyheight Control). The TFC supplies a current to the heater to generate heat, and causes the head element portion to protrude by thermal expansion. As a result, the clearance between the magnetic disk and the head element portion is reduced. In addition, a mechanism for adjusting the clearance between the head element portion and the magnetic disk using a piezo element is known.

クリアランスは、温度変化に応じて変化するほか、気圧(高度)の変化に応じて変化する(例えば、特許文献2を参照)。リード/ライトにおけるクリアランス設定値が5nm以上である場合には、高度変化によるクリアランス変化は、クリアランス・マージンにより対応することができる。しかし、リード/ライトにおいて2あるいは3nm以下のクリアランスしか存在しない場合、温度変化に加えて、気圧変化に応じてクリアランスを調整することが要求される。
特開2006−190454号公報 特開2006−92709号公報
The clearance changes in accordance with a change in temperature, and also changes in accordance with a change in atmospheric pressure (altitude) (see, for example, Patent Document 2). When the clearance setting value in read / write is 5 nm or more, the clearance change due to the altitude change can be dealt with by the clearance margin. However, when there is only a clearance of 2 or 3 nm or less in read / write, it is required to adjust the clearance according to a change in atmospheric pressure in addition to a change in temperature.
JP 2006-190454 A JP 2006-92709 A

典型的なTFCは、温度の低下に応じてヒータ・パワーを増加して熱膨張によってヘッド素子部を突出させ、温度低下によるクリアランスの増加を補償する。これに対して、高度が上昇して気圧が低下すると、スライダの浮上高が低下する。このため、気圧の低下によりヘッド素子部と磁気ディスクとの間のクリアランスも減少する。従って、温度が一定であれば、TFCは気圧の低下に従って突出量を小さくする。   In a typical TFC, the heater power is increased in response to a decrease in temperature to cause the head element portion to protrude by thermal expansion, and compensates for an increase in clearance due to a decrease in temperature. On the other hand, when the altitude increases and the atmospheric pressure decreases, the flying height of the slider decreases. For this reason, the clearance between the head element portion and the magnetic disk also decreases due to the decrease in the atmospheric pressure. Therefore, if the temperature is constant, the TFC reduces the protrusion amount as the atmospheric pressure decreases.

HDDは、温度に応じて多くのパラメータを設定しており、正確な温度検出はHDDの正常な動作に不可欠なものとなっている。そのため、一般的なHDDは、温度を検出する手段として温度センサを有している。同様に、気圧を検出する手段の一つとして、気圧センサ(高度センサ)が知られている。しかし、気圧センサを使用することはHDDの部材点数の増加となり、また、HDDのコストも大きく増加する。また、気圧の変化に応じて設定すべきパラメータは、クリアランス調整のためのパラメータ以外にほとんど存在しないため、気圧センサを使用することなく気圧を特定することが好ましい。   The HDD sets many parameters according to the temperature, and accurate temperature detection is indispensable for the normal operation of the HDD. Therefore, a general HDD has a temperature sensor as means for detecting temperature. Similarly, an atmospheric pressure sensor (altitude sensor) is known as one of means for detecting atmospheric pressure. However, the use of the pressure sensor increases the number of HDD members, and the cost of the HDD greatly increases. In addition, since there are almost no parameters to be set according to changes in atmospheric pressure other than parameters for adjusting the clearance, it is preferable to specify the atmospheric pressure without using an atmospheric pressure sensor.

上述のように、気圧の変化に応じてクリアランスは変化する。このため、クリアランスを参照することによって、気圧変化を測定することができる。クリアランスを特定するためのいくつかの手法が知られている。典型的手法は、ヘッド素子部のリード信号の振幅から、クリアランス(クリアランス変化)を特定する。クリアランスが小さくなると信号強度が大きくなり、可変ゲイン・アンプのゲインが小さくなる。   As described above, the clearance changes according to the change in atmospheric pressure. For this reason, a change in atmospheric pressure can be measured by referring to the clearance. Several techniques for identifying clearance are known. A typical method specifies a clearance (clearance change) from the amplitude of the read signal of the head element portion. As the clearance decreases, the signal strength increases and the gain of the variable gain amplifier decreases.

このため、可変ゲイン・アンプのゲインを参照することで、信号強度及びクリアランスを特定することができる。より正確なクリアランス特定手法は、リード信号の周波数成分の分解能(レゾリューション)からクリアランスを特定する。あるいは、正確性においては劣るが、スピンドル・モータ(SPM)の電流値から気圧を推定することもできる。   Therefore, the signal strength and clearance can be specified by referring to the gain of the variable gain amplifier. A more accurate clearance specifying method specifies the clearance from the resolution (resolution) of the frequency component of the read signal. Alternatively, although the accuracy is inferior, the atmospheric pressure can be estimated from the current value of the spindle motor (SPM).

気圧センサを使用することなく気圧に応じてクリアランスを調整するためには、上記手法のように、HDDの動作パラメータ(可変ゲイン・アンプのゲイン、SPM電流値など)を参照して、クリアランス変化を特定することが必要となる。しかし、気圧センサと異なり、HDDの動作パラメータを使用した気圧測定の精度及び信頼性は、高いものではない。不確かな気圧測定は誤ったクリアランス調整の原因となり、ヘッド・ディスク接触を引き起こしヘッド・スライダや磁気ディスクに損傷を与える、あるいは、必要なクリアランス・マージンが確保されずにリード/ライトを行うことでヘッド・ディスク接触によるハード・エラー(回復できないエラー)を引き起こしうる。   In order to adjust the clearance according to the atmospheric pressure without using the atmospheric pressure sensor, refer to the HDD operating parameters (variable gain / amplifier gain, SPM current value, etc.) as in the above method, and change the clearance. It is necessary to specify. However, unlike a barometric sensor, the accuracy and reliability of barometric pressure measurement using HDD operating parameters is not high. Uncertain pressure measurement may cause incorrect clearance adjustment, causing head / disk contact and damaging the head slider or magnetic disk, or reading / writing without ensuring the necessary clearance margin. -Hard errors due to disk contact (errors that cannot be recovered) can be caused.

本発明の一態様に係るディスク・ドライブ装置は、ディスクにアクセスするヘッドと、前記ヘッドを保持し前記ディスク上で前記ヘッドを移動する移動機構と、前記ヘッドと前記ディスクとの間のクリアランスを調整する調整機構と、温度センサと、少なくとも前記調整機構を制御するコントローラとを有する。前記コントローラは、ディスク・ドライブ装置の動作パラメータのデフォルト値からの変化量における温度変化による変化量を前記温度センサの検出温度を用いて補正した後、補正された前記動作パラメータの変化量によりクリアランス変化量を決定する。さらに、前記クリアランス変化量が基準範囲を越える場合に、前記ヘッドと前記ディスクとの接触の検証をする。そして、前記接触の検証の結果に基づいて、前記クリアランスの調整量を決定する。これにより、気圧センサを使用することなく気圧に応じたクリアランス調整をより的確に行うことができる。   A disk drive device according to an aspect of the present invention includes a head that accesses a disk, a moving mechanism that holds the head and moves the head on the disk, and adjusts a clearance between the head and the disk. An adjustment mechanism for controlling the temperature, a temperature sensor, and a controller for controlling at least the adjustment mechanism. The controller corrects the change amount due to the temperature change in the change amount from the default value of the operation parameter of the disk drive device using the detected temperature of the temperature sensor, and then changes the clearance according to the corrected change amount of the operation parameter. Determine the amount. Further, when the clearance change amount exceeds the reference range, the contact between the head and the disk is verified. Then, the adjustment amount of the clearance is determined based on the result of the verification of the contact. Thereby, the clearance adjustment according to atmospheric pressure can be performed more accurately without using an atmospheric pressure sensor.

好ましくは、前記動作パラメータは、前記ヘッドが前記ディスクから読み出した信号の振幅から決定されるパラメータである。あるいは、前記動作パラメータは、前記ヘッドが前記ディスクから読み出した信号の異なる周波数成分の比率から決定されるパラメータである。これにより、より正確にクリアランス変化量を決定することができる。   Preferably, the operation parameter is a parameter determined from an amplitude of a signal read from the disk by the head. Alternatively, the operation parameter is a parameter determined from a ratio of different frequency components of a signal read from the disk by the head. Thereby, the clearance change amount can be determined more accurately.

前記コントローラは、前記接触の検証をする際のクリアランスを、決定した前記クリアランス変化量に対応するデフォルト設定のクリアランスよりも小さくなるように前記調整機構を制御することが好ましい。これにより、クリアランス・マージンを含めた適切なクリアランスを実現することができる。さらに、前記コントローラは、前記調整機構による一定調整クリアランス量において前記接触の検証を行うことが好ましい。これにより効率的な処理を行い、パフォーマンスの低下を抑制できる。   The controller preferably controls the adjustment mechanism so that a clearance for verifying the contact is smaller than a default clearance corresponding to the determined amount of change in the clearance. As a result, an appropriate clearance including a clearance margin can be realized. Further, the controller preferably verifies the contact with a constant adjustment clearance amount by the adjustment mechanism. As a result, efficient processing can be performed, and performance degradation can be suppressed.

前記コントローラは、前記接触の検証において接触を確認した場合、デフォルト設定によるクリアランスよりもクリアランスを高くなるように前記調整機構を制御することが好ましい。これにより、その後の処理における接触をより確実に防ぐことができる。   It is preferable that the controller controls the adjustment mechanism so that the clearance is higher than the clearance set by default when the contact is confirmed in the contact verification. Thereby, the contact in a subsequent process can be prevented more reliably.

好ましい例において、前記コントローラは、前記接触の検証において接触を確認すると、デフォルト設定によるクリアランスよりもクリアランスを高くし、前記クリアランスを前記デフォルト設定よりも高くする量は、前記接触の検証において前記クリアランスを前記デフォルト設定よりも小さくする量と同じになるように前記調整機構を制御する。これにより、効率的な処理により、クリアランス・マージンを含めた適切なクリアランスを実現することができる。   In a preferred example, when the controller confirms contact in the contact verification, the controller sets the clearance higher than a clearance according to a default setting, and the amount by which the clearance is higher than the default setting determines the clearance in the contact verification. The adjustment mechanism is controlled to be the same as the amount to be made smaller than the default setting. As a result, an appropriate clearance including a clearance margin can be realized by efficient processing.

前記コントローラは、前記接触の検証を行うか否かを決定する前記クリアランス変化量の基準を、前記クリアランス変化量が前記基準範囲を越えた回数に基づいて変更することが好ましい。これにより、使用環境に応じた適切な処理を行うことができる。好ましくは、前記コントローラは、前記動作パラメータの変化を複数回測定し、その複数回の測定結果に基づいて前記クリアランス変化量が前記基準範囲を越えるかを判定する。これにより、より正確にクリアランス変化量を決定することができる。   Preferably, the controller changes a reference of the clearance change amount for determining whether or not to perform the contact verification based on the number of times the clearance change amount exceeds the reference range. Thereby, it is possible to perform an appropriate process according to the use environment. Preferably, the controller measures the change of the operation parameter a plurality of times, and determines whether the clearance change amount exceeds the reference range based on the measurement result of the plurality of times. Thereby, the clearance change amount can be determined more accurately.

本発明の他の態様は、ディスク・ドライブ装置におけるクリアランス調整方法である。この方法は、温度センサにより温度を検出する。ディスク・ドライブ装置の動作パラメータのデフォルト値からの変化量における温度変化による変化量を前記検出温度を用いて補正した後、補正された前記動作パラメータの変化量によりクリアランス変化量を決定する。前記クリアランス変化量が基準範囲を越える場合に、前記ヘッドと前記ディスクとの接触の検証をする。前記接触の検証の結果に基づいて、前記クリアランスの調整量を決定する。これにより、気圧センサを使用することなく気圧に応じたクリアランス調整をより的確に行うことができる。   Another aspect of the present invention is a clearance adjustment method in a disk drive device. In this method, the temperature is detected by a temperature sensor. After the change amount due to the temperature change in the change amount from the default value of the operation parameter of the disk drive device is corrected using the detected temperature, the clearance change amount is determined based on the corrected change amount of the operation parameter. When the clearance change amount exceeds the reference range, the contact between the head and the disk is verified. The clearance adjustment amount is determined based on the result of the contact verification. Thereby, the clearance adjustment according to atmospheric pressure can be performed more accurately without using an atmospheric pressure sensor.

本発明によれば、気圧センサを使用することなく、気圧に応じたヘッドとディスクとの間のクリアランス調整をより的確に行うことができる。   According to the present invention, the clearance adjustment between the head and the disk according to the atmospheric pressure can be more accurately performed without using the atmospheric pressure sensor.

以下に、本発明を適用した実施の形態を説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略されている。以下においては、ディスク・ドライブ装置の一例であるハードディスク・ドライブ(HDD)を例として、本発明の実施形態を説明する。   Embodiments to which the present invention is applied will be described below. For clarity of explanation, the following description and drawings are omitted and simplified as appropriate. Moreover, in each drawing, the same code | symbol is attached | subjected to the same element and the duplication description is abbreviate | omitted as needed for clarification of description. In the following, embodiments of the present invention will be described by taking a hard disk drive (HDD) as an example of a disk drive device as an example.

本形態のHDDは、クリアランス調整機構の一例であるTFC(Thermal Fly height Control)により、ヘッドの一例であるヘッド素子部とディスクの一例である磁気ディスクとの間のクリアランスを調整する。TFCは、スライダ上のヒータからの熱によるヘッド素子部の熱膨張によってクリアランスを調整する。本形態のTFCは、気圧変化に応じてクリアランスを調整する。HDDは温度センサを有しているが、気圧センサを有していない。   The HDD of this embodiment adjusts the clearance between a head element unit, which is an example of a head, and a magnetic disk, which is an example of a disk, by TFC (Thermal Fly height Control), which is an example of a clearance adjustment mechanism. The TFC adjusts the clearance by the thermal expansion of the head element portion due to the heat from the heater on the slider. The TFC of this embodiment adjusts the clearance according to changes in atmospheric pressure. The HDD has a temperature sensor but does not have an atmospheric pressure sensor.

HDDはその動作パラメータの変化からクリアランス変化を決定する。さらに、温度センサの検出温度によって動作パラメータの補正を行うことにより、クリアランス変化の温度補正を行う。HDDは、これによりクリアランス変化における温度変化分を除き、気圧変化に対応するクリアランス変化を決定する。クリアランスを変化させる環境条件は、温度及び気圧の他に湿度を含むが、実質的な変化は温度と気圧によるものであり、以下において、温度補正を行ったクリアランス変化は、気圧変化によるものであるとして説明する。   The HDD determines the clearance change from the change of the operation parameter. Furthermore, the temperature of the clearance change is corrected by correcting the operation parameter based on the temperature detected by the temperature sensor. Thus, the HDD determines a clearance change corresponding to the atmospheric pressure change, excluding the temperature change in the clearance change. The environmental conditions for changing the clearance include humidity in addition to temperature and atmospheric pressure, but the substantial change is due to temperature and atmospheric pressure. In the following, the clearance change after temperature correction is due to atmospheric pressure change. Will be described.

本形態のHDDは、気圧変化に応じてTFCによりヒータ・パワーを変化させる場合、ヘッド・スライダと磁気ディスクとの接触(ヘッド・ディスク接触)を検証する。気圧センサと異なり、動作パラメータによる気圧測定(クリアランス測定)の精度及び信頼性は高いものではない。このため、ヘッド・ディスク接触により上記気圧測定の確認を行うことで、その後のリード/ライト動作におけるヘッド・ディスク接触を避け、あるいは、クリアランスのマージンをより確実に確保する。ヘッド・ディスク接触の検証頻度が多すぎることは、HDDの余分な処理時間が増加するため好ましくない。そこで、本形態のHDDは、気圧変化(クリアランス変化)が予め設定されている閾値を越える場合に、上記ヘッド・ディスク接触の検証を行う。   The HDD of this embodiment verifies the contact between the head slider and the magnetic disk (head / disk contact) when the heater power is changed by TFC in accordance with the change in atmospheric pressure. Unlike a barometric sensor, the accuracy and reliability of barometric pressure measurement (clearance measurement) using operating parameters is not high. For this reason, by confirming the atmospheric pressure measurement by head-disk contact, head-disk contact in the subsequent read / write operation is avoided or a clearance margin is more reliably ensured. It is not preferable that the verification frequency of the head-disk contact is too high because the extra processing time of the HDD increases. Therefore, the HDD according to the present embodiment verifies the contact between the head and the disk when the atmospheric pressure change (clearance change) exceeds a preset threshold value.

本形態のTFC及びヘッド・ディスク接触の検証の詳細を説明する前に、HDDの全体構成を説明する。図1は、HDD1の全体構成を模式的に示すブロック図である。HDD1は、エンクロージャ10内に、データを記憶するディスクである磁気ディスク11を有している。スピンドル・モータ(SPM)は、磁気ディスク11を所定の角速度で回転する。磁気ディスク11の各記録面に対応して、磁気ディスク11にアクセス(リードあるいはライト)するヘッド・スライダ12が設けられている。アクセスは、リード及びライトの上位概念である。各ヘッド・スライダ12は、磁気ディスク上を浮上するスライダと、スライダに固定され磁気信号と電気信号との間の変換を行うヘッド素子部とを備えている。   Before describing details of verification of TFC and head-disk contact of this embodiment, the overall configuration of the HDD will be described. FIG. 1 is a block diagram schematically showing the overall configuration of the HDD 1. The HDD 1 has a magnetic disk 11 that is a disk for storing data in the enclosure 10. The spindle motor (SPM) rotates the magnetic disk 11 at a predetermined angular velocity. Corresponding to each recording surface of the magnetic disk 11, a head slider 12 for accessing (reading or writing) the magnetic disk 11 is provided. Access is a superordinate concept of read and write. Each head slider 12 includes a slider that floats on the magnetic disk, and a head element unit that is fixed to the slider and converts between a magnetic signal and an electric signal.

本形態のヘッド・スライダ12は、熱によってヘッド素子部を膨張・突出させ、磁気ディスク11との間のクリアランス(浮上高)を調整するTFCのためのヒータを備えている。ヘッド・スライダ12の構造については、後に図2を参照して詳述する。各ヘッド・スライダ12はアクチュエータ16の先端部に固定されている。アクチュエータ16はボイス・コイル・モータ(VCM)15に連結され、回動軸を中心に回動することによって、ヘッド・スライダ12を回転する磁気ディスク11上においてその半径方向に移動する。アクチュエータ16とVCM15とは、ヘッド・スライダ12の移動機構である。   The head slider 12 of this embodiment includes a heater for TFC that expands and projects the head element portion by heat and adjusts the clearance (flying height) from the magnetic disk 11. The structure of the head slider 12 will be described in detail later with reference to FIG. Each head slider 12 is fixed to the tip of the actuator 16. The actuator 16 is connected to a voice coil motor (VCM) 15, and moves in the radial direction on the magnetic disk 11 that rotates the head slider 12 by rotating about a rotation axis. The actuator 16 and the VCM 15 are moving mechanisms for the head slider 12.

エンクロージャ10の外側に固定された回路基板20上には、回路素子が実装されている。モータ・ドライバ・ユニット22は、HDC/MPU23からの制御データに従って、SPM14及びVCM15を駆動する。RAM24は、リード・データ及びライト・データを一時的に格納するバッファとして機能する。エンクロージャ10内のアーム電子回路(AE:Arm Electronics)13は、複数のヘッド・スライダ12の中から磁気ディスク11へのアクセスを行うヘッド・スライダ12を選択し、その再生信号を増幅してリード・ライト・チャネル(RWチャネル)21に送る。また、RWチャネル21からの記録信号を選択したヘッド・スライダ12に送る。AE13は、さらに、選択したヘッド・スライダ12のヒータへ電力を供給し、その電力量を調節する調節回路として機能する。   Circuit elements are mounted on the circuit board 20 fixed to the outside of the enclosure 10. The motor driver unit 22 drives the SPM 14 and the VCM 15 according to control data from the HDC / MPU 23. The RAM 24 functions as a buffer that temporarily stores read data and write data. An arm electronic circuit (AE: Arm Electronics) 13 in the enclosure 10 selects the head slider 12 that accesses the magnetic disk 11 from among the plurality of head sliders 12, amplifies the reproduction signal, Send to the write channel (RW channel) 21. Further, the recording signal from the RW channel 21 is sent to the selected head slider 12. The AE 13 further functions as an adjustment circuit that supplies power to the heater of the selected head slider 12 and adjusts the amount of power.

RWチャネル21は、リード処理において、AE13から供給されたリード信号を一定の振幅となるように増幅し、取得したリード信号からデータを抽出し、デコード処理を行う。読み出されるデータは、ユーザ・データとサーボ・データとを含む。デコード処理されたリード・ユーザ・データ及びサーボ・データは、HDC/MPU23に供給される。また、RWチャネル21は、ライト処理において、HDC/MPU23から供給されたライト・データをコード変調し、更にコード変調されたライト・データをライト信号に変換してAE13に供給する。   In the read process, the RW channel 21 amplifies the read signal supplied from the AE 13 so as to have a constant amplitude, extracts data from the acquired read signal, and performs a decoding process. The data to be read includes user data and servo data. The decoded read user data and servo data are supplied to the HDC / MPU 23. In the write process, the RW channel 21 code-modulates the write data supplied from the HDC / MPU 23, further converts the code-modulated write data into a write signal, and supplies the write signal to the AE 13.

コントローラの一例であるHDC/MPU23は、リード/ライト処理制御、コマンド実行順序の管理、サーボ信号を使用したヘッド・スライダ12のポジショニング制御(サーボ制御)、ホスト51との間のインターフェース制御、ディフェクト管理、エラーが発生した場合のエラー対応処理など、データ処理に関する必要な処理及びHDD1の全体制御を実行する。特に、本形態のHDC/MPU23は、温度センサ17の検出温度に従って温度応じてTFCを行い、さらに、気圧に応じたTFCを行う。また、HDC/MPU23は、動作パラメータにより特定された気圧変化が大きい場合、ヘッド・ディスク接触の検証を行う。これらの点については後に説明する。   The HDC / MPU 23, which is an example of a controller, performs read / write processing control, command execution order management, positioning control (servo control) of the head slider 12 using servo signals, interface control with the host 51, and defect management. Necessary processing related to data processing such as error handling processing when an error occurs and overall control of the HDD 1 are executed. In particular, the HDC / MPU 23 of the present embodiment performs TFC according to the temperature according to the temperature detected by the temperature sensor 17, and further performs TFC according to the atmospheric pressure. Further, the HDC / MPU 23 verifies the contact between the head and the disk when the change in atmospheric pressure specified by the operation parameter is large. These points will be described later.

図2は、ヘッド・スライダ12の空気流出端面(トレーリング側端面)121近傍の構成を示す断面図である。スライダ123はヘッド素子部122を支持する。ヘッド素子部122は、リード素子32とライト素子31とを有している。ライト素子31は、ライト・コイル311を流れる電流で磁極312間に磁界を生成し、磁気データを磁気ディスク11に書き込む。リード素子32は磁気異方性を有する磁気抵抗素子32aを備え、磁気ディスク11からの磁界によって変化する抵抗値によって磁気データを読み出す。   FIG. 2 is a cross-sectional view showing a configuration in the vicinity of the air outflow end surface (trailing side end surface) 121 of the head slider 12. The slider 123 supports the head element unit 122. The head element unit 122 includes a read element 32 and a write element 31. The write element 31 generates a magnetic field between the magnetic poles 312 with a current flowing through the write coil 311 and writes magnetic data to the magnetic disk 11. The read element 32 includes a magnetoresistive element 32 a having magnetic anisotropy, and reads out magnetic data by a resistance value that changes due to a magnetic field from the magnetic disk 11.

ヘッド素子部122は、スライダ123を構成するアルチック(AlTiC)基板に薄膜形成プロセスにより形成される。磁気抵抗素子32aは磁気シールド33a、33bによって挟まれており、ライト・コイル311は絶縁膜313で囲まれている。ライト素子31とリード素子32の周囲にアルミナなどの保護膜34が形成されている。ライト素子31及びリード素子32の近傍にはヒータ124が存在する。パーマロイなどを使用した薄膜抵抗体を蛇行させ、間隙をアルミナで埋めてヒータ124を形成することができる。   The head element portion 122 is formed on an AlTiC (AlTiC) substrate constituting the slider 123 by a thin film formation process. The magnetoresistive element 32 a is sandwiched between magnetic shields 33 a and 33 b, and the write coil 311 is surrounded by an insulating film 313. A protective film 34 such as alumina is formed around the write element 31 and the read element 32. A heater 124 exists in the vicinity of the write element 31 and the read element 32. The heater 124 can be formed by meandering a thin film resistor using permalloy or the like and filling the gap with alumina.

AE13がヒータ124に電流を流すと、ヒータ124の熱によってヘッド素子部122の近傍が突出変形する。例えば、非加熱時において、ヘッド・スライダ12のABS面35はS1で示される形状であり、ヘッド素子部122と磁気ディスクとの間の距離であるクリアランスはC1で示されている。ヒータ124加熱時における突出形状S2を、破線で示す。ヘッド素子部122が磁気ディスク11に近づき、このときのクリアランスC2はクリアランスC1よりも小さい。なお、図2は概念図であり、寸法関係は正確ではない。ヘッド素子部122の突出量やクリアランスは、ヒータ124に供給するヒータ・パワー値に従って変化する。   When the AE 13 passes a current through the heater 124, the vicinity of the head element portion 122 is deformed by the heat of the heater 124. For example, when not heated, the ABS surface 35 of the head slider 12 has a shape indicated by S1, and a clearance, which is a distance between the head element portion 122 and the magnetic disk, is indicated by C1. The protruding shape S2 when the heater 124 is heated is indicated by a broken line. The head element portion 122 approaches the magnetic disk 11, and the clearance C2 at this time is smaller than the clearance C1. FIG. 2 is a conceptual diagram, and the dimensional relationship is not accurate. The protrusion amount and clearance of the head element portion 122 change according to the heater power value supplied to the heater 124.

以下において、本形態のTFC及びヘッド・ディスク接触の検証についてより詳細に説明する。上述のように、本形態のHDC/MPU23は、温度及び気圧に応じたTFCを行う。ヒータ124に加えられるヒータ・パワーPは、温度に依存するヒータ・パワーP(t)と、気圧に依存するヒータ・パワーP(p)の和(P(t)+P(p))で表される。なお、定数項はいずれかの数式内に組み込まれ、また、各数式の係数は、温度や気圧などの環境条件、ヘッド・スライダ12あるいはその半径位置に応じて変化しうる。具体的には、ヒータ・パワーPは、以下の数式で表される。
P=(TDP×eff[DEFAULT]−Target
−dt×t_comp−dp×p_comp)/eff
In the following, the verification of the TFC and head / disk contact of this embodiment will be described in more detail. As described above, the HDC / MPU 23 of the present embodiment performs TFC according to temperature and atmospheric pressure. The heater power P applied to the heater 124 is represented by the sum (P (t) + P (p)) of the heater power P (t) depending on the temperature and the heater power P (p) depending on the atmospheric pressure. The It should be noted that the constant term is incorporated in any of the mathematical expressions, and the coefficient of each mathematical expression can be changed according to environmental conditions such as temperature and atmospheric pressure, the head slider 12 or the radial position thereof. Specifically, the heater power P is expressed by the following mathematical formula.
P = (TDP × eff [DEFAULT] −Target
−dt × t_comp−dp × p_comp) / eff

effはヒータ・パワー効率であり、気圧及び半径位置に応じて変化する。eff[DEFAULT]はデフォルト条件におけるヒータ・パワー効率である。TDPはデフォルト条件においてヘッド・スライダ12と磁気ディスク11とが接触するヒータ・パワー、Targetはターゲット・クリアランス、dtはデフォルト条件からの温度変化量、t_compは温度に対するクリアランス変化率、dpはデフォルト条件からの気圧変化、p_compは気圧に対するクリアランス変化率である。t_compとp_compの符号は逆である。TDP、t_compと及びp_compは、典型的には、半径位置により変化する。デフォルト条件は、典型的には、30℃(室温)、1気圧(高度0m)の環境条件である。   eff is the heater power efficiency, and changes according to the atmospheric pressure and the radial position. eff [DEFAULT] is the heater power efficiency in the default condition. TDP is the heater power at which the head slider 12 and the magnetic disk 11 are in contact with each other under the default condition, Target is the target clearance, dt is the temperature change from the default condition, t_comp is the clearance change rate with respect to temperature, and dp is from the default condition P_comp is a clearance change rate with respect to the atmospheric pressure. The signs of t_comp and p_comp are opposite. TDP, t_comp, and p_comp typically vary with radial position. The default conditions are typically environmental conditions of 30 ° C. (room temperature) and 1 atmosphere (altitude 0 m).

HDC/MPU23は、温度センサ17の検出温度に応じてヒータ・パワーPを制御する。具体的には、HDD1には検出温度とヒータ・パワーとの間の関係を示すデータが設定されており、HDC/MPU23は、そのデータと検出温度に従って温度に依存するヒータ・パワーを決定する。温度とヒータ・パワーとの関係は、ヘッド・スライダ12、磁気ディスク11の半径位置(あるいはゾーン)、気圧に依存する。   The HDC / MPU 23 controls the heater power P according to the temperature detected by the temperature sensor 17. Specifically, data indicating the relationship between the detected temperature and the heater power is set in the HDD 1, and the HDC / MPU 23 determines the heater power depending on the temperature according to the data and the detected temperature. The relationship between temperature and heater power depends on the head slider 12, the radial position (or zone) of the magnetic disk 11, and the atmospheric pressure.

本形態のHDD1は気圧センサを有していないため、気圧を直接に測定することはできない。そのため、HDC/MPU23は、クリアランスを測定することによって、気圧に応じたTFCを行う。クリアランスは、気圧に応じて変化する。そのため、HDC/MPU23はクリアランスを測定し、そのクリアランス変化から気圧変化dpを特定する。クリアランスは温度によっても変化するため、HDC/MPU23は、測定したクリアランスから温度変化によるクリアランス変化を補正することで、気圧変化によるクリアランス変化を特定することができる。上述のように、規定のデフォルト温度及び気圧を有するデフォルト条件と、そのデフォルト条件におけるデフォルト・クリアランスを規定することで、各値の変化と現在値とが対応付けられる。   Since the HDD 1 of this embodiment does not have an atmospheric pressure sensor, it cannot directly measure the atmospheric pressure. Therefore, the HDC / MPU 23 performs TFC according to the atmospheric pressure by measuring the clearance. The clearance changes according to the atmospheric pressure. Therefore, the HDC / MPU 23 measures the clearance and specifies the atmospheric pressure change dp from the clearance change. Since the clearance also changes depending on the temperature, the HDC / MPU 23 can specify the clearance change due to the change in atmospheric pressure by correcting the clearance change due to the temperature change from the measured clearance. As described above, by defining a default condition having a specified default temperature and pressure and a default clearance in the default condition, a change in each value is associated with a current value.

温度補正したクリアランス変化は、気圧変化を表している。HDC/MPU23は、クリアランス変化による特定されている気圧(気圧変化)に応じて、ヒータ・パワーPを制御する。具体的には、HDD1にはクリアランス変化で表される気圧変化とヒータ・パワーとの間の関係を表すデータが設定されており、HDC/MPU23は、そのデータと測定した気圧とに従って、気圧に応じたヒータ・パワーを決定する。   The temperature-corrected clearance change represents a change in atmospheric pressure. The HDC / MPU 23 controls the heater power P in accordance with the specified atmospheric pressure (atmospheric pressure change) due to the clearance change. Specifically, the HDD 1 is set with data representing the relationship between the atmospheric pressure change represented by the clearance change and the heater power, and the HDC / MPU 23 adjusts the atmospheric pressure according to the data and the measured atmospheric pressure. The heater power corresponding to it is determined.

本形態のHDD1は、クリアランス、あるいはデフォルト・クリアランスからのクリアランス変化を、ヘッド・スライダ12のリード信号から特定する。より具体的には、リード信号のレゾリューション(周波数成分の分解能)から、クリアランスを特定する。例えば、レゾリューションは、リード信号における特定の低周波信号と高周波信号の比で表すことができる。気圧変化あるいは気圧変化によるクリアランス変化を特定するためのいくつかの動作パラメータがあるが、その中において、レゾリューションを使用したクリアランス変化の特定が、最も正確な方法の一つであるからである。クリアランスが小さくなると、リード信号の高周波成分の振幅が大きくなり、信号解像度、つまりレゾリューションが高くなる。   The HDD 1 of this embodiment specifies a clearance or a clearance change from the default clearance from the read signal of the head slider 12. More specifically, the clearance is specified from the resolution of the read signal (resolution of the frequency component). For example, the resolution can be expressed by a ratio of a specific low frequency signal to a high frequency signal in the read signal. There are several operating parameters to identify pressure changes or clearance changes due to pressure changes, among which the identification of clearance changes using resolution is one of the most accurate methods. . When the clearance is reduced, the amplitude of the high frequency component of the read signal is increased, and the signal resolution, that is, the resolution is increased.

レゾリューションとクリアランスとは線形関係にあり、レゾリューションに適当な線形変換を施すことにより、クリアランスをレゾリューションの一次関数で表すことができる。典型的には、レゾリューションとクリアランスとを結びつける一次関数は、個々のヘッド・スライダ12毎に異なる。各ヘッド・スライダ12のレゾリューションとクリアランスとの間の関係は、HDD1の製造におけるテスト工程において特定し、その関係に応じた制御パラメータをHDD1に登録する。   The resolution and the clearance are in a linear relationship, and the clearance can be expressed as a linear function of the resolution by applying an appropriate linear transformation to the resolution. Typically, the linear function that links the resolution and the clearance is different for each head slider 12. The relationship between the resolution of each head slider 12 and the clearance is specified in a test process in manufacturing the HDD 1, and control parameters corresponding to the relationship are registered in the HDD 1.

HDC/MPU23は、リード信号を解析し、高周波信号ゲイン(振幅)と低周波信号ゲイン(振幅)の比を算出することで、レゾリューションを特定することができる。しかし、その処理をHDC/MPU23が行うためには、通常動作に必要な機能の他に付加的な機能を必要とする。また、MPUがその処理を行うには多くの処理時間を必要とする。従って、HDD1に実装されている機能を利用してレゾリューションの測定を行うことが好ましい。RWチャネル21は、リード信号から正確にデータを抽出するために、リード信号の再生波形を調整する機能を有している。RWチャネル21は、デジタルフィルタを使用してこの波形整形を行う。   The HDC / MPU 23 can specify the resolution by analyzing the read signal and calculating the ratio of the high frequency signal gain (amplitude) to the low frequency signal gain (amplitude). However, in order for the HDC / MPU 23 to perform the process, an additional function is required in addition to the function necessary for the normal operation. In addition, the MPU requires a lot of processing time to perform the processing. Therefore, it is preferable to measure the resolution using a function mounted on the HDD 1. The RW channel 21 has a function of adjusting the reproduction waveform of the read signal in order to accurately extract data from the read signal. The RW channel 21 performs this waveform shaping using a digital filter.

RWチャネル21に実装されるデジタルフィルタにおいて、再生信号の周波数成分を補正するデジタルフィルタ(アダプティブコサイン・フィルタ)が知られている。RWチャネル21は、リード信号の測定結果からこのフィルタのタップ値を補正する。この補正値はクリアランス(レゾリューション)と一次の関係にあり、レゾリューションを表す値である。なお、このデジタルフィルタは、特開平5−81807や米国特許5168413に開示されているように既存の技術であり、詳細な説明を省略する。HDC/MPU23は、この補正値を参照することで、クリアランス変化を特定することができる。以下において、この補正値をKgradと呼ぶ。製造におけるテスト工程において、各ヘッド・スライダ12に対してKgradとクリアランスとの関係を特定する。   A digital filter (adaptive cosine filter) that corrects a frequency component of a reproduction signal is known as a digital filter mounted on the RW channel 21. The RW channel 21 corrects the tap value of this filter from the measurement result of the read signal. This correction value has a linear relationship with the clearance (resolution) and is a value representing the resolution. This digital filter is an existing technology as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 5-81807 and US Pat. No. 5,168,413, and will not be described in detail. The HDC / MPU 23 can specify the clearance change by referring to the correction value. Hereinafter, this correction value is referred to as Kgrad. In a test process in manufacturing, the relationship between Kgrad and clearance is specified for each head slider 12.

以下の説明において、HDC/MPU23は、チャネル・パラメータの一つであるKgradを参照してクリアランス(クリアランス変化)を特定するが、HDC/MPU23は、レゾリューションを表す他のチャネル・パラメータを使用してもよい。例えば、RWチャネル21が、特定パターンの再生信号を基準パターンに復元するためのデジタルフィルタを有している場合、HDC/MPU23は、そのデジタルフィルタのタップの補正係数におけるレゾリューション成分の補正値を、クリアランスの特定に使用することができる。   In the following description, the HDC / MPU 23 specifies the clearance (clearance change) with reference to Kgrad, which is one of the channel parameters, but the HDC / MPU 23 uses other channel parameters representing the resolution. May be. For example, when the RW channel 21 has a digital filter for restoring the reproduction signal of the specific pattern to the reference pattern, the HDC / MPU 23 corrects the resolution component correction value in the correction coefficient of the tap of the digital filter. Can be used to identify clearance.

上述のように、HDD1の製造におけるテスト工程は、ヒータ・パワーとクリアランスとの関係、温度とクリアランスとの関係、温度補正したKgradとクリアランスとの関係を特定し、それらを表すデータをHDD1に設定登録する。Kgradは、温度変化によるクリアランス変化に加え、RWチャネル21の特性の温度変化によって変化する。Kgradの温度補正は、これらの変化を合わせて補正する。HDC/MPU23は、これらの設定データを使用することで、温度センサ17の検出温度及びKgradの測定値から、適切なヒータ・パワー値を決定することができる。   As described above, the test process in manufacturing HDD1 specifies the relationship between heater power and clearance, the relationship between temperature and clearance, the relationship between temperature-corrected Kgrad and clearance, and sets data representing them in HDD1. sign up. Kgrad changes due to a temperature change in the characteristics of the RW channel 21 in addition to a clearance change due to a temperature change. The Kgrad temperature correction is performed by combining these changes. By using these setting data, the HDC / MPU 23 can determine an appropriate heater power value from the detected temperature of the temperature sensor 17 and the measured value of Kgrad.

HDC/MPU23は、Kgradを任意のタイミングでRWチャネル21から取得することができる。しかし、温度と異なり、気圧は動作中に大きく変化するものではなく、典型的には、起動後の気圧は一定である。従って、本形態のHDC/MPU23は、起動後の温度変化に応じてヒータ・パワーを制御するが、気圧(Kgrad)の測定は起動時の初期設定処理(パワーオン・リセット(POR)処理)においてのみ行い、動作中の気圧は起動時の気圧と同じであると仮定してTFCを行う。なお、HDC/MPU23は、POR後の動作中に気圧測定を行い、その変化に応じてヒータ・パワーを制御してもよい。   The HDC / MPU 23 can acquire Kgrad from the RW channel 21 at an arbitrary timing. However, unlike temperature, the air pressure does not change significantly during operation, and typically the air pressure after startup is constant. Therefore, the HDC / MPU 23 of this embodiment controls the heater power according to the temperature change after startup, but the atmospheric pressure (Kgrad) is measured in the initial setting process (power-on-reset (POR) process) at startup. The TFC is performed on the assumption that the atmospheric pressure during operation is the same as the atmospheric pressure during startup. The HDC / MPU 23 may measure the atmospheric pressure during the operation after POR and control the heater power according to the change.

本形態の特徴的な点は、測定した気圧変化が大きい場合にヘッド・ディスク接触を検証することである。上述のように、HDC/MPU23は、POR処理において、Kgradと温度センサ17の検出温度から気圧変化(を表すクリアランス変化)を特定する。デフォルト気圧からの気圧変化が基準内にない場合、HDC/MPU23は、ヘッド・ディスク接触の検証を行う。Kgradによる気圧変化の測定は、センサほどの正確性と安定性を有してない。このため、Kgradの変化が大きい場合にその測定結果を検証することで、その後のリード/ライト動作の信頼性を高めることができる。特に、PORにおいてのみ気圧測定を行う場合、その後の気圧変化に対するマージンは重要である。また、気圧変化が基準を越える場合にヘッド・ディスク接触の検証を行うことで、検証のためにいたずらに処理時間が増加することを避けることができる。   A characteristic point of this embodiment is that the head-disk contact is verified when the measured change in atmospheric pressure is large. As described above, the HDC / MPU 23 specifies a change in air pressure (representing a change in clearance) from the Kgrad and the temperature detected by the temperature sensor 17 in the POR process. If the change in air pressure from the default air pressure is not within the standard, the HDC / MPU 23 verifies the head / disk contact. Measurement of changes in atmospheric pressure with Kgrad is not as accurate and stable as sensors. For this reason, when the change in Kgrad is large, the reliability of the subsequent read / write operation can be improved by verifying the measurement result. In particular, when the atmospheric pressure is measured only in the POR, the margin for the subsequent atmospheric pressure change is important. Further, by verifying the head-disk contact when the change in atmospheric pressure exceeds the reference, it is possible to avoid an excessive increase in processing time for verification.

図3(a)は、高度変化(気圧変化)の測定結果とヘッド・ディスク接触の検証との関係を模式的に示す図である。高度の上昇に従い、気圧は低下する。図3(a)は、高度、Kgradの測定値、デフォルトKgrad、ヘッド・ディスク接触の検証を行うか否かを決定する基準範囲K_criteriaを示している。示しているKgradは、温度補正された値である。上述のように、デフォルトKgradはテスト工程(TEST)において特定された値である。図3(a)に例示するように、Kgradは高度(気圧)に完全には追従しない。   FIG. 3A is a diagram schematically showing the relationship between the measurement result of altitude change (atmospheric pressure change) and verification of head-disk contact. As the altitude increases, the air pressure decreases. FIG. 3A shows an altitude, a measured value of Kgrad, a default Kgrad, and a reference range K_criteria for determining whether or not to verify head / disk contact. Kgrad shown is a temperature-corrected value. As described above, the default Kgrad is a value specified in the test process (TEST). As illustrated in FIG. 3A, Kgrad does not completely follow altitude (atmospheric pressure).

最初の3回のPORにおいて、高度及び測定されたKgradは、基準範囲K_criteria内にある。従って、HDC/MPU23は、ヘッド・ディスク接触を検証しない。4回目のPORにおいて、高度A及び測定されたKgradは基準範囲K_criteriaを超えている。HDC/MPU23は、このPORにおいて、ヘッド・ディスク接触を検証する。その後、5回目のPORにおいて、高度A及び測定されたKgradは、基準範囲K_criteria内にある。従って、HDC/MPU23は、ヘッド・ディスク接触を検証しない。   In the first three PORs, the altitude and measured Kgrad are within the reference range K_criteria. Therefore, the HDC / MPU 23 does not verify the head / disk contact. In the fourth POR, the altitude A and the measured Kgrad exceed the reference range K_criteria. The HDC / MPU 23 verifies the head-disk contact in this POR. Thereafter, in the fifth POR, the altitude A and the measured Kgrad are within the reference range K_criteria. Therefore, the HDC / MPU 23 does not verify the head / disk contact.

図3(a)に示すように、基準範囲K_criteriaは、デフォルトKgradの上下に閾値を有していることが好ましい。典型的なデフォルト高度は、海抜0mであるが、実際の使用環境では、加圧環境にある、あるいは高度0m以下となることもありうるからである。しかし、設計によって、高度が閾値を超えて上昇する場合のみ、ヘッド・ディスク接触を検証するようにしてもよい。   As shown in FIG. 3A, the reference range K_criteria preferably has threshold values above and below the default Kgrad. This is because a typical default altitude is 0 m above sea level, but in an actual use environment, it may be in a pressurized environment or may be 0 m or less. However, head-disk contact may be verified only by design if the altitude rises above a threshold.

図4のフローチャート及び図5のブロック図を参照して、本形態の気圧測定及びヘッド・ディスク接触の検証の流れを説明する。HDC/MPU23は、POR処理において、気圧測定を行う。まず、HDC/MPU23は、ヒータ・パワー0において、Kgradを測定する(S11)。具体的には、HDC/MPU23は、一つのヘッド・スライダ12を選択し、モータ・ドライバ22を介してVCM15を制御して所定のデータ・トラックにそのヘッド・スライダ12を移動する。   With reference to the flowchart of FIG. 4 and the block diagram of FIG. 5, the flow of atmospheric pressure measurement and head-disk contact verification in this embodiment will be described. The HDC / MPU 23 performs atmospheric pressure measurement in the POR process. First, the HDC / MPU 23 measures Kgrad at the heater power 0 (S11). Specifically, the HDC / MPU 23 selects one head slider 12 and controls the VCM 15 via the motor driver 22 to move the head slider 12 to a predetermined data track.

ヘッド・スライダ12は、HDC/MPU23の制御下において、アクセス先のデータを読み出す。RWチャネル21は、ヘッド・スライダ12のリード信号からKgradを算出し、それをRWチャネル21内のレジスタに格納する。HDC/MPU23は、RWチャネル21のレジスタにアクセスして、Kgradを取得する。好ましくは、Kgradの測定を複数回行い、複数の測定値からクリアランス特定のための値を算出する。好ましい例において、HDC/MPU23は、複数測定値の平均値を使用する。同じ環境下(気圧や温度)であっても、Kgradの測定値は測定ごとにばらつきがあるため、複数回の測定結果からクリアランスを特定する方が、正確なクリアランスを特定することができるためである。   The head slider 12 reads access destination data under the control of the HDC / MPU 23. The RW channel 21 calculates Kgrad from the read signal of the head slider 12 and stores it in a register in the RW channel 21. The HDC / MPU 23 accesses the register of the RW channel 21 and acquires Kgrad. Preferably, Kgrad is measured a plurality of times, and a value for specifying the clearance is calculated from the plurality of measured values. In a preferred example, the HDC / MPU 23 uses an average value of a plurality of measured values. Even under the same environment (atmospheric pressure and temperature), the Kgrad measurement value varies from measurement to measurement, so it is more accurate to specify the clearance from multiple measurement results. is there.

Kgradの測定に使用するデータ・トラックは、Kgrad測定のための特性の優れたデータ・トラックが好ましい。そのため、ユーザ・データの記録に使用されず、ホスト51からのアクセスがない領域にあることが好ましい。これにより、オーバーライトを繰り返すことによるデータ・トラックの特性の低下を避けることができる。また、磁気ディスク11の外側にランプを有するHDDにおいては、ユーザ領域の最内周端よりも内周側にあることが好ましい。ヘッド・スライダ12がこの領域を通常動作において通過することがないからである。   The data track used for Kgrad measurement is preferably a data track having excellent characteristics for Kgrad measurement. For this reason, it is preferable to be in an area that is not used for recording user data and is not accessed from the host 51. Thereby, it is possible to avoid the deterioration of the characteristics of the data track due to repeated overwriting. Further, in an HDD having a ramp outside the magnetic disk 11, it is preferable that the HDD be on the inner peripheral side than the innermost peripheral end of the user area. This is because the head slider 12 does not pass through this region in normal operation.

次に、HDC/MPU23は、Kgradからクリアランスを特定する(S12)。具体的には、デフォルト条件(例えば、30℃、1気圧)におけるデフォルトKgradと測定したKgradの差分から、デフォルト・クリアランスからのクリアランス変化量を特定する。クリアランス変化量は、例えば、ヒータ・パワーの値で表すことができる。デフォルトKgradは、温度補正された値であり、HDC/MPU23は、同様に、Kgrad測定値を検出温度に従って温度補正する。温度補正されたデフォルトKgradと測定値とを比較することで、HDC/MPU23は、Kgradからデフォルト気圧(例えば1気圧)からの気圧変化を特定することができる。   Next, the HDC / MPU 23 specifies a clearance from Kgrad (S12). Specifically, the amount of clearance change from the default clearance is specified from the difference between the default Kgrad and the measured Kgrad under default conditions (for example, 30 ° C. and 1 atm). The clearance change amount can be expressed by, for example, a heater power value. The default Kgrad is a temperature-corrected value, and the HDC / MPU 23 similarly corrects the temperature of the Kgrad measurement value according to the detected temperature. By comparing the temperature-corrected default Kgrad and the measured value, the HDC / MPU 23 can specify a change in atmospheric pressure from the default atmospheric pressure (for example, 1 atmospheric pressure) from the Kgrad.

図6は、Kgradと、クリアランス、ヒータ・パワーそして気圧(高度)との関係を模式的に示している。Kgradは、温度補正された後の値である。図6に示すように、上記の各値は、互いに線形の関係にある。従って、HDC/MPU23は、上記いずれかの値から他の値を直接に特定することができ、一つの値が他の値を表すことができる。   FIG. 6 schematically shows the relationship between Kgrad, clearance, heater power, and atmospheric pressure (altitude). Kgrad is a value after temperature correction. As shown in FIG. 6, the above values have a linear relationship with each other. Therefore, the HDC / MPU 23 can directly specify another value from any of the above values, and one value can represent another value.

上記処理は、ヒータ・パワー0におけるKgradを測定し、その値を検出温度により補正する。しかし、TFCのデフォルト設定及び検出温度及び半径位置に応じたヒータ・パワー値をヒータ124に与えた状態においてKgradを測定してもよい。測定されたKgradに対してチャネル特性の温度変化についての補正を行った値は、気圧変化に対応したKgradの変化を示す。このように、Kgradの温度補正は、計算のみによること、あるいはTFCによりクリアランス調整することにより行うこともできる。   In the above process, Kgrad at heater power 0 is measured and the value is corrected by the detected temperature. However, the Kgrad may be measured in a state where the heater power value corresponding to the default setting of TFC, the detected temperature, and the radial position is given to the heater 124. A value obtained by correcting the temperature change of the channel characteristic with respect to the measured Kgrad shows a change in Kgrad corresponding to the change in atmospheric pressure. Thus, the temperature correction of Kgrad can be performed by calculation alone or by adjusting the clearance by TFC.

次に、HDC/MPU23は、Kgradから特定したクリアランス変化が、基準範囲内にあるか否かを判定する(S13)。クリアランス変化は、例えば、ヒータ・パワー、ナノ・メートルあるいはKgradで表される。HDC/MPU23は、測定したクリアランス変化と基準範囲の閾値とを比較し、クリアランス変化が基準範囲内である場合(S13におけるY)、ヘッド・ディスク接触の検証を行うことなく、測定の結果を記録して(S16)、気圧測定の処理を終了する。   Next, the HDC / MPU 23 determines whether or not the clearance change specified from Kgrad is within the reference range (S13). The clearance change is expressed by, for example, heater power, nanometer, or Kgrad. The HDC / MPU 23 compares the measured clearance change with the threshold of the reference range, and if the clearance change is within the reference range (Y in S13), records the measurement result without verifying head-disk contact. In step S16, the atmospheric pressure measurement process is terminated.

測定したクリアランス変化が基準範囲をこえる場合(S13におけるN)、HDC/MPU23は、ヘッド・ディスク接触の検証を行う(S14)。本形態のヘッド・ディスク接触の検証処理について、図7のフローチャートを参照して説明する。HDC/MPU23は、温度センサ17の検出温度と測定したKgradとから、TFCのデフォルト設定に従ったリード/ライト動作におけるヒータ・パワー値を決定する(S141)。HDC/MPU23は、予め設定登録されている関数やテーブルなどの制御データから、検出温度とKgradとに対応したデフォルト・ヒータ・パワー値を決定する。   If the measured clearance change exceeds the reference range (N in S13), the HDC / MPU 23 verifies the head-disk contact (S14). The head-disk contact verification process of this embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. The HDC / MPU 23 determines the heater power value in the read / write operation according to the default setting of TFC from the detected temperature of the temperature sensor 17 and the measured Kgrad (S141). The HDC / MPU 23 determines a default heater power value corresponding to the detected temperature and Kgrad from control data such as functions and tables that are set and registered in advance.

HDC/MPU23は、上記デフォルト・ヒータ・パワー値よりも大きなヒータ・パワー値において、ヘッド・ディスク接触を検証する(S142)。図8(a)は、デフォルト・ヒータ・パワーPaにおけるヘッド・スライダ12を模式的に示し、図8(b)は、ヘッド・ディスク接触の検証のためのヒータ・パワー値Pbにおけるヘッド・スライダ12を模式的に示している。ヘッド・ディスク接触の検証において、ヘッド素子部122が、デフォルト状態よりも突出しており(Pb>Pa)、そのクリアランスCbが、デフォルト・クリアランスCaよりも小さくなっている(Cb<Ca)。デフォルト状態よりもクリアランスが小さい状態で、接触が検出されるかを確認することで、必要なクリアランアス・マージンが存在しているか適切に特定することができる。   The HDC / MPU 23 verifies the head-disk contact at a heater power value larger than the default heater power value (S142). FIG. 8A schematically shows the head slider 12 at the default heater power Pa, and FIG. 8B shows the head slider 12 at the heater power value Pb for verification of head-disk contact. Is schematically shown. In the verification of the head-disk contact, the head element part 122 protrudes from the default state (Pb> Pa), and the clearance Cb is smaller than the default clearance Ca (Cb <Ca). By checking whether contact is detected in a state where the clearance is smaller than the default state, it is possible to appropriately specify whether the necessary clear run margin is present.

まず、HDC/MPU23は、Kgradの測定のために選択したヘッド・スライダ16(あるいは他のヘッド・スライダ12)を、アクチュエータ16を制御して所定のデータ・トラックに移動する。HDC/MPU23は、デフォルトTFC設定のヒータ・パワー値よりも大きなヒータ・パワー値を表すデータをAE13のレジスタに格納する。AE13は、そのデータに応じたヒータ・パワーをヘッド・スライダ12に供給する。HDC/MPU23は、AE13を制御して、ヘッド・スライダ12によって所定データ・セクタへアクセスする。アクセスは、リードあるいはライトのいずれでもよいが、典型的には、HDC/MPU23は、所定データ・セクタのリードを行う。ヘッド・ディスク接触を検証に使用するデータ・セクタは、ホスト51がアクセスすることがない領域が好ましい。ホストがアクセスするユーザ・データやサーボ・データの記憶領域ではない領域で接触検知を行うと、データ領域に傷をつけてしまうことを防止できるからである。   First, the HDC / MPU 23 moves the head slider 16 (or another head slider 12) selected for measuring Kgrad to a predetermined data track by controlling the actuator 16. The HDC / MPU 23 stores data representing a heater power value larger than the heater power value set to the default TFC in the AE 13 register. The AE 13 supplies the heater power corresponding to the data to the head slider 12. The HDC / MPU 23 controls the AE 13 and accesses a predetermined data sector by the head slider 12. Access may be either read or write, but typically, the HDC / MPU 23 reads a predetermined data sector. The data sector that uses head disk contact for verification is preferably an area that the host 51 does not access. This is because, if contact detection is performed in an area that is not a storage area for user data or servo data accessed by the host, it is possible to prevent the data area from being damaged.

ヘッド・スライダ12と磁気ディスク11との接触を検出しなかった場合(S143におけるN)、HDC/MPU23は、デフォルトのヒータ・パワー設定値の補正を行うことなく、ヘッド・ディスク接触の検証を終了する。ヘッド・ディスク接触の検出のためのいくつかの方法が知られている。例えば、HDC/MPU23は、リード信号の振幅、VCM電流値、あるいはSPM電流値などを測定することで、ヘッド・ディスク接触を検出することができる。ヘッド・スライダ12と磁気ディスク11との接触を検出した場合(S143におけるY)、HDC/MPU23は、リード/ライト動作におけるヒータ・パワーの設定値を、デフォルト設定値よりも小さくする(S144)。図8(c)は、デフォルト設定値Paよりも少ないヒータ・パワー値Pcにおけるヘッド・スライダ12を模式的に示している。同一の環境、動作条件において、補正後のヒータ・パワー値Pcはデフォルト設定のヒータ・パワー値Paよりも小さく、補正後のクリアランスCcはデフォルト状態のクリアランスCaよりも大きい。   When the contact between the head slider 12 and the magnetic disk 11 is not detected (N in S143), the HDC / MPU 23 completes the verification of the head disk contact without correcting the default heater power setting value. To do. Several methods for detecting head-disk contact are known. For example, the HDC / MPU 23 can detect head-disk contact by measuring the amplitude of the read signal, the VCM current value, or the SPM current value. When contact between the head slider 12 and the magnetic disk 11 is detected (Y in S143), the HDC / MPU 23 makes the heater power setting value in the read / write operation smaller than the default setting value (S144). FIG. 8C schematically shows the head slider 12 at a heater power value Pc smaller than the default setting value Pa. Under the same environment and operating conditions, the corrected heater power value Pc is smaller than the default heater power value Pa, and the corrected clearance Cc is larger than the default clearance Ca.

好ましい例において、デフォルト値からのヒータ・パワー減少量は、接触検証におけるヒータ・パワー増加量と同一である。この効率的な処理により、必要なクリアランス・マージンが存在することを検証すると同時に、必要なマージンが存在しない場合には、ヒータ・パワー値の補正により必要なクリアランス・マージンを確実に確保することができる。本例のHDD1は起動時のみ気圧測定を行うので、その後のリード/ライト動作におけるヒータ・パワー値は、各温度において、予め設定されているデフォルト設定よりも上記ヒータ・パワー減少量だけ小さくなる。   In a preferred example, the heater power decrease amount from the default value is the same as the heater power increase amount in the contact verification. This efficient process verifies that the required clearance margin exists, and at the same time ensures that the required clearance margin is secured by correcting the heater power value if the required margin does not exist. it can. Since the HDD 1 of this example performs atmospheric pressure measurement only at the time of start-up, the heater power value in the subsequent read / write operation is smaller than the preset default setting by the heater power reduction amount at each temperature.

上述のように、一定クリアランスにおいてヘッド・ディスク接触の検証を行うことが好ましい。クリアランスを変化させてヘッド・ディスク接触の検証を行うことも可能だが、それにより検証のための処理時間が増加する。処理時間を短縮するためには、特定のクリアランスにおいてのみヘッド・ディスク接触の検証ことが好ましい。また、一つのクリアランスのみの検証であっても、十分な信頼性を達成することができる。   As described above, it is preferable to verify head-disk contact at a constant clearance. Although it is possible to verify the head-disk contact by changing the clearance, this increases the processing time for verification. In order to shorten the processing time, it is preferable to verify the head-disk contact only at a specific clearance. In addition, sufficient reliability can be achieved even when only one clearance is verified.

ヘッド・ディスク接触の検証(S14)が終了すると、HDC/MPU23は、ヘッド・ディスク接触の検証を行うか否かを決定する(S13)ための基準範囲の更新処理(S15)を行う。HDD1が常に高地(低圧)で使用されている場合、ヘッド・ディスク接触の検証を毎PORにおいて行うことになる。これは、PORの処理時間を著しく増加させる。また、上述のように、ヘッド・ディスク接触の検証をデフォルトTFC設定によるクリアランスよりも小さいクリアランスで行うと、接触の可能性が大きくなるため、ヘッド・スライダ12へのダメージも大きくなる可能性がある。基準範囲を更新することで、HDD1の使用環境に合わせて、必要な接触検証の回数を少なくすることができる。   When the head-disk contact verification (S14) is completed, the HDC / MPU 23 performs a reference range update process (S15) for determining whether to verify the head-disk contact (S13). When the HDD 1 is always used at high altitude (low pressure), verification of head-disk contact is performed at every POR. This significantly increases the POR processing time. Further, as described above, if the head-disk contact verification is performed with a clearance smaller than the clearance according to the default TFC setting, the possibility of contact increases, so that damage to the head slider 12 may also increase. . By updating the reference range, it is possible to reduce the number of necessary contact verifications according to the usage environment of the HDD 1.

この更新処理について、図9のフローチャートを参照して説明する。図4のフローチャートに示すように、HDC/MPU23は、Kgradによる気圧変化(クリアランス変化)の測定結果を記録する(S16)。HDC/MPU23はこの過去の測定結果を参照して、気圧低下(クリアランスの減少)が基準範囲を越えた回数が所定数に達すると(S151におけるY)、この基準範囲を更新する(S152)。所定数に達していない場合(S151におけるN)、HDC/MPU23は基準範囲を更新しない。   This update process will be described with reference to the flowchart of FIG. As shown in the flowchart of FIG. 4, the HDC / MPU 23 records the measurement result of the atmospheric pressure change (clearance change) due to Kgrad (S16). The HDC / MPU 23 refers to the past measurement results and updates the reference range when the number of times the pressure drop (clearance reduction) exceeds the reference range reaches a predetermined number (Y in S151) (S152). If the predetermined number has not been reached (N in S151), the HDC / MPU 23 does not update the reference range.

好ましい例において、HDC/MPU23は、最も近い過去M回のPORにおいて、基準範囲を越えた回数がN回に達している場合に、基準範囲を更新する。M及びNは設計により適切な自然数が選択され、これらが同一の値でもよい。基準範囲の更新方法は、例えば、デフォルトKgradのみを更新する。デフォルトKgradからの基準範囲の境界までの値は、同一とする。あるいは、デフォルトKgrad及び基準範囲の境界の双方を更新してもよい。   In a preferred example, the HDC / MPU 23 updates the reference range when the number of times exceeding the reference range has reached N times in the closest past M PORs. M and N are selected as appropriate natural numbers by design, and these may be the same value. As a reference range update method, for example, only the default Kgrad is updated. The value from the default Kgrad to the boundary of the reference range is the same. Alternatively, both the default Kgrad and the reference range boundary may be updated.

図3(b)は、高度変化(気圧変化)の測定結果、ヘッド・ディスク接触の検証そして上記基準範囲の更新との関係を模式的に示す図である。符号の意味は図3(a)と同様である。図3(b)の例において、過去3回連続のPORにおいてKgradが基準範囲を超えると、HDC/MPU23は、デフォルトKgradを、現在のKgrad測定値に更新する。図3(b)においては、HDC/MPU23は、5回目のPORにおいてデフォルトKgradを更新している。また、この例においては、基準範囲の更新は、この1回のみである。   FIG. 3B is a diagram schematically showing the relationship between the measurement result of altitude change (atmospheric pressure change), head-disk contact verification, and update of the reference range. The meaning of the symbols is the same as in FIG. In the example of FIG. 3B, when the Kgrad exceeds the reference range in the last three consecutive PORs, the HDC / MPU 23 updates the default Kgrad to the current Kgrad measurement value. In FIG. 3B, the HDC / MPU 23 updates the default Kgrad at the fifth POR. In this example, the reference range is updated only once.

その後のPORにおいては、HDC/MPU23は、更新した基準範囲に基づいて、接触検証の有無を決定する。8及び9回目のPORにおけるKgrad測定値は、テスト工程におけるデフォルト高度に近い値であるが、基準範囲がすでに更新されているため、HDC/MPU23は、ヘッド・ディスク接触の検証を行う。   In the subsequent POR, the HDC / MPU 23 determines the presence or absence of contact verification based on the updated reference range. The Kgrad measurement values at the 8th and 9th PORs are close to the default altitude in the test process, but the reference range has already been updated, so the HDC / MPU 23 verifies the head-disk contact.

以上、本発明を好ましい実施形態を例として説明したが、本発明が上記の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、上記の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。本発明は、ピエゾ素子などのTFC以外のクリアランス調整機構を有するディスク・ドライブ装置に適用することができる。上述のように、リード信号、特にレゾリューションを使用して気圧変化を測定することが好ましいが、SPM電流などの他の動作パラメータを使用して気圧変化を測定してもよい。HDC/MPU23は、POR以外のタイミングで、ヘッド・ディスク接触を検証してもよい。Kgradの測定位置は、記録面上のいずれの半径位置で行うこともできる。本発明は、リード素子のみを備えるヘッド・スライダを実装するHDDに、あるいは、HDD以外のディスク・ドライブ装置に適用してもよい。   As mentioned above, although this invention was demonstrated taking preferable embodiment as an example, this invention is not limited to said embodiment. A person skilled in the art can easily change, add, and convert each element of the above-described embodiment within the scope of the present invention. The present invention can be applied to a disk drive apparatus having a clearance adjustment mechanism other than TFC such as a piezo element. As described above, it is preferable to measure the change in atmospheric pressure using a read signal, particularly resolution, but other operational parameters such as SPM current may be used to measure the atmospheric pressure change. The HDC / MPU 23 may verify the head-disk contact at a timing other than POR. The measurement position of Kgrad can be performed at any radial position on the recording surface. The present invention may be applied to an HDD on which a head slider having only a read element is mounted, or to a disk drive device other than the HDD.

本実施形態において、HDDの全体構成を模式的に示すブロック図である。In this embodiment, it is a block diagram which shows typically the whole structure of HDD. 本実施形態において、TFCのためのヒータを備えたヘッド・スライダの構成を模式的示す断面図である。In this embodiment, it is sectional drawing which shows typically the structure of the head slider provided with the heater for TFC. 本実施形態において、高度変化(気圧変化)の測定結果、ヘッド・ディスク接触の検証、検証の実施の有無を決定する基準範囲の関係を模式的に示す図である。In this embodiment, it is a figure which shows typically the relationship of the reference | standard range which determines the measurement result of an altitude change (atmospheric pressure change), verification of head-disk contact, and the implementation of verification. 本実施形態において、気圧測定及びヘッド・ディスク接触の検証の流れを示すフローチャートである。In this embodiment, it is a flowchart which shows the flow of verification of an atmospheric pressure measurement and a head disk contact. 本実施形態において、気圧測定及びヘッド・ディスク接触の検証を行う論理構成要素を示すブロック図である。In this embodiment, it is a block diagram which shows the logic component which performs a barometric pressure measurement and verification of a head disk contact. 本実施形態において、Kgrad、クリアランス、ヒータ・パワーそして気圧(高度)の関係を模式的に示す図である。In this embodiment, it is a figure which shows typically the relationship between Kgrad, clearance, heater power, and atmospheric pressure (altitude). 本実施形態において、ヘッド・ディスク接触の検証処理の流れを示すフローチャートである。In this embodiment, it is a flowchart which shows the flow of a verification process of a head disk contact. 本実施形態において、通常処理におけるヘッド・スライダ、接触検証処理におけるヘッド・スライダ、ヒータ設定補正を行った後の通常処理におけるヘッド・スライダを模式的に示す図である。In this embodiment, it is a figure which shows typically the head slider in a normal process after performing the head slider in a normal process, the head slider in a contact verification process, and heater setting correction | amendment. 本実施形態において、ヘッド・ディスク接触の検証を行うか否かを決定するための基準範囲の更新処理の流れを示すフローチャートである。5 is a flowchart showing a flow of reference range update processing for determining whether or not to verify head-disk contact in the present embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1 ハードディスク・ドライブ、10 エンクロージャ、11 磁気ディスク
12 ヘッド・スライダ、14 スピンドル・モータ、15 ボイス・コイル・モータ
16 アクチュエータ、20 回路基板、21 リード・ライト・チャネル
22 モータ・ドライバ・ユニット、23 ハードディスク・コントローラ/MPU
24 RAM、31 ライト素子、32 リード素子、32a 磁気抵抗素子
33a、b シールド、34 保護膜、51 ホスト、121 トレーリング側端面
122 ヘッド素子部、123 スライダ、124 ヒータ、311 ライト・コイル
312 磁極、313 絶縁膜
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Hard disk drive, 10 Enclosure, 11 Magnetic disk 12 Head slider, 14 Spindle motor, 15 Voice coil motor 16 Actuator, 20 Circuit board, 21 Read / write channel 22 Motor driver unit, 23 Hard disk drive Controller / MPU
24 RAM, 31 Write element, 32 Read element, 32a Magnetoresistive element 33a, b Shield, 34 Protective film, 51 Host, 121 Trailing side end face 122 Head element part, 123 Slider, 124 Heater, 311 Write coil 312 Magnetic pole, 313 Insulating film

Claims (16)

ディスクにアクセスするヘッドと、
前記ヘッドを保持し、前記ディスク上で前記ヘッドを移動する移動機構と、
前記ヘッドと前記ディスクとの間のクリアランスを調整する調整機構と、
温度センサと、
少なくとも前記調整機構を制御するコントローラと、
を有し、
前記コントローラは、
前記ヘッドが前記ディスクから読み出したリード信号から特定される動作パラメータのデフォルト値からの変化量における温度変化による変化量を前記温度センサの検出温度を用いて補正した後、補正された前記動作パラメータの変化量によりクリアランス変化量を決定し、
前記クリアランス変化量が基準範囲を越える場合にのみ、前記ヘッドと前記ディスクとの接触の検証をし、
前記接触の検証の結果に基づいて、前記クリアランスの調整量を決定し、
前記動作パラメータの変化を複数回測定し、当該複数回の測定結果に基づいて前記クリアランス変化量が前記基準範囲を越えるかを判定する、
ディスク・ドライブ装置。
A head to access the disk;
A moving mechanism for holding the head and moving the head on the disk;
An adjustment mechanism for adjusting the clearance between the head and the disk;
A temperature sensor;
A controller for controlling at least the adjusting mechanism;
Have
The controller is
After correcting the change amount due to the temperature change in the change amount from the default value of the operation parameter specified from the read signal read from the disk by the head using the detected temperature of the temperature sensor, the corrected operation parameter Determine the amount of clearance change by the amount of change,
Only when the clearance change amount exceeds the reference range, verify the contact between the head and the disk,
Based on the result of the contact verification, determine the adjustment amount of the clearance,
Measuring the change of the operation parameter a plurality of times, and determining whether the clearance change amount exceeds the reference range based on the measurement result of the plurality of times;
Disk drive device.
前記動作パラメータは、前記ヘッドが前記ディスクから読み出したリード信号の振幅から決定されるパラメータである、
請求項1に記載のディスク・ドライブ装置。
The operating parameter is a parameter determined from the amplitude of a read signal read from the disk by the head.
The disk drive device according to claim 1.
前記動作パラメータは、前記ヘッドが前記ディスクから読み出したリード信号の異なる周波数成分の比率から決定されるパラメータである、
請求項1に記載のディスク・ドライブ装置。
The operation parameter is a parameter determined from a ratio of different frequency components of a read signal read from the disk by the head.
The disk drive device according to claim 1.
前記コントローラは、前記接触の検証をする際のクリアランスを、決定した前記クリアランス変化量に対応するデフォルト設定のクリアランスよりも小さくなるように前記調整機構を制御する、
請求項1に記載のディスク・ドライブ装置。
The controller controls the adjustment mechanism so that a clearance when verifying the contact is smaller than a default clearance corresponding to the determined amount of change in the clearance;
The disk drive device according to claim 1.
前記コントローラは、前記調整機構による一定調整クリアランス量において前記接触の検証を行う、
請求項4に記載のディスク・ドライブ装置。
The controller verifies the contact at a constant adjustment clearance amount by the adjustment mechanism.
The disk drive apparatus according to claim 4.
前記コントローラは、前記接触の検証において接触を確認した場合、決定した前記クリアランス変化量に対応するデフォルト設定クリアランスよりもクリアランス高くなるように前記調整機構を制御する、
請求項1に記載のディスク・ドライブ装置。
Wherein the controller, when confirming the contact in the verification of the contact, to control the adjustment mechanism such clearance is higher than the default setting of the clearance corresponding to the determined said clearance changed amount,
The disk drive device according to claim 1.
前記コントローラは、前記接触の検証において接触を確認すると、前記デフォルト設定クリアランスよりもクリアランスを高くし、前記クリアランスを前記デフォルト設定よりも高くする量、前記接触の検証において前記クリアランスを前記デフォルト設定よりも小さくする量と同じになるように前記調整機構を制御する、
請求項4に記載のディスク・ドライブ装置。
Wherein the controller has confirmed the contact in the verification of the contact, the higher the clearance than the default setting of the clearance amount higher than the default setting the clearance, the default setting the clearance in the verification of the contact Controlling the adjustment mechanism to be equal to the amount to be smaller than,
The disk drive apparatus according to claim 4.
前記コントローラは、前記接触の検証を行うか否かを決定する前記クリアランス変化量の基準を、前記クリアランス変化量が前記基準範囲を越えた回数に基づいて変更する、
請求項1に記載のディスク・ドライブ装置。
The controller changes the reference of the clearance change amount for determining whether or not to perform the contact verification based on the number of times the clearance change amount exceeds the reference range.
The disk drive device according to claim 1.
ディスク・ドライブ装置におけるクリアランス調整方法であって、
温度センサにより温度を検出し、
ディスクにアクセスするヘッドが前記ディスクから読み出したリード信号から特定される動作パラメータのデフォルト値からの変化量における温度変化による変化量を前記検出温度を用いて補正した後、補正された前記動作パラメータの変化量によりクリアランス変化量を決定し、
前記クリアランス変化量が基準範囲を越える場合にのみ、前記ヘッドと前記ディスクとの接触の検証をし、
前記接触の検証の結果に基づいて、前記クリアランスの調整量を決定し、
前記動作パラメータの変化を複数回測定し、当該複数回の測定結果に基づいて前記クリアランス変化量が前記基準範囲を越えるかを判定する、
方法。
A clearance adjustment method in a disk drive device,
The temperature is detected by the temperature sensor,
After correcting the change amount due to the temperature change in the change amount from the default value of the operation parameter specified by the read signal read from the disk by the head that accesses the disk, using the detected temperature, the corrected operation parameter The amount of clearance change is determined by the amount of change,
Only when the clearance change amount exceeds the reference range, verify the contact between the head and the disk,
Based on the result of the contact verification, determine the adjustment amount of the clearance,
Measuring the change of the operation parameter a plurality of times, and determining whether the clearance change amount exceeds the reference range based on the measurement result of the plurality of times;
Method.
前記動作パラメータは、前記ヘッドが前記ディスクから読み出したリード信号の振幅から決定されるパラメータである、
請求項9に記載の方法。
The operating parameter is a parameter determined from the amplitude of a read signal read from the disk by the head.
The method of claim 9.
前記動作パラメータは、前記ヘッドが前記ディスクから読み出したリード信号の異なる周波数成分の比率から決定されるパラメータである、
請求項9に記載の方法。
The operation parameter is a parameter determined from a ratio of different frequency components of a read signal read from the disk by the head.
The method of claim 9.
前記接触の検証をする際のクリアランスを、決定した前記クリアランス変化量に対応するデフォルト設定のクリアランスよりも小さくする、
請求項9に記載の方法。
The clearance when verifying the contact is made smaller than the default clearance corresponding to the determined amount of change in the clearance,
The method of claim 9.
前記一定調整クリアランス量において前記接触の検証を行う、
請求項12に記載の方法。
Verifying the contact at the fixed clearance amount;
The method of claim 12.
前記接触の検証において接触を確認した場合、決定した前記クリアランス変化量に対応するデフォルト設定のクリアランスよりもクリアランスを高くする、
請求項9に記載の方法。
When the contact is confirmed in the verification of the contact, the clearance is set higher than the default clearance corresponding to the determined clearance change amount .
The method of claim 9.
前記検証において接触を確認すると、前記デフォルト設定クリアランスよりもクリアランスを高くし、
前記クリアランスを前記デフォルト設定よりも高くする量は、前記接触の検証において前記クリアランスを前記デフォルト設定よりも小さくする量と同じである、
請求項12に記載の方法。
Check out contact in the verification, a higher clearance than the clearance of the default settings,
The amount that makes the clearance higher than the default setting is the same as the amount that makes the clearance smaller than the default setting in the contact verification.
The method of claim 12.
前記接触の検証を行うか否かを決定する前記クリアランス変化量の基準範囲を、前記クリアランス変化量が前記基準範囲を越えた回数に基づいて変更する、
請求項9に記載の方法。
Changing the reference range of the clearance change amount for determining whether to perform the contact verification based on the number of times the clearance change amount exceeds the reference range;
The method of claim 9.
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