JP4853373B2 - 検査対象製品選定方法および検査対象製品選定プログラム - Google Patents
検査対象製品選定方法および検査対象製品選定プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP4853373B2 JP4853373B2 JP2007117957A JP2007117957A JP4853373B2 JP 4853373 B2 JP4853373 B2 JP 4853373B2 JP 2007117957 A JP2007117957 A JP 2007117957A JP 2007117957 A JP2007117957 A JP 2007117957A JP 4853373 B2 JP4853373 B2 JP 4853373B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- product
- lot
- lots
- inspection
- product lot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 111
- 238000010187 selection method Methods 0.000 title description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 112
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 80
- 238000005457 optimization Methods 0.000 claims description 42
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 29
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims description 23
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 15
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 12
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 12
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims description 7
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 claims 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 168
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 241000985627 Lota Species 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
- G05B19/41875—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by quality surveillance of production
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/32—Operator till task planning
- G05B2219/32203—Effect of material constituents, components on product manufactured
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P80/00—Climate change mitigation technologies for sector-wide applications
- Y02P80/40—Minimising material used in manufacturing processes
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Description
21…製造ライン、 22…検査装置、 23…検査結果入力手段、 24…検査結果、
25…検査対象製品の仮定、 26…調査不要材料の抽出、 27…調査対象材料の集計、28…統計値の計算、 29…検査対象製品の判定、 30…通信部、 31…演算パラメータ、 32…演算プログラム、 33…選定結果出力部、 34…ネットワーク
Claims (8)
- 市場に投入した製品の不良発生時に、不良発生原因となる材料ロットを調査する工数の期待値を最小とする製品製造時の抜き取り検査対象製品ロットの選定方法であって、
受注情報より、将来の計画期間内に製造する製品の数量を求めるステップと、
前記製造を計画された製品に必要とされる材料の数量を設計情報より計算するステップと、
前記製造が計画された製品の各ロットに対し、所定の割当てルールに従って、材料の在庫情報より各材料に使用される材料ロットを割り当てた生産計画情報を作成するステップと、
ユーザが入力した製造計画期間内の製品ロット数を表す検査製品ロット数、演算のパラメータ、判定基準となる最適化条件を参照するステップと、
前記全製品ロットを対象として、想定される総ての前記検査製品ロット数の製品ロットの組合わせケースを仮定して、各組み合わせケースに対して、
検査対象の製品ロットに使用が割り当てられた材料ロットを調査対象外の材料ロットとして抽出するステップと、
製造を計画された各製品ロット毎に、前ステップにおいて調査対象外としなかった、割当てられた材料ロットの数を集計するステップと、
前ステップにおいて、集計された調査対象の材料ロット数に対して統計値(一次最適化統計値、二次最適化統計値)の計算を行うステップと、
前記各組み合わせケース毎に計算した、各製品ロット毎の調査対象の材料ロット数に対する一次最適化統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースを調べるステップと、
前記一次最適化統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースを調べるステップにおいて、該当する製品ロットの組み合わせケースが複数選択される場合は、前記該当する製品ロットの組み合わせケースに対して、二次最適化統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースを更に調べるステップと、
前ステップにおいて、統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースが唯一選択された場合は、該当する製品ロットの組み合わせケースを検査対象製品ロットとして選定するステップと、
を有することを特徴とする検査対象製品選定方法。 - 前記集計された調査対象の材料ロット数に対して統計値(一次最適化統計値、二次最適化統計値)を計算するステップは、一次最適化統計値としては調査対象材料ロット数の最大値を、および二次最適化統計値としては調査対象材料ロット数の平均値を計算するステップであることを特徴とする請求項1に記載の検査対象製品選定方法。
- 前記選定された検査対象製品ロットのデータをデータベースに記憶するとともに、製造ラインの出力手段に表示して、製品の抜き取り検査の指示を行なうステップを更に有することを特徴とする請求項1に記載の検査対象製品選定方法。
- 前記統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースが唯一選択された場合は、該当する製品ロットの組み合わせケースを検査対象製品ロットとして選定するステップが、
前記統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースが複数選択された場合は、これらの組み合わせケースのうちいずれか一つを検査対象製品ロットとして選定するステップであることを特徴とする請求項1に記載の検査対象製品選定方法。 - 市場に投入した製品の不良発生時に、不良発生原因となる材料ロットを調査する工数の期待値を最小とする製品製造時の抜き取り検査対象製品ロットを選定するプログラムであって、
コンピュータに、
受注情報より、将来の計画期間内に製造する製品の数量を求めるステップと、
前記製造を計画された製品に必要とされる材料の数量を設計情報より計算するステップと、
前記製造が計画された製品の各ロットに対し、所定の割当てルールに従って、材料の在庫情報より各材料に使用される材料ロットを割り当てた生産計画情報を作成するステップと、
ユーザが入力した製造計画期間内の製品ロット数を表す検査製品ロット数、演算のパラメータ、判定基準となる最適化条件を参照するステップと、
前記全製品ロットを対象として、想定される総ての前記検査製品ロット数の製品ロットの組合わせケースを仮定して、各組み合わせケースに対して、
検査対象の製品ロットに使用が割り当てられた材料ロットを調査対象外の材料ロットとして抽出するステップと、
製造を計画された各製品ロット毎に、前ステップにおいて調査対象外としなかった、割当てられた材料ロットの数を集計するステップと、
前ステップにおいて、集計された調査対象の材料ロット数に対して統計値(一次最適化統計値、二次最適化統計値)の計算を行うステップと、
前記各組み合わせケース毎に計算した、各製品ロット毎の調査対象の材料ロット数に対する一次最適化統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースを調べるステップと、
前記一次最適化統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースを調べるステップにおいて、該当する製品ロットの組み合わせケースが複数選択される場合は、前記該当する製品ロットの組み合わせケースに対して、二次最適化統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースを更に調べるステップと、
前ステップにおいて、統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースが唯一選択された場合は、該当する製品ロットの組み合わせケースを検査対象製品ロットとして選定するステップと、
を実行させるためのプログラム。 - 前記集計された調査対象の材料ロット数に対して統計値(一次最適化統計値、二次最適化統計値)を計算するステップは、一次最適化統計値としては調査対象材料ロット数の最大値を、および二次最適化統計値としては調査対象材料ロット数の平均値を計算するステップであることを特徴とする請求項5に記載のプログラム。
- 前記選定された検査対象製品ロットのデータをデータベースに記憶するとともに、製造ラインの出力手段に表示して、製品の抜き取り検査の指示を行なうステップを更に有することを特徴とする請求項5に記載のプログラム。
- 前記統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースが唯一選択された場合は、該当する製品ロットの組み合わせケースを検査対象製品ロットとして選定するステップが、
前記統計値が最小となる製品ロットの組み合わせケースが複数選択された場合は、これらの組み合わせケースのうちいずれか一つを検査対象製品ロットとして選定するステップであることを特徴とする請求項5に記載のプログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007117957A JP4853373B2 (ja) | 2007-04-27 | 2007-04-27 | 検査対象製品選定方法および検査対象製品選定プログラム |
US12/109,769 US7899567B2 (en) | 2007-04-27 | 2008-04-25 | Method and program for selecting product to be inspected |
DE602008006288T DE602008006288D1 (de) | 2007-04-27 | 2008-04-25 | Verfahren und Programm zur Auswahl von zu inspizierenden Produkten |
EP08008055A EP1986065B1 (en) | 2007-04-27 | 2008-04-25 | Method and program for selecting products to be inspected |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007117957A JP4853373B2 (ja) | 2007-04-27 | 2007-04-27 | 検査対象製品選定方法および検査対象製品選定プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008276434A JP2008276434A (ja) | 2008-11-13 |
JP4853373B2 true JP4853373B2 (ja) | 2012-01-11 |
Family
ID=39708809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007117957A Expired - Fee Related JP4853373B2 (ja) | 2007-04-27 | 2007-04-27 | 検査対象製品選定方法および検査対象製品選定プログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7899567B2 (ja) |
EP (1) | EP1986065B1 (ja) |
JP (1) | JP4853373B2 (ja) |
DE (1) | DE602008006288D1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9229446B2 (en) | 2012-05-08 | 2016-01-05 | International Business Machines Corporation | Production line quality processes |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3699776B2 (ja) | 1996-04-02 | 2005-09-28 | 株式会社日立製作所 | 電子部品の製造方法 |
JPH10277890A (ja) * | 1997-04-02 | 1998-10-20 | Hitachi Ltd | 製造ラインの管理方法および管理制御システム |
US6236901B1 (en) | 1998-03-31 | 2001-05-22 | Dell Usa, L.P. | Manufacturing system and method for assembly of computer systems in a build-to-order environment |
JP2002076087A (ja) * | 2000-08-31 | 2002-03-15 | Mitsubishi Electric Corp | 抜き取り検査管理システム |
DE10252613A1 (de) | 2002-11-12 | 2004-05-27 | Infineon Technologies Ag | Verfahren, Vorrichtung, computerlesbares Speichermedium und Computerprogramm-Element zum Überwachen eines Herstellungsprozesses |
DE10252605A1 (de) | 2002-11-12 | 2004-06-24 | Infineon Technologies Ag | Verfahren, Vorrichtung, computerlesbarer Speicher und Computerprogramm-Element zum rechnergestützten Überwachen und Regeln eines Herstellungsprozesses |
JP2004363288A (ja) | 2003-06-04 | 2004-12-24 | Trecenti Technologies Inc | 半導体装置の製造方法および検査システム |
JP2005100284A (ja) * | 2003-09-26 | 2005-04-14 | Sharp Corp | 製品の不良解析システム |
US20060178767A1 (en) * | 2005-02-04 | 2006-08-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Systems and methods for inspection control |
-
2007
- 2007-04-27 JP JP2007117957A patent/JP4853373B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-04-25 DE DE602008006288T patent/DE602008006288D1/de active Active
- 2008-04-25 EP EP08008055A patent/EP1986065B1/en not_active Ceased
- 2008-04-25 US US12/109,769 patent/US7899567B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1986065B1 (en) | 2011-04-20 |
US7899567B2 (en) | 2011-03-01 |
JP2008276434A (ja) | 2008-11-13 |
US20080269936A1 (en) | 2008-10-30 |
DE602008006288D1 (de) | 2011-06-01 |
EP1986065A2 (en) | 2008-10-29 |
EP1986065A3 (en) | 2009-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10496465B2 (en) | System operations management apparatus, system operations management method and program storage medium | |
US10699248B2 (en) | Inspection management system and inspection management method | |
JP5027053B2 (ja) | 作業分析装置、生産管理方法及び生産管理システム | |
US9443217B2 (en) | Manufacturing quality inspection and analytics system | |
US11195611B2 (en) | Remote data analysis and diagnosis | |
US11170332B2 (en) | Data analysis system and apparatus for analyzing manufacturing defects based on key performance indicators | |
US20030233387A1 (en) | Work-process status monitoring system, recording medium therefor, and work-process status monitoring and display apparatus | |
US20120116827A1 (en) | Plant analyzing system | |
US20070255441A1 (en) | Computerized Method for Creating a Cusum Chart for Data Analysis | |
US7577486B2 (en) | Quality improvement system | |
Lyu et al. | Combining an automatic material handling system with lean production to improve outgoing quality assurance in a semiconductor foundry | |
US8014972B1 (en) | Computerized method for creating a CUSUM chart for data analysis | |
US20240211843A1 (en) | Method for Generating a Performance Value of a Process Module and a System Thereof | |
Mohammed et al. | A holistic approach for selecting appropriate manufacturing shop floor KPIs | |
JP2019175273A (ja) | 品質評価方法および品質評価装置 | |
JP4853373B2 (ja) | 検査対象製品選定方法および検査対象製品選定プログラム | |
Sielaff et al. | Evaluation of a production system’s technical availability and maintenance cost–development of requirements and literature review | |
US8812336B2 (en) | Providing real-time test ahead work direction for manufacturing optimization | |
Doganaksoy et al. | Getting the right data up front: A key challenge | |
Hedler | Global warehouse management: a methodology to determine an integrated performance measurement | |
Martins | Maintenance management of a production line-a case study in a furniture industry | |
Sneed et al. | Analyzing data on software evolution processes | |
JPH0765068A (ja) | 品質データ分析装置 | |
JP5005580B2 (ja) | 分析検査支援装置、プログラム及び分析検査支援方法 | |
JP7565500B2 (ja) | 品質推定装置および方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090908 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110922 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110927 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111010 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |