JP4803396B2 - Metal porous structure - Google Patents

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Description

本発明は、例えば、バイオセンサ、化学反応触媒等に好適に用いられる金属多孔質構造体に関し、より詳細には、モノリシックな多孔質構造の金属多孔質構造体であって、連結節の大きさが10nm〜1000nmであり、結合節が、3nm〜20nmの一次粒子からなる2次凝集体である金属多孔質構造体に関する。   The present invention relates to a metal porous structure suitably used for, for example, a biosensor, a chemical reaction catalyst, and the like. More specifically, the present invention relates to a metal porous structure having a monolithic porous structure and having a size of a connection node. Is a metal porous structure which is a secondary aggregate composed of primary particles of 3 nm to 20 nm.

構造部に対して空隙部の比率が大きい、マクロポーラスな内部連通性を有する金属・金属酸化物の多孔質構造体は、その著しく大きな比表面積ゆえに、エポキシ反応を始めとしたさまざまな化学分野の触媒として応用されてきた。内部連通性を有する多孔質金属が基板上に形成されることで、また、多孔質構造体の最小構造スケールを更に小さくすることで、キャパシタ電極、湿式太陽電池等の電池の電極、化学センサーの電極、または電子放出源としての応用も期待される。   A porous structure of metal / metal oxide having a macroporous internal communication with a large ratio of voids to the structure part, due to its remarkably large specific surface area, is used in various chemical fields including epoxy reactions. It has been applied as a catalyst. By forming a porous metal having internal communication on the substrate, and further reducing the minimum structure scale of the porous structure, it is possible to obtain electrodes for capacitors, electrodes of batteries such as wet solar cells, and chemical sensors. Applications as electrodes or electron emission sources are also expected.

下記の特許文献1には、2μm程度の銀粒子が部分結着した内部連通性に優れた多孔質構造体が開示されている。これは、金属塩水溶液のデキストランペーストを大気中で熱分解することにより作製される。500から900℃の範囲で焼成温度を制御することで、結晶粒の大きさを1〜20μmにすることが可能であることが記載されている。   The following Patent Document 1 discloses a porous structure excellent in internal communication in which silver particles of about 2 μm are partially bound. This is produced by thermally decomposing a dextran paste in an aqueous metal salt solution in the atmosphere. It is described that the crystal grain size can be made 1 to 20 μm by controlling the firing temperature in the range of 500 to 900 ° C.

また、一般に、事前に金属粒子を形成しておいてから焼結することにより、極めて大きな比表面積の内部連通性を有する金属多孔質構造体もしくは金属酸化物多孔質構造体を得ることが可能である。例えば下記の特許文献2では、粉末ナノ材料を焼結して極めて微細な多孔質構造体を構築して、その構造を利用して大きな表面積を有する構造体を得る技術が開示されている。   In general, it is possible to obtain a metal porous structure or a metal oxide porous structure having internal communication with a very large specific surface area by sintering after forming metal particles in advance. is there. For example, the following Patent Document 2 discloses a technique in which a powder nanomaterial is sintered to construct an extremely fine porous structure, and a structure having a large surface area is obtained using the structure.

また、下記の特許文献3には、金属イオン溶液と還元剤とをスプレーとにより同時に噴霧し、構造物表面に金属層を設けるスプレー還元鍍金法が開示されている。
特表2006−509915号公報 特表2006−509918号公報 特開平11−335858号公報
Patent Document 3 below discloses a spray reduction plating method in which a metal ion solution and a reducing agent are sprayed simultaneously by spraying to provide a metal layer on the surface of the structure.
JP-T-2006-509915 JP-T-2006-509918 JP-A-11-335858

特許文献1に記載の銀多孔質構造体および特許文献2に記載のナノ粉末材料焼結体では、焼成に高温が必要であるため、支持体は、セラミックのごとき高温に耐えられる材料に限られている。従って、支持体として、一般的な合成樹脂を用いることができなかった。また、大型の寸法のものに対応するには、設備が大変高価なものとなる。また、特許文献1の多孔質構造体は、空隙率は大きいが、最小構造単位が1μm以上ある。特許文献2の多孔質構造体は、最小構造単位はサブミクロンであるが、粒子が単純に結着しているだけであるため、空隙率が大きくない。   In the silver porous structure described in Patent Document 1 and the nano-powder material sintered body described in Patent Document 2, a high temperature is required for firing, so the support is limited to a material that can withstand high temperatures such as ceramics. ing. Therefore, a general synthetic resin could not be used as the support. In addition, the equipment is very expensive to cope with a large size. Further, the porous structure of Patent Document 1 has a large porosity, but has a minimum structural unit of 1 μm or more. In the porous structure of Patent Document 2, the minimum structural unit is submicron, but since the particles are simply bound, the porosity is not large.

一方、特許文献3に記載のスプレー還元鍍金法では、大寸法の構造物にも適用可能である。しかしながら、この方法は緻密な金属鏡を得るための方法にすぎず、大きな比表面積を有する金属多孔質構造体は得られなかった。   On the other hand, the spray reduction plating method described in Patent Document 3 can be applied to a large-sized structure. However, this method is only a method for obtaining a dense metal mirror, and a metal porous structure having a large specific surface area has not been obtained.

なお、比表面積とは、物体単位質量あたりの表面積、もしくは、構造体単位体積当りの表面積のことであり、内部連通性の多孔質構造体は単純な凹凸構造体に比べ著しく大きい比表面積を有する。また、構造の基本単位が小さくなれば、それに応じて比表面積は飛躍的に増大する。   The specific surface area is the surface area per unit mass of the object or the surface area per unit volume of the structure, and the internal communication porous structure has a significantly larger specific surface area than a simple concavo-convex structure. . Further, if the basic unit of the structure is reduced, the specific surface area is dramatically increased accordingly.

本発明の目的は、上述した従来技術の現状に鑑み、より小さな数十ナノメールから数百ミクロンの構造領域においても、より大きな表面積と空隙率を与え得る内部連通性を有する金属多孔質構造体を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a metal porous structure having internal communication capable of providing a larger surface area and porosity even in a structural region of smaller tens of nanomails to hundreds of microns in view of the current state of the prior art described above. Is to provide.

本発明によれば、金属より成る多数の連結節が相互に連なるように結合して内部連通性の空隙を形成しているモノリシックな多孔質構造の金属多孔質構造体であって、連結節の大きさが10nm〜1000nmである金属多孔質構造体が提供される。   According to the present invention, there is provided a metal porous structure having a monolithic porous structure in which a large number of connecting nodes made of metal are connected to each other so as to form an internal communication gap. A metal porous structure having a size of 10 nm to 1000 nm is provided.

本発明では、前記多孔質構造の結合節は、好ましくは、3nm〜20nmの大きさの一次粒子からなる2次凝集体である。   In the present invention, the bonding node of the porous structure is preferably a secondary aggregate composed of primary particles having a size of 3 nm to 20 nm.

また、本発明では、好ましくは、金属多孔質体の表面は、有機分子で単層被覆されている。   In the present invention, preferably, the surface of the metal porous body is covered with a single layer with organic molecules.

金属多孔質構造体の空隙率は、好ましくは35〜65%の範囲とされる。この範囲内とされることにより、表面積が十分に大きく、かつ導電性等も良好な金属多孔質構造体を提供することができる。   The porosity of the metal porous structure is preferably in the range of 35 to 65%. By being within this range, a metal porous structure having a sufficiently large surface area and good conductivity can be provided.

本発明のある特定の局面では、金属多孔質構造体は、基板上に金属多孔質構造体層として形成されている。   In a specific aspect of the present invention, the metal porous structure is formed as a metal porous structure layer on the substrate.

本発明では、好ましくは、前記基板の表面は高さ10〜1000nmの複数の凸部を有し、該凸部の頂点もしくはその近傍に、前記連結節のうち一部が結合されている。   In the present invention, preferably, the surface of the substrate has a plurality of convex portions having a height of 10 to 1000 nm, and a part of the coupling nodes is coupled to the apex of the convex portion or the vicinity thereof.

本発明に係る金属多孔質構造体では、上記基板表面の凸部間のピッチは、好ましくは、10〜1000nmの範囲とされる。この範囲内である場合には、凸部において上記ピッチで複数の結合節が基板表面に結合し、配置されることになり、金属多孔質構造体の空隙率を適度な範囲とすることができる。   In the metal porous structure according to the present invention, the pitch between the protrusions on the substrate surface is preferably in the range of 10 to 1000 nm. When it is within this range, a plurality of coupling nodes are bonded and arranged on the substrate surface at the pitch at the above-mentioned pitch, and the porosity of the metal porous structure can be within an appropriate range. .

上記基板は、様々な材料で形成されるが、絶縁性材料からなる基板が好適に用いられ、それによって絶縁性材料からなる基板上に導電膜等として機能する金属多孔質構造体層を有する金属多孔質構造体を提供することができる。上記絶縁性材料としては、好ましくは合成樹脂が用いられ、それによって、基板表面の処理やエンボス加工等の表面形状加工を容易に行うことができるとともに、様々な形状の基板を用いた金属多孔質構造体を提供することができる。   Although the substrate is formed of various materials, a substrate made of an insulating material is preferably used, and thereby a metal having a porous metal structure layer functioning as a conductive film or the like on the substrate made of an insulating material. A porous structure can be provided. As the insulating material, a synthetic resin is preferably used, whereby it is possible to easily perform surface shape processing such as substrate surface processing and embossing, and metal porous materials using substrates of various shapes. A structure can be provided.

本発明において、上記金属粒子を構成する金属は特に限定されないが、好ましくは、Au、Ag、Pt、Pd、Rh、Ir、Ru、Fe、Cu、Ni、Co、Cr、Mn、Ti、Al、Sn及びMoからなる群から選択された少なくとも1種の金属である。これらの金属は、錯体イオンと還元剤の混合によるナノ粒子の生成が知られており、これらの少なくとも1種の金属からなる金属粒子を基板表面に直接析出させて結合させることができる。   In the present invention, the metal constituting the metal particles is not particularly limited, but preferably Au, Ag, Pt, Pd, Rh, Ir, Ru, Fe, Cu, Ni, Co, Cr, Mn, Ti, Al, At least one metal selected from the group consisting of Sn and Mo. These metals are known to generate nanoparticles by mixing a complex ion and a reducing agent, and metal particles composed of at least one of these metals can be directly deposited on the surface of the substrate and bonded.

本発明に係る金属多孔質構造体は、金属より成る多数の連結節が相互に連なるように結合して内部連通性の空隙を形成しているモノリシックな多孔質構造の金属多孔質構造体であって、連結節の大きさが10nm〜1000nmであるため、メッキ法により形成された平坦な金属膜や凹凸がつけられた金属表面等に比べて、金属多孔質構造体の表面積を著しく大きくすることができる。特に、上記連結節の大きさが上記特定の範囲内とされているので、従来知られている連結節が1μm〜10mmの内部連通性多孔質構造体に対して、約100倍スケールが小さい。したがって、空隙率と重さを揃えて比較すると、表面積で約10000倍となる。また、モノリシックな構造であるため、電気的接続も確実に果たされ得る。   The metal porous structure according to the present invention is a metal porous structure having a monolithic porous structure in which a large number of connecting nodes made of metal are connected to each other so as to form an internal communication void. In addition, since the size of the connecting node is 10 nm to 1000 nm, the surface area of the metal porous structure is remarkably increased as compared with a flat metal film formed by plating or a metal surface with unevenness. Can do. In particular, since the size of the connection node is within the specific range, the scale is about 100 times smaller than the conventionally known internal connection porous structure having a connection node of 1 μm to 10 mm. Therefore, when the porosity and weight are aligned, the surface area is about 10,000 times. In addition, since the structure is monolithic, electrical connection can be reliably achieved.

よって、本発明の金属多孔質構造体を、例えば電池の電極や化学センサーの電極として用いることにより、電極と電解液や検体との接触効率を高めることができ、それによって電池の起電力の増大及び化学センサーの感度の向上を果たすことが可能となる。   Therefore, by using the metal porous structure of the present invention as, for example, an electrode of a battery or an electrode of a chemical sensor, the contact efficiency between the electrode and the electrolyte or specimen can be increased, thereby increasing the electromotive force of the battery. In addition, the sensitivity of the chemical sensor can be improved.

以下、本発明の具体的な実施形態及び実施例を挙げることにより、本発明を明らかにする。   Hereinafter, the present invention will be clarified by giving specific embodiments and examples of the present invention.

図1は、本発明の一実施形態に係る金属多孔質構造体を備える金属多孔質構造体サンプルの模式的部分切欠正面断面図である。   FIG. 1 is a schematic partial cutaway front sectional view of a metal porous structure sample including a metal porous structure according to an embodiment of the present invention.

金属多孔質構造体サンプル1では、本実施形態の金属多孔質構造体3が、基板2の表面に金属多孔質構造体層として形成されている。   In the metal porous structure sample 1, the metal porous structure 3 of the present embodiment is formed on the surface of the substrate 2 as a metal porous structure layer.

上記基板2の表面には、凹凸が形成されている。上記基板2の金属多孔質構造体3が形成されている表面は、複数の凸部2a、2aを有する。   Unevenness is formed on the surface of the substrate 2. The surface of the substrate 2 on which the metal porous structure 3 is formed has a plurality of convex portions 2a and 2a.

上記金属多孔質構造体3は、複数の連結節4からなる。特定の連結節4の大きさ(粒径)は、隣り合う連結節との中点全てを囲む球の直径として定義できる。連結節4の粒径は、10〜1000nmの範囲にある。   The metal porous structure 3 includes a plurality of connecting nodes 4. The size (particle diameter) of a specific connecting node 4 can be defined as the diameter of a sphere that surrounds all the midpoints of adjacent connecting nodes. The particle size of the connecting node 4 is in the range of 10 to 1000 nm.

また、図1に示すように、複数の連結節4が相互に連なるように結合し、少なくともその一部において適宜合着している。さらに、複数の連結節4のうち一部は、基板2の表面の凸部2aの頂点もしくはその近傍に集中的に結合されている。それによって、モノリシックな構造をもつ、内部連通性の空隙を有する金属多孔質構造体3が形成されて金属多孔質構造体層となっている。複数の連結節4は金属多孔質構造体層の厚み方向あるいは面方向に適宜合着しているので、金属多孔質構造体3の状態として導電性を有する。すなわち、金属多孔質構造体3は電極等として用いるだけの導電性を有する。   Further, as shown in FIG. 1, a plurality of connecting nodes 4 are joined so as to be connected to each other, and at least a part thereof is appropriately joined. Further, some of the plurality of connecting nodes 4 are intensively coupled to the apex of the convex portion 2 a on the surface of the substrate 2 or the vicinity thereof. As a result, a metal porous structure 3 having a monolithic structure and having internally communicating voids is formed to form a metal porous structure layer. Since the plurality of connecting nodes 4 are appropriately bonded in the thickness direction or the plane direction of the metal porous structure layer, the metal porous structure 3 has conductivity as a state. That is, the metal porous structure 3 has conductivity sufficient to be used as an electrode or the like.

なお、後述の製造方法により得られた金属多孔質構造体サンプル1では、図1に模式的に示すように、上記連結節4は、粒径が3〜20nm程度の一次粒子Xが多数凝集したかのような外観を呈する粒径が10〜1000nm程度の二次粒子のごとき形態であり、隣り合う連結節と一部において結着している。   In addition, in the metal porous structure sample 1 obtained by the manufacturing method described later, as schematically shown in FIG. 1, in the connection node 4, many primary particles X having a particle size of about 3 to 20 nm are aggregated. It is a form such as secondary particles having a particle size of about 10 to 1000 nm and exhibiting such an appearance, and is partially bound to adjacent connecting nodes.

更に詳しく述べるならば、これは、金属イオンの還元析出による金属粒子の形成と、有機分子による金属粒子の表面保護と、保護されない表面を成長点とする新たな金属粒子核の形成と、これらの繰り返しによる二次粒子形態の形成と、該二次粒子が還元反応における自己触媒性を発揮し、そこからの成長が選択的に助長される作用と、近接する二次粒子が一部において結着することによるモノリシック多孔質構造の発現とによって、その形態の発現機構を説明できる。   More specifically, this includes the formation of metal particles by reduction deposition of metal ions, the surface protection of metal particles by organic molecules, the formation of new metal particle nuclei with the unprotected surface as the growth point, and Formation of secondary particle forms by repetition, the secondary particles exhibit autocatalytic properties in the reduction reaction, and the growth from there is selectively promoted, and the adjacent secondary particles are partially bound The expression mechanism of the morphology can be explained by the expression of the monolithic porous structure.

上記金属多孔質構造体3は、複数の連結節4からなるため、すなわち複数の連結節4の少なくとも一部が連なるように結合し、適宜合着しているので、金属多孔質構造体層3は多孔質構造体全体に対して内部連通する空隙Aを有する。空隙Aは、金属粒子が存在しない部分に相当し、本実施形態では、特定の体積に占める上記空隙Aの割合である空隙率は35〜65%の範囲とされている。空隙率が35%未満の場合には、金属多孔質構造体は、単に粒子がパッキングされて合着したような様相を呈し、金属多孔質構造体3の表面積が十分に大きくなり難く、また金属多孔質構造体層3を構成する材料が多くなり、コストが高くつくおそれがある。65%を越えると、構造的に脆弱になる。もっとも、本発明においては、モノリシックな構造ゆえに導電性は確保されることから、利用の目的によっては、上記空隙率は35%未満であってもよく、あるいは65%を越えていてもよい。   Since the metal porous structure 3 is composed of a plurality of connecting nodes 4, that is, the metal porous structure layer 3 is bonded and appropriately bonded so that at least a part of the plurality of connecting nodes 4 is continuous. Has a void A that communicates with the entire porous structure. The void A corresponds to a portion where no metal particles are present, and in this embodiment, the void ratio, which is the ratio of the void A to a specific volume, is in the range of 35 to 65%. When the porosity is less than 35%, the metal porous structure has an appearance as if the particles are simply packed and coalesced, and the surface area of the metal porous structure 3 is not easily increased. There is a possibility that the material constituting the porous structure layer 3 increases and the cost is high. If it exceeds 65%, it becomes structurally fragile. However, in the present invention, conductivity is ensured due to the monolithic structure, so that the porosity may be less than 35% or may exceed 65% depending on the purpose of use.

基板2は表面に凹凸を有するが、凸部2a、2a間のピッチは、10〜1000nmの範囲とされている。凸部2a間のピッチが10nm未満の場合には、析出する金属粒子の単位構造(一次粒子)よりも凹凸構造が小さくなるため、2次凝集により内部連通性の多孔質構造体を形成するには足場としての構造が小さすぎて意味を成さない懸念があり、また凹凸の立体形状が析出金属多孔質構造体により緻密に埋没してしまう懸念があり、1000nmを越えると、凸部の頂点の間隔が広すぎて、析出金属粒子の凝集体としての連結節の合着による多孔質構造体の形成が損なわれることがある。もっとも、界面活性剤や増粘剤、温度等の因子により一次粒子およびその二次凝集体の大きさをコントロールし得るため、本発明においては、凸部2a、2a間のピッチは10nm未満であってもよく、1000nmを越えていてもよい。凸部のピッチは、二次凝集体の大きさにより好ましい間隔が決まる。二次凝集体の大きさは、一次粒子の大きさや、金属表面の有機分子による保護と新たな還元成長の速度バランス、溶媒の分極のし易さ、温度、界面活性、金属の酸化還元電位、還元剤の種類、添加物等に影響されると考えられる。上記凸部2a、2a間のピッチは、一次粒子Xの大きさが3〜20nm程度であるため、概ね10〜1000nmの範囲とされるが、制限されるものではない。   The substrate 2 has irregularities on the surface, but the pitch between the convex portions 2a and 2a is in the range of 10 to 1000 nm. When the pitch between the convex portions 2a is less than 10 nm, the concave-convex structure is smaller than the unit structure (primary particles) of the deposited metal particles, so that an internal interconnecting porous structure is formed by secondary aggregation. There is a concern that the structure as a scaffold is too small to make sense, and there is a concern that the three-dimensional shape of the unevenness will be densely buried by the deposited metal porous structure. Is too wide, and the formation of the porous structure due to the joining of the connecting nodes as aggregates of the deposited metal particles may be impaired. However, since the size of the primary particles and their secondary aggregates can be controlled by factors such as surfactant, thickener, temperature, etc., in the present invention, the pitch between the convex portions 2a and 2a is less than 10 nm. Or may exceed 1000 nm. The preferable pitch of the convex portions is determined by the size of the secondary aggregate. The size of the secondary aggregates is the size of the primary particles, the protection of the metal surface by organic molecules and the new reduction growth rate balance, the ease of solvent polarization, temperature, surface activity, metal redox potential, It is thought to be affected by the type of reducing agent and additives. The pitch between the convex portions 2a and 2a is approximately in the range of 10 to 1000 nm because the size of the primary particles X is about 3 to 20 nm, but is not limited.

凸部の高さは10〜1000nmが好ましく、50nmから500nmがより好ましい。凹凸の賦形の容易性から、さらに好ましくは、100nmから300nmである。   The height of the convex part is preferably 10 to 1000 nm, more preferably 50 nm to 500 nm. From the ease of forming irregularities, the thickness is more preferably 100 nm to 300 nm.

基板2は表面に凹凸を有するが、平坦な基板を用意し、該平坦な基板の表面に凹凸が形成され、基板2が用意されてもよい。ナノインプリント・リソグラフィー法等の通常のエンボス加工法や、シード粒子の吹き付けにより凹凸を作製することができる。一般に、水やアルコールといった分極性の溶媒は、固液界面において分極境界層を形成する。基板2は、分極境界層厚み程度の凹凸を有するので、電荷密度が場所毎に異なっていると推察される。結果的に、場所毎の還元環境にムラが生じ、該凸部の頂点もしくはその近傍において、優先的に金属の析出が起こり、生じる金属微粒子構造が自己触媒的に更なる金属の析出を誘導し、二次凝集体とそれらが連なるモノリシックな内部連通性の金属多孔質構造を形成しているものであろう。   Although the substrate 2 has irregularities on the surface, a flat substrate may be prepared, the irregularities may be formed on the surface of the flat substrate, and the substrate 2 may be prepared. Concavities and convexities can be produced by a usual embossing method such as nanoimprint lithography, or by spraying seed particles. In general, polarizable solvents such as water and alcohol form a polarization boundary layer at the solid-liquid interface. Since the board | substrate 2 has an unevenness | corrugation about the polarization boundary layer thickness, it is guessed that a charge density differs for every place. As a result, unevenness occurs in the reduction environment at each location, and metal deposition preferentially occurs at or near the top of the convex portion, and the resulting metal fine particle structure induces further metal deposition in an autocatalytic manner. The secondary agglomerates and the monolithic interconnected metal porous structure that they are connected to may be formed.

基板表面には、前処理として、一般的な脱脂処理、タンニン酸等による弱い還元処理を施しておくことが好ましい。また、樹脂と金属の接着を強固なものにするためのカップリング剤として、トリアジンジチオール類による基板表面の前処理が行われることも好ましい。   The substrate surface is preferably subjected to a general degreasing treatment or a weak reduction treatment with tannic acid or the like as a pretreatment. Moreover, it is also preferable that the substrate surface is pretreated with triazinedithiols as a coupling agent for strengthening the adhesion between the resin and the metal.

上記基板2を構成する材料は特に限定されないが、好ましくは、絶縁性材料が用いられる。絶縁性材料からなる基板2を用いることにより、金属多孔質構造体層3を電極等として用いることができる。すなわち、電極を支持している支持体として基板を用い、基板上に金属多孔質構造体層からなる電極が形成された構造を本発明により提供することができる。   Although the material which comprises the said board | substrate 2 is not specifically limited, Preferably, an insulating material is used. By using the substrate 2 made of an insulating material, the metal porous structure layer 3 can be used as an electrode or the like. That is, the present invention can provide a structure in which a substrate is used as a support supporting the electrodes, and an electrode composed of a metal porous structure layer is formed on the substrate.

なお、上記絶縁性材料については、特に限定されないが、ガラス、セラミック、シリコン酸化膜、金属酸化膜、ダイヤモンド、セルロース、樹脂等が用いられ、好ましくは合成樹脂が用いられる。合成樹脂からなる場合には、凹凸を有する基板2を、既知の成形法等により容易に得ることができる。あるいは、合成樹脂からなる基板の場合、ブラストやエッチング、ディスペンス等の表面処理も容易であり、それによって、上記凹凸等を容易に付与することも可能である。   The insulating material is not particularly limited, and glass, ceramic, silicon oxide film, metal oxide film, diamond, cellulose, resin and the like are used, and preferably synthetic resin is used. When made of a synthetic resin, the substrate 2 having irregularities can be easily obtained by a known molding method or the like. Or in the case of the board | substrate which consists of synthetic resins, surface treatments, such as blasting, an etching, and dispensing, are also easy, and it can also provide the said unevenness | corrugation etc. easily.

上記金属多孔質構造体を構成する金属は、特に限定されないが、様々な金属元素もしくは合金からなり、好ましくは、Au、Ag、Pt、Pd、Rh、Ir、Ru、Fe、Cu、Ni、Co、Cr、Mn、Ti、Al、Sn及びMoからなる群から選択された少なくとも1種の金属からなる。   The metal constituting the metal porous structure is not particularly limited, but is composed of various metal elements or alloys, preferably Au, Ag, Pt, Pd, Rh, Ir, Ru, Fe, Cu, Ni, Co And at least one metal selected from the group consisting of Cr, Mn, Ti, Al, Sn and Mo.

多孔質構造の結合節は3nm〜20nmの1次粒子からなる2次凝集体であることが好ましい。一次粒子Xの大きさが3nm未満の場合には、金属粒子の大きさからの量子的効果や、表示領域が大きくなりすぎることによる金属的特性の消失が懸念されることとなり、一次粒子Xの大きさが20nmを越えると、析出速度と表面保護のバランスをとるためのプロセスウインドウが狭くなって大面積で一様な状態をつくることが難しくなることが懸念される。従って、一次粒子Xの大きさは3〜20nmの範囲にあることが好ましいが、制限されるものではない。一次粒子Xの大きさが3nmより小さくても、もしくは20nmより大きくてもよい。   The bonding node of the porous structure is preferably a secondary aggregate composed of primary particles of 3 nm to 20 nm. When the size of the primary particle X is less than 3 nm, there is a concern about the quantum effect from the size of the metal particle or the disappearance of the metallic characteristics due to the display area becoming too large. If the size exceeds 20 nm, there is a concern that the process window for balancing the deposition rate and surface protection becomes narrow and it becomes difficult to create a uniform state over a large area. Accordingly, the size of the primary particles X is preferably in the range of 3 to 20 nm, but is not limited. The size of the primary particle X may be smaller than 3 nm or larger than 20 nm.

上記特定の粒径の複数の連結節4の少なくとも一部が連なるように結合し、連結節4同士が合着し、かつ複数の連結節4のうち一部の連結節4が、基板2の表面の凸部2aの頂点またはその近傍に結合し、金属多孔質構造体3が形成されている。この場合、好ましくは、図1に略図的に示されているように、複数の連結節4が厚み方向に重なり合うように配置され、基板2の表面に結合していることが望ましい。それによって、厚みが厚い金属多孔質構造体3を得ることができる。もっとも、厚みの薄い金属多孔質構造体が望ましい場合には、複数の連結節4は、厚み方向に重なり合わないように合着されていてもよい。   The plurality of connecting nodes 4 having the specific particle diameter are coupled so that at least a part thereof is continuous, the connecting nodes 4 are joined together, and some of the connecting nodes 4 are connected to the substrate 2. The metallic porous structure 3 is formed by bonding to the apex of the convex portion 2a on the surface or the vicinity thereof. In this case, as shown schematically in FIG. 1, it is preferable that the plurality of connecting nodes 4 be arranged so as to overlap in the thickness direction and be bonded to the surface of the substrate 2. Thereby, a thick metal porous structure 3 can be obtained. However, when a thin metal porous structure is desired, the plurality of connecting nodes 4 may be bonded so as not to overlap in the thickness direction.

図2は、図1に示した金属多孔質構造体3が形成されている具体的な例として、後述の実施例1の構造を示す電子顕微鏡写真である。ここでは、粒径100nm程度の連結節が相互に結着した空隙率50%程度のモノリシックな内部連通性の金属多孔質構造体が見られる。該金属多孔質構造体は、200nmピッチで並ぶ高さ400nmの凸部2aが賦形されている基板2上に形成されており、Agからなる粒径100nm〜200nm程度の連結節の一部が該凸部と結合されている。電子顕微鏡写真を詳細に検討すると、連結節は、粒径が約20nmの一次粒子が凝集したかのような形態であることが判る。なお、噴霧される金属イオンもしくは金属錯体イオン含有溶液として濃度10−2mol/Lのアンモニア性Agイオン水溶液を用いている。 FIG. 2 is an electron micrograph showing the structure of Example 1 described later as a specific example in which the metal porous structure 3 shown in FIG. 1 is formed. Here, a monolithic interconnected metal porous structure having a porosity of about 50% in which connecting nodes having a particle size of about 100 nm are bonded to each other can be seen. The metal porous structure is formed on a substrate 2 on which convex portions 2a having a height of 400 nm arranged at a pitch of 200 nm are formed, and a part of a connecting node made of Ag having a particle size of about 100 nm to 200 nm is formed. It is combined with the convex portion. By examining the electron micrograph in detail, it can be seen that the connecting node has a form as if primary particles having a particle size of about 20 nm were aggregated. Note that an aqueous ammoniacal Ag ion solution having a concentration of 10 −2 mol / L is used as the metal ion or metal complex ion-containing solution to be sprayed.

金属多孔質構造体3の製造方法は特に限定されず、表面に凹凸を有する基板2を用意した後、基板2の表面に例えば、金属イオンもしくは金属錯体イオン含有溶液と、該金属イオンもしくは金属錯体イオンを還元する還元剤とを塗布することにより形成することができる。基板2は、金属多孔質構造体を形成後に溶解してもよい。   The method for producing the metal porous structure 3 is not particularly limited. After preparing the substrate 2 having irregularities on the surface, for example, a metal ion or metal complex ion-containing solution and the metal ion or metal complex are formed on the surface of the substrate 2. It can be formed by applying a reducing agent that reduces ions. The substrate 2 may be dissolved after the metal porous structure is formed.

上記金属イオンもしくは金属錯体イオン含有溶液の溶媒としては、一般的には水が用いられるが、アルコール等を用いてもよく、これらの混合液を用いてもよい。分極性の分子からなる適宜の液体を用いることができる。好ましくは、水が用いられる。   As a solvent for the metal ion or metal complex ion-containing solution, water is generally used, but alcohol or the like or a mixed solution thereof may be used. An appropriate liquid composed of molecularly polar molecules can be used. Preferably, water is used.

金属イオンもしくは金属錯体イオン溶液中の金属イオン濃度及び金属錯体イオン濃度については、好ましくは、1×10−6〜1×10−3mol/Lとされる。10−6mol/L未満では二次凝集体である連結節4の形成が十分に行われない可能性が大きくなり、1×10−3mol/Lを越えると緻密な金属膜や空隙率が小さい多孔質金属となってとしまうことがある。 The metal ion concentration and the metal complex ion concentration in the metal ion or metal complex ion solution are preferably 1 × 10 −6 to 1 × 10 −3 mol / L. 10-6 possibility increases the formation of secondary aggregates in a connecting section 4 is not sufficiently less than mol / L, 1 × 10 exceeds -3 mol / L when the dense metal film or porosity Sometimes it becomes a small porous metal.

上記金属イオン含有溶液としては、より具体的には、例えば各金属の硫酸塩水溶液、硝酸塩水溶液、塩酸塩水溶液などが挙げられ、金属錯体イオン含有溶液としては、アンモニア錯体水溶液、シアノ錯体水溶液、ヒドロキシ錯体水溶液、ハロゲノ錯体水溶液、各種キレート溶液などを挙げることができる。水酸化ナトリウム等のアルカリ成分や緩衝作用のあるチオ硫酸ナトリウム塩、エタノール等の水素結合性溶媒やゼラチン等の増粘剤、フタロシアニン類等の色素、有機カルボン酸塩等の界面活性剤、また、通常コロイド保護に用いられる、ドデカンチオール、コリンブロミド、チオ尿酸、チオフェノールのようなチオール類、チオ硫酸ナトリウム等の亜硫酸アルカリ金属塩、アリルメルカプタン、グルタチオン等が金属表面保護の目的で添加されてもよい。   More specifically, examples of the metal ion-containing solution include sulfate aqueous solutions, nitrate aqueous solutions, and hydrochloric acid aqueous solutions of the respective metals. Examples of the metal complex ion-containing solution include an ammonia complex aqueous solution, a cyano complex aqueous solution, and a hydroxy solution. A complex aqueous solution, a halogeno complex aqueous solution, various chelate solutions and the like can be mentioned. Alkali components such as sodium hydroxide, sodium thiosulfate having a buffering action, hydrogen bonding solvents such as ethanol, thickeners such as gelatin, dyes such as phthalocyanines, surfactants such as organic carboxylates, Commonly used for colloid protection, thiols such as dodecanethiol, choline bromide, thiouric acid, thiophenol, alkali metal sulfites such as sodium thiosulfate, allyl mercaptan, glutathione, etc. may be added for the purpose of metal surface protection. Good.

上記還元剤としては、使用する金属イオンもしくは金属錯体イオンに応じた適宜の還元剤を用いることができる。このような還元剤としては、例えば、水素化ホウ素アルカリ金属塩、水素化ホウ素4級アンモニウム(NR4)塩、ジボラン、ヒドラジン、ホルムアルデヒド等のアルデヒド類、グルコース、フルクトース、マンノース、ラクトース、マルトース、ショ糖等の糖類、デンプン、ギ酸、クエン酸、シュウ酸、アスコルビン酸、タンニン酸、没食子酸等の有機カルボン酸およびその塩、ヒドロキノン、t−ブチル−ヒドロキノン等のポリヒドロキシベンゼン類、アントラセンアルデヒドフェニルヒドラゾンのごときアルデヒド又はケトンのヒドラゾン類、スルホンアミドアニリン類、ヒンダードフェノール類、アルコールやポリオール、アルコールアミン、3級アミン類などを挙げることができる。 As said reducing agent, the appropriate reducing agent according to the metal ion or metal complex ion to be used can be used. Such reducing agents include, for example, alkali metal borohydrides, quaternary ammonium borohydrides (NR4 + ), aldehydes such as diborane, hydrazine, formaldehyde, glucose, fructose, mannose, lactose, maltose, sucrose, and the like. Sugars such as sugar, starch, formic acid, citric acid, oxalic acid, ascorbic acid, tannic acid, gallic acid and other organic carboxylic acids and their salts, hydroquinone, t-butyl-hydroquinone and other polyhydroxybenzenes, anthracene aldehyde phenylhydrazone Examples include hydrazones of aldehydes or ketones, sulfonamidoanilines, hindered phenols, alcohols and polyols, alcohol amines, and tertiary amines.

上記金属イオンもしくは金属錯体イオンを含有している溶液の塗工、及び還元剤の塗工については、適宜の塗工方法により行い得る。このような塗工方法としては、ドクターブレード法、ダイコーターを用いた塗工方法、スプレーを用いた塗工方法など適宜の塗工方法を用いることができる。塗工に際しては、上記金属イオンもしくは金属錯体イオン含有溶液と、還元剤とをそれぞれを塗工するための異なるコーティング装置を用いて同時に基板表面に塗工してもよく、一方を先に塗工した後、他方を塗工してもよい。好ましくは、スプレーが用いられる。   Application of the solution containing the metal ion or metal complex ion and application of the reducing agent can be performed by an appropriate application method. As such a coating method, an appropriate coating method such as a doctor blade method, a coating method using a die coater, or a coating method using a spray can be used. In coating, the above metal ion or metal complex ion-containing solution and the reducing agent may be applied to the substrate surface at the same time using different coating apparatuses for coating each of them. Then, the other may be applied. Preferably, a spray is used.

より好ましくは、図7に示すように、金属イオンもしくは金属錯体イオン含有溶液を第1のスプレー21により基板2の表面に塗工し、同時に、あるいはその前後に、還元剤を第2のスプレー22を用いて噴霧し、基板2の表面に付与する方法が挙げられる。スプレーを用いた噴霧・塗工方法によれば、金属イオンもくしは金属錯体イオンが基板表面に効果的に分散され、粒径3〜20nmの一次粒子が凝集したような、粒径が10〜1000nmの連結節4を容易に基板に還元析出させることができる。   More preferably, as shown in FIG. 7, a metal ion or metal complex ion-containing solution is applied to the surface of the substrate 2 by the first spray 21, and the reducing agent is added to the second spray 22 at the same time or before and after. The method of spraying using and applying to the surface of the board | substrate 2 is mentioned. According to the spraying / coating method using a spray, the metal ion or the metal complex ion is effectively dispersed on the substrate surface, and the particle size is 10 to 10 such that primary particles having a particle size of 3 to 20 nm aggregate. The 1000 nm coupling node 4 can be easily reduced and deposited on the substrate.

この場合、多数の連結節4が、基板2の表面に結合されるため、図3(a)及び(b)に部分切欠正面断面図で示すように、基板2の表面において、粒径20nm程度の一次粒子Xとしての金属粒子が多数結合され、二次凝集体としての連結節4が形成され、相互に合着する。従って、多数の連結節4からなるモノリシックな金属多孔質構造体3が形成される。この金属多孔質構造体3は、連結節4同士が合着している部分を除いて金属多孔質構造体全体に内部連通する空隙Aを有する。   In this case, since a large number of connecting nodes 4 are coupled to the surface of the substrate 2, as shown in the partially cutaway front sectional views in FIGS. 3A and 3B, the particle size is about 20 nm on the surface of the substrate 2. A large number of metal particles as primary particles X are bonded to form a connection node 4 as a secondary aggregate, and are bonded together. Therefore, a monolithic metal porous structure 3 composed of a large number of connecting nodes 4 is formed. The metal porous structure 3 has a void A that communicates internally with the entire metal porous structure except for a portion where the connection nodes 4 are joined.

金属多孔質構造体3は、上記のような凸部2aを10〜1000nmのピッチで設けておいた場合、凸部2aの頂点もしくはその近傍に優先して金属還元が起こることによりより一層容易に形成することができる。   In the metal porous structure 3, when the convex portions 2a as described above are provided at a pitch of 10 to 1000 nm, metal reduction takes place more preferentially at the apex of the convex portions 2a or in the vicinity thereof. Can be formed.

なお、図8は、本発明の一実施形態に係る金属多孔質構造体3の製造方法の他の例を示す部分切欠正面断面図である。ここでは、基板2の表面に、図示はしないが、予め還元剤が塗布されている。そして、1つのスプレー23を用いて、上記金属イオンもしくは金属錯体イオン含有イオン溶液が基板2の表面に塗工される。このようにして、金属イオンもしくは金属錯体イオンが基板表面に効果的に分散され、かつ還元剤との反応により、粒径が10〜1000nmの合着した複数の連結節4のうち一部の連結節4が基板2の表面の凸部2aに結合され、多孔質構造体層が形成される。   FIG. 8 is a partially cutaway front sectional view showing another example of the method for manufacturing the metal porous structure 3 according to one embodiment of the present invention. Here, although not shown, a reducing agent is applied to the surface of the substrate 2 in advance. Then, the metal ion or metal complex ion-containing ion solution is applied to the surface of the substrate 2 using one spray 23. In this way, some of the coupling nodes 4 of the plurality of coupled nodes 4 having a particle diameter of 10 to 1000 nm are effectively dispersed on the substrate surface and the particle size is 10 to 1000 nm by the reaction with the reducing agent. The nodes 4 are bonded to the convex portions 2a on the surface of the substrate 2 to form a porous structure layer.

次に、具体的に実施例につき説明する。   Next, specific examples will be described.

(実施例1)
平坦な基板の一部に周期的なサブマイクロメートルスケールの微小構造がインプリントされ、該微小構造が、基底部からの高さが400nmで基底部の直径が200nmの円錐形状の凸構造が多数200nmのピッチで表面に配置されており、かつ材料がポリメタクリル酸メチル(PMMA)からなる基板2を通常のナノインプリンティングリソグラフィー法により用意した。Agイオンを1×10−5mol/Lの濃度で含むアンモニア性銀イオン水溶液をスプレーにより噴霧した。このとき同時に還元剤としてグルコース水溶液をスプレーにより上記金属イオン溶液が噴霧された領域に噴霧した。しかる後、基板を風乾処理したのち60℃の温度で10分間加温し、乾燥した。得られた金属多孔質構造体の表面を電子顕微鏡写真で観察した。この金属多孔質構造体層の電子顕微鏡写真を図2に示す。基板の表面に複数の連結節の一部が連なるように結合し、適宜合着している内部連通を有する金属多孔質構造体層が形成された。複数の連結節のうち一部の連結節は、基板表面の凸構造の頂点もしくはその近傍に結合されていた。
Example 1
A periodic sub-micrometer-scale microstructure is imprinted on a part of a flat substrate, and the microstructure has many conical convex structures whose height from the base is 400 nm and whose base has a diameter of 200 nm. A substrate 2 arranged on the surface at a pitch of 200 nm and made of polymethyl methacrylate (PMMA) was prepared by a normal nanoimprinting lithography method. An aqueous ammoniacal silver ion solution containing Ag ions at a concentration of 1 × 10 −5 mol / L was sprayed. At the same time, an aqueous glucose solution as a reducing agent was sprayed onto the region where the metal ion solution was sprayed. Thereafter, the substrate was air-dried, heated at 60 ° C. for 10 minutes, and dried. The surface of the obtained metal porous structure was observed with an electron micrograph. An electron micrograph of this metal porous structure layer is shown in FIG. A metal porous structure layer having internal communication that is bonded to the surface of the substrate so that a part of the plurality of connection nodes is continuous and appropriately bonded is formed. Some of the plurality of connection nodes are connected to the apex of the convex structure on the substrate surface or the vicinity thereof.

得られた金属多孔質構造体において、電子顕微鏡により連結節の粒径を測定した。結果を図2に示す。その結果、平均粒径は100nmであった。また、得られた金属多孔質構造体層の空隙率を、画像解析結果を基に求めた。その結果、空隙率は約50%であった。   In the obtained metal porous structure, the particle size of the connection node was measured with an electron microscope. The results are shown in FIG. As a result, the average particle size was 100 nm. Moreover, the porosity of the obtained metal porous structure layer was calculated | required based on the image analysis result. As a result, the porosity was about 50%.

電子顕微鏡写真を詳細に検討すると、100nmの連結節は、20nm程度の一次粒子が集まった二次凝集体様の構造であった。この事実を確認するために、スプレー時間を1/5で終了し、スプレーメッキ処理初期の状況で基板を水洗し、電子顕微鏡で観察した。結果を図4に示す。一次粒子は10〜20nm程度であり、成長過程で一次粒子の周辺に優先的に金属析出が起こり二次凝集体様の構造を形成しているものと推定された。なお、スプレーされる液滴は、直径の下限が10μm程度であるから、一次粒子構造は、自己組織的に発現していると推察される。   When the electron micrograph was examined in detail, the 100 nm connecting node had a secondary aggregate-like structure in which primary particles of about 20 nm gathered. In order to confirm this fact, the spraying time was finished at 1/5, the substrate was washed with water in the initial stage of the spray plating process, and observed with an electron microscope. The results are shown in FIG. The primary particles were about 10 to 20 nm, and it was presumed that metal precipitation preferentially occurred around the primary particles during the growth process to form a secondary aggregate-like structure. In addition, since the lower limit of the diameter of the sprayed droplet is about 10 μm, it is assumed that the primary particle structure is expressed in a self-organized manner.

(比較例1)
表面が平坦な基板を用いたこと以外は実施例1と全く同じ条件で、銀メッキを施し、金属多孔質構造体を得た。表面の電子顕微鏡写真を図5に示す。内部連通性は確認されず、連結節の平均粒子径は10〜20nm程度であった。
(Comparative Example 1)
Except for using a substrate having a flat surface, silver plating was performed under exactly the same conditions as in Example 1 to obtain a metal porous structure. An electron micrograph of the surface is shown in FIG. Internal connectivity was not confirmed, and the average particle size of the connecting nodes was about 10 to 20 nm.

(比較例2)
実施例1で用いた基板を作製したのと全く同じ金型から作製したもうひとつのPMMA基板を用いて、真空蒸着法により約30nmの厚みにAgの金膜を成膜した。このようにして基板上に金属膜が形成された構造体は、図6に示すように、電子顕微鏡で観察しても連結節は確認されず、多孔質構造は見られなかった。
(Comparative Example 2)
Using another PMMA substrate produced from the exact same mold as the substrate used in Example 1, an Ag gold film was formed to a thickness of about 30 nm by vacuum deposition. In the structure in which the metal film was formed on the substrate in this way, as shown in FIG. 6, even when observed with an electron microscope, no connection node was confirmed, and no porous structure was observed.

本発明の一実施形態に係る凹凸を有する基板上に形成された金属多孔質構造体の模式的部分切欠正面断面図。The typical partial notch front sectional drawing of the metal porous structure formed on the board | substrate which has an unevenness | corrugation which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の実施例1の凹凸領域上に形成された金属多孔質構造体の電子顕微鏡写真を示す図。The figure which shows the electron micrograph of the metal porous structure formed on the uneven | corrugated area | region of Example 1 of this invention. 金属多孔質構造体層の連結節の形成状態を説明するための各模式的部分切欠正面断面図であり、(a)は、初期状態、(b)は、二次粒子の成長の様子を示す図。It is each typical partial notch front sectional drawing for demonstrating the formation state of the connection node of a metal porous structure layer, (a) is an initial state, (b) shows the mode of the growth of a secondary particle. Figure. 実施例1のスプレー時間を5分の1で切りあげたときの表面の電子顕微鏡写真を示す図。The figure which shows the electron micrograph of the surface when the spray time of Example 1 is cut up by 1/5. 比較例1の表面の電子顕微鏡写真を示す図。The figure which shows the electron micrograph of the surface of the comparative example 1. FIG. 比較例2の表面の電子顕微鏡写真を示す図。The figure which shows the electron micrograph of the surface of the comparative example 2. FIG. 本発明の一実施形態に係る金属多孔質構造体を製造する方法を説明するための部分切欠正面断面図。The partial notch front sectional drawing for demonstrating the method to manufacture the metal porous structure which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る金属多孔質構造体を製造する他の方法を説明するための部分切欠正面断面図。The partial notch front sectional drawing for demonstrating the other method of manufacturing the metal porous structure which concerns on one Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…金属多孔質構造体サンプル
2…基板
2a…凸部
3…金属多孔質構造体
4…連結節
21…第1のスプレー
22…第2のスプレー
23…スプレー
X…一次粒子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Metal porous structure sample 2 ... Board | substrate 2a ... Convex part 3 ... Metal porous structure 4 ... Connection node 21 ... 1st spray 22 ... 2nd spray 23 ... Spray X ... Primary particle

Claims (10)

金属より成る多数の連結節が相互に連なるように結合して内部連通性の空隙を形成しているモノリシックな多孔質構造の金属多孔質体であって、連結節の大きさが10nm〜1000nmである金属多孔質構造体。   A metal porous body having a monolithic porous structure in which a large number of connecting nodes made of metal are connected to each other so as to form an internal communication gap, and the size of the connecting nodes is 10 nm to 1000 nm. A metallic porous structure. 前記多孔質構造の結合節が、3nm〜20nmの1次粒子からなる2次凝集体である、請求項1に記載の金属多孔質構造体。   The metal porous structure according to claim 1, wherein the bonding node of the porous structure is a secondary aggregate composed of primary particles of 3 nm to 20 nm. 金属多孔質体の表面が、有機分子で単層被覆されている請求項1または2に記載の金属多孔質構造体。   The metal porous structure according to claim 1 or 2, wherein the surface of the metal porous body is covered with a single layer with an organic molecule. 空隙率が35〜65%の範囲にある、請求項1〜3のいずれか1項に記載の金属多孔質構造体。   The metal porous structure according to any one of claims 1 to 3, wherein the porosity is in the range of 35 to 65%. 基板上に金属多孔質構造体層として形成されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載の金属多孔質構造体。   The metal porous structure of any one of Claims 1-4 currently formed as a metal porous structure layer on a board | substrate. 前記基板の表面が高さ10〜1000nmの範囲にある複数の凸部を有し、該凸部の頂点もしくはその近傍に、前記連結節のうち一部が結合されていることを特徴とする、請求項5に記載の金属多孔質構造体。   The surface of the substrate has a plurality of convex portions having a height in the range of 10 to 1000 nm, and a part of the connecting nodes is coupled to the apex of the convex portion or the vicinity thereof, The metal porous structure according to claim 5. 前記基板の表面の凸部間のピッチが、10〜1000nmの範囲にある、請求項6に記載の金属多孔質構造体。   The metal porous structure according to claim 6, wherein a pitch between convex portions on the surface of the substrate is in a range of 10 to 1000 nm. 前記基板が、絶縁性材料からなる、請求項5〜7のいずれか1項に記載の金属多孔質構造体。   The metal porous structure according to claim 5, wherein the substrate is made of an insulating material. 前記絶縁性材料が、合成樹脂である、請求項8に記載の金属多孔質構造体。   The metal porous structure according to claim 8, wherein the insulating material is a synthetic resin. 前記一次粒子が、Au、Ag、Pt、Pd、Rh、Ir、Ru、Fe、Cu、Ni、Co、Cr、Mn、Ti、Al、Sn及びMoからなる群から選択された少なくとも1種の金属からなる、請求項2〜9のいずれか1項に記載の金属多孔質構造体。   The primary particles are at least one metal selected from the group consisting of Au, Ag, Pt, Pd, Rh, Ir, Ru, Fe, Cu, Ni, Co, Cr, Mn, Ti, Al, Sn, and Mo. The metal porous structure according to any one of claims 2 to 9, comprising:
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