JP4783545B2 - Component mounting equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、生産設備等における制御を担うコンピュータ装置が備える記憶装置のその機能的な寿命の予測診断を行なうコンピュータ装置及び記憶装置の寿命診断方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の生産設備、例えば部品実装装置などに搭載されるコンピュータ装置は、その内部に、磁気ディスクを記録媒体として有する大容量の記憶装置であるハードディスクドライブユニット(以下、HDDユニットと略す)を搭載している。このようなHDDユニットは、当該生産設備に搭載されていることにより、生産に伴う外部よりの振動等の影響を受け、その機能的な動作を行うことができる寿命が短縮化されたり、場合によっては、破壊される可能性もある一方、当該生産設備における生産を連続的に安定して行なうための安定性が要求されている。このような要求に応えるべく、このような従来のコンピュータ装置においては、予備用のHDDユニットが備えられ、合計2台のHDDユニットが搭載されているものがある。(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
このような従来のコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図を図1に示す。図1に示すように、コンピュータ装置100は、ハードディスク制御回路101、生産設備の稼動において必要となる基本OSや生産情報、及び当該設備を稼動させるプログラム等のデータが読み取り可能に記憶されるHDDユニットの一例である基本ドライブ102、基本ドライブ102と全く同様の生産設備の稼動において必要となる基本OSや生産情報、及び当該設備を稼動させるプログラム等のデータが読み取り可能に記憶される予備用のHDDユニットの一例であるバックアップ用ドライブ103、基本ドライブ102とバックアップ用ドライブ103のドライブユニット選択回路104、主メモリ105、中央処理装置106、及び外部入出力制御回路107を備えている。また、コンピュータ装置100には、外部入出力制御回路107を介して、外部表示装置108及び外部入力装置109が接続されている。
【0004】
このような構成のコンピュータ装置100においては、基本ドライブ102内部に記憶されているデータであって上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取るとともに、一時的に主メモリ105に記憶させて、当該記憶されたデータを中央処理装置106で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路107に送信して、外部表示装置108で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、外部表示装置108で通知された情報から、必要な情報を外部入力装置109で入力する。中央処理装置106は、外部入力装置109で入力された情報を解読して、主メモリ105に格納されるデータを参照し、演算処理に必要なデータが主メモリ105内に存在しない場合、基本ドライブ102に格納されているデータを主メモリ105に再び読み取って解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置108に表示する手順を繰り返して行なう。また、主メモリ105で演算された結果は、必要に応じて、基本ドライブ102に書き込まれて記憶される。通常、基本ドライブ102において正常な記憶動作が行われているような場合には、図1に示すように、基本ドライブ102とバックアップ用ドライブ103のドライブユニット選択回路104は、接点104−1側にスイッチが選択された状態で、上記夫々の手順が繰り返し行なわれる。これに対して、上記生産設備の稼動時、又は上記生産設備の搬送時等に生じる外部からの振動や温湿度等によって、基本ドライブ102が破損し、その機能が果たせなくなったような場合にあっては、コンピュータ装置100は稼動停止となる。この場合、基本ドライブ102とバックアップ用ドライブ103のドライブユニット選択回路104のスイッチが接点104−2側に切り換えられて選択されることにより、上記破損した基本ドライブ102に代わって、バックアップ用ドライブ103を使用することが可能となり、上記稼動停止していたコンピュータ装置100を、復旧させることができる。
【0005】
また、従来の生産設備などに搭載されるコンピュータ装置には、その内部に、大容量の記憶装置として、シリコンディスクドライブユニット(以下、SDDユニットと略す)が搭載されているものもある。SDDユニットは、内部の記録媒体としてフラッシュメモリを使用しているが、このようなフラッシュメモリは、その特性上、データの書込み回数に制約を有しているものの、最大限にその機能を活用するために、当該制約の中で上記書き込み回数を最大限に延長されている場合が多い。
【0006】
このようなコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図を図2に示す。なお、図2においては、上述した図1のコンピュータ装置100と同じ構成を有する部分については、同じ符号を用いている。図2に示すように、コンピュータ装置110は、シリコンディスク制御回路111、SDDユニット112、主メモリ105、中央処理装置106、外部入出力制御回路107を備えている。
【0007】
このようなコンピュータ装置110においては、SDDユニット112の内部に読み取り可能に記憶されているデータであって、上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取って、一時的に主メモリ105に記憶させ、当該記憶されたデータを中央処理装置106で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路107に送信し、外部表示装置108で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、外部表示装置108で通知された情報から、必要な情報を外部入力装置109で入力する。中央処理装置106は、外部入力装置109で入力された情報を解読して、主メモリ105に記憶されているデータを参照し、これらのデータの中に演算処理に必要なデータが存在しない場合には、SDDユニット112に記憶されているデータを主メモリ105に再び読み取って、解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置109に表示するという手順を繰り返して行なう。また、主メモリ105で演算された結果は必要に応じて、SDDユニット112に書き込にで記憶させる。
【0008】
ここで、図2を用いて、SDDユニット112の内部構造について説明する。SDDユニット112は、複数のブロックと呼ばれる記憶領域を有し、かつ、データの書き込みによる記憶の際に、これらのブロック単位でデータの書き換えを行うフラッシュメモリを記録媒体としている。また、図2に示すように、SDDユニット112は、上記記録媒体であって、上記データの一例であるファイルデータを記憶するメモリ部の一例であるデータメモリ112−5と、上記記録媒体であって、データメモリ112−5への上記データの書き込み動作の動作エラー(動作不良)が発生した場合に、データメモリ112−5における上記動作エラーの発生したブロックに代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部の一例であるバッファメモリ112−3と、データメモリ112−5の上記動作エラーの情報を記憶するエラーメモリ部の一例であるエラーメモリ112−4とを備えている。さらに、SDDユニット112は、データメモリ112−5、バッファメモリ112−3、及びエラーメモリ112−4に対するデータの読み取り動作、書き込み動作、及び消去動作を行うメモリ制御部の一例であるメモリコントローラ112−2と、このメモリコントローラ112−2を制御するマイコン112−1とを備えている。
【0009】
このようなSDDユニット112においては、コンピュータ装置110の中央処理装置106で演算された結果を、SDDユニット112にデータメモリ112−5にブロック単位で書き込み動作を行う際に、このデータメモリ112−5への上記書き込み動作の動作エラーが発生した場合には、データメモリ112−5内における上記書き込み不良を起こしたブロックのアドレスをエラーメモリ112−4に記憶させるとともに、バッファメモリ112−3にブロック単位で当該データを書き込むことにより、SDDユニット112の寿命の延命を行うことができる。
【0010】
【特許文献1】
特開平11−249824号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のようなコンピュータ装置100における基本ドライブ102のようなHDDユニットは、データの入出力を行う制御部と磁気ディスクにデータを書き込む機構部で構成され、長期間HDDユニットを使用すると機構部の劣化が生じ、データの入出力を行うことができなくなるという問題がある。
【0012】
当該HDDユニットの模式的な内部構造を示す模式説明図を図3(A)に示し、このような問題について図3(A)を用いて説明する。図3(A)に示すように、HDDユニット120は、データの入出力を行う制御基板121、記録媒体である円盤状の磁気ディスク125、この磁気ディスク125を高速に回転させるモータ124、磁気ディスク125にその円周方向に沿って形成された複数の線状のデータ記憶位置(領域)であるトラックに対して、データを読み取り動作及び書き込み動作を行うヘッド部の一例であるヘッド123、このヘッド123を制御基板121から指定されたトラック位置に移動させることにより、上記指定されたトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なうアクチュエータ122とを備えている。
【0013】
このようなHDDユニット120を、図1に示す基本ドライブ102と同視して説明すると、HDDユニット120における制御基板121は、図1のコンピュータ装置100内のハードディスク制御回路101との間で送受信されるデータを一時的に記憶する一時記憶メモリ121−2と、磁気ディスク125のデータ制御を行うメモリコントローラ121−3と、磁気ディスク125に対するデータの読み込み動作又は書き込み動作の解読を行なうとともに、アクチュエータ122の動作を制御して、指定のトラック位置に高速にヘッド123を移動させることにより、上記指定のトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なって、読み込み動作又は書き込み動作の制御を行うメモリコントローラ121−3とを備えている。
【0014】
また、ここで、HDDユニット120における磁気ディスク125の部分拡大模式説明図を図3(B)に示す。図3(B)に示すように、磁気ディスク125とモータ124の間には、微小な大きさのボールベアリング126が複数配置されており、これらのボールベアリング126は、円盤状の磁気ディスク125を保持しながらその高速かつ同心円上の回転を案内する役割を担っている。このようにボールベアリング126が備えられていることにより、HDDユニット120において、磁気ディスク125の上記回転は、同心円上の軌跡127を描くことができるが、HDDユニット120を長期間使用するとボールベアリング126が摩耗し、摩耗が進行するにしたがって、上記磁気ディスク125の保持位置に位置ズレが生じて、上記同心円上の軌跡127に位置ズレが生じるようになり、図3(B)に示すような位置ズレが発生した軌跡128を描くようになる。このような場合にあっては、マイコン121−1は、ヘッド123を正常のトラック位置に移動させることが困難となる。さらに、ボールベアリング126の摩耗が任意の状態に進行すると、ヘッド123と上記トラック位置との位置合わせに障害を来たし、マイコン121−1が位置合わせを行なおうとするトラック位置とは異なるトラック位置のデータを読み書きすることとなり、HDDユニット120は、読み書きできなくなってしまうという問題点がある。
【0015】
また、コンピュータ装置110に備えられているSDDユニット112は、フラッシュメモリのデータの読み取り動作をDRAMやSRAMと同様にバイトやワード単位の小さいデータ単位で自由に行なうことが可能であるが、書き込み動作については、その特性上、書き換え回数に制限がある。従って、Windows(登録商標)系のOSの下で使用する場合、ディレクトリやFAT領域のような領域は他の領域に比べて書き換え回数が多いので、ディレクトリやFAT領域に使用されるフラッシュメモリの特定のブロックのみが、当該フラッシュメモリの書き換え回数の制限を越える可能性が高い。上記ブロックで上記書き換え回数の制限を超えるような場合が生じて異常が発生した場合には、SDDユニット112は、代替となるブロックにデータを書き換えるが、代替となるブロックの個数は有限である。よって、当該代替となる全てのブロックが繰り返し使用された結果、上記書換え回数の制限を越えた場合には、SDDユニット112は、読み書きできなくなってしまうという問題がある。
【0016】
このようなHDDユニット120やSDDユニット112等の記憶装置を搭載したコンピュータ装置を生産設備等で使用した場合、上述のような要因で読み書きができなくなり、HDDユニット120やSDDユニット112の寿命が尽きてしまったような場合には、コンピュータ装置を正常に作動させることができず、当該生産設備の稼動において致命的な障害を与えることになるという問題がある。
【0017】
従って、本発明の目的は、上記問題を解決することにあって、ハードディスクドライブユニットやシリコンディスクドライブユニット等の記憶装置を搭載したコンピュータ装置が、上記記憶装置の寿命が尽きて使用できなくなるという致命的な障害を回避することができるコンピュータ装置、当該コンピュータ装置を備える部品実装装置、記憶装置の寿命診断方法、及びハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラムを提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。
【0019】
本発明の第1態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置と、上記記憶装置への上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置とを備えるコンピュータ装置において、
上記中央処理装置による上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えることを特徴とするコンピュータ装置を提供する。
【0020】
本発明の第2態様によれば、上記記憶装置は、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニットであって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第1態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0021】
本発明の第3態様によれば、上記記憶装置は、上記磁気ディスクにおけるデータ記憶位置との位置合わせを行なうことにより、上記データの書き込み動作又は上記読み取り動作を行うヘッド部を備え、
上記計測されるデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間は、上記ハードディスクドライブユニットの使用時間の経過に伴って生じる上記磁気ディスクの保持位置の位置ズレによって増加する、上記データ記憶位置と上記ヘッド部との位置合わせに要する時間を含んでいる第2態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0022】
本発明の第4態様によれば、上記基準値は、上記ハードディスクドライブユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の2倍以上の時間である第2態様又は第3態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0023】
本発明の第5態様によれば、上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニットであって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第1態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0024】
本発明の第6態様によれば、上記シリコンディスクドライブユニットは、
上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部への上記データの書き込み動作の動作不良が発生した場合に、上記メモリ部に代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部と、
上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生を検出可能であって、当該検出が行なわれると、上記データの上記予備メモリ部への書き込み動作の実行と、上記エラーメモリ部へ上記書き込み動作の動作不良の発生回数の記憶動作の実行との夫々の動作制御を行なうメモリ制御部とを備え、
上記寿命診断手段は、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記寿命予測通知を行なう第5態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0025】
本発明の第7態様によれば、上記基準値は、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される第6態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【0026】
本発明の第8態様によれば、連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置として、第1態様から第7態様のいずれか1つに記載のコンピュータ装置を備える部品実装装置であって、
上記制御装置は、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部を備えていることを特徴とする部品実装装置を提供する。
【0027】
本発明の第9態様によれば、上記順次供給される基板を検出可能であり、当該検出により基板供給信号を上記コンピュータ装置に出力する基板供給検出部をさらに備え、
上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に上記基板供給検出部から入力される上記基板供給信号に基づいて、上記寿命診断処理を実行するとともに、上記供給された基板への部品実装動作の制御を開始する第8態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0028】
本発明の第10態様によれば、上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に入力される基板供給信号の入力回数を積算可能であって、当該入力回数が基準回数に達した場合に、上記寿命診断処理を実行する第9態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0029】
本発明の第11態様によれば、上記コンピュータ装置は、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させる第10態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0030】
本発明の第12態様によれば、上記基準値は、段階的に設定された複数の基準値であって、
上記寿命診断手段は、上記夫々の基準値のうちのいずれの基準値を超過しているかを認識可能に上記寿命予測通知を行ない、
上記表示部は、上記寿命予測通知に基づいて、上記記録装置の残りの予測寿命を、上記作業者に認識可能に表示させる第8態様から第11態様に記載の部品実装装置を提供する。
【0031】
本発明の第13態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置の寿命診断方法であって、
上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、
当該計測された上記動作不良パラメータと基準値とを比較し、
当該比較の結果、上記動作不良パラメータが上記基準値を超過している場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことを特徴とする記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0032】
本発明の第14態様によれば、上記記憶装置は、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニットであって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第13態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0033】
本発明の第15態様によれば、上記データの書き込み動作に要する時間を計測し、
上記計測された書き込み動作に要する時間が、上記基準値を超過しているかどうかを判断するとともに、
上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、
上記基準値が超過していると判断されるか、又は、上記夫々のデータが一致していないかのいずれか一方に該当する場合に、上記寿命予測通知を行なう第14態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0034】
本発明の第16態様によれば、上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニットであって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第13態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【0035】
本発明の第17態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するハードディスクドライブユニットと、上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置とを備えるコンピュータ装置に、
上記中央処理装置による上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作又は上記ハードディスクドライブユニットよりの上記データの読み取り動作に要する時間を計測する手順と、
上記計測された書き込み動作に要する時間又は上記読み取り動作に要する時間が、基準値を超過しているかどうかを判断する手順と、
当該判断の結果、上記超過していると判断した場合に、上記ハードディスクドライブユニットの寿命予測通知を行なう手順とを、実行させるためのハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラムを提供する。
【0036】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【0037】
(第1実施形態)
本発明の第1の実施形態にかかるコンピュータ装置200の模式的な構成を示すブロック図を図4に示す。なお、以降の説明において、コンピュータ装置200の構成のうち、従来のコンピュータ装置100の構成と同一の構成を有する部分については、その説明の理解を容易とすることを目的として、同じ符号を用いている。また、コンピュータ装置200は、主に生産設備において制御装置として(あるいはその一部として)用いられる装置であり、例えば、このような生産装置の一例としては、複数の部品を基板に実装する部品実装を行う部品実装装置がある。
【0038】
図4に示すように、コンピュータ装置200は、ハードディスク制御回路101と、基本OSやプログラム等のデータが読み取り可能に書き込まれて格納(記憶)される記憶装置の一例であるハードディスクドライブユニット(以降、HDDユニットという)120と、主メモリ105と、中央処理装置106と、外部入出力制御回路107とを備えている。また、コンピュータ装置200には、外部入出力制御回路107を介して、外部表示装置108(例えば、モニタ等)及び外部入力装置109(例えば、キーボード等)が接続されている。
【0039】
また、図4に示すように、HDDユニット120は、その記憶機能を担う記録媒体として、円盤状の磁気ディスク125を有しており、この磁気ディスク125に対するデータの入出力を行う制御基板121と、この磁気ディスク125を高速に回転させる回転駆動部の一例であるモータ124と、磁気ディスク125の円周方向に沿って形成された複数の線状(あるいは、細い帯状)のデータ記憶位置(領域)であるトラックに対してデータの読み取り動作及び書き込み動作を行なうヘッド123(ヘッド部の一例である)と、このヘッド123を制御基板121から指定されたトラック位置(すなわち、上記データ記憶位置)に移動させることにより、上記指定されたトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なう位置決め装置の一例であるアクチュエータ122とを備えている。
【0040】
また、HDDユニット120における制御基板121は、コンピュータ装置200内のハードディスク制御回路101との間で送受信されるデータを一時的に記憶する一時記憶メモリ121−2と、磁気ディスク125のデータ制御を行うメモリコントローラ121−3と、磁気ディスク125に対するデータの読み込み動作又は書き込み動作の解読を行なうとともに、アクチュエータ122の動作を制御して、指定のトラック位置に高速にヘッド123を移動させることにより、上記指定のトラック位置とヘッド123との位置合わせを行なって、読み込み動作又は書き込み動作の制御を行うメモリコントローラ121−3とを備えている。
【0041】
さらに、図4に示すように、磁気ディスク125とモータ124の間には、微小な大きさのボールベアリング126が複数配置されており、これらのボールベアリング126は、円盤状の磁気ディスク125を保持するとともに、その高速かつ同心円上の回転を案内する役割を担っている。
【0042】
このような構成のコンピュータ装置200においては、HDDユニット120の磁気ディスク125の内部に記憶されているデータより、上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取るとともに、一時的に主メモリ105に記憶させて、当該記憶されたデータを中央処理装置106で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路107に送信して、外部表示装置108で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、例えば、外部表示装置108で通知された情報から、あるいは、当該通知された情報に基づいて、必要な情報を外部入力装置109で入力する。中央処理装置106は、外部入力装置109で入力された情報を解読して、主メモリ105に格納されるデータを参照し、演算処理に必要なデータが主メモリ105内に存在しない場合、HDDユニット120の磁気ディスク125の内部に格納されているデータを主メモリ105に再び読み取って解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置108に表示する。このような手順を繰り返して行なうことにより、上記生産設備における制御が行なわれる。また、主メモリ105で演算された結果や、外部から入力されたデータ等は、必要に応じて、中央処理装置106により、HDDユニット120の磁気ディスク125の未使用領域のトラックに対して書き込まれ、また、当該書き込まれたデータ等は、必要に応じて、読み込み動作が行なわれる。
【0043】
次に、このような構成及び動作を行うコンピュータ装置200におけるHDDユニット120のその記憶装置としての寿命を予測診断する寿命診断方法について説明する。
【0044】
コンピュータ装置200は、このような寿命診断を行なう寿命診断手段を備えている。この寿命診断手段は、中央処理装置106によるHDDユニット120へのデータの書き込み動作、又は、HDDユニット120よりのデータの読み取り動作の実行におけるHDDユニット120の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、当該処理実行の結果、上記基準値を超過していると判断する場合に、HDDユニット120の寿命予測通知を行うという機能を有している。
【0045】
HDDユニット120は、その使用期間の経過とともに、磁気ディスク125の回転を案内するボールベアリング126が磨耗し、当該磨耗の進行に伴って、ボールベアリング126による磁気ディスク125の保持位置に位置ズレが生じ、磁気ディスク125の上記同心円上の回転を維持することができなくなる。このような場合にあっては、データが読み取られるべきトラック位置若しくはデータが書き込まれるべきトラック位置と、ヘッド123との位置合わせに要する時間が長くなるという問題がある。このような問題点を利用して、上記寿命診断手段は、磁気ディスク125に対するデータの読み取り動作に要する時間、あるいは、データの書き込み動作に要する時間を、HDDユニット120の上記動作不良パラメータとして、HDDユニット120の寿命診断処理を行なうものである。
【0046】
ここで、HDDユニット120の使用時間(期間)の経過(図示横軸)と、HDDユニット120の磁気ディスク125に対するデータの読み書き速度(すなわち、1秒間に読み書きできるデータ量(R/W速度ともいうものとする)、図示縦軸)との関係を示すグラフ形式の図を、図5に示し、図5を用いて、具体的に説明する。
【0047】
図5に示すように、HDDユニット120は、一定時間t1までは1秒間に読み書きできるデータ量が略一定となっており、その変化を示さないが、この一定時間t1を経過するとともに、1秒間に読み書きできるデータ量が減少する。これは、ボールベアリング126の摩耗が進行し、磁気ディスク125の回転軌跡が上記同心円上から位置ズレを生じ、ヘッド123のトラックヘの位置決めに時間がかかっていることを示している。従って、1秒間に読み書きできるデータ量が、例えば、任意の値Aを基準値として、当該基準値Aを下回るかどうかで、HDDユニット120の寿命が尽きる前に、当該寿命予測の判定を行うことができる。なお、上記1秒間に読み書きできるデータ量は、視点を逆にすれば、単位量のデータの読み取り動作又は書き込み動作に要する時間でもあることは明らかであり、これらのいずれを用いるような場合であってもよい。
【0048】
次に、コンピュータ装置200において、上記寿命診断手段の一例である寿命診断用プログラムにより、HDDユニット120の寿命診断処理が行なわれる場合のその具体的な手順について、図6に示すフローチャートを用いて説明する。なお、このような寿命診断用プログラムは、HDDユニット120の内部に記憶されている場合や、コンピュータ装置200のその他の記憶可能な部分に記憶されているような場合であってもよい。また、この寿命診断用プログラムは、CD等の記録媒体に記録された状態で、コンピュータ装置200にインストールされる場合や、通信手段等を用いて他の装置から入力されるような場合であってもよい。また、当該寿命診断用プログラムは、その使用される対象等の特性や状況に応じて、プログラムの内容の一部を書き換えたり、その機能を高めるためのバージョンアップを行ったりすることもできる。
【0049】
図6に示すように、まず、コンピュータ装置200において、中央処理装置106の内部にあるタイマーの一例である内部クロック(図示しない)を利用し、任意の時刻になった場合あるいは外部からの起動指令等に基づいて、HDDユニット120の寿命診断用プログラムを起動する。
【0050】
次に、当該起動された寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106により、HDDユニット120の磁気ディスク125の複数のトラックのうちの空き領域のトラックに、任意サイズのデータの書き込み動作を開始する(ステップS1)。この書き込み動作の開始とともに、例えば、中央処理装置106の上記内部クロックあるいはその他のタイマー等を用いて、上記書き込み動作に要する時間を計測する(ステップS2)。その後、当該書き込み動作が終了したことが確認されると、上記時間の計測も終了する(ステップS3)。
【0051】
次に、中央処理装置106によって、HDDユニット120の磁気ディスク125に上記書き込まれたデータの読み取り動作が実行される(ステップS4)。当該読み取り動作により読み取られたデータは、主メモリ105に一時的に読み取られるとともに、先の書き込み動作にて書き込まれるべきデータ(当該データは、主メモリ105に一時的に保管されている)と一致しているかどうか、中央処理装置106による照合が行なわれる(ステップS5)。
【0052】
この中央処理装置106における当該照合の結果、互いのデータが一致しているものと判断された場合には、次に、上記計測された書き込み動作に要した時間が、予め設定されて、主メモリ105等のコンピュータ装置200内の記憶部に入力されて保持されている基準値との比較が行なわれ、上記計測された時間が上記基準値を超過しているかどうかが判断される(ステップS6)。なお、この場合、上記書き込み動作が行われたデータの容量と、上記計測された時間とにより、単位データ量当りの書き込みに要する時間が、中央処理装置106にて算出されて、単位データ量当りの書き込みに要する時間の基準時間を上記基準値として、両者の比較判断が、中央処理装置106にて行なわれる。なお、上記基準値は、例えば、HDDユニット120の使用初期における上記書き込み動作に要する時間(すなわち、初期時間)に基づいて決定することができる。例えば、上記基準値を、このような初期時間の2倍以上の時間と設定することができる。
【0053】
このステップS6における比較判断の結果、上記計測時間が上記基準値を超過していないと判断された場合には、HDDユニット120の寿命が尽きるまでには、まだ十分な余裕があるものとして、寿命診断処理が終了する。
【0054】
一方、ステップS6における比較判断の結果、上記計測時間が上記基準値を超過しているものと判断された場合には、HDDユニット120の寿命が尽きる時期が迫って来ている(すなわち、余命が少ない)ものとして、寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106より、外部入出力制御回路107に寿命予測通知を出力する(ステップS7)。この寿命予測通知は、外部入出力制御回路107より外部表示装置108に出力されて、外部表示装置108にて当該寿命予測通知が表示あるいは通知される。これにより、上記生産装置の作業者に、HDDユニット120の寿命が尽きる時期が迫ってきていることを、認識させることができる。
【0055】
また、ステップS5において、上記書き込まれるべきデータと上記読み取られたデータとの照合の結果、両者が一致していないものと判断された場合には、上記書き込まれたデータを正常に読み取ることができない状態に磁気ディスク125がなっているものと推定して、中央処理装置106より、外部入出力制御回路107を介しての外部表示装置108への寿命予測通知を行なって、上記作業者に寿命予測通知を認識させることができる(ステップS7)。
【0056】
なお、上記ステップS6における上記計測時間と上記基準値との比較判断を行なうような場合に代えて、上記計測された時間と、上記書き込まれたデータの容量に基づいて、1秒間に書き込まれるデータ量(すなわち、R/W速度)を、中央処理装置106にて算出し、予め入力されているこのR/W速度の基準速度(例えば、図5における速度A)を基準値として、両者の比較判断を行なうような場合であってもよい。このような場合にあっては、ステップS6において、上記1秒間に書き込まれるデータ量が、上記基準値を下回っているかどうかが判断されて、下回っている場合には、ステップS7にて、寿命予測通知が行なわれる。
【0057】
また、上記寿命診断用プログラムに基づく、寿命診断処理の判断等(図6のステップS5やステップS6における判断等)は、コンピュータ装置200の中央処理装置106にて行なわれる場合について説明したが、このような場合のみに限定されるものではない。例えば、HDDユニット120のマイコン121−1に中央処理装置106と同様な機能を備えさせて、このマイコン121−1にて上記判断等を行なうような場合であってもよい。
【0058】
また、例えば、生産装置におけるコンピュータ装置200の機能障害の発生によって当該生産に与える障害の大きさや、HDDユニット120の交換に要する時間等を考慮して、上記基準値を設定し、上記寿命予測通知が出力されたときのHDDユニット120の余命の長さを調整することができる。
【0059】
さらに、上記寿命診断処理においては、上記基準値は1点のみしか設定していないが、このような場合に代えて、複数の基準値を段階的に設定し、上記計測された時間が、どの段階の基準値を超過しているのかを比較判断することにより、HDDユニット120の余命の度合いを含めた上記寿命予測通知を行なうような場合であってもよい。
【0060】
また、上述のように、HDDユニット120への読み込み動作又は書き込み動作に要する時間に基づいて、HDDユニット120の寿命を診断するような場合に代えて、当該読み込み動作時や書き込み動作時におけるHDDユニット120より発せられる音圧レベルや周波数成分を検出することにより、当該寿命を診断するような場合であってもよい。HDDユニット120は、ボールベアリング126を用いた機構系を用いて磁気ディスク125の回転駆動を行っており、ボールベアリング126が磨耗するに従って、当該回転駆動により発生する音圧レベルが大きくなったり、周波数成分が変化したりするからである。従って、このような場合にあっては、上記音圧レベルや上記周波数成分を動作不良パラメータの一例とすることができる。
【0061】
上記第1実施形態によれば、HDDユニット120が、その寿命が尽きて、記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、寿命診断用プログラムを用いて寿命診断処理を行なうことにより、HDDユニット120の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。従って、HDDユニット120の当該寿命が尽きることによる突然のコンピュータ装置200の機能停止や機能障害の発生による生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【0062】
具体的には、HDDユニット120が記録媒体として備える円盤状の磁気ディスク125は、ベアリング126によりその同心円上の回転が案内されているが、その使用期間の経過とともに、ベアリング126の磨耗等により、上記同心円上の回転に位置ズレが生じ、磁気ディスク125のトラックに対するデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間が長くなってくるという特徴を利用することにより、上記寿命診断処理を行なっている。すなわち、HDDユニット120の動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は上記データの読み取り動作に要する時間を用いて、当該時間を計測して、計測された時間が基準値を超過しているかどうかを比較判断することにより、上記寿命診断処理を行なうことができる。
【0063】
さらに、コンピュータ装置200にて、上記寿命診断処理の結果、上記計測された時間が上記基準値を超過しているものと判断されると、寿命予測通知を出力して、例えば、外部表示装置108に表示させることにより、上記生産設備の作業者に、HDDユニット120の寿命が迫っていることを認識させることができる。これにより、上記作業者は、上記生産装置の連続的な安定した稼動を担保するために、例えば、コンピュータ装置200にて寿命が迫っているHDDユニット120の交換や、記憶されているデータのバックアップを行なう等の必要な措置を採ることができる。
【0064】
また、上記寿命診断処理においては、上記計測された時間と上記基準値との比較判断に加えて、磁気ディスク125に上記書き込み動作を行った後に、当該書き込まれたデータの読み取り動作を行って、書き込まれるべきデータと読み込まれたデータとの照合を行ない、当該照合の結果、両データが一致していないと判断された場合にも、HDDユニット120が、書き込み動作又は読み取り動作を正常に行なうことができない状態にあるものと推定して、上記寿命予測通知を行なうことにより、より信頼性の高い診断処理を行なうことができる。
【0065】
(第2実施形態)
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その他種々の態様で実施できる。例えば、本発明の第2実施形態にかかるコンピュータ装置300の模式的な構成を示すブロック図を図7に示す。なお、以降の説明において、コンピュータ装置300の構成のうち、従来のコンピュータ装置110、あるいは上記第1実施形態のコンピュータ装置200と同一の構成を有する部分については、その説明の理解を容易とすることを目的として、同じ符号を用いている。また、コンピュータ装置300は、主に生産設備において制御装置として用いられる装置である。
【0066】
図7に示すように、コンピュータ装置300は、シリコンディスク制御回路111と、基本OSやプログラム等のデータが読み取り可能に書き込まれて格納(記憶)される記憶装置の一例であるシリコンディスクドライブユニット(以降、SDDユニットという)312と、主メモリ105と、中央処理装置106と、外部入出力制御回路107とを備えている。また、コンピュータ装置300には、外部入出力制御回路107を介して、外部表示装置108及び外部入力装置109が接続されている。
【0067】
また、SDDユニット312は、複数のブロックと呼ばれる記憶領域を有し、かつ、データの書き込みによる記憶の際に、これらのブロック単位でデータの書き換えを行なうフラッシュメモリを記録媒体としている。また、図7に示すように、SDDユニット312は、上記記録媒体であって、上記データの一例であるファイルデータを記憶するメモリ部の一例であるデータメモリ312−5と、上記データメモリ312−5への上記データの書き込み動作の動作エラー(動作不良)が発生した場合に、データメモリ312−5における上記動作エラーの発生したブロックに代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部の一例であるバッファメモリ312−3と、データメモリ312−5の上記動作エラーの情報を記憶するエラーメモリ部の一例であるエラーメモリ312−4とを備えている。さらに、SDDユニット312は、データメモリ312−5、バッファメモリ312−3、及びエラーメモリ312−4に対するデータの読み取り動作、書き込み動作、及び消去動作を行うメモリ制御部の一例であるメモリコントローラ312−2と、このメモリコントローラ312−2を制御するマイコン312−1とを備えている。
【0068】
このようなSDDユニット312においては、コンピュータ装置300の中央処理装置106で演算された結果を、SDDユニット312にデータメモリ312−5にブロック単位で書き込み動作を行う際に、このデータメモリ312−5への上記書き込み動作の動作エラーが発生した場合には、データメモリ312−5内における上記書き込み不良を起こしたブロックのアドレスをエラーメモリ312−4に記憶させるとともに、バッファメモリ312−3にブロック単位で当該データを書き込むことにより、SDDユニット312の寿命の延命を行うことができる。さらに、SDDユニット312におけるエラーメモリ312−4には、データメモリ312−5の上記書き込み不良の発生回数(すなわち、エラー発生回数)をカウント(積算して記憶)するエラーカウントメモリ312−6が備えられている。
【0069】
次に、このような構成を有するコンピュータ装置300におけるSDDユニット312のその記憶装置としての寿命を予測診断する寿命診断方法について説明する。
【0070】
コンピュータ装置300は、中央処理装置106によるSDDユニット312へのデータの書き込み動作又はSDDユニット312よりのデータの読み取り動作の実行におけるSDDユニット312の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えている。
【0071】
SDDユニット312は、その使用期間の経過とともに、その記録媒体であるフラッシュメモリのブロックにおいて、特に、データメモリ312−5のブロックにおいて、書き換え回数の制限を超えるような場合が発生することとなる。このようにデータメモリ312−5におけるブロックにて書き換え回数の制限を越えた場合には、動作エラー(動作不良)が発生し、この動作エラーの発生に基づいて、バッファメモリ312−3のブロックを代替ブロックとしてデータの書き換えが行なわれることとなるが、代替となるブロックの個数は有限であり、代替となるブロックが全て無くなったときに、SDDユニット312は、データの記憶動作を行うことができず、その寿命が尽きることとなる。このような事態の発生を回避するため、上記動作エラーの発生回数をエラーカウントメモリ312−6にてカウントし、カウントされたエラー発生回数が予め設定された基準値を超過することにより、上記代替ブロックの残り個数が少なくなっている状態にあり、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断するというのが、本第2実施形態の寿命診断方法の概念である。
【0072】
ここで、SDDユニット312の使用時間(期間)の経過(図示横軸)と、SDDユニット312のエラーメモリ312−4におけるエラーカウントメモリ312−6にてカウントされた動作エラーの発生回数(図示縦軸)との関係を示すグラフ形式の図を図8に示し、図8を用いて具体的に説明する。
【0073】
図8に示すように、SDDユニット312の使用初期においては、データメモリ312−5の夫々のブロックへのデータの書き込みの際に動作エラーは発生しないが、時間の経過と共にブロックヘの書き込み回数が増加し、ある時間t2を境に書き込みエラーが発生する。これは、データメモリ312−5内の夫々のブロックのうちの一部のブロックが書き込み回数の制限値を超えるような状況となったためである。SDDユニット312におけるデータメモリ312−5が有するブロック数やバッファメモリ312−3が有するブロック数は、予め固定された値である。従って、このような夫々が有するブロック数を考慮して、動作エラーの発生回数がある基準回数Bを基準値として、この基準値を超過したときに、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が近づいているものと寿命診断を行なうことができる。
【0074】
次に、コンピュータ装置300において、上記寿命診断手段の一例である寿命診断用プログラムにより、SDDユニット312の寿命診断処理を行なう場合の具体的な手順について、図9に示すフローチャートを用いて説明する。なお、このような寿命診断用プログラムは、SDDユニット312の内部に記憶されている場合や、コンピュータ装置300のその他の記憶可能な部分に記憶されているような場合であってもよい。
【0075】
図9に示すように、まず、コンピュータ装置300において、中央処理装置106の内部にあるタイマーの一例である内部クロック(図示しない)を利用し、任意の時刻になった場合あるいは外部からの起動指令等に基づいて、SDDユニット312の寿命診断用プログラムを起動する。
【0076】
次に、当該起動された寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106により、SDDユニット312のエラーメモリ312−4の内部のエラーカウントメモリ312−6に記憶されているエラー発生回数を読み取り、主メモリ105に一時的に記憶させる(ステップS11)。
【0077】
次に、予め設定されて、主メモリ105等のコンピュータ装置300内の記憶部等に入力されて保持されている基準値と、上記エラー発生回数との比較が行なわれ、上記エラー発生回数が上記基準値を超過しているかどうかが判断される(ステップS12)。
【0078】
このステップS12における比較判断の結果、上記エラー発生回数が上記基準値を超過していないと判断された場合には、SDDユニット312の寿命が尽きるまでには、まだ十分な余裕があるものとして、寿命診断処理が終了する。
【0079】
一方、ステップS12における比較判断の結果、上記エラー発生回数が上記基準値を超過しているものと判断された場合には、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が迫って来ている(すなわち、余命が少ない)ものとして、寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置106より、外部入出力制御回路107に寿命予測通知を出力する(ステップS13)。この寿命予測通知は、外部入出力制御回路107より外部表示装置108に出力されて、外部表示装置108にて当該寿命予測通知が表示あるいは通知される。これにより、上記生産装置の作業者に、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が迫ってきていることを、認識させることができる。なお、当該寿命予測通知を出力した後、上記寿命診断プログラムは終了する。
【0080】
なお、上記寿命診断用プログラムに基づく、寿命診断処理の判断等(図9のステップS12における判断等)は、コンピュータ装置300の中央処理装置106にて行なわれる場合について説明したが、このような場合のみに限定されるものではない。例えば、SDDユニット312のマイコン312−1に中央処理装置106と同様な機能を備えさせて、このマイコン312−1にて上記判断等を行なうような場合であってもよい。
【0081】
また、上記基準値は1点のみを設定する場合に限定されず、段階的に複数の基準値を設定し、作業者がSDDユニット312の余命を認識可能とするような寿命予測通知が行なわれるような場合であってもよい。
【0082】
また、SDDユニット312のデータメモリ312−5におけるブロックがデータ書き換え回数の制限を越えた場合の動作エラーの発生回数を、エラーカウントメモリ312−6にてカウントしていることより、データメモリ312−5が有するブロック数に、当該エラー発生回数がカウントされた場合に、SDDユニット312の寿命が尽きるものと考えることにより、上記基準値をデータメモリ312−5のブロック数に基づいて設定することができる(例えば、当該ブロック数の80%の値とする等)。
【0083】
上記第2実施形態によれば、コンピュータ装置300が備える記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするSDDユニット312であるような場合であっても、上記寿命診断手段として、データメモリ312−5におけるブロックの動作エラー発生回数を動作不良パラメータとする寿命診断用プログラムを用いることにより、SDDユニット312の寿命が迫って来ているかどうかの寿命診断処理を行なうことができる。
【0084】
具体的には、SDDユニット312のエラーメモリ312−4に、上記動作エラーの発生回数を積算して記憶するエラーカウントメモリ312−6を内蔵させて、このエラーカウントメモリ312−6にて積算されたエラー発生回数が、予め設定されたエラー発生回数の基準回数である基準値を超過していると判断された場合に、寿命予測通知を出力し、SDDユニット312の寿命が尽きる時期が近づいていることを上記生産装置の作業者に認識させることができる。
【0085】
(第3実施形態)
次に、本発明の第3実施形態にかかるコンピュータ装置400について説明する。コンピュータ装置400は、上記第1実施形態のコンピュータ装置200又は上記第2実施形態のコンピュータ装置300と同じ構成及び機能を有しており、HDDユニット120又はSDDユニット312の記憶装置の寿命診断処理を行うことが可能となっている。また、図10のブロック図に示すように、コンピュータ装置400は、生産装置の一例である部品実装装置501の制御装置500に備えられている。また、コンピュータ装置400における図示しない外部入出力制御回路には、表示部の一例である外部表示装置108及び外部入力装置109が接続されるとともに、部品実装装置501の夫々の構成部との制御信号の受渡しを行なう信号ケーブル502が接続されている。
【0086】
部品実装装置501は、連続的に順次供給される基板の複数に対して、当該基板の表面における複数の部品実装位置に複数の部品を実装し、当該部品実装が終了した基板を連続的に順次排出するという部品実装動作を行なう生産装置である。従って、例えば、部品実装装置501に、部品が実装されるべき基板が搬送されて供給されると、部品実装装置501に備えられた基板供給検出部の一例である基板認識センサ503により、当該基板の供給が検出され、この検出信号(基板供給信号)が信号ケーブル502を介して、制御装置500におけるコンピュータ装置400に入力される。コンピュータ装置400においては、当該信号の入力が行われたことをもって、部品実装装置501への基板の供給が行われたものと認識し、当該基板に対する夫々の部品の部品実装動作の制御を開始する。その後、部品実装動作が完了し、部品実装済みの基板が搬送されて排出されると、次の基板が新たに供給されて、基板認識センサ503により当該基板の供給が検出されることとなる。このような動作が繰り返して順次行なわれることにより、部品実装装置501において、連続的に供給される夫々の基板に対する連続的な部品実装動作が行なわれることとなる。
【0087】
このような構成及び動作を行う部品実装装置501において、制御装置500が備えるコンピュータ装置400の記憶装置(HDDユニット又はSDDユニット)に対する寿命診断処理を行なう方法について、図11に示す寿命診断処理の手順を示すフローチャートを用いて説明する。
【0088】
図11に示すように、コンピュータ装置400においては、基板供給信号の入力待ちの状態とされており(ステップS21)、基板入力信号が入力されるまでこの状態が保たれる(ステップS22)。
【0089】
部品実装装置501において、基板が搬送されて入力されると、基板入力信号が信号ケーブル502を通じて、コンピュータ装置400に入力されて、図示しない中央処理装置にて当該入力が検出される(ステップS22)。当該入力が検出されると、コンピュータ装置400による、すなわち、制御装置500による部品実装装置501の上記供給された基板に対する部品実装動作の制御か開始される(ステップS23)。
【0090】
それとともに、この基板供給信号の入力回数、すなわち、基板の供給枚数が積算されて、例えば、上記記憶装置に読み取り可能に記憶される(ステップS24)。
【0091】
その後、当該積算された基板供給信号の入力回数が読み取られて、例えば、図示しない主メモリ等に一時的に記憶され、予め設定されて主メモリ等に記憶されている基板供給信号の設定回数(基準回数)と、上記積算回数とが比較判断が行なわれる(ステップS25)。
【0092】
当該比較判断において、上記積算回数が上記設定回数に達していないと判断された場合には、ステップS21に戻り、次に基板供給信号が入力されるまで待機状態とされる。
【0093】
一方、ステップS25における比較判断において、上記積算回数が上記設定回数以上となっていると判断された場合には、上記第1実施形態又は上記第2実施形態の寿命診断処理が実行される。当該寿命診断処理の結果、上記記憶装置の寿命が尽きるまでの期間が残り少ないと判断された場合には、寿命予測通知が行なわれ、外部表示装置108を通じて、当該通知を作業者に認識させることができる。
【0094】
診断結果の有無を問わず、上記寿命診断処理が終了すると、これまでに積算されて記憶されていた基板供給信号の入力回数の積算値がリセットされて0(ゼロ)とされる。このようにして、部品実装装置501において、コンピュータ装置400が備える記憶装置の寿命診断処理が行なわれる。
【0095】
図11のステップS25における上記比較判断の基準となる積算回数は、部品実装装置501における連続的な部品実装の重要性や、コンピュータ装置400の記憶装置の寿命が尽きる頻度や期間等に応じて、自由に設定することができる。例えば、上記積算回数を1回と設定する場合には、部品実装装置501への基板の供給が行なわれる毎に、上記寿命診断処理が行なわれることとなる。
【0096】
また、上記積算回数が常に設定された値に固定された状態で上記比較判断が行なわれるような場合のみに限定されるものではない。例えば、このような場合に代えて、図11のステップS26の寿命診断処理において、段階的に設定された複数の基準値(上記第1実施形態の書き込み時間や上記第2実施形態のエラー発生回数)を設けて、記憶装置の寿命が尽きる時期までの近接度を検出することにより、当該近接度に応じて、近接度が高くなる(すなわち、余命が少なくなる)に従って、上記基板供給信号の積算回数の上記設定値を少なくするような場合であってもよい。このような場合にあっては,上記記憶装置の余命が十分にあるときには、寿命診断処理を実行する頻度を少なくして、より効率的な部品実装の制御を行ないながら、上記寿命が尽きる時期への近接度が高くなるに従って、寿命診断処理を実行する頻度を高くして、より確実に寿命診断を行なうことができるという効果がある。
【0097】
なお、上記説明においては、一例として、部品実装装置501への基板の供給の回数(枚数)を、上記寿命診断処理を実行するかどうかの判断基準となるデータとしたが、このような場合に代えて、その他様々なデータを上記判断基準として用いることができる。このような上記判断基準となるデータの例としては、部品実装装置501の稼動時間や、部品の実装数量等を用いることもできる。
【0098】
また、上記基板が個別に順次供給されるような場合に代えて、上記基板が、連続的に形成されたテープ状基板であるような場合であってもよい。このようなテープ状基板においては、複数の部品が実装される部品実装領域が、テープ状の長手方向に沿って、連続的に形成されている。そのため、上記基板供給信号は、夫々の上記部品実装領域が部品実装装置501に部品実装が可能に供給されたことが検出されることにより、コンピュータ装置400に出力される。このような基板供給信号が入力されることにより、上記基板が個別に供給されるような場合と同様に、コンピュータ装置400における寿命診断処理を行うことができる。
【0099】
上記第3実施形態によれば、連続的かつ安定した動作制御が要求される部品実装装置501において、その制御装置500に備えられるコンピュータ装置400の記憶装置の寿命診断処理を行うタイミングを、部品実装装置501への基板の供給が行なわれる回数に応じて決定することで、コンピュータ装置400における部品実装の動作制御の処理量に擬似的に応じた状態で、上記寿命診断処理を行なうことができる。従って、上記記憶装置の寿命が突然やって来て、コンピュータ装置400が機能しなくなり、部品実装装置501の部品実装に障害が生じるという事態を、予め確実に予測することができる。よって、部品実装装置501における連続的かつ安定した部品実装の制御を行なうことができるコンピュータ装置を提供することができる。
【0100】
また、上記記憶装置の寿命予測通知を受けた作業者は、その後の生産スケジュール等を考慮しながら、計画的に、コンピュータ装置400の記憶装置の交換や記憶されているデータのバックアップ作業等を行なうことができるため、当該生産スケジュールに与える影響を最小限に抑えることができる。よって、このような寿命診断処理を行なうことにより、より効率化された部品実装を行なうことができる部品実装装置を提供することができる。
【0101】
【発明の効果】
本発明の上記第1態様によれば、コンピュータ装置が備える記憶装置が、その寿命が尽きて、上記記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、当該コンピュータ装置に備えさせている寿命診断手段を用いて、その寿命の診断である寿命診断処理を行なうことにより、上記記憶装置の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。
【0102】
具体的には、上記コンピュータ装置における中央処理装置による上記記憶装置へのデータの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する上記寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことができる。
【0103】
従って、上記寿命予測通知により上記記憶装置の余命が予め作業者等に認識されることにより、上記記憶装置の当該寿命が尽きることによる突然の上記コンピュータ装置の機能停止や機能障害の発生による問題の発生、例えば、上記コンピュータ装置が生産装置の生産動作の制御を行っているような場合にあっては、当該生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【0104】
本発明の上記第2態様又は上記第3態様によれば、上記記憶装置が、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニット(以降、HDDユニットという)であるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過している場合に、上記寿命予測通知を行なうことにより、当該HDDユニットの使用期間に応じて、上記磁気ディスクの保持位置に位置ズレが生じてその回転の軌跡に位置ズレが生じ、上記書き込み動作及び上記読み取り動作に要する時間が長くなる傾向にあるという上記HDDユニットの特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0105】
本発明の上記第4態様によれば、上記基準値として、上記HDDユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の2倍以上の時間を用いることにより、上記HDDユニットへの読み書きに要する時間が長くなることによる制御動作効率の低下の許容範囲と、上記HDDユニットの寿命が尽きるタイミングとを十分考慮した上記寿命予測通知を行なうことができる。
【0106】
本発明の上記第5態様によれば、上記記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニット(以降、SDDユニットという)であるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なうことにより、ブロック単位で上記データの記憶を行う上記フラッシュメモリにおいては、上記ブロックへの上記データの書き換え回数に制限があり、当該制限を超えると、上記データの書き込み動作において動作不良が発生するという特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0107】
本発明の上記第6態様によれば、上記SDDユニットにおいて、上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部と、上記メモリ部における書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部とが備えられ、上記寿命診断手段が、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記基準値との比較判断を行なって、上記寿命予測通知を行なうことにより、確実な上記寿命診断処理を行なうことができる。
【0108】
本発明の上記第7態様によれば、上記比較判断の基準となる上記基準値が、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される、例えば、上記夫々のブロック数よりも小さく設定されることにより、上記SDDユニットの寿命が尽きる前に、確実に上記寿命予測通知を行なうことができ、上記SDDユニットの突然の機能停止という問題の発生を確実に回避することができる。
【0109】
本発明の上記第8態様によれば、連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置として、このような上記コンピュータ装置が備えられており、さらに、上記制御装置が、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部を備えていることにより、上記コンピュータ装置が備える上記記憶装置の寿命が尽きる時期を予め予測して、上記表示部を介して上記作業者に認識させることができる。よって、上記記憶装置の寿命により突然に上記コンピュータ装置が機能しなくなり、上記部品実装装置の稼動に障害を来たすという事態を、予め計画的に回避することができる。従って、連続的な生産のための稼動が求められる上記部品実装装置における部品実装を確実に行なうことができ、その信頼性を向上させることができる。
【0110】
本発明の上記第9態様によれば、連続的に順次供給される上記夫々の基板に対して、上記夫々の部品の実装動作が行なわれるという上記部品実装装置の特性を用いて、その部品実装動作の制御を行なう上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の実行を、上記部品実装装置に上記基板が供給される毎に、上記コンピュータ装置に入力される基板供給信号に基づいて行なうことにより、確実に上記記憶装置の寿命を予測することができ、連続的に行なわれる部品実装をより安定して行なうことができる。
【0111】
本発明の上記第10態様によれば、上記コンピュータ装置が、上記入力される上記基板供給信号の入力回数を積算可能とされていることにより、当該入力回数が予め定められた基準回数に達した場合に上記寿命診断処理を実行することにより、当該寿命診断処理の実行による上記コンピュータ装置における処理動作の負担を軽減しながら、最適な上記実行の頻度を設定することができる。
【0112】
本発明の上記第11態様によれば、上記コンピュータ装置が、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させることにより、上記記憶装置の余命に応じて、上記余命が長い場合には、上記寿命診断処理の実行の頻度を少なくして、上記実行による上記コンピュータ装置への処理動作の負担を軽減して効率的な部品実装動作の制御を行うことができ、一方、上記余命が少なくなってきた場合には、上記寿命診断処理の実行の頻度を多くして、上記実行により確実に余命が尽きる時期を検出して作業者に認識させることができる。従って、効率的な部品実装動作の制御と、装置の連続的稼動の担保のための確実な寿命予測を両立して行なうことができ、生産性が高められた部品実装装置を提供することができる。
【0113】
本発明の上記第12態様によれば、上記寿命診断処理における判断基準となる上記基準値として、段階的に設定された複数の基準値を用いることにより、上記記憶装置の余命の長さを、段階的に検出することができ、作業者に余命の長さを認識させることができる。よって、当該作業者は、上記認識により、より計画的に、上記記憶装置の交換やデータのバックアップ等の作業予定を立てることができ、信頼性のある連続稼動を行うことができる部品実装を、計画的に行なうことができる。
【0114】
本発明の上記第13態様によれば、記憶装置が、その寿命が尽きることにより、上記記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、その寿命予測のの診断を行なうことによって、上記記憶装置の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。
【0115】
具体的には、上記記憶装置へのデータの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことができる。
【0116】
従って、上記寿命予測通知により上記記憶装置の余命が予め作業者等に認識されることにより、上記記憶装置の当該寿命が尽きることによる上記記憶装置が備えられているコンピュータ装置等の突然の機能停止や機能障害の発生による問題の発生、例えば、上記コンピュータ装置が生産装置の生産動作の制御を行っているような場合にあっては、当該生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【0117】
本発明の上記第14態様又は上記第15態様によれば、上記記憶装置が、磁気ディスクを記録媒体とするHDDユニットであるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過している場合に、上記寿命予測通知を行なうことにより、当該HDDユニットの使用期間に応じて、上記磁気ディスクの保持位置に位置ズレが生じてその回転の軌跡に位置ズレが生じ、上記書き込み動作及び上記読み取り動作に要する時間が長くなる傾向にあるという上記HDDユニットの特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0118】
さらに、上記基準値を超過しているかどうかの比較判断に加えて、上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、上記照合の結果、一致していないと判断された場合にも、上記書き込み動作又は上記読み取り動作を正常に行なうことができない状態にあるものとして、上記寿命予測通知を行なうことにより、より確実に上記HDDユニットの寿命診断を行なうことができる。
【0119】
本発明の上記第16態様によれば、上記記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするSDDユニットであるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なうことにより、ブロック単位で上記データの記憶を行う上記フラッシュメモリにおいては、上記ブロックへの上記データの書き換え回数に制限があり、当該制限を超えると、上記データの書き込み動作において動作不良が発生するという特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【0120】
本発明の上記第17態様によれば、上記第14態様の寿命診断方法を夫々の手順を行なうことができるような寿命診断用プログラムを用いることにより、上記第14態様による効果と同様な効果を得ることができる。特に、このようなプログラムを既存のHDDユニット等にインストールすることで、ハード的な構成を変更することなく、上記HDDユニットの寿命診断を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の生産設備に搭載されるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図である。
【図2】 従来の生産設備に搭載されるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記憶装置としてSDDユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図3】 (A)は、従来のコンピュータ装置におけるHDDユニットの模式的な内部構造を示すブロック図であり、(B)は、(A)のHDDユニットが備える磁気ディスクの部分拡大図である。
【図4】 本発明の第1実施形態にかかるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記録装置としてHDDユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図5】 図4のHDDユニットにおける使用時間の経過とR/W速度との関係を示すグラフ形式の図である。
【図6】 図4のHDDユニットにおける寿命判断処理の手順を示すフローチャートである。
【図7】 本発明の第2実施形態にかかるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記憶装置としてSDDユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図8】 図7のSDDユニットにおける使用時間の経過とエラー発生回数との関係を示すグラフ形式の図である。
【図9】 図7のSDDユニットにおける寿命判断処理の手順を示すフローチャートである。
【図10】 本発明の第3実施形態にかかるコンピュータ装置をその制御装置に備える部品実装装置の模式的な構成を示すブロック図である。
【図11】 図10のコンピュータ装置における寿命診断処理を実行する手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
100…コンピュータ装置、101…ハードディスク制御回路、102…基本ドライブ、103…バックアップ用ドライブ、4…ドライブユニット選択回路、105…主メモリ、6…中央処理装置、7…外部入出力制御回路、8…外部表示装置、9…外部入力装置、110…コンピュータ装置、111…シリコンディスク制御回路、112…シリコンディスクドライブユニット、120…ハードディスクドライブユニット、121…制御基板、121−1…マイコン、121−2…一時記憶メモリ、121−3…メモリコントローラ、122…アクチュエータ、123…ヘッド、124…モータ、125…磁気ディスク、126…ボールベアリング、127…同心円上の軌跡、128…磨耗進行時の軌跡、200…コンピュータ装置、300…コンピュータ装置、312…シリコンディスクドライブユニット、312−1…マイコン、312−2…メモリコントローラ、312−3…バッファメモリ、312−4…エラーメモリ、312−5…データメモリ、312−6…エラーカウントメモリ、400…コンピュータ装置、500…制御装置、501…部品実装装置、502…信号ケーブル、503…基板認識センサ。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a computer apparatus that performs predictive diagnosis of a functional lifetime of a storage device included in a computer apparatus that is responsible for control in a production facility or the like, and a storage device lifetime diagnosis method.
[0002]
[Prior art]
A computer device mounted on a conventional production facility, such as a component mounting apparatus, has a hard disk drive unit (hereinafter abbreviated as an HDD unit), which is a large-capacity storage device having a magnetic disk as a recording medium. Yes. Such an HDD unit is mounted on the production facility, so that it can be affected by external vibrations caused by production, etc., so that its functional operation can be shortened. However, there is a possibility of being destroyed, and stability for continuously and stably producing in the production facility is required. In order to meet such demands, some of such conventional computer apparatuses are provided with spare HDD units, and a total of two HDD units are mounted. (For example, refer to Patent Document 1).
[0003]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of such a conventional computer apparatus. As shown in FIG. 1, a
[0004]
In the
[0005]
Some computer devices mounted in conventional production facilities include a silicon disk drive unit (hereinafter abbreviated as an SDD unit) as a large-capacity storage device. Although the SDD unit uses a flash memory as an internal recording medium, such a flash memory has a limitation in the number of times of data writing due to its characteristics, but makes full use of its function. Therefore, in many cases, the number of times of writing is extended to the maximum within the restrictions.
[0006]
FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of such a computer apparatus. In FIG. 2, the same reference numerals are used for portions having the same configuration as the
[0007]
In such a
[0008]
Here, the internal structure of the
[0009]
In such an
[0010]
[Patent Document 1]
JP-A-11-249824
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
However, the HDD unit such as the
[0012]
A schematic explanatory view showing a schematic internal structure of the HDD unit is shown in FIG. 3A, and such a problem will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 3A, the
[0013]
The
[0014]
Here, FIG. 3B shows a partially enlarged schematic explanatory view of the
[0015]
In addition, the
[0016]
When such a computer device equipped with a storage device such as the
[0017]
Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problem, and a computer device equipped with a storage device such as a hard disk drive unit or a silicon disk drive unit cannot be used due to the end of the life of the storage device. It is an object of the present invention to provide a computer device capable of avoiding a failure, a component mounting apparatus including the computer device, a storage device life diagnosis method, and a hard disk drive unit life diagnosis program.
[0018]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.
[0019]
According to the first aspect of the present invention, data can be written, a storage device that stores the written data in a readable manner, and a write operation and a read operation of the data to the storage device can be executed. And a computer device comprising a central processing unit that performs arithmetic processing of the data,
The operation failure parameter of the storage device is measured in the execution of the data write operation to the storage device by the central processing unit or the data read operation from the storage device, and the measured operation failure parameter is used as a reference. A computer apparatus comprising life diagnosis means for performing life diagnosis processing for determining whether or not a value is exceeded, and for performing life prediction notification of the storage device when determining that the value has been exceeded provide.
[0020]
According to a second aspect of the present invention, the storage device is a hard disk drive unit having a magnetic disk as a recording medium,
The life diagnosis means uses the time required for the operation per unit data amount calculated by measuring the time required for the data writing operation or reading operation as the operation failure parameter, and the time is the reference value. The computer apparatus according to the first aspect is provided that performs the life prediction notification when it is determined that the value is exceeded.
[0021]
According to a third aspect of the present invention, the storage device includes a head unit that performs the data write operation or the read operation by performing alignment with a data storage position on the magnetic disk.
The time required for the measured data writing operation or reading operation increases due to the displacement of the holding position of the magnetic disk that occurs as the usage time of the hard disk drive unit elapses. A computer apparatus according to the second aspect is provided, which includes time required for the alignment.
[0022]
According to a fourth aspect of the present invention, in the second aspect or the third aspect, the reference value is a time that is at least twice the initial time required for a write operation or a read operation per unit data amount in the hard disk drive unit. A computer apparatus is provided.
[0023]
According to a fifth aspect of the present invention, the storage device is a silicon disk drive unit using a flash memory for storing the data in block units as a recording medium,
The life diagnosis means uses the number of occurrences of operation failure in the data write operation as the operation failure parameter, and performs the life prediction notification when determining that the number of occurrences exceeds the reference value. A computer apparatus according to a first aspect is provided.
[0024]
According to a sixth aspect of the present invention, the silicon disk drive unit comprises:
A memory unit that is the recording medium, and that can store the written data and can read the written data;
A spare memory unit for storing the data in a readable manner instead of the memory unit when an operation failure of the operation of writing the data to the memory unit occurs in the recording medium;
An error memory unit that is the recording medium, and accumulates and stores the number of occurrences of malfunctions of the writing operation in the memory unit;
It is possible to detect the occurrence of a malfunction of the write operation in the memory unit, and when the detection is performed, the execution of the write operation of the data to the spare memory unit and the execution of the write operation to the error memory unit are performed. A memory control unit that performs respective operation control with execution of a storage operation of the number of occurrences of malfunctions,
The life diagnosis means reads the number of occurrences of malfunction of the write operation stored in the error memory unit, and uses the read number of occurrences to perform the life prediction notification according to the fifth aspect. A computer device is provided.
[0025]
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the computer apparatus according to the sixth aspect, wherein the reference value is set based on the number of blocks of the memory unit.
[0026]
According to the eighth aspect of the present invention, as a control device that controls a component mounting operation in a component mounting apparatus that mounts a plurality of components on a plurality of substrates that are sequentially and sequentially supplied, A component mounting apparatus comprising the computer device according to any one of the seven aspects,
The control device includes a display unit that displays the life prediction notification, which is a result of the life diagnosis process in the computer device, so that an operator of the component mounting device can recognize the component mounting device. I will provide a.
[0027]
According to a ninth aspect of the present invention, the apparatus further includes a substrate supply detection unit capable of detecting the sequentially supplied substrates, and outputting a substrate supply signal to the computer device by the detection.
The computer apparatus executes the life diagnosis process based on the board supply signal input from the board supply detection unit every time the board is supplied, and controls the component mounting operation on the supplied board. A component mounting apparatus according to an eighth aspect to be started is provided.
[0028]
According to the tenth aspect of the present invention, the computer device can integrate the number of times of input of the substrate supply signal inputted every time the substrate is supplied, and when the number of inputs reaches the reference number, A component mounting apparatus according to a ninth aspect for executing a life diagnosis process is provided.
[0029]
According to an eleventh aspect of the present invention, the computer device is capable of detecting the proximity of the malfunction parameter to the reference value, and decreases the reference count as the detected proximity increases. A component mounting apparatus according to the tenth aspect is provided.
[0030]
According to the twelfth aspect of the present invention, the reference value is a plurality of reference values set in stages,
The life diagnosis means performs the life prediction notification so as to be able to recognize which of the respective reference values is exceeded,
The display unit provides the component mounting apparatus according to the eighth aspect to the eleventh aspect, in which the remaining predicted life of the recording device is displayed recognizable to the operator based on the life prediction notification.
[0031]
According to a thirteenth aspect of the present invention, there is provided a lifetime diagnosis method for a storage device capable of writing data and storing the written data so as to be readable.
Measuring an operation failure parameter of the storage device in the execution of the operation of writing the data to the storage device or the operation of reading the data from the storage device;
Compare the measured malfunction parameter and the reference value,
As a result of the comparison, when the malfunction parameter exceeds the reference value, a storage device life diagnosis method is provided, which performs a life prediction notification of the storage device.
[0032]
According to a fourteenth aspect of the present invention, the storage device is a hard disk drive unit having a magnetic disk as a recording medium,
Using the time required for the operation per unit data amount calculated by measuring the time required for the data write operation or read operation as the operation failure parameter, the time exceeds the reference value. According to the thirteenth aspect of the present invention, there is provided the storage device lifetime diagnosis method for performing the lifetime prediction notification when the determination is made.
[0033]
According to the fifteenth aspect of the present invention, the time required for the data write operation is measured,
While determining whether the time required for the measured write operation exceeds the reference value,
Read the written data, verify whether the read data and the data to be written match,
The storage device according to the fourteenth aspect, which performs the life prediction notification when it is determined that the reference value is exceeded or the data does not match. A life diagnosis method is provided.
[0034]
According to a sixteenth aspect of the present invention, the storage device is a silicon disk drive unit using a flash memory for storing the data in block units as a recording medium,
In the thirteenth aspect, the life prediction notification is performed when it is determined that the number of occurrences exceeds the reference value by using the number of occurrences of the operation failure in the data writing operation as the operation failure parameter. Provided is a storage device life diagnosis method.
[0035]
According to the seventeenth aspect of the present invention, data can be written and a hard disk drive unit that stores the written data in a readable manner, and a write operation and a read operation of the data to the hard disk drive unit can be executed. And a computer device comprising a central processing unit that performs arithmetic processing of the data,
A procedure for measuring the time required for the data writing operation to the hard disk drive unit by the central processing unit or the data reading operation from the hard disk drive unit;
A procedure for determining whether the time required for the measured write operation or the time required for the read operation exceeds a reference value;
As a result of the determination, there is provided a hard disk drive unit life diagnosis program for executing the procedure of performing the life prediction notification of the hard disk drive unit when it is determined that the above has been exceeded.
[0036]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
[0037]
(First embodiment)
FIG. 4 is a block diagram showing a schematic configuration of the
[0038]
As shown in FIG. 4, the
[0039]
As shown in FIG. 4, the
[0040]
In addition, the
[0041]
Furthermore, as shown in FIG. 4, a plurality of
[0042]
In the
[0043]
Next, a life diagnosis method for predicting and diagnosing the life of the
[0044]
The
[0045]
As the
[0046]
Here, the elapse of usage time (period) of the HDD unit 120 (horizontal axis in the figure) and the data read / write speed of the
[0047]
As shown in FIG. 5, in the
[0048]
Next, a specific procedure when the life diagnosis process of the
[0049]
As shown in FIG. 6, first, in the
[0050]
Next, based on the activated life diagnosis program, the
[0051]
Next, the
[0052]
If it is determined that the data match each other as a result of the comparison in the
[0053]
As a result of the comparison determination in step S6, if it is determined that the measurement time does not exceed the reference value, it is assumed that there is still a sufficient margin until the
[0054]
On the other hand, if it is determined that the measurement time exceeds the reference value as a result of the comparison determination in step S6, the time when the
[0055]
If it is determined in step S5 that the data to be written and the read data are not matched, the written data cannot be read normally. Assuming that the
[0056]
Note that, instead of performing the comparison determination between the measurement time and the reference value in step S6, data written in one second based on the measured time and the capacity of the written data. The amount (that is, the R / W speed) is calculated by the
[0057]
Further, the case where the determination of the life diagnosis processing based on the life diagnosis program (the determination in step S5 or step S6 in FIG. 6) is performed by the
[0058]
In addition, for example, the reference value is set in consideration of the size of the failure caused to the production due to the occurrence of the functional failure of the
[0059]
Furthermore, in the life diagnosis process, only one point is set as the reference value, but instead of such a case, a plurality of reference values are set in stages, and the measured time is The life prediction notification including the degree of life expectancy of the
[0060]
Further, as described above, instead of the case where the life of the
[0061]
According to the first embodiment, the
[0062]
Specifically, the disk-shaped
[0063]
Further, when the
[0064]
Further, in the life diagnosis process, in addition to the comparison judgment between the measured time and the reference value, after performing the write operation on the
[0065]
(Second Embodiment)
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can implement with another various aspect. For example, FIG. 7 shows a block diagram showing a schematic configuration of a
[0066]
As shown in FIG. 7, the
[0067]
The
[0068]
In such an
[0069]
Next, a life diagnosis method for predicting and diagnosing the life of the storage unit of the
[0070]
The
[0071]
As the usage period of the
[0072]
Here, the passage of usage time (period) of the SDD unit 312 (horizontal axis in the figure) and the number of occurrences of operation errors counted in the error count memory 312-6 in the error memory 312-4 of the SDD unit 312 (vertical axis in the figure). FIG. 8 shows a graph in the form of a graph showing the relationship with the axis), which will be described in detail with reference to FIG.
[0073]
As shown in FIG. 8, in the initial use of the
[0074]
Next, a specific procedure when the
[0075]
As shown in FIG. 9, first, in the
[0076]
Next, based on the activated life diagnosis program, the
[0077]
Next, a comparison is made between a reference value that is set in advance and is input and held in a storage unit or the like in the
[0078]
As a result of the comparison determination in step S12, if it is determined that the number of error occurrences does not exceed the reference value, it is assumed that there is still a sufficient margin until the life of the
[0079]
On the other hand, if it is determined that the number of error occurrences exceeds the reference value as a result of the comparison determination in step S12, the time when the life of the
[0080]
Note that the case where the determination of the life diagnosis process based on the life diagnosis program (the determination in step S12 in FIG. 9) is performed by the
[0081]
The reference value is not limited to setting only one point, but a plurality of reference values are set in stages, and a life prediction notification is made so that the operator can recognize the life expectancy of the
[0082]
In addition, since the error count memory 312-6 counts the number of occurrences of operation errors when a block in the data memory 312-5 of the
[0083]
According to the second embodiment, even if the storage device included in the
[0084]
More specifically, an error count memory 312-6 for accumulating and storing the number of occurrences of the operation error is built in the error memory 312-4 of the
[0085]
(Third embodiment)
Next, a
[0086]
The
[0087]
In the
[0088]
As shown in FIG. 11, the
[0089]
In the
[0090]
At the same time, the number of inputs of the substrate supply signal, that is, the number of supplied substrates is accumulated and stored in the storage device so as to be readable (step S24).
[0091]
Thereafter, the integrated number of times of supply of the substrate supply signal is read, for example, temporarily stored in a main memory (not shown) or the like, and the set number of substrate supply signals (preset and stored in the main memory or the like) ( The reference number) is compared with the accumulated number (step S25).
[0092]
If it is determined in the comparison determination that the number of integrations has not reached the set number, the process returns to step S21 to enter a standby state until the next substrate supply signal is input.
[0093]
On the other hand, if it is determined in step S25 that the number of integrations is equal to or greater than the set number, the life diagnosis process of the first embodiment or the second embodiment is executed. As a result of the life diagnosis process, when it is determined that the remaining period until the storage device is exhausted is short, a life prediction notification is performed, and the operator can recognize the notification through the
[0094]
Regardless of the presence or absence of the diagnosis result, when the life diagnosis process is completed, the integrated value of the number of times of supplying the substrate supply signal that has been integrated and stored so far is reset to 0 (zero). In this manner, the
[0095]
The number of times of integration that is the basis for the comparison determination in step S25 in FIG. 11 depends on the importance of continuous component mounting in the
[0096]
Further, the present invention is not limited to the case where the comparison determination is performed in a state where the number of integrations is always fixed to a set value. For example, instead of such a case, in the life diagnosis process in step S26 of FIG. 11, a plurality of reference values set in stages (the writing time in the first embodiment and the number of error occurrences in the second embodiment). ) And detecting the proximity until the end of the lifetime of the storage device, the integration of the substrate supply signal increases as the proximity increases (that is, the life expectancy decreases) according to the proximity. It may be a case where the set value of the number of times is reduced. In such a case, when the remaining life of the storage device is sufficient, the frequency of executing the life diagnosis process is reduced, and more efficient control of component mounting is performed, and the time when the life is exhausted is reached. As the degree of proximity increases, the frequency of executing the life diagnosis process is increased, and there is an effect that the life diagnosis can be performed more reliably.
[0097]
In the above description, as an example, the number (number of sheets) of boards supplied to the
[0098]
Moreover, it may replace with the case where the said board | substrate is supplied sequentially separately, and the case where the said board | substrate is a tape-shaped board | substrate formed continuously may be sufficient. In such a tape-like substrate, a component mounting area where a plurality of components are mounted is continuously formed along the longitudinal direction of the tape. Therefore, the board supply signal is output to the
[0099]
According to the third embodiment, in the
[0100]
In addition, the worker who has received the storage device life prediction notification systematically performs replacement of the storage device of the
[0101]
【The invention's effect】
According to the first aspect of the present invention, the storage device included in the computer device has a life diagnosis provided in the computer device before the storage device runs out of life and cannot function as the storage device. By performing a life diagnosis process that is a diagnosis of the life using the means, it is possible to predict and predict that the time when the storage device is about to run out is approaching.
[0102]
Specifically, the operation failure parameter of the storage device in the execution of the data writing operation to the storage device by the central processing unit in the computer device or the execution of the data reading operation from the storage device is measured and measured. The life diagnosis process for determining whether or not the malfunction parameter exceeds a reference value is executed, and when it is determined that the parameter exceeds the reference value, a life prediction notification of the storage device can be performed.
[0103]
Therefore, when the life expectancy of the storage device is recognized in advance by the operator or the like by the life prediction notification, problems such as a sudden stop of the function of the computer device or the occurrence of a functional failure due to the end of the life of the storage device. For example, when the computer apparatus controls the production operation of the production apparatus, it is possible to avoid the occurrence of problems such as the operation stop of the production apparatus.
[0104]
According to the second aspect or the third aspect of the present invention, when the storage device is a hard disk drive unit (hereinafter referred to as an HDD unit) using a magnetic disk as a recording medium, As a parameter, using the time required for the operation per unit data amount calculated by measuring the time required for the data writing operation or reading operation, when the time exceeds the reference value, By performing the life prediction notification, a positional deviation occurs in the holding position of the magnetic disk according to the usage period of the HDD unit, and a positional deviation occurs in the rotation trajectory, which is necessary for the writing operation and the reading operation. It is possible to perform a life diagnosis process that takes full advantage of the characteristics of the HDD unit that tend to be longer. Can.
[0105]
According to the fourth aspect of the present invention, as the reference value, by using a time more than twice the initial time required for a write operation or a read operation per unit data amount in the HDD unit, The life prediction notification can be performed with sufficient consideration of the allowable range of reduction in control operation efficiency due to an increase in the time required for reading and writing, and the timing when the life of the HDD unit is exhausted.
[0106]
According to the fifth aspect of the present invention, when the storage device is a silicon disk drive unit (hereinafter referred to as an SDD unit) using a flash memory as a recording medium, The data is stored in units of blocks by performing the life prediction notification when it is determined that the number of occurrences exceeds the reference value using the number of occurrences of malfunction in the data writing operation. In a flash memory, there is a limit to the number of times data can be rewritten to the block, and if the limit is exceeded, a life diagnosis process can be performed that takes full advantage of the malfunction of the data write operation. it can.
[0107]
According to the sixth aspect of the present invention, in the SDD unit, the memory unit that is the recording medium, can store the written data, and can read the written data, and the writing in the memory unit An error memory unit that accumulates and stores the number of occurrences of operation failures, and the life diagnosis unit reads the number of occurrences of operation failures of the write operation stored in the error memory unit, and By using the read number of occurrences for comparison with the reference value and performing the life prediction notification, the life diagnosis process can be performed reliably.
[0108]
According to the seventh aspect of the present invention, the reference value serving as a reference for the comparison determination is set based on the number of blocks included in the memory unit. For example, the reference value is smaller than the number of blocks. By setting, the life prediction notification can be surely performed before the life of the SDD unit is exhausted, and the occurrence of the problem of sudden function stop of the SDD unit can be surely avoided.
[0109]
According to the eighth aspect of the present invention, as a control device that controls a component mounting operation in a component mounting apparatus that mounts a plurality of components on a plurality of boards that are successively supplied sequentially, A computer device is provided, and the control device further includes a display unit for displaying the life prediction notification as a result of the life diagnosis process in the computer device so that the operator of the component mounting device can recognize the device. Therefore, it is possible to predict in advance the time when the storage device included in the computer device will be exhausted and allow the operator to recognize it through the display unit. Therefore, a situation in which the computer apparatus suddenly stops functioning due to the life of the storage device and the operation of the component mounting apparatus is disturbed can be avoided in advance. Therefore, it is possible to reliably perform component mounting in the component mounting apparatus that requires operation for continuous production, and to improve the reliability.
[0110]
According to the ninth aspect of the present invention, the component mounting is performed by using the characteristic of the component mounting apparatus that the mounting operation of each component is performed on each of the boards that are continuously supplied sequentially. The execution of the life diagnosis process in the computer device that controls the operation is surely performed based on a substrate supply signal input to the computer device every time the substrate is supplied to the component mounting device. The lifetime of the storage device can be predicted, and continuous component mounting can be performed more stably.
[0111]
According to the tenth aspect of the present invention, since the computer device is capable of integrating the number of times of input of the input substrate supply signal, the number of times of input has reached a predetermined reference number. In this case, by executing the life diagnosis process, it is possible to set an optimal execution frequency while reducing the burden of processing operations in the computer device due to the execution of the life diagnosis process.
[0112]
According to the eleventh aspect of the present invention, the computer device can detect the proximity of the malfunction parameter to the reference value, and decreases the reference count as the detected proximity increases. Accordingly, when the life expectancy is long according to the life expectancy of the storage device, the frequency of execution of the life diagnosis processing is reduced, and the burden of processing operation on the computer device due to the execution is reduced to improve efficiency. When the life expectancy has decreased, the frequency of the life diagnosis process can be increased to detect when the life expectancy is exhausted. Can be recognized by the operator. Therefore, efficient component mounting operation control and reliable life prediction for ensuring continuous operation of the device can be performed at the same time, and a component mounting apparatus with improved productivity can be provided. .
[0113]
According to the twelfth aspect of the present invention, by using a plurality of reference values that are set in stages as the reference value that is a determination reference in the life diagnosis process, the life expectancy of the storage device is It is possible to detect in stages, and allow the worker to recognize the length of life expectancy. Therefore, the worker can make a work schedule such as replacement of the storage device and data backup more systematically based on the above recognition, and implement component mounting that can perform reliable continuous operation. Can be done systematically.
[0114]
According to the thirteenth aspect of the present invention, the storage device performs the diagnosis of the life prediction before the storage device can no longer function as the storage device due to the end of its life. It is possible to predict and diagnose that the time when the lifetime of the device is exhausted is approaching.
[0115]
Specifically, the operation failure parameter of the storage device in the execution of the data write operation to the storage device or the data read operation from the storage device is measured, and the measured operation failure parameter is a reference value. When it is determined whether or not it exceeds the above, it is possible to notify the life prediction of the storage device.
[0116]
Therefore, when the life expectancy of the storage device is recognized in advance by an operator or the like by the life prediction notification, a sudden function stop of the computer device or the like provided with the storage device due to the end of the life of the storage device If a problem occurs due to the occurrence of a malfunction or a malfunction, for example, when the computer apparatus controls the production operation of the production apparatus, avoid the occurrence of a problem such as the stoppage of the production apparatus. Can do.
[0117]
According to the fourteenth aspect or the fifteenth aspect of the present invention, when the storage device is an HDD unit using a magnetic disk as a recording medium, the data writing is performed as the malfunction parameter. Using the time required for the operation per unit data amount calculated by measuring the time required for the operation or reading operation, when the time exceeds the reference value, the life prediction notification is performed. Thus, depending on the usage period of the HDD unit, a positional shift occurs in the magnetic disk holding position, a positional shift occurs in the rotation trajectory, and the time required for the writing operation and the reading operation tends to become longer. Thus, the life diagnosis process can be performed by making full use of the characteristics of the HDD unit.
[0118]
Further, in addition to the comparison determination whether the reference value is exceeded, the written data is read, whether the read data matches the data to be written, and the verification As a result, even when it is determined that they do not coincide with each other, the HDD unit is more surely provided by performing the life prediction notification on the assumption that the writing operation or the reading operation cannot be normally performed. Lifetime diagnosis can be performed.
[0119]
According to the sixteenth aspect of the present invention, in the case where the storage device is an SDD unit using a flash memory as a recording medium, the operation failure parameter indicates an operation failure in the data write operation. In the flash memory that stores the data in units of blocks by performing the life prediction notification when it is determined that the number of occurrences exceeds the reference value using the number of occurrences, There is a limit to the number of times data can be rewritten, and if the limit is exceeded, life diagnosis processing can be performed taking full advantage of the fact that a malfunction occurs in the data write operation.
[0120]
According to the seventeenth aspect of the present invention, by using a life diagnosis program that can perform the respective procedures of the life diagnosis method of the fourteenth aspect, the same effect as the fourteenth aspect can be obtained. Obtainable. In particular, by installing such a program in an existing HDD unit or the like, the life diagnosis of the HDD unit can be performed without changing the hardware configuration.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a computer device installed in a conventional production facility.
FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of a computer device mounted on a conventional production facility, and shows a computer device including an SDD unit as a storage device.
FIG. 3A is a block diagram showing a schematic internal structure of an HDD unit in a conventional computer apparatus, and FIG. 3B is a partially enlarged view of a magnetic disk included in the HDD unit of FIG. .
FIG. 4 is a block diagram showing a schematic configuration of the computer apparatus according to the first embodiment of the present invention, and shows a computer apparatus including an HDD unit as a recording apparatus.
5 is a graph showing the relationship between the elapsed usage time and the R / W speed in the HDD unit of FIG. 4;
6 is a flowchart showing a procedure of life determination processing in the HDD unit of FIG. 4;
FIG. 7 is a block diagram showing a schematic configuration of a computer apparatus according to a second embodiment of the present invention, and shows a computer apparatus including an SDD unit as a storage device.
8 is a graph format showing the relationship between the elapsed usage time and the number of error occurrences in the SDD unit of FIG. 7;
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure of life determination processing in the SDD unit of FIG. 7;
FIG. 10 is a block diagram showing a schematic configuration of a component mounting apparatus including a computer apparatus according to a third embodiment of the present invention in its control apparatus.
11 is a flowchart showing a procedure for executing a life diagnosis process in the computer apparatus of FIG. 10;
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (6)
上記コンピュータ装置は、 The computer device is
データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニットである上記記憶装置と、 The above storage device which is a hard disk drive unit having a recording medium as a magnetic disk capable of writing data and storing the written data in a readable manner;
上記記憶装置への上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置と、 A central processing unit capable of performing an operation of writing and reading the data to the storage device, and performing arithmetic processing of the data;
上記中央処理装置による上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記基準値を超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段とを備え、 The operation failure parameter of the storage device is measured in the execution of the data write operation to the storage device by the central processing unit or the data read operation from the storage device, and the measured operation failure parameter is used as a reference. A life diagnosis process for determining whether or not the value is exceeded, and when it is determined that the reference value is exceeded, the life diagnosis means for performing a life prediction notification of the storage device,
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行ない、 The life diagnosis means uses the time required for the operation per unit data amount calculated by measuring the time required for the data writing operation or reading operation as the operation failure parameter, and the time is the reference value. When it is judged that the value has been exceeded, the above life prediction notification is made,
上記コンピュータ装置において上記寿命診断手段は、上記部品実装装置への基板の供給枚数、上記部品実装装置の稼働時間、および部品の実装数量のいずれかに基づいて、上記記憶装置の寿命診断処理を実行することを特徴とする部品実装装置。 In the computer apparatus, the life diagnosis means executes a life diagnosis process of the storage device based on any of the number of substrates supplied to the component mounting apparatus, the operation time of the component mounting apparatus, and the number of mounted components. The component mounting apparatus characterized by performing.
上記計測されるデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間は、上記ハードディスクドライブユニットの使用時間の経過に伴って生じる上記磁気ディスクの保持位置の位置ズレによって増加する、上記データ記憶位置と上記ヘッド部との位置合わせに要する時間を含んでいる請求項1に記載の部品実装装置。The storage device includes a head unit that performs the data writing operation or the reading operation by performing alignment with a data storage position on the magnetic disk,
The time required for the measured data writing operation or reading operation increases due to the displacement of the holding position of the magnetic disk that occurs as the usage time of the hard disk drive unit elapses. The component mounting apparatus according to claim 1 , which includes a time required for the alignment.
上記コンピュータ装置は、 The computer device is
データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能にブロック単位で記憶するフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニットである上記記憶装置と、 The above storage device, which is a silicon disk drive unit having a recording medium of a flash memory capable of writing data and storing the written data in block units so as to be readable;
上記記憶装置への上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置と、 A central processing unit capable of performing an operation of writing and reading the data to the storage device, and performing arithmetic processing of the data;
上記中央処理装置による上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記基準値を超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段とを備え、 The operation failure parameter of the storage device is measured in the execution of the data write operation to the storage device by the central processing unit or the data read operation from the storage device, and the measured operation failure parameter is used as a reference. A life diagnosis process for determining whether or not the value is exceeded, and when it is determined that the reference value is exceeded, the life diagnosis means for performing a life prediction notification of the storage device,
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行ない、 The life diagnosis means uses the number of occurrences of operation failure in the data write operation as the operation failure parameter, and performs the life prediction notification when determining that the number of occurrences exceeds the reference value. ,
上記コンピュータ装置において上記寿命診断手段は、上記部品実装装置への基板の供給枚数、上記部品実装装置の稼働時間、および部品の実装数量のいずれかに基づいて、上記記憶装置の寿命診断処理を実行することを特徴とする部品実装装置。 In the computer apparatus, the life diagnosis means executes a life diagnosis process of the storage device based on any of the number of substrates supplied to the component mounting apparatus, the operation time of the component mounting apparatus, and the number of mounted components. The component mounting apparatus characterized by performing.
上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部への上記データの書き込み動作の動作不良が発生した場合に、上記メモリ部に代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部と、
上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生を検出可能であって、当該検出が行なわれると、上記データの上記予備メモリ部への書き込み動作の実行と、上記エラーメモリ部へ上記書き込み動作の動作不良の発生回数の記憶動作の実行との夫々の動作制御を行なうメモリ制御部とを備え、
上記寿命診断手段は、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記寿命予測通知を行なう請求項4に記載の部品実装装置。The silicon disk drive unit
A memory unit that is the recording medium, and that can store the written data and can read the written data;
A spare memory unit for storing the data in a readable manner instead of the memory unit when an operation failure of the operation of writing the data to the memory unit occurs in the recording medium;
An error memory unit that is the recording medium, and accumulates and stores the number of occurrences of malfunctions of the writing operation in the memory unit;
It is possible to detect the occurrence of a malfunction of the write operation in the memory unit, and when the detection is performed, the execution of the write operation of the data to the spare memory unit and the execution of the write operation to the error memory unit are performed. A memory control unit that performs respective operation control with execution of a storage operation of the number of occurrences of malfunctions,
It said lifting means reads the operation number of occurrences of failure of the write operation stored in the error memory unit, by using the number of occurrences is read, according to claim 4 for the life prediction notification Component mounting equipment.
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