JP4724886B2 - 同軸型プラズマトーチを内蔵した原子発光検出器 - Google Patents
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該保護管内部にプラズマガスを導入、排出する導入口及び排出口を有する保護管と、
前記保護管内部に配置され、絶縁管により覆われ、ラジオ周波数高圧電源に接続される円筒状の高圧電極管と、
前記高圧電極管を覆う絶縁管の外側に同軸状に配置され、第2絶縁管により覆われ、前記高圧電極管より長く前記保護管内に延出する円筒状の接地電極管と、
前記高圧電極管の基端部側より内部に挿入されて先端部側に突出して延び、試料ガスを前記高圧電極管の前記先端部側へ供給するキャピラリーとを備え、
前記高圧電極管の先端部と前記接地電極管の端部のとの間でプラズマを発生させ、
前記キャピラリーを通して、送出される試料溶出ガスを発生したプラズマにより励起させて発光させるようにしたプラズマトーチを備えることを特徴としている。
尚、接地電極管14の頂部は、図示のように中心側に折り曲げてられて鍔部14aが形成され、出口開口の経が狭められている。
[検出器の構造]
1.電極構造
パイレックス(登録商標)(登録商標)保護管−内径:5mm,外形:6mm, 長さ:50mm)
接地電極管−内径:1.8mm, 外径:2.0mm)
高圧電極管−内径:0.5mm, 外径:0.7mm)
絶縁セラミック管−内径:1.0mm, 外径:1.2mm)
2.プラズマ位置
放電管内での電極位置を変化させ、チオアニソール検出について、プラズマ位置の最適化を実施した。図4に示すように、パイレックス(登録商標)(登録商標)保護管の湾曲頂部から接地電極の頂部までの距離を、5mm, 20mm, 25mmの場合について、硫黄原子についての応答性を調べた。結果は、図5に示すように、頂部より20mmの点(接地電極の外径2.0mmの10倍)が最も強力なプラズマが確認された。本来、受光部に最も近い5mmの点において、最も強いプラズマが確認されるはずであるが、5mmや25mmの点は、プラズマガスのヘリウムの導入口や排気口付近に位置するため、外気の漏れ込み等が起こりやすくヘリウムの割合が減少することが推定される。
3.接地電極先端形状
前述したように、本発明による接地電極管14の先端に鍔部14aを形成したことを特徴としている。接地電極管14の形状を変化させたことによる効果を実証するため、図6に示すように、外経20mmの白金管を出口部の内径が1mm となるように、鍔部14aの幅を0.5mmとして内方に丸めて湾曲させた場合と(a)、鍔部を設けない場合(b)とで硫黄検出感度への影響を調べた。
4.絶縁管材料
高圧電極管16を覆う絶縁管15(図1参照)の材料について最適化を行うことを目的として、アルミナの含有率45%と99%の2種類のセラミック管をそれぞれ、高圧電極管として用い、その際に得られたヘリウムプラズマバックグラウンドの発光スペクトルを調べた。図8はその結果を示す。(a)はアルミナ含有率が45%の場合、(b)はアルミナ含有率が99%の場合である。アルミナ含有率45%の場合(a)は、4本のヘリウム由来の原子発光線に加え、大気の漏れ込みや水蒸気による酸素や水素の発光線が数本、比較的高い強度で観測された。一方、アルミナ含有率が99%の場合(b)は、ヘリウム発光線のうち2本の強度が増し、(a)で見られた水素原子及び酸素原子由来の発光線の強度は減少した。これは、アルミナ含有率を高めることにより、セラミック管を構成する不純物由来の発光の減少によるものと考えられる。また、アルミナ含有率99%のセラミック管では表面が比較的安定しており、ノイズの減少にも寄与しているものと考えられる。更に、高圧電極側はAEDの作動とともにかなり高温になることから、電極と直接接するセラミック管には耐熱性が求められる。アルミナ含有率99%では耐熱温度が500°C程度と高く、同軸型電極構造のAEDに最適と考えられる。
5.印加電力
本願発明によりAEDの電力源としてはラジオ波発生電源を使用するものであるが、このラジオ波発生電源の印加電力による影響を検討するため、印加電力20Wと30Wについて発光強度とノイズについて調べた。なお、ここで実施した試験は、プラズマガス流量を40ml/min、印加周波数を220kHz、印加電圧を0.71-0.79kVで実施した。
次に、ラジオ波印加周波数による影響を検討した結果を示す。
7.電流値
図11は、プラズマ放電時に電極間に流れる電流値が、硫黄原子の発光強度に与える影響について検討した結果を示す。電流値は、セラミック管から突出している高圧電極管の先端を紙やすりで適当に削り、表面状態を粗野にして増加させることにより変化させた。
[有機化合物の検出特性]
以上の検出器の最適条件の下で、AEDの有機硫黄化合物についての検出特性の評価を行った。試験は、チオアニソールとn-プロピルベンゼンの混合溶液を分離して得られたクロマトグラム及び成分溶出時の発光スペクトルを調べることにより行った。モニタリング波長には、硫黄921.3nm, 炭素834.9nm, 水素656.3nm を選択した。
精度の高いガスクロマトグラフィによる分析を可能とするものである。
11 基部
12 保護管
13 石英放電管
14 接地電極
15 絶縁管
16 高圧電極管
17 キャピラリーカラム
18 ヘリウムガス導入管
19 ヘリウムガス排出管
20 光ファイバー検出素子
Claims (6)
- 保護管内部にプラズマガスを導入、排出する導入口及び排出口を有する保護管と、
前記保護管内部に配置され、絶縁管により覆われ、ラジオ周波数高圧電源に接続される円筒状の高圧電極管と、
前記高圧電極管を覆う絶縁管の外側に同軸状に配置され、第2絶縁管により覆われ、前記高圧電極管より長く前記保護管内に延出する円筒状の接地電極管と、
前記高圧電極管の基端部側より内部に挿入されて先端部側に突出して延び、試料ガスを前記高圧電極管の前記先端部側へ供給するキャピラリーとを備え、
前記高圧電極管の先端部と前記接地電極管の端部との間でプラズマを発生させ、
前記キャピラリーを通して、送出される試料ガスを発生したプラズマにより励起させて発光させるようにしたプラズマトーチを備える、原子発光検出器。 - プラズマガスは、前記高圧電極管を覆う絶縁管と前記接地電極管との間の環状通路の基部側より導入され、前記接地電極管の頂部開口を経て前記保護管と前記接地電極管を覆う絶縁管との間の環状通路を経て基部側より排出されることを特徴とする請求項1に記載の原子発光検出器。
- 前記接地電極管の頂端部は内方に折り曲げられた鍔部を有することを特徴とする請求項1に記載の原子発光検出器。
- プラズマ発光を検出するための光検出部を前記保護管の頂部に近接して設けたことを特徴とする請求項1に記載の原子発光検出器。
- 前記試料ガスは、クロマトグラフによって分離された後、前記高圧電極管へ供給されることを特徴とした請求項1に記載の原子発光検出器。
- 前記クロマトグラフはガスクロマトグラフであることを特徴とする請求項5に記載のガスクロマトグラフ用原子発光検出器。
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---|---|---|---|---|
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---|---|---|---|---|
JPH03165239A (ja) * | 1989-11-24 | 1991-07-17 | Toshiba Corp | Icp分析装置 |
JPH06292971A (ja) * | 1993-04-12 | 1994-10-21 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プラズマアーク切断用ガス |
JP2002503807A (ja) * | 1998-02-13 | 2002-02-05 | マサチューセッツ・インスティテュート・オブ・テクノロジー | マイクロ波誘導プラズマ元素センサ |
JP2002048775A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-15 | Sony Corp | 電子基板用分析装置及び電子基板用分析方法 |
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