JP4721919B2 - Correction method and correction apparatus - Google Patents
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Description
本発明は、補正方法および補正装置に関する。特に本発明は、被試験デバイスを試験する試験装置に用いられる信号発生器およびデジタイザの周波数特性を補正する補正方法および補正装置に関する。 The present invention relates to a correction method and a correction apparatus. In particular, the present invention relates to a correction method and a correction apparatus for correcting frequency characteristics of a signal generator and a digitizer used in a test apparatus for testing a device under test.
半導体装置等の被試験デバイスのAC特性を試験する試験装置は、被試験デバイスに対して供給するアナログの信号を発生する信号発生器と、被試験デバイスからのアナログの出力信号を取得するデジタイザとを備える。試験装置に備えられる信号発生器およびデジタイザは、周波数特性のばらつきが小さく、高い再現性で測定できることが望ましい。 A test apparatus for testing AC characteristics of a device under test such as a semiconductor device includes a signal generator that generates an analog signal to be supplied to the device under test, and a digitizer that acquires an analog output signal from the device under test. Is provided. It is desirable that the signal generator and digitizer provided in the test apparatus have a small variation in frequency characteristics and can be measured with high reproducibility.
試験装置の信号発生器およびデジタイザの周波数特性のばらつきを小さくすることを目的として、従来、信号発生器およびデジタイザのそれぞれについての周波数特性を測定して調整していた。また、試験装置の信号発生器およびデジタイザの周波数特性のばらつきを小さくすることを目的として、信号発生器のアナログ経路またはデジタイザのアナログ経路と、ネットワークアナライザとをループ接続してSパラメータを算出し、算出したSパラメータにより信号波形を補正する場合もあった。 Conventionally, the frequency characteristics of the signal generator and the digitizer have been measured and adjusted in order to reduce the variation in the frequency characteristics of the signal generator and the digitizer of the test apparatus. In addition, for the purpose of reducing variation in the frequency characteristics of the signal generator and digitizer of the test apparatus, the S-parameter is calculated by loop-connecting the analog path of the signal generator or the analog path of the digitizer and the network analyzer, In some cases, the signal waveform is corrected by the calculated S parameter.
なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。 In addition, since the presence of a prior art document is not recognized at present, description regarding the prior art document is omitted.
ところが、周波数特性を測定して調整する方法は、手間がかかり面倒であった。また、ネットワークアナライザを用いてSパラメータを算出する方法は、ネットワークアナライザの接続を手作業で行うか、または、信号発生器およびデジタイザ内に予め切替回路を設けなければならなかった。また、ネットワークアナライザを用いてSパラメータを算出する方法は、ネットワークアナライザがアナログ経路を解析するものなので、デジタルアナログコンバータおよびアナログデジタルコンバータの周波数特性については補正ができなかった。 However, the method of measuring and adjusting the frequency characteristics is time consuming and troublesome. Further, in the method of calculating the S parameter using the network analyzer, the network analyzer must be connected manually or a switching circuit must be provided in advance in the signal generator and the digitizer. In addition, since the network analyzer analyzes the analog path in the method of calculating the S parameter using the network analyzer, the frequency characteristics of the digital / analog converter and the analog / digital converter cannot be corrected.
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる補正方法および補正装置を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a correction method and a correction apparatus that can solve the above-described problems. This object is achieved by a combination of features described in the independent claims. The dependent claims define further advantageous specific examples of the present invention.
上記課題を解決するために、本発明の第1形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置に用いられる、被試験デバイスへの入力信号を生成する信号発生器、及び被試験デバイスの出力信号を測定するデジタイザの周波数特性を補正する補正方法であって、周波数特性が既知である基準信号発生器に、予め定められた基準信号を生成させる基準信号生成段階と、デジタイザに基準信号を入力し、デジタイザが基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第1特性取得段階と、基準信号の周波数特性と、測定信号の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザの周波数特性を補正するデジタイザ補正段階と、周波数特性を補正すべき信号発生器に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる被測定信号生成段階と、被測定信号を、デジタイザ補正段階において周波数特性が補正されたデジタイザに入力し、デジタイザが被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第2特性取得段階と、第2特性取得段階において取得した測定信号の周波数特性と、基準信号発生器の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器の周波数特性を補正する信号発生器補正段階とを備える補正方法を提供する。 In order to solve the above problems, in the first embodiment of the present invention, a signal generator for generating an input signal to a device under test and an output signal of the device under test are used in a test apparatus for testing the device under test. A correction method for correcting a frequency characteristic of a digitizer that measures a reference signal generation stage in which a reference signal generator having a known frequency characteristic generates a predetermined reference signal, and a reference signal is input to the digitizer. The first characteristic acquisition stage for acquiring the frequency characteristic of the measurement signal output by the digitizer according to the reference signal, the frequency characteristic of the reference signal and the frequency characteristic of the measurement signal are compared, and the frequency of the digitizer is determined based on the comparison result. A digitizer correction stage for correcting the characteristics and a signal generator for correcting the frequency characteristics to generate a signal under measurement having the same pattern as the reference signal. A constant signal generation stage, a second characteristic acquisition stage in which the signal under measurement is input to a digitizer whose frequency characteristic has been corrected in the digitizer correction stage, and the frequency characteristic of the measurement signal output according to the signal under measurement by the digitizer is acquired; A signal generator correction stage that compares the frequency characteristic of the measurement signal acquired in the second characteristic acquisition stage with the frequency characteristic of the reference signal generator, and corrects the frequency characteristic of the signal generator based on the comparison result. A correction method is provided.
補正方法は、基準信号生成段階で、所定の複数の周波数において信号成分を有する基準信号を生成させ、第1特性取得段階で、測定信号の、所定の複数の周波数における信号成分を取得し、デジタイザ補正段階で、それぞれの周波数毎に、基準信号の信号成分と測定信号の信号成分とを比較し、それぞれの周波数毎にデジタイザの周波数特性を補正する補正係数を算出してよい。 In the correction method, a reference signal having signal components at a plurality of predetermined frequencies is generated in a reference signal generation stage, and a signal component of the measurement signal at a plurality of predetermined frequencies is acquired in a first characteristic acquisition stage. In the correction stage, the signal component of the reference signal and the signal component of the measurement signal may be compared for each frequency, and a correction coefficient for correcting the frequency characteristics of the digitizer may be calculated for each frequency.
補正方法は、被測定信号生成段階で、信号発生器に、所定の複数の周波数において信号成分を有する被測定信号を生成させ、第2特性取得段階で、測定信号の、所定の複数の周波数における信号成分を取得し、信号発生器補正段階で、それぞれの周波数毎に、測定信号の信号成分と、基準信号発生器の周波数特性成分とを比較し、それぞれの周波数毎に信号発生器の周波数特性を補正する補正係数を算出してよい。 The correction method is to cause the signal generator to generate a signal under measurement having signal components at a plurality of predetermined frequencies at the measurement signal generation stage, and at a second characteristic acquisition stage, at a predetermined plurality of frequencies of the measurement signal. The signal component is acquired, and at the signal generator correction stage, the signal component of the measurement signal is compared with the frequency characteristic component of the reference signal generator for each frequency, and the frequency characteristics of the signal generator for each frequency A correction coefficient for correcting the above may be calculated.
補正方法は、被測定信号生成段階で、周波数特性を補正すべき複数の信号発生器に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を順次生成させ、第2特性取得段階で、それぞれの被測定信号を、デジタイザ補正段階において周波数特性が補正されたデジタイザに順次入力し、デジタイザがそれぞれの被測定信号に応じて順次出力する測定信号の周波数特性を順次取得し、信号発生器補正段階で、第2特性取得段階において順次取得したそれぞれの測定信号の周波数特性と、基準信号発生器の周波数特性とを順次比較し、それぞれの比較結果に基づいて、対応する信号発生器の周波数特性を順次補正してよい。 In the correction method, a plurality of signal generators whose frequency characteristics are to be corrected are sequentially generated in a measured signal generation stage, and a measured signal having the same pattern as the reference signal is sequentially generated. The measurement signal is sequentially input to the digitizer whose frequency characteristic has been corrected in the digitizer correction stage, and the digitizer sequentially acquires the frequency characteristic of the measurement signal output in accordance with each signal under measurement, and in the signal generator correction stage, The frequency characteristics of each measurement signal acquired sequentially in the second characteristic acquisition stage are sequentially compared with the frequency characteristics of the reference signal generator, and the frequency characteristics of the corresponding signal generator are sequentially corrected based on the comparison results. You can do it.
デジタイザは、基準信号発生器が出力する基準信号を受け取り、後段の回路に伝送する入力アナログ回路と、入力アナログ回路が伝送する信号をデジタルの測定信号に変換するアナログデジタルコンバータと、アナログデジタルコンバータが出力する測定信号を格納する入力データメモリと、入力データメモリが格納した測定信号を補正する補正係数を格納する第1補正メモリとを備え、第1特性取得段階で、データメモリが格納した測定信号に基づいて、測定信号の周波数特性を算出してよい。 The digitizer receives the reference signal output from the reference signal generator and transmits it to the subsequent circuit, the analog-digital converter that converts the signal transmitted by the input analog circuit into a digital measurement signal, and the analog-digital converter An input data memory for storing a measurement signal to be output and a first correction memory for storing a correction coefficient for correcting the measurement signal stored in the input data memory, and the measurement signal stored in the data memory in the first characteristic acquisition stage The frequency characteristics of the measurement signal may be calculated based on
補正方法は、デジタイザ補正段階で、比較結果に基づいて補正係数を生成し、第1補正メモリに格納してよい。 In the correction method, at the digitizer correction stage, a correction coefficient may be generated based on the comparison result and stored in the first correction memory.
信号発生器は、生成すべき信号の波形データを格納する出力データメモリと、出力データメモリが格納した波形データを補正する補正係数を格納する第2補正メモリと、出力データメモリが格納した波形データを、アナログの被測定信号に変換するデジタルアナログコンバータと、デジタルアナログコンバータが出力する被測定信号を受け取り、デジタイザに出力する出力アナログ回路とを備え、信号発生器補正段階で、比較結果に基づいて補正係数を生成し、第2補正メモリに格納してよい。 The signal generator includes an output data memory for storing waveform data of a signal to be generated, a second correction memory for storing a correction coefficient for correcting the waveform data stored in the output data memory, and waveform data stored in the output data memory Is converted into an analog signal under test, and a signal under test output from the digital analog converter is received and output to a digitizer. The signal generator is corrected based on the comparison result. A correction coefficient may be generated and stored in the second correction memory.
本発明の第2形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置に用いられる、被試験デバイスへの入力信号を生成する信号発生器、及び被試験デバイスの出力信号を測定するデジタイザの周波数特性を補正する補正方法であって、信号発生器に、予め定められた基準信号を生成させる基準信号生成段階と、周波数特性が既知である基準デジタイザに基準信号を入力し、基準デジタイザが基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第1特性取得段階と、測定信号の周波数特性と、基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器の周波数特性を補正する信号発生器補正段階と、信号発生器補正段階において周波数特性が補正された信号発生器に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる被測定信号生成段階と、周波数特性を補正すべきデジタイザに、被測定信号を入力し、デジタイザが被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第2特性取得段階と、第2特性取得段階において取得した測定信号の周波数特性と、基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザの周波数特性を補正するデジタイザ補正段階とを備える補正方法を提供する。 In the second embodiment of the present invention, the frequency characteristics of the signal generator that generates an input signal to the device under test and the digitizer that measures the output signal of the device under test are used in a test apparatus that tests the device under test. A correction method for correcting, wherein a reference signal generation stage for causing a signal generator to generate a predetermined reference signal, and a reference signal input to a reference digitizer having a known frequency characteristic, the reference digitizer responding to the reference signal The first characteristic acquisition stage for acquiring the frequency characteristic of the measurement signal to be output in comparison, the frequency characteristic of the measurement signal and the frequency characteristic of the reference digitizer, and a signal for correcting the frequency characteristic of the signal generator based on the comparison result A signal under measurement having the same pattern as the reference signal is generated in the signal generator whose frequency characteristics have been corrected in the generator correction stage and the signal generator correction stage. A measured signal generation stage, a second characteristic acquisition stage for inputting the measured signal to a digitizer whose frequency characteristics are to be corrected, and acquiring a frequency characteristic of the measurement signal output by the digitizer according to the measured signal; Provided is a correction method comprising a digitizer correction step of comparing the frequency characteristic of a measurement signal acquired in the two-characteristic acquisition stage with the frequency characteristic of a reference digitizer and correcting the frequency characteristic of the digitizer based on the comparison result.
本発明の第3形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置に用いられる、被試験デバイスへの入力信号を生成する信号発生器、及び被試験デバイスの出力信号を測定するデジタイザの周波数特性を補正する補正装置であって、周波数特性が既知である基準信号発生器に、予め定められた基準信号を生成させる基準信号生成部と、デジタイザに基準信号を入力し、デジタイザが基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第1特性取得部と、基準信号の周波数特性と、測定信号の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザの周波数特性を補正するデジタイザ補正部と、周波数特性を補正すべき信号発生器に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる被測定信号生成部と、被測定信号を、デジタイザ補正部により周波数特性が補正されたデジタイザに入力し、デジタイザが被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第2特性取得部と、第2特性取得部が取得した測定信号の周波数特性と、基準信号発生器の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器の周波数特性を補正する信号発生器補正部とを備える補正装置を提供する。 In the third aspect of the present invention, the frequency characteristics of a signal generator that generates an input signal to the device under test and a digitizer that measures the output signal of the device under test are used in a test apparatus that tests the device under test. A correction device for correcting, a reference signal generator having a known frequency characteristic, a reference signal generator for generating a predetermined reference signal, and a reference signal input to the digitizer, the digitizer responding to the reference signal A first characteristic acquisition unit that acquires a frequency characteristic of the measurement signal to be output; a digitizer correction unit that compares the frequency characteristic of the reference signal and the frequency characteristic of the measurement signal and corrects the frequency characteristic of the digitizer based on the comparison result; A signal generator to be measured that causes the signal generator to correct frequency characteristics to generate a signal under measurement having the same pattern as the reference signal, and a signal under measurement, A second characteristic acquisition unit that inputs to the digitizer whose frequency characteristic is corrected by the digitizer correction unit and acquires the frequency characteristic of the measurement signal that the digitizer outputs according to the signal under measurement, and the measurement signal acquired by the second characteristic acquisition unit And a signal generator correction unit that compares the frequency characteristic of the reference signal generator with the frequency characteristic of the reference signal generator and corrects the frequency characteristic of the signal generator based on the comparison result.
本発明の第4形態においては、被試験デバイスを試験する試験装置に用いられる、被試験デバイスへの入力信号を生成する信号発生器、及び被試験デバイスの出力信号を測定するデジタイザの周波数特性を補正する補正装置であって、信号発生器に、予め定められた基準信号を生成させる基準信号生成部と、周波数特性が既知である基準デジタイザに基準信号を入力し、基準デジタイザが基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第1特性取得部と、測定信号の周波数特性と、基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器の周波数特性を補正する信号発生器補正部と、信号発生器補正部により周波数特性が補正された信号発生器に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる被測定信号生成部と、周波数特性を補正すべきデジタイザに、被測定信号を入力し、デジタイザが被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第2特性取得部と、第2特性取得部が取得した測定信号の周波数特性と、基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザの周波数特性を補正するデジタイザ補正部とを備える補正装置を提供する。 In the fourth embodiment of the present invention, the frequency characteristics of a signal generator that generates an input signal to the device under test and a digitizer that measures the output signal of the device under test are used in a test apparatus that tests the device under test. A correction device for correcting a reference signal generation unit that generates a predetermined reference signal in a signal generator and a reference digitizer having a known frequency characteristic, and the reference digitizer responds to the reference signal. A signal for correcting the frequency characteristics of the signal generator based on the comparison result, comparing the frequency characteristics of the measurement signal and the reference digitizer with the first characteristic acquisition unit for acquiring the frequency characteristics of the measurement signal to be output A generator correction unit and a signal generator whose frequency characteristics are corrected by the signal generator correction unit are configured to generate a signal under measurement having the same pattern as the reference signal. A second signal acquisition unit that inputs a signal under measurement to a constant signal generation unit, a digitizer whose frequency characteristic is to be corrected, and acquires a frequency characteristic of the measurement signal output by the digitizer according to the signal under measurement; There is provided a correction device including a digitizer correction unit that compares a frequency characteristic of a measurement signal acquired by an acquisition unit with a frequency characteristic of a reference digitizer and corrects the frequency characteristic of the digitizer based on a comparison result.
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。 The above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention, and sub-combinations of these feature groups can also be the invention.
本発明によれば、信号発生器およびデジタイザの固有の周波数特性を補正することができる。 According to the present invention, the inherent frequency characteristics of the signal generator and the digitizer can be corrected.
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。 Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention. However, the following embodiments do not limit the invention according to the scope of claims, and all combinations of features described in the embodiments are included. It is not necessarily essential for the solution of the invention.
図1は、本実施形態に係る補正装置10の構成とともに、信号発生器20およびデジタイザ30の構成並びに基準信号発生器40を示す。本実施形態に係る補正装置10は、被試験デバイスを試験する試験装置に用いられる信号発生器20およびデジタイザ30の周波数特性を、周波数特性が既知である基準信号発生器40を用いて補正する。補正装置10は、基準信号生成部11と、第1特性取得部12と、デジタイザ補正部13と、被測定信号生成部14と、第2特性取得部15と、信号発生器補正部16とを備える。
FIG. 1 shows the configuration of the
基準信号生成部11は、基準信号発生器40に、予め定められた基準信号を生成させる。第1特性取得部12は、デジタイザ30に基準信号を入力し、デジタイザ30が基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。デジタイザ補正部13は、基準信号の周波数特性と、測定信号の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザ30の周波数特性を補正する。
The
被測定信号生成部14は、周波数特性を補正すべき信号発生器20に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる。第2特性取得部15は、被測定信号を、デジタイザ補正部13により周波数特性が補正されたデジタイザ30に入力し、デジタイザ30が被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。信号発生器補正部16は、第2特性取得部15が取得した測定信号の周波数特性と、基準信号発生器40の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器20の周波数特性を補正する。
The signal under
信号発生器20は、被試験デバイスへの入力信号を生成する。信号発生器20は、一例として、出力データメモリ21と、第2補正メモリ22と、デジタルアナログコンバータ23と、出力アナログ回路24とを備える。出力データメモリ21は、生成すべき信号の波形データを格納する。第2補正メモリ22は、出力データメモリ21が格納した波形データを補正する補正係数を格納する。第2補正メモリ22に格納された補正係数は、信号発生時において、出力データメモリ21に格納されている波形データを補正するために用いられる。すなわち、出力データメモリ21は、第2補正メモリ22に格納された補正係数により、格納している波形データを補正して、デジタルアナログコンバータ23に出力する。デジタルアナログコンバータ23は、出力データメモリ21が格納した波形データを、アナログの被測定信号に変換する。出力アナログ回路24は、デジタルアナログコンバータ23が出力する被測定信号を受け取り、デジタイザ30に出力する。
The
デジタイザ30は、被試験デバイスの出力信号を測定する。デジタイザ30は、一例として、入力アナログ回路31と、アナログデジタルコンバータ32と、入力データメモリ33と、第1補正メモリ34とを備える。入力アナログ回路31は、基準信号発生器40が出力する基準信号を受け取り、後段の回路に伝送する。アナログデジタルコンバータ32は、入力アナログ回路31が伝送する信号をデジタルの測定信号に変換する。入力データメモリ33は、アナログデジタルコンバータ32が出力する測定信号を格納する。第1補正メモリ34は、入力データメモリ33が格納した測定信号を補正する補正係数を格納する。第1補正メモリ34に格納された補正係数は、信号取込時において、入力データメモリ33に格納されている波形データを補正するために用いられる。すなわち、入力データメモリ33は、第1補正メモリ34に格納された補正係数により、格納している波形データを補正して、外部に出力する。
The
基準信号発生器40は、例えば、標準器により確度が補償された信号発生器である。基準信号発生器40及び信号発生器20は、それぞれの使用時において、例えば使用者等により、デジタイザ30に接続される。
The
図2は、本実施形態に係る補正装置10の処理フローを示す。まず、ステップS11において、基準信号生成部11は、基準信号発生器40に、予め定められた基準信号を生成させる。ここで、基準信号生成部11は、所定の複数の周波数において信号成分を有する基準信号を生成させてもよい。
FIG. 2 shows a processing flow of the
次に、ステップS12において、第1特性取得部12は、補正対象となるデジタイザ30に基準信号を入力し、デジタイザ30が基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。基準信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、第1特性取得部12は、測定信号の、所定の複数の周波数における信号成分を取得してもよい。また、第1特性取得部12は、入力データメモリ33が格納した測定信号に基づいて、測定信号の周波数特性を算出してよい。
Next, in step S12, the first
次に、ステップS13において、デジタイザ補正部13は、基準信号の周波数特性と、測定信号の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザ30の周波数特性を補正する。デジタイザ補正部13は、一例として、比較結果に基づいて補正係数を生成し、第1補正メモリ34に格納することにより、デジタイザ30の周波数特性を補正してよい。この場合において、入力データメモリ33は、第1補正メモリ34に格納された補正係数により、格納している波形データを補正して出力する。また、基準信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、デジタイザ補正部13は、それぞれの周波数毎に、基準信号の信号成分と測定信号の信号成分とを比較し、それぞれの周波数毎にデジタイザ30の周波数特性を補正する補正係数を算出してよい。
Next, in step S13, the
また、ステップS13において、デジタイザ補正部13は、一例として、周波数特性がWm(f)で表される基準信号をデジタイザ30に入力したことに応じて、周波数特性がWd(f)で表される測定信号が入力データメモリ33に記憶された場合、Wd(f)をWm(f)で正規化した値{Wd(f)/Wm(f)}を、デジタイザ30の周波数特性を補正する補正係数としてよい。これにより、デジタイザ30は、入力データメモリ33に記憶された波形データから、入力アナログ回路31およびアナログデジタルコンバータ32の周波数特性の成分を除去して、元の入力信号の波形と同じ波形データを出力することができる。
In step S13, for example, the
例えば、デジタイザ30は、任意の入力信号(周波数特性Wi(f))が入力し、この結果、周波数特性がWdi(f)の取得信号を取得したとする。また、入力アナログ回路31の周波数特性がad(f)、アナログデジタルコンバータ32の周波数特性がac(f)であったとする。この場合において、入力信号Wi(f)と取得信号Wdi(f)との関係は、式(1)に示すようになる。
Wdi(f)=Wi(f)・ad(f)・ac(f) …(1)
For example, it is assumed that the
Wdi (f) = Wi (f) · ad (f) · ac (f) (1)
ここで、補正装置10は、Wd(f)をWm(f)で正規化した値{Wd(f)/Wm(f)}が補正係数とされている場合、下記式(2)に示すように、取得信号(Wdi(f))を補正係数で除算することにより補正を行う。
Wdi(f)/{Wd(f)/Wm(f)}
=Wi(f)・ad(f)・ac(f)/{Wd(f)/Wm(f)}…(2)
Here, when the value {Wd (f) / Wm (f)} obtained by normalizing Wd (f) with Wm (f) is used as the correction coefficient, the
Wdi (f) / {Wd (f) / Wm (f)}
= Wi (f) · ad (f) · ac (f) / {Wd (f) / Wm (f)} (2)
また、Wd(f)とWm(f)との関係は、式(3)に示すようになる。
Wd(f)=Wm(f)・ad(f)・ac(f) …(3)
式(3)を式(2)に代入すると、下記式(4)に示すようになる。
Wdi(f)/{Wd(f)/Wm(f)}
=Wi(f)・ad(f)・ac(f)/{Wm(f)・ad(f)・ac(f)/Wm(f)}
=Wi(f) …(4)
The relationship between Wd (f) and Wm (f) is as shown in equation (3).
Wd (f) = Wm (f) · ad (f) · ac (f) (3)
Substituting equation (3) into equation (2) gives the following equation (4).
Wdi (f) / {Wd (f) / Wm (f)}
= Wi (f) .ad (f) .ac (f) / {Wm (f) .ad (f) .ac (f) / Wm (f)}
= Wi (f) (4)
この式(4)に示すように、デジタイザ補正部13が、Wd(f)をWm(f)で正規化した値{Wd(f)/Wm(f)}を補正係数として設定することにより、デジタイザ30は、任意の入力信号Wi(f)に対して波形データを正しく取得することができる。従って、補正装置10は、{Wd(f)/Wm(f)}を補正係数とすることにより、デジタイザ30内の入力アナログ回路31およびアナログデジタルコンバータ32の周波数特性を補正することができる。
As shown in the equation (4), the
次に、ステップS14において、被測定信号生成部14は、周波数特性を補正すべき信号発生器20に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる。例えば、基準信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、被測定信号生成部14は、信号発生器20に、所定の複数の周波数において信号成分を有する被測定信号を生成させてよい。
Next, in step S14, the measured
次に、ステップS15において、第2特性取得部15は、被測定信号を、ステップS13においてデジタイザ補正部13により周波数特性が補正されたデジタイザ30に入力し、デジタイザ30が被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。被測定信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、第2特性取得部15は、測定信号の、所定の複数の周波数における信号成分を取得してよい。
Next, in step S15, the second
次に、ステップS16において、信号発生器補正部16は、ステップS15において第2特性取得部15が取得した測定信号の周波数特性と、基準信号発生器40の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器20の周波数特性を補正する。信号発生器補正部16は、一例として、比較結果に基づいて補正係数を生成し、第2補正メモリ22に格納することにより、信号発生器20の周波数特性を補正してよい。この場合において、出力データメモリ21は、第2補正メモリ22に格納された補正係数により、格納している波形データを補正して出力する。また、被測定信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、信号発生器補正部16は、それぞれの周波数毎に、測定信号の信号成分と、基準信号発生器40の周波数特性成分とを比較し、それぞれの周波数毎に信号発生器20の周波数特性を補正する補正係数を算出してよい。
Next, in step S16, the signal
信号発生器補正部16は、一例として、周波数特性がWm(f)で表される被測定信号を信号発生器20が生成したことに応じて、周波数特性がWg(f)で表される入力信号がデジタイザ30に入力した場合、Wg(f)をWm(f)で正規化した値{Wg(f)/Wm(f)}を、信号発生器20の周波数特性を補正する補正係数としてよい。これにより、信号発生器20は、出力データメモリ21に記憶された波形データから、デジタルアナログコンバータ23および出力アナログ回路24の周波数特性の成分を予め除去して、出力データメモリ21に記憶された波形と同じ波形の信号を出力することができる。
For example, the signal
例えば、信号発生器20は、任意の出力信号(周波数特性Wo(f))を生成し、この結果、補正がされたデジタイザ30は、周波数特性がWgo(f)の取得信号を取得したとする。また、デジタルアナログコンバータ23の周波数特性がag(f)、出力アナログ回路24の周波数特性がda(f)であったとする。この場合において、任意の出力信号Wo(f)と取得信号Wgo(f)との関係は、式(5)に示すようになる。
Wgo(f)=Wo(f)・ag(f)・da(f) …(5)
なお、デジタイザ30は、既に補正が行われているので、取得信号Wgoは、デジタイザ30に入力する信号と同一となる。
For example, the
Wgo (f) = Wo (f) · ag (f) · da (f) (5)
Since the
ここで、補正装置10は、Wg(f)をWm(f)で正規化した値{Wg(f)/Wm(f)}が補正係数とされている場合、下記式(6)に示すように、任意の出力信号Wo(f)を予め補正係数(Wg(f)/Wm(f))で除算しておくことにより、補正を行う。
Wgo(f)
=[Wo(f)/{Wg(f)/Wm(f)}]・ag(f)・da(f) …(6)
Here, when the value {Wg (f) / Wm (f)} obtained by normalizing Wg (f) with Wm (f) is used as the correction coefficient, the
Wgo (f)
= [Wo (f) / {Wg (f) / Wm (f)}] · ag (f) · da (f) (6)
また、Wg(f)とWm(f)との関係は、式(7)に示すようになる。
Wg(f)=Wm(f)・ag(f)・da(f) …(7)
式(7)を式(6)に代入すると、下記式(8)に示すようになる。
Wgo(f)
=[Wo(f)/{Wm(f)・ag(f)・da(f)/Wm(f)}]・ag(f)・da(f)
=Wo(f) …(8)
Further, the relationship between Wg (f) and Wm (f) is as shown in Expression (7).
Wg (f) = Wm (f) · ag (f) · da (f) (7)
Substituting equation (7) into equation (6) gives the following equation (8).
Wgo (f)
= [Wo (f) / {Wm (f) · ag (f) · da (f) / Wm (f)}] · ag (f) · da (f)
= Wo (f) (8)
この式(8)に示すように、信号発生器補正部16が、Wg(f)をWm(f)で正規化した値{Wg(f)/Wm(f)}を補正係数として設定することにより、信号発生器20は、アナログの任意の出力信号(Wo(f))を正しく出力することができる。従って、補正装置10は、{Wd(f)/Wm(f)}を補正係数とすることにより、信号発生器20内のデジタルアナログコンバータ23および出力アナログ回路24の周波数特性を補正することができる。
As shown in this equation (8), the signal
以上のように、補正装置10によれば、信号発生器20およびデジタイザ30が有する固有のアナログ周波数特性を、簡単に補正することができる。また、補正装置10によれば、第2補正メモリ22および第1補正メモリ34に補正係数を格納することにより、同一の周波数特性を有する信号発生器20、および、同一の周波数特性を有するデジタイザ30を生成することができる。
As described above, according to the
図3は、本実施形態の第1変形例に係る補正装置10の処理フローを示す。なお、第1変形例に係る補正装置10、並びに補正対象となる信号発生器20およびデジタイザ30は、図1に示す部材と略同一の構成及び機能を採るとともに、図2に示す処理と略同一の処理を行うので、以下、相違点を除き説明を省略する。
FIG. 3 shows a processing flow of the
ステップS16で1つの信号発生器20の周波数特性の補正を終了すると、次に、ステップS21において、補正装置10は、例えば使用者の指示に応じて、終了した信号発生器20をデジタイザ30から取り外して、他の補正すべき信号発生器20をデジタイザ30に接続する。補正装置10は、信号発生器20の切替が終了すると、切り換え後の信号発生器20に対してステップS14から処理を行う。そして、補正装置10は、ステップS14、ステップS15、ステップS16およびステップS21の処理を繰り返して行って、複数の信号発生器20に対して周波数特性を補正する。
When the correction of the frequency characteristics of one
すなわち、被測定信号生成部14は、ステップS14で、周波数特性を補正すべき複数の信号発生器20に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を順次生成させる。第2特性取得部15は、ステップS15で、それぞれの被測定信号を、ステップS13においてデジタイザ補正部13により周波数特性が補正されたデジタイザ30に順次入力し、デジタイザ30がそれぞれの被測定信号に応じて順次出力する測定信号の周波数特性を順次取得する。信号発生器補正部16は、ステップS16で、ステップS15において第2特性取得部15が順次取得したそれぞれの測定信号の周波数特性と、基準信号発生器40の周波数特性とを順次比較し、それぞれの比較結果に基づいて、対応する信号発生器20の周波数特性を順次補正する。
That is, in step S14, the measured
以上のように、第1変形例に係る補正装置10によれば、複数の信号発生器20について周波数特性を順次補正するので、同一の周波数特性を有する複数の信号発生器20を生成することができる。
As described above, according to the
図4は、本実施形態の第2変形例に係る補正装置10の構成とともに、信号発生器20およびデジタイザ30の構成並びに基準デジタイザ50を示す。なお、第2変形例に係る補正装置10、並びに補正対象となる信号発生器20およびデジタイザ30は、図1に示す部材と略同一の構成及び機能を採るので、以下、相違点を除き説明を省略する。
FIG. 4 shows the configuration of the
本変形例に係る補正装置10は、基準信号発生器40に代えて、周波数特性が既知である基準デジタイザ50を用いて、信号発生器20およびデジタイザ30の周波数特性を補正する。基準デジタイザ50は、例えば、標準器により確度が補償されたデジタイザである。又、デジタイザ30と基準デジタイザ50とは、それぞれの使用時において、例えば使用者等により、信号発生器20に接続される。
The
基準信号生成部11は、信号発生器20に、予め定められた基準信号を生成させる。第1特性取得部12は、周波数特性が既知である基準デジタイザ50に基準信号を入力し、基準デジタイザ50が基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。デジタイザ補正部13は、第2特性取得部15が取得した測定信号の周波数特性と、基準デジタイザ50の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザ30の周波数特性を補正する。
The reference
被測定信号生成部14は、信号発生器補正部16により周波数特性が補正された信号発生器20に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる。第2特性取得部15は、周波数特性を補正すべきデジタイザ30に、被測定信号を入力し、デジタイザ30が被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。信号発生器補正部16は、測定信号の周波数特性と、基準デジタイザ50の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器20の周波数特性を補正する。
The signal under
図5は、第2変形例に係る補正装置10の処理フローを示す。まず、ステップS31において、基準信号生成部11は、信号発生器20に、予め定められた基準信号を生成させる。ここで、基準信号生成部11は、所定の複数の周波数において信号成分を有する基準信号を生成させてもよい。
FIG. 5 shows a processing flow of the
次に、ステップS32において、第1特性取得部12は、周波数特性が既知である基準デジタイザ50に基準信号を入力し、基準デジタイザ50が基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。基準信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、第1特性取得部12は、測定信号の、所定の複数の周波数における信号成分を取得してもよい。
Next, in step S32, the first
次に、ステップS33において、信号発生器補正部16は、測定信号の周波数特性と、基準デジタイザ50の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて信号発生器20の周波数特性を補正する。信号発生器補正部16は、一例として、比較結果に基づいて補正係数を生成し、第2補正メモリ22に格納することにより、信号発生器20の周波数特性を補正してよい。また、基準信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、信号発生器補正部16は、それぞれの周波数毎に、測定信号の信号成分と、基準デジタイザ50の周波数特性成分とを比較し、それぞれの周波数毎に信号発生器20の周波数特性を補正する補正係数を算出してよい。
Next, in step S33, the signal
次に、ステップS34において、被測定信号生成部14は、ステップS33において信号発生器補正部16により周波数特性が補正された信号発生器20に、基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる。例えば、基準信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、被測定信号生成部14は、信号発生器20に、所定の複数の周波数において信号成分を有する被測定信号を生成させてよい。
Next, in step S34, the measured
次に、ステップS35において、第2特性取得部15は、周波数特性を補正すべきデジタイザ30に、被測定信号を入力し、デジタイザ30が被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する。被測定信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、第2特性取得部15は、測定信号の、所定の複数の周波数における信号成分を取得してよい。
Next, in step S35, the second
次に、ステップS36において、デジタイザ補正部13は、ステップS35において第2特性取得部15が取得した測定信号の周波数特性と、基準デジタイザ50の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいてデジタイザ30の周波数特性を補正する。デジタイザ補正部13は、一例として、比較結果に基づいて補正係数を生成し、第1補正メモリ34に格納することにより、デジタイザ30の周波数特性を補正してよい。また、被測定信号に複数の周波数成分が含まれている場合には、デジタイザ補正部13は、それぞれの周波数毎に、基準信号の信号成分と測定信号の信号成分とを比較し、それぞれの周波数毎にデジタイザ30の周波数特性を補正する補正係数を算出してよい。
Next, in step S36, the
以上のように、第2変形例に係る補正装置10によれば、基準信号発生器40に代えて基準デジタイザ50を用いても、信号発生器20およびデジタイザ30が有する固有のアナログ周波数特性を補正することができる。
As described above, according to the
図6は、本実施形態に係るコンピュータ1900のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ1900は、ホスト・コントローラ2082により相互に接続されるCPU2000、RAM2020、グラフィック・コントローラ2075、及び表示装置2080を有するCPU周辺部と、入出力コントローラ2084によりホスト・コントローラ2082に接続される通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、及びCD−ROMドライブ2060を有する入出力部と、入出力コントローラ2084に接続されるROM2010、フレキシブルディスク・ドライブ2050、及び入出力チップ2070を有するレガシー入出力部とを備える。
FIG. 6 shows an example of a hardware configuration of a
ホスト・コントローラ2082は、RAM2020と、高い転送レートでRAM2020をアクセスするCPU2000及びグラフィック・コントローラ2075とを接続する。CPU2000は、ROM2010及びRAM2020に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等がRAM2020内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置2080上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
The
入出力コントローラ2084は、ホスト・コントローラ2082と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、CD−ROMドライブ2060を接続する。通信インターフェイス2030は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ2040は、コンピュータ1900内のCPU2000が使用するプログラム及びデータを格納する。CD−ROMドライブ2060は、CD−ROM2095からプログラム又はデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。
The input /
また、入出力コントローラ2084には、ROM2010と、フレキシブルディスク・ドライブ2050、及び入出力チップ2070の比較的低速な入出力装置とが接続される。ROM2010は、コンピュータ1900が起動時に実行するブート・プログラムや、コンピュータ1900のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ2050は、フレキシブルディスク2090からプログラム又はデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。入出力チップ2070は、フレキシブルディスク・ドライブ2050や、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。
The input /
RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク2090、CD−ROM2095、又はICカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、RAM2020を介してコンピュータ1900内のハードディスクドライブ2040にインストールされ、CPU2000において実行される。
A program provided to the
コンピュータ1900にインストールされ、コンピュータ1900を補正装置10として機能させるプログラムは、基準信号生成モジュールと、第1特性取得モジュールと、デジタイザ補正モジュールと、被測定信号生成モジュールと、第2特性取得モジュールと、信号発生器補正部とを備える。これらのプログラム又はモジュールは、CPU2000等に働きかけて、コンピュータ1900を、基準信号生成部11、第1特性取得部12、デジタイザ補正部13、被測定信号生成部14、第2特性取得部15、信号発生器補正部16としてそれぞれ機能させる。
A program installed in the
以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク2090、CD−ROM2095の他に、DVDやCD等の光学記録媒体、MO等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ICカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークやインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はRAM等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ1900に提供してもよい。
The program or module shown above may be stored in an external storage medium. As the storage medium, in addition to the
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。 As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above-described embodiment. It is apparent from the scope of the claims that the embodiments added with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.
10 補正装置
20 信号発生器
30 デジタイザ
40 基準信号発生器
50 基準デジタイザ
11 基準信号生成部
12 第1特性取得部
13 デジタイザ補正部
14 被測定信号生成部
15 第2特性取得部
16 信号発生器補正部
21 出力データメモリ
22 第2補正メモリ
23 デジタルアナログコンバータ
24 出力アナログ回路
31 入力アナログ回路
32 アナログデジタルコンバータ
33 入力データメモリ
34 第1補正メモリ
1900 コンピュータ
2000 CPU
2010 ROM
2020 RAM
2030 通信インターフェイス
2040 ハードディスクドライブ
2050 フレキシブルディスク・ドライブ
2060 CD−ROMドライブ
2070 入出力チップ
2075 グラフィック・コントローラ
2080 表示装置
2082 ホスト・コントローラ
2084 入出力コントローラ
2090 フレキシブルディスク
2095 CD−ROM
DESCRIPTION OF
2010 ROM
2020 RAM
2030
Claims (10)
前記信号発生器に、予め定められた基準信号を生成させる信号生成段階と、
周波数特性が既知である基準デジタイザに前記基準信号を入力し、前記基準デジタイザが前記基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第1特性取得段階と、
前記測定信号の周波数特性と、前記基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて前記信号発生器の周波数特性を補正する信号発生器補正段階と、
前記信号発生器補正段階において周波数特性が補正された前記信号発生器に、前記基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる被測定信号生成段階と、
周波数特性を補正すべき前記デジタイザに、前記被測定信号を入力し、前記デジタイザが前記被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第2特性取得段階と、
前記第2特性取得段階において取得した前記測定信号の周波数特性と、前記基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて前記デジタイザの周波数特性を補正するデジタイザ補正段階と
を備える補正方法。 A signal generator for generating an input signal to the device under test, and a correction method for correcting frequency characteristics of a digitizer for measuring an output signal of the device under test, which is used in a test apparatus for testing the device under test,
A signal generating step for causing the signal generator to generate a predetermined reference signal;
A first characteristic acquisition step of inputting the reference signal to a reference digitizer having a known frequency characteristic, and acquiring a frequency characteristic of a measurement signal output by the reference digitizer according to the reference signal;
A signal generator correction stage that compares the frequency characteristics of the measurement signal with the frequency characteristics of the reference digitizer and corrects the frequency characteristics of the signal generator based on the comparison result;
A signal under test generating step for generating the signal under test having the same pattern as the reference signal in the signal generator whose frequency characteristics have been corrected in the signal generator correction step;
A second characteristic acquisition step of inputting the signal under measurement to the digitizer to be corrected for frequency characteristics, and acquiring a frequency characteristic of the measurement signal output by the digitizer according to the signal under measurement;
A correction method comprising: a digitizer correction step of comparing the frequency characteristic of the measurement signal acquired in the second characteristic acquisition step with the frequency characteristic of the reference digitizer and correcting the frequency characteristic of the digitizer based on the comparison result .
前記第1特性取得段階で、前記測定信号の、前記所定の複数の周波数における信号成分を取得し、
前記信号発生器補正段階で、それぞれの周波数毎に、前記測定信号の信号成分と前記基準デジタイザの周波数特性とを比較し、それぞれの周波数毎に前記信号発生器の周波数特性を補正する補正係数を算出する
請求項1に記載の補正方法。 Wherein in signal generation stage, to generate the reference signal having the signal components in a plurality of predetermined frequencies,
In the first characteristic acquisition step, signal components at the predetermined plurality of frequencies of the measurement signal are acquired,
In the signal generator correction step, for each frequency, the signal component of the measurement signal is compared with the frequency characteristic of the reference digitizer, and a correction coefficient for correcting the frequency characteristic of the signal generator is corrected for each frequency. The correction method according to claim 1.
前記第2特性取得段階で、前記測定信号の、前記所定の複数の周波数における信号成分を取得し、
前記デジタイザ補正段階で、それぞれの周波数毎に、前記測定信号の信号成分と、前記基準デジタイザの周波数特性成分とを比較し、それぞれの周波数毎に前記デジタイザの周波数特性を補正する補正係数を算出する
請求項2に記載の補正方法。 In the measured signal generation step, the signal generator generates the measured signal having signal components at the predetermined plurality of frequencies,
In the second characteristic acquisition step, signal components at the predetermined plurality of frequencies of the measurement signal are acquired,
In the digitizer correction step, the signal component of the measurement signal is compared with the frequency characteristic component of the reference digitizer for each frequency, and a correction coefficient for correcting the frequency characteristic of the digitizer is calculated for each frequency. The correction method according to claim 2.
前記デジタイザ補正段階で、前記第2特性取得段階において順次取得したそれぞれの前記測定信号の周波数特性と、前記基準デジタイザの周波数特性とを順次比較し、それぞれの比較結果に基づいて、対応する前記デジタイザの周波数特性を順次補正する
請求項1から3のいずれか1項に記載の補正方法。 Before Symbol second characteristic acquisition step, the pre-Symbol measured signal sequentially inputted to the plurality of the digitizer to be corrected frequency characteristic of the measurement signal, each of said digitizer sequentially output in accordance with the prior SL measured signal Obtain frequency characteristics sequentially,
In the digitizer correction stage, the frequency characteristics of the measurement signals sequentially acquired in the second characteristic acquisition stage are sequentially compared with the frequency characteristics of the reference digitizer , and the corresponding digitizers are determined based on the comparison results. correction method according to any one of claims 1 to 3 for sequentially correcting the frequency characteristic of the.
前記信号発生器が出力する前記被測定信号を受け取り、後段の回路に伝送する入力アナログ回路と、
前記入力アナログ回路が伝送する信号をデジタルの前記測定信号に変換するアナログデジタルコンバータと、
前記アナログデジタルコンバータが出力する前記測定信号を格納する入力データメモリと、
前記入力データメモリが格納した前記測定信号を補正する補正係数を格納する第1補正メモリと
を備え、
前記第2特性取得段階で、前記データメモリが格納した前記測定信号に基づいて、前記測定信号の周波数特性を算出する
請求項1から4のいずれか1項に記載の補正方法。 The digitizer is
Receiving said measured signal the signal generator output, an input analog circuitry for transmitting to the subsequent circuit,
An analog-to-digital converter that converts the signal transmitted by the input analog circuit into the digital measurement signal;
An input data memory for storing the measurement signal output by the analog-digital converter;
A first correction memory for storing a correction coefficient for correcting the measurement signal stored in the input data memory,
The second characteristic acquisition step, wherein the data memory is stored based on the measurement signal, the correction method according to claim 1, any one of 4 to calculate the frequency characteristic of the measuring signal.
請求項5に記載の補正方法。 The correction method according to claim 5, wherein, in the digitizer correction step, the correction coefficient is generated based on the comparison result and stored in the first correction memory.
生成すべき信号の波形データを格納する出力データメモリと、
前記出力データメモリが格納した前記波形データを補正する補正係数を格納する第2補正メモリと、
前記出力データメモリが格納した前記波形データを、アナログの前記被測定信号に変換するデジタルアナログコンバータと、
前記デジタルアナログコンバータが出力する前記被測定信号を受け取り、前記デジタイザに出力する出力アナログ回路と
を備え、
前記信号発生器補正段階で、前記比較結果に基づいて補正係数を生成し、前記第2補正メモリに格納する
請求項1から6のいずれか1項に記載の補正方法。 The signal generator is
An output data memory for storing the waveform data of the signal to be generated;
A second correction memory for storing a correction coefficient for correcting the waveform data stored in the output data memory;
A digital-analog converter that converts the waveform data stored in the output data memory into the analog signal under measurement;
An output analog circuit that receives the signal under measurement output from the digital analog converter and outputs the signal to the digitizer;
Wherein the signal generator correction phase to produce a correction factor based on the comparison result, correction method according to any one of claims 1 6 to be stored in the second correction memory.
前記デジタイザに前記基準信号を入力し、前記デジタイザが前記基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第3特性取得段階と、 A third characteristic acquisition step of inputting the reference signal to the digitizer and acquiring a frequency characteristic of a measurement signal output by the digitizer according to the reference signal;
周波数特性を補正すべき前記信号発生器に、前記被測定信号生成段階が生成させた前記基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を、前記デジタイザ補正段階により前記基準信号発生器の周波数特性と、前記第3特性取得段階が取得した前記測定信号の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて周波数特性が補正された前記デジタイザに入力し、前記デジタイザが前記被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第4特性取得段階と、 A signal under measurement having the same pattern as the reference signal generated by the signal under test generation step is caused to be corrected by the digitizer correction step with the frequency characteristic of the reference signal generator. The frequency characteristic of the measurement signal acquired in the third characteristic acquisition step is compared, input to the digitizer whose frequency characteristic is corrected based on the comparison result, and the digitizer outputs according to the signal under measurement A fourth characteristic acquisition stage for acquiring a frequency characteristic of the measurement signal;
を更に備え、 Further comprising
前記信号発生器補正段階は、前記第4特性取得段階において取得した前記測定信号の周波数特性と、前記基準信号発生器の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて前記信号発生器の周波数特性を補正する The signal generator correction step compares the frequency characteristic of the measurement signal acquired in the fourth characteristic acquisition step with the frequency characteristic of the reference signal generator, and based on the comparison result, the frequency characteristic of the signal generator To correct
請求項1に記載の補正方法。 The correction method according to claim 1.
前記信号発生器に、予め定められた基準信号を生成させる信号生成部と、
周波数特性が既知である基準デジタイザに前記基準信号を入力し、前記基準デジタイザが前記基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第1特性取得部と、
前記測定信号の周波数特性と、前記基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて前記信号発生器の周波数特性を補正する信号発生器補正部と、
前記信号発生器補正部により周波数特性が補正された前記信号発生器に、前記基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を生成させる被測定信号生成部と、
周波数特性を補正すべき前記デジタイザに、前記被測定信号を入力し、前記デジタイザが前記被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第2特性取得部と、
前記第2特性取得部が取得した前記測定信号の周波数特性と、前記基準デジタイザの周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて前記デジタイザの周波数特性を補正するデジタイザ補正部と
を備える補正装置。 A signal generator that generates an input signal to the device under test, and a correction device that corrects a frequency characteristic of a digitizer that measures an output signal of the device under test, which is used in a test apparatus that tests the device under test,
To the signal generator, a signal generator for generating a reference signal predetermined
A first characteristic acquisition unit that inputs the reference signal to a reference digitizer having a known frequency characteristic, and acquires a frequency characteristic of a measurement signal that the reference digitizer outputs in response to the reference signal;
A signal generator correction unit that compares the frequency characteristic of the measurement signal with the frequency characteristic of the reference digitizer and corrects the frequency characteristic of the signal generator based on the comparison result;
A signal-under-measurement generating unit that causes the signal generator whose frequency characteristics are corrected by the signal generator correction unit to generate a signal under measurement having the same pattern as the reference signal;
A second characteristic acquisition unit that inputs the signal under measurement to the digitizer to be corrected for frequency characteristics, and acquires the frequency characteristic of the measurement signal output by the digitizer according to the signal under measurement;
A correction apparatus comprising: a digitizer correction unit that compares the frequency characteristic of the measurement signal acquired by the second characteristic acquisition unit with the frequency characteristic of the reference digitizer and corrects the frequency characteristic of the digitizer based on the comparison result.
前記基準信号発生器に、予め定められた基準信号を生成させる基準信号生成部と、 A reference signal generator that causes the reference signal generator to generate a predetermined reference signal;
前記デジタイザに前記基準信号生成部が生成した前記基準信号を入力し、前記デジタイザが前記基準信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第3特性取得部と、 A third characteristic acquisition unit that inputs the reference signal generated by the reference signal generation unit to the digitizer and acquires a frequency characteristic of a measurement signal output by the digitizer according to the reference signal;
周波数特性を補正すべき前記信号発生器に、前記被測定信号生成部が生成させた、前記基準信号と同一のパターンを有する被測定信号を、前記デジタイザ補正部により前記基準信号発生器の周波数特性と、第3特性取得部が取得した前記測定信号の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて前記デジタイザの周波数特性を補正された前記デジタイザに入力し、前記デジタイザが前記被測定信号に応じて出力する測定信号の周波数特性を取得する第4特性取得部と、 A signal under test having the same pattern as the reference signal generated by the signal under test generator generated by the signal generator to be corrected for frequency characteristics is converted into a frequency characteristic of the reference signal generator by the digitizer correction unit. Is compared with the frequency characteristic of the measurement signal acquired by the third characteristic acquisition unit, and the digitizer is input to the digitizer corrected based on the comparison result, and the digitizer responds to the signal under measurement. A fourth characteristic acquisition unit for acquiring a frequency characteristic of the measurement signal to be output;
を更に備え、 Further comprising
前記信号発生器補正部は、前記第4特性取得部が取得した前記測定信号の周波数特性と、前記基準信号発生器の周波数特性とを比較し、比較結果に基づいて前記信号発生器の周波数特性を補正する The signal generator correction unit compares the frequency characteristic of the measurement signal acquired by the fourth characteristic acquisition unit with the frequency characteristic of the reference signal generator, and based on the comparison result, the frequency characteristic of the signal generator To correct
請求項9に記載の補正装置。 The correction device according to claim 9.
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