JP4690428B2 - Device for detecting partial discharge intensity of conductive device - Google Patents
Device for detecting partial discharge intensity of conductive device Download PDFInfo
- Publication number
- JP4690428B2 JP4690428B2 JP2008014855A JP2008014855A JP4690428B2 JP 4690428 B2 JP4690428 B2 JP 4690428B2 JP 2008014855 A JP2008014855 A JP 2008014855A JP 2008014855 A JP2008014855 A JP 2008014855A JP 4690428 B2 JP4690428 B2 JP 4690428B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mode
- discharge
- frequency
- tank
- ratio
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Gas-Insulated Switchgears (AREA)
- Driving Mechanisms And Operating Circuits Of Arc-Extinguishing High-Tension Switches (AREA)
- Installation Of Bus-Bars (AREA)
Description
本発明は、ガス絶縁開閉装置や電力ケーブル等の導電装置の部分放電発生位置検出装置、特に筒状体の長さ方向と交差する方向の位置を的確に知ることができる導電装置の部分放電発生位置検出装置に関する。 The present invention relates to a partial discharge generation position detection device for a conductive device such as a gas insulated switchgear or a power cable, and particularly to a partial discharge generation of a conductive device that can accurately know the position in the direction intersecting the length direction of the cylindrical body. The present invention relates to a position detection device.
従来の導電装置であるガス絶縁機器の部分放電検出装置として、部分放電の周波数スペクトルの特性から異常を検出するもので、例えば周波数スペクトルに現れる複数のスペクトル強度の山のスペクトル幅を測定または比較して、コンタクトの接触不良、電気フロート、スペーサのクラックとボイド、金属線等の異常原因を診断しようとするものがある(例えば、特許文献1参照)。 As a partial discharge detection device for gas insulation equipment, which is a conventional conductive device, it detects anomalies from the characteristics of the frequency spectrum of partial discharge. For example, it measures or compares the spectral widths of multiple spectral intensity peaks that appear in the frequency spectrum. Some of them attempt to diagnose abnormal causes such as contact failure, electrical float, spacer cracks and voids, and metal wires (see, for example, Patent Document 1).
従来の部分放電検出装置は上記の如きであったが、この方法では部分放電が径方向のどのあたりの位置で発生しているのかを、的確に知ることができなかった。異常の径方向の位置によっては早急に点検を要するものもあり、しばらくは放置しておいても有害ではないものもあることから、径方向の異常位置の判定を的確に行える装置が望まれている。 The conventional partial discharge detection apparatus is as described above. However, in this method, it has not been possible to know exactly where the partial discharge is generated in the radial direction. Depending on the position of the abnormal radial direction, there is a thing that requires immediate inspection, and there are some that are not harmful if left unattended for a while, so a device that can accurately determine the abnormal position in the radial direction is desired. Yes.
すなわち、例えばガス絶縁開閉装置(以下GISという)の筒状体であるタンク内への異物の混入を考えた場合、同じ形状の異物でもタンク側にある場合は起立→浮上→破壊という段階を踏むのに対し、内部高圧導体側にある場合は直ちに破壊に結び付く可能性がある。よって、異物の径方向の位置を知ることは絶縁診断上重要なことである。 That is, for example, when considering the entry of foreign matter into a tank that is a cylindrical body of a gas insulated switchgear (hereinafter referred to as GIS), even if the same shape of foreign matter is on the tank side, the steps of standing up → floating → destruction are taken. On the other hand, if it is on the internal high-voltage conductor side, it may lead to destruction immediately. Therefore, knowing the position of the foreign material in the radial direction is important for insulation diagnosis.
本発明の目的とするところは、上記のような問題点を解決して、導電性材料で形成された筒状体とこの筒状体内に収容され筒状体の長さ方向に延伸された導体とを有する導電装置における上記筒状体内で発生する部分放電が、筒状体の長さ方向と交差する方向のどの位置で発生したか、すなわち筒状体が円筒状であればその径方向のどの位置で発生したかを知ることができる導電装置の部分放電発生位置検出装置を得ることにある。さらに、部分放電の強度を知ることができる部分放電強度検出装置を得ることを目的とする。 An object of the present invention is to solve the above-described problems, and a cylindrical body formed of a conductive material and a conductor accommodated in the cylindrical body and extended in the length direction of the cylindrical body The partial discharge generated in the cylindrical body in the conductive device having the above is generated at which position in the direction intersecting the longitudinal direction of the cylindrical body, that is, in the radial direction if the cylindrical body is cylindrical. The object is to obtain a partial discharge occurrence position detection device for a conductive device that can know at which position it has occurred. Furthermore, it aims at obtaining the partial discharge intensity | strength detection apparatus which can know the intensity | strength of partial discharge.
この発明に係る本発明の導電装置の部分放電強検出装置においては、導電性材料で形成された筒状体とこの筒状体内に収容され筒状体の長さ方向に延伸された導体とを有する導電装置における筒状体内で発生する電磁波の内のTE21モードの強度を求めてこれを部分放電強度の指標とするものである。 In the partial discharge strong detection device for a conductive device of the present invention according to the present invention, a cylindrical body made of a conductive material and a conductor accommodated in the cylindrical body and extended in the length direction of the cylindrical body. The TE21 mode intensity of electromagnetic waves generated in the cylindrical body of the conductive device is obtained and used as an index of partial discharge intensity.
この発明は、導電性材料で形成された筒状体とこの筒状体内に収容され筒状体の長さ方向に延伸された導体とを有する導電装置における筒状体内で発生する電磁波の内のTE21モードの強度を求めてこれを部分放電強度の指標とするものであるので、TE21モードは筒状体の長さ方向と交差する方向の位置にほとんど依存しないので本モードを検出することにより放電強度の正確な測定が可能となる。 The present invention relates to an electromagnetic wave generated in a cylindrical body in a conductive device having a cylindrical body formed of a conductive material and a conductor accommodated in the cylindrical body and extended in the length direction of the cylindrical body. Since the TE21 mode intensity is obtained and used as an indicator of the partial discharge intensity, the TE21 mode hardly depends on the position in the direction intersecting the longitudinal direction of the cylindrical body, so that the discharge is detected by detecting this mode. Accurate measurement of intensity is possible.
ガス絶縁機器等の導電装置の内部異常は、発生する部分放電の周波数スペクトルを検出することで診断できる。相分離母線GISは円筒同軸構造をしているので、電磁波の伝搬に関して同軸導波管と見なすことができる。同軸導波管内を伝搬する電磁波モードには、TEMモード(tansverse electro−magnetic mode)、TEmnモード、TMmnモードの基本的に3種類のモードが存在する。ここで、TEmnモード(transverse electric mode)の場合は、mおよびnは1以上の整数である。TMmnモード(transverse magnetic mode)の場合は、mは0以上の整数、nは1以上の整数である。各電磁波モードはそれぞれのモードに固有の電磁界分布をもつ。 An internal abnormality of a conductive device such as a gas insulation device can be diagnosed by detecting a frequency spectrum of the partial discharge that occurs. Since the phase separation bus GIS has a cylindrical coaxial structure, it can be regarded as a coaxial waveguide with respect to propagation of electromagnetic waves. There are basically three types of electromagnetic wave modes propagating in the coaxial waveguide: a TEM mode (transverse electro-magnetic mode), a TEmn mode, and a TMmn mode. Here, in the TEmn mode (transverse electric mode), m and n are integers of 1 or more. In the TMmn mode (transverse magnetic mode), m is an integer of 0 or more, and n is an integer of 1 or more. Each electromagnetic wave mode has a unique electromagnetic field distribution.
図1〜図4は、各モードの電界分布の一例を示す特性図である。図1はTEMモードとTEm1モードの特性を示し、図2はTMm1モードの径方向電界成分の径方向分布を示す。図3は、TE11モードとTM01モードの電界の径方向成分を示す特性図、図4は、各モードの周波数分布図である。 1 to 4 are characteristic diagrams showing an example of an electric field distribution in each mode. FIG. 1 shows the characteristics of the TEM mode and the TEm1 mode, and FIG. 2 shows the radial distribution of the radial electric field component of the TMm1 mode. FIG. 3 is a characteristic diagram showing the radial component of the electric field of the TE11 mode and the TM01 mode, and FIG. 4 is a frequency distribution diagram of each mode.
TEMモードは、良く知られているように同軸中心からの距離に反比例する電界分布を示すことから、図1のように、電界強度と径方向位置とは1対1に対応する。放電発生源がタンク側にある場合、放電発生源から放射された電磁波は、放電発生源が内部高圧導体側にある場合に比べて内部高圧導体との結合が弱くなる。TEMモードの電磁波が発生するためには導体が2つ必要なことから、タンク側で放電した場合は内部高圧導体側で放電した場合に比べて内部高圧導体との結合が弱い分TEMモードの電磁波が発生しにくくなっている。 As is well known, the TEM mode shows an electric field distribution that is inversely proportional to the distance from the coaxial center. Therefore, as shown in FIG. 1, the electric field intensity and the radial position correspond one-to-one. When the discharge generation source is on the tank side, the electromagnetic wave radiated from the discharge generation source is weakly coupled to the internal high-voltage conductor as compared to when the discharge generation source is on the internal high-voltage conductor side. Since two conductors are required to generate the TEM mode electromagnetic wave, the TEM mode electromagnetic wave is less coupled with the internal high voltage conductor when discharged on the tank side than when discharged on the internal high voltage conductor side. Is less likely to occur.
一方、図2のように、TMm1モードは中心導体とタンク底面との間においてその強度が極小となる位置があり、電界強度と径方向位置は1対1に対応しない。また、図示はしていないが、TEmn、TMmnモードの内nが2以上のモードについては、中心導体とタンクとの間においてその強度が極小となる位置があり、電界強度と径方向の位置とは1対1に対応しない。 On the other hand, as shown in FIG. 2, the TMm1 mode has a position where the strength is minimal between the center conductor and the tank bottom surface, and the electric field strength and the radial position do not correspond one-to-one. Although not shown in the figure, among the TEmn and TMmn modes where n is 2 or more, there is a position where the strength is minimal between the central conductor and the tank, and the electric field strength and the radial position are Does not correspond one to one.
ところで、部分放電源はGISのタンク内のある位置に偶発的に存在し、例えば中心導体表面や、タンク底面、スペーサ表面などが可能性としてある。それらの放電源において放電が発生すると電磁波が励起される。前述したように、GISのように同軸構造容器内においては放電のエネルギにより各電磁波モードが励起される。励起される電磁波モードそれぞれの強度は放電の大きさや放電源の位置に依存する。 By the way, the partial discharge power supply is accidentally present at a certain position in the tank of the GIS. For example, the central conductor surface, the tank bottom surface, the spacer surface, and the like are possible. When discharge occurs in those discharge sources, electromagnetic waves are excited. As described above, each electromagnetic wave mode is excited by the energy of discharge in the coaxial structure container like GIS. The intensity of each excited electromagnetic wave mode depends on the magnitude of the discharge and the position of the discharge source.
一般に励起源の強度、すなわち放電の強度が同じであれば、モード固有の電界強度分布において電界が高くなる場所で励起するとそのモードが強く励起される。すなわち、図1および図2に示した各モードの電界分布は各モードの電磁波強度の放電源位置依存性を示している。従って、例えば、TE11モードの場合はタンク底面に放電源が存在する場合に比較して中心導体側に存在する方が強く励起されることを示している。一方、TE31モードに関しては、タンク底面側に存在する方が強く励起されることを示している。 In general, if the intensity of the excitation source, that is, the intensity of the discharge is the same, the mode is strongly excited when excited in a place where the electric field is high in the electric field intensity distribution specific to the mode. That is, the electric field distribution of each mode shown in FIGS. 1 and 2 shows the dependency of the electromagnetic wave intensity of each mode on the discharge source position. Therefore, for example, in the case of the TE11 mode, it is shown that the presence of the discharge source on the bottom surface of the tank is more strongly excited when it exists on the center conductor side. On the other hand, regarding the TE31 mode, it is shown that the one existing on the bottom side of the tank is strongly excited.
従って、部分放電によって発生するTEM、TEmn、TMmnモードの内、TEMモード、TEm1モードの強度を用いることによって放電源の径方向の位置を知ることができる。
なお、図2に示すようにTMモードは電界分布が中心導体表面とタンク底面の間で極小値をもち径方向の位置とモードの強度が1対1に対応しない。また、図示していないが、TEmnモードの内、nが2以上のモードの場合にもTMモードと同様にモードの強度と径方向の位置が必ずしも1対1に対応しない場合がある。ゆえに、TMモードを単独の指標として用いることは適当でない。但し、図3の特性図に示すようにTEMモードやTE11モードに比べてその値は小さいので、TEMモードやTE11モード等に混在していても、それほど影響を与えない。
Therefore, the radial position of the discharge source can be known by using the intensity of the TEM mode and the TEm1 mode among the TEM, TEmn, and TMmn modes generated by the partial discharge.
As shown in FIG. 2, in the TM mode, the electric field distribution has a minimum value between the center conductor surface and the tank bottom surface, and the radial position and the mode intensity do not correspond one-to-one. Although not shown, even in the case of the TEmn mode where n is 2 or more, the intensity of the mode and the position in the radial direction may not always correspond to each other as in the TM mode. Therefore, it is not appropriate to use the TM mode as a single indicator. However, as shown in the characteristic diagram of FIG. 3, the value is smaller than that of the TEM mode or the TE11 mode, so even if they are mixed in the TEM mode, the TE11 mode, or the like, the influence is not so much.
ところで、部分放電は放電の種類によって、また印加電圧によって決まる放電源周辺の電界によって放電の大きさが異なる。即ち、特定の電磁波モードの強度の違いだけでは、放電の大きさの違いを反映しているのか、あるいは、部分放電発生の径方向位置の違いを反映しているのかを知ることができない。従って、ある特定のモードの強度だけでは、放電源の径方向の位置を同定することは困難である。 By the way, the magnitude of discharge varies depending on the type of discharge and the electric field around the discharge source determined by the applied voltage. That is, it is impossible to know whether the difference in the magnitude of the discharge is reflected or the difference in the radial position of the partial discharge is reflected only by the difference in the intensity of the specific electromagnetic wave mode. Therefore, it is difficult to identify the radial position of the discharge source with only the intensity of a specific mode.
放電の大きさは発生の都度変化するが、何らかの方法により放電の大きさの影響を除くことができれば、それは放電の大きさには依存せず、径方向だけに依存することになり、特定の電磁波モードの強度の違いは部分放電発生の径方向の位置の違いを反映することになるはずである。そうすれば、TEMモード、TEm1モードの内のいずれかの電磁波モードの強さを検出することにより、放電源の径方向上の位置を知ることができる。
この発明は、上記のような着想に基づいてなされたもので、以下にいくつかの実施の形態について説明する。
The magnitude of the discharge changes each time it occurs, but if the influence of the magnitude of the discharge can be eliminated by some method, it does not depend on the magnitude of the discharge, but only on the radial direction. The difference in the intensity of the electromagnetic wave mode should reflect the difference in the radial position of the partial discharge. Then, the position of the discharge source in the radial direction can be known by detecting the strength of any electromagnetic wave mode of the TEM mode and the TEm1 mode.
The present invention has been made on the basis of the above idea, and several embodiments will be described below.
実施の形態1.
以下、この発明の実施の一形態を図5〜図10について具体的に説明する。図5は筒状体であるGISのタンク内部に混入した導電性異物と部分放電の検知装置の構成を示す構成図、図6は検知装置の動作を示すフローチャートである。図7は部分放電が内部高圧導体側にて発生した場合に発生する電磁波の周波数スペクトルを示すスペクトル図、図8は部分放電がタンク側で発生した場合に発生する電磁波の周波数スペクトルを示すスペクトル図、図9は検知装置の検知結果を示す特性図、図10は検知結果の時間変化を示す特性図である。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to FIGS. FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the conductive foreign matter and partial discharge detection device mixed in the GIS tank, which is a cylindrical body, and FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the detection device. FIG. 7 is a spectrum diagram showing the frequency spectrum of the electromagnetic wave generated when the partial discharge is generated on the internal high-voltage conductor side, and FIG. 8 is a spectrum diagram showing the frequency spectrum of the electromagnetic wave generated when the partial discharge is generated on the tank side. FIG. 9 is a characteristic diagram showing a detection result of the detection device, and FIG. 10 is a characteristic diagram showing a time change of the detection result.
ところで、上記で述べたTEM、TE、TMの各モードの周波数域は、図4の周波数分布図に示すような関係にある。例えば、TE11モードの電磁波はある所定の周波数fcTE11未満の区域には存在しない。すなわち各電磁波モードには遮断周波数fcが存在する。遮断周波数fcとはある電磁波モードがその周波数以上でしか存在しないという周波数である。 By the way, the frequency ranges of the TEM, TE, and TM modes described above have a relationship as shown in the frequency distribution diagram of FIG. For example, the electromagnetic wave in the TE11 mode does not exist in an area below a predetermined frequency fcTE11. That is, each electromagnetic wave mode has a cutoff frequency fc. The cut-off frequency fc is a frequency at which a certain electromagnetic wave mode exists only at or above that frequency.
この遮断周波数fcは例えば、GISのような同軸円筒構造の場合には理論的に計算できる。この遮断周波数fcは導波管として働くGIS10の形状で決るもので、内部高圧導体12の外径をx、タンク11の内径をyとすると、TEm1モードの遮断周波数は、近似的に次の(1)式
fc=2c・m/π(x+y) ここに、c:光速 (1)
で与えられる。例えば、内部高圧導体12の外径x=130mm、タンク11の内径y=550mmとすると、TE11モードの遮断周波数fcTE11は約281MHzとなる。ただし、厳密には電磁界の境界条件にもとづいた数値解析により得ることができる。
This cutoff frequency fc can be theoretically calculated in the case of a coaxial cylindrical structure such as GIS. The cutoff frequency fc is determined by the shape of the
Given in. For example, if the outer diameter x of the internal
遮断周波数fcから電磁波モードを特定することができる場合がある。例えば、TE11モードの遮断周波数fcTE11以下ではTEMモードしか存在できないので、fcTE11以下のスペクトル強度はTEMモードのものであると判定できる。
従って、遮断周波数fcTE11より小さい所定の周波数における成分の強さを求めれば、それがTEMモードの強さである。そして、放電強度の影響を除くためにこのTEMモードの強度と、TEMモード以外のTEやTMモードの強度との比を求めることにより正規化する。この正規化されたTEMモードの径方向電界成分の強度と放電発生の径方向の位置dとは、1対1に対応するので、正規化されたTEMモードの強さから、その放電の径方向の発生位置を知ることができる。
In some cases, the electromagnetic wave mode can be specified from the cutoff frequency fc. For example, since only the TEM mode can exist at the cutoff frequency fcTE11 or less in the TE11 mode, it can be determined that the spectrum intensity below the fcTE11 is that in the TEM mode.
Therefore, if the strength of a component at a predetermined frequency smaller than the cutoff frequency fcTE11 is obtained, that is the strength of the TEM mode. In order to eliminate the influence of the discharge intensity, normalization is performed by obtaining a ratio between the intensity of the TEM mode and the intensity of TE or TM mode other than the TEM mode. The intensity of the normalized electric field component in the TEM mode and the position d in the radial direction of discharge generation have a one-to-one correspondence. Therefore, from the intensity of the normalized TEM mode, the radial direction of the discharge Can be known.
図5において、導電装置としてのGIS10は次のように構成され、この発明の検知装置20が設けられている。円筒状のタンク11の中心部に、断面が中空円形の内部高圧導体12がタンク11と同軸になるようにして設けられている。内部高圧導体12は、タンク11の長さ方向に所定間隔をおいて設けられたコーン状の絶縁スペーサ13により支持固定されている。また、タンク11の内部、すなわち内部高圧導体12の周囲には、絶縁媒体である六弗化硫黄ガス(以下、SF6ガスと表す)が充填されている。
In FIG. 5, a
タンク11内部の異常状態として、内部高圧導体12の表面に起立して固定された内部高圧導体固定針15、タンク12の内壁面に起立して固定されたタンク固定針16、固定されていない自由異物17、がそれぞれ放電発生源となる場合について考える。
As an abnormal state inside the
検知装置20は、次のように構成されている。電磁波検出器21がタンク11内に設置されている。タンク11内部において部分放電が発生すると電磁波が発生する。この電磁波を電磁波検出器21で検出し、検出した信号を増幅器22で増幅し、高速フーリエ変換装置23に取り込む。電磁波検出器21は、タンク11の内面と面一に形成された平板状のアンテナである。
The
そして、高速フーリエ変換装置23により高速フーリエ変換を行い、周波数スペクトルを求める。さらに、抽出器25によりこの周波数スペクトルのうち、TE11モードの遮断周波数fcTE11未満の第一の周波数f1の成分の大きさA1(dBV)と、TE11モードの遮断周波数fcTE11以上の第二の周波数f2の成分の大きさA2(dBV)を取出す。
Then, a fast Fourier transform is performed by the fast
割算器26により、比率U=A1/A2を求める。判定装置27は、比率Uの大きさ及び時間変化の有無に基づき、固定異物か自由異物かを判定し、固定異物の場合はタンク11内における径方向の位置を図9の曲線Dに基づいて算出する。表示装置28は、判定装置27の判定結果の文字情報及び比率Uの値を表示する。詳細は、後述する。
なお、図5における高速フーリエ変換装置23、抽出器25、割算器26がこの発明における正規化手段である。
The ratio U = A1 / A2 is obtained by the
The fast
第一、第二の周波数f1,f2は、このTE11モードの遮断周波数fcTE11未満の周波数の区域と、fcTE11以上の区域からそれぞれ選ぶ。すると、第一の周波数f1においてはTEMモードの波だけしか含まない。前述のように、例えば内部高圧導体12の外径x=130mm、タンク11の内径y=550mmとすると、TE11モードの遮断周波数fcTE11は約281MHzになる。
The first and second frequencies f1 and f2 are selected from a region having a frequency lower than the cut-off frequency fcTE11 in the TE11 mode and a region having fcTE11 or higher. Then, only the TEM mode wave is included in the first frequency f1. As described above, for example, when the outer diameter x of the internal high-
例えば、f1=80MHz、f2=1GHzに選ぶ。このように選ぶと、第一の周波数f1の成分と第二の周波数f2の成分の各大きさの違いは、電磁波中に含まれるTEM波とTE波との違いを反映するものになる。そして、放電発生源が内部高圧導体12側にあるか、タンク11側にあるかで電磁波中に含まれるTEM波の割合が違ってくる。
For example, f1 = 80 MHz and f2 = 1 GHz are selected. When selected in this way, the difference in magnitude between the component of the first frequency f1 and the component of the second frequency f2 reflects the difference between the TEM wave and the TE wave contained in the electromagnetic wave. The ratio of the TEM wave contained in the electromagnetic wave differs depending on whether the discharge generation source is on the internal high-
次に動作について、図6のフローチャートを参照しながら説明する。タンク11内に、放電発生源としての上記の各種の異物である内部高圧導体固定針15、タンク固定針16、自由異物17のうちの一つを取り付け、電圧を印加する。ステップS11において、その時の部分放電にともなって発生する電磁波を電磁波検出器21にて検出し、ステップS12において電磁波検出器21からの信号を増幅器22で増幅する。
Next, the operation will be described with reference to the flowchart of FIG. In the
ステップS13において、増幅した信号を高速フーリエ変換装置23に取り込み、波形を高速フーリエ変換を行い、周波数スペクトルを求める。放電発生源が内部高圧導体固定針15(図5参照)の場合の周波数スペクトルを図7に、タンク固定針16(図5参照)の場合の周波数スペクトルを図8に示す。なお、図7、図8において、横軸が周波数frequncy(Hz)、縦軸が振幅Ampli(dBV)である。
In step S13, the amplified signal is taken into the fast
TE11モードの遮断周波数fcTE11未満の成分に着目すると、放電発生源が内部高圧導体固定針15の場合である図7の方が、放電発生源がタンク固定針16の場合である図8よりもかなり大きくなっている。
Focusing on the component of the TE11 mode below the cut-off frequency fcTE11, FIG. 7 in which the discharge generation source is the internal high-voltage conductor fixed
ステップS14において、高速フーリエ変換装置23により求めた周波数スペクトルから、例えばf1=80MHz、f2=1GHzにおける成分の大きさA1,A2を抽出器25により抽出する。
In step S14, component sizes A1 and A2 at, for example, f1 = 80 MHz and f2 = 1 GHz are extracted from the frequency spectrum obtained by the fast
ステップS15において、割算器26により、比率U=A1/A2を求める。上述のように、第一の周波数f1はTEMモードの波だけしか含まないので、比率U=A1/A2は、電磁波中に含まれるTEM波の割合を反映するものになる。なお、比率Uを求めて第一の周波数f1の成分A1の値を第二の周波数f2の成分A2により正規化するのは、放電源が同じ場所にあっても放電発生の都度A1やA2の大きさは変化するが、放電源が同じ場所にあれば放電電磁波中に含まれるTEM波の割合はほとんど変わらないので、正規化することにより放電の大きさが変わることの影響をなくすことができるためである。 In step S15, the divider U calculates the ratio U = A1 / A2. As described above, since the first frequency f1 includes only the TEM mode wave, the ratio U = A1 / A2 reflects the ratio of the TEM wave included in the electromagnetic wave. Note that the ratio U is obtained and the value of the component A1 of the first frequency f1 is normalized by the component A2 of the second frequency f2, even if the discharge source is in the same place, each time A1 or A2 occurs. Although the size changes, the ratio of the TEM wave contained in the discharge electromagnetic wave hardly changes if the discharge source is in the same place. Therefore, the influence of the change in the discharge size can be eliminated by normalization. Because.
ステップS16において、判定装置27は比率Uの時間変化の有無を判定する。時間変化があれば、ステップS17において、この放電は自由異物によるものであると判定し、ステップS18において表示装置28に「部分放電発生、自由異物」の表示をする。自由異物の場合は内部高圧導体12とタンク11との間を行き来するので、すなわち径方向に移動していることになり、比率Uが時間的に増減する。この場合、それは自由異物による部分放電により発生した電磁波の信号であると言える。
In step S <b> 16, the
ステップS16において比率Uが時間に対して変化せず一定の場合は、ステップS19において放電発生源は径方向には移動していない、すなわち固定異物であると判定する。 If the ratio U does not change with time in step S16 and is constant, it is determined in step S19 that the discharge source has not moved in the radial direction, that is, is a fixed foreign object.
ステップS16の判定において、放電発生源が固定異物で内部高圧導体12近傍にある場合は、図10の特性Eのように所定値U1、タンク11近傍にある場合は特性FのようにU1よりも小さい所定値U2を示し、時間的に変化しない。また、自由異物であれば特性Gのように時間的に所定値U1と所定値U2との間を変化する。従って、固定異物か自由異物か判別することができる。なお、図10において、横軸は時間t(ms)、縦軸はUの大きさである。
In the determination of step S16, when the discharge source is a fixed foreign substance and is in the vicinity of the internal high-
ステップS20において、部分放電の位置を求める。比率Uは、放電発生源が内部高圧導体12側にあるかタンク11側にあるかでその大きさが異なる。図9は、横軸に放電発生源の内部高圧導体12からの距離d、縦軸に比率Uの値をプロットした曲線Dを示すものである。
In step S20, the position of partial discharge is obtained. The ratio U varies in magnitude depending on whether the discharge generation source is on the internal high-
この曲線Dは、GISの寸法により予め想定することができ、放電発生源が内部高圧導体12の近傍にあるとき比率U=U1、タンク11の近くの場合は比率U=U2である。比率Uの値が大きいほど部分放電の位置が内部高圧導体12に近いことが分る。すなわち、放電発生源の径方向、すなわちタンク11の長さ方向と交差する方向の位置を知ることができる。
This curve D can be assumed in advance according to the dimensions of the GIS, and the ratio U = U1 when the discharge generation source is in the vicinity of the internal high-
従って、ステップS20において、判定装置27は図9の曲線Dに相当するデータテーブルに基づいて、放電発生源のタンク11内における径方向の位置を求める。
例えばU=U1の場合は、内部高圧導体12近傍で部分放電が発生していることが分る。
Therefore, in step S20, the
For example, in the case of U = U1, it can be seen that partial discharge has occurred in the vicinity of the internal high-
ステップS21において、表示装置28に「部分放電発生、固定異物」と表示するとともにステップS20において判定装置27により求めた放電発生源のタンク11内における径方向の位置を例えば「内部高圧導体側」と表示する。あわせて、データテーブルに基づき図9の曲線Dを表示し、その上に比率U=U1の値を点Hとして表示する。さらに、比率Uの時間変化を図10の特性E,F,Gと同様に時間軸を横軸にとって表示する。
In step S21, “partial discharge occurrence, fixed foreign matter” is displayed on the
表示装置28により、図9に示すような予め内部高圧導体12から放電発生位置までの距離に対応してU=A1/A2をプロットした曲線D上に比率U=U1を点Hとして表示することにより、異物による部分放電発生の位置を視覚的に捉えることができる。
The
実施の形態2.
図11〜図14は、この発明の他の実施の形態を示すものであり、図11は部分放電が内部高圧導体側にて発生した場合に発生する電磁波の周波数スペクトル、図12は部分放電がタンク側に発生した場合に発生する電磁波の周波数スペクトルを示すスペクトル図である。図13は650MHzでのスペクトル強度のセンサと放電源の角度依存性、図14は785MHzでのスペクトル強度のセンサと放電源の角度依存性を示す特性図である。
FIGS. 11-14 show other embodiments of the present invention. FIG. 11 shows the frequency spectrum of electromagnetic waves generated when partial discharge occurs on the internal high-voltage conductor side, and FIG. 12 shows partial discharge. It is a spectrum figure which shows the frequency spectrum of the electromagnetic waves which generate | occur | produce when it generate | occur | produces on the tank side. FIG. 13 is a characteristic diagram showing the dependence of the spectral intensity at 650 MHz on the angle between the sensor and the discharge source, and FIG. 14 is a characteristic diagram showing the angular dependence of the sensor on the spectral intensity at 785 MHz and the discharge source.
ところで、上述したように図5の実施の形態においては、TE11モードの遮断周波数fcTE11が281MHzであり、第一の周波数f1を80MHz、第二の周波数f2を1GHzに選んだ。従って、第一の周波数f1における成分の強さはTEMモードの電磁波の強さであり、第二の周波数f2における成分の強さは図4のようにTEM、TE、TMモードの電磁波が混在したものの強さである可能性がある。 As described above, in the embodiment of FIG. 5, the cutoff frequency fcTE11 in the TE11 mode is 281 MHz, the first frequency f1 is selected to be 80 MHz, and the second frequency f2 is selected to be 1 GHz. Therefore, the strength of the component at the first frequency f1 is the strength of the electromagnetic wave in the TEM mode, and the strength of the component at the second frequency f2 is a mixture of electromagnetic waves of the TEM, TE, and TM modes as shown in FIG. It may be the strength of things.
図2あるいは図3に示したように、TMモードは電界分布が中心導体表面とタンク底面(内面)との間で極小値をもち、径方向の位置とモードの強度とが1対1に対応しない。このため、上記TMモードを含まないモード、例えばTEm1モードだけの強さを用いた方が、放電発生の径方向位置を一層感度良く特定できる。以下、具体的に説明する。 As shown in FIG. 2 or FIG. 3, the TM mode has a minimum electric field distribution between the center conductor surface and the tank bottom surface (inner surface), and the radial position and mode intensity have a one-to-one correspondence. do not do. For this reason, it is possible to specify the radial position of the occurrence of discharge more sensitively by using a mode that does not include the TM mode, for example, the strength of only the TEm1 mode. This will be specifically described below.
検地装置20は、図5に示したものと同様のものを用いる。但し、この実施の形態においては、抽出器25が抽出する周波数成分が図5のものとは異なる。
すなわち、高速フーリエ変換装置23により高速フーリェ変換を行い、求められた周波数スペクトルから抽出器25により第1のモードであるTE21モードの成分の大きさA1(dBV)と、第二のモードであるTE31モードの成分の大きさA2(dBV)を取出す。TE21、TE31モードの周波数の検出方法に関しては後述する。
The
That is, the fast Fourier transform is performed by the fast
割算器26により、比率U=A1/A2を求める。判定装置27は、比率Uの大きさ及び時間変化の有無に基づき、固定異物か自由異物かを判定し、固定異物の場合はタンク11内における径方向の位置を図9の曲線Dと同様の曲線に基づいて算出する。表示装置28は、判定装置27の判定結果の文字情報及び比率Uの値を表示する。
The ratio U = A1 / A2 is obtained by the
ここで、本実施の形態を実現するためには、検出するべきTE21モードとTE31モードの電磁波がいかなる周波数において検出できるかをあらかじめ知っておく必要がある。それぞれのモードの強度を示す周波数は、次のようにして求めることができる。すなわち、TEmnモードの電磁波は理論的にタンク円周回転方向にsin(mθ)あるいはcos(mθ)なる周期性をもつことが知られている。ここで、θは放電源とセンサのタンク円周方向への回転角度である。すなわち、センサをタンク円周方向に移動させると、その強度はsin(mθ)あるいはcos(mθ)なる周期性をもつ。 Here, in order to realize the present embodiment, it is necessary to know in advance at which frequency the electromagnetic waves of the TE21 mode and TE31 mode to be detected can be detected. The frequency indicating the intensity of each mode can be obtained as follows. That is, it is known that an electromagnetic wave in TEmn mode theoretically has a periodicity of sin (mθ) or cos (mθ) in the tank circumferential rotation direction. Here, θ is the rotation angle of the discharge source and the sensor in the tank circumferential direction. That is, when the sensor is moved in the tank circumferential direction, the intensity has a periodicity of sin (mθ) or cos (mθ).
従って、ある特定の周波数成分の円周方向依存性を測定しその強度の周期がπ/mであればその周波数はTEmnモードと判断することができる。このようにして、ある特定の周波数ピークがどの電磁波モードであるかを知ることができる。従って、工場試験時、あるいは、GIS設置場所において模擬放電源等によりセンサと放電源の角度依存性を測定することにより、そのGISにおける各モードの周波数を知ることができる。 Therefore, when the circumferential direction dependency of a specific frequency component is measured and the period of the intensity is π / m, the frequency can be determined as the TEmn mode. In this way, it is possible to know which electromagnetic wave mode is a specific frequency peak. Therefore, the frequency of each mode in the GIS can be known by measuring the angle dependency between the sensor and the discharge source at the factory test or at the place of installation of the GIS using a simulated discharge source.
さて、具体的に電磁波モードと周波数との関係の求め方について述べる。図11は模擬放電源を中心導体上に設置して測定した周波数スペクトル、図12はタンク底面側に設置して測定した周波数スペクトルである。図中には理論的に計算した各モードTE11、TE21、TE31、TE41、TE12、TE22、TM01、TM11、TM21の遮断周波数も記入した。 Now, how to obtain the relationship between the electromagnetic wave mode and the frequency will be specifically described. FIG. 11 shows a frequency spectrum measured by installing a simulated discharge source on the central conductor, and FIG. 12 shows a frequency spectrum measured by installing on the bottom side of the tank. In the figure, the cutoff frequencies of the modes TE11, TE21, TE31, TE41, TE12, TE22, TM01, TM11, and TM21 calculated theoretically are also entered.
図13と図14は、図12内に示した周波数スペクトル上の周波数f1と周波数f2での強度に関してセンサと放電源の角度位置を相対的に変化させたときの特性である。周波数f1に関しては山が4個、周波数f2に関しては山が6個あることがわかる。従って、先に述べたように、周波数f1はTE21モード、周波数f2はTE31モードのスペクトルピークであることがわかる。このようにして、スペクトルピーク強度の円周位置依存性を測定することにより、各周波数ピークのモードを知ることができる。 FIGS. 13 and 14 show characteristics when the angular positions of the sensor and the discharge source are relatively changed with respect to the intensities at the frequencies f1 and f2 on the frequency spectrum shown in FIG. It can be seen that there are four peaks for the frequency f1, and six peaks for the frequency f2. Therefore, as described above, it can be seen that the frequency f1 is a spectrum peak of the TE21 mode and the frequency f2 is a spectrum peak of the TE31 mode. Thus, the mode of each frequency peak can be known by measuring the circumferential position dependence of the spectrum peak intensity.
以上のことから本実施の形態では、例えば第一の周波数としてTE21モードであるf1=650MHzを選択し、第2の周波数としてTE31モードであるf2=785MHzを選ぶ。これらの周波数を選ぶと、第一の周波数f1の成分と第二の周波数f2の成分の大きさの違いは、電磁波中に含まれるTE21モードとTE31モードとの違いになる。 From the above, in the present embodiment, for example, f1 = 650 MHz that is the TE21 mode is selected as the first frequency, and f2 = 785 MHz that is the TE31 mode is selected as the second frequency. When these frequencies are selected, the difference in magnitude between the first frequency f1 component and the second frequency f2 component is the difference between the TE21 mode and the TE31 mode included in the electromagnetic wave.
次に動作について、図6のフローチャートを参照しながら説明する。タンク11内に、放電発生源としての上記の各種の異物である内部高圧導体固定針15、タンク固定針16、自由異物17のうちの一つを取り付け、電圧を印加する。ステップS11において、その時の部分放電にともなって発生する電磁波を電磁波検出器21にて検出し、ステップS12において電磁波検出器21からの信号を増幅器22で増幅する。
Next, the operation will be described with reference to the flowchart of FIG. In the
ステップS13において、増幅した信号を高速フーリエ変換装置23に取り込み、波形を高速フーリェ変換を行い、周波数スペクトルを求める。放電発生源が内部高圧導体固定針15の場合の周波数スペクトルが図11、タンク固定針16の場合の周波数スペクトルが図12である。なお、図11、図12において、横軸が周波数frequncy(Hz)、縦軸が振幅Ampli(dBV)である。TE21モードの成分、即ち周波数f1の強度に着目すると、放電発生源が内部高圧導体固定針とタンク固定針16の場合でほとんど変化しないが。TE31モード、即ち周波数f2での強度を見ると、設置タンク固定針の方がその強度は大きい。
In step S13, the amplified signal is taken into the fast
ステップS14において、高速フーリエ変換装置23により求めた周波数スペクトルから、f1=650MHz、f2=785MHzにおける成分の大きさA1、A2を抽出器25により抽出する。
In
ステップS15において、割算器26により、比率U=A1/A2を求める。上述のように、第一の周波数f1はTE21モードだけしか含まず、第二の周波数f2はTE31モードしか含まないように選んでいるので、比率U=A1/A2は、電磁波中に含まれるTE21波とTE31波の比になる。なお、第一の周波数f1の成分A1の値を第二の周波数f2の成分A2により比率Uを求めるのは、放電発生の都度A1やA2の大きさが変化するが、比によって判定すればこの影響をなくすことができるためである。 In step S15, the divider U calculates the ratio U = A1 / A2. As described above, since the first frequency f1 includes only the TE21 mode and the second frequency f2 is selected to include only the TE31 mode, the ratio U = A1 / A2 is TE21 included in the electromagnetic wave. It becomes the ratio of wave and TE31 wave. The ratio U of the value of the component A1 of the first frequency f1 is obtained from the component A2 of the second frequency f2. The magnitude of A1 and A2 changes each time a discharge occurs. This is because the influence can be eliminated.
ステップS19において、判定装置27は比率Uの時間変化の有無を判定する。時間変化があれば、ステップS20において、この放電は自由異物によるものであると判定し、ステップS21において表示装置28に「部分放電発生、自由異物」の表示をする。自由異物の場合は内部高圧導体12とタンク11との間を行き来するので、すなわち径方向に移動していることになり、比率Uが時間的に増減する。この場合、それは自由異物による部分放電により発生した電磁波のスペクトルであると言える。
In step S19, the
ステップS19において比率Uが時間に対して変化せず一定の場合は、ステップS21において放電発生源は径方向には移動していない、すなわち固定異物であると判定する。 When the ratio U does not change with time in step S19 and is constant, it is determined in step S21 that the discharge source has not moved in the radial direction, that is, is a fixed foreign object.
ステップS19の判定において、放電発生源が固定異物で内部高圧導体12近傍にある場合は、所定値U3、タンク11近傍にある場合は特性FのようにU3よりも小さい所定値U4を示し、時間的に変化しない。また、自由異物であれば時間的に所定値U3と所定値U4との間を変化する。従って、固定異物か自由異物か判別することができる。
In the determination of step S19, when the discharge source is a fixed foreign object and is in the vicinity of the internal high-
ステップS20において、部分放電の位置を求める。比率Uは、放電発生源が内部高圧導体12側にあるかタンク11側にあるかでその大きさが異なる。従って、予め図9の曲線Dと同様の横軸に放電発生源の内部高圧導体12からの距離d、縦軸に比率Uの値をプロットした曲線を求めておく。
In step S20, the position of partial discharge is obtained. The ratio U varies in magnitude depending on whether the discharge generation source is on the internal high-
この曲線は、GISの寸法により予め決るものであり、放電発生源が内部高圧導体12の近傍にあるとき比率U=U3、タンク11の近くの場合は比率U=U4である。比率Uの値が大きいほど部分放電の位置が内部高圧導体12に近いことが分る。すなわち、放電発生源の径方向の位置を知ることができる。
This curve is determined in advance by the dimensions of the GIS, and the ratio U = U3 when the discharge generation source is in the vicinity of the internal high-
従って、ステップS20において、判定装置27は比率Uと距離dとの関係を示すデータテーブルに基づいて、放電発生源のタンク11内における径方向の位置を求める。例えばU=U3の場合は、内部高圧導体12の近傍において部分放電が発生していることが分る。
Accordingly, in step S20, the
上記実施例では第1のモードとしてTE21モード、第2のモードとしてTE31モードの強度比U=A1(TE21)/A2(TE31)を用いて放電源の径方向位置を推定できるようにしたが、第1のモードとしてTEMモードを用いても強度比U=A1(TEM)/A2(TE21)あるいはU=A1(TEM)/A2(TE31)にて推定するようにしても良い。 In the above embodiment, the radial position of the discharge source can be estimated using the intensity ratio U = A1 (TE21) / A2 (TE31) of the TE21 mode as the first mode and the TE31 mode as the second mode. Even if the TEM mode is used as the first mode, the intensity ratio U = A1 (TEM) / A2 (TE21) or U = A1 (TEM) / A2 (TE31) may be used for estimation.
第1のモードとしてTEMモードを用いると次のような効果がある。TEMモードの最低遮断周波数はTE11モードの遮断周波数であり、本周波数は前述したように理論的に計算できる。TE11モードの遮断周波数以下の周波数ではTEMモードしか存在しないので、TEMモードの周波数は実験的に円周位置依存性を測定することなく特定できる。従って、TEMモードを第1の検知周波数とすることにより、モード間の比を求める手順が容易となる。 Using the TEM mode as the first mode has the following effects. The minimum cutoff frequency of the TEM mode is the cutoff frequency of the TE11 mode, and this frequency can be calculated theoretically as described above. Since only the TEM mode exists at a frequency equal to or lower than the cutoff frequency of the TE11 mode, the frequency of the TEM mode can be specified without experimentally measuring the circumferential position dependency. Therefore, by setting the TEM mode to the first detection frequency, the procedure for obtaining the ratio between modes becomes easy.
実施の形態3.
図15は、さらにこの発明の他の実施の形態を示す検知装置の構成図である。この実施の形態では、検知装置20aは電磁波検出器21a以外は図5の検知装置20と同様のものである。電磁波検出器21aをスペーサ13の外周部に設置しスペーサ13から漏れてくる電磁波を検出するようにした。
FIG. 15 is a block diagram of a detection device showing still another embodiment of the present invention. In this embodiment, the detection device 20a is the same as the
このような電磁波検出器21aとしてはループ型のアンテナを用いることができる。スペーサ13は誘電体であるので、タンク11内部の部分放電によって発生した電磁波はスペーサ部からタンク11外部に漏れてくる。スペーサ外部に設置した電磁波検出器21aをスペーサ外周にそって回転させることによって検出している周波数とモードとの関係が明らかにできる。本構成では電磁波検出器を円周方向に回転させることができるので、模擬放電等によって周波数と電磁波モードの関係を知ることが容易となる。
As such an
実施の形態4.
ところで、部分放電により発生する電磁波において、TE11モードの遮断周波数fcTE11未満の区域においてはTE波及びTM波は存在せずTEM波しか存在しない。しかし、TEM波は図4、図11に示したようにTE11モードの遮断周波数fcTE11以上の区域においても存在し、TE波とTM波とTEM波の三者が混在する。
By the way, in the electromagnetic wave generated by the partial discharge, the TE wave and the TM wave do not exist and only the TEM wave exists in the area below the cutoff frequency fcTE11 of the TE11 mode. However, as shown in FIG. 4 and FIG. 11, the TEM wave exists also in the area of the cutoff frequency fcTE11 or higher in the TE11 mode, and the TE wave, the TM wave, and the TEM wave are mixed.
前述したように、周波数スペクトルにおいて、ある特定の周波数ピークがどのモードであるかを判定するには、模擬的な部分放電を発せさせ、スペクトル強度のタンク円周位置依存性を測定しなければならない。実際の運転中のGISにおいては、このような模擬的な部分放電を発生させることが困難な場合がある。この場合、ある特定のモードである周波数f2の選定が困難となる。このような場合は、特定の周波数でのスペクトル強度を選ぶのではなく、ある周波数帯でのスペクトル強度の積分値を選べばよい。具体的な区域としては、TE11モードの遮断周波数fcTE11未満の所定範囲の区域における積分値S1、TE11モードの遮断周波数fcTE11以上の所定範囲の区域における積分値S2を求め、この両者の比率V=S1/S2を求めればよい。 As described above, in order to determine which mode a specific frequency peak is in a frequency spectrum, a simulated partial discharge must be generated and the dependence of the spectral intensity on the tank circumference position must be measured. . In a GIS during actual operation, it may be difficult to generate such a simulated partial discharge. In this case, it becomes difficult to select the frequency f2, which is a specific mode. In such a case, instead of selecting the spectrum intensity at a specific frequency, an integral value of the spectrum intensity at a certain frequency band may be selected. As specific areas, an integral value S1 in an area of a predetermined range less than the cutoff frequency fcTE11 of the TE11 mode and an integral value S2 in an area of the predetermined range higher than the cutoff frequency fcTE11 of the TE11 mode are obtained, and the ratio V of both is V = S1 / S2 may be obtained.
図16〜図18は、上記比率Vに基づいて判定するこの発明の他の実施の形態を示すもので、図16は検知装置の構成図である。図17は検知装置の動作を示すフローチャート、図18は図16の検知装置の検知結果を示す特性図である。図16において、検知装置30は、次のように構成されている。増幅器22で電磁波検出器21の信号を増幅し、高速フーリエ変換装置23に供給するのは、図5の検知装置20と同様である。
16 to 18 show another embodiment of the present invention that is determined based on the ratio V, and FIG. 16 is a configuration diagram of the detection device. FIG. 17 is a flowchart showing the operation of the detection device, and FIG. 18 is a characteristic diagram showing the detection result of the detection device of FIG. In FIG. 16, the
積分装置31は、高速フーリエ変換装置23により高速フーリエ変換を行って求めた周波数スペクトルに基づき、TE11モードの遮断周波数fcTE11未満の区域における所定範囲のスペクトル強度の積分値S1、TE11モードの遮断周波数fcTE11以上の区域における所定範囲のスペクトル強度の積分値S2を求める。割算器26は、積分値S1とS2の比率V=S1/S2を求める。
The integrating
判定装置27は、比率Vの大きさ及び時間変化の有無に基づき、固定異物か自由異物かを判定し、固定異物の場合はタンク11内における径方向の位置を算出する。
図18に比率V=S1/S2をプロットしたものを示す。横軸は、図9と同様、放電発生源の内部高圧導体12からの距離であり、放電異物が内部高圧導体12近辺にあるときは所定の値V1を、タンク11近傍にあるときは、所定の値V1より小さい別の所定の値V2になる。このように、図18において比率Vの値を曲線J上にプロットすることによっても放電発生源の径方向の位置を知ることができる。
The
FIG. 18 shows a plot of the ratio V = S1 / S2. The horizontal axis is the distance from the internal high-
表示装置28は、判定装置27の判定結果の文字情報及び比率Vの値を表示する。
なお、図16における高速フーリエ変換装置23、積分器31、割算器26がこの発明における正規化手段である。
The
Note that the fast
次に動作を図17のフローチャートによって説明する。
ステップS34において、高速フーリエ変換装置23により求めた周波数スペクトルから、TE11モードの遮断周波数fcTE11を例えば上述のfcTE11=281MHzとし、f=0〜280MHzまでの範囲におけるスペクトル強度の積分値S1、及びf=281〜1200MHzまでの範囲におけるスペクトル強度の積分値S2を積分器31により求める。
Next, the operation will be described with reference to the flowchart of FIG.
In step S34, from the frequency spectrum obtained by the fast
ステップS35において、割算器26により、比率V=S1/S2を求める。上述のように、得られた周波数スペクトルはfcTE11未満の区域においてはTEMモードだけしか含まず、比率V=S1/S2は、電磁波中に含まれるTEM波の割合を反映するものになる。比率Vを求めて積分値S1を積分値S2により正規化するのは、放電発生の都度S1やS2の大きさが変化するので、この影響を正規化することによりなくすためである。
In step S35, the
ステップS16において判定装置27は、比率Vの時間変化の有無を判定する。時間変化があれば、ステップS17において、この放電は自由異物によるものであるとして、ステップS18において表示装置28に「部分放電発生、自由異物」の表示をする。
In step S <b> 16, the
ステップS16において比率Vが時間に対して変化せず一定の場合は、ステップS19において放電発生源は径方向には移動していない、すなわち固定異物であるとする。放電発生源が固定異物で内部高圧導体12近傍にある場合は、図18の曲線Jにおける所定値V1、タンク11近傍にある場合は上記V1よりも小さい所定値V2を示し、時間的に変化しない。
If the ratio V does not change with time in step S16 and is constant, it is assumed in step S19 that the discharge source does not move in the radial direction, that is, is a fixed foreign object. When the discharge source is a fixed foreign substance and is in the vicinity of the internal high-
ステップS36において、部分放電の位置を求める。比率Vは、放電発生源が内部高圧導体12側にあるかタンク11側にあるかでその大きさが異なる。図18は、横軸に放電発生源の内部高圧導体12からの距離d、縦軸に比率Vの値をプロットした曲線Jを示すものである。この曲線Jは、上述の図9の曲線Dと同様にGISの寸法により予め想定することができ、放電発生源が内部高圧導体12近傍にあるとき比率V=V1、タンク11の近くにある場合は比率V=V2である。
In step S36, the position of partial discharge is obtained. The ratio V varies depending on whether the discharge source is on the internal high-
従って、ステップS36において、判定装置27は図18の曲線Jに相当するデータテーブルに基づいて、放電発生源のタンク11内における径方向の位置を求める。
例えばV=V2の場合は、図18において曲線J上のK点であり、タンク11側で部分放電が発生していることが分る。
Accordingly, in step S36, the
For example, when V = V2, it is point K on the curve J in FIG. 18, and it can be seen that partial discharge has occurred on the
ステップS21において、表示装置28に「部分放電発生、固定異物」と表示するとともにステップS21において判定装置27により求めた放電発生源のタンク11内における径方向の位置を例えば「タンク側」と表示する。あわせて、データテーブルに基づき図18の曲線Jを表示し、その上に比率V=V2の値を点Kとして表示する。さらに、比率Vの時間変化を図10の特性E,F,Gと同様にして表示する。
In step S21, "partial discharge occurrence, fixed foreign matter" is displayed on the
なお、上記実施の形態では、TE11モードの遮断周波数fcTE11未満の区域のスペクトル強度の積分値S1とTE11モードの遮断周波数fcTE11以上の区域のスペクトル強度の積分値S2という2つの積分値の違いを用いた。しかし、この2つ以外に全周波数域に亘るスペクトル強度の積分値STを用いてもよい。 In the above embodiment, the difference between the two integral values, that is, the integral value S1 of the spectrum intensity in the area below the cutoff frequency fcTE11 in the TE11 mode and the integral value S2 of the spectrum intensity in the area above the cutoff frequency fcTE11 in the TE11 mode is used. It was. However, an integral value ST of spectral intensity over the entire frequency range may be used in addition to these two.
つまり3つの積分値S1,S2,STのうち任意の2つを選んで、すなわちV=S1/S2の代りに、W=S1/STあるいはX=S2/STを求めて、予め求めておいた図18の曲線Jと同様のデータターブルに基づいて放電発生源の径方向の位置を同定できる。また、この比率Wや比率Xの時間変化を追うことによって放電発生源が固定異物なのか自由異物なのかを知ることができる。 That is, any two of the three integrated values S1, S2, ST are selected, that is, W = S1 / ST or X = S2 / ST is obtained instead of V = S1 / S2, and is obtained in advance. Based on the data table similar to curve J in FIG. 18, the radial position of the discharge source can be identified. Further, by following the time change of the ratio W and the ratio X, it can be known whether the discharge generation source is a fixed foreign object or a free foreign object.
実施の形態5.
また、実際にGISが稼働している場所においては、センサ位置は固定の場合が多い。また、試験的に部分放電源をGIS内部に設置して、図13、14のようなセンサと放電源の角度依存性を測定することも、困難である。従って、特定の周波数ピークがどのモードであるかを実験的に知るのは困難な場合がある。
Further, in the place where the GIS is actually operating, the sensor position is often fixed. It is also difficult to measure the angle dependency between the sensor and the discharge source as shown in FIGS. 13 and 14 by installing a partial discharge source inside the GIS as a test. Therefore, it may be difficult to know experimentally which mode a particular frequency peak is in.
このような場合は、特定のモードに対応する周波数のスペクトル強度を選ぶのではなく、GISの構造から計算したTE31モードの遮断周波数を境界として、それ以上とそれ以下の周波数スペクトル強度の積分値を選んでも良い。具体的な区域としては、TE31モードの遮断周波数fcTE31未満の所定範囲の区域における積分値S1、TE31モードのfcTE31より大きい所定範囲の区域における積分値S2を求め、この両者の比率V=S1/S2を求めればよい。 In such a case, instead of selecting the spectrum intensity of the frequency corresponding to the specific mode, the integrated value of the frequency spectrum intensity above and below the TE31 mode cutoff frequency calculated from the GIS structure is used as a boundary. You may choose. As specific areas, an integral value S1 in an area of a predetermined range less than the cut-off frequency fcTE31 in the TE31 mode and an integral value S2 in an area of a predetermined range larger than the fcTE31 in the TE31 mode are obtained, and the ratio V = S1 / S2 between the two. You can ask for.
検知装置は、図16の検知装置30と同様のものであるが、その動作が若干異なる。積分装置31は、高速フーリエ変換装置23により高速フーリェ変換を行って求めた周波数スペクトルに基づき、TE31モードの遮断周波数fcTE31以下の区域における所定範囲のスペクトル強度の積分値S1、fcTE31より大きい区域における所定範囲のスペクトル強度の積分値S2を求める。割算器26は、積分値S1とS2の比率V=S1/S2を求める。
The detection device is the same as the
判定装置27は、比率Vの大きさ及び時間変化の有無に基づき、固定異物か自由異物かを判定し、固定異物の場合はタンク11内における径方向の位置を算出する。図7と同様に、比率Vの値を曲線J上にプロットすることによっても放電発生源の径方向の位置を知ることができる。表示装置28は、判定装置27の判定結果の文字情報及び比率Vの値を表示する。
The
次に動作は図17のフローチャートと同様であるので、これによって説明する。
ステップS35において、高速フーリエ変換装置23により求めた周波数スペクトルから、f=0〜730MHzまでの範囲におけるスペクトル強度の積分値S1、及びf=730〜1200MHzまでの範囲におけるスペクトル強度の積分値S2を積分器31により求める。730MHzはTE31モードの遮断周波数である。
The operation is the same as that of the flowchart of FIG.
In step S35, the integral value S1 of the spectrum intensity in the range from f = 0 to 730 MHz and the integral value S2 of the spectrum intensity in the range from f = 730 to 1200 MHz are integrated from the frequency spectrum obtained by the fast
ステップS35において、割算器26により、比率V=S1/S2を求める。上述のように、得られた周波数スペクトルは730MHz以下の区域においてはTEMモード、TE11、TE21だけしか含まない。これらのモードはすべて放電源が中心導体に近いほどその強度が大きくなるモードである。一方、730MHz以上の周波数成分は中心導体に近いほどその強度が弱くなる。従って、比率V=S1/S2は、その大きさが放電源の径方向の位置と1対1に対応する。積分値S1と積分値S2の比率Vを求めて径方向位置の判断基準とするのは、放電発生の都度S1とS2の大きさが比例関係を保ちつつ変化するので、この影響をなくすためである。
In step S35, the
ステップS16において判定装置27は、比率Vの時間変化の有無を判定する。時間変化があれば、ステップS17において、この放電は自由異物によるものであるとして、ステップS18において表示装置28に「部分放電発生、自由異物」の表示をする。
In step S <b> 16, the
ステップS16において比率Vが時間に対して変化せず一定の場合は、ステップS19において放電発生源は径方向には移動していない、すなわち固定異物であるとする。放電発生源が固定異物で内部高圧導体12近傍にある場合は、所定値V3、タンク11近傍にある場合は上記V3よりも小さい所定値V4を示し、時間的に変化しない。
If the ratio V does not change with time in step S16 and is constant, it is assumed in step S19 that the discharge source does not move in the radial direction, that is, is a fixed foreign object. When the discharge generation source is a fixed foreign substance and is in the vicinity of the internal high-
ステップS36において、部分放電の位置を求める。比率Vは、放電発生源が内部高圧導体12側にあるかタンク11側にあるかでその大きさが異なる。横軸に放電発生源の内部高圧導体12からの距離d、縦軸に比率Vの値をプロットした曲線は、上述の図17の曲線Jと同様にGISの寸法により予め決るものであり、放電発生源が内部高圧導体12の近傍にあるとき比率V=V3、タンク11の近くの場合は比率V=V4である。
従って、ステップS36において、判定装置27は比率Uと距離dのデータテーブルに基づいて、放電発生源のタンク11内における径方向の位置を求める。
In step S36, the position of partial discharge is obtained. The ratio V varies depending on whether the discharge source is on the internal high-
Accordingly, in step S36, the
ステップS21において、表示装置28に「部分放電発生、固定異物」と表示するとともにステップS36において判定装置27により求めた放電発生源のタンク11内における径方向の位置を例えば「タンク表面上」と表示する。あわせて、データテーブルに基づき図17の曲線Jと同様の曲線を表示し、その上に比率Vの値を点として表示する。さらに、比率Vの時間変化を図10の特性E、F、Gと同様にして表示する。
In step S21, “partial discharge occurrence, fixed foreign matter” is displayed on the
実施の形態6.
図19〜図24は、さらにこの発明の他の実施の形態を示すもので、図19は検知装置の構成図、図20は検知装置の動作を示すフローチャートである。図21、図22は内部高圧導体側において部分放電が発生したときに発生する電磁波のそれぞれ低い方の帯域フィルタ、高い方の帯域フィルタを通過した波形である。図23、図24はタンク側において部分放電が発生したときに発生する電磁波のそれぞれ低い方の帯域フィルタ、高い方の帯域フィルタを通過した波形である。
Embodiment 6 FIG.
19 to 24 show still another embodiment of the present invention. FIG. 19 is a configuration diagram of the detection device, and FIG. 20 is a flowchart showing the operation of the detection device. 21 and 22 are waveforms of electromagnetic waves generated when a partial discharge is generated on the internal high-voltage conductor side, respectively, passing through a lower band filter and a higher band filter. 23 and 24 show waveforms of electromagnetic waves generated when a partial discharge is generated on the tank side, respectively, passing through a lower band filter and a higher band filter.
この実施の形態は、図5や図16に示した実施の形態のように周波数スペクトルを求めなくとも放電発生源の径方向の位置、及び放電発生源が固定異物なのか自由異物なのかを判断することができるものである。 In this embodiment, it is possible to determine the radial position of the discharge source and whether the discharge source is a fixed foreign object or a free foreign object without obtaining a frequency spectrum as in the embodiments shown in FIGS. Is something that can be done.
図19において、検知装置40は、次のように構成されている。低い方の帯域フィルタ41は、増幅器22で増幅された電磁波検出器21の信号のうち、TE11モードの遮断周波数fcTE11、例えば上述のfcTE11=281MHz未満の区域における所定の周波数帯域、例えば150〜250MHzの信号を通過させる。低い方の帯域フィルタ41を通過した信号は整流器42に整流され、ピークホールド回路43にてその最大値B1が記憶される。
In FIG. 19, the
高い方の帯域フィルタ44は、増幅器22で増幅された電磁波検出器21の信号のうち、TE11モードの遮断周波数fcTE11以上の区域における所定の周波数帯域、例えば900〜1000MHzの信号を通過させる。高い方の帯域フィルタ44を通過した信号は整流器45にて整流され、ピークホールド回路46にてその最大値B2が記憶される。
The higher band filter 44 passes a signal in a predetermined frequency band, for example, 900 to 1000 MHz, in the area of the TE11 mode cutoff frequency fcTE11 or higher among the signals of the
割算器26は、各最大値B1,B2の比率Y=B1/B2を求める。判定装置27は、比率Yの大きさ及び時間変化の有無に基づき、固定異物か自由異物かを判定し、固定異物の場合はタンク11内における径方向の位置を算出する。
表示装置28は、判定装置27の判定結果の文字情報及び比率Yの値を表示する。
なお、図19における帯域フィルタ41,44、整流回路42,45、ピークホールド回路43,46、割算器26がこの発明における正規化手段である。
The
The
Note that the band-
次に動作を図20のフローチャートによって説明する。ステップS11において、電磁波検出器21により検出し、ステップS12において増幅する。ステップS53において、低い方の帯域フィルタ41、高い方の帯域フィルタ44でそれぞれの周波数帯域の信号を通過させ、整流する。
ステップS54において、ピークホールド回路43,46に低い方の帯域及び高い方の帯域フィルタ41,44を通過した信号を入力し、各最大値B1,B2を記憶する。
Next, the operation will be described with reference to the flowchart of FIG. In step S11, detection is performed by the
In step S54, the signals that have passed through the lower band and the higher band filters 41 and 44 are input to the
ステップS55において、割算器26によりY=B1/B2を求める。ステップS16において、判定装置27は比率Yの時間変化の有無を判定する。時間変化があれば、ステップS17において、この放電は自由異物によるものであると判定し、ステップS18において表示装置28に「部分放電発生、自由異物」の表示をする。
ステップS16において比率Yが時間に対して変化せず一定の場合は、ステップS19において放電発生源は径方向には移動していない、すなわち固定異物であると判定する。
In step S55, the
If the ratio Y does not change with time in step S16 and is constant, it is determined in step S19 that the discharge source has not moved in the radial direction, that is, is a fixed foreign object.
ステップS56において、部分放電の位置を求める。比率Yは、放電発生源が内部高圧導体12側にあるかタンク11側にあるかでその大きさが異なる。図6や図17のステップS20,S36と同様にして、比率Yの値と内部高圧導体からの距離に関するデータテーブルに基づき、放電発生源のタンク11内における径方向の位置を求める。このデータテーブルも同様にGISの寸法により予め想定することができ、放電発生源が内部高圧導体12の近くにあるときYの値は大きく、タンク11の近くにある場合はYの値は小さい。
In step S56, the position of partial discharge is obtained. The ratio Y varies depending on whether the discharge source is on the internal high-
放電発生源が内部高圧導体12近傍にある場合、150〜250MHzの低い方の帯域フィルタ41を通過した波形は図21のようになり、900〜1000MHzの高い方の帯域フィルタ44を通過した波形は図22のようになる。このとき、ピークホールド回路43で検出される最大値B1は図21より約6/1000V、ピークホールド回路46で検出される最大値B2は図23より7/1000Vであり、これよりY=6/7=0.86となる。なお、図21、図22において、横軸が時間t(s)、縦軸が振幅Ampli(V)である。
When the discharge generation source is in the vicinity of the internal high-
また、放電発生源がタンク11近傍にある場合、低い方の帯域フィルタ41を通過した波形は図23のようになり、高い方の帯域フィルタ44を通過した波形は図24のようになる。このとき、ピークホールド回路43で検出される最大値B1は図23より約0.62/1000V、ピークホールド回路46で検出される最大値B2は図24より4/1000Vであり、これよりY=0.62/4=0.16となる。なお、図23、図24において、横軸が時間t(s)、縦軸が振幅Ampli(V)である。
このように、放電発生源の位置により比率Yの値が大きく変化するので、発生位置を容易に求めることができる。
When the discharge source is in the vicinity of the
As described above, since the value of the ratio Y greatly varies depending on the position of the discharge generation source, the generation position can be easily obtained.
そして、ステップS21において、表示装置28に「部分放電発生、固定異物」と表示するとともにステップS56において判定装置27により求めた放電発生源のタンク11内における径方向の位置を例えば「タンク側」と表示する。あわせて、データテーブルに基づき図9の曲線Dと同様の曲線を表示し、その上に比率Yの値を点として表示する。さらに、比率Yの時間変化を図10の特性E,F,Gと同様に表示する。
In step S21, “partial discharge occurrence, fixed foreign matter” is displayed on the
また、図19における帯域フィルタ41,42の通過周波数を他の周波数帯に選んでも、例えば次のように選んでも、同様の結果が得られ、放電発生の位置、自由異物によるものか固定異物によるものかを知ることができる。低い方の帯域フィルタ41の通過帯域を、TE31モードの遮断周波数fcTE31、例えば上述のfcTE31=730MHz未満の区域における所定の周波数帯域、例えば200〜300MHzの信号を通過させるように選定する。高い方の帯域フィルタ44は、TE31モードの遮断周波数fcTE31(730MHz)以上の区域における所定の周波数帯域、例えば900〜1000MHzの信号を通過させるように選ぶ。
Moreover, even if the pass frequencies of the band-
実施の形態7.
図25、図26は、さらにこの発明の他の実施の形態を示すもので、図25は検知装置の構成図、図26は内部高圧導体からの距離と二つの検出器出力の比との関係を示す特性図である。この実施の形態も、周波数スペクトルを求めなくとも放電発生源の径方向の位置、及び放電発生源が固定異物なのか自由異物なのかを判断することができるものである。
FIGS. 25 and 26 show still another embodiment of the present invention. FIG. 25 is a configuration diagram of the detection device, and FIG. 26 is a relationship between the distance from the internal high-voltage conductor and the ratio of two detector outputs. FIG. This embodiment can also determine the radial position of the discharge source and whether the discharge source is a fixed foreign object or a free foreign object without obtaining a frequency spectrum.
検知装置50は次のように構成されている。図25において、二つの電磁波検出器51,55を準備し、一方の電磁波検出器51にてTEM波を検出し、もう一方の電磁波検出器55にてTE波を検出する。このとき、二つの電磁波検出器51,55から同じタイミングで信号を取り出せるように調整しておく。そして、上記電磁波検出器51,55により検出された信号を増幅器52,56にて増幅する。ピークホールド回路54,58によりTEM,TE各モードの電磁波の最大値C1,C2を記憶する。
The
割算器26により最大値C1,C2の比率Z=C1/C2を求める。
なお、図25における整流回路53,57、ピークホールド回路54,58、割算器26がこの発明における正規化手段である。
The
Note that the
この2つの電磁波検出器51,55の最大値の比率Z=C1/C2から電磁波に含まれているTEMモードの電磁波の割合がわかる。図26に2つの電磁波検出器51,55からの出力の比率Zをプロットした曲線Mを示す。図9の曲線Dと同様の傾向を有する。このときの横軸dは図9と同様、放電発生源の高圧導体12からの距離である。
図26から放電発生源の径方向の位置を知ることができる。また、この時間変化を追うことによって放電発生源が固定異物なのか自由異物なのかを知ることができる。
From the ratio Z = C1 / C2 of the maximum values of the two
The radial position of the discharge generation source can be known from FIG. Further, by following this time change, it is possible to know whether the discharge source is a fixed foreign object or a free foreign object.
実施の形態8.
図5の実施の形態では、タンク11内部の異常状態として、内部高圧導体12の表面に起立して固定された内部高圧導体固定針15、タンク12の内壁面に起立して固定されたタンク固定針16、固定されていない自由異物17、がそれぞれ放電発生源となる場合について述べたが、異常状態はこれに限られるものではなく、この発明は他の場合についても適用できる。
Embodiment 8 FIG.
In the embodiment of FIG. 5, as an abnormal state inside the
図27〜図29は、さらにこの発明の他の実施の形態を示すものであり、図27はGISのタンク内部に混入し、絶縁スペーサの表面に付着した導電性異物と部分放電の検知装置の構成を示す構成図、図28は部分放電が絶縁スペーサ上でかつ内部高圧導体側にて発生した場合に発生する電磁波の周波数スペクトルを示すスペクトル図、図29は部分放電が絶縁スペーサ上でかつタンク側にて発生した場合に発生する電磁波の周波数スペクトルを示すスペクトル図である。 27 to 29 show still another embodiment of the present invention. FIG. 27 shows a conductive foreign matter adhering to the surface of an insulating spacer and a partial discharge detecting device mixed in the GIS tank. FIG. 28 is a spectrum diagram showing the frequency spectrum of electromagnetic waves generated when a partial discharge is generated on the insulating spacer and on the internal high-voltage conductor side, and FIG. 29 is a spectrum diagram showing a partial discharge on the insulating spacer and the tank. It is a spectrum figure which shows the frequency spectrum of the electromagnetic waves which generate | occur | produce when it generate | occur | produces in the side.
図27において、タンク11内部の異常状態として、絶縁スペーサ13の表面の内部高圧導体12近傍に固定された導電性異物であるスペーサ沿面針18、絶縁スペーサ13の表面のタンク11近傍に固定された導電性異物であるスペーサ沿面針19の2ケースについて考える。
その他の構成については、図5に示したものと同様のものである。
In FIG. 27, as an abnormal state inside the
Other configurations are the same as those shown in FIG.
内部の部分放電により発生した電磁波を検出し増幅して高速フーリエ変換装置23により高速フーリエ変換を行って、周波数スペクトルを求める。この周波数スペクトルは、絶縁スペーサ13の内部高圧導体12近傍に固定されたスペーサ沿面針18による部分放電の場合は図28に、絶縁スペーサ13のタンク11近傍に固定されたスペーサ沿面針19による部分放電の場合は図29に示すようなものになる。なお、図28、図29において、横軸が周波数frequncy(Hz)、縦軸が振幅Ampli(dBV)である。
An electromagnetic wave generated by the internal partial discharge is detected and amplified, and fast Fourier transform is performed by the fast
そこで、図28において、TE11モードの遮断周波数fcTE11(この実施の形態の場合、281MHz)未満の周波数であるf1=80MHz、TE11モードの遮断周波数fcTE11以上の周波数であるf2=1GHzにおける成分の大きさA1,A2を求め、U=A1/A2を計算する。 Therefore, in FIG. 28, the magnitude of the component at f1 = 80 MHz, which is a frequency lower than the cutoff frequency fcTE11 in the TE11 mode (281 MHz in this embodiment), and at f2 = 1 GHz, which is a frequency equal to or higher than the cutoff frequency fcTE11 in the TE11 mode. A1 and A2 are obtained, and U = A1 / A2 is calculated.
また、図29においても同様にf1=80MHz、f2=1GHzにおける成分の大きさA1,A2を求め、U=A1/A2を計算する。絶縁スペーサ13の表面に付着した導電性異物による部分放電の場合についても、成分A2で正規化されたA1の値は、図5に示した異常の場合と同じ傾向を示し、その大きさから絶縁スペーサ13の径方向のどの位置で部分放電が発生したのかを知ることができる。
Similarly, in FIG. 29, component sizes A1 and A2 at f1 = 80 MHz and f2 = 1 GHz are obtained, and U = A1 / A2 is calculated. Also in the case of partial discharge due to conductive foreign matter adhering to the surface of the insulating
このように、絶縁スペーサ13の表面における放電の場合においても、正規化された比率Uは、図5における内部高圧導体12やタンク11における部分放電の場合とほぼ同じ傾向を示す。すなわち、放電発生源が内部高圧導体12側にあればUの値は大きくなり、逆にタンク11側にあればUの値は小さくなる。このことからUの値から放電発生の径方向の位置を求めることができる。
Thus, even in the case of discharge on the surface of the insulating
上記実施の形態では、絶縁スペーサ13の表面において部分放電が発生した場合について説明したが、例えば絶縁スペーサ13の内部にボイドがあって部分放電が発生する場合について全く同様にその位置を検出できる。
また、図15、図16、図19や図25に示した検知装置20a,30,40,50によっても絶縁スペーサ13の表面における放電や内部放電等を検出できる。
In the above-described embodiment, the case where the partial discharge occurs on the surface of the insulating
In addition, discharge on the surface of the insulating
実施の形態9.
この発明の他の実施の形態である部分放電強度検出装置の構成を図30に示す。この実施の形態では、図11〜図14の実施の形態2で述べたのと同様な方法にてTE21モードに対応する周波数をあらかじめ決定しておき、TE21モードの周波数でのスペクトル強度を部分放電強度の指標として用いる。
FIG. 30 shows the configuration of a partial discharge intensity detecting apparatus according to another embodiment of the present invention. In this embodiment, the frequency corresponding to the TE21 mode is determined in advance by a method similar to that described in the second embodiment of FIGS. 11 to 14, and the spectrum intensity at the frequency of the TE21 mode is determined as the partial discharge. Used as an indicator of strength.
図1に示したように、TE21モードの強度は径方向位置にはほとんど依存しない。従って、TE21モードを放電の大きさの指標とすることにより径方向位置の影響が除かれ、放電の大きさの指標として正確な判断ができる。 As shown in FIG. 1, the strength of the TE21 mode hardly depends on the radial position. Therefore, by using the TE21 mode as an indicator of the magnitude of discharge, the influence of the radial position is eliminated, and an accurate determination can be made as an indicator of the magnitude of discharge.
次に強度検知装置である検知装置60の動作について説明する。部分放電にともなって発生する電磁波を電磁波検出器21にて検出し、電磁波検出器21からの信号を増幅器22で増幅する。増幅した信号を高速フーリエ変換装置23に取り込み、波形を高速フーリェ変換を行う。実施の形態2で述べたように、TE21モードに相当する周波数として650MHzを選んでいるので、抽出器25にて、本周波数でのスペクトル強度を求める。
Next, operation | movement of the
最後に表示装置28に650MHzでの強度の経時変化等を表示する。本実施例では径方向依存性をもたないTE21モードの電磁波を放電強度の指標とでき、放電源の径方向位置に無関係に放電の大きさを判断できる。
なお、TEモードの周波数として650MHzでなく、他のTE21モードの周波数を選んでもよい。
Finally, a change with time in intensity at 650 MHz is displayed on the
The TE mode frequency is not limited to 650 MHz, and another TE21 mode frequency may be selected.
なお、図5、図15、図16、図19、図25、図27、図30等に示した原理を実現するにはアナログやデジタル演算増巾器等を用いたデイスクリート回路でもよいし、マイクロプロセッサやデジタルシグナルプロッセサによるデジタル制御でソフトウエア処理により実現することもできる。 In order to realize the principle shown in FIG. 5, FIG. 15, FIG. 16, FIG. 19, FIG. 25, FIG. 27, FIG. 30, etc., a discrete circuit using an analog or digital arithmetic amplifier may be used. It can also be realized by software processing with digital control by a microprocessor or a digital signal processor.
以上の各実施の形態においては、タンク11と同軸に1本の内部高圧導体12が配設された相分離型のものを示したが、三相一括形母線であっても同様の効果を奏する。また、導電装置がGIS以外の、導電性の筒状体とこの筒状体内に収容された導電体を有する他の導電装置、例えばガス絶縁母線や電力ケーブル等であってもよい。
以上のようにして、部分放電が発生した場合に導電装置の径方向の位置検出ができるので内部異常に対して、絶縁破壊事故の未然防止や的確な対応ができる。
In each of the above embodiments, the phase separation type in which one internal
As described above, when the partial discharge occurs, the position of the conductive device in the radial direction can be detected, so that an internal breakdown can be prevented and an appropriate response can be made.
11 タンク、12 内部高圧導体、60 検知装置、21 電磁波検出器、
23 高速フーリエ変換装置、25 抽出器。
11 tank, 12 internal high voltage conductor, 60 detector, 21 electromagnetic wave detector,
23 Fast Fourier transform device, 25 extractor.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008014855A JP4690428B2 (en) | 1998-01-26 | 2008-01-25 | Device for detecting partial discharge intensity of conductive device |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1256698 | 1998-01-26 | ||
JP1998012566 | 1998-01-26 | ||
JP2008014855A JP4690428B2 (en) | 1998-01-26 | 2008-01-25 | Device for detecting partial discharge intensity of conductive device |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP05521198A Division JP4216920B2 (en) | 1998-01-26 | 1998-03-06 | Partial discharge occurrence position detection device for conductive device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008116476A JP2008116476A (en) | 2008-05-22 |
JP4690428B2 true JP4690428B2 (en) | 2011-06-01 |
Family
ID=39502481
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008014855A Expired - Fee Related JP4690428B2 (en) | 1998-01-26 | 2008-01-25 | Device for detecting partial discharge intensity of conductive device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4690428B2 (en) |
-
2008
- 2008-01-25 JP JP2008014855A patent/JP4690428B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008116476A (en) | 2008-05-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4797175B2 (en) | Method and apparatus for measuring partial discharge charge | |
KR100691655B1 (en) | Apparatus and method for detecting partial electric discharge of gas insulation device | |
JP4470157B2 (en) | Partial discharge measurement method and apparatus | |
JP4860795B2 (en) | Power equipment | |
JP2009115505A (en) | Winding inspection device and inspection method | |
JP4979706B2 (en) | Partial discharge determination method and partial discharge determination device | |
JPH10170596A (en) | System for diagnosing insulated apparatus and method for detecting partial discharge | |
EP1705491B1 (en) | Partial discharge detection method and apparatus | |
JPWO2016079869A1 (en) | Partial discharge position locator | |
JP4216920B2 (en) | Partial discharge occurrence position detection device for conductive device | |
JP4740421B2 (en) | Partial discharge site location method for three-phase gas insulation equipment | |
KR100632078B1 (en) | Noise discriminating device and method for detect the partial discharge in underground power cable | |
JP4690428B2 (en) | Device for detecting partial discharge intensity of conductive device | |
JP2000346916A (en) | Anomaly detection device for rotating electric machine | |
JP4802302B2 (en) | Diagnosis method for water tree deterioration of power cables | |
JP3172626B2 (en) | Partial discharge detection method for high voltage equipment | |
JPH11231015A (en) | Abnormality detecting device for electric rotating machine | |
JPH0382316A (en) | Partial discharge detector of gas-insulated apparatus | |
JP2008164393A (en) | Device and method for determining deterioration of shielding conductor of high voltage cable | |
JP2011252779A (en) | Detection method of partial discharge of electrical device using magnetic field probe | |
JP2022148040A (en) | Partial discharge detection apparatus, and partial discharge detection method | |
JP2000221229A (en) | Apparatus and method for detecting partial discharge | |
JPH03239971A (en) | Detector for corona discharge | |
JP4877115B2 (en) | Partial discharge position identification device for rotating electrical machines | |
JPH03135311A (en) | Partial discharge detector for gas-insulating equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110215 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140225 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |