JP4566934B2 - Defect detection apparatus, optical disc apparatus, and defect detection method - Google Patents

Defect detection apparatus, optical disc apparatus, and defect detection method Download PDF

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Description

本発明は、レーザ光を用いて情報再生及び情報記録の少なくとも一方を行う光ディスク装置等の情報記録再生装置において使用され、光ディスク等の情報記録媒体から再生された信号を用いて情報記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出装置に関する。   The present invention is used in an information recording / reproducing apparatus such as an optical disk apparatus that performs at least one of information reproduction and information recording using a laser beam, and has a defect in the information recording medium using a signal reproduced from the information recording medium such as an optical disk. The present invention relates to a defect detection apparatus for detecting a defect.

光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに照射し、光ディスクによる反射光の変化を検出することで光ディスクに記憶された情報の再生を行う。光ディスク装置には、CD−ROM、DVD−ROM等の再生専用型の光ディスクから情報の再生のみを行う装置、及び、CD−R、DVD−R等の追記型の光ディスクやCD−RW、DVD−RAM等の書き換え可能型の光ディスクに対して情報記録及び情報再生を行う装置がある。   The optical disc apparatus reproduces information stored in the optical disc by irradiating the optical disc with laser light and detecting a change in reflected light from the optical disc. The optical disk device includes a device that only reproduces information from a read-only optical disk such as a CD-ROM or DVD-ROM, and a write-once optical disk such as a CD-R or DVD-R, or a CD-RW or DVD- There is an apparatus for recording and reproducing information on a rewritable optical disk such as a RAM.

光ディスクに対する情報記録又は光ディスクからの情報再生を行う際には、トラッキングサーボ制御、フォーカスサーボ制御、スピンドルサーボ制御及びスレッドサーボ制御が行われる。トラッキングサーボ制御とは、光ディスクからの反射光を用いて光スポット中心と光ディスクのグルーブ中心との位置ずれを検出し、この位置すれを補正するよう駆動部を制御することにより、光ディスク上のグルーブ中心に光スポットの中心を維持する制御である。また、フォーカスサーボ制御は、光ディスクからの反射光を用いてレーザ光を集光する対物レンズの焦点位置のずれを検出し、この焦点ずれを補正するよう駆動部を制御することによって、光ディスクの上下ぶれに追随して、レーザ光を集光する対物レンズの焦点位置を光ディスクの面上に維持する制御である。スピンドルサーボ制御は、再生RF信号のデータレート、ウォブル周波数を一定とするようにスピンドル回転数を制御するものである。また、スレッドサーボ制御は、トラッキングエラー信号のDC成分に追従し、レンズ傾きの抑制、長距離シークをするための制御である。   When performing information recording on an optical disc or reproducing information from an optical disc, tracking servo control, focus servo control, spindle servo control, and thread servo control are performed. The tracking servo control is a method for detecting the positional deviation between the center of the light spot and the center of the groove of the optical disk by using the reflected light from the optical disk, and controlling the drive unit to correct the positional deviation, thereby controlling the groove center on the optical disk. This is the control to maintain the center of the light spot. The focus servo control detects the deviation of the focal position of the objective lens that collects the laser light using the reflected light from the optical disc, and controls the drive unit to correct this focal deviation. In this control, the focal position of the objective lens that collects the laser light is maintained on the surface of the optical disc following the blur. In the spindle servo control, the spindle rotation speed is controlled so that the data rate and wobble frequency of the reproduction RF signal are constant. Further, the sled servo control is a control for tracking the DC component of the tracking error signal, suppressing the lens tilt, and performing a long distance seek.

光ディスクには、光ディスク面へのゴミ又は指紋の付着や光ディスク面の傷等の欠陥領域が存在する場合がある。このような欠陥領域では光ディスクから正確な反射光を得られず、上述したサーボ制御を正常に行うことができない。このため、光ディスクによって反射された反射光の変化によって光ディスクの欠陥領域を検出し、欠陥領域中ではサーボ制御を欠陥領域前の状態に固定する等の対処を行って、サーボ制御の不具合を防止することが従来から行われている。また、光ディスクの欠陥領域を検出する装置及び方法は、例えば、特許文献1及び2に開示されている。   An optical disk may have a defective area such as dust or fingerprints attached to the optical disk surface or scratches on the optical disk surface. In such a defective area, accurate reflected light cannot be obtained from the optical disc, and the servo control described above cannot be performed normally. For this reason, a defective area of the optical disk is detected based on a change in the reflected light reflected by the optical disk, and measures such as fixing the servo control to the state before the defective area in the defective area are taken to prevent servo control problems. This has been done conventionally. An apparatus and a method for detecting a defective area of an optical disc are disclosed in, for example, Patent Documents 1 and 2.

特許文献1には、光ディスクから再生したRF信号の信号振幅に対する閾値判定を行って欠陥を検出する欠陥検出装置が開示されている。具体的には、RF信号のトップピークレベルが所定の閾値を下回る領域を欠陥領域と判定し、欠陥領域にあるときはRF信号を増幅する可変利得増幅器(VGA)のゲインを抑制する。これにより、欠陥領域脱出後の過増幅による再生信号レベルの変動に起因するトラッキングサーボ制御の不具合を防止するものである。   Patent Document 1 discloses a defect detection apparatus that detects a defect by performing threshold determination on the signal amplitude of an RF signal reproduced from an optical disc. Specifically, a region where the top peak level of the RF signal is below a predetermined threshold is determined as a defective region, and when it is in the defective region, the gain of a variable gain amplifier (VGA) that amplifies the RF signal is suppressed. This prevents the tracking servo control malfunction caused by fluctuations in the reproduction signal level due to overamplification after escape from the defective area.

特許文献2には、3ビーム法での副ビーム(±1次回折光)のトップピークレベルに対する閾値判定を行うことにより欠陥領域を検出する光ディスク装置が開示されている。   Patent Document 2 discloses an optical disc apparatus that detects a defective area by performing threshold determination on the top peak level of a sub beam (± first order diffracted light) in the three beam method.

また、RF信号等の再生信号のトップピークレベルに対して直接的に閾値判定を行う欠陥検出方法だけでなく、RF信号のトップピークレベルとRF信号のボトムピークレベルとの差分に対する閾値判定を行うもの、減衰速度の異なる2つのピークホールド回路によってRF信号のトップピークレベルをホールドすることにより2つのピークホールド信号を生成し、これら2つのピークホールド信号の差分に対する閾値判定を行う方法も行われている。
特開2005−166151号公報 特開2004−146013号公報
Further, not only a defect detection method that directly determines a threshold value for a top peak level of a reproduction signal such as an RF signal, but also a threshold value determination for a difference between the top peak level of the RF signal and the bottom peak level of the RF signal. However, there is also a method in which two peak hold signals are generated by holding the top peak level of the RF signal by two peak hold circuits having different attenuation rates, and a threshold is determined for the difference between the two peak hold signals. Yes.
JP 2005-166151 A Japanese Patent Laid-Open No. 2004-146013

光ディスク表面への指紋の付着による欠陥は、光ディスク面の傷等の他の欠陥に比べて、再生信号の振幅の減衰量が小さく、また、欠陥領域内での反射率の変動があるために信号振幅の減衰量が一様でないという特徴がある。このような欠陥が存在する場合に、特許文献1及び2に開示されているような再生信号のトップピークレベル対する閾値判定、又は再生信号のトップピークレベルと他の信号との差分に対する閾値判定によって欠陥の検出を行うと、欠陥領域中での反射率のムラによって再生信号のトップピークレベルが変動することにより、再生信号のトップピークレベルが欠陥領域脱出判定の閾値を超過し、これによって欠陥領域脱出と誤判定してしまう可能性がある。   Defects due to fingerprints attached to the optical disk surface are smaller than other defects such as scratches on the optical disk surface, and the attenuation of the amplitude of the reproduction signal is small, and the reflectance varies within the defect area. There is a feature that the amount of attenuation of the amplitude is not uniform. When such a defect exists, the threshold determination for the top peak level of the reproduction signal as disclosed in Patent Documents 1 and 2 or the threshold determination for the difference between the top peak level of the reproduction signal and another signal is performed. When a defect is detected, the top peak level of the reproduction signal fluctuates due to uneven reflectance in the defect region, so that the top peak level of the reproduction signal exceeds the threshold for determining the defect region escape, thereby causing the defect region. There is a possibility of misjudging as an escape.

このように、従来の欠陥検出装置及び欠陥検出方法には、指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥を正しく検出できないという問題がある。   As described above, the conventional defect detection apparatus and the defect detection method have a problem that a signal amplitude attenuation amount such as fingerprint attachment is relatively small, and a defect having a characteristic that the amplitude level fluctuates in the defect region cannot be detected correctly. is there.

本発明にかかる欠陥検出装置は、情報記録媒体による反射光を検出することによって得られる再生信号を用いて、情報記録媒体の欠陥領域を検出する欠陥検出装置である。具体的には、前記再生信号のピークレベルを検出した第1のピークホールド信号のボトムレベルを検出して得られる第1のボトムホールド信号の信号レベルの変動に基づいて欠陥領域を検出するものであり、かつ、前記第1のピークホールド信号の信号レベルの減衰速度より前記第1のボトムホールド信号の減衰速度が小さいことを特徴とする。   A defect detection apparatus according to the present invention is a defect detection apparatus that detects a defect area of an information recording medium using a reproduction signal obtained by detecting reflected light from the information recording medium. Specifically, the defect area is detected based on the fluctuation of the signal level of the first bottom hold signal obtained by detecting the bottom level of the first peak hold signal in which the peak level of the reproduction signal is detected. And the attenuation rate of the first bottom hold signal is smaller than the attenuation rate of the signal level of the first peak hold signal.

ここで再生信号とは、例えば、光ディスクから再生されるRF信号やウォブル信号等である。再生信号のピークレベルをホールドした信号(第1のピークホールド信号)をさらにボトムホールドして得られる信号(第1のボトムホールド信号)は、第1のピークホールド信号の微小な振幅変動を抑制したものとなる。したがって、第1のボトムホールド信号を用いて欠陥領域を判定することにより、欠陥領域内における再生信号や第1のピークホールド信号の微小な振幅変動に起因する欠陥領域脱出の誤検出を抑制することができる。これにより、指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥の検出精度を向上することができる。   Here, the reproduction signal is, for example, an RF signal or a wobble signal reproduced from an optical disc. The signal (first bottom hold signal) obtained by further holding the signal (first peak hold signal) holding the peak level of the reproduction signal further suppresses minute amplitude fluctuations of the first peak hold signal. It will be a thing. Therefore, by determining the defect area using the first bottom hold signal, it is possible to suppress the erroneous detection of the defect area escape caused by the minute amplitude fluctuation of the reproduction signal or the first peak hold signal in the defect area. Can do. As a result, the amount of attenuation of the signal amplitude, such as fingerprint attachment, is relatively small, and it is possible to improve the detection accuracy of the defect having the characteristic that the amplitude level fluctuates in the defect region.

本発明にかかる光ディスク装置は、上述した本発明にかかる欠陥検出装置を備え、当該欠陥検出装置によって、光ディスクの欠陥領域を検出するものである。上述したように、本発明にかかる欠陥検出装置を用いることで、欠陥領域の検出精度を向上することができる。このため、本発明にかかる欠陥検出装置が出力する欠陥検出信号を用いてトラッキングサーボ制御を行うことで、サーボ制御の安定性を向上させることができる。なお、さらに、本発明にかかる欠陥検出装置による欠陥検出結果に基づいて、光ディスクから再生されたRF信号を増幅するAGC増幅部の利得制御等を行うこととしてもよい。   An optical disk apparatus according to the present invention includes the above-described defect detection apparatus according to the present invention, and detects a defective area of an optical disk by the defect detection apparatus. As described above, by using the defect detection apparatus according to the present invention, it is possible to improve the detection accuracy of the defect area. For this reason, the stability of servo control can be improved by performing tracking servo control using the defect detection signal output from the defect detection apparatus according to the present invention. Furthermore, gain control of an AGC amplification unit that amplifies an RF signal reproduced from the optical disk may be performed based on a defect detection result by the defect detection apparatus according to the present invention.

本発明により、欠陥の検出精度の高い欠陥検出装置及び欠陥検出方法、並びにこれらの欠陥検出装置又は欠陥検出方法を用いてサーボ制御の安定性を向上させた光ディスク装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a defect detection apparatus and a defect detection method with high defect detection accuracy, and an optical disc apparatus with improved servo control stability using these defect detection apparatus or defect detection method.

以下では、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略する。   Hereinafter, specific embodiments to which the present invention is applied will be described in detail with reference to the drawings. In the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted as necessary for the sake of clarity.

発明の実施の形態1.
本実施の形態にかかる欠陥検出装置1の構成を図1に示す。欠陥検出装置1は、光ディスクから再生されたRF信号を入力し、入力されたRF信号を用いて光ディスクの欠陥を検出し、欠陥検出信号を外部に出力する。
Embodiment 1 of the Invention
FIG. 1 shows a configuration of the defect detection apparatus 1 according to the present embodiment. The defect detection apparatus 1 receives an RF signal reproduced from an optical disk, detects a defect of the optical disk using the input RF signal, and outputs a defect detection signal to the outside.

図1において、高速ピークホールド回路10は、入力されたRF信号のトップピークレベルを検出して、ピークホールド信号S1を出力する。このように、高速ピークホールド回路10は、入力されたRF信号のトップピークレベルのエンベロープを検出する回路である。なお、高速ピークホールド回路10は、入力されたRF信号の高周波重畳成分を取り除いた上で、十分に早い時間で欠陥突入を検出できる程度のピークレベルへの追随性を有し、かつ、出力信号S1の減衰速度が後述する低速ボトムホールド回路11の出力信号S2の減衰速度に比べて大きいという減衰特性を有する。   In FIG. 1, a high-speed peak hold circuit 10 detects the top peak level of an input RF signal and outputs a peak hold signal S1. Thus, the high-speed peak hold circuit 10 is a circuit that detects the envelope of the top peak level of the input RF signal. The high-speed peak hold circuit 10 has a tracking capability to a peak level that can detect a defect entry in a sufficiently early time after removing a high-frequency superimposed component of the input RF signal, and the output signal. It has an attenuation characteristic that the attenuation rate of S1 is larger than the attenuation rate of the output signal S2 of the low-speed bottom hold circuit 11 described later.

低速ボトムホールド回路11は、高速ピークホールド回路10の出力信号S1を入力し、入力された信号S1のボトムピークレベルを検出して、ボトムホールド信号S2を出力する。なお、上述したように、低速ボトムホールド回路11の出力信号S2の減衰速度は、高速ピークホールド回路10の出力信号S1の減衰速度より小さいという減衰特性を有する。   The low speed bottom hold circuit 11 receives the output signal S1 of the high speed peak hold circuit 10, detects the bottom peak level of the input signal S1, and outputs the bottom hold signal S2. As described above, the attenuation rate of the output signal S2 of the low-speed bottom hold circuit 11 has an attenuation characteristic that is lower than the attenuation rate of the output signal S1 of the high-speed peak hold circuit 10.

比較回路12は、低速ボトムホールド回路12の出力信号S2と、電圧閾値Vthとを比較し、信号S2の値が電圧閾値Vth以下となる場合に光ディスクの欠陥領域であることを示す欠陥検出信号を出力する。つまり、電圧閾値Vthは、欠陥領域への突入及び脱出を判定するための基準値である。   The comparison circuit 12 compares the output signal S2 of the low-speed bottom hold circuit 12 with the voltage threshold value Vth, and if the value of the signal S2 is equal to or less than the voltage threshold value Vth, a defect detection signal indicating that the defect area of the optical disk is present. Output. That is, the voltage threshold Vth is a reference value for determining entry into and exit from the defect area.

D/Aコンバータ(DAC)13は、比較回路12に対して電圧閾値Vthを出力する。D/Aコンバータ(DAC)13の入力デジタル値を変更することで、電圧閾値Vthを変更可能である。   The D / A converter (DAC) 13 outputs a voltage threshold Vth to the comparison circuit 12. The voltage threshold Vth can be changed by changing the input digital value of the D / A converter (DAC) 13.

上述したRF信号、信号S1、信号S2及び欠陥検出信号の関係を図2の波形図を用いて説明する。図2の最上段に示す波形は、光ディスクから再生されたRF信号の一例である。図2のRF信号における信号振幅の減少した領域は、指紋の付着等による欠陥領域を示している。   The relationship among the RF signal, the signal S1, the signal S2, and the defect detection signal will be described with reference to the waveform diagram of FIG. The waveform shown at the top of FIG. 2 is an example of an RF signal reproduced from the optical disc. A region where the signal amplitude is reduced in the RF signal in FIG. 2 indicates a defective region due to adhesion of a fingerprint or the like.

図2のRF信号を高速ピークホールド回路10に入力することによって得られる信号S1の波形は、図2の上から2段目の波形のようになる。さらに、図2の信号S1を低速ボトムホールド回路11に入力することによって得られる信号S2の波形は、図2の上から3段目の波形のようになる。   The waveform of the signal S1 obtained by inputting the RF signal in FIG. 2 to the high-speed peak hold circuit 10 is the waveform in the second stage from the top in FIG. Furthermore, the waveform of the signal S2 obtained by inputting the signal S1 of FIG. 2 to the low-speed bottom hold circuit 11 is the waveform of the third stage from the top of FIG.

図2に示すように、低速ボトムホールド回路11の出力信号S2は、RF信号のトップピークレベルのエンベロープを示す信号S1の微小な振幅変動を抑制したものとなる。より詳細に述べると、信号S1の値が減少する際には、信号S2は信号S1に速やかに追随する。一方、信号S1の値が増加する際には、信号S2は信号S1に追随することなく、低速ボトムホールド回路11の減衰特性によって定まる速度で増加する。つまり、RF信号のピークホールド後にさらにボトムホールドを行うことにより、RF信号のピークレベル上昇時の波形変化を鈍化させることができる。このような信号S2を、図2の電圧閾値Vthと比較すれば、欠陥領域内で信号S2の値が閾値Vthを越えることはなく、欠陥検出装置1が出力する欠陥検出信号の波形は図2の最下段に示すようになる。欠陥検出信号のHighレベルは欠陥領域を示し、Lowレベルは欠陥領域でないことを示す。   As shown in FIG. 2, the output signal S2 of the low-speed bottom hold circuit 11 suppresses a minute amplitude fluctuation of the signal S1 indicating the envelope of the top peak level of the RF signal. More specifically, when the value of signal S1 decreases, signal S2 quickly follows signal S1. On the other hand, when the value of the signal S1 increases, the signal S2 does not follow the signal S1, but increases at a speed determined by the attenuation characteristic of the low-speed bottom hold circuit 11. That is, by further holding the bottom after the peak hold of the RF signal, the waveform change when the RF signal peak level rises can be blunted. If such a signal S2 is compared with the voltage threshold value Vth in FIG. 2, the value of the signal S2 does not exceed the threshold value Vth in the defect region, and the waveform of the defect detection signal output by the defect detection apparatus 1 is as shown in FIG. As shown in the bottom row. A high level of the defect detection signal indicates a defective area, and a low level indicates that the defect area is not a defective area.

上述したように、光ディスク表面への指紋の付着による欠陥は、光ディスク面の傷等の他の欠陥に比べて、再生信号の振幅の減衰量が小さく、また、欠陥領域内での反射率の変動があるために信号振幅の減衰量が一様でないという特徴がある。このような欠陥に対して、従来の欠陥検出装置は、RF信号のトップエンベロープ信号である信号S1を電圧閾値Vthと比較することにより、欠陥領域の検出を行っていた。図2に示す信号S1の値を電圧閾値Vthと比較して得られる従来の欠陥検出信号の波形を図9に示す。このように、従来の欠陥検出方法では、欠陥領域内においてRF信号の振幅変動があると、信号S1の値が電圧閾値Vthを超過し、欠陥領域内であるにも関わらず欠陥でないと誤判定する場合がある。   As described above, the defect due to the fingerprint adhering to the surface of the optical disk has a smaller attenuation of the amplitude of the reproduction signal than other defects such as scratches on the optical disk surface, and the reflectance variation within the defect area. Therefore, there is a feature that the attenuation amount of the signal amplitude is not uniform. With respect to such a defect, the conventional defect detection apparatus detects the defect region by comparing the signal S1, which is the top envelope signal of the RF signal, with the voltage threshold value Vth. FIG. 9 shows a waveform of a conventional defect detection signal obtained by comparing the value of the signal S1 shown in FIG. 2 with the voltage threshold Vth. As described above, in the conventional defect detection method, if the amplitude variation of the RF signal is present in the defect region, the value of the signal S1 exceeds the voltage threshold Vth, and it is erroneously determined that the defect is not a defect despite being in the defect region. There is a case.

これに対して、本実施の形態にかかる欠陥検出装置1は、RF信号のトップピークをホールドした信号S1をさらにボトムホールドして得られる信号S2を用いて、欠陥領域を検出している。このため、欠陥領域内におけるRF信号の微小な振幅変動に起因する欠陥領域脱出の誤検出を抑制することができる。   On the other hand, the defect detection apparatus 1 according to the present embodiment detects a defect region using a signal S2 obtained by further bottom-holding the signal S1 obtained by holding the top peak of the RF signal. For this reason, it is possible to suppress erroneous detection of escape from the defective area due to minute amplitude fluctuations of the RF signal in the defective area.

このように誤検出を抑制できることによって、従来は欠陥領域として検出することが困難であったRF信号の信号振幅の減少が小さい欠陥の検出が可能となる。このため、欠陥検出装置1を用いることにより、電圧閾値Vthを従来に比べて高く設定して欠陥検出を行うことが可能となり、小さな欠陥に対する検出感度を向上させることができる。さらに、電圧閾値Vthを従来に比べて高く設定できることによって、欠陥領域への突入判定の応答性を向上できる。このため、欠陥検出装置1が出力する欠陥検出信号を用いて光ディスク装置のトラッキングサーボ制御や、RF信号を増幅する増幅回路の利得制御を行うことにより、サーボ制御の安定性を向上させることができる。   By suppressing erroneous detection in this manner, it is possible to detect a defect with a small decrease in the signal amplitude of the RF signal, which has been difficult to detect as a defect region in the past. For this reason, by using the defect detection apparatus 1, it is possible to detect a defect by setting the voltage threshold Vth to be higher than that in the prior art, and it is possible to improve the detection sensitivity for a small defect. Furthermore, since the voltage threshold value Vth can be set higher than in the prior art, the responsiveness of the entry determination to the defect area can be improved. For this reason, the servo control stability can be improved by performing the tracking servo control of the optical disk apparatus using the defect detection signal output from the defect detection apparatus 1 and the gain control of the amplification circuit for amplifying the RF signal. .

なお、欠陥検出装置1では、ボトムホールド後の信号S2に対する閾値判定によって欠陥領域からの脱出を判定するため、信号S1に対する閾値判定によって欠陥領域の脱出を判定する場合に比べて、欠陥領域脱出の判定タイミングが遅くなるという性質がある。しかしながら、欠陥領域突入時はトラッキングサーボ制御、RF信号増幅時の利得制御といったサーボ制御を速やかにホールドするために高速応答が要求されるのに対して、欠陥領域脱出の判定に対する高速応答の要求は大きくない。欠陥領域と判定している間は、サーボ制御がホールドされているため、欠陥回復判定が遅れることによるサーボ制御への影響は小さいためである。   Since the defect detection apparatus 1 determines the escape from the defect area by the threshold determination for the signal S2 after the bottom hold, compared to the case of determining the escape of the defect area by the threshold determination for the signal S1, The determination timing is delayed. However, when a defect area is entered, a high-speed response is required to quickly hold servo control such as tracking servo control and gain control during RF signal amplification, whereas a high-speed response request for the determination of defect area escape is not big. This is because the servo control is held while the defect area is determined, and therefore the influence on the servo control due to the delay in the defect recovery determination is small.

本実施の形態にかかる欠陥検出装置1の具体的な構成例を図3に示す。図3は、アナログ回路による構成例を示している。図3のピークホールド回路10は、入力電圧(RF信号)に対するコンパレータとして動作するオペアンプ101、コンデンサC1の充放電を制御するスイッチとして動作するNPN型トランジスタ102、コンデンサC1の放電速度を決定する抵抗R1、及びインピーダンス変換を行うボルテージフォロワとして動作するオペアンプ103により構成されている。オペアンプ103からオペアンプ101へのネガティブフィードバックによって、コンデンサC1が入力電圧(RF信号レベル)まで充電されたことを検出すると、コンデンサC1の充電が停止される。RF信号のトップピークレベル上昇時は、コンデンサC1を充電することでオペアンプ103からの出力レベルがピークレベルの変化に追従する。また、RF信号のトップピークレベル下降時は、コンデンサC1の放電による電圧降下によってピークレベルの変化に追従することとなる。   A specific configuration example of the defect detection apparatus 1 according to the present embodiment is shown in FIG. FIG. 3 shows a configuration example of an analog circuit. The peak hold circuit 10 of FIG. 3 includes an operational amplifier 101 that operates as a comparator for an input voltage (RF signal), an NPN transistor 102 that operates as a switch for controlling charge / discharge of the capacitor C1, and a resistor R1 that determines the discharge speed of the capacitor C1. And an operational amplifier 103 that operates as a voltage follower that performs impedance conversion. When the negative feedback from the operational amplifier 103 to the operational amplifier 101 detects that the capacitor C1 is charged to the input voltage (RF signal level), the charging of the capacitor C1 is stopped. When the top peak level of the RF signal rises, the output level from the operational amplifier 103 follows the change in the peak level by charging the capacitor C1. Further, when the top peak level of the RF signal is lowered, the change in the peak level is followed by the voltage drop due to the discharge of the capacitor C1.

また、図3のボトムホールド回路11は、入力電圧(信号S1)に対するコンパレータとして動作するオペアンプ111、コンデンサC2の充放電を制御するスイッチとして動作するPNP型トランジスタ112、コンデンサC2の放電速度を決定する抵抗R2、及びインピーダンス変換を行うボルテージフォロワとして動作するオペアンプ113により構成されている。入力信号S1のレベル下降時は、PNPトランジスタ112がONとなり、コンデンサC2が充電されるので、オペアンプ113からの出力レベルが入力信号S1の変化に追従する。また、入力信号S1のレベル上昇時は、コンデンサC2が放電することでオペアンプ113からの出力レベルが漸増する。   3 determines the discharge rate of the operational amplifier 111 that operates as a comparator for the input voltage (signal S1), the PNP transistor 112 that operates as a switch that controls charging and discharging of the capacitor C2, and the capacitor C2. The resistor R2 and the operational amplifier 113 that operates as a voltage follower that performs impedance conversion are included. When the level of the input signal S1 falls, the PNP transistor 112 is turned on and the capacitor C2 is charged, so that the output level from the operational amplifier 113 follows the change in the input signal S1. Further, when the level of the input signal S1 rises, the output level from the operational amplifier 113 gradually increases as the capacitor C2 is discharged.

図3の比較回路12は、オペアンプ121を用いて構成されている。なお、閾値電圧Vthを与えるDAC13の記載は省略している。   The comparison circuit 12 in FIG. 3 is configured using an operational amplifier 121. Note that the description of the DAC 13 that provides the threshold voltage Vth is omitted.

図3の構成では、高速ピークホールド回路10の減衰時定数C1×R1と、低速ボトムホールド回路11の減衰時定数C2×R2とを、C1×R1<C2×R2の関係式が成立するよう決定する。なお、図3の構成は一例であり、欠陥検出装置1は他の回路構成によっても実現できること、またデジタル回路によっても実現できることは勿論である。   In the configuration of FIG. 3, the decay time constant C1 × R1 of the high-speed peak hold circuit 10 and the decay time constant C2 × R2 of the low-speed bottom hold circuit 11 are determined so that the relational expression C1 × R1 <C2 × R2 holds. To do. Note that the configuration of FIG. 3 is an example, and the defect detection apparatus 1 can be realized by other circuit configurations and also by a digital circuit.

次に、本実施の形態にかかる欠陥検出装置1を用いた光ディスク装置の構成例を図4に示す。図4の光ディスク装置100は、光ディスク40に対する記録及び再生を行うものである。スピンドルモータ(SPM)41は、光ディスク40を所定の速度で回転駆動するモータである。光学ヘッド42は、光ディスク40の記録面に対してレーザ光を照射するレーザ光源、レーザ光を光ディスク40の記録面に集光させる対物レンズ、光ディスク40の記録面によって反射されたレーザ光を受光し、主信号(A,B,C,D)及び補助信号(E,F)を出力する6分割光検出器、並びにトラッキングエラー及びフォーカスエラーを補正するためのファインアクチュエータ等を備える。   Next, FIG. 4 shows a configuration example of an optical disc apparatus using the defect detection apparatus 1 according to the present embodiment. The optical disc apparatus 100 shown in FIG. 4 performs recording and reproduction with respect to the optical disc 40. The spindle motor (SPM) 41 is a motor that rotationally drives the optical disc 40 at a predetermined speed. The optical head 42 receives a laser light source that irradiates the recording surface of the optical disc 40 with laser light, an objective lens that focuses the laser light on the recording surface of the optical disc 40, and laser light reflected by the recording surface of the optical disc 40. , A six-divided photodetector that outputs main signals (A, B, C, D) and auxiliary signals (E, F), and a fine actuator for correcting tracking errors and focus errors.

駆動部43は、サーボ制御部44からの制御信号に応じて、SPM41の駆動、光学ヘッド42を光ディスク40の径方向に移動させるコースアクチュエータの駆動、及びファインアクチュエータの駆動を行う。   The drive unit 43 performs driving of the SPM 41, driving of the coarse actuator that moves the optical head 42 in the radial direction of the optical disc 40, and driving of the fine actuator in accordance with a control signal from the servo control unit 44.

サーボ制御部44は、光学ヘッド42から出力される主信号(A,B,C,D)及び補助信号(E,F)を用いてトラッキングエラー及びフォーカスエラーを検出し、これらを補正するようファインアクチュエータを動作させるための制御信号を生成して、駆動部43に出力する。   The servo controller 44 detects the tracking error and the focus error using the main signals (A, B, C, D) and the auxiliary signals (E, F) output from the optical head 42, and finely corrects them. A control signal for operating the actuator is generated and output to the drive unit 43.

AGC増幅部は、自動利得制御(AGC)機能を備える増幅器であり、光学ヘッド42から出力される主信号(A,B,C,D)を加算して得られるRF信号を所定レベルまで増幅して出力する。   The AGC amplifier is an amplifier having an automatic gain control (AGC) function, and amplifies an RF signal obtained by adding the main signals (A, B, C, D) output from the optical head 42 to a predetermined level. Output.

信号処理部46は、光ディスク40から読み出されたRF信号に対する同期化、復調、復号処理を行い、復号後のデータを外部ホストとのインタフェースに出力する。また、光ディスク40に記録するデータを外部ホストから入力し、符号化及び変調後に記録パルスとしてレーザ駆動部47に出力される。   The signal processing unit 46 performs synchronization, demodulation, and decoding processing on the RF signal read from the optical disc 40, and outputs the decoded data to an interface with an external host. Further, data to be recorded on the optical disk 40 is input from an external host, and is output to the laser drive unit 47 as a recording pulse after encoding and modulation.

レーザ駆動部47は、光ディスク40の書き込み位置に応じたパワー設定値で光ヘッド42が備えるレーザ光源を駆動する。   The laser driving unit 47 drives the laser light source provided in the optical head 42 with a power setting value corresponding to the writing position of the optical disc 40.

光ディスク装置100が備える欠陥検出装置1は、光学ヘッド42から出力される主信号(A,B,C,D)を加算して得られるRF信号を入力して、上述した欠陥領域の検出動作を行う。欠陥検出装置1が欠陥を検出した場合は、欠陥検出信号(図4のDEF信号)がサーボ制御部44及びAGC増幅部45に出力される。欠陥検出信号を受信したサーボ制御部44は、トラッキングサーボ制御を欠陥検出前の状態にホールドすることにより、トラッキングサーボ制御の暴走を防ぐ。また、欠陥検出信号を受信したAGC増幅部45は、RF信号に対する利得を欠陥検出前の利得にホールドすることにより、RF信号の過増幅を防止する。   The defect detection apparatus 1 included in the optical disc apparatus 100 receives the RF signal obtained by adding the main signals (A, B, C, D) output from the optical head 42, and performs the above-described defect area detection operation. Do. When the defect detection apparatus 1 detects a defect, a defect detection signal (DEF signal in FIG. 4) is output to the servo control unit 44 and the AGC amplification unit 45. The servo control unit 44 that has received the defect detection signal prevents the tracking servo control from running away by holding the tracking servo control in a state before the defect detection. In addition, the AGC amplification unit 45 that has received the defect detection signal holds the gain for the RF signal at the gain before the defect detection, thereby preventing overamplification of the RF signal.

上述したように本実施の形態にかかる欠陥検出装置1によれば、欠陥領域の検出精度を向上させることができる。このため、欠陥検出装置1が出力する欠陥検出信号を用いてサーボ制御部44によるトラッキングサーボ制御、及びRF信号を増幅するAGC増幅部45の利得制御を行うことにより、光ディスク装置100のサーボ制御の安定性を向上させることができる。   As described above, according to the defect detection apparatus 1 according to the present embodiment, it is possible to improve the detection accuracy of the defect area. For this reason, the servo control unit 44 performs tracking servo control using the defect detection signal output from the defect detection apparatus 1 and gain control of the AGC amplification unit 45 that amplifies the RF signal, thereby performing servo control of the optical disc apparatus 100. Stability can be improved.

なお、図4に示した光ディスク装置1の構成は一例である。欠陥検出回路1がAGC増幅部45の後段に設けられる場合もあるし、AGC増幅部45を構成する複数の増幅回路の間に設けられる場合もある。また、欠陥検出回路1が出力する欠陥検出信号を用いて行われる制御は、上述したトラッキングサーボ制御及びAGC増幅部45の利得制御の少なくとも一方でも良いし、さらにDVD−RAMディスク等への書き込み処理前に行われる欠陥領域の検出に利用しても良い。   The configuration of the optical disc apparatus 1 shown in FIG. 4 is an example. The defect detection circuit 1 may be provided at a subsequent stage of the AGC amplification unit 45, or may be provided between a plurality of amplification circuits constituting the AGC amplification unit 45. Further, the control performed using the defect detection signal output from the defect detection circuit 1 may be at least one of the tracking servo control and the gain control of the AGC amplification unit 45 described above, and further, writing processing to a DVD-RAM disk or the like You may utilize for the detection of the defect area | region performed before.

その他の実施の形態.
発明の実施の形態1にかかる欠陥検出装置1は、RF信号のトップピークをホールドした信号S1をさらにボトムホールドして得られる信号S2に対する閾値判定によって欠陥領域を検出する構成であった。しかしながら、欠陥領域を検出するための閾値判定の対象となる信号は信号S2に限られない。例えば、図5に示す欠陥検出装置2は、減衰速度の異なる2つのピークホールド回路によってRF信号のトップピークレベルをホールドすることにより2つのピークホールド信号を生成し、これら2つのピークホールド信号の差分に対する閾値判定を行うものである。
Other embodiments.
The defect detection apparatus 1 according to the first embodiment of the invention has a configuration in which a defect region is detected by threshold determination on a signal S2 obtained by further bottom-holding the signal S1 obtained by holding the top peak of the RF signal. However, the signal to be subjected to threshold determination for detecting the defective area is not limited to the signal S2. For example, the defect detection apparatus 2 shown in FIG. 5 generates two peak hold signals by holding the top peak level of the RF signal by two peak hold circuits having different attenuation rates, and the difference between these two peak hold signals. Is a threshold judgment.

欠陥検出装置2が備える低速ピークホールド回路21は、RF信号のトップピークレベルをホールドするものあって、高速ピークホールド回路10に比べて減衰速度が小さいものである。また、差分回路22は、低速ボトムホールド回路11によって生成された信号S2と、低速ピークホールド回路21によって生成されたピークホールド信号S3との差分信号S4(S4=S3−S2)を生成する。得られた信号S4を比較回路12において電圧閾値Vthと比較することによっても欠陥領域を検出することができる。RF信号、信号S1乃至S4、並びに欠陥検出信号の波形図を図6に示す。   The low-speed peak hold circuit 21 provided in the defect detection apparatus 2 holds the top peak level of the RF signal and has a lower attenuation speed than the high-speed peak hold circuit 10. The difference circuit 22 generates a difference signal S4 (S4 = S3-S2) between the signal S2 generated by the low-speed bottom hold circuit 11 and the peak hold signal S3 generated by the low-speed peak hold circuit 21. The defective area can also be detected by comparing the obtained signal S4 with the voltage threshold Vth in the comparison circuit 12. FIG. 6 shows waveform diagrams of the RF signal, the signals S1 to S4, and the defect detection signal.

また、図6に示す欠陥検出装置3は、RF信号のトップピークレベルとRF信号のボトムピークレベルとの差分に対する閾値判定を行うことにより、欠陥領域を検出するものである。欠陥検出装置3が備えるボトムホールド回路31は、RF信号のボトムピークレベルをホールドするものである。また、差分回路32は、低速ボトムホールド回路11によって生成された信号S2と、ボトムホールド回路31によって生成されたボトムホールド信号S5との差分信号S6(S6=S2−S5)を生成する。このようにして得られた信号S6を比較回路12において電圧閾値Vthと比較することによっても欠陥領域を検出することができる。RF信号、信号S1、S2、S5及びS6、並びに欠陥検出信号の波形図を図8に示す。   Moreover, the defect detection apparatus 3 shown in FIG. 6 detects a defect region by performing threshold determination on the difference between the top peak level of the RF signal and the bottom peak level of the RF signal. The bottom hold circuit 31 provided in the defect detection device 3 holds the bottom peak level of the RF signal. Further, the difference circuit 32 generates a difference signal S6 (S6 = S2-S5) between the signal S2 generated by the low-speed bottom hold circuit 11 and the bottom hold signal S5 generated by the bottom hold circuit 31. The defective area can also be detected by comparing the signal S6 thus obtained with the voltage threshold Vth in the comparison circuit 12. FIG. 8 shows waveform diagrams of the RF signal, the signals S1, S2, S5 and S6, and the defect detection signal.

このように、欠陥領域を検出するための閾値判定には様々な信号を用いることが可能であるが、RF信号のトップピークをホールドした信号S1をさらにボトムホールドして得られる信号S2、又は信号S2と他の信号との差分に対する閾値判定など、信号S2を利用した判定によって欠陥領域を検出することにより、欠陥領域の検出精度を高めることができる。   As described above, various signals can be used for threshold determination for detecting the defective area. However, the signal S2 obtained by further bottom-holding the signal S1 obtained by holding the top peak of the RF signal, or the signal By detecting a defective area by a determination using the signal S2, such as a threshold determination for a difference between S2 and another signal, the detection accuracy of the defective area can be increased.

上述した発明の実施の形態では、RF信号を入力信号として欠陥領域を検出する場合を説明した。しかしながら、RF信号に替えて、光ディスクの欠陥領域の情報が反映された他の再生信号を入力して欠陥領域の検出を行うことも可能である。例えば、未記録のDVD−RAMディスクの欠陥領域を検出する場合には、ウォブリングされたプリグルーブから再生されるウォブル信号を本発明にかかる欠陥検出装置に入力して、欠陥領域の検出を行ってもよい。   In the embodiment of the invention described above, the case where the defect area is detected using the RF signal as an input signal has been described. However, it is also possible to detect a defective area by inputting another reproduction signal reflecting information on the defective area of the optical disc instead of the RF signal. For example, when detecting a defective area of an unrecorded DVD-RAM disc, a wobble signal reproduced from a wobbling pre-groove is input to the defect detection apparatus according to the present invention to detect the defective area. Also good.

上述した発明の実施の形態では、1つ信号(信号S2、S4、又はS6)に対する1つの閾値判定によって、欠陥領域への突入及び欠陥領域からの脱出を判定する場合を説明した。このような構成は、欠陥検出装置1の回路規模を削減できる点で有効である。しかしながら、欠陥領域への突入と欠陥領域からの脱出とを別個の閾値によって判定してもよい。また、欠陥領域への突入と欠陥領域からの脱出とを、別信号を用いて判定してもよい。   In the above-described embodiment of the present invention, the case where the entry into the defect area and the escape from the defect area are determined by one threshold value determination for one signal (signal S2, S4, or S6) has been described. Such a configuration is effective in that the circuit scale of the defect detection apparatus 1 can be reduced. However, the entry into the defect area and the escape from the defect area may be determined by separate threshold values. Further, the entry into the defect area and the escape from the defect area may be determined using separate signals.

例えば、発明の実施の形態1にかかる欠陥検出装置1において、欠陥領域への突入は信号S1を用いて判定し、欠陥領域からの脱出は信号S2を用いて判定してもよい。信号S1のほうが信号S2に比べてRF信号のピークレベル変動からの遅延が小さいため、欠陥領域への突入判定の応答性が向上する。なお、少なくとも欠陥領域からの脱出判定に信号S2を用いた判定を行うことにより、欠陥領域からの脱出を誤判定すること抑制できるため、欠陥領域の検出精度を高めることができる。   For example, in the defect detection apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention, the entry into the defect area may be determined using the signal S1, and the escape from the defect area may be determined using the signal S2. Since the signal S1 has a smaller delay from the peak level fluctuation of the RF signal than the signal S2, the responsiveness of the determination to enter the defect area is improved. Note that, by performing determination using the signal S2 at least for determination of escape from the defective area, it is possible to suppress erroneous determination of escape from the defective area, so that the detection accuracy of the defective area can be improved.

さらに、本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、既に述べた本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは勿論である。   Furthermore, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention described above.

発明の実施の形態1にかかる欠陥検出装置の構成図である。It is a block diagram of the defect detection apparatus concerning Embodiment 1 of invention. 発明の実施の形態1にかかる欠陥検出装置の動作を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows operation | movement of the defect detection apparatus concerning Embodiment 1 of invention. 発明の実施の形態1にかかる欠陥検出装置の実施例を示す図である。It is a figure which shows the Example of the defect detection apparatus concerning Embodiment 1 of invention. 発明の実施の形態1にかかる欠陥検出装置を備える磁気ディスク装置の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of a magnetic disc apparatus provided with the defect detection apparatus concerning Embodiment 1 of invention. 本発明にかかる欠陥検出装置の構成図である。It is a block diagram of the defect detection apparatus concerning this invention. 本発明にかかる欠陥検出装置の動作を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows operation | movement of the defect detection apparatus concerning this invention. 本発明にかかる欠陥検出装置の構成図である。It is a block diagram of the defect detection apparatus concerning this invention. 本発明にかかる欠陥検出装置の動作を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows operation | movement of the defect detection apparatus concerning this invention. 従来の欠陥検出装置の動作を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows operation | movement of the conventional defect detection apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1、2、3 欠陥検出装置
10 高速ピークホールド回路
11 低速ボトムホールド回路
12 比較回路
13 D/Aコンバータ(DAC)
100 光ディスク装置
40 光ディスク
41 光学ヘッド
42 スピンドルモータ(SPM)
43 駆動部
44 サーボ制御部
45 AGC増幅部
46 信号処理部
47 レーザ駆動部
1, 2, 3 Defect detection device 10 High-speed peak hold circuit 11 Low-speed bottom hold circuit 12 Comparison circuit 13 D / A converter (DAC)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Optical disk apparatus 40 Optical disk 41 Optical head 42 Spindle motor (SPM)
43 Drive unit 44 Servo control unit 45 AGC amplification unit 46 Signal processing unit 47 Laser drive unit

Claims (11)

情報記録媒体による反射光を検出することによって得られる再生信号を用いて、情報記録媒体の欠陥領域を検出する欠陥検出装置であって、
前記再生信号のピークレベルを検出した第1のピークホールド信号のボトムレベルを検出して得られる第1のボトムホールド信号を用いた閾値判定によって欠陥領域を検出するものであり、
前記第1のピークホールド信号の信号レベルの減衰速度より前記第1のボトムホールド信号の信号レベルの減衰速度が小さいことを特徴とする欠陥検出装置。
A defect detection device for detecting a defect area of an information recording medium using a reproduction signal obtained by detecting reflected light from the information recording medium,
A defect region is detected by threshold determination using a first bottom hold signal obtained by detecting a bottom level of a first peak hold signal in which the peak level of the reproduction signal is detected;
The defect detection apparatus according to claim 1, wherein the signal level attenuation rate of the first bottom hold signal is smaller than the signal level attenuation rate of the first peak hold signal.
前記再生信号のピークレベルを検出し、前記第1のピークホールド信号を生成する第1のピークホールド部と、
前記第1のピークホールド信号のボトムレベルを検出し、前記第1のボトムホールド信号を生成する第1のボトムホールド部と、
前記第1のボトムホールド信号を用いた閾値判定を行う比較部と、
を備える請求項1に記載の欠陥検出装置。
A first peak hold unit that detects a peak level of the reproduction signal and generates the first peak hold signal;
A first bottom hold unit that detects a bottom level of the first peak hold signal and generates the first bottom hold signal;
A comparison unit that performs threshold determination using the first bottom hold signal;
A defect detection apparatus according to claim 1.
前記第1のピークホールド部の減衰時定数が前記第1のボトムホールド部の減衰時定数より小さい、請求項2に記載の欠陥検出装置。   The defect detection apparatus according to claim 2, wherein an attenuation time constant of the first peak hold unit is smaller than an attenuation time constant of the first bottom hold unit. 前記第1のボトムホールド信号を用いた閾値判定によって、欠陥領域からの脱出を検出する、請求項1又は2に記載の欠陥検出装置。   The defect detection apparatus according to claim 1, wherein escape from the defect area is detected by threshold determination using the first bottom hold signal. 前記第1のボトムホールド信号を用いた閾値判定によって、欠陥領域への突入を検出する、請求項4に記載の欠陥検出装置。   The defect detection apparatus according to claim 4, wherein an entry into the defect area is detected by threshold determination using the first bottom hold signal. 前記第1のピークホールド信号を用いた閾値判定によって、欠陥領域への突入を検出する、請求項4に記載の欠陥検出装置。   The defect detection apparatus according to claim 4, wherein an entry into the defect area is detected by threshold determination using the first peak hold signal. 前記再生信号のピークレベルを検出し、前記第1のピークホールド信号より減衰速度が小さい第2のピークホールド信号を生成する第2のピークホールド部をさらに備え、
前記検出部は、前記第2のピークホールド信号と前記第1のボトムホールド信号との差分信号に対する閾値判定によって欠陥領域からの脱出を判定する、請求項2に記載の欠陥検出装置。
A second peak hold unit that detects a peak level of the reproduction signal and generates a second peak hold signal having a lower decay rate than the first peak hold signal;
The defect detection apparatus according to claim 2, wherein the detection unit determines escape from the defect region by threshold determination for a difference signal between the second peak hold signal and the first bottom hold signal.
前記再生信号のボトムレベルを検出し、第2のボトムホールド信号を生成する第2のボトムホールド部をさらに備え、
前記検出部は、前記第1のボトムホールド信号と前記第2のボトムホールド信号との差分信号に対する閾値判定によって欠陥領域からの脱出を判定する、請求項2に記載の欠陥検出装置。
A second bottom hold unit that detects a bottom level of the reproduction signal and generates a second bottom hold signal;
The defect detection device according to claim 2, wherein the detection unit determines escape from the defect region by threshold determination for a difference signal between the first bottom hold signal and the second bottom hold signal.
光ディスクに対する情報記録又は光ディスクからの情報再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
前記光ディスクからの再生信号を入力し、前記再生信号のピークレベルを検出したピークホールド信号のボトムレベルを検出して得られるボトムホールド信号を用いた閾値判定に基づいて欠陥検出信号を生成し、かつ、前記ピークホールド信号の信号レベルの減衰速度より前記ボトムホールド信号の信号レベルの減衰速度が小さい欠陥検出装置を備え、
前記欠陥検出信号に応じて、前記光ディスクに対するトラッキングサーボの制御状態の切り替えを行う光ディスク装置。
An optical disc apparatus that performs at least one of information recording on an optical disc or information reproduction from an optical disc,
A defect detection signal is generated based on a threshold determination using a bottom hold signal obtained by inputting a reproduction signal from the optical disc and detecting a bottom level of a peak hold signal obtained by detecting a peak level of the reproduction signal; and And a defect detection device in which the signal level attenuation rate of the bottom hold signal is smaller than the signal level attenuation rate of the peak hold signal,
An optical disc apparatus that switches a control state of tracking servo for the optical disc in accordance with the defect detection signal.
前記再生信号は、RF信号又はウォブル信号である請求項9に記載の光ディスク装置。   The optical disc apparatus according to claim 9, wherein the reproduction signal is an RF signal or a wobble signal. 情報記録媒体による反射光を検出することによって得られる再生信号を用いて、情報記録媒体の欠陥領域を検出する欠陥検出方法であって、
前記再生信号に対するピークホールドによってピークホールド信号を生成し、
前記ピークホールド信号に対するボトムホールドによって、前記ピークホールド信号の減衰速度より減衰速度が小さいボトムホールド信号を生成し、
前記ボトムホールド信号を用いた閾値判定によって前記欠陥領域を検出する欠陥検出方法。
A defect detection method for detecting a defect area of an information recording medium using a reproduction signal obtained by detecting reflected light from the information recording medium,
A peak hold signal is generated by a peak hold on the reproduction signal,
A bottom hold signal with a lower decay rate than the decay rate of the peak hold signal is generated by bottom hold with respect to the peak hold signal,
A defect detection method for detecting the defect area by threshold determination using the bottom hold signal.
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