JP4536096B2

JP4536096B2 - Antenna device

Info

Publication number: JP4536096B2
Application number: JP2007231567A
Authority: JP
Inventors: 幸洋本間
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2007-09-06
Filing date: 2007-09-06
Publication date: 2010-09-01
Anticipated expiration: 2027-09-06
Also published as: JP2009065453A

Description

この発明は、天体観測や通信の分野において精密な反射面精度や指向精度、追尾精度が必要とされるアンテナ装置の変位や変形を測定して、これらを補正することのできるアンテナ装置に関するものである。 The present invention relates to an antenna device that can measure and correct displacement and deformation of an antenna device that requires precise reflection surface accuracy, pointing accuracy, and tracking accuracy in the field of astronomical observation and communication. is there.

例えば電波天文学の分野では、近年になってミリ波からサブミリ波へとより高い周波数の電波の観測の要求が高まっている。高い周波数の電波天体の観測を行う場合、望遠鏡のビームの指向や、焦点位置は、より高い精度が必要となる。一方、観測効率を上げるために、望遠鏡はより大口径化が進み、また、昼夜のあらゆる天候で観測を実施できることが望まれている。口径が大きくなると望遠鏡の自重変形が大きくなり、また、日中の風の強いときは日射による熱変形や風圧による望遠鏡構造物の変形が大きくなるため、高い指向精度や焦点位置精度を保つことが難しくなる。このような高い指向精度と焦点位置精度の要求と、大口径化、２４時間全天候型の望遠鏡を両立させて実現するためには、望遠鏡の副反射鏡の位置や平行変位と回転変位、主反射鏡の変形による焦点位置のずれをリアルタイムに測定し、補正するシステムが必要となる。 For example, in the field of radio astronomy, in recent years, there has been an increasing demand for observation of radio waves with higher frequencies from millimeter waves to submillimeter waves. When observing high-frequency radio celestial bodies, higher accuracy is required for the beam direction and focal position of the telescope beam. On the other hand, in order to increase the observation efficiency, the diameter of the telescope has been increased, and it is desired that the observation can be performed in all weathers day and night. As the aperture increases, the deformation of the telescope increases, and when the wind is strong during the day, thermal deformation due to solar radiation and deformation of the telescope structure due to wind pressure increase. It becomes difficult. In order to achieve both the requirements for high directivity and focus position accuracy, large aperture, and 24-hour all-weather telescope, the position of the sub-reflector of the telescope, parallel displacement and rotational displacement, main reflection A system for measuring and correcting the deviation of the focal position due to the deformation of the mirror in real time is required.

主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持する副反射鏡支持部、および主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、主反射鏡、主反射鏡支持部および副反射鏡支持部に光ファイバーを敷設し、この光ファイバーに入射光を入射し、光ファイバーの各部で発生する散乱光を検出して主反射鏡、主反射鏡支持部および副反射鏡支持部に発生する歪みを測定し、この歪みから補正データを算出して、ＥＬ軸駆動部およびＡＺ軸駆動部や副反射鏡駆動部を駆動して指向誤差を補正し、アンテナの指向方向を補正するようにしたものが提案されている。（特許文献１参照） ANTENNA APPARATUS HAVING A MAIN REFLECTOR, A MAIN REFLECTOR SUPPORTING UNIT SUPPORTING THE MAIN REFLECTING Mirror, A SUB-REFLECTING Mirror, A SUB-REFLECTING Mirror SUPPORTING SUPPORT FOR SUPPORTING THE SUB-REFLING Mirror, AND AN ANTENNA MOUNT SUPPORTING THE MAIN REFLECTING Mirror , An optical fiber is laid on the main reflector, main reflector support part and sub-reflector support part, incident light is incident on this optical fiber, and scattered light generated at each part of the optical fiber is detected to detect the main reflector and main reflector. Measure the distortion generated in the mirror support part and sub-reflecting mirror support part, calculate correction data from this distortion, and drive the EL axis driving part, AZ axis driving part and sub-reflecting mirror driving part to correct the pointing error However, an antenna that corrects the direction of the antenna has been proposed. (See Patent Document 1)

特開２００４−７４３７号公報JP 2004-7437 A

従来のアンテナ装置は以上のように構成されているので、光ファイバーを主反射鏡や副反射鏡支持部などに望遠鏡建設時に敷設し、数ヶ所で固定・設置しなければならない。これらの設置作業は非常に困難で労力が必要になる。また、望遠鏡の組立が終了した後に、何らかの原因により光ファイバーが切断されるなどの故障が発生した場合、例えば副反射鏡支持部の中など建設後にアクセスしにくい場所には再設置が非常に困難である。
また光ファイバーは伸縮の一次元の変位しか測定できず、例えば副反射鏡周りなどで３次元的な変位を計ろうとすると、光ファイバーをいろいろな方向に張り巡らせ、光ファイバーの出力から副反射鏡の変位を推定するモデルを作って演算しなければならず、このような変位測定は誤差が乗りやすい。 Since the conventional antenna apparatus is configured as described above, the optical fiber must be laid on the main reflector and the sub-reflector support part at the time of construction of the telescope, and fixed and installed at several places. These installation operations are very difficult and require labor. In addition, if the optical fiber is cut for some reason after the assembly of the telescope is completed, it is very difficult to re-install it in places that are difficult to access after construction, such as in the sub-reflector support part. is there.
The optical fiber can only measure one-dimensional displacement of the expansion and contraction. For example, when trying to measure a three-dimensional displacement around the sub-reflector, the optical fiber is stretched in various directions and the sub-reflector is displaced from the output of the optical fiber. A model to be estimated must be created and calculated, and such displacement measurements are subject to errors.

この発明は、このような敷設の困難さや、メンテナンス性の問題を解決し、主反射鏡や副反射鏡鏡の変位による指向誤差を高精度に測定し、補正することのできるアンテナ装置を得ることを目的とする。 The present invention solves such difficulty in installation and maintainability, and obtains an antenna device capable of measuring and correcting a pointing error due to displacement of a main reflecting mirror and a sub reflecting mirror with high accuracy. With the goal.

この発明は、主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持すると共に主反射鏡又は主反射鏡支持部に取り付けられる副反射鏡支持部、および主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間および副反射鏡の周囲に設けられたリファレンスフレームと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の副反射鏡側または副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサと、副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサの出力値から副反射鏡の位置を計算し、副反射鏡の変形前後の位置の差分から副反射鏡位置補正値を計算する計測演算部と、計測演算部で計算された副反射鏡補正値を元に副反射鏡の位置を補正する副反射鏡駆動部とを備えたものである。 The present invention relates to a main reflecting mirror, a main reflecting mirror support section that supports the main reflecting mirror, a sub reflecting mirror, a sub reflecting mirror support section that supports the sub reflecting mirror and is attached to the main reflecting mirror or the main reflecting mirror support section. And an antenna device having an antenna mount for supporting the main reflector support, and a reference frame provided in the internal space of the main reflector support section and the sub reflector support section and around the sub reflector, and a reference frame A sub-reflector support unit displacement sensor that measures the displacement of the base reflector side of the sub-reflector support unit installed, and a displacement of the sub-reflector side or sub-reflector side of the sub-reflector support unit installed on the reference frame Sub-reflector displacement sensor to measure the position of the sub-reflector from the output values of the sub-reflector support sensor and the sub-reflector displacement sensor A measurement calculation unit for calculating a position correction value is obtained by a secondary reflecting mirror driving unit for correcting the position of the sub-reflecting mirror based on the sub-reflecting mirror correction value calculated by the measurement calculation unit.

またこの発明は、主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持すると共に主反射鏡又は主反射鏡支持部に取り付けられる副反射鏡支持部、および主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間および副反射鏡の周囲に設けられたリファレンスフレームと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の副反射鏡側または副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサと、副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサの出力値から副反射鏡の位置を計算し、副反射鏡の変形前後の位置の差分から指向補正値を計算する計測演算部と、計測演算部で計算された指向補正値を元にＡＺ軸の指向を補正するＡＺ軸駆動機構と、計測演算部で計算された指向補正値を元にＥＬ軸の指向を補正するＥＬ軸駆動機構とを備えたものである。 The present invention also provides a main reflecting mirror, a main reflecting mirror support portion that supports the main reflecting mirror, a sub reflecting mirror, a sub reflecting mirror support that supports the sub reflecting mirror and is attached to the main reflecting mirror or the main reflecting mirror support portion. And an antenna device having an antenna mount for supporting the main reflector support section, a reference frame provided in the internal space of the main reflector support section and the sub reflector support section and around the sub reflector, and a reference frame A sub-reflector support part displacement sensor for measuring the displacement of the base reflector side base of the sub-reflector support part, and a sub-reflector side or sub-reflector side of the sub-reflector support part installed in the reference frame. The position of the sub-reflector is calculated from the output values of the sub-reflector displacement sensor for measuring the displacement, the sub-reflector support displacement sensor, and the sub-reflector displacement sensor. EL based on the measurement calculation unit that calculates the correction value, the AZ axis drive mechanism that corrects the AZ axis direction based on the directional correction value calculated by the measurement calculation unit, and the directional correction value calculated by the measurement calculation unit And an EL axis drive mechanism that corrects the orientation of the axis.

この発明によれば、安定した構造体であるリファレンスフレームの上に副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサを設置し、各センサの変位から副反射鏡または主反射鏡の位置を補正するようにした為、センサの設置の容易性やメンテナンス性が大幅に向上し、且つ指向精度の高いアンテナ装置を得ることができる。また、センサは３次元の位置センサを用いることができるため、副反射鏡の変位をより高精度に測定することができる。 According to this invention, the sub-reflector support part displacement sensor and the sub-reflector displacement sensor are installed on the reference frame which is a stable structure, and the position of the sub-reflector or the main reflector is corrected from the displacement of each sensor. Therefore, it is possible to greatly improve the ease of installation and maintainability of the sensor and to obtain an antenna device with high pointing accuracy. Further, since the sensor can be a three-dimensional position sensor, the displacement of the sub-reflecting mirror can be measured with higher accuracy.

実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態１におけるアンテナ装置を図に基づいて説明する。図１はこの発明の実施の形態１におけるアンテナ装置のシステム構成図、図２は主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間に設けられたリファレンスフレームの詳細図、図３は副反射鏡支持部の内部空間と副反射鏡周囲に設けられたリファレンスフレームの詳細図、図４はこの発明の実施の形態１において使用される計測演算部の具体的構成図である。
図１において、主反射鏡１はパラボラ状に構成され、主反射鏡支持部２により支持されている。副反射鏡３は主反射鏡１で反射した電波を更に収束するためのもので、主反射鏡１の焦点位置に配置され、複数本の副反射鏡支持部４により支持されている。副反射鏡３は副反射鏡駆動機構５により駆動され、その向き・位置が変えられるようになっている。なお副反射鏡支持部４の下側は主反射鏡１あるいは主反射鏡支持部２に取り付け固定されている。副反射鏡駆動機構５は副反射鏡支持部４の上部により支持されている。 Embodiment 1 FIG.
Hereinafter, an antenna device according to Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a system configuration diagram of an antenna device according to Embodiment 1 of the present invention, FIG. 2 is a detailed view of a reference frame provided in the internal space of a main reflector support portion and a sub reflector support portion, and FIG. 4 is a detailed diagram of the reference frame provided in the inner space of the mirror support section and around the sub-reflecting mirror, and FIG. 4 is a specific configuration diagram of the measurement calculation section used in Embodiment 1 of the present invention.
In FIG. 1, the main reflecting mirror 1 is configured in a parabolic shape and is supported by a main reflecting mirror support 2. The sub-reflecting mirror 3 is for further converging the radio wave reflected by the main reflecting mirror 1, is arranged at the focal position of the main reflecting mirror 1, and is supported by a plurality of sub-reflecting mirror support portions 4. The sub-reflecting mirror 3 is driven by a sub-reflecting mirror driving mechanism 5 so that its direction and position can be changed. The lower side of the sub-reflecting mirror support 4 is fixedly attached to the main reflecting mirror 1 or the main reflecting mirror support 2. The sub reflector driving mechanism 5 is supported by the upper part of the sub reflector support part 4.

主反射鏡支持部２は中央支持部６に固定され、中央支持部６はこの主反射鏡支持部２を介して主反射鏡１および副反射鏡３などを支持している。中央支持部６はＥＬ回転構造物７に設けられたＥＬ軸駆動機構８により、アンテナのＥＬ軸周りに回転駆動され、主反射鏡１がＥＬ角（仰角）方向に任意に駆動されるようになっている。ＥＬ回転構造物７はＡＺ回転構造物９に設けられたＡＺ軸駆動機構１０により、アンテナのＡＺ軸周りに回転駆動され、主反射鏡１がＡＺ角（方位角）方向に任意に駆動されるようになっている。中央支持部６とＥＬ回転構造物７とＡＺ回転構造物９によりアンテナマウント部が構成される。 The main reflector support part 2 is fixed to the center support part 6, and the center support part 6 supports the main reflector 1 and the sub-reflector mirror 3 through the main reflector support part 2. The central support 6 is driven to rotate around the EL axis of the antenna by an EL axis driving mechanism 8 provided on the EL rotating structure 7 so that the main reflecting mirror 1 is arbitrarily driven in the EL angle (elevation angle) direction. It has become. The EL rotating structure 7 is rotationally driven around the AZ axis of the antenna by an AZ axis driving mechanism 10 provided in the AZ rotating structure 9, and the main reflecting mirror 1 is arbitrarily driven in the AZ angle (azimuth angle) direction. It is like that. An antenna mount portion is configured by the central support portion 6, the EL rotating structure 7, and the AZ rotating structure 9.

主反射鏡支持部２の内部空間と複数の副反射鏡支持部４の各内部空間には、主反射鏡１および副反射鏡３の変位を検出するための基準フレームとなる主鏡部リファレンスフレーム１１ａおよび副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂが設けられている。また副反射鏡３の周囲には副反射鏡支持部４の副反射鏡側または副反射鏡３の変位を検出するための基準フレームとなる副鏡部リファレンスフレーム１１ｃが設けられている。主反射鏡支持部２の内部に配置された主鏡部リファレンスフレーム１１ａには少なくとも３個の副反射鏡支持部変位センサ１２が設置され、副反射鏡支持部４の主反射鏡側根元の変位を測定するようになっている。副反射鏡４の周囲に配置された副鏡部リファレンスフレーム１１ｃには少なくとも３個の副反射鏡変位センサ１３が設置され、副反射鏡支持部４の副反射鏡側または副反射鏡３の変位を測定するようになっている。 A main mirror reference frame serving as a reference frame for detecting displacement of the main reflecting mirror 1 and the sub reflecting mirror 3 is provided in the internal space of the main reflecting mirror support 2 and each of the internal spaces of the plurality of sub reflecting mirror supports 4. 11a and a sub-mirror stay section reference frame 11b are provided. A sub-mirror reference frame 11c serving as a reference frame for detecting the displacement of the sub-reflecting mirror 3 or the sub-reflecting mirror 3 is provided around the sub-reflecting mirror 3. At least three sub-reflector support part displacement sensors 12 are installed in the main mirror reference frame 11a disposed inside the main reflector support part 2, and the main reflector side base displacement of the sub-reflector support part 4 is displaced. Is supposed to measure. At least three sub-reflector displacement sensors 13 are installed on the sub-mirror reference frame 11c arranged around the sub-reflector 4, and the sub-reflector side of the sub-reflector support 4 or the displacement of the sub-reflector 3 is displaced. Is supposed to measure.

なお主反射鏡１、主反射鏡支持部２、副反射鏡３および副反射鏡支持部４の変形・変位がリファレンスフレーム１１に伝わらないようにするため、主鏡部リファレンスフレーム１１ａは主反射鏡１および主反射鏡支持部２に直接接触しないように、主反射鏡支持部２の内部空間に支持されている。同様に、副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂは各副反射鏡支持部４に直接接触しないように、副反射鏡支持部４の内部空間に支持されている。また副鏡部リファレンスフレーム１１ｃは副反射鏡３および副反射鏡駆動部５に直接接触しないように、により支持されている。 In order to prevent the deformation / displacement of the main reflector 1, the main reflector support 2, the sub reflector 3, and the sub reflector 4 from being transmitted to the reference frame 11, the main mirror reference frame 11a is the main reflector. 1 and the main reflector support part 2 are supported in the internal space of the main reflector support part 2 so as not to contact directly. Similarly, the sub mirror stay part reference frame 11 b is supported in the internal space of the sub reflector support part 4 so as not to be in direct contact with each sub reflector support part 4. The sub mirror reference frame 11c is supported by the sub mirror 3 and the sub reflector driving unit 5 so as not to directly contact the sub mirror 3 and the sub mirror driving unit 5.

上記したリファレンスフレーム１１ａ、１１ｂ、１１ｃと変位センサ１２、１３の関係は図２および図３に詳細に示す。これら図２および図３から明らかなように、主鏡部リファレンスフレーム１１ａは中央支持部６に剛に接続されて支持されている。副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂは主鏡部リファレンスフレーム１１ａに剛に接続されている。なお副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂは図２には１個しか図示していないが、各副反射鏡支持部４の内部空間にそれぞれ設けられ、少なくとも３個は有している。副鏡部リファレンスフレーム１１ｃは副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂに剛に接続されている。したがって中央支持部６はリファレンスフレーム１１ａ〜１１ｃ及び主反射鏡支持部２を支えるに十分剛性の高い構造物となっている。
副反射鏡支持部変位センサ１２は主鏡部リファレンスフレーム１１ａに剛に接続され、副反射鏡支持部４の主反射鏡側根元の変位を測定するようになっている。副反射鏡変位センサ１３は副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに剛に接続され、副反射鏡支持部４の副反射鏡側または副反射鏡３の変位を測定するようになっている。そして１つの副反射鏡支持部変位センサ１２と１つの副反射鏡変位センサ１３とで一対のセンサを構成し、少なくとも３対以上のセンサが設けられるようになっている。 The relationship between the reference frames 11a, 11b, 11c and the displacement sensors 12, 13 is shown in detail in FIGS. As is clear from FIGS. 2 and 3, the main mirror reference frame 11 a is rigidly connected to and supported by the central support 6. The secondary mirror stay unit reference frame 11b is rigidly connected to the primary mirror unit reference frame 11a. Although only one sub mirror stay section reference frame 11b is shown in FIG. 2, it is provided in the internal space of each sub reflector support section 4, and has at least three. The secondary mirror reference frame 11c is rigidly connected to the secondary mirror stay reference frame 11b. Therefore, the center support portion 6 is a structure that is sufficiently rigid to support the reference frames 11 a to 11 c and the main reflector support portion 2.
The sub-reflector support part displacement sensor 12 is rigidly connected to the main mirror part reference frame 11a, and measures the displacement of the sub-reflector support part 4 at the base of the main reflector side. The sub-reflector displacement sensor 13 is rigidly connected to the sub-mirror reference frame 11c and measures the displacement of the sub-reflector side of the sub-reflector support 4 or the sub-reflector 3. One sub-reflecting mirror support part displacement sensor 12 and one sub-reflecting mirror displacement sensor 13 constitute a pair of sensors, and at least three or more pairs of sensors are provided.

なお、変位測定の基準となるリファレンスフレーム１１ａ、１１ｂ、１１ｃは、主反射鏡支持部２や副反射鏡支持部４と比較して、一桁以上剛性が大きく、線膨張係数が小さくなくてはならないが、線膨張係数の小さな炭素繊維強化樹脂（Carbon Fiber Rein-forced Plastics＝ＣＦＲＰ）などの複合材料や、スーパーインバーなどの超低膨張率特殊合金を用いることにより、低熱膨張で高剛性なフレームを製作することができる。 Note that the reference frames 11a, 11b, and 11c serving as the reference for displacement measurement must have a rigidity that is one digit greater than that of the main reflector support section 2 and the sub-reflector support section 4 and have a small coefficient of linear expansion. Although it does not become necessary, it uses a composite material such as carbon fiber reinforced resin (CFRP) with a small linear expansion coefficient or a super low expansion coefficient special alloy such as Super Invar to achieve a frame with low thermal expansion and high rigidity. Can be produced.

計測演算部１４は、副反射鏡支持部変位センサ１２と副反射鏡変位センサ１３から出力される変位データ１５を入力して、副反射鏡３の位置を計算し、副反射鏡３の変形前後の位置の差分から副反射鏡位置補正値１６を計算したり、ＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７を計算したりするものである。この計測演算部１４で計算された副反射鏡位置補正値１６は副反射鏡駆動部５に入力され、副反射鏡３の位置を補正する。また計測演算部１４で計算されたＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７はＡＺ駆動機構１０及びＥＬ駆動機構８へ入力され、主反射鏡１の指向誤差を補正する。 The measurement calculation unit 14 receives the displacement data 15 output from the sub-reflecting mirror support unit displacement sensor 12 and the sub-reflecting mirror displacement sensor 13, calculates the position of the sub-reflecting mirror 3, and before and after the deformation of the sub-reflecting mirror 3. The sub-reflector position correction value 16 is calculated from the difference between the positions, and the AZ / EL drive correction value 17 is calculated. The sub-reflecting mirror position correction value 16 calculated by the measurement calculation unit 14 is input to the sub-reflecting mirror driving unit 5 to correct the position of the sub-reflecting mirror 3. The AZ / EL drive correction value 17 calculated by the measurement calculation unit 14 is input to the AZ drive mechanism 10 and the EL drive mechanism 8 to correct the pointing error of the main reflecting mirror 1.

以下、図４に基づいて計測演算部１４の具体的構成図について説明する。図４において、計測演算部１４には、副反射鏡支持部変位センサ１２から出力される変位データ１５ａと副反射鏡変位センサ１３から出力される変位データ１５ｂが入力される。計測演算部１４の出力側は、図１に示す副反射鏡駆動部５、ＥＬ駆動機構８およびＡＺ駆動機構１０が接続される。図４において、複数の副反射鏡支持部変位センサ１２と複数の副反射鏡変位センサ１３から出力される変位データ１５ａ、１５ｂは指向誤差演算部３１に入力され、望遠鏡の指向誤差３２が算出される。第一の副鏡補正演算部（指向誤差）３３は、指向誤差演算部３１で演算された指向誤差３２が入力され、指向誤差を補正するための副鏡位置補正値（指向誤差）３４を演算する。第二の副鏡補正演算部（姿勢変形）３５は、天体方向などの主鏡駆動指令値１８が入力され、望遠鏡の姿勢に依存した自重変形による誤差である副鏡位置補正値（姿勢変形）３６を算出する。副鏡駆動演算部３７は、副鏡位置補正値（指向誤差）３４と副鏡位置補正値（姿勢変形）３６が入力され、副反射鏡位置補正値１６を演算する。こうして副反射鏡３の変形前後の位置の差分により計測演算部１４で計算された副反射鏡位置補正値１６は副反射鏡駆動機構５に入力され、副反射鏡３の位置を補正して、指向誤差や自重変形による誤差が補正される。 Hereinafter, a specific configuration diagram of the measurement calculation unit 14 will be described with reference to FIG. In FIG. 4, displacement data 15 a output from the sub-reflecting mirror support unit displacement sensor 12 and displacement data 15 b output from the sub-reflecting mirror displacement sensor 13 are input to the measurement calculation unit 14. The sub-reflecting mirror driving unit 5, the EL driving mechanism 8, and the AZ driving mechanism 10 shown in FIG. 1 are connected to the output side of the measurement calculation unit 14. In FIG. 4, displacement data 15a and 15b output from the plurality of sub-reflecting mirror support unit displacement sensors 12 and the plurality of sub-reflecting mirror displacement sensors 13 are input to a pointing error calculation unit 31, and a pointing error 32 of the telescope is calculated. The The first secondary mirror correction calculation unit (directing error) 33 receives the directing error 32 calculated by the directing error calculation unit 31 and calculates a secondary mirror position correction value (directing error) 34 for correcting the directing error. To do. The second secondary mirror correction calculation unit (posture deformation) 35 receives the primary mirror drive command value 18 such as the celestial direction, and receives the secondary mirror position correction value (posture deformation) that is an error due to its own weight deformation depending on the telescope posture. 36 is calculated. The secondary mirror drive calculation unit 37 receives the secondary mirror position correction value (directivity error) 34 and the secondary mirror position correction value (posture deformation) 36 and calculates the secondary mirror position correction value 16. Thus, the sub-reflector position correction value 16 calculated by the measurement calculation unit 14 based on the difference between the positions before and after the deformation of the sub-reflector 3 is input to the sub-reflector drive mechanism 5, and the position of the sub-reflector 3 is corrected. Errors due to pointing errors and dead weight deformation are corrected.

主鏡補正演算部３８は、指向誤差演算部３１で演算された指向誤差３２が入力され、指向誤差によるアンテナの指向補正値である主鏡位置補正値３９を算出する。主鏡補正演算部３８は、ＡＺ補正演算部３８ａとＥＬ補正演算部３８ｂとを有する。主鏡駆動演算部４０は、主鏡補正演算部３８で演算された主鏡位置補正値３９と主鏡駆動指令値１８が入力され、ＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７が算出される。ＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７のうち、ＥＬ駆動補正値１７ａはＥＬ軸駆動機構８に、ＡＺ駆動補正値１７ｂはＡＺ軸駆動機構１０にそれぞれ入力され、アンテナは指向誤差が補正された所望の方向に駆動される。 The primary mirror correction calculation unit 38 receives the directivity error 32 calculated by the directivity error calculation unit 31, and calculates a primary mirror position correction value 39 that is an antenna directivity correction value based on the directivity error. The primary mirror correction calculation unit 38 includes an AZ correction calculation unit 38a and an EL correction calculation unit 38b. The primary mirror drive calculation unit 40 receives the primary mirror position correction value 39 and the primary mirror drive command value 18 calculated by the primary mirror correction calculation unit 38 and calculates the AZ / EL drive correction value 17. Among the AZ / EL drive correction values 17, the EL drive correction value 17a is input to the EL axis drive mechanism 8, the AZ drive correction value 17b is input to the AZ axis drive mechanism 10, and the antenna has a desired direction in which the pointing error is corrected. Driven by.

次にこの発明の実施の形態１における動作を図５に基づき説明する。図５において、主鏡部リファレンスフレーム１１ａに取付けられた副反射鏡支持部変位センサ１２は、主鏡部リファレンスフレーム１１ａに対する副反射鏡支持部４の下部（主反射鏡側）の３次元の位置Ｐ（ｐｘ，ｐｙ，ｐｚ）を測定する。なおこの位置Ｐは主反射鏡１を代表する点と考え、副反射鏡部支持部４の数だけ設置する。同様に副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに取付けられた副反射鏡変位センサ１３は、副反射鏡３の裏面外周部などの副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに対する副反射鏡３の変位Ｑ（ｑｘ、ｑｙ、ｑｚ）を測定する。こうして変形前のＰ点とＱ点の基準空間における座標を副反射鏡支持部変位センサ１２と副反射鏡変位センサ１３で測定する。これらの測定値から、位置Ｐ（主反射鏡）を基準とした副反射鏡部３の位置Ｒは、
Ｒ＝Ｑ - Ｐ・・・（１）
と求まる。 Next, the operation in Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 5, the sub-reflector support part displacement sensor 12 attached to the main mirror part reference frame 11a has a three-dimensional position below the main reflector part reference frame 11a (on the main reflector side). P (px, py, pz) is measured. Note that this position P is considered to be a point representing the main reflecting mirror 1, and is installed as many as the number of sub-reflecting mirror support portions 4. Similarly, the sub-reflector displacement sensor 13 attached to the sub-mirror reference frame 11c is provided with a displacement Q (qx, qy, qz) of the sub-reflector 3 relative to the sub-mirror reference frame 11c such as the outer peripheral portion of the back surface of the sub-reflector 3. ). Thus, the coordinates of the reference point P and the point Q in the reference space before the deformation are measured by the sub-reflecting mirror support part displacement sensor 12 and the sub-reflecting mirror displacement sensor 13. From these measured values, the position R of the sub-reflecting mirror unit 3 with reference to the position P (main reflecting mirror) is
R = Q-P (1)
It is obtained.

副反射鏡支持部４の日射などの熱変形や自重変形、風圧などによる変形が発生する前の副反射鏡位置をＲ0、変形が発生した後の副反射鏡位置をＲ’とすると、変形後の副反射鏡位置補正値ΔＲは、
ΔＲ＝Ｒ’−Ｒ0 ・・・（２）
と求まる。この副反射鏡位置補正値ΔＲが補正すべき副反射鏡３の変位量で、その演算は、各変位センサ１２、１３の変位データ１５ａ、１５ｂから図４に示す計測演算部１４の指向誤差演算部３１、第一の副鏡補正演算部（指向誤差）３３、第二の副鏡補正演算部（姿勢変形）３５および副鏡駆動演算部３７で演算して求めることができる。 When the sub-reflector position before the deformation of the sub-reflector support part 4 due to thermal deformation such as solar radiation, self-weight deformation, or wind pressure is R0, and the sub-reflector position after the deformation is R ', The sub-reflector position correction value ΔR of
ΔR = R′−R0 (2)
It is obtained. The sub-reflector position correction value ΔR is a displacement amount of the sub-reflector 3 to be corrected, and the calculation is performed by calculating the pointing error of the measurement calculator 14 shown in FIG. 4 from the displacement data 15a and 15b of the displacement sensors 12 and 13. It can be calculated by the unit 31, the first secondary mirror correction calculation unit (directivity error) 33, the second secondary mirror correction calculation unit (posture deformation) 35 and the secondary mirror drive calculation unit 37.

以上は１つの副反射鏡支持部変位センサ１２と１つの副反射鏡変位センサ１３とで構成される一対のセンサで測定する場合の基本的な考え方について説明したが、実際は副反射鏡支持部変位センサ１２と副反射鏡変位センサ１３の対を数対設けて測定する。この場合の動作について説明する。
例えば、副反射鏡支持部４の数が３個の場合は、センサは３対となる。センサが３対あった場合、主鏡部リファレンスフレーム１１ａに対する副反射鏡支持部４の下部（主反射鏡側）の位置Ｐは、各副反射鏡支持部センサ１２毎にＰ１、Ｐ２、Ｐ３とする。副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに対する副反射鏡３の変位Ｑは、各副反射鏡変位センサ１３毎にＱ１、Ｑ２、Ｑ３とする。副反射鏡バーテックス位置の変位Ｒは、
Ｒ(x,y,z)＝（Σ(qxi-pxi)／３，Σ(qyi-pyi)／３，Σ(qzi-pzi)／３）・・・（３）
但し（ｉ＝１，２，３）
と求まる。
ここで、Ｑ＝（ｑｘ、ｑｙ、ｑｚ）
Ｐ＝（ｐｘ、ｐｙ、ｐｚ）である。
また、ΔＲは
ΔＲ(△x,△y,△z) ＝（Σ(r’xi-r0xi)/3，Σ(r’yi-r0yi)/3，Σ(r’zi-r0zi)/3）・・（４）
と求まる。
ここで、Ｒ’＝（ｒ’ｘ、ｒ’ｙ、ｒ’ｚ）
Ｒ0 ＝（ｒ0ｘ、ｒ0ｙ、ｒ0ｚ）である。
このようにして計算された副反射鏡位置補正値ΔＲは、副反射鏡駆動機構５へ入力され、副反射鏡３の位置は補正され、指向誤差や焦点位置誤差はリアルタイムに補正される。 The basic concept in the case of measuring with a pair of sensors composed of one sub-reflecting mirror support portion displacement sensor 12 and one sub-reflecting mirror displacement sensor 13 has been described above. Several pairs of sensors 12 and sub-reflecting mirror displacement sensors 13 are provided for measurement. The operation in this case will be described.
For example, when the number of sub-reflecting mirror support parts 4 is 3, there are three pairs of sensors. When there are three pairs of sensors, the position P of the lower part of the secondary reflector support part 4 (on the primary reflector side) with respect to the primary mirror part reference frame 11a is P1, P2, P3 for each secondary reflector support part sensor 12. To do. The displacement Q of the sub-reflecting mirror 3 with respect to the sub-mirror reference frame 11c is Q1, Q2, and Q3 for each sub-reflecting mirror displacement sensor 13. The displacement R of the sub-reflector vertex position is
R (x, y, z) = (Σ (qxi-pxi) / 3, Σ (qyi-pyi) / 3, Σ (qzi-pzi) / 3) (3)
However (i = 1, 2, 3)
It is obtained.
Where Q = (qx, qy, qz)
P = (px, py, pz).
ΔR is ΔR (Δx, Δy, Δz) = (Σ (r'xi-r0xi) / 3, Σ (r'yi-r0yi) / 3, Σ (r'zi-r0zi) / 3) (4)
It is obtained.
Where R ′ = (r′x, r′y, r′z)
R0 = (r0x, r0y, r0z).
The sub-reflector position correction value ΔR calculated in this way is input to the sub-reflector drive mechanism 5, the position of the sub-reflector 3 is corrected, and the pointing error and the focus position error are corrected in real time.

以上のように、この発明は、主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間および副反射鏡周囲にリファレンスフレーム１１を設け、このリファレンスフレームに副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサ１２と、副反射鏡支持部の副反射鏡側または副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサ１３を設置するようにしたから、小型のセンサを数ケ所に設置するだけでよく、また敷設後にもアクセスしやすい場所にセンサを配置することが出来るのでメンテナンス性が大幅に向上する。更に、設置するセンサによっては３次元の情報が１つのセンサで精度良く計れ、指向精度の高いアンテナ装置を得ることができる。
なお以上は副反射鏡支持部４の数が３個の場合について説明したが、４個あるいはそれ以上の場合も同様である。 As described above, according to the present invention, the reference frame 11 is provided in the internal space of the main reflector support portion and the sub reflector support portion and the periphery of the sub reflector, and the main reflector side base of the sub reflector support portion is provided in the reference frame. Since the sub-reflector support part displacement sensor 12 for measuring the displacement of the sub-reflector and the sub-reflector displacement sensor 13 for measuring the sub-reflector side of the sub-reflector support part or the sub-reflector displacement sensor 13 are installed. It is only necessary to install the sensor at several places, and the sensor can be arranged in a place that can be easily accessed even after laying, so that maintainability is greatly improved. Furthermore, depending on the sensor to be installed, three-dimensional information can be accurately measured with one sensor, and an antenna device with high directivity can be obtained.
Although the case where the number of sub-reflecting mirror support parts 4 is three has been described above, the same applies to the case where there are four or more.

実施の形態２．
次に、この発明の実施の形態２におけるアンテナ装置を図に基づいて説明する。この実施の形態２におけるアンテナ装置の図面は実施の形態１におけるアンテナ装置の図１乃至図４と同じにつき、これらの図を援用して説明する。
この発明の実施の形態２は、式２で求まる副反射鏡位置補正値ΔＲによって発生する指向誤差を、副反射鏡駆動機構５による補正の代わりに、アンテナの主反射鏡１の位置・向きを変えるＡＺ駆動機構１０やＥＬ駆動機構８で補正するようにしたものである。以下、この場合の動作について説明する。 Embodiment 2. FIG.
Next, an antenna device according to Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to the drawings. The drawings of the antenna device according to the second embodiment are the same as those of FIGS. 1 to 4 of the antenna device according to the first embodiment, and will be described with reference to these drawings.
In Embodiment 2 of the present invention, instead of correcting the directing error generated by the sub-reflector position correction value ΔR obtained by Equation 2 by the sub-reflector driving mechanism 5, the position / orientation of the main reflector 1 of the antenna is changed. Correction is performed by the AZ drive mechanism 10 or the EL drive mechanism 8 to be changed. The operation in this case will be described below.

副反射鏡３の変位ΔＲによるアンテナの指向誤差Δθは、
Δθ(ΔＡＺ、ΔＥＬ)＝ｆ（ΔＲ、Ｆｍ、Ｍ）・・・（５）
のように、アンテナの合成焦点距離Ｆｍと倍率要素（Magnification Factor）Ｍの関数で表される。
ここでΔＡＺとΔＥＬは、ＡＺおよびＥＬの駆動補正値である。これらの副反射鏡３の変位ΔＲからＡＺ及びＥＬの駆動補正値ΔＡＺ、ΔＥＬへの演算は、図４に示す計測演算部４の主鏡補正演算部３８と主鏡駆動演算部４０において演算される。
即ち、主鏡補正演算部３８におけるＡＺ補正演算部３８ａとＥＬ補正演算部３８ｂで主鏡位置補正値３９を演算し、この主鏡位置補正値３９と主鏡駆動指令値１８が主鏡駆動演算部４０に入力されて、ＡＺ・ＥＬの駆動補正値１７が演算される。 The directivity error Δθ of the antenna due to the displacement ΔR of the sub-reflecting mirror 3 is
Δθ (ΔAZ, ΔEL) = f (ΔR, Fm, M) (5)
As described above, it is expressed by a function of a combined focal length Fm of the antenna and a magnification factor (Magnification Factor) M.
Here, ΔAZ and ΔEL are drive correction values for AZ and EL. The calculation from the displacement ΔR of the sub-reflecting mirror 3 to the AZ and EL drive correction values ΔAZ and ΔEL is calculated by the primary mirror correction calculation unit 38 and the primary mirror drive calculation unit 40 of the measurement calculation unit 4 shown in FIG. The
That is, the AZ correction calculation unit 38a and the EL correction calculation unit 38b in the primary mirror correction calculation unit 38 calculate the primary mirror position correction value 39, and the primary mirror position correction value 39 and the primary mirror drive command value 18 are converted into the primary mirror drive calculation. The AZ / EL drive correction value 17 is input to the unit 40 and calculated.

このようにして計算されたＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７のうち、ＥＬ駆動補正値１７ａはアンテナのＥＬ軸駆動機構８に、ＡＺ駆動補正値１７ｂはアンテナのＡＺ軸駆動機構１０にそれぞれ入力されて、主反射鏡１の位置・向きが補正され、副反射鏡３の位置による指向誤差はリアルタイムに補正される。こうしてアンテナは指向誤差が補正された所望の方向に駆動される。 Of the AZ / EL drive correction values 17 calculated in this way, the EL drive correction value 17a is input to the EL axis drive mechanism 8 of the antenna, and the AZ drive correction value 17b is input to the AZ axis drive mechanism 10 of the antenna. The position / orientation of the main reflecting mirror 1 is corrected, and the pointing error due to the position of the sub-reflecting mirror 3 is corrected in real time. Thus, the antenna is driven in a desired direction in which the pointing error is corrected.

実施の形態３．
この発明の実施の形態３に係わるアンテナ装置は、より高精度に指向誤差を補正するために、副反射鏡支持部変位センサ１２の変位データ１５ａと副反射鏡変位センサ１３の変位データ１５ｂの差分から副反射鏡３の位置を計算し、この副反射鏡３の位置を自重変形や風圧による変形、日射等の温度変化や温度分布による変形が発生する前（基準値）と後（変位値）の２つのケースで計算し、それらの基準値と変位値の差分から、副反射鏡３の平行変位と回転変位を計算し、その値から副反射鏡位置の補正値や指向補正値を演算するものである。 Embodiment 3 FIG.
In the antenna device according to the third embodiment of the present invention, the difference between the displacement data 15a of the sub-reflecting mirror support part displacement sensor 12 and the displacement data 15b of the sub-reflecting mirror displacement sensor 13 is used in order to correct the pointing error with higher accuracy. The position of the sub-reflecting mirror 3 is calculated from the position of the sub-reflecting mirror 3 before (reference value) and after (displacement value) the position of the sub-reflecting mirror 3 is deformed by its own weight, deformation by wind pressure, temperature change such as solar radiation, or deformation by temperature distribution The parallel displacement and the rotational displacement of the sub-reflecting mirror 3 are calculated from the difference between the reference value and the displacement value, and the sub-reflecting mirror position correction value and the directivity correction value are calculated from the calculated values. Is.

副反射鏡３の平行変位と回転変位とは、例えば、図６に示すように、Ｑを副反射鏡３の位置と定義し、主鏡部リファレンスフレーム１１ａの中心を、中心とする座標を設けた場合、平行変位△Ｒは、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向の変位△ｘ、△ｙ、△ｚとすると、式６のようになる。

また回転変位△Ｒθは、各軸周りの回転θｘ、θｙ、θｚとすると、式７のようになる。

For example, as shown in FIG. 6, the parallel displacement and the rotational displacement of the sub-reflecting mirror 3 define Q as the position of the sub-reflecting mirror 3 and provide coordinates with the center of the main mirror reference frame 11 a as the center. In this case, when the parallel displacement ΔR is the displacements Δx, Δy, Δz in the X, Y, and Z directions, Equation 6 is obtained.

Further, the rotational displacement ΔRθ is expressed by Equation 7 when the rotations around the respective axes are θx, θy, and θz.

上記のようにして平行変位△Ｒと回転変位△Ｒθを計算し、これらの値から副反射鏡位置の補正値や指向補正値を演算して、実施の形態１や実施の形態２と同様に、副反射鏡駆動機構５により副反射鏡３の位置を補正したり、ＡＺ駆動機構１０やＥＬ駆動機構８によりアンテナの主反射鏡１の位置・向きを補正するようにして、指向誤差を補正するようにしたものである。 As described above, the parallel displacement ΔR and the rotational displacement ΔRθ are calculated, and the correction value and the directivity correction value of the sub-reflecting mirror position are calculated from these values, and similarly to the first and second embodiments. Correcting the pointing error by correcting the position of the sub-reflecting mirror 3 by the sub-reflecting mirror driving mechanism 5 or correcting the position / orientation of the main reflecting mirror 1 of the antenna by the AZ driving mechanism 10 or EL driving mechanism 8. It is what you do.

この発明の実施の形態１におけるアンテナ装置のシステム構成図である。1 is a system configuration diagram of an antenna device according to Embodiment 1 of the present invention. この発明の実施の形態１における主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間に設けられたリファレンスフレームの詳細図である。It is detail drawing of the reference frame provided in the internal space of the main reflector support part in Embodiment 1 of this invention and a subreflector support part. この発明の実施の形態１における副反射鏡支持部の内部空間と副反射鏡周囲に設けられたリファレンスフレームの詳細図である。It is detail drawing of the reference frame provided in the internal space of a subreflector support part in Embodiment 1 of this invention, and a subreflector periphery. この発明の実施の形態１および実施の形態２において使用される計測演算部の具体的構成図である。It is a specific block diagram of the measurement calculating part used in Embodiment 1 and Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態１における動作を説明するための概念図である。It is a conceptual diagram for demonstrating the operation | movement in Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態３における平行変位及び回転変位を説明する図である。It is a figure explaining the parallel displacement and rotational displacement in Embodiment 3 of this invention.

Explanation of symbols

１主反射鏡、２主反射鏡支持部、
３副反射鏡、４副反射鏡支持部、
５副反射鏡駆動機構、６中央支持部（アンテナマウント部）、
７ＥＬ回転構造物（アンテナマウント部）、８ＥＬ軸駆動機構
９ＡＺ回転構造物（アンテナマウント部）、１０ＡＺ軸駆動機構、
１１ａ主鏡部リファレンスフレーム、１１ｂ副鏡ステイ部リファレンスフレーム、
１１ｃ副鏡部リファレンスフレーム、１２副反射鏡支持部変位センサ、
１３副反射鏡変位センサ、１４計測演算部、
１５変位データ１６副反射鏡位置補正値、
１７ＡＺ・ＥＬ駆動補正値、１８主鏡駆動指令値
３１指向誤差演算部、３２指向誤差、
３３第一の副鏡補正演算部（指向誤差）、３４副鏡位置補正値（指向誤差）、
３５第二の副鏡補正演算部（姿勢変形）、３６副鏡位置補正値（姿勢変形）、
３７副鏡駆動演算部、３８主鏡補正演算部、
３９主鏡位置補正値、４０主鏡駆動演算部、 1 main reflector, 2 main reflector support,
3 sub reflector, 4 sub reflector support,
5 Sub-reflection mirror drive mechanism, 6 Center support part (antenna mount part),
7 EL rotating structure (antenna mounting part), 8 EL axis driving mechanism 9 AZ rotating structure (antenna mounting part), 10 AZ axis driving mechanism,
11a primary mirror reference frame, 11b secondary mirror stay reference frame,
11c Sub mirror part reference frame, 12 Sub reflector support part displacement sensor,
13 sub-reflector displacement sensor, 14 measurement calculation unit,
15 Displacement data 16 Sub-reflector position correction value,
17 AZ / EL drive correction value, 18 Primary mirror drive command value, 31 Direction error calculation unit, 32 Direction error,
33 first secondary mirror correction calculation unit (directing error), 34 secondary mirror position correction value (directing error),
35 second secondary mirror correction calculation unit (posture deformation), 36 secondary mirror position correction value (posture deformation),
37 secondary mirror drive calculation unit, 38 primary mirror correction calculation unit,
39 Primary mirror position correction value, 40 Primary mirror drive calculation unit,

Claims

A main reflector, a main reflector support that supports the main reflector, a sub-reflector, a sub-reflector support that supports the sub-reflector and is attached to the main reflector or the main reflector support; and In the antenna device having the antenna mount portion that supports the main reflector support portion,
A reference frame provided in an inner space of the main reflector support portion and the sub reflector support portion and around the sub reflector,
A sub-reflector support part displacement sensor that is installed in the reference frame and measures the displacement of the base part of the sub-reflector support part on the main reflector side;
A sub-reflector displacement sensor that is installed on the reference frame and measures the displacement of the sub-reflector side of the sub-reflector support or the sub-reflector;
The position of the sub-reflecting mirror is calculated from the output values of the sub-reflecting mirror support part displacement sensor and the sub-reflecting mirror displacement sensor, and the sub-reflecting mirror position correction value is calculated from the difference between the positions before and after the deformation of the sub-reflecting mirror. A measurement calculation unit;
An antenna device comprising: a sub-reflecting mirror driving unit that corrects the position of the sub-reflecting mirror based on the sub-reflecting mirror correction value calculated by the measurement calculation unit.

A main reflector, a main reflector support that supports the main reflector, a sub-reflector, a sub-reflector support that supports the sub-reflector and is attached to the main reflector or the main reflector support; and In the antenna device having the antenna mount portion that supports the main reflector support portion,
A reference frame provided in an inner space of the main reflector support portion and the sub reflector support portion and around the sub reflector,
A sub-reflector support part displacement sensor that is installed in the reference frame and measures the displacement of the base part of the sub-reflector support part on the main reflector side;
A sub-reflector displacement sensor that is installed on the reference frame and measures the displacement of the sub-reflector side of the sub-reflector support or the sub-reflector;
A measurement calculation unit that calculates the position of the sub-reflecting mirror from the output values of the sub-reflecting mirror support part displacement sensor and the sub-reflecting mirror displacement sensor, and calculates the directional correction value from the difference between the positions before and after the deformation of the sub-reflecting mirror When,
An AZ axis drive mechanism that corrects the orientation of the AZ axis based on the orientation correction value calculated by the measurement calculation unit;
An antenna apparatus comprising: an EL axis drive mechanism that corrects the directivity of the EL axis based on the directivity correction value calculated by the measurement calculation unit.

The antenna device according to claim 1, wherein the sub-reflecting mirror support part displacement sensor and the sub-reflecting mirror displacement sensor have at least three pairs, and the measurement calculation unit calculates the sub-reflecting mirror position correction value from the displacement of each sensor. .

The antenna apparatus according to claim 2, wherein at least three pairs of sub-reflecting mirror support unit displacement sensors and sub-reflecting mirror displacement sensors are provided, and the measurement calculation unit calculates a directivity correction value from the displacement of each sensor.

The position of the sub-reflector is calculated from the difference between the output value of the sub-reflector support part displacement sensor and the output value of the sub-reflector displacement sensor, and the position of this sub-reflector is changed by its own weight deformation, deformation due to wind pressure, temperature changes such as solar radiation Calculated in two cases before (reference value) and after (displacement value) the deformation due to the temperature distribution, and calculated the parallel displacement and rotational displacement of the subreflector from the difference between the reference value and the displacement position. The antenna device according to claim 1 or 2, wherein a correction value and a directivity correction value of the sub reflector position are calculated from the values.