JP4487324B2 - Microscope equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は顕微鏡装置に関し、特に紫外光と可視光とを照明光として選択的に使用することができる顕微鏡装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、半導体デバイスの構造は微細化しており、例えば16MダイナミックRAMの場合、線幅が0.5μm程度となっている。
【0003】
このような微細構造の半導体デバイスを検査するためには、分解能の高い顕微鏡装置が要求される。
【0004】
分解能を高めるための手法の1つとしては、短い波長の光源を使用することが有用である。
【0005】
ところで、従来の顕微鏡装置の光源としては、タングステンランプやハロゲンランプ等の可視光源が一般的に知られているが、これらの光源は紫外光をあまり出射せず、特に波長が300nm以下の極紫外光(DUV)になると、観察に必要な光量を確保することができない。
【0006】
紫外光が必要な場合には水銀ランプ等の光源が用いられているが、得られる画像はモノクロ画像だけであり、検査に重要な項目の1つである色の情報を得ることができないので、紫外光による観察が可能な顕微鏡装置においても、可視光による観察をできる顕微鏡装置が要求されている。
【0007】
しかし、紫外光(特に極紫外光)と可視光とを共通の照明系とすることは困難である。そこで、共通の観察系に対して可視光照明系と紫外光照明系とを積層構造とし、観察系光路に配置したダイクロイックミラーによって可視光と紫外光とを分離するようにした顕微鏡装置が本発明者によって案出され、本件出願人によって出願された(特願平9−224323号)。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、特に極紫外光は人体に対して有害であるので、極紫外光の光源を使用する顕微鏡装置には、万が一にも接眼レンズを通して極紫外光が目に入射しない構成が必要である。
【0009】
しかし、ダイクロイックミラーは所定の波長選択特性によって光を分離するものであるので、紫外光と可視光とを完全に分離することは難しい。
【0010】
例えば、レーザ等を紫外光の光源とした場合には、紫外光がダイクロイックミラーを通して可視光観察系に漏れてしまうおそれがある。
【0011】
この発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、その課題は紫外光と可視光との一方を照明光として選択可能であって、可視光選択時に紫外光が可視光観察系に入射するのを確実に防ぐことができる顕微鏡装置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため請求項1記載の発明の顕微鏡装置は、可視光で照明された試料を観察する接眼レンズを含む可視光観察系と、紫外光で照明された試料を観察するための紫外光観察系とを備える顕微鏡装置において、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する照明光選択部材とを備え、前記第2の光学部材及び前記照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光の照明光路に選択的に配置可能であることを特徴とする。
また、請求項2記載の発明の顕微鏡装置は、可視光で試料を照明する可視光照明系と、紫外光で前記試料を照明する紫外光照明系と、前記可視光照明系によって照明された前記試料を観察する接眼レンズを含む可視光観察系と、前記紫外光照明系によって照明された前記試料を観察するための紫外光観察系とを備える顕微鏡装置において、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記可視光の前記紫外光観察系への入射を遮断する第1の照明光選択部材と、照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する第2の照明光選択部材とを備え、前記第1の光学部材及び前記第1の照明光選択部材が、それぞれ前記可視光照明系光路に選択的に配置可能であり、前記第2の光学部材及び前記第2の照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光照明系光路に選択的に配置可能であることを特徴とする。
【0013】
第1の光学部材を可視光照明系光路に配置したとき、第2の照明光選択部材(照明光選択部材)を紫外光照明系光路に配置でき、第2の光学部材を紫外光照明系光路に配置したとき、第1の照明光選択部材を可視光照明系光路に配置することができる。
【0014】
請求項3に記載の発明の顕微鏡装置は、請求項2に記載の顕微鏡装置において、前記第1の光学部材が可視光照明系光路に配置されたとき、前記第2の照明光選択部材が紫外光照明系光路に移動し、前記第2の光学部材が紫外光照明系光路に配置されたとき、前記第1の照明光選択部材が可視光照明系光路に移動することを特徴とする。
【0015】
選択した第1の光学部材に対応した第2の照明光選択部材を選択でき、選択した第2の光学部材に対応した第1の照明光選択部材を選択できる。
【0016】
請求項4に記載の発明の顕微鏡装置は、請求項2に記載の顕微鏡装置において、前記第1の光学部材と前記第2の照明光選択部材とが一体に形成され、前記第2の光学部材と前記第1の照明光選択部材とが一体に形成されていることを特徴とする。
【0017】
第1の光学部材と第2の照明光選択部材とを、第2の光学部材と第1の照明光選択部材とをそれぞれ個別に駆動する必要がなくなり、駆動機構やガイド等を少なくでき、また電動の場合には駆動モータの数を少なくできる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0019】
図1及び図2はこの発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図、図3は紫外光照明系光路中に配置された第2の中空ブロックの斜視図である。
【0020】
なお、図1は照明光として可視光照明系を選択したときの状態を示し、図2は照明光として紫外光照明系を選択したときの状態を示す図である。
【0021】
この顕微鏡装置は、顕微鏡本体10と、鏡筒30と、電動レボルバ40と、ステージ50と、紫外光用ディテクタ60とを備える。
【0022】
顕微鏡本体10は、ベース10Aと、支柱10Bと、アーム10Dとで構成される。
【0023】
アーム10Dの背面側には、ハロゲンランプ22を内蔵するランプハウスが設けられている。また、アーム10Dの上部には、紫外像検出ユニット10Cが載置されている。この紫外像検出ユニット10Cは、顕微鏡本体10に対して着脱可能に構成されている。
【0024】
鏡筒30は紫外像検出ユニット10Cの上部に取り付けられ、接眼レンズ31を有する。
【0025】
紫外光用ディテクタ60は紫外像検出ユニット10Cの上部に取り付けられ、紫外光用CCDを備えている。
【0026】
電動レボルバ40はアーム10Dの下面に取り付けられ、電動レボルバ40には複数の対物レンズ41,42が保持されている。対物レンズ41は可視光用を、対物レンズ42は紫外光用をそれぞれ示す。
【0027】
なお、紫外光用対物レンズは、可視光と紫外光の両方において適正な収差補正をすることが困難なために使用されている。
【0028】
ステージ50はベース10A上に設けられ、対物レンズ41,42の光軸に沿って上下動する。
【0029】
紫外像検出ユニット10C内には水銀ランプ12、UVフィルタ13、紫外光用リレー光学系を構成するリレーレンズ14,15、シャッタ16、ハーフミラー17、及び第2の中空ブロック18が配置されている。
【0030】
シャッタ16はソレノイド16Aによって駆動され、可視光観察を行うとき、紫外光が観察系光路に入射しないように紫外光照明系光路に挿入される。
【0031】
第2の中空ブロック18は全反射ミラー(第2の光学部材)18Aと貫通孔18Cを有する遮光体(第2の照明光選択部材、照明光選択部材)18Bとを備えている(図3参照)。
【0032】
この第2の中空ブロック18は、水銀ランプ12の光路に対して直交する方向(図面を貫通する方向)へ移動できる。
【0033】
したがって、紫外光照明光路に対して全反射ミラー18A及び遮光体18Bのいずれか一方を配置することができる。
【0034】
遮光体18Bを紫外光照明系光路に配置したとき、貫通孔18Cの中心軸は可視光観察系の光路上に位置する。
【0035】
第2の中空ブロック18は、複数のボール18aを転動可能に支持するボールレース機構を介して固定ガイド部19に取り付けられ、固定ガイド部19に対して移動可能である。
【0036】
第2の中空ブロック18の上部にはラック18Dが形成され、このラック18Dはモータ(例えばDCモータ)20の回転軸に固着されたピニオン20Aと噛み合っている。モータ20は固定ガイド部19に固着される。
【0037】
アーム10D内にはハロゲンランプ22、可視光用リレー光学系を構成するリレーレンズ24,25、及び第1の中空ブロック28が配置されている。
【0038】
第1の中空ブロック28はハーフミラー(第1の光学部材)28Aと貫通孔28Cを有する遮光体(第1の照明光選択部材)28Bとを備えている。
【0039】
この第1の中空ブロック28は、ハロゲンランプ22の光路に対して直交する方向(図面を貫通する方向)へ移動できる。
【0040】
したがって、可視光照明系光路に対してハーフミラー28A及び遮光体28Bのいずれか一方を配置することができる。
【0041】
遮光体28Bを可視光照明系光路に配置したとき、貫通孔28Cの中心軸は紫外光観察系の光路上に位置する。
【0042】
第1の中空ブロック28は、複数のボール28aを転動可能に支持するボールレース機構を介して固定ガイド部29に取り付けられ、固定ガイド部29に対して移動可能である。
【0043】
第1の中空ブロック28の上部にはラック(図示せず)が形成され、このラックはモータ(例えばDCモータ)26の回転軸に固着されたピニオン26Aと噛み合っている。モータ26は固定ガイド部29に固着される。
【0044】
紫外像検出ユニット10Cの下面に形成されたありはアーム10Dの上面に形成されたあり溝に係合している。また、紫外像検出ユニット10Cの内部空間とアーム10Dの内部空間とは開口Sを介して連通しており、この開口Sによって第1の中空ブロック28と第2の中空ブロック18との間の光路が形成される。
【0045】
照明光として可視光が選択されたとき、モータ26が作動してハーフミラー28Aが可視光照明系光路に配置されるとともに、モータ20が作動して遮光体18Bが紫外光照明系光路に移動する。このとき、貫通孔18Cが可視光観察系光路に配置される。
【0046】
ハロゲンランプ22から出射された照明光は、ハーフミラー28Aによって反射され、可視光用対物レンズ41を介して試料51上の所定領域に照射される。この照明光学系は試料51に対してケーラー照明を達成するように構成されている。
【0047】
試料51からの反射光はハーフミラー28Aを透過した後、開口S及び貫通孔18Cを通り、鏡筒30内の結像レンズ23により結像され、接眼レンズ31により可視光観察される。
【0048】
このとき、水銀ランプ12からの照明光は第2の照明光選択部材18Bによって遮断されるとともに、シャッタ16によっても遮断されるので、紫外光が試料51や可視光観察系に照射されることはない(図1参照)。
【0049】
また、照明光として紫外光が選択されたとき、モータ20が作動して全反射ミラー18Aが紫外光照明系光路に配置されるとともに、モータ26が作動して遮光体28Bが可視光照明系光路に移動する。このとき、貫通孔28Cが紫外光観察系光路に配置される。
【0050】
水銀ランプ12から出射された照明光は、UVフィルタ13を通過することにより、可視光を含まない紫外光だけの照明光となる。
【0051】
照明光は紫外光用のリレーレンズ14,15を通りハーフミラー17を透過し、全反射ミラー18Aによって開口S、貫通孔28C及び紫外光用対物レンズ42へと偏光され、試料51上の所定領域に照射される。
【0052】
この照明光学系は試料51に対してケーラー照明を達成するように構成されている。
【0053】
試料51からの反射光は貫通孔28C及び開口Sを通り、全反射ミラー18Aで反射され、更にハーフミラー17により紫外光用ディテクタ60に導かれる。
【0054】
ハーフミラー17によって反射された光は紫外光用結像レンズ21により結像され、紫外光用ディテクタ60の紫外光用CCDによって受光される。
【0055】
紫外光用CCDによって受光された紫外光は電気信号に変換され、モニタ(図示せず)によって可視化され、観察される。
【0056】
このとき、ハロゲンランプ22からの照明光は第1の照明光選択部材28Bによって遮断されるので、可視光が試料51や紫外光観察系に照射されることはない(図2参照)。
【0057】
この実施形態によれば、可視光による観察と紫外光による観察とを切り換えて行う場合であっても、紫外光と可視光とを確実に分離することができる。その結果、極紫外光の光源を使用する場合であっても、接眼レンズを通して極紫外光が目に入射するおそれがない。
【0058】
また、紫外光観察の場合でも、可視光が紫外光観察系に入射してフレアやゴーストの原因となるのを防ぐことができる。
【0059】
図4及び図5はこの発明の第2実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、第1実施形態と同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【0060】
なお、図4は照明光として可視光を選択したときの状態を示し、図5は照明光として紫外光を選択したときの状態を示す図である。
【0061】
この実施形態は、ハーフミラー28Aの上部に第2の照明光選択部材(照明光選択部材)18Bが、第1の照明光選択部材28Bの上部に全反射ミラー18Aがそれぞれ一体に形成されるように、第1の中空ブロック28と第2の中空ブロック18とを一体化して2階建て構造のブロック108を形成し、このブロック108をアーム10Dのモータ26だけで駆動するようにした点で第1実施形態と相違する。
【0062】
この実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果を奏する。
【0063】
また、第1の中空ブロック28と第2の中空ブロック18とを個別に駆動する必要がないので、電動の場合でもモータやラック、ガイド等が1つずつでよいので、構成が簡単な、しかも安価な装置とすることができる。
【0064】
なお、上記各実施形態では第1の中空ブロックと第2の中空ブロックとをモータ駆動したが、手動で移動させるようにしてもよい。
【0065】
また、第1の中空ブロック28はハーフミラー28Aと遮光体28Bとを一体に形成しているが、ハーフミラー28Aと遮光体28Bとを別体としてもよい。
【0066】
更に、第2の中空ブロック18は全反射ミラー18Aと遮光体18Bとを一体に形成しているが、全反射ミラー18Aと遮光体18Bとを別体としてもよい。
【0067】
また、上記各実施形態では紫外光照明系を可視光照明系の上部に配置したが、可視光照明系を紫外光照明系の上部に配置するようにしてもよい。このときには、紫外光用ディテクタ60はアーム10Dの側面に取り付けられる。
【0068】
更に、上記各実施形態では紫外光の光源として水銀ランプを使用したが、水銀ランプでは紫外光、特に極紫外光の場合、観察に必要かつ十分な光量を得難いので、水銀ランプの代わりに紫外光又は極紫外光を照射するレーザ光を光源としてもよい。
【0069】
また、紫外像検出ユニット10Cとアーム10Dとは分離可能な構成としたが、可視光と紫外光とが完全に分離されていれば、各ユニットを一体構造としてもよい。
【0070】
【発明の効果】
以上に説明したように請求項1に記載の発明の顕微鏡装置によれば、照明光として可視光を選択したときに紫外光が可視光観察系光路に入射するのを確実に防ぐことができる。
【0071】
請求項2に記載の発明の顕微鏡装置によれば、照明光の切換作業が容易になるとともに、誤操作を防ぐことができる。
【0072】
請求項3に記載の発明の顕微鏡装置によれば、照明光の切換作業が容易になるとともに、誤操作や誤動作を防ぐことができる。また、構成の簡素化を図ることができ、製造コストを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として可視光照明系を選択したときの状態を示す図である。
【図2】図2はこの発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として紫外光照明系を選択したときの状態を示す図である。
【図3】図3は第2の中空ブロックの斜視図である。
【図4】図4はこの発明の第2実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として可視光を選択したときの状態を示す図である。
【図5】図5はこの発明の第2実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として紫外光を選択したときの状態を示す図である。
【符号の説明】
18A 全反射ミラー(第2の光学部材)
18B 遮光体(第2の照明光選択部材、照明光選択部材)
28A ハーフミラー(第1の光学部材)
28B 遮光体(第1の照明光選択部材)
51 試料[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a microscope apparatus, and more particularly to a microscope apparatus that can selectively use ultraviolet light and visible light as illumination light.
[0002]
[Prior art]
In recent years, the structure of semiconductor devices has been miniaturized. For example, in the case of 16M dynamic RAM, the line width is about 0.5 μm.
[0003]
In order to inspect a semiconductor device having such a fine structure, a microscope apparatus with high resolution is required.
[0004]
As one of the techniques for increasing the resolution, it is useful to use a light source having a short wavelength.
[0005]
By the way, visible light sources such as tungsten lamps and halogen lamps are generally known as light sources of conventional microscope apparatuses, but these light sources do not emit much ultraviolet light, and particularly the extreme ultraviolet having a wavelength of 300 nm or less. When light (DUV) is used, the amount of light necessary for observation cannot be secured.
[0006]
When ultraviolet light is required, a light source such as a mercury lamp is used, but the obtained image is only a monochrome image, and color information which is one of the important items for inspection cannot be obtained. Even in a microscope apparatus that can be observed with ultraviolet light, a microscope apparatus that can observe with visible light is required.
[0007]
However, it is difficult to use a common illumination system for ultraviolet light (particularly extreme ultraviolet light) and visible light. Therefore, the present invention is a microscope apparatus in which a visible light illumination system and an ultraviolet light illumination system are stacked on a common observation system, and visible light and ultraviolet light are separated by a dichroic mirror disposed in the observation system optical path. And was filed by the present applicant (Japanese Patent Application No. 9-224323).
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, since extreme ultraviolet light is particularly harmful to the human body, a microscope apparatus using a light source of extreme ultraviolet light needs to have a configuration in which extreme ultraviolet light does not enter the eye through an eyepiece.
[0009]
However, since the dichroic mirror separates light by a predetermined wavelength selection characteristic, it is difficult to completely separate ultraviolet light and visible light.
[0010]
For example, when a laser or the like is used as an ultraviolet light source, the ultraviolet light may leak to the visible light observation system through the dichroic mirror.
[0011]
The present invention has been made in view of such circumstances, and the problem is that one of ultraviolet light and visible light can be selected as illumination light, and the ultraviolet light enters the visible light observation system when visible light is selected. It is an object of the present invention to provide a microscope apparatus that can reliably prevent the above.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problem, a microscope apparatus according to claim 1 is a visible light observation system including an eyepiece for observing a sample illuminated with visible light, and an ultraviolet for observing the sample illuminated with ultraviolet light. In a microscope apparatus including a light observation system, when the visible light is selected as illumination light, the visible light is reflected and guided to the sample, and reflected light from the sample is guided to the visible light observation system. When the ultraviolet light is selected as illumination light, the second optical member reflects the ultraviolet light and guides it to the sample, and guides the reflected light from the sample to the ultraviolet light observation system. And when the visible light is selected as illumination light, an illumination light selection member that blocks incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system, the second optical member and the illumination light selection member are , Each said ultraviolet Characterized in that the illumination optical path of a selectively positionable.
The microscope apparatus according to the second aspect of the invention includes a visible light illumination system that illuminates a sample with visible light, an ultraviolet light illumination system that illuminates the sample with ultraviolet light, and the illumination that is illuminated by the visible light illumination system. In a microscope apparatus provided with a visible light observation system including an eyepiece for observing a sample and an ultraviolet light observation system for observing the sample illuminated by the ultraviolet light illumination system, the visible light is selected as illumination light. When the ultraviolet light is selected as illumination light, the first optical member that reflects the visible light to the sample and guides the reflected light from the sample to the visible light observation system, A first illuminating light selection member for blocking incidence of visible light to the ultraviolet light observation system; and when the ultraviolet light is selected as illumination light, the ultraviolet light is reflected and guided to the sample, and the sample Reflection from A second optical member that guides the ultraviolet light to the ultraviolet light observation system, and a second illumination light selection member that blocks incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system when the visible light is selected as illumination light; The first optical member and the first illumination light selection member can be selectively disposed in the visible light illumination system optical path, respectively, and the second optical member and the second illumination light selection Each of the members can be selectively disposed in the optical path of the ultraviolet illumination system.
[0013]
When the first optical member is disposed in the visible light illumination system optical path, the second illumination light selection member (illumination light selection member) can be disposed in the ultraviolet light illumination system optical path, and the second optical member is disposed in the ultraviolet light illumination system optical path. The first illumination light selection member can be disposed in the visible light illumination system optical path.
[0014]
A microscope apparatus according to a third aspect of the present invention is the microscope apparatus according to the second aspect , wherein when the first optical member is disposed in a visible light illumination system optical path, the second illumination light selection member is ultraviolet. The first illumination light selection member moves to the visible light illumination system optical path when the second optical member moves to the light illumination system optical path and the second optical member is arranged in the ultraviolet light illumination system optical path.
[0015]
The second illumination light selection member corresponding to the selected first optical member can be selected, and the first illumination light selection member corresponding to the selected second optical member can be selected.
[0016]
A microscope apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the microscope apparatus according to the second aspect , wherein the first optical member and the second illumination light selection member are integrally formed, and the second optical member. And the first illumination light selection member are integrally formed.
[0017]
There is no need to individually drive the first optical member and the second illumination light selection member, and the second optical member and the first illumination light selection member, respectively, and the number of drive mechanisms and guides can be reduced. In the case of electric drive, the number of drive motors can be reduced.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0019]
1 and 2 are broken sectional views showing the microscope apparatus according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a perspective view of a second hollow block arranged in the optical path of the ultraviolet light illumination system.
[0020]
1 shows a state when a visible light illumination system is selected as illumination light, and FIG. 2 shows a state when an ultraviolet light illumination system is selected as illumination light.
[0021]
This microscope apparatus includes a microscope
[0022]
The
[0023]
A lamp house incorporating a
[0024]
The
[0025]
The
[0026]
The
[0027]
The ultraviolet objective lens is used because it is difficult to correct aberrations appropriately for both visible light and ultraviolet light.
[0028]
The
[0029]
In the ultraviolet
[0030]
The
[0031]
The second
[0032]
The second
[0033]
Therefore, either one of the
[0034]
When the light shield 18B is arranged in the ultraviolet illumination system optical path, the central axis of the through
[0035]
The second
[0036]
A
[0037]
A
[0038]
The first
[0039]
The first
[0040]
Therefore, either one of the
[0041]
When the light shield 28B is disposed in the visible light illumination system optical path, the central axis of the through hole 28C is located on the optical path of the ultraviolet light observation system.
[0042]
The first
[0043]
A rack (not shown) is formed on the upper portion of the first
[0044]
The dovetail formed on the lower surface of the ultraviolet
[0045]
When visible light is selected as illumination light, the
[0046]
The illumination light emitted from the
[0047]
Reflected light from the
[0048]
At this time, since the illumination light from the
[0049]
When ultraviolet light is selected as illumination light, the
[0050]
The illumination light emitted from the
[0051]
The illumination light passes through the
[0052]
This illumination optical system is configured to achieve Koehler illumination on the
[0053]
The reflected light from the
[0054]
The light reflected by the
[0055]
The ultraviolet light received by the ultraviolet CCD is converted into an electrical signal, visualized by a monitor (not shown), and observed.
[0056]
At this time, since the illumination light from the
[0057]
According to this embodiment, even when switching between observation with visible light and observation with ultraviolet light is performed, ultraviolet light and visible light can be reliably separated. As a result, even if a light source of extreme ultraviolet light is used, there is no possibility that the extreme ultraviolet light enters the eye through the eyepiece.
[0058]
Even in the case of ultraviolet light observation, it is possible to prevent visible light from entering the ultraviolet light observation system and causing flare and ghost.
[0059]
4 and 5 are broken sectional views showing a microscope apparatus according to a second embodiment of the present invention. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
[0060]
4 shows a state when visible light is selected as the illumination light, and FIG. 5 shows a state when ultraviolet light is selected as the illumination light.
[0061]
In this embodiment, the second illumination light selection member (illumination light selection member) 18B is integrally formed on the upper part of the
[0062]
According to this embodiment, the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
[0063]
In addition, since it is not necessary to drive the first
[0064]
In each of the above embodiments, the first hollow block and the second hollow block are motor-driven, but may be moved manually.
[0065]
The first
[0066]
Furthermore, although the
[0067]
In each of the above embodiments, the ultraviolet light illumination system is disposed above the visible light illumination system. However, the visible light illumination system may be disposed above the ultraviolet light illumination system. At this time, the
[0068]
Further, in each of the above embodiments, a mercury lamp is used as an ultraviolet light source. However, in the case of a mercury lamp, in the case of ultraviolet light, particularly extreme ultraviolet light, it is difficult to obtain a sufficient amount of light necessary for observation. Alternatively, laser light for irradiating extreme ultraviolet light may be used as the light source.
[0069]
In addition, although the ultraviolet
[0070]
【The invention's effect】
As described above, according to the microscope apparatus of the first aspect of the present invention, it is possible to reliably prevent ultraviolet light from entering the optical path of the visible light observation system when visible light is selected as illumination light.
[0071]
According to the microscope apparatus of the second aspect of the present invention, the switching operation of the illumination light is facilitated and an erroneous operation can be prevented.
[0072]
According to the microscope apparatus of the third aspect of the present invention, the switching operation of the illumination light is facilitated, and erroneous operations and malfunctions can be prevented. In addition, the configuration can be simplified, and the manufacturing cost can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a broken sectional view showing a microscope apparatus according to a first embodiment of the present invention, and shows a state when a visible light illumination system is selected as illumination light.
FIG. 2 is a broken sectional view showing the microscope apparatus according to the first embodiment of the present invention, and shows a state when an ultraviolet light illumination system is selected as illumination light.
FIG. 3 is a perspective view of a second hollow block.
FIG. 4 is a broken sectional view showing a microscope apparatus according to a second embodiment of the present invention, and shows a state when visible light is selected as illumination light.
FIG. 5 is a broken sectional view showing a microscope apparatus according to a second embodiment of the present invention, and shows a state when ultraviolet light is selected as illumination light.
[Explanation of symbols]
18A Total reflection mirror (second optical member)
18B light shield (second illumination light selection member , illumination light selection member )
28A half mirror (first optical member)
28B light shield (first illumination light selection member)
51 samples
Claims (4)
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、
照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する照明光選択部材とを備え、
前記第2の光学部材及び前記照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光の照明光路に選択的に配置可能であることを特徴とする顕微鏡装置。In a microscope apparatus comprising a visible light observation system including an eyepiece for observing a sample illuminated with visible light, and an ultraviolet light observation system for observing a sample illuminated with ultraviolet light,
When the visible light is selected as illumination light, the first optical member that reflects the visible light to the sample and guides the reflected light from the sample to the visible light observation system;
When the ultraviolet light is selected as illumination light, the second optical member that reflects the ultraviolet light and guides it to the sample, and guides the reflected light from the sample to the ultraviolet light observation system;
When the visible light is selected as the illumination light, an illumination light selection member that blocks incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system,
The microscope apparatus, wherein the second optical member and the illumination light selection member can be selectively disposed in the illumination light path of the ultraviolet light, respectively.
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、
照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記可視光の前記紫外光観察系への入射を遮断する第1の照明光選択部材と、
照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する第2の照明光選択部材とを備え、
前記第1の光学部材及び前記第1の照明光選択部材が、それぞれ前記可視光照明系光路に選択的に配置可能であり、
前記第2の光学部材及び前記第2の照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光照明系光路に選択的に配置可能であることを特徴とする顕微鏡装置。A visible light illumination system that illuminates the sample with visible light; an ultraviolet light illumination system that illuminates the sample with ultraviolet light; and a visible light observation system that includes an eyepiece that observes the sample illuminated by the visible light illumination system; In a microscope apparatus comprising an ultraviolet light observation system for observing the sample illuminated by the ultraviolet light illumination system,
When the visible light is selected as illumination light, the first optical member that reflects the visible light to the sample and guides the reflected light from the sample to the visible light observation system;
When the ultraviolet light is selected as the illumination light, a first illumination light selection member that blocks incidence of the visible light to the ultraviolet light observation system;
When the ultraviolet light is selected as illumination light, the second optical member that reflects the ultraviolet light and guides it to the sample, and guides the reflected light from the sample to the ultraviolet light observation system;
When the visible light is selected as the illumination light, the second illumination light selection member that blocks the incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system,
The first optical member and the first illumination light selection member can be selectively disposed in the visible light illumination system optical path, respectively.
The microscope apparatus, wherein the second optical member and the second illumination light selection member can be selectively disposed in the ultraviolet illumination system optical path, respectively.
前記第2の光学部材が紫外光照明系光路に配置されたとき、前記第1の照明光選択部材が可視光照明系光路に移動することを特徴とする請求項2記載の顕微鏡装置。When the first optical member is disposed in the visible light illumination system optical path, the second illumination light selection member moves to the ultraviolet light illumination system optical path,
3. The microscope apparatus according to claim 2, wherein when the second optical member is disposed in the ultraviolet illumination system optical path, the first illumination light selection member moves to the visible illumination system optical path.
前記第2の光学部材と前記第1の照明光選択部材とが一体に形成されていることを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡装置。The first optical member and the second illumination light selection member are integrally formed,
The microscope apparatus according to claim 2, wherein the second optical member and the first illumination light selection member are integrally formed.
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