JP4487324B2 - Microscope equipment - Google Patents

Microscope equipment Download PDF

Info

Publication number
JP4487324B2
JP4487324B2 JP24612898A JP24612898A JP4487324B2 JP 4487324 B2 JP4487324 B2 JP 4487324B2 JP 24612898 A JP24612898 A JP 24612898A JP 24612898 A JP24612898 A JP 24612898A JP 4487324 B2 JP4487324 B2 JP 4487324B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
illumination
ultraviolet
visible light
ultraviolet light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP24612898A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2000075212A (en
JP2000075212A5 (en
Inventor
淳 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP24612898A priority Critical patent/JP4487324B2/en
Priority to US09/382,460 priority patent/US6347009B1/en
Publication of JP2000075212A publication Critical patent/JP2000075212A/en
Priority to US09/794,059 priority patent/US6320697B2/en
Publication of JP2000075212A5 publication Critical patent/JP2000075212A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4487324B2 publication Critical patent/JP4487324B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は顕微鏡装置に関し、特に紫外光と可視光とを照明光として選択的に使用することができる顕微鏡装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、半導体デバイスの構造は微細化しており、例えば16MダイナミックRAMの場合、線幅が0.5μm程度となっている。
【0003】
このような微細構造の半導体デバイスを検査するためには、分解能の高い顕微鏡装置が要求される。
【0004】
分解能を高めるための手法の1つとしては、短い波長の光源を使用することが有用である。
【0005】
ところで、従来の顕微鏡装置の光源としては、タングステンランプやハロゲンランプ等の可視光源が一般的に知られているが、これらの光源は紫外光をあまり出射せず、特に波長が300nm以下の極紫外光(DUV)になると、観察に必要な光量を確保することができない。
【0006】
紫外光が必要な場合には水銀ランプ等の光源が用いられているが、得られる画像はモノクロ画像だけであり、検査に重要な項目の1つである色の情報を得ることができないので、紫外光による観察が可能な顕微鏡装置においても、可視光による観察をできる顕微鏡装置が要求されている。
【0007】
しかし、紫外光(特に極紫外光)と可視光とを共通の照明系とすることは困難である。そこで、共通の観察系に対して可視光照明系と紫外光照明系とを積層構造とし、観察系光路に配置したダイクロイックミラーによって可視光と紫外光とを分離するようにした顕微鏡装置が本発明者によって案出され、本件出願人によって出願された(特願平9−224323号)。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、特に極紫外光は人体に対して有害であるので、極紫外光の光源を使用する顕微鏡装置には、万が一にも接眼レンズを通して極紫外光が目に入射しない構成が必要である。
【0009】
しかし、ダイクロイックミラーは所定の波長選択特性によって光を分離するものであるので、紫外光と可視光とを完全に分離することは難しい。
【0010】
例えば、レーザ等を紫外光の光源とした場合には、紫外光がダイクロイックミラーを通して可視光観察系に漏れてしまうおそれがある。
【0011】
この発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、その課題は紫外光と可視光との一方を照明光として選択可能であって、可視光選択時に紫外光が可視光観察系に入射するのを確実に防ぐことができる顕微鏡装置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため請求項1記載の発明の顕微鏡装置は、可視光で照明された試料を観察する接眼レンズを含む可視光観察系と、紫外光で照明された試料を観察するための紫外光観察系とを備える顕微鏡装置において、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する照明光選択部材とを備え、前記第2の光学部材及び前記照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光の照明光路に選択的に配置可能であることを特徴とする。
また、請求項2記載の発明の顕微鏡装置は、可視光で試料を照明する可視光照明系と、紫外光で前記試料を照明する紫外光照明系と、前記可視光照明系によって照明された前記試料を観察する接眼レンズを含む可視光観察系と、前記紫外光照明系によって照明された前記試料を観察するための紫外光観察系とを備える顕微鏡装置において、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記可視光の前記紫外光観察系への入射を遮断する第1の照明光選択部材と、照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する第2の照明光選択部材とを備え、前記第1の光学部材及び前記第1の照明光選択部材が、それぞれ前記可視光照明系光路に選択的に配置可能であり、前記第2の光学部材及び前記第2の照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光照明系光路に選択的に配置可能であることを特徴とする。
【0013】
第1の光学部材を可視光照明系光路に配置したとき、第2の照明光選択部材(照明光選択部材)を紫外光照明系光路に配置でき、第2の光学部材を紫外光照明系光路に配置したとき、第1の照明光選択部材を可視光照明系光路に配置することができる。
【0014】
請求項に記載の発明の顕微鏡装置は、請求項に記載の顕微鏡装置において、前記第1の光学部材が可視光照明系光路に配置されたとき、前記第2の照明光選択部材が紫外光照明系光路に移動し、前記第2の光学部材が紫外光照明系光路に配置されたとき、前記第1の照明光選択部材が可視光照明系光路に移動することを特徴とする。
【0015】
選択した第1の光学部材に対応した第2の照明光選択部材を選択でき、選択した第2の光学部材に対応した第1の照明光選択部材を選択できる。
【0016】
請求項に記載の発明の顕微鏡装置は、請求項に記載の顕微鏡装置において、前記第1の光学部材と前記第2の照明光選択部材とが一体に形成され、前記第2の光学部材と前記第1の照明光選択部材とが一体に形成されていることを特徴とする。
【0017】
第1の光学部材と第2の照明光選択部材とを、第2の光学部材と第1の照明光選択部材とをそれぞれ個別に駆動する必要がなくなり、駆動機構やガイド等を少なくでき、また電動の場合には駆動モータの数を少なくできる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0019】
図1及び図2はこの発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図、図3は紫外光照明系光路中に配置された第2の中空ブロックの斜視図である。
【0020】
なお、図1は照明光として可視光照明系を選択したときの状態を示し、図2は照明光として紫外光照明系を選択したときの状態を示す図である。
【0021】
この顕微鏡装置は、顕微鏡本体10と、鏡筒30と、電動レボルバ40と、ステージ50と、紫外光用ディテクタ60とを備える。
【0022】
顕微鏡本体10は、ベース10Aと、支柱10Bと、アーム10Dとで構成される。
【0023】
アーム10Dの背面側には、ハロゲンランプ22を内蔵するランプハウスが設けられている。また、アーム10Dの上部には、紫外像検出ユニット10Cが載置されている。この紫外像検出ユニット10Cは、顕微鏡本体10に対して着脱可能に構成されている。
【0024】
鏡筒30は紫外像検出ユニット10Cの上部に取り付けられ、接眼レンズ31を有する。
【0025】
紫外光用ディテクタ60は紫外像検出ユニット10Cの上部に取り付けられ、紫外光用CCDを備えている。
【0026】
電動レボルバ40はアーム10Dの下面に取り付けられ、電動レボルバ40には複数の対物レンズ41,42が保持されている。対物レンズ41は可視光用を、対物レンズ42は紫外光用をそれぞれ示す。
【0027】
なお、紫外光用対物レンズは、可視光と紫外光の両方において適正な収差補正をすることが困難なために使用されている。
【0028】
ステージ50はベース10A上に設けられ、対物レンズ41,42の光軸に沿って上下動する。
【0029】
紫外像検出ユニット10C内には水銀ランプ12、UVフィルタ13、紫外光用リレー光学系を構成するリレーレンズ14,15、シャッタ16、ハーフミラー17、及び第2の中空ブロック18が配置されている。
【0030】
シャッタ16はソレノイド16Aによって駆動され、可視光観察を行うとき、紫外光が観察系光路に入射しないように紫外光照明系光路に挿入される。
【0031】
第2の中空ブロック18は全反射ミラー(第2の光学部材)18Aと貫通孔18Cを有する遮光体(第2の照明光選択部材、照明光選択部材)18Bとを備えている(図3参照)。
【0032】
この第2の中空ブロック18は、水銀ランプ12の光路に対して直交する方向(図面を貫通する方向)へ移動できる。
【0033】
したがって、紫外光照明光路に対して全反射ミラー18A及び遮光体18Bのいずれか一方を配置することができる。
【0034】
遮光体18Bを紫外光照明系光路に配置したとき、貫通孔18Cの中心軸は可視光観察系の光路上に位置する。
【0035】
第2の中空ブロック18は、複数のボール18aを転動可能に支持するボールレース機構を介して固定ガイド部19に取り付けられ、固定ガイド部19に対して移動可能である。
【0036】
第2の中空ブロック18の上部にはラック18Dが形成され、このラック18Dはモータ(例えばDCモータ)20の回転軸に固着されたピニオン20Aと噛み合っている。モータ20は固定ガイド部19に固着される。
【0037】
アーム10D内にはハロゲンランプ22、可視光用リレー光学系を構成するリレーレンズ24,25、及び第1の中空ブロック28が配置されている。
【0038】
第1の中空ブロック28はハーフミラー(第1の光学部材)28Aと貫通孔28Cを有する遮光体(第1の照明光選択部材)28Bとを備えている。
【0039】
この第1の中空ブロック28は、ハロゲンランプ22の光路に対して直交する方向(図面を貫通する方向)へ移動できる。
【0040】
したがって、可視光照明系光路に対してハーフミラー28A及び遮光体28Bのいずれか一方を配置することができる。
【0041】
遮光体28Bを可視光照明系光路に配置したとき、貫通孔28Cの中心軸は紫外光観察系の光路上に位置する。
【0042】
第1の中空ブロック28は、複数のボール28aを転動可能に支持するボールレース機構を介して固定ガイド部29に取り付けられ、固定ガイド部29に対して移動可能である。
【0043】
第1の中空ブロック28の上部にはラック(図示せず)が形成され、このラックはモータ(例えばDCモータ)26の回転軸に固着されたピニオン26Aと噛み合っている。モータ26は固定ガイド部29に固着される。
【0044】
紫外像検出ユニット10Cの下面に形成されたありはアーム10Dの上面に形成されたあり溝に係合している。また、紫外像検出ユニット10Cの内部空間とアーム10Dの内部空間とは開口Sを介して連通しており、この開口Sによって第1の中空ブロック28と第2の中空ブロック18との間の光路が形成される。
【0045】
照明光として可視光が選択されたとき、モータ26が作動してハーフミラー28Aが可視光照明系光路に配置されるとともに、モータ20が作動して遮光体18Bが紫外光照明系光路に移動する。このとき、貫通孔18Cが可視光観察系光路に配置される。
【0046】
ハロゲンランプ22から出射された照明光は、ハーフミラー28Aによって反射され、可視光用対物レンズ41を介して試料51上の所定領域に照射される。この照明光学系は試料51に対してケーラー照明を達成するように構成されている。
【0047】
試料51からの反射光はハーフミラー28Aを透過した後、開口S及び貫通孔18Cを通り、鏡筒30内の結像レンズ23により結像され、接眼レンズ31により可視光観察される。
【0048】
このとき、水銀ランプ12からの照明光は第2の照明光選択部材18Bによって遮断されるとともに、シャッタ16によっても遮断されるので、紫外光が試料51や可視光観察系に照射されることはない(図1参照)。
【0049】
また、照明光として紫外光が選択されたとき、モータ20が作動して全反射ミラー18Aが紫外光照明系光路に配置されるとともに、モータ26が作動して遮光体28Bが可視光照明系光路に移動する。このとき、貫通孔28Cが紫外光観察系光路に配置される。
【0050】
水銀ランプ12から出射された照明光は、UVフィルタ13を通過することにより、可視光を含まない紫外光だけの照明光となる。
【0051】
照明光は紫外光用のリレーレンズ14,15を通りハーフミラー17を透過し、全反射ミラー18Aによって開口S、貫通孔28C及び紫外光用対物レンズ42へと偏光され、試料51上の所定領域に照射される。
【0052】
この照明光学系は試料51に対してケーラー照明を達成するように構成されている。
【0053】
試料51からの反射光は貫通孔28C及び開口Sを通り、全反射ミラー18Aで反射され、更にハーフミラー17により紫外光用ディテクタ60に導かれる。
【0054】
ハーフミラー17によって反射された光は紫外光用結像レンズ21により結像され、紫外光用ディテクタ60の紫外光用CCDによって受光される。
【0055】
紫外光用CCDによって受光された紫外光は電気信号に変換され、モニタ(図示せず)によって可視化され、観察される。
【0056】
このとき、ハロゲンランプ22からの照明光は第1の照明光選択部材28Bによって遮断されるので、可視光が試料51や紫外光観察系に照射されることはない(図2参照)。
【0057】
この実施形態によれば、可視光による観察と紫外光による観察とを切り換えて行う場合であっても、紫外光と可視光とを確実に分離することができる。その結果、極紫外光の光源を使用する場合であっても、接眼レンズを通して極紫外光が目に入射するおそれがない。
【0058】
また、紫外光観察の場合でも、可視光が紫外光観察系に入射してフレアやゴーストの原因となるのを防ぐことができる。
【0059】
図4及び図5はこの発明の第2実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、第1実施形態と同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【0060】
なお、図4は照明光として可視光を選択したときの状態を示し、図5は照明光として紫外光を選択したときの状態を示す図である。
【0061】
この実施形態は、ハーフミラー28Aの上部に第2の照明光選択部材(照明光選択部材)18Bが、第1の照明光選択部材28Bの上部に全反射ミラー18Aがそれぞれ一体に形成されるように、第1の中空ブロック28と第2の中空ブロック18とを一体化して2階建て構造のブロック108を形成し、このブロック108をアーム10Dのモータ26だけで駆動するようにした点で第1実施形態と相違する。
【0062】
この実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果を奏する。
【0063】
また、第1の中空ブロック28と第2の中空ブロック18とを個別に駆動する必要がないので、電動の場合でもモータやラック、ガイド等が1つずつでよいので、構成が簡単な、しかも安価な装置とすることができる。
【0064】
なお、上記各実施形態では第1の中空ブロックと第2の中空ブロックとをモータ駆動したが、手動で移動させるようにしてもよい。
【0065】
また、第1の中空ブロック28はハーフミラー28Aと遮光体28Bとを一体に形成しているが、ハーフミラー28Aと遮光体28Bとを別体としてもよい。
【0066】
更に、第2の中空ブロック18は全反射ミラー18Aと遮光体18Bとを一体に形成しているが、全反射ミラー18Aと遮光体18Bとを別体としてもよい。
【0067】
また、上記各実施形態では紫外光照明系を可視光照明系の上部に配置したが、可視光照明系を紫外光照明系の上部に配置するようにしてもよい。このときには、紫外光用ディテクタ60はアーム10Dの側面に取り付けられる。
【0068】
更に、上記各実施形態では紫外光の光源として水銀ランプを使用したが、水銀ランプでは紫外光、特に極紫外光の場合、観察に必要かつ十分な光量を得難いので、水銀ランプの代わりに紫外光又は極紫外光を照射するレーザ光を光源としてもよい。
【0069】
また、紫外像検出ユニット10Cとアーム10Dとは分離可能な構成としたが、可視光と紫外光とが完全に分離されていれば、各ユニットを一体構造としてもよい。
【0070】
【発明の効果】
以上に説明したように請求項1に記載の発明の顕微鏡装置によれば、照明光として可視光を選択したときに紫外光が可視光観察系光路に入射するのを確実に防ぐことができる。
【0071】
請求項2に記載の発明の顕微鏡装置によれば、照明光の切換作業が容易になるとともに、誤操作を防ぐことができる。
【0072】
請求項3に記載の発明の顕微鏡装置によれば、照明光の切換作業が容易になるとともに、誤操作や誤動作を防ぐことができる。また、構成の簡素化を図ることができ、製造コストを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として可視光照明系を選択したときの状態を示す図である。
【図2】図2はこの発明の第1実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として紫外光照明系を選択したときの状態を示す図である。
【図3】図3は第2の中空ブロックの斜視図である。
【図4】図4はこの発明の第2実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として可視光を選択したときの状態を示す図である。
【図5】図5はこの発明の第2実施形態に係る顕微鏡装置を示す破断面図であり、照明光として紫外光を選択したときの状態を示す図である。
【符号の説明】
18A 全反射ミラー(第2の光学部材)
18B 遮光体(第2の照明光選択部材、照明光選択部材
28A ハーフミラー(第1の光学部材)
28B 遮光体(第1の照明光選択部材)
51 試料
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a microscope apparatus, and more particularly to a microscope apparatus that can selectively use ultraviolet light and visible light as illumination light.
[0002]
[Prior art]
In recent years, the structure of semiconductor devices has been miniaturized. For example, in the case of 16M dynamic RAM, the line width is about 0.5 μm.
[0003]
In order to inspect a semiconductor device having such a fine structure, a microscope apparatus with high resolution is required.
[0004]
As one of the techniques for increasing the resolution, it is useful to use a light source having a short wavelength.
[0005]
By the way, visible light sources such as tungsten lamps and halogen lamps are generally known as light sources of conventional microscope apparatuses, but these light sources do not emit much ultraviolet light, and particularly the extreme ultraviolet having a wavelength of 300 nm or less. When light (DUV) is used, the amount of light necessary for observation cannot be secured.
[0006]
When ultraviolet light is required, a light source such as a mercury lamp is used, but the obtained image is only a monochrome image, and color information which is one of the important items for inspection cannot be obtained. Even in a microscope apparatus that can be observed with ultraviolet light, a microscope apparatus that can observe with visible light is required.
[0007]
However, it is difficult to use a common illumination system for ultraviolet light (particularly extreme ultraviolet light) and visible light. Therefore, the present invention is a microscope apparatus in which a visible light illumination system and an ultraviolet light illumination system are stacked on a common observation system, and visible light and ultraviolet light are separated by a dichroic mirror disposed in the observation system optical path. And was filed by the present applicant (Japanese Patent Application No. 9-224323).
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, since extreme ultraviolet light is particularly harmful to the human body, a microscope apparatus using a light source of extreme ultraviolet light needs to have a configuration in which extreme ultraviolet light does not enter the eye through an eyepiece.
[0009]
However, since the dichroic mirror separates light by a predetermined wavelength selection characteristic, it is difficult to completely separate ultraviolet light and visible light.
[0010]
For example, when a laser or the like is used as an ultraviolet light source, the ultraviolet light may leak to the visible light observation system through the dichroic mirror.
[0011]
The present invention has been made in view of such circumstances, and the problem is that one of ultraviolet light and visible light can be selected as illumination light, and the ultraviolet light enters the visible light observation system when visible light is selected. It is an object of the present invention to provide a microscope apparatus that can reliably prevent the above.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problem, a microscope apparatus according to claim 1 is a visible light observation system including an eyepiece for observing a sample illuminated with visible light, and an ultraviolet for observing the sample illuminated with ultraviolet light. In a microscope apparatus including a light observation system, when the visible light is selected as illumination light, the visible light is reflected and guided to the sample, and reflected light from the sample is guided to the visible light observation system. When the ultraviolet light is selected as illumination light, the second optical member reflects the ultraviolet light and guides it to the sample, and guides the reflected light from the sample to the ultraviolet light observation system. And when the visible light is selected as illumination light, an illumination light selection member that blocks incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system, the second optical member and the illumination light selection member are , Each said ultraviolet Characterized in that the illumination optical path of a selectively positionable.
The microscope apparatus according to the second aspect of the invention includes a visible light illumination system that illuminates a sample with visible light, an ultraviolet light illumination system that illuminates the sample with ultraviolet light, and the illumination that is illuminated by the visible light illumination system. In a microscope apparatus provided with a visible light observation system including an eyepiece for observing a sample and an ultraviolet light observation system for observing the sample illuminated by the ultraviolet light illumination system, the visible light is selected as illumination light. When the ultraviolet light is selected as illumination light, the first optical member that reflects the visible light to the sample and guides the reflected light from the sample to the visible light observation system, A first illuminating light selection member for blocking incidence of visible light to the ultraviolet light observation system; and when the ultraviolet light is selected as illumination light, the ultraviolet light is reflected and guided to the sample, and the sample Reflection from A second optical member that guides the ultraviolet light to the ultraviolet light observation system, and a second illumination light selection member that blocks incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system when the visible light is selected as illumination light; The first optical member and the first illumination light selection member can be selectively disposed in the visible light illumination system optical path, respectively, and the second optical member and the second illumination light selection Each of the members can be selectively disposed in the optical path of the ultraviolet illumination system.
[0013]
When the first optical member is disposed in the visible light illumination system optical path, the second illumination light selection member (illumination light selection member) can be disposed in the ultraviolet light illumination system optical path, and the second optical member is disposed in the ultraviolet light illumination system optical path. The first illumination light selection member can be disposed in the visible light illumination system optical path.
[0014]
A microscope apparatus according to a third aspect of the present invention is the microscope apparatus according to the second aspect , wherein when the first optical member is disposed in a visible light illumination system optical path, the second illumination light selection member is ultraviolet. The first illumination light selection member moves to the visible light illumination system optical path when the second optical member moves to the light illumination system optical path and the second optical member is arranged in the ultraviolet light illumination system optical path.
[0015]
The second illumination light selection member corresponding to the selected first optical member can be selected, and the first illumination light selection member corresponding to the selected second optical member can be selected.
[0016]
A microscope apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the microscope apparatus according to the second aspect , wherein the first optical member and the second illumination light selection member are integrally formed, and the second optical member. And the first illumination light selection member are integrally formed.
[0017]
There is no need to individually drive the first optical member and the second illumination light selection member, and the second optical member and the first illumination light selection member, respectively, and the number of drive mechanisms and guides can be reduced. In the case of electric drive, the number of drive motors can be reduced.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0019]
1 and 2 are broken sectional views showing the microscope apparatus according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a perspective view of a second hollow block arranged in the optical path of the ultraviolet light illumination system.
[0020]
1 shows a state when a visible light illumination system is selected as illumination light, and FIG. 2 shows a state when an ultraviolet light illumination system is selected as illumination light.
[0021]
This microscope apparatus includes a microscope main body 10, a lens barrel 30, an electric revolver 40, a stage 50, and an ultraviolet light detector 60.
[0022]
The microscope body 10 includes a base 10A, a support 10B, and an arm 10D.
[0023]
A lamp house incorporating a halogen lamp 22 is provided on the back side of the arm 10D. In addition, an ultraviolet image detection unit 10C is placed on the arm 10D. The ultraviolet image detection unit 10 </ b> C is configured to be detachable from the microscope body 10.
[0024]
The lens barrel 30 is attached to the upper part of the ultraviolet image detection unit 10 </ b> C and has an eyepiece 31.
[0025]
The ultraviolet light detector 60 is attached to the upper part of the ultraviolet image detection unit 10C and includes an ultraviolet light CCD.
[0026]
The electric revolver 40 is attached to the lower surface of the arm 10 </ b> D, and the electric revolver 40 holds a plurality of objective lenses 41 and 42. The objective lens 41 is for visible light, and the objective lens 42 is for ultraviolet light.
[0027]
The ultraviolet objective lens is used because it is difficult to correct aberrations appropriately for both visible light and ultraviolet light.
[0028]
The stage 50 is provided on the base 10 </ b> A and moves up and down along the optical axes of the objective lenses 41 and 42.
[0029]
In the ultraviolet image detection unit 10C, a mercury lamp 12, a UV filter 13, relay lenses 14, 15 constituting a relay optical system for ultraviolet light, a shutter 16, a half mirror 17, and a second hollow block 18 are arranged. .
[0030]
The shutter 16 is driven by a solenoid 16A, and is inserted into the ultraviolet illumination system optical path so that ultraviolet light does not enter the observation system optical path when performing visible light observation.
[0031]
The second hollow block 18 includes a total reflection mirror (second optical member) 18A and a light blocking body (second illumination light selection member , illumination light selection member ) 18B having a through hole 18C (see FIG. 3). ).
[0032]
The second hollow block 18 can move in a direction orthogonal to the optical path of the mercury lamp 12 (direction passing through the drawing).
[0033]
Therefore, either one of the total reflection mirror 18A and the light shield 18B can be arranged with respect to the ultraviolet light path.
[0034]
When the light shield 18B is arranged in the ultraviolet illumination system optical path, the central axis of the through hole 18C is located on the optical path of the visible light observation system.
[0035]
The second hollow block 18 is attached to the fixed guide portion 19 via a ball race mechanism that supports the plurality of balls 18 a in a rollable manner, and is movable with respect to the fixed guide portion 19.
[0036]
A rack 18D is formed on the upper part of the second hollow block 18, and this rack 18D is engaged with a pinion 20A fixed to a rotating shaft of a motor (for example, a DC motor) 20. The motor 20 is fixed to the fixed guide portion 19.
[0037]
A halogen lamp 22, relay lenses 24 and 25 constituting a visible light relay optical system, and a first hollow block 28 are arranged in the arm 10D.
[0038]
The first hollow block 28 includes a half mirror (first optical member) 28A and a light shielding body (first illumination light selection member) 28B having a through hole 28C.
[0039]
The first hollow block 28 can move in a direction orthogonal to the optical path of the halogen lamp 22 (direction passing through the drawing).
[0040]
Therefore, either one of the half mirror 28A and the light shielding body 28B can be arranged with respect to the visible light illumination system optical path.
[0041]
When the light shield 28B is disposed in the visible light illumination system optical path, the central axis of the through hole 28C is located on the optical path of the ultraviolet light observation system.
[0042]
The first hollow block 28 is attached to the fixed guide portion 29 via a ball race mechanism that supports the plurality of balls 28 a in a rollable manner, and is movable with respect to the fixed guide portion 29.
[0043]
A rack (not shown) is formed on the upper portion of the first hollow block 28, and this rack meshes with a pinion 26 </ b> A fixed to a rotating shaft of a motor (for example, a DC motor) 26. The motor 26 is fixed to the fixed guide portion 29.
[0044]
The dovetail formed on the lower surface of the ultraviolet image detection unit 10C or the dovetail groove formed on the upper surface of the arm 10D is engaged. The internal space of the ultraviolet image detection unit 10C and the internal space of the arm 10D communicate with each other through an opening S, and the optical path between the first hollow block 28 and the second hollow block 18 is communicated with the opening S. Is formed.
[0045]
When visible light is selected as illumination light, the motor 26 operates to place the half mirror 28A in the visible light illumination system optical path, and the motor 20 operates to move the light shield 18B to the ultraviolet light illumination system optical path. . At this time, the through hole 18C is disposed in the visible light observation system optical path.
[0046]
The illumination light emitted from the halogen lamp 22 is reflected by the half mirror 28 </ b> A and is irradiated onto a predetermined region on the sample 51 through the visible light objective lens 41. This illumination optical system is configured to achieve Koehler illumination on the sample 51.
[0047]
Reflected light from the sample 51 passes through the half mirror 28 </ b> A, passes through the opening S and the through-hole 18 </ b> C, is imaged by the imaging lens 23 in the lens barrel 30, and is observed by the eyepiece 31.
[0048]
At this time, since the illumination light from the mercury lamp 12 is blocked by the second illumination light selection member 18B and also by the shutter 16, the ultraviolet light is irradiated on the sample 51 and the visible light observation system. No (see Figure 1).
[0049]
When ultraviolet light is selected as illumination light, the motor 20 operates to place the total reflection mirror 18A in the ultraviolet light illumination system optical path, and the motor 26 operates to cause the light shield 28B to be in the visible light illumination system optical path. Move to. At this time, the through-hole 28C is disposed in the ultraviolet light observation system optical path.
[0050]
The illumination light emitted from the mercury lamp 12 passes through the UV filter 13 and becomes only illumination light that does not contain visible light.
[0051]
The illumination light passes through the half mirror 17 through the relay lenses 14 and 15 for ultraviolet light, and is polarized by the total reflection mirror 18A to the opening S, the through hole 28C, and the objective lens 42 for ultraviolet light, and a predetermined region on the sample 51. Is irradiated.
[0052]
This illumination optical system is configured to achieve Koehler illumination on the sample 51.
[0053]
The reflected light from the sample 51 passes through the through hole 28C and the opening S, is reflected by the total reflection mirror 18A, and is further guided by the half mirror 17 to the ultraviolet light detector 60.
[0054]
The light reflected by the half mirror 17 is imaged by the ultraviolet light imaging lens 21 and received by the ultraviolet light CCD of the ultraviolet light detector 60.
[0055]
The ultraviolet light received by the ultraviolet CCD is converted into an electrical signal, visualized by a monitor (not shown), and observed.
[0056]
At this time, since the illumination light from the halogen lamp 22 is blocked by the first illumination light selection member 28B, visible light is not irradiated to the sample 51 or the ultraviolet light observation system (see FIG. 2).
[0057]
According to this embodiment, even when switching between observation with visible light and observation with ultraviolet light is performed, ultraviolet light and visible light can be reliably separated. As a result, even if a light source of extreme ultraviolet light is used, there is no possibility that the extreme ultraviolet light enters the eye through the eyepiece.
[0058]
Even in the case of ultraviolet light observation, it is possible to prevent visible light from entering the ultraviolet light observation system and causing flare and ghost.
[0059]
4 and 5 are broken sectional views showing a microscope apparatus according to a second embodiment of the present invention. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
[0060]
4 shows a state when visible light is selected as the illumination light, and FIG. 5 shows a state when ultraviolet light is selected as the illumination light.
[0061]
In this embodiment, the second illumination light selection member (illumination light selection member) 18B is integrally formed on the upper part of the half mirror 28A, and the total reflection mirror 18A is integrally formed on the upper part of the first illumination light selection member 28B. In addition, the first hollow block 28 and the second hollow block 18 are integrated to form a two-story block 108, and this block 108 is driven only by the motor 26 of the arm 10D. This is different from the first embodiment.
[0062]
According to this embodiment, the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
[0063]
In addition, since it is not necessary to drive the first hollow block 28 and the second hollow block 18 separately, only one motor, rack, guide, etc. are required even in the case of electric drive, and the configuration is simple. An inexpensive apparatus can be obtained.
[0064]
In each of the above embodiments, the first hollow block and the second hollow block are motor-driven, but may be moved manually.
[0065]
The first hollow block 28 integrally forms the half mirror 28A and the light shielding body 28B, but the half mirror 28A and the light shielding body 28B may be separated.
[0066]
Furthermore, although the total reflection mirror 18A and the light shielding body 18B are integrally formed in the second hollow block 18, the total reflection mirror 18A and the light shielding body 18B may be separated.
[0067]
In each of the above embodiments, the ultraviolet light illumination system is disposed above the visible light illumination system. However, the visible light illumination system may be disposed above the ultraviolet light illumination system. At this time, the ultraviolet light detector 60 is attached to the side surface of the arm 10D.
[0068]
Further, in each of the above embodiments, a mercury lamp is used as an ultraviolet light source. However, in the case of a mercury lamp, in the case of ultraviolet light, particularly extreme ultraviolet light, it is difficult to obtain a sufficient amount of light necessary for observation. Alternatively, laser light for irradiating extreme ultraviolet light may be used as the light source.
[0069]
In addition, although the ultraviolet image detection unit 10C and the arm 10D are configured to be separable, each unit may be integrated as long as visible light and ultraviolet light are completely separated.
[0070]
【The invention's effect】
As described above, according to the microscope apparatus of the first aspect of the present invention, it is possible to reliably prevent ultraviolet light from entering the optical path of the visible light observation system when visible light is selected as illumination light.
[0071]
According to the microscope apparatus of the second aspect of the present invention, the switching operation of the illumination light is facilitated and an erroneous operation can be prevented.
[0072]
According to the microscope apparatus of the third aspect of the present invention, the switching operation of the illumination light is facilitated, and erroneous operations and malfunctions can be prevented. In addition, the configuration can be simplified, and the manufacturing cost can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a broken sectional view showing a microscope apparatus according to a first embodiment of the present invention, and shows a state when a visible light illumination system is selected as illumination light.
FIG. 2 is a broken sectional view showing the microscope apparatus according to the first embodiment of the present invention, and shows a state when an ultraviolet light illumination system is selected as illumination light.
FIG. 3 is a perspective view of a second hollow block.
FIG. 4 is a broken sectional view showing a microscope apparatus according to a second embodiment of the present invention, and shows a state when visible light is selected as illumination light.
FIG. 5 is a broken sectional view showing a microscope apparatus according to a second embodiment of the present invention, and shows a state when ultraviolet light is selected as illumination light.
[Explanation of symbols]
18A Total reflection mirror (second optical member)
18B light shield (second illumination light selection member , illumination light selection member )
28A half mirror (first optical member)
28B light shield (first illumination light selection member)
51 samples

Claims (4)

可視光で照明された試料を観察する接眼レンズを含む可視光観察系と、紫外光で照明された試料を観察するための紫外光観察系とを備える顕微鏡装置において、
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、
照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する照明光選択部材とを備え、
前記第2の光学部材及び前記照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光の照明光路に選択的に配置可能であることを特徴とする顕微鏡装置。
In a microscope apparatus comprising a visible light observation system including an eyepiece for observing a sample illuminated with visible light, and an ultraviolet light observation system for observing a sample illuminated with ultraviolet light,
When the visible light is selected as illumination light, the first optical member that reflects the visible light to the sample and guides the reflected light from the sample to the visible light observation system;
When the ultraviolet light is selected as illumination light, the second optical member that reflects the ultraviolet light and guides it to the sample, and guides the reflected light from the sample to the ultraviolet light observation system;
When the visible light is selected as the illumination light, an illumination light selection member that blocks incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system,
The microscope apparatus, wherein the second optical member and the illumination light selection member can be selectively disposed in the illumination light path of the ultraviolet light, respectively.
可視光で試料を照明する可視光照明系と、紫外光で前記試料を照明する紫外光照明系と、前記可視光照明系によって照明された前記試料を観察する接眼レンズを含む可視光観察系と、前記紫外光照明系によって照明された前記試料を観察するための紫外光観察系とを備える顕微鏡装置において、
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記可視光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記可視光観察系へ導く第1の光学部材と、
照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記可視光の前記紫外光観察系への入射を遮断する第1の照明光選択部材と、
照明光として前記紫外光が選択されたとき、前記紫外光を反射させて前記試料に導くとともに、前記試料からの反射光を前記紫外光観察系へ導く第2の光学部材と、
照明光として前記可視光が選択されたとき、前記紫外光の前記可視光観察系への入射を遮断する第2の照明光選択部材とを備え、
前記第1の光学部材及び前記第1の照明光選択部材が、それぞれ前記可視光照明系光路に選択的に配置可能であり、
前記第2の光学部材及び前記第2の照明光選択部材が、それぞれ前記紫外光照明系光路に選択的に配置可能であることを特徴とする顕微鏡装置。
A visible light illumination system that illuminates the sample with visible light; an ultraviolet light illumination system that illuminates the sample with ultraviolet light; and a visible light observation system that includes an eyepiece that observes the sample illuminated by the visible light illumination system; In a microscope apparatus comprising an ultraviolet light observation system for observing the sample illuminated by the ultraviolet light illumination system,
When the visible light is selected as illumination light, the first optical member that reflects the visible light to the sample and guides the reflected light from the sample to the visible light observation system;
When the ultraviolet light is selected as the illumination light, a first illumination light selection member that blocks incidence of the visible light to the ultraviolet light observation system;
When the ultraviolet light is selected as illumination light, the second optical member that reflects the ultraviolet light and guides it to the sample, and guides the reflected light from the sample to the ultraviolet light observation system;
When the visible light is selected as the illumination light, the second illumination light selection member that blocks the incidence of the ultraviolet light to the visible light observation system,
The first optical member and the first illumination light selection member can be selectively disposed in the visible light illumination system optical path, respectively.
The microscope apparatus, wherein the second optical member and the second illumination light selection member can be selectively disposed in the ultraviolet illumination system optical path, respectively.
第1の光学部材が可視光照明系光路に配置されたとき、前記第2の照明光選択部材が紫外光照明系光路に移動し、
前記第2の光学部材が紫外光照明系光路に配置されたとき、前記第1の照明光選択部材が可視光照明系光路に移動することを特徴とする請求項2記載の顕微鏡装置。
When the first optical member is disposed in the visible light illumination system optical path, the second illumination light selection member moves to the ultraviolet light illumination system optical path,
3. The microscope apparatus according to claim 2, wherein when the second optical member is disposed in the ultraviolet illumination system optical path, the first illumination light selection member moves to the visible illumination system optical path.
前記第1の光学部材と前記第2の照明光選択部材とが一体に形成され、
前記第2の光学部材と前記第1の照明光選択部材とが一体に形成されていることを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡装置。
The first optical member and the second illumination light selection member are integrally formed,
The microscope apparatus according to claim 2, wherein the second optical member and the first illumination light selection member are integrally formed.
JP24612898A 1931-08-07 1998-08-31 Microscope equipment Expired - Lifetime JP4487324B2 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24612898A JP4487324B2 (en) 1998-08-31 1998-08-31 Microscope equipment
US09/382,460 US6347009B1 (en) 1997-08-06 1999-08-25 Illuminating light selection device for a microscope
US09/794,059 US6320697B2 (en) 1931-08-07 2001-02-28 Illuminating light selection device for a microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24612898A JP4487324B2 (en) 1998-08-31 1998-08-31 Microscope equipment

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2000075212A JP2000075212A (en) 2000-03-14
JP2000075212A5 JP2000075212A5 (en) 2005-10-27
JP4487324B2 true JP4487324B2 (en) 2010-06-23

Family

ID=17143905

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24612898A Expired - Lifetime JP4487324B2 (en) 1931-08-07 1998-08-31 Microscope equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4487324B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004534661A (en) * 2001-05-14 2004-11-18 アリックス インコーポレイテッド Improved apparatus, system and method for applying a light gradient force
JP2006154239A (en) * 2004-11-29 2006-06-15 Olympus Corp Microscope
KR102234008B1 (en) * 2019-05-20 2021-03-30 주식회사 탑글라스 Inspection device for blocking harmful rays of spectacle lenses

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000075212A (en) 2000-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6347009B1 (en) Illuminating light selection device for a microscope
JP3283499B2 (en) Laser microscope
US6337767B1 (en) Microscope with visible and ultraviolet light illumination systems
US5296962A (en) High sensitivity microscope
JP4487324B2 (en) Microscope equipment
JP3523348B2 (en) Slit lamp microscope
JP3318014B2 (en) Lens tube and microscope
JP6108908B2 (en) Inverted microscope system
US6320697B2 (en) Illuminating light selection device for a microscope
US4329025A (en) Eye fundus camera having a fluorescent photographing device
JP2008102535A (en) Stereo microscope
JP2008276230A (en) Optical component for stereomicroscope
JP3995458B2 (en) Total reflection fluorescence microscope
US20060087727A1 (en) Apparatus, system and method for selective photobleaching, imaging and confocal microscopy
JP4112257B2 (en) Confocal microscope
JP2002196218A (en) Microscope
JPH0486614A (en) Illuminating device for microscope
JP4304548B2 (en) Microscope equipment
JP2001154107A (en) Microscope
JP4384447B2 (en) Polarizing microscope
JP2004185005A (en) Transmitted light illumination unit of microscope
JPH06277185A (en) Ophthalmic observation and photographing apparatus
JPH08280629A (en) Slit lamp microscope
JP2002098906A (en) Microscope
JP4218078B2 (en) microscope

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050701

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080819

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081016

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091113

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100309

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100322

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140409

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term