JP4433904B2 - Balun filter - Google Patents

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Description

この発明はバランフィルタに関する。詳しくは、スタック型インダクタと波長短縮用コンデンサからなる低域フィルタを、バランフィルタの不平衡側端子と不平衡側伝送線路との間に設けたものである。
The present invention relates to a balun filter. For more information, in which the low-pass filter consisting of a stack-type inductor and the wavelength shortening capacitor, provided between the unbalanced terminal and the unbalanced transmission line balun filter.

マイクロ波帯やミリ波帯の高周波電波をキャリアとした通信システム、例えば携帯電話等の電話システムや無線LAN(ローカルエリアネットワーク)システムの普及に伴い、家庭内や屋外等の様々な場所において手軽にかつ中継装置等を介することなく様々なデータの送受信が可能となっている。   With the spread of telephone systems such as mobile phones and wireless LAN (local area network) systems, such as communication systems that use microwave and millimeter wave high frequency radio waves as carriers, it is easy to use in various places such as home and outdoors. In addition, various data can be transmitted and received without using a relay device or the like.

このような通信システムに用いられる機器では、図15に示すように、高周波電波を受信して得られた信号の処理や高周波電波として送信する信号の生成等を行うための高周波信号処理用集積回路(以下「RFIC」という)80が設けられている。また、アンテナに接続される入出力端子85とRFIC80との間には、バラン90や帯域通過フィルタ(BPF)95等が設けられる。バラン90は平衡不平衡変換を行うものであり、バラン90の平衡側にRFIC80の差動アンプ80a、不平衡側に帯域通過フィルタ95がそれぞれ接続される。   In an apparatus used in such a communication system, as shown in FIG. 15, an integrated circuit for high-frequency signal processing for processing a signal obtained by receiving high-frequency radio waves, generating a signal to be transmitted as high-frequency radio waves, and the like. 80 (hereinafter referred to as “RFIC”) is provided. A balun 90, a band pass filter (BPF) 95, and the like are provided between the input / output terminal 85 connected to the antenna and the RFIC 80. The balun 90 performs balanced / unbalanced conversion. A differential amplifier 80a of the RFIC 80 is connected to the balanced side of the balun 90, and a band-pass filter 95 is connected to the unbalanced side.

バラン90は、例えば特許文献1に示されている。図16は従来のバランの等価回路を示しており、1つのマイクロストリップライン90ublと、マイクロストリップライン90ublに並行する2つのマイクロストリップライン90bl-a,90bl-bによって結合線路が構成される。マイクロストリップライン90ublの一端は不平衡側端子TP1と接続されて他端は開放状態とされる。このとき、マイクロストリップライン90ublはオープンスタブとなる。また、マイクロストリップライン90bl-a,90bl-bにおいて、マイクロストリップライン90ublの端部側に位置する端部は接地されて、マイクロストリップライン90ublの中央側に位置する端部は平衡側端子TP2,TP3と接続される。このとき、マイクロストリップライン90bl-a,90bl-bはショートスタブとなる。マイクロストリップライン90ublとマイクロストリップライン90bl-a,90bl-bは互いに並行に配線されるため、マイクロストリップライン90ublとマイクロストリップライン90bl-aの組合せ、およびマイクロストリップライン90ublとマイクロストリップライン90bl-bの組合せがそれぞれ共振器となる。ここで、バラン90の動作帯域の中心周波数に対する波長をλとしたとき、動作帯域の中心周波数で共振するように、マイクロストリップライン90ublの線路長はλ/2、マイクロストリップライン90bl-a,90bl-bの線路長はλ/4に設定される。   The balun 90 is shown in Patent Document 1, for example. FIG. 16 shows an equivalent circuit of a conventional balun, and a coupled line is constituted by one microstrip line 90ubl and two microstrip lines 90bl-a and 90bl-b parallel to the microstrip line 90ubl. One end of the microstrip line 90ubl is connected to the unbalanced terminal TP1, and the other end is opened. At this time, the microstrip line 90ubl becomes an open stub. Further, in the microstrip lines 90bl-a and 90bl-b, the end part located on the end part side of the microstrip line 90ubl is grounded, and the end part located on the center side of the microstrip line 90ubl is the balanced side terminal TP2, Connected with TP3. At this time, the microstrip lines 90bl-a and 90bl-b are short stubs. Since the microstrip line 90ubl and the microstrip lines 90bl-a and 90bl-b are wired in parallel to each other, the combination of the microstrip line 90ubl and the microstrip line 90bl-a, and the microstrip line 90ubl and the microstrip line 90bl-b Each combination becomes a resonator. Here, when the wavelength with respect to the center frequency of the operation band of the balun 90 is λ, the line length of the microstrip line 90ubl is λ / 2 and the microstrip lines 90bl-a, 90bl so that resonance occurs at the center frequency of the operation band. The line length of -b is set to λ / 4.

このように構成されたバラン90において、マイクロストリップライン90ublに信号が入力されると、例えばマイクロストリップライン90bl-aから出力される信号の位相は90度進み、マイクロストリップライン90bl-bから出力される信号の位相は90度遅れる。すなわち、マイクロストリップライン90bl-aの出力とマイクロストリップライン90bl-bの出力の位相差が180度となり、平衡出力を得ることができる。   In the balun 90 configured as described above, when a signal is input to the microstrip line 90ubl, for example, the phase of the signal output from the microstrip line 90bl-a is advanced by 90 degrees and output from the microstrip line 90bl-b. The signal phase is delayed by 90 degrees. That is, the phase difference between the output of the microstrip line 90bl-a and the output of the microstrip line 90bl-b is 180 degrees, and a balanced output can be obtained.

特開2002−232215号公報JP 2002-232215 A

ところで、従来のバランは、マイクロストリップライン90ublの線路長をλ/2、マイクロストリップライン90bl-a,90bl-bの線路長をλ/4に設定しなければならないため小型化が困難である。また、上述のように帯域通過フィルタが必要であり、インピーダンスが異なるときには整合回路も必要となるため、通信システムを容易に小型化することができない。   By the way, the conventional balun is difficult to miniaturize because the line length of the microstrip line 90ubl must be set to λ / 2 and the line lengths of the microstrip lines 90bl-a and 90bl-b must be set to λ / 4. Further, as described above, a band-pass filter is required, and a matching circuit is also required when impedances are different. Therefore, the communication system cannot be easily downsized.

そこで、低コストで通信システムの小型化に貢献できるバランフィルタを提供するものである。   Accordingly, the present invention provides a balun filter that can contribute to downsizing of a communication system at low cost.

この発明に係るバランフィルタは、第1の導体層に設けられて、一端が不平衡側端子と接続されて他端が接地された不平衡側伝送線路と、第1の導体層に対して第1の誘電体層を介した第2の導体層に設けられ、かつ不平衡側伝送線路と並行に設けられて、一端が接地されて他端が第1の平衡側端子と接続された第1の平衡側伝送線路と、第2の導体層に設けられ、かつ不平衡側伝送線路と並行に設けられて、一端が接地されて他端が第2の平衡側端子と接続された第2の平衡側伝送線路と、不平衡側端子と不平衡側伝送線路との間に設けられたスパイラル形状のインダクタパターンで構成されたスタック型インダクタと波長短縮用コンデンサからなる低域フィルタとを備え、スパイラル形状のインダクタパターンは、基準線上を中心として、基準線より上側の半円形状の中心半径をRa(n)とし、最内周パターンの半径をRinとし、パターン幅をWLとし、パターン間隔をSPとし、自然数をnとしたとき、Ra(n)=Rin+(WL+SP)×(n−1)で設定され、基準線より下側の半円形状の中心半径をRb(n)としたとき、Rb(n)=Rin+(WL+SP)/2×nで設定されるものである。 The balun filter according to the present invention is provided on the first conductor layer, connected to the unbalanced terminal at one end and grounded at the other end, and to the first conductor layer. The first conductor layer is provided on the second conductor layer via the first dielectric layer, and is provided in parallel with the unbalanced transmission line. One end is grounded and the other end is connected to the first balanced terminal. A balanced transmission line, a second conductor layer, and provided in parallel with the unbalanced transmission line, one end of which is grounded and the other end is connected to the second balanced terminal. a balanced-side transmission line, and a low-pass filter consisting of a stack-type inductor and the wavelength shortening capacitor constituted by the inductor pattern spiral shape provided between the unbalanced terminal and the unbalanced-side transmission line, spiral The inductor pattern of the shape is centered on the reference line When the central radius of the semicircular shape above the reference line is Ra (n), the radius of the innermost peripheral pattern is Rin, the pattern width is WL, the pattern interval is SP, and the natural number is n, Ra (n ) = Rin + (WL + SP) × (n−1), and Rb (n) = Rin + (WL + SP) / 2 × n where Rb (n) is the center radius of the semicircular shape below the reference line It is set by .

この発明においては、例えば不平衡側端子に接続される回路とインピーダンスが整合するようにインダクタンスが設定されるスタック型インダクタと、通過帯域の中心周波数に応じて設定される不平衡側伝送線路の線路長を短くするために設けられた波長短縮用コンデンサを利用して低域フィルタが構成されて、不平衡側端子と不平衡側伝送線路間に設けられる。スタック型インダクタは、導体層に形成されたスパイラル形状のインダクタパターンと、該インダクタパターンとスパイラルの向きが逆で対称であり該インダクタパターンに重畳されるように他の導体層に形成されたインダクタパターンとを、流れる電流の向きが等しくなるように接続して構成される。   In the present invention, for example, a stack type inductor whose inductance is set so that impedance is matched with a circuit connected to the unbalanced terminal, and a line of the unbalanced transmission line set according to the center frequency of the passband. A low-pass filter is configured using a wavelength shortening capacitor provided to shorten the length, and is provided between the unbalanced terminal and the unbalanced transmission line. A stack type inductor has a spiral-shaped inductor pattern formed in a conductor layer, and an inductor pattern formed in another conductor layer so that the direction of the spiral is opposite to the inductor pattern and is superimposed on the inductor pattern. Are connected so that the directions of the flowing currents are equal.

この発明によれば、スタック型インダクタと波長短縮用コンデンサからなる低域フィルタが不平衡側端子と不平衡側伝送線路間に設けられるので、バランフィルタのフィルタ特性を急峻とすることができる。
According to the present invention, since the low-pass filter including the stack type inductor and the wavelength shortening capacitor is provided between the unbalanced side terminal and the unbalanced side transmission line, the filter characteristics of the balun filter can be made steep.

また、スタック型インダクタは、当該スタック型インダクタの一端が前記不平衡側端子と接続されて当該スタック型インダクタの他端が不平衡側伝送線路に接続される。不平衡側端子に接続される回路とインピーダンスが整合するようにインダクタンスが設定されるため、インピーダンスを整合させるための整合回路を設ける必要がなく、機器を小型化できる。
Further, stacked inductor, one end of the stacked inductor wherein connected to the unbalanced terminal is the other end of the stack type inductor is connected to the unbalanced-side transmission line. Because the circuit and the impedance connected to the unbalanced-side terminal is Ru is set inductance to match, it is not necessary to provide a matching circuit for matching the impedance, can be miniaturized devices.

また、スタック型インダクタは、導体層に形成されたスパイラル形状のインダクタパターンと、該インダクタパターンとスパイラルの向きが逆で対称であり該インダクタパターンに重畳されるように他の導体層に形成されたインダクタパターンとを、流れる電流の向きが等しくなるように接続して構成される。このため、インダクタパターン間の結合が強くなり、インダクタの基板占有面積を大きくしなくともインダクタンスを大きくできる。このため、バランフィルタが大きくなってしまうことを防止できる。
Further, the stack-type inductor, and the inductor pattern spiral shape formed on the conductor layer, is formed on the other conductor layer as the inductor pattern and the spiral direction is superimposed on and the inductor pattern symmetrical opposite The inductor pattern is connected so that the direction of the flowing current is equal. For this reason, the coupling between the inductor patterns becomes strong, and the inductance can be increased without increasing the substrate occupation area of the inductor. For this reason , it can prevent that a balun filter will become large.

さらに、不平衡側伝送線路の線路長を短くするために設けられた波長短縮用コンデンサが低域フィルタ利用されるので、コンデンサを別個に設ける必要がない。
Furthermore, since the wavelength shortening capacitor provided for shortening the line length of the unbalanced transmission line is used for the low-pass filter , it is not necessary to provide a capacitor separately.

以下、図を参照しながら、この発明の形態について説明する。図1は、本発明のバランフィルタ10を用いた機器の構成の一部を示しており、不平衡平衡変換機能にフィルタ機能等を混在させたバランフィルタ10は、RFIC80と例えばアンテナに接続される入出力端子85との間に設けられる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a part of the configuration of a device using a balun filter 10 of the present invention. A balun filter 10 in which a filter function and the like are mixed in an unbalanced balance conversion function is connected to an RFIC 80 and, for example, an antenna. It is provided between the input / output terminal 85.

図2は、電磁界結合を用いた共振器フィルタの等価回路である。共振器フィルタ50では、一方の端部が端子TPaと接続されて他方の端部が接地された共振電極PRaと、一方の端部が端子TPbと接続されて他方の端部が接地された共振電極PRbとが並行して設けられる。共振電極PRa,PRbの線路長は、通過域の中心周波数における波長をλとしたときλ/4とする。なお、共振電極PRa,PRbは、分布定数線路すなわちマイクロストリップラインやストリップラインを用いて構成する。   FIG. 2 is an equivalent circuit of a resonator filter using electromagnetic coupling. In the resonator filter 50, the resonance electrode PRa having one end connected to the terminal TPa and the other end grounded, and the resonance having one end connected to the terminal TPb and the other end grounded. The electrode PRb is provided in parallel. The line length of the resonant electrodes PRa and PRb is λ / 4 where λ is the wavelength at the center frequency of the pass band. The resonant electrodes PRa and PRb are configured using distributed constant lines, that is, microstrip lines and strip lines.

このように共振器フィルタ50を構成したとき、共振電極PRaに入力された信号の周波数が通過帯域の中心周波数となると、電磁界結合Mにより共振電極PRbから中心周波数の信号が出力される。すなわち、共振器フィルタ50は、帯域通過フィルタとして動作する。また、端子TPaと接地間に波長短縮用のコンデンサCaを設け、端子TPbと接地間にコンデンサCaと静電容量の等しい波長短縮用のコンデンサCbを設けるものとすれば、共振電極PRa,PRbの長さをλ/4より短くしても、中心周波数の信号を通過させることができる。   When the resonator filter 50 is configured in this way, when the frequency of the signal input to the resonance electrode PRa becomes the center frequency of the pass band, a signal having the center frequency is output from the resonance electrode PRb by the electromagnetic coupling M. That is, the resonator filter 50 operates as a band pass filter. If the wavelength shortening capacitor Ca is provided between the terminal TPa and the ground, and the wavelength shortening capacitor Cb having the same capacitance as the capacitor Ca is provided between the terminal TPb and the ground, the resonance electrodes PRa and PRb are provided. Even if the length is shorter than λ / 4, the signal of the center frequency can be passed.

図3は、バランフィルタの導出過程を説明するための図である。図3Aに示すように、バランの不平衡側伝送線路PRublと平衡側伝送線路PRbl-aについて考える。なお、不平衡側伝送線路PRublと平衡側伝送線路PRbl-aおよび後述する平衡側伝送線路PRbl-bは、分布定数線路すなわちマイクロストリップラインやストリップラインとする。   FIG. 3 is a diagram for explaining a derivation process of the balun filter. Consider the balun unbalanced transmission line PRubl and balanced transmission line PRbl-a as shown in FIG. 3A. The unbalanced transmission line PRubl, the balanced transmission line PRbl-a, and the balanced transmission line PRbl-b described later are distributed constant lines, that is, microstrip lines and strip lines.

不平衡側伝送線路PRublの一端は不平衡側端子TP1と接続して、不平衡側伝送線路PRublの他端は接地する。また、不平衡側伝送線路PRublに対して並行に配線された平衡側伝送線路PRbl-aは、一端を接地して他端を平衡側端子TP2と接続する。例えば、不平衡側伝送線路PRublの不平衡側端子TP1と接続された端部側を接地して、不平衡側伝送線路PRublの中央側を平衡側端子TP2と接続する。   One end of the unbalanced transmission line PRubl is connected to the unbalanced terminal TP1, and the other end of the unbalanced transmission line PRubl is grounded. The balanced transmission line PRbl-a wired in parallel to the unbalanced transmission line PRubl is grounded at one end and connected to the balanced terminal TP2 at the other end. For example, the end of the unbalanced transmission line PRubl connected to the unbalanced terminal TP1 is grounded, and the center side of the unbalanced transmission line PRubl is connected to the balanced terminal TP2.

ここで、図3Bに示すように、不平衡側端子TP1と接地間にコンデンサC1を設け、平衡側端子TP2と接地間にコンデンサC2を設けると、このときの等価回路は、図2に示す共振器フィルタ50の等価回路と等しくなり、帯域通過フィルタを構成できる。また、コンデンサC1,C2は、波長短縮用コンデンサに相当するものとなり、平衡側伝送線路PRbl-aの線路長が不平衡側伝送線路PRublの例えば1/2倍であるときは、コンデンサC2の静電容量をコンデンサC1の静電容量の2倍とする。   Here, as shown in FIG. 3B, when a capacitor C1 is provided between the unbalanced terminal TP1 and the ground, and a capacitor C2 is provided between the balanced terminal TP2 and the ground, the equivalent circuit at this time is shown in FIG. It becomes equal to the equivalent circuit of the filter 50, and a band pass filter can be configured. The capacitors C1 and C2 correspond to the wavelength shortening capacitors, and when the line length of the balanced transmission line PRbl-a is, for example, 1/2 times that of the unbalanced transmission line PRubl, the capacitor C2 is static. Let the capacitance be twice the capacitance of the capacitor C1.

次に、図3Cに示すように、不平衡側伝送線路PRublと平衡側伝送線路PRbl-bについて考える。不平衡側伝送線路PRublに対して並行に配線された平衡側伝送線路PRbl-bは、一端を接地して他端を平衡側端子TP2と接続する。例えば、不平衡側伝送線路PRublの接地された端部側を接地して、不平衡側伝送線路PRublの中央側を平衡側端子TP3と接続する。   Next, as shown in FIG. 3C, consider the unbalanced transmission line PRubl and the balanced transmission line PRbl-b. The balanced transmission line PRbl-b wired in parallel to the unbalanced transmission line PRubl has one end grounded and the other end connected to the balanced terminal TP2. For example, the grounded end side of the unbalanced transmission line PRubl is grounded, and the center side of the unbalanced transmission line PRubl is connected to the balanced terminal TP3.

この場合も、図3Dに示すように不平衡側端子TP1と接地間にコンデンサC1を設け、平衡側端子TP3と接地間にコンデンサC3を設けると、等価回路が帯域通過フィルタの等価回路と等しくなり、帯域通過フィルタを構成できる。また、コンデンサC1,C3は、波長短縮用コンデンサに相当するものとなり、平衡側伝送線路PRbl-bの線路長が不平衡側伝送線路PRublの例えば1/2倍であるときは、コンデンサC3の静電容量をコンデンサC1の2倍とする。   Also in this case, as shown in FIG. 3D, if a capacitor C1 is provided between the unbalanced terminal TP1 and the ground, and a capacitor C3 is provided between the balanced terminal TP3 and the ground, the equivalent circuit becomes equal to the equivalent circuit of the bandpass filter. A band pass filter can be constructed. The capacitors C1 and C3 correspond to the wavelength shortening capacitors, and when the line length of the balanced transmission line PRbl-b is, for example, 1/2 times that of the unbalanced transmission line PRubl, the capacitor C3 is static. The electric capacity is twice that of the capacitor C1.

図3Bと図3Dを組み合わせると図3Eに示す等価回路となり、平衡側端子TP2,TP3と接地間に設けられたコンデンサC2,C3は、図3Fに示すように平衡側端子TP2と平衡側端子TP3間に設けたコンデンサC23に置き換えることができる。なお、コンデンサC23の静電容量は、コンデンサC2あるいはコンデンサC3の静電容量の1/2倍である。このようにバランフィルタを構成することで、平衡側端子TP2,TP3間から帯域通過フィルタ処理が行われた平衡出力、あるいは不平衡側端子TP1と接地間から帯域通過フィルタ処理が行われた不平衡出力を得ることができる。   3B and 3D are combined into the equivalent circuit shown in FIG. 3E, and the capacitors C2 and C3 provided between the balanced terminals TP2 and TP3 and the ground are connected to the balanced terminal TP2 and the balanced terminal TP3 as shown in FIG. 3F. It can be replaced by a capacitor C23 provided therebetween. The capacitance of the capacitor C23 is ½ times the capacitance of the capacitor C2 or the capacitor C3. By configuring the balun filter in this way, the balanced output in which the band pass filter processing is performed between the balanced side terminals TP2 and TP3, or the unbalanced in which the band pass filter processing is performed between the unbalanced side terminal TP1 and the ground. Output can be obtained.

さらに、図4に示す等価回路のように、端子と共振電極との間にインダクタL1,L2,L3を追加してインピーダンス変換率を広くすることで、整合回路を設けることなくインピーダンス変換を行うことができる。ここで、インダクタL1,L2,L3は、小型化しても大きなインダクタンスを得ることができるように、スパイラル形状のインダクタパターンを積層したスタック型インダクタを用いる。このように、スタック型インダクタを用いることにより、1つの面でのスパイラル巻き数を増やすことなくインダクタンスを大きくできるので、インダクタの基板占有面積が大きくならず、インダクタを小型化できる。また、不平衡側端子TP1とコンデンサC1間にインダクタL4を設けて、インダクタL1,L4およびコンデンサC1によって低域フィルタ101を構成して、帯域通過フィルタの阻止帯域にノッチ周波数を設定する。すなわち、ノッチ周波数を帯域通過フィルタの通過帯域よりもわずかに高い周波数とすれば、バランフィルタのフィルタ特性を急峻なものとすることができる。なお、図4の等価回路で示す低域フィルタ101の構成は、不平衡側端子TP1が信号出力端子として用いられる場合を示すものであり、低域フィルタ101の回路構成は、図4に示すものに限られるものではない。   Further, as in the equivalent circuit shown in FIG. 4, impedance conversion is performed without providing a matching circuit by adding inductors L1, L2, and L3 between the terminal and the resonance electrode to widen the impedance conversion rate. Can do. Here, the inductors L1, L2, and L3 are stacked inductors in which spiral-shaped inductor patterns are stacked so that a large inductance can be obtained even if the inductors are reduced in size. As described above, by using the stack type inductor, the inductance can be increased without increasing the number of spiral turns on one surface, so that the area occupied by the substrate of the inductor is not increased, and the inductor can be downsized. Further, an inductor L4 is provided between the unbalanced terminal TP1 and the capacitor C1, and the low-pass filter 101 is constituted by the inductors L1, L4 and the capacitor C1, and the notch frequency is set in the stop band of the bandpass filter. That is, if the notch frequency is set to be slightly higher than the pass band of the band pass filter, the filter characteristics of the balun filter can be made steep. The configuration of the low-pass filter 101 shown in the equivalent circuit of FIG. 4 shows a case where the unbalanced side terminal TP1 is used as a signal output terminal, and the circuit configuration of the low-pass filter 101 is that shown in FIG. It is not limited to.

図5は、図4に示す等価回路のバランフィルタ10の平面図、図6は図5のA−A’位置の断面概略図、図7は図5のB−B’位置の断面概略図、図8はバランフィルタ10の分解斜視図を示している。   5 is a plan view of the balun filter 10 of the equivalent circuit shown in FIG. 4, FIG. 6 is a schematic cross-sectional view at the position AA ′ in FIG. 5, and FIG. 7 is a schematic cross-sectional view at the position BB ′ in FIG. FIG. 8 is an exploded perspective view of the balun filter 10.

第1誘電体層(絶縁層)12の裏面側には、接地導体層としての第1導体層11が形成されており、表面側には第2導体層13が形成されている。また、第1誘電体層12には、ビアホール(via hole)やスルーホール(through hole)等の導体層接続部(以下単に「ビア」という)121が設けられて、ビア121によって第1導体層11と第2導体層13が電気的に接続される。   A first conductor layer 11 as a ground conductor layer is formed on the back surface side of the first dielectric layer (insulating layer) 12, and a second conductor layer 13 is formed on the front surface side. Further, the first dielectric layer 12 is provided with a conductor layer connecting portion (hereinafter simply referred to as “via”) 121 such as a via hole or a through hole, and the first conductor layer is formed by the via 121. 11 and the second conductor layer 13 are electrically connected.

第2導体層13上には第3誘電体層15が形成されて、この第3誘電体層15上に第3導体層16が形成される。第3導体層16は、接地パターン161と接続パターン162で構成される。また、第3誘電体層15には、ビア151が設けられて、ビア151によって第2導体層13と第3導体層16の接地パターン161が電気的に接続される。   A third dielectric layer 15 is formed on the second conductor layer 13, and a third conductor layer 16 is formed on the third dielectric layer 15. The third conductor layer 16 includes a ground pattern 161 and a connection pattern 162. The third dielectric layer 15 is provided with a via 151, and the ground pattern 161 of the second conductor layer 13 and the third conductor layer 16 is electrically connected by the via 151.

第3導体層16上には、ビルドアップ形成面として用いられる平坦化面を形成するための第5誘電体層18が形成される。この第5誘電体層18上にコンデンサC1のコンデンサ電極189-c1とコンデンサC23のコンデンサ電極189-c23、コンデンサ電極189-c1,189-c23上に誘電体をそれぞれ形成したのち、第4導体層19を形成する。   On the third conductor layer 16, a fifth dielectric layer 18 for forming a flattened surface used as a buildup forming surface is formed. A dielectric is formed on the fifth dielectric layer 18 on the capacitor electrode 189-c1 of the capacitor C1, the capacitor electrode 189-c23 of the capacitor C23, and the capacitor electrodes 189-c1, 189-c23, and then the fourth conductor layer. 19 is formed.

第4導体層19は、接地パターン191,196、平衡側伝送線路PRbl-aとなる線路パターン192a、平衡側伝送線路PRbl-bとなる線路パターン192b、インダクタL1を構成するインダクタパターン193-L1,インダクタL2を構成するインダクタパターン193-L2,インダクタL3を構成するインダクタパターン193-L3,インダクタL4を構成するインダクタパターン193-L4、接続パターン194-a,194-b、コンデンサC1のコンデンサ電極195-c1、コンデンサC23のコンデンサ電極195-c23で構成される。線路パターン192a,192b、インダクタパターン193-L1,193-L2,193-L3,193-L4は、スパイラル形状とされている。また、接地パターン191は、接地パターン191の一部がコンデンサC1のコンデンサ電極189-c1と接続されるように形成する。   The fourth conductor layer 19 includes ground patterns 191, 196, a line pattern 192a that becomes the balanced transmission line PRbl-a, a line pattern 192b that becomes the balanced transmission line PRbl-b, an inductor pattern 193-L1, which constitutes the inductor L1, Inductor pattern 193-L2 constituting inductor L2, inductor pattern 193-L3 constituting inductor L3, inductor pattern 193-L4 constituting inductor L4, connection patterns 194-a and 194-b, capacitor electrode 195- of capacitor C1 c1 and a capacitor electrode 195-c23 of the capacitor C23. The line patterns 192a and 192b and the inductor patterns 193-L1, 193-L2, 193-L3, and 193-L4 have a spiral shape. The ground pattern 191 is formed so that a part of the ground pattern 191 is connected to the capacitor electrode 189-c1 of the capacitor C1.

第5誘電体層18には、第3導体層16と第4導体層19を電気的に接続するためのビア181〜186が設けられている。ビア181は、第4導体層19の接地パターン191,196と第3導体層16の接地パターン161を接続する。ビア182は、インダクタパターン193-L1のスパイラル外周端と第3導体層16の接続パターン162を接続する。この接続パターン162は、ビア183によって接続パターン194aと接続される。ビア184は、第4導体層19の線路パターン192aのスパイラル内周端と第3導体層16の接地パターン161を接続する。ビア185は、第4導体層19の線路パターン192bのスパイラル内周端と第3導体層16の接地パターン161を接続する。ビア186は、第4導体層19の接続パターン194bと第3導体層16の接地パターン161を接続する。   The fifth dielectric layer 18 is provided with vias 181 to 186 for electrically connecting the third conductor layer 16 and the fourth conductor layer 19. The via 181 connects the ground patterns 191 and 196 of the fourth conductor layer 19 and the ground pattern 161 of the third conductor layer 16. The via 182 connects the spiral outer peripheral end of the inductor pattern 193 -L 1 and the connection pattern 162 of the third conductor layer 16. The connection pattern 162 is connected to the connection pattern 194a through the via 183. The via 184 connects the spiral inner peripheral end of the line pattern 192 a of the fourth conductor layer 19 and the ground pattern 161 of the third conductor layer 16. The via 185 connects the spiral inner peripheral end of the line pattern 192 b of the fourth conductor layer 19 and the ground pattern 161 of the third conductor layer 16. The via 186 connects the connection pattern 194 b of the fourth conductor layer 19 and the ground pattern 161 of the third conductor layer 16.

第4導体層19上には、第6誘電体層20を介して第5導体層22が形成される。第5導体層22は、接地パターン221,226、不平衡側伝送線路PRublとなる線路パターン222、インダクタL1および不平衡側端子TP1を構成するインダクタパターン223-L1,インダクタL2を構成するインダクタパターン193-L2,インダクタL3を構成するインダクタパターン223-L3,インダクタL4を構成するインダクタパターン223-L4、平衡側端子TP2となるパターン224a、平衡側端子TP3となるパターン224bで構成される。   A fifth conductor layer 22 is formed on the fourth conductor layer 19 via a sixth dielectric layer 20. The fifth conductor layer 22 includes ground patterns 221 and 226, a line pattern 222 that becomes the unbalanced transmission line PRubl, an inductor pattern 223-L1 that constitutes the inductor L1 and the unbalanced terminal TP1, and an inductor pattern 193 that constitutes the inductor L2. -L2, inductor pattern 223-L3 constituting inductor L3, inductor pattern 223-L4 constituting inductor L4, pattern 224a serving as balanced side terminal TP2, and pattern 224b serving as balanced side terminal TP3.

第6誘電体層20には、第4導体層19と第5導体層22を電気的に接続するためのビア201〜214が設けられている。ビア201は、第4導体層19の接地パターン191,196と第5導体層22の接地パターン221,226を接続する。ビア202は、インダクタパターン193-L4のスパイラル外周端とインダクタパターン223-L1の不平衡側端子TP1側を接続する。ビア203は、インダクタパターン193-L4のスパイラル内周端とインダクタパターン223-L4のスパイラル内周端を接続する。ビア204は、コンデンサ電極195-c1とインダクタパターン223-L4のスパイラル外周端を接続する。ビア205は、インダクタパターン193-L1のスパイラル内周端とインダクタパターン223-L1のスパイラル内周端を接続する。ビア206は、接続パターン194aと線路パターン222における不平衡側端子TP1側の端部を接続する。このとき、線路パターン222における不平衡側端子TP1側の端部は、接続パターン194aと接続パターン162を介してインダクタL1と接続されることとなる。ビア207は、線路パターン192aのスパイラル外周端とインダクタパターン223-L2のスパイラル外周端を接続する。ビア208は、インダクタパターン193-L2のスパイラル内周端とインダクタパターン223-L2のスパイラル内周端を接続する。ビア209は、インダクタパターン193-L2のスパイラル外周端とパターン224aを接続する。ビア210は、接続パターン194bと線路パターン222における接地側の端部を接続する。このとき、線路パターン222における接地側の端部は、接続パターン194aを介して接地パターン161に接続されることとなる。ビア211は、線路パターン192bのスパイラル外周端とインダクタパターン223-L3のスパイラル外周端を接続する。ビア212は、インダクタパターン193-L3のスパイラル内周端とインダクタパターン223-L3のスパイラル内周端を接続する。ビア213は、インダクタパターン193-L3のスパイラル外周端とパターン224bを接続する。ビア214は、コンデンサ電極195-c23とパターン224bを接続する。   The sixth dielectric layer 20 is provided with vias 201 to 214 for electrically connecting the fourth conductor layer 19 and the fifth conductor layer 22. The via 201 connects the ground patterns 191 and 196 of the fourth conductor layer 19 and the ground patterns 221 and 226 of the fifth conductor layer 22. The via 202 connects the spiral outer peripheral end of the inductor pattern 193-L4 and the unbalanced side terminal TP1 side of the inductor pattern 223-L1. The via 203 connects the spiral inner peripheral end of the inductor pattern 193-L4 and the spiral inner peripheral end of the inductor pattern 223-L4. The via 204 connects the capacitor electrode 195-c1 and the spiral outer peripheral end of the inductor pattern 223-L4. The via 205 connects the inner spiral end of the inductor pattern 193-L1 and the inner spiral end of the inductor pattern 223-L1. The via 206 connects the end of the connection pattern 194a and the line pattern 222 on the unbalanced terminal TP1 side. At this time, the end of the line pattern 222 on the unbalanced side terminal TP1 side is connected to the inductor L1 via the connection pattern 194a and the connection pattern 162. The via 207 connects the spiral outer peripheral end of the line pattern 192a and the spiral outer peripheral end of the inductor pattern 223-L2. The via 208 connects the spiral inner peripheral end of the inductor pattern 193-L2 and the spiral inner peripheral end of the inductor pattern 223-L2. The via 209 connects the outer peripheral end of the inductor pattern 193-L2 and the pattern 224a. The via 210 connects the connection pattern 194 b and the end of the line pattern 222 on the ground side. At this time, the end on the ground side in the line pattern 222 is connected to the ground pattern 161 via the connection pattern 194a. The via 211 connects the spiral outer peripheral end of the line pattern 192b and the spiral outer peripheral end of the inductor pattern 223-L3. The via 212 connects the inner spiral end of the inductor pattern 193-L3 and the inner spiral end of the inductor pattern 223-L3. The via 213 connects the spiral outer peripheral end of the inductor pattern 193-L3 and the pattern 224b. The via 214 connects the capacitor electrode 195-c23 and the pattern 224b.

なお、第3導体層16において、線路パターン222や線路パターン192a,192bによって共振器が形成される領域とインダクタL1,L2,L3,L4が形成される領域およびコンデンサC1,C23が形成される領域と対応する領域は、スロットとされて第4誘電体層17が設けられる。さらに、第2導体層13においても、線路パターン222や線路パターン192a,192bによって共振器が形成される領域とインダクタL1,L2,L3,L4が形成される領域およびコンデンサC1,C23が形成される領域と対応する領域は、スロットとされて第2誘電体層14が設けられる。このようにスロットを設けることで、共振器やインダクタを構成するためのパターンと第1導体層11との間に他の導体層が設けられていないので、共振器やインダクタは他の導体層による影響を受けることがなく、所望の特性のバランフィルタ10を形成できる。   In the third conductor layer 16, a region where the resonator is formed by the line pattern 222 and the line patterns 192a, 192b, a region where the inductors L1, L2, L3, L4 are formed, and a region where the capacitors C1, C23 are formed. The region corresponding to is a slot and the fourth dielectric layer 17 is provided. Further, also in the second conductor layer 13, a region where the resonator is formed by the line pattern 222 and the line patterns 192a, 192b, a region where the inductors L1, L2, L3, L4 are formed, and capacitors C1, C23 are formed. The region corresponding to the region is formed as a slot, and the second dielectric layer 14 is provided. By providing the slot in this way, no other conductor layer is provided between the pattern for configuring the resonator and the inductor and the first conductor layer 11, and therefore the resonator and the inductor are formed by the other conductor layer. The balun filter 10 having desired characteristics can be formed without being affected.

ここで、第4導体層19と第5導体層22に設けたインダクタパターンによって構成されるスタック型インダクタは、電磁界結合が強くなるようにスパイラル形状のインダクタパターンを形成する。図9は、スパイラル形状のインダクタパターン形成方法の一例を示している。基準線SPrefに対して上側の領域Uaでは、基準線SPLref上の位置CTAを中心として半円状のパターンを形成する。また、基準線SPLrefに対して下側の領域Ubでは位置CTAから基準線SPLref方向にオフセットさせた位置CTBを中心として、上側のインダクタパターンと接続される半円状のパターンを形成する。具体的には、パターン幅WL,パターン間隔SP,最内周パターンの半径をRinとしたとき、基準線SPLrefの上側では、位置CTAを中心として式(1)から求めた中心半径Ra(n)の半円状のパターンを設ける。なお、nは自然数である。
Ra(n)=Rin+(WL+SP)×(n−1) ・・・(1)
Here, the stack type inductor constituted by the inductor patterns provided in the fourth conductor layer 19 and the fifth conductor layer 22 forms a spiral-shaped inductor pattern so that electromagnetic field coupling is strengthened. FIG. 9 shows an example of a spiral inductor pattern forming method. In the upper region Ua with respect to the reference line SP L ref, a semicircular pattern is formed around the position CTA on the reference line SPLref . Further, in the lower region Ub with respect to the reference line SPLref , a semicircular pattern connected to the upper inductor pattern is formed around the position CTB offset from the position CTA in the direction of the reference line SPLref . Specifically, when the pattern width WL, the pattern interval SP, and the radius of the innermost peripheral pattern are Rin, the center radius Ra (n) obtained from the equation (1) with the position CTA as the center above the reference line SPLref. A semicircular pattern is provided. Note that n is a natural number.
Ra (n) = Rin + (WL + SP) × (n−1) (1)

また、基準線の下側では、位置CTAから(WL+SP)/2だけオフセットさせた位置CTBを中心として、式(2)から求めた中心半径の半円状パターンを設ける。
Rb(n)=Rin+(WL+SP)/2×n ・・・(2)
On the lower side of the reference line, a semicircular pattern having a center radius obtained from Expression (2) is provided with the position CTB offset by (WL + SP) / 2 from the position CTA as the center.
Rb (n) = Rin + (WL + SP) / 2 × n (2)

このようにして、上側の半円状のパターンと下側の半円状のパターンを接続させることにより、スパイラル形状のインダクタパターンを形成できる。 In this manner, a spiral inductor pattern can be formed by connecting the upper semicircular pattern and the lower semicircular pattern.

図10は、プレーナー型インダクタとスタック型インダクタを示している。プレーナー型インダクタは、図10A,図10Bに示すように、直線状の引き出しパターンPLa上に、誘電体層(図示せず)を介してスパイラル形状のインダクタパターンPLbを形成して、引き出しパターンPLaの端部とインダクタパターンPLbのスパイラル内周側の端部とを接続して構成されている。ここで、引き出しパターンPLaに流れる電流とスパイラル形状のインダクタパターンPLbに流れる電流は、図10Cに示すように直交するため、磁界への影響は少ない。しかし、引き出しパターンPLaとインダクタパターンPLbが交差することからパターン間で寄生容量を持ち、この寄生容量によってインダクタの特性が影響されてしまう。   FIG. 10 shows a planar type inductor and a stack type inductor. As shown in FIGS. 10A and 10B, the planar inductor is formed by forming a spiral inductor pattern PLb on a linear lead pattern PLa via a dielectric layer (not shown), and The end portion is connected to the end portion on the spiral inner peripheral side of the inductor pattern PLb. Here, since the current flowing in the lead pattern PLa and the current flowing in the spiral inductor pattern PLb are orthogonal as shown in FIG. 10C, the influence on the magnetic field is small. However, since the lead pattern PLa and the inductor pattern PLb intersect, there is a parasitic capacitance between the patterns, and the inductor characteristics are affected by this parasitic capacitance.

一方、スタック型インダクタは、図10D,図10Eに示すように、一つの導体層に形成されたスパイラル形状のインダクタパターンPLcと、このインダクタパターンPLcとスパイラル向きが逆で対称であり、このインダクタパターンPLcに誘電体層(図示せず)を介して重畳されるように他の導体層にスパイラル形状のインダクタパターンPLdが形成されて、流れる電流の向きが等しくなるように接続される。例えば、スパイラルの中心から時計方向に伸びているインダクタパターンPLcと、インダクタパターンPLcと対称で反時計方向に伸びているインダクタパターンPLdが、誘電体層を介して重畳されて、スパイラル内周側の端部が接続される。このとき、インダクタパターンPLcに流れる電流とインダクタパターンPLdに流れる電流は、図10Fに示すように等しい向きとされるので、プレーナー型インダクタよりも磁界が強められて、インダクタンスを高くできる。さらに、インダクタパターンPLcとインダクタパターンPLdのスパイラル巻き数に[(n−1)+0.5]ターン分の差を設けるものとする。このとき、信号の入出力は、スパイラル形状のインダクタパターンの最外周側であって互いに反対方向の位置で行われることになるので、引き出しパターンとインダクタパターンが交差したり引き出しパターン同士が並行となることがなく、パターン間の寄生容量によるインダクタ特性の影響を小さくできる。   On the other hand, as shown in FIGS. 10D and 10E, the stack type inductor has a spiral-shaped inductor pattern PLc formed in one conductor layer, and this inductor pattern PLc is symmetrical with the spiral direction reversed. A spiral inductor pattern PLd is formed on another conductor layer so as to be superimposed on PLc via a dielectric layer (not shown), and connected so that the directions of flowing currents are equal. For example, an inductor pattern PLc extending in the clockwise direction from the center of the spiral and an inductor pattern PLd extending in the counterclockwise direction symmetrical to the inductor pattern PLc are superposed via a dielectric layer, so that The ends are connected. At this time, since the current flowing through the inductor pattern PLc and the current flowing through the inductor pattern PLd are in the same direction as shown in FIG. 10F, the magnetic field is strengthened and the inductance can be increased compared to the planar type inductor. Furthermore, a difference of [(n−1) +0.5] turns is provided in the number of spiral turns of the inductor pattern PLc and the inductor pattern PLd. At this time, since signal input / output is performed at positions on the outermost peripheral side of the spiral inductor pattern and in opposite directions, the lead pattern intersects with the inductor pattern or the lead patterns are parallel to each other. Therefore, the influence of the inductor characteristics due to the parasitic capacitance between patterns can be reduced.

次に、バランフィルタ10の生成手順を説明する。バランフィルタ10は、いわゆるプリント配線基板をベース基板として用いるものとする。例えば、誘電体(絶縁)基板の両面に導体層が設けられたプリント配線基板をベース基板として用いる。   Next, the generation procedure of the balun filter 10 will be described. The balun filter 10 uses a so-called printed wiring board as a base board. For example, a printed wiring board in which a conductor layer is provided on both surfaces of a dielectric (insulating) substrate is used as the base substrate.

ベース基板の一方の導体層を第1導体層11、他方の導体層を第2導体層13とする。この第1導体層11と第2導体層13は、例えば第1誘電体層12に設けられたビア121によって電気的に接続する。ビア121は、第1誘電体層12の一部に、この第1誘電体層12を貫通する孔をドリル加工やレーザー加工あるいはプラズマエッチング加工等により穿設する。この穿設された孔にビアメッキ、例えば硫酸銅溶液を用いた電解メッキにより銅からなる導電膜を成膜することで形成できる。   One conductor layer of the base substrate is a first conductor layer 11, and the other conductor layer is a second conductor layer 13. The first conductor layer 11 and the second conductor layer 13 are electrically connected by, for example, a via 121 provided in the first dielectric layer 12. In the via 121, a hole penetrating the first dielectric layer 12 is formed in a part of the first dielectric layer 12 by drilling, laser processing, plasma etching processing, or the like. A conductive film made of copper can be formed in the hole thus formed by via plating, for example, electrolytic plating using a copper sulfate solution.

第1誘電体層12は、誘電損失の少ない(低tanδ)材料、すなわち高周波特性に優れた材料により形成されていることが好ましい。このような材料としては、例えばポリフェニールエチレン(PPE)や、ビスマレイドトリアジン(BT−resin)、ポリテトラフルオロエチレン、ポリイミド、液晶ポリマー(LCP)、ポリノルボルネン(PNB)等の有機材料、セラミックあるいはセラミックと有機材料との混合材料等を挙げることができる。また、第1誘電体層12は、上述した材料の他に、耐熱性及び耐薬品性を有する材料により形成されていることが好ましく、このような材料からなる誘電基板として、廉価なエポキシ系基板FR−5等を挙げることができる。このように、廉価な有機材料を第1誘電体層12として用いることで、従来のような比較的高価とされるSi基板やガラス基板を用いた場合と比べて、コストの低減化が図られている。   The first dielectric layer 12 is preferably formed of a material with low dielectric loss (low tan δ), that is, a material excellent in high frequency characteristics. Examples of such materials include polyphenylethylene (PPE), bismaleidotriazine (BT-resin), polytetrafluoroethylene, polyimide, liquid crystal polymer (LCP), polynorbornene (PNB), and other organic materials, ceramics, or Examples thereof include a mixed material of ceramic and organic material. The first dielectric layer 12 is preferably formed of a material having heat resistance and chemical resistance in addition to the above-described materials, and an inexpensive epoxy substrate is used as a dielectric substrate made of such a material. FR-5 etc. can be mentioned. In this way, by using an inexpensive organic material as the first dielectric layer 12, the cost can be reduced compared to the case where a relatively expensive Si substrate or glass substrate is used. ing.

第2導体層13には、スロットを形成する。例えばエッチング法を用いてスロット部分の導体を除去する。このスロットが形成された第2導体層13上には、誘電率の高い絶縁材料例えばエポキシ系樹脂を用いた絶縁膜を形成する。絶縁膜形成後、第2導体層13上に形成された絶縁膜を、第2導体層13が露出するまで研磨する。これにより、スロットの領域に第2誘電体層14を形成できるとともに、第2導体層13と第2誘電体層14との段差がなくなる。この第2導体層13と第2誘電体層14上に、第3誘電体層15と第3導体層16を形成する。   Slots are formed in the second conductor layer 13. For example, the conductor in the slot portion is removed using an etching method. On the second conductor layer 13 in which the slot is formed, an insulating film using an insulating material having a high dielectric constant, for example, an epoxy resin is formed. After the insulating film is formed, the insulating film formed on the second conductor layer 13 is polished until the second conductor layer 13 is exposed. Thereby, the second dielectric layer 14 can be formed in the slot region, and the step between the second conductor layer 13 and the second dielectric layer 14 is eliminated. A third dielectric layer 15 and a third conductor layer 16 are formed on the second conductor layer 13 and the second dielectric layer 14.

この第3誘電体層15と第3導体層16は、例えばRCC(Resin Coated Copper:樹脂付き銅箔)を用いるものとして、この第3導体層16に接地パターン161と接続パターン162を形成する。また、第3誘電体層15にビア151を設けて、第3導体層16の接地パターン161を第2導体層13に接続する。   The third dielectric layer 15 and the third conductor layer 16 are made of, for example, RCC (Resin Coated Copper), and a ground pattern 161 and a connection pattern 162 are formed on the third conductor layer 16. A via 151 is provided in the third dielectric layer 15 to connect the ground pattern 161 of the third conductor layer 16 to the second conductor layer 13.

第3導体層16上には、誘電率の高い絶縁材料例えばエポキシ系樹脂を用いた絶縁膜を形成する。絶縁膜形成後、第導体層1上に形成された絶縁膜を、第導体層1が露出するまで研磨する。これにより、スロットの領域に第4誘電体層17を形成できるとともに、第3導体層16と第4誘電体層17との段差がなくなる。この第3導体層16と第4誘電体層17上に、ビルドアップ形成面として用いられる平坦化面を形成するための第5誘電体層18が形成される。 On the third conductor layer 16, an insulating film using an insulating material having a high dielectric constant, for example, an epoxy resin is formed. After the insulating film is formed, an insulating film formed on the third conductive layer 1 6 is polished until the third conductive layer 1 6 is exposed. Thereby, the fourth dielectric layer 17 can be formed in the slot region, and the step between the third conductor layer 16 and the fourth dielectric layer 17 is eliminated. A fifth dielectric layer 18 is formed on the third conductor layer 16 and the fourth dielectric layer 17 to form a planarized surface used as a buildup formation surface.

第5誘電体層18は、低誘電損失(低tanδ)の材料、すなわち高周波特性に優れた有機材料により形成されていることが好ましく、また、耐熱性及び耐薬品性を有する有機材料により形成されていることが好ましい。このような有機材料としては、例えばベンゾシクブテン(BCB)や、ポリイミド、ポリノルボルネン(PNB)、液晶ポリマー(LCP)、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂等を挙げることができる。そして、第5誘電体層18は、このような有機材料を、例えばスピンコート法や、カーテンコート法、ロールコート法、ディップコート法等の塗布均一性及び膜厚制御に優れた方法を用いて、ビルドアップ形成面上に精度良く形成することができる。   The fifth dielectric layer 18 is preferably formed of a material having a low dielectric loss (low tan δ), that is, an organic material having excellent high frequency characteristics, and is formed of an organic material having heat resistance and chemical resistance. It is preferable. Examples of such an organic material include benzocyclbutene (BCB), polyimide, polynorbornene (PNB), liquid crystal polymer (LCP), epoxy resin, and acrylic resin. The fifth dielectric layer 18 is made of such an organic material using a method excellent in coating uniformity and film thickness control, such as a spin coat method, a curtain coat method, a roll coat method, or a dip coat method. It can be formed with high accuracy on the build-up forming surface.

この第5誘電体層18上には、コンデンサC1,C23を形成する。コンデンサC1,C23は、例えば酸化タンタル(Ta25)を誘電体として用いた酸化タンタルコンデンサを用いる。酸化タンタルコンデンサは、一方の電極となるコンデンサ電極189-c1,189-c23上に窒化タンタル(TaN)膜を形成する。窒化タンタル膜は、CVD(Chemical Vapor Deposition)やスパッタリングあるいは蒸着法等によって形成できる。この窒化タンタル膜の表層部を陽極酸化して、高誘電率かつ低損失な高誘電体材料である酸化タンタル(Ta25)膜とする。 Capacitors C 1 and C 23 are formed on the fifth dielectric layer 18. As the capacitors C1 and C23, for example, tantalum oxide capacitors using tantalum oxide (Ta 2 O 5 ) as a dielectric are used. In the tantalum oxide capacitor, a tantalum nitride (TaN) film is formed on capacitor electrodes 189-c1 and 189-c23 which are one electrode. The tantalum nitride film can be formed by CVD (Chemical Vapor Deposition), sputtering, or vapor deposition. The surface layer portion of the tantalum nitride film is anodized to form a tantalum oxide (Ta 2 O 5 ) film that is a high dielectric constant and low loss high dielectric material.

また、半導体プロセスで用いられる薄膜形成技術や厚膜形成技術によって、第4導体層19を形成する。この第4導体層19は、第5誘電体層18上に例えばニッケルや銅等からなる導電膜を全面に亘って成膜したのち、フォトリソグラフィ技術等を用いてパターン形成を行う。例えば、硫酸銅溶液を用いた電解メッキにより、数μm程度の銅からなる導電膜を成膜する。その後、所定の形状にパターニングされたフォトレジストをマスクとして用いて導電膜をエッチングすることにより、第4導体層19の各パターンを形成する。このとき、コンデンサC1のコンデンサ電極は接地パターン191、コンデンサC23のコンデンサ電極はインダクタパターン193-L2とそれぞれ接続される。さらに、コンデンサC1の酸化タンタル膜上にコンデンサ電極195-c1、コンデンサC23の酸化タンタル膜上にコンデンサ電極195-c23がそれぞれ形成される。   Further, the fourth conductor layer 19 is formed by a thin film forming technique or a thick film forming technique used in the semiconductor process. The fourth conductor layer 19 is formed by forming a conductive film made of, for example, nickel or copper on the fifth dielectric layer 18 over the entire surface, and then forming a pattern using a photolithography technique or the like. For example, a conductive film made of copper of about several μm is formed by electrolytic plating using a copper sulfate solution. Thereafter, each pattern of the fourth conductor layer 19 is formed by etching the conductive film using a photoresist patterned in a predetermined shape as a mask. At this time, the capacitor electrode of the capacitor C1 is connected to the ground pattern 191, and the capacitor electrode of the capacitor C23 is connected to the inductor pattern 193-L2. Further, a capacitor electrode 195-c1 is formed on the tantalum oxide film of the capacitor C1, and a capacitor electrode 195-c23 is formed on the tantalum oxide film of the capacitor C23.

第6誘電体層20は、第5誘電体層18と同様に、上述の有機材料を用いて構成する。第5導体層22は、第4導体層19と同様に導電膜を全面にわたって成膜したのち、フォトリソグラフィ技術等を用いて、第5導体層22の各パターンを形成する。また、第5誘電体層18にビア181〜186を設けて第3導体層16のパターンと第4導体層19のパターンを接続する。また、第6誘電体層20にはビア201〜214を設けておき、第4導体層19のパターンと第5導体層22のパターンを接続する。   Similar to the fifth dielectric layer 18, the sixth dielectric layer 20 is configured using the organic material described above. The fifth conductor layer 22 is formed with a conductive film over the entire surface in the same manner as the fourth conductor layer 19, and then each pattern of the fifth conductor layer 22 is formed using a photolithography technique or the like. Further, vias 181 to 186 are provided in the fifth dielectric layer 18 to connect the pattern of the third conductor layer 16 and the pattern of the fourth conductor layer 19. Further, vias 201 to 214 are provided in the sixth dielectric layer 20 to connect the pattern of the fourth conductor layer 19 and the pattern of the fifth conductor layer 22.

このように、不平衡側伝送線路の開放端側に低域フィルタ101を設けたことにより、フィルタ特性を急峻とすることができる。また、低域フィルタ101やインピーダンス変換を行うために設けたインダクタとして、スパイラル形状のインダクタパターンを積層したスタック型インダクタを用いたことによりバランフィルタを小型化できる。さらに、不平衡側伝送線路や平衡側電送線路の線路長を短くするために設けられた波長短縮用コンデンサが低域フィルタ101のコンデンサとして利用されるので、コンデンサを別個に設ける必要がなく、バランフィルタが大きくなってしまうことを防止できる。   Thus, by providing the low-pass filter 101 on the open end side of the unbalanced transmission line, the filter characteristics can be made steep. Further, as the low-pass filter 101 and the inductor provided for impedance conversion, the balun filter can be reduced in size by using a stack type inductor in which spiral-shaped inductor patterns are laminated. Further, since the wavelength shortening capacitor provided for shortening the line length of the unbalanced transmission line and the balanced transmission line is used as the capacitor of the low-pass filter 101, it is not necessary to provide a separate capacitor, and the balun It is possible to prevent the filter from becoming large.

バランフィルタ10の第1導体層11,第2導体層13,第3導体層16は層厚10〜20μm、第4導体層19,第5導体層22は層厚1〜10μmとする。第1誘電体層12は比誘電率3.1,層厚200μm、第2誘電体層14は比誘電率3.8,層厚10〜20μm、第3誘電体層15は比誘電率2.8,層厚60μm、第4誘電体層17は比誘電率3.8,層厚10〜20μm、第5誘電体層18は比誘電率2.6,層厚10〜20μm、第6誘電体層20は比誘電率2.6,層厚10〜20μmとする。また、積層基板を保護するため、積層基板の両面に層厚20μm,比誘電率4.3のレジスト層を設ける。   The first conductor layer 11, the second conductor layer 13, and the third conductor layer 16 of the balun filter 10 have a layer thickness of 10 to 20 μm, and the fourth conductor layer 19 and the fifth conductor layer 22 have a layer thickness of 1 to 10 μm. The first dielectric layer 12 has a relative dielectric constant of 3.1, a layer thickness of 200 μm, the second dielectric layer 14 has a relative dielectric constant of 3.8, a layer thickness of 10 to 20 μm, and the third dielectric layer 15 has a relative dielectric constant of 2. 8, layer thickness 60 μm, the fourth dielectric layer 17 has a relative dielectric constant of 3.8, layer thickness 10-20 μm, the fifth dielectric layer 18 has a relative dielectric constant 2.6, layer thickness 10-20 μm, sixth dielectric The layer 20 has a relative dielectric constant of 2.6 and a layer thickness of 10 to 20 μm. In order to protect the multilayer substrate, a resist layer having a layer thickness of 20 μm and a relative dielectric constant of 4.3 is provided on both surfaces of the multilayer substrate.

ここで、スパイラル形状のインダクタパターンは、中心半径Rin=120μm、パターン幅WL=30μm、パターン間隔SP=30μm、スパイラル形状のインダクタパターンが設けられている部分のスロット径SL=100μmとする。また、スパイラル巻き数は3.5とする。この場合、プレーナー型インダクタのインダクタンスは、図11の破線で示す特性となり、1GHzで2.8nH程度となる。また、積層数が2層であるスタック型インダクタ(下層のスパイラル巻き数は3)は、図11の実線で示す特性となり、1GHzで7.1nH程度となる。すなわち、インダクタの基板占有面積を大きくすることなくインダクタンスを2.5倍とすることができる。なお、プレーナー型インダクタのQ値は図12の破線で示す特性、スタック型インダクタのQ値は図12の実線で示す特性となり、1GHzのQ値はプレーナー型インダクタとスタック型で略同じ値となった。   Here, the spiral-shaped inductor pattern has a center radius Rin = 120 μm, a pattern width WL = 30 μm, a pattern interval SP = 30 μm, and a slot diameter SL = 100 μm at a portion where the spiral-shaped inductor pattern is provided. The number of spiral turns is 3.5. In this case, the inductance of the planar type inductor has a characteristic indicated by a broken line in FIG. 11 and is about 2.8 nH at 1 GHz. Further, the stack type inductor having two layers (the number of spiral turns in the lower layer is 3) has the characteristics shown by the solid line in FIG. 11 and is about 7.1 nH at 1 GHz. That is, the inductance can be increased 2.5 times without increasing the substrate occupation area of the inductor. The Q value of the planar inductor is the characteristic indicated by the broken line in FIG. 12, and the Q value of the stacked inductor is the characteristic indicated by the solid line in FIG. 12. The Q value of 1 GHz is substantially the same value for the planar inductor and the stacked type. It was.

次に、スタック型インダクタを用いたバランフィルタの実施例について説明する。不平衡側端子TP1から50Ω線路で線路幅が約40μmとされている配線に2つのスタック型インダクタL1,L4を接続する。このインダクタL1,L4およびインダクタL2,L3のインダクタパターンの配線幅は約20μmで間隔は約20μmとする。インダクタL1は共振電極に接続し、インダクタL4は0.5〜100pFのコンデンサC1に接続する。共振電極となる線路パターン192a,192b,222の配線幅は約40μmで間隔は約10μmとする。   Next, an embodiment of a balun filter using a stack type inductor will be described. Two stack type inductors L1 and L4 are connected from the unbalanced side terminal TP1 to a wiring having a 50Ω line and a line width of about 40 μm. The inductor L1, L4 and the inductor pattern of the inductors L2, L3 have a wiring width of about 20 μm and a spacing of about 20 μm. The inductor L1 is connected to the resonance electrode, and the inductor L4 is connected to the capacitor C1 of 0.5 to 100 pF. The line widths of the line patterns 192a, 192b, and 222 serving as resonant electrodes are about 40 μm and the interval is about 10 μm.

ここで、帯域通過フィルタの中心周波数が約0.6GHzとなるようにコンデンサC1,C23の容量および共振電極の電極長を調整する。また、平衡側端子TP2,TP3に接続される平衡線路とのインピーダンス整合がはかれるようにインダクタL2、L3を設定する。さらに、インダクタL1,L4およびコンデンサC1によって低域通過フィルタを構成して、ノッチ周波数を約0.9GHzに設定する。このときのフィルタ特性は、図13の実線で示す特性となる。このため、低域通過フィルタを設けていない場合の破線で示すフィルタ特性よりも、阻止特性を急峻にできる。   Here, the capacitances of the capacitors C1 and C23 and the electrode length of the resonance electrode are adjusted so that the center frequency of the bandpass filter is about 0.6 GHz. Further, the inductors L2 and L3 are set so that impedance matching with the balanced line connected to the balanced side terminals TP2 and TP3 is achieved. Further, a low-pass filter is constituted by the inductors L1, L4 and the capacitor C1, and the notch frequency is set to about 0.9 GHz. The filter characteristic at this time is the characteristic indicated by the solid line in FIG. For this reason, the blocking characteristic can be made steeper than the filter characteristic indicated by the broken line when no low-pass filter is provided.

以上のように、本発明にかかるバランフィルタは、所望の周波数の高周波信号に対して不平衡平衡変換を行う際に有用であり、高周波信号を用いる機器の小型化に適用している。   As described above, the balun filter according to the present invention is useful when performing unbalanced / balanced conversion on a high-frequency signal having a desired frequency, and is applied to miniaturization of equipment using the high-frequency signal.

バランフィルタを用いた機器の構成の一部を示す図である。It is a figure which shows a part of structure of the apparatus using a balun filter. 共振器フィルタの等価回路を示す図である。It is a figure which shows the equivalent circuit of a resonator filter. バランフィルタの導出過程を示す図である。It is a figure which shows the derivation | leading-out process of a balun filter. 本発明のバランフィルタの等価回路を示す図である。It is a figure which shows the equivalent circuit of the balun filter of this invention. バランフィルタの概略構成を示す平面図である。It is a top view which shows schematic structure of a balun filter. A−A’位置の断面概略図である。It is the cross-sectional schematic of A-A 'position. B−B’位置の断面概略図である。It is a cross-sectional schematic diagram of a B-B 'position. バランフィルタの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a balun filter. スパイラル形状のインダクタパターン形成方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the spiral-shaped inductor pattern formation method. プレーナー型インダクタとスタック型インダクタを示す図である。It is a figure which shows a planar type | mold inductor and a stack type | mold inductor. スタック型インダクタのインダクタンス値を示す図である。It is a figure which shows the inductance value of a stack type inductor. スタック型インダクタのQ値を示す図である。It is a figure which shows Q value of a stack type inductor. 実施例のフィルタ特性を示す図である。It is a figure which shows the filter characteristic of an Example. 通信システムで用いられる機器の構成の一部を示す図である。It is a figure which shows a part of structure of the apparatus used with a communication system. 従来のバランの等価回路を示す図である。It is a figure which shows the equivalent circuit of the conventional balun.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・バランフィルタ、11・・・第1導体層、12・・・第1誘電体層、13・・・第2導体層、14・・・第2誘電体層、15・・・第3誘電体層、16・・・第3導体層、17・・・第4誘電体層、18・・・第5誘電体層、19・・・第4導体層、20・・・第6誘電体層、22・・・第5導体層、50・・・共振器フィルタ、80・・・RFIC、80a・・・差動アンプ、85・・・入出力端子、90・・・バラン、90bl-a,90bl-b,90ubl・・・マイクロストリップライン、95・・・帯域通過フィルタ、101・・・低域フィルタ、121,151,181〜186,201〜214・・・ビア、161,191,196,221・・・接地パターン、162,194a,194b・・・接続パターン、189-c1,189-c23,195-c1,195-c23・・・コンデンサ電極、192a,192b,222・・・線路パターン、193-L1,193-L2,193-L3,223-L1,223-L2,223-L3・・・インダクタパターン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Balun filter, 11 ... 1st conductor layer, 12 ... 1st dielectric layer, 13 ... 2nd conductor layer, 14 ... 2nd dielectric layer, 15 ... 1st 3 dielectric layers, 16 ... third conductor layer, 17 ... fourth dielectric layer, 18 ... fifth dielectric layer, 19 ... fourth conductor layer, 20 ... sixth dielectric Body layer, 22 ... fifth conductor layer, 50 ... resonator filter, 80 ... RFIC, 80a ... differential amplifier, 85 ... input / output terminal, 90 ... balun, 90bl- a, 90bl-b, 90ubl ... microstrip line, 95 ... band pass filter, 101 ... low pass filter, 121, 151, 181-186, 201-214 ... via, 161, 191, 196, 221 ... ground pattern, 162, 194a, 194b ... connection pattern, 189-c1, 189-c 23,195-c1,195-c23... Capacitor electrode, 192a, 192b, 222... Line pattern, 193-L1, 193-L2, 193-L3, 223-L1, 223-L2, 223-L3,. ..Inductor patterns

Claims (4)

第1の導体層に設けられて、一端が不平衡側端子と接続されて他端が接地された不平衡側伝送線路と、
前記第1の導体層に対して第1の誘電体層を介した第2の導体層に設けられ、かつ前記不平衡側伝送線路と並行に設けられて、一端が接地されて他端が第1の平衡側端子と接続された第1の平衡側伝送線路と、
前記第2の導体層に設けられ、かつ前記不平衡側伝送線路と並行に設けられて、一端が接地されて他端が第2の平衡側端子と接続された第2の平衡側伝送線路と、
前記不平衡側端子と前記不平衡側伝送線路との間に設けられたスパイラル形状のインダクタパターンで構成されたスタック型インダクタと波長短縮用コンデンサからなる低域フィルタとを備え、
前記スパイラル形状のインダクタパターンは、
基準線上を中心として、前記基準線より上側の半円形状の中心半径をRa(n)とし、
最内周パターンの半径をRinとし、
パターン幅をWLとし、
パターン間隔をSPとし、
自然数をnとしたとき、
Ra(n)=Rin+(WL+SP)×(n−1)
で設定され、
前記基準線より下側の半円形状の中心半径をRb(n)としたとき、
Rb(n)=Rin+(WL+SP)/2×n
で設定されるバランフィルタ。
An unbalanced transmission line provided on the first conductor layer and having one end connected to the unbalanced terminal and the other end grounded;
The first conductor layer is provided on the second conductor layer via the first dielectric layer, and is provided in parallel with the unbalanced transmission line. One end is grounded and the other end is the first conductor layer. A first balanced transmission line connected to one balanced terminal;
A second balanced transmission line provided on the second conductor layer and provided in parallel with the unbalanced transmission line, one end grounded and the other end connected to a second balanced terminal; ,
A stack type inductor composed of a spiral-shaped inductor pattern provided between the unbalanced side terminal and the unbalanced side transmission line, and a low-pass filter comprising a wavelength shortening capacitor ;
The spiral-shaped inductor pattern is
Ra (n) is the center radius of the semicircular shape above the reference line and centered on the reference line.
Let Rin be the radius of the innermost pattern,
The pattern width is WL,
The pattern interval is SP,
When the natural number is n,
Ra (n) = Rin + (WL + SP) × (n−1)
Set in
When the center radius of the semicircular shape below the reference line is Rb (n),
Rb (n) = Rin + (WL + SP) / 2 × n
Balun filter set in .
前記スタック型インダクタは、
当該スタック型インダクタの一端が前記不平衡側端子と接続されて当該スタック型インダクタの他端が前記不平衡側伝送線路に接続される請求項1記載のバランフィルタ。
The stacked inductor is
The balun filter according to claim 1, wherein one end of the stacked inductor is connected to the unbalanced side terminal, and the other end of the stacked inductor is connected to the unbalanced transmission line.
前記スタック型インダクタは、
前記第1又は第2の導体層に形成されたスパイラル形状のインダクタパターンと、該インダクタパターンとスパイラルの向きが逆で対称であり該インダクタパターンに重畳されるように前記第1又は第2の導体層に形成されたインダクタパターンとを、流れる電流の向きが等しくなるように接続して構成した請求項1記載のバランフィルタ。
The stacked inductor is
A spiral-shaped inductor pattern formed on the first or second conductor layer, and the first or second conductor so that the direction of the inductor pattern and the spiral is opposite and symmetric and is superimposed on the inductor pattern The balun filter according to claim 1, wherein the inductor pattern formed in the layer is connected so that directions of flowing currents are equal.
前記第1の平衡側端子と前記第2の平衡側端子との間に前記波長短縮用コンデンサを設ける請求項1記載のバランフィルタ。   The balun filter according to claim 1, wherein the wavelength shortening capacitor is provided between the first balanced side terminal and the second balanced side terminal.
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