JP4428338B2 - Powder for grinding, grinding method, and method for producing substrate for flat display panel - Google Patents

Powder for grinding, grinding method, and method for producing substrate for flat display panel Download PDF

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Description

本発明は、研削用粉末、研削方法およびフラットディスプレイパネル用基板の製造方法に関するものである。 The present invention relates to a powder for grinding, a grinding method and a flat display panel substrate manufacturing how.

研削加工の一種として、金属粉末を被処理部材に噴射し、金属粉末中の粒子が被処理部材に衝突させることにより研削する方法(ショットブラスト法)がある。
ショットブラスト法で用いる研削材としては、砂やセラミックス材料等の非金属材料の粉末や、各種金属粉末等が用いられる。
特に、金属粉末は、含まれる粒子の比重が大きいために、粒子を小径化しても十分な衝突エネルギー(運動エネルギー)を被処理部材に付与することができ、優れた研削性を発揮する。これにより、微細な研削も可能になる。
As a kind of grinding process, there is a method (shot blasting) in which metal powder is sprayed onto a member to be processed and particles in the metal powder collide with the member to be processed.
As the abrasive used in the shot blasting method, powders of non-metallic materials such as sand and ceramic materials, various metal powders and the like are used.
In particular, since the specific gravity of the contained particles is large, the metal powder can impart sufficient collision energy (kinetic energy) to the member to be processed even if the particle size is reduced, and exhibits excellent grindability. Thereby, fine grinding is also possible.

さらに、研削材として、アモルファス金属の粉末を用いることも提案されている。アモルファス金属は、その原子配列が不規則なため、結晶粒界をほとんど含まない。このため、結晶金属のように転位による変形や結晶粒界を起点とする破壊が生じ難く、硬度および靭性が高いという特徴を有する。
このようなアモルファス金属の研削材としては、例えば、Fe−Ni−B−Si−Mo系のものが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
Furthermore, it has also been proposed to use amorphous metal powder as the abrasive. Amorphous metal has almost no crystal grain boundaries because its atomic arrangement is irregular. For this reason, unlike the crystalline metal, deformation due to dislocations and breakage starting from the crystal grain boundary hardly occur, and the hardness and toughness are high.
As such an amorphous metal abrasive, for example, an Fe-Ni-B-Si-Mo-based one has been proposed (for example, see Patent Document 1).

ところで、このようなアモルファス金属の研削材を用いて、ガラス材料(非磁性材料)を研削することもある。
研削後の研削材は、研削屑とともに混在状態にあるが、この中から、研削材を選択的に回収して、研削材として再利用することが行われている。
回収には、磁選分離、すなわち磁力によりアモルファス金属の研削材のみを選別・回収する方法が用いられる。
By the way, a glass material (nonmagnetic material) may be ground using such an amorphous metal abrasive.
The grinding material after grinding is in a mixed state together with grinding scraps, and from this, the grinding material is selectively collected and reused as the grinding material.
For the recovery, magnetic separation is used, that is, a method of selecting and recovering only the amorphous metal abrasive by the magnetic force.

ところが、特許文献1の組成のアモルファス金属は、保磁力が高いために、磁力によって誘引された際に磁化され、外部磁場を取り除いても高い残留磁化が生じる。
このため残留磁化が生じた金属粉末では、粉末同士が凝集し、粒度分布が大きくなる方向にシフトすることとなる。その結果、被処理部材に衝突する粒子のサイズが大型化して加工精度が低下したり、噴射ノズルに金属粉末が滞留するような不具合を招いていた。
また、特許文献1の組成のアモルファス金属は、最大磁束密度が低いため、回収効率が低いという問題もある。
However, since the amorphous metal having the composition of Patent Document 1 has a high coercive force, it is magnetized when attracted by the magnetic force, and high residual magnetization is generated even if the external magnetic field is removed.
For this reason, in the metal powder in which remanent magnetization has occurred, the powder aggregates and shifts in a direction in which the particle size distribution increases. As a result, the size of the particles that collide with the member to be processed is increased, resulting in a decrease in processing accuracy and a problem that metal powder stays in the injection nozzle.
Moreover, since the amorphous metal of the composition of patent document 1 has the low maximum magnetic flux density, there also exists a problem that recovery efficiency is low.

特開2002−4015号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2002-4015

本発明の目的は、効率よく研削することが可能で、かつ残留磁化が生じ難い研削用粉末、かかる研削用粉末を用いて被処理部材を効率よく研削し、研削用粉末を再利用可能な状態で回収することができる研削方法、および研削用粉末を用いて隔壁を効率よく形成可能なフラットディスプレイパネル用基板の製造方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a grinding powder that can be efficiently ground and hardly causes residual magnetization, a state in which a workpiece is efficiently ground using the grinding powder, and the grinding powder can be reused. in grinding method can be recovered, and to provide manufacturing how efficiently formable flat display panel substrate with the partition walls by using the powder for grinding.

上記目的は、下記の本発明により達成される。
本発明の研削用粉末は、アモルファス金属で構成され、被処理部材の表面に衝突させることにより、前記表面を研削する研削用粉末であって、
前記アモルファス金属は、Fe、Si、B、CrおよびCを必須元素とし
Siの含有率が4〜9wt%、
Bの含有率が2〜5wt%、
Crの含有率が1〜3wt%、
Cの含有率が0.01〜1wt%
残部がFeおよび前記必須元素以外の不純物であることを特徴とする。
これにより、効率よく研削することが可能で、かつ残留磁化が生じ難い研削用粉末を得ることができる。
The above object is achieved by the present invention described below.
The grinding powder of the present invention is composed of an amorphous metal and is a grinding powder for grinding the surface by colliding with the surface of the member to be treated.
The amorphous metal has Fe, Si, B, Cr and C as essential elements ,
Si content is 4-9 wt%,
The content of B is 2 to 5 wt%,
Cr content is 1 to 3 wt%,
C content is 0.01 to 1 wt% ,
The balance is an impurity other than Fe and the essential elements .
As a result, it is possible to obtain a grinding powder that can be ground efficiently and hardly causes residual magnetization.

本発明の研削用粉末では、平均粒径が、3〜30μmであることが好ましい。
このように微小な粉末を研削用粉末として用いた場合、局所的な研削を行うことができる。その結果、例えば、被処理部材表面の目的とする微細なパターンを高い寸法精度で研削したり、被処理部材表面をより滑らかに平滑化したりすることができる。
本発明の研削用粉末では、レーザー式粒度分布計で測定した粒径50μm以上の粉末の比率が、10wt%以下であることが好ましい。
これにより、研削用粉末中に、著しく粒径の大きな粒子が含まれることによる研削の寸法精度の低下を防止することができる。
In the grinding powder of the present invention, the average particle size is preferably 3 to 30 μm.
When such a fine powder is used as a grinding powder, local grinding can be performed. As a result, for example, a desired fine pattern on the surface of the member to be processed can be ground with high dimensional accuracy, or the surface of the member to be processed can be smoothed more smoothly.
In the grinding powder of the present invention, the ratio of the powder having a particle size of 50 μm or more measured with a laser particle size distribution meter is preferably 10 wt% or less.
As a result, it is possible to prevent a reduction in the dimensional accuracy of grinding due to the inclusion of particles having a significantly large particle size in the grinding powder.

本発明の研削用粉末では、前記アモルファス金属は、実質的にNiおよびCoを含まないことが好ましい。
これにより、最大磁束密度がより大きく、かつ保磁力がより小さくなるため、本発明の研削用粉末は、磁力による選別の際に、容易に誘引され得る。その結果、研削用粉末を確実に分離・回収することができる。
In the grinding powder of the present invention, it is preferable that the amorphous metal does not substantially contain Ni and Co.
Thereby, since the maximum magnetic flux density is larger and the coercive force is smaller, the grinding powder of the present invention can be easily attracted when sorting by magnetic force. As a result, the grinding powder can be reliably separated and collected.

本発明の研削用粉末では、アトマイズ法により粉末化して得られたものであることが好ましい。
これにより、結晶構造および結晶粒界の極めて少ないアモルファス金属の球状粉末を効率よく製造することができる。
本発明の研削用粉末では、前記アトマイズ法は、水アトマイズ法であることが好ましい。
これにより、結晶粒界の特に少ないアモルファス金属の球状粉末を効率よく製造することができる。
The grinding powder of the present invention is preferably obtained by pulverization by an atomizing method.
As a result, it is possible to efficiently produce a spherical powder of amorphous metal having a very small crystal structure and crystal grain boundary.
In the grinding powder of the present invention, the atomizing method is preferably a water atomizing method.
Thereby, the spherical powder of an amorphous metal with especially few crystal grain boundaries can be manufactured efficiently.

本発明の研削用粉末では、前記アモルファス金属は、その最大磁束密度が20[emu/g]以上、かつ、保磁力が5[Oe]以下であることが好ましい。
これにより、一般的な磁場発生手段によって容易に分離・回収された研削材は、凝集がほとんど生じないものとなる。
本発明の研削用粉末では、前記不純物の含有率は、2wt%以下であることが好ましい。
本発明の研削用粉末では、磁力により選択的に回収され、少なくとも1回の再利用に供されることが好ましい。
本発明の研削用粉末は、再利用時においても、初回利用時と同等の研削性を発揮し得るものであるため、再利用により、研削にかかるコストを低減し得るものとなる。
In the grinding powder of the present invention, the amorphous metal preferably has a maximum magnetic flux density of 20 [emu / g] or more and a coercive force of 5 [Oe] or less.
Thereby, the agglomerated material that is easily separated and collected by a general magnetic field generating means is hardly agglomerated.
In the grinding powder of the present invention, the impurity content is preferably 2 wt% or less.
In the grinding powder of the present invention, it is preferable that it is selectively recovered by magnetic force and used for at least one reuse.
Since the grinding powder of the present invention can exhibit grindability equivalent to that at the first use even when reused, the cost for grinding can be reduced by reuse.

本発明の研削方法は、被処理部材の表面に、本発明の研削用粉末を衝突させて前記表面を研削することを特徴とする。
これにより、被処理部材を効率よく研削することができる。
本発明の研削方法は、非磁性を示す被処理部材の表面に、本発明の研削用粉末を衝突させて前記表面を研削する工程と、
前記研削により生じた被処理部材の研削屑と前記衝突後の研削用粉末との混在物中から、磁力により誘引して、前記研削用粉末を選択的に回収する工程とを有することを特徴とする。
これにより、被処理部材を効率よく研削し、研削用粉末を再利用可能な状態で回収することができる。
The grinding method of the present invention is characterized in that the surface is ground by causing the grinding powder of the present invention to collide with the surface of the member to be treated.
Thereby, a to-be-processed member can be ground efficiently.
The grinding method of the present invention comprises a step of grinding the surface of the member to be processed that exhibits non-magnetism by causing the grinding powder of the present invention to collide,
A step of selectively collecting the grinding powder by attracting it by magnetic force from a mixture of grinding waste of the member to be treated generated by the grinding and the grinding powder after the collision. To do.
Thereby, a to-be-processed member can be efficiently ground and the powder for grinding can be collect | recovered in the state which can be reused.

本発明のフラットディスプレイパネル用基板の製造方法は、画素空間を画成する隔壁を有するフラットディスプレイパネル用基板の製造方法であって、
ガラス材料を含有するガラス含有層上に、開口部を有するマスクを形成する工程と、
前記マスクの開口部から露出する前記ガラス含有層を、本発明の研削用粉末を衝突させて研削する工程と、
前記研削されたガラス含有層を焼成し、前記隔壁を得る工程とを有することを特徴とする。
これにより、寸法精度の高い隔壁を有するフラットディスプレイパネル用基板を効率よく製造することができる。
The method for manufacturing a flat display panel substrate of the present invention is a method for manufacturing a flat display panel substrate having partition walls that define a pixel space,
Forming a mask having an opening on a glass-containing layer containing a glass material;
Grinding the glass-containing layer exposed from the opening of the mask by colliding the grinding powder of the present invention;
And firing the ground glass-containing layer to obtain the partition wall.
Thereby, the flat display panel board | substrate which has a partition with a high dimensional accuracy can be manufactured efficiently.

以下、本発明の研削用粉末、研削方法、フラットディスプレイパネル用基板の製造方法、フラットディスプレイパネル用基板、フラットディスプレイパネルおよび電子機器について、添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
[研削用粉末]
まず、本発明の研削用粉末について説明する。
Hereinafter, a grinding powder, a grinding method, a flat display panel substrate manufacturing method, a flat display panel substrate, a flat display panel, and an electronic device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[Grinding powder]
First, the grinding powder of the present invention will be described.

本発明の研削用粉末は、アモルファス金属で構成され、被処理部材の表面に衝突させることにより、表面を研削するものである。
アモルファス金属は、原子配列が不規則なため、内部に結晶構造および結晶粒界をほとんど含まないものである。このため、結晶金属のように転位による変形や結晶粒界を起点とする破壊が生じ難く、硬度および靭性が高いという特徴を有する。
The grinding powder of the present invention is made of an amorphous metal, and grinds the surface by colliding with the surface of the member to be treated.
Amorphous metal has an irregular atomic arrangement and therefore contains almost no crystal structure and no grain boundaries. For this reason, unlike the crystalline metal, deformation due to dislocations and breakage starting from the crystal grain boundary hardly occur, and the hardness and toughness are high.

また、本発明の研削用粉末は、金属材料で構成されているため、金属材料の組成によっても異なるが、比較的比重が高い。このため、研削用粉末中の粒子サイズを小さくしても、各粒子が十分な衝突エネルギー(運動エネルギー)を被処理部材に付与することができ、優れた研削性を発揮する。これにより、微細なパターンを高い寸法精度で研削することができるという利点も有する。
このようなアモルファス金属は、Feを主成分とし、Si、B、CrおよびCを含むものである。そして、Siの含有率が4〜9wt%、Bの含有率が2〜5wt%、Crの含有率が1〜3wt%、Cの含有率が0.01〜1wt%とされる。
Moreover, since the grinding powder of the present invention is composed of a metal material, it has a relatively high specific gravity although it varies depending on the composition of the metal material. For this reason, even if the particle size in the powder for grinding is reduced, each particle can impart sufficient collision energy (kinetic energy) to the member to be processed, and exhibits excellent grindability. This also has the advantage that a fine pattern can be ground with high dimensional accuracy.
Such an amorphous metal contains Fe as a main component and contains Si, B, Cr, and C. The Si content is 4-9 wt%, the B content is 2-5 wt%, the Cr content is 1-3 wt%, and the C content is 0.01-1 wt%.

Feは、研削用粉末の主成分をなし、研削用粉末の基本的な機械的特性(強度、靭性、硬度等)、磁性等に大きな影響を与える成分である。なお、本発明において、主成分とは、研削用粉末を構成する各成分の中で、最も含有率の高いもののことを言う。
Siは、研削用粉末を構成する金属のアモルファス化を促進し得る成分である。Siの含有率は、前述したように、4〜9wt%とされるが、4.5〜8.5wt%であるのが好ましい。これにより、金属のアモルファス化がより進行し、含まれる結晶構造および結晶粒界を減少させることができる。
Fe is a component that constitutes the main component of the grinding powder and has a great influence on the basic mechanical properties (strength, toughness, hardness, etc.) and magnetism of the grinding powder. In addition, in this invention, a main component means the thing with the highest content rate among each component which comprises the powder for grinding.
Si is a component that can promote the amorphization of the metal constituting the grinding powder. As described above, the Si content is 4 to 9 wt%, but is preferably 4.5 to 8.5 wt%. Thereby, the amorphization of the metal further proceeds, and the included crystal structure and crystal grain boundary can be reduced.

Bは、Siと同様に、金属のアモルファス化を促進し得る成分である。Bの含有率は、前述したように、2〜5wt%とされるが、2.5〜4wt%であるのが好ましい。これにより、金属のアモルファス化がより進行し、含まれる結晶構造および結晶粒界を減少させることができる。
Crは、研削用粉末の耐食性を向上させ得る成分であり、B、Siと同様にアモルファス化を促進し得る成分である。Crの含有率は、前述したように、1〜3wt%とされるが、1.5〜2.5wt%であるのが好ましい。これにより、研削用粉末の硬度、耐磨耗性および耐食性がより高くなり、研削に供されても、研削用粉末の破壊や磨耗、変質・酸化・劣化等を確実に防止することができる。
Cは、B、Si、Crと同様にアモルファス化を促進し得る成分である。Cの含有率は、前述したように、0.01〜1wt%とされるが、0.3〜1wt%であるのが好ましい。これにより、結晶粒の肥大化を確実に抑制することができ、アモルファス化のより進行した金属が得られる。
B, like Si, is a component that can promote metal amorphization. As described above, the B content is set to 2 to 5 wt%, but is preferably 2.5 to 4 wt%. Thereby, the amorphization of the metal further proceeds, and the included crystal structure and crystal grain boundary can be reduced.
Cr is a component that can improve the corrosion resistance of the powder for grinding, and is a component that can promote amorphization like B and Si. As described above, the Cr content is 1 to 3 wt%, but is preferably 1.5 to 2.5 wt%. Thereby, the hardness, abrasion resistance and corrosion resistance of the powder for grinding become higher, and even when subjected to grinding, destruction, wear, alteration, oxidation, deterioration, etc. of the grinding powder can be reliably prevented.
C is a component that can promote amorphization in the same manner as B, Si, and Cr. As described above, the C content is set to 0.01 to 1 wt%, but is preferably 0.3 to 1 wt%. Thereby, the enlargement of the crystal grains can be surely suppressed, and a metal that is more amorphized can be obtained.

また、アモルファス金属は、実質的にNiおよびCoの双方を含まないのが好ましい。NiおよびCoは、Feと同様に強磁性体に属するが、Feよりも高価なため、これらを含まないことで、研削用粉末のコストを低減することができる。
また、本発明の研削用粉末を構成するアモルファス金属は、軟磁性を示すものである。このような研削用粉末は、小さい外部磁場によっても容易に磁化されることとなる。その結果、研削用粉末の磁束密度が大きくなって、磁力による研削用粉末の選別・回収が容易に行われる。さらに、回収された研削用粉末では、外部磁場を取り除くと、残留磁化が極めて低くなるため、粒子同士の凝集を確実に防止することができる。
Moreover, it is preferable that an amorphous metal does not contain both Ni and Co substantially. Ni and Co belong to a ferromagnetic material like Fe, but are more expensive than Fe. Therefore, Ni and Co do not contain Ni and Co, thereby reducing the cost of the powder for grinding.
The amorphous metal constituting the grinding powder of the present invention exhibits soft magnetism. Such a grinding powder is easily magnetized even by a small external magnetic field. As a result, the magnetic flux density of the grinding powder is increased, and the grinding powder is easily selected and collected by magnetic force. Further, in the collected grinding powder, when the external magnetic field is removed, the residual magnetization becomes extremely low, so that aggregation of particles can be reliably prevented.

このようなことから、本発明の研削用粉末は、磁力により回収された後、少なくとも1回の再利用に供されるのが好ましい。本発明の研削用粉末は、再利用時においても、初回利用時と同等の研削性を発揮し得るものであるため、再利用により、研削にかかるコストを低減し得るものとなる。   For this reason, the grinding powder of the present invention is preferably used at least once after being recovered by magnetic force. Since the grinding powder of the present invention can exhibit grindability equivalent to that at the first use even when reused, the cost for grinding can be reduced by reuse.

さらに、Feを主成分とし、実質的にNiおよびCoを含まないアモルファス金属は、これらを含むものに比べて、最大磁束密度がより大きく、かつ保磁力がより小さくなるため、本発明の研削用粉末は、磁力による選別の際に、容易に誘引され得る。その結果、研削用粉末を確実に分離・回収することができる。
この場合、アモルファス金属の最大磁束密度が20[emu/g]以上、かつ、保磁力が5[Oe]以下であるのが好ましく、最大磁束密度が30[emu/g]以上、かつ、保磁力が3[Oe]以下であるのがより好ましい。最大磁束密度および保磁力が前記範囲内にあるアモルファス金属で構成された研削用粉末は、一般的な磁場発生手段によって容易に分離・回収され、回収した研削材は、凝集がほとんど生じないものとなる。
Furthermore, since an amorphous metal containing Fe as a main component and substantially free of Ni and Co has a higher maximum magnetic flux density and a smaller coercive force than those containing them, it is suitable for grinding according to the present invention. The powder can be easily attracted during magnetic sorting. As a result, the grinding powder can be reliably separated and collected.
In this case, it is preferable that the maximum magnetic flux density of the amorphous metal is 20 [emu / g] or more and the coercive force is 5 [Oe] or less, the maximum magnetic flux density is 30 [emu / g] or more, and the coercive force. Is more preferably 3 [Oe] or less. Grinding powder composed of amorphous metal whose maximum magnetic flux density and coercive force are within the above ranges are easily separated and collected by a general magnetic field generating means, and the collected abrasive material is hardly agglomerated. Become.

なお、上記のアモルファス金属は、不純物として、他の元素を含んでいてもよいが、その場合、上記の必須構成元素以外の元素の含有率の総和は、2wt%以下とするのが好ましい。
以上のようなアモルファス金属で構成された研削用粉末は、結晶構造および結晶粒界が特に少なく、そのサイズを小さくしても、破壊や磨耗、変質・酸化・劣化等を確実に防止し得るものである。その結果、研削終了後の研削用粉末を回収して再利用することが可能となり、研削にかかるコストの低減も図ることができる。
The amorphous metal may contain other elements as impurities. In that case, the total content of elements other than the essential constituent elements is preferably 2 wt% or less.
Grinding powder composed of amorphous metal as described above has particularly few crystal structures and grain boundaries, and can reliably prevent destruction, wear, alteration, oxidation, deterioration, etc. even when the size is reduced. It is. As a result, the grinding powder after grinding can be collected and reused, and the cost for grinding can be reduced.

また、本発明の研削用粉末は、いかなる方法で製造されたものでもよく、例えば、アトマイズ法、冷却ロール法、インゴットの粉砕方法等を用いることにより製造することができるが、これらの中でもアトマイズ法により粉末化して得られたものが好ましい。
アトマイズ法は、冷却媒(液体やガス等)を高圧のジェットとして噴射するとともに、加熱されて液体状態となった金属原料(溶湯)を、このジェットに衝突させることにより、金属原料を粉末化する方法である。溶湯は、ジェットと衝突することにより、微細な液滴となるとともに、この液滴が冷却媒と接触することにより急速に冷却され固化する。このとき、液滴の冷却が極めて急速に行われるため、各原子が液体状態の無秩序な原子配置を保存したまま固定に至る。さらに、液滴が表面張力によって球形化するため、固化することによりその形状も保持される。
Further, the grinding powder of the present invention may be produced by any method, for example, it can be produced by using an atomizing method, a cooling roll method, an ingot crushing method, etc., among these, the atomizing method What was obtained by pulverizing by is preferable.
The atomizing method injects a cooling medium (liquid, gas, etc.) as a high-pressure jet, and pulverizes the metal raw material by causing the metal raw material (molten metal) that has been heated to be in a liquid state to collide with the jet. Is the method. The molten metal becomes fine droplets by colliding with the jet, and rapidly cools and solidifies when the droplets come into contact with the cooling medium. At this time, since the droplet is cooled very rapidly, each atom is fixed while maintaining the disordered atomic arrangement in the liquid state. Furthermore, since the droplets are spheroidized by the surface tension, the shape is maintained by solidifying.

その結果、液滴は、ほぼ球状をなすアモルファス金属の粉末となる。
このようにアトマイズ法によれば、結晶構造および結晶粒界の極めて少ないアモルファス金属の球状粉末を効率よく製造することができる。
さらに、アトマイズ法としては、水アトマイズ法、ガスアトマイズ法、真空溶解ガスアトマイズ法、ガス−水アトマイズ法、超音波アトマイズ法等が挙げられるが、これらの中でも水アトマイズ法が好ましい。
As a result, the droplet becomes an amorphous metal powder having a substantially spherical shape.
As described above, according to the atomizing method, it is possible to efficiently produce a spherical powder of amorphous metal having a very small crystal structure and crystal grain boundary.
Furthermore, examples of the atomizing method include a water atomizing method, a gas atomizing method, a vacuum dissolution gas atomizing method, a gas-water atomizing method, and an ultrasonic atomizing method. Among these, the water atomizing method is preferable.

水アトマイズ法では、冷却媒として、密度および熱容量の比較的大きな水を用いる。このため、溶湯が高圧の水ジェットに衝突した際に、大きなエネルギーを受けて飛散し、より微細な液滴となる。さらに、微細な液滴を、熱容量の大きな水に接触させることにより、特に急速に冷却することができる。その結果、結晶粒界の特に少ないアモルファス金属の球状粉末を効率よく製造することができる。   In the water atomization method, water having a relatively large density and heat capacity is used as a cooling medium. For this reason, when the molten metal collides with a high-pressure water jet, it receives large energy and scatters to form finer droplets. Furthermore, it is possible to cool the droplets particularly rapidly by bringing them into contact with water having a large heat capacity. As a result, it is possible to efficiently produce a spherical powder of amorphous metal with particularly few crystal grain boundaries.

なお、上記のように高圧の水ジェットに衝突させる方法のほかに、容器内を高速で流動している水流中に溶湯を噴霧することにより、アモルファス金属の粉末を得るようにしてもよい。
また、アモルファス金属の粉末を製造後、必要に応じて、粉末に対して分級を行うようにしてもよい。
分級の方法としては、例えば、乾式分級法、湿式分級法、ふるい分け分級法等を用いることができる。
In addition to the above-described method of colliding with a high-pressure water jet, amorphous metal powder may be obtained by spraying the molten metal into a water stream flowing at high speed in the container.
In addition, after the amorphous metal powder is manufactured, the powder may be classified as necessary.
As a classification method, for example, a dry classification method, a wet classification method, a sieving classification method, or the like can be used.

本発明の研削用粉末は、その平均粒径が3〜30μm程度であるのが好ましく、5〜15μm程度であるのがより好ましい。このように微小な粉末を研削用粉末として用いた場合、局所的な研削を行うことができる。その結果、例えば、被処理部材表面の目的とする微細なパターンを高い寸法精度で研削したり、被処理部材表面をより滑らかに平滑化したりすることができる。
また、レーザー式粒度分布計で測定した粒径50μm以上の粉末の比率が、10wt%以下であるのが好ましく、5wt%以下であるのがより好ましい。これにより、研削用粉末中に、著しく粒径の大きな粒子が含まれることによる研削の寸法精度の低下を防止することができる。
The average particle size of the powder for grinding of the present invention is preferably about 3 to 30 μm, more preferably about 5 to 15 μm. When such a fine powder is used as a grinding powder, local grinding can be performed. As a result, for example, a desired fine pattern on the surface of the member to be processed can be ground with high dimensional accuracy, or the surface of the member to be processed can be smoothed more smoothly.
Further, the ratio of the powder having a particle size of 50 μm or more measured by a laser particle size distribution meter is preferably 10 wt% or less, and more preferably 5 wt% or less. As a result, it is possible to prevent a reduction in the dimensional accuracy of grinding due to the inclusion of particles having a significantly large particle size in the grinding powder.

[フラットディスプレイパネル用基板]
次に、本発明のフラットディスプレイパネル用基板について説明する。
このフラットディスプレイパネル用基板としては、例えば、プラズマディスプレイパネル(PDP)用基板、フィールドエミッションディスプレイパネル(FED)用基板、サーフェスコンダクションエレクトロンエミッターディスプレイパネル(SED)用基板等が挙げられるが、ここでは、一例として、プラズマディスプレイパネル用基板について説明する。
[Flat display panel substrate]
Next, the flat display panel substrate of the present invention will be described.
Examples of the flat display panel substrate include a plasma display panel (PDP) substrate, a field emission display panel (FED) substrate, and a surface conduction electron emitter display panel (SED) substrate. As an example, a plasma display panel substrate will be described.

図1は、本発明のフラットディスプレイパネル用基板を適用したプラズマディスプレイパネル用基板の実施形態を模式的に示す斜視図である。
図1に示すプラズマディスプレイパネル用基板(本発明のフラットディスプレイパネル用基板)1は、基板2と、基板2上に設けられ、画素空間3を画成する隔壁4とを有している。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an embodiment of a plasma display panel substrate to which the flat display panel substrate of the present invention is applied.
A plasma display panel substrate (flat display panel substrate of the present invention) 1 shown in FIG. 1 includes a substrate 2 and partition walls 4 provided on the substrate 2 and defining a pixel space 3.

基板2は、たわみや傷のないものが好適に用いられる。
また、基板2の構成材料としては、ソーダガラス、結晶性ガラス、石英ガラス、鉛ガラス、カリウムガラス、ホウケイ酸ガラスのようなガラス材料、アルミナ、ジルコニア、チタニア、窒化ケイ素、炭化ケイ素のようなセラミックス基板等が挙げられる。
また、基板2は、複数層の積層体で構成されていてもよく、基板2の内部または表面に、例えば、導電層(電極、配線)、絶縁層、誘電体層、保護層等が設けられていてもよい。
As the substrate 2, one having no deflection or scratch is preferably used.
In addition, as a constituent material of the substrate 2, glass materials such as soda glass, crystalline glass, quartz glass, lead glass, potassium glass, borosilicate glass, ceramics such as alumina, zirconia, titania, silicon nitride, silicon carbide Examples include substrates.
In addition, the substrate 2 may be formed of a multilayered structure, and a conductive layer (electrode, wiring), an insulating layer, a dielectric layer, a protective layer, or the like is provided on or inside the substrate 2. It may be.

基板2上には、平面視で長方形をなす帯状の画素空間3を画成する隔壁4が設けられている。
隔壁4は、鉛系または亜鉛系等の比較的低融点のガラス材料を主材料として構成されている。
また、隔壁4で画成された画素空間3は、プラズマ放電を生じるガスが封入される空間である。
なお、本実施形態では、画素空間3が帯状をなしているが、画素空間は、正方形または縦横の辺の長さが近い長方形をなしていてもよい。このような画素空間は、図1に示す隔壁4と直交する方向に、新たに隔壁を設けることにより画成することができる。
On the substrate 2, a partition wall 4 that defines a rectangular pixel space 3 that is rectangular in plan view is provided.
The partition wall 4 is composed mainly of a glass material having a relatively low melting point such as lead or zinc.
The pixel space 3 defined by the partition walls 4 is a space in which a gas that generates plasma discharge is enclosed.
In the present embodiment, the pixel space 3 has a band shape, but the pixel space may have a square shape or a rectangular shape with vertical and horizontal sides close to each other. Such a pixel space can be defined by newly providing a partition in a direction orthogonal to the partition 4 shown in FIG.

[フラットディスプレイパネル用基板の製造]
次に、プラズマディスプレイパネル用基板1を製造する方法(本発明の研削方法および本発明のフラットディスプレイパネル用基板の製造方法)について説明する。
図2および図3は、図1に示すプラズマディスプレイパネル用基板の製造方法(本発明のフラットディスプレイパネル用基板の製造方法)を説明するための図(縦断面図)である。なお、以下では、図2および図3中の上側を「上」、下側を「下」として説明する。
[Manufacture of substrates for flat display panels]
Next, a method of manufacturing the plasma display panel substrate 1 (a grinding method of the present invention and a method of manufacturing a flat display panel substrate of the present invention) will be described.
2 and 3 are views (longitudinal sectional views) for explaining the method for manufacturing the plasma display panel substrate shown in FIG. 1 (the method for manufacturing the flat display panel substrate of the present invention). In the following description, the upper side in FIGS. 2 and 3 will be described as “upper” and the lower side as “lower”.

以下、各工程を順次説明する。
[1]まず、基板2を用意する。
[2]次に、基板2上に、ガラスペーストを塗布する。これにより、図2(a)に示すように、ガラス含有層41を形成する。
ガラスペーストは、隔壁4の主材料となるガラス粉末、樹脂バインダ、溶媒および添加剤を混合したものである。
Hereinafter, each process is demonstrated one by one.
[1] First, the substrate 2 is prepared.
[2] Next, a glass paste is applied on the substrate 2. Thereby, as shown to Fig.2 (a), the glass containing layer 41 is formed.
The glass paste is a mixture of glass powder, a resin binder, a solvent, and additives that are the main materials of the partition 4.

樹脂バインダは、低温で燃焼し、炭化物等の残留物が障壁4中に残存し難いものが好ましく用いられる。具体的には、ビニルエーテル、メタクリレート、尿素樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。
また、樹脂バインダの含有量は、ガラス粉末100重量部に対して、10〜20重量部程度が好ましい。
As the resin binder, a resin binder that is burned at a low temperature and a residue such as a carbide hardly remains in the barrier 4 is preferably used. Specific examples include vinyl ether, methacrylate, urea resin, phenol resin, epoxy resin, unsaturated polyester resin, and the like, and one or more of these can be used in combination.
The content of the resin binder is preferably about 10 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the glass powder.

溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、ジエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ジイソブチルケトン等のケトン類、ヘキサン、シクロヘキサン、ベンゼン、トルエン、キシレン等の炭化水素類、メチルアセテート、エチルアセテート、イソプロピルアセテート、ノルマルプロピルアセテート、イソブチルアセテート、ノルマルブチルアセテート、ノルマルペンチルアセテート、イソペンチルアセテート等のエステル類、メタノール、エタノール、イソピロパノール、ノルマルプロパノール、ノルマルブタノール、イソブタノール、トルオール、キシロール等のアルコール類、メチレンクロライド、クロロホルム、1,2−ジクロロエタン、1,1,1−トリクロロエタン等の塩素化炭化水素類、エチルエーテル、1,4−ジオキサン等のエーテル類等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   Examples of the solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, diethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and diisobutyl ketone, hydrocarbons such as hexane, cyclohexane, benzene, toluene, and xylene, methyl acetate, ethyl acetate, isopropyl acetate, and normal propyl. Esters such as acetate, isobutyl acetate, normal butyl acetate, normal pentyl acetate, isopentyl acetate, alcohols such as methanol, ethanol, isopropylanol, normal propanol, normal butanol, isobutanol, toluol, xylol, methylene chloride, chloroform, 1 , 2-dichloroethane, chlorinated hydrocarbons such as 1,1,1-trichloroethane, ethyl ether, 1,4 Ethers such as dioxane and the like, can be used singly or in combination of two or more of them.

また、添加剤として、可塑剤、分散剤、消泡剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、フィラー等を添加してもよい。
ガラスペーストの塗布方法としては、ディッピング法、滴下、ドクターブレード法、スピンコート法、刷毛塗り、スプレーコート法、ロールコート法のような各種塗布法、メタルマスク印刷法、スクリーン印刷法のような各種印刷法等が挙げられる。
Moreover, you may add a plasticizer, a dispersing agent, an antifoamer, antioxidant, a ultraviolet absorber, a filler etc. as an additive.
Glass paste application methods include dipping method, dripping, doctor blade method, spin coating method, brush coating, spray coating method, various coating methods such as roll coating method, metal mask printing method, screen printing method, etc. The printing method etc. are mentioned.

なお、ガラス含有層41は、上記のような方法の他、別の基板に形成されたシート状のガラス含有層41を基板2上に貼り付けることにより形成されてもよく、予めガラス含有層41が形成された基板2を用意することにより設けられたものでもよい。
また、塗布後のガラスペーストには、必要に応じて、強制的に乾燥させた後、ガラス含有層41を得るようにしてもよい。
In addition, the glass containing layer 41 may be formed by sticking the sheet-like glass containing layer 41 formed in another board | substrate on the board | substrate 2 other than the above methods, and the glass containing layer 41 previously. It may be provided by preparing the substrate 2 on which is formed.
Moreover, you may make it obtain the glass containing layer 41, after making it dry forcibly to the glass paste after application | coating as needed.

[3]次に、図2(b)に示すように、ガラス含有層41上に、画素空間3に対応する領域に開口部43を有するレジストマスク42を形成する。
レジストマスク42のパターン形成方法としては、印刷法、フォトリソグラフィー法等が挙げられる。
そして、平面視で帯状の隔壁4に対応する領域にレジストマスク42を形成し、平面視で帯状の画素空間3に対応する領域には開口部43を形成する。この開口部43に露出した部分のガラス含有層41は、後述する工程[4]において除去されることにより、画素空間3を形成する。
[3] Next, as shown in FIG. 2B, a resist mask 42 having an opening 43 in a region corresponding to the pixel space 3 is formed on the glass-containing layer 41.
Examples of the pattern forming method for the resist mask 42 include a printing method and a photolithography method.
Then, a resist mask 42 is formed in a region corresponding to the strip-shaped partition wall 4 in plan view, and an opening 43 is formed in a region corresponding to the strip-shaped pixel space 3 in plan view. The portion of the glass-containing layer 41 exposed in the opening 43 is removed in a process [4] described later, thereby forming a pixel space 3.

[4]次に、図2(c)に示すように、開口部43から露出するガラス含有層41の上方から、研削材(本発明の研削用粉末)100を噴射し、研削(ショットブラスト)を行う。
具体的には、ガラス含有層41から所定の距離離間した位置にノズル110を配置し、このノズル110と基板2とを相対的に移動(平行移動)させつつ、ノズル110から研削材100を噴射する。これにより、開口部43に対応する領域の不要なガラス含有層41に研削材100を衝突させて、ガラス含有層41を研削・除去し、画素空間3を形成することができる。
[4] Next, as shown in FIG. 2 (c), a grinding material (grinding powder of the present invention) 100 is sprayed from above the glass-containing layer 41 exposed from the opening 43, and grinding (shot blasting) is performed. I do.
Specifically, the nozzle 110 is disposed at a position spaced apart from the glass-containing layer 41 by a predetermined distance, and the abrasive 100 is ejected from the nozzle 110 while relatively moving (translating) the nozzle 110 and the substrate 2. To do. Thereby, the abrasive 100 is made to collide with an unnecessary glass-containing layer 41 in a region corresponding to the opening 43, and the glass-containing layer 41 is ground and removed, so that the pixel space 3 can be formed.

本発明の研削用粉末は、比較的比重が高く、高い衝突エネルギーをガラス含有層41に付与することができる。これにより、優れた研削性が得られ、効率よくガラス含有層41を研削することができる。
ところで、前述の工程[3]で決定される画素空間3における幅は、プラズマディスプレイパネル用基板1を備えたプラズマディスプレイパネルの表示の精細度に大きな影響を与える要素である。
The grinding powder of the present invention has a relatively high specific gravity and can impart high collision energy to the glass-containing layer 41. Thereby, the outstanding grindability is obtained and the glass containing layer 41 can be ground efficiently.
By the way, the width in the pixel space 3 determined in the above-described step [3] is an element that greatly affects the display definition of the plasma display panel including the plasma display panel substrate 1.

近年、より高精細な表示を求める要求が強まっており、プラズマディスプレイパネルにおける画素サイズを縮小するために、画素空間3の幅をより狭くすることが求められている。
かかる観点から、画素空間3の幅、すなわち、ここでは開口部43の幅は、30〜150μm程度であるのが好ましく、30〜100μm程度であるのがより好ましい。そして、このような微細なパターンの研削に、本発明の研削用粉末を用いたショットブラストがより好適に適用できる。すなわち、本発明の研削用粉末は、その平均粒径を小さくしても粉末中の粒子の破壊や磨耗、変質・劣化等を確実に防止し得るものであるため、上記のような微細なパターンの研削を容易に実現し得るものである。
In recent years, there has been an increasing demand for higher-definition display, and in order to reduce the pixel size in the plasma display panel, it is required to make the width of the pixel space 3 narrower.
From this point of view, the width of the pixel space 3, that is, the width of the opening 43 here is preferably about 30 to 150 μm, and more preferably about 30 to 100 μm. Further, shot blasting using the grinding powder of the present invention can be more suitably applied to grinding such a fine pattern. That is, the grinding powder of the present invention can reliably prevent the destruction, wear, alteration, deterioration, etc. of the particles in the powder even if the average particle size is reduced. Grinding can be easily realized.

また、このように開口部43の幅が小さい場合でも、研削材100の粒径が前述の範囲内であれば、画素空間3に研削材100が挟まってしまい、その後の研削に支障を来たすのを確実に防止することができる。
研削(ショットブラスト)における研削材100の噴射圧力は、例えば、1〜10kgf/cm程度であるのが好ましく、2〜5kgf/cm程度であるのがより好ましい。これにより、高い加工精度で、かつ効率よく研削を行うことができる。
Even when the width of the opening 43 is small as described above, if the particle size of the abrasive 100 is within the above-described range, the abrasive 100 is sandwiched in the pixel space 3 and hinders subsequent grinding. Can be reliably prevented.
The injection pressure of the abrasive 100 in grinding (shot blasting) is preferably about 1 to 10 kgf / cm 2 , for example, and more preferably about 2 to 5 kgf / cm 2 . Thereby, grinding can be performed efficiently with high processing accuracy.

また、研削(ショットブラスト)におけるノズル110とガラス含有層41の上面との距離は、研削材100の噴射圧力によっても異なるが、例えば、1〜20cm程度であるのが好ましく、5〜10cm程度であるのがより好ましい。これにより、噴射された研削材100が被処理部材に衝突するまでに、広範に広がり過ぎて加工精度が低下するのを防止しつつ、効率よく研削を行うことができる。   Further, the distance between the nozzle 110 and the upper surface of the glass-containing layer 41 in grinding (shot blasting) varies depending on the spray pressure of the abrasive 100, but is preferably about 1 to 20 cm, for example, about 5 to 10 cm. More preferably. As a result, it is possible to perform grinding efficiently while preventing the sprayed abrasive 100 from colliding with the member to be processed and preventing the processing accuracy from being excessively widened.

また、研削材100の平均粒径、噴射圧力、およびノズル110とガラス含有層41との距離が、それぞれ前記範囲内であれば、レジストマスク42、隔壁4および基板2の損傷をより確実に防止することができる。
このようにして画素空間3を形成した際には、図3(d)に示すように、研削・除去されたガラス含有層41の研削屑44と、噴射された研削材100との混在物120が生じることとなる。
Moreover, if the average particle diameter of the abrasive 100, the injection pressure, and the distance between the nozzle 110 and the glass-containing layer 41 are within the above ranges, the resist mask 42, the partition wall 4 and the substrate 2 can be more reliably prevented from being damaged. can do.
When the pixel space 3 is formed in this way, as shown in FIG. 3D, a mixture 120 of the grinding scraps 44 of the glass-containing layer 41 that has been ground and removed and the sprayed abrasive 100. Will occur.

[5]次に、図3(e)に示すように、混在物120に磁場発生手段7を接近させる。これにより、混在物120の周囲に外部磁場を発生させる。
混在物120に磁場発生手段7が接近すると、外部磁場に応じて混在物120中から研削材100を磁場発生手段7に磁力で誘引し、研削材100を選択的に分離・回収(磁選分離)することができる。これにより、回収した研削材100を、再度、前記工程[4]で再利用することができ、その結果、新たな研削材100を用意する場合に比べてコストの低減を図ることができる。
また、研削材100は、軟磁性を示すものであるため、回収後に外部磁場を取り除くと、残留磁化がほとんど生じない。したがって、研削材100同士の残留磁化による凝集を防止することができる。これにより、回収した研削材100を再利用する際に、研削材100の粒度分布がバラついて、寸法精度が低下するのを、確実に防止することができる。
[5] Next, as shown in FIG. 3 (e), the magnetic field generating means 7 is brought close to the mixture 120. Thereby, an external magnetic field is generated around the mixture 120.
When the magnetic field generating means 7 approaches the inclusion 120, the abrasive 100 is attracted to the magnetic field generation means 7 from the inclusion 120 according to the external magnetic field, and the abrasive 100 is selectively separated and recovered (magnetic separation). can do. Thereby, the collected abrasive 100 can be reused again in the step [4]. As a result, the cost can be reduced as compared with the case where a new abrasive 100 is prepared.
Further, since the abrasive 100 exhibits soft magnetism, residual magnetization hardly occurs when the external magnetic field is removed after recovery. Therefore, aggregation due to residual magnetization between the abrasives 100 can be prevented. Thereby, when the recovered abrasive 100 is reused, it is possible to reliably prevent the particle size distribution of the abrasive 100 from being varied and the dimensional accuracy from being lowered.

磁場発生手段7は、磁場を発生し得るものであれば特に限定されないが、永久磁石、電磁石等を用いることができる。
また、研削材100の回収方法は、上記方法に限定されず、例えば、混在物120を回収した後に、研削材100を分離・回収するようにしてもよい。
なお、研削材100を回収した後の研削屑44は、別途回収することにより、ガラス含有層41の原料として再利用することもできる。
The magnetic field generating means 7 is not particularly limited as long as it can generate a magnetic field, but a permanent magnet, an electromagnet, or the like can be used.
Moreover, the collection method of the abrasive 100 is not limited to the above method. For example, the abrasive 100 may be separated and collected after the mixture 120 is collected.
In addition, the grinding | polishing waste 44 after collect | recovering the abrasives 100 can also be reused as a raw material of the glass containing layer 41 by collect | recovering separately.

[6]次に、レジストマスク42を除去する。これにより、図3(f)に示すような隔壁4が得られる。
以上のようにして、基板2と隔壁4とを有するプラズマディスプレイパネル用基板1を効率よく製造することができる。
なお、本発明の研削方法は、前記工程[4]および前記工程[5]を有するものである。このような研削方法によれば、高い寸法精度で効率よく研削ができ、さらに、研削後の研削材100と研削屑44とを個別に回収することができ、それぞれ再利用することができる。これにより、研削材100のコスト、すなわち研削のコストを低減することができる。
[6] Next, the resist mask 42 is removed. Thereby, the partition 4 as shown in FIG.3 (f) is obtained.
As described above, the plasma display panel substrate 1 having the substrate 2 and the partition walls 4 can be efficiently manufactured.
In addition, the grinding method of this invention has the said process [4] and the said process [5]. According to such a grinding method, grinding can be performed efficiently with high dimensional accuracy, and further, the ground abrasive 100 and the grinding waste 44 can be individually recovered and reused. Thereby, the cost of the abrasive 100, ie, the cost of grinding, can be reduced.

[フラットディスプレイパネル]
上記のようなプラズマディスプレイパネル用基板(本発明のフラットディスプレイパネル用基板)1を用いて、プラズマディスプレイパネル(本発明のフラットディスプレイパネル)を得ることができる。
以下では、本発明のフラットディスプレイパネル用基板をプラズマディスプレイパネルに組み込んだ場合を一例として説明する。
[Flat display panel]
A plasma display panel (flat display panel of the present invention) can be obtained by using the plasma display panel substrate (flat display panel substrate of the present invention) 1 as described above.
Below, the case where the board | substrate for flat display panels of this invention is integrated in a plasma display panel is demonstrated as an example.

図4は、本発明のフラットディスプレイパネル用基板をプラズマディスプレイパネルに適用した場合の実施形態を示す分解斜視図である。
図4に示すプラズマディスプレイパネル(本発明のフラットディスプレイパネル)500は、互いに対向して配置されたガラス基板501とガラス基板502と、これらの間に形成された放電表示部510とから概略構成されている。
FIG. 4 is an exploded perspective view showing an embodiment when the flat display panel substrate of the present invention is applied to a plasma display panel.
A plasma display panel (flat display panel of the present invention) 500 shown in FIG. 4 is generally configured by a glass substrate 501 and a glass substrate 502 that are arranged to face each other, and a discharge display portion 510 formed therebetween. ing.

放電表示部510は、複数の放電室(画素空間)516が集合されてなり、複数の放電室516のうち、赤色放電室516(R)、緑色放電室516(G)、青色放電室516(B)の3つの放電室516が対になって1画素を構成するように配置されている。
ガラス基板501の上面には、所定の間隔でストライプ状にアドレス電極511が形成され、これらのアドレス電極511と基板501の上面とを覆うように誘電体層519が形成されている。
The discharge display unit 510 is a collection of a plurality of discharge chambers (pixel spaces) 516, and among the plurality of discharge chambers 516, a red discharge chamber 516 (R), a green discharge chamber 516 (G), and a blue discharge chamber 516 ( The three discharge chambers 516 of B) are arranged in pairs so as to constitute one pixel.
Address electrodes 511 are formed in stripes at predetermined intervals on the upper surface of the glass substrate 501, and a dielectric layer 519 is formed so as to cover these address electrodes 511 and the upper surface of the substrate 501.

さらに、誘電体層519上において、アドレス電極511、511間に位置して各アドレス電極511に沿うように隔壁515が形成されている。
なお、隔壁515においては、その長手方向の所定位置においてアドレス電極511と直交する方向にも所定の間隔で仕切られている(図示せず)。
これにより、基本的には、アドレス電極511の幅方向左右両側に隣接する隔壁と、アドレス電極511と直交する方向に延設された隔壁により仕切られる長方形状の領域が形成され、これらの長方形状の領域に対応するように放電室516が形成されている。そして、これらの長方形状の領域が3つ対になって1画素が構成されている。
Further, a partition wall 515 is formed on the dielectric layer 519 so as to be positioned between the address electrodes 511 and 511 and along each address electrode 511.
The partition 515 is also partitioned at a predetermined interval in a direction perpendicular to the address electrode 511 at a predetermined position in the longitudinal direction (not shown).
As a result, basically, rectangular regions partitioned by partition walls adjacent to both the left and right sides of the address electrode 511 in the width direction and partition walls extending in a direction perpendicular to the address electrodes 511 are formed. A discharge chamber 516 is formed so as to correspond to this region. One pixel is formed by three pairs of these rectangular regions.

このようなアドレス電極511および誘電体層519を備えた基板501と、隔壁515に、前述のプラズマディスプレイパネル用基板(本発明のフラットディスプレイパネル用基板)1が組み込まれている。
また、隔壁515で区画される長方形状の領域(画素空間)の内側には、蛍光体層517が設けられている。蛍光体層517は、赤、緑、青の何れかの蛍光を発光するものであり、赤色放電室516(R)の底部には、赤色蛍光体層517(R)が、緑色放電室516(G)の底部には緑色蛍光体層517(G)が、青色放電室516(B)の底部には青色蛍光体層517(B)が各々設けられている。
The above-described plasma display panel substrate (the flat display panel substrate of the present invention) 1 is incorporated in the substrate 501 including the address electrodes 511 and the dielectric layer 519 and the partition wall 515.
A phosphor layer 517 is provided inside a rectangular region (pixel space) partitioned by the partition 515. The phosphor layer 517 emits red, green, or blue fluorescence, and the red phosphor layer 517 (R) is disposed at the bottom of the red discharge chamber 516 (R). A green phosphor layer 517 (G) is provided at the bottom of G), and a blue phosphor layer 517 (B) is provided at the bottom of the blue discharge chamber 516 (B).

一方、ガラス基板502側には、先のアドレス電極511と直交する方向に複数の透明表示電極512がストライプ状に、所定の間隔で形成されている。この透明表示電極512は、例えば、ITO、FTO、ATO等の透明導電性材料で構成されている。
また、この透明表示電極512に接触して、金属製のバス電極512aが形成されている。バス電極512aは、透明表示電極512の抵抗値を低減させる機能を有するものである。
On the other hand, on the glass substrate 502 side, a plurality of transparent display electrodes 512 are formed in stripes at predetermined intervals in a direction orthogonal to the previous address electrodes 511. The transparent display electrode 512 is made of a transparent conductive material such as ITO, FTO, or ATO.
Further, a metal bus electrode 512 a is formed in contact with the transparent display electrode 512. The bus electrode 512a has a function of reducing the resistance value of the transparent display electrode 512.

さらに、これらの透明表示電極512およびバス電極512aを覆うようにして、誘電体層513が形成され、さらにMgOなどからなる保護膜514が形成されている。
そして、ガラス基板501とガラス基板502とが、アドレス電極511と透明表示電極512とを互いに直交させるように対向させて相互に貼り合わされ、蛍光体層517と保護膜514とで囲まれる空間部分を排気して希ガスを封入することにより、放電室516が形成されている。
Further, a dielectric layer 513 is formed so as to cover the transparent display electrode 512 and the bus electrode 512a, and a protective film 514 made of MgO or the like is further formed.
The glass substrate 501 and the glass substrate 502 are bonded to each other so that the address electrodes 511 and the transparent display electrodes 512 are opposed to each other so as to be orthogonal to each other, and a space portion surrounded by the phosphor layer 517 and the protective film 514 is formed. A discharge chamber 516 is formed by exhausting and sealing a rare gas.

なお、ガラス基板502側に形成される透明表示電極512は、各放電室516に対して2本ずつ配置されるように形成されている。
アドレス電極511と透明表示電極512とは、図示しない交流電源に接続され、各電極に通電することにより、所望の位置の放電表示部510において、蛍光体層517を励起発光させて、カラー表示ができるようになっている。
Note that two transparent display electrodes 512 formed on the glass substrate 502 side are formed so as to be arranged two by two for each discharge chamber 516.
The address electrode 511 and the transparent display electrode 512 are connected to an AC power source (not shown), and when each electrode is energized, the phosphor layer 517 is excited to emit light in the discharge display unit 510 at a desired position, and color display is performed. It can be done.

[電子機器]
本発明のフラットディスプレイパネルは、各種電子機器に適用することができる。
<<パーソナルコンピュータ>>
図5は、本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
[Electronics]
The flat display panel of the present invention can be applied to various electronic devices.
<< personal computer >>
FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which the electronic apparatus of the present invention is applied.

この図において、パーソナルコンピュータ1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、表示ユニット1106とにより構成され、表示ユニット1106は、本体部1104に対しヒンジ構造部を介して回動可能に支持されている。
このパーソナルコンピュータ1100においては、表示ユニット1106が前述のフラットディスプレイパネルを備えている。
In this figure, a personal computer 1100 includes a main body portion 1104 having a keyboard 1102 and a display unit 1106. The display unit 1106 is supported by the main body portion 1104 so as to be rotatable via a hinge structure portion. Yes.
In the personal computer 1100, the display unit 1106 includes the above-described flat display panel.

図6は、本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。
この図において、携帯電話機1200は、複数の操作ボタン1202、受話口1204および送話口1206とともに、前述のフラットディスプレイパネルを表示部に備えている。
FIG. 6 is a perspective view showing a configuration of a mobile phone (including PHS) to which the electronic apparatus of the present invention is applied.
In this figure, a cellular phone 1200 includes a plurality of operation buttons 1202, an earpiece 1204, and a mouthpiece 1206, and the above-described flat display panel in a display unit.

図7は、本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。なお、この図には、外部機器との接続についても簡易的に示されている。
ここで、通常のカメラは、被写体の光像により銀塩写真フィルムを感光するのに対し、ディジタルスチルカメラ1300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled Device)などの撮像素子により光電変換して撮像信号(画像信号)を生成する。
FIG. 7 is a perspective view showing the configuration of a digital still camera to which the electronic apparatus of the present invention is applied. In this figure, connection with an external device is also simply shown.
Here, an ordinary camera sensitizes a silver salt photographic film with a light image of a subject, whereas a digital still camera 1300 photoelectrically converts a light image of a subject with an image sensor such as a CCD (Charge Coupled Device). An imaging signal (image signal) is generated.

ディジタルスチルカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、前述のフラットディスプレイパネルが表示部に設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、被写体を電子画像として表示するファインダとして機能する。
ケースの内部には、回路基板1308が設置されている。この回路基板1308は、撮像信号を格納(記憶)し得るメモリが設置されている。
On the back of the case (body) 1302 of the digital still camera 1300, the above-described flat display panel is provided in the display unit, and the display is performed based on the imaging signal from the CCD, and the subject is displayed as an electronic image. Functions as a finder.
A circuit board 1308 is installed inside the case. The circuit board 1308 is provided with a memory that can store (store) an imaging signal.

また、ケース1302の正面側(図示の構成では裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCDなどを含む受光ユニット1304が設けられている。
撮影者が表示部に表示された被写体像を確認し、シャッタボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、回路基板1308のメモリに転送・格納される。
A light receiving unit 1304 including an optical lens (imaging optical system), a CCD, and the like is provided on the front side of the case 1302 (on the back side in the illustrated configuration).
When the photographer confirms the subject image displayed on the display unit and presses the shutter button 1306, the CCD image pickup signal at that time is transferred and stored in the memory of the circuit board 1308.

また、このディジタルスチルカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、図示のように、ビデオ信号出力端子1312にはテレビモニタ1430が、デ−タ通信用の入出力端子1314にはパーソナルコンピュータ1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、回路基板1308のメモリに格納された撮像信号が、テレビモニタ1430や、パーソナルコンピュータ1440に出力される構成になっている。   In the digital still camera 1300, a video signal output terminal 1312 and an input / output terminal 1314 for data communication are provided on the side surface of the case 1302. As shown in the figure, a television monitor 1430 is connected to the video signal output terminal 1312 and a personal computer 1440 is connected to the data communication input / output terminal 1314 as necessary. Further, the imaging signal stored in the memory of the circuit board 1308 is output to the television monitor 1430 or the personal computer 1440 by a predetermined operation.

なお、本発明の電子機器は、図5のパーソナルコンピュータ(モバイル型パーソナルコンピュータ)、図6の携帯電話機、図7のディジタルスチルカメラの他にも、例えば、テレビや、ビデオカメラ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、ラップトップ型パーソナルコンピュータ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニタ、電子双眼鏡、POS端末、タッチパネルを備えた機器(例えば金融機関のキャッシュディスペンサー、自動券売機)、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電表示装置、超音波診断装置、内視鏡用表示装置)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシミュレータ、その他各種モニタ類、プロジェクター等の投射型表示装置等に適用することができる。   In addition to the personal computer (mobile personal computer) of FIG. 5, the mobile phone of FIG. 6, and the digital still camera of FIG. 7, the electronic apparatus of the present invention includes, for example, a television, a video camera, a viewfinder type, Monitor direct-view video tape recorder, laptop personal computer, car navigation system, pager, electronic notebook (including communication function), electronic dictionary, calculator, electronic game device, word processor, workstation, videophone, security TV Monitors, electronic binoculars, POS terminals, devices with touch panels (for example, cash dispensers of financial institutions, automatic ticket vending machines), medical devices (for example, electronic thermometers, blood pressure monitors, blood glucose meters, electrocardiographs, ultrasound diagnostic devices, internal Endoscope display device), fish finder, various measuring instruments, Vessels such (e.g., gages for vehicles, aircraft, and ships), a flight simulator, various monitors, and a projection display such as a projector.

以上、本発明の研削用粉末、研削方法、フラットディスプレイパネル用基板の製造方法、フラットディスプレイパネル用基板、フラットディスプレイパネルおよび電子機器について、好適な実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、前記実施形態では、本発明の研削方法をプラズマディスプレイパネル用基板の製造方法の一部に適用した場合を代表に説明したが、このような場合に限定されない。
As described above, the grinding powder, the grinding method, the flat display panel substrate manufacturing method, the flat display panel substrate, the flat display panel, and the electronic device according to the present invention have been described based on the preferred embodiments. It is not limited to.
For example, in the above embodiment, the case where the grinding method of the present invention is applied to a part of the method for manufacturing a substrate for a plasma display panel has been described as a representative. However, the present invention is not limited to such a case.

すなわち、本発明の研削方法は、非磁性を示す被処理部材の表面に研削を施すようなあらゆる場合に適用可能である。
また、前記実施形態では、所定のパターンを研削する場合について説明しているが、被処理部材の表面にショットブラストを施して、表面を平滑化する場合にも、本発明の研削用粉末および研削方法を用いることができる。
また、本発明の研削方法およびフラットディスプレイパネル用基板の製造方法では、いずれも、任意の目的の工程が1または2以上追加されてもよい。
That is, the grinding method of the present invention can be applied to any case where grinding is performed on the surface of a non-magnetic member to be processed.
In the above embodiment, the case where a predetermined pattern is ground has been described. However, when the surface of a member to be treated is shot blasted to smooth the surface, the grinding powder and the grinding according to the present invention are also used. The method can be used.
Further, in the grinding method and the flat display panel substrate manufacturing method of the present invention, one or two or more arbitrary steps may be added.

1.研削材およびプラズマディスプレイパネル用基板の製造
(実施例1)
<1>まず、以下の各元素が、それぞれ以下の含有率で含まれるように原料を秤量し、この原料を高周波誘導炉で溶融して溶融物を得た。
<構成元素含有率>
・Si:7.5wt%
・B:3.8wt%
・Cr:2.3wt%
・C:0.5wt%
・Fe:残部
1. Production of abrasive and plasma display panel substrate (Example 1)
<1> First, raw materials were weighed so that each of the following elements was contained at the following contents, and the raw materials were melted in a high-frequency induction furnace to obtain a melt.
<Constituent element content>
・ Si: 7.5wt%
-B: 3.8 wt%
・ Cr: 2.3 wt%
・ C: 0.5wt%
・ Fe: balance

<2>次に、得られた溶融物を、水アトマイズ法で粉末化し、得られた金属粉末を、サイズが32μmの目開きを有した篩い網を用いて分級した。これにより、研削材を得た。
得られた研削材について、レーザー式粒度分布計で粒径を測定した。その結果、平均粒径が11μm、粒径50μm以上の粉末の比率が3wt%であった。
また、得られた研削材について、X線回折法による結晶構造解析を行った。その結果、得られたX線回折スペクトルには、先鋭なピークが認められなかった。このことから、この研削材には、アモルファス金属で構成されていることが確認できた。
<2> Next, the obtained melt was pulverized by a water atomization method, and the obtained metal powder was classified using a sieve mesh having a mesh size of 32 μm. Thereby, an abrasive was obtained.
About the obtained abrasive material, the particle size was measured with the laser type particle size distribution analyzer. As a result, the ratio of the powder having an average particle diameter of 11 μm and a particle diameter of 50 μm or more was 3 wt%.
The obtained abrasive was subjected to crystal structure analysis by X-ray diffraction. As a result, no sharp peak was observed in the obtained X-ray diffraction spectrum. From this, it was confirmed that the abrasive was composed of an amorphous metal.

<3>次に、平均厚さ3mmのガラス基板上に、電極、誘電体層を形成した基板を用意した。
<4>次に、ロールコート法により、基板上にガラスペーストを塗布した。そして、この基板をホットプレートに載せ、120℃×30分で乾燥させた。これにより、基板上にガラス含有層を得た。
<3> Next, a substrate on which an electrode and a dielectric layer were formed on a glass substrate having an average thickness of 3 mm was prepared.
<4> Next, a glass paste was applied on the substrate by a roll coating method. Then, this substrate was placed on a hot plate and dried at 120 ° C. for 30 minutes. This obtained the glass containing layer on the board | substrate.

<5>次に、ガラス含有層上にドライフィルムレジストを積層した後、フォトリソグラフィー法とエッチング法とにより、画素空間に対応する領域に、幅50μmの帯状の開口部を有するレジストマスク(マスク)を形成した。
<6>次に、レジストマスクの上方から、前記工程<2>で得られた研削材を噴射し、ショットブラストを行った。これにより、開口部に対応する領域のガラス含有層を除去することができ、その領域に画素空間を形成した。
<5> Next, after laminating a dry film resist on the glass-containing layer, a resist mask (mask) having a band-shaped opening having a width of 50 μm in a region corresponding to the pixel space by photolithography and etching. Formed.
<6> Next, the abrasive obtained in the step <2> was sprayed from above the resist mask to perform shot blasting. As a result, the glass-containing layer in the region corresponding to the opening can be removed, and a pixel space is formed in the region.

<7>次に、前記工程<6>で発生した研削屑および噴射した研削材に、電磁石を近付けた。これにより、電磁石に研削材が吸着し、研削材を回収した。また、研削材を回収した後の研削屑も、別途回収した。
<8>次に、レジストマスクを除去した。これにより、プラズマディスプレイパネル用基板を得た。
<7> Next, an electromagnet was brought close to the grinding waste generated in the step <6> and the sprayed abrasive. Thereby, the abrasive was attracted to the electromagnet, and the abrasive was recovered. Further, grinding scraps after collecting the abrasive were also collected separately.
<8> Next, the resist mask was removed. Thereby, a substrate for a plasma display panel was obtained.

(実施例2〜6)
溶融物に含まれる構成元素、各構成元素の含有率、および篩い網の目開きのサイズを、それぞれ、表1に示すようにした以外は、前記実施例1と同様にして研削材を得、この研削材を用いてプラズマディスプレイパネル用基板を得た。
(Examples 2 to 6)
Except that the constituent elements contained in the melt, the content of each constituent element, and the size of the sieve mesh opening are as shown in Table 1, respectively, a grinding material was obtained in the same manner as in Example 1, A substrate for a plasma display panel was obtained using this abrasive.

(比較例1)
まず、前記実施例1と同様にして研削材を製造した。
次に、得られた研削材を炉に入れ、1046℃(773K)で熱処理を施した。
次に、熱処理後の研削材について、前記実施例1と同様にしてX線回折法による結晶構造解析を行ったところ、得られたX線回折スペクトルには、先鋭なピークが認められた。このことから、この研削材は、熱処理により結晶化したために結晶金属が含まれていることが確認できた。
(Comparative Example 1)
First, an abrasive was manufactured in the same manner as in Example 1.
Next, the obtained abrasive was placed in a furnace and heat-treated at 1046 ° C. (773 K).
Next, the ground material after the heat treatment was subjected to crystal structure analysis by X-ray diffraction in the same manner as in Example 1. As a result, sharp peaks were observed in the obtained X-ray diffraction spectrum. From this, it was confirmed that the abrasive contained crystal metal because it was crystallized by heat treatment.

(比較例2〜3)
溶融物に含まれる構成元素、各構成元素の含有率、および篩い網の目開きのサイズを、それぞれ、表1に示すようにした以外は、前記実施例1と同様にして研削材を得、この研削材を用いてプラズマディスプレイパネル用基板を得た。
(比較例4)
表1に示す組成の耐熱性フェライトステンレス鋼を溶融して溶融物を得るようにした以外は、前記実施例1と同様にして研削材を得、この研削材を用いてプラズマディスプレイパネル用基板を得た。
なお、結晶構造解析の結果、得られた研削材には、結晶金属が含まれていることが確認できた。
(Comparative Examples 2-3)
Except that the constituent elements contained in the melt, the content of each constituent element, and the size of the sieve mesh opening are as shown in Table 1, respectively, a grinding material was obtained in the same manner as in Example 1, A substrate for a plasma display panel was obtained using this abrasive.
(Comparative Example 4)
Except that the heat-resistant ferritic stainless steel having the composition shown in Table 1 was melted to obtain a melt, a grinding material was obtained in the same manner as in Example 1, and a substrate for a plasma display panel was prepared using this grinding material. Obtained.
As a result of crystal structure analysis, it was confirmed that the obtained abrasive contained crystal metal.

(比較例5)
表1に示す組成のオーステナイトステンレス鋼を溶融して溶融物を得るようにした以外は、前記実施例1と同様にして研削材を得、この研削材を用いてプラズマディスプレイパネル用基板を得た。
なお、結晶構造解析の結果、得られた研削材には、結晶金属が含まれていることが確認できた。
(Comparative Example 5)
Except that the austenitic stainless steel having the composition shown in Table 1 was melted to obtain a melt, an abrasive was obtained in the same manner as in Example 1, and a plasma display panel substrate was obtained using this abrasive. .
As a result of crystal structure analysis, it was confirmed that the obtained abrasive contained crystal metal.

(比較例6)
表1に示す組成のフェライトステンレス鋼を溶融して溶融物を得るようにした以外は、前記実施例1と同様にして研削材を得、この研削材を用いてプラズマディスプレイパネル用基板を得た。
なお、結晶構造解析の結果、得られた研削材には、結晶金属が含まれていることが確認できた。
(Comparative Example 6)
Except that the ferritic stainless steel having the composition shown in Table 1 was melted to obtain a melt, a grinding material was obtained in the same manner as in Example 1, and a plasma display panel substrate was obtained using this grinding material. .
As a result of crystal structure analysis, it was confirmed that the obtained abrasive contained crystal metal.

(比較例7)
表1に示す組成の硬磁性永久磁石を溶融して溶融物を得るようにした以外は、前記実施例1と同様にして研削材を得、この研削材を用いてプラズマディスプレイパネル用基板を得た。
なお、結晶構造解析の結果、得られた研削材には、結晶金属が含まれていることが確認できた。
(Comparative Example 7)
A grinding material was obtained in the same manner as in Example 1 except that a hard magnetic permanent magnet having the composition shown in Table 1 was melted to obtain a melt, and a plasma display panel substrate was obtained using this grinding material. It was.
As a result of crystal structure analysis, it was confirmed that the obtained abrasive contained crystal metal.

以上、各実施例および各比較例で得られた研削材の構成元素とその含有率、結晶構造、篩い網の目開きのサイズ、平均粒径および粒径50μm以上の粉末の比率を、表1に示す。
なお、実施例1、比較例2および比較例3で得られた研削材については、それぞれ、最大磁束密度および保磁力を測定した。この測定結果についても、表1に示す。
As described above, the constituent elements of the abrasives obtained in each Example and each Comparative Example and their content, crystal structure, sieve mesh size, average particle diameter, and ratio of powder having a particle diameter of 50 μm or more are shown in Table 1. Shown in
In addition, about the abrasives obtained in Example 1, Comparative Example 2, and Comparative Example 3, the maximum magnetic flux density and the coercive force were measured, respectively. This measurement result is also shown in Table 1.

Figure 0004428338
Figure 0004428338

2.評価
2−1 研削材の回収の可否および凝集の有無の評価
まず、各実施例および各比較例の工程<7>において、噴射後の研削材の回収の可否、および、研削材の凝集の有無を、以下の基準にしたがって目視で評価した。
◎:研削材を良好に回収することができ、凝集も認められない
○:研削材を良好に回収することができたが、凝集が若干認められる
△:研削材を良好に回収することができたが、凝集が多数認められる
×:研削材をほとんど回収できなかった
2. Evaluation 2-1 Evaluation of availability of grinding material and presence / absence of aggregation First, in the step <7> of each example and each comparative example, whether or not the grinding material after injection is allowed to be collected and whether or not the grinding material is aggregated Was evaluated visually according to the following criteria.
A: Grinding material can be recovered satisfactorily and no agglomeration is observed. O: Abrasive material was recovered satisfactorily, but agglomeration is slightly observed. Δ: Abrasive material can be recovered satisfactorily. However, many agglomerations were observed. ×: Almost no abrasive was recovered.

2−2 研削材の外観の評価
次に、各実施例および各比較例の工程<7>において、噴射後の研削材の外観を、以下の基準にしたがって目視で評価した。
◎:研削材の欠損および変形等が認められない
○:研削材の欠損または変形等が若干認められる
△:研削材の欠損または変形等が多数認められる
×:研削材の欠損または変形等がほぼ全数に認められる
2-2 Evaluation of Appearance of Grinding Material Next, in step <7> of each example and each comparative example, the appearance of the abrasive after injection was visually evaluated according to the following criteria.
◎: Defect or deformation of the abrasive is not recognized ○: Defect or deformation of the abrasive is slightly observed △: Many defects or deformation of the abrasive are observed ×: Defect or deformation of the abrasive is almost Allowed for all

2−3 回収した研削屑の組成評価
次に、各実施例および各比較例の工程<7>で回収した研削屑について、蛍光X線分析装置により組成分析を行った。
そして、各実施例および各比較例で回収した研削屑中の研削材成分の含有率を求めた。
2−4 プラズマディスプレイパネル用基板の外観評価
次に、各実施例および各比較例で製造したプラズマディスプレイパネル用基板の外観を目視にて評価した。
なお、外観の評価は、以下の項目とその評価基準にしたがって行った。
2-3 Composition Evaluation of Collected Grinding Scrap Next, composition analysis was performed on the grinding scrap collected in the step <7> of each Example and each Comparative Example using a fluorescent X-ray analyzer.
And the content rate of the abrasive component in the grinding | polishing waste collect | recovered in each Example and each comparative example was calculated | required.
2-4 Appearance Evaluation of Plasma Display Panel Substrate Next, the appearance of the plasma display panel substrate manufactured in each Example and each Comparative Example was visually evaluated.
The appearance was evaluated according to the following items and evaluation criteria.

2−4−1 加工性
◎:加工速度が非常に速い
○:加工速度がやや速い
△:加工速度がやや遅い
×:加工速度が非常に遅い
2-4-1 Workability ◎: Processing speed is very fast ○: Processing speed is slightly fast △: Processing speed is slightly slow ×: Processing speed is very slow

2−4−2 研削材の画素空間への挟まり
◎:画素空間に研削材が全く挟まっていない
○:画素空間に研削材が若干挟まっている
△:画素空間に研削材が多数挟まっている
×:画素空間に研削材が多数挟まり、研削されない部分がある
2-4-2 Abrasive material is sandwiched in the pixel space A: No abrasive is sandwiched in the pixel space ○: Abrasive material is slightly sandwiched in the pixel space Δ: Many abrasives are sandwiched in the pixel space × : Many abrasives are sandwiched in the pixel space, and there are parts that are not ground

2−4−3 隔壁またはマスクの損傷
◎:隔壁またはマスクに損傷が全く認められない
○:マスクに若干損傷が認められる
△:マスクに多数損傷が認められる
×:隔壁に若干の損傷が認められる
2-4-3 Damage to partition wall or mask ◎: No damage to partition wall or mask is observed ○: Some damage is observed on mask △: Many damages are observed on mask ×: Some damage is observed on partition wall

2−4−4 基板の損傷
◎:基板に損傷が認められない
○:基板に凹凸が生じている
△:基板に若干損傷が認められる
×:基板に多数損傷が認められる
以上、2−1〜2−4の各評価結果をそれぞれ表2に示す。
2-4-4 Damage to the substrate ◎: No damage is observed on the substrate ○: Unevenness is generated on the substrate △: Some damage is observed on the substrate ×: Many damages are recognized on the substrate As described above, 2-1 Table 2 shows the evaluation results of 2-4.

Figure 0004428338
Figure 0004428338

表2の評価結果に示すように、各実施例の研削材は、いずれも、研削材を良好に回収(磁選分離)することができた。
一方、各比較例の研削材は、研削材を回収することができなかったり、回収することができても、粒子同士の凝集が多数認められるものがあった。
また、各実施例の研削材は、いずれも、噴射後に研削材の欠損および変形等が認められないか、若干認められる程度であった。
As shown in the evaluation results in Table 2, each of the abrasives in each example was able to recover (separate magnetically) the abrasives satisfactorily.
On the other hand, some of the abrasives of each comparative example could not collect the abrasive or could collect many particles even though they could be recovered.
In addition, all of the abrasives in each example were found to have no or some damage or deformation of the abrasive after injection.

これに対し、比較例1および比較例4〜7の研削材では、噴霧後に研削材が欠損または変形等しているものが多数認められた。
また、各実施例でガラス含有層を研削した際に発生した研削屑には、いずれも、研削材の成分がほとんど含まれていなかったのに対し、各比較例では、数%程度含んでいるものがあった。このことは、各実施例では、研削材と研削屑との分離・回収が確実になされていることを示唆している。
また、各実施例のプラズマディスプレイパネル用基板では、いずれも、研削材による研削が良好になされ、優れた外観を示した。
一方、各比較例のプラズマディスプレイパネル用基板では、研削や外観の幾つかの評価項目において、著しく劣るものがあった。
On the other hand, in the abrasives of Comparative Example 1 and Comparative Examples 4 to 7, a number of abrasives that were missing or deformed after spraying were observed.
In addition, the grinding waste generated when the glass-containing layer was ground in each example contained almost no abrasive component, whereas each comparative example contained several percent. There was a thing. This suggests that in each example, the separation and recovery of the abrasive and the grinding waste are reliably performed.
Further, in each of the plasma display panel substrates of each example, the grinding with the abrasive was satisfactorily performed and an excellent appearance was exhibited.
On the other hand, the plasma display panel substrate of each comparative example was remarkably inferior in some evaluation items of grinding and appearance.

本発明のフラットディスプレイパネル用基板を適用したプラズマディスプレイパネル用基板の実施形態を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view showing typically an embodiment of a substrate for plasma display panels to which a substrate for flat display panels of the present invention is applied. 図1に示すプラズマディスプレイパネル用基板の製造方法(本発明のフラットディスプレイパネル用基板の製造方法)を説明するための図(縦断面図)である。It is a figure (longitudinal sectional view) for demonstrating the manufacturing method (the manufacturing method of the flat display panel substrate of this invention) of the substrate for plasma display panels shown in FIG. 図1に示すプラズマディスプレイパネル用基板の製造方法(本発明のフラットディスプレイパネル用基板の製造方法)を説明するための図(縦断面図)である。It is a figure (longitudinal sectional view) for demonstrating the manufacturing method (the manufacturing method of the flat display panel substrate of this invention) of the substrate for plasma display panels shown in FIG. 本発明のフラットディスプレイパネル用基板をプラズマディスプレイパネルに適用した場合の実施形態を示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows embodiment at the time of applying the board | substrate for flat display panels of this invention to a plasma display panel. 本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which an electronic apparatus of the present invention is applied. 本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the mobile telephone (PHS is also included) to which the electronic device of this invention is applied. 本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the digital still camera to which the electronic device of this invention is applied.

符号の説明Explanation of symbols

1……プラズマディスプレイパネル用基板 2……基板 3……画素空間 4……隔壁 41……ガラス含有層 42……レジストマスク 43……開口部 44……研削屑 7……磁場発生手段 100……研削材 110……ノズル 120……混在物 500……プラズマディスプレイパネル 501、502……ガラス基板 510……放電表示部 511……アドレス電極 512……透明表示電極 512a……バス電極 513……誘電体層 514……保護膜 515……隔壁 516……放電室 517……蛍光体層 519……誘電体層 1100……パーソナルコンピュータ 1102……キーボード 1104……本体部 1106……表示ユニット 1200……携帯電話機 1202……操作ボタン 1204……受話口 1206……送話口 1300……ディジタルスチルカメラ 1302……ケース(ボディー) 1304……受光ユニット 1306……シャッタボタン 1308……回路基板 1312……ビデオ信号出力端子 1314……データ通信用の入出力端子 1430……テレビモニタ 1440……パーソナルコンピュータ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Plasma display panel substrate 2 ... Substrate 3 ... Pixel space 4 ... Partition wall 41 ... Glass-containing layer 42 ... Resist mask 43 ... Opening 44 ... Grinding waste 7 ... Magnetic field generating means 100 ... ... Grinding material 110 ... Nozzle 120 ... Mixture 500 ... Plasma display panel 501, 502 ... Glass substrate 510 ... Discharge display section 511 ... Address electrode 512 ... Transparent display electrode 512a ... Bus electrode 513 ... Dielectric layer 514... Protective film 515... Partition 516... Discharge chamber 517... Phosphor layer 519... Dielectric layer 1100 ... Personal computer 1102 ... Keyboard 1104. ... mobile phone 1202 ... operation buttons 1204 ... earpiece 1206 ... mouthpiece 1300 ... Digital still camera 1302 …… Case (body) 1304 …… Light receiving unit 1306 …… Shutter button 1308 …… Circuit board 1312 …… Video signal output terminal 1314 …… Data communication input / output terminal 1430 …… TV monitor 1440 …… Personal computer

Claims (12)

アモルファス金属で構成され、被処理部材の表面に衝突させることにより、前記表面を研削する研削用粉末であって、
前記アモルファス金属は、Fe、Si、B、CrおよびCを必須元素とし
Siの含有率が4〜9wt%、
Bの含有率が2〜5wt%、
Crの含有率が1〜3wt%、
Cの含有率が0.01〜1wt%
残部がFeおよび前記必須元素以外の不純物であることを特徴とする研削用粉末。
It is composed of amorphous metal, and is a grinding powder for grinding the surface by colliding with the surface of the member to be treated,
The amorphous metal has Fe, Si, B, Cr and C as essential elements ,
Si content is 4-9 wt%,
The content of B is 2 to 5 wt%,
Cr content is 1 to 3 wt%,
C content is 0.01 to 1 wt% ,
A grinding powder, wherein the balance is impurities other than Fe and the essential elements .
平均粒径が、3〜30μmである請求項1に記載の研削用粉末。   The grinding powder according to claim 1, wherein the average particle size is 3 to 30 µm. レーザー式粒度分布計で測定した粒径50μm以上の粉末の比率が、10wt%以下である請求項1または2に記載の研削用粉末。   The powder for grinding according to claim 1 or 2, wherein a ratio of powder having a particle size of 50 µm or more measured by a laser particle size distribution meter is 10 wt% or less. 前記アモルファス金属は、実質的にNiおよびCoを含まない請求項1ないし3のいずれかに記載の研削用粉末。   The grinding powder according to any one of claims 1 to 3, wherein the amorphous metal does not substantially contain Ni and Co. アトマイズ法により粉末化して得られたものである請求項1ないし4のいずれかに記載の研削用粉末。   The grinding powder according to any one of claims 1 to 4, which is obtained by pulverization by an atomizing method. 前記アトマイズ法は、水アトマイズ法である請求項5に記載の研削用粉末。   The grinding powder according to claim 5, wherein the atomizing method is a water atomizing method. 前記アモルファス金属は、その最大磁束密度が20[emu/g]以上、かつ、保磁力が5[Oe]以下である請求項1ないし6のいずれかに記載の研削用粉末。   The grinding powder according to claim 1, wherein the amorphous metal has a maximum magnetic flux density of 20 [emu / g] or more and a coercive force of 5 [Oe] or less. 前記不純物の含有率は、2wt%以下である請求項1ないし7のいずれかに記載の研削用粉末。  The powder for grinding according to any one of claims 1 to 7, wherein the impurity content is 2 wt% or less. 磁力により選択的に回収され、少なくとも1回の再利用に供される請求項1ないしのいずれかに記載の研削用粉末。 The grinding powder according to any one of claims 1 to 8 , which is selectively recovered by magnetic force and used for at least one reuse. 被処理部材の表面に、請求項1ないしのいずれかに記載の研削用粉末を衝突させて前記表面を研削することを特徴とする研削方法。 Grinding method characterized by the surface of the member to be processed, for grinding the surface by colliding the powder for grinding according to any one of claims 1 to 9. 非磁性を示す被処理部材の表面に、請求項1ないしのいずれかに記載の研削用粉末を衝突させて前記表面を研削する工程と、
前記研削により生じた被処理部材の研削屑と前記衝突後の研削用粉末との混在物中から、磁力により誘引して、前記研削用粉末を選択的に回収する工程とを有することを特徴とする研削方法。
A step of grinding the surface by causing the grinding powder according to any one of claims 1 to 9 to collide with a surface of a member to be processed that exhibits non-magnetism;
A step of selectively collecting the grinding powder by attracting it by magnetic force from a mixture of grinding waste of the member to be treated generated by the grinding and the grinding powder after the collision. Grinding method.
画素空間を画成する隔壁を有するフラットディスプレイパネル用基板の製造方法であって、
ガラス材料を含有するガラス含有層上に、開口部を有するマスクを形成する工程と、
前記マスクの開口部から露出する前記ガラス含有層を、請求項1ないしのいずれかに記載の研削用粉末を衝突させて研削する工程と、
前記研削されたガラス含有層を焼成し、前記隔壁を得る工程とを有することを特徴とするフラットディスプレイパネル用基板の製造方法。
A method of manufacturing a flat display panel substrate having a partition wall defining a pixel space,
Forming a mask having an opening on a glass-containing layer containing a glass material;
Grinding the glass-containing layer exposed from the opening of the mask by colliding the grinding powder according to any one of claims 1 to 9 ,
And baking the ground glass-containing layer to obtain the partition wall. A method for producing a flat display panel substrate.
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