JP4421659B2 - Electronic device having flash memory - Google Patents

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Description

本発明は、メモリカードや携帯電子機器等の不揮発性メモリからなるフラッシュメモリとそれを制御する制御部とを有する電子機器において、停電によるシステムダウンやシステムエラーの発生時におけるシステムの回復及びその処理を適切かつ容易に行うことができるフラッシュメモリを有する電子機器に関する。   The present invention relates to recovery and processing of a system in the event of a system failure or system error due to a power failure in an electronic device having a flash memory including a nonvolatile memory such as a memory card or a portable electronic device and a control unit that controls the flash memory. The present invention relates to an electronic device having a flash memory that can appropriately and easily perform the above.

フラッシュメモリを内蔵したメモリカードや、フラッシュメモリを内蔵した電子手帳等の携帯電子機器は、内蔵されたフラッシュメモリにデータを記録し、記録したデータを適宜読み出す。フラッシュメモリは、通常、フローティングゲート型のMOSトランジスタからなる不揮発性メモリで構成され、データの記録を行うプログラム、データの消去を行うイレーズ、及びデータの読み出しを行うリード動作を有する。一般に、プログラムモード、イレーズモードの動作は、リードモードに比較して、長時間を要するが、フラッシュメモリは、電源が遮断されている間も記録されたデータが保持される不揮発性であることから、メモリカードや携帯電子機器等の電源の使用が制限される状況で使用される電子機器に最適なメモリである。   A portable electronic device such as a memory card with a built-in flash memory or an electronic notebook with a built-in flash memory records data in the built-in flash memory and reads the recorded data as appropriate. The flash memory is usually composed of a nonvolatile memory composed of floating gate type MOS transistors, and has a program for recording data, an erase for erasing data, and a read operation for reading data. In general, program mode and erase mode operations require a longer time than read mode, but flash memory is non-volatile that retains recorded data even while the power is turned off. The memory is optimal for electronic devices used in situations where the use of power sources such as memory cards and portable electronic devices is restricted.

図13は、従来のメモリカード等の比較的小規模な電子機器の構成図である。この電子機器100は、フラッシュメモリからなるメインメモリ2とそれを制御する制御回路1とを有し、それらがバス4で接続される。かかる電子機器100は、パーソナルコンピュータ等に装着され、メインメモリ2にユーザのデータ等が記録される。パーソナルコンピュータからの要求に応じて、制御回路1は、バス4を介してメインメモリに数サイクルのコマンドを供給し、それに応答してメインメモリ2は、イレーズやプログラム動作等を行う。   FIG. 13 is a configuration diagram of a relatively small electronic device such as a conventional memory card. The electronic device 100 includes a main memory 2 composed of a flash memory and a control circuit 1 that controls the main memory 2, which are connected by a bus 4. The electronic device 100 is mounted on a personal computer or the like, and user data or the like is recorded in the main memory 2. In response to a request from the personal computer, the control circuit 1 supplies a command of several cycles to the main memory via the bus 4, and in response to this, the main memory 2 performs erase, program operation, and the like.

図14は、従来の携帯電子機器等の比較的大規模な電子機器の構成図である。この電子機器100は、制御回路1とフラッシュメモリからなるメインメモリ2に加えて、DRAMやSRAM等の比較的高速にデータの書き込みを行うことができるテンポラリメモリ3を有する。テンポラリメモリ3は、バス5とテンポラリメモリ制御線6とを介して制御回路1に接続される。そして、揮発性メモリからなるテンポラリメモリ3には、電池8が接続され、電源遮断時のデータの保持を可能にする。   FIG. 14 is a configuration diagram of a relatively large-scale electronic device such as a conventional portable electronic device. The electronic device 100 includes a temporary memory 3 that can write data at a relatively high speed, such as a DRAM and an SRAM, in addition to a control circuit 1 and a main memory 2 including a flash memory. The temporary memory 3 is connected to the control circuit 1 via a bus 5 and a temporary memory control line 6. A battery 8 is connected to the temporary memory 3 composed of a volatile memory, and data can be retained when the power is shut off.

テンポラリメモリ3は、制御回路1がメインメモリ2に書き込みを行う時の書き込みデータが一時的に書き込まれ、テンポラリメモリ3に一時的に記録された書き込みデータが、比較的書き込みに時間を要するメインメモリ2に、時間をかけて書き込まれる。また、電子機器100のベンダー情報等の属性情報も、テンポラリメモリ3に記録される。   The temporary memory 3 temporarily stores write data when the control circuit 1 writes to the main memory 2, and the write data temporarily recorded in the temporary memory 3 requires a relatively long time for writing. 2 is written over time. Further, attribute information such as vendor information of the electronic device 100 is also recorded in the temporary memory 3.

上記従来のフラッシュメモリを内蔵する電子機器は、フラッシュメモリへのプログラムやイレーズ中に停電やエラーが発生した場合、復帰後に停電やエラー発生時の状況を知る手段がない。従って、カードメモリの場合においては、パーソナルコンピュータ側のカードドライバやファイルシステムに、その停電やエラーが発生した時の状況を検出して対処できるようにする機能をもたせることが必要であり、システム側の負担が大きくなる傾向にある。   The electronic device incorporating the above-described conventional flash memory has no means of knowing the situation at the time of power failure or error after recovery when a power failure or error occurs during program or erase to the flash memory. Therefore, in the case of card memory, it is necessary to provide the card driver and file system on the personal computer side with a function to detect and deal with the situation when the power failure or error occurs. There is a tendency to increase the burden of.

更に、カードメモリ等は携帯性に富んでいるが、カードメモリ内にエラー発生要因が含まれている場合、それを検出することができず、カードメモリの流用性を損なうという問題がある。   Furthermore, the card memory or the like is rich in portability, but when an error occurrence factor is included in the card memory, it cannot be detected, and there is a problem that the diversion of the card memory is impaired.

また、図14で示したテンポラリ・メモリ3を有する場合も、同様に停電やエラー発生によりメインメモリ2へのプログラムやイレーズが中断された場合には、復帰後にその状況を検出することが困難であり、復帰に時間を要するという問題がある。   In the case of having the temporary memory 3 shown in FIG. 14 as well, if the program or erase to the main memory 2 is interrupted due to a power failure or an error, it is difficult to detect the situation after the return. There is a problem that it takes time to return.

そこで、本発明の目的は、停電やエラー発生によりプログラム動作やイレーズ動作が中断された場合でも、復帰時にその中断時の情報を容易に検出することができ、停電やエラー発生に対して短時間で且つ容易に復帰することができるフラッシュメモリ内蔵の電子機器を提供することにある。   Therefore, even if the program operation or erase operation is interrupted due to the occurrence of a power failure or error, the object of the present invention is to easily detect the information at the time of the interruption at the time of recovery, and for a short time against the occurrence of a power failure or error. It is another object of the present invention to provide an electronic device with a built-in flash memory that can be easily restored.

更に、本発明の目的は、フラッシュメモリの動作に不具合が発生した場合に、その情報を保持し、不具合発生後の復帰時に、短時間でかつ容易に復帰することができるフラッシュメモリ内蔵の電子機器を提供することにある。   Furthermore, an object of the present invention is to provide an electronic device with a built-in flash memory that can retain information when a malfunction occurs in the operation of the flash memory and can easily recover in a short time when the malfunction occurs. Is to provide.

更に、本発明の目的は、使用時においてフラッシュメモリに不良ビットが発生した場合でも継続して使用することができるフラッシュメモリ内蔵の電子機器を提供することにある。   It is another object of the present invention to provide an electronic device with a built-in flash memory that can be used continuously even when a defective bit occurs in the flash memory during use.

上記の目的を達成する為に、本発明は、フラッシュメモリを内蔵する電子機器において、フラッシュメモリとそれを制御する制御部とを接続するバスの情報を、所定のタイミングで記録する補助不揮発性メモリを有する。この補助不揮発性メモリは、好ましくは、フラッシュメモリよりも高速書き込みが可能なメモリであり、例えば、FeRAM(Ferroelectric RAM)が実際的な例である。FeRAMは、強誘電体の分極作用を利用したメモリであり、通常は、DRAMと同様に動作し、電源がオフになっても記録されたデータは保持される。しかも、その書き込みに要する時間は、従来のフラッシュメモリで使用されるフローティングゲート型のMOSトランジスタからなる不揮発性メモリよりも高速である。   In order to achieve the above object, the present invention provides an auxiliary nonvolatile memory that records information of a bus connecting a flash memory and a control unit that controls the flash memory at a predetermined timing in an electronic device incorporating the flash memory. Have This auxiliary non-volatile memory is preferably a memory capable of writing at a higher speed than a flash memory, and for example, FeRAM (Ferroelectric RAM) is a practical example. The FeRAM is a memory that utilizes the polarization action of a ferroelectric, and normally operates in the same manner as a DRAM, and retains recorded data even when the power is turned off. In addition, the time required for the writing is faster than that of a nonvolatile memory composed of a floating gate type MOS transistor used in a conventional flash memory.

上記の目的を達成するために、本発明は、不揮発性メモリからなるフラッシュメモリと、バスを介して前記フラッシュメモリに接続され、前記バスを介して制御コマンドを供給し前記フラッシュメモリを制御する制御部とを有する電子機器において、前記フラッシュメモリより書き込み動作が速い補助不揮発性メモリを有し、前記制御部は、所定のタイミングで、前記補助不揮発性メモリに前記バスの情報を記憶することを特徴とする。   In order to achieve the above object, the present invention provides a flash memory composed of a nonvolatile memory and a control connected to the flash memory via a bus and supplying a control command via the bus to control the flash memory. An electronic device having an auxiliary nonvolatile memory having a faster write operation than the flash memory, and the control unit stores the bus information in the auxiliary nonvolatile memory at a predetermined timing. And

以下、本発明の実施の形態について図面に従って説明する。しかしながら、本発明の技術的範囲がその実施の形態に限定されるものではない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the technical scope of the present invention is not limited to the embodiment.

図1は、本発明の第1の実施の形態例の電子機器の構成図である。図1に示される通り、電子機器100は、フラッシュメモリからなるメインメモリ2とそれを制御する制御回路(CPU)1とを有し、それらはアドレス信号線とデータ信号線等を有するバス4で接続される。更に、電子機器100は、FeRAMからなる補助不揮発性メモリ10を有し、バス4から分岐したバス12が接続される。また、補助不揮発性メモリ10は、制御回路1からのFeRAM用のコントロール信号14により制御される。   FIG. 1 is a configuration diagram of an electronic apparatus according to a first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, an electronic device 100 has a main memory 2 composed of a flash memory and a control circuit (CPU) 1 that controls the main memory 2, and these are a bus 4 having address signal lines, data signal lines, and the like. Connected. Furthermore, the electronic device 100 includes an auxiliary nonvolatile memory 10 made of FeRAM, and a bus 12 branched from the bus 4 is connected thereto. The auxiliary nonvolatile memory 10 is controlled by a control signal 14 for FeRAM from the control circuit 1.

補助不揮発性メモリ10は、強誘電体の分極作用を利用したメモリであり、例えばMOS型のセルトランジスタのゲート酸化膜に強誘電体を利用し、そのゲート酸化膜に電圧を印加することで分極状態を作り、この分極状態が電源を遮断しても維持されることで不揮発性メモリの機能を持つ。分極状態に応じてセルトランジスタがオン、オフすることにより読み出しが行われる。また、分極状態にするための書き込みに要する時間は、フローティングゲート型のMOSトランジスタを利用するフラッシュメモリに比べて短い。   The auxiliary non-volatile memory 10 is a memory that uses the polarization action of a ferroelectric material. For example, a ferroelectric material is used for a gate oxide film of a MOS type cell transistor, and a voltage is applied to the gate oxide film to polarize the auxiliary nonvolatile memory 10. A state is created, and this polarization state is maintained even when the power is cut off, so that it has a function of a nonvolatile memory. Reading is performed by turning on and off the cell transistor in accordance with the polarization state. In addition, the time required for writing to obtain a polarization state is shorter than that of a flash memory using a floating gate type MOS transistor.

図2は、図1の電子機器の動作タイミングチャート図である。図2は、FeRAMのステータスとして、チップ単位で消去を行うチップ・イレーズS1、セクタ単位で消去を行うセクタ・イレーズS2、読み出しを行うリードS3、そして、プログラムを行うプログラムS4が例示される。それぞれのステータスにおいて、制御回路であるCPU1は、バス4のアドレスバスやデータバスに、制御コマンドや対象アドレス等を供給する。それに応じて、フラッシュメモリからなるメインメモリ2は、それぞれのステータスで動作期間になる。   FIG. 2 is an operation timing chart of the electronic device of FIG. FIG. 2 illustrates a chip erase S1 for erasing in units of chips, a sector erase S2 for erasing in units of sectors, a read S3 for reading, and a program S4 for performing programs as FeRAM statuses. In each status, the CPU 1 serving as a control circuit supplies a control command, a target address, and the like to the address bus and data bus of the bus 4. Correspondingly, the main memory 2 composed of the flash memory becomes an operation period in each status.

例えば、フラッシュメモリ2の動作期間の前半に、制御コマンドがバス4に供給され、それによりフラッシュメモリ2はそのステータスの動作を認識する。したがって、制御回路1は、FeRAMのコントロール信号14を補助不揮発性メモリ10に供給し、補助不揮発性メモリ10は、そのコントロール信号14に応答して、バス4の情報を記録する。このバス情報の記録は、ステータス毎に行われ、補助不揮発性メモリ10には、最新のステータスでの或いは最新の複数ステータスでのバス情報のみが記録される。したがって、補助不揮発性メモリ10はそれほど大きな記憶容量は必要ない。   For example, in the first half of the operation period of the flash memory 2, a control command is supplied to the bus 4 so that the flash memory 2 recognizes the operation of the status. Accordingly, the control circuit 1 supplies the FeRAM control signal 14 to the auxiliary nonvolatile memory 10, and the auxiliary nonvolatile memory 10 records the information on the bus 4 in response to the control signal 14. The bus information is recorded for each status, and only the bus information with the latest status or the latest plural statuses is recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10. Therefore, the auxiliary non-volatile memory 10 does not need a large storage capacity.

図2の例では、ステータスS1,S2,S3においては、正常に動作が終了しているが、サイクルS4のプログラム動作時において何らかのエラーまたは停電が発生する。その場合、その後の電子機器の電源立ち上げ時において、制御回路1は、補助不揮発性メモリ10に記録された、エラー発生の直前のバス情報を読み出す。そして、制御回路1は、エラー発生時のバス情報から、エラー発生時のステータスを知ることができる。このステータスには、チップ・イレーズ、セクタ・イレーズ、リード、プログラムのいずれかの情報が含まれる。また、セクタ・イレーズやプログラムの場合には、消去対象またはプログラム対象のアドレスも含まれる。従って、制御回路1は、どのアドレスへの消去またはプログラム中にエラーが発生したかを電源立ち上げ時に知ることができるので、電源立ち上げ後直ぐにエラー発生時の消去動作またはプログラム動作を開始することができる。従来の電子機器では、エラー発生時には、電源立ち上げ後にメインメモリのデータの内容をチェックし、プログラムされていないセルのアドレスを検出する必要があった。   In the example of FIG. 2, in the statuses S1, S2, and S3, the operation is normally completed, but some error or power failure occurs during the program operation of the cycle S4. In that case, at the time of power-on of the electronic device thereafter, the control circuit 1 reads the bus information immediately before the occurrence of the error recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10. Then, the control circuit 1 can know the status at the time of error occurrence from the bus information at the time of error occurrence. This status includes any information of chip erase, sector erase, read, and program. In the case of sector erase or program, an address to be erased or programmed is also included. Therefore, since the control circuit 1 can know at which address an error has occurred during erasing or programming when the power is turned on, the control circuit 1 can start the erasing or programming operation when an error occurs immediately after the power is turned on. Can do. In the conventional electronic device, when an error occurs, it is necessary to check the content of data in the main memory after the power is turned on and detect the address of the unprogrammed cell.

更に、エラーの発生が、停電等ではなく、セル不良によるプログラム不良の場合は、その不良セルのアドレス番地を、マスクアドレスとして補助不揮発性メモリ10に記録する。かかるマスクアドレスを利用することで、その後の不良セルへのプログラムを禁止することができる。この点については、後で詳述する。   Furthermore, when the error is not a power failure or the like but a program failure due to a cell failure, the address address of the defective cell is recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10 as a mask address. By using such a mask address, subsequent programming to a defective cell can be prohibited. This point will be described in detail later.

補助不揮発性メモリ10には、最新のバス情報のみが記録される。今仮に、1サイクル毎に補助不揮発性メモリ10にバス情報を更新するとする。メインメモリが4Mビットで入出力端子I/Oが16本とすると、アドレスバスが18ビット、入出力端子用のデータバスが16ビット、及びメインメモリへのコントロールピン数ビットで、合計40ビットの容量を補助不揮発性メモリ10が有していれば良い。   Only the latest bus information is recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10. Assume that the bus information is updated in the auxiliary nonvolatile memory 10 every cycle. If the main memory is 4M bits and the number of input / output terminals I / O is 16, the address bus is 18 bits, the data bus for input / output terminals is 16 bits, and the number of control pins to the main memory is 40 bits. It is sufficient that the auxiliary nonvolatile memory 10 has a capacity.

電子機器100は、例えばメモリカードの場合は、異なるパーソナルコンピュータに接続される。その場合、メモリカード内の補助不揮発性メモリ10には、前回のエラー発生時のバス情報が保持されているので、異なるパーソナルコンピュータでも、その情報を読み出して、エラー発生時の状況を認識することができ、システムの信頼性を上げることができる。   For example, in the case of a memory card, electronic device 100 is connected to a different personal computer. In that case, since the bus information at the time of the previous error occurrence is held in the auxiliary nonvolatile memory 10 in the memory card, even different personal computers can read the information and recognize the situation at the time of the error occurrence. Can improve the reliability of the system.

図3は、第1の実施の形態例の電子機器の詳細図である。この例では、フラッシュメモリからなるメインメモリ2が、4Mビットの容量を有し、バス4が、18本のアドレスバスADDと、16本のデータバスD−I/Oと、数本のコントロールバスCTLとを有する。コントロールバスCTLは、例えば、チップイネーブル/CE、アウトプットイネーブル/OE、ライトイネーブル/WE等を有する。これらのバスは、更に分岐して補助不揮発性メモリ10にも接続される。   FIG. 3 is a detailed view of the electronic apparatus according to the first embodiment. In this example, the main memory 2 composed of flash memory has a capacity of 4 Mbits, the bus 4 includes 18 address buses ADD, 16 data buses DI / O, and several control buses. CTL. The control bus CTL includes, for example, a chip enable / CE, an output enable / OE, a write enable / WE, and the like. These buses are further branched and connected to the auxiliary nonvolatile memory 10.

図4は、図3の電子機器の動作タイミングチャート図である。図4には、複数の動作ステータスのうち、チップイレーズの例が示される。チップイレーズは、重要な記憶データを消去することになるので、エラーにより記憶データが消去されないように、制御回路1が6サイクルの制御コマンドを供給することにより、フラッシュメモリ2にそれを認識させる。即ち、第1のサイクルから第6のサイクルまで、アドレスバスADDとデータバスD−I/Oとに図示の如き制御コマンドが供給される。制御回路1は、FeRAMコントロール信号14により、各サイクルでの制御コマンドを補助不揮発性メモリ10に記録させる。即ち、6サイクル分の制御コマンドが補助不揮発性メモリ10に記録される。その後、チップ全体の消去動作が実行される。   4 is an operation timing chart of the electronic device of FIG. FIG. 4 shows an example of chip erase among a plurality of operation statuses. Since chip erase erases important stored data, the control circuit 1 supplies the control command of 6 cycles so that the flash memory 2 recognizes the stored data so that the stored data is not erased due to an error. That is, from the first cycle to the sixth cycle, control commands as shown are supplied to the address bus ADD and the data bus DI / O. The control circuit 1 records the control command in each cycle in the auxiliary nonvolatile memory 10 by the FeRAM control signal 14. That is, control commands for 6 cycles are recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10. Thereafter, the entire chip is erased.

上記の制御コマンドを供給するサイクルは、例えば100nsec 程度を要するのに対して、その後の消去動作には、例えば数sec を要する。従って、6サイクルのコマンドシーケンスをバス4に供給している時間は、約600nsec 程度であるのに対して、その後の消去動作は、それより遙かに長い数秒を要するのである。従って、図2において説明した通り、各ステータスの動作期間の前半においてバス4に供給される制御コマンドを記録し、エラー発生後の電源立ち上がり時において、エラー発生直前の6サイクル分の制御コマンドを分析することで、制御回路1は、エラー発生直前の動作状態を容易に検出することができる。   The cycle for supplying the above control command requires, for example, about 100 nsec, while the subsequent erase operation requires, for example, several seconds. Therefore, the time for supplying the command sequence of 6 cycles to the bus 4 is about 600 nsec, but the subsequent erasing operation takes much longer than several seconds. Therefore, as explained in FIG. 2, the control commands supplied to the bus 4 are recorded in the first half of the operation period of each status, and the control commands for 6 cycles immediately before the error occurrence are analyzed at the power-up after the error occurrence. Thus, the control circuit 1 can easily detect the operation state immediately before the error occurs.

図5は、制御コマンドの例を示す図である。リード動作では、3サイクルの制御コマンドと4サイクル目の読み出しアドレスRAに応答して、フラッシュメモリ2は、データバスD−I/Oに読み出しデータRDを出力する。プログラム動作では、3サイクルの制御コマンドと4サイクル目のプログラムアドレスPAとプログラムデータPDに応答して、フラッシュメモリ2は、プログラム動作を行う。プログラム動作は、対象アドレスを一旦消去し、その後プログラムし、プログラムベリファイ等が必要であり、コマンドシーケンスに比較して長時間を要する。更に、チップ・イレーズとセクタ・イレーズ動作では、6サイクルの制御コマンドが供給され、それに応答して、フラッシュメモリ2は消去動作を行う。両イレーズは、6サイクル目の制御コマンドで区別される。セクタ・イレーズの場合は、6サイクル目にセクタアドレスSAが供給される。   FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a control command. In the read operation, in response to the control command for the third cycle and the read address RA for the fourth cycle, the flash memory 2 outputs the read data RD to the data bus DI / O. In the program operation, the flash memory 2 performs the program operation in response to the control command for the third cycle, the program address PA and the program data PD for the fourth cycle. The program operation requires erasing the target address once, then programming, program verification, etc., and requires a longer time than the command sequence. Further, in the chip erase and sector erase operations, a control command of 6 cycles is supplied, and in response to this, the flash memory 2 performs an erase operation. Both erases are distinguished by a control command in the sixth cycle. In the case of sector erase, the sector address SA is supplied in the sixth cycle.

図5の制御コマンドの例で明らかな通り、各ステータスの前半においてバス4に出力される制御コマンドを補助不揮発性メモリ10に記録することで、その後のプログラム動作中や消去動作中にエラーが発生した場合、エラー発生直前の動作内容、動作対象アドレスPA,SAを読み出すことができる。また、消去動作の場合、7サイクル目以降に消去対象アドレスがバス4に供給されるので、かかる消去対象アドレスを補助不揮発性メモリ10に記録することにより、エラー発生直前の消去対象アドレスを知ることができる。   As is clear from the example of the control command in FIG. 5, by recording the control command output to the bus 4 in the auxiliary nonvolatile memory 10 in the first half of each status, an error occurs during the subsequent program operation or erase operation. In this case, it is possible to read the operation content immediately before the error occurrence and the operation target addresses PA and SA. In the erase operation, since the erase target address is supplied to the bus 4 after the seventh cycle, the erase target address immediately before the occurrence of the error is known by recording the erase target address in the auxiliary nonvolatile memory 10. Can do.

図6は、第2の実施の形態例の電子機器の構成図である。この例では、バス4に含まれフラッシュメモリ2から制御回路1に供給されるフラグ信号である、レディービジー信号RY/BYとタイミングリミット超過信号DQ5とが、補助不揮発性メモリ10にも接続される。そして、これらのフラグ信号のタイミングで、バス4内のアドレスバスADD、データバスD−I/O及びコントロールバスCTLを含むバス線13のデータが、バス情報として補助不揮発性メモリ10に記録される。   FIG. 6 is a configuration diagram of an electronic apparatus according to the second embodiment. In this example, a ready busy signal RY / BY and a timing limit excess signal DQ5, which are flag signals included in the bus 4 and supplied from the flash memory 2 to the control circuit 1, are also connected to the auxiliary nonvolatile memory 10. . At the timing of these flag signals, the data on the bus line 13 including the address bus ADD, the data bus DI / O, and the control bus CTL in the bus 4 are recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10 as bus information. .

図7は、図6の動作タイミングチャート図である。図7には、ステータスS11〜S14として、イレーズ、プログラム、プログラム、プログラムの例が示される。上記したフラグ信号は、消去動作とプログラム動作の場合にフラッシュメモリ2から出力される。例えば、レディービジー信号RY/BYは、フラッシュメモリにおいて消去またはプログラム動作が実行中の時にLレベルになり、それらの動作が終了するとHレベルになる。プログラム動作においては、レディービジー信号RY/BYは図5に示したコマンドシーケンスの4サイクル目でLレベルになる。同様に、消去動作においては、図5に示したコマンドの6サイクル目でLレベルになる。そして、動作が終了するとHレベルになる。図7に示される通りである。従って、このレディービジー信号RY/BYに応答して、制御回路1が、FeRAMコントロール信号14により、補助不揮発性メモリ10にバス13の情報を記録させる。これにより、実際に消去或いはプログラム動作が開始してから以降のバス情報が、補助不揮発性メモリ10に記録される。その結果、エラー発生時において、エラー発生直前の動作履歴を補助不揮発性メモリ10から読み出すことができる。   FIG. 7 is an operation timing chart of FIG. FIG. 7 shows erase, program, program, and examples of programs as statuses S11 to S14. The flag signal described above is output from the flash memory 2 in the erase operation and the program operation. For example, the ready / busy signal RY / BY becomes L level when an erase or program operation is being executed in the flash memory, and becomes H level when these operations are completed. In the program operation, the ready / busy signal RY / BY becomes L level in the fourth cycle of the command sequence shown in FIG. Similarly, in the erase operation, it becomes L level in the sixth cycle of the command shown in FIG. Then, when the operation is finished, it becomes H level. As shown in FIG. Therefore, in response to the ready / busy signal RY / BY, the control circuit 1 causes the auxiliary nonvolatile memory 10 to record the information on the bus 13 by the FeRAM control signal 14. Thereby, the bus information after the erase or program operation is actually started is recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10. As a result, when an error occurs, the operation history immediately before the error can be read from the auxiliary nonvolatile memory 10.

もう一つのフラグ信号であるタイミングリミット超過信号DQ5は、プログラムまたは消去時間が規定限界を超えた場合に、フラッシュメモリ2が出力する。従って、タイミングリミット超過信号DQ5がLレベルの間は、規定限界を超えていないことを意味するので、各ステータスの動作期間中において、信号DQ5がLレベルを維持している限り、それぞれの消去またはプログラム動作が正常に行われていることを意味する。また、図7のステータスS14に示される通り、動作中に信号DQ5がHレベルになると、プログラムエラーが発生したことを意味する。従って、信号DQ5のLレベルからHレベルへの変化に応答して、制御回路1が、FeRAMコントロール14により、補助不揮発性メモリ10にバス情報を記録させる。その結果、プログラムエラーが発生したアドレス情報等を、補助不揮発性メモリ10に記録することができる。   The timing limit excess signal DQ5, which is another flag signal, is output from the flash memory 2 when the program or erase time exceeds a specified limit. Therefore, while the timing limit excess signal DQ5 is at the L level, it means that the specified limit is not exceeded. Therefore, as long as the signal DQ5 maintains the L level during the operation period of each status, Means that the program is operating normally. Further, as shown in the status S14 of FIG. 7, when the signal DQ5 becomes H level during the operation, it means that a program error has occurred. Accordingly, in response to the change of the signal DQ5 from the L level to the H level, the control circuit 1 causes the auxiliary nonvolatile memory 10 to record the bus information by the FeRAM control 14. As a result, address information or the like where a program error has occurred can be recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10.

この記録されたエラー発生時のアドレスを利用することにより、そのアドレスからの再プログラム実行、或いはその後のエラー発生アドレスへのプログラム禁止などに利用することができる。   By using the recorded address at the time of error occurrence, it can be used for reprogram execution from that address, or for prohibiting the program to the error occurrence address thereafter.

図7に示された、レディービジー信号RY/BYに応答してバス情報を記録することと、タイミングリミット超過信号DQ5に応答してバス情報を記録することの両方を行うことで、より詳細なエラー情報を補助不揮発性メモリ10に記録することができる。   The bus information is recorded in response to the ready / busy signal RY / BY shown in FIG. 7 and the bus information is recorded in response to the timing limit excess signal DQ5. Error information can be recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10.

図8は、第3の実施の形態例の電子機器の構成図である。この例では、制御回路1とメインメモリ2とを接続するバス4のうち、上記したレディービジー信号RY/BYの履歴が、FeRAMコントロール信号14に応答して補助不揮発性メモリ10に記録される。   FIG. 8 is a configuration diagram of an electronic apparatus according to the third embodiment. In this example, in the bus 4 connecting the control circuit 1 and the main memory 2, the history of the ready busy signal RY / BY is recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10 in response to the FeRAM control signal 14.

図9は、図8の動作タイミングチャート図である。上記した通り、レディービジー信号RY/BYは、消去動作あるいはプログラム動作において、動作中にLレベル、動作完了するとHレベルになる。従って、このレディービジー信号RY/BYの状態を補助不揮発性メモリ10に記録することにより、エラーが発生してシステムがダウンした場合、エラー発生は、消去あるいはプログラム動作中に発生したか否かを知ることができる。かかる情報を記録することで、システム復帰時において、再度消去あるいはプログラム動作を実行すべきか否かの判断に利用することができる。   FIG. 9 is an operation timing chart of FIG. As described above, the ready / busy signal RY / BY becomes L level during the erase operation or program operation, and becomes H level when the operation is completed. Therefore, by recording the state of the ready / busy signal RY / BY in the auxiliary non-volatile memory 10, when an error occurs and the system goes down, it is determined whether the error has occurred during the erase or program operation. I can know. By recording such information, it can be used to determine whether or not to erase or program again when the system is restored.

図9に示される通り、レディービジー信号RY/BYがHレベルからLレベルに切り替わる時、及びLレベルからHレベルに切り替わる時に、制御回路1は、コントロール信号14により、補助不揮発性メモリ10にレディービジー信号RY/BYの状態を記録させる。従って、エラー発生後のシステム復帰時において、補助不揮発性メモリ10に記録されている最後のレディービジー信号RY/BYをチェックすることで、動作中にエラー発生したか(RY/BY=L)、動作終了後にエラー発生したか(RY/BY=H)を検出することができる。即ち、正常終了したか不正常終了したかを検出することができる。しかも、補助不揮発性メモリ10は、レディービジー信号RY/BYの1ビットのみを記録するだけであるので、記憶容量を小さくすることができる。   As shown in FIG. 9, when the ready / busy signal RY / BY is switched from the H level to the L level, and when the ready busy signal RY / BY is switched from the L level to the H level, the control circuit 1 is ready to the auxiliary nonvolatile memory 10 by the control signal 14. The state of the busy signal RY / BY is recorded. Therefore, at the time of system recovery after an error occurs, the last ready / busy signal RY / BY recorded in the auxiliary nonvolatile memory 10 is checked to determine whether an error has occurred during operation (RY / BY = L). It can be detected whether an error has occurred after the operation is finished (RY / BY = H). In other words, it is possible to detect whether the process has been completed normally or abnormally. In addition, since the auxiliary nonvolatile memory 10 only records one bit of the ready / busy signal RY / BY, the storage capacity can be reduced.

図10は、第4の実施の形態例の電子機器の構成図である。この例は、補助不揮発性メモリ10内に、バス記憶領域101とマスクアドレス領域102とを有する。そして、バス記憶領域101には、バス4から分岐したバス12の情報が上記してきた所定のタイミングで記録される。一方、マスクアドレス領域102には、プログラム不良あるいは消去不良が発生した時のアドレスが記録される。そして、バス記憶領域101内のバス情報は、システムが復帰した時の自動解析により読み出されて、システム復帰後の動作に利用される。一方、マスクアドレス領域102に記録されたアドレスは、システム復帰後に制御回路1により読み出され、その後のアクセスが禁止される。   FIG. 10 is a configuration diagram of an electronic apparatus according to the fourth embodiment. This example has a bus storage area 101 and a mask address area 102 in the auxiliary nonvolatile memory 10. Information on the bus 12 branched from the bus 4 is recorded in the bus storage area 101 at the predetermined timing described above. On the other hand, in the mask address area 102, an address when a program failure or an erase failure occurs is recorded. The bus information in the bus storage area 101 is read out by automatic analysis when the system is restored and used for operations after the system is restored. On the other hand, the address recorded in the mask address area 102 is read by the control circuit 1 after the system is restored, and subsequent access is prohibited.

図11は、第5の実施の形態例の電子機器の構成図である。この例は、補助不揮発性メモリ10内に、バス記憶領域101とテンポラリ領域104とを有する。バス記憶領域101には、図10と同様に所定のタイミングでバス情報が記録される。また、テンポラリ領域104は、従来例で説明したテンポラリメモリ3と同様に、一次的に書き込みデータを記録したり、メモリカードの属性データを記録したりするのに利用される。電池を必要としないで書き込み及び読み出し動作が高速なFeRAMを利用することにより、従来のテンポラリメモリ3と同等の機能をもたせることができる。   FIG. 11 is a configuration diagram of an electronic apparatus according to the fifth embodiment. This example has a bus storage area 101 and a temporary area 104 in the auxiliary nonvolatile memory 10. In the bus storage area 101, bus information is recorded at a predetermined timing as in FIG. The temporary area 104 is used for temporarily recording write data and recording attribute data of the memory card, like the temporary memory 3 described in the conventional example. By using FeRAM that does not require a battery and performs high-speed writing and reading operations, the same functions as those of the conventional temporary memory 3 can be provided.

図12は、更に、第6の実施の形態例の電子機器の構成図である。この例では、フラッシュメモリ領域30からなるメインメモリ2のチップ内に、FeRAMからなる補助不揮発性メモリ領域32が設けられる。従って、フラッシュメモリ領域30に供給されるバスの情報が、接続線34を介して補助不揮発性メモリ32に供給され、所定のタイミングで記録される。   FIG. 12 is a block diagram of the electronic apparatus of the sixth embodiment. In this example, an auxiliary nonvolatile memory area 32 made of FeRAM is provided in the chip of the main memory 2 made of the flash memory area 30. Accordingly, the bus information supplied to the flash memory area 30 is supplied to the auxiliary nonvolatile memory 32 via the connection line 34 and recorded at a predetermined timing.

以上説明した通り、本発明によれば、プログラム動作や消去動作に長時間を要するフラッシュメモリにおいて、動作中にエラーが発生しても、その直前のバス情報が補助不揮発性メモリに記録されるので、システム復帰後にその補助不揮発性メモリに記録されたバス情報を解析することにより、エラー発生時の動作状況を容易に知ることができ、復帰後の作業を容易にする。   As described above, according to the present invention, even if an error occurs during operation in a flash memory that requires a long time for a program operation or an erase operation, the bus information immediately before that is recorded in the auxiliary nonvolatile memory. By analyzing the bus information recorded in the auxiliary non-volatile memory after the system is restored, it is possible to easily know the operation status at the time of occurrence of an error and facilitate the work after the restoration.

本発明の第1の実施の形態例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of the 1st Example of this invention. 図1の電子機器の動作タイミングチャート図である。FIG. 2 is an operation timing chart of the electronic device of FIG. 1. 第1の実施の形態例の電子機器の詳細図である。1 is a detailed view of an electronic device according to a first embodiment. 図3の電子機器の動作タイミングチャート図である。FIG. 4 is an operation timing chart of the electronic device of FIG. 3. 制御コマンドの例を示す図である。It is a figure which shows the example of a control command. 第2の実施の形態例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of a 2nd embodiment. 図6の動作タイミングチャート図である。FIG. 7 is an operation timing chart of FIG. 6. 第3の実施の形態例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of the example of 3rd Embodiment. 図8の動作タイミングチャート図である。FIG. 9 is an operation timing chart of FIG. 8. 第4の実施の形態例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of the example of 4th Embodiment. 第5の実施の形態例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of a 5th embodiment. 第6の実施の形態例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of a 6th embodiment. 従来例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of a prior art example. 従来例の電子機器の構成図である。It is a block diagram of the electronic device of a prior art example.

符号の説明Explanation of symbols

1 制御回路
2 フラッシュメモリ、メインメモリ
4 バス
10 補助不揮発性メモリ、FeRAM
14 FeRAMのコントロール信号
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Control circuit 2 Flash memory, main memory 4 Bus 10 Auxiliary non-volatile memory, FeRAM
14 FeRAM control signal

Claims (10)

不揮発性メモリからなるフラッシュメモリにバスを介して接続され、前記バスを介して制御コマンドを供給して前記フラッシュメモリを制御する制御回路において、  In a control circuit connected to a flash memory composed of a non-volatile memory via a bus and supplying a control command via the bus to control the flash memory,
前記フラッシュメモリより書き込み動作が速い補助不揮発性メモリに前記バスを介して接続され、  Connected to the auxiliary non-volatile memory having a faster write operation than the flash memory via the bus,
前記フラッシュメモリへのリード動作、プログラム動作または消去動作を指示する時に、前記補助不揮発性メモリに前記バスの情報を記憶させること  The bus information is stored in the auxiliary nonvolatile memory when a read operation, a program operation or an erase operation is instructed to the flash memory.
を特徴とする制御回路。A control circuit characterized by.
前記制御回路は、アドレスバスまたはデータバスを介して、前記フラッシュメモリおよび前記補助不揮発性メモリに接続されることを特徴とする請求項1に記載の制御回路。  The control circuit according to claim 1, wherein the control circuit is connected to the flash memory and the auxiliary nonvolatile memory via an address bus or a data bus. 前記制御回路は、前記補助不揮発性メモリに記憶された前記バスの情報を所定のタイミングで読み出すことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の制御回路。  The control circuit according to claim 1, wherein the control circuit reads information on the bus stored in the auxiliary nonvolatile memory at a predetermined timing. 前記所定のタイミングは、前記制御回路を搭載する電子機器の電源立ち上げ時であることを特徴とする請求項3に記載の制御回路。  The control circuit according to claim 3, wherein the predetermined timing is when a power source of an electronic device equipped with the control circuit is turned on. 前記補助不揮発性メモリへの前記バスの情報の記憶は、前記制御回路が前記補助不揮発性メモリに供給する制御信号に同期して行われることを特徴とする請求項1、請求項2、請求項3又は請求項4に記載の制御回路。  The storage of the bus information in the auxiliary non-volatile memory is performed in synchronization with a control signal supplied from the control circuit to the auxiliary non-volatile memory. The control circuit according to claim 3 or 4. 前記フラッシュメモリメモリは、前記制御コマンドに対応するステータス期間を有し、前記補助不揮発性メモリへの前記バスの情報の記憶は、前記ステータス期間の中間よりも前の期間で行われることを特徴とする請求項1、請求項2、請求項3、請求項4又は請求項5に記載の制御回路。  The flash memory has a status period corresponding to the control command, and storage of the bus information in the auxiliary nonvolatile memory is performed in a period before the middle of the status period. The control circuit according to claim 1, claim 2, claim 3, claim 4 or claim 5. 前記制御回路は、前記制御コマンド又はアドレスを複数のサイクルに分割して前記フラッシュメモリメモリに供給することを特徴とする請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、請求項5又は請求項6に記載の制御回路。  The said control circuit divides | segments the said control command or an address into several cycles, and supplies it to the said flash memory memory, The claim 1, Claim 3, Claim 4, Claim 5 or Claim 5 characterized by the above-mentioned. The control circuit according to claim 6. 不揮発性メモリにリード動作、プログラム動作または消去動作の何れか一つを示す制御コマンドをバスを介して供給し、  A control command indicating any one of a read operation, a program operation or an erase operation is supplied to the nonvolatile memory via the bus,
前記制御コマンドを供給するときに、前記フラッシュメモリより書き込み動作が速い補助不揮発性メモリに前記バスの情報を記憶させ、  When supplying the control command, the information of the bus is stored in an auxiliary nonvolatile memory that has a faster write operation than the flash memory,
電源投入時に前記補助不揮発性メモリから前記バスの情報を読み出すことを特徴とするフラッシュメモリの制御方法。  A method for controlling a flash memory, comprising: reading information on the bus from the auxiliary nonvolatile memory when power is turned on.
前記制御コマンドを処理するサイクル時間の前半に前記補助不揮発性メモリへの前記バスの情報の記憶が行われことを特徴とする請求項8に記載のフラッシュメモリの制御方法。  9. The flash memory control method according to claim 8, wherein the bus information is stored in the auxiliary nonvolatile memory in the first half of a cycle time for processing the control command. 前記制御コマンド又はアドレスを複数のサイクルに分割して前記フラッシュメモリメモリに供給することを特徴とする請求項8又は請求項9に記載のフラッシュメモリの制御方法。  10. The flash memory control method according to claim 8, wherein the control command or address is divided into a plurality of cycles and supplied to the flash memory memory.
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