JP4367630B2 - Bump formation method - Google Patents

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Description

本発明は、バンプの形成方法に関する。より具体的には、プリント配線板、ウエハ、セラミック基板などに設けられた電極上に、マスクとして樹脂膜を使用してバンプを形成する方法に関する。   The present invention relates to a bump forming method. More specifically, the present invention relates to a method for forming a bump on an electrode provided on a printed wiring board, a wafer, a ceramic substrate, or the like using a resin film as a mask.

近年、プリント配線板やセラミック基板への電子部品の実装に関しては、高密度化の要求が年々増しており、かかる要求を満たす方式としてベアチップ実装方式が注目されている。ベアチップ実装方式においては、チップと基板配線との電気的接続をワイヤボンディングを介して達成する従来のフェイスアップ実装に代わり、金属バンプを介して達成するフェイスダウン実装が広く採用される傾向にある。   In recent years, regarding the mounting of electronic components on a printed wiring board or a ceramic substrate, the demand for higher density has been increasing year by year, and a bare chip mounting method has attracted attention as a method that satisfies such a requirement. In the bare chip mounting method, instead of the conventional face-up mounting in which electrical connection between the chip and the substrate wiring is achieved through wire bonding, face-down mounting in which metal chip bumps are used tends to be widely adopted.

金属バンプを介してフェイスダウン実装する、いわゆる金属バンプ法によると、電子部品間に低抵抗な接続を形成することが期待できる。しかしながら、金属バンプ法においては、多くの技術的事項が要求されている。例えば、電子部品の電極が微細なピッチで設けられている場合に、当該電極上に微細なピッチで正確に金属バンプを形成することが要求される。特に半導体素子の電極に対して金属バンプを形成する際には、この要求が強い。また、電子部品間の安定した接続信頼性を得るために金属バンプの高さを一定に精度よく確保すること、及び製造コストを低減することなども要求されている。   According to the so-called metal bump method in which face-down mounting is performed through metal bumps, it can be expected to form a low-resistance connection between electronic components. However, many technical matters are required in the metal bump method. For example, when the electrodes of the electronic component are provided with a fine pitch, it is required to accurately form metal bumps with a fine pitch on the electrode. This requirement is particularly strong when metal bumps are formed on electrodes of semiconductor elements. In addition, in order to obtain stable connection reliability between electronic components, it is also required to ensure the height of the metal bumps with a certain degree of accuracy and to reduce the manufacturing cost.

フェイスダウン実装を行うための金属バンプを形成する方法としては、従来、メッキ法や蒸着法等が採用されてきたが、これらによると、多大な設備投資が必要であり、バンプ高さや金属組成の制御が難しいなどの問題も有していた。そこで最近では、低コストに金属バンプを形成でき、且つ、金属組成の自由度が高い、メタルマスク印刷法や樹脂マスク充填法が採用されている。   As a method of forming metal bumps for performing face-down mounting, plating methods and vapor deposition methods have been conventionally used. However, according to these methods, a large amount of capital investment is required, and bump height and metal composition It also had problems such as difficulty in control. Therefore, recently, a metal mask printing method or a resin mask filling method, which can form metal bumps at low cost and has a high degree of freedom in metal composition, has been adopted.

メタルマスク印刷法により金属バンプを形成する一連の工程を図2の(a)〜(e)に示す。メタルマスク印刷法においては、まず、(a)基板20上の電極部21に対応した位置に予め開口部22aが設けられたメタルマスク22を用意する。(b)当該メタルマスク22の開口部22aと基板20上の電極部21とを位置合わせして、メタルマスク22を基板20に載置する。(c)印刷法により、所定のハンダ粉末を含んだハンダペースト23をメタルマスク22の開口部22aに供給する。(d)メタルマスク22を基板20の表面から取り外した後、(e)加熱処理を行うことによってハンダペースト23中のハンダ粉末を溶融し、これにより基板20の電極部21の上に略球形の金属バンプ24が形成される。例えば、下記特許文献1には、このようなメタルマスク印刷法による金属バンプ形成方法が開示されている。   A series of steps for forming metal bumps by a metal mask printing method is shown in FIGS. In the metal mask printing method, first, (a) a metal mask 22 having an opening 22a provided in advance at a position corresponding to the electrode portion 21 on the substrate 20 is prepared. (B) The opening portion 22 a of the metal mask 22 and the electrode portion 21 on the substrate 20 are aligned, and the metal mask 22 is placed on the substrate 20. (C) A solder paste 23 containing a predetermined solder powder is supplied to the opening 22a of the metal mask 22 by a printing method. (D) After removing the metal mask 22 from the surface of the substrate 20, (e) by performing a heat treatment, the solder powder in the solder paste 23 is melted, whereby a substantially spherical shape is formed on the electrode portion 21 of the substrate 20. Metal bumps 24 are formed. For example, Patent Document 1 below discloses a metal bump forming method using such a metal mask printing method.

特開平7−302972号公報JP-A-7-302972

樹脂マスク充填法により金属バンプを形成する一連の工程を図3の(a)〜(e)に示す。樹脂マスク充填法においては、まず、(a)電極部31が設けられた基板30上に樹脂膜32を形成する。(b)エッチング処理により、樹脂膜32に対して基板30の電極部31を露出させる開口部32aを設ける。(c)当該樹脂マスク32の開口部32aに所定のハンダ粉末を含むハンダペースト33を充填する。(d)加熱処理を行うことによってハンダペース33中のハンダ粉末を溶融し、これにより基板30の電極部31の上に略球形の金属バンプ34が形成される。(e)最後に樹脂マスク32を基板30表面から除去する。   A series of steps for forming metal bumps by a resin mask filling method is shown in FIGS. In the resin mask filling method, first, (a) a resin film 32 is formed on a substrate 30 provided with an electrode portion 31. (B) An opening 32 a that exposes the electrode portion 31 of the substrate 30 is provided to the resin film 32 by etching. (C) The opening 32a of the resin mask 32 is filled with a solder paste 33 containing a predetermined solder powder. (D) By performing the heat treatment, the solder powder in the solder pace 33 is melted, whereby a substantially spherical metal bump 34 is formed on the electrode portion 31 of the substrate 30. (E) Finally, the resin mask 32 is removed from the surface of the substrate 30.

これらのうち、メタルマスク印刷法は、より微細なピッチでバンプを形成する際に、バンプの高さを制御することが困難となるという問題を有する。具体的には、メタルマスク22の開口部22aを微細なピッチで形成すると、開口部22aにハンダペーストを供給した後にメタルマスク22を取り外す際(図2(d)の工程)、ハンダペースト23が開口部22aに引っ掛かり、ハンダペースト23の一部がメタルマスク22と共に取り除かれてしまうのである。その結果、形成される金属バンプ24の高さのバラつきが顕著となり、良好な電子部品実装を行うことが困難となってしまう。   Among these, the metal mask printing method has a problem that it becomes difficult to control the height of the bump when the bump is formed at a finer pitch. Specifically, when the openings 22a of the metal mask 22 are formed with a fine pitch, the solder paste 23 is removed when the metal mask 22 is removed after supplying the solder paste to the openings 22a (step of FIG. 2D). A part of the solder paste 23 is removed together with the metal mask 22 by being caught in the opening 22a. As a result, the variation in the height of the formed metal bumps 24 becomes remarkable, making it difficult to mount good electronic components.

これに対して、樹脂マスク充填法では、ハンダペースト33を加熱溶融させた後に、図3(e)に示すように、印刷マスクとしての樹脂膜32を取り除くため、微細なピッチで設けられた電極31に対しても、必要量のハンダペーストにより確実に金属バンプ35を形成することができる。このように、樹脂マスク充填法は、メタルマスク印刷法よりも、近年の電子部品実装の高密度化に伴う金属バンプの微細ピッチ化の要求に適切に応える得るものであることが理解できよう。   On the other hand, in the resin mask filling method, after the solder paste 33 is heated and melted, as shown in FIG. 3E, the resin film 32 as a printing mask is removed, so that electrodes provided at a fine pitch are used. The metal bumps 35 can be reliably formed on the solder paste 31 with a necessary amount of solder paste. As described above, it can be understood that the resin mask filling method can more appropriately meet the demand for fine pitch metal bumps accompanying the recent increase in the density of electronic component mounting than the metal mask printing method.

しかしながら、従来の樹脂マスク充填法は、樹脂膜の除去に問題を有していた。具体的には、図3(d)に示す工程において、ハンダペースト33中のハンダ粉末を溶融する際、通常、ハンダ粉末を構成する金属の融点よりも30〜50℃高温で加熱されるのであるが、この加熱によって、樹脂膜の硬化反応が促進され、図3(e)の工程で樹脂膜を除去する際、基板表面に樹脂膜の一部が残存してしまう場合があるのである。基板表面に樹脂膜が残存すると、良好な電子部品実装が阻害されてしまう。   However, the conventional resin mask filling method has a problem in removing the resin film. Specifically, in the step shown in FIG. 3D, when the solder powder in the solder paste 33 is melted, it is usually heated at a temperature 30 to 50 ° C. higher than the melting point of the metal constituting the solder powder. However, this heating promotes the curing reaction of the resin film, and when the resin film is removed in the step of FIG. 3E, a part of the resin film may remain on the substrate surface. When the resin film remains on the substrate surface, good electronic component mounting is hindered.

そこで本発明は、このような従来の問題点を解決または軽減することを課題とし、樹脂膜を用いた金属バンプの形成において、樹脂膜の除去ないし剥離を良好に行うことがで、その結果、良好な電子部品実装をが可能となるバンプ形成方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention aims to solve or reduce such conventional problems, and in the formation of metal bumps using a resin film, the resin film can be favorably removed or peeled off. It is an object of the present invention to provide a bump forming method that enables good electronic component mounting.

本発明の第1の側面により提供されるバンプ形成方法は、電極部が設けられた基板表面に対して樹脂膜を形成する工程と、樹脂膜に対して、電極部が露出するように開口部を形成する工程と、融点の異なる複数の金属を含むバンプ形成材料を開口部に充填する工程と、複数の金属の融点のうち最も低い融点以上であって、複数の金属の融点のうち最も高い融点未満に加熱する工程と、最も低い融点未満に冷却する工程と、樹脂膜を除去した後、基板を接合対象物に搭載することなく最も高い融点以上に加熱する工程と、を含むことを特徴とする。   The bump forming method provided by the first aspect of the present invention includes a step of forming a resin film on a substrate surface provided with an electrode portion, and an opening portion so that the electrode portion is exposed to the resin film. A step of filling the opening with a bump forming material containing a plurality of metals having different melting points, and the melting point of the plurality of metals is equal to or higher than the lowest melting point and the highest of the melting points of the plurality of metals. A step of heating to below the melting point, a step of cooling to below the lowest melting point, and a step of heating the substrate to the highest melting point or higher without removing the resin film and mounting the substrate on an object to be joined. And

本発明の第1の側面では、樹脂膜に形成された開口部に充填されるバンプ形成材料には融点の異なる複数の金属が含まれている。ここで融点とは、単体金属にあっては、通常の意味における融点をいい、合金にあっては、ある圧力下での液相線温度をいうものとする。融点では、単体金属および合金は完全に融解し得る。したがって、本発明の第1の側面では、開口部に充填されたバンプ形成材料を、複数の金属の融点のうち最も低い融点以上であって、複数の金属の融点のうち最も高い融点未満に加熱すると(以下、この加熱工程も「1次加熱」という)、バンプ形成材料に含まれる金属の一部が融解する。これを一旦冷却すると、バンプ形成材料全体が電極部に対して仮固定され、この状態で、マスクとして基板表面に形成されていた樹脂膜が除去可能となる。樹脂膜を除去した後、バンプ形成材料に含まれる複数の金属の全てが液体となる温度以上に加熱し(以下、この加熱工程も「2次加熱」という)、次いで冷却することによって、バンプが完成されることとなる。すなわち、第1の側面に係るバンプ形成方法では、2次加熱よりも低温で行う1次加熱によりバンプ形成材料を電極部に仮固定し、その後、2次加熱を経る前に樹脂膜を除去するので、従来と比較して樹脂膜除去工程を容易に行うことができ、その結果、基板表面に樹脂膜が残存しない状態で、形成されたバンプを介して良好に電子部品(接合対象物)を実装することが可能となるのである。   In the first aspect of the present invention, the bump forming material filled in the opening formed in the resin film contains a plurality of metals having different melting points. Here, the melting point means a melting point in a normal meaning in the case of a single metal, and a liquidus temperature under a certain pressure in the case of an alloy. At the melting point, single metals and alloys can be completely melted. Therefore, in the first aspect of the present invention, the bump forming material filled in the opening is heated to a temperature not lower than the lowest melting point of the plurality of metals and less than the highest melting point of the plurality of metals. Then (hereinafter, this heating step is also referred to as “primary heating”), a part of the metal contained in the bump forming material is melted. Once this is cooled, the entire bump forming material is temporarily fixed to the electrode portion, and in this state, the resin film formed on the substrate surface as a mask can be removed. After removing the resin film, all of the plurality of metals contained in the bump forming material are heated to a temperature at which the metal becomes a liquid (hereinafter, this heating process is also referred to as “secondary heating”), and then the cooling is performed. It will be completed. That is, in the bump forming method according to the first aspect, the bump forming material is temporarily fixed to the electrode portion by primary heating performed at a lower temperature than the secondary heating, and then the resin film is removed before the secondary heating. Therefore, the resin film removal process can be easily performed as compared with the conventional case, and as a result, the electronic component (joining object) can be satisfactorily passed through the formed bumps without the resin film remaining on the substrate surface. It can be implemented.

また、第1の側面に係るバンプ形成方法は、1次加熱により液相化する金属と、2次加熱によって初めて液相化する金属とを独立に選択できることから、樹脂膜除去を阻害することなく、最終的に形成されるバンプの組成を容易に制御できるという利点も有する。   Moreover, since the bump forming method according to the first aspect can independently select a metal that becomes liquid phase by primary heating and a metal that becomes liquid phase only by secondary heating, it does not hinder the removal of the resin film. There is also an advantage that the composition of the bumps finally formed can be easily controlled.

本発明の第2の側面により提供されるバンプ形成方法は、電極部が設けられた基板表面に対して樹脂膜を形成する工程と、樹脂膜に対して、電極部が露出するように開口部を形成する工程と、1種類以上の金属を含むバンプ形成材料を、開口部に充填する工程と、金属の一部のみが融解する温度以上であって、金属の全てが融解する温度未満に加熱する工程と、金属の全てが凝固する温度未満に冷却する工程と、樹脂膜を除去した後、基板を接合対象物に搭載することなく金属の全てが融解する温度以上に加熱する工程と、を含むことを特徴とする。   The bump forming method provided by the second aspect of the present invention includes a step of forming a resin film on a substrate surface provided with an electrode portion, and an opening portion so that the electrode portion is exposed to the resin film. A step of filling the opening with a bump forming material containing one or more types of metal, and heating to a temperature above the temperature at which only a part of the metal melts and below the temperature at which all the metal melts And a step of cooling below the temperature at which all of the metal solidifies, and a step of heating to a temperature at which all of the metal melts without mounting the substrate on the object to be joined after removing the resin film. It is characterized by including.

このような構成によっても、本発明の第1の側面に関して上述したのと同様の効果を奏することができる。具体的には、1次加熱によって、バンプ形成材料に含まれる金属の一部のみが融解し、これを冷却することによってバンプ形成材料が基板の電極部に対して仮固定される。そして、2次加熱によって、バンプ形成材料に含まれる金属の全てが融解し、これを冷却することによって電極部に本固定されたバンプが完成する。バンプ形成材料に含まれる金属成分は、融点の異なる2種以上の単体金属、融点と液相線温度が異なる2種以上の単体金属と合金、並びに、固相線温度および/または液相線温度が異なる2種以上の合金を用いることができる。2種以上の合金を用いる場合、ハンダ形成材料に含まれる中で最も低い固相線温度を示す金属の当該固相線温度以上であって、最も高い液相線温度を示す金属の当該液相線温度未満の温度で1次加熱し、最も高い液相線温度以上の温度で2次加熱する。   Even with such a configuration, the same effects as described above with respect to the first aspect of the present invention can be achieved. Specifically, only a part of the metal contained in the bump forming material is melted by the primary heating, and the bump forming material is temporarily fixed to the electrode portion of the substrate by cooling this. Then, all of the metal contained in the bump forming material is melted by the secondary heating, and the bump fixed to the electrode portion is completed by cooling the metal. The metal component contained in the bump forming material includes two or more single metals having different melting points, two or more single metals and alloys having different melting points and liquidus temperatures, and solidus and / or liquidus temperatures. Two or more types of alloys having different values can be used. When two or more kinds of alloys are used, the liquid phase of the metal having the highest liquidus temperature that is higher than the solidus temperature of the metal that exhibits the lowest solidus temperature among the solder-forming materials. Primary heating is performed at a temperature lower than the linear temperature, and secondary heating is performed at a temperature equal to or higher than the highest liquidus temperature.

本発明における基板としては、例えば、シリコンウエハやガラス繊維強化エポキシ樹脂製の回路基板などを用いることができる。基板上には、例えば銅、ニッケル、金などにより構成される電極部が所定の箇所に複数設けられている。   As the substrate in the present invention, for example, a silicon wafer or a circuit substrate made of glass fiber reinforced epoxy resin can be used. On the substrate, a plurality of electrode portions made of, for example, copper, nickel, gold or the like are provided at predetermined locations.

基板上に形成されるマスクとしての樹脂膜には、例えば、アクリル系、エポキシ系、イミド系のいずれか又はこれらを組み合わせた感光性樹脂を用い、エッチングには、フォトリソグラフィ(露光・現像法)を使用するのが好ましい。ただし、本発明の樹脂膜としては、非感光性の樹脂を用いることもでき、その場合、エッチングには、レーザなどを使用する。樹脂膜の形態としては、フィルム状であっても液状であってもよい。また、微細なピッチで設けられた電極部上に高いバンプを形成するという観点から、樹脂膜の膜厚は、30〜150μmであることが好ましい。   For the resin film as a mask formed on the substrate, for example, acrylic resin, epoxy resin, imide resin or a combination thereof is used, and etching is performed by photolithography (exposure / development method). Is preferably used. However, as the resin film of the present invention, a non-photosensitive resin can also be used. In that case, a laser or the like is used for etching. The form of the resin film may be a film or a liquid. Further, from the viewpoint of forming high bumps on the electrode portions provided at a fine pitch, the resin film preferably has a thickness of 30 to 150 μm.

樹脂膜の剥離には、水酸化ナトリウム水溶液などのような強アルカリの剥離液、モノエタノールアミン水溶液や水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液などの有機アルカリ剥離液、及び、これらに所定の添加剤を加えたものを用いることができる。添加剤は、剥離される樹脂膜を細片に破壊して、剥離残りを防止する作用を示すものが好ましい。   For peeling of the resin film, a strong alkali stripping solution such as an aqueous sodium hydroxide solution, an organic alkali stripping solution such as a monoethanolamine aqueous solution or an aqueous tetramethylammonium hydroxide solution, and a predetermined additive were added thereto. Things can be used. It is preferable that the additive has an action of breaking the resin film to be peeled into pieces and preventing the peeling residue.

金属バンプ形成用のバンプ形成材料は、好ましくは、粉末化した金属を、フラックスを混合してペースト状としたものである。フラックスとしては、ロジン樹脂、チクソ剤、活性剤、溶剤等を混練したものを用いることができる。   The bump forming material for forming metal bumps is preferably a paste obtained by mixing powdered metal with a flux. As the flux, a kneaded rosin resin, thixotropic agent, activator, solvent and the like can be used.

第1および第2の側面において、バンプ形成材料に含まれる合金としては、Sn、Pb、Ag、Sb、Bi、Cu、In、Zn等から選択された1又は2以上の種類を組合せた組成を用いることができる。具体的には、例えば、Sb−Sn合金、Sn−Bi合金、Sn−In合金、Sn−Pb合金、Sn−Ag合金、Sn−Cu合金、Sn−Zn合金、Sn−Pb−Sb合金が挙げられる。更に具体的には、5%Sn−95%Pb合金、43%Sn−57%Bi合金、48%Sn−52%In合金が挙げられる。また、第1の側面におけるバンプ形成材料に含まれる単体金属としては、例えば、Sn、Pb、Inなどが挙げられる。   In the first and second aspects, the alloy included in the bump forming material has a composition in which one or two or more kinds selected from Sn, Pb, Ag, Sb, Bi, Cu, In, Zn and the like are combined. Can be used. Specifically, for example, Sb—Sn alloy, Sn—Bi alloy, Sn—In alloy, Sn—Pb alloy, Sn—Ag alloy, Sn—Cu alloy, Sn—Zn alloy, Sn—Pb—Sb alloy can be cited. It is done. More specifically, a 5% Sn-95% Pb alloy, a 43% Sn-57% Bi alloy, and a 48% Sn-52% In alloy may be mentioned. Examples of the single metal contained in the bump forming material on the first side surface include Sn, Pb, and In.

ロジンは、主としてハンダペーストの粘着性を増進するためのものであり、重合ロジン、水素添加ロジン、エステル化ロジン等を用いることができる。   The rosin is mainly for enhancing the adhesiveness of the solder paste, and a polymerized rosin, a hydrogenated rosin, an esterified rosin or the like can be used.

チクソ剤は、主としてハンダペーストに対して形態保持性を付与するものであり、硬化ひまし油、ステアリン酸アミド等を用いることができる。   The thixotropic agent mainly imparts shape retention to the solder paste, and hardened castor oil, stearamide, and the like can be used.

活性剤は、加熱処理時においてハンダ粉末表面及び電極部表面に形成される酸化膜等を除去することにより、ハンダ粉末表面及び電極部表面を清浄化して電極部に対するハンダの濡れ性を向上させ、良好な金属バンプの形成に寄与するものである。活性剤としては、有機酸及び/又は有機アミンを用いることができる。例えば、セバシン酸、コハク酸、アジピン酸、グルタル酸、トリエタノールアミン、モノエタノールアミン等から選択された1又は2以上の有機酸及び/又は有機アミンを使用することができる。   The activator removes the oxide film formed on the surface of the solder powder and the electrode part during the heat treatment, thereby improving the solder wettability with respect to the electrode part by cleaning the solder powder surface and the electrode part surface, This contributes to the formation of good metal bumps. As the activator, an organic acid and / or an organic amine can be used. For example, one or more organic acids and / or organic amines selected from sebacic acid, succinic acid, adipic acid, glutaric acid, triethanolamine, monoethanolamine and the like can be used.

溶剤は、可溶成分を溶かし込み、フラックスビヒクルをペースト状とするためのものである。溶剤としては、ハンダの組成によって変化するハンダの融点に応じて、融点付近あるいはそのような温度以上の沸点を有する1又は2以上の溶剤を組み合わせて使用する。例えば、ジエチレングリコールジメチルエーテル、n−ブチルフェニルエーテル、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、ジエチレングリコールモノブチルエーテルなどの高級アルコールやグリコールエーテル系の溶剤から1又は2以上を選択して使用することができる。   The solvent is for dissolving soluble components and making the flux vehicle into a paste. As the solvent, one or two or more solvents having a boiling point near the melting point or above the temperature are used in combination depending on the melting point of the solder which varies depending on the solder composition. For example, one or more selected from higher alcohols such as diethylene glycol dimethyl ether, n-butyl phenyl ether, 2-methyl-2,4-pentanediol, diethylene glycol monobutyl ether, and glycol ether solvents can be used.

上述のハンダペーストを充填するために樹脂膜に形成される開口部は、好ましくは、対応する電極部の面積の25倍以下の開口面積で形成される。ハンダペーストの溶融の際に、電極上にハンダ成分が寄り集まらないという事態を回避して、球形状の良好なバンプを形成するためである。   The opening formed in the resin film in order to fill the solder paste described above is preferably formed with an opening area of 25 times or less the area of the corresponding electrode part. This is because, when the solder paste is melted, a situation in which solder components do not collect on the electrode is avoided, and a good spherical bump is formed.

以下、本発明の好ましい実施の形態について、図1(a)〜(g)を参照しつつ、具体的に説明する。   Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be specifically described with reference to FIGS.

まず、図1(a)に示すように、バンプを形成する対象となる基板10を用意する。基板10の表面には、予め、複数の電極部11が所定のピッチで設けられている。また、基板10の表面には、電極部11に導通した配線部(図示せず)が形成されている。   First, as shown in FIG. 1A, a substrate 10 to be a target for forming bumps is prepared. A plurality of electrode portions 11 are provided on the surface of the substrate 10 at a predetermined pitch in advance. A wiring part (not shown) that is electrically connected to the electrode part 11 is formed on the surface of the substrate 10.

このような基板10に対して、図1(b)に示すように、各電極部11を覆うようにフィルム状の感光性樹脂膜12を載置して圧着する。樹脂膜12は、液状樹脂をスピンコートにより基板10の表面に塗布し、それを熱硬化することにより形成してもよい。   As shown in FIG. 1B, a film-like photosensitive resin film 12 is placed and pressure-bonded on such a substrate 10 so as to cover each electrode portion 11. The resin film 12 may be formed by applying a liquid resin to the surface of the substrate 10 by spin coating and thermosetting it.

次いで、図1(c)に示すように、樹脂膜12の各電極部11に対応する箇所に対して、所定のフォトマスク(図示せず)を介しての露光処理、及び、その後の現像処理を施すことにより、各電極部11が露出するように開口部12aを形成する。   Next, as shown in FIG. 1C, the exposure process through a predetermined photomask (not shown) and the subsequent development process are performed on the portions corresponding to the electrode portions 11 of the resin film 12. To form the opening 12a so that each electrode 11 is exposed.

次いで、図1(d)に示すように、開口部12aに金属ペースト13を充填する。金属ペースト13の充填に際しては、樹脂膜12の上面に余分な金属ペーストが多量に残存しないようにすることが望ましく、そのためには、例えば、スキージを用いて樹脂膜12の上面に塗着している余分な金属ペーストを掻き取る作業を行えばよい。この金属ペーストに含まれる金属は粉末状である。   Next, as shown in FIG. 1 (d), the opening 12 a is filled with a metal paste 13. When filling the metal paste 13, it is desirable that a large amount of excess metal paste does not remain on the upper surface of the resin film 12. For this purpose, for example, it is applied to the upper surface of the resin film 12 using a squeegee. What is necessary is just to scrape off the excess metal paste. The metal contained in this metal paste is in powder form.

本発明においては、金属ペースト13に含まれる金属成分として、融点の異なる2種類以上の金属が採用される。ここでいう金属には、単体金属および合金が含まれる。そして、融点とは、単体金属にあっては、通常の意味における融点をいい、合金にあっては、ある圧力下での液相線温度をいうものとする。   In the present invention, two or more kinds of metals having different melting points are employed as the metal component contained in the metal paste 13. The metal here includes a single metal and an alloy. The melting point means a melting point in a normal sense for a single metal, and a liquidus temperature under a certain pressure for an alloy.

次に、図1(e)に示す1次加熱工程において、金属ペースト13に含まれる複数の金属成分の融点のうち最も低い融点以上であって、最も高い融点未満である1次加熱温度に加熱し、その加熱状態を所定時間維持する。この1次加熱温度では、その温度以下の融点を有す金属成分が溶融する。また、合金以外のロジン樹脂等の成分の大半が金属ペースト13から揮発消失する。すると、図1(e)に示すように、溶解した金属成分や僅かに残存するロジン樹脂等の表面張力によって、開口部12aに残った金属ペースト材料は略球形に寄り集まる。その後、金属ペースト13に含まれる複数の金属成分の融点のうち最も低い融点未満に一旦冷却すると、溶解していた一部の金属成分が、一体化した状態で固相に変化し、当該金属ペースト材料全体が電極部に対して仮固定される。すなわち、1次加熱によって溶解していないという熱履歴を有する金属成分を内包した未完成のバンプ14が電極部11上に形成されることとなる。   Next, in the primary heating step shown in FIG. 1 (e), heating is performed to a primary heating temperature that is equal to or higher than the lowest melting point of the plurality of metal components contained in the metal paste 13 and less than the highest melting point. Then, the heating state is maintained for a predetermined time. At this primary heating temperature, a metal component having a melting point equal to or lower than that temperature melts. Further, most of the components such as rosin resin other than the alloy volatilize and disappear from the metal paste 13. Then, as shown in FIG. 1 (e), the metal paste material remaining in the opening 12a gathers in a substantially spherical shape due to the surface tension of the dissolved metal component or the slightly remaining rosin resin. Then, once cooled to below the lowest melting point among the melting points of the plurality of metal components contained in the metal paste 13, some of the dissolved metal components change to a solid phase in an integrated state, and the metal paste The entire material is temporarily fixed to the electrode part. That is, an incomplete bump 14 containing a metal component having a thermal history that is not dissolved by primary heating is formed on the electrode portion 11.

未完成バンプ14を形成した後、図1(f)に示すように、樹脂膜12を基板10の表面から除去ないし剥離する。剥離液は、用いた樹脂膜12を除去するための適切な溶剤を選択する。このとき、樹脂膜12は、全ての金属成分を完全に溶融するための2次加熱工程を経ていないため、穏やかな条件で容易に除去できる。   After the incomplete bumps 14 are formed, the resin film 12 is removed or peeled off from the surface of the substrate 10 as shown in FIG. As the stripper, an appropriate solvent for removing the used resin film 12 is selected. At this time, since the resin film 12 has not undergone the secondary heating step for completely melting all the metal components, it can be easily removed under mild conditions.

次に、図1(g)に示す2次加熱工程において、金属ペースト13に含まれる複数の金属成分の融点のうち最も高い融点以上である2次加熱温度に加熱し、その加熱状態を所定時間維持する。これにより、1次加熱工程で一度融解した金属成分も、1次加熱工程で融解していない金属成分も、全て融解する。これを冷却すると、全ての金属成分が融解した完全なバンプ14’が基板10の電極部11上に形成されることとなる。   Next, in the secondary heating step shown in FIG. 1G, the secondary heating temperature is higher than the highest melting point among the melting points of the plurality of metal components contained in the metal paste 13, and the heating state is maintained for a predetermined time. maintain. As a result, both the metal component once melted in the primary heating step and the metal component not melted in the primary heating step are melted. When this is cooled, a complete bump 14 ′ in which all metal components are melted is formed on the electrode portion 11 of the substrate 10.

また、ハンダ形成材料に2種以上の合金を添加して、ハンダ形成材料に含まれる中で最も低い固相線温度を示す金属の当該固相線温度以上であって、最も高い液相線温度を示す金属の当該液相線温度未満の温度で1次加熱し、最も高い液相線温度以上の温度で2次加熱することによっても、図1(a)〜(g)に示す一連の工程により、樹脂膜12を容易に除去しつつ、良好な金属バンプ14’を形成することもできる。   Further, by adding two or more kinds of alloys to the solder forming material, the highest liquidus temperature is higher than the solidus temperature of the metal showing the lowest solidus temperature among the solder forming materials. A series of steps shown in FIGS. 1A to 1G can also be performed by primary heating at a temperature lower than the liquidus temperature of the metal and secondary heating at a temperature equal to or higher than the highest liquidus temperature. Thus, it is possible to form a good metal bump 14 ′ while easily removing the resin film 12.

次に、本発明の実施例について説明する。   Next, examples of the present invention will be described.

<ハンダペーストの調製>
相対的に低い液相線温度を示す金属Iとしての63%Sn−37%Pbのハンダ(液相線温度:183℃)、及び、相対的に高い液相線温度を示す金属IIとしての2%Sn−98%Pbのハンダ(液相線温度:320℃)を、平均粒径20μmに粉末化し、これらを重量比1:9で混合した。この混合ハンダをフラックスと混ぜてハンダペーストを調製した。フラックスは、ロジン樹脂としてのポリペール50%、溶剤としのジエチレングリコールモノブチルエーテル20%および2−メチル−2,4−ペンタンジオール20%、活性剤としてのセバシン酸8%、チクソ剤としての硬化ひまし油2%(いずれも体積百分率)を予め混錬したものを用いた。
<Preparation of solder paste>
Solder of 63% Sn-37% Pb as metal I showing a relatively low liquidus temperature (liquidus temperature: 183 ° C.), and 2 as metal II showing a relatively high liquidus temperature Solder of% Sn-98% Pb (liquidus temperature: 320 ° C.) was pulverized to an average particle diameter of 20 μm, and these were mixed at a weight ratio of 1: 9. This mixed solder was mixed with flux to prepare a solder paste. The flux is 50% polypeel as rosin resin, 20% diethylene glycol monobutyl ether and 20% 2-methyl-2,4-pentanediol as solvent, 8% sebacic acid as activator, 2% hardened castor oil as thixotropic agent What kneaded beforehand (both volume percentage) was used.

<バンプの形成>
電極部が30万個(電極径:70μm、ピッチ:150μm)設けられたウエハに、50μm厚のフィルム状のアクリル系感光性樹脂膜(商品名:NIT250、ニチゴー・モートン社製)を熱圧着(100℃、圧力3.5kg/mm2)した。次いで、ガラスマスクを用いて、電極部に対応した箇所を露光し、その後、1.0%炭酸ナトリウム水溶液でエッチング現像することによって、電極部に対応する箇所に直径130μmの開口部を形成した。次いで、上述のハンダペーストをフィルム上に塗布し、これをウレタンスキージを用いて印刷法により開口部に充填した。次いで、63%Sn−37%Pbハンダの液相線温度よりも高温である213℃で1分間、1次加熱することによって、ハンダを概ね一体化させた。次いでこれを冷却し、未完全バンプとして電極部に仮固定した。そして、10%モノエタノールアミン水溶液中に浸漬し、樹脂膜を取り除いた。その後、電極部に仮固定されているハンダに対してフラックス(商品名:R5003、アルファメタルズ社製)を塗布し、2%Sn−98%Pbハンダの液相線温度よりも高温である350℃で2分間、2次加熱することによってハンダを完全に溶融一体化させた。これを冷却し、完全なバンプを電極部上に形成した。
<Bump formation>
Thermo-compression of a film-like acrylic photosensitive resin film (trade name: NIT250, manufactured by Nichigo Morton) with a thickness of 50 μm on a wafer provided with 300,000 electrode parts (electrode diameter: 70 μm, pitch: 150 μm) 100 ° C., pressure 3.5 kg / mm 2). Next, using a glass mask, a portion corresponding to the electrode portion was exposed, and then etched and developed with a 1.0% aqueous sodium carbonate solution to form an opening having a diameter of 130 μm at the portion corresponding to the electrode portion. Next, the above-described solder paste was applied onto the film, and this was filled into the opening by a printing method using a urethane squeegee. Next, the solder was generally integrated by primary heating at 213 ° C., which is higher than the liquidus temperature of 63% Sn-37% Pb solder, for 1 minute. Next, this was cooled and temporarily fixed to the electrode portion as an incomplete bump. Then, it was immersed in a 10% monoethanolamine aqueous solution to remove the resin film. Thereafter, flux (trade name: R5003, manufactured by Alpha Metals) is applied to the solder temporarily fixed to the electrode portion, and 350 ° C. which is higher than the liquidus temperature of 2% Sn-98% Pb solder. The solder was completely melted and integrated by second heating for 2 minutes. This was cooled and a complete bump was formed on the electrode part.

<結果>
本実施例においては、1次加熱後の樹脂膜の剥離は良好に行うことができた。また、形成したバンプの高さは、80μm±3μmであり、高さのバラつきの少ない高精度なバンプを形成することができた。また、最終的に形成されたバンプの組成は、目的とする組成8%Sn−92%Pbに対して±0.2%の範囲内に制御できた。実施例1について、金属組成、金属の配合比、1次加熱温度、2次加熱温度、およびバンプの最終組成を、表1に掲げる。以下、実施例2〜4についても同様である。
<Result>
In this example, the resin film after the primary heating could be peeled off satisfactorily. Further, the height of the formed bump was 80 μm ± 3 μm, and it was possible to form a highly accurate bump with little variation in height. In addition, the composition of the finally formed bump could be controlled within a range of ± 0.2% with respect to the target composition of 8% Sn-92% Pb. Table 1 lists the metal composition, the metal mixing ratio, the primary heating temperature, the secondary heating temperature, and the final bump composition for Example 1. The same applies to Examples 2 to 4 below.

金属Iとしての35%Sn−65%Pbのハンダ(液相線温度:246℃)、及び、金属IIとしての2%Sn−98%Pbのハンダ(液相線温度:320℃)を、重量比1:9で混合したものを用いて、実施例1と同様にハンダペーストを調製した。そして、このハンダペーストを用いて、実施例1と同様の方法により、バンプを形成した。ただし、1次加熱温度は265℃とした。その結果、1次加熱後の樹脂膜の剥離は良好に行うことができた。また、形成したバンプの高さは、80μm±3μmであり、高さのバラつきの少ない高精度なバンプを形成することができた。また、最終的に形成されたバンプの組成は、目的とする組成5%Sn−95%Pbに対して±0.2%の範囲内に制御できた。   Solder of 35% Sn-65% Pb as metal I (liquidus temperature: 246 ° C.) and 2% Sn-98% Pb as metal II (liquidus temperature: 320 ° C.) A solder paste was prepared in the same manner as in Example 1 using a mixture of 1: 9. Then, bumps were formed by the same method as in Example 1 using this solder paste. However, the primary heating temperature was 265 ° C. As a result, the resin film after the primary heating was successfully peeled off. Further, the height of the formed bump was 80 μm ± 3 μm, and it was possible to form a highly accurate bump with little variation in height. Further, the composition of the finally formed bump could be controlled within a range of ± 0.2% with respect to the target composition of 5% Sn-95% Pb.

金属Iとしての100%のSn(融点:232℃)、及び、金属IIとしての100%のPbのハンダ(融点:327℃)を、重量比1:9で混合したものを用いて、実施例1と同様に金属ペーストを調製した。そして、この金属ペーストを用いて、実施例1と同様の方法により、バンプを形成した。ただし、1次加熱温度は262℃とし、2次加熱温度357℃とした。その結果、1次加熱後の樹脂膜の剥離は良好に行うことができた。また、形成したバンプの高さは、80μm±3μmであり、高さのバラつきの少ない高精度なバンプを形成することができた。また、最終的に形成されたバンプの組成は、目的とする組成10%Sn−90%Pbに対して±0.2%の範囲内に制御できた。   Example using 100% Sn as metal I (melting point: 232 ° C.) and 100% Pb solder as metal II (melting point: 327 ° C.) mixed at a weight ratio of 1: 9 A metal paste was prepared in the same manner as in 1. Then, using this metal paste, bumps were formed by the same method as in Example 1. However, the primary heating temperature was 262 ° C., and the secondary heating temperature was 357 ° C. As a result, the resin film after the primary heating was successfully peeled off. Further, the height of the formed bump was 80 μm ± 3 μm, and it was possible to form a highly accurate bump with little variation in height. In addition, the composition of the finally formed bump could be controlled within a range of ± 0.2% with respect to the target composition of 10% Sn-90% Pb.

金属Iとしての100%のSn(融点:232℃)、及び、金属IIとしての100%のPbのハンダ(融点:327℃)を、重量比1:19で混合したものを用いて、実施例1と同様に金属ペーストを調製した。そして、この金属ペーストを用いて、実施例1と同様の方法により、バンプを形成した。ただし、1次加熱温度は262℃とし、2次加熱温度357℃とした。その結果、1次加熱後の樹脂膜の剥離は良好に行うことができた。また、形成したバンプの高さは、80μm±3μmであり、高さのバラつきの少ない高精度なバンプを形成することができた。また、最終的に形成されたバンプの組成は、目的とする組成5%Sn−95%Pbに対して±0.2%の範囲内に制御できた。   Example using 100% Sn as metal I (melting point: 232 ° C.) and 100% Pb solder as metal II (melting point: 327 ° C.) mixed at a weight ratio of 1:19 A metal paste was prepared in the same manner as in 1. Then, using this metal paste, bumps were formed by the same method as in Example 1. However, the primary heating temperature was 262 ° C., and the secondary heating temperature was 357 ° C. As a result, the resin film after the primary heating was successfully peeled off. Further, the height of the formed bump was 80 μm ± 3 μm, and it was possible to form a highly accurate bump with little variation in height. Further, the composition of the finally formed bump could be controlled within a range of ± 0.2% with respect to the target composition of 5% Sn-95% Pb.

Figure 0004367630
Figure 0004367630

以上のまとめとして、本発明の構成およびそのバリエーションを以下に付記として列挙する。
(付記1) 電極部が設けられた基板表面に対して樹脂膜を形成する工程と、
前記樹脂膜に対して、前記電極部が露出するように開口部を形成する工程と、
融点の異なる複数の金属を含むバンプ形成材料を、前記開口部に充填する工程と、
前記複数の金属の融点のうち最も低い融点以上であって、前記複数の金属の融点のうち最も高い融点未満に加熱する工程と、
前記最も低い融点未満に冷却する工程と、
前記樹脂膜を除去した後、前記最も高い融点以上に加熱する工程と、を含むことを特徴とする、バンプ形成方法。
(付記2) 電極部が設けられた基板表面に対して樹脂膜を形成する工程と、
前記樹脂膜に対して、前記電極部が露出するように開口部を形成する工程と、
1種類以上の金属を含むバンプ形成材料を、前記開口部に充填する工程と、
前記金属の一部のみが融解する温度以上であって、前記金属の全てが融解する温度未満に加熱する工程と、
前記金属の全てが凝固する温度未満に冷却する工程と、
前記樹脂膜を除去した後、前記金属の全てが融解する温度以上に加熱する工程と、を含むことを特徴とする、バンプ形成方法。
(付記3) 前記樹脂膜は感光性樹脂である、付記1または3に記載のバンプ形成方法。
(付記4) 前記バンプ形成材料に含まれる前記金属は粉末状であり、前記バンプ形成材料は、前記粉末状の金属と、樹脂および溶剤を含むビヒクル成分とを混ぜ合わせてペースト状としたハンダペーストである、付記1から3のいずれか1つに記載のバンプ形成方法。
(付記5) 前記液相線温度以上に加熱することによって、又は、前記ハンダ形成材料に含まれる金属の全てが液体となるまで加熱することによって前記金属が一体化した後に、所望の組成の合金が形成されるように、前記バンプ形成材料に含まれる金属の組成は制御されている、付記1から4のいずれか1つに記載のバンプ形成方法。
As a summary of the above, the configurations of the present invention and variations thereof are listed below as additional notes.
(Additional remark 1) The process of forming a resin film with respect to the substrate surface in which the electrode part was provided,
Forming an opening so that the electrode portion is exposed to the resin film;
Filling the opening with a bump forming material containing a plurality of metals having different melting points;
A step of heating the melting point of the plurality of metals to the lowest melting point or higher and less than the highest melting point of the plurality of metals;
Cooling to below the lowest melting point;
And a step of heating to the highest melting point or higher after removing the resin film.
(Additional remark 2) The process of forming a resin film with respect to the substrate surface in which the electrode part was provided,
Forming an opening so that the electrode portion is exposed to the resin film;
Filling the opening with a bump forming material containing one or more kinds of metals;
Heating above a temperature at which only a portion of the metal melts and less than a temperature at which all of the metal melts;
Cooling to below the temperature at which all of the metal solidifies;
And a step of heating to a temperature at which all of the metal is melted after removing the resin film.
(Additional remark 3) The bump formation method of Additional remark 1 or 3 whose said resin film is photosensitive resin.
(Additional remark 4) The said metal contained in the said bump forming material is a powder form, and the said bump forming material is a solder paste made by mixing the powdered metal and a vehicle component containing a resin and a solvent into a paste form. The bump forming method according to any one of appendices 1 to 3, wherein
(Additional remark 5) After heating the said liquidus temperature or more, or the said metal is integrated by heating until all the metals contained in the said solder formation material become a liquid, the alloy of a desired composition The method of forming a bump according to any one of appendices 1 to 4, wherein the composition of the metal contained in the bump forming material is controlled so as to be formed.

本発明によると、マスクとして樹脂膜を用いたバンプ形成方法において、樹脂膜の硬化を抑制し、樹脂膜を基板表面から容易に除去ないし剥離することができる。その結果、形成されたバンプを介して良好な電子部品実装が可能となる。   According to the present invention, in a bump forming method using a resin film as a mask, curing of the resin film can be suppressed, and the resin film can be easily removed or peeled off from the substrate surface. As a result, good electronic component mounting is possible through the formed bumps.

本発明に係るバンプ形成方法の一連の工程を表す断面図である。It is sectional drawing showing a series of processes of the bump formation method which concerns on this invention. 従来のメタルマスク印刷法の一連の工程を表す断面図である。It is sectional drawing showing a series of processes of the conventional metal mask printing method. 従来の樹脂膜充填法の一連の工程を表す断面図である。It is sectional drawing showing a series of processes of the conventional resin film filling method.

符号の説明Explanation of symbols

10,20,30 基板
11,21,31 電極部
12,32 樹脂膜
22 メタルマスク
12a,22a,32a 開口部
13,23,33 ハンダペースト
14’,24,34 バンプ
10, 20, 30 Substrate 11, 21, 31 Electrode part 12, 32 Resin film 22 Metal mask 12a, 22a, 32a Opening part 13, 23, 33 Solder paste 14 ', 24, 34 Bump

Claims (3)

電極部が設けられた基板の表面に対して樹脂膜を形成する工程と、
前記樹脂膜に対して、前記電極部が露出するように開口部を形成する工程と、
融点の異なる複数の金属を含むバンプ形成材料を、前記開口部に充填する工程と、
前記複数の金属の融点のうち最も低い融点以上であって、前記複数の金属の融点のうち最も高い融点未満に加熱するバンプ形成用第1加熱工程と、
前記最も低い融点未満に冷却する工程と、
前記樹脂膜を除去した後、前記基板接合対象物とを接合することなく、前記最も高い融点以上に加熱するバンプ形成用第2加熱工程と、を含むことを特徴とする、バンプ形成方法。
Forming a resin film on the surface of the substrate provided with the electrode part;
Forming an opening so that the electrode portion is exposed to the resin film;
Filling the opening with a bump forming material containing a plurality of metals having different melting points;
A first heating step for forming a bump that is not lower than the lowest melting point among the melting points of the plurality of metals and is heated below the highest melting point among the melting points of the plurality of metals;
Cooling to below the lowest melting point;
A bump forming method comprising: a second heating step for forming a bump that heats the substrate and the object to be bonded to the highest melting point or higher without removing the resin film and then bonding the substrate and the object to be bonded .
電極部が設けられた基板の表面に対して樹脂膜を形成する工程と、
前記樹脂膜に対して、前記電極部が露出するように開口部を形成する工程と、
種類以上の金属を含むバンプ形成材料を、前記開口部に充填する工程と、
前記金属の一部のみが融解する温度以上であって、前記金属の全てが融解する温度未満に加熱するバンプ形成用第1加熱工程と、
前記金属の全てが凝固する温度未満に冷却する工程と、
前記樹脂膜を除去した後、前記基板接合対象物とを接合することなく、前記金属の全てが融解する温度以上に加熱するバンプ形成用第2加熱工程と、を含むことを特徴とする、バンプ形成方法。
Forming a resin film on the surface of the substrate provided with the electrode part;
Forming an opening so that the electrode portion is exposed to the resin film;
Filling the opening with a bump forming material containing two or more kinds of metals;
A first heating step for forming a bump that is not less than a temperature at which only a part of the metal melts and is less than a temperature at which all of the metal melts;
Cooling to below the temperature at which all of the metal solidifies;
After removing the resin film, without bonding the substrate and the object to be bonded, a second heating step for forming a bump that heats the metal to a temperature at which all of the metal melts or more, Bump formation method.
前記バンプ形成材料に含まれる前記金属は粉末状であり、前記バンプ形成材料は、前記粉末状の金属と、樹脂および溶剤を含むビヒクル成分とを混ぜ合わせてペースト状としたハンダペーストである、請求項1または2に記載のバンプ形成方法。 The metal contained in the bump forming material is in a powder form, and the bump forming material is a solder paste made into a paste form by mixing the powdered metal and a vehicle component containing a resin and a solvent. Item 3. A bump forming method according to Item 1 or 2.
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