JP4365379B2 - FRET detection method and apparatus - Google Patents
FRET detection method and apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP4365379B2 JP4365379B2 JP2006054347A JP2006054347A JP4365379B2 JP 4365379 B2 JP4365379 B2 JP 4365379B2 JP 2006054347 A JP2006054347 A JP 2006054347A JP 2006054347 A JP2006054347 A JP 2006054347A JP 4365379 B2 JP4365379 B2 JP 4365379B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- signal
- molecule
- fluorescence
- fret
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
本発明は、レーザ光の照射によって励起された第1の分子が発する蛍光が励起光として第2の分子を励起し、この励起された第2の分子が発する蛍光を受光することによって、第1の分子のエネルギーが第2の分子のエネルギーに移動するFRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer:蛍光共鳴エネルギー移動)を検出する方法及び装置に関する。具体的には、蛍光分子であるドナー分子と蛍光分子であるアクセプター分子との対に関して、両分子の相互作用を蛍光によって検出するFRET検出技術に関する。 In the present invention, the fluorescence emitted from the first molecule excited by the irradiation of the laser light excites the second molecule as excitation light, and the first molecule is received by receiving the fluorescence emitted from the excited second molecule. The present invention relates to a method and apparatus for detecting FRET (Fluorescence Resonance Energy Transfer) in which the energy of one molecule moves to the energy of a second molecule. Specifically, the present invention relates to a FRET detection technique for detecting the interaction of both molecules by fluorescence with respect to a pair of a donor molecule that is a fluorescent molecule and an acceptor molecule that is a fluorescent molecule.
現在、医療、創薬、食品産業におけるポストゲノム関連技術として、タンパク質の機能解析が重要となっている。特に、細胞の作用を解析するために、生細胞における生体物質であるタンパク質と、他のタンパク質や低分子化合物との間の相互作用(結合、分離)の研究が必要である。
このようなタンパク質の他のタンパク質や低分子化合物との間の相互作用について、蛍光共鳴エネルギー移動(FRET)現象を利用して解析することが最近行われている。すなわち、数ナノメータの領域での分子間の相互作用を蛍光を用いて検出する。このようなFRET現象を利用した検出は、主に顕微鏡システムを用いて行われる。
At present, functional analysis of proteins is important as a post-genome related technology in the medical, drug discovery and food industries. In particular, in order to analyze the action of cells, it is necessary to study the interaction (binding and separation) between proteins that are biological substances in living cells and other proteins and low-molecular compounds.
Recently, the interaction between such proteins and other proteins and low-molecular compounds has been analyzed using the fluorescence resonance energy transfer (FRET) phenomenon. That is, the interaction between molecules in the region of several nanometers is detected using fluorescence. Detection using such a FRET phenomenon is mainly performed using a microscope system.
下記特許文献1は、FRETを用いた一分子蛍光解析を開示している。この文献では、FRET現象を用いて、受光した蛍光に基づいて蛍光相関分析法又は蛍光強度分布解析を行う。しかし、この方法では、短時間にFRETの検出を行うことのできる細胞等のサンプル数は、せいぜい数十個程度に限られており、多くの細胞を解析対象として短時間に統計的に解析することは難しい。 Patent Document 1 below discloses single molecule fluorescence analysis using FRET. In this document, a fluorescence correlation analysis method or a fluorescence intensity distribution analysis is performed based on received fluorescence using the FRET phenomenon. However, in this method, the number of samples of cells or the like that can detect FRET in a short time is limited to about several tens at most, and many cells are statistically analyzed in a short time as an analysis target. It ’s difficult.
そこで、本発明は、上記問題点を解決するために、ドナー分子及びアクセプター分子を含むサンプルについて短時間に多数のサンプルを解析することのできるFRET検出方法及び装置を提供することを目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a FRET detection method and apparatus capable of analyzing a large number of samples in a short time for samples containing donor molecules and acceptor molecules in order to solve the above-described problems.
上記目的を達成するために、本発明は、レーザ光の照射によって励起された第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するFRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer)を検出するFRET検出方法であって、第1の分子を励起するために、第1の周波数で強度変調した第1のレーザ光を第1の分子に照射するとともに、第2の分子を励起するために、第1の周波数と異なる第2の周波数で強度変調した第2のレーザ光を第2の分子に照射するステップと、第2の分子が発する蛍光を受光するステップと、受光した第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第1の周波数の信号成分の、第1のレーザ光の強度変調に対する第1の位相遅れと、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第2の周波数の信号成分の、第2のレーザ光の強度変調に対する第2の位相遅れとを取り出し、この第1の位相遅れと第2の位相遅れとに基づいて、第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するエネルギー移動の有無を判定するステップと、を有することを特徴とするFRET検出方法を提供する。 In order to achieve the above object, the present invention is a FRET detection method for detecting FRET (Fluorescence Resonance Energy Transfer) in which the energy of a first molecule excited by laser light irradiation moves to a second molecule. In order to excite the first molecule, the first molecule irradiated with the first laser light whose intensity is modulated at the first frequency is different from the first frequency in order to excite the second molecule. A step of irradiating the second molecule with a second laser beam whose intensity is modulated at the second frequency, a step of receiving fluorescence emitted by the second molecule, and a fluorescence signal of the fluorescence emitted by the received second molecule The first phase lag of the first frequency signal component of the first laser beam relative to the intensity modulation of the first laser beam, and the second frequency of the fluorescence signal of the fluorescence emitted by the received second molecule. Second of the signal component Taking out a second phase delay with respect to the intensity modulation of the laser beam, the first based on a phase delay and a second phase delay, the presence or absence of energy transfer the energy of the first molecule is moved to a second molecule having the steps of: determining to provide a FRET detection method according to claim.
ここで、前記エネルギー移動は、前記第2の位相遅れに対する前記第1の位相遅れの比によって判定されることが好ましい。
又、前記第1のレーザ光は、前記第1のレーザ光の強度変調のために第1の周波数を有する第1の変調信号を用いて強度変調され、前記第2のレーザ光は、前記第2のレーザ光の強度変調のために第2の周波数を有する第2の変調信号を用いて強度変調され、前記第1の周波数の変調信号は、前記第2の周波数の変調信号に、前記差分周波数の生成信号を合成して得られた信号であり、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号は、前記差分周波数の生成信号に同期して、前記差分周波数の整数倍の周波数をサンプリング周波数としてサンプリングされることが好ましい。その際、前記サンプリングされた蛍光信号を前記差分周波数の整数分の1の周波数を周波数分解能として周波数分析をすることにより、前記蛍光信号のうちの前記第1の周波数の信号成分と蛍光信号のうちの前記第2の周波数の信号成分とを抽出することが好ましい。
Here, it is preferable that the energy transfer is determined by a ratio of the first phase lag to the second phase lag.
The first laser light is intensity-modulated using a first modulation signal having a first frequency for intensity modulation of the first laser light, and the second laser light is Intensity modulation is performed using a second modulation signal having a second frequency for intensity modulation of the second laser light, and the first frequency modulation signal is converted into the second frequency modulation signal by the difference This is a signal obtained by synthesizing the frequency generation signal, and the fluorescence signal emitted from the received second molecule has a frequency that is an integral multiple of the difference frequency in synchronization with the difference frequency generation signal. It is preferably sampled as the sampling frequency. At that time, the sampled fluorescence signal is subjected to frequency analysis with a frequency that is 1 / integer of the difference frequency as a frequency resolution, so that among the signal component of the first frequency and the fluorescence signal of the fluorescence signal. It is preferable to extract the signal component of the second frequency.
又、前記第2の分子が発する蛍光を受光する際、さらに、前記第1の分子が発する蛍光を受光し、受光した前記第1の分子の発する蛍光の蛍光信号の、第1のレーザ光の強度変調に対する第3の位相遅れを算出し、この第3の位相遅れをFRETの発生の有無の判定に用いることもできる。 Further, when receiving the fluorescence emitted from the second molecule, the fluorescence emitted from the first molecule is further received, and the fluorescence signal of the fluorescence emitted from the received first molecule is reflected in the first laser beam. It is also possible to calculate a third phase lag with respect to the intensity modulation and use the third phase lag to determine whether or not FRET has occurred .
本発明は、さらに、レーザ光の照射によって励起された第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するFRETを検出するFRET検出装置であって、第1の分子を励起するために、第1のレーザ光を第1の分子に照射するとともに、第2の分子を励起するために、第2のレーザ光を第2の分子に照射するレーザ光源部と、第2の分子が発する蛍光を受光する受光部と、前記レーザ光源部から出射する第1のレーザ光を第1の周波数で強度変調させ、かつ前記レーザ光源部から出射する第2のレーザ光を第1の周波数と異なる第2の周波数で強度変調させるために、変調信号を生成する光源制御部と、受光した第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第1の周波数の信号成分の、第1のレーザ光の強度変調に対する第1の位相遅れと、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第2の周波数の信号成分の、第2のレーザ光の強度変調に対する第2の位相遅れとを取り出し、この第1の位相遅れと第2の位相遅れとに基づいて、第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するエネルギー移動の有無を判定する処理部と、を有することを特徴とするFRET検出装置を提供する。 The present invention further provides a FRET detection apparatus for detecting FRET in which energy of a first molecule excited by irradiation with a laser beam moves to a second molecule, and for exciting the first molecule, In order to irradiate the first molecule with the first laser beam and to excite the second molecule, a laser light source unit that irradiates the second molecule with the second laser beam, and fluorescence emitted from the second molecule A light receiving unit that receives light, a second laser beam that is intensity-modulated at a first frequency with a first laser beam emitted from the laser light source unit, and a second laser beam that is emitted from the laser light source unit is different from the first frequency. Of the first laser light of the signal component of the first frequency in the fluorescence signal of the fluorescence emitted by the received second molecule and the light source control unit that generates the modulation signal. First phase lag for intensity modulation The second phase delay of the signal component of the second frequency in the fluorescence signal of the fluorescence emitted from the received second molecule with respect to the intensity modulation of the second laser light is extracted, and this first phase is extracted. delay and on the basis of the second phase delay, the energy of the first molecule to provide a FRET detection device, characterized in that it comprises a processing unit for determining the presence or absence of energy transfer to move to a second molecule, the .
その際、前記処理部は、前記第2の位相差に対する前記第1の位相差の比によって前記エネルギー移動を判定することが好ましい。
又、前記光源制御部は、前記第1のレーザ光を、前記第1のレーザ光の強度変調のために第1の周波数を有する第1の変調信号を用いて強度変調させ、前記第2のレーザ光を、前記第2のレーザ光の強度変調のために第2の周波数を有する第2の変調信号を用いて強度変調させ、前記第1の周波数の変調信号は、前記第2の周波数の変調信号に、前記差分周波数の生成信号を合成して得られた信号であり、前記処理部は、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号を、前記差分周波数の生成信号に同期して、前記差分周波数の整数倍の周波数をサンプリング周波数としてサンプリングすることが好ましい。その際、前記処理部は、前記サンプリングされた蛍光信号を前記差分周波数の整数分の1の周波数を周波数分解能として周波数分析をすることにより、前記蛍光信号のうちの前記第1の周波数の信号成分と前記蛍光信号のうちの前記第2の周波数の信号成分とを抽出することが好ましい。
In that case, it is preferable that the processing unit determines the energy transfer based on a ratio of the first phase difference to the second phase difference.
Further, the light source controller modulates the intensity of the first laser light using a first modulation signal having a first frequency for intensity modulation of the first laser light, and The laser light is intensity-modulated using a second modulation signal having a second frequency for intensity modulation of the second laser light, and the modulation signal of the first frequency is The signal obtained by synthesizing the generation signal of the difference frequency with the modulation signal, and the processing unit synchronizes the fluorescence signal of the fluorescence emitted from the received second molecule with the generation signal of the difference frequency. Thus, it is preferable to sample a frequency that is an integral multiple of the difference frequency as a sampling frequency. At this time, the processing unit performs frequency analysis on the sampled fluorescence signal using a frequency that is a fraction of the difference frequency as a frequency resolution, so that a signal component of the first frequency in the fluorescence signal is obtained. And a signal component of the second frequency in the fluorescence signal are preferably extracted.
又、前記受光部は、前記第2の分子が発する蛍光の他に、前記第1の分子が発する蛍光を受光し、前記処理部は、前記受光部で受光した第1の分子が発する蛍光の蛍光信号の、第1のレーザ光の強度変調に対する第3の位相遅れを算出し、この第3の位相遅れをFRETの発生の有無の判定に用いることもできる。 In addition to the fluorescence emitted by the second molecule, the light receiving unit receives the fluorescence emitted by the first molecule, and the processing unit emits the fluorescence emitted by the first molecule received by the light receiving unit. It is also possible to calculate a third phase lag of the fluorescence signal with respect to the intensity modulation of the first laser beam, and use the third phase lag to determine whether or not FRET has occurred .
本発明は、第1の分子の励起用レーザ光と、第2の分子の励起用レーザ光とを用い、これらのレーザ光を所定の周波数で強度変調を行い、かつ、そのときの強度変調の周波数を、蛍光の識別のために周波数をずらす。さらに、これらのレーザ光によって発する蛍光の受光後、強度変調の周波数が異なることを利用してこの2つの周波数における第2の分子が発する蛍光の位相遅れを求め、これらの位相遅れを用いてFRETを検出する。このような信号処理は短時間にできるので、短時間に効率よくサンプルの測定ができ、統計的にFRET検出結果を纏めることができる。
特に、上記2つの位相遅れの比は、FRETの発生により大きく変化する。このため、この比の値を用いることで、FRET効率が低い場合でもFRETの検出を精度良く行うことができる。又、本発明を、フローサイトメータに適用すると、一定速度で測定点を通過するサンプルからの蛍光の信号処理を行うことでFRETの検出ができるので、短時間に効率よくサンプルの測定ができ、統計的にFRET検出結果を纏めることができ、注目する分子の相互作用を効率良く調べることができる。
The present invention uses the first molecule excitation laser beam and the second molecule excitation laser beam, modulates the intensity of these laser beams at a predetermined frequency, and performs the intensity modulation at that time. The frequency is shifted for fluorescence identification. Furthermore, after receiving the fluorescence emitted by these laser beams, the phase lag of the fluorescence emitted by the second molecule at these two frequencies is obtained using the fact that the frequency of intensity modulation is different, and FRET is calculated using these phase lags. Is detected. Since such signal processing can be performed in a short time, the sample can be efficiently measured in a short time, and the FRET detection results can be statistically collected.
In particular, the ratio of the two phase delays varies greatly with the occurrence of FRET. For this reason, by using the value of this ratio, it is possible to detect FRET with high accuracy even when the FRET efficiency is low. In addition, when the present invention is applied to a flow cytometer, FRET can be detected by performing signal processing of fluorescence from a sample passing through a measurement point at a constant speed, so that the sample can be measured efficiently in a short time. The FRET detection results can be summarized statistically, and the interaction of the molecules of interest can be efficiently examined.
以下、本発明のFRET検出方法及び装置について詳細に説明する。
図1は、本発明のFRET検出装置の一実施形態であるフローサイトメータ10の概略構成図である。
フローサイトメータ10は、レーザ光の照射によって励起された第1の分子(ドナー分子)が発する蛍光を励起光として第2の分子(アクセプター分子)を励起し、この励起されたアクセプター分子が発する蛍光を受光することによって、ドナー分子のエネルギーがアクセプター分子のエネルギーに移動するか否かを判定するものである。このようなエネルギー移動の検出のために、ドナー分子及びアクセプター分子に照射するレーザ光は、一定の周波数で強度変調され、このレーザ光の照射に応答して発する蛍光の位相遅れを、以下に示すように測定することにより、FRETの発生を検出することを特徴とする。
Hereinafter, the FRET detection method and apparatus of the present invention will be described in detail.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a
The
フローサイトメータ10は、レーザ光の照射により蛍光するドナー分子及びアクセプター分子のサンプル12を一定速度で流し、このときサンプル12にレーザ光を照射し、このサンプル12が発する蛍光の蛍光信号を検出する検出部20と、検出部20で得られた処理結果からサンプル12においてFRETが発生しているか否かの検出を行なう分析装置(コンピュータ)80とを有する。
The
検出部20は、レーザ光源部22と、受光部24,26と、レーザ光源部22からのレーザ光を所定の周波数で強度変調させる制御部、及びサンプル12からの蛍光信号を処理する処理部を有する制御・処理部28と、高速流を形成するシース液とともにサンプル12を流してフローセルを形成する管路30と、を有する。
管路30の出口には、回収容器32が設けられている。
The
A
レーザ光源部22は、ドナー分子及びアクセプター分子がレーザ光を吸収して励起状態となる所定の波長のレーザ光を出射するドナー励起光源22a及びアクセプター励起光源22bを有する。
図2は、レーザ光源部22の概略構成図である。
ドナー励起光源22aは、ドナー分子を励起するレーザ光を出射する光源である。アクセプター励起光源22bは、アクセプター分子を励起するレーザ光を出射する光源である。ドナー分子を励起するレーザ光と、アクセプター分子を励起するレーザ光とは、ドナー分子、アクセプター分子をそれぞれ好適に励起することができるように波長帯域が異なっている。例えば、ドナー分子としてCFP(Cyan Fluorescent Protein)を用いる場合、波長405〜440nmのレーザ光が用いられ、アクセプター分子としてYFP(Yellow Fluorescent Protein)を用いる場合、波長470〜530nmのレーザ光が用いられる。レーザ光源部22は、このような可視光帯域の連続波のレーザ光を所定の周波数で強度変調して出射する部分である。
The laser
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of the laser
The donor
各光源のレーザ光の光路上には、レーザ光を同一位置に集束する光学レンズ23a,23bが設けられ、この集束位置を測定対象のサンプル12が通過するようになっている。
各レーザ光源には、それぞれの光源を駆動してレーザ光を出射させるレーザドライバ34a,34bが接続されており、レーザドライバ34a,34bは、後述する信号生成部(図4参照)40からの信号によって、レーザ光を強度変調するように制御される。
Each laser light source is connected with
レーザ光を出射するドナー励起光源22a及びアクセプター励起光源として例えば半導体レーザが用いられ、例えば5〜100mW程度の出力でレーザ光が出射される。レーザ光の強度変調の周波数(変調周波数)は、その強度変調の周期がドナー分子、アクセプター分子が発する蛍光の蛍光緩和時間に比べて長く、例えば10〜100MHzである。ドナー分子を励起するためのレーザ光とアクセプター分子を励起するためのレーザ光とは、強度変調の周波数が100kHz〜2MHz異なり、ドナー分子を励起するレーザ光の強度変調の周波数が高くなっている。本発明においては、アクセプター分子を励起するレーザ光の強度変調の周波数がドナー分子を励起するためのレーザ光の強度変調の周波数に比べて高くてもよい。このように、レーザ光の強度変調の周波数を僅かに変えるのは、後述するように、受光した蛍光の蛍光信号の処理が短時間に行われるようにするためである。
For example, a semiconductor laser is used as the donor
レーザ光源部22は、レーザ光がドナー分子及びアクセプター分子をそれぞれ励起して特定の波長帯域の蛍光を発するように、予め定められた波長帯域で発振する。レーザ光によって発する蛍光は、サンプル12中のドナー分子及びアクセプター分子の発する蛍光であり、サンプル12は管路30を通過する際、測定点でレーザ光の照射を受けて蛍光分子特有の波長で蛍光を発する。
The laser
受光部24は、管路30を挟んでレーザ光源部22と対向するように配置されており、測定点を通過するサンプル12によってレーザ光が前方散乱することにより、サンプル12が測定点を通過する旨の検出信号を出力する光電変換器を備える。この受光部24から出力される信号は、制御・処理部28に供給され、制御・処理部28において標識サンプル12が管路30中の測定点を通過するタイミングを知らせるトリガ信号として用いられる。
The
一方、受光部26は、レーザ光源部22から出射されるレーザ光の出射方向に対して直交方向であって、かつ管路30中のサンプル12の移動方向に対して直交方向に配置されている。受光部26は、測定点にて照射されたサンプル12が発する蛍光を受光するフォトマルチプライヤ(光電子倍増管)やアバランシュフォトダイオード等の光電変換器が用いられる。
図3は、受光部26の一例の概略の構成を示す概略構成図である。
On the other hand, the
FIG. 3 is a schematic configuration diagram illustrating a schematic configuration of an example of the
図3に示す受光部26は、サンプル12からの蛍光の蛍光信号を集束させるレンズ系26aと、ダイクロイックミラー26bと、バンドパスフィルタ26c1,26c2と、光電子倍増管やアバランシュフォトダイオード等の光電変換器27a,27bと、を有する。
レンズ系26aは、受光部26に入射した蛍光を光電変換器27a,27bの受光面に集束させるように構成される。
The
The
ダイクロイックミラー26bは、アクセプター分子の蛍光を透過し、ドナー分子の蛍光を反射させるように、反射、透過の波長特性が定められて構成されたミラーである。バンドパスフィルタ26c1,26c2でフィルタリングして光電変換器27a,27bは、それぞれドナー分子の蛍光及びアクセプター分子の蛍光所定の波長帯域の蛍光を取り込む。したがって、光電変換器27aは、ドナー分子の発する蛍光を受光し、光電変換器27bは、アクセプター分子の発する蛍光を受光する。
The
バンドパスフィルタ26c1,26c2は、各光電変換器27a,27bの受光面の前面に設けられ、所定の波長帯域の蛍光のみが透過するフィルタである。透過する蛍光の波長帯域は、ドナー分子の蛍光及びアクセプター分子の蛍光の波長帯域に対応して設定されており、互いに異なる波長帯域となっている。
The band-
光電変換器27a,27bは、例えば光電子倍増管を備えたセンサを備え、光電面で受光した光を電気信号に変換するセンサである。ここで、受光する蛍光は強度変調されたレーザ光の照射によって発する位相が遅れた蛍光であり、この蛍光は、位相遅れの情報を持った光信号として受光される。このため、出力される電気信号は位相差の信号情報を持った蛍光信号となる。この蛍光信号は、制御・処理部28に供給され、増幅器で増幅される。
The
制御・処理部28は、図4に示すように、信号生成部40と、信号処理部42と、コントローラ44と、を有して構成される。信号生成部40は、所定の周波数の変調信号を生成する本発明の光源制御部を形成する。又、コントローラ44及び後述の分析装置80は、本発明における処理部を形成する。
信号生成部40は、レーザ光の強度を所定の周波数で変調(振幅変調)するための変調信号を生成する部分である。
具体的には、信号生成部40は、発振器46,47、パワースプリッタ48及びSSB(Single Side Band)変調器50及びアンプ52を有し、生成される変調信号を、レーザ光源部22のレーザドライバ34a,34bに供給するとともに、信号処理部42に供給する部分である。信号処理部42に変調信号を供給するのは、後述するように、光電変換機27a,27bから出力される蛍光信号の位相差検出のための参照信号として用いるためである。なお、変調信号は、所定の周波数の正弦波信号であり、10〜100MHzの範囲の周波数に設定される。レーザドライバ34bに供給する変調信号の周波数をfとすると、fは上述したようにアクセプター分子を励起するレーザ光の変調信号の周波数であり、10〜100MHzである。レーザドライバ34aに供給する変調信号の周波数は、ドナー分子を励起するレーザ光の周波数であり、f+Δfとなる。このときのΔfは、100kHz〜2MHzであり、f=10〜100MHzに比べてその周波数は小さい。
As shown in FIG. 4, the control /
The
Specifically, the
発振器46は、周波数fの正弦波信号を生成し、発振器47は周波数Δfの正弦波信号を生成する。SSB変調器50は、周波数fの正弦波信号に周波数Δfの正弦波信号を合成して、高周波側の合成信号(USB信号)である周波数f+Δfの正弦波信号を生成する。この正弦波信号は、変調信号としてレーザドライバ34aに供給される。レーザドライバ34bには、パワースプリッタ48から周波数fの正弦波信号が変調信号として供給される。
The
図5は、SSB変調器50のブロック構成図である。
SSB変調器50は、90度ハイブリッド50a、ミキサ50b,50c、90度位相器50d、180度ハイブリッド50eを有して構成される。
90度ハイブリッド50aは、発振器46から供給される周波数fの正弦波信号の位相を0度及び90度に分離するハイブリッドリングを備える高周波素子であり、0度及び90度に分離された正弦波信号をミキサ50b,50cに供給する。一方、90度位相器50dは、発振器47から供給された周波数Δfの正弦波信号を位相0度及び90度に変えてミキサ50b,50cに供給する。
180度ハイブリッド50eは、受光信号の位相を0度及び180度に分離するハイブリッドリングを備える高周波素子であり、端子の一方では、正弦波信号の位相情報を保持したまま、高周波側に周波数ΔfシフトさせたUSB信号が生成され、他方の端子では、受光信号の位相情報を保持したまま、低周波側に周波数ΔfシフトさせたLSB信号が生成される。
SSB変調器50は、USB信号を出力してレーザドライバ34aに供給する。
FIG. 5 is a block diagram of the
The
The 90-
The 180-
The
信号処理部42は、光電変換器27a,27bから出力される蛍光信号を用いて、レーザ光の照射によりサンプル12が発する蛍光の位相遅れに関する情報(位相差)を抽出する部分である。信号処理部42は、光電変換器27a,27bから出力される蛍光信号を増幅するアンプ54a,54bと、増幅された蛍光信号のそれぞれを信号生成部40から供給された周波数fの正弦波信号である変調信号を分配するパワースプリッタ56、及び増幅された蛍光信号を上記変調信号に合成するIQミキサ58a,58bを有する。
The
IQミキサ58a,58bは、光電変換器27a,27bから供給されるドナー分子の蛍光及びアクセプター分子の発する蛍光の蛍光信号を、信号生成部40から供給される変調信号を参照信号として同期して合成するために、光電変換器27a,27bの別に設けられている。変調信号を参照信号として同期して合成することで、後述するように、蛍光の位相遅れを求めることができる。
具体的には、IQミキサのそれぞれは、参照信号を蛍光信号(RF信号)と乗算して、蛍光信号のcos成分(実数部)と高周波成分を含む処理信号を算出するとともに、参照信号の位相を90度シフトさせた信号を蛍光信号と乗算して、蛍光信号のsin成分(虚数部)と高周波成分を含む処理信号を算出する。処理信号は、ドナー分子の発した蛍光の信号及びアクセプター分子の発した2つの蛍光の信号である。このcos成分を含む処理信号及びsin成分を含む処理信号は、コントローラ44に供給される。
The
Specifically, each of the IQ mixers multiplies the reference signal by the fluorescence signal (RF signal) to calculate a processing signal including a cos component (real part) and a high frequency component of the fluorescence signal, and the phase of the reference signal. Is multiplied by the fluorescence signal to calculate a processing signal including a sin component (imaginary part) and a high frequency component of the fluorescence signal. The processing signal is a fluorescence signal emitted by the donor molecule and two fluorescence signals emitted by the acceptor molecule. The processing signal including the cos component and the processing signal including the sin component are supplied to the
コントローラ44は、信号生成部40に周波数f及びΔfの正弦波信号を生成させるように制御するとともに、信号処理部42にて求められた蛍光信号のcos成分及びsin成分を含む処理信号から、高周波成分を取り除いて蛍光信号のcos成分及びsin成分を求める部分である。
The
具体的には、コントローラ44は、各部分の動作制御のための指示を与えるとともに、フローサイトメータ10の全動作を制御管理するシステム制御器60と、信号処理部42で演算されたcos成分、sin成分に高周波成分が加算された処理信号から高周波成分を取り除くローパスフィルタ62と、高周波成分の取り除かれたcos成分、sin成分の処理信号を増幅するアンプ64と、増幅された処理信号をサンプリングするA/D変換器66と、を有する。A/D変換器66では、高周波成分の取り除かれたcos成分、sin成分の処理信号がサンプリングされて、分析装置80に供給される。サンプリングは、上述の周波数Δfの整数倍(好ましくは3倍以上の整数倍)の周波数をサンプリング周波数とする。ローパスフィルタ62は、A/D変換器66によるデジタル化のときのアンチエリアジングのために、かつ周波数Δfの信号成分を通過させるために、周波数特性が定められる。
Specifically, the
分析装置80は、供給された処理信号を用いて、上述したΔfの正弦波信号に同期させて、Δfの整数分の1の周波数を周波数分解能とする周波数分析を行い、周波数分析を行った0Hzにおける振幅と位相を求めるとともに、周波数Δfにおける処理信号の振幅と位相を求める。求められた位相は、上述したように周波数fにおける正弦波信号を参照信号として同期して合成された処理信号に基づくため、これらの位相は、上記正弦波信号(レーザ光の強度変調)に対する位相遅れとなっている。又、処理信号は、上述したように、レーザ光の照射によりドナー分子の発する蛍光の蛍光信号に由来するものと、アクセプター分子の発する蛍光の蛍光信号に由来するものとを含むので、この2つの蛍光信号を分離するために、周波数0Hzと周波数Δfにおける振幅と位相が別々に取り出される。
The
分析装置80は、アクセプター分子の発する蛍光の処理信号の0Hzにおける位相と、周波数Δfにおける位相を求め、周波数Δfにおける位相の、0Hzにおける位相に対する比を算出し、この比の値の大小によって、上述したFRET発生の有無を判定する。例えば、上記比が予め設定された閾値を超えた場合、FRETの発生として判定する。
The
このように、アクセプターの発する蛍光の処理信号の0Hzにおける位相と周波数Δfにおける位相を用いるのは、0Hzにおける処理信号の位相は、アクセプター分子が周波数fで強度変調されたレーザ光の照射によって発した蛍光の位相遅れを表し、周波数Δfにおける処理信号の位相は、周波数f+Δfで強度変調されたレーザ光の照射によって発したドナー分子の蛍光を励起光としてアクセプター分子が吸収し、この結果励起したアクセプター分子が発する蛍光の位相遅れ、つまり、FRETの発生により生じた位相遅れを表すからである。 In this way, the phase at 0 Hz and the phase at the frequency Δf of the fluorescence processing signal emitted by the acceptor are used because the phase of the processing signal at 0 Hz is emitted by irradiation of laser light whose acceptor molecule is intensity-modulated at the frequency f. This represents the phase delay of the fluorescence, and the phase of the processing signal at the frequency Δf is that the acceptor molecule absorbs the fluorescence of the donor molecule emitted by the irradiation of the laser light whose intensity is modulated at the frequency f + Δf as the excitation light, and as a result This is because it represents the phase delay of the fluorescence emitted from the light, that is, the phase delay caused by the occurrence of FRET.
周波数Δfにおける処理信号の位相、すなわちFRETの発生により生じた位相遅れは、後述するように、レーザ光が照射されて発するドナー分子の蛍光の蛍光放射速度及びFRETの発生速度と、FRETを介して励起したアクセプター分子が発する蛍光の蛍光放射速度と、レーザ光が照射されたアクセプター分子が発する蛍光の蛍光放射速度によって表される。また、0Hzにおける処理信号の位相、すなわちレーザ光の照射によって発した蛍光の位相遅れは、後述するように、レーザ光の照射されてアクセプター分子が発する蛍光の蛍光放射速度によって表される。このため、後述するように、位相遅れの比を求めることで、FRETの発生の有無を判定することができる。特に、FRETの速度はドナー分子の蛍光放射速度及びアクセプター分子の蛍光放射速度に比べてその値が極めて小さい場合が多く、さらにドナー分子及びアクセプター分子の放射速度が比較的等しい場合、上記比の値は2になる。したがって、分析装置80は、測定結果である位相遅れの比を算出することにより、FRETの発生を上記比の値によって比較的容易に検出することができる。
As will be described later, the phase delay of the processing signal at the frequency Δf, that is, the phase delay caused by the generation of FRET, is caused by the fluorescence emission rate of the donor molecule emitted by the laser light irradiation and the generation rate of FRET, and the FRET This is expressed by the fluorescence emission rate of fluorescence emitted by the excited acceptor molecule and the fluorescence emission rate of fluorescence emitted by the acceptor molecule irradiated with the laser beam. Further, the phase of the processing signal at 0 Hz, that is, the phase delay of the fluorescence emitted by the laser light irradiation, is expressed by the fluorescence emission speed of the fluorescence emitted from the acceptor molecule when irradiated with the laser light, as will be described later. For this reason, as will be described later, the presence or absence of occurrence of FRET can be determined by obtaining the phase delay ratio. In particular, the FRET rate is often very small compared to the fluorescence emission rate of the donor molecule and the fluorescence emission rate of the acceptor molecule, and when the emission rate of the donor molecule and the acceptor molecule is relatively equal, Becomes 2. Therefore, the
また、FRETが発生したとき、ドナー分子が発する蛍光の処理信号のΔfHzにおける位相は、FRETの発生に応じて変わる。この位相の変化を用いてFRETの発生を検出することもできる。すなわち、ドナー分子の発する蛍光の蛍光信号から、ドナー分子の励起用のレーザ光の強度変調に対する位相遅れを取り出し、この位相遅れをFRETの検出に用いることもできる。
勿論、分析装置80では、処理信号の0Hz及び周波数Δfにおける振幅を用いて、ドナー分子及びアクセプター分子が発する蛍光強度を定量的に求めることもでき、周波数Δfにおける蛍光強度によって、FRETの発生を検出することもできる。
以上が、本発明を実施するフローサイトメータ10の説明である。
Further, when FRET occurs, the phase at Δf Hz of the fluorescence processing signal emitted by the donor molecule changes according to the occurrence of FRET. The occurrence of FRET can also be detected using this phase change. That is, a phase lag with respect to intensity modulation of the laser light for exciting the donor molecule can be extracted from the fluorescence signal of the fluorescence emitted by the donor molecule, and this phase lag can be used for FRET detection.
Of course, the
The above is description of the
次に、このフローサイトメータ10で行われるFRETの検出方法を説明する。図6は、FRETの発生の検出の流れを示すフローチャートである。
Next, a method for detecting FRET performed by the
まず、コントローラ44からの指示により、周波数fの正弦波信号を発振器46に発生させ、さらに周波数Δfの正弦波信号を発振器47に発生させる。周波数fの正弦波信号は、パワースプリッタ48で分けられ、一方は、SSB変調器50に、他方はアンプ52に供給される。周波数Δfの正弦波信号はSSB変調器50に供給される。
SSB変調器50では、供給された周波数fの正弦波信号は周波数Δfの正弦波信号と合成されて、高周波側の合成信号である周波数f+Δfの正弦波信号が生成され、レーザドライバ34aに強度変調信号として供給される。
First, in response to an instruction from the
In the
一方、パワースプリッタ48で分けられた周波数fの正弦波信号は、レーザドライバ34bに強度変調信号として供給される。
この状態で、サンプル12が管路30を流れ、シースフローが形成される。シースフローは、例えば100μmの流路径に1〜10m/秒の流速を有する。また、サンプル12にはレーザ光の照射により蛍光を発するドナー分子とアクセプター分子が含まれる。
レーザ光は、ドナー励起光源22aから周波数f+Δfで強度変調されたレーザ光と、アクセプター励起光源22bから周波数fで強度変調されたレーザ光とが同時にサンプル12に向けて照射される(ステップS10)。
測定点でこれらのレーザ光による照射が成され、受光部24でサンプル12の通過を検出すると、検出信号がコントローラ44にトリガ信号として出力される。
On the other hand, the sine wave signal of frequency f divided by the
In this state, the
The laser light is irradiated toward the
When irradiation with these laser beams is performed at the measurement point and the passage of the
信号処理部42及びコントローラ44では、この検出信号をトリガ信号として、ドナー分子が発する蛍光の受光が光電変換器27aにて、アクセプター分子が発する蛍光の受光が光電変換器27bにてそれぞれ開始されて、受光された蛍光の蛍光信号の信号処理が行われる(ステップS20)。
具体的には、アンプ52から供給された周波数fの正弦波信号を参照信号として、IQミキサ54a,54bで合成され、cos成分、sin成分に高周波成分が加算された処理信号が生成される。この処理信号は、コントローラ44に供給される。
In the
Specifically, a sine wave signal of frequency f supplied from the
コントローラ44では、フィルタリング処理が行われ、cos成分、sin成分に高周波成分が加算された処理信号から高周波成分が取り除かれ、蛍光信号のcos成分、sin成分からなる処理信号が取り出される。この信号は、アンプ64を介してA/D変換器66に供給される。
ここで、コントローラ44のシステム制御器60には、発振器47にて生成される周波数Δfの正弦波信号の整数倍の周波数(n・Δf)を持つ信号が供給され、この信号に同期してA/D変換器66にてドナー分子の発する蛍光の処理信号及びアクセプター分子の発する蛍光の処理信号のサンプリングが行われる(ステップS30)。
こうしてデジタル化された処理信号は、分析装置80に供給される。
The
Here, the
The processed signal thus digitized is supplied to the
分析装置80では、サンプリングされたアクセプター分子の蛍光の処理信号に対して周波数分析が行われる(ステップS40)。周波数分析は、周波数Δfの整数分の1の周波数を周波数分解能として、行われる。周波数分析後の、0Hzにおける処理信号の成分は、アクセプター分子にレーザ光が照射されて発した蛍光の蛍光信号成分である。周波数Δfにおける処理信号の成分は、FRETにより発したアクセプター分子の蛍光の蛍光信号成分である。このように、蛍光信号成分は、レーザ光の強度変調の周波数の違いを利用して取り出される。
得られた周波数分析の結果から、0Hzにおけるアクセプター分子の蛍光の処理信号の位相に対する、ΔfHzにおけるアクセプター分子の蛍光の処理信号の位相遅れの比を求める。この比が予め設定された閾値と比較され、この閾値を超える場合、FRETが発生したと判定することで、FRETの検出が行われる(ステップS50)。
その際、アクセプター分子の蛍光の処理信号の他に、ドナー分子の蛍光の処理信号の位相遅れの比を求め、この比を用いて、FRETの検出を綜合的に行うこともできる。
最後に、フローサイトメータ10にて測定点を通過して測定されるサンプル数が所定の数に達したか、例えばサンプル数が1000に達したか否かを判定し、サンプル数が所定の数に達するまで測定を続ける。
In the
From the obtained frequency analysis results, the ratio of the phase delay of the acceptor molecule fluorescence processing signal at ΔfHz to the phase of the acceptor molecule fluorescence treatment signal at 0 Hz is determined. This ratio is compared with a preset threshold value, and if it exceeds this threshold value, FRET is detected by determining that FRET has occurred (step S50).
At this time, in addition to the fluorescence processing signal of the acceptor molecule, the phase delay ratio of the fluorescence processing signal of the donor molecule can be obtained, and FRET detection can be performed comprehensively using this ratio.
Finally, it is determined whether the number of samples measured by passing through the measurement points in the
このように、強度変調したレーザ光をサンプル中のドナー分子に照射してアクセプター分子から発する蛍光を受光し、信号処理し、レーザ光の強度変調に対する位相遅れを求めることで、FRETの発生の有無の判定を短時間に行うことができ、測定点を通過するサンプルのFRETの検出を効率よく行うことができる。 As described above, whether or not FRET is generated by irradiating the donor molecule in the sample with the intensity-modulated laser light, receiving the fluorescence emitted from the acceptor molecule, processing the signal, and obtaining the phase delay with respect to the intensity modulation of the laser light. Can be performed in a short time, and FRET detection of the sample passing through the measurement point can be efficiently performed.
図7は、ドナー分子のエネルギー吸収と蛍光及びアクセプター分子の吸収と蛍光のスペクトルの例を示す図である。図8は、FRETの発生を判り易く説明した説明図である。
図7では、ドナー分子がCFP(Cyan Fluorescent Protein)、アクセプター分子がYFP(Yellow Fluorescent Protein)であるときのエネルギーの吸収、蛍光放射の特性を示している。図7中、曲線A1はCFPのエネルギー吸収スペクトルを、曲線A2はCFPの蛍光放射スペクトルを、曲線B1はYFPのエネルギー吸収スペクトルを、曲線B2はYFPの蛍光放射スペクトルをそれぞれ示す。図7中、斜線の部分は、CFPが放射した蛍光をYFPがエネルギー吸収して、FRETが生じる波長帯域を示す。
FIG. 7 is a diagram illustrating examples of energy absorption and fluorescence of donor molecules and absorption and fluorescence spectra of acceptor molecules. FIG. 8 is an explanatory diagram explaining the occurrence of FRET in an easily understandable manner.
FIG. 7 shows the characteristics of energy absorption and fluorescence emission when the donor molecule is CFP (Cyan Fluorescent Protein) and the acceptor molecule is YFP (Yellow Fluorescent Protein). In FIG. 7, curve A 1 shows the energy absorption spectrum of CFP, curve A 2 shows the fluorescence emission spectrum of CFP, curve B 1 shows the energy absorption spectrum of YFP, and curve B 2 shows the fluorescence emission spectrum of YFP. In FIG. 7, the shaded portion indicates the wavelength band in which the fluorescence emitted by CFP is absorbed by YFP and FRET occurs.
一般に、FRETは、ドナー分子がレーザ光により励起され、その一部分が蛍光を放射し、一部のエネルギーはクーロン相互作用によりアクセプター分子へ流れる。このエネルギー移動は、2nm以下の極めて至近距離によって生じるものであり、このエネルギー移動が、分子の相互作用(結合)を表す。したがって、エネルギー移動が起きることで、アクセプター分子が励起されてアクセプター分子から蛍光が放射される。このとき、図7に示すように、ドナー分子の蛍光放射波長帯域と、アクセプター分子のエネルギー吸収の波長帯域とが一部分で重なっていることが、FRETの発生において必要である。 In general, in FRET, a donor molecule is excited by laser light, a part thereof emits fluorescence, and a part of energy flows to an acceptor molecule by Coulomb interaction. This energy transfer is caused by a very close distance of 2 nm or less, and this energy transfer represents a molecular interaction (bonding). Therefore, when energy transfer occurs, the acceptor molecule is excited and fluorescence is emitted from the acceptor molecule. At this time, as shown in FIG. 7, it is necessary for generation of FRET that the fluorescence emission wavelength band of the donor molecule and the wavelength band of energy absorption of the acceptor molecule partially overlap.
本発明では、図8に示すように、周波数f+Δfで強度変調したレーザ光が照射されたドナー分子は蛍光を放射し、その蛍光がアクセプター分子を励起して、周波数f+Δfで蛍光強度の変化する蛍光をアクセプター分子は放射する。同時に、周波数fで強度変調されたレーザ光が照射されたアクセプター分子は周波数fで蛍光強度が変化する蛍光を放射する。これによって、周波数f+Δfの蛍光と周波数fの蛍光を同時に受光するが、この2つの蛍光の蛍光信号は、上記周波数の違いによって分離することができる。 In the present invention, as shown in FIG. 8, the donor molecule irradiated with the laser beam whose intensity is modulated at the frequency f + Δf emits fluorescence, and the fluorescence excites the acceptor molecule, and the fluorescence whose fluorescence intensity changes at the frequency f + Δf. The acceptor molecule emits. At the same time, the acceptor molecule irradiated with the laser beam whose intensity is modulated at the frequency f emits fluorescence whose fluorescence intensity changes at the frequency f. As a result, the fluorescence having the frequency f + Δf and the fluorescence having the frequency f are simultaneously received. The fluorescence signals of the two fluorescences can be separated by the difference in the frequencies.
このようなFRETの現象を、1次の緩和過程により以下のように簡単に説明することができる。具体的に、FRET現象は、以下の方程式で規定される。 Such a FRET phenomenon can be simply explained as follows by a first-order relaxation process. Specifically, the FRET phenomenon is defined by the following equation.
ここで、Wd及びWaは角周波数ωを用いて下記式(3)、(4)で表される。
上記式(3)、(4)におけるWd、Waの位相は、下記式(5),(6)となる。
一方、レーザ光がアクセブター分子を直接励起して蛍光を発するとき、蛍光は下記式(7)にしたがって表される。
The phases of W d and W a in the above formulas (3) and (4) are the following formulas (5) and (6).
On the other hand, when the laser light directly excites the acceptor molecule and emits fluorescence, the fluorescence is expressed according to the following formula (7).
レーザ光の照射により励起したアクセプター分子が蛍光を発するとき、Waは、上記式(7)から下記式(8)で表され、下記式(9)に示す位相を生じる。 When the acceptor molecule excited by the irradiation of laser light emits fluorescence, W a is expressed by the following formula (8) from the above formula (7), and the phase shown by the following formula (9) is generated.
このとき、上記式(6)及び式(9)から位相の比を求めると、下記式(10)のようになる。 At this time, when the phase ratio is obtained from the above equations (6) and (9), the following equation (10) is obtained.
上記式(10)で求められる比は、アクセプター分子に直接レーザ光を照射したときの位相遅れに対する、ドナー分子にレーザ光を照射しFRETを介してアクセプター分子が発する蛍光の位相遅れの比を表す。したがって、この比の値と予め設定された閾値とを比較して、比の値が閾値よりが大きい場合FRETが発生していると判定する。
特に、多くのドナー分子及びアクセプター分子において、kd,ka>>kdaであるので、上記式(10)は、下記式(11)のように表すことができ、kd,kaにて比を表すことができる。さらに、ω2<<kd・kaのとき、上記比は、下記式(12)のように表される。
特に、上記放射速度kd,kaが比較的等しい場合、上記式(12)で定まる比の値は2になる。したがって、分析装置80では、アクセプター分子の放射する蛍光の測定結果である位相遅れの比を算出することにより、FRETの発生の有無を精度良く判定することができる。
The ratio obtained by the above formula (10) represents the ratio of the phase delay of the fluorescence emitted from the acceptor molecule via FRET when the donor molecule is irradiated with the laser light, with respect to the phase delay when the acceptor molecule is directly irradiated with the laser beam. . Therefore, this ratio value is compared with a preset threshold value, and if the ratio value is larger than the threshold value, it is determined that FRET has occurred.
In particular, since k d , k a >> k da in many donor molecules and acceptor molecules, the above formula (10) can be expressed as the following formula (11), and k d , k a To express the ratio. Furthermore, when ω 2 << k d · k a , the ratio is expressed by the following equation (12).
In particular, when the radiation velocities k d and k a are relatively equal, the value of the ratio determined by the above equation (12) is 2. Therefore, the
フローサイトメータ10では、単独のドナー分子をレーザ光で照射したときの蛍光の位相遅れと、レーザ光を照射してアクセプター分子との間でFRETが発生したときのドナー分子の蛍光の位相遅れとの比を求めることもできるが、アクセプター分子における位相遅れの比の値が上述したように2になるとき、ドナー分子における位相遅れの比の値は1近傍の値となり、アクセプター分子における位相遅れの比に比べてFRETの検出が難しくなる。このため、本発明では、アクセプター分子の蛍光の位相遅れの比を求める。勿論、アクセプター分子の蛍光の位相遅れの比に加えて、ドナー分子の蛍光の位相遅れの比を用いてFRETを綜合的に検出することもできる。
In the
従来、ドナー分子の励起用レーザ光をドナー分子に照射し、FRETを介して発するアクセプター分子の蛍光強度を測定する方法が行われている。しかし、この方法の場合、アクセプター分子がドナー分子の励起用レーザ光によって励起されて蛍光を発することもあり、FRETにより励起されたアクセプター分子の発する蛍光の他、ドナー分子の励起用レーザ光によって励起されて発するアクセプター分子の蛍光を余分に受光する。このため、発生効率の低いFRETの場合FRETの誤検出を行うといった問題が生じる。しかし、本発明は、ドナー分子の励起用レーザ光と、アクセプター分子の励起用レーザ光とを用い、これらのレーザ光を所定の周波数で強度変調を行い、かつ、そのときの強度変調の周波数を、蛍光の識別のために周波数Δfずらす。さらに、これらのレーザ光によって発する蛍光の受光後、FRETを介して発するアクセプター分子の蛍光の位相遅れと、アクセプター分子がレーザ光で励起されて発する蛍光の位相遅れとを求め、これらの位相遅れを用いてFRETを検定する。このとき位相遅れの比の値は、上述したようにFRETの有無により比較的大きく変化する。このため、FRET効率が低い場合でも検出を精度良く行うことができる。又、上記フローサイトメータにおいて、信号処理を行うことでFRETの検出ができるので、短時間に効率よくサンプルの測定ができ、統計的にFRET検出結果を纏めることができ、注目する分子の相互作用を調べることができる。 Conventionally, a method of measuring the fluorescence intensity of an acceptor molecule emitted through FRET by irradiating the donor molecule with a laser beam for exciting the donor molecule has been performed. However, in this method, the acceptor molecule may be excited by the excitation laser beam of the donor molecule to emit fluorescence. In addition to the fluorescence emitted by the acceptor molecule excited by FRET, the acceptor molecule is excited by the excitation laser beam of the donor molecule. Then, the fluorescence of the acceptor molecule emitted is received extra. For this reason, there arises a problem that FRET is erroneously detected in the case of FRET with low generation efficiency. However, the present invention uses the excitation laser light of the donor molecule and the excitation laser light of the acceptor molecule, modulates the intensity of these laser lights at a predetermined frequency, and sets the frequency of the intensity modulation at that time. The frequency Δf is shifted for fluorescent identification. Further, after receiving the fluorescence emitted by these laser beams, the phase lag of the fluorescence of the acceptor molecule emitted via FRET and the phase lag of the fluorescence emitted when the acceptor molecule is excited by the laser beam are obtained. Use to test FRET. At this time, the value of the phase lag ratio changes relatively greatly depending on the presence or absence of FRET as described above. For this reason, even when the FRET efficiency is low, detection can be performed with high accuracy. In addition, since the FRET can be detected by performing signal processing in the above flow cytometer, the sample can be measured efficiently in a short time, the FRET detection results can be summarized statistically, and the interaction of the molecule of interest Can be examined.
以上、本発明のFRET検出方法及び装置について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。 As mentioned above, although the FRET detection method and apparatus of this invention were demonstrated in detail, this invention is not limited to the said embodiment, In the range which does not deviate from the main point of this invention, you may make various improvement and a change. Of course.
10 フローサイトメータ
12 サンプル
20 検出部
22 レーザ光源部
22a ドナー励起光源
22b アクセプター励起光源
23a,23b レンズ系
24,26 受光部
26a レンズ系
26b ダイクロイックミラー
26c1,26c2 バンドパスフィルタ
27a,27b 光電変換器
28 制御・処理部
30 管路
32 回収容器
34a,34b レーザドライバ
40 信号生成部
42 信号処理部
44 コントローラ
46,47 発振器
48,56 パワースプリッタ
50 SSB変調器
50a 90度ハイブリッド
50b,50c ミキサ
50d 90°移相器
52,54a,54b,64 増幅器
58a,58b IQミキサ
60 システム制御器
62 ローパスフィルタ
66 A/D変換器
80 分析装置
10
Claims (10)
第1の分子を励起するために、第1の周波数で強度変調した第1のレーザ光を第1の分子に照射するとともに、第2の分子を励起するために、第1の周波数と異なる第2の周波数で強度変調した第2のレーザ光を第2の分子に照射するステップと、
第2の分子が発する蛍光を受光するステップと、
受光した第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第1の周波数の信号成分の、第1のレーザ光の強度変調に対する第1の位相遅れと、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第2の周波数の信号成分の、第2のレーザ光の強度変調に対する第2の位相遅れとを取り出し、この第1の位相遅れと第2の位相遅れとに基づいて、第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するエネルギー移動の有無を判定するステップと、を有することを特徴とするFRET検出方法。 A FRET detection method for detecting FRET (Fluorescence Resonance Energy Transfer) in which energy of a first molecule excited by laser light irradiation moves to a second molecule,
In order to excite the first molecule, the first molecule is irradiated with the first laser light whose intensity is modulated at the first frequency, and the second molecule is excited to be different from the first frequency. Irradiating the second molecule with a second laser beam modulated in intensity at a frequency of two;
Receiving the fluorescence emitted by the second molecule;
The first phase delay of the signal component of the first frequency in the fluorescence signal of the fluorescence emitted from the received second molecule with respect to the intensity modulation of the first laser beam, and the received second molecule emits. A second phase lag of the signal component of the second frequency in the fluorescence signal of the fluorescence with respect to the intensity modulation of the second laser light is extracted, and based on the first phase lag and the second phase lag. Te, FRET detection method characterized by comprising the steps of determining the presence or absence of energy transfer the energy of the first molecule is moved to a second molecule, the.
受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号は、前記差分周波数の生成信号に同期して、前記差分周波数の整数倍の周波数をサンプリング周波数としてサンプリングされる請求項1又は2に記載のFRET検出方法。 The first laser beam is intensity-modulated using a first modulation signal having a first frequency for intensity modulation of the first laser beam, and the second laser beam is the second laser beam Intensity modulation is performed using a second modulation signal having a second frequency for intensity modulation of laser light, and the modulation signal of the first frequency is converted into the modulation signal of the second frequency by the difference frequency. It is a signal obtained by synthesizing the generated signal,
3. The FRET according to claim 1, wherein a fluorescence signal of fluorescence emitted from the received second molecule is sampled with a frequency that is an integral multiple of the difference frequency as a sampling frequency in synchronization with the generation signal of the difference frequency. Detection method.
受光した前記第1の分子の発する蛍光の蛍光信号の、第1のレーザ光の強度変調に対する第3の位相遅れを算出し、この第3の位相遅れをFRETの発生の有無の判定に用いる請求項1〜4のいずれか1項に記載のFRET検出方法。 When receiving the fluorescence emitted by the second molecule, further receiving the fluorescence emitted by the first molecule;
A third phase lag with respect to the intensity modulation of the first laser light of the fluorescence signal emitted from the first molecule received is calculated, and the third phase lag is used to determine whether or not FRET has occurred. Item 5. The FRET detection method according to any one of Items 1 to 4.
第1の分子を励起するために、第1のレーザ光を第1の分子に照射するとともに、第2の分子を励起するために、第2のレーザ光を第2の分子に照射するレーザ光源部と、
第2の分子が発する蛍光を受光する受光部と、
前記レーザ光源部から出射する第1のレーザ光を第1の周波数で強度変調させ、かつ前記レーザ光源部から出射する第2のレーザ光を第1の周波数と異なる第2の周波数で強度変調させるために、変調信号を生成する光源制御部と、
受光した第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第1の周波数の信号成分の、第1のレーザ光の強度変調に対する第1の位相遅れと、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第2の周波数の信号成分の、第2のレーザ光の強度変調に対する第2の位相遅れとを取り出し、この第1の位相遅れと第2の位相遅れとに基づいて、第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するエネルギー移動の有無を判定する処理部と、を有することを特徴とするFRET検出装置。 A FRET detection device that detects FRET in which energy of a first molecule excited by laser light irradiation moves to a second molecule,
A laser light source that irradiates the first molecule with the first laser beam to excite the first molecule and irradiates the second molecule with the second laser beam to excite the second molecule. And
A light receiving portion for receiving fluorescence emitted by the second molecule;
The intensity of the first laser beam emitted from the laser light source unit is modulated at a first frequency, and the intensity of the second laser beam emitted from the laser light source unit is modulated at a second frequency different from the first frequency. A light source control unit that generates a modulation signal;
The first phase delay of the signal component of the first frequency in the fluorescence signal of the fluorescence emitted from the received second molecule with respect to the intensity modulation of the first laser beam, and the received second molecule emits. A second phase lag of the signal component of the second frequency in the fluorescence signal of the fluorescence with respect to the intensity modulation of the second laser light is extracted, and based on the first phase lag and the second phase lag. Te, FRET detection device, characterized in that it comprises a processing unit for energy of the first molecule to determine the presence or absence of energy transfer to move to a second molecule, the.
前記処理部は、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号を、前記差分周波数の生成信号に同期して、前記差分周波数の整数倍の周波数をサンプリング周波数としてサンプリングする請求項6又は7に記載のFRET検出装置。 The light source control unit modulates the intensity of the first laser light using a first modulation signal having a first frequency for intensity modulation of the first laser light, and the second laser light. Is intensity-modulated using a second modulation signal having a second frequency for intensity modulation of the second laser beam, and the modulation signal of the first frequency is the modulation signal of the second frequency And a signal obtained by synthesizing the generated signal of the difference frequency,
The said processing part samples the fluorescence signal of the fluorescence which the said 2nd molecule | numerator received light synchronizes with the production | generation signal of the said difference frequency as a sampling frequency using the frequency of the integral multiple of the said difference frequency. The FRET detection device according to 1.
前記処理部は、前記受光部で受光した第1の分子が発する蛍光の蛍光信号の、第1のレーザ光の強度変調に対する第3の位相遅れを算出し、この第3の位相遅れをFRETの発生の有無の判定に用いる請求項6〜9のいずれか1項に記載のFRET検出装置。 The light receiving unit receives the fluorescence emitted by the first molecule in addition to the fluorescence emitted by the second molecule,
The processing unit calculates a third phase delay of the fluorescence signal of the fluorescence emitted by the first molecule received by the light receiving unit with respect to the intensity modulation of the first laser beam, and calculates the third phase delay of the FRET. The FRET detection apparatus according to any one of claims 6 to 9, which is used to determine whether or not the occurrence has occurred .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006054347A JP4365379B2 (en) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | FRET detection method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006054347A JP4365379B2 (en) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | FRET detection method and apparatus |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007232559A JP2007232559A (en) | 2007-09-13 |
JP2007232559A5 JP2007232559A5 (en) | 2009-09-03 |
JP4365379B2 true JP4365379B2 (en) | 2009-11-18 |
Family
ID=38553278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006054347A Expired - Fee Related JP4365379B2 (en) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | FRET detection method and apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4365379B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4523673B1 (en) | 2009-01-22 | 2010-08-11 | 三井造船株式会社 | Fluorescence detection apparatus and fluorescence detection method |
WO2010134351A1 (en) * | 2009-05-21 | 2010-11-25 | 株式会社ニコン | Scanning fluorescent microscope apparatus |
JP5443404B2 (en) * | 2011-02-08 | 2014-03-19 | 三井造船株式会社 | Fluorescence detection device, fluorescence detection device diagnostic method, and fluorescence detection method |
JP2012173252A (en) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | Fluorometric analyzing device and fluorometric analyzing method |
-
2006
- 2006-03-01 JP JP2006054347A patent/JP4365379B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007232559A (en) | 2007-09-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101152614B1 (en) | Fret detection method and device | |
JP4523674B1 (en) | Fluorescence detection apparatus and fluorescence detection method | |
JP4489147B2 (en) | Fluorescence detection apparatus and fluorescence detection method using intensity-modulated laser light | |
JP4365439B2 (en) | Fluorescence detection method and fluorescence detection apparatus | |
KR101152615B1 (en) | Fret detection method and device | |
JP4365380B2 (en) | FRET detection method and apparatus | |
JP4500887B2 (en) | Fluorescence detection apparatus and fluorescence detection method using intensity-modulated laser light | |
JP4523673B1 (en) | Fluorescence detection apparatus and fluorescence detection method | |
JP4709947B2 (en) | FRET measuring method and apparatus | |
JP2006226698A (en) | Fluorescence detector using laser beam modulated in intensity | |
JP4540751B1 (en) | Fluorescence detection apparatus and fluorescence detection method | |
KR20120130772A (en) | Fret measurement method and fret measurement device | |
JP4365379B2 (en) | FRET detection method and apparatus | |
JP4606518B2 (en) | Fluorescence detection apparatus and fluorescence detection method | |
JP4918178B2 (en) | Fluorescence detection method | |
JP5324487B2 (en) | Calibration apparatus for fluorescence detection, calibration method for fluorescence detection, and fluorescence detection apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080402 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20080916 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20081003 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20081003 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080916 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090717 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20090717 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20090730 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090811 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090820 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130828 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140828 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |